JP2644098B2 - 分光測定装置 - Google Patents
分光測定装置Info
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- JP2644098B2 JP2644098B2 JP7766791A JP7766791A JP2644098B2 JP 2644098 B2 JP2644098 B2 JP 2644098B2 JP 7766791 A JP7766791 A JP 7766791A JP 7766791 A JP7766791 A JP 7766791A JP 2644098 B2 JP2644098 B2 JP 2644098B2
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- Japan
- Prior art keywords
- sample
- unit
- light
- spectrometer
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- Expired - Lifetime
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、支持装置に支持された
試料に測定用の光線束を照射する投光部と、前記試料を
透過する透過光線束を受光する受光部を設けてある分光
測定装置に関する。
試料に測定用の光線束を照射する投光部と、前記試料を
透過する透過光線束を受光する受光部を設けてある分光
測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の分光測定装置としては、前記支
持装置を、例えば乾燥、粉砕した後の穀物を試料として
載置する載置部のみ設けたものがあり(特公平1−49
890号公報記載)、蛋白・アミロースの含有量と食味
に高相関関係が認められる米の近赤外分光技術による成
分分析に用いられている。
持装置を、例えば乾燥、粉砕した後の穀物を試料として
載置する載置部のみ設けたものがあり(特公平1−49
890号公報記載)、蛋白・アミロースの含有量と食味
に高相関関係が認められる米の近赤外分光技術による成
分分析に用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の従来技
術では、試料の作成に時間がかかるばかりでなく、分析
結果も生の穀物に対する結果としては試料の厚みや密度
のばらつきに起因して正確さに欠けるものであるという
欠点があった。例えば米の成分分析に際しては、試料の
作成に、籾米を乾燥、籾摺、精白、粉砕という多工程
と、30時間以上の長時間を要するものであったため、
作業が煩雑であるという欠点があり、しかも乾燥工程を
経るものであるので水分含有量が正確に検出できないと
いう欠点もあった。一方、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるためには、乾燥工程に入る前に、収
穫後集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類すること
が必要である。生籾は収穫後1日以内に乾燥しないと品
質が急速に劣化するからである。しかし、籾米に対して
籾殻を介して分光分析すると透過光量が低下して正確に
分析できず、そのような短時間の分類を可能にするよう
な短時間の成分分析を可能とする測定装置がないため、
それを可能にする装置が望まれていた。本発明の目的は
上述した従来欠点を解消する点にある。
術では、試料の作成に時間がかかるばかりでなく、分析
結果も生の穀物に対する結果としては試料の厚みや密度
のばらつきに起因して正確さに欠けるものであるという
欠点があった。例えば米の成分分析に際しては、試料の
作成に、籾米を乾燥、籾摺、精白、粉砕という多工程
と、30時間以上の長時間を要するものであったため、
作業が煩雑であるという欠点があり、しかも乾燥工程を
経るものであるので水分含有量が正確に検出できないと
いう欠点もあった。一方、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるためには、乾燥工程に入る前に、収
穫後集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類すること
が必要である。生籾は収穫後1日以内に乾燥しないと品
質が急速に劣化するからである。しかし、籾米に対して
籾殻を介して分光分析すると透過光量が低下して正確に
分析できず、そのような短時間の分類を可能にするよう
な短時間の成分分析を可能とする測定装置がないため、
それを可能にする装置が望まれていた。本発明の目的は
上述した従来欠点を解消する点にある。
【0004】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明による分光測定装置の特徴構成は、支持装置
に支持された試料に測定用の光線束を照射する投光部
と、前記試料を透過する透過光線束を受光する受光部を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置を、複
数の試料を各別に分離載置する載置部と、前記載置部へ
の載置状態で前記載置部に沿った横方向移動により前記
試料の上下端を切断する上下一対の刃と、前記刃により
切断された上下の切断片を同じく横方向移動により排除
する排除部で構成して、前記投光部を前記載置部の上方
に配置し、前記受光部を前記載置部の底部それぞれに配
置してあることにある。
め、本発明による分光測定装置の特徴構成は、支持装置
に支持された試料に測定用の光線束を照射する投光部
と、前記試料を透過する透過光線束を受光する受光部を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置を、複
数の試料を各別に分離載置する載置部と、前記載置部へ
の載置状態で前記載置部に沿った横方向移動により前記
試料の上下端を切断する上下一対の刃と、前記刃により
切断された上下の切断片を同じく横方向移動により排除
する排除部で構成して、前記投光部を前記載置部の上方
に配置し、前記受光部を前記載置部の底部それぞれに配
置してあることにある。
【0005】
【作用】載置部に各別に分離載置された試料は、上下一
対の刃の載置部に沿った横方向移動により上下端が切断
される。上下の切断片は、刃と同様に排除部の載置部に
沿った横方向移動により載置部から除去され、載置部上
には上下端が切断された試料が残る。この試料に対し
て、載置部上方の投光部から測定用の光線束を各試料に
照射して、試料を透過した光線束を、載置部の底部に各
別に設けてある受光部で受けるのである。
対の刃の載置部に沿った横方向移動により上下端が切断
される。上下の切断片は、刃と同様に排除部の載置部に
沿った横方向移動により載置部から除去され、載置部上
には上下端が切断された試料が残る。この試料に対し
て、載置部上方の投光部から測定用の光線束を各試料に
照射して、試料を透過した光線束を、載置部の底部に各
別に設けてある受光部で受けるのである。
【0006】
【発明の効果】従って、本発明によれば収穫後の試料に
対して、何ら加工工程を経ることなく直に成分分析でき
るので、作業工程が簡素化され、短い作業時間で正確な
測定がができる分光測定装置を提供することができるよ
うになったばかりでなく、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるため、乾燥工程に入る前に、収穫後
集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類することを可
能とする測定装置を提供できるようになった。
対して、何ら加工工程を経ることなく直に成分分析でき
るので、作業工程が簡素化され、短い作業時間で正確な
測定がができる分光測定装置を提供することができるよ
うになったばかりでなく、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるため、乾燥工程に入る前に、収穫後
集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類することを可
能とする測定装置を提供できるようになった。
【0007】
【実施例】以下に本発明の一実施例である籾米を試料S
とする分光測定装置について説明する。分光測定装置
は、図1、図2及び図3に示すように、試料Sを支持す
る支持装置1と、支持装置1の上方から試料Sに測定用
の光線束を照射する投光部2と、試料Sを透過した光線
束を支持装置1の下方から集光する受光部としての光フ
ァイバ3と、試料Sを透過する光線束に基づき試料Sの
成分を分析出力する分光装置4と、分光結果を統計処理
する計算機5等で構成してある。
とする分光測定装置について説明する。分光測定装置
は、図1、図2及び図3に示すように、試料Sを支持す
る支持装置1と、支持装置1の上方から試料Sに測定用
の光線束を照射する投光部2と、試料Sを透過した光線
束を支持装置1の下方から集光する受光部としての光フ
ァイバ3と、試料Sを透過する光線束に基づき試料Sの
成分を分析出力する分光装置4と、分光結果を統計処理
する計算機5等で構成してある。
【0008】前記支持装置1は、試料Sを一粒ずつ分離
載置する載置部9と、前記載置部への載置状態で前記載
置部9に沿った横方向移動により前記試料Sの上下端を
切断する上下一対の刃10C,11Cと、前記刃10
C,11Cにより切断された上下の切断片S’を同じく
横方向移動により排除する排除部10D,11Dで構成
してある。
載置する載置部9と、前記載置部への載置状態で前記載
置部9に沿った横方向移動により前記試料Sの上下端を
切断する上下一対の刃10C,11Cと、前記刃10
C,11Cにより切断された上下の切断片S’を同じく
横方向移動により排除する排除部10D,11Dで構成
してある。
【0009】詳述すると、試料Sを一粒ずつ分離するた
めの複数の投入用開孔6Aを形成してある上板6と、投
入用開孔6Aに対応する位置に試料Sの横方向移動を阻
止する保持用開孔7A及び保持用開孔7Aに隣接して試
料Sの上側の切断片S’を落下除去する除去用開孔7B
を形成してある中板7と、除去用開孔7Bに対応する位
置に試料Sの上下両切断片S’を落下除去する除去用開
孔8Bを形成してある底板8を重ねて載置部9を構成し
てあり、上板6と中板7の間、及び中板7と底板8の間
にそれら間を横方向に往復移動自在の摺動板10,11
を配置してある。前記摺動板10,11には、前記投入
用開孔6Aに対応する位置にそれぞれ開孔10A,11
Aを形成してあり、それら開孔10A,11Aのうち復
動側の周部10C,11Cに鋭利な刃部を設けてある。
前記刃部10C,11Cの復動側には前記刃部10C,
11Cで切断された試料Sの切断片S’を落下除去する
開孔10B,11Bを形成してあり、さらにその復動側
には前記摺動板10,11の往動に伴い前記刃部10
C,11Cで切断された試料Sの切断片S’を開孔10
B,11B及び除去用開孔7B,8Bから落下するよう
に切断片S’を往動側に押し出す排除部10D,11D
としての突起を形成してある。前記底板8のうち前記投
入用開孔6A及び保持用開孔7Aに対応する位置の中央
部には試料Sを透過した光線束の集光用の単数又は複数
本の光ファイバ3を設けてあり、この光ファイバ3の他
端は他の光ファイバ3とで束ねられて光ファイババンド
ルとして前記分光装置4に導かれる。即ち、本分光測定
装置は一粒ずつ分離載置された試料Sの平均の成分分析
を一度に行うことになる。
めの複数の投入用開孔6Aを形成してある上板6と、投
入用開孔6Aに対応する位置に試料Sの横方向移動を阻
止する保持用開孔7A及び保持用開孔7Aに隣接して試
料Sの上側の切断片S’を落下除去する除去用開孔7B
を形成してある中板7と、除去用開孔7Bに対応する位
置に試料Sの上下両切断片S’を落下除去する除去用開
孔8Bを形成してある底板8を重ねて載置部9を構成し
てあり、上板6と中板7の間、及び中板7と底板8の間
にそれら間を横方向に往復移動自在の摺動板10,11
を配置してある。前記摺動板10,11には、前記投入
用開孔6Aに対応する位置にそれぞれ開孔10A,11
Aを形成してあり、それら開孔10A,11Aのうち復
動側の周部10C,11Cに鋭利な刃部を設けてある。
前記刃部10C,11Cの復動側には前記刃部10C,
11Cで切断された試料Sの切断片S’を落下除去する
開孔10B,11Bを形成してあり、さらにその復動側
には前記摺動板10,11の往動に伴い前記刃部10
C,11Cで切断された試料Sの切断片S’を開孔10
B,11B及び除去用開孔7B,8Bから落下するよう
に切断片S’を往動側に押し出す排除部10D,11D
としての突起を形成してある。前記底板8のうち前記投
入用開孔6A及び保持用開孔7Aに対応する位置の中央
部には試料Sを透過した光線束の集光用の単数又は複数
本の光ファイバ3を設けてあり、この光ファイバ3の他
端は他の光ファイバ3とで束ねられて光ファイババンド
ルとして前記分光装置4に導かれる。即ち、本分光測定
装置は一粒ずつ分離載置された試料Sの平均の成分分析
を一度に行うことになる。
【0010】前記分光装置4は透過光線束を分光して胚
乳部の水分、蛋白、アミロース等の成分に対応する特定
波長毎の強度を検出するもので、その検出出力を前記計
算機5に入力してさらに平均化処理等を行うことで、各
ロットの平均的品質を同定する。
乳部の水分、蛋白、アミロース等の成分に対応する特定
波長毎の強度を検出するもので、その検出出力を前記計
算機5に入力してさらに平均化処理等を行うことで、各
ロットの平均的品質を同定する。
【0011】以下、本発明の別実施例を説明する。先の
実施例では試料として籾米を対象とするものを説明した
が、試料は籾米に限定するものではなく、任意の穀物と
することができる。試料Sを一粒ずつ分離載置するため
の支持装置1における試料Sの配置は先の実施例に限定
するものではなく任意であり、M行N列のマトリックス
や千鳥状に配置してもよい。先の実施例では支持装置と
して水平方向に配置された載置部に複数の試料を載置す
るものについて説明したが、鉛直方向に配置された保持
部に複数の試料を保持するものであってもよい。分光装
置4として、近赤外の波長を対象とするものを用いてい
るが、特に限定するものではなく任意の波長を対象とす
るものであってよい。また、分光装置4の構成も限定す
るものではなく、プリズムを用いたものや回折格子を用
いたもの等任意である。尚、特許請求の範囲の項に図面
との対照を便利にする為に符号を記すが、該記入により
本発明は添付図面の構成に限定されるものではない。
実施例では試料として籾米を対象とするものを説明した
が、試料は籾米に限定するものではなく、任意の穀物と
することができる。試料Sを一粒ずつ分離載置するため
の支持装置1における試料Sの配置は先の実施例に限定
するものではなく任意であり、M行N列のマトリックス
や千鳥状に配置してもよい。先の実施例では支持装置と
して水平方向に配置された載置部に複数の試料を載置す
るものについて説明したが、鉛直方向に配置された保持
部に複数の試料を保持するものであってもよい。分光装
置4として、近赤外の波長を対象とするものを用いてい
るが、特に限定するものではなく任意の波長を対象とす
るものであってよい。また、分光装置4の構成も限定す
るものではなく、プリズムを用いたものや回折格子を用
いたもの等任意である。尚、特許請求の範囲の項に図面
との対照を便利にする為に符号を記すが、該記入により
本発明は添付図面の構成に限定されるものではない。
【図1】分光測定装置の測定前の概略構成図
【図2】分光測定装置の測定時の概略構成図
【図3】支持装置の分解斜視図
1 支持装置 2 投光部 3 受光部 9 載置部 10C 刃 11C 刃 10D 排除部 11D 排除部 S 試料 S’ 切断片
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土本 正明 兵庫県尼崎市浜1丁目1番1号 株式会 社クボタ 技術開発研究所内 (56)参考文献 特開 平4−310849(JP,A) 特開 昭63−30740(JP,A) 特開 昭55−57130(JP,A) 実開 平2−19494(JP,U) 実開 昭56−9039(JP,U)
Claims (3)
- 【請求項1】 支持装置(1)に支持された試料(S)
に測定用の光線束を照射する投光部(2)と、前記試料
(S)を透過する透過光線束を受光する受光部(3)を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置(1)
を、複数の試料(S)を各別に分離載置する載置部
(9)と、前記載置部(9)への載置状態で前記載置部
(9)に沿った横方向移動により前記試料(S)の上下
端を切断する上下一対の刃(10C),(11C)と、前
記刃(10C),(11C)により切断された上下の切断
片(S')を同じく横方向移動により排除する排除部(1
0D),(11D)で構成して、前記投光部(2)を前記
載置部(9)の上方に配置し、前記受光部(3)を前記
載置部(9)の底部それぞれに配置してある分光測定装
置。 - 【請求項2】 支持装置(1)に支持された試料(S)
に測定用の光線束を照射する投光部(2)と、前記試料
(S)を透過する透過光線束を受光する受光部(3)を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置(1)
を、複数の試料(S)を各別に分離保持する保持部
(9)と、前記保持部(9)への保持状態で前記保持部
(9)に沿った方向への移動により前記試料(S)の両
端部を切断する刃(10C),(11C)と、前記刃(1
0C),(11C)により切断された切断片(S')を同じ
く前記保持部(9)に沿った方向への移動により排除す
る排除部(10D),(11D)で構成して、前記投光部
(2)を前記保持部(9)の一方側に配置し、前記受光
部(3)を前記載置部(9)の他方側にそれぞれに配置
してある分光測定装置。 - 【請求項3】 前記試料(S)が穀物である請求項1又
は2記載の分光測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7766791A JP2644098B2 (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | 分光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7766791A JP2644098B2 (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | 分光測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04310848A JPH04310848A (ja) | 1992-11-02 |
JP2644098B2 true JP2644098B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=13640234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7766791A Expired - Lifetime JP2644098B2 (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | 分光測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2644098B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005055175A (ja) * | 1999-09-07 | 2005-03-03 | National Agriculture & Bio-Oriented Research Organization | 試料調製方法および装置 |
AU2013405440B2 (en) * | 2013-11-14 | 2019-08-22 | Grainsense Oy | Optical analyzer, optical analyzing method and sample preparation device |
-
1991
- 1991-04-10 JP JP7766791A patent/JP2644098B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04310848A (ja) | 1992-11-02 |
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