JP2613239B2 - 磁気抵抗効果型ヘツド - Google Patents
磁気抵抗効果型ヘツドInfo
- Publication number
- JP2613239B2 JP2613239B2 JP63041987A JP4198788A JP2613239B2 JP 2613239 B2 JP2613239 B2 JP 2613239B2 JP 63041987 A JP63041987 A JP 63041987A JP 4198788 A JP4198788 A JP 4198788A JP 2613239 B2 JP2613239 B2 JP 2613239B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- permalloy
- magnetoresistive head
- shunt
- magnetoresistive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 229910003271 Ni-Fe Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 4
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 44
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 32
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007725 thermal activation Methods 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
- H10N50/85—Magnetic active materials
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気抵抗効果型ヘツドに係り、特に高密度磁
気記録に最適な磁気抵抗効果型ヘツドに関する。
気記録に最適な磁気抵抗効果型ヘツドに関する。
従来のシヤントバイアス型磁気抵抗効果型ヘツドのシ
ヤント膜には、米国特許第3940797号明細書に記載のよ
うにTiあるいはTaが、また特開昭62−128015号公報に記
載のようにZrが用いられていた。
ヤント膜には、米国特許第3940797号明細書に記載のよ
うにTiあるいはTaが、また特開昭62−128015号公報に記
載のようにZrが用いられていた。
また、NiFe膜と電極との反応を抑えるバリア膜として
は、特開昭58−12126号公報にMo,Cr,Ti,W,Ta,Pt,Zr,Nb
の何れかを用いることが記載されている。しかし、この
膜は電極とMR膜との反応を防止するために、電極が存在
する部分にのみ電極とMR膜との間に設けられており、本
発明の様にMR膜の片面全面に設けて、バイアス磁界を印
加するシャント膜の記載はない。
は、特開昭58−12126号公報にMo,Cr,Ti,W,Ta,Pt,Zr,Nb
の何れかを用いることが記載されている。しかし、この
膜は電極とMR膜との反応を防止するために、電極が存在
する部分にのみ電極とMR膜との間に設けられており、本
発明の様にMR膜の片面全面に設けて、バイアス磁界を印
加するシャント膜の記載はない。
上記従来沢術がTiを用いたシヤントバイアス型磁気抵
抗ヘツドでは、175℃以上になるとNi−Fe合金(以下パ
ーマロイと呼ぶ)膜とTiの反応が起こり、磁気抵抗効果
膜であるパーマロイ膜の特性劣化が生ずる。また、Zrを
シヤント膜としたヘツドでは、パーマロイ膜との反応下
限温度は325℃まで改善されるが、ヘツドを作製する種
々のプロセスの温度条件からみて、まだ低く、電気抵抗
率が100〜150μΩcmとシャント膜としては高すぎる。Ta
はパーマロイとの反応開始温度が350℃と高いが、Ta薄
膜はパーマロイやTiに比較すると耐食性が悪く、電気抵
抗率も90〜200μΩcmと極めて高く、シヤント膜として
は不適当である。
抗ヘツドでは、175℃以上になるとNi−Fe合金(以下パ
ーマロイと呼ぶ)膜とTiの反応が起こり、磁気抵抗効果
膜であるパーマロイ膜の特性劣化が生ずる。また、Zrを
シヤント膜としたヘツドでは、パーマロイ膜との反応下
限温度は325℃まで改善されるが、ヘツドを作製する種
々のプロセスの温度条件からみて、まだ低く、電気抵抗
率が100〜150μΩcmとシャント膜としては高すぎる。Ta
はパーマロイとの反応開始温度が350℃と高いが、Ta薄
膜はパーマロイやTiに比較すると耐食性が悪く、電気抵
抗率も90〜200μΩcmと極めて高く、シヤント膜として
は不適当である。
本発明の目的は、シヤント型磁気抵抗効果型ヘツドに
最適な耐熱性に優れたシヤント膜をもつた磁気抵抗効果
型ヘツドを提供することにある。
最適な耐熱性に優れたシヤント膜をもつた磁気抵抗効果
型ヘツドを提供することにある。
上記目的は、パーマロイ膜との反応開始温度が高く、
かつ電気抵抗がシヤント構造に適したNb膜を用いること
により達成される。
かつ電気抵抗がシヤント構造に適したNb膜を用いること
により達成される。
どのような金属膜が組み合せ膜として適しているか
は、実際に種々の薄膜を用いて素子を作製して評価しな
ければならない。反応の面からみれば、反応は原子の熱
活性化に支配されるので、融点の高い金属が望ましい。
これと同時に耐食性の優れていることも必要である。Nb
は上記の点で優れた性質を有している。
は、実際に種々の薄膜を用いて素子を作製して評価しな
ければならない。反応の面からみれば、反応は原子の熱
活性化に支配されるので、融点の高い金属が望ましい。
これと同時に耐食性の優れていることも必要である。Nb
は上記の点で優れた性質を有している。
以下、本発明の一実施例を説明する。
実施例1 ガラス基板上にNi−19wt%Feの組成をもつパーマロイ
薄膜を電子ビーム蒸着法で形成した。パーマロイの厚さ
は400Åである。このパーマロイ薄膜の上に真空を破る
ことなく引き続きNb薄膜を電子ビーム蒸着法で約700Å
蒸着した。この2層膜を以下Nb/パーマロイ膜と呼ぶ。
この試料と比較するために同種のガラス基板上に上記と
同組成のパーマロイ膜を形成し、続けてTi膜を蒸着した
Ti/パーマロイ膜を作製した。これらの試料を同一条件
で比較するために、10-7Torrの真空炉中で一緒に並べて
熱処理を行なつた。第1図は熱処理温度とパーマロイ膜
の保磁力の変化を示したものである。第1図から明らか
なように、Ti/パーマロイ2層膜の保磁力は熱処理温度
が225℃以上になると増大し始める。これは、Tiとパー
マロイ膜の相互拡散等により、パーマロイ膜の蒸気特性
が劣化していることを示している。これに対して、Nb/
パーマロイ膜におけるパーマロイの保磁力は400℃まで
変化を示さず、425℃以上になると若干増大し、再膜間
に反応の起こることがわかる。
薄膜を電子ビーム蒸着法で形成した。パーマロイの厚さ
は400Åである。このパーマロイ薄膜の上に真空を破る
ことなく引き続きNb薄膜を電子ビーム蒸着法で約700Å
蒸着した。この2層膜を以下Nb/パーマロイ膜と呼ぶ。
この試料と比較するために同種のガラス基板上に上記と
同組成のパーマロイ膜を形成し、続けてTi膜を蒸着した
Ti/パーマロイ膜を作製した。これらの試料を同一条件
で比較するために、10-7Torrの真空炉中で一緒に並べて
熱処理を行なつた。第1図は熱処理温度とパーマロイ膜
の保磁力の変化を示したものである。第1図から明らか
なように、Ti/パーマロイ2層膜の保磁力は熱処理温度
が225℃以上になると増大し始める。これは、Tiとパー
マロイ膜の相互拡散等により、パーマロイ膜の蒸気特性
が劣化していることを示している。これに対して、Nb/
パーマロイ膜におけるパーマロイの保磁力は400℃まで
変化を示さず、425℃以上になると若干増大し、再膜間
に反応の起こることがわかる。
以上の実施例から明らかなように、NbはTiに比較して
約200℃反応温度が高く、パーマロイと金属とからなる
2層膜のパーマロイの耐熱性向上に顕著な効果を示す。
約200℃反応温度が高く、パーマロイと金属とからなる
2層膜のパーマロイの耐熱性向上に顕著な効果を示す。
実施例2 Ti/パーマロイおよびNb/パーマロイのそれぞれの2層
膜を使用して作製したシヤント型磁気抵抗効果型ヘツド
における磁気再生特性を比較した。作製したヘツドを22
5℃で熱処理したのちの再生波形ではバククウゼン効果
によると思われるノイズが著しく、他方Nb/パーマロイ
膜を使用したものでは、同様のノイズは見られなかつ
た。Ti/パーマロイ膜を使用したヘツドでは、熱処理温
度が275℃以上になると再生出力が得られなくなる。こ
れに対してNbを用いたヘツドでは、400℃の熱処理をし
ても再生出力は正常で、425℃以上になるとノイズが多
くなる。
膜を使用して作製したシヤント型磁気抵抗効果型ヘツド
における磁気再生特性を比較した。作製したヘツドを22
5℃で熱処理したのちの再生波形ではバククウゼン効果
によると思われるノイズが著しく、他方Nb/パーマロイ
膜を使用したものでは、同様のノイズは見られなかつ
た。Ti/パーマロイ膜を使用したヘツドでは、熱処理温
度が275℃以上になると再生出力が得られなくなる。こ
れに対してNbを用いたヘツドでは、400℃の熱処理をし
ても再生出力は正常で、425℃以上になるとノイズが多
くなる。
通常の電子ビーム蒸着法で得られるTi膜の比抵抗は55
〜60μΩcmであるのに対し、Nbは28〜30μΩcmと約1/2
の値が得られる。このため、シヤントバイアス膜の厚さ
をTiの約1/2に低減することができる。これは、シール
ド型磁気抵抗効果型ヘツドを作製する場合、シールド間
距離(通常ギヤツプと呼ばれる)を上記シヤント膜の厚
さ低減分だけ狭くできる利点もある。
〜60μΩcmであるのに対し、Nbは28〜30μΩcmと約1/2
の値が得られる。このため、シヤントバイアス膜の厚さ
をTiの約1/2に低減することができる。これは、シール
ド型磁気抵抗効果型ヘツドを作製する場合、シールド間
距離(通常ギヤツプと呼ばれる)を上記シヤント膜の厚
さ低減分だけ狭くできる利点もある。
Nb/パーマロイ2層膜は2端子の素子,3端子の差動型
素子など、何れの駆動方式でも同様に実施できる。
素子など、何れの駆動方式でも同様に実施できる。
本発明によれば、シヤントバイアス型パーマロイ磁気
抵抗素子の耐熱温度を従来のTi/パーマロイ系に比較し
て約200℃高めることができるので、当該試料を用いた
磁気ヘツドを作製するプロセスが従来より約200℃高め
られる。このため、パーマロイ膜と下地との密着性,Nb/
パーマロイ膜上の酸化物絶縁膜との密着性,シールド用
蒸着パーマロイ薄膜の特性向上,エレクトロマイグレー
シヨンによる素子の破壊、などが著しく低減した。この
結果として、素子の歩留向上,不良率低減,使用中の故
障の発生の低減に著しい効果があつた。
抵抗素子の耐熱温度を従来のTi/パーマロイ系に比較し
て約200℃高めることができるので、当該試料を用いた
磁気ヘツドを作製するプロセスが従来より約200℃高め
られる。このため、パーマロイ膜と下地との密着性,Nb/
パーマロイ膜上の酸化物絶縁膜との密着性,シールド用
蒸着パーマロイ薄膜の特性向上,エレクトロマイグレー
シヨンによる素子の破壊、などが著しく低減した。この
結果として、素子の歩留向上,不良率低減,使用中の故
障の発生の低減に著しい効果があつた。
第1図は従来および本発明のパーマロイ膜とシヤント金
属膜間の反応を示すパーマロイ膜の保磁力と熱処理温度
の関係を示す図である。
属膜間の反応を示すパーマロイ膜の保磁力と熱処理温度
の関係を示す図である。
Claims (5)
- 【請求項1】Ni−Fe合金膜から成る磁気抵抗効果膜と、
実質的にNbから成るNb膜との2層膜を有し、上記Nb膜が
Ni−Fe合金膜にバイアス磁界を印加するシャント膜を構
成することを特徴とする磁気抵抗効果型ヘッド。 - 【請求項2】上記Nb膜の比抵抗が28〜30μΩcmであるこ
とを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果型ヘッド。 - 【請求項3】上記2層膜を有する磁気抵抗効果素子が3
端子の差動型に構成されたことを特徴とする請求項1ま
たは2記載の磁気抵抗効果型ヘッド。 - 【請求項4】Ni−Fe合金膜から成る磁気抵抗効果膜を基
板上に形成する工程、 シャント膜となるNb膜を電子ビーム蒸着法により上記磁
気抵抗効果膜上に形成する工程、 とを少なくとも有することを特徴とする磁気抵抗効果型
ヘッドの製造方法。 - 【請求項5】上記Nb膜の比抵抗が28〜30μΩcmであるこ
とを特徴とする請求項4記載の磁気抵抗効果型ヘッドの
製造方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63041987A JP2613239B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 磁気抵抗効果型ヘツド |
KR1019890001519A KR920002607B1 (ko) | 1988-02-26 | 1989-02-10 | 자기저항 효과형 자기헤드와 그 제조방법 |
US07/310,922 US5010433A (en) | 1988-02-26 | 1989-02-16 | Magnetoresistive magnetic head having a shunt film of Nb |
DE3905625A DE3905625C2 (de) | 1988-02-26 | 1989-02-23 | Verfahren zur Herstellung eines magnetoresistiven Magnetkopfes |
US07/873,785 US5337203A (en) | 1988-02-26 | 1992-04-27 | Magnetoresistive magnetic head |
US08/018,249 US5401542A (en) | 1988-02-26 | 1993-02-16 | Magnetoresistive magnetic head and its manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63041987A JP2613239B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 磁気抵抗効果型ヘツド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01217719A JPH01217719A (ja) | 1989-08-31 |
JP2613239B2 true JP2613239B2 (ja) | 1997-05-21 |
Family
ID=12623549
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63041987A Expired - Lifetime JP2613239B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 磁気抵抗効果型ヘツド |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5010433A (ja) |
JP (1) | JP2613239B2 (ja) |
KR (1) | KR920002607B1 (ja) |
DE (1) | DE3905625C2 (ja) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5371643A (en) * | 1990-11-19 | 1994-12-06 | Hitachi, Ltd. | Magnetoresistive head structure that prevents under film from undesirable etching |
US5422571A (en) * | 1993-02-08 | 1995-06-06 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive spin valve sensor having a nonmagnetic back layer |
JPH06349031A (ja) * | 1993-04-14 | 1994-12-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気抵抗効果型ヘッド |
JP2836474B2 (ja) * | 1993-12-15 | 1998-12-14 | 日本電気株式会社 | 磁気抵抗素子とその製造方法 |
US5452163A (en) * | 1993-12-23 | 1995-09-19 | International Business Machines Corporation | Multilayer magnetoresistive sensor |
JPH07192227A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-07-28 | Sony Corp | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
US5446613A (en) * | 1994-02-28 | 1995-08-29 | Read-Rite Corporation | Magnetic head assembly with MR sensor |
EP0675554A1 (en) * | 1994-03-24 | 1995-10-04 | Nec Corporation | Magnetoresistive effect element |
US6088204A (en) * | 1994-12-01 | 2000-07-11 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive magnetic recording head with permalloy sensor layer deposited with substrate heating |
JPH08180328A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-07-12 | Fujitsu Ltd | スピンバルブ磁気抵抗効果素子及びその製造方法 |
US5568335A (en) * | 1994-12-29 | 1996-10-22 | International Business Machines Corporation | Multi-layer gap structure for high resolution magnetoresistive read head |
JPH08287422A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-11-01 | Alps Electric Co Ltd | 磁気抵抗効果型ヘッド |
US5617273A (en) * | 1995-06-07 | 1997-04-01 | International Business Machines Corporation | Thin film slider with protruding R/W element formed by chemical-mechanical polishing |
JPH0916916A (ja) * | 1995-06-29 | 1997-01-17 | Sony Corp | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
EP0780833A3 (en) * | 1995-12-20 | 1999-01-07 | Ampex Corporation | Improved magnetic recording system having a saturable layer and detection using MR element |
JPH09251616A (ja) * | 1996-03-15 | 1997-09-22 | Sony Corp | 薄膜磁気ヘッド |
US5830590A (en) * | 1996-06-28 | 1998-11-03 | Ampex Corporation | Magnetic storage and reproducing system with a low permeability keeper and a self-biased magnetoresistive reproduce head |
US5861220A (en) * | 1996-08-06 | 1999-01-19 | Ampex Corporation | Method and apparatus for providing a magnetic storage and reproducing media with a keeper layer having a longitudinal anisotropy |
US6249406B1 (en) | 1996-09-23 | 2001-06-19 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive sensor with a soft adjacent layer having high magnetization, high resistivity, low intrinsic anisotropy and near zero magnetostriction |
US5721008A (en) * | 1996-10-15 | 1998-02-24 | Seagate Technology, Inc. | Method for controlling sensor-to-sensor alignment and material properties in a dual magnetoresistive sensor |
US5766780A (en) * | 1996-10-15 | 1998-06-16 | Seagate Technology, Inc. | Reversed order NIMN exchange biasing for dual magnetoresistive heads |
US5783460A (en) * | 1996-10-25 | 1998-07-21 | Headway Technologies, Inc. | Method of making self-aligned dual stripe magnetoresistive (DRMR) head for high density recording |
US5843565A (en) * | 1996-10-31 | 1998-12-01 | Ampex Corporation | Particulate magnetic medium utilizing keeper technology and methods of manufacture |
US5999379A (en) * | 1997-12-11 | 1999-12-07 | International Business Machines Corporation | Spin valve read head with plasma produced metal oxide insulation layer between lead and shield layers and method of making |
JP2000276716A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-10-06 | Nec Corp | 磁気抵抗効果型ヘッドおよびその製造方法および磁気記憶装置 |
JP2000285417A (ja) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜磁気ヘッド |
US6724027B2 (en) * | 2002-04-18 | 2004-04-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Magnetic shielding for MRAM devices |
US7798015B2 (en) * | 2005-05-16 | 2010-09-21 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Magneto-inductive flowmeter and measuring tube for such |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4379832A (en) * | 1981-08-31 | 1983-04-12 | International Business Machines Corporation | Method for making low barrier Schottky devices of the electron beam evaporation of reactive metals |
US4548834A (en) * | 1982-05-31 | 1985-10-22 | Nec Corporation | Method of producing a Josephson tunnel barrier |
US4622613A (en) * | 1983-10-07 | 1986-11-11 | Matsushita Electric Industrials Co., Ltd. | Thin film magnetic head |
US4663684A (en) * | 1984-01-27 | 1987-05-05 | Hitachi, Ltd. | Magnetic transducer using magnetoresistance effect |
JPS60251682A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-12 | Hitachi Ltd | 磁気抵抗効果型素子 |
US4714625A (en) * | 1985-08-12 | 1987-12-22 | Chopra Kasturi L | Deposition of films of cubic boron nitride and nitrides of other group III elements |
JPS63304416A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-12 | Hitachi Ltd | 磁気抵抗効果型再生ヘツド |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP63041987A patent/JP2613239B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-02-10 KR KR1019890001519A patent/KR920002607B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1989-02-16 US US07/310,922 patent/US5010433A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-02-23 DE DE3905625A patent/DE3905625C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-04-27 US US07/873,785 patent/US5337203A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-02-16 US US08/018,249 patent/US5401542A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3905625A1 (de) | 1989-08-31 |
US5337203A (en) | 1994-08-09 |
KR920002607B1 (ko) | 1992-03-30 |
DE3905625C2 (de) | 1995-12-07 |
US5401542A (en) | 1995-03-28 |
JPH01217719A (ja) | 1989-08-31 |
KR890013605A (ko) | 1989-09-25 |
US5010433A (en) | 1991-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2613239B2 (ja) | 磁気抵抗効果型ヘツド | |
US5287237A (en) | Antiferromagnetic film superior in corrosion resistance, magnetoresistance-effect element and magnetoresistance-effect head including such thin film | |
US4825325A (en) | Magnetoresistive read transducer assembly | |
JPH0414411B2 (ja) | ||
JP3473939B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 | |
JP4039678B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
JPS62128015A (ja) | 磁気抵抗効果型磁気ヘツド | |
US5510941A (en) | Magneto-resistive type magnetic head with a shunt layer of molybdenum | |
JPH076328A (ja) | 磁気抵抗再生ヘッド及びその製造方法 | |
US20060077597A1 (en) | Magnetic detector including antiferromagnetic layer, amorphous barrier layer, base layer, and hard layer arranged in that order and method for manufacturing magnetic detector | |
JPH08129721A (ja) | NiO反強磁性膜の製造方法並びに磁気抵抗効果素子の製造方法とその素子 | |
JPH04211106A (ja) | 反強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッド | |
JPH03268215A (ja) | 磁気抵抗効果型ヘツド | |
JPH0652517A (ja) | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 | |
JP2907805B1 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果型ヘッドおよび磁気記録再生装置 | |
JP3036587B2 (ja) | 磁気抵抗効果ヘッドおよびその製造方法 | |
JPH0140511B2 (ja) | ||
JP3316869B2 (ja) | 磁気抵抗効果形ヘッド | |
JP2551008B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JPS5856223A (ja) | 薄膜磁気ヘツド | |
JP3175277B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
JP2000090420A (ja) | 磁気抵抗効果型ヘッド及び磁気ディスク装置 | |
JPH07282410A (ja) | 磁気ヘッドの構造及びそれを用いた磁気記録装置 | |
JPH0744824A (ja) | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド及びその製造方法 | |
JPH04149812A (ja) | 磁気ヘッド |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |