JP2626516B2 - Molecular beam crystal growth equipment - Google Patents

Molecular beam crystal growth equipment

Info

Publication number
JP2626516B2
JP2626516B2 JP5284980A JP28498093A JP2626516B2 JP 2626516 B2 JP2626516 B2 JP 2626516B2 JP 5284980 A JP5284980 A JP 5284980A JP 28498093 A JP28498093 A JP 28498093A JP 2626516 B2 JP2626516 B2 JP 2626516B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
load lock
chamber
growth
growth chamber
molecular beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5284980A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07138092A (en
Inventor
博 藤崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP5284980A priority Critical patent/JP2626516B2/en
Publication of JPH07138092A publication Critical patent/JPH07138092A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2626516B2 publication Critical patent/JP2626516B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造ラインにお
いて半導体基板上にエピタキシャル成長を行う製造装置
に関し、特に分子線結晶成長装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manufacturing apparatus for performing epitaxial growth on a semiconductor substrate in a semiconductor manufacturing line, and more particularly to a molecular beam crystal growing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の分子線結晶成長装置は図3に示
すように、ロード・アンロード室3と、プリヒート室2
と、成長室1との3室構造が標準的な構成となってい
る。ロード・アンロード室3は、成長すべき半導体基板
のロード,アンロードを行い、またプリヒート室2は、
成長すべき半導体基板をプリヒートする等の準備を行
い、また成長室1では、10-10Torr台の超高真空
中で分子線セルを昇温し、各々の分子線セルから蒸発す
る種々のメタル薄膜を分子線状に半導体基板上に目的の
層構造にエピタキシャル成長を行うようになっている。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 3, a molecular beam crystal growing apparatus of this type includes a load / unload chamber 3 and a preheat chamber 2.
And the growth chamber 1 have a standard configuration. The loading / unloading chamber 3 loads and unloads a semiconductor substrate to be grown.
Preparations such as preheating of the semiconductor substrate to be grown are performed. In the growth chamber 1, the temperature of the molecular beam cells is increased in an ultra-high vacuum of the order of 10 −10 Torr, and various metals evaporated from each molecular beam cell are prepared. The thin film is epitaxially grown on a semiconductor substrate into a target layer structure in a molecular beam shape.

【0003】成長室1内には、分子線セル5が複数個載
置されており、各々の分子線セル5のるつぼ内には、種
々のメタルソースがチャージされている。るつぼ内のソ
ースは、成長を繰り返す毎に減少し、最終的には完全に
消費されることとなる。このとき、成長室1の真空度を
大気にし、ソースチャージを行うと、再度成長可能なマ
シン状態に戻すまでに約1ケ月かかり、生産に多大な影
響を与えることになる。
A plurality of molecular beam cells 5 are placed in the growth chamber 1, and various metal sources are charged in the crucible of each molecular beam cell 5. The source in the crucible decreases with each repetition of growth and eventually becomes completely consumed. At this time, if the degree of vacuum in the growth chamber 1 is set to the atmosphere and the source charge is performed, it takes about one month to return to the machine state in which the growth is possible again, which greatly affects the production.

【0004】このような状況を回避するために、図4に
示すように、成長室1の分子線セルの上方位置にソース
チャージ用ロードロック機構4を設けている。従来のソ
ースチャージ用ロードロック機構4は図4に示すよう
に、ロードロック室6と、ゲートバルブ8と、搬送ロー
ド14とを備えている。このロードロック機構4は、ロ
ードロック室6のハッチ7を閉じて気密を保持し、かつ
真空引きし、次にゲートバルブ8を開き、搬送ロッド1
4をロードロック室6及びゲートバルブ8を通して成長
室1内に搬入し、搬送ロッド14により所要のソースを
成長室1内の分子線セルのるつぼに供給していた。搬送
ロッド14を成長室1外に引き出した後は、ゲートバル
ブ8を閉じていた。この構成によれば、ソースを分子線
セルのるつぼに供給するに際し、成長室1内を大気に開
放する必要がなくなる。
In order to avoid such a situation, a load lock mechanism 4 for source charge is provided at a position above the molecular beam cell in the growth chamber 1 as shown in FIG. The conventional source charge load lock mechanism 4 includes a load lock chamber 6, a gate valve 8, and a transfer load 14, as shown in FIG. The load lock mechanism 4 closes the hatch 7 of the load lock chamber 6 to maintain airtightness and evacuates the air, then opens the gate valve 8 and opens the transfer rod 1
4 was carried into the growth chamber 1 through the load lock chamber 6 and the gate valve 8, and the required source was supplied to the crucible of the molecular beam cell in the growth chamber 1 by the transport rod 14. After the transfer rod 14 was pulled out of the growth chamber 1, the gate valve 8 was closed. According to this configuration, it is not necessary to open the inside of the growth chamber 1 to the atmosphere when supplying the source to the crucible of the molecular beam cell.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】図4に示された従来の
分子線結晶装置のロードロック機構では、成長室1とロ
ードロック室6との間に設けられたゲートバルブ8は1
個であり、1個のゲートバルブ8により成長室1とロー
ドロック室6との間を遮断するようになっていた。従来
の装置では、成長室1内のソース補充のためにソースチ
ャージを行おうとした場合、まずロードロック室6内を
2ガスによりパージし、ロードロック室6内を大気圧
状態に戻し、この状態においてロードロック室6のハッ
チ7を開き、所望のソースを充填したチャージ用容器を
搬送ロッド14にセットする。セット完了後、ハッチ7
を閉じ、それから単独排気ユニットにてロードロック室
6内を真空引きし、設定真空度に到達したら、成長室1
とロードロック室6の間のゲートバルブ8を開き、成長
室1内の目的のセルのるつぼにソースを搬送ロッド14
により追加チャージするようになっている。ソースチャ
ージが完了したら、ゲートバルブ8は閉じられる。
In the conventional load lock mechanism of the molecular beam crystal apparatus shown in FIG. 4, the gate valve 8 provided between the growth chamber 1 and the load lock chamber 6 has one gate valve.
And the single gate valve 8 shuts off the connection between the growth chamber 1 and the load lock chamber 6. In the conventional apparatus, when the source charge is to be performed to replenish the source in the growth chamber 1, the load lock chamber 6 is first purged with N 2 gas, and the load lock chamber 6 is returned to the atmospheric pressure state. In this state, the hatch 7 of the load lock chamber 6 is opened, and a charging container filled with a desired source is set on the transport rod 14. After setting, hatch 7
Is closed, and the inside of the load lock chamber 6 is evacuated by the single exhaust unit.
The gate valve 8 between the chamber and the load lock chamber 6 is opened, and the source is transferred to the crucible of the target cell in the growth chamber 1 by the transfer rod
The additional charge will be made. When the source charge is completed, the gate valve 8 is closed.

【0006】上記ソースチャージを実施する場合、成長
室1とロードロック室6の間のゲートバルブ8が1個で
あるため、ロードロック室6内をN2パージし、大気圧
に戻す際に、ゲートバルブ8のシート面からリークがあ
った場合、成長室1が大気圧側にリークすることとな
り、成長室1内の真空度を著しく劣化させる。そのた
め、従来の装置では、成長室1内の大気開放工事を実施
せざるを得なくなるという問題点があった。
When performing the above-mentioned source charge, since one gate valve 8 is provided between the growth chamber 1 and the load lock chamber 6, when the load lock chamber 6 is purged with N 2 and returned to the atmospheric pressure, If there is a leak from the seat surface of the gate valve 8, the growth chamber 1 will leak to the atmospheric pressure side, and the degree of vacuum in the growth chamber 1 will be significantly deteriorated. For this reason, in the conventional apparatus, there is a problem in that the construction of opening the atmosphere in the growth chamber 1 must be performed.

【0007】本発明の目的は、ソースの供給用ロードロ
ック機構から成長室側へのリークを完全に防止した分子
線結晶成長装置を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a molecular beam crystal growth apparatus in which a leak from a load lock mechanism for supplying a source to a growth chamber side is completely prevented.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る分子線結晶成長装置は、ロードロック
機構と、真空排気機構とを有する分子線結晶成長装置で
あって、ロードロック機構は、成長室内で行われるエピ
タキシャル成長に伴って消費された試料を成長室内に供
給するものであり、ロードロック室と、連通・遮断部
と、搬送ユニットとを有し、 ロードロック室は、成長室
内に供給する試料等を受け入れるものであり、成長室に
気密に連結され、内部が真空排気されるものであり、
通・遮断部は、成長室とロードロック室との連結部を少
なくとも2段階に渡って連通遮断するものであり、 搬送
ユニットは、真空雰囲気のロードロック室内に気密に進
入し、連通・遮断部が開放した前記連結部を通してロー
ドロック室の試料等を成長室内に搬入するものであり、
真空排気機構は、前記ロードロック機構により遮断され
た隣り合う遮断部間の空間を真空排気するものである。
To achieve the above object, a molecular beam crystal growing apparatus according to the present invention is a molecular beam crystal growing apparatus having a load lock mechanism and a vacuum exhaust mechanism , wherein the load lock mechanism is provided. is for supplying the consumed with the epitaxial growth takes place in the growth chamber the sample to the growth chamber, a load lock chamber, communicating and blocking unit
And a transfer unit, and the load lock chamber is a growth chamber.
It accepts samples and other materials to be supplied to the growth chamber.
Coupled hermetically, which inside is evacuated, communication
The communication / blocking section has few connections between the growth chamber and the load lock chamber.
Without even it is intended to cut off communication over two stages, the transport
The unit goes airtight into a load lock chamber in a vacuum atmosphere.
And the communication / blocking part is
The sample in the lock chamber is carried into the growth chamber.
The evacuation mechanism is shut off by the load lock mechanism.
The space between the adjacent blocking portions is evacuated.

【0009】[0009]

【0010】また、リーク検出機構を有する分子線結晶
成長装置であって、リーク検出機構は、前記ロードロッ
ク機構により遮断された遮断部からのリークを検出する
ものである。
A molecular beam crystal growth apparatus having a leak detecting mechanism, wherein the leak detecting mechanism detects a leak from a blocking portion blocked by the load lock mechanism.

【0011】また、成長室と、ロードロック機構とを有
する分子線結晶成長装置であって、成長室は、真空雰囲
気中にて半導体基板にエピタキシャル成長の処理を行う
ものであり、ロードロック機構は、成長室内で行われる
エピタキシャル成長に伴って消費された試料等を成長室
内に供給するものであり、ロードロック室と、連通・遮
断部と、搬送ユニットとを有し、ロードロック室は、成
長室内に供給する試料等を受け入れるものであり、成長
室に気密に連結され、内部が真空排気されるものであ
り、連通・遮断部は、成長室とロードロック室との連結
部を少なくとも2段階に渡って連通遮断するものであ
り、搬送ユニットは、真空雰囲気のロードロック室内に
気密に進入し、連通・遮断部が開放した前記連結部を通
してロードロック室内の試料等を成長室内に搬入するも
のである。
Also, there is provided a molecular beam crystal growth apparatus having a growth chamber and a load lock mechanism, wherein the growth chamber performs an epitaxial growth process on a semiconductor substrate in a vacuum atmosphere. It supplies a sample or the like consumed during the epitaxial growth performed in the growth chamber into the growth chamber, and has a load lock chamber, a communication / blocking unit, and a transfer unit. It receives a sample or the like to be supplied, is air-tightly connected to the growth chamber, and is evacuated to the inside. The communication / blocking section connects the connection section between the growth chamber and the load lock chamber in at least two stages. The transfer unit airtightly enters the load lock chamber in a vacuum atmosphere, and communicates with the load lock chamber through the connection portion in which the communication / blocking portion is opened. Is intended to carry the sample and the like to the growth chamber.

【0012】[0012]

【作用】ロードロック室と成長室との連結部は、少なく
とも2段階に渡って遮断されている。したがって、エピ
タキシャル成長用試料を受け入れるため、ロードロック
室を大気開放する際に、最初の遮断部にリーク事故が生
じたとしても、次の段の遮断部が成長室を大気から遮断
する。このため、成長室が大気に連通することはなく、
成長室内でのエピタキシャル成長に影響を与えることは
ない。
The connection between the load lock chamber and the growth chamber is interrupted in at least two stages. Therefore, when the load lock chamber is opened to the atmosphere to receive the epitaxial growth sample, even if a leak accident occurs in the first cutoff section, the next stage cutoff section cuts off the growth chamber from the atmosphere. For this reason, the growth chamber does not communicate with the atmosphere,
It does not affect the epitaxial growth in the growth chamber.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の実施例を図により説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】(実施例1)図1は、本発明の実施例1を
示す構成図である。
(First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【0015】本発明に係る分子線結晶成長装置は、成長
室とプリヒート室とロード・アンロード室の3室構造か
らなっている。本発明は、成長室内の半導体基板へのエ
ピタキシャル成長に伴って消費された試料等を成長室内
に供給するロードロック機構を有している。ロードロッ
ク機構は、成長室内を外部から遮断して成長室に気密に
接続され、成長室との連結部を少なくとも2段階に渡っ
て遮断するようになっている。
The molecular beam crystal growth apparatus according to the present invention has a three-chamber structure including a growth chamber, a preheat chamber, and a load / unload chamber. The present invention has a load lock mechanism for supplying a sample or the like consumed during epitaxial growth on a semiconductor substrate in a growth chamber into the growth chamber. The load lock mechanism shuts off the growth chamber from the outside and is airtightly connected to the growth chamber, and shuts off the connection with the growth chamber in at least two stages.

【0016】本発明におけるロードロック機構を成長室
に装備した分子線結晶成長装置の具体を図1に基づい
て説明する。本発明に係る分子線結晶成長装置は、成長
室1とロードロック機構Aとを有している。
A specific example of a molecular beam crystal growth apparatus equipped with a load lock mechanism in the growth chamber according to the present invention will be described with reference to FIG. The molecular beam crystal growth apparatus according to the present invention has a growth chamber 1 and a load lock mechanism A.

【0017】成長室1は、真空雰囲気中にて半導体基板
にエピタキシャル成長の処理を行うものである。
The growth chamber 1 is for performing a process of epitaxial growth on a semiconductor substrate in a vacuum atmosphere.

【0018】ロードロック機構Aは、成長室1内で行わ
れるエピタキシャル成長に伴って消費された試料等を成
長室1内に供給するものであり、ロードロック室6と、
連通・遮断部9と、搬送ユニット14aとを有してい
る。
The load lock mechanism A supplies a sample or the like consumed during the epitaxial growth performed in the growth chamber 1 to the growth chamber 1.
It has a communication / blocking unit 9 and a transport unit 14a.

【0019】ロードロック室6は、成長室内に供給する
試料等を受け入れるものであり、成長室1に気密に連結
され、内部が真空排気されるようになっている。また、
ロードロック室6は、試料等の搬入用のハッチ7を備え
ている。
The load lock chamber 6 receives a sample or the like to be supplied into the growth chamber. The load lock chamber 6 is airtightly connected to the growth chamber 1 and the inside thereof is evacuated. Also,
The load lock chamber 6 includes a hatch 7 for carrying a sample or the like.

【0020】連通・遮断部9は、成長室1とロードロッ
ク室6との連結部12を少なくとも2段階に渡って連通
遮断するものである。実施例では、連通・遮断部9とし
て2個のゲートバルブ10a,10bを用いており、2
個のゲートバルブ10a,10bは、連結部12を2箇
所で連通遮断するようになっている。尚、実施例では、
ゲートバルブ10a,10bを2個用いたが、その個数
は、2個以上であれば、その個数が限定されることはな
い。
The communication / blocking section 9 blocks and connects the connecting section 12 between the growth chamber 1 and the load lock chamber 6 in at least two stages. In the embodiment, two gate valves 10a and 10b are used as the communication / blocking portion 9,
Each of the gate valves 10a and 10b disconnects the connection portion 12 at two points. In the embodiment,
Although two gate valves 10a and 10b are used, the number is not limited as long as the number is two or more.

【0021】搬送ユニット14aは、真空雰囲気のロー
ドロック室6内に気密に進入し、連通・遮断部9が開放
した連結部12を通してロードロック室6内の試料等を
成長室1内に搬入するようになっている。実施例では、
搬送ユニット14aとして、2本のロッドを用いてお
り、その先端の受け部14bに試料等を載置して搬送す
るようになっている。尚、この構造の搬送ユニット14
aに限られるものではない。
The transport unit 14a hermetically enters the load lock chamber 6 in a vacuum atmosphere, and carries the sample and the like in the load lock chamber 6 into the growth chamber 1 through the connecting section 12 opened by the communication / blocking section 9. It has become. In the example,
As the transport unit 14a, two rods are used, and a sample or the like is placed on a receiving portion 14b at the tip thereof and transported. The transport unit 14 having this structure
It is not limited to a.

【0022】さらに、本発明は、真空排気機構Bとリー
ク検出機構Cとを有している。真空排気機構Bは、前記
ロードロック機構Aにより遮断された隣り合う遮断部間
の空間を真空排気するものである。またリーク検出機構
Cは、ロードロック機構Aにより遮断された遮断部から
のリークを検出するものである。真空排気機構B及びリ
ーク検出機構Cの具体例を図1に基づいて説明する。
Further, the present invention has a vacuum evacuation mechanism B and a leak detection mechanism C. The vacuum evacuation mechanism B is for evacuating the space between the adjacent blocking parts blocked by the load lock mechanism A. Further, the leak detection mechanism C detects a leak from the blocking portion blocked by the load lock mechanism A. A specific example of the evacuation mechanism B and the leak detection mechanism C will be described with reference to FIG.

【0023】真空排気機構Bは、ロードロック室6を真
空排気する第1の排気系P1と、前記隣り合う遮断部間
の空間を真空排気する第2の排気系P2とを有してい
る。真空排気機構Bを装備するにあたって、ロードロッ
ク室6は接続口6aを有しており、また連結部12は排
気口15を有している。第1の排気系P1は、パージ用
のN2ガスをロードロック室6内に導入するバルブ16
と、第1の排気系P1を連通・遮断するバルブ17と、
真空ポンプ18とを有し、ロードロック室6の接続口6
aに連結している。第2の排気系P2は、第1の排気系
1に用いた真空ポンプ18を兼用しており、さらに第
2の排気系P2を連通遮断するバルブ19とを有し、連
結部12の排気口15に連結している。リーク検出機構
Cは、流量20を2本の排気系P1,P2に共通に設け
ている。
The evacuation mechanism B includes includes a first exhaust system P 1 for evacuating the load lock chamber 6, the second and the exhaust system P 2 for evacuating the space between the blocking portion to which the adjacent I have. When the evacuation mechanism B is provided, the load lock chamber 6 has a connection port 6a, and the connecting portion 12 has an exhaust port 15. The first exhaust system P 1 is provided with a valve 16 for introducing N 2 gas for purging into the load lock chamber 6.
A valve 17 for communicating and shutting off the first exhaust system P1,
A vacuum pump 18, and a connection port 6 of the load lock chamber 6.
a. The second exhaust system P 2 also serves as the vacuum pump 18 used for the first exhaust system P 1 , and further has a valve 19 for shutting off communication with the second exhaust system P 2. To the exhaust port 15. The leak detection mechanism C has the flow meter 20 provided commonly to the two exhaust systems P 1 and P 2 .

【0024】実施例において、エピタキシャル成長が成
長室1内で行われている場合には、ロードロック室6
は、ハッチ7が閉じられ、第1の排気系P1により真空
排気され、その内部が真空雰囲気に保たれている。ま
た、連結部12は、2個のゲートバルブ10a,10b
により2段階に渡って遮断され、2個のゲートバルブ1
0a,10bで仕切られた連結部12内の空間は、排気
口15より第2の排気系P2により真空排気される。
In the embodiment, when the epitaxial growth is performed in the growth chamber 1, the load lock chamber 6
The hatch 7 is closed, the first exhaust system P 1 is evacuated, the inside is kept vacuum. Further, the connecting portion 12 includes two gate valves 10a and 10b.
Is shut off in two stages by two gate valves 1
0a, space partitioned connecting portion 12 at 10b is evacuated by an exhaust system P 2 of the exhaust port 15 second.

【0025】成長室1内でのエピタキシャル成長に伴っ
て試料(ソース)が消費され、補充が必要となった場合
には、第1の排気系P1による真空排気を停止させ、か
つバルブ17を閉じた後、バルブ16を開いてN2ガス
をロードロック室6内に供給し、ロードロック室6内を
2パージしながら大気圧に戻す。そして、ハッチ7を
閉じてロードロック室6内を真空状態とする。
When the sample (source) is consumed due to the epitaxial growth in the growth chamber 1 and needs to be replenished, the evacuation by the first evacuation system P 1 is stopped, and the valve 17 is closed. After that, the valve 16 is opened to supply N 2 gas into the load lock chamber 6, and the inside of the load lock chamber 6 is returned to the atmospheric pressure while purging with N 2 . Then, the hatch 7 is closed to make the inside of the load lock chamber 6 a vacuum state.

【0026】この場合、例えばロードロック室6側のゲ
ートバルブ10aにリークが発生した場合、2個のゲー
トバルブ10aと10b間の空間は、ゲートバルブ10
aのリーク部分を介して連通するから、第2の排気系P
2によってゲートバルブ10aと10bの空間を真空排
気する際の流量が異常に増えるため、リーク検出機構C
の流量計20が異常値を示す。このため、流量計20の
指示値を監視することにより、リークの検出が行われ
る。
In this case, for example, if a leak occurs in the gate valve 10a on the side of the load lock chamber 6, the space between the two gate valves 10a and 10b is
a, the second exhaust system P
2 abnormally increases the flow rate when the space between the gate valves 10a and 10b is evacuated.
Indicates an abnormal value. Therefore, leakage is detected by monitoring the indicated value of the flow meter 20.

【0027】また、2個のバルブ10a,10b間の連
結部12内の空間は、第2の排気系P2にて真空排気さ
れているから、成長室1は完全に外部から遮断されてい
る。
Further, two valves 10a, the space inside the connecting portion 12 between 10b, from being evacuated by the second exhaust system P 2, the growth chamber 1 is completely shut off from the outside .

【0028】(実施例2)図2は、本発明の実施例2を
示す構成図である。図1の実施例では、連通・遮断部9
として2個のゲートバルブ10a,10bを用いたが、
図2に示す本実施例では、連通・遮断部9としてダブル
リンクゲートバルブ11を用いている。ダブルリンクゲ
ートバルブ11は、1つの弁箱内に対をなす弁座11
a,11bを有し、各弁座11a,11bを弁体11
c,11dにてそれぞれ開閉制御するようになってお
り、この構造をもって、弁座11a,11b間の弁箱の
空間を利用した連結部12を2段階に渡って連通遮断す
るようになっている。その他の構成は、実施例1と同様
である
(Embodiment 2) FIG. 2 is a block diagram showing Embodiment 2 of the present invention. In the embodiment shown in FIG.
Used two gate valves 10a and 10b,
In this embodiment shown in FIG. 2, a double link gate valve 11 is used as the communication / blocking unit 9. The double link gate valve 11 has a pair of valve seats 11 in one valve box.
a, 11b, and each valve seat 11a, 11b is
Opening / closing control is performed by c and 11d, respectively. With this structure, the connecting portion 12 utilizing the space of the valve box between the valve seats 11a and 11b is cut off in two stages. . Other configurations are the same as those of the first embodiment.

【0029】本実施例は、ダブルリンクゲートバルブ1
1を用いているため、実施例1の2個のゲートバルブ1
0a,,10bを用いた場合と比較して、組立,保守点
検が容易になるという利点を有する。
In this embodiment, the double link gate valve 1
1, two gate valves 1 of the first embodiment are used.
There is an advantage that assembly, maintenance and inspection are facilitated as compared with the case where 0a, 10b is used.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、成長室と
ロードロック室との連結部を少なくとも2段階に渡って
遮断されるようにしたため、ロードロック室側の遮断部
からリークが発生したとしても、もう一方の遮断部によ
り成長室内を大気から遮断することができ、したがっ
て、成長室でのエピタキシャル成長に悪影響を与える酸
化防止、各種汚染を防止して、適正なエピタキシャル成
長の処理を行うことができる。
As described above, according to the present invention, since the connection between the growth chamber and the load lock chamber is cut off at least in two stages, a leak is generated from the cut off section on the load lock chamber side. Even so, the growth chamber can be cut off from the atmosphere by the other cut-off section, so that appropriate epitaxial growth processing can be performed while preventing oxidation and various types of contamination that adversely affect the epitaxial growth in the growth chamber. it can.

【0031】さらに、ロードロック機構により遮断され
ている空間は常時排気しているため、成長室を外気から
完全に遮断することができる。
Further, since the space closed by the load lock mechanism is constantly exhausted, the growth chamber can be completely shut off from the outside air.

【0032】さらに、ロードロック室を大気に開放した
際に、ロードロック機構で遮断された遮断部からロード
ロック室側にリークしているか否かを検出しているた
め、真空リークに対して迅速に対処することができる。
Further, when the load lock chamber is opened to the atmosphere, it is detected whether or not a leak has occurred to the load lock chamber side from the cutoff portion cut off by the load lock mechanism. Can be dealt with.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例2を示す構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】分子線結晶成長装置の一例を示す構成図であ
る。
FIG. 3 is a configuration diagram illustrating an example of a molecular beam crystal growth apparatus.

【図4】従来例を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 成長室 6 ロードロック室 7 ハッチ 9 連通・遮断部 10a,10b ゲートバルブ 11 ダブルリンクゲートバルブ 12 連結部 14a 搬送ユニット 15 排気口 16,17 バルブ 18 真空ポンプ 20 流量計 A ロードロック機構 B 真空排気機構 C リーク検出機構 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Growth chamber 6 Load lock chamber 7 Hatch 9 Communication / blocking part 10a, 10b Gate valve 11 Double link gate valve 12 Connecting part 14a Transport unit 15 Exhaust port 16, 17 Valve 18 Vacuum pump 20 Flow meter A Load lock mechanism B Vacuum exhaust Mechanism C Leak detection mechanism

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ロードロック機構と、真空排気機構と
有する分子線結晶成長装置であって、 ロードロック機構は、成長室内で行われるエピタキシャ
ル成長に伴って消費された試料を成長室内に供給するも
のであり、ロードロック室と、連通・遮断部と、搬送ユ
ニットとを有し、 ロードロック室は、成長室内に供給する試料等を受け入
れるものであり、成長室に気密に連結され、内部が真空
排気されるものであり、 連通・遮断部は、成長室とロードロック室との連結部を
少なくとも2段階に渡って連通遮断するものであり、 搬送ユニットは、真空雰囲気のロードロック室内に気密
に進入し、連通・遮断部が開放した前記連結部を通して
ロードロック室の試料等を成長室内に搬入するものであ
り、 真空排気機構は、前記ロードロック機構により遮断され
た隣り合う遮断部間の空間を真空排気するものである
とを特徴とする分子線結晶成長装置。
1. A molecular beam crystal growth apparatus having a load lock mechanism and an evacuation mechanism , wherein the load lock mechanism supplies a sample consumed during epitaxial growth performed in the growth chamber to the growth chamber. The load lock chamber, the communication / blocking section,
The load lock chamber receives a sample supplied to the growth chamber.
Air-tightly connected to the growth chamber,
It is exhausted, and the communication / blocking part connects the connecting part between the growth chamber and the load lock chamber.
The communication unit is interrupted in at least two stages, and the transfer unit is airtight inside the load lock chamber in a vacuum atmosphere.
And the communication / blocking part is opened through the connecting part
The sample etc. in the load lock chamber is carried into the growth chamber.
The evacuation mechanism is shut off by the load lock mechanism.
A molecular beam crystal growth apparatus for evacuating a space between adjacent blocking portions .
【請求項2】 リーク検出機構を有する分子線結晶成長
装置であって、 リーク検出機構は、前記ロードロック機構により遮断さ
れた遮断部からのリークを検出するものであることを特
徴とする請求項1に記載の分子線結晶成長装置。
2. A molecular beam crystal growing apparatus having a leak detecting mechanism, wherein the leak detecting mechanism detects a leak from a cutoff section cut off by the load lock mechanism. 2. The molecular beam crystal growing apparatus according to 1.
【請求項3】 成長室と、ロードロック機構とを有する
分子線結晶成長装置であって、 成長室は、真空雰囲気中にて半導体基板にエピタキシャ
ル成長の処理を行うものであり、 ロードロック機構は、成長室内で行われるエピタキシャ
ル成長に伴って消費された試料を成長室内に供給するも
のであり、ロードロック室と、連通・遮断部と、搬送ユ
ニットとを有し、 ロードロック室は、成長室内に供給する試料等を受け入
れるものであり、成長室に気密に連結され、内部が真空
排気されるものであり、 連通・遮断部は、成長室とロードロック室との連結部を
少なくとも2段階に渡って連通遮断するものであり、 搬送ユニットは、真空雰囲気のロードロック室内に気密
に進入し、連通・遮断部が開放した前記連結部を通して
ロードロック室内の試料等を成長室内に搬入するもので
あることを特徴とする分子線結晶成長装置。
3. A molecular beam crystal growth apparatus having a growth chamber and a load lock mechanism, wherein the growth chamber performs an epitaxial growth process on a semiconductor substrate in a vacuum atmosphere. A sample consumed during the epitaxial growth performed in the growth chamber is supplied to the growth chamber, and includes a load lock chamber, a communication / blocking unit, and a transfer unit. The load lock chamber is supplied to the growth chamber. Which is connected to the growth chamber in an airtight manner, and the inside of which is evacuated, and the communication / blocking section connects the connection section between the growth chamber and the load lock chamber in at least two stages. The transport unit enters the load lock chamber in a vacuum atmosphere in an airtight manner, and the test unit in the load lock chamber passes through the connection section where the communication / block section is opened. Molecular beam epitaxy apparatus characterized by a in which is carried into the growth chamber or the like.
JP5284980A 1993-11-15 1993-11-15 Molecular beam crystal growth equipment Expired - Fee Related JP2626516B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5284980A JP2626516B2 (en) 1993-11-15 1993-11-15 Molecular beam crystal growth equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5284980A JP2626516B2 (en) 1993-11-15 1993-11-15 Molecular beam crystal growth equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07138092A JPH07138092A (en) 1995-05-30
JP2626516B2 true JP2626516B2 (en) 1997-07-02

Family

ID=17685578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5284980A Expired - Fee Related JP2626516B2 (en) 1993-11-15 1993-11-15 Molecular beam crystal growth equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2626516B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105453246A (en) 2013-08-12 2016-03-30 应用材料公司 Substrate processing systems, apparatus, and methods with factory interface environmental controls
WO2016085622A1 (en) 2014-11-25 2016-06-02 Applied Materials, Inc. Substrate processing systems, apparatus, and methods with substrate carrier and purge chamber environmental controls

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01317194A (en) * 1988-06-15 1989-12-21 Sanyo Electric Co Ltd Molecular beam epitaxial crystal growth apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07138092A (en) 1995-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5137063A (en) Vented vacuum semiconductor wafer cassette
US5121705A (en) Loading lock for chemical vapor deposition apparatus
US5217053A (en) Vented vacuum semiconductor wafer cassette
US6802934B2 (en) Processing apparatus
US6328803B2 (en) Method and apparatus for controlling rate of pressure change in a vacuum process chamber
JPH11186363A (en) Semiconductor manufacturing device
JPH11168135A (en) Substrate storing equipment and substrate storage method
CN110943010A (en) Vacuum processing apparatus and control method for vacuum processing apparatus
US9817407B2 (en) System and method of opening a load lock door valve at a desired pressure after venting
EP0806499B1 (en) Method and apparatus for fabricating semiconductor
JP2626516B2 (en) Molecular beam crystal growth equipment
US6908838B2 (en) Method and device for treating semiconductor substrates
JP3153323B2 (en) Apparatus and method for restoring normal pressure in an airtight chamber
JPH0517879Y2 (en)
JP4748594B2 (en) Vacuum processing apparatus and vacuum processing method
JP3517076B2 (en) Semiconductor manufacturing apparatus, internal pressure adjusting method thereof, and semiconductor device manufacturing method
JP2006156769A (en) Vacuum processor
JPH11340303A (en) Vacuum handler and transferring method
JPH0598434A (en) Multichamber type sputtering apparatus
JPH11186355A (en) Load locking mechanism, substrata processing device and substrate processing method
JPH11229141A (en) Substrate transporting method
US20240047233A1 (en) Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and non-transitory computer-readable recording medium
JPS63307273A (en) Apparatus for sputtering thin layer to substrate
JP3058655B2 (en) Wafer diffusion processing method and wafer heat treatment method
KR20060057460A (en) Deposition equipment used to manufacture semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080411

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090411

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees