JP2877651B2 - ディスク装置における補正装置 - Google Patents
ディスク装置における補正装置Info
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- JP2877651B2 JP2877651B2 JP4597593A JP4597593A JP2877651B2 JP 2877651 B2 JP2877651 B2 JP 2877651B2 JP 4597593 A JP4597593 A JP 4597593A JP 4597593 A JP4597593 A JP 4597593A JP 2877651 B2 JP2877651 B2 JP 2877651B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ヘッドなどの検出部
がディスクのトラッキング方向へ移動するときに検出さ
れる検出信号がオフセット量を有するときに、これを補
正することができるディスク装置の補正装置に関する。
がディスクのトラッキング方向へ移動するときに検出さ
れる検出信号がオフセット量を有するときに、これを補
正することができるディスク装置の補正装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は偏向器として可動ミラー(ガルバ
ノミラー)を使用した光磁気ディスク装置の光学系を示
す部品配置図、図4は、再生信号(MO信号)とトラッ
キングエラー信号を検出するための回路構成を示す回路
図、図5は、光磁気ディスクの記録面を示す説明図、図
6は、従来の問題点を説明するための、4分割受光部の
受光面の説明図、図7は、光ディスクの外周部分と内周
部分とでずれ量が変化する状態を示す説明図である。図
3に示す光磁気ディスク装置は、いわゆる分離光学方式
と称されるものであり、固定部側の光学系1と可動部側
の光学系2とに分かれている。可動部側の光学系2は光
ヘッドに搭載されているものであり、符号33で示すリ
ニアモータにより光磁気ディスクの記録面に沿ってその
半径方向βへ駆動されるようになっている。この可動部
側の光学系2には、光磁気ディスクの記録面に対向する
対物レンズ3とその光軸の真下に位置する全反射プリズ
ム4とが設けられている。
ノミラー)を使用した光磁気ディスク装置の光学系を示
す部品配置図、図4は、再生信号(MO信号)とトラッ
キングエラー信号を検出するための回路構成を示す回路
図、図5は、光磁気ディスクの記録面を示す説明図、図
6は、従来の問題点を説明するための、4分割受光部の
受光面の説明図、図7は、光ディスクの外周部分と内周
部分とでずれ量が変化する状態を示す説明図である。図
3に示す光磁気ディスク装置は、いわゆる分離光学方式
と称されるものであり、固定部側の光学系1と可動部側
の光学系2とに分かれている。可動部側の光学系2は光
ヘッドに搭載されているものであり、符号33で示すリ
ニアモータにより光磁気ディスクの記録面に沿ってその
半径方向βへ駆動されるようになっている。この可動部
側の光学系2には、光磁気ディスクの記録面に対向する
対物レンズ3とその光軸の真下に位置する全反射プリズ
ム4とが設けられている。
【0003】固定部側の光学系1には半導体レーザ5が
設けられ、この半導体レーザ5から発せられるレーザ光
は、コリメートレンズ6を通過して平行光束となり、ビ
ームスプリッタ7によって反射され、さらにガルバノミ
ラー8により反射されて、可動部側の光学系2の全反射
プリズム4に送られる。そして、全反射プリズム4にて
反射された後、対物レンズ3により光磁気ディスクの記
録面に集光されて微小スポットが形成される。光磁気デ
ィスクの記録面からの戻り光は、対物レンズ3、全反射
プリズム4、ガルバノミラー8を経てビームスプリッタ
7を透過する。この透過光は、集光レンズ9により集束
され、偏光分離器10により3つの光E0,E1,E2
に分離される。偏光分離器10は例えばウォラストンプ
リズム等により構成され、光磁気ディスクからの戻り光
が、カー効果による偏光を検出するための光成分E1,
E2と、フォーカスとトラッキングのエラー信号を検出
するための光成分E0とに分離される。
設けられ、この半導体レーザ5から発せられるレーザ光
は、コリメートレンズ6を通過して平行光束となり、ビ
ームスプリッタ7によって反射され、さらにガルバノミ
ラー8により反射されて、可動部側の光学系2の全反射
プリズム4に送られる。そして、全反射プリズム4にて
反射された後、対物レンズ3により光磁気ディスクの記
録面に集光されて微小スポットが形成される。光磁気デ
ィスクの記録面からの戻り光は、対物レンズ3、全反射
プリズム4、ガルバノミラー8を経てビームスプリッタ
7を透過する。この透過光は、集光レンズ9により集束
され、偏光分離器10により3つの光E0,E1,E2
に分離される。偏光分離器10は例えばウォラストンプ
リズム等により構成され、光磁気ディスクからの戻り光
が、カー効果による偏光を検出するための光成分E1,
E2と、フォーカスとトラッキングのエラー信号を検出
するための光成分E0とに分離される。
【0004】この分離された各光成分はピンホトダイオ
ード11により受光される。このピンホトダイオード1
1は4分割された受光部11aと、その両側に配置され
た受光部11bと11cを有している。上記偏光分離器
10により分離された光E0は4分割の受光部11aに
より受光され、この受光部11aによりトラッキングエ
ラーとフォーカスエラーが検知される。なお、同図では
省略しているが、4分割法によりフォーカスエラー信号
を得るために光E0の経路には、シリンドリカルレンズ
等のような非点隔差を発生させる部材が設けられてい
る。また、再生信号(MO信号)を検出するために異な
る偏光成分(P波成分とS波成分)に分離された光E1
とE2はそれぞれ受光部11bと11cにより受光され
る。
ード11により受光される。このピンホトダイオード1
1は4分割された受光部11aと、その両側に配置され
た受光部11bと11cを有している。上記偏光分離器
10により分離された光E0は4分割の受光部11aに
より受光され、この受光部11aによりトラッキングエ
ラーとフォーカスエラーが検知される。なお、同図では
省略しているが、4分割法によりフォーカスエラー信号
を得るために光E0の経路には、シリンドリカルレンズ
等のような非点隔差を発生させる部材が設けられてい
る。また、再生信号(MO信号)を検出するために異な
る偏光成分(P波成分とS波成分)に分離された光E1
とE2はそれぞれ受光部11bと11cにより受光され
る。
【0005】図4は、上記ピンホトダイオード11によ
る受光出力に基づいて再生信号(MO信号)とトラッキ
ングエラー信号を検出するための回路構成を示してい
る。図示回路では、2つの受光部11bと11cにより
受光された受光光量の差を演算器16にて算出すること
により、カー回転角の角度方向に応じたMO再生信号
(I−J出力)が得られる。一般にプッシュプル法と称
されるトラッキングエラー信号の検出方法では、演算器
13,14,15により、4分割の受光部11aのそれ
ぞれの受光量に対し(B+D)−(A+C)の演算が行
なわれる。
る受光出力に基づいて再生信号(MO信号)とトラッキ
ングエラー信号を検出するための回路構成を示してい
る。図示回路では、2つの受光部11bと11cにより
受光された受光光量の差を演算器16にて算出すること
により、カー回転角の角度方向に応じたMO再生信号
(I−J出力)が得られる。一般にプッシュプル法と称
されるトラッキングエラー信号の検出方法では、演算器
13,14,15により、4分割の受光部11aのそれ
ぞれの受光量に対し(B+D)−(A+C)の演算が行
なわれる。
【0006】図5は光磁気ディスクの記録面を示してい
るものであるが、そのMO信号記録領域(イ)には、信
号記録面であるランド17とその両側に形成されたグル
ーブ18と称される溝が形成されている。図中(a)は
レーザ光のスポットがトラックとしてのランド17上を
移動しているトラッキングエラーのない状態であり、
(b)又は(c)はスポットの一部がグルーブ18にか
かってトラッキングエラーが生じている状態である。
るものであるが、そのMO信号記録領域(イ)には、信
号記録面であるランド17とその両側に形成されたグル
ーブ18と称される溝が形成されている。図中(a)は
レーザ光のスポットがトラックとしてのランド17上を
移動しているトラッキングエラーのない状態であり、
(b)又は(c)はスポットの一部がグルーブ18にか
かってトラッキングエラーが生じている状態である。
【0007】図6に示すように、4分割の受光部11a
には光磁気ディスクの記録面に形成された微小スポット
からの反射光が結像し、受光スポットSが形成されてい
る。図5中(b)又は(c)で示すように、微小スポッ
トがグルーブ18にかかっているときには、受光部11
a上の受光スポットSのいずれかの縁部に影Saが生じ
ることになる。この影Saによる受光光量の減少がどち
らの側であるかは、演算器15からの出力により検出で
きるため、これによりトラッキングエラー信号が得られ
ることになる。このエラー信号に基づくトラッキング補
正動作として、まずトラッキングエラーの微補正は、図
3に示すガルバノミラー駆動部12によってガルバノミ
ラー8をO軸に対しα方向へ微動させることにより行
い、また粗補正はリニアモータ33により可動部側の光
学系2を上記β方向へ移動させることにより行なわれ
る。
には光磁気ディスクの記録面に形成された微小スポット
からの反射光が結像し、受光スポットSが形成されてい
る。図5中(b)又は(c)で示すように、微小スポッ
トがグルーブ18にかかっているときには、受光部11
a上の受光スポットSのいずれかの縁部に影Saが生じ
ることになる。この影Saによる受光光量の減少がどち
らの側であるかは、演算器15からの出力により検出で
きるため、これによりトラッキングエラー信号が得られ
ることになる。このエラー信号に基づくトラッキング補
正動作として、まずトラッキングエラーの微補正は、図
3に示すガルバノミラー駆動部12によってガルバノミ
ラー8をO軸に対しα方向へ微動させることにより行
い、また粗補正はリニアモータ33により可動部側の光
学系2を上記β方向へ移動させることにより行なわれ
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図6に示すプッシュプ
ル法によるトラッキングエラー信号の検出方法では、4
分割の受光部11aにおける受光光量を(A+C)と
(B+D)のように左右に分けて検知し、その差をとっ
ている。このため、受光部11aの中心位置と受光スポ
ットSの中心位置との間にトラッキング方向への相対的
な位置ずれがあると、トラッキングエラー信号の検出精
度に大きな影響が生じる。例えば、光学系を構成する部
品の取付け位置のずれなどにより、受光部11aの中心
と受光スポットSの中心Osとの間に、図7に示すよう
な定量的なずれδがあったとすると、受光スポットSの
左側に影Saがあったとしても、(A+C)と(B+
D)の受光光量の差を正確に検出することはできず、オ
フセットを生じてしまう。
ル法によるトラッキングエラー信号の検出方法では、4
分割の受光部11aにおける受光光量を(A+C)と
(B+D)のように左右に分けて検知し、その差をとっ
ている。このため、受光部11aの中心位置と受光スポ
ットSの中心位置との間にトラッキング方向への相対的
な位置ずれがあると、トラッキングエラー信号の検出精
度に大きな影響が生じる。例えば、光学系を構成する部
品の取付け位置のずれなどにより、受光部11aの中心
と受光スポットSの中心Osとの間に、図7に示すよう
な定量的なずれδがあったとすると、受光スポットSの
左側に影Saがあったとしても、(A+C)と(B+
D)の受光光量の差を正確に検出することはできず、オ
フセットを生じてしまう。
【0009】この受光スポットSのずれに対処する方法
として、例えば調整段階でトラッキングエラー信号に与
えるバイアス電圧を調整し、受光スポットSの位置ずれ
による左右の受光部の受光量の差を相殺させるようにし
たものがある。しかしながら、上記のバイアス電圧によ
る調整では、補正できるずれ量δに限界があり、したが
って各光学部品の位置決め等をかなり高精度に保つ必要
がある。さらに一度調整した後、光学部品の接着部にお
ける接着剤の硬化等により経年的に生じるずれに対して
は対処できない。
として、例えば調整段階でトラッキングエラー信号に与
えるバイアス電圧を調整し、受光スポットSの位置ずれ
による左右の受光部の受光量の差を相殺させるようにし
たものがある。しかしながら、上記のバイアス電圧によ
る調整では、補正できるずれ量δに限界があり、したが
って各光学部品の位置決め等をかなり高精度に保つ必要
がある。さらに一度調整した後、光学部品の接着部にお
ける接着剤の硬化等により経年的に生じるずれに対して
は対処できない。
【0010】これに対して、光磁気ディスク上に形成さ
れているミラー面(図5の(ロ)参照)に検知光を照射
し、影のない受光スポットSを受光部11aに結像さ
せ、(B+D)−(A+C)の演算を行うことにより、
ずれδによるオフセット量を検出することができ、この
オフセット量に相当する成分をトラッキングエラー信号
から減算することにより、トラッキングエラー信号を補
正することが可能である。しかしながら、上記検知光が
上記ミラー面を通過する時間はほぼ2μs程度と極めて
短時間であるため、短時間に検出成分を確実に抽出する
のは、きわめて困難である。
れているミラー面(図5の(ロ)参照)に検知光を照射
し、影のない受光スポットSを受光部11aに結像さ
せ、(B+D)−(A+C)の演算を行うことにより、
ずれδによるオフセット量を検出することができ、この
オフセット量に相当する成分をトラッキングエラー信号
から減算することにより、トラッキングエラー信号を補
正することが可能である。しかしながら、上記検知光が
上記ミラー面を通過する時間はほぼ2μs程度と極めて
短時間であるため、短時間に検出成分を確実に抽出する
のは、きわめて困難である。
【0011】さらに、ミラー面によりオフセット量を定
量的に求めた場合、例えばピンホトダイオード11の取
付け位置のずれによりδが生じているような場合には対
処できるが、ガルバノミラー8の対向角度に傾斜誤差が
ある場合には対応できない。すなわちガルバノミラー8
のα方向への傾きの中立位置に誤差があると、図7に示
すように、レーザ光のスポットが光磁気ディスクの外周
近傍にあるときと内周近傍にあるときとでオフセット量
がδ1,δ2で示すように変化することになる。このよ
うにオフセット量が変動する場合には、ミラー面の検出
により定量的なオフセット補正量を得るだけでは対処で
きず、常にミラー面を検出して、その時々のオフセット
量を検出しなくてはならなくなる。
量的に求めた場合、例えばピンホトダイオード11の取
付け位置のずれによりδが生じているような場合には対
処できるが、ガルバノミラー8の対向角度に傾斜誤差が
ある場合には対応できない。すなわちガルバノミラー8
のα方向への傾きの中立位置に誤差があると、図7に示
すように、レーザ光のスポットが光磁気ディスクの外周
近傍にあるときと内周近傍にあるときとでオフセット量
がδ1,δ2で示すように変化することになる。このよ
うにオフセット量が変動する場合には、ミラー面の検出
により定量的なオフセット補正量を得るだけでは対処で
きず、常にミラー面を検出して、その時々のオフセット
量を検出しなくてはならなくなる。
【0012】そこで本発明は、前記オフセット量を補正
できるようにしたディスク装置の補正装置を提供するこ
とを第1の目的とする。
できるようにしたディスク装置の補正装置を提供するこ
とを第1の目的とする。
【0013】
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明のディスク装置の
補正装置は、ディスクに沿って移動しディスクに記録さ
れた信号を検出する検出部と、前記検出部をディスクの
記録トラックを横断する方向へシーク動作させるシーク
手段と、前記検出部が記録トラックを横断する方向へシ
ーク移動する際に得られるピークとボトムとが周期的に
現れる検出信号を検出する検出手段と、前記検出信号の
ピーク値とボトム値の平均値からのオフセット量を算出
する手段と、前記算出されたオフセット量が、前記検出
部の移動に伴って定量かまたは変動するかを判断する判
断手段と、前記オフセット量が定量であると判断された
ときに前記オフセット量を低減する補正を行う第1の補
正手段、および前記オフセット量が変動するものである
と判断されたときに前記オフセット量を低減する第2の
補正手段と、記録または再生動作の際にシーク動作で検
出された前記オフセット量が前記判断手段に基いて前記
第1の補正手段と第2の補正手段を切り換え制御する制
御部と、が設けられていることを特徴とする。
補正装置は、ディスクに沿って移動しディスクに記録さ
れた信号を検出する検出部と、前記検出部をディスクの
記録トラックを横断する方向へシーク動作させるシーク
手段と、前記検出部が記録トラックを横断する方向へシ
ーク移動する際に得られるピークとボトムとが周期的に
現れる検出信号を検出する検出手段と、前記検出信号の
ピーク値とボトム値の平均値からのオフセット量を算出
する手段と、前記算出されたオフセット量が、前記検出
部の移動に伴って定量かまたは変動するかを判断する判
断手段と、前記オフセット量が定量であると判断された
ときに前記オフセット量を低減する補正を行う第1の補
正手段、および前記オフセット量が変動するものである
と判断されたときに前記オフセット量を低減する第2の
補正手段と、記録または再生動作の際にシーク動作で検
出された前記オフセット量が前記判断手段に基いて前記
第1の補正手段と第2の補正手段を切り換え制御する制
御部と、が設けられていることを特徴とする。
【0015】例えば、前記検出部はディスクに検知光を
集光させる対物レンズを有し、固定側に前記対物レンズ
に前記検知光を与える偏向器を有し、前記第1の補正手
段は、前記検出信号からオフセット量に相当する信号成
分を減算する減算手段であり、前記第2の補正手段は、
前記オフセット量に相当する分だけ偏向器の偏向角度を
補正する手段である。
集光させる対物レンズを有し、固定側に前記対物レンズ
に前記検知光を与える偏向器を有し、前記第1の補正手
段は、前記検出信号からオフセット量に相当する信号成
分を減算する減算手段であり、前記第2の補正手段は、
前記オフセット量に相当する分だけ偏向器の偏向角度を
補正する手段である。
【0016】
【0017】
【作用】本発明では、検出部をディスクのトラック横断
方向へ移動させる際に得られる検出信号のオフセット量
を除去するに当たり、前記オフセット量が定量的なもの
であるか、変動的なものであるかを判断し、前記オフセ
ット量が定量的か変動的かに応じて、補正手段を切り換
えるようにしている。その結果、検出信号からオフセッ
ト量を単に減算することに留まらず、オフセット量の変
動をも補正できるようになる。
方向へ移動させる際に得られる検出信号のオフセット量
を除去するに当たり、前記オフセット量が定量的なもの
であるか、変動的なものであるかを判断し、前記オフセ
ット量が定量的か変動的かに応じて、補正手段を切り換
えるようにしている。その結果、検出信号からオフセッ
ト量を単に減算することに留まらず、オフセット量の変
動をも補正できるようになる。
【0018】
【0019】
【0020】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、一実施例として光磁気ディスク装置の補正
装置を示す回路構成のブロック図である。図1に示す回
路は、上記図4に示す演算器15の後段に接続されてい
る。図2(A),(B)はトラッキングエラー信号とそ
のオフセット量とを示す波形図である。図1に示す補正
装置は、図3に示す偏向器としてのガルバノミラー8を
使用した光磁気ディスク装置に装備される。図3に示す
光磁気ディスク装置は、固定側の光学系1に設けられた
半導体レーザ5から発せられるレーザ光がガルバノミラ
ー8に反射され、光学系2に設けられた対物レンズ3に
より光磁気ディスクの記録面に集光させられる。再生ま
たは記録動作では、ガルバノミラー8がα方向へ振られ
ることにより、光磁気ディスクの記録面にてレーザ光の
スポットがトラッキング方向(T方向)へ微駆動され
る。またリニアモータ33により光学系2がβ方向へ駆
動され、これによりトラッキングの粗補正動作、および
シーク動作が行われる。
る。図1は、一実施例として光磁気ディスク装置の補正
装置を示す回路構成のブロック図である。図1に示す回
路は、上記図4に示す演算器15の後段に接続されてい
る。図2(A),(B)はトラッキングエラー信号とそ
のオフセット量とを示す波形図である。図1に示す補正
装置は、図3に示す偏向器としてのガルバノミラー8を
使用した光磁気ディスク装置に装備される。図3に示す
光磁気ディスク装置は、固定側の光学系1に設けられた
半導体レーザ5から発せられるレーザ光がガルバノミラ
ー8に反射され、光学系2に設けられた対物レンズ3に
より光磁気ディスクの記録面に集光させられる。再生ま
たは記録動作では、ガルバノミラー8がα方向へ振られ
ることにより、光磁気ディスクの記録面にてレーザ光の
スポットがトラッキング方向(T方向)へ微駆動され
る。またリニアモータ33により光学系2がβ方向へ駆
動され、これによりトラッキングの粗補正動作、および
シーク動作が行われる。
【0021】図3に示すピンホトダイオード11には図
4に示すトラッキングエラーを算出し且つMO信号を算
出するための演算回路が接続されているが、図1の図示
左端にトラッキングエラー信号を算出するための演算器
15が示されている。図1に示す装置では、演算器15
から得られるトラッキングエラー信号が減算回路20を
経てトラッキングコントローラ26に与えられる。トラ
ッキングコントローラ26によりトラッキング補正の制
御信号が生成され、この制御信号がガルバノコントロー
ラ28とリニアモータコントローラ27に与えられる。
ガルバノコントローラ28からの駆動信号はQダンプ回
路31を経てガルバノミラー駆動部12に与えられ、ガ
ルバノミラー8がα方向へ駆動される。またリニアモー
タコントローラ27からの駆動信号によりリニアモータ
33が動作し、光学系2がβ方向へ駆動される。
4に示すトラッキングエラーを算出し且つMO信号を算
出するための演算回路が接続されているが、図1の図示
左端にトラッキングエラー信号を算出するための演算器
15が示されている。図1に示す装置では、演算器15
から得られるトラッキングエラー信号が減算回路20を
経てトラッキングコントローラ26に与えられる。トラ
ッキングコントローラ26によりトラッキング補正の制
御信号が生成され、この制御信号がガルバノコントロー
ラ28とリニアモータコントローラ27に与えられる。
ガルバノコントローラ28からの駆動信号はQダンプ回
路31を経てガルバノミラー駆動部12に与えられ、ガ
ルバノミラー8がα方向へ駆動される。またリニアモー
タコントローラ27からの駆動信号によりリニアモータ
33が動作し、光学系2がβ方向へ駆動される。
【0022】再生または記録動作では、ガルバノミラー
8による微トラッキング補正とリニアモータ33による
粗トラッキング補正により、光磁気ディスクの記録面に
形成される微小スポット位置が変わり、またこのときの
受光出力から演算器15によりトラッキングエラー信号
が生成されるため、トラッキング補正の閉ループが形成
されることになる。演算器15により得られるトラッキ
ングエラー信号は、オフセット量算出部41に与えられ
る。このオフセット量算出部41には、ピーク・ボトム
検出部34が設けられている。このピーク・ボトム検出
部34には、シーク時のトラッキングエラー信号のピー
ク値をサンプルしホールドするピーク検出回路24と、
トラッキングエラー信号のボトム値をサンプルしてホー
ルドするボトム検出回路25が設けられている。
8による微トラッキング補正とリニアモータ33による
粗トラッキング補正により、光磁気ディスクの記録面に
形成される微小スポット位置が変わり、またこのときの
受光出力から演算器15によりトラッキングエラー信号
が生成されるため、トラッキング補正の閉ループが形成
されることになる。演算器15により得られるトラッキ
ングエラー信号は、オフセット量算出部41に与えられ
る。このオフセット量算出部41には、ピーク・ボトム
検出部34が設けられている。このピーク・ボトム検出
部34には、シーク時のトラッキングエラー信号のピー
ク値をサンプルしホールドするピーク検出回路24と、
トラッキングエラー信号のボトム値をサンプルしてホー
ルドするボトム検出回路25が設けられている。
【0023】ピーク検出回路24からの検出出力と、ボ
トム検出回路25からの検出出力は、切換スイッチ35
により選択され、A/D変換器30を経て制御部29に
与えられる。制御部29はCPU(Central Processing
Unit)を中心として構成されたものである。この制御
部29からは前記切換スイッチ35を切換える切換信号
が生成される。また制御部29は、切換スイッチ35に
より選択されるピーク検出回路24からのピーク検出値
と、ボトム検出回路25からのボトム検出値とからその
平均値を算出する機能を有している。さらに制御部29
はこの算出された平均値が定量的であるか変動するもの
であるかを認識する機能を有している。
トム検出回路25からの検出出力は、切換スイッチ35
により選択され、A/D変換器30を経て制御部29に
与えられる。制御部29はCPU(Central Processing
Unit)を中心として構成されたものである。この制御
部29からは前記切換スイッチ35を切換える切換信号
が生成される。また制御部29は、切換スイッチ35に
より選択されるピーク検出回路24からのピーク検出値
と、ボトム検出回路25からのボトム検出値とからその
平均値を算出する機能を有している。さらに制御部29
はこの算出された平均値が定量的であるか変動するもの
であるかを認識する機能を有している。
【0024】この制御部29からは前記平均値に基づく
補正信号が出力されると共に、平均値が変動するか否か
の認識に基づく切換え制御信号が生成され、この平均値
に基づく補正信号と切換え制御信号とがAで示す経路に
てマルチプレクサ21に与えられる。マルチプレクサ2
1は前記切換え制御信号に基づく切換え動作を行うもの
であり、この切換え動作により、平均値に基づく補正信
号がD/A変換器23を経て前記減算回路20に与えら
れ、あるいはD/A変換器22を経て前記ガルバノミラ
ー駆動部12に与えられる。さらに、例えば再生または
記録動作が行われる前、または所定のサーチ指令が与え
られたときには、制御部29からBの経路にてシーク指
令信号が出され、これはリニアモータコントローラ27
に与えられる。この制御部29での動作は、ROMに記
憶されるなどした所定のプログラミングに基づいて実行
される。
補正信号が出力されると共に、平均値が変動するか否か
の認識に基づく切換え制御信号が生成され、この平均値
に基づく補正信号と切換え制御信号とがAで示す経路に
てマルチプレクサ21に与えられる。マルチプレクサ2
1は前記切換え制御信号に基づく切換え動作を行うもの
であり、この切換え動作により、平均値に基づく補正信
号がD/A変換器23を経て前記減算回路20に与えら
れ、あるいはD/A変換器22を経て前記ガルバノミラ
ー駆動部12に与えられる。さらに、例えば再生または
記録動作が行われる前、または所定のサーチ指令が与え
られたときには、制御部29からBの経路にてシーク指
令信号が出され、これはリニアモータコントローラ27
に与えられる。この制御部29での動作は、ROMに記
憶されるなどした所定のプログラミングに基づいて実行
される。
【0025】上述した構成を備えた装置の動作について
図2(A),(B)を参照して説明する。図2(A),
(B)は、それぞれ可動部側の光学系2をリニアモータ
33によりβ方向へ移動させ、光磁気ディスクのトラッ
クを横断する方向へシーク動作させたときに、演算器1
5にて得られるトラッキングエラー信号を示しており、
同図(A)は、例えばピンホトダイオード11の取付位
置のずれδによりトラッキングエラー信号に定量的なオ
フセット量(δ)が発生している場合を示し、同図
(B)はさらに、ガルバノミラー8の中立角度に角度誤
差があり、トラッキングエラー信号に変動するオフセッ
ト量(δ1−δ2)が発生している場合を示す。このオフ
セット量の変動は、ガルバノミラー8の中立角度の誤差
により、光磁気ディスクの記録面においてスポットがデ
ィスク内周側に位置するか外周側に位置するかの違いに
より生じるものである。
図2(A),(B)を参照して説明する。図2(A),
(B)は、それぞれ可動部側の光学系2をリニアモータ
33によりβ方向へ移動させ、光磁気ディスクのトラッ
クを横断する方向へシーク動作させたときに、演算器1
5にて得られるトラッキングエラー信号を示しており、
同図(A)は、例えばピンホトダイオード11の取付位
置のずれδによりトラッキングエラー信号に定量的なオ
フセット量(δ)が発生している場合を示し、同図
(B)はさらに、ガルバノミラー8の中立角度に角度誤
差があり、トラッキングエラー信号に変動するオフセッ
ト量(δ1−δ2)が発生している場合を示す。このオフ
セット量の変動は、ガルバノミラー8の中立角度の誤差
により、光磁気ディスクの記録面においてスポットがデ
ィスク内周側に位置するか外周側に位置するかの違いに
より生じるものである。
【0026】この装置では、光磁気ディスクが装填され
ているときで且つ電源が投入された後に、再生または記
録が行われる前に制御部29からBで示す経路でシーク
動作信号がリニアモータコントローラ27に与えられ、
可動部側の光学系2が回転しているディスクの半径方向
へ強制的に駆動されてシーク動作が行われる。なお、こ
のシーク動作は、所定のサーチ指令に基づいて制御部2
9から発せられる場合であってもよい。このシーク動作
では、図3に示す固定部側の光学系1の半導体レーザ5
からレーザ光が照射される。このレーザ光はコリメート
レンズ6を通過して平行光束となり、ビームスプリッタ
7に反射され、さらにガルバノミラー8により反射され
て、可動部側の光学系2の全反射プリズム4に送られ
る。そして、全反射プリズム4にて反射され、対物レン
ズ3により光磁気ディスクの記録面に集光されて微小ス
ポットが形成される。なおこのときガルバノミラー8の
α方向への回動角度は中立位置である。
ているときで且つ電源が投入された後に、再生または記
録が行われる前に制御部29からBで示す経路でシーク
動作信号がリニアモータコントローラ27に与えられ、
可動部側の光学系2が回転しているディスクの半径方向
へ強制的に駆動されてシーク動作が行われる。なお、こ
のシーク動作は、所定のサーチ指令に基づいて制御部2
9から発せられる場合であってもよい。このシーク動作
では、図3に示す固定部側の光学系1の半導体レーザ5
からレーザ光が照射される。このレーザ光はコリメート
レンズ6を通過して平行光束となり、ビームスプリッタ
7に反射され、さらにガルバノミラー8により反射され
て、可動部側の光学系2の全反射プリズム4に送られ
る。そして、全反射プリズム4にて反射され、対物レン
ズ3により光磁気ディスクの記録面に集光されて微小ス
ポットが形成される。なおこのときガルバノミラー8の
α方向への回動角度は中立位置である。
【0027】リニアモータコントローラ27によりリニ
アモータ33が制御され、可動部側の光学系2がβ方向
へ移動すると、対物レンズ3により集光されるレーザ光
の微小スポットが例えば光磁気ディスクの内周部側から
外周部側へ高速に移動し、微小スポットが記録面のラン
ド17及びグルーブ18を横断する。このときの記録面
からの反射戻り光がピンホトダイオード11の4分割の
受光部11aにより受光されると、演算器15からは図
2に示すような連続波形のトラッキングエラー信号信号
P1,P2が得られる。
アモータ33が制御され、可動部側の光学系2がβ方向
へ移動すると、対物レンズ3により集光されるレーザ光
の微小スポットが例えば光磁気ディスクの内周部側から
外周部側へ高速に移動し、微小スポットが記録面のラン
ド17及びグルーブ18を横断する。このときの記録面
からの反射戻り光がピンホトダイオード11の4分割の
受光部11aにより受光されると、演算器15からは図
2に示すような連続波形のトラッキングエラー信号信号
P1,P2が得られる。
【0028】同図(A)に示すトラッキングエラー信号
P1は、演算器15による減算の0点(0V)に対して
定量的なオフセット量δが発生している場合を示してい
る。このオフセット量は、例えばピンホトダイオード1
1の取付位置のずれなどに起因するものであり、図6に
示すように戻り光の受光スポットSの中心と受光部11
aの中心とがトラッキング方向へδだけずれている場合
に発生する。同図(B)に示すトラッキングエラー信号
P2は、δ1からδ2とほぼ一次関数的に変動するオフセ
ット量が含まれている。これはガルバノミラー8の中立
状態での角度誤差によるものであり、光磁気ディスクの
記録面の内周側に微小スポットがあるか外周側に微小ス
ポットがあるかにより変動するオフセット量が発生す
る。なお同図(B)では一次関数的に変動するオフセッ
ト量(δ1−δ2)にさらに定量的なオフセット量が重畳
されている場合を示している。
P1は、演算器15による減算の0点(0V)に対して
定量的なオフセット量δが発生している場合を示してい
る。このオフセット量は、例えばピンホトダイオード1
1の取付位置のずれなどに起因するものであり、図6に
示すように戻り光の受光スポットSの中心と受光部11
aの中心とがトラッキング方向へδだけずれている場合
に発生する。同図(B)に示すトラッキングエラー信号
P2は、δ1からδ2とほぼ一次関数的に変動するオフセ
ット量が含まれている。これはガルバノミラー8の中立
状態での角度誤差によるものであり、光磁気ディスクの
記録面の内周側に微小スポットがあるか外周側に微小ス
ポットがあるかにより変動するオフセット量が発生す
る。なお同図(B)では一次関数的に変動するオフセッ
ト量(δ1−δ2)にさらに定量的なオフセット量が重畳
されている場合を示している。
【0029】このシーク動作で得られたトラッキングエ
ラー信号P1またはP2は、オフセット量算出部41の
ピーク検出回路24とボトム検出回路25に与えられ
る。ピーク検出回路24では、図2(A)または(B)
で示すトラッキングエラー信号の波形のピーク値がサン
プルされてホールドされ、ボトム検出回路25ではトラ
ッキングエラー信号のボトム値がサンプルされてホール
ドされる。このピーク値とボトム値は切換スイッチ35
により切換選択され、A/D変換器30でディジタル値
に変換されて制御部29に与えられる。そして制御部2
9ではピーク値とボトム値の平均値が算出される。図2
(A)(B)では、この平均値をPv1とPv2で示して
いる。この平均値がトラッキングエラー信号P1または
P2のオフセット量である。
ラー信号P1またはP2は、オフセット量算出部41の
ピーク検出回路24とボトム検出回路25に与えられ
る。ピーク検出回路24では、図2(A)または(B)
で示すトラッキングエラー信号の波形のピーク値がサン
プルされてホールドされ、ボトム検出回路25ではトラ
ッキングエラー信号のボトム値がサンプルされてホール
ドされる。このピーク値とボトム値は切換スイッチ35
により切換選択され、A/D変換器30でディジタル値
に変換されて制御部29に与えられる。そして制御部2
9ではピーク値とボトム値の平均値が算出される。図2
(A)(B)では、この平均値をPv1とPv2で示して
いる。この平均値がトラッキングエラー信号P1または
P2のオフセット量である。
【0030】上記の切換スイッチ35によりピーク値と
ボトム値を検出するタイミングであるが、前記シーク動
作の際に切換スイッチ35を連続的に交互に切換えて、
一定ピッチにてピーク値とボトム値を算出してもよい
が、一定の時間間隔でサンプル的に検出してもよい。上
記の平均値は制御部29でのレジスタに記憶するなどし
て保持し、また制御部29において図2(A)に示すよ
うに平均値Pv1が一定であるか、同図(B)に示すよ
うに平均値Pv2が変動するものであるか否かによりマ
ルチプレクサ21を切換えるための切換制御信号が生成
される。
ボトム値を検出するタイミングであるが、前記シーク動
作の際に切換スイッチ35を連続的に交互に切換えて、
一定ピッチにてピーク値とボトム値を算出してもよい
が、一定の時間間隔でサンプル的に検出してもよい。上
記の平均値は制御部29でのレジスタに記憶するなどし
て保持し、また制御部29において図2(A)に示すよ
うに平均値Pv1が一定であるか、同図(B)に示すよ
うに平均値Pv2が変動するものであるか否かによりマ
ルチプレクサ21を切換えるための切換制御信号が生成
される。
【0031】次に、再生または記録動作に移行する。記
録または再生動作では、ピンホトダイオード11の受光
部11aの出力が演算器15により演算されてトラッキ
ングエラー信号が得られ、このトラッキングエラー信号
によりガルバノミラー駆動部12が駆動されてトラッキ
ングの微補正がなされ、またリニアモータ33により可
動部側の光学系2がβ方向へ駆動されてトラッキングの
粗補正が行われる。ここで、前記シーク時に検出された
平均値すなわちオフセット量が図2(A)においてPv
1で示すように定量的である場合には、制御部29から
の切換制御信号によりマルチプレクサ21が切換えら
れ、制御部29に記憶させてある平均値すなわちオフセ
ット量に相当する信号成分がD/A変換器23によりア
ナログ信号に変換されて、減算回路20に与えられる。
減算回路20では、再生または記録動作中のトラッキン
グエラー信号からオフセット量に相当する成分が減算さ
れる。これにより減算回路20を経たトラッキングエラ
ー信号はオフセット成分のないものとなり、高精度なト
ラッキング補正が行われるようになる。
録または再生動作では、ピンホトダイオード11の受光
部11aの出力が演算器15により演算されてトラッキ
ングエラー信号が得られ、このトラッキングエラー信号
によりガルバノミラー駆動部12が駆動されてトラッキ
ングの微補正がなされ、またリニアモータ33により可
動部側の光学系2がβ方向へ駆動されてトラッキングの
粗補正が行われる。ここで、前記シーク時に検出された
平均値すなわちオフセット量が図2(A)においてPv
1で示すように定量的である場合には、制御部29から
の切換制御信号によりマルチプレクサ21が切換えら
れ、制御部29に記憶させてある平均値すなわちオフセ
ット量に相当する信号成分がD/A変換器23によりア
ナログ信号に変換されて、減算回路20に与えられる。
減算回路20では、再生または記録動作中のトラッキン
グエラー信号からオフセット量に相当する成分が減算さ
れる。これにより減算回路20を経たトラッキングエラ
ー信号はオフセット成分のないものとなり、高精度なト
ラッキング補正が行われるようになる。
【0032】またシーク時に検出されたオフセット量
が、図2(B)にてPv2で示すように変動する場合に
は、マルチプレクサ21の切換えにより、制御部29に
記憶されていた平均値すなわちオフセット量に相当する
成分がD/A変換器22によりアナログ信号に変換さ
れ、直接ガルバノミラー駆動部12に与えられ、ガルバ
ノミラー8の傾きの誤差が矯正される。さらに図2
(B)に示すように、平均値すなわちオフセット量に変
動成分と定量成分とが含まれている場合には、再生また
は記録動作中に例えばマルチプレクサ21が定期的に切
換えられ、減算回路20とガルバノミラー駆動部12と
に交互に与えられて、トラッキングエラー信号からオフ
セット量が除去される。なお、上記実施例ではトラッキ
ング補正を行なう偏向器としてガルバノミラーを示して
いるが、この偏向器として、音響光学効果や電気光学効
果による屈折角の変化により、光を偏向させるものであ
ってもよい。
が、図2(B)にてPv2で示すように変動する場合に
は、マルチプレクサ21の切換えにより、制御部29に
記憶されていた平均値すなわちオフセット量に相当する
成分がD/A変換器22によりアナログ信号に変換さ
れ、直接ガルバノミラー駆動部12に与えられ、ガルバ
ノミラー8の傾きの誤差が矯正される。さらに図2
(B)に示すように、平均値すなわちオフセット量に変
動成分と定量成分とが含まれている場合には、再生また
は記録動作中に例えばマルチプレクサ21が定期的に切
換えられ、減算回路20とガルバノミラー駆動部12と
に交互に与えられて、トラッキングエラー信号からオフ
セット量が除去される。なお、上記実施例ではトラッキ
ング補正を行なう偏向器としてガルバノミラーを示して
いるが、この偏向器として、音響光学効果や電気光学効
果による屈折角の変化により、光を偏向させるものであ
ってもよい。
【0033】
【発明の効果】以上のように本発明では、検出部の移動
により検出される検出信号のオフセット量が定量的であ
っても変動するものであっても、そのオフセット量の状
態に応じた補正を行うことが可能である。
により検出される検出信号のオフセット量が定量的であ
っても変動するものであっても、そのオフセット量の状
態に応じた補正を行うことが可能である。
【0034】
【0035】
【図1】一実施例として光ディスク装置における補正装
置の回路構成を示すブロック図。
置の回路構成を示すブロック図。
【図2】図2(A),(B)は、シーク動作時のトラッ
キングエラー信号とその平均値を示す波形図。
キングエラー信号とその平均値を示す波形図。
【図3】偏向器として可動ミラー(ガルバノミラー)を
使用した光磁気ディスク装置の光学系を示す部品配置
図。
使用した光磁気ディスク装置の光学系を示す部品配置
図。
【図4】再生信号(MO信号)とトラッキングエラー信
号を検出するための回路構成を示す回路図。
号を検出するための回路構成を示す回路図。
【図5】光磁気ディスクの記録面を示す説明図。
【図6】従来の問題点を説明するための、4分割受光部
の受光面の説明図。
の受光面の説明図。
【図7】トラッキングエラー信号にオフセット量が含ま
れた状態を示す線図。
れた状態を示す線図。
1 固定部側の光学系 2 可動部側の光学系 3 対物レンズ 4 全反射プリズム 5 半導体レーザ 6 コリメートレンズ 7 ビームスプリッタ 8 ガルバノミラー 9 集光レンズ 11 ピンホトダイオード 11a 4分割受光部 13 演算器 14 演算器 15 演算器 20 減算回路 21 マルチプレクサ 22 D/A変換器 23 D/A変換器 24 ピーク検出回路 25 ボトム検出回路 26 トラッキングコントローラ 28 ガルバノコントローラ 29 制御部 30 A/D変換器 31 Qダンプ回路 35 切換スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 7/09 - 7/095 G11B 7/085
Claims (2)
- 【請求項1】 ディスクに沿って移動しディスクに記録
された信号を検出する検出部と、前記検出部をディスク
の記録トラックを横断する方向へシーク動作させるシー
ク手段と、前記検出部が記録トラックを横断する方向へ
シーク移動する際に得られるピークとボトムとが周期的
に現れる検出信号を検出する検出手段と、前記検出信号
のピーク値とボトム値の平均値からのオフセット量を算
出する手段と、前記算出されたオフセット量が、前記検
出部の移動に伴って定量かまたは変動するかを判断する
判断手段と、前記オフセット量が定量であると判断され
たときに前記オフセット量を低減する補正を行う第1の
補正手段、および前記オフセット量が変動するものであ
ると判断されたときに前記オフセット量を低減する第2
の補正手段と、記録または再生動作の際にシーク動作で
検出された前記オフセット量が前記判断手段に基いて前
記第1の補正手段と第2の補正手段を切り換え制御する
制御部と、が設けられていることを特徴とするディスク
装置における補正装置。 - 【請求項2】 前記検出部はディスクに検知光を集光さ
せる対物レンズを有し、固定側に前記対物レンズに前記
検知光を与える偏向器を有し、前記第1の補正手段は、
前記検出信号からオフセット量に相当する信号成分を減
算する減算手段であり、前記第2の補正手段は、前記オ
フセット量に相当する分だけ偏向器の偏向角度を補正す
る手段である請求項1記載のディスク装置における補正
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4597593A JP2877651B2 (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | ディスク装置における補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4597593A JP2877651B2 (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | ディスク装置における補正装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06236568A JPH06236568A (ja) | 1994-08-23 |
JP2877651B2 true JP2877651B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=12734219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4597593A Expired - Fee Related JP2877651B2 (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | ディスク装置における補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2877651B2 (ja) |
-
1993
- 1993-02-10 JP JP4597593A patent/JP2877651B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06236568A (ja) | 1994-08-23 |
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JPH0580051B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990106 |
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