JP2751734B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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- JP2751734B2 JP2751734B2 JP4138247A JP13824792A JP2751734B2 JP 2751734 B2 JP2751734 B2 JP 2751734B2 JP 4138247 A JP4138247 A JP 4138247A JP 13824792 A JP13824792 A JP 13824792A JP 2751734 B2 JP2751734 B2 JP 2751734B2
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- spectrophotometer
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、分光光度計及びその
応用分野に関し、特に、分光光度計による測定結果デー
タを、最適なベースライン関数（装置関数）によって補
正することのできる分光光度計に関する。
応用分野に関し、特に、分光光度計による測定結果デー
タを、最適なベースライン関数（装置関数）によって補
正することのできる分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】分光光度計では波長を連続的に変化さ
せ、各波長における試料の吸光度や透過率を求める必要
があるが、装置内の光源、検出器、及び他の光学素子の
特性に波長依存性があり、また、参照試料にも波長依存
性があるので、これらを考慮して測定結果データ（スペ
クトルデータ）を適切に補正する必要がある。
せ、各波長における試料の吸光度や透過率を求める必要
があるが、装置内の光源、検出器、及び他の光学素子の
特性に波長依存性があり、また、参照試料にも波長依存
性があるので、これらを考慮して測定結果データ（スペ
クトルデータ）を適切に補正する必要がある。
【０００３】そこで、分光光度計では、装置などの波長
依存性を反映したベースライン関数を予め求めておき、
このベースラインに基づいて各測定結果データを補正し
ていた。そして、このベースラインは、メモリの記憶容
量などを考慮して粗い波長間隔で求めたものか、或い
は、ベースライン上の急激な段差なども検出するべく密
な波長間隔で求めたものかの、いずれか１種類であっ
た。
依存性を反映したベースライン関数を予め求めておき、
このベースラインに基づいて各測定結果データを補正し
ていた。そして、このベースラインは、メモリの記憶容
量などを考慮して粗い波長間隔で求めたものか、或い
は、ベースライン上の急激な段差なども検出するべく密
な波長間隔で求めたものかの、いずれか１種類であっ
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、測定結果デー
タを補正する場合、分光光度計の光学的バランスを補正
する目的の為だけなら比較的粗い波長間隔で求めたベー
スラインで足りるが、一方、参照試料による吸収特性を
補正しようとするような目的では密な波長間隔で求めた
ベースラインが必要となり、１種類のベースラインで
は、上記２つの目的にうまく対応できないという問題点
がある。
タを補正する場合、分光光度計の光学的バランスを補正
する目的の為だけなら比較的粗い波長間隔で求めたベー
スラインで足りるが、一方、参照試料による吸収特性を
補正しようとするような目的では密な波長間隔で求めた
ベースラインが必要となり、１種類のベースラインで
は、上記２つの目的にうまく対応できないという問題点
がある。
【０００５】その為、結局は、密な波長間隔で求めたベ
ースラインが常に必要となり、ベースラインを多点で測
定する為に、どんな場合にも多大な補正時間を要してし
まうという問題点がある。また、分光光度計は、装置通
電後の温度変化などに起因して光学バランスが変化する
ことがあるが、かかる経時変化分（ドリフト分）は細か
い点での急峻な変化は無いのであるから、ドリフト分の
補正の為に密な波長間隔で頻繁にベースラインを測定す
るのも妥当でない。
ースラインが常に必要となり、ベースラインを多点で測
定する為に、どんな場合にも多大な補正時間を要してし
まうという問題点がある。また、分光光度計は、装置通
電後の温度変化などに起因して光学バランスが変化する
ことがあるが、かかる経時変化分（ドリフト分）は細か
い点での急峻な変化は無いのであるから、ドリフト分の
補正の為に密な波長間隔で頻繁にベースラインを測定す
るのも妥当でない。
【０００６】この発明は、これらの問題点に着目してな
されたものであって、最適なベースライン関数を迅速に
得ることができ、そのベースラインによって測定結果デ
ータ（スペクトルデータ）を適切に補正することのでき
る分光光度計を提供することを目的とする。
されたものであって、最適なベースライン関数を迅速に
得ることができ、そのベースラインによって測定結果デ
ータ（スペクトルデータ）を適切に補正することのでき
る分光光度計を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明に係る分光光度計は、光源、検出器、その
他の光学素子、並びに参照試料などの波長依存性を考慮
して、測定結果データを適切に補正することのできる分
光光度計であって、当該装置についてのベースライン
を予め密な波長間隔で測定して第１のベースライン関数
として記憶しておく第１のベースライン測定手段と、
必要に応じて動作し、当該装置についてのベースライン
を相対的に粗い波長間隔で測定して第２のベースライン
関数とする第２のベースライン測定手段と、測定され
た第２のベースライン関数により任意の波長におけるベ
ースライン値を求め、このベースライン値と第１のベー
スライン関数で前記任意の波長に最も近い測定値とを用
いて補正係数を算出し、この補正係数で測定結果データ
を除算することで測定結果データを補正する補正手段と
を備えることを特徴とする。
め、この発明に係る分光光度計は、光源、検出器、その
他の光学素子、並びに参照試料などの波長依存性を考慮
して、測定結果データを適切に補正することのできる分
光光度計であって、当該装置についてのベースライン
を予め密な波長間隔で測定して第１のベースライン関数
として記憶しておく第１のベースライン測定手段と、
必要に応じて動作し、当該装置についてのベースライン
を相対的に粗い波長間隔で測定して第２のベースライン
関数とする第２のベースライン測定手段と、測定され
た第２のベースライン関数により任意の波長におけるベ
ースライン値を求め、このベースライン値と第１のベー
スライン関数で前記任意の波長に最も近い測定値とを用
いて補正係数を算出し、この補正係数で測定結果データ
を除算することで測定結果データを補正する補正手段と
を備えることを特徴とする。
【０００８】
【作用】第１のベースライン測定手段は、当該分光光
度計についてのベースラインを予め密な波長間隔で測定
し、第１のベースライン関数として記憶する。このよう
に、密な波長間隔でベースラインを求めるのは、ベース
ライン上には装置固有の段差や短周期の変動分があるの
で、予めこれを精密に求めておくためである。
度計についてのベースラインを予め密な波長間隔で測定
し、第１のベースライン関数として記憶する。このよう
に、密な波長間隔でベースラインを求めるのは、ベース
ライン上には装置固有の段差や短周期の変動分があるの
で、予めこれを精密に求めておくためである。
【０００９】第２のベースライン測定手段は、必要に
応じて動作し、当該装置についてのベースラインを相対
的に粗い波長間隔で測定して第２のベースライン関数と
する。粗い波長間隔での測定なら長時間を要しないの
で、頻繁に第２のベースライン測定手段を動作させるこ
とができ、従って、当該装置のドリフト分などを確実に
検出することができる。 装置への通電後、当該装置にはドリフト分が生じる
が、ベースライン上に存する段差分や短周期の変動分に
変化はない。そこで、補正手段は、測定された第２のベ
ースライン関数により任意の波長におけるベースライン
値を求め、このベースライン値と第１のベースライン関
数で前記任意の波長に最も近い測定値とを用いて補正係
数を算出し、この補正係数で測定結果データを除算する
ことで測定結果データを補正する。
応じて動作し、当該装置についてのベースラインを相対
的に粗い波長間隔で測定して第２のベースライン関数と
する。粗い波長間隔での測定なら長時間を要しないの
で、頻繁に第２のベースライン測定手段を動作させるこ
とができ、従って、当該装置のドリフト分などを確実に
検出することができる。 装置への通電後、当該装置にはドリフト分が生じる
が、ベースライン上に存する段差分や短周期の変動分に
変化はない。そこで、補正手段は、測定された第２のベ
ースライン関数により任意の波長におけるベースライン
値を求め、このベースライン値と第１のベースライン関
数で前記任意の波長に最も近い測定値とを用いて補正係
数を算出し、この補正係数で測定結果データを除算する
ことで測定結果データを補正する。
【００１０】尚、補正後の測定結果データは、分光光度
計の本来の処理によって、定量分析や定性分析に供せら
れる。
計の本来の処理によって、定量分析や定性分析に供せら
れる。
【００１１】
【実施例】以下、実施例に基づいて、この発明を更に詳
細に説明する。図１は、この発明の一実施例である分光
光度計の特徴部分のみを図示した機能ブロック図であ
る。この分光光度計は、当該装置のベースライン関数
（装置関数）を波長間隔Δω 1 で測定する第１のベース
ライン測定部１と、このベースライン関数ＦＤ（ω）を
記憶する記憶部２と、当該装置のベースライン関数を波
長間隔Δω2 で測定する第２のベースライン測定部３
と、記憶部２に記憶されている第１のベースライン関数
ＦＤ（ω）と第２のベースライン測定部３で測定した第
２のベースライン関数ＣＤ（ω）とを受け、任意の波長
ωにおける補正係数Ｂ（ω）を算出するベースライン修
正部４と、生のスペクトル測定データＲ（ω）と前記補
正係数Ｂ（ω）とを受け、測定データＲ（ω）を補正し
て補正データＤ（ω）を出力する補正部５とで構成され
ている。
細に説明する。図１は、この発明の一実施例である分光
光度計の特徴部分のみを図示した機能ブロック図であ
る。この分光光度計は、当該装置のベースライン関数
（装置関数）を波長間隔Δω 1 で測定する第１のベース
ライン測定部１と、このベースライン関数ＦＤ（ω）を
記憶する記憶部２と、当該装置のベースライン関数を波
長間隔Δω2 で測定する第２のベースライン測定部３
と、記憶部２に記憶されている第１のベースライン関数
ＦＤ（ω）と第２のベースライン測定部３で測定した第
２のベースライン関数ＣＤ（ω）とを受け、任意の波長
ωにおける補正係数Ｂ（ω）を算出するベースライン修
正部４と、生のスペクトル測定データＲ（ω）と前記補
正係数Ｂ（ω）とを受け、測定データＲ（ω）を補正し
て補正データＤ（ω）を出力する補正部５とで構成され
ている。
【００１２】ここで、波長間隔Δω1 は波長間隔Δω2
より短く、従って、第１のベースライン測定部１は、第
２のベースライン測定部３より精密にベースライン関数
（装置関数）を測定する。このようにして得られる第１
のベースライン関数ＦＤ（ω）は、当該装置に固有の細
かな変動分をも含んでいるが、この変動分は時間が経過
しても殆ど変化しないと考えられる。一方、この装置を
通電した後などにはドリフト分が生じるが、このドリフ
ト分については粗い波長周期ベースライン関数を測定し
ても検出できると考えられる。
より短く、従って、第１のベースライン測定部１は、第
２のベースライン測定部３より精密にベースライン関数
（装置関数）を測定する。このようにして得られる第１
のベースライン関数ＦＤ（ω）は、当該装置に固有の細
かな変動分をも含んでいるが、この変動分は時間が経過
しても殆ど変化しないと考えられる。一方、この装置を
通電した後などにはドリフト分が生じるが、このドリフ
ト分については粗い波長周期ベースライン関数を測定し
ても検出できると考えられる。
【００１３】そこで、この装置では、第２のベースライ
ン測定部３によって粗いベースラインＣＤ（ω）を頻繁
に測定して、その結果ＣＤ（ω）に基づいて密なベース
ラインＦＤ（ω）を修正している。なお、図２は、第１
のベースライン関数ＦＤ（ω）と第２のベースライン関
数ＣＤ（ω）との関係を図示したものであり、ベースラ
イン関数の測定点を○印で示している。
ン測定部３によって粗いベースラインＣＤ（ω）を頻繁
に測定して、その結果ＣＤ（ω）に基づいて密なベース
ラインＦＤ（ω）を修正している。なお、図２は、第１
のベースライン関数ＦＤ（ω）と第２のベースライン関
数ＣＤ（ω）との関係を図示したものであり、ベースラ
イン関数の測定点を○印で示している。
【００１４】図２に示す如く、第１のベースライン関数
ＦＤ（ω）は密な(FINE)波長間隔Δω1 で測定され、第
２のベースライン関数ＣＤ（ω）は粗い(COARSE)波長間
隔Δω2 で測定される。そして、ベースライン修正部４
では、両ベースライン関数ＦＤ（ω），ＣＤ（ω）から
以下の演算によって、特定の波長ωにおける補正係数Ｂ
（ω）を算出している。
ＦＤ（ω）は密な(FINE)波長間隔Δω1 で測定され、第
２のベースライン関数ＣＤ（ω）は粗い(COARSE)波長間
隔Δω2 で測定される。そして、ベースライン修正部４
では、両ベースライン関数ＦＤ（ω），ＣＤ（ω）から
以下の演算によって、特定の波長ωにおける補正係数Ｂ
（ω）を算出している。
【００１５】粗ベースライン関数ＣＤ（ω）の測定点が
…ωi ，ωi+1 …であり、補正を必要とするスペクトル
測定データの測定点ωがωi ＜ω＜ωi+1 の関係にある
とする。波長ωにおけるベースライン値Ａ（ω）は、粗
ベースライン関数ＣＤ（ω）における直線補完式より、
Ａ（ω）＝〔ＣＤ（ωi+1 ）−ＣＤ（ωi ）〕／（ω
i+1 −ωi ）×（ω−ωi ）＋ＣＤ（ωi ）＝〔ＣＤ
（ωi+1 ）×（ω−ωi ）＋ＣＤ（ωi ）×（ωi+1 −
ω）〕／（ωi+1 −ωi ）と求まる。そこで、この値Ａ
（ω）と、密ベースライン関数ＦＤ（ω）上で波長ωに
最も近い測定値ＦＤ（ωj ）とを用いて、補正係数Ｂ
（ω）は、Ｂ（ω）＝Ａ（ω）×ＦＤ（ωj ）と求めら
れる。
…ωi ，ωi+1 …であり、補正を必要とするスペクトル
測定データの測定点ωがωi ＜ω＜ωi+1 の関係にある
とする。波長ωにおけるベースライン値Ａ（ω）は、粗
ベースライン関数ＣＤ（ω）における直線補完式より、
Ａ（ω）＝〔ＣＤ（ωi+1 ）−ＣＤ（ωi ）〕／（ω
i+1 −ωi ）×（ω−ωi ）＋ＣＤ（ωi ）＝〔ＣＤ
（ωi+1 ）×（ω−ωi ）＋ＣＤ（ωi ）×（ωi+1 −
ω）〕／（ωi+1 −ωi ）と求まる。そこで、この値Ａ
（ω）と、密ベースライン関数ＦＤ（ω）上で波長ωに
最も近い測定値ＦＤ（ωj ）とを用いて、補正係数Ｂ
（ω）は、Ｂ（ω）＝Ａ（ω）×ＦＤ（ωj ）と求めら
れる。
【００１６】ベースライン修正部４は、以上のようにし
て補正係数Ｂ（ω）を算出するので、補正部５は、この
補正係数Ｂ（ω）と生のスペクトル測定データＲ（ω）
を受けて、Ｄ（ω）＝Ｒ（ω）／Ｂ（ω）の演算によっ
て補正データＤ（ω）を求めこれを出力する。
て補正係数Ｂ（ω）を算出するので、補正部５は、この
補正係数Ｂ（ω）と生のスペクトル測定データＲ（ω）
を受けて、Ｄ（ω）＝Ｒ（ω）／Ｂ（ω）の演算によっ
て補正データＤ（ω）を求めこれを出力する。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る分
光光度計では、時間が経過しても殆ど変化しないと考え
られる微小変化分を測定して記憶する第１のベースライ
ン測定手段と、ドリフト分など時間の経過により変化す
る変動分を測定する第２のベースライン測定手段とを備
え、両手段によるデータを組み合わせて、スペクトル測
定データを常に適切に補正している。
光光度計では、時間が経過しても殆ど変化しないと考え
られる微小変化分を測定して記憶する第１のベースライ
ン測定手段と、ドリフト分など時間の経過により変化す
る変動分を測定する第２のベースライン測定手段とを備
え、両手段によるデータを組み合わせて、スペクトル測
定データを常に適切に補正している。
【００１８】つまり、粗い波長間隔でのベースライン測
定を行うだけで、当該装置の動作状態を反映した適切な
データ補正処理を行うことができ、また、ベースライン
測定に長時間を要しないので、頻繁にベースライン測定
をすることができ装置の分析精度などが高まる。
定を行うだけで、当該装置の動作状態を反映した適切な
データ補正処理を行うことができ、また、ベースライン
測定に長時間を要しないので、頻繁にベースライン測定
をすることができ装置の分析精度などが高まる。
【図１】この発明の一実施例である分光光度計の特徴部
分を示す機能ブロック図である。
分を示す機能ブロック図である。
【図２】第１と第２のベースライン測定部の測定結果Ｆ
Ｄ（ω），ＣＤ（ω）を図示したものである。
Ｄ（ω），ＣＤ（ω）を図示したものである。
１ 第１のベースライン測定部 ２ 記憶部 ３ 第２のベースライン測定部 ４ ベースライン修正部 ５ 補正部
Claims (1)
- 【請求項１】光源、検出器、その他の光学素子、並びに
参照試料などの波長依存性を考慮して、測定結果データ
を適切に補正することのできる分光光度計であって、 当該装置についてのベースラインを予め密な波長間隔で
測定して第１のベースライン関数として記憶しておく第
１のベースライン測定手段と、 必要に応じて動作し、当該装置についてのベースライン
を相対的に粗い波長間隔で測定して第２のベースライン
関数とする第２のベースライン測定手段と、 測定された第２のベースライン関数により任意の波長に
おけるベースライン値を求め、このベースライン値と第
１のベースライン関数で前記任意の波長に最も近い測定
値とを用いて補正係数を算出し、この補正係数で測定結
果データを除算することで測定結果データを補正する補
正手段とを備えることを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4138247A JP2751734B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4138247A JP2751734B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05332833A JPH05332833A (ja) | 1993-12-17 |
| JP2751734B2 true JP2751734B2 (ja) | 1998-05-18 |
Family
ID=15217510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4138247A Expired - Lifetime JP2751734B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2751734B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55174128U (ja) * | 1979-05-31 | 1980-12-13 | ||
| JPH0224222Y2 (ja) * | 1985-08-12 | 1990-07-03 |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP4138247A patent/JP2751734B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05332833A (ja) | 1993-12-17 |
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