JP2693470B2 - Color picture tube - Google Patents

Color picture tube

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JP2693470B2
JP2693470B2 JP63062994A JP6299488A JP2693470B2 JP 2693470 B2 JP2693470 B2 JP 2693470B2 JP 63062994 A JP63062994 A JP 63062994A JP 6299488 A JP6299488 A JP 6299488A JP 2693470 B2 JP2693470 B2 JP 2693470B2
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Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明はカラー受像管に係り、特に画面全域にわたっ
て優れた解像度を有するカラー受像管に関する。Description: [Object of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to a color picture tube, and more particularly to a color picture tube having excellent resolution over the entire screen.

（従来の技術） 現在カラー受像管の電子銃としては、インライン形３
電子銃方式と呼ばれるものが多く用いられている。(Prior Art) Currently, as an electron gun for a color picture tube, an in-line type 3
A so-called electron gun method is often used.

このインライン形３電子銃は、同一平面上に配列した
３個の陰極とこれらの陰極に共通な第１グリッドおよび
第２グリッドにより３本の電子ビームを発生させ、これ
らの電子ビームを複数個の電子ビーム通過孔を穿設した
２個以上の電極を管軸方向に所定の間隔をもって配置し
てなる集束電極により集束させている。そして、インラ
イン形３電子銃を用いたカラー受像管では、通常、水平
偏向磁界を第13図（ａ）に示すようなピンクッション形
とし、垂直偏向磁界を第13図（ｂ）に示すようなバレル
形とした非斉一磁界を発生させる偏向ヨークによって、
３電子ビームを蛍光面上に自己集中させる偏向方式が用
いられる。This in-line type 3 electron gun generates three electron beams by three cathodes arranged on the same plane and a first grid and a second grid common to these cathodes, and these electron beams are generated by a plurality of electron beams. Two or more electrodes having electron beam passage holes are focused by a focusing electrode arranged at a predetermined interval in the tube axis direction. In a color picture tube using an in-line type 3 electron gun, the horizontal deflection magnetic field is usually a pincushion type as shown in FIG. 13 (a), and the vertical deflection magnetic field is as shown in FIG. 13 (b). With a deflection yoke that generates a barrel-shaped non-uniform magnetic field,
A deflection method in which the three electron beams are self-focused on the phosphor screen is used.

このような自己集中による偏向方式は、いわゆる動的
集中装置（ダイナミック・コンバーゼンス）等の３電子
ビーム集中用の付加的装置を必要とせず経済性に優れる
とともに、集中調整が容易であるため、インライン形３
電子銃方式によるカラー受像管は、カラー受像管の品質
および性能の向上に大きく貢献している。Such a deflection method based on self-concentration does not require an additional device for concentrating three electron beams such as a so-called dynamic concentrator (dynamic convergence) and is economical, and the in-line adjustment is easy. Shape 3
The color picture tube using the electron gun system greatly contributes to the improvement of the quality and performance of the color picture tube.

しかしながら、前述のような磁界の非斉一性は、カラ
ー受像管の画面周辺部における解像度を低下させるとい
う難点があり、この傾向は、偏向角が90°から110°と
大きくなるにしたがって、より顕著となってくる。However, the inhomogeneity of the magnetic field as described above has a drawback of lowering the resolution in the peripheral portion of the screen of the color picture tube, and this tendency becomes more remarkable as the deflection angle increases from 90 ° to 110 °. Will be.

この画面周辺部における解像度の低下は、電子ビーム
が第13図（ａ）および（ｂ）に示すような偏向ヨークの
非斉一磁界により水平方向には集束を弱められ、垂直方
向には逆に強められることが原因となっている。この結
果、電子ビームスポットの形状は、第14図に示すように
画面中央部のビームスポット１はほぼ真円となるのに対
し、周辺部のビームスポット２は水平方向に長い楕円状
の高輝度コア部３の他に垂直方向に長い低輝度ハロー部
４を伴う形状となる。The reduction in resolution in the peripheral portion of the screen is such that the electron beam is weakened in focusing in the horizontal direction by the nonuniform magnetic field of the deflection yoke as shown in FIGS. 13 (a) and 13 (b), and is strengthened in the vertical direction. Is caused. As a result, as shown in FIG. 14, the shape of the electron beam spot is such that the beam spot 1 in the central portion of the screen is almost a perfect circle, while the beam spot 2 in the peripheral portion is an elliptical high-luminance long horizontally. In addition to the core portion 3, a low luminance halo portion 4 which is long in the vertical direction is formed.

このような偏向歪みを改善する方法としては、プリフ
ォーカスレンズで電子ビームを強く絞り、主レンズ部や
偏向磁界内を通過する電子ビーム径を小さくすることに
より、偏向歪みを軽減させる方法がある。As a method of improving such deflection distortion, there is a method of reducing the deflection distortion by strongly narrowing the electron beam with a prefocus lens and reducing the diameter of the electron beam passing through the main lens portion and the deflection magnetic field.

しかしながら、この方法の場合は、クロスオーバ径が
増大して画面中央部の電子ビームスポット径が大きくな
るため、画面中央部の解像度が低下するという問題があ
った。However, this method has a problem in that the crossover diameter increases and the electron beam spot diameter in the central portion of the screen increases, so that the resolution in the central portion of the screen decreases.

また他の方法としては、プリフォーカスレンズを非対
称レンズとする方法や、主レンズ部に非対称性を持たせ
て電子ビームの垂直方向をアンダーフォーカス状態とす
ることにより偏向歪みを軽減する方法（特公昭60-7345
公報）がある。Further, as another method, a prefocus lens is made an asymmetric lens, or a method of making the main lens part asymmetrical so that the vertical direction of the electron beam is underfocused to reduce the deflection distortion (Japanese Patent Publication No. 60-7345
Gazette).

主レンズ部に非対称性を持たせて電子ビームの垂直方
向をアンダーフォーカス状態とする方法は、第15図に示
すように、主レンズの低電位側領域Ｉおよび高電位側領
域II共に、垂直方向の集束性（線分Ａ−Ｂ−Ｃおよびａ
−ｂ−ｃ）より水平方向の集束性（線分Ａ−Ｄ−Ｅおよ
びａ−ｄ−ｅ）を強くして、画面中央部での電子ビーム
の断面形状が垂直方向に長軸を有する楕円５、すなわち
偏向領域６における電子ビーム径が垂直方向に長軸を有
する楕円となるように、垂直方向の集束角をα1、水平
方向の集束角をα2として集束させるものである。As shown in FIG. 15, a method of giving an asymmetry to the main lens portion to bring the vertical direction of the electron beam into the underfocus state is as shown in FIG. Focusing property (segments ABC and a)
-B-c), the converging property in the horizontal direction (the line segments A-D-E and a-d-e) is made stronger, and the cross-sectional shape of the electron beam at the central portion of the screen is an ellipse having the long axis in the vertical direction. 5, that is, the vertical focusing angle is α 1 and the horizontal focusing angle is α 2 so that the electron beam diameter in the deflection region 6 becomes an ellipse having a long axis in the vertical direction.

このようにして電子ビームを集束させた場合、第16図
に示すように、電子ビーム７は偏向時に水平偏向磁界か
ら垂直方向の力として、力８および９の垂直成分力10お
よび11を受け、偏向後の電子ビームスポットの形状は、
ハロー12を伴う水平方向に長軸を有する楕円13となる。When the electron beam is focused in this way, as shown in FIG. 16, the electron beam 7 receives vertical component forces 10 and 11 of forces 8 and 9 as a force in the vertical direction from the horizontal deflection magnetic field during deflection, The shape of the electron beam spot after deflection is
It becomes an ellipse 13 with a long axis in the horizontal direction with a halo 12.

一方、第17図に示すように主レンズの低電位側領域II
Iおよび高電位側領域IVで収束、発散作用を受けた電子
ビームの画面中央部における断面形状がほぼ円形14、す
なわち偏向領域15における電子ビーム径がほぼ円形とな
るように集束角α2で集束した場合には、第18図に示す
ように電子ビーム16は偏向時に水平偏向磁界から垂直方
向の力として、力17および18の垂直成分力19および20を
受け、偏向後の電子ビームスポットの形状は、ハロー21
を伴う水平方向に長軸を有する楕円22となる。なお、垂
直成分力19および20は、垂直成分力10および11より小さ
い。On the other hand, as shown in Fig. 17, the low potential side area II of the main lens
I and the high-potential side region IV converge at the focusing angle α 2 so that the cross-sectional shape of the electron beam subjected to the diverging action in the central part of the screen is almost circular 14, that is, the electron beam diameter in the deflection region 15 is almost circular. In such a case, as shown in FIG. 18, the electron beam 16 receives vertical component forces 19 and 20 of the forces 17 and 18 as a force in the vertical direction from the horizontal deflection magnetic field at the time of deflection, and the electron beam spot shape after deflection is Hello 21
Is an ellipse 22 having a major axis in the horizontal direction. Note that the vertical component forces 19 and 20 are smaller than the vertical component forces 10 and 11.

しかしながら、画面中央部での電子ビームの断面形状
を垂直方向に長軸を有する楕円とした場合の電子ビーム
の垂直方向の集束角α1は、画面中央部での電子ビーム
の断面形状をほぼ円形とした場合の電子ビームの垂直方
向の集束角α2よりも小さいので、ハロー12はハロー21
より小さい。However, when the cross-sectional shape of the electron beam in the central part of the screen is an ellipse having the major axis in the vertical direction, the vertical focusing angle α 1 of the electron beam is almost circular in the cross-sectional shape of the electron beam in the central part of the screen. Is smaller than the vertical focusing angle α 2 of the electron beam in the case of
Less than.

したがって、画面中央部での電子ビームの断面形状が
垂直方向に長軸を有する楕円となるように集束させるこ
とにより、画面中央部における断面形状がほぼ円形とな
るように集束させた場合に比して、画面周辺部の解像度
を改善することができる。Therefore, by focusing so that the cross-sectional shape of the electron beam in the central part of the screen becomes an ellipse having the long axis in the vertical direction, as compared with the case where the cross-sectional shape in the central part of the screen is almost circular, Thus, the resolution of the peripheral portion of the screen can be improved.

しかしながらこの方法の場合は、画面中央部の電子ビ
ームスポットの形状が垂直方向に長軸を有する楕円とな
るため、画面中央部の解像度が低下するという問題があ
った。また、プリフォーカスレンズを非対称レンズとす
る方法についても、同様の問題があった。However, in the case of this method, since the shape of the electron beam spot in the central portion of the screen is an ellipse having a long axis in the vertical direction, there is a problem that the resolution in the central portion of the screen is lowered. Further, the method of making the prefocus lens an asymmetric lens has the same problem.

（発明が解決しようとする課題） このように、インライン形３電子銃を用いた自己集中
方式のカラー受像管はカラー受像管の品質および性能の
向上に大きく貢献しているが、画面周辺部の解像度に難
があり、画面周辺部の解像度を向上させるためには画面
中央部の解像度の低下を余儀なくされるという問題があ
った。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, the self-focusing type color picture tube using the in-line type 3 electron gun greatly contributes to the improvement of the quality and performance of the color picture tube. There is a problem in resolution, and in order to improve the resolution in the peripheral portion of the screen, there is a problem that the resolution in the central portion of the screen must be reduced.

したがって、インライン形３電子銃を用いた自己集中
方式のカラー受像管の利点をいかしつつ、このカラー受
像管の更なる高画質化を図るには、画面中央部の解像度
の低下をまねくことなく画面周辺部の解像度を向上させ
る必要がある。Therefore, in order to further improve the image quality of the color picture tube while taking advantage of the self-focusing type color picture tube using the in-line type 3 electron gun, the screen can be displayed without lowering the resolution at the center of the screen. It is necessary to improve the resolution of the peripheral portion.

本発明はかかる従来技術の課題を解決すべくなされた
もので、画面中央部の解像度を低下させることなく画面
周辺部の解像度を改善し、画面全域にわたって優れた解
像度の得られるカラー受像管を提供することを目的とす
る。The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and provides a color picture tube in which the resolution of the peripheral portion of the screen is improved without lowering the resolution of the central portion of the screen and an excellent resolution is obtained over the entire screen. The purpose is to do.

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） すなわち本発明のカラー受像管は、少なくとも内面に
蛍光体スクリーンが形成されたパネル部と、前記パネル
にファンネルを介して連設されたネック部と、このネッ
ク部に配置された電子銃とを備え、前記電子銃が、所定
の間隔で複数本の電子ビームを発生させるための水平配
列された複数個の陰極と前記複数本の電子ビームを前記
蛍光体スクリーン上に集束されるための複数個の電子ビ
ーム通過孔を有する電極から構成される電子レンズとを
有するインライン型電子銃であるカラー受像管におい
て、前記電子レンズを構成する電極の内、低電位側電極
の電子ビーム通過孔の内側上下に電界補正部材を配置し
て、水平方向よりも垂直方向に相対的に強い集束作用を
付加し、及び、高電位電極の低電位電極と対向する電子
ビーム通過孔の内側上下に電界補正部材を配置して、電
子レンズの高電位側に、水平方向よりも垂直方向に相対
的に強い発散作用を付加することにより、電子ビームの
断面形状を偏向領域では水平方向に長い楕円状とし、蛍
光体スクリーン中央部でほぼ円形の電子ビームスポット
となしたことを特徴としている。[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) That is, the color picture tube of the present invention comprises a panel section having a phosphor screen formed on at least the inner surface thereof, and a neck section connected to the panel via a funnel. And an electron gun arranged at the neck portion, the electron gun includes a plurality of horizontally arranged cathodes for generating a plurality of electron beams at a predetermined interval and the plurality of electron beams. In a color picture tube which is an in-line type electron gun having an electron lens composed of an electrode having a plurality of electron beam passage holes for being focused on the phosphor screen, among the electrodes forming the electron lens , The electric field correction members are arranged above and below the electron beam passage hole of the low-potential side electrode to add a stronger focusing action in the vertical direction than in the horizontal direction, and By arranging electric field correction members above and below the electron beam passage hole facing the potential electrode, and by adding a relatively strong divergence action in the vertical direction rather than the horizontal direction on the high potential side of the electron lens, Is characterized in that the deflection region has an elliptical shape that is long in the horizontal direction and has a substantially circular electron beam spot at the center of the phosphor screen.

本発明のカラー受像管において、低電位側電極近傍に
水平方向すなわち電子ビームの軌道を含む面の幅方向よ
りも、垂直方向すなわち電子ビームの軌道を含む面の法
線方向に相対的に強い収束作用を付加する手段として
は、電子レンズを構成する低電位側電極の高電位側電極
と対向する面をほぼ平板状とし、従来から電子ビーム通
過孔の内側に設けていた円筒状のパーリングについて
も、これを除去若しくは短小化してもよい。あるいは、
電子ビーム通過孔の内側に、水平方向側の立上り部を除
去した形状のバーリングを設けてもよい。In the color picture tube of the present invention, the convergence is relatively strong in the vertical direction, that is, the normal direction of the surface including the electron beam trajectory, in the vicinity of the electrode on the low potential side, in the horizontal direction, that is, in the width direction of the surface including the electron beam trajectory. As a means for adding action, the surface of the low-potential-side electrode that constitutes the electron lens facing the high-potential-side electrode is formed into a substantially flat plate shape, and the cylindrical parling conventionally provided inside the electron beam passage hole is used. Alternatively, this may be removed or shortened. Or,
A burring having a shape in which the rising portion on the horizontal direction side is removed may be provided inside the electron beam passage hole.

また、低電位側電極の高電位側電極と対向する面に、
複数の電子ビーム通過孔を穿設した薄板を密接配置した
場合、各電子ビーム通過孔近傍に形成される小電子レン
ズのレンズ効果を助長することができるとともに、薄板
に穿設する電子ビーム通過孔の形状を変えることにより
主レンズの作用を制御できるので好ましい。Also, on the surface of the low potential side electrode facing the high potential side electrode,
When the thin plates having a plurality of electron beam passage holes are closely arranged, the lens effect of the small electron lens formed in the vicinity of each electron beam passage hole can be promoted, and the electron beam passage holes formed in the thin plate can be promoted. It is preferable that the action of the main lens can be controlled by changing the shape.

本発明のカラー受像管においては、電子レンズを構成
する高電位側電極の低電位側電極と対向する面について
も、低電位側電極と同様にほぼ平板状とし、従来から電
子ビーム通過孔の内側に設けていた円筒状のバーリング
を除去もしくは短小化することが好ましい。In the color picture tube of the present invention, the surface of the high-potential side electrode forming the electron lens facing the low-potential side electrode is also made substantially flat like the low-potential side electrode, and is conventionally inside the electron beam passage hole. It is preferable to remove or shorten the cylindrical burring provided in the.

なお、電極内に配設する電界補正部材の形状、長さ、
取りつけ位置等は、映像管のサイズ、偏向角、偏向ヨー
クの磁界の強度や形状および変化率等に応じて適宜設定
可能であるが、低電位側電極における電界補正部材間の
距離を高電位側電極における電界補正部材間の距離より
大きくすることが好ましい。The shape and length of the electric field correction member disposed in the electrode,
The mounting position can be appropriately set according to the size of the picture tube, the deflection angle, the strength and shape of the magnetic field of the deflection yoke, the rate of change, etc., but the distance between the electric field correction members in the low potential side electrode is set to the high potential side. The distance is preferably larger than the distance between the electric field correction members in the electrodes.

（作用） 本発明のカラー受像管では、電子レンズを構成する電
極のうち、低電位側電極の電子ビーム通過孔の内側上下
に電界補正部材が配置され、及び、高電位側電極の低電
位側電極と対向する電子ビーム通過孔の内側上下に電界
補正部材が配置されている。(Function) In the color picture tube of the present invention, among the electrodes constituting the electron lens, the electric field correction members are arranged above and below the electron beam passage hole of the low potential side electrode, and the low potential side of the high potential side electrode. Electric field correction members are arranged above and below the inside of the electron beam passage hole facing the electrode.

このため、電子レンズを構成する低電位側電極と高電
位側電極との対向面に穿設した各電子ビーム通過孔近傍
における等電位線の曲率は、従来の場合に比して垂直方
向で大となり、水平方向で小となる。換言すれば、電子
ビームは電子レンズの低電位側においては水平方向に比
して垂直方向に相対的に強い集束作用を受け、電子レン
ズの高電位側においては水平方向に比して垂直方向に相
対的に強い発散作用を受ける。すなわち、直交非対称の
電子レンズが形成される。For this reason, the curvature of the equipotential line in the vicinity of each electron beam passage hole formed on the facing surface of the low-potential side electrode and the high-potential side electrode forming the electron lens is larger in the vertical direction than in the conventional case. And becomes smaller in the horizontal direction. In other words, the electron beam has a relatively strong focusing action in the vertical direction as compared to the horizontal direction on the low potential side of the electron lens, and in the vertical direction as compared to the horizontal direction on the high potential side of the electron lens. Has a relatively strong diverging effect. That is, an orthogonally asymmetric electron lens is formed.

ここで、電子ビームは低電位側で受ける作用に強く支
配されるため、最終的には蛍光面上に集束される。Here, since the electron beam is strongly controlled by the action on the low potential side, it is finally focused on the phosphor screen.

したがって、本発明においては、電子レンズにより集
束された電子ビームの偏向領域における断面形状は水平
方向に長軸を有する楕円状となり、非斉一磁界内の水平
偏向磁界から受ける垂直方向成分が減少するため、偏向
に伴う歪みが減少する。また、電子ビームは電子レンズ
の高電位側において垂直方向に相対的に強い発散作用を
受けるため、垂直方向の集束角が従来より小さくなり、
これにより偏向に伴うハローの発生が抑制される。さら
に、電子レンズの低電位側と高電位側の強度バランスを
とることにより、画面中央部における電子ビームスポッ
トの形状を円形とすることができる。Therefore, in the present invention, the cross-sectional shape of the electron beam focused by the electron lens in the deflection region is an ellipse having the major axis in the horizontal direction, and the vertical component received from the horizontal deflection magnetic field in the inhomogeneous magnetic field is reduced. , Distortion due to deflection is reduced. Further, since the electron beam is subjected to a relatively strong diverging action in the vertical direction on the high potential side of the electron lens, the vertical focusing angle becomes smaller than that of the conventional one.
This suppresses the generation of halos due to the deflection. Furthermore, by balancing the strengths of the low potential side and the high potential side of the electron lens, the shape of the electron beam spot in the center of the screen can be made circular.

すなわち、画面中央部の解像度の低下をまねくことな
く、画面周辺の解像度が改善される。That is, the resolution around the screen is improved without lowering the resolution at the center of the screen.

（実施例） 以下、本発明の実施例について、図面を用いて説明す
る。(Example) Hereinafter, the Example of this invention is described using drawing.

第１図（ａ）は、本発明によるカラー受像管に用いる
電子銃の一実施例を示す平面方向概略断面図、第１図
（ｂ）は、同じく側面方向概略断面図である。FIG. 1 (a) is a schematic sectional view in the plane direction showing an embodiment of an electron gun used for a color picture tube according to the present invention, and FIG. 1 (b) is a schematic sectional view in the side direction.

第１図（ａ）において、電子銃100は、ヒータ（図示
せず）を内装し一直線上に配列された３個の陰極KR、KG
およびKB、第１電極110、第２電極120、第３電極130、
第４電極140およびコンバーゼンスカップ150が管軸方向
にこの順に配置されており、絶縁支持棒（図示せず）に
より支持、固着されている。In FIG. 1 (a), an electron gun 100 has three cathodes KR and KG which are internally arranged with heaters (not shown) and arranged in a straight line.
And KB, the first electrode 110, the second electrode 120, the third electrode 130,
The fourth electrode 140 and the convergence cup 150 are arranged in this order in the tube axis direction, and are supported and fixed by an insulating support rod (not shown).

第１電極110は厚さが0.2mmの薄い板状電極であり、直
径0.7mm程度の径小の３個の電子ビーム通過孔111R、111
Gおよび111Bが、6.6mmの中心間距離をもって穿設されて
いる。The first electrode 110 is a thin plate electrode having a thickness of 0.2 mm, and has three electron beam passage holes 111R and 111R having a small diameter of about 0.7 mm.
G and 111B are drilled with a center-to-center distance of 6.6 mm.

また第２電極120は厚さが0.7mmの薄い板状電極であ
り、直径0.7mm程度の径小の３個の電子ビーム通過孔121
R、121Gおよび121Bが、6.6mmの中心間距離をもって穿設
されている。The second electrode 120 is a thin plate electrode having a thickness of 0.7 mm, and has three electron beam passage holes 121 having a small diameter of about 0.7 mm.
R, 121G and 121B are drilled with a center-to-center distance of 6.6 mm.

第３電極130は開放端どうしを密着させた２個のカッ
プ状電極131および132と、厚さが0.6mm程度の薄板133と
からなる。このカップ状電極131の第２電極120側には、
直径が1.3mmの３個の電子ビーム通過孔134R、134Gおよ
び134Bが穿設されている。またカップ状電極132の第４
電極140側はバーリングのないほぼ平板状であって、最
大径が6.2mmの３個の略円形の電子ビーム通過孔135R、1
35Gおよび135Bが穿設されている。薄板133には、カップ
状電極132の電子ビーム通過孔135R、135Gおよび135Bと
同一な３個の略円形の電子ビーム通過孔136R、136Gおよ
び136Bが穿設されている。そしてカップ状電極132の内
壁には、電子ビーム通過孔135R、135Gおよび135Bを含む
面の内側からこの面に対する垂直距離（Ｌ1）で3.0mmの
位置に、各電子ビームの軌道面と平行であってこの軌道
面を挟むように、厚さ1.2mm程度、長さ3.0mm程度、幅1
9.0mm程度の平板からなる電界補正部材160および161が
配置されている。The third electrode 130 is composed of two cup-shaped electrodes 131 and 132 whose open ends are in close contact with each other, and a thin plate 133 having a thickness of about 0.6 mm. On the second electrode 120 side of this cup-shaped electrode 131,
Three electron beam passage holes 134R, 134G and 134B having a diameter of 1.3 mm are provided. The fourth of the cup-shaped electrode 132
The electrode 140 side is a substantially flat plate without burring, and has three substantially circular electron beam passage holes 135R, 1 with a maximum diameter of 6.2 mm.
35G and 135B are drilled. The thin plate 133 is provided with three substantially circular electron beam passage holes 136R, 136G and 136B which are the same as the electron beam passage holes 135R, 135G and 135B of the cup-shaped electrode 132. Then, on the inner wall of the cup-shaped electrode 132, at a position of 3.0 mm as a vertical distance (L 1 ) from the inside of the surface including the electron beam passage holes 135R, 135G and 135B, parallel to the orbital surface of each electron beam. There is a thickness of about 1.2 mm, a length of about 3.0 mm, and a width of 1 so as to sandwich this raceway surface.
Electric field correction members 160 and 161 made of flat plates of about 9.0 mm are arranged.

第４電極140は、開放端どうしを密着させた２個のカ
ップ状電極141および142とからなる。このカップ状電極
141の第３電極130側はバーリングのないほぼ平板状であ
って、カップ状電極132の電子ビーム通過孔135R、135G
および135Bとほぼ同様な略円形の電子ビーム通過孔143
R、143Gおよび143Bが穿設されている。そしてカップ状
電極141の内壁には、電子ビーム通過孔143R、143Gおよ
び143Bを含む面の内側からこの面に対する垂直距離（Ｌ
2）で2.0mmの位置に、各電子ビームの軌道面と平行であ
ってこの軌道面を挟むように、厚さ1.5mm程度、長さ3.0
mm程度、幅19.0mm程度の平板からなる電界補正部材170
および171が配置されている。The fourth electrode 140 is composed of two cup-shaped electrodes 141 and 142 whose open ends are in close contact with each other. This cup-shaped electrode
The third electrode 130 side of 141 is a substantially flat plate shape without burring, and the electron beam passage holes 135R and 135G of the cup-shaped electrode 132.
And a substantially circular electron beam passage hole 143 similar to 135B.
R, 143G and 143B are drilled. Then, on the inner wall of the cup-shaped electrode 141, the distance (L) from the inside of the surface including the electron beam passage holes 143R, 143G, and 143B to the surface is
2 ) at 2.0 mm, parallel to the orbital plane of each electron beam and sandwiching this orbital plane, the thickness is about 1.5 mm and the length is 3.0 mm.
Electric field correction member 170 made of a flat plate with a width of about 19.0 mm
And 171 are located.

またカップ状電極142のコンバーゼンスカップ150側に
も３個の径大な略円形の電子ビーム通過孔144R、144Gお
よび144Bが穿設され、コンバーゼンスカップ150が当接
されている。Further, three substantially circular electron beam passage holes 144R, 144G, and 144B having a large diameter are also formed on the convergence cup 150 side of the cup-shaped electrode 142, and the convergence cup 150 is in contact therewith.

コンバーゼンスカップ150のカップ状電極142側にも３
個の径大な略円形の電子ビーム通過孔151R、151Gおよび
151Bが穿設されており、下方にはスプリング180が取付
けられている。このスプリング180は、ネック内壁に塗
布された導電膜（図示せず）に圧着するようになってい
る。3 on the cup-shaped electrode 142 side of the convergence cup 150
Large diameter circular electron beam passage holes 151R, 151G and
151B is bored, and a spring 180 is attached below. The spring 180 is adapted to be pressure-bonded to a conductive film (not shown) applied to the inner wall of the neck.

このようにしてなる電子銃100の陰極KR、KGおよびKB
には、たとえば150V程度の直流電圧と、画像に対応した
変調信号が印加される。また第１電極110は接地、第２
電極120には約600V、第３電極130には約7kVの電圧が印
加される。第４電極140には、導電膜とスプリング180お
よびコンバーゼンスカップ150を介して、約25kVの高電
圧が印加される。The cathodes KR, KG and KB of the electron gun 100 thus formed
A DC voltage of, for example, about 150 V and a modulation signal corresponding to the image are applied to. Also, the first electrode 110 is grounded, the second
A voltage of about 600 V is applied to the electrode 120, and a voltage of about 7 kV is applied to the third electrode 130. A high voltage of about 25 kV is applied to the fourth electrode 140 via the conductive film, the spring 180, and the convergence cup 150.

陰極KR、KGおよびKB、第１電極110ならびに第２電極1
20とで３極部を構成し、電子ビームを放射するとともに
クロスオーバを形成する。第２電極120と第３電極130の
間隔近傍にはプリフォーカスレンズが形成され、３極部
から出射された電子ビームを予備集束する。Cathode KR, KG and KB, first electrode 110 and second electrode 1
20 and 30 form a three-pole part, which emits an electron beam and forms a crossover. A prefocus lens is formed in the vicinity of the interval between the second electrode 120 and the third electrode 130 to prefocus the electron beam emitted from the triode.

主レンズは第３電極130と第４電極140との感覚近傍に
形成され、この主レンズにより電子ビームは最終的に蛍
光面上に集中する。The main lens is formed in the vicinity of the sense of the third electrode 130 and the fourth electrode 140, and the electron beam is finally focused on the fluorescent screen by this main lens.

ここで、第３電極130と第４電極140とで形成される主
レンズにおいては、相対的に低電圧の印加される第３電
極130側で集束作用があり、相対的に高電圧の印加され
る第４電極140側で発散作用がある。そして、電子ビー
ムは低電圧側で受ける作用に大きく支配されるため、電
子ビームは最終的に蛍光面上に集中される。Here, in the main lens formed by the third electrode 130 and the fourth electrode 140, there is a focusing action on the side of the third electrode 130 to which a relatively low voltage is applied, and a relatively high voltage is applied. There is a diverging action on the fourth electrode 140 side. Since the electron beam is largely controlled by the action on the low voltage side, the electron beam is finally concentrated on the phosphor screen.

ただし、第３電極130と第４電極140の内部には電界補
正板160、161、170および171が設けられているので、電
子ビーム通過孔135R、135G、135B、136R、136G、136B、
143R、143G、および143B近傍においては、電界の浸透す
る曲率が水平方向と垂直方向とで異なる。したがって、
電子ビームの受ける作用は、水平方向と垂直方向とで異
なることになる。However, since the electric field correction plates 160, 161, 170 and 171 are provided inside the third electrode 130 and the fourth electrode 140, the electron beam passage holes 135R, 135G, 135B, 136R, 136G, 136B,
In the vicinity of 143R, 143G, and 143B, the curvature in which the electric field penetrates differs in the horizontal direction and the vertical direction. Therefore,
The action of the electron beam is different in the horizontal direction and the vertical direction.

このときの主レンズ近傍における等電位分布を、第２
図により説明する。第２図（ａ）は主レンズ近傍におけ
る等電位分布を示す垂直断面図であり、第２図（ｂ）は
その水平断面図である。At this time, the equipotential distribution near the main lens is
This will be described with reference to the drawings. 2A is a vertical sectional view showing the equipotential distribution in the vicinity of the main lens, and FIG. 2B is a horizontal sectional view thereof.

第２図（ａ）に示すように、カップ状電極132および1
41の内部の垂直方向の等電位分布は、電界補正部材16
0、161および170、171の影響により、等電位線の垂直方
向の曲率が、水平方向に比して大きくなる。またこの傾
向は、電界補正部材間の距離が短いカップ状電極141内
において顕著である。一方、水平方向には電界補正板が
存在しないため、等電位線の曲率は垂直方向に比して小
さい。換言すれば、垂直方向には集束作用も発散作用も
相対的に強く働き、水平方向には集束作用も発散作用も
相対的に弱く働くといえる。As shown in FIG. 2 (a), cup-shaped electrodes 132 and 1
The equipotential distribution in the vertical direction inside 41 is the electric field correction member 16
Due to the influence of 0, 161, 170, and 171, the vertical curvature of the equipotential line becomes larger than that in the horizontal direction. Further, this tendency is remarkable in the cup-shaped electrode 141 in which the distance between the electric field correction members is short. On the other hand, since there is no electric field correction plate in the horizontal direction, the curvature of the equipotential line is smaller than that in the vertical direction. In other words, it can be said that the focusing action and the diverging action are relatively strong in the vertical direction, and the focusing action and the diverging action are relatively weak in the horizontal direction.

この主レンズの作用を概念的に図示したものが、第３
図である。同図中に実線で示した電子ビームは、主レン
ズの第３電極側領域Ｖでは、垂直方向には線分Ｆ−Ｇお
よび線分ｆ−ｇで示すように相対的に強い集束作用を受
け、水平方向には線分Ｆ−Ｈおよび線分ｆ−ｈで示すよ
うに相対的に弱い集束作用を受ける。また主レンズの第
４電極側領域VIでは、垂直方向には線分Ｇ−Ｉおよび線
分ｇ−ｉで示すように相対的に強い発散作用を受け、水
平方向には線分Ｈ−Ｊおよびｈ−ｊで示すように相対的
に弱い発散作用を受ける。What conceptually illustrates the action of this main lens is the third
FIG. In the region V on the third electrode side of the main lens, the electron beam shown by the solid line in the figure is subjected to a relatively strong focusing action in the vertical direction as shown by line segment FG and line segment fg. In the horizontal direction, a relatively weak focusing action is exerted as indicated by line segment F-H and line segment f-h. Further, in the fourth electrode side region VI of the main lens, a relatively strong divergence action is exerted in the vertical direction as indicated by the line segment GI and the line segment gi, and in the horizontal direction the line segment H-J and As indicated by h-j, it undergoes a relatively weak diverging action.

このように、電子ビームは主レンズにより水平方向と
垂直方向とで異なる作用を受け、垂直方向には集束角α
Vで集束し、水平方向には集束角αHで集束するため、偏
向領域200における電子ビームの軌道は、垂直方向の径
が水平方向よりも小さくなる。すなわち、電子ビームの
断面形状は水平方向に長軸を有する楕円となる。ただ
し、電子ビームスポットの形状は、ほぼ円形201とな
る。Thus, the electron beam is affected by the main lens differently in the horizontal direction and the vertical direction, and the focusing angle α is increased in the vertical direction.
Since the beam is focused at V and horizontally at the focusing angle α H , the trajectory of the electron beam in the deflection region 200 has a smaller diameter in the vertical direction than in the horizontal direction. That is, the sectional shape of the electron beam is an ellipse having a major axis in the horizontal direction. However, the shape of the electron beam spot is approximately circular 201.

したがって、第４図に示すように偏向時に電子ビーム
300が水平偏向磁界から受ける力301および302の垂直成
分303および304は小さいため、偏向後の歪みも少ない。
さらに、垂直方向の集束角αVも小さいため、画面周辺
部に偏向されたときの電子ビームスポットの形状は、ハ
ローの発生が抑制された水平方向に長軸を有する楕円30
5となる。Therefore, as shown in FIG.
Since the vertical components 303 and 304 of the forces 301 and 302 that 300 receives from the horizontal deflection magnetic field are small, the distortion after deflection is also small.
Furthermore, since the vertical focusing angle α V is also small, the shape of the electron beam spot when deflected to the peripheral portion of the screen is an ellipse 30 having a long axis in the horizontal direction in which the occurrence of halos is suppressed.
It becomes 5.

したがって、電子ビームスポットの形状は、第５図に
示すように画面中央部の電子ビームスポット400の形状
はほぼ真円とし、画面周辺部の電子ビームスポット401
の形状はハロー402の発生が抑制された、もしくはハロ
ーの発生が無い楕円とすることができる。すなわち、画
面中央部の解像度の低下をまねくことなく、画面周辺部
の解像度を改善することができる。Therefore, as shown in FIG. 5, the electron beam spot 400 in the central portion of the screen has an almost perfect circle, and the electron beam spot 401 in the peripheral portion of the screen has the same shape.
The shape of can be an ellipse in which the generation of the halo 402 is suppressed or the generation of the halo is not generated. That is, it is possible to improve the resolution of the peripheral portion of the screen without causing a decrease in the resolution of the central portion of the screen.

また、本発明に基づくカラー受像管に用いる電子銃の
他の実施例を、第６図に示す。第６図（ａ）は平面方向
概略断面図、同図（ｂ）は側面方向概略断面図である。Another embodiment of the electron gun used for the color picture tube according to the present invention is shown in FIG. FIG. 6A is a schematic sectional view in the plane direction, and FIG. 6B is a schematic sectional view in the side direction.

第６図に示す電子銃500は、第１図に示した電子銃100
に用いた薄板133を除去した以外は、電子銃100と同一で
ある。このような構成の電子銃500を用いた場合でも、
前述した電子銃100とほぼ同じ効果を得ることができ
る。なお、第６図において第１図と共通する部材につい
ては、第１図と同じ符号を付してある。The electron gun 500 shown in FIG. 6 corresponds to the electron gun 100 shown in FIG.
The electron gun 100 is the same as the electron gun 100 except that the thin plate 133 used in the above is removed. Even when using the electron gun 500 having such a configuration,
It is possible to obtain almost the same effect as the electron gun 100 described above. In FIG. 6, members common to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals as those in FIG.

また電界補正部材に代り、主レンズを構成する低電位
側電極の高電位側電極と対向する面および高電位側電極
の低電位側電極と対向する面のそれぞれ内側に、第７図
に示すように水平方向側の立上り部を欠くバーリング60
0を設けることによっても、電界補正部材を用いた場合
とほぼ同様の効果を得ることができる。Instead of the electric field correction member, as shown in FIG. 7, inside the surface of the low-potential side electrode that constitutes the main lens facing the high-potential side electrode and the surface of the high-potential side electrode that faces the low-potential side electrode, respectively. Burring 60 lacking a horizontal rise
By providing 0, it is possible to obtain substantially the same effect as when the electric field correction member is used.

なお、電子ビームスポットの形状は、映像管のサイ
ズ、偏向角、偏向ヨークの磁界の強度や形状および変化
率等によって異なってくる。したがって、これに対応し
て直交非対称レンズの作用を最適化するためには、電界
補正部材の形状、長さ、取付け位置あるいは電子ビーム
通過孔の形状等をパラメータとして種々設定する必要が
ある。The shape of the electron beam spot differs depending on the size of the picture tube, the deflection angle, the strength and shape of the magnetic field of the deflection yoke, the rate of change, and the like. Therefore, in order to optimize the action of the orthogonal asymmetric lens corresponding to this, it is necessary to set variously the parameters such as the shape, length, mounting position of the electric field correction member, and the shape of the electron beam passage hole as parameters.

たとえば、偏向ヨークの磁界が前記実施例より強くな
った場合、第６図に示した電子銃を引用して第８図に示
すように、電界補正部材と電子ビーム通過孔との距離Ｌ
1およびＬ2を前記実施例より小さくするか、Ｌ1＝０、
Ｌ2＝０とすることにより、直交非対称レンズの作用の
最適化を図ることができる。なお、第８図において第６
図と共通する部材については、第６図と同じ符号を付し
てある。For example, when the magnetic field of the deflection yoke becomes stronger than that of the above embodiment, as shown in FIG. 8 by citing the electron gun shown in FIG. 6, the distance L between the electric field correction member and the electron beam passage hole is increased.
1 and L 2 are smaller than those in the above embodiment, or L 1 = 0,
By setting L 2 = 0, the action of the orthogonal asymmetric lens can be optimized. In addition, in FIG.
Members common to those in the figure are designated by the same reference numerals as those in FIG.

また他の最適化の方法としては、次の方法が例示され
る。Moreover, the following method is illustrated as another optimization method.

電子レンズを構成する低電位側電極の電子レンズ構
成側もしくは低電位側電極に密接配置する薄板に穿設す
る電子ビーム通過孔か、高電位側電極の電子レンズ構成
側に穿設する電子ビーム通過孔の少なくとも一方の形状
を、第９図に示すように電子ビーム通過孔800の高さＸ
をパラメータとして小判状とする。An electron beam passage hole formed in the electron lens forming side of the low potential side electrode forming the electron lens or in a thin plate closely arranged to the low potential side electrode, or an electron beam passing hole formed in the electron lens forming side of the high potential side electrode As shown in FIG. 9, at least one of the holes has a height X of the electron beam passage hole 800.
Is used as a parameter to form an oval.

前述した電界補正部材と電子ビーム通過孔との距離
Ｌ1、Ｌ2と、前記を組み合わせる。The distances L 1 and L 2 between the electric field correction member and the electron beam passage hole are combined with the above.

さらに、上記およびの方法でセンタービームの形
状とサイドビームの形状を最適化するために、低電位側
電極の電子レンズ構成側もしくは低電位側電極に密接配
置する薄板に穿設する電子ビーム通過孔か、高電位側電
極の電子レンズ構成側に穿設する電子ビーム通過孔の少
なくとも一方の形状を、第10図に示すように略円形開口
900と小判状開口901との組み合わせにする方法や、第11
図に示すように電界補正部材のセンタービームに相当す
る部分の厚さｔ1とサイドビームに相当する部分の厚さ
ｔ2を変化させる方法、あるいは第12図に示すように電
界補正部材のセンタービームに相当する部分の長さｌ1
とサイドビームに相当する部分の長さｌ2を変化させる
方法等がある。Further, in order to optimize the shape of the center beam and the shape of the side beam by the above methods and, the electron beam passage hole formed in the thin plate closely arranged to the electron lens forming side of the low potential side electrode or the low potential side electrode Alternatively, at least one of the electron beam passage holes formed in the electron lens forming side of the high potential side electrode has a substantially circular opening as shown in FIG.
Method of combining 900 and oval opening 901,
As shown in the figure, a method of changing the thickness t 1 of the portion corresponding to the center beam of the electric field correction member and the thickness t 2 of the portion corresponding to the side beam, or the center of the electric field correction member as shown in FIG. The length l 1 of the part corresponding to the beam
And a method of changing the length l 2 of the portion corresponding to the side beam.

これらの方法により直交非対称レンズの作用を最適化
することができ、これによりカラー受像管の解像度を画
面全域に渡って優れたものとすることができる。By these methods, the action of the orthogonal asymmetric lens can be optimized, and thus the resolution of the color picture tube can be made excellent over the entire screen.

なお、本発明の実施例ではバイポテンシャル型電子銃
を例にとり説明したが、本発明の作用効果は他の方式の
電子銃、すなわちユニポテンシャル型電子銃あるいはク
ォードラポテンシャル型電子銃等の複合型電子銃にも適
用することができる。In the embodiment of the present invention, the bipotential type electron gun has been described as an example, but the action and effect of the present invention are other types of electron guns, that is, a compound type such as a unipotential type electron gun or a quadrapotential type electron gun. It can also be applied to electron guns.

［発明の効果］ 以上述べたように、本発明のカラー受像管装置では画
面中央部の解像度の低下をまねくことなく、画面周辺部
の解像度を大幅に改善することができる。したがって、
本発明によれば画面全域にわたって優れた解像度を有す
るカラー受像管を得ることができる。[Advantages of the Invention] As described above, in the color picture tube device of the present invention, the resolution of the peripheral portion of the screen can be significantly improved without lowering the resolution of the central portion of the screen. Therefore,
According to the present invention, a color picture tube having excellent resolution over the entire screen can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第１図（ａ）は本発明によるカラー受像管に用いる電子
銃の一実施例を示す平面方向概略断面図、第１図（ｂ）
は第１図（ａ）に示した電子銃の垂直方向概略断面図、
第２図（ａ）は主レンズ近傍における等電位分布を示す
垂直断面図、第２図（ｂ）は主レンズ近傍における等電
位分布を示す水平断面図、第３図は主レンズの作用を概
念的に示す図、第４図は第３図に示した作用を有する主
レンズにより集束された電子ビームが偏向時に水平偏向
磁界から受ける影響を説明するための図、第５図は本発
明によるカラー受像管の画面中央部および画面周辺部の
電子ビームスポットの形状を示す概略図、第６図（ａ）
は本発明によるカラー受像管に用いる電子銃の他の実施
例を示す平面方向概略断面図、第６図（ｂ）は第６図
（ａ）に示した電子銃の垂直方向概略断面図、第７図は
電界補正部材とほぼ同様の作用を及ぼし得るバーリング
の一例を示す斜視図、第８図は直交非対称レンズの作用
を最適化するための一手法を説明するための図、第９図
および第10図は直交非対称レンズの作用を最適化する電
子ビーム通過孔の形状の例を示す正面図、第11図および
第12図は直交非対称レンズの作用を最適化する電界補正
部材の形状の例を示す斜視図、第13図（ａ）はピンクッ
ション形磁界を示す概念図、第13図（ｂ）はバレル形磁
界を示す概念図、第14図は従来のカラー受像管の画面中
央部および画面周辺部の電子ビームスポットの形状を示
す概略図、第15図は従来の主レンズの作用の一例を概念
的に示す図、第16図は第15図に示した作用を有する主レ
ンズにより集束された電子ビームが偏向時に水平偏向磁
界から受ける影響を説明するための図、第17図は従来の
主レンズの作用の他の例を概念的に示す図、第18図は第
17図に示した作用を有する主レンズにより集束された電
子ビームが偏向時に水平偏向磁界から受ける影響を説明
するための図である。 100……電子銃 130……低電位側電極 135R、135G、135B……低電位側電極の高電位側電極と対
向する面に穿設された電子ビーム通過孔 140……高電位側電極 143R、143G、143B……高電位側電極の低電位側電極と対
向する面に穿設された電子ビーム通過孔 160、161……低電位側電極内に配設した電界補正部材 170、171……高電位側電極内に配設した電界補正部材FIG. 1 (a) is a schematic sectional view in the plane direction showing an embodiment of an electron gun used for a color picture tube according to the present invention, and FIG. 1 (b).
Is a schematic vertical sectional view of the electron gun shown in FIG.
2 (a) is a vertical sectional view showing the equipotential distribution in the vicinity of the main lens, FIG. 2 (b) is a horizontal sectional view showing the equipotential distribution in the vicinity of the main lens, and FIG. 3 is a concept of the action of the main lens. 4 and FIG. 4 are views for explaining the influence of the horizontal deflection magnetic field on the electron beam focused by the main lens having the action shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a color diagram according to the present invention. FIG. 6 (a) is a schematic view showing the shapes of electron beam spots in the central part of the screen and the peripheral part of the screen of the picture tube.
Is a schematic sectional view in the plane direction showing another embodiment of the electron gun used in the color picture tube according to the present invention, and FIG. 6 (b) is a schematic sectional view in the vertical direction of the electron gun shown in FIG. 6 (a). FIG. 7 is a perspective view showing an example of burring that can exert an action substantially similar to that of the electric field correction member, and FIG. 8 is a diagram for explaining a method for optimizing the action of the orthogonal asymmetric lens, FIG. 9 and FIG. FIG. 10 is a front view showing an example of the shape of the electron beam passage hole that optimizes the action of the orthogonal asymmetric lens, and FIGS. 11 and 12 are examples of the shape of the electric field correction member that optimizes the action of the orthogonal asymmetric lens. Fig. 13 (a) is a conceptual diagram showing a pincushion type magnetic field, Fig. 13 (b) is a conceptual diagram showing a barrel type magnetic field, and Fig. 14 is a screen central portion of a conventional color picture tube and Schematic diagram showing the shape of the electron beam spot around the screen. FIG. 16 is a diagram conceptually showing an example of the action of the main lens, FIG. 16 is a diagram for explaining the influence of the horizontal deflection magnetic field upon deflection of the electron beam focused by the main lens having the action shown in FIG. FIG. 17 is a diagram conceptually showing another example of the action of the conventional main lens, and FIG.
FIG. 18 is a diagram for explaining the influence of the horizontal deflection magnetic field upon deflection of the electron beam focused by the main lens having the action shown in FIG. 17. 100 ...... Electron gun 130 ...... Low potential side electrode 135R, 135G, 135B ...... Electron beam passage hole bored on the surface of the low potential side electrode facing the high potential side electrode 140 ...... High potential side electrode 143R, 143G, 143B ... Electron beam passage holes 160, 161 formed on the surface of the high-potential side electrode facing the low-potential side electrode 160, 161, ... Electric field correction member arranged in the potential side electrode

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】少なくとも内面に蛍光体スクリーンが形成
されたパネル部と、前記パネルにファンネルを介して連
設されたネック部と、このネック部に配置された電子銃
とを備え、前記電子銃が、所定の間隔で複数本の電子ビ
ームを発生させるための水平配列された複数個の陰極と
前記複数本の電子ビームを前記蛍光体スクリーン上に集
束されるための複数個の電子ビーム通過孔を有する電極
から構成される電子レンズとを有するインライン型電子
銃であるカラー受像管において、 前記電子レンズを構成する電極の内、低電位側電極の電
子ビーム通過孔の内側上下に電界補正部材を配置して、
水平方向よりも垂直方向に相対的に強い集束作用を付加
し、及び、高電位側電極の低電位側電極と対向する電子
ビーム通過孔の内側上下に電界補正部材を配置して、電
子レンズの高電位側に、水平方向よりも垂直方向に相対
的に強い発散作用を付加することにより、電子ビームの
断面形状を偏向領域では水平方向に長い楕円状とし、蛍
光体スクリーン中央部でほぼ円形の電子ビームスポット
となしたことを特徴とするカラー受像管。1. An electron gun comprising: a panel portion having a phosphor screen formed on at least an inner surface thereof; a neck portion connected to the panel via a funnel; and an electron gun arranged in the neck portion. A plurality of horizontally arranged cathodes for generating a plurality of electron beams at predetermined intervals, and a plurality of electron beam passage holes for focusing the plurality of electron beams on the phosphor screen. In a color picture tube, which is an in-line type electron gun having an electron lens composed of an electrode having, an electric field correction member is provided above and below the inside of the electron beam passage hole of the low potential side electrode among the electrodes forming the electron lens. Place it
A relatively stronger focusing action is added in the vertical direction than in the horizontal direction, and electric field correction members are arranged above and below the inside of the electron beam passage hole facing the low potential side electrode of the high potential side electrode. By adding a relatively strong divergence effect in the vertical direction rather than in the horizontal direction on the high potential side, the cross-sectional shape of the electron beam becomes elliptical long in the horizontal direction in the deflection region and almost circular in the center of the phosphor screen. A color picture tube characterized by being an electron beam spot.
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