JP2676092B2 - 電気光学装置 - Google Patents

電気光学装置

Info

Publication number
JP2676092B2
JP2676092B2 JP8777691A JP8777691A JP2676092B2 JP 2676092 B2 JP2676092 B2 JP 2676092B2 JP 8777691 A JP8777691 A JP 8777691A JP 8777691 A JP8777691 A JP 8777691A JP 2676092 B2 JP2676092 B2 JP 2676092B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
electro
optical device
film
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8777691A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06123878A (ja
Inventor
正明 廣木
晃 間瀬
舜平 山崎
Original Assignee
株式会社 半導体エネルギー研究所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 半導体エネルギー研究所 filed Critical 株式会社 半導体エネルギー研究所
Priority to JP8777691A priority Critical patent/JP2676092B2/ja
Priority to EP19920102502 priority patent/EP0499979A3/en
Priority to KR1019920002345A priority patent/KR960004151B1/ko
Priority to US07/837,394 priority patent/US5200846A/en
Priority to US08/219,819 priority patent/US5521107A/en
Publication of JPH06123878A publication Critical patent/JPH06123878A/ja
Priority to US08/372,899 priority patent/US7479939B1/en
Priority to US08/943,238 priority patent/US7420628B1/en
Priority to US08/943,333 priority patent/US20010017683A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2676092B2 publication Critical patent/JP2676092B2/ja
Priority to US09/961,055 priority patent/US7646441B2/en
Priority to US10/836,246 priority patent/US7701523B2/en
Priority to US10/844,393 priority patent/US7671827B2/en
Priority to US10/844,347 priority patent/US20050007329A1/en
Priority to US12/236,033 priority patent/US7948569B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アクティブ型液晶電気
光学装置、特にアクティブ型液晶電気光学装置に関する
もので、明確な階調のレベルを設定できるようにしたも
のである。
【0002】
【従来の技術】液晶組成物はその物質特性から、分子軸
に対して水平方向と垂直方向の誘電率が異なるため、外
部の電界に対して水平方向に配列したり、垂直方向に配
列したりさせることが容易にできる。液晶電気光学装置
はこの誘電率の異方性を利用して、光の透過光量または
分散量を制御することで、ON/OFFの表示を行って
いる。
【0003】図1にネマチック液晶の電気光学特性を示
す。印加電圧が小さいVa(A点101)のときには、
透過光量がほぼ0%、Vb(B点102)の場合には3
0%ほど、Vc(C点103)の場合には80%ほど、
Vd(D点104)の場合には100%ほどになる。つ
まり、A、D点のみを利用すれば、白黒の2階調表示
が、B、C点のように電気光学特性の立ち上がりの部分
を利用すれば、中間階調表示が可能となる。本発明者が
確認した具体的電圧としては、Va=2.0V、Vb=
2.18V、Vc=2.3V、Vd=2.5Vであっ
た。
【0004】従来、TFTを利用した液晶電気光学装置
の階調表示の場合、TFTのゲート印加電圧もしくはソ
ース・ドレイン間の印加電圧を変化させてアナログ的に
電圧を調整し、階調表示をおこなっていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】TFTを利用した液晶
電気光学装置の階調表示の方法に関して、さらに詳しい
説明をくわえる。従来液晶電気光学装置に用いられてい
るnチャネル型薄膜トランジスタは、図2に示すような
電圧電流特性を持っている。図2に示した電圧電流特性
はアモルファスシリコンを用いたnチャネル型薄膜トラ
ンジスタの特性201と、ポリシリコンを用いたnチャ
ネル型薄膜トランジスタの特性202である。
【0006】ゲート電極に加える電圧をアナログ的に制
御することで、ドレイン電流を制御することが出来ひい
てはソース・ドレイン間の抵抗値を変化させることとな
る。その結果、直列接合された液晶に加わる電界の大き
さをその抵抗分割によって、任意に変化させることがで
きる。これによって、階調表示が可能になっている。ま
た、この逆でゲート電極を走査側信号線に接続し、ソー
ス・ドレイン間電圧を変化させて、液晶に加える電界値
そのものを任意に制御する方法もある。
【0007】どちらの手法にしても、TFTの特性に大
きく依存したアナログ的な階調表示方式であることに違
いはない。しかしながら、マトリクス構成をなす多数の
TFT素子の全てが均一な特性を有するように作成する
のは難しく、特に階調表示に必要な中間の電圧の微調整
は今の技術では、非常な困難を要しているのが現状であ
る。図2に示したネマチック液晶の電気光学的特性から
もわかる様に、暗状態の境界値である2.08V付近か
ら明状態の境界値である2.40V付近までの0.32
V間で全ての階調表示を行なわねばならない。16階調
を過程した場合、平均0.02V間隔でのコントロール
が必要となる。
【0008】もし、図1に示すA点101とD点104
の様な、液晶が完全にON/OFFする部分でコントロ
ールした場合、その電圧差は0.5V以上とることが出
来るために、TFTの面内特性ばらつきを十分緩和する
に値する。複数の書込みフレームを利用して、例えば1
0フレーム中6フレームをON(2.5V)にして、残
り4フレームをOFF(2.0V)にしてやることで、
書込み平均電圧は2.3Vとなり、中間階調表示が可能
となる。
【0009】しかしながらこの様にした場合、複数フレ
ームを利用するために、人間の視覚で確認できる30H
z以下の表示になる危険性が発生して、条件によっては
フリッカー等の表示不良の原因となっていた。これを防
止する方法として、駆動周波数の高速化も提案されてい
るが、ドライバーICのデーター転送速度にも、20M
Hz程度と限界があり、困難を要していた。
【0010】
【問題を解決するための手段】そこで本発明では、従来
のアナログ的階調表示ではなく、デジタル的階調表示を
行うことで、明確な階調表示レベルを液晶に供給する手
段を提案するものであり、且つその際に、従来提案され
ているような単純に駆動周波数を上げて階調表示を行う
方法ではなく、データの転送周波数と階調表示用周波数
を独立させて、フレーム周波数の変化をさせない状態で
デジタル階調表示を行うことに特徴を有する。
【0011】アクティブマトリクス型液晶電気光学装置
において、任意の画素に書き込む単位時間tと1画面を
書き込む時間Fで関係される表示タイミングを有する表
示駆動方式を用いた電気光学装置の階調表示を、前記時
間Fを変更すること無しに前記時間tの書込み時間中の
信号を時分割とし、このことによって時間tに画素の液
晶に加わる電界の平均値を分割の割合に応じて変化さ
せ、階調を表示可能にしたことを特徴としている。
【0012】詳細な説明のために図3に示す様な4×4
のマトリクスを用いる。図4には、図3に示すマトリク
スを駆動させる駆動波形を示す。従来の電気光学装置の
場合図3に示す様に、データ方向の信号線301〜30
4の電界の強さの強弱で305〜308に示すような画
素電極にかかる電界が決まり、それによって液晶の透過
率が決定される。なお図3と図4の符号が対応している
ことはいうまでもない。
【0013】本発明では、このようなアナログ的な階調
制御を行うのでは無く、図5に示す様に、任意の画素に
書き込む単位時間t501の書込み時間中の信号を時分
割とし、分割数分の階調を表示可能にしている。その
際、書き込み時間における電界変化503、505、5
07が図1のように変化した場合、非書き込み時間では
その平均値504、506、508のようになり、明快
な階調表示が可能となっている。
【0014】情報信号側のデーター転送速度は、例えば
1920×400ドット構成の液晶電気光学装置の場
合、8ビットパラレル転送で、5.76MHzのクロッ
ク周波数が必要となる。これに、従来の複数フレーム方
式を用いた場合、10フレームを利用するならば単純に
57.6MHzのクロック周波数が必要となるのであ
る。しかしながら、本発明の場合、階調表示用のクロッ
ク周波数を独立してとるため、最大8MHzの駆動能力
を有するICを用いた場合、約166階調まで、表示可
能となる。12.3MHzの駆動ICをもてば、ビジュ
アル用に必要と言われている256階調表示まで十分可
能な値になり、従来のアナログ方式および複数フレーム
方式のデジタル階調表示とは格段の優位性が生じる。以
下に実施例をもってさらに詳細な説明を加える。
【0015】本発明における液晶組成物は、強誘電性を
示すもの、ネマチック液晶を主体とするもの、コレステ
ィック液晶を主体とするもの、また混合物としてネマチ
ック液晶を有機樹脂中に分散させたもの、コレスティッ
ク液晶を有機樹脂中に分散させたもの、スメクチィク液
晶を有機樹脂中に分散させたものを用いることができ
る。
【0016】
【実施例】
『実施例1』 本実施例では図6に示すような回路構成
を用いた液晶電気光学装置を用いて、画像表示装置であ
る壁掛けテレビを作製したので、その説明を行う。また
その際のTFTは、レーザーアニールを用いた多結晶シ
リコンで、スタガ型とした。
【0017】図6において、符号700はゲート電極、
701はソース、702はドレイン、703はNMOS
TFT、704は画素電極を表す。
【0018】この回路構成に対応する実際の電極等の配
置構成を図7に示している。これらは説明を簡単にする
為2×2(またはそれ以下)に相当する部分のみ記載さ
れている。また符号は図6に対応する部分には同一の番
号を付した。また705はリードコンタクトを、706
は画素コンタクトを示している。さらに実際の駆動信号
波形を図5に示す。これも説明を簡単にする為に2×2
のマトリクス構成とした場合の信号波形で説明を行う。
【0019】まず、本実施例で使用する液晶パネルの作
製方法を図8を使用して説明する。図8(A)におい
て、石英ガラス等の高価でない700℃以下、例えば約
600℃の熱処理に耐え得るガラス800上にマグネト
ロンRF(高周波) スパッタ法を用いてブロッキング層
801としての酸化珪素膜を1000〜3000Åの厚
さに作製する。プロセス条件は酸素100%雰囲気、成
膜温度15℃、出力400〜800W、圧力0.5Pa
とした。タ−ゲットに石英または単結晶シリコンを用い
た成膜速度は30〜100Å/分であった。
【0020】この上にシリコン膜をプラズマCVD法に
より珪素膜を作製した。成膜温度は250℃〜350℃
で行い本実施例では320℃とし、モノシラン(SiH4)を
用いた。モノシラン(SiH4)に限らず、ジシラン(Si2H6)
またトリシラン(Si3H8) を用いてもよい。これらをPC
VD装置内3Paの圧力に導入し、13.56MHzの
高周波電力を加えて成膜した。この際、高周波電力は
0.02〜0.10W/cm2 が適当であり、本実施例
では0.055W/cm2 を用いた。また、モノシラン
(SiH4)の流量は20SCCMとし、その時の成膜速度は
約120Å/ 分であった。
【0021】NTFTのスレッシュホ−ルド電圧(Vt
h)を制御するため、ホウ素をジボランを用いて1×10
15〜1×1018cm-3の濃度として成膜中に添加してもよ
い。またTFTのチャネル領域となるシリコン層の成膜
にはこのプラズマCVDだけでなく、スパッタ法、減圧
CVD法を用いても良く、以下にその方法を簡単に述べ
る。
【0022】スパッタ法で行う場合、スパッタ前の背圧
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをタ−ゲット
として、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲気
で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とした。
成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、スパ
ッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paであっ
た。
【0023】減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よ
りも100〜200℃低い450〜550℃、例えば5
30℃でジシラン(Si2H6) またはトリシラン(Si3H8) を
CVD装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜
300Paとした。成膜速度は50〜250Å/ 分であ
った。
【0024】これらの方法によって形成された被膜は、
酸素が5×1021cm-3以下であることが好ましい。結晶化
を助長させるためには、酸素濃度を7×1019cm-3以下、
好ましくは1×1019cm-3以下とすることが望ましいが、
少なすぎると、バックライトによりオフ状態のリ−ク電
流が増加してしまうため、この濃度を選択した。この酸
素濃度が高いと、結晶化させにくく、レーザーアニ−ル
温度を高くまたはレーザーアニ−ル時間を長くしなけれ
ばならない。水素は4×1020cm-3であり、珪素4×1022
cm-3として比較すると1原子%であった。
【0025】また、ソ−ス、ドレインに対してより結晶
化を助長させるため、酸素濃度を7×1019cm-3以下、好
ましくは1×1019cm-3以下とし、ピクセル構成するTF
Tのチャネル形成領域のみに酸素をイオン注入法により
5×1020〜5×1021cm-3となるように添加してもよい。
【0026】上記方法によって、アモルファス状態の珪
素膜802を500〜5000Å、本実施例では100
0Åの厚さに成膜した。
【0027】その後、図7(B)に示すように、フォト
レジスト803をマスク1を用いてソース・ドレイン領
域のみ開孔したパターンを形成した。その上に、プラズ
マCVD法によりn型の活性層となる珪素膜804を作
製した。成膜温度は250℃〜350℃で行い本実施例
では320℃とし、モノシラン(SiH4)とモノシランベー
スのフォスフィン(PH3) 3%濃度のものを用いた。これ
らをPCVD装置内5Paの圧力に導入し、13.56
MHzの高周波電力を加えて成膜した。この際、高周波
電力は0.05〜0.20W/cm2 が適当であり、本
実施例では0.120W/cm2 を用いた。
【0028】この方法によって出来上がったn型シリコ
ン層の比導電率は2×10-1〔Ωcm-1〕程度となっ
た。膜厚は50Åとした。その後リフトオフ法を用い
て、ソース・ドレイン領域805、806を形成した。
その後、マスクP2を用いてNチャネル型薄膜トランジ
スタ用アイランド領域807を形成した。
【0029】その後XeClエキシマレーザーを用い
て、ソース・ドレイン・チャネル領域をレーザーアニー
ルすると同時に、活性層にレーザードーピングを行なっ
た。この時のレーザーエネルギーは、閾値エネルギーが
130mJ/cm2 で、膜厚全体が溶融するには220
mJ/cm2 が必要となる。しかし、最初から220m
J/cm2 以上のエネルギーを照射すると、膜中に含ま
れる水素が急激に放出されるために、膜の破壊が起き
る。そのために低エネルギーで最初に水素を追い出した
後に溶融させる必要がある。本実施例では最初150m
J/cm2 で水素の追い出しを行なった後、230mJ
/cm2 で結晶化をおこなった。
【0030】アニ−ルにより、珪素膜はアモルファス構
造から秩序性の高い状態に移り、一部は結晶状態を呈す
る。特にシリコンの成膜後の状態で比較的秩序性の高い
領域は特に結晶化をして結晶状態となろうとする。しか
しこれらの領域間に存在する珪素により互いの結合がな
されるため、珪素同志は互いにひっぱりあう。レ−ザラ
マン分光により測定すると単結晶の珪素のピ−ク522
cm-1より低周波側にシフトしたピ−クが観察される。そ
れの見掛け上の粒径は半値巾から計算すると、50〜5
00Åとなっているが、実際はこの結晶性の高い領域は
多数あってクラスタ構造を有し、各クラスタ間は互いに
珪素同志で結合(アンカリング) がされた構造の被膜を
形成させることができた。
【0031】結果として、被膜は実質的にグレインバウ
ンダリ(以下GBという)がないといってもよい状態を
呈する。キャリアは各クラスタ間をアンカリングされた
個所を通じ互いに容易に移動し得るため、いわゆるGBの
明確に存在する多結晶珪素よりも高いキャリア移動度と
なる。即ち電子移動度(μe )=15〜300cm2 /V
Secが得られた。
【0032】この上に酸化珪素膜808をゲイト絶縁膜
として500〜2000Å例えば1000Åの厚さに形
成した。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の作
製と同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加し、
ナトリウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0033】この後、この上側にリンが1〜5×1021cm
-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜とそ
の上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),MoSi2 または
WSi2との多層膜を形成した。これを第3のフォトマスク
69にてパタ−ニングして図8(E) を得た。ゲイト電極
809を形成し、例えばチャネル長7μm、ゲイト電極
としてリンド−プ珪素を0.2μm、その上にモリブデ
ンを0.3μmの厚さに形成した。
【0034】また、ゲート電極材料としてアルミニウム
(Al)を用いた場合、これを第3のフォトマスク3にて
パタ−ニング後、その表面を陽極酸化することで、セル
ファライン工法が適用可能なため、ソース・ドレインの
コンタクトホールをよりゲートに近い位置に形成するこ
とが出来るため、移動度、スレッシュホールド電圧の低
減からさらにTFTの特性を上げることができる。
【0035】かくすると、400℃以上にすべての工程
で温度を加えることがなくC/TFTを作ることができ
る。そのため、基板材料として、石英等の高価な基板を
用いなくてもよく、本発明の大画面の液晶表示装置にき
わめて適したプロセスであるといえる。
【0036】図8(F)において、層間絶縁物810を
前記したスパッタ法により酸化珪素膜の形成として行っ
た。この酸化珪素膜の形成はLPCVD法、光CVD
法、常圧CVD法を用いてもよい。例えば0.2〜0.
6μmの厚さに形成し、その後、第4のフォトマスク4
を用いて電極用の窓811を形成した。その後、さら
に、これら全体にアルミニウムを0.3μmの厚みにス
パッタ法により形成し第5のフォトマスク5を用いてリ
−ド812およびコンタクト813を作製した後、表面
を平坦化用有機樹脂814例えば透光性ポリイミド樹脂
を塗布形成し、再度の電極穴あけを第6のフォトマスク
6にて行った。
【0037】さらに、これら全体にITO(インデゥー
ム酸化錫)を0.1μmの厚みにスパッタ法により形成
し第7のフォトマスク7を用いて画素電極815を形成
した。このITOは室温〜150℃で成膜し、200〜
400℃の酸素または大気中のアニ−ルにより成就し
た。
【0038】得られたTFTの電気的な特性である移動
度は80(cm2/Vs)、Vthは5.0(V)であった。こ
の様な方法に従って作製された液晶電気光学装置用の一
方の基板を得ることが出来た。
【0039】他方の基板の作製方法を図9に示す。ガラ
ス基板900上にポリイミドに黒色顔料を混合したポリ
イミド樹脂をスピンコート法を用いて1μmの厚みに成
膜し、第1のフォトマスク11を用いてブラックストラ
イプ901を作製した。その後、赤色顔料を混合したポ
リイミド樹脂をスピンコート法を用いて1μmの厚みに
成膜し、第2のフォトマスク12を用いて赤色フィルタ
ー902を作製した。同様にして第3のフォトマスク1
3を用いて緑色フィルター903および第4のフォトマ
スク14を用いて青色フィルター904を作製した。こ
れらの作製中各フィルターは350℃にて窒素中で60
分の焼成を行なった。その後、やはりスピンコート法を
用いて、レベリング層905を透明ポリイミドを用いて
制作した。
【0040】その後、これら全体にITO(インデゥー
ム酸化錫)を0.1μmの厚みにスパッタ法により形成
し第5のフォトマスク15を用いて共通電極906を形
成した。このITOは室温〜150℃で成膜し、200
〜300℃の酸素または大気中のアニ−ルにより成就
し、第2の基板を得た。
【0041】前記基板上に、オフセット法を用いて、ポ
リイミド前駆体を印刷し、非酸化性雰囲気たとえば窒素
中にて350℃1時間焼成を行った。その後、公知のラ
ビング法を用いて、ポリイミド表面を改質し、少なくと
も初期において、液晶分子を一定方向に配向させる手段
を設けた。
【0042】その後、前記第一の基板と第二の基板によ
って、ネマチック液晶組成物を挟持し、周囲をエポキシ
性接着剤にて固定した。基板上のリードにTAB形状の
駆動ICと共通信号、電位配線を有するPCBを接続
し、外側に偏光板を貼り、透過型の液晶電気光学装置を
得た。
【0043】図10に本実施例による電気光学装置の概
略構造図を示す。前記の工程にて得た液晶パネル100
0を冷陰極管を3本配置した後部照明装置1001と組
み合わせて設置を行った。その後、テレビ電波を受信す
るチューナー1002を接続し、電気光学装置として完
成させた。従来のCRT方式の電気光学装置と比べて、
平面形状の装置となったために、壁等に設置することも
出来る様になった。
【0044】次に本発明を完結させるための、液晶電気
光学装置の周辺回路の説明を図11を用いて加える。液
晶電気光学装置のマトリクス回路に接続された情報信号
側配線1101、1102に駆動回路1103を接続し
た構成を取っている。駆動回路1103は駆動周波数系
で分割すると2つの部分よりなっている。1つは従来の
駆動方式と同様のデーターラッチ回路系1104、これ
はデーター1105を順に転送するための基本クロック
CLK1、1106が主な構成であり、1ビット〜12
ビット並列処理がおこなわれている。他の1つは本発明
による構成部分で、階調表示に必要な分割の割合に応じ
たクロックCLK2、1107とフリップフロップ回路
1108、カウンター1109よりなっている。データ
ーラッチ系1104より送られた階調表示データーに応
じたパルスをカウンター1109で作っている。
【0045】本発明で特徴としているところは、まさに
これらの部分であり、駆動周波数を2種類とることによ
って、画面書換えのフレーム数を変化させることなく、
明快なデジタル階調表示が可能になっていることにあ
る。フレーム数の低下に伴うフリッカーの発生等が回避
できるものである。
【0046】かたや走査側の信号線1110、1111
に接続された駆動回路1112は、電圧レベル1113
より伝達した電位をクロックCLK1114のフリップ
フロップ回路1115で制御し、選択信号を加える。
【0047】本実施例によるTFTは、移動度を80
(cm2/Vs)とすることが出来たため、駆動の周波数を約
1MHzまであげることができた。このため、
【0048】
【数1】
【0049】で計算できる42階調表示まで可能になっ
ている。
【0050】アナログ的な階調表示を行った場合、TF
Tの特性ばらつきから16階調表示が限界であった。し
かしながら、本発明によるデジタル階調表示をおこなっ
た場合、TFT素子の特性ばらつきの影響を受けにくい
ために、42階調表示まで可能になりカラー表示では7
4,088色の多彩であり微妙な色彩の表示が実現でき
ている。
【0051】『実施例2』本実施例では、対角1インチ
を有する液晶電気光学装置を用いた、ビデオカメラ用ビ
ューファインダーを作製し、本発明を実施したので説明
を加える。
【0052】本実施例では、画素数が387×128の
構成にして、低温プロセスによるアモルファスTFTを
用いた素子を形成し、ビューファインダーを構成した。
本実施例で使用する液晶表示装置の作製方法を図12を
使用して説明する。図12(A)において、青板ガラス
等の安価なガラス1200上にマグネトロンRF(高周
波) スパッタ法を用いてブロッキング層1201として
の酸化珪素膜を1000〜3000Åの厚さに作製す
る。プロセス条件は酸素100%雰囲気、成膜温度15
℃、出力400〜800W、圧力0.5Paとした。タ
−ゲットに石英または単結晶シリコンを用いた成膜速度
は30〜100Å/分であった。
【0053】この後、この上側にリンが1〜5×1021cm
-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜とそ
の上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),MoSi2 または
WSi2との多層膜を形成した。これを第1のフォトマスク
21にてパタ−ニングしてゲイト電極1202を形成
し、図12(A)を得た。本実施例では、チャネル長は
10μm、ゲイト電極としてリンド−プ珪素を0.2μ
m、その上にモリブデンを0.3μmの厚さに形成し
た。
【0054】また、ゲート電極材料としてアルミニウム
(Al)を用いた場合、これを第1のフォトマスク21に
てパタ−ニング後、その表面を陽極酸化することによ
り、ゲート電極上の絶縁膜またはチャネル領域にヒロッ
ク、ボイド等が発生せず、移動度、スレッシュホールド
電圧の低減からさらにTFTの特性を上げることができ
る。
【0055】この上に酸化珪素膜をゲイト絶縁膜120
3として500〜2000Å例えば1000Åの厚さに
形成した。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の
作製と同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加
し、ナトリウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0056】この上にアモルファスシリコン膜をプラズ
マCVD法により形成した。プラズマCVD法により珪
素膜を作製する場合、温度は例えば300℃とし、モノ
シラン(SiH4)またはジシラン(Si2H6) を用いた。これら
をPCVD装置内に導入し、13.56MHzの高周波
電力を加えて成膜した。
【0057】この方法によって形成された被膜は、酸素
が5×1021cm-3以下であることが好ましい。この酸素濃
度が高いと移動度が低下し、また少なすぎると、バック
ライトによりオフ状態のリ−ク電流が増加してしまう。
そのため4×1019〜4×1021cm-3の範囲とした。水素は
4×1020cm-3であり、珪素4×1022cm-3として比較する
と1原子%であった。前記方法によって、アモルファス
状態の珪素膜を500〜5000Å、例えば1500Å
の厚さに作製した。
【0058】その後、リフトオフ法を用いてコンタクト
領域を形成するためのレジスト1204を第2のフォト
マスク22で作製し、その上部にプラズマCVD法によ
ってn型の活性層となる珪素膜1205を作製した。成
膜温度は250℃〜350℃で行い本実施例では320
℃とし、モノシラン(SiH4 )とモノシランベースの
フォスフィン(PH3 )1%濃度のものを用いた。加え
て水素(H2 )をそれぞれ5:3:20の割合で、PC
VD装置内5Paの圧力で導入し、13.56MHzの
高周波電界を加えて成膜した。この際、高周波電力は
0.05〜0.20W/cm2 が適当であり、本実施例
では0.120W/cm2 を用いた。
【0059】この方法によって出来上がったn型の活性
層となる珪素膜1205の比導電率は2×10-1〔Ωcm
-1〕程度となった。膜厚は50Åとした。その後、リー
ドおよびコンタクト電極として、Alをスパッタ法で3
000Å成膜1206し、その後リフトオフ法によって
余分な部分を取り除き、ソース1207およびドレイン
1208領域を形成した。
【0060】その後、第3のマスク23でアイランド上
に個々のTFT1209を形成後、さらに、図12
(D)に示す如く表面を平坦化用有機樹脂1210例え
ば透光性ポリイミド樹脂を塗布形成し、再度の電極穴あ
けをフォトマスク24にて行った。
【0061】出力端を液晶装置の一方の画素の電極を透
明電極としてそれに連結するため、スパッタ法によりI
TO(インジュ−ム・スズ酸化膜)を形成した。それを
フォトマスク25によりエッチングし、電極1211を
構成させた。このITOは室温〜150℃で成膜し、2
00〜400℃の酸素または大気中のアニ−ルにより成
就した。かくの如くにしてNTFT1209と透明導電
膜の電極1211とを同一ガラス基板1200上に作製
した。得られたTFTの電気的な特性の移動度は0.2
(cm2/Vs)、Vthは5.3(V)であった。
【0062】次に絶縁基板上に『実施例1』と同様の方
法を用いて、カラーフィルターおよび透明導電膜ITO
を1000Å成膜し、第二の基板を得た。
【0063】前記基板上に、オフセット法を用いて、ポ
リイミド前駆体を印刷し、非酸化性雰囲気たとえば窒素
中にて350℃1時間焼成を行った。その後、公知のラ
ビング法を用いて、ポリイミド表面を改質し、少なくと
も初期において、液晶分子を一定方向に配向させる手段
を設けて第一および第二の基板とした。
【0064】その後、前記第一の基板と第二の基板によ
って、ネマチック液晶組成物を挟持し、周囲をエポキシ
性接着剤にて固定した。基板上のリードはそのピッチが
46μmと微細なため、COG法を用いて接続をおこな
った。本実施例ではICチップ上に設けた金バンプをエ
ポキシ系の銀パラジウム樹脂で接続し、ICチップと基
板間を固着と封止を目的としたエポキシ変成アクリル樹
脂にて埋めて固定する方法を用いた。その後、外側に偏
光板を貼り、透過型の液晶表示装置を得た。
【0065】本実施例によるTFTは、移動度をアモル
ファス状態でありながら0.2(cm2/Vs)とすることが
出来たため、駆動の周波数を約100KHzまであげる
ことができた。このため、
【0066】
【数2】
【0067】で計算できる、13階調表示まで可能にな
っている。例えば384×128ドットの49,152
組のTFTを50mm角(300mm角基板から36枚
の多面取り)に作成した液晶電気光学装置に対し通常の
アナログ的な階調表示を行った場合、アモルファスTF
Tの特性ばらつきが約±10%存在するために、8階調
表示が限界であった。しかしながら、本発明によるデジ
タル階調表示をおこなった場合、TFT素子の特性ばら
つきの影響を受けにくいために、13階調表示以上まで
可能になりカラー表示では2,207色の多彩であり微
妙な色彩の表示が実現できている。
【0068】『実施例3』本実施例では、図13に示す
様なプロジェクション型画像表示装置を作製したので説
明を加える。
【0069】本実施例では3枚の液晶電気光学装置13
00を使用して、プロジェクション型画像表示装置用造
映部を組み立てている。その一つ一つは640×480
ドットの構成を有し、対角4インチの中に307,20
0画素を作製した。1画素当りの大きさは127μm角
とした。
【0070】プロジェクション型画像表示装置の構成と
して、液晶電気光学装置1300を光の3原色である赤
・緑・青色用に分割して設置しており、赤色フィルター
1301、緑色フィルター1302、青色フィルター1
303と、反射板1304、150Wのメタルハライド
系光源1307とフォーカス用光学系1308より構成
されている。
【0071】本実施例の電気光学装置に用いた液晶電気
光学装置の基板は、NMOS構成のマトリクス回路を有
する基板とした。低温プロセスによる高移動度TFTを
用いた素子を形成し、プロジェクション型液晶電気光学
装置を構成した。本実施例で使用する液晶表示装置の作
製方法を図14を使用して説明する。図14(A)にお
いて、石英ガラス等の高価でない700℃以下、例えば
約600℃の熱処理に耐え得るガラス1400上にマグ
ネトロンRF(高周波) スパッタ法を用いてブロッキン
グ層1401としての酸化珪素膜を1000〜3000
Åの厚さに作製する。プロセス条件は酸素100%雰囲
気、成膜温度15℃、出力400〜800W、圧力0.
5Paとした。タ−ゲットに石英または単結晶シリコン
を用いた成膜速度は30〜100Å/分であった。
【0072】この上にシリコン膜をLPCVD(減圧気
相)法、スパッタ法またはプラズマCVD法により形成
した。減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よりも1
00〜200℃低い450〜550℃、例えば530℃
でジシラン(Si2H6) またはトリシラン(Si3H8) をCVD
装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜300
Paとした。成膜速度は50〜250Å/ 分であった。
PTFTとNTFTとのスレッシュホ−ルド電圧(Vt
h)に概略同一に制御するため、ホウ素をジボランを用
いて1×1015〜1×1018cm-3の濃度として成膜中に添加
してもよい。
【0073】スパッタ法で行う場合、スパッタ前の背圧
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをタ−ゲット
として、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲気
で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とした。
成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、スパ
ッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paであっ
た。
【0074】プラズマCVD法により珪素膜を作製する
場合、温度は例えば300℃とし、モノシラン(SiH4)ま
たはジシラン(Si2H6) を用いた。これらをPCVD装置
内に導入し、13.56MHzの高周波電力を加えて成
膜した。
【0075】これらの方法によって形成された被膜は、
酸素が5×1021cm-3以下であることが好ましい。この酸
素濃度が高いと、結晶化させにくく、熱アニ−ル温度を
高くまたは熱アニ−ル時間を長くしなければならない。
また少なすぎると、バックライトによりオフ状態のリ−
ク電流が増加してしまう。そのため4×1019〜4×1021
cm-3の範囲とした。水素は4×1020cm-3であり、珪素4
×1022cm-3として比較すると1原子%であった。
【0076】上記方法によって、アモルファス状態の珪
素膜を500〜5000Å、例えば1500Åの厚さに
作製の後、450〜700℃の温度にて12〜70時間
非酸化物雰囲気にて中温の加熱処理、例えば水素雰囲気
下にて600℃の温度で保持した。珪素膜の下の基板表
面にアモルファス構造の酸化珪素膜が形成されているた
め、この熱処理で特定の核が存在せず、全体が均一に加
熱アニ−ルされる。即ち、成膜時はアモルファス構造を
有し、また水素は単に混入しているのみである。
【0077】アニ−ルにより、珪素膜はアモルファス構
造から秩序性の高い状態に移り、一部は結晶状態を呈す
る。特にシリコンの成膜後の状態で比較的秩序性の高い
領域は特に結晶化をして結晶状態となろうとする。しか
しこれらの領域間に存在する珪素により互いの結合がな
されるため、珪素同志は互いにひっぱりあう。レ−ザラ
マン分光により測定すると単結晶の珪素のピ−ク522
cm-1より低周波側にシフトしたピ−クが観察される。そ
れの見掛け上の粒径は半値巾から計算すると、50〜5
00Åとマイクロクリスタルのようになっているが、実
際はこの結晶性の高い領域は多数あってクラスタ構造を
有し、各クラスタ間は互いに珪素同志で結合(アンカリ
ング) がされたセミアモルファス構造の被膜を形成させ
ることができた。
【0078】結果として、被膜は実質的にグレインバウ
ンダリ(以下GBという)がないといってもよい状態を
呈する。キャリアは各クラスタ間をアンカリングされた
個所を通じ互いに容易に移動し得るため、いわゆるGBの
明確に存在する多結晶珪素よりも高いキャリア移動度と
なる。即ちホ−ル移動度(μh)=10〜200cm2
VSec、電子移動度(μe )=15〜300cm2 /V
Secが得られる。
【0079】他方、上記の如き中温でのアニ−ルではな
く、900〜1200℃の高温アニ−ルにより被膜を多
結晶化すると、核からの固相成長により被膜中の不純物
の偏析がおきて、GBには酸素、炭素、窒素等の不純物
が多くなり、結晶中の移動度は大きいが、GBでのバリ
ア(障壁)を作ってそこでのキャリアの移動を阻害して
しまう。結果として10cm2/Vsec以上の移動度がなかな
か得られないのが実情である。即ち、本実施例ではかく
の如き理由により、セミアモルファスまたはセミクリス
タル構造を有するシリコン半導体を用いている。
【0080】図14(A)において、珪素膜を第1のフ
ォトマスク31にてフォトエッチングを施し、TFT用
の領域1402(チャネル巾20μm)を作製した。
【0081】この上に酸化珪素膜をゲイト絶縁膜140
3として500〜2000Å例えば1000Åの厚さに
形成した。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の
作製と同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加
し、ナトリウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0082】この後、この上側にリンが1〜5×1021cm
-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜とそ
の上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),MoSi2 または
WSi2との多層膜を形成した。これを第2のフォトマスク
32てパタ−ニングして図14(B)に示すように、ゲ
イト電極1404を形成した。本実施例では、チャネル
長は10μm、ゲイト電極としてリンド−プ珪素を0.
2μm、その上にモリブデンを0.3μmの厚さに形成
した。 図14(C)において、ソ−ス1405、ドレ
イン1406としてリンを1〜5×1015cm-2のドーズ
量でイオン注入法により添加した。
【0083】また、ゲート電極材料としてアルミニウム
(Al)を用いた場合、これを第2のフォトマスク32に
てパタ−ニング後、その表面を陽極酸化することで、セ
ルファライン工法が適用可能なため、ソース・ドレイン
のコンタクトホールをよりゲートに近い位置に形成する
ことが出来るため、移動度、スレッシュホールド電圧の
低減からさらにTFTの特性を上げることができる。
【0084】次に、600℃にて10〜50時間再び加
熱アニ−ルを行った。ソ−ス1405、ドレイン140
6の不純物を活性化してN+ として作製した。またゲイ
ト電極1404下にはチャネル形成領域1407がセミ
アモルファス半導体として形成されている。
【0085】かくすると、セルフアライン方式でありな
がらも、700℃以上にすべての工程で温度を加えるこ
とがなくNTFTを作ることができる。そのため、基板
材料として、石英等の高価な基板を用いなくてもよく、
本発明の大画素の液晶表示装置にきわめて適したプロセ
スである。
【0086】本実施例では熱アニ−ルは図14(A)、
(C)で2回行った。しかし図14(A)のアニ−ルは
求める特性により省略し、双方を図14(C)のアニ−
ルにより兼ね製造時間の短縮を図ってもよい。図14
(D)において、層間絶縁物1408を前記したスパッ
タ法により酸化珪素膜の形成として行った。この酸化珪
素膜の形成はLPCVD法、光CVD法、常圧CVD法
を用いてもよい。例えば0.2〜0.6μmの厚さに形
成し、その後、フォトマスク33を使って電極用の窓1
409を形成した。さらに、図14(E)に示す如くこ
れら全体にアルミニウムをスパッタ法により形成し、リ
−ド1410、およびコンタクト1411をフォトマス
ク34を用いて作製した後、表面を平坦化用有機樹脂1
412例えば透光性ポリイミド樹脂を塗布形成し、再度
の電極穴あけをフォトマスク35にて行った。
【0087】出力端を液晶装置の一方の画素の電極を透
明電極としてそれに連結するため、スパッタ法によりI
TO(インジュ−ム・スズ酸化膜)を形成した。それを
フォトマスク36によりエッチングし、電極1413を
構成させた。このITOは室温〜150℃で成膜し、2
00〜400℃の酸素または大気中のアニ−ルにより成
就した。かくの如くにしてNTFT1402と透明導電
膜の電極1413とを同一ガラス基板1400上に作製
した。得られたTFTの電気的な特性の移動度は120
(cm2/Vs)、Vthは5.0(V)であった。
【0088】図15に構造の概略を示す。該基板上15
00に、フマル酸系高分子樹脂とネマチック液晶を6
5:35の割合で共通溶媒であるキシレンに溶解させた
混合物をダイキャスト法を用いて10μmの厚さに形成
した。その後窒素雰囲気中120℃で180分で溶媒を
取り除いて液晶分散層1501を形成した。この場合、
大気圧よりも若干減圧にすると、タクトタイムの短縮が
はかれることがわかった。
【0089】その後、スパッタ法によりITO(インジ
ュ−ム・スズ酸化膜)を形成し、対向電極212を得
た。このITOは室温〜150℃で成膜した。その後印
刷法を用いて、透光性のシリコン樹脂を30μmの厚み
で塗布し、100℃で30分焼成し、液晶電気光学装置
を得た。
【0090】本実施例に用いた駆動用ICの機能構成は
『実施例1』と同様である。640×480ドットの3
07,200組のTFTを300mm角に作成した液晶
電気光学装置に対し通常のアナログ的な階調表示を行っ
た場合、TFTの特性ばらつきが約±10%存在するた
めに、16階調表示が限界であった。本実施例によるT
FTは駆動周波数を2.5MHzまであげることが出来
たため、
【0091】
【数3】
【0092】で計算できる、86諧調まで表示まで可能
になっている。
【0093】従って、本実施例によるデジタル階調表示
をおこなった場合、TFT素子の特性ばらつきの影響を
受けにくいために、64階調表示まで可能になりカラー
表示ではなんと262,144色の多彩であり微妙な色
彩の表示が実現できている。
【0094】テレビ映像の様なソフトを映す場合、例え
ば同一色からなる『岩』でもその微細な窪み等にあたる
光の加減から微妙に色合いが異なる。自然の色彩に近い
表示を行おうとした場合、16階調では困難を要し、こ
れらの微妙な窪みの表現には向かない。本発明による階
調表示によって、これらの微細な色調の変化を付けるこ
とが可能になった。
【0095】この液晶電気光学は、図13に示したフロ
ント型のプロジェクションテレビだけでなく、リヤ型の
プロジェクションテレビにも使用が出来る。
【0096】
【実施例4】本実施例では、図16に示すような反射型
の液晶分散型表示装置を用いた携帯用コンピューター用
電気光学装置を作製したので説明を加える。
【0097】本実施例に使用した第一の基板は、『実施
例1』と同一工程で作成した物を用いた。図15に示さ
れた液晶電気光学装置を用いて本実施例を説明する。基
板上1500に、フマル酸系高分子樹脂と黒色色素を1
5%混合させたネマチック液晶を65:35の割合で共
通溶媒であるキシレンに溶解させた混合物をダイキャス
ト法を用いて10μmの厚さに形成し、その後窒素雰囲
気中120℃で180分溶媒を取り除いて液晶分散層1
501を形成した。
【0098】ここで、黒色色素を用いたため、分散型液
晶表示では困難であった平面ディスプレイも、光の散乱
時(無電界時)に黒色がでて、透過時(電界印加時)に
白色を表示出来、紙上に書いた文字のような表示が可能
になっている。
【0099】またこの逆の構造として、黒色色素を混入
せず、散乱時に白色を表現し、透過時に黒色を表現する
ことも可能である。ただしこの際には、以下に示す裏面
側を黒色にする必要がある。これもまた紙上に書いた文
字のような表示が可能になっている。
【0100】その後、スパッタ法によりITO(インジ
ュ−ム・スズ酸化膜)を形成し、対向電極1502を得
た。このITOは室温〜150℃で成膜した。その後印
刷法を用いて、白色のシリコン樹脂を55μmの厚みで
塗布し、100℃で90分焼成し、液晶電気光学装置を
得た。
【0101】
【発明の効果】本発明では、従来のアナログ方式の階調
表示に対し、デジタル方式の階調表示を独立した2つの
駆動周波数を用いて行うことを特徴としている。その効
果として、例えば640×400ドットの画素数を有す
る液晶電気光学装置を想定したばあい、合計256,0
00個のTFTすべての特性をばらつき無く作製するこ
とは、非常に困難を有し、現実的には量産性、歩留りを
考慮すると、16階調表示が限界と考えられているのに
対し印加電圧レベルを明確にするために、アナログ値で
は無く、基準電圧値を信号としてコントローラー側から
入力し、その基準信号をTFTに接続するタイミングを
デジタル値で制御することによって、TFTに印加され
る電圧を制御することで、TFTの特性ばらつきをカバ
ーする方法を本発明ではとっている事を特徴としている
ことから、明快なデジタル階調表示が可能になっている
ことにある。
【0102】また、駆動周波数を2種類とることによっ
て、画面書換えのフレーム数を変化させることなく、明
快なデジタル階調表示が可能になっていることにある。
フレーム数の低下に伴うフリッカーの発生等が回避でき
るものである。
【0103】本発明によるデジタル階調表示をおこなっ
た場合、TFT素子の特性ばらつきの影響を受けにくい
ために、64階調程度まで可能になりカラー表示ではな
んと262,144色の多彩であり微妙な色彩の表示が
実現できている。テレビ映像の様なソフトを映す場合、
例えば同一色からなる『岩』でもその微細な窪み等から
微妙に色合いが異なる。自然の色彩に近い表示を行おう
とした場合、16階調4096色では困難を要する。本
発明による階調表示によって、これらの微細な色調の変
化を付けることが可能になった。
【図面の詳細な説明】
【図1】ネマチック液晶の電気光学特性を示す。
【図2】ポリシリコンとアモルファスシリコンによるT
FTの電気特性を示す。
【図3】従来例によるマトリクス回路を示す。
【図4】従来例による駆動波形を示す。
【図5】本発明による駆動波形を示す。
【図6】本実施例によるマトリクス回路を示す。
【図7】本実施例による素子の平面構造を示す。
【図8】本実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図9】本実施例による対向電極の工程を示す。
【図10】本実施例による液晶表示装置(テレビ)の構
成を示す。
【図11】本実施例による駆動回路のシステム構成を示
す。
【図12】本実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図13】本実施例によるプロジェクション方式の液晶
電気光学装置の構造を示す。
【図14】本実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図15】本実施例による液晶電気光学装置の断面図を
示す。
【図16】本実施例による携帯型コンピューターの構成
を示す。
【符号の説明】
501 単位時間 503 電界変化 505 電界変化 507 電界変化
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 29/786 (56)参考文献 特開 平2−16596(JP,A) 実開 昭60−154996(JP,U)

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上にマトリックス構成を有する信号線
    とそれぞれの画素電極にnチャンネル型薄膜トランジス
    タを設け、 該薄膜トランジスタの入出力側の一方を前記画素電極
    へ、他の一方を前記マトリックス構成を有する一対の信
    号線の第1の信号線へ接続し、 かつ前記薄膜トランジスタのゲートを前記マトリックス
    構成を有する信号線の第2の信号線へ接続した電気回路
    を有する第一の基板と、基板上に電極およびリードを有
    する第2の基板によって、 少なくとも液晶組成物または液晶組成物を含む混合物を
    挟持した液晶表示装置において、1フレームを書き込む時間を周期とする、データの転送
    周波数を発生する手段と、 任意の1画素に書き込む単位時間を階調表示に必要な数
    で時分割した時間を周期とする、階調表示用周波数を発
    生する手段とを有すること を特徴とする電気光学装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、液晶組成物は強誘電性
    を示すことを特徴とする電気光学装置。
  3. 【請求項3】請求項1において、液晶組成物はネマチッ
    ク液晶を主体とすることを特徴とする電気光学装置。
  4. 【請求項4】請求項1において、液晶組成物はコレステ
    イック液晶を主体とすることを特徴とする電気光学装
    置。
  5. 【請求項5】請求項1において、液晶組成物を含む混合
    物はネマチック液晶を有機樹脂中に分散させたことを特
    徴とする電気光学装置。
  6. 【請求項6】請求項1において、液晶組成物を含む混合
    物はコレステイック液晶を有機樹脂中に分散させたこと
    を特徴とする電気光学装置。
  7. 【請求項7】請求項1において、液晶組成物を含む混合
    物はスメクチイク液晶を有機樹脂中に分散させたことを
    特徴とする電気光学装置。
JP8777691A 1991-02-16 1991-03-27 電気光学装置 Expired - Lifetime JP2676092B2 (ja)

Priority Applications (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8777691A JP2676092B2 (ja) 1991-03-27 1991-03-27 電気光学装置
EP19920102502 EP0499979A3 (en) 1991-02-16 1992-02-14 Electro-optical device
KR1019920002345A KR960004151B1 (ko) 1991-02-16 1992-02-15 전기 광학 장치 및 그 구동 방법
US07/837,394 US5200846A (en) 1991-02-16 1992-02-18 Electro-optical device having a ratio controlling means for providing gradated display levels
US08/219,819 US5521107A (en) 1991-02-16 1994-03-29 Method for forming a field-effect transistor including anodic oxidation of the gate
US08/372,899 US7479939B1 (en) 1991-02-16 1995-01-17 Electro-optical device
US08/943,238 US7420628B1 (en) 1991-02-16 1997-10-03 Method of making an active-type LCD with digitally graded display
US08/943,333 US20010017683A1 (en) 1991-02-16 1997-10-03 Electro-optical device
US09/961,055 US7646441B2 (en) 1991-02-16 2001-09-24 Electro-optical display device having thin film transistors including a gate insulating film containing fluorine
US10/836,246 US7701523B2 (en) 1991-02-16 2004-05-03 Electro-optical device
US10/844,393 US7671827B2 (en) 1991-02-16 2004-05-13 Electro-optical device
US10/844,347 US20050007329A1 (en) 1991-02-16 2004-05-13 Electro-optical device
US12/236,033 US7948569B2 (en) 1991-02-16 2008-09-23 Active matrix type display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8777691A JP2676092B2 (ja) 1991-03-27 1991-03-27 電気光学装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06123878A JPH06123878A (ja) 1994-05-06
JP2676092B2 true JP2676092B2 (ja) 1997-11-12

Family

ID=13924385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8777691A Expired - Lifetime JP2676092B2 (ja) 1991-02-16 1991-03-27 電気光学装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2676092B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005234139A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Sharp Corp 液晶表示装置及びその駆動方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5994721A (en) 1995-06-06 1999-11-30 Ois Optical Imaging Systems, Inc. High aperture LCD with insulating color filters overlapping bus lines on active substrate
US6372534B1 (en) 1995-06-06 2002-04-16 Lg. Philips Lcd Co., Ltd Method of making a TFT array with photo-imageable insulating layer over address lines
US6465268B2 (en) 1997-05-22 2002-10-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing an electro-optical device
JP2003029687A (ja) * 2001-07-16 2003-01-31 Sony Corp Da変換回路、これを用いた表示装置および当該表示装置を搭載した携帯端末
JP2004247747A (ja) * 2004-03-26 2004-09-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、半導体装置の作製方法、液晶表示装置、エレクトロルミネッセンス表示装置、エレクトロクロミックス表示装置、tv、パーソナルコンピュータ、カーナビゲーションシステム、カメラ、ビデオカメラ

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0216596A (ja) * 1988-07-05 1990-01-19 Hitachi Ltd 液晶ディスプレイ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005234139A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Sharp Corp 液晶表示装置及びその駆動方法
US7999781B2 (en) 2004-02-18 2011-08-16 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device, driving device, display control device, and method of driving at a frequency higher than an audible frequency band for a human being having a drive period and drive suspension period

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06123878A (ja) 1994-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2794499B2 (ja) 半導体装置の作製方法
KR960004151B1 (ko) 전기 광학 장치 및 그 구동 방법
JP2676092B2 (ja) 電気光学装置
JP2869721B2 (ja) 半導体装置の作製方法
JP2740886B2 (ja) 電気光学装置
JP2754291B2 (ja) 電気光学装置の駆動方法
JP2754290B2 (ja) 電気光学装置およびその駆動方法
JP3919198B2 (ja) 電気光学装置を備えたテレビ及びコンピュータ
JP3554563B2 (ja) アクティブ型表示装置
JP3366613B2 (ja) アクティブマトリクス型表示装置
JP3054219B2 (ja) 液晶表示装置
JPH1096961A (ja) プロジエクション型表示装置/携帯型コンピューター/ビューファインダー
JP2754293B2 (ja) 電気光学装置の駆動方法
JP3786278B2 (ja) アクティブ型表示装置並びにそれを用いたテレビ、カメラ及びコンピュータ
JP2006243767A (ja) 液晶電気光学装置およびその作製方法
JP3222451B1 (ja) アクティブ型表示装置およびカメラ
JP2000330139A (ja) 電気光学装置の作製方法
JP2004310123A (ja) アクティブ型表示装置並びにそれを用いたテレビ、カメラ及びコンピュータ
JP2004334224A (ja) テレビ
JP2001188257A (ja) 電気光学装置、およびテレビ、並びに壁掛けテレビ
JP2000292813A (ja) 電気光学装置、およびテレビ、並びに壁掛けテレビ
JP2002277626A (ja) 電気光学装置のカラーフィルタの作製方法、ならびにカラーフィルタを備えた電気光学装置および電気光学装置を用いたテレビ
JP2006323397A (ja) 液晶電気光学装置、テレビ、液晶電気光学装置の作製方法およびテレビの作製方法
JPH0695074A (ja) 電気光学装置の画像表示方法
JP2000199888A (ja) コンピュ―タ及びビュ―ファインダ―

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080725

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090725

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090725

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090725

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100725

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100725

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725

Year of fee payment: 14