JP2665570B2 - 半固定抵抗器の検査方法および装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本願発明は、半固定抵抗器の検査
方法および装置に関し、フープ状フレームに等間隔に保
持される半固定抵抗器の摺動子を、所定個数ずつ一斉に
回転させて、この半固定抵抗器の検査を確実かつ効率的
に行うように構成したものに関する。

【０００２】

【従来の技術および発明が解決しようとする課題】たと
えば、半固定抵抗器は、その端子部を形成する金属部分
を一体に形成したフープ状のフレームを用い、このフー
プ状フレームに各種工程を付加することにより製造され
る。そして、その半固定抵抗器の製造過程において、端
子部間の抵抗値を計測しながら摺動子を回転させ、抵抗
体が正常に形成されているか否かの検査が行われる。こ
のような検査を連続的に行う場合、次々と連続的に搬送
されてきて所定のステーションに停止する半固定抵抗器
に対し、軸方向に出退するドライバ軸によってこのドラ
イバ軸の先端のドライバビットを上記の半固定抵抗器の
摺動子に係合させ、そうしてドライバ軸を回転させるこ
とにより上記摺動子の回転操作を行う機構を用いること
が考えられる。

【０００３】ところで、上記半固定抵抗器の摺動子に
は、上記のようなドライバビットと対応してこれに係合
する係合溝が形成されることになるが、この摺動子が常
に一定の回転位置にあるとは限らず、また、上記ドライ
バ軸のドライバビットも一定の回転位置にあるとは限ら
ない。そのため、単に上記摺動子の係合溝に向けてドラ
イバ軸を進出させても、それだけで係合溝とドライバビ
ットとの完全な係合を図ることは困難である。このよう
に、摺動子とドライバビットとが、そのままでは係合で
きない相対回転位置にある場合において、上記ドライバ
軸を強制的に摺動子に向けて移動させると、上記摺動子
を破損してしまうことになる。

【０００４】また、上記のように、連続的に送られてく
る半固定抵抗器の摺動子に対して繰り返しドライバ軸の
出退および回転駆動を行って上記摺動子の回転操作を行
う場合においては、上記半固定抵抗器の搬送系の誤差、
あるいはフープ状フレームと半固定抵抗器をつなぐリー
ド部分の変形等により、必ずしも上記半固定抵抗器上の
摺動子が、ドライバ軸の軸線上に一致して位置づけられ
るとは限らない。そうすると、上記と同様に、ドライバ
軸を単に進出させただけでは、その先端のドライバビッ
トがうまく半工程抵抗器の摺動子の係合溝に係合しない
ことがある。この場合、連続的に半工程抵抗器を搬送す
るための機構の精度を上げれば、いくらか上記の問題は
解決されるが、位置決め精度を上げるため等に要するコ
ストが膨大なものとなり、結局、半工程抵抗器の製造コ
ストを上昇させることになるので、にわかに採用しがた
い。

【０００５】この発明は、上記の事情のもとで考えださ
れたものであって、連続的に搬送されてくる半工程抵抗
器の摺動子を、ドライバによって回転させることによ
り、この半工程抵抗器の検査を行う場合において、摺動
子とドライバビットとの相対的な回転位置が適当な状態
となっていない場合においても、また、半固定抵抗器の
摺動子が、ドライバ軸の軸線方向と正確に一致していな
い場合が生じても、摺動子ないしは半固定抵抗器本体に
損傷を与えることなく、この半工程抵抗器の摺動子をド
ライバ軸によって適正に回転操作し、同時に端子間の抵
抗値を計測することにより、半工程抵抗器の検査を確実
かつ効率よく行うことができるようにすることをその課
題としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本願発明では次の技術的手段を講じている。

【０００７】すなわち、本願発明の第１の側面によって
提供される半固定抵抗器の検査装置は、支持枠に対して
可回転に支持された駆動軸と、この駆動軸に対し、その
軸線と同一の軸線をもつとともに、軸方向摺動可能かつ
相対回転不能に連結された伝動軸と、この伝動軸に対
し、軸線が上記伝動軸に対して一定の遊びをもって揺動
可能であって、かつ、相対回転不能に連結され、先端に
半固定抵抗器の摺動子に係合可能なドライバビットおよ
びこのドライバビットが上記摺動子に非係合状態に押し
当てられた状態においてもこの摺動子の中心孔に進入係
合可能なように上記ドライバビットの先端に突設された
円錐状のガイドピンを有するドライバ軸と、上記駆動軸
と上記伝動軸との間に設けられ、上記伝動軸をその軸方
向先端方向に付勢する第一バネと、上記伝動軸と上記ド
ライバ軸との間に設けられ、かつ、上記ドライバ軸を、
その軸線が上記伝動軸の軸線と一致し、または平行とな
るように付勢する第二バネと、上記伝動軸ないし上記ド
ライバ軸を、上記第一バネに抗して押動して退避させ、
かつ押動方向と逆方向に動くことにより上記第一バネの
弾力によって上記伝動軸ないし上記ドライバ軸を進出さ
せる押動手段とを備えたドライバ装置が所定ピッチで複
数個設けられたドライバ機構と、複数の半固定抵抗器を
等間隔で保持するフープ状フレームを搬送し、かつ、各
半固定抵抗器が上記ドライバ装置の各ドライバ軸と対応
するように位置づける搬送装置と、各半固定抵抗器の端
子に測定プローブを当て、端子間の抵抗を測定する測定
装置と、を備えることを特徴としている。

【０００８】そして、本願発明の第２の側面によって提
供される半固定抵抗器の検査方法は、上記第１の側面に
かかる半固定抵抗器の検査装置を用い、次の各ステップ
を行うことを特徴とする。

【０００９】すなわち、上記押動手段によって各ドライ
バ軸を退避させた状態において、上記フープ状フレーム
を搬送して、各半固定抵抗器を各ドライバ軸と対応して
位置させるステップ、上記押動手段によって各ドライバ
軸を進出させ、各ドライバ軸の先端のドライバビットを
上記第一バネの弾力によって各半固定抵抗器の摺動子に
押し当てるとともに、上記ガイドピンを上記摺動子の中
心孔に進入係合させるステップ、各ドライバ軸を所定角
度一斉に回転させ、各ドライバ軸の先端のドライバビッ
トをすべての半固定抵抗器の摺動子に係合させるステッ
プ、各半固定抵抗器の端子に測定プローブを当て、端子
間の抵抗を測定しつつ各ドライバ軸を一斉に所定方向に
所定角度回転させるステップ、を含むことを特徴とす
る。

【００１０】

【発明の作用および効果】本願発明にかかる半固定抵抗
器の検査装置が複数個有するドライバ装置におけるドラ
イバ軸は、単に進出可能なだけではなく、まず、駆動軸
に対して軸方向摺動可能に伝動軸を連結するとともに、
この伝動軸をバネによってドライバ軸をその先端側に進
出するように付勢する一方、この伝動軸を、押動手段に
よって上記の第一バネに抗して軸方向に退避させる構成
をとっている。このことは押動手段が上記と逆方向に動
くと、伝動軸は、第一バネの弾力によって進出させられ
ることを意味する。換言すると、本願発明における上記
装置においては、伝動軸ないしドライバ軸がその先端方
向に移動する力は、第一バネによって得ている。

【００１１】したがって、半固定抵抗器上の摺動子に設
けられた係合溝と、ドライバ軸先端のドライバビットと
が、そのままでは係合不能な回転位置をとっていたとし
ても、ドライバ軸が進出したとき、上記第一バネの弾力
によってドライバビットの先端が回転させるべき摺動子
の表面に接触するにすぎない。このため、ドライバ軸の
進出によって上記摺動子ないしは半固定抵抗器本体が破
損するといったことはない。

【００１２】そして、上記のように第一バネの弾力によ
ってドライバビットが摺動子の表面に対して係合溝への
非係合状態に接触している場合において、上記駆動軸な
いしドライバ軸を所定角度回転させれば、ドライバビッ
トと摺動子の係合溝の位置が適正となった時点において
上記第一バネの弾力によってドライバビットが自動的に
摺動子の係合溝に係合する。そして、続けて駆動軸ない
しドライバ軸を回転させることにより、上記摺動子を所
望の方向に所望量回転操作することができる。この時点
において、各半固定抵抗器の端子間の抵抗を測定するこ
とにより、各半工程抵抗器上の抵抗体が適正に形成され
ているか否かがわかる。

【００１３】さらに本願発明に係る半固定抵抗器の検査
装置においては、上記ドライバ軸は、伝動軸に対して固
定状態となっているのではなく、軸線が上記伝動軸の軸
線に対して所定の遊びをもって揺動可能となっていると
ともに、第二バネによって、ドライバ軸の軸線が常に上
記伝動軸の軸線と一致し、または平行となるように付勢
されている。そして、この検査装置のドライバ軸には、
単にドライバビットが設けられているのではなく、ドラ
イバビットが摺動子に非係合状態で接触させられている
状態においても摺動子の中心孔に進入係合可能な円錐状
のガイドピンが突設されている。

【００１４】したがって、回転操作するべき各半固定抵
抗器の摺動子の位置が伝動軸の軸線と一致せずに多少偏
位していたとしても、ドライバビットが摺動子の係合溝
に確実に係合させられる。すなわち、ドライバビット
は、伝動軸の軸線に対して上記第二バネの弾力に抗して
偏位することができるのであって、それゆえに、ドライ
バビットが摺動子にむけて進出させられた際に、ドライ
バビット自体が摺動子の係合溝に係合することができな
くとも、円錐状のガイドピンがその案内作用によって上
記摺動子の中心孔に確実に係合する。そして、上述した
ように、ドライバ軸を回転させることにより、ドライバ
ビットと摺動子の係合溝の相互位置が適正となった時点
において、上記第一バネの弾力によってドライバビット
が自動的に摺動子の係合溝に係合するのである。そし
て、そのままの状態で伝動軸を回転させることにより、
各半固定抵抗器の摺動子を回転操作することが可能とな
る。

【００１５】このように、本願発明にかかる半固定抵抗
器の検査装置およびこれを用いた検査方法によれば、フ
ープ状フレームに等間隔に保持され連続的に送られてく
る半固定抵抗器を、その摺動子を回転させながらその検
査を連続的に行う場合において、摺動子ないしは半固定
抵抗器本体を破損させるといった心配がなく、しかも、
フープ状フレームと半固定抵抗器をつなぐリードに変形
が生じるなどして各半固定抵抗器の位置が多少狂ってい
たとしても、問題なく各半固定抵抗器の摺動子を回転操
作して、その検査を行うことができる。

【００１６】そして、本願発明にかかる半固定抵抗器の
検査装置は、上記構成を備えるドライバ軸を有するドラ
イバ装置が所定間隔で複数個設けられているので、フー
プ状フレームに等間隔で保持された半固定抵抗器の検査
を、複数個ずつ一括して行うことができる。その結果、
上記半固定抵抗器の検査効率の飛躍的な向上を図ること
ができるとともに、製品の歩留りを格段に向上させるこ
とができる。しかも、フープ状フレームに保持された形
態での半固定抵抗器の搬送装置の搬送精度をそれほど上
げる必要もなくなることから、装置全体としてのコスト
も比較的低廉に抑制することができる。このことも、最
終的な製品のコストダウンにつながる。

【００１７】

【実施例の説明】以下、本願発明にかかる半固定抵抗器
の検査装置の好ましい実施例を、図面を参照しつつ具体
的に説明する。そして、その後、この検査装置を用いた
検査方法の説明に及ぶ。

【００１８】図１は、本願発明にかかる検査装置が備え
るドライバ装置を示している。図１に示すように、適当
な支持枠１を貫通させるようにして、駆動軸２が回転可
能に支持されている。上記支持枠１の上面に突出する上
記駆動軸２の上端部には、プーリ３が取付けられ、この
プーリ３に掛け回される無端状のベルト４を介して、こ
の駆動軸２は所定方向に所定量回転させられることがで
きる。上記支持枠１の下端から突出する上記駆動軸２の
下端部には、後記する伝動軸５を軸方向摺動可能かつ相
対回転不能に支持するための伝動軸ホルダ６が設けられ
ている。この伝動軸ホルダ６には、図２に示すように、
駆動軸２の軸心と一致する軸心をもつスプライン穴７が
形成されており、このスプライン穴７に対して上記伝動
軸５の上端のスプライン軸５ａが通挿されている。これ
により上記伝動軸５は、駆動軸２に対して同一軸線をも
ちながらその軸方向に相対往復摺動可能であり、かつ、
駆動軸２の回転とともに回転させられることになる。な
お、伝動軸５が、所定の摺動範囲でのみ摺動しうるよう
に、図示しない摺動行程規定用ストッパが設けられてい
ることはもちろんである。

【００１９】上記伝動軸５の下端部には、さらに、ドラ
イバ軸連結体９が嵌合固着されている。このドライバ軸
連結体９は、全体として上記伝動軸５の下端外周に嵌合
する筒状を呈しており、その外周における上下軸方向適
部には、外周フランジ１０が形成されている。さらにこ
の伝動軸５は、図１に表れているように、伝動軸ホルダ
６の下面と、上記ドライバ軸連結体９の上面との間に圧
縮コイルバネからなる第一バネ１１が介装されることに
より、その軸方向移動行程の下端に向けて常時弾力付勢
されている。上記ドライバ軸連結体９の下端にはさらに
先端にドライバビット１２を有するドライバ軸１３が連
結されている。

【００２０】本実施例において上記ドライバ軸１３は、
ドライバボルダ１４の中心孔に基端が挿入固定された形
態をもっており、このドライバボルダ１４を上記ドライ
バ軸連結体９に対して連結している。本願発明において
は、ドライバ軸１３は、伝動軸５に対して、軸線が所定
の遊びをもって揺動しうるようにして連結されている。

【００２１】すなわち、上記ドライバ軸連結体９の軸方
向貫通孔１５に対し、その内径よりやや小さい外径をも
つようにして上記ドライバホルダ１４の上端軸部１６を
形成する一方、これらを互いに嵌合させるとともに、ピ
ン１７を上記ドライバホルダの上端軸部１６およびドラ
イバ軸連結体９の下方筒状部に連通挿させている。この
ピン１７により、ドライバホルダ１４の上記ドライバ軸
連結体９に対する抜けが阻止されるとともに、ドライバ
ホルダ１４のドライバ軸連結体９に対する相対回転不可
能状態が達成される。

【００２２】なお、上記ピン１７を通挿するためにドラ
イバホルダ１４の上端軸部１６に設けるべき横方向嵌通
穴１８の内径は、上記ピン１７に対して若干の余裕をも
ったものに設定してあり、したがって、ドライバホルダ
１４の上端軸部１６の外径と、ドライバ連結体９の軸方
向貫通穴１５の内径との間に若干の余裕を設けているこ
ととあいまって、上記ドライバホルダ１４に固定支持さ
れるドライバ軸１３は、その軸線が上記ピン１７付近を
中心として揺動可能となる。このようなドライバ軸１３
の揺動により、ドライバビット１２の位置は、駆動軸２
ないし伝動軸５の軸線に対して横方向に偏位しうること
になる。なお、この偏位量は、わずかであってよく、ド
ライバ軸連結体９の軸方向貫通穴１５と、これに嵌合通
挿されるドライバホルダ１４の上端軸部１６のそれぞれ
の径ならびに嵌合部軸方向長さを適当に設定することに
より、変更可能である。

【００２３】さらに、上記ドライバ軸連結体９と、ドラ
イバホルダ１４との間には、それぞれに設けた段部９
ａ，１４ａに両端が弾接するようにして圧縮コイルバネ
からなる第二バネ１９が介装されている。この第二バネ
１９は、上記のようにドライバ軸連結体９に対して若干
揺動可能となっているドライバホルダ１４ないしドライ
バ軸１３が、常にその軸心が上記伝動軸５ないし駆動軸
２の軸線と一致するように復帰させる作用を営む。すな
わち、なんらの外力も作用していない状態においては、
上記ドライバホルダ１４ないしドライバ軸１３の軸線
は、伝動軸５ないし駆動軸２の軸線と一致させられてい
る。また、ドライバビット１２に軸直角方向の外力が作
用すれば、上記ドライバ軸１３ないしドライバホルダ１
４は上記第二バネ１９の付勢力に抗してピン１７付近を
支点として揺動させられることになる。そして外力が解
除されれば、上述のように、ドライバホルダ１４ないし
ドライバ軸１３は、その軸心が伝動軸５の軸心と一致す
るように復帰する。

【００２４】なお本実施例における上記ドライバ軸１３
の先端のドライバビット１２は、いわゆるマイナスねじ
の形態となっているとともに、加えて、円錐状のガイド
ピン２０が突出させられている。上記の構成を備えるド
ライバ軸１３は、その軸方向に進退させられるととも
に、伝動軸５を介して駆動軸の回転が伝達させられるの
であるが、軸方向への往復移動は、上記伝動軸５が第一
バネ１１によって進出方向に付勢されていることとあい
まって、次のようにしてなされる。

【００２５】すなわち、上記ドライバ軸連結体９に設け
たフランジ１０の下面に当接するカムローラ２１を有す
る押動手段２２が設けられる。この押動手段２２は、図
１において図示しない駆動手段によって上下方向に往復
移動させられる。上記カムローラ２１は回転可能である
ために、ドライバ軸連結体９が回転状態にあったとして
も、押動手段２２を伝動軸５の軸方向に移動させること
により、上記伝動軸ないしドライバ軸連結体９は、その
フランジ１０の下面と上記カムローラ２１との弾接状態
を維持しつつ軸方向に往復移動させられる。より具体的
には、上記カムローラ２１が図の上方に移動させられる
と、上記伝動軸５ないしドライバ軸連結体９、さらには
その先端に設けられるドライバ軸１３が、第一バネ１１
の弾力に抗して上方に押し上げられる一方、上記カムロ
ーラ２１が図の下方に移動すると、この移動に従動しつ
つ上記伝動軸５ないしその先端側に付属するドライバ軸
１３は、上記第一バネの弾力によって図の下方に移動す
ることになる。

【００２６】上記のような構成を備えるドライバ装置
が、複数個等間隔に配置されて本願発明にかかる半固定
抵抗器の検査装置が構成される。各ドライド装置のドラ
イバ軸のピッチ間隔は、フープ状のフレームに担持され
た形態の半固定抵抗器のピッチと対応させられているの
であり、このようなフープ状フレームに担持された半固
定抵抗器を、所定個数ずつ搬送して、各半固定抵抗器が
各ドライバ装置のドライバ軸１３と対応するように位置
させ、この状態において後記するように、各半固定抵抗
器の摺動子を各ドライバ軸の先端のドライバビットに回
転させながら、その検査を行うのである。

【００２７】上記半固定抵抗器２３は、図３に示すよう
に、チップ状基板２５の表面に馬蹄形をした抵抗体２６
を形成するとともに、回転摺動子２４の一部を上記抵抗
体２６に接触させ、この回転摺動子２４の回転位置を変
更することにより、抵抗体２６の一端と導通する端子
と、回転摺動子２４と導通する端子２７，２８間の抵抗
をユーザの所望の値に設定することができるようになっ
た抵抗器である。このような半固定抵抗器２３の製造の
最終段階において、上記摺動子２４を回転させつつ端子
２７，２８間の抵抗を測定して、抵抗値に異常な変化が
ないことを確認して、上記抵抗体２６あるいは各半固定
抵抗器の品質を保証するのである。

【００２８】上記回転摺動子２４は、図３に示されるよ
うに、基本的にユーザ側がマイナスのドライバビットを
用いて回転させることができるように係合溝２９が形成
されている。上記のごとくドライバ装置を複数個備えた
検査装置においてはしたがって、ドライバビット１２と
して、上記回転摺動子２４に設けられる係合溝２９と対
応したマイナス状のドライバビットが採用されているの
であり、さらに、本実施例においては、前述したよう
に、ドライバビット１２の先端に円錐状のガイドピン２
０を形成しておくのである。

【００２９】このガイドピン２０は、上記回転摺動子２
４をチップ状基板２５に組み付けるために設けられ、か
つ中心孔をなす筒軸部２４ａに進出嵌入しうるようにな
っている。そして、このガイドピン２０の突出量は、ド
ライバビット１２が摺動子２４の外面に非係合状態で接
触させられた状態におていも、上記筒軸部２４ａに嵌入
係合しうるように設定される。そして、上記ガイドピン
２０は、円錐状となっているがゆえに、ドライバビット
１２の先端の位置と、半固定抵抗器２３の位置がドライ
バビットの軸直角方向に若干ずれていたとしても、上記
ドライバ軸１３が中立状態への復帰力をもって揺動可能
であることとあいまって、問題なく上記回転摺動子２４
の筒軸部２４ａに係合することができる。

【００３０】図４に概略的に示すように、本願発明にか
かる半固定抵抗器の検査装置として、上記した構成をも
つドライバ装置が６個等間隔に配置されており、これら
６個のドライバ装置は、駆動軸２の上端のプーリ３に、
それぞれ共通のベルト４を掛け回すことにより、各駆動
軸２が、同期的にかつ同方向に回転させられるようにな
っている。

【００３１】また、上記押動手段２２として、揺動させ
られるリンクの横杆３０によって構成され、この横杆３
０に、各ドライバ装置と対応した６個のカムローラ２１
が等間隔に支持されている。各カムローラ２１は、検査
装置の駆動源によってタイミングをとられつつ揺動変形
する上記揺動リンクの横杆３０の上下動によって上下移
動させられる。

【００３２】また、各ドライバ装置の軸線と対応する所
定部位には、上記のごとくフープ状フレームによって等
間隔に保持された半固定抵抗器２３が、１送りピッチに
つき６個分送られるように構成した搬送装置によって搬
送されるようになっている。

【００３３】以上の構成において、フープ状フレームに
担持された半固定的抵抗器２３が、各ドライバ装置の軸
線と対応して位置づけられると、まず、退避させられて
いた各伝動軸５が、いっせいに前進させられる。この前
進は上述のしたように、第一バネ１１の弾力によって行
われるので、仮に各ドライバ軸のドライバビットの回転
位置が、各半固定抵抗器上の回転摺動子２４の係合溝２
９と対応しない回転位置となっていたとしても、ドライ
バビットの先端が回転摺動子２４の表面に上記第一バネ
１１の弾力によって当接させられるにとどまる。したが
って、上記回転摺動子２４が強大な押圧力によってドラ
イバビット１２に押圧されることにより破損するという
事態は起こりえない。

【００３４】この状態において次に、まず各駆動軸２
を、たとえば約１８０°回転させる。上記のようにドラ
イバビットはマイナス状であるから、このようにして１
８０°回転させられる間に、すべてのドライバビット
は、各回転摺動子２４の係合溝２９に上記第一バネ１１
の弾力によって自動的に係入する。なおこのとき、仮に
各半固定抵抗器２３の位置が、多少各ドライバ軸１３の
軸心に対してずれていたとしても、上記のように円錐状
のガイドピン２０が回転摺動子２４の筒軸部２４ａに案
内されながら係合するので、確実にドライバビット１２
の回転摺動子２４への適当な当接ないしはこれに続く係
合溝２９への自動係入が達成される。

【００３５】こうしてすべてのドライバビット１２が各
半固定抵抗器の回転摺動子２４に係合した状態におい
て、次に、各半固定抵抗器２３の端子２８に測定プロー
ブ（図示略）を当てて、端子２７，２８間の抵抗を測定
しつつ駆動軸２をいっせいに所定方向に所定回転量回転
させる。このとき、抵抗体２６が、設計どうりに形成さ
れておれば、測定中の抵抗値の変化は期待されたものと
なるが、たとえば抵抗体２６の一部に断面が極端に小さ
い欠陥部位が形成されているとすると、回転摺動子２４
を回転させている途中において、上記端子２７，２８間
の測定抵抗値が異常な変化を示すことになる。このよう
にして、半固定抵抗器２３のとりわけ抵抗体２６の品質
をチェックすることができるのである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願発明にかかる半固定抵抗器の検査装置が有
するドライバ装置の一実施例を示す部分断面正面図であ
る。

【図２】図ＩのII−II線拡大断面図である。

【図３】作用説明図である。

【図４】本願発明にかかる半固定抵抗器の検査装置の略
示正面図である。

【図５】図４のＶ方向矢視図である。

【符号の説明】

１ 支持枠 ２ 駆動軸 ５ 伝動軸 １１ 第一バネ １２ ドライバビット １３ ドライバ軸 １９ 第二バネ ２２ 押動手段 ２３ 半固定抵抗器 ２４ 回転摺動子 ２６ 抵抗体 ２９ 係合溝 ２７，２８ 端子

フロントページの続き (72)発明者 西村 誠 京都市右京区西院溝崎町21番地 ローム 株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−51027（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−140799（ＪＰ，Ａ) 実開 昭53−130599（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭53−123448（ＪＰ，Ｕ)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 支持枠に対して可回転に支持された駆動
   軸と、この駆動軸に対し、その軸線と同一の軸線をもつ
   とともに、軸方向摺動可能かつ相対回転不能に連結され
   た伝動軸と、この伝動軸に対し、軸線が上記伝動軸に対
   して一定の遊びをもって揺動可能であって、かつ、相対
   回転不能に連結され、先端に半固定抵抗器の摺動子に係
   合可能なドライバビットおよびこのドライバビットが上
   記摺動子に非係合状態に押し当てられた状態においても
   この摺動子の中心孔に進入係合可能なように上記ドライ
   バビットの先端に突設された円錐状のガイドピンを有す
   るドライバ軸と、上記駆動軸と上記伝動軸との間に設け
   られ、上記伝動軸をその軸方向先端方向に付勢する第一
   バネと、上記伝動軸と上記ドライバ軸との間に設けら
   れ、かつ、上記ドライバ軸を、その軸線が上記伝動軸の
   軸線と一致し、または平行となるように付勢する第二バ
   ネと、上記伝動軸ないし上記ドライバ軸を、上記第一バ
   ネに抗して押動して退避させ、かつ押動方向と逆方向に
   動くことにより上記第一バネの弾力によって上記伝動軸
   ないし上記ドライバ軸を進出させる押動手段とを備えた
   ドライバ装置が所定ピッチで複数個設けられたドライバ
   機構と、複数の半固定抵抗器を等間隔で保持するフープ
   状フレームを搬送し、かつ、各半固定抵抗器が上記ドラ
   イバ装置の各ドライバ軸と対応するように位置づける搬
   送装置と、各半固定抵抗器の端子に測定プローブを当
   て、端子間の抵抗を測定する測定装置と、を備えること
   を特徴とする、半固定抵抗器の検査装置。
2. 【請求項２】 支持枠に対して可回転に支持された駆動
   軸と、この駆動軸に対し、その軸線と同一の軸線をもつ
   とともに、軸方向摺動可能かつ相対回転不能に連結され
   た伝動軸と、この伝動軸に対し、軸線が上記伝動軸に対
   して一定の遊びをもって揺動可能であって、かつ、相対
   回転不能に連結され、先端に半固定抵抗器の摺動子に係
   合可能なドライバビットおよびこのドライバビットが上
   記摺動子に非係合状態に押し当てられた状態においても
   この摺動子の中心孔に進入係合可能なように上記ドライ
   バビットの先端に突設された円錐状のガイドピンを有す
   るドライバ軸と、上記駆動軸と上記伝動軸との間に設け
   られ、上記伝動軸をその軸方向先端方向に付勢する第一
   バネと、上記伝動軸と上記ドライバ軸との間に設けら
   れ、かつ、上記ドライバ軸を、その軸線が上記伝動軸の
   軸線と一致し、または平行となるように付勢する第二バ
   ネと、上記伝動軸ないし上記ドライバ軸を、上記第一バ
   ネに抗して押動して退避させ、かつ押動方向と逆方向に
   動くことにより上記第一バネの弾力によって上記伝動軸
   ないし上記ドライバ軸を進出させる押動手段とを備えた
   ドライバ装置が所定ピッチで複数個設けられたドライバ
   機構と、複数の半固定抵抗器を等間隔で保持するフープ
   状フレームを搬送し、かつ、各半固定抵抗器が上記ドラ
   イバ装置の各ドライバ軸と対応するように位置づける搬
   送装置と、各半固定抵抗器の端子に測定プローブを当
   て、端子間の抵抗を測定する測定装置と、を備える測定
   機構を用いた半固定抵抗器の検査機構であって、 上記押動手段によって各ドライバ軸を退避させた状態に
   おいて、上記フープ状フレームを搬送して、各半固定抵
   抗器を各ドライバ軸と対応して位置させるステップ、 上記押動手段によって各ドライバ軸を進出させ、各ドラ
   イバ軸の先端のドライバビットを上記第一バネの弾力に
   よって各半固定抵抗器の摺動子に押し当てるとともに、
   上記ガイドピンを上記摺動子の中心孔に進入係合させる
   ステップ、 各ドライバ軸を所定角度一斉に回転させ、各ドライバ軸
   の先端のドライバビットをすべての半固定抵抗器の摺動
   子に係合させるステップ、 各半固定抵抗器の端子に測定プローブを当て、端子間の
   抵抗を測定しつつ各ドライバ軸を一斉に所定方向に所定
   角度回転させるステップ、 を含むことを特徴とする、半固定抵抗器の検査方法。