JP2752890B2 - ワイヤボンディング装置 - Google Patents
ワイヤボンディング装置Info
- Publication number
- JP2752890B2 JP2752890B2 JP21936193A JP21936193A JP2752890B2 JP 2752890 B2 JP2752890 B2 JP 2752890B2 JP 21936193 A JP21936193 A JP 21936193A JP 21936193 A JP21936193 A JP 21936193A JP 2752890 B2 JP2752890 B2 JP 2752890B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shock wave
- bonding
- load
- ultrasonic
- impact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78301—Capillary
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85205—Ultrasonic bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
線を接続するワイヤボンディング装置に関し、特にボン
ディング荷重が正常か否かを検査する機能をもつワイヤ
ボンディング装置に関する。
ドとケースのリード部とをワイヤボンディング装置で接
続する場合は、予じめケースに載置された半導体チップ
をワイヤボンディング装置のステージに位置決め固定
し、ワイヤボンディングツールに所定の荷重および速度
と超音波振動をもたせ下降させ、金属細線であるボンデ
ィングワイヤを半導体チップのボンディングパッドに衝
撃力と超音波エネルギーを与え接続していた。
が接続された状態を示す図である。しかしながら、この
ボンディングワイヤの半導体チップへの接続時に、図4
に示すように、ケース16側の接続には問題とならない
ものの、しばしば、半導体チップ10には亀裂11が生
ずる問題があった。しかも、この亀裂の問題はボンディ
ングツール2に与える動的条件を適切に設定した後にも
かかわらず起きていた。このため、動的条件設定後もボ
ンディングツールに与える荷重および速度ならびに超音
波エネルギーの良否を定期的に検査する必要があった。
例における構成を示す図である。そこで、従来のワイヤ
ボンディング装置は、図5に示すように、本体から伸び
るアーム1のボンディングツール2の衝撃力を測定する
衝撃センサ5をステージ4に載置し、この衝撃センサ5
の出力を入力しオッシロスコープ7に衝撃波を描かせる
衝撃力測定器6を設けていた。
重および下降速度と超音波発振制御部9による超音波エ
ネルギーの設定によりボンディングツール2の動的条件
を設定し、この衝撃力測定装置6で定期的にボンディン
グツール2の衝撃力によって得られる衝撃波を観察し適
切な条件であるか否かで半導体チップの亀裂防止管理を
行なっていた。
た従来のワイヤボンディング装置では、定期的に衝撃力
をチェックしているにもかかわらず、定期チェックする
間に半導体チップに亀裂が生じ多量の不良品を大量発生
させることがある。また、その原因が何んであるか見極
るにしても時間がかかり多大な工数を浪費する。さら
に、修理調整している間装置は装置が停止しているの
で、装置の稼働率が低下するという問題も含んでいる。
知し亀裂の発生を防止し無駄な調整工数を無くすととも
に稼働率の高いワイヤボンディング装置を提供すること
である。
ジに配置された衝撃センサと、この衝撃センサをボンデ
ィングツールで叩くときに生ずる衝撃を検出し衝撃波を
出力する衝撃波出力部と、基準衝撃波を予じめ記憶し該
衝撃波出力部から出力する前記衝撃波と該基準衝撃波と
を比較し波形の違いを出力する比較検出部と、荷重およ
び超音波条件を設定する超音波荷重設定部および超音波
発振制御部と、所定回数のボンディングを行なった後前
記ボンディングツールの前記衝撃センサの叩くことによ
り得られる衝撃波と前記基準衝撃波と比較し違いがあり
かつ前記荷重および超音波条件の設定値にずれが無けれ
ば、前記荷重および超音波条件を許容範囲内で設定し直
し再度前記衝撃センサを叩き得られる衝撃波と前記基準
衝撃波と比較し違いがあるとき警報を発生させる判定手
段とを備えるワイヤボンディング装置である。
る。
一実施例における構成を示す図である。このワイヤボン
ディング装置は、図1に示すように、ステージ4aに配
置される衝撃センサ5からの衝撃信号を入力し衝撃波を
出力する衝撃波出力部12と、基準の衝撃波を予じめ記
憶し衝撃波出力部12から出力する衝撃波と比較し波形
の違いを判定しアラーム部15を動作させる信号を出力
するとともにボンディングツールの荷重および超音波印
加条件の変更を指令する比較検出部13と、この比較検
出部13の指令を入力し超音波発振制御部9および荷重
印加部を制御する荷重・超音波設定部14とを備えてい
る。
作を説明するためのフローチャート、図3(a)および
(b)は衝撃波の波形を説明するための波形図およびグ
ラフである。次に、このワイヤボンディング装置の動作
について図1、図2および図3を参照して説明する。ま
ず、図3(a)に示す最も良い条件の基準波形の衝撃力
ピーク値(例えば、30gf以下)と衝撃減衰時間(例
えば、45msec以下)を図1に示す比較検出部13
に記憶させる。次に、この基準波形に対応するボンディ
ングアーム2の荷重・超音波付加条件を設定し、図2の
ステップAでボンディング作業を開始する。
プBでステージ4が移動し、ボンディングアーム2の直
下に衝撃センサ5が位置決めされる。次に、ステップC
でボンディングアーム2が下降し衝撃センサ5を叩く、
これにより衝撃センサ5は信号を発生し衝撃波出力部1
2に入力する。次に、衝撃波出力部12は衝撃波を出力
し比較検出部13に入力する。次に、ステップDで比較
検出部13は予じめ記憶された基準波形と入力した衝撃
波とを比較する。もし、波形に差異が無ければ、ステッ
プAに戻りボンディング作業を続行する。
テップEで、荷重設定部および超音波発振制御部9の荷
重および超音波条件の設定値を検出し、所定の条件とず
れがないかを検出し、ずれがあれば自動的に設定し直
す。また、ずれがなければ、図3(b)に示す相関条件
の範囲内で荷重条件および超音波条件を自動的に設定し
直す。次に、ステップFでボンディングアーム2で衝撃
センサ5を叩く、ステップGで出力された波形と基準波
形と比較し差異があるか否かを判定する。
りボンディング作業を行なう。もし違いがあれば、ステ
ップHでアラーム部15により警報を発するとともに装
置を停止する。
と、従来、半導体チップの亀裂の発生は、検出される衝
撃波のピーク値と減衰値は、図3(a)に示す基準波形
のピーク値が大きく減衰値が長いときに発生している。
しかしながら、ボンディングツール等の連結部の機械的
な緩みあるいは摩耗などが生ずると、衝撃力の伝達が不
安定になり、ボンディング毎に衝撃力がばらつき、場合
によっては大きな衝撃力が加わり亀裂を起すことが考え
られた。このことを考慮して、まず、接続性能が最も優
れた衝撃エネルギー値を求め、このときに発生する衝撃
波形を基準の波形とし、機械的緩みや摩耗のないとき
に、基準の波形からどの程度の範囲内に違いがあれば、
亀裂を起すことなく接続できるか実験してみて求めてみ
た。その結果、図3(b)に示す衝撃力を決定する荷重
および超音波条件の相関条件範囲内だけに設定を留めれ
ば良いことが判明した。このような実験結果と知見によ
り、ボンディング作業途中においても、ボンディングツ
ールの衝撃力による発生する衝撃波の波形をチェックす
ることにより、最初に設定されたボンディング条件が、
単に条件を補正するだけで適切な条件に設定できるもの
かあるいは修理しない限り修復できないものであるかを
見極めたことである。
単に、ボンディングアームの機械的緩みあるいはボンデ
ィングツールの摩耗のみをチェックするだけなら、複数
回衝撃センサを叩き、それらの波形にばらつきが有るか
否か見て判定することができる。
サをボンディングツールで叩くときに生ずる衝撃を検出
し衝撃波を出力する衝撃波出力部と、基準衝撃波を予じ
め記憶し該衝撃波出力部から出力する前記衝撃波と該基
準衝撃波とを比較し波形の違いを出力しその違いにより
警報を発するかあるいはボンディング荷重および超音波
の条件を補正する比較検出部とを設け、最初の打撃によ
って前記衝撃波出力部が出力する衝撃波の波形と該基準
波形の波形の違いが有るとき、前記ボンディングツール
の打撃エネルギーを変えて該衝撃センサへの次の打撃で
得られる衝撃波と該基準波形との違いが有るときに警報
を発することによって、ボンディングアームおよびボン
ディングツール等の機械的緩みおよび摩耗等によるボン
ディング条件の変動かあるいは単に条件設定のずれによ
る変動かを極めて短時間で見極めることが出来る。
半導体チップの亀裂の発生を防止することが出来る効果
がある。また、条件出しに工数を費やすことが無くなる
ので、装置の稼働率をより高めることが出来るという効
果もある。
おける構成を示す図である。
るためのフローチャートである。
ラフである。
た状態を示す図である。
構成を示す図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 ステージに配置された衝撃センサと、こ
の衝撃センサをボンディングツールで叩くときに生ずる
衝撃を検出し衝撃波を出力する衝撃波出力部と、基準衝
撃波を予じめ記憶し該衝撃波出力部から出力する前記衝
撃波と該基準衝撃波とを比較し波形の違いを出力する比
較検出部と、荷重および超音波条件を設定する超音波荷
重設定部および超音波発振制御部と、所定回数のボンデ
ィングを行なった後前記ボンディングツールの前記衝撃
センサの叩くことにより得られる衝撃波と前記基準衝撃
波と比較し違いがありかつ前記荷重および超音波条件の
設定値にずれが無ければ、前記荷重および超音波条件を
許容範囲内で設定し直し再度前記衝撃センサを叩き得ら
れる衝撃波と前記基準衝撃波と比較し違いがあるとき警
報を発生させる判定手段とを備えることを特徴とするワ
イヤボンディング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21936193A JP2752890B2 (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | ワイヤボンディング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21936193A JP2752890B2 (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | ワイヤボンディング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0774215A JPH0774215A (ja) | 1995-03-17 |
JP2752890B2 true JP2752890B2 (ja) | 1998-05-18 |
Family
ID=16734231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21936193A Expired - Fee Related JP2752890B2 (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | ワイヤボンディング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2752890B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0953398A1 (de) * | 1998-02-06 | 1999-11-03 | Esec Sa | Verfahren und Chip für die Kalibrierung eines Wire Bonders |
JP4275724B1 (ja) | 2008-07-16 | 2009-06-10 | 株式会社新川 | ボンディング良否判定方法およびボンディング良否判定装置ならびにボンディング装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01112436U (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-28 |
-
1993
- 1993-09-03 JP JP21936193A patent/JP2752890B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0774215A (ja) | 1995-03-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4685050A (en) | Method of tightening threaded fasteners | |
US4574633A (en) | Apparatus for detecting tool damage in automatically controlled machine tool | |
US5676867A (en) | Apparatus and method for monitoring and evaluating weld quality | |
US5591920A (en) | Diagnostic wire bond pull tester | |
US6031203A (en) | Method and apparatus for determining stability of arc welding | |
JPS644338B2 (ja) | ||
JP4376238B2 (ja) | 保護継電器の試験システム、保護継電器の試験方法、保護継電器の試験プログラム、およびこのプログラムを記録した記録媒体 | |
JP2001503137A (ja) | 高速信頼性確認試験におけるサンプル数を削減する方法 | |
JPH0722456A (ja) | ワイヤボンディングにおけるボール形成装置、その制御方法及びワイヤボンディング装置 | |
JP2752890B2 (ja) | ワイヤボンディング装置 | |
US6962281B2 (en) | Bonding apparatus and bonding method having process for judging bonding state | |
JPH07106365A (ja) | ワイヤボンダのワイヤ尾部長さを監視する装置および方法 | |
EP0500056B1 (en) | Monitored burn-in system | |
KR101666143B1 (ko) | 전동 공구의 제어 방법 | |
JP3192045B2 (ja) | 打撃力監視装置 | |
JPH11267981A (ja) | パルスレンチ及びその管理方法 | |
JP2000280140A (ja) | 工具脱落防止装置及びこれを備えた工作機械 | |
JPH06285726A (ja) | ボルトの締付状態検出方法 | |
JP3777017B2 (ja) | スタッド溶接品質管理方法 | |
JP2720476B2 (ja) | ロール加工制御装置 | |
JP2000298083A (ja) | 材料試験機およびその停止方法 | |
JPH06155192A (ja) | ねじ締め付け機のトルクカーブ表示装置 | |
JP3316238B2 (ja) | 静電塗装装置の電流異常検出装置 | |
JPS5943731Y2 (ja) | ワイヤボンデイング監視機構 | |
JPH056661Y2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980127 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080227 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090227 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090227 Year of fee payment: 11 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090227 Year of fee payment: 11 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100227 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |