JP2787019B2 - Phase change and chirp frequency analyzer for short pulse light - Google Patents
Phase change and chirp frequency analyzer for short pulse lightInfo
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Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ホトコンダクタを
使った光パルス強度波形測定と光スペクトラムアナイザ
を使った光スペクトラム測定とを組み合わせた短パルス
光の位相変化もしくはチャープ周波数の変化を求める装
置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for determining a phase change or a chirp frequency change of a short pulse light by combining an optical pulse intensity waveform measurement using a photoconductor and an optical spectrum measurement using an optical spectrum analyzer. About.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図６は、短パルス光の強度波形の測定装
置の一構成例を示すブロック図である。2. Description of the Related Art FIG. 6 is a block diagram showing an example of a configuration of an apparatus for measuring an intensity waveform of a short pulse light.
【０００３】本従来例は図６に示すように、短パルス光
が出射される短パルス光発生源１０１と、短パルス光発
生源１０１から出射された短パルス光を電気パルス信号
に変換し、出力するホトコンダクタ１０２と、ホトコン
ダクタ１０２に電源を供給するＤＣ電源１０３と、ホト
コンダクタ１０２から出力された電気パルス信号に基づ
いて短パルス光発生源１０１から出射された短パルス光
の強度波形を出力する高速波形測定装置１０４とから構
成されている。In this conventional example, as shown in FIG. 6, a short pulse light source 101 from which short pulse light is emitted and a short pulse light emitted from the short pulse light source 101 are converted into an electric pulse signal. A photoconductor 102 for outputting, a DC power supply 103 for supplying power to the photoconductor 102, and an intensity waveform of the short pulse light emitted from the short pulse light source 101 based on the electric pulse signal output from the photoconductor 102. And a high-speed waveform measuring device 104 for outputting.
【０００４】上記のように構成された装置においては、
ホトコンダクタ１０２の片側にＤＣ電源１０３からの電
圧が印加された状態で、短パルス光発生源１０１におい
て周期的に発生した短パルス光がホトコンダクタ１０２
に入射されると、ホトコンダクタ１０２のもう一方の側
から短パルス光の波形が電気パルス信号として出力さ
れ、この電気パルス信号がサンプリングオシロスコープ
のような高速波形測定装置１０４に入力されて、短パル
ス光の強度波形が測定される。[0004] In the device configured as described above,
In a state where the voltage from the DC power supply 103 is applied to one side of the photoconductor 102, the short pulse light generated periodically in the short pulse light source 101 is
, A short-pulse light waveform is output from the other side of the photoconductor 102 as an electric pulse signal, and this electric pulse signal is input to a high-speed waveform measuring device 104 such as a sampling oscilloscope. A light intensity waveform is measured.
【０００５】なお、測定の際には、短パルス光の繰り返
し周期と同じ周期を有する波形捕捉トリガ信号が高速波
形測定装置１０４に入力される。At the time of measurement, a waveform capture trigger signal having the same cycle as the repetition cycle of the short pulse light is input to the high-speed waveform measurement device 104.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】近年、超高速光通信な
どの分野においては、短パルス光の強度の測定とともに
チャープ周波数の時間変化の測定に対するニーズが高ま
っている。In recent years, in the field of ultra-high-speed optical communication and the like, there has been an increasing need for measuring the intensity of short pulse light and the time change of chirp frequency.
【０００７】しかしながら、上述したような従来のもの
においては、短パルス光の強度波形の測定を行うことは
できるが、チャープ周波数の変化（位相の変化）の測定
を行うことはできない。However, in the above-described conventional device, the intensity waveform of the short pulse light can be measured, but the change in the chirp frequency (change in the phase) cannot be measured.
【０００８】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、短パルス光
の強度波形の測定とともに、チャープ周波数の時間変化
波形（光の位相の時間変化波形）の測定を行うことがで
きる短パルス光の位相変化及びチャープ周波数解析装置
を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and measures the intensity waveform of the short pulse light and the time-varying waveform of the chirp frequency (the time of the phase of the light). It is an object of the present invention to provide a phase change and chirp frequency analyzer of short pulse light capable of measuring a change waveform.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、短パルス光発生源から発生する短パルス光
の強度波形及びチャープ周波数の時間変化波形の測定を
行うことができる短パルス光の位相変化及びチャープ周
波数解析装置であって、前記短パルス光発生源から出射
された短パルス光を電気パルス信号に変換し、出力する
ホトコンダクタと、該ホトコンダクタから出力された電
気パルス信号に基づいて前記短パルス光発生源から出射
された短パルス光の強度振幅波形データを出力する高速
波形測定装置と、前記短パルス光発生源から出射された
短パルス光が入射され、短パルス光の電界パワースペク
トラムを測定し、測定データを出力する光スペクトラム
アナライザと、前記高速波形測定装置から出力された短
パルス光の強度振幅波形データと前記光スペクトラムア
ナライザから出力された測定データとに基づいて、前記
短パルス光発生源から出射された短パルス光の位相及び
チャープ周波数の時間変化波形を算出し、出力する演算
解析部とを有することを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a short pulse capable of measuring an intensity waveform of a short pulse light generated from a short pulse light source and a time-varying waveform of a chirp frequency. An optical phase change and chirp frequency analysis device, comprising: a photoconductor that converts a short pulse light emitted from the short pulse light generation source into an electric pulse signal and outputs the electric pulse signal; and an electric pulse signal output from the photoconductor. A high-speed waveform measuring device that outputs intensity amplitude waveform data of the short pulse light emitted from the short pulse light source based on the short pulse light emitted from the short pulse light source; An optical spectrum analyzer that measures the electric field power spectrum of the light and outputs measured data, and an intensity fluctuation of the short pulse light output from the high-speed waveform measuring device. Based on the waveform data and the measurement data output from the optical spectrum analyzer, a calculation and analysis unit that calculates the time-change waveform of the phase and chirp frequency of the short pulse light emitted from the short pulse light source, and outputs the calculated waveform. It is characterized by having.
【００１０】（作用）上記のように構成された本発明に
おいては、短パルス光発生源から短パルス光が出射され
ると、ホトコンダクタにおいて短パルス光が電気パルス
信号に変換され、また、光スペクトラムアナライザにお
いて短パルス光の電界パワースペクトラムが測定され
る。(Operation) In the present invention configured as described above, when the short pulse light is emitted from the short pulse light source, the short pulse light is converted into an electric pulse signal in the photoconductor, and The electric field power spectrum of the short pulse light is measured by the spectrum analyzer.
【００１１】そして、高速波形測定装置において、ホト
コンダクタから出力された電気パルス信号に基づいて短
パルス光の強度振幅波形データが出力され、演算解析部
において、高速波形測定装置から出力された短パルス光
の強度振幅波形データと光スペクトラムアナライザから
出力された測定データとに基づいて短パルス光の位相及
びチャープ周波数の時間変化波形が算出される。In the high-speed waveform measuring device, the intensity amplitude waveform data of the short pulse light is output based on the electric pulse signal output from the photoconductor, and the arithmetic and analysis unit outputs the short pulse light output from the high-speed waveform measuring device. A time-varying waveform of the phase and chirp frequency of the short pulse light is calculated based on the light intensity amplitude waveform data and the measurement data output from the optical spectrum analyzer.
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【００１３】図１は、本発明の短パルス光の位相変化及
びチャープ周波数解析装置の実施の一形態を示すブロッ
ク図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an apparatus for analyzing phase and chirp frequency of short pulse light according to the present invention.
【００１４】本形態は図１に示すように、短パルス光が
出射される短パルス光発生源１と、短パルス光発生源１
から出射された短パルス光を電気パルス信号に変換し、
出力するホトコンダクタ２と、ホトコンダクタ２に電源
を供給するＤＣ電源３と、ホトコンダクタ２から出力さ
れた電気パルス信号に基づいて短パルス光発生源１から
出射された短パルス光の強度振幅波形データを出力する
高速波形測定装置４と、短パルス光発生源１から出射さ
れた短パルス光が入射され、短パルス光の電界パワース
ペクトラム｜Ｅ（ω）｜2を測定し、測定データを出力
する光スペクトラムアナライザ５と、高速波形測定装置
４から出力された短パルス光の強度振幅波形データと光
スペクトラムアナライザ５から出力された測定データと
に基づいて短パルス光発生源１から出射された短パルス
光の位相及びチャープ周波数の時間変化波形を算出し、
出力する演算解析部６とから構成されている。In this embodiment, as shown in FIG. 1, a short pulse light source 1 from which short pulse light is emitted, and a short pulse light source 1
Converts the short pulse light emitted from to an electric pulse signal,
A photoconductor 2 for outputting, a DC power supply 3 for supplying power to the photoconductor 2, and an intensity amplitude waveform of a short pulse light emitted from the short pulse light source 1 based on an electric pulse signal output from the photoconductor 2. The high-speed waveform measuring device 4 for outputting data and the short pulse light emitted from the short pulse light source 1 are incident thereon, the electric field power spectrum | E (ω) | 2 of the short pulse light is measured, and the measurement data is output. The short-wavelength light emitted from the short-pulse light source 1 based on the optical spectrum analyzer 5 that performs Calculate the time-varying waveform of the phase and chirp frequency of the pulsed light,
And an operation analysis unit 6 for outputting.
【００１５】以下に、上記のように構成された装置の動
作について説明する。The operation of the apparatus configured as described above will be described below.
【００１６】（波形再生原理の簡単な説明）短パルス光
の波形ｅ（ｔ）を(Brief Description of Waveform Reproduction Principle) The waveform e (t) of the short pulse light is
【００１７】[0017]
【数１】 で表す。ここで、ω0は短パルス光の中心周波数、ｅ
1（ｔ）はゆっくり変化する位相を含む振幅をそれぞれ
表す。(Equation 1) Expressed by Here, ω 0 is the center frequency of the short pulse light, e
1 (t) represents an amplitude including a slowly changing phase.
【００１８】ｅ1（ｔ）を、光の強度Ｉ（ｔ）及び位相
変化量φ（ｔ）を用いて表すと、次式のように表され
る。When e 1 (t) is represented using the light intensity I (t) and the phase change amount φ (t), the following expression is obtained.
【００１９】[0019]
【数２】 ここで、式１を高速フーリエ変換した結果は、(Equation 2) Here, the result of fast Fourier transform of Equation 1 is
【００２０】[0020]
【数３】 となる。ただし、Ｅ（ω），Ｅ1（ω）はそれぞれｅ
（ｔ），ｅ1（ｔ）の高速フーリエ変換された値を表
す。(Equation 3) Becomes Where E (ω) and E 1 (ω) are e
(T) and e 1 (t) represent fast Fourier transformed values.
【００２１】式３より、ｅ1（ｔ）の電界パワースペク
トラム｜Ｅ1（ω）｜2は、ｅ（ｔ）の電界パワースペク
トラム｜Ｅ（ω）｜2の周波数軸をω0だけ負の方向に移
動させたものであることがわかり、電界パワースペクト
ラム｜Ｅ（ω）｜2のω＝ω0の位置を改めてω＝０とし
たものに等しい。From equation (3), the electric field power spectrum | E 1 (ω) | 2 of e 1 (t) indicates that the frequency axis of the electric field power spectrum | E (ω) | 2 of e (t) is negative by ω 0 . It can be seen that the electric field power spectrum | E (ω) | 2 has been changed to ω = 0 in the position of ω = ω 0 .
【００２２】図２は、短パルス光の位相の違いによる電
界パワースペクトラムの違いを示す図であり、（ａ）は
光パルス波形ｅ（ｔ）の電界パワースペクトラム｜Ｅ
（ω）｜2を示す図、（ｂ）は光パルス波形ｅ1（ｔ）の
電界パワースペクトラム｜Ｅ1（ω）｜2を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a difference in electric field power spectrum due to a difference in phase of short pulse light. FIG. 2A shows an electric field power spectrum | E of an optical pulse waveform e (t).
(Omega) | shows a 2, field power spectrum of (b) an optical pulse waveform e 1 is (t) | is a diagram showing a 2 | E 1 (ω).
【００２３】本形態においては、ホトコンダクタ２（図
１参照）を用いた短パルス光の強度波形の測定により光
パルス波形の振幅Ｉ（ｔ）が測定され、さらに、光スペ
クトラムアナイライザ５（図１参照）を用いて短パルス
光の電界パワースペクトラム｜Ｅ（ω）｜2が測定され
る。In this embodiment, the amplitude I (t) of the optical pulse waveform is measured by measuring the intensity waveform of the short pulse light using the photoconductor 2 (see FIG. 1), and further, the optical spectrum analyzer 5 (see FIG. 1). 1) is used to measure the electric field power spectrum | E (ω) | 2 of the short pulse light.
【００２４】これにより、演算解析部６（図１参照）に
おいて、式２のｅ1（ｔ）の複素絶対値｜ｅ1（ｔ）｜と
ｅ1（ｔ）の高速フーリエ変換された値Ｅ1（ω）の絶対
値｜Ｅ1（ω）｜とが算出され、短パルス光の位相変化
量φ（ｔ）が決定される。[0024] Thus, in the operation analyzing unit 6 (see FIG. 1), the complex absolute value of e 1 of the formula 2 (t) | e 1 (t) | and fast Fourier transformed value E of e 1 (t) 1 (omega) the absolute value of | E 1 (ω) | and is calculated, the phase change amount of the short pulse light phi (t) is determined.
【００２５】（具体的な位相再生方法）以下に、ホトコ
ンダクタ２（図１参照）を用いて測定した短パルス光の
強度変化のデータと光スペクトラムアナライザ５（図１
参照）を用いて測定した電界パワースペクトラムのデー
タとを用いた短パルス光の位相再生方法について説明す
る。(Specific Phase Reconstruction Method) The data of the intensity change of the short pulse light measured using the photoconductor 2 (see FIG. 1) and the optical spectrum analyzer 5 (FIG.
A description will be given of a method for reproducing the phase of short pulse light using data of the electric field power spectrum measured using the above-described method.
【００２６】図３は、図１において示した演算解析部６
における処理動作の流れを示すフローチャートである。FIG. 3 shows the operation analysis unit 6 shown in FIG.
5 is a flowchart showing a flow of a processing operation in.
【００２７】まず、高速波形測定装置４から出力される
短パルス光の強度波形Ｉ（ｔ）の離散値データＩ（ｋ）
（ｋは０，１，２，・・・，Ｎ−１の整数、ＮはＦＦＴ
点数）を測定し、振幅データとなるＩ（ｋ）の平方根｜
ｅ1（ｋ）｜の値を計算する（ステップＳ１）。First, discrete value data I (k) of the intensity waveform I (t) of the short pulse light output from the high-speed waveform measuring device 4
(K is an integer of 0, 1, 2,..., N−1, N is FFT
Score) and the square root of I (k) serving as amplitude data |
The value of e 1 (k) | is calculated (step S1).
【００２８】次に、光スペクトラムアナライザ５におい
て測定された電界パワースペクトラム｜Ｅ（ω）｜2の
周波数軸を光中心周波数ω0だけ負の方向にシフトさ
せ、平方根の値｜Ｅ1（ｋ）｜（ｋは０，１，２，・・
・・，Ｎ−１の整数）を計算して求める（ステップＳ
２）。Next, the frequency axis of the electric field power spectrum | E (ω) | 2 measured by the optical spectrum analyzer 5 is shifted in the negative direction by the optical center frequency ω 0 , and the square root value | E 1 (k) | (K is 0, 1, 2, ...
.., an integer of N-1) (step S)
2).
【００２９】次に、光パルスの位相変化量φ’（ｋ）に
適当な初期値φ i （ｋ）を代入する（ステップＳ３）。Next, an appropriate initial value φ i (k) is substituted for the phase variation φ ′ (k) of the optical pulse (step S3).
【００３０】次に、振幅データ｜ｅ 1 （ｋ）｜と位相変
化量φ’（ｋ）とにより、複素数値ｅ’（ｋ）を計算す
る（ステップＳ４）。Next, a complex value e '(k) is calculated from the amplitude data | e 1 (k) | and the phase change amount φ' (k) (step S4).
【００３１】次に、時間波形の複素離散値データをｅ’
（ｋ）、電界スペクトラムの複素離散値データをＥ
1（ｋ）としたときの高速フーリエ変換における関係式Next, the complex discrete value data of the time waveform is
(K), the complex discrete value data of the electric field spectrum is represented by E
Relational expression in fast Fourier transform when 1 (k)
【００３２】[0032]
【数４】 （ただし、Ｎは高速フーリエ変換における演算点数）か
ら導かれる式(Equation 4) (Where N is the number of operation points in the fast Fourier transform)
【００３３】[0033]
【数５】 の関係が成立するように、測定値｜Ｅ1（ｋ）｜の大き
さを規格化する。具体的には、式５の右辺を計算して求
めた値を｜Ｅ0（０）｜としたとき、次式に基づいて測
定値｜Ｅ1（ｋ）｜の値を規格化し、規格化した測定デ
ータを改めて｜Ｅ（ｋ）｜とする（ステップＳ５）。(Equation 5) The magnitude of the measured value | E 1 (k) | is standardized so that the following relationship holds. Specifically, when the value obtained by calculating the right side of Equation 5 is | E 0 (0) |, the value of the measured value | E 1 (k) | The measured data is set to | E (k) | again (step S5).
【００３４】[0034]
【数６】 (Equation 6)
【００３５】次に、ステップＳ５において規格化された
測定値｜Ｅ（ｋ）｜と、複素離散値データｅ’（ｉ）を
高速フーリエ変換して求めた計算値｜Ｅ’（ｋ）｜との
誤差を次式に示す評価関数ＳEを用いて評価する（ステ
ップＳ７）。Next, the measured value | E (k) | standardized in step S5 and the calculated value | E '(k) | obtained by performing a fast Fourier transform on the complex discrete value data e' (i). Is evaluated using an evaluation function S E shown in the following equation (step S7).
【００３６】[0036]
【数７】 誤差評価関数ＳEの値がしきい値（０．００１位の値で
ある）より大きければ、位相波形φ’（ｉ）を微少変化
させたものを改めてφ’（ｉ）とし（ステップＳ８）、
ステップ４に戻り、ＳEの値がしきい値より小さくなる
まで上記処理が繰り返し行われる。(Equation 7) If the value of the error evaluation function S E is larger than the threshold value (a value of about 0.001), the phase waveform φ ′ (i) that has been slightly changed is set as φ ′ (i) again (step S8). ,
Returning to Step 4, the process is repeated until the value of S E is less than the threshold value.
【００３７】ＳEの値がしきい値より小さい値であれ
ば、このときの位相波形φ’（ｉ）を｜ｅ（ｉ）｜，｜
Ｅ（ｋ）｜を満たす近似解とし、チャープ周波数ｆcを
次式を用いて求める（ステップＳ９）。[0037] If the value is smaller than the threshold value S E, the phase waveform phi '(i) is in this case | e (i) |, |
E (k) | and approximate solution satisfying obtains the chirp frequency f c using the following equation (step S9).
【００３８】[0038]
【数８】 図４は、位相波形の再生の様子を示す図であり、（ａ）
は短パルス光の時間波形を示す図、（ｂ）は短パルス光
の位相波形を示す図であり、（ｃ）は光電場スペクトラ
ムの絶対値を示す図である。(Equation 8) FIG. 4 is a diagram showing a state of reproducing a phase waveform, and FIG.
FIG. 4B is a diagram showing a time waveform of the short pulse light, FIG. 4B is a diagram showing a phase waveform of the short pulse light, and FIG.
【００３９】（他の実施の形態）上記形態においては、
位相波形φ’（ｉ）の初期値を仮定して微少変化させな
がら測定値｜Ｅ（ｋ）｜と計算値｜Ｅ’（ｋ）｜をフィ
ッティングさせる方法を述べたが、逆に、周波数ドメイ
ンにおける位相Φ（ｋ）を微少変化させて周波数スペク
トラムの測定値｜Ｅ（ｋ）｜とΦ（ｋ）とから複数値Ｅ
（ｋ）を求め、逆高速フーリエ変換を行って求めた短パ
ルス光の強度波形の計算値｜ｅ’（ｉ）｜と、短パルス
光の強度波形の測定値｜ｅ（ｉ）｜とをフィッティング
させる手法も用いることができる。(Other Embodiments) In the above embodiment,
The method of fitting the measured value | E (k) | and the calculated value | E '(k) | while assuming the initial value of the phase waveform φ' (i) while making a small change has been described. The phase Φ (k) is slightly changed to obtain a plurality of values E from the measured value | E (k) | of the frequency spectrum and Φ (k).
(K), and the calculated value | e ′ (i) | of the intensity waveform of the short pulse light obtained by performing the inverse fast Fourier transform and the measured value | e (i) | A fitting method can also be used.
【００４０】図５は、光パルス波形の位相再生の他の実
施の形態を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing another embodiment of the phase reproduction of the optical pulse waveform.
【００４１】図５に示すように本形態においては、短パ
ルス光発生源１から出射された光が光スペクトラムアナ
ライザ５及び短パルス光強度波形観測装置７において観
測され、観測されたデータがＣＰＵ８を介して演算解析
部６に入力されることにより、短パルス光の位相波形の
再生が行われる。As shown in FIG. 5, in this embodiment, the light emitted from the short pulse light source 1 is observed by the optical spectrum analyzer 5 and the short pulse light intensity waveform observation device 7, and the observed data is transmitted to the CPU 8 by the CPU 8. The signal is input to the arithmetic and analysis unit 6 via the CPU, thereby reproducing the phase waveform of the short pulse light.
【００４２】[0042]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、短
パルス光発生源から短パルス光が出射されると、ホトコ
ンダクタにおいて短パルス光が電気パルス信号に変換さ
れ、また、光スペクトラムアナライザにおいて短パルス
光の電界パワースペクトラムが測定され、その後、高速
波形測定装置において、ホトコンダクタから出力された
電気パルス信号に基づいて短パルス光の強度振幅波形デ
ータが出力され、演算解析部において、高速波形測定装
置から出力された短パルス光の強度振幅波形データと光
スペクトラムアナライザから出力された測定データとに
基づいて短パルス光の位相及びチャープ周波数の時間変
化波形が算出される構成としたため、短パルス光の強度
波形の測定とともに、チャープ周波数の時間変化波形
（光の位相の時間変化波形）の測定を行うことができ
る。As described above, according to the present invention, when short-pulse light is emitted from a short-pulse light source, the short-pulse light is converted into an electric pulse signal in a photoconductor. The electric field power spectrum of the short pulse light is measured in the following, and then, the high-speed waveform measuring device outputs the intensity amplitude waveform data of the short pulse light based on the electric pulse signal output from the photoconductor, and the high-speed Since the time-varying waveform of the phase and chirp frequency of the short pulse light is calculated based on the intensity amplitude waveform data of the short pulse light output from the waveform measuring device and the measurement data output from the optical spectrum analyzer, Along with the measurement of the intensity waveform of the pulsed light, the time-varying waveform of the chirp frequency It is possible to measure the waveform).
【図１】本発明の短パルス光の位相変化及びチャープ周
波数解析装置の実施の一形態を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a short pulse light phase change and chirp frequency analyzing apparatus according to the present invention.
【図２】短パルス光の位相の違いによる電界パワースペ
クトラムの違いを示す図であり、（ａ）は光パルス波形
ｅ（ｔ）の電界パワースペクトラム｜Ｅ（ω）｜2を示
す図、（ｂ）は光パルス波形ｅ1（ｔ）の電界パワース
ペクトラム｜Ｅ1（ω）｜ 2を示す図である。FIG. 2 shows an electric field power spectrum due to a difference in phase of short pulse light.
It is a figure which shows the difference of a cram, (a) is an optical pulse waveform
e (t) electric field power spectrum | E (ω) |TwoShows
FIG. 4B shows an optical pulse waveform e.1(T) electric field powers
Spectrum | E1(Ω) | TwoFIG.
【図３】図１において示した演算解析部における処理動
作の流れを示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart illustrating a flow of a processing operation in an arithmetic analysis unit illustrated in FIG. 1;
【図４】位相波形の再生の様子を示す図であり、（ａ）
は短パルス光の時間波形を示す図、（ｂ）は短パルス光
の位相波形を示す図であり、（ｃ）は光電場スペクトラ
ムの絶対値を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a state of reproducing a phase waveform, and FIG.
FIG. 4B is a diagram showing a time waveform of the short pulse light, FIG. 4B is a diagram showing a phase waveform of the short pulse light, and FIG.
【図５】光パルス波形の位相再生の他の実施の形態を示
すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing another embodiment of phase reproduction of an optical pulse waveform.
【図６】短パルス光の強度波形の測定装置の一構成例を
示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram illustrating an example of a configuration of an apparatus for measuring an intensity waveform of short pulse light.
１ 短パルス光発生源 ２ ホトコンダクタ ３ ＤＣ電源 ４ 高速波形測定装置 ５ 光スペクトラムアナライザ ６ 演算解析部 ７ 短パルス光強度波形測定装置 ８ ＣＰＵ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Short pulse light source 2 Photoconductor 3 DC power supply 4 High-speed waveform measuring device 5 Optical spectrum analyzer 6 Operation analysis part 7 Short pulse light intensity waveform measuring device 8 CPU
Claims (1)
光の強度波形及びチャープ周波数の時間変化波形の測定
を行うことができる短パルス光の位相変化及びチャープ
周波数解析装置であって、 前記短パルス光発生源から出射された短パルス光を電気
パルス信号に変換し、出力するホトコンダクタと、 該ホトコンダクタから出力された電気パルス信号に基づ
いて前記短パルス光発生源から出射された短パルス光の
強度振幅波形データを出力する高速波形測定装置と、 前記短パルス光発生源から出射された短パルス光が入射
され、短パルス光の電界パワースペクトラムを測定し、
測定データを出力する光スペクトラムアナライザと、 前記高速波形測定装置から出力された短パルス光の強度
振幅波形データと前記光スペクトラムアナライザから出
力された測定データとに基づいて、前記短パルス光発生
源から出射された短パルス光の位相及びチャープ周波数
の時間変化波形を算出し、出力する演算解析部とを有す
ることを特徴とする短パルス光の位相変化及びチャープ
周波数解析装置。1. A short-pulse light phase change and chirp frequency analysis device capable of measuring a short-pulse light intensity waveform generated from a short-pulse light generation source and a time-varying waveform of a chirp frequency. A photoconductor that converts the short pulse light emitted from the pulse light source into an electric pulse signal and outputs the short pulse light; and a short pulse emitted from the short pulse light source based on the electric pulse signal output from the photoconductor. A high-speed waveform measuring device that outputs intensity amplitude waveform data of light, a short pulse light emitted from the short pulse light source is incident, and an electric field power spectrum of the short pulse light is measured;
An optical spectrum analyzer that outputs measurement data, based on the intensity and amplitude waveform data of the short pulse light output from the high-speed waveform measurement device and the measurement data output from the optical spectrum analyzer, from the short pulse light source. A phase change and chirp frequency analysis apparatus for a short pulse light, comprising: a calculation analysis unit that calculates and outputs a time-change waveform of the phase and chirp frequency of the emitted short pulse light.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP754596A JP2787019B2 (en) | 1996-01-19 | 1996-01-19 | Phase change and chirp frequency analyzer for short pulse light |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP754596A JP2787019B2 (en) | 1996-01-19 | 1996-01-19 | Phase change and chirp frequency analyzer for short pulse light |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09196767A JPH09196767A (en) | 1997-07-31 |
| JP2787019B2 true JP2787019B2 (en) | 1998-08-13 |
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Family Applications (1)
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1996
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