JP2607185Y2 - 分光装置 - Google Patents

分光装置

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JP2607185Y2
JP2607185Y2 JP1993043481U JP4348193U JP2607185Y2 JP 2607185 Y2 JP2607185 Y2 JP 2607185Y2 JP 1993043481 U JP1993043481 U JP 1993043481U JP 4348193 U JP4348193 U JP 4348193U JP 2607185 Y2 JP2607185 Y2 JP 2607185Y2
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この考案は、回折格子により光の
波長スペクトルを測定する分光装置において、波長スペ
クトル分解能の向上に関する。
【0002】
【従来の技術】図3の従来の分光装置の構成図の一例
と、図2(a)、(b)の図を参照して、各構成要素の
説明をする。
【0003】全体の動作原理を説明すると。外部から光
ファイバケーブルにより入力された光は、光ファイバ1
1から入射する。次に、入射光線は、放物面鏡12によ
り並行光線にされて次の回折格子14に入射する。ここ
で、入射した並行光線は、図2(a)の回折格子に入射
するビーム形状のように、X方向、Y方向とも同様なガ
ウシアン特性曲線のビーム形状になっている。この並行
光線は、回折格子14により分光されて放物面鏡16に
出力する。
【0004】分光された光線は、放物面鏡16によって
特定の波長成分のみが回折集光されて光検出器18に出
力される。ここで、当該光検出器の前には、焦点位置に
スリット17が設けてあり、当該スリット幅の波長のみ
をここで通過させている。そして当該スリットの後にあ
る光検出器18により光の強さに応じた電気信号に変換
され測定に供される。
【0005】上記説明の中で、当該回折格子の受光面に
は、スペクトル分解能を向上するために開口器13が設
けてある。この開口器の形状は、鋸歯状の遮蔽スリット
であり、Y軸方向の辺を鋸歯状にしたギザギザ形状にな
っている。この当該開口器を通過した後、光スリット1
7上に投影する光線のスポット形状は、図2(b)のよ
うに変換される。
【0006】ここで、図2(b)のスポット形状は、単
一波長を入射して当該開口器を通過した後のスリット1
7上におけるスポット形状の例を示している。この形状
変換は、上記説明の当該開口器による効果である。この
結果、図2(a)よりもX軸方向のスポットの広がりが
著しく減っていることがわかる。これは、X方向のスポ
ット広がりが抑制されているスポット形状である為、ス
ペクトル分解能を向上させるようにしている。
【0007】また、この当該回折格子は、この回折格子
を回動するための回転機構15の上に設けてある。この
回転機構は、回折格子の中央のY軸上を軸として任意に
回動する構造になっている。そして、目的とする波長範
囲のスペクトルを測定しようとする時は、この当該回転
機構を制御して測定波長範囲に応じた所定回転角度の範
囲を回動させる。この結果、目的とする分光された光成
分が、光検出器18に集光されて読み取り測定される。
つまり、この回転機構15により任意の波長スペクトル
の測定が実現される。
【0008】また、スペクトル分解能は、スリット17
のスリット幅を変えることで実現している。この為、ス
リットの一片を可動にする機構を設けて、ステッピング
・モータにより高精度にスリット間隔を設定制御できる
機構をもっている。これによるスペクトル分解能は、例
えば0.1nmから5.0nmの可変幅の範囲を有して
いる。通常、LED等のスペクトル幅の広い光を測定す
るときは、スリットを広くして測定し、逆にレーザーダ
イオードではスリットを狭くして測定する。また両スリ
ット先端部の厚みは、光の通過の妨げにならにないよう
にするために、例えば20um厚程度に薄くしてある。
【0009】本考案は、現状の分光装置の構造を大きく
変えることなく、光のスペクトル分解能をさらに向上す
ることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本考案の分光装置の構成では、回動する回析格子に
より、入射光線の波長掃引する方向をX軸方向とし、光
スペクトルを測定する分光装置において、X軸方向のビ
ームスポット形状を変換させる窓を光路中に設け、波長
掃引するX軸方向と直交する方向をY軸方向とし、Y軸
方向の窓辺の遮蔽形状がY軸と平行でない鋸歯形状であ
り、の部分の透過率が1、窓の外側部分の透過率が
0である開口器13を具備し、光スペクトルの分解能を
設定するスリット部に、当該開口器がビームスポット形
状を変換する際に現れた、スリット17の辺方向に回折
するビームスポットを遮蔽する縦スリット19を具備し
て分光装置を実現している。すなわち、従来のスリット
位置に、Y軸方向の光線を遮蔽する為の第2スリットと
して、縦スリット19を設ける。また、Y軸方向の辺を
鋸歯状形状の遮蔽を設けてビームスポット形状を変換さ
せる開口器13を設ける。そして、開口器13により変
換された光線のスポット形状の中で、図2(b)のスポ
ット32と33の領域の光線を当該縦スリットにより遮
蔽する構造手段をとる。
【0011】当該縦スリットの配置構造において、スリ
ット幅は、例えば0.1〜0.5mm程度で遮蔽削除し
たいビームスポット部分を効果的にできる幅に設定す
る。また、当該縦スリットの配置位置は、従来のスリッ
ト17の前(又は後ろ)に隣接した配置構造とする。
【0012】また、当該縦スリットは、焦点距離の位置
から少し外れた位置に設置する配置構造になる。これ
は、焦点位置には従来のスリット17を配置しなければ
ならない為である。しかし、当該縦スリット幅がスポッ
ト形状に比べて十分広い為、遮光性能の低下影響は少な
い。
【0013】
【作用】縦スリット19は、開口器13によりY軸上に
離散したスポット成分(図2(b))で、従来では性能
低下要因となっていたスポット領域(32、33)を削
除する働きを持つ。これにより、従来より一層スペクト
ル分解能の向上する役割がある。すなわち、図2(d)
のように縦スリット19によりY軸上のスリット範囲が
36の範囲に制限される。これによって図2(b)の3
2、33の領域が遮蔽されて31の領域のみを通過させ
る働きがある。
【0014】開口器13は、入射したガウシアン特性曲
線のビーム形状(図2(a))を、X軸方向のビームス
ポットの広がりを効果的に制限するスポット形状(図2
(b))に変換する作用がある。つまり、X軸上のビー
ム成分を抑制して、これを上下のY軸方向に移動させる
作用を有する。
【0015】
【実施例】本考案の実施例について、図1の本考案の分
光装置の構成図の一例と、図2(c)の従来スリット形
状の光線通過範囲と、図2(d)の本考案スリット形状
の光線通過範囲と、図2(e)の分光器出力スペクトル
例の図を参照して説明する。
【0016】本考案での実施概要を述べる。スリット1
7の位置にY軸方向の光線を制限し削除する為の縦スリ
ット19を設ける。これによって、当該縦スリットは、
図2(b)スポット形状の中で、スポット32、33の
領域の光スポットを遮蔽削除する。この結果、光検出器
18で電気信号に変換された光のスペクトル分解能特性
は、一層改善される。
【0017】図2(b)のスポット形状は、先にも説明
したように、単一波長を入射して当該開口器を通過した
後のスリット17上におけるスポット形状の例を示して
いる。
【0018】従来においては、図2(b)の全部のビー
ム形状の光線をスリット17を通過させた後光検出器1
8にて電気信号に変換していた。しかし図2(b)のビ
ームスポットの図を見ると、光スポット32、33の領
域を削除できればスペクトル分解能が更に良くなること
がわかる。そこで、本考案では、この、Y軸上から離散
している32、33領域の光スポットを削除する為の縦
スリット19を新たに設けることにした。
【0019】つまり、従来スリットでは、図2(c)の
Y軸上のスリット範囲35のようにY軸上の全部の光を
通過させていた。この為中心波長よりわずかにずれたΔ
λの位置でも光のスポットが検出される。つまり図2
(b)の32、33領域の光スポットが、Δλ点でもス
リット17を通過する。この為に当該光検出器で検出出
力されていた。
【0020】これに対して、本考案では、図2(d)の
ように縦スリット19によりY軸上のスリット範囲が3
6のように制限した。これは、図2(b)の32、33
の領域が削除されて、31のみの領域の光線を通過させ
ることである。つまり、Δλ点では32、33の光スポ
ットが遮蔽された為、当該光検出器では検出されなくな
る。この結果、図2(e)のスペクトル波形のように両
サイドの減衰量が著しく改善される。
【0021】例えば、従来はスペクトル波形41であっ
たものが、本考案によりスペクトル波形42になった。
この改善量は、約5db以上の改善である。これは、中
心波長での出力レベルは、当該縦スリットで遮蔽される
スポット部分がないので同じ光出力レベルである。しか
し、中心波長から外れた位置での光出力レベルは、32
と33の領域の光スポットが削除された光出力のみとな
る。この結果、中心波長の両サイドの隣接スペクトル波
形が、5db以上の減衰が実現されている。
【0022】上記の効果は、回折格子に開口器13を設
けてスポット形状を図2(b)のように変換し、かつ当
該縦スリットを設けることの2つの連携作用により、始
めてこのような性能改善が実現可能となった。
【0023】ここで、この当該縦スリットの配置構造に
ついて説明すると。スリット幅は、例えば0.1〜0.
5mm程度にする。また、焦点距離の位置から少し外れ
た位置に設置しても焦点ぼけによる遮光性能の低下影響
は少ないので、当該スリット17の全面又は後面に隣接
して設置できる。この為、当該縦スリットは、新たな光
学レンズを追加することなく容易に設けることができ
る。
【0024】図1の例では、分光装置を小型化するため
に、放物面鏡を用いて光線を反射させたり、また、縦ス
リット19を従来スリット17に隣接して設置した構成
にしているが、以下に示す構成手段でも上記説明と同様
の機能及び効果が得られる。
【0025】第一の例は、図4(a)のレンズで構成し
た分光装置例に示すように、放物面鏡の代わりにレンズ
を用いて分光装置を構成しても良いことは明らかであ
る。すなわち、放物面鏡12を用いる代わりにレンズ1
2aを用いて入射光線を並行光線に変換しても良い。ま
た放物面鏡16の代わりにレンズ16aを用いて分光し
た並行光線を集光させて焦点を結ぶようにしても良い。
【0026】第二の例は、縦スリット19を従来スリッ
ト17に隣接して設けていたが、図4(b)のレンズを
追加して焦点位置に縦スリットを設けた例に示すように
して構成しても良い。つまり、スリット17後に新たな
レンズ21を設けて焦点を結ばせる。そして、その焦点
位置に縦スリット19を設ける。その後に光検出器を置
く配置構造にする。
【0027】第三の例は、図4(c)の光検出器に縦ス
リットを密着配置した例に示すように、縦スリット19
を光検出器自体に密着させて構成する。これは縦スリッ
トの材料として板を使う必要がなくなり、光検出器の検
出面に、例えば遮光フィルムや遮光テープを接着した
り、遮光塗料を塗布することで縦スリットの役割を実現
できる。これが利用できる条件は、光検出器18の位置
がスリット17に近く焦点距離からのずれが大きくない
場合は、このように構成しても良い。また図4(b)の
場合でも光検出器と縦スリットを密着配置させて良いこ
とは明らかである。
【0028】
【考案の効果】本考案は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。第
2のスリットとして設けた縦スリット19によって、ス
リット上のスポット形状のうちでY軸上の上下に離散し
ているビームスポット領域32、33の光スポットが、
遮蔽され除去される。この結果、スリットを通過して光
検出器で電気信号に変換されるスペクトルの分解能が、
一層改善される。
【0029】中心波長での出力レベルは、当該縦スリッ
トで遮蔽されないので低下しない。一方、中心波長から
外れた位置での光出力レベルは、32と33の領域の光
スポットが削除された31の領域の光出力のみとなる。
この結果、中心波長の両サイドの隣接スペクトル波形
は、5db以上の減衰効果が得られる。
【0030】回折格子に開口器13を設けてスポット形
状を図2(b)のように変換し、かつ当該縦スリットを
設けることの2つの連携作用により、上記の性能改善効
果が実現される利点が得られる。
【0031】
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の分光装置の構成図の一例である。
【図2】回折格子に入射するビーム形状(a)と、スリ
ット上のスポット形状(b)と、従来スリット形状の光
線通過範囲(c)と、本考案スリット形状の光線通過範
囲(d)と、分光器出力スペクトル例(f)の図であ
る。
【図3】従来の分光装置の構成図の一例である。
【図4】レンズで構成した分光装置の例(a)と、レン
ズを追加して焦点位置に縦スリットを設けた例(b)
と、光検出器に縦スリットを密着配置した例(c)の図
である。
【符号の説明】
11 光ファイバ 12、16 放物面鏡 13 開口器 14 回折格子 15 回転機構 17 スリット 18 光検出器 19 縦スリット

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回動する回析格子により、入射光線の
    波長掃引する方向をX軸方向とし、光スペクトルを測定
    する分光装置において、X軸方向のビームスポット形状を変換させる窓を光路中
    に設け、波長掃引するX軸方向と直交する方向をY軸方
    向とし、 Y軸方向の窓辺の遮蔽形状がY軸と平行でない
    鋸歯形状であり、の部分の透過率が1、窓の外側部
    分の透過率が0である開口器(13)と、 光スペクトルの分解能を設定するスリット部に、当該開
    口器がビームスポット形状を変換する際に現れた、スリ
    ット(17)の辺方向に回折するビームスポットを遮蔽
    する縦スリット(19)と、 以上を具備していることを特徴とした分光装置。
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JP2002054993A (ja) * 2000-06-01 2002-02-20 Advantest Corp 分光器および分光方法
HU0900110D0 (en) * 2009-02-24 2009-04-28 Elipszilon Kulturalis Szolgalt Optical detector for a position detecting
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