JP2846562B2 - 顕微分析用試料ホルダ - Google Patents
顕微分析用試料ホルダInfo
- Publication number
- JP2846562B2 JP2846562B2 JP5275147A JP27514793A JP2846562B2 JP 2846562 B2 JP2846562 B2 JP 2846562B2 JP 5275147 A JP5275147 A JP 5275147A JP 27514793 A JP27514793 A JP 27514793A JP 2846562 B2 JP2846562 B2 JP 2846562B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- microanalysis
- holder
- body member
- general
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004452 microanalysis Methods 0.000 title claims description 71
- 238000007431 microscopic evaluation Methods 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は顕微分析用試料を保持す
るとともに、顕微分析装置(顕微鏡を用いた装置)の汎
用ステージに着脱自在に装着して使用される顕微分析用
試料ホルダに関する。本発明は、赤外スペクトル分析等
の分光分析を行う際に使用される顕微分析装置におい
て、顕微分析用試料を所定の位置に保持する際に使用さ
れる。
るとともに、顕微分析装置(顕微鏡を用いた装置)の汎
用ステージに着脱自在に装着して使用される顕微分析用
試料ホルダに関する。本発明は、赤外スペクトル分析等
の分光分析を行う際に使用される顕微分析装置におい
て、顕微分析用試料を所定の位置に保持する際に使用さ
れる。
【0002】
【従来の技術】顕微分析用試料は種々の形態を有してお
り、それらの試料を顕微分析装置のステージに安定的に
保持する必要がある。従来、顕微分析用試料を保持する
方法としては次の(J01)の技術が知られている。 (J01) 顕微分析用試料を載置するステージの一部
(平面部分)に粘度等を用いて便宜的に固定保持する方
法。
り、それらの試料を顕微分析装置のステージに安定的に
保持する必要がある。従来、顕微分析用試料を保持する
方法としては次の(J01)の技術が知られている。 (J01) 顕微分析用試料を載置するステージの一部
(平面部分)に粘度等を用いて便宜的に固定保持する方
法。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術(J01)
では次の問題点がある。 (J01)の問題点 この方式では顕微分析装置のステージに粘度が付着する
ので、顕微分析装置が汚れるという問題点がある。ま
た、顕微分析用試料に粘度が付着するので、顕微分析用
試料が汚れる。したがって、その汚れた顕微分析用試料
を別の場所に保管する場合、その保管場所の汚れを防止
するには、前記粘度を取り除かねばならない。前記顕微
分析装置のステージおよび顕微分析用試料に付着した粘
度を取り除くには、そのための作業を行う必要があり、
面倒である。また、顕微分析用試料の微細特定部位を選
択的に観察、測定する場合、それに応じた姿勢で顕微分
析用試料を前記ステージ上に保持する必要がある。前記
ステージの平面部分に顕微分析用試料を保持する場合、
顕微分析用試料の形態によっては所望の姿勢(例えば、
試料に張力や圧縮力等を生じさせる姿勢)で保持するの
が困難な場合もある。
では次の問題点がある。 (J01)の問題点 この方式では顕微分析装置のステージに粘度が付着する
ので、顕微分析装置が汚れるという問題点がある。ま
た、顕微分析用試料に粘度が付着するので、顕微分析用
試料が汚れる。したがって、その汚れた顕微分析用試料
を別の場所に保管する場合、その保管場所の汚れを防止
するには、前記粘度を取り除かねばならない。前記顕微
分析装置のステージおよび顕微分析用試料に付着した粘
度を取り除くには、そのための作業を行う必要があり、
面倒である。また、顕微分析用試料の微細特定部位を選
択的に観察、測定する場合、それに応じた姿勢で顕微分
析用試料を前記ステージ上に保持する必要がある。前記
ステージの平面部分に顕微分析用試料を保持する場合、
顕微分析用試料の形態によっては所望の姿勢(例えば、
試料に張力や圧縮力等を生じさせる姿勢)で保持するの
が困難な場合もある。
【0004】本発明は、前述の事情に鑑み、下記の記載
内容(O01)を課題とする。(O01)ステージおよび顕
微分析用試料を汚すことなく、顕微分析装置のステージ
の保持位置に顕微分析用試料を所望の姿勢(試料に張力
や圧縮力等を生じさせる姿勢)で容易に保持できるよう
にすること。
内容(O01)を課題とする。(O01)ステージおよび顕
微分析用試料を汚すことなく、顕微分析装置のステージ
の保持位置に顕微分析用試料を所望の姿勢(試料に張力
や圧縮力等を生じさせる姿勢)で容易に保持できるよう
にすること。
【0005】
【課題を解するための手段】次に、前記課題を解決する
ために案出した本発明の構成を説明するが、本発明の構
成要素には、後述の実施例の構成要素との対応を容易に
するため、実施例の構成要素の符号をカッコで囲んだも
のを付記している。なお、本発明を後述の実施例の符号
と対応させて説明する理由は、本発明の理解を容易にす
るためであり、本発明の範囲を実施例に限定するためで
はない。
ために案出した本発明の構成を説明するが、本発明の構
成要素には、後述の実施例の構成要素との対応を容易に
するため、実施例の構成要素の符号をカッコで囲んだも
のを付記している。なお、本発明を後述の実施例の符号
と対応させて説明する理由は、本発明の理解を容易にす
るためであり、本発明の範囲を実施例に限定するためで
はない。
【0006】(第1発明) 前記課題を解決するために、本出願の第1発明の顕微分
析用試料ホルダ(H)は、下記の要件を備えたことを特
徴とする、 (A01) 顕微鏡の汎用ステージ(T)に着脱自在に装
着されるホルダ本体部材(4)、 (A02) 前記汎用ステージ(T)に装着された前記ホ
ルダ本体部材(4)の前記汎用ステージ(T)に対する
姿勢を調節する姿勢調節機構(A)、 (A03) 前記ホルダ本体部材(4)上で相対的に接近
する方向および離れる方向に移動可能に支持されるとと
もに、顕微分析用試料(S)の端部を固定するための端
部固定部材(23,23)が着脱可能に装着される固定
部材装着部(21c,21c)および顕微分析用試料
(S)の両端部を挟持するために前記両端部のうちの一
端部を押圧する挟持部材(24,24)が着脱可能に装
着される挟持部材装着部(21c,21c)が設けられた
一対の移動部材(21,21)、(A04) 前記一対の
移動部材(21,21)の各々に連結された手動操作用
の操作部材(22,22)であって、前記各移動部材
(21,21)を相対的に離れる方向または接近する方
向にそれぞれ独立して移動させる操作部材(22,2
2)。
析用試料ホルダ(H)は、下記の要件を備えたことを特
徴とする、 (A01) 顕微鏡の汎用ステージ(T)に着脱自在に装
着されるホルダ本体部材(4)、 (A02) 前記汎用ステージ(T)に装着された前記ホ
ルダ本体部材(4)の前記汎用ステージ(T)に対する
姿勢を調節する姿勢調節機構(A)、 (A03) 前記ホルダ本体部材(4)上で相対的に接近
する方向および離れる方向に移動可能に支持されるとと
もに、顕微分析用試料(S)の端部を固定するための端
部固定部材(23,23)が着脱可能に装着される固定
部材装着部(21c,21c)および顕微分析用試料
(S)の両端部を挟持するために前記両端部のうちの一
端部を押圧する挟持部材(24,24)が着脱可能に装
着される挟持部材装着部(21c,21c)が設けられた
一対の移動部材(21,21)、(A04) 前記一対の
移動部材(21,21)の各々に連結された手動操作用
の操作部材(22,22)であって、前記各移動部材
(21,21)を相対的に離れる方向または接近する方
向にそれぞれ独立して移動させる操作部材(22,2
2)。
【0007】(第1発明の補足説明) 本発明の顕微分析用試料ホルダ(H)は、前記汎用ステ
ージ(T)の所定位置に着脱自在に装着される被位置決
め部材(1)を設け、その被位置決め部材(1)によ
り、前記ホルダ本体部材(4)を姿勢調節可能に支持す
ることができる。この場合には、前記ホルダ本体部材
(4)の前記汎用ステージ(T)に対する姿勢を調節す
る姿勢調節機構(A)は、被位置決め部材(1)とホル
ダ本体部材(4)との間に設けることが可能である。前
記一対の移動部材(21,21)は、大きさ、形状が必
ずしも同一である必要はない。また、本発明において
は、少なくとも一対の移動部材(21,21)が有るこ
とが必要であるが、それ以上有ってもかまわない。
ージ(T)の所定位置に着脱自在に装着される被位置決
め部材(1)を設け、その被位置決め部材(1)によ
り、前記ホルダ本体部材(4)を姿勢調節可能に支持す
ることができる。この場合には、前記ホルダ本体部材
(4)の前記汎用ステージ(T)に対する姿勢を調節す
る姿勢調節機構(A)は、被位置決め部材(1)とホル
ダ本体部材(4)との間に設けることが可能である。前
記一対の移動部材(21,21)は、大きさ、形状が必
ずしも同一である必要はない。また、本発明において
は、少なくとも一対の移動部材(21,21)が有るこ
とが必要であるが、それ以上有ってもかまわない。
【0008】また、前記一対の移動部材(21,21)
に、顕微分析用試料(S)を挟持するための挟持部材
(24)、又は、線状、帯状、シート状等の顕微分析用
試料(S)の端部を固定する端部固定部材(23)等の
試料保持部材(23,24)を、それぞれ着脱可能に装
着する固定部材装着部(24c)および挟持部材装着部
(24c)は、別々に設けることが可能であるが、兼用
できるように設けることが可能である。また、顕微分析
用試料を挟持して試料に圧縮力を作用させるため、前記
移動部材(21)に着脱可能な挟持部材(24)を設け
る代わりに、前記一対の移動部材(21,21)自体の
互いに対向する面(対向面)を、それらが互いに接近し
たときに顕微分析用試料(S)を挟持する(挟みつけて
保持する)形状としたり、また、前記一対の移動部材
(21,21)自体にそれぞれ線状、帯状、シート状等
の顕微分析用試料(S)の端部を固定する手段を形成し
たりすることが可能である。
に、顕微分析用試料(S)を挟持するための挟持部材
(24)、又は、線状、帯状、シート状等の顕微分析用
試料(S)の端部を固定する端部固定部材(23)等の
試料保持部材(23,24)を、それぞれ着脱可能に装
着する固定部材装着部(24c)および挟持部材装着部
(24c)は、別々に設けることが可能であるが、兼用
できるように設けることが可能である。また、顕微分析
用試料を挟持して試料に圧縮力を作用させるため、前記
移動部材(21)に着脱可能な挟持部材(24)を設け
る代わりに、前記一対の移動部材(21,21)自体の
互いに対向する面(対向面)を、それらが互いに接近し
たときに顕微分析用試料(S)を挟持する(挟みつけて
保持する)形状としたり、また、前記一対の移動部材
(21,21)自体にそれぞれ線状、帯状、シート状等
の顕微分析用試料(S)の端部を固定する手段を形成し
たりすることが可能である。
【0009】また、前記被位置決め部材(1)により、
前記ホルダ本体部材(4)を姿勢調節可能に支持すると
ともに、さらに、位置調節可能(汎用ステージTの面に
沿って平行移動可能)に支持することも可能である。こ
の場合には、ホルダ本体部材(4)の所定位置に顕微分
析用試料(S)を保持した状態で、ホルダ本体部材
(4)を前記被位置決め部材(1)に対して位置調整
(平行移動)することにより顕微分析用試料(S)の位
置を容易に調節することが可能となる。
前記ホルダ本体部材(4)を姿勢調節可能に支持すると
ともに、さらに、位置調節可能(汎用ステージTの面に
沿って平行移動可能)に支持することも可能である。こ
の場合には、ホルダ本体部材(4)の所定位置に顕微分
析用試料(S)を保持した状態で、ホルダ本体部材
(4)を前記被位置決め部材(1)に対して位置調整
(平行移動)することにより顕微分析用試料(S)の位
置を容易に調節することが可能となる。
【0010】(第2発明) また、本出願の第2発明の顕微分析用試料ホルダ(H)
は、下記の要件を備えたことを特徴とする、 (B01) 顕微鏡の汎用ステージ(T)に着脱自在に装
着されるホルダ本体部材(4)、 (B02) 前記汎用ステージ(T)に装着された前記ホ
ルダ本体部材(4)の前記汎用ステージ(T)に対する
姿勢を調節する姿勢調節機構(A)、 (B03) 前記ホルダ本体部材(4)上で相対的に接近
する方向および離れる方向に移動可能に支持されるとと
もに、顕微分析用試料(S)の端部を固定するための端
部固定部材(23)が着脱可能に装着される固定部材装
着部(21c)と、顕微分析用試料(S)の両端部を挟
持するために前記両端部のうちの一端部を押圧する挟持
部とが設けられた一対の移動部材(21,21)、 (B04) 前記一対の移動部材(21,21)の各々に
連結された手動操作用の操作部材(22,22)であっ
て、前記各移動部材(21,21)を相対的に離れる方
向または接近する方向にそれぞれ独立して移動させる操
作部材(22,22)。
は、下記の要件を備えたことを特徴とする、 (B01) 顕微鏡の汎用ステージ(T)に着脱自在に装
着されるホルダ本体部材(4)、 (B02) 前記汎用ステージ(T)に装着された前記ホ
ルダ本体部材(4)の前記汎用ステージ(T)に対する
姿勢を調節する姿勢調節機構(A)、 (B03) 前記ホルダ本体部材(4)上で相対的に接近
する方向および離れる方向に移動可能に支持されるとと
もに、顕微分析用試料(S)の端部を固定するための端
部固定部材(23)が着脱可能に装着される固定部材装
着部(21c)と、顕微分析用試料(S)の両端部を挟
持するために前記両端部のうちの一端部を押圧する挟持
部とが設けられた一対の移動部材(21,21)、 (B04) 前記一対の移動部材(21,21)の各々に
連結された手動操作用の操作部材(22,22)であっ
て、前記各移動部材(21,21)を相対的に離れる方
向または接近する方向にそれぞれ独立して移動させる操
作部材(22,22)。
【0011】(本発明の実施の形態1) 本発明の顕微分析用試料ホルダ(H)の実施の形態1
は、前記第1発明または第2発明のにおいて下記の要件
を備えたことを特徴とする、 (C01) 互いに対向する側と反対側にそれぞれ形成さ
れて移動方向に延びる移動用ネジ孔(21b)を有する
前記一対の移動部材(21,21)、 (C02) 前記ホルダ本体部材(4)上に回転可能且つ
スライド移動不可能に支持されて、内端部に前記移動用
ネジ孔(21b)に螺合するネジ(22b)を有し、外端
部に手でつまんで回転させるためのツマミ(22a)が
形成された前記操作部材(22)。 (本発明の実施の形態2) 本発明の顕微分析用試料ホルダ(H)の実施の形態2
は、前記第1発明、第2発明または前記本発明の実施の
形態1のいずれかにおいて下記の要件を備えたことを特
徴とする、 (C03)前記ホルダ本体部材(4)を支持するととも
に、前記汎用ステージ(T)の所定位置に着脱自在に装
着される被位置決め部材(1)、 (C04)前記被位置決め部材(1)と前記ホルダ本体部
材(4)との間に設けられ、前記ホルダ本体部材(4)
の前記汎用ステージ(T)に対する姿勢を調節する前記
姿勢調節機構(A)。
は、前記第1発明または第2発明のにおいて下記の要件
を備えたことを特徴とする、 (C01) 互いに対向する側と反対側にそれぞれ形成さ
れて移動方向に延びる移動用ネジ孔(21b)を有する
前記一対の移動部材(21,21)、 (C02) 前記ホルダ本体部材(4)上に回転可能且つ
スライド移動不可能に支持されて、内端部に前記移動用
ネジ孔(21b)に螺合するネジ(22b)を有し、外端
部に手でつまんで回転させるためのツマミ(22a)が
形成された前記操作部材(22)。 (本発明の実施の形態2) 本発明の顕微分析用試料ホルダ(H)の実施の形態2
は、前記第1発明、第2発明または前記本発明の実施の
形態1のいずれかにおいて下記の要件を備えたことを特
徴とする、 (C03)前記ホルダ本体部材(4)を支持するととも
に、前記汎用ステージ(T)の所定位置に着脱自在に装
着される被位置決め部材(1)、 (C04)前記被位置決め部材(1)と前記ホルダ本体部
材(4)との間に設けられ、前記ホルダ本体部材(4)
の前記汎用ステージ(T)に対する姿勢を調節する前記
姿勢調節機構(A)。
【0012】
【作用】次に、前述の特徴を備えた本発明の作用を説明
する。 (第1発明の作用) 前述の特徴を備えた第1発明の顕微分析用試料ホルダ
(H)のホルダ本体部材(4)は、顕微鏡の汎用ステー
ジ(T)に着脱自在に装着される。姿勢調節機構(A)
により、ホルダ本体部材(4)上の前記一対の移動部材
(21,21)を用いて保持した顕微分析用試料(S)
を所望の姿勢(顕微分析を行うのに適切な姿勢)に保持
することができる。前記ホルダ本体部材(4)上で相対
的に接近する方向および離れる方向に移動可能に支持さ
れた一対の移動部材(21,21)の固定部材装着部
(21c,21c)に前記端部固定部材(23,23)が
着脱可能に装着された状態では、前記端部固定部材(2
3,23)は、前記一対の移動部材(21,21)が相
対的に離れる方向に移動したときに前記顕微分析用試料
(S)に張力が作用するように前記顕微分析用試料
(S)の両端部を固定する。例えば、前記一対の端部固
定部材(23)によって線状、帯状、シート状等の顕微
分析用試料(S)の端部が固定される。この固定状態で
操作部材(22)により、前記一対の移動部材(21,
21)を互いに離れる方向に移動させると、前記固定さ
れた顕微分析用試料(S)は両側に引っ張られる。した
がって、顕微分析用試料(S)を所望の姿勢に保持した
状態で且つ前記顕微分析用試料(S)に張力が作用した
状態で顕微分析を行うことができる。前記一対の移動部
材(21,21)の装着部(21c)に前記挟持部材
(24)が装着された状態では、前記一対の挟持部材
(24)によって顕微分析用試料(S)が挟持され、保
持される。この挟持状態で顕微分析を行うことができ
る。また、この挟持状態で前記操作部材(22)によ
り、前記一対の移動部材(21,21)を互いに接近す
る方向に移動させると、挟持された顕微分析用試料
(S)は両側から押圧されて圧縮力を受ける。したがっ
て、顕微分析用試料(S)の圧縮状態での分析を行うこ
とが可能である。
する。 (第1発明の作用) 前述の特徴を備えた第1発明の顕微分析用試料ホルダ
(H)のホルダ本体部材(4)は、顕微鏡の汎用ステー
ジ(T)に着脱自在に装着される。姿勢調節機構(A)
により、ホルダ本体部材(4)上の前記一対の移動部材
(21,21)を用いて保持した顕微分析用試料(S)
を所望の姿勢(顕微分析を行うのに適切な姿勢)に保持
することができる。前記ホルダ本体部材(4)上で相対
的に接近する方向および離れる方向に移動可能に支持さ
れた一対の移動部材(21,21)の固定部材装着部
(21c,21c)に前記端部固定部材(23,23)が
着脱可能に装着された状態では、前記端部固定部材(2
3,23)は、前記一対の移動部材(21,21)が相
対的に離れる方向に移動したときに前記顕微分析用試料
(S)に張力が作用するように前記顕微分析用試料
(S)の両端部を固定する。例えば、前記一対の端部固
定部材(23)によって線状、帯状、シート状等の顕微
分析用試料(S)の端部が固定される。この固定状態で
操作部材(22)により、前記一対の移動部材(21,
21)を互いに離れる方向に移動させると、前記固定さ
れた顕微分析用試料(S)は両側に引っ張られる。した
がって、顕微分析用試料(S)を所望の姿勢に保持した
状態で且つ前記顕微分析用試料(S)に張力が作用した
状態で顕微分析を行うことができる。前記一対の移動部
材(21,21)の装着部(21c)に前記挟持部材
(24)が装着された状態では、前記一対の挟持部材
(24)によって顕微分析用試料(S)が挟持され、保
持される。この挟持状態で顕微分析を行うことができ
る。また、この挟持状態で前記操作部材(22)によ
り、前記一対の移動部材(21,21)を互いに接近す
る方向に移動させると、挟持された顕微分析用試料
(S)は両側から押圧されて圧縮力を受ける。したがっ
て、顕微分析用試料(S)の圧縮状態での分析を行うこ
とが可能である。
【0013】(第2発明の作用) 前記構成を備えた第2発明の顕微分析用試料ホルダ
(H)では、前記第1発明の移動部材(21)に着脱可
能な挟持部材(24)により顕微分析用の試料(S)を
挟持して圧縮する代わりに、前記移動部材(21)自体
に設けられた挟持面により、顕微分析用の試料(S)を
挟持して圧縮する。第2発明のその他の作用は前記第1
発明の作用と同様である。
(H)では、前記第1発明の移動部材(21)に着脱可
能な挟持部材(24)により顕微分析用の試料(S)を
挟持して圧縮する代わりに、前記移動部材(21)自体
に設けられた挟持面により、顕微分析用の試料(S)を
挟持して圧縮する。第2発明のその他の作用は前記第1
発明の作用と同様である。
【0014】(本発明の実施の形態1の作用) 前記構成を備えた本発明の実施の形態2の顕微分析用試
料ホルダ(H)では、前記一対の移動部材(21,2
1)は、互いに対向する側と反対側にそれぞれ形成され
て移動方向に延びる移動用ネジ孔(21b)を有する。
前記ホルダ本体部材(4)上に回転可能且つスライド移
動不可能に支持された前記操作部材(22)は、内端部
に前記移動用ネジ孔(21b)に螺合するネジ(22b)
を有し、外端部に手でつまんで回転させるためのツマミ
(22a)が形成される。したがって、前記一対の各移
動部材(21,21)の移動用ネジ孔(21b)にそれ
ぞれ螺合する操作部材(22)のツマミ(22a)を回
転操作することによって前記一対の移動部材(21,2
1)をそれぞれ独立に移動させることができる。このた
め、前記操作部材(22)の回転操作により、前記移動
部材(21,21)を、互いに離れる方向または互いに
接近する方向に容易に移動させることができ、また、同
一方向に容易に移動させることができる。したがって、
簡単な構成によりまた前記操作部材(21)の簡単な操
作により顕微分析用の試料(S)を容易に移動させた
り、前記顕微分析用の試料(S)に容易に引張力や圧縮
力を作用させることができる。 (本発明の実施の形態2の作用) 前記構成を備えた本発明の実施の形態2の顕微分析用試
料ホルダ(H)では、前記ホルダ本体部材(4)を支持
する被位置決め部材(1)が、前記汎用ステージ(T)
の所定位置に着脱自在に装着される。前記被位置決め部
材(1)と前記ホルダ本体部材(4)との間に設けた姿
勢調節機構(A)は、前記汎用ステージ(T)の所定位
置に装着された被位置決め部材(1)に対するホルダ本
体部材(4)の姿勢を調節する。このとき、前記ホルダ
本体部材(4)の前記汎用ステージ(T)に対する姿勢
が調節される。
料ホルダ(H)では、前記一対の移動部材(21,2
1)は、互いに対向する側と反対側にそれぞれ形成され
て移動方向に延びる移動用ネジ孔(21b)を有する。
前記ホルダ本体部材(4)上に回転可能且つスライド移
動不可能に支持された前記操作部材(22)は、内端部
に前記移動用ネジ孔(21b)に螺合するネジ(22b)
を有し、外端部に手でつまんで回転させるためのツマミ
(22a)が形成される。したがって、前記一対の各移
動部材(21,21)の移動用ネジ孔(21b)にそれ
ぞれ螺合する操作部材(22)のツマミ(22a)を回
転操作することによって前記一対の移動部材(21,2
1)をそれぞれ独立に移動させることができる。このた
め、前記操作部材(22)の回転操作により、前記移動
部材(21,21)を、互いに離れる方向または互いに
接近する方向に容易に移動させることができ、また、同
一方向に容易に移動させることができる。したがって、
簡単な構成によりまた前記操作部材(21)の簡単な操
作により顕微分析用の試料(S)を容易に移動させた
り、前記顕微分析用の試料(S)に容易に引張力や圧縮
力を作用させることができる。 (本発明の実施の形態2の作用) 前記構成を備えた本発明の実施の形態2の顕微分析用試
料ホルダ(H)では、前記ホルダ本体部材(4)を支持
する被位置決め部材(1)が、前記汎用ステージ(T)
の所定位置に着脱自在に装着される。前記被位置決め部
材(1)と前記ホルダ本体部材(4)との間に設けた姿
勢調節機構(A)は、前記汎用ステージ(T)の所定位
置に装着された被位置決め部材(1)に対するホルダ本
体部材(4)の姿勢を調節する。このとき、前記ホルダ
本体部材(4)の前記汎用ステージ(T)に対する姿勢
が調節される。
【0015】
【実施例】次に図面を参照しながら、本発明の顕微分析
用試料ホルダの実施例を説明するが、本発明は以下の実
施例に限定されるものではない。図1は本発明の顕微分
析用試料ホルダの一実施例の分解斜視図である。図2は
同実施例の平面図である。図3は同実施例の顕微分析用
試料ホルダを顕微分析装置の汎用ステージに装着した状
態の縦断面図であり、前記図2の顕微分析用試料ホルダ
のIII−III線断面図を含む図である。
用試料ホルダの実施例を説明するが、本発明は以下の実
施例に限定されるものではない。図1は本発明の顕微分
析用試料ホルダの一実施例の分解斜視図である。図2は
同実施例の平面図である。図3は同実施例の顕微分析用
試料ホルダを顕微分析装置の汎用ステージに装着した状
態の縦断面図であり、前記図2の顕微分析用試料ホルダ
のIII−III線断面図を含む図である。
【0016】なお、以後の説明の理解を容易にするため
に、図面において互いに直交する矢印X,Y,Zの方向
に直交座標軸X軸、Y軸、Z軸を定義し、矢印X方向を
前方、矢印Y方向を左方、 矢印Z方向を上方とする。
この場合、X方向(前方)と逆向き(−X方向すなわ
ち、反X方向)は後方、Y方向(左方)と逆向き(−Y
方向すなわち、反Y方向)は右方、Z方向(上方)と逆
向き(−Z方向すなわち、反Z方向)は下方となる。ま
た、前方(X方向)及び後方(−X方向)を含めて前後
方向又はX軸方向といい、左方(Y方向)及び右方(−
Y方向)を含めて左右方向又はY軸方向といい、上方
(Z方向)及び下方(−Z方向)を含めて上下方向又は
Z軸方向ということにする。さらに図中、「○」の中に
「・」が記載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印
を意味し、「○」の中に「×」が記載されたものは紙面
の表から裏に向かう矢印を意味するものとする。
に、図面において互いに直交する矢印X,Y,Zの方向
に直交座標軸X軸、Y軸、Z軸を定義し、矢印X方向を
前方、矢印Y方向を左方、 矢印Z方向を上方とする。
この場合、X方向(前方)と逆向き(−X方向すなわ
ち、反X方向)は後方、Y方向(左方)と逆向き(−Y
方向すなわち、反Y方向)は右方、Z方向(上方)と逆
向き(−Z方向すなわち、反Z方向)は下方となる。ま
た、前方(X方向)及び後方(−X方向)を含めて前後
方向又はX軸方向といい、左方(Y方向)及び右方(−
Y方向)を含めて左右方向又はY軸方向といい、上方
(Z方向)及び下方(−Z方向)を含めて上下方向又は
Z軸方向ということにする。さらに図中、「○」の中に
「・」が記載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印
を意味し、「○」の中に「×」が記載されたものは紙面
の表から裏に向かう矢印を意味するものとする。
【0017】図3において、顕微分析装置の汎用ステー
ジTにはリング状凹部T1が形成されている。図1〜3
において、顕微分析用試料ホルダHは、ドーナツ状のリ
ングプレート1を有している。リングプレート1は、後
述のホルダ本体部材を支持するとともに、前記汎用ステ
ージT(図3参照)のリング状凹部T1に着脱自在に装
着される被位置決め部材としての機能を有している。リ
ングプレート1の上面には1個の姿勢調節用突起2が設
けられている。また、リングプレート1の内周面には3
箇所のバネ貫通溝3が設けられている。この3箇所のバ
ネ貫通溝3の下面部分にはそれぞれそのバネ貫通溝3を
横切る1本の溝3a(図1参照)が形成されている。
ジTにはリング状凹部T1が形成されている。図1〜3
において、顕微分析用試料ホルダHは、ドーナツ状のリ
ングプレート1を有している。リングプレート1は、後
述のホルダ本体部材を支持するとともに、前記汎用ステ
ージT(図3参照)のリング状凹部T1に着脱自在に装
着される被位置決め部材としての機能を有している。リ
ングプレート1の上面には1個の姿勢調節用突起2が設
けられている。また、リングプレート1の内周面には3
箇所のバネ貫通溝3が設けられている。この3箇所のバ
ネ貫通溝3の下面部分にはそれぞれそのバネ貫通溝3を
横切る1本の溝3a(図1参照)が形成されている。
【0018】リングプレート1の上方に配置されるホル
ダ本体部材4は、外形は平面図でほぼ長方形であり、そ
の中央部に円形の孔4a(図1参照)が形成されてい
る。ホルダ本体部材4の上面には前記孔4aの左右(Y
軸方向の両側)に浅い溝6,6が形成されている。溝
6,6の外周部分には複数のネジ貫通孔6aが形成され
ている。また、ホルダ本体部材4の前記孔4aの周囲に
は、3個のバネ貫通孔7が形成されている。このバネ貫
通孔7は前記リングプレート1のバネ貫通溝3に対応し
て配置されており、リングプレート1およびホルダ本体
部材4を重ねたとき、それらのバネ貫通溝3および7は
接続するようになっている。このバネ貫通孔7の上端部
にはそれぞれバネ貫通孔7を横切る1本の溝7aが形成
されている。また、ホルダ本体部材4の前記孔4aの周
囲には姿勢調整ネジ孔8,9が形成されている。
ダ本体部材4は、外形は平面図でほぼ長方形であり、そ
の中央部に円形の孔4a(図1参照)が形成されてい
る。ホルダ本体部材4の上面には前記孔4aの左右(Y
軸方向の両側)に浅い溝6,6が形成されている。溝
6,6の外周部分には複数のネジ貫通孔6aが形成され
ている。また、ホルダ本体部材4の前記孔4aの周囲に
は、3個のバネ貫通孔7が形成されている。このバネ貫
通孔7は前記リングプレート1のバネ貫通溝3に対応し
て配置されており、リングプレート1およびホルダ本体
部材4を重ねたとき、それらのバネ貫通溝3および7は
接続するようになっている。このバネ貫通孔7の上端部
にはそれぞれバネ貫通孔7を横切る1本の溝7aが形成
されている。また、ホルダ本体部材4の前記孔4aの周
囲には姿勢調整ネジ孔8,9が形成されている。
【0019】前記3個の各バネ貫通孔7およびバネ貫通
溝3にはそれぞれコイル状の引張バネ11が収容されて
いる。その引張バネ11の下端を支持する下端係止バー
11aは、前記バネ貫通溝3下端の溝3aに係止され、引
張バネ11の上端を支持する上端係止バー11bは、前
記バネ貫通孔7上端の溝7aに係止される。前記3本の
引張バネ11、下端係止バー11a、および上端係止バ
ー11bにより、前記リングプレート1およびホルダ本
体部材4は密着状態で保持される。前記姿勢調整ネジ孔
8,9には、それぞれ姿勢調整ネジ12,13がホルダ
本体部材4の上方からねじ込まれており、その下端はリ
ングプレート1の上面に達している。前記姿勢調整ネジ
孔8は前記リングプレート1上面の姿勢調整用突起2の
後方(−X方向)に配置されており、前記姿勢調整ネジ
孔9は姿勢調整用突起2の右方(−Y方向)に配置され
ている。前記符号2,3,7〜13等で示された要素か
ら姿勢調節機構A(図3参照)が構成されている。
溝3にはそれぞれコイル状の引張バネ11が収容されて
いる。その引張バネ11の下端を支持する下端係止バー
11aは、前記バネ貫通溝3下端の溝3aに係止され、引
張バネ11の上端を支持する上端係止バー11bは、前
記バネ貫通孔7上端の溝7aに係止される。前記3本の
引張バネ11、下端係止バー11a、および上端係止バ
ー11bにより、前記リングプレート1およびホルダ本
体部材4は密着状態で保持される。前記姿勢調整ネジ孔
8,9には、それぞれ姿勢調整ネジ12,13がホルダ
本体部材4の上方からねじ込まれており、その下端はリ
ングプレート1の上面に達している。前記姿勢調整ネジ
孔8は前記リングプレート1上面の姿勢調整用突起2の
後方(−X方向)に配置されており、前記姿勢調整ネジ
孔9は姿勢調整用突起2の右方(−Y方向)に配置され
ている。前記符号2,3,7〜13等で示された要素か
ら姿勢調節機構A(図3参照)が構成されている。
【0020】前記ホルダ本体部材4の上面の浅い溝6に
は、その外端部に操作部材支持枠16が配置され、操作
部材支持枠16は、前記ネジ貫通孔6aを貫通する固定
ネジ17(図1参照)により固定されている。また、前
記ホルダ本体部材4上面の溝6には、平行な一対のガイ
ド枠18,18が前記ネジ貫通孔6aを貫通する固定ネ
ジ(図示せず)により固定されている。この一対のガイ
ド枠18,18の対向する面は図1から分かるように、
下方に行くに従って間隔が広がるガイド面18a,18a
を形成している。
は、その外端部に操作部材支持枠16が配置され、操作
部材支持枠16は、前記ネジ貫通孔6aを貫通する固定
ネジ17(図1参照)により固定されている。また、前
記ホルダ本体部材4上面の溝6には、平行な一対のガイ
ド枠18,18が前記ネジ貫通孔6aを貫通する固定ネ
ジ(図示せず)により固定されている。この一対のガイ
ド枠18,18の対向する面は図1から分かるように、
下方に行くに従って間隔が広がるガイド面18a,18a
を形成している。
【0021】前記ガイド面18a,18aにガイドされて
左右(Y軸方向)に移動する移動部材21の被ガイド面
21a,21aは、前記ガイド面18a,18aとスライド
可能に係合する形状を有している。移動部材21にはそ
の外端側部分に左右に延びる移動用ネジ孔21bが形成
されている。また、移動部材21にはその内端側部分に
顕微分析用試料を保持するための保持部材(後述)を着
脱可能に装着するための装着部21cが設けられてい
る。装着部21cは他の部分よりも低く形成されてお
り、保持部材固着用ネジ孔21d,21dが形成されてい
る。前記操作部材支持枠16には棒状の操作部材22が
回転自在に支持されている。操作部材22の外端部には
手でつまんで回転させるためのツマミ22aが形成され
ている。操作部材22の内端部にはネジ22bが形成さ
れている。このネジ22bは前記移動部材21の移動用
ネジ孔21bと螺合している。したがって、前記ツマミ
22aを摘んで操作部材22を回転させると、移動部材
21は前記ガイド面18a,18aにガイドされて左右
(Y軸方向)に移動するようになっている。
左右(Y軸方向)に移動する移動部材21の被ガイド面
21a,21aは、前記ガイド面18a,18aとスライド
可能に係合する形状を有している。移動部材21にはそ
の外端側部分に左右に延びる移動用ネジ孔21bが形成
されている。また、移動部材21にはその内端側部分に
顕微分析用試料を保持するための保持部材(後述)を着
脱可能に装着するための装着部21cが設けられてい
る。装着部21cは他の部分よりも低く形成されてお
り、保持部材固着用ネジ孔21d,21dが形成されてい
る。前記操作部材支持枠16には棒状の操作部材22が
回転自在に支持されている。操作部材22の外端部には
手でつまんで回転させるためのツマミ22aが形成され
ている。操作部材22の内端部にはネジ22bが形成さ
れている。このネジ22bは前記移動部材21の移動用
ネジ孔21bと螺合している。したがって、前記ツマミ
22aを摘んで操作部材22を回転させると、移動部材
21は前記ガイド面18a,18aにガイドされて左右
(Y軸方向)に移動するようになっている。
【0022】前記装着部21cは、保持部材としての端
部材固定部材23、又は挟持部材24等が装着される部
分である。端部固定部材23(図1,2参照)は、図2
に示す線状、帯状、シート状、又は板状等の顕微分析用
試料Sの端部を固定するための部材)であり、前記保持
部材固着用ネジ孔21dに螺合する装着用ネジ26によ
って、前記装着部21cに着脱自在に装着される。又、
挟持部材24は、固体の顕微分析用試料を左右から挟持
する挟持面24aを有する部材であり、前記端部固定部
材22と同様に前記装着部21cに着脱自在に装着され
る。
部材固定部材23、又は挟持部材24等が装着される部
分である。端部固定部材23(図1,2参照)は、図2
に示す線状、帯状、シート状、又は板状等の顕微分析用
試料Sの端部を固定するための部材)であり、前記保持
部材固着用ネジ孔21dに螺合する装着用ネジ26によ
って、前記装着部21cに着脱自在に装着される。又、
挟持部材24は、固体の顕微分析用試料を左右から挟持
する挟持面24aを有する部材であり、前記端部固定部
材22と同様に前記装着部21cに着脱自在に装着され
る。
【0023】(実施例の作用) 次に、前述の特徴を備えた本発明の顕微分析用試料ホル
ダの実施例の作用を説明する。本発明の顕微分析用試料
ホルダHのホルダ本体部材4を支持するリングプレート
(被位置決め部材)1は、顕微鏡の汎用ステージTのリ
ング状凹部T1に着脱自在に装着される。前記ホルダ本
体部材4上で互いに接近する方向および離れる方向に移
動可能に支持された一対の移動部材21,21は、前記
操作部材22により、互いに接近する方向および離れる
方向に移動させられる。この一対の移動部材21,21
の装着部21cに、顕微分析用試料Sの端部を固定する
端部固定部材23又は顕微分析用試料Sを挟持するため
の挟持部材24が、それぞれ着脱可能に装着される。
ダの実施例の作用を説明する。本発明の顕微分析用試料
ホルダHのホルダ本体部材4を支持するリングプレート
(被位置決め部材)1は、顕微鏡の汎用ステージTのリ
ング状凹部T1に着脱自在に装着される。前記ホルダ本
体部材4上で互いに接近する方向および離れる方向に移
動可能に支持された一対の移動部材21,21は、前記
操作部材22により、互いに接近する方向および離れる
方向に移動させられる。この一対の移動部材21,21
の装着部21cに、顕微分析用試料Sの端部を固定する
端部固定部材23又は顕微分析用試料Sを挟持するため
の挟持部材24が、それぞれ着脱可能に装着される。
【0024】前記一対の移動部材21,21の装着部2
1cに前記端部固定部材23が装着された状態では、前
記一対の端部固定部材23によって線状、帯状、シート
状等の顕微分析用試料Sの端部が固定される。この固定
状態で顕微分析を行うことができる。また、この固定状
態で前記一対の移動部材21,21を互いに離れる方向
に移動させると、前記固定された顕微分析用試料Sは両
側から引っ張られる。したがって、顕微分析用試料Sの
引張力を受けた状態での分析を行うことが可能である。
また、前記一対の移動部材21,21の装着部21cに
前記挟持部材24が装着された状態では、前記一対の挟
持部材24によって顕微分析用試料Sが挟持され、保持
される。この挟持状態で顕微分析を行うことができる。
また、この挟持状態で前記一対の移動部材21,21を
互いに接近させると、挟持された顕微分析用試料Sは両
側から押圧されて圧縮力を受ける。したがって、顕微分
析用試料Sの圧縮状態での分析を行うことが可能であ
る。
1cに前記端部固定部材23が装着された状態では、前
記一対の端部固定部材23によって線状、帯状、シート
状等の顕微分析用試料Sの端部が固定される。この固定
状態で顕微分析を行うことができる。また、この固定状
態で前記一対の移動部材21,21を互いに離れる方向
に移動させると、前記固定された顕微分析用試料Sは両
側から引っ張られる。したがって、顕微分析用試料Sの
引張力を受けた状態での分析を行うことが可能である。
また、前記一対の移動部材21,21の装着部21cに
前記挟持部材24が装着された状態では、前記一対の挟
持部材24によって顕微分析用試料Sが挟持され、保持
される。この挟持状態で顕微分析を行うことができる。
また、この挟持状態で前記一対の移動部材21,21を
互いに接近させると、挟持された顕微分析用試料Sは両
側から押圧されて圧縮力を受ける。したがって、顕微分
析用試料Sの圧縮状態での分析を行うことが可能であ
る。
【0025】前記汎用ステージTに装着された前記ホル
ダ本体部材4の前記汎用ステージTに対する姿勢は前記
姿勢調節機構Aにより調節できる。すなわち、前記姿勢
調整ネジ12により前記姿勢調整用突起2を中心とする
ホルダ本体部材4のX軸方向に沿う傾斜姿勢を調節する
ことができ、また、前記姿勢調整ネジ13により前記姿
勢調整用突起2を中心とするホルダ本体部材4のY軸方
向に沿う傾斜姿勢を調節することができる。前記姿勢調
節機構Aにより、ホルダ本体部材4上の前記一対の移動
部材21,21を用いて保持した顕微分析用試料Sを所
望の姿勢(顕微分析を行うのに適切な姿勢)に保持する
ことができる。
ダ本体部材4の前記汎用ステージTに対する姿勢は前記
姿勢調節機構Aにより調節できる。すなわち、前記姿勢
調整ネジ12により前記姿勢調整用突起2を中心とする
ホルダ本体部材4のX軸方向に沿う傾斜姿勢を調節する
ことができ、また、前記姿勢調整ネジ13により前記姿
勢調整用突起2を中心とするホルダ本体部材4のY軸方
向に沿う傾斜姿勢を調節することができる。前記姿勢調
節機構Aにより、ホルダ本体部材4上の前記一対の移動
部材21,21を用いて保持した顕微分析用試料Sを所
望の姿勢(顕微分析を行うのに適切な姿勢)に保持する
ことができる。
【0026】(変更例) 以上、本発明の実施例を詳述したが、本発明は、前記実
施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載
された本発明の要旨の範囲内で、種々の変更を行うこと
が可能である。本発明の変更実施例を下記に例示する。 (H01) 移動部材21自体に挟持面を設けたり、端部
固定手段を設けたりすることが可能である。 (H02) 被位置決め部材1は、リングプレート1以外
の形状(汎用ステージT上に位置決め固定可能な構造)
を採用することが可能である。 (H03) リングプレート1を省略して、ホルダ本体部
材4自体に被位置決め構造を持たせることが可能であ
る。この場合、ホルダ本体部材4の汎用ステージTに対
する姿勢調節(傾斜姿勢の調節)は、リングプレート1
に対して行う代わりに直接汎用ステージTに対して行う
ように構成することが可能である。
施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載
された本発明の要旨の範囲内で、種々の変更を行うこと
が可能である。本発明の変更実施例を下記に例示する。 (H01) 移動部材21自体に挟持面を設けたり、端部
固定手段を設けたりすることが可能である。 (H02) 被位置決め部材1は、リングプレート1以外
の形状(汎用ステージT上に位置決め固定可能な構造)
を採用することが可能である。 (H03) リングプレート1を省略して、ホルダ本体部
材4自体に被位置決め構造を持たせることが可能であ
る。この場合、ホルダ本体部材4の汎用ステージTに対
する姿勢調節(傾斜姿勢の調節)は、リングプレート1
に対して行う代わりに直接汎用ステージTに対して行う
ように構成することが可能である。
【0027】
【発明の効果】本発明の顕微分析用試料ホルダは下記の
効果を奏する。 (E01) ステージおよび顕微分析用試料を汚すことな
く、顕微分析用試料をその保持位置に所望の姿勢で容易
に保持することができる。 (E02) 顕微分析用試料に圧縮力を加えた状態での顕
微分析作業および引張力を加えた状態の顕微分析作業の
両方の作業を容易且つ手軽に行うことができる。
効果を奏する。 (E01) ステージおよび顕微分析用試料を汚すことな
く、顕微分析用試料をその保持位置に所望の姿勢で容易
に保持することができる。 (E02) 顕微分析用試料に圧縮力を加えた状態での顕
微分析作業および引張力を加えた状態の顕微分析作業の
両方の作業を容易且つ手軽に行うことができる。
【図1】 図1は本発明の顕微分析用試料ホルダの一実
施例の分解斜視図である。
施例の分解斜視図である。
【図2】 図2は同実施例の平面図である。
【図3】 図3は同実施例の顕微分析用試料ホルダを顕
微分析装置の汎用ステージに装着した状態の縦断面図で
あり、前記図2の顕微分析用試料ホルダのIII−III線断
面図を含む図である。
微分析装置の汎用ステージに装着した状態の縦断面図で
あり、前記図2の顕微分析用試料ホルダのIII−III線断
面図を含む図である。
A…姿勢調節機構、H…顕微分析用試料ホルダ、T…汎
用ステージ、S…顕微分析用試料、 1…被位置決め部材(リングプレート)、4…ホルダ本
体部材、21…移動部材、21c…装着部、22…操作
部材、23…端部固定部材、24…挟持部材。
用ステージ、S…顕微分析用試料、 1…被位置決め部材(リングプレート)、4…ホルダ本
体部材、21…移動部材、21c…装着部、22…操作
部材、23…端部固定部材、24…挟持部材。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02B 21/00 - 21/36 G01N 1/28
Claims (3)
- 【請求項1】 下記の要件を備えた顕微分析用試料ホル
ダ、 (A01) 顕微鏡の汎用ステージに着脱自在に装着され
るホルダ本体部材、 (A02) 前記汎用ステージに装着された前記ホルダ本
体部材の前記汎用ステージに対する姿勢を調節する姿勢
調節機構、 (A03) 前記ホルダ本体部材上で相対的に接近する方
向および離れる方向に移動可能に支持されるとともに、
顕微分析用試料の端部を固定するための端部固定部材が
着脱可能に装着される固定部材装着部と、顕微分析用試
料の両端部を挟持するために前記両端部のうちの一端部
を押圧する挟持部材が着脱可能に装着される挟持部材装
着部とが設けられた一対の移動部材、 (A04) 前記一対の移動部材の各々に連結された手動
操作用の操作部材であって、前記各移動部材を相対的に
離れる方向または接近する方向にそれぞれ独立して移動
させる操作部材。 - 【請求項2】 下記の要件を備えた顕微分析用試料ホル
ダ、 (B01) 顕微鏡の汎用ステージに着脱自在に装着され
るホルダ本体部材、 (B02) 前記汎用ステージに装着された前記ホルダ本
体部材の前記汎用ステージに対する姿勢を調節する姿勢
調節機構、 (B03) 前記ホルダ本体部材上で相対的に接近する方
向および離れる方向に移動可能に支持されるとともに、
顕微分析用試料の端部を固定するための端部固定部材が
着脱可能に装着される固定部材装着部と、顕微分析用試
料の両端部を挟持するために前記両端部のうちの一端部
を押圧する挟持部とが設けられた一対の移動部材、 (B04) 前記一対の移動部材の各々に連結された手動
操作用の操作部材であって、前記各移動部材を互いに独
立して相対的に離れる方向または接近する方向に移動さ
せる操作部材。 - 【請求項3】 下記の要件を備えた請求項1または2記
載の顕微分析用試料ホルダ、 (C01) 互いに対向する側と反対側にそれぞれ形成さ
れて移動方向に延びる移動用ネジ孔21b,21bを有す
る前記一対の移動部材、 (C02) 前記ホルダ本体部材4上に回転可能且つスラ
イド移動不可能に支持されて、内端部に前記移動用ネジ
孔21bに螺合するネジ22bを有し、外端部に手でつま
んで回転させるためのツマミ22aが形成された前記操
作部材22。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5275147A JP2846562B2 (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 顕微分析用試料ホルダ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5275147A JP2846562B2 (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 顕微分析用試料ホルダ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07128598A JPH07128598A (ja) | 1995-05-19 |
JP2846562B2 true JP2846562B2 (ja) | 1999-01-13 |
Family
ID=17551340
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5275147A Expired - Fee Related JP2846562B2 (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 顕微分析用試料ホルダ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2846562B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7219565B2 (en) * | 2002-04-08 | 2007-05-22 | E.A. Fischione Instruments, Inc. | Specimen holding apparatus |
JP4468129B2 (ja) * | 2004-09-30 | 2010-05-26 | 株式会社東芝 | 濃度測定装置 |
US10571433B2 (en) * | 2016-11-04 | 2020-02-25 | Sonix, Inc. | Adjustable fixture for scanning acoustic microscopy |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4942941U (ja) * | 1972-07-15 | 1974-04-15 | ||
US4012111A (en) * | 1975-08-25 | 1977-03-15 | Honeywell Inc. | Microscope object slide positioning system |
DE3028154C2 (de) * | 1980-07-25 | 1986-07-03 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Objekthalter für inverse Mikroskope |
JPS6044019U (ja) * | 1983-09-05 | 1985-03-28 | オリンパス光学工業株式会社 | 顕微鏡の試料保持具 |
JPH02190813A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-26 | Hitachi Ltd | 試料容器の水平調節方法及び装置 |
-
1993
- 1993-11-04 JP JP5275147A patent/JP2846562B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07128598A (ja) | 1995-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2846562B2 (ja) | 顕微分析用試料ホルダ | |
KR101443654B1 (ko) | 카메라 모듈의 광축 조정장치 및 광축 조정방법 | |
JP5125700B2 (ja) | レンズ保持装置およびそれを用いた投影型表示装置 | |
JP2009251207A5 (ja) | ||
JPH0639235B2 (ja) | 4つのボ−デンケ−ブルの個別操作装置 | |
CN214538981U (zh) | 一种嵌钉拉力测试装置 | |
CN212966857U (zh) | 固定装置及柔性屏贴合设备 | |
JP2001337020A (ja) | 曲げ試験装置 | |
JP3373113B2 (ja) | 試料微動機構及び試料ホルダ | |
JPS6217723A (ja) | 走査型顕微鏡用試料塔載装置 | |
JP2002248588A (ja) | レーザ切断加工における極薄金属板の保持装置 | |
JP6796455B2 (ja) | 試料台支持具 | |
JP3986769B2 (ja) | 試料ホルダおよび試料固定方法 | |
JP6858449B2 (ja) | 試料スライサー | |
JP2002162321A (ja) | 試料採取装置および試料採取方法 | |
CN213960424U (zh) | 一种贴装治具 | |
JP2567596Y2 (ja) | シート状物の位置決め装置 | |
CN220105502U (zh) | 投影机镜片调整装置、投影机镜片可调***和投影机 | |
JP6253905B2 (ja) | 試料ホルダ、顕微分析方法および試料作成方法 | |
KR101992738B1 (ko) | 소재 성분 분석용 그리드 공급 장치 및 그리드 고정키트 | |
JP3432894B2 (ja) | 光ファイバ接続部の仮置台 | |
CN117988087A (zh) | 一种切割装置 | |
JPH10221200A (ja) | 三軸支持案内装置 | |
JP4050862B2 (ja) | 試料ホルダ搬送装置 | |
JPH0419951A (ja) | 電子顕微鏡用バルク試料ホールダ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111030 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111030 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030 Year of fee payment: 15 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |