JP2671489B2

JP2671489B2 - 焦点検出装置

Info

Publication number: JP2671489B2
Application number: JP10089889A
Authority: JP
Inventors: 徳治石田; 正隆浜田; 賢司石橋; 寿夫糊田; 浩上田; 宣之沖須
Original assignee: ミノルタ株式会社
Priority date: 1989-04-20
Filing date: 1989-04-20
Publication date: 1997-10-29
Anticipated expiration: 2012-10-29
Also published as: JPH026916A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、被写体の光像を形成する結像光学系の焦点
調整状態を検出するカメラ等の光学装置の焦点検出装置
に関するものである。

〔従来の技術〕

従来、被写体のほぼ同一部分に関する２つの光像を、
複数の光電変換素子の配列から成る一対の光電変換素子
アレイ上に導き、この光電変換素子アレイの出力を演算
して前記光電変換素子アレイ上の光像の相対的変位を検
出し、この検出結果から焦点を検出して撮影レンズの焦
点調整を行う自動焦点検出装置がある。

また、この種の自動焦点検出装置として合焦範囲の幅
にヒステリシスを持たせ、撮影レンズの微振動を防止
し、安定した撮影を行うようにしたもの（特開昭59-340
6号公報）があるが、例えば被写体のコントラストが低
いと、被写体の焦点検出が不安定になり、動作が不安定
になることがある。

このような場合を考慮して、前回の検出結果が焦点検
出可能であったかどうかにより、検出の判定レベルを変
更して安定した焦点検出を行うようにしたものがある
（特開昭60-247210号公報）。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、従来の自動焦点検出装置にあっては、判定
レベルの設定は１焦点検出ブロックのみで行っており、
該焦点検出ブロックで前回焦点検出ができなかった場合
には、被写体の焦点検出の判定が不安定になったりする
場合がある。

このため、安定した焦点検出ができなくなるといった
問題ある。

本発明は、安定した焦点検出を行うことができる焦点
検出装置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

前記目的を達成するために、本発明は、焦点検出領域
に入射した被写体の光像に基づいて焦点状態を検出する
焦点検出装置において、前記焦点検出領域を分割した複
数の領域において、各領域毎に判定レベルを設定する判
定レベル設定手段と、前記各領域毎に、設定された判定
レベルと各領域のデータに基づいた演算結果とを比較す
ることにより焦点検出が可能か否かを判定する判定手段
と、前記判定結果を記憶する記憶手段と、記憶された前
回の判定結果に応じて前記判定レベルを変更する変更手
段とを備えたものである。

また、請求項２では、前記焦点検出装置は、複数の光
電変換素子からなる受光素子列を備え、前記判定レベル
は隣接する光電変換素子のデータの差分を総和したコン
トラスト値に応じて変更されるようにした。

さらに、請求項３では、前記焦点検出装置は、入射し
た被写体の光像から得られた一対の光像を受光する複数
の光電変換素子からなる受光素子列を備え、前記判定レ
ベルは隣接する光電変換素子のデータの差分を総和した
コントラスト値と、前記一対の光像の相互比較により求
められる相関値の最良相関値との比に応じて変更される
ようにした。

また、請求項４では、焦点検出動作の１回目のとき
は、焦点検出動作の２回目以降に前回焦点検出不能と判
定されるときよりも判定レベルを低レベルにした。

（作用）前記構成の焦点検出装置によれば、焦点検出領域は複
数の領域に分割され、それぞれの領域において焦点検出
のための演算等が行えるようになされていることを前提
として、各領域毎の判定レベルは前回判定結果に基づい
て変更され、各領域毎の判定レベルと同領域のデータに
基づいた演算結果とが比較され、焦点が検出可能か否か
の判定が行われる。

また、判定レベルは、隣接する光電変換素子のデータ
の差分を総和したコントラスト値に応じて変更される。

さらに、判定レベルは、隣接する光電変換素子のデー
タの差分を総和したコントラスト値と、前記一対の光像
の相互比較により求められる相関値の最良相関値との比
に応じても変更される。

また、焦点検出動作の１回目のときは、２回目以降に
前回焦点検出不能と判定されるときよりも判定レベルが
緩和される。

〔実施例〕

第１図は本発明に係る自動焦点検出装置を備えたカメ
ラの概略構成の一実施例を示す。自動焦点検出装置１は
撮影レンズ２と焦点検出手段３とデフォーカス量決定手
段４とレンズ位置検出手段５とレンズ駆動手段６と制御
手段７とから構成されている。この撮影レンズ２は被写
体８から発せられた光束９を焦点検出手段３に導くもの
である。焦点検出手段３は光電変換素子アレイ（図示せ
ず）を有し、この光電変換素子アレイの出力を演算処理
して光電変換素子アレイ上の被写体８による光像の相対
的変位を検出するものである。

また、デフォーカス量決定手段４は前記焦点検出手段
３から出力される変位検出信号に基づいて撮影レンズ２
のデフォーカス量を決定するものである。レンズ位置検
出手段５は撮影レンズ２の現在の位置を検出するもので
ある。レンズ駆動手段６は前記デフォーカス量決定手段
４のデフォーカス量信号に基づいて撮影レンズ２を駆動
するものである。制御手段７は、前記デフォーカス量に
対応する位置に撮影レンズ２が駆動されるようにレンズ
駆動手段６を制御するとともに、前記焦点検出手段３か
ら合焦信号が出力されたとき、撮影レンズ２の駆動を停
止させるものである。

第２図は前記焦点検出手段３の機構構成の一実施例を
示す。焦点検出手段３は主ミラー10とサブミラー11と焦
点検出光学系12とから構成されている。この主ミラー10
は撮影レンズ２を通過した光束９を図示しないファイン
ダ光学系とサブミラー11とに分岐させるものである。サ
ブミラー11は主ミラー10で分岐された光束９を、さらに
焦点検出光学系12とフィルム面13とに分岐させるもので
ある。

前記焦点検出光学系12は光電変換素子アレイ141,142,
143とセパレータレンズ15と絞りマスク16とモジュール
ミラー17とコンデンサレンズ181,182,183と視野絞り19
とから構成されている。光電変換素子アレイ141,142,14
3は複数のCCD撮像素子等を配列したもので、セパレータ
レンズ15の焦点面14上のワンチップ上に形成されてい
る。セパレータレンズ15はセパレータレンズ対151,152,
153を有し、分岐された光束９を光電変換素子アレイ14
1,142,143に投影するものである。絞りマスク16は円形
あるいは長円形の開口部161,162,163を有し、セパレー
タレンズ15へ入力する光束９を限定するものである。モ
ジュールミラー17はコンデンサレンズ181,182,183を通
過した光束９をセパレータレンズ15へ導くものである。
視野絞り19は矩形開口部191,192,193を有するととも
に、焦点面近傍に配設され、焦点検出光学系12に入力さ
れる光束９の視野を限定するものである。

第３図は前記光電変換素子アレイ141,142,143の受光
部（以下、光電変換素子の受光部と蓄積部と転送部とを
含めてCCDという）を示している。この光電変換素子ア
レイ141は基準部141aと参照部141bと光電センサ141cと
からなり、同様に光電変換素子アレイ142は基準部142a
と参照部142bと光電センサ142cとからなり、光電変換素
子アレイ143は基準部143aと参照部143bと光電センサ143
cとからなる。前記光電センサ141c,142c,143cはそれぞ
れ基準部141a,142a,143aの一方の側部に長手方向に配設
され、受光量に応じた信号を出力するようになってい
る。そして、この受光量に応じた信号によりCCDの蓄積
部への蓄積時間を制御するようになっている。また、光
電変換素子アレイ141,142,143は、第４図に示すよう
に、ファインダ内の撮影画面20の中央部に位置する焦点
検出領域21,22,23（以下、それぞれ第１アイランド21,
第２アイランド22,第３アイランド23という）に投影さ
れる被写体８の光像に基づいて変位検出信号を出力する
ようになっている。

撮影画面20の中央部に点線で示された領域24は撮影者
に焦点検出を行っている領域を表示するものである。ま
た、表示部25は合焦時に点灯するものである。

前記基準部141a,142a,143aの各画素数Ｘ、および参照
部141b,142b,143bの各画素数Ｙは、例えば、第３図に示
すように、光電変換素子アレイ141および光電変換素子
アレイ143ではそれぞれ基準部の画素数Ｘは34個で、参
照部の画素数Ｙは44個で構成され、光電変換素子アレイ
142では基準部の画素数Ｘは44個で、参照部の画素数Ｙ
は52個で構成されるようになっている。

また、自動焦点検出装置１では基準部141a,142a,143a
の各画素のデータを複数のブロックに分割し、この分割
した各ブロックをそれぞれの参照部141b,142b,143bの全
てのデータと比較して焦点検出を行う。そして、各ブロ
ックでの焦点検出結果のうち、最も後ピンのデータを前
記の各アイランド21,22,23の焦点検出データとし、さら
に各アイランド21,22,23の焦点検出データと撮影レンズ
２の撮影倍率のデータとに基づいて撮影レンズ２を駆動
し、合焦させている。

次いで、前記光電変換素子アレイ141,142,143からデ
フォーカス量（すなわち、デフォーカス量とは結像光学
系の予定焦点面と被写体像面との光軸方向のずれ量）を
検出する範囲（デフォーカス範囲）を求める手段につい
て第５図〜第７図を用いて説明する。

第５図は第３図に示した各アイランド21,22,23に対応
する基準部141a,142a,143aの差分データ領域を拡大して
示したものである。同図において、各基準部141a,142a,
143aに示している数値は、第３図に示した基準部141a,1
42a,143aの各画素のデータをそれぞれ３つ置きに検出
し、それらの差をとった差分（すなわち、空間周波数成
分）のデータ数を示している。また、この差分データ
は、前記画素データから抽出（フィルムリング）された
特定の空間周波数の成分を示している（第１の空間周波
数成分抽出手段）。なお、差分データは２つ、または１
つ置きでもよい。ただし、前記空間周波数成分は３つ置
きにとったときと異なり、かつ、前記数値も異なる。

各アイランド21,22,23の基準部141a,142a,143aにおけ
る前記数値は、第１アイランド21では30個、第２アイラ
ンド22では40個、第３アイランド23では30個になる。ま
た、参照部141b,142b,143bに対しても基準部141a,142a,
143aの差分データの数値と同様に求められる。つまり、
参照部141b,142b,143bの数値は、第１アイランド21では
40個、第２アイランド22では48個、第３アイランド23で
は40個になる。

次に、各アイランド21,22,23でのブロック分割につい
て説明する。すなわち、第１アイランド21では、上端の
差分データからK1（１〜20）、K1（11〜30）の２つのブ
ロックに分け、それぞれ第１ブロックBL1、第２ブロッ
クBL2とする。第２アイランド22では、左端の差分デー
タからK2（１〜20）、K2（11〜30）、K2（21〜40）の３
つのブロックに分け、それぞれ第３ブロックBL3、第４
ブロックBL4、第５ブロックBL5とする。第３アイランド
23では、上端の差分データからK3（１〜20）、K3（11〜
30）の２つのブロックに分け、それぞれ第９ブロックBL
9、第10ブロックBL10とする。

さらに、第２アイランド22では、低周波成分でなる被
写体に合焦させるために抽出周波数を変えた差分データ
を検出し（第２の空間周波数成分抽出手段）、この差分
データを第６ブロックBL6、第７ブロックBL7および第８
ブロックBL8に分割して焦点検出データに用いる。すな
わち、基準部142aおよび参照部142bの各画素のデータ
を、例えば、それぞれ７つ置きに差分をとり、この差分
データの隣接間の和を求め、この和のデータを第６ブロ
ックBL6にする。すなわち、７つ置きの差分データの数
は、基準部142aでは36個、参照部142bでは44個になり、
第６ブロックBL6のデータ数は、基準部142aでは35個、
参照部142bでは43個になる。そして、この基準部142aの
35個の左側の25個を第７ブロックBL7とし、右側の25個
を第８ブロックBL8になる。

なお、前述では差分の間隔を７つ置きにしたが、この
間隔は大きいほど低周波成分を抽出することができる。
つまり、差分の間隔を７つ置き以外の間隔にしてもよ
い。

この焦点検出手段では、基準部と参照部との光像が一
致したときの像間隔が所定の間隔よりも大きいときには
後ピン、小さいときには前ピン、所定の間隔では合焦と
なる。したがって、分割したブロックでのデフォーカス
範囲は各アイランド内で光学中心から離れたブロックほ
ど後ピン側を受け持つことになる。

第６図は第２アイランド22の基準部142aおよび参照部
142bの実際に使用するエリアを拡大して示しており、同
図を用いてブロック分けした第ブロックBL4のデフォー
カス範囲を説明する。つまり、基準部142aの第４ブロッ
クBL4の像と合焦するには、参照部142bの中央に位置す
るブロックBL41、すなわち参照部142bの左端より15番目
から34番目に位置する像のデータと第４ブロックBL4の
データK2（11〜30）とが一致するときである。そして、
これより像の一致が参照部142bの左側になると前ピンと
なり、前ピンの最大のずれデータ数（以下、ずれピッチ
という）は14個となる。一方、像の一致が参照部142bの
右側になると後ピンとなり、後ピンの最大のずれピッチ
は14個となる。

また、第１アイランド21および第３アイランド23につ
いても同様である。すなわち、第７図に示すように、第
３ブロックBL3では、前ピン側ずれピッチが４個、後ピ
ン側ずれピッチが24個であり、第５ブロックBL5では、
前ピン側ずれピッチが24個、後ピン側ずれピッチが４個
である。また、第１ブロックBL1および第９ブロックBL9
では、前ピン側ずれピッチが５個、後ピン側ずれピッチ
が15個であり、第２ブロックBL2および第10ブロックBL1
0では、前ピン側ずれピッチが15個、後ピン側ずれピッ
チが５個である。さらに、第６ブロックBL6では、前ピ
ン側、後ピン側共にずれピッチが４個である。

第７ブロックBL7では、前ピン側ずれピッチが４個、
後ピン側ずれピッチが14個であり、第８ブロックBL8で
は、前ピン側ずれピッチが14個、後ピン側ずれピッチが
４個となるが、第６ブロックBL6とずれピッチが重複す
るので、第７ブロックBL7では、後ピン側の４個〜14個
のずれピッチを、第８ブロックBL8では、前ピン側の４
個〜14個のずれピッチをデフォーカス範囲にする。

第８図は、本発明に係る自動焦点検出装置をマイコン
を用いて構成したカメラの回路ブロックの一実施例を示
す。

中央制御回路（以下、マイコンという）26はカメラ全
体の制御し、露出等を演算するとともに、第１の空間周
波数成分を抽出し（一次フィルタ手段）、この抽出され
た空間周波数成分に基づいて焦点検出を行い（第１の焦
点検出手段）、さらに前記抽出された空間周波数成分に
基づいて第２の空間周波数成分を抽出し（二次フィルタ
手段）、この二次フィルタ手段で抽出された空間周波数
成分に基づいて焦点検出を行い（第２の焦点検出手
段）、前記第１の焦点検出手段で焦点検出不能と判定さ
れたときに前記二次フィルタ手段と第２の焦点検出手段
とを作動させる（判定手段）ものである。レンズ回路27
はカメラ本体（図示せず）に装着される撮影レンズ２
（交換レンズ）固有のデータをマイコン26に伝達するも
のである。焦点検出回路28は第１図の焦点検出手段３に
対応するもので、光電変換素子アレイのアナログ出力を
デジタル出力に変換してマイコン26に伝達するものであ
る。輝度検出回路29は撮影レンズ２を通過した光束９を
測定することにより被写体８の明るさを検出し、この明
るさに対応したアペックス値ＢV0をマイコン26に伝達す
るものである。フィルム感度読取回路30はフィルム（図
示せず）からフィルム感度を読取り、このフィルム感度
に対応したアペックス値ＳVをマイコン26に伝達するも
のである。

表示回路31は露出情報および撮影レンズ２の焦点状態
を表示するものである。エンコーダ32はレンズ駆動モー
タ33の回転量を検出し、後述のレンズ駆動制御回路34に
レンズ駆動モータ33の所定の回転量に応じたパルス数を
出力するものである。レンズ駆動制御回路34はマイコン
26からモータ駆動方向の信号およびモータ停止信号を入
力し、これらの信号に基づいてレンズ駆動モータ33の駆
動を制御するものである。

また、マイコン26の内部にはカウンタが備えられてい
る。このカウンタは、撮影レンズ２の無限遠位置からの
繰り出し位置を検出するもので、前記パルス数に対して
カウントアップあるいはカウントダウンするようになっ
ている。また、後述の電源スイッチ（メインスイッチ）
SW₁がオンされ、さらに、撮影レンズ２が駆動されて撮
影レンズ２が無限遠位置に繰り込まれたときには、前記
カウンタはリセットされるようになっている。

電源電池35はマイコン26および後述のスイッチ類に直
接電力を供給し、それら以外の回路には後述の給電回路
36を介して電力を供給するものである。給電回路36はマ
イコン26からの制御信号に基づいてレンズ回路27、焦点
検出データ出力回路28等の回路に電力を供給するもので
ある。

電源スイッチSW₁は開閉操作されることによりカメラ
の動作を開始あるいは停止させるものである。ワンショ
ット回路37は、前記電源スイッチSW₁の開閉操作に連動
して所定のパルスを発生させ、このパルスをマイコン26
に入力するものである。撮影準備スイッチSW₂はレリー
ズスイッチ（図示せず）の操作により開閉されるもの
で、この撮影準備スイッチSW₂がオンすると、焦点検出
動作が開始されるようになっている。リミットスイッチ
SW₃は、撮影レンズ２が無限遠位置に練り込まれたと
き、あるいは最先端まで繰り出されたときにオンするも
のである。選択スイッチSW₄は、自動焦点調整モード
（以下、AFモードという）か、あるいは焦点検出表示モ
ード（以下、FAモードという）かを選択するもので、こ
の選択スイッチSW₄をオンするとFAモードになり、オフ
するとAFモードになるものである。

次に、前記構成のカメラの動作について説明する。

まず、電源スイッチSW₁がオンされると、ワンショッ
ト回路37からマイコン26の割込入力端子INTOにパルスが
出力され、マイコン26は第９図に示した割り込み動作の
フローチャートを実行する。

すなわち、マイコン26は撮影準備スイッチSW₂のオン
による焦点検出動作を禁止し（ステップ＃１）、この割
り込み動作が電源スイッチSW₁のオンによるものか、オ
フによるものかをマイコン26の割込入力端子IP1に入力
された電圧により判定する（ステップ＃２）。そして、
この入力電圧がハイ電圧であれば、ステップ＃３〜＃11
の処置を行わずに、レンズ回路27等への電力を停止し、
マイコン26は動作待機状態になる（ステップ＃12,＃1
3）。この入力電圧がロー電圧であれば、電源スイッチS
W₁はオン状態と判定し、マイコン26内のカウンタの動作
を禁止し（ステップ＃３）、フローチャートの実行に使
用するフラグ、およびマイコン26の出力端子類を初期セ
ットする（ステップ＃４）。

次いで、マイコン26の出力端子OP1をハイ電圧にして
レンズ回路27等の回路に電力を供給する（ステップ＃
５）。次に、レンズ駆動制御回路34に撮影レンズ２の繰
り込み信号が入力され、撮影レンズ２は無限遠位置の方
向に繰り込まれる（ステップ＃６）。そして、撮影レン
ズ２が無限遠位置に繰り込まれ、リミットスイッチSW₃
がオンするのを待つ（ステップ＃７）。ステップ＃７で
リミットスイッチSW₃がオンすると、撮影レンズ２の駆
動を停止させる（ステップ＃８）。また、これに伴っ
て、マイコン26内のカウンタをリセットし、レンズ駆動
モータ33の回転量に応じたパルス数をカウントする（ス
テップ＃9,ステップ＃10）。そして、撮影準備スイッチ
SW₂のオンによる焦点検出動作の割り込みを許可する
（ステップ＃11）。

そして、出力端子OP1を口一電圧にしてレンズ回路27
等への電力を停止し、撮影準備スイッチSW₂等が押され
るまで動作を待機させる（ステップ＃12,＃13）。

また、前記ステップ＃13の動作待機状態のときに撮影
準備スイッチSW₂がオンされると、マイコン26は第10図
に示した割り込み動作のフローチャートを実行する。

すなわち、マイコン26はフローチャートの実行に使用
するフラグ、およびマイコン26の出力端子類を初期セッ
トする（ステップ＃21）。さらに、マイコン26内の設け
られたタイマをリセットし、次いで、このタイマをスタ
ートさせる（ステップ＃22）。そして、焦点調整動作の
１回目であることを示すフラグAFSFをセットし（ステッ
プ＃23）、出力端子OP1をハイ電圧にしてレンズ回路27
等に電力を供給する（ステップ＃24）。次に、撮影レン
ズ２の焦点距離データ、開放絞り値およびデフォーカス
量等からレンズ駆動のためのパルス数に変換する係数等
よりなるデータをレンズ回路27から入力する（ステップ
＃25）。そして、焦点検出回路28のセンサを駆動させ
て、被写体光を積分させ、この画素データを取り込んで
記憶する（ステップ＃26,＃27）。次に、前述の各アイ
ランド21,22,23のデフォーカス量が演算され、さらに露
出演算が行われ、これらの演算結果が表示回路31に表示
される（ステップ＃28〜＃30）。

次に、FAモードか、AFモードかの判定を行い（ステッ
プ＃31）、AFモードであれば、前記デフォーカス量から
撮影レンズ２の駆動量を算出し、これに基づいて撮影レ
ンズ２を駆動させる（ステップ＃32）。一方、ステップ
＃31でFAモードであれば、ステップ＃32の処理を行わず
にステップ＃34に移行する。ステップ＃34では、撮影準
備スイッチSW₂の開閉を判定する。そして、撮影準備ス
イッチSW₂がオンであれば、フラグAFSFをリセットし
（ステップ＃35）、ステップ＃25に戻って、ステップ＃
25からの処理を繰り返す。一方、ステップ＃34で撮影準
備スイッチSW₂がオフであれば、給電回路36をオフにし
てレンズ回路27等への電力を停止し（ステップ＃36）、
撮影準備スイッチSW₂等が押されるまで動作を待機させ
る（ステップ＃37）。そして、撮影準備スイッチSW₂等
が押されると、第９図のフローチャートに移行する。

次に、第10図のステップ＃28に示した各アイランド2
1,22,23のデフォーカス量演算のサブルーチンについて
第11図〜第14図を用いて説明する。

第11図は各アイランド21,22,23のデフォーカス量を第
１アイランド21（ステップ＃41）、第２アイランド22
（ステップ＃41）、第３アイランド23（ステップ＃41）
の順に演算することを示し、第12図〜第14図は各アイラ
ンド21,22,23のデフォーカス量演算の具体的なフローチ
ャートを示している。

第12図は第１アイランド21のデフォーカス量演算（ス
テップ＃41）のサブルーチンを示している。この第１ア
イランド21は、前述のように、第１ブロックBL1、第２
ブロックBL2に分けられ、これら各ブロックBL1、BL2の
各デフォーカス量をそれぞれ記憶する変数DF1,DF2に所
定値“−K"を記憶させる（ステップ＃51、＃52）。この
所定値“−K"は各ブロックBL1、BL2では、取り得ないよ
うな前ピン状態の値であり、第１アイランド21で焦点検
出不能の場合（以下、ローコンという）のデフォーカス
量として出力される。

次に、第１アイランド21でローコンの状態を示すフラ
グLCF1をセットする（ステップ＃53）。そして、第１ブ
ロックBL1の焦点状態（前ピン状態、後ピン状態、合焦
状態）の検出およびデフォーカス量DFを演算し（ステッ
プ＃54）、この演算結果から焦点検出が可能であれば、
フラグLCF1をリセットし、求めたデフォーカス量DFを第
１ブロックBL1のデフォーカス量を記憶する変数DF1に記
憶させ（ステップ＃55〜＃57）、ステップ＃58に移行す
る。

一方、ステップ＃55で焦点検出が不能と判定される
と、ステップ＃56、＃57の処理を行わずにステップ＃58
に移行する。

次に、第２ブロックBL2の焦点状態の検出およびデフ
ォーカス量DFを演算し（ステップ＃58）、この演算結果
から焦点検出が不能であれば、フラグLCF1がセットされ
ているかどうかを判定する。そして、フラグLCF1がリセ
ットされているとき、すなわち、ステップ＃55の判定に
おいて焦点検出が可能とされたときには、ステップ＃62
に移行する。また、ステップ＃60でフラグLCF1がセット
されているときは、第11図に示すステップ＃42の第２ア
イランド22のデフォーカス量演算サブルーチン（第13
図）に移行する。

一方、ステップ＃59で焦点検出が可能と判定される
と、ステップ＃60の処理を行わずに、ステップ＃69でフ
ラグLCF1をリセットし、ステップ＃70で、求めたデフォ
ーカス量をDF2に記憶させ、ステップ＃62に移行する。

ステップ＃62では、後述の平均処理ルーチンで使用す
るブロック間デフォーカス量（平均処理幅）ΔDFを決定
する。次いで、デフォーカス量DF1とデフォーカス量DF2
との大小を判定し、デフォーカス量の大きい方、すなわ
ち、撮影レンズ２（カメラ）に近い方の被写体のデフォ
ーカス量を第１アイランド21のデフォーカス量DFIS1と
する。つまり、デフォーカス量DF1がデフォーカス量DF2
よりも大きいときは、デフォーカス量DF1を第１アイラ
ンド21のデフォーカス量DFIS1とし、逆に、デフォーカ
ス量DF2がデフォーカス量DF1よりも大きいときは、デフ
ォーカス量DF2を第１アイランド21のデフォーカス量DFI
S1とする（ステップ＃63〜＃67）。

また、ステップ＃64,＃65でデフォーカス量DF1とデフ
ォーカス量DF2との差が平均処理幅ΔDFよりも小さいと
きは、デフォーカス量DF1とデフォーカス量DF2との平均
を行い、この平均値と第１アイランド21のデフォーカス
量DFIS1とする（ステップ＃68）。そして、ステップ＃6
6,＃67,＃68の処理を終えると、第11図のステップ＃42
に移行する。

第13図は第２アイランド22のデフォーカス量演算のサ
ブルーチンを示す。

まず、第３ブロックBL3、第４ブロックBL4、第５ブロ
ックBL5の各デフォーカス量をそれぞれ記憶する変数DF
3,DF4,DF5に所定値“−K"をそれぞれ設定させ（ステッ
プ＃71〜＃73）、第２アイランド22でのローコンの状態
を示すフラグLCF2をセットする（ステップ＃74）。そし
て、各ブロックBL3,BL4,BL5の焦点状態の検出およびデ
フォーカス量DFを演算する（ステップ＃75,＃79,＃8
3）。すなわち、ステップ＃75による第３ブロックBL3の
デフォーカス量DFの演算結果から焦点検出が可能であれ
ば、フラグLCF2をリセットし、求めたデフォーカス量DF
を変数DF3に記憶させ（ステップ＃76〜＃78）、ステッ
プ＃79に移行する。逆に、焦点検出が不能と判定される
と、ステップ＃77,＃78の処理を行わずにステップ＃79
に移行する。

第４ブロックBL4のデフォーカス量DFも同様に、ステ
ップ＃79の演算結果から焦点検出が可能であれば、フラ
グLCF2をリセットし、デフォーカス量DFを変数DF4に記
憶させ（ステップ＃80〜＃82）、ステップ＃83に移行す
る。逆に、焦点検出が不能と判定されると、ステップ＃
81,＃82の処理を行わずにステップ＃83に移行する。

第５ブロックBL5のデフォーカス量DFも同様に、ステ
ップ＃83の演算結果から焦点検出が可能であれば、フラ
グLCF2をリセットし、デフォーカス量DFを変数DF5に記
憶させ（ステップ＃84〜＃86）、ステップ＃87に移行す
る。逆に、焦点検出が不能と判定されると、ステップ＃
85,＃86の処理を行わずにステップ＃87に移行する。

ステップ＃87では、ローコンフラグLCF2がセットされ
ているかどうかを判定する。そして、フラグLCF2がセッ
トされていないとき、すなわち、ステップ＃76,＃80,＃
84の判定においてそれぞれ焦点検出が可能とされたとき
には、後述の平均処理ルーチンで使用する平均処理幅Δ
DFを決定する（ステップ＃88）。次いで、各ブロックBL
3,BL4,BL5の各デフォーカス量DF3,DF4,DF5の大小を判定
し、最も大きなデフォーカス量MAXDFを抽出する（ステ
ップ＃89）。そして、デフォーカス量MAXDFとの差が平
均処理幅ΔDFよりも小さい他のブロックが存在しない場
合には、前記デフォーカス量MAXDFを第２アイランド22
のデフォーカス量DFIS2とし（ステップ＃90,＃91）、前
記差が平均処理幅ΔDFよりも小さい他のブロックが１つ
以上存在する場合には、前記デフォーカス量MAXDFと前
記差が平均処理幅ΔDFよりも小さい他のブロックのデフ
ォーカス量とだけで平均を行い（平均処理）、この平均
値を第２アイランド22のデフォーカス量DFIS2とする
（ステップ＃92）。そして、ステップ＃91,＃92の処理
を終えると、第11図に示すステップ＃43の第３アイラン
ド23のデフォーカス量演算サブルーチン（第14図）に移
行する。

また、ステップ＃87でフラグLCF2がセットされている
と判定されたときには、低周波成分でなる被写体に合焦
させるために３つ置きの差分データを７つ置きの差分デ
ータに再編成する（ステップ＃93）。すなわち、例え
ば、画素のデータをｌ₁,l₂,l_n，…とすると、３つ置き
の差分データは、dD_n＝ｌ₁−ｌ₅，…,l₅−ｌ₉，…,l_n−
ｌ_n+4，…となる。また、７つ置きの差分データはdD_m＝
ｌ₁−ｌ₉，…,l_m−ｌ_m+8，…となる。この７つ置きの差
分データはdD_mは３つ置きの差分データdD_nの和を３つ置
きに取ることにより求められる。つまり、７つ置きの差
分データは、 dD_m＝dD₁＋dD₅，…,dD_m＋dD_m+4，… ＝ｌ₁−ｌ₅＋ｌ₅−ｌ₉，…,l_n-4−ｌ_n＋ｌ_n−ｌ
_n+4，… ＝ｌ₁−ｌ₉，…,l_n-4−ｌ_n+4，… ＝ｌ₁−ｌ₉，…,l_m−ｌ_m+8，… となる。ただし、ｎ＝ｍ＋４である。

さらに、この差分データdD_mの隣接間の和を取り、新
たなデータ列dDW（ｍ）＝dD_m＋dD_m+1を演算し、これを
用いて第６ブロックBL6での焦点検出を行い、焦点状態
の検出およびデフォーカス量DFを演算し（ステップ＃9
4）、焦点検出が可能であれば、フラグLCF2をリセット
し、第６ブロックBL6のデフォーカス量DF6を第２アイラ
ンド22のデフォーカス量DFIS2として前記ステップ＃43
に移行する（ステップ＃95〜＃97）。一方、ステップ＃
95で焦点検出が不能であれば、第７ブロックBL7での焦
点検出を行い、焦点状態の検出およびデフォーカス量DF
を演算し（ステップ＃98）、焦点検出が可能であれば
（ステップ＃99）、ステップ＃96に戻って、フラグLCF2
をリセットし、第７ブロックBL7のデフォーカス量を第
２アイランド22のデフォーカス量DFIS2として前記ステ
ップ＃43に移行する。一方、ステップ＃99で焦点検出が
不能であれば、第８ブロックBL8での焦点検出を行い、
焦点状態の検出およびデフォーカス量DFを演算し（ステ
ップ＃100）、焦点検出が可能であれば（ステップ＃10
1）、ステップ＃96に戻って、フラグLCF2をリセット
し、第８ブロックBL8のデフォーカス量を第２アイラン
ド22のデフォーカス量DFIS2として前記ステップ＃43に
移行する。一方、ステップ＃101で焦点検出が不能であ
れば、ステップ＃96,＃97の処理を行わずに前記ステッ
プ＃43に移行する。

第14図は第３アイランド23のデフォーカス量演算（ス
テップ＃43）のサブルーチンを示す。まず、第９ブロッ
クBL9、第10ブロックBL10の各デフォーカス量をそれぞ
れ記憶する変数DF9,DF10に所定値“−K"を記憶させる
（ステップ＃111,＃112）。次に、第３アイランド23で
のローコンの状態を示すフラグLCF3をセットする（ステ
ップ＃113）。そして、第９ブロックBL9の焦点状態の検
出およびデフォーカス量DFを演算し（ステップ＃11
4）、焦点検出が可能であれば、フラグLCF3をリセット
し、求めたデフォーカス量DFを第９ブロックBL9のデフ
ォーカス量DF9に記憶させる（ステップ＃115〜＃11
7）。一方、ステップ＃115で焦点検出が不能と判定され
ると、ステップ＃116,＃117の処理を行わずにステップ
＃118に移行する。

次に、第10ブロックBL10の焦点状態の検出およびデフ
ォーカス量DFを演算し（ステップ＃118）、この演算結
果から焦点検出が不能であれば、フラグLCF3がセットさ
れているかどうかを判定する。そして、フラグLCF3がリ
セットされているとき、すなわち、ステップ＃115の判
定において焦点検出が可能とされたときには、ステップ
＃122に移行する。また、フラグLCF3がセットされてい
るときには、第10図に示すステップ＃29の露出演算サブ
ルーチンに移行する（ステップ＃119,＃120）。一方、
ステップ＃119で焦点検出が可能と判定されると、ステ
ップ＃120の処理を行わずにフラグLCF3をリセットし、D
F10にステップ＃118で求めたデフォーカス量を記憶させ
（＃129,＃130）、ステップ＃122に移行する。

ステップ＃122では、後述の平均処理ルーチンの平均
処理幅ΔDFを決定する。次いで、デフォーカス量DF9と
デフォーカス量FG10との大小を判定し、デフォーカス量
の大きい方を第３アイランド23のデフォーカス量DFIS3
とする（ステップ＃123〜＃127）。

また、ステップ＃124,＃125でデフォーカス量DF9とデ
フォーカス量DF10との差が平均処理幅ΔDFよりも小さい
ときは、デフォーカス量DF9とデフォーカス量DF10との
平均を行い、この平均値を第３アイランド23のデフォー
カス量DFIS3とする（ステップ＃128）。そして、ステッ
プ＃126,＃127,＃128の処理を終えると、第10図のステ
ップ＃29に移行する。

次に、第10図のステップ＃29に示した露出演算サブル
ーチンについて第15図を用いて説明する。

まず、輝度検出回路29から被写体８の明るさに対応し
た開放輝度値（アペックス値）ＢV0がマイコン26に入力
される（ステップ＃131）。続いて、フィルム感度読取
回路30からフィルム感度に対応したフィルム感度値（ア
ペックス値）ＳVがマイコン26に入力される（ステップ
＃132）。次いで、これら開放輝度値ＢV0と、フィルム
感度値ＳVと、第10図のステップ＃27で予めマイコン26
に入力されている開放絞り値ＡV0との和より、露出値Ｅ
V（ＥV＝ＢV0＋ＳV＋ＡV0）を演算する（ステップ＃13
3）。

次に、前記露出値ＥVに基づいて制御絞り値ＡVおよび
シャッター速度ＴVを決定し（ステップ＃134）、そのの
ち、第10図に示すステップ＃30に移行する。

次に、第10図のステップ＃32に示した撮影レンズ２の
駆動量を算出する処理について説明する。このステップ
＃32の処理では、各アイランド21,22,23の各デフォーカ
ス量から被写体がどのように分布しているかをパターン
分けし、このパターンごとに最適なデフォーカス量の演
算手順を選択して最適な撮影レンズ２の駆動量を得るよ
うにしている。ここで、前記演算手順を選択する手段に
ついて簡単に説明する。

まず、FAモードかAFモードかの判定が行われる。そし
て、FAモードの場合では、第２アイランド22の測距を優
先し、第２アイランド22が測距可能であれば、第２アイ
ランド22のデフォーカス量DFIS2に基づいて撮影レンズ
２の駆動量を決定し、第２アイランド22が測距不可能で
あれば、最近接のアイランドのデフォーカス量に基づい
て撮影レンズ２の駆動量を決定する。つまり、FAモード
では、静止した被写体を中央にして撮影する場合が多
く、広い範囲での測距に基づいてデフォーカス量を求め
ると、どのアイランドを選択して表示しているのかが明
確でなくなるため、撮影画面の中央部の測距を行う第２
アイランド22のデフォーカス量DFIS2を優先することと
した。

一方、AFモードの場合では、各アイランド21,22,23の
被写体の内、いずれかの被写体８が焦点検出可能なとき
には、最近接になるアイランド、すなわちデフォーカス
量が最大になるアイランドのデフォーカス量、撮影レン
ズ２の焦点距離データ、および被写体までの距離に基づ
いて撮影倍率を演算し、この演算結果によってデフォー
カス量の演算手順を変えている。すなわち、基本的に
は、撮影倍率が大きければ、主被写体は撮影画面の中央
部に必ず存在するとして、第２アイランド22のデフォー
カス量DFIS2を優先する。また、撮影倍率が小さけれ
ば、背景を含んだ撮影になり、被写体までの距離分布の
ばらつきが大きいとし、さらに主被写体はカメラに近い
位置に存在することが多いので、距離分布の近い側を優
先する。この撮影倍率の判定の目安となる値と、この値
に基づいて演算手段を選択する手順の一例を第16図に示
す。

すなわち、例えば、AFモードの場合には、撮影レンズ
２の焦点距離ｆは35mmを境に演算手段を選択する。そし
て、焦点距離ｆが35mm以上、かつ、最近接アイランドの
撮影倍率βdfが所定の倍率βH（例えば、倍率1/25）よ
りも小さければ、最近接アイランドのデフォーカス量に
基づいて撮影レンズ２の駆動量を決定する。一方、撮影
倍率βdfが所定の倍率βHを越えると、第２アイランド2
2のデフォーカス量DFIS2を優先し、第２アイランド22が
測距不可能であれば、最近接アイランドのデフォーカス
量に基づいて撮影レンズ２の駆動量を決定する。

さらに、焦点距離ｆが35mm未満であれば、最近接アイ
ランドのデフォーカス量に基づいて撮影レンズ２の駆動
量を決定する。これは焦点距離ｆが短くなると、被写界
深度が深くなるので、距離分布において最近接アイラン
ドの被写体に焦点を合せても他のアイランドで検出され
た被写体をかなりの範囲まで被写界深度内に含むことが
できるからである。

また、FAモードの場合には、焦点距離ｆに関係なく、
第２アイランド22のデフォーカス量DFIS2を優先し、第
２アイランド22が測距不可能であれば、最近接アイラン
ドのデフォーカス量に基づいて撮影レンズ２の駆動量を
決定する。

ここで、前述の撮影倍率βdfの算出手段について説明
する。

この撮影倍率βdfは焦点距離ｆとカメラからの被写体
距離ｘとから下式のようになる。

βdf＝f/x 前記焦点距離ｆのデータは撮影レンズ２から入力され
るので、前記被写体距離ｘを求めると、撮影倍率βdfは
算出される。また、この被写体距離ｘは撮影レンズ２の
無限遠位置から被写***置までのデフォーカス量DF_xを
用いて、下式のように求められる。

ｘ＝ｆ²/DF_x ただし、撮影レンズ２は１枚の薄い理想レンズではな
く、主点が前後にあるとともに、焦点距離の変化によっ
てその主点が異なるので、上式から被写体距離ｘは近似
値として求められる。

一方、撮影レンズ２の無限遠位置から現在位置までの
デフォーカス量DF_oは、マイコン26内部のカウンタに記
憶されているレンズ駆動モータ33の回転量（数）Ｎに応
じたパルス数から求められ、その関係は下式のようにな
る。

Ｎ＝ｋ・DF_o DF_o＝N/K ただし、係数ｋの値は前記パルス数等に基づいて定め
られる。

そして、デフォーカス量DF_xはデフォーカス量DF_oと撮
影レンズ２の現在位置から被写体の合焦位置までのデフ
ォーカス量DFとから、 DF_x＝DF_o＋DF となる。これらの式から被写体距離ｘは、ｘ＝ｆ²/DF_x＝ｆ²／（N/k＋DF）したがって、撮影倍率βdfは、 βdf＝f/x＝（N/k＋DF）/f となる。

また、上式とは別に撮影倍率βdfは撮影レンズ２の現
在位置から被写***置までの駆動量ΔＮ（ΔＮ＝DF・
ｋ）を用いて、 βdf＝（Ｎ＋ΔＮ）/f・ｋとしても求められる。

次に、平均処理を行うサブルーチンについて第２アイ
ランド22のフローチャート（第13図のステップ＃88,＃9
2）を例にして説明する。

第13図のステップ＃88の平均処理幅ΔDFは、第17図に
示すサブルーチンに従って求められる。まず、前回平均
処理が行われたかどうかをフラグWZF2により判定する
（ステップ＃141）。すなわち、前回平均処理が行われ
ると、フラグWZF2はセットされる。そして、前回平均処
理が行われていれば、係数ｋ₁を“1.5"に設定し、前回
平均処理が行われなければ、係数ｋ₁を“1"に設定する
（ステップ＃142,＃143）。係数ｋ₁を設定する理由は、
測距値のばらつきによって平均処理が行われたり、行わ
れなかったりすることを防ぐため、一度平均処理が行わ
れた場合は平均処理幅を広げて２回目以降も平均処理が
行われる可能性（確率）を高めるためである。

次に、前回測距時に検出された撮影倍率βdfの判定が
行われ、撮影倍率βdfが“1/20"以上の場合には係数ｋ₂
を“1"に設定し、撮影倍率βdfが“1/20"から“1/50"の
場合には係数ｋ₂を“0.5"に設定し、撮影倍率βdfが“1
/50"以下の場合には係数ｋ₂を“0"に設定し（ステップ
＃145〜＃149）、ステップ＃150に移行する。前記係数
ｋ₂を設定する理由は、撮影倍率βdfが高いと同一アイ
ランド内の複数ブロックに同一被写体で占められる可能
性が高くなるためである。

次いで、ステップ＃150で、撮影時の絞り値ＦNo.に基
づいて基準平均処理幅ΔDF1の設定を行う。つまり、撮
影時の絞り値ＦNo.と許容錯乱円直径εの積により求め
られる焦点深度δを撮影された像の解像度を保存するた
めの基準平均処理幅ΔDF1として設定される。

そして、前記係数ｋ₁および係数ｋ₂をこの基準平均処
理幅ΔDF1に掛けることにより、平均処理幅ΔDFが決定
され、さらにフラグWZF2がリセットされる（ステップ＃
151）。そののち、第13図に示すステップ＃89に移行す
る。

また、前回平均処理が行われたかどうかを判定するた
めのフラグは、第１アイランド21および第３アイランド
23にもフラグWZF2と同様に有しており、前回平均処理が
行われると、フラグWZF2はセットされ、前回平均処理が
行われなければ、リセットされる。

ここで、各ブロックのデフォーカス量の演算、および
本発明に係る焦点検出不能判断について第３ブロックBL
3を例（第13図のステップ＃75〜＃78）にして第18図
（ａ）を用いて説明する。

まず、前ピン側ずれピッチが４個の位置（ずれピッチ
“−4"）から後ピン側ずれピッチが24個の位置（ずれピ
ッチ“24"）までのデフォーカス範囲において参照部142
bのデータをずらせながら（シフトさせながら）、各シ
フト位置における第３ブロックBL3のデータと参照部142
bのデータとの相関関数Ｈ3(I)を求める（ステップ＃16
1）。

この相関関数Ｈ3(I)は下式のようになる。

ただし、K2は基準部142aの差分データ列を示し、S2は
参照部142bの差分データ列を示す。

次いで、前述の各シフト位置における相関関数Ｈ3(I)
の内で最も相関の良い、すなわち、相関関数Ｈ3(I)の値
が小になるシフト位置IMを抽出する（ステップ＃16
2）。次に、相関関数Ｈ3(I)の各点の値を用いて各ピッ
チ間の補間演算を行う（ステップ＃163）。

この補間演算により求めらる補間ピッチXMは下式のよ
うになる（特開昭60-247211号公報参照）。

ＸM＝ＩM＋｛Ｈ3(IM-3)−Ｈ3(IM+1)｝／［MIN｛Ｈ3(IM-
1),H3(IM+1)｝−Ｈ3(IM)］/2 この補間演算を行う理由は、１個のピッチのずれをデ
フォーカス量に換算すると約1000μｍと大きく、このピ
ッチ間を補うことにより精度の良い測距を行うためであ
る。

こうして求められた補間ピッチＸMに光学系および光
電変換素子アレイのピッチ長で決定する係数αを掛けて
デフォーカス量DF（DF＝ＸM・α）に換算する（ステッ
プ＃164）。次いで、第３ブロックBL3のデータの持つコ
ントラスト（明暗）値Ｃ（３）を基準部142aの隣接デー
タの差の総和として求める（ステップ＃165）。

このコントラスト値Ｃ（３）は下式のようになる。

続いて相関関数Ｈ3(I)の最小値の補間値ＹMを求める
とともに、この補間値ＹMとコントラスト値Ｃ（３）と
の比の値Ｒ（３）を求める（ステップ＃167）。

これらの補間値ＹMと比の値Ｒ（３）とは下式のよう
になる。

ＹM＝Ｈ3(IM)−|H3(IM-1)−Ｈ3(IM+1)|/2 Ｒ（３）＝Ｃ（３）/YM こうして求められたコントラスト値Ｃ（３）および比
の値Ｒ（３）が共に設定値を満足した場合のみ焦点検出
可能とし、コントラスト値Ｃ（３）あるいは比の値Ｒ
（３）のいずれか一方でも満足しない場合には、焦点検
出不能とする（ローコン判定）。すなわち、まず、第３
ブロックBL3が前回のルーチン処理で焦点検出可能であ
ったかどうかの判定を、検出フラグNLB3を用いて行う
（ステップ＃168）。これは前回焦点検出可能であった
場合に判定レベルの総和を行い、焦点検出判定レベルぎ
りぎりの被写体に対し、焦点検出可能かどうかの判定が
不安定になることを防ぐためである。すなわち、焦点検
出判定レベルぎりぎりの被写体に対しては、判定レベル
Ｃth,Rthにそれぞれ所定値C1,R1を設定する（ステップ
＃169）。

そして、ステップ＃168で前回焦点検出不能あるいは
一度目のルーチン処理、すなわち、検出フラグNLB3がリ
セットされている場合には、現在の撮影レンズ２の位置
での撮影を行った際の撮影倍率βLSの演算を行う（ステ
ップ＃170）。

この撮影倍率βLSは、前述の撮影倍率βdfの演算、す
なわち、βdf＝（N/k＋DF）/fのデフォーカス量DFに
“0"を代入して求める。

そして、この撮影倍率βLSと焦点距離ｆとの積を求
め、この積が所定値ｆ・βth（例えば、300mmレンズの
場合βthは1/15以上）以上の場合には、判定レベルＣt
h,Rthにそれぞれ所定値C1,R1よりも大きい所定値C4,R4
を設定する（ステップ＃171,＃172）。つまり、ステッ
プ＃169の場合に比べて判定レベルＣth,Rthは厳しくな
る。

前記ステップ＃171で所定値のｆ・βth未満の場合、
第３ブロックBL3の最大の局所コントラスト値CLthの演
算を行う（ステップ＃173）。そして、局所コントラス
ト値CLthが予め設定された所定値よりも大きければ、す
なわち後述のフラグCLがセットされていると、判定レベ
ルＣthに所定値C2を設定し、所定値よりも小さければ、
すなわちフラグCLがリセットされていると、判定レベル
Ｃthに所定値C3を設定する（ステップ＃174〜＃174）。
ただし、所定値C2,C3の関係は、C1＜C2＜C3＜C4となる
ように予め設定されている。

次いで、フラグAFSFがセットされているかどうかの判
定を行い、セットされていれば、判定レベルＲthに所定
値R2を設定し、リセットされていれば、判定レベルＲth
に所定値R3を設定する（ステップ＃177〜＃179）。ただ
し、所定値R2,R3の関係は、R1＜R2＜R3＜R4となるよう
に予め設定されている。

そして、前記判定レベルＣth,Rthにそれぞれ所定値が
設定されたのち（ステップ＃169,＃172,＃178,＃17
9）、コントラスト値Ｃ（３）が判定レベルCthよりも大
きく、かつ、比の値Ｒ（３）が判定レベルＲthよりも大
きいときには、検出フラグNLB3をセットし、コントラス
ト値Ｃ（３）あるいは比の値Ｒ（３）のいずれか一方で
も判定レベルＣthあるいは判定レベルＲthよりも小さい
ときには、検出フラグNLB3をリセットする（ステップ＃
180〜＃182）。そののち、第13図のステップ＃79以降に
示された第４ブロックBL4のデフォーカス量の演算およ
び焦点検出不能判断等の処理を行う。

なお、検出フラグNLB3は、各アイランドごとに、この
検出フラグNLBを設定し、この検出フラグNLBに基づいて
判定レベルの緩和を行うようにしてもよい。つまり、一
度合焦検出して大きなデフォーカス量を検出した場合、
レンズ駆動により、その像間隔が基本像間隔に近ずく。
そのため、基準部の像自体も、例えば、第４ブロック、
第５ブロックにあった像が、レンズ駆動により像間隔が
広がり第３ブロック、第４ブロックにシフトすることが
ある。この様なときは第３ブロックで焦点検出不能にな
る。そこで、各アイランドごとにローコンを示すフラグ
LCFを別のフラグLCFNに格納して、このフラグLCFNを検
出フラグNLBの代りにそれぞれのアイランドの測距時に
判定するようにしてもよい。

ここで、ステップ＃172の所定値ｆ・βth以上の場合
に判定レベルＣth,Rthを厳しくした理由について説明す
る。

つまり、極めて大きなレンズ駆動範囲（レンズ繰り出
し量40mm以上）を有する長焦点レンズの場合、レンズ位
置が前記条件を満足するように高倍率、すなわち、レン
ズ繰り出し量が大きい場合でかなりの遠景、低倍率の被
写体に対して焦点検出しようとすると、この様な場合、
被写体の空間周波数成分はかなりの高周波成分を有し、
基準部142aあるいは参照部142bにおける像間隔が極めて
小さく、基準部142aと参照部142bとではまったく異なっ
た像が投影されることになる。さらに、低倍率であるた
め、まったく異なった被写体が投影されることになる。
この様なぼけ状態の場合には、光学系は極めて低周波成
分のみを通過させるので、通常は焦点検出不能となる。
ところが、第18図（ｂ）に示すように、人物A,Bが並ん
でいるような場合、人物A,Bを区別する細部のデータ
（高周波成分）は光学系を通過しないので、基準部142a
と参照部142bとに投影される人物A,Bのそれぞれの像は
ほぼ同じ波形になり、人物Ａの像と人物ｂの像とを誤っ
て判定し、焦点検出可能と判定する場合がある。

一方、レンズ位置が無限遠状態で低倍率の場合に近
景、高倍率の被写体に対して焦点検出しようとすると、
この様な場合にも、光学系は極めて低周波成分のみを通
過させるので、細部のデータは通過しない。ところが、
高倍率であるため基準部142aあるいは参照部142bにおけ
る像間隔が極めて大きく、基準部142aと参照部142bとは
同じ被写体の異なった部分が投影されることになる。し
たがって、基準部142aと参照部142bとが異なった被写体
を投影されることはないので、判定レベルＣth,Rthを厳
しくすることとした。

また、前記ステップ＃161およびステップ＃165では、
第３ブロックBL3の相関関数Ｈ3(I)およびコントラスト
値Ｃ（３）を演算したが、第19図に示すように、他のブ
ロックBL1,BL2,BL4,BL5,BL9,BL10についても同様に求め
ることができる。

次に、前記ステップ＃173での局所コントラスト値CLt
hの演算について説明する。このステップ＃173でのコン
トラスト値の判定レベルＣthには、光電変換素子アレイ
等により発生するノイズ（雑音）量Ｃnoiseが重畳され
ている。このノイズ量Ｃnoiseのノイズ自体の大きさは
変らないがノイズの波形がばらつくため、合焦検出に最
低限必要な真の被写体コントラスト値をＣMINとする
と、判定レベルCthは下式のようになる。

Ｃth＝ＣMIN＋ＭAX｛Ｃnoise｝ただし、ＣMIN≪ＭAX｛Ｃnoise｝このため、ノイズ量Ｃnoiseが小さく、本来、焦点検
出可能にもかかわらず、コントラスト値が判定レベルＣ
thを越えないために焦点検出不能と判定される場合があ
る。そこで、最大のノイズ量Ｃnoiseが発生する時は、
第３ブロックBL3の各部でもノイズが存在すると予測さ
れるので、第３ブロックBL3の差分データごとに下式に
したがってコントラスト限界の判定を行う。

ただし、値Ｐは予め設定する所定値で、“20"以下の
値から選択する。

また、前記コントラスト限界の判定において、局所的
なコントラスト値が所定値を満足しているときには、コ
ントラスト値の判定レベルをノイズが小さな場合と同様
に判定することができる。つまり、コントラスト限界の
判定の手段は、第20図〜第22図に示されたように、複数
の判定ルーチンがある。すなわち、第20図の判定ルーチ
ンでは、例えば、第３ブロックBL3から７個の差分デー
タごとに細分したデータブロックを抽出し、このデータ
ブロックの内、１個のデータでも所定値CLth1以上であ
れば、トータルのコントラスト値の判定レベルを緩和す
るようになっている。

つまり、この判定ルーチンは、まず、フラグCLをリセ
ットするとともに、変数ｑをリセットする（ステップ＃
191）。次いで、第３ブロックBL3のデータをデータK2
（１）からK2（８）までの差分データ（７個）よりなる
データブロックＣLOC を抽出し、このデータブロックＣLOCと所定値CLth1と比
較する（ステップ＃192,＃193）。そして、このデータ
ブロックＣLOCが所定値CLth1以上であれば、フラグCLを
セットし（ステップ＃194）、コントラスト値の判定レ
ベルを緩和する。

一方、データブロックＣLOCの各差分データが所定値C
Lth1未満であれば、変数ｑをインクリメントして第３ブ
ロックBL3のデータK2（２）からK2（９）までの差分デ
ータよりなるデータブロックＣLOCを抽出し、このデー
タブロックＣLOCと所定値CLth1と比較する（ステップ＃
195,＃193）。以下同様に、データK2（13）からK2（2
0）までの差分データよりなるデータブロックＣLOCを抽
出されるまで続けられる（ステップ＃192〜＃196）。そ
して、データブロックＣLOCの内、１個のデータでも所
定値CLth1以上であれば、フラグCLをセットし、全ての
データブロックＣLOCで所定値CLth1未満であれば、フラ
グCLはリセットのままで第18図（ａ）のフローチャート
に移行する。

また、第21図では、ブロックのデータの最大値および
最小値を抽出し、これら最大値と最小値との差から局所
コントラストの有無を判定する。

つまり、この判定ルーチンは、第３ブロックBL3のデ
ータK2（１〜20）から最大値［ＭAX｛K2（ｊ）｝］およ
び最小値［ＭIN｛K2（ｊ）｝］を抽出し、これら最大値
［ＭAX｛K2（ｊ）｝］と最小値［ＭIN｛K2（ｊ）｝］と
の差ＣLOC（ＣLOC＝ＭAX｛K2（ｊ）｝−ＭIN｛K2
（ｊ）｝）を求める（ステップ＃201〜＃203）。次い
で、フラグCLをリセットし（ステップ＃204）、差ＣLOC
と所定値CLth2と比較する（ステップ＃205）。そして、
所定値CLth2以上であれば、フラグCLをセットし（ステ
ップ＃206）、コントラスト値の判定レベルを緩和す
る。一方、差CLOCが所定値CLth2未満であれば、フラグC
Lはリセットのままで第18図（ａ）のフローチャートに
移行する。

さらに、第22図では、ブロックのデータの内、所定レ
ベルより大きなデータが所定個数以上あるかどうかの判
定で局所コントラストの有無を判定する。

つまり、この判定ルーチンは、まず、変数ｊを“1"に
セットし、変数CL1,CL2をリセットし、さらにフラグCL
をリセットする（ステップ＃211）。次いで、第３ブロ
ックBL3のデータK2（１）と所定値CLth3を比較し、所定
値CLth3以上のとき、変数CL1に“1"を加え、次に、デー
タK2（１）が所定値−CLth3以下のとき、変数CL2に“1"
を加える（ステップ＃212〜＃215）。そして、前記変数
CL1と変数CL2との積を求め、この積CL1・CL2が所定値CL
th4以上であれば、フラグCLをセットし（ステップ＃21
7）、コントラスト値の判定レベルを緩和する。一方、
積CL1・CL2が所定値CLth4未満であれば、変数ｊをイン
クリメントし、第３ブロックBL3の全てのデータK2（2
0）について、ステップ＃212から＃215までの処理を行
う（ステップ＃212〜＃219）。この結果、全てのデータ
の処理を終えても積CL1・CL2が所定値CLth4未満であれ
ば、フラグCLはリセットのままで第18図（ａ）のフロー
チャートに移行する。

次に、第13図のステップ＃92の平均処理ルーチンにつ
いて説明する。この平均処理ルーチンにはいくつかの処
理手順があり、それぞれの処理手段について第23図〜第
25図を用いて説明する。

第23図の平均処理ルーチンでは、第18図（ａ）のステ
ップ＃165,＃167で求められたコントラスト値Ｃ（３）
および比の値Ｒ（３）に基づいて重み関数Ｗ（Ｉ）を設
定し、この重み関数Ｗ（Ｉ）を用いて各ブロックのデフ
ォーカス量の加重平均を行うようになっている。なお、
この重み関数Ｗ（Ｉ）は、例えばコントラスト値Ｃ
（３）そのもの、あるいは比の値Ｒ（３）そのものとし
てもよい。

すなわち、まず、変数Ｉを“3"にセットする（ステッ
プ＃217）。そして、各ブロックBL3,BL4,BL5の各デフォ
ーカス量DF3,DF4,DF5の内の最も大きなデフォーカス量M
AXDFとデフォーカス量DF3との差を求め、この差と平均
処理幅ΔDFとを比較し、この差が平均処理幅ΔDFを越え
たときには、重み関数Ｗ（３）を“0"にする。そして、
変数Ｉをインクリメントし、デフォーカス量MAXDFとデ
フォーカス量DF4およびデフォーカス量DF5との差を求
め、この差と平均処理幅ΔDFとを比較し、この差が平均
処理幅ΔDFを越えたときは、重み関数Ｗ（４）および重
み関数Ｗ（５）を“0"にする（ステップ＃222〜＃22
5）。つまり、各ブロックBL3,BL4,BL5の各デフォーカス
量DF3,DF4,DF5の内、平均処理幅ΔDF以内のデフォーカ
ス量を用いて平均処理を行う。次いで、前述のように処
理された重み関数Ｗ（Ｉ）を用いて加重平均を行い、こ
の平均値を第２アイランド22のデフォーカス量DFIS2に
設定する（ステップ＃226）。

つまり、デフォーカス量DFIS2は下式のようになる。

DFIS2＝｛DF3・Ｗ(3)＋DF4・Ｗ(4)＋DF5・Ｗ(5)｝／
｛Ｗ(3)＋Ｗ(4)＋Ｗ(5)｝そして、ワイドゾーンフラグWZF2をセットする（ステ
ップ＃227）。そののち、第11図のステップ＃43のデフ
ォーカス量演算サブルーチンに移行する。

第24図の平均処理ルーチンでは、相関関数の内、最大
相関位置ＩMと、その前後の相関位置ＩM+1および相関位
置ＩM-1において複数のブロックを組み合せて相関関数
を再計算し、さらに再補間演算するようになっている。
すなわち、第13図のステップ＃90で得られた平均処理対
象のブロック（以下、対象ブロックという）が全てのブ
ロックBL3,BL4,BL5であれば、第２アイランド22のデー
タK2（１〜40）で相関関数Ｈ3,4,5（ＩM）,H3,4,5（ＩM
-1）,H3,4,5（ＩM+1）を再計算し、さらに再補間演算し
てこの値を第２アイランド22のデフォーカス量DFIS2に
設定する（ステップ＃231,＃232）。また、第３ブロッ
クBL3および第４ブロックBL4が対象ブロックであれば、
データK2（１〜30）で相関関数Ｈ3,4（ＩM）,H3,4（ＩM
-1）,H3,4（ＩM+1）を再計算し、再補間演算してこの値
をデフォーカス量DFIS2に設定する（ステップ＃233,＃2
34）。さらに、第４ブロックBL4および第５ブロックBL5
が対象ブロックであれば、データK2（11〜40）で相関関
数Ｈ4,5（ＩM）,H4,5（ＩM-1）,H4,5（ＩM+1）を再計算
し、再補間演算してこの値をデフォーカス量DFIS2に設
定する（ステップ＃235,＃236）。また、ステップ＃235
で、第３ブロックBL3および第５ブロックBL5が対象ブロ
ックであれば、ステップ＃232に移行し、そして、ワイ
ドゾーンフラグWZF2をセットし（ステップ＃237）、そ
ののち、第11図のステップ＃43のデフォーカス量演算サ
ブルーチンに移行する。

ここで、前述のステップ＃232,＃234,＃236の相関関
数Ｈ3,4,5（ＩM）,H3,4（ＩM）,H4,5（ＩM）の演算式を
示す。

また、第25図の平均処理ルーチンでは、平均処理の対
象となる各ブロックの相関関数Ｈ（ＩM）,H（ＩM-1）,H
（ＩM+1）をそれぞれ加算し、この加算結果を用いて補
間演算以後の処理を行うようになっている。すなわち、
全てのブロックBL3,BL4,BL5が対象ブロックであれば、
相関関数Ｈ3,4,5（ＩM）,H3,4,5（ＩM-1）,H3,4,5（ＩM
+1）は下式のように計算する（ステップ＃241,＃24
2）。

Ｈ3,4,5（ＩM-1）＝Ｈ3（ＩM-1）＋Ｈ4（ＩM-1）＋Ｈ5
（ＩM-1）Ｈ3,4,5（ＩM）＝Ｈ3（ＩM）＋Ｈ4（ＩM）＋Ｈ5（ＩM）Ｈ3,4,5（ＩM+1）＝Ｈ3（ＩM+1）＋Ｈ4（ＩM+1）＋Ｈ5
（ＩM+1）また、第３ブロックBL3および第４ブロックBL4が対象
ブロックであれば、相関関数Ｈ3,4（ＩM）,H3,4（ＩM-
1）,H3,4（ＩM+1）は下式のように計算する（ステップ
＃243,＃244）。

Ｈ3,4（ＩM-1）＝Ｈ3（ＩM-1）＋Ｈ4（ＩM-1）Ｈ3,4（ＩM）＝Ｈ3（ＩM）＋Ｈ4（ＩM）Ｈ3,4（ＩM+1）＝Ｈ3（ＩM+1）＋Ｈ4（ＩM+1）さらに、第４ブロックBL4および第５ブロックBL5が対
象ブロックであれば、相関関数Ｈ4,5（ＩM）,H4,5（ＩM
-1）,H4,5（ＩM+1）は下式のように計算する（ステップ
＃245,＃246）。

Ｈ4,5（ＩM-1）＝Ｈ4（ＩM-1）＋Ｈ5（ＩM-1）Ｈ4,5（ＩM）＝Ｈ4（ＩM）＋Ｈ5（ＩM）Ｈ4,5（ＩM+1）＝Ｈ4（ＩM+1）＋Ｈ5（ＩM+1）また、ステップ＃245で、第３ブロックBL3および第５
ブロックBL5が対象ブロックであれば、相関関数Ｈ3,5
（ＩM）,H3,5（ＩM-1）,H3,5（ＩM+1）は下式のように
計算する（ステップ＃247）。

Ｈ3,5（ＩM-1）＝Ｈ3（ＩM-1）＋Ｈ5（ＩM-1）Ｈ3,5（ＩM）＝Ｈ3（ＩM）＋Ｈ5（ＩM）Ｈ3,5（ＩM+1）＝Ｈ3（ＩM+1）＋Ｈ5（ＩM+1）そして、ステップ＃242,＃244,＃246,＃247の相関関
数の計算を終えると、再補間演算を行い、この値をデフ
ォーカス量DFIS2に設定する（ステップ＃248）。つま
り、デフォーカス量DFIS2は下式のようになる。

DFIS2＝α・ＩM＋α・1/2・｛Ｈ（IM-1）− Ｈ（IM十1）｝／［ＭIN｛Ｈ（IM-1）,H（ IM+1）｝−Ｈ（IM）］そして、ワイドゾーンフラグWZF2をセットし（ステッ
プ＃249）、そののち、第11図のステップ＃43のデフォ
ーカス量演算サブルーチンに移行する。

次に、第13図のステップ＃93〜＃95の第６ブロックBL
6のデフォーカス量演算サブルーチンについて第26図を
用いて説明する。

まず、ブロックBL3,BL4,BL5で用いた差分データ列K2
（ｊ）およびS2（ｊ）よりそれぞれ７つ置きに差分をと
り、この差分データの隣接間の和分データ列KW（ｊ）お
よびSW（ｊ）を求める（ステップ＃251）。この和分デ
ータ列KW（ｊ）,SW（ｊ）は第10図のステップ＃26で入
力された差分データ列を用いて下式のようになる。

KW（ｍ）＝K2（ｍ）＋K2（ｍ＋１）＋K2（ｍ＋４）＋K2
（ｍ＋５） SW（ｌ）＝S2（ｌ）＋S2（ｌ＋１）＋S2（ｌ＋４）＋S2
（ｌ＋５）次に、相関関数Ｈ6(I)を求め、相関関数Ｈ6(I)の値が
最小になるシフト量ＩM（ＩM＝ＭIN｛Ｈ6(I)｝）を抽出
する（ステップ＃252,＃253）。この相関関数Ｈ6(I)は
下式のようになる。

ここで、上式のように基準部142aのデータ列から両端
のデータを除いて相関関数Ｈ6(I)を求めるのは、後述の
補間演算の際に最小シフト量ＩM近傍の相関関数Ｈ6（Ｉ
M-1）,H6（ＩM）,H6（ＩM+1）を用いるのではなく、相
関関数Ｈ6（ＩM-2）,H6（ＩM-1）,H6（ＩM+1）,H6（ＩM
+2）を用いるために相関関数Ｈ6（ＩM-2）,H6（ＩM+2）
での参照部142bのデータに対応する位置が大きくずれる
のを補正するためである（特開昭60-247211号参照）。

ステップ＃254では、これら相関関数Ｈ6（ＩM-2）,H6
（ＩM-1）,H6（ＩM+1）,H6（ＩM+2）を求める。すなわ
ち、これらの式は、となる。

これら相関関数Ｈ6（ＩM-2）,H6（ＩM-1）,H6（ＩM+
1）,H6（ＩM+2）を用いて補間演算を下式のように行う
（ステップ＃255）。

ＸM＝ＩM＋｛Ｈ6（ＩM-2）−（Ｈ6（ＩM+2）｝／［ＭIN ｛Ｈ6（ＩM-2）,H6（ＩM+2）｝−ＭAX｛Ｈ6（Ｉ M-1）,H6（ＩM+1）｝］/2 前記補間ピッチＸMに係数αを掛けてデフォーカス量D
F（DF＝ＸM・α）に換算する（ステップ＃256）。次い
で、第６ブロックBL６のデータの持つコントラスト値Ｃ
（６）を下式のように求める（ステップ＃257）。

続いて相関関数Ｈ6(IM)の最小値の補間値ＹM1を求
め、この補間値ＹM1とコントラスト値Ｃ（６）とを用い
て比の値Ｒ（６）を下式のように求める（ステップ＃25
8）。

ＹM1＝ＭAX｛Ｈ6（ＩM-1）,H6（ＩM+1）｝／｛｜Ｈ6（ＩM-2）−Ｈ6（ＩM+2）｜｝/2 Ｒ（６）＝Ｃ（６）／｛ＹM1−OF｝次いで、判定レベルＣth6,Rth6にそれぞれ所定値を設
定し、コントラスト値Ｃ（６）および比の値Ｒ（６）が
共に所定値を満足した場合のみ焦点検出可能とし、コン
トラスト値Ｃ（６）あるいは比の値Ｒ（６）のいずれか
一方でも満足しない場合には、焦点検出不能とする（ス
テップ＃259,＃260）。

そののち、第13図のフローチャートに移行し、ステッ
プ＃96あるいはステップ＃98の処理を行う。

次に、ステップ＃256の補間演算の手段について第27
図の例を用いて説明する。

まず、基準部142aのデータ列を“3,2,1,−1,−2,−3"
とし、参照部142bのデータ列を“4,3,2,1,−1,−2,−3,
−4"とすると、相関関数はＨ（０）＝0,H（−１）＝6,H
（１）＝６になる。ここで、参照部142bのデータ列にノ
イズが加わり、参照部142bのデータ列が“4,3,2,0,−1,
−1,−3,−4"に変化すると、相関関数はＨ（０）＝2,H
（−１）＝5,5,H（１）＝６になり、合焦点、すなわ
ち、相関関数Ｈ（ＩM）に対するノイズの影響が最も大
きく、相関関数Ｈ（ＩM-1）,H（ＩM+1）への影響は比較
的小さくなる。このため、相関関数Ｈ（ＩM）が周期的
な関数でない限り、相関関数Ｈ（ＩM）を用いずに、相
関関数Ｈ（ＩM）の前後の相関関数Ｈ（ＩM-2）,H（ＩM-
1）,H（ＩM+1）,H（ＩM+2）を用いてノイズの影響を小
さくするようにしている。

また、ステップ＃258では、第18図（ａ）のような通
常の補間演算を行うと、オフセット量が生じるため、補
間値ＹM1からＭAX｛Ｈ6（ＩM-1）,H6（ＩM+1）｝と相関
関数Ｈ6(IM)との差OF1、あるいはＭAX｛Ｈ6（ＩM-2）,H
6（ＩM+2）｝とＭAX｛Ｈ6（ＩM-1）,H6（ＩM+1）｝との
差OF2、あるいはコントラスト値Ｃ（６）を引いた値に
基づいて設定した値OFを用いて比の値Ｒ（６）の演算を
行う。

（発明の効果）本発明は、判定レベルを、焦点検出領域を分割した複
数の領域毎に設定するので、各領域毎に判定レベルを異
ならせて設定することができる。また、判定レベルを前
回の判定結果に応じて変更するので、前回の判定で焦点
が検出された後にレンズ駆動や手振れ等により被写体検
出の条件が若干変動しても焦点検出が可能と判定される
ようにすることができ、安定した焦点検出を行うことが
できる。

すなわち、本焦点検出装置を備えたカメラにより動い
ている被写体を撮影するような場合、一度被写体の焦点
が検出されると、その後も続けて該被写体の焦点検出が
行われるようにすることができ、したがって、該被写体
を連写することができる。

また、判定レベルを、隣接する光電変換素子のデータ
の差分を総和したコントラスト値に応じて変更するの
で、光電変換素子アレイ等で発生するノイズを被写体と
誤判断することを防止することができ、確実な焦点検出
を行うことができる。

さらに、判定レベルを、隣接する光電変換素子のデー
タの差分を総和したコントラスト値と、一対の光像の相
互比較により求められる相関値の最良相関値との比に応
じて変更するので、被写体が複数であった場合等でも、
焦点検出の対象となる被写体を誤ることなく、正確な焦
点検出を行うことができる。

また、焦点検出動作の１回目の判定レベルは、焦点検
出動作の２回目以降の前回焦点検出判定で前回焦点検出
可能とされた場合よりも緩和されるので、焦点検出の対
象の被写体を誤ることを防止することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る自動焦点検出装置を備えたカメラ
の概略構成図、第２図は焦点検出手段の機構構成図、第
３図は光電変換素子アレイを示す図、第４図はファイン
ダ内の撮影画面の焦点検出領域を示す図、第５図は第１
アイランド〜第３アイランドに対応する基準部を拡大し
た図、第６図，第７図は各ブロックのデフォーカス範囲
を説明する図、第８図は本発明に係る自動焦点検出装置
をマイコンを用いて構成したカメラの回路ブロック図、
第９図，第10図はマイコンの割り込み動作のフローチャ
ート、第11図〜第14図は第１アイランド〜第３アイラン
ドのデフォーカス量演算のサブルーチンを示すフローチ
ャート、第15図は露出演算のサブルーチンを示すフロー
チャート、第16図はデフォーカス量の演算手段を選択す
る手順を説明する図、第17図は平均処理幅を求めるサブ
ルーチンを示すフローチャート、第18図（ａ）は第３ブ
ロックのデフォーカス量の演算および焦点検出不能判断
を説明する図、第18図（ｂ）は人物が並んでいるような
場合に誤判定することを説明する図、第19図は各ブロッ
クの相関関数およびコントラスト値の演算を示す図、第
20図〜第22図はコントラスト限界の判定のサブルーチン
を示すフローチャート、第23図〜第25図は平均処理ルー
チンを示すフローチャート、第26図はデフォーカス量演
算サブルーチンを示すフローチャート、第27図は補間演
算の手段を説明する図である。１……自動焦点検出装置、２……撮影レンズ、３……焦
点検出手段、４……デフォーカス量決定手段、５……レ
ンズ位置検出手段、６……レンズ駆動手段、７……制御
手段、８……被写体、21……第１アイランド、22……第
２アイランド、23……第３アイランド、26……マイコ
ン、27……レンズ回路、28……焦点検出データ出力回
路、34……レンズ制御回路、35……電源電池、36……給
電回路、141a,142a,143a……基準部、141b,142b,143b…
…参照部、BL1……第１ブロック、BL2……第２ブロッ
ク、BL3……第３ブロック、BL4……第４ブロック、BL5
……第５ブロック、BL9……第９ブロック、BL10……第1
0ブロック、SW₁……電源スイッチ、SW₂……撮影準備ス
イッチ、SW₄……選択スイッチ。

フロントページの続き (72)発明者石橋賢司大阪府大阪市中央区安土町２丁目３番13 号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者糊田寿夫大阪府大阪市中央区安土町２丁目３番13 号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者上田浩大阪府大阪市中央区安土町２丁目３番13 号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者沖須宣之大阪府大阪市中央区安土町２丁目３番13 号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (56)参考文献特開昭63−17415（ＪＰ，Ａ) 特開昭60−247210（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−150310（ＪＰ，Ａ)

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】焦点検出領域に入射した被写体の光像に基
づいて焦点状態を検出する焦点検出装置において、前記
焦点検出領域を分割した複数の領域において、各領域毎
に判定レベルを設定する判定レベル設定手段と、前記各
領域毎に、設定された判定レベルと各領域のデータに基
づいた演算結果とを比較することにより焦点検出が可能
か否かを判定する判定手段と、前記判定結果を記憶する
記憶手段と、記憶された前回の判定結果に応じて前記判
定レベルを変更する変更手段とを備えたことを特徴とす
る焦点検出装置。
【請求項２】前記焦点検出装置は、複数の光電変換素子
からなる受光素子列を備え、前記判定レベルは隣接する
光電変換素子のデータの差分を総和したコントラスト値
に応じて変更されるようにしたことを特徴とする請求項
１記載の焦点検出装置。
【請求項３】前記焦点検出装置は、入射した被写体の光
像から得られた一対の光像を受光する複数の光電変換素
子からなる受光素子列を備え、前記判定レベルは隣接す
る光電変換素子のデータの差分を総和したコントラスト
値と、前記一対の光像の相互比較により求められる相関
値の最良相関値との比に応じて変更されることを特徴と
する請求項１記載の焦点検出装置。
【請求項４】焦点検出動作の１回目のときは、焦点検出
動作の２回目以降に前回焦点検出不能と判定されるとき
よりも判定レベルを低レベルにしたことを特徴とする請
求項１記載の焦点検出装置。