JP2605517B2 - Magnetizing force control method for magnetic flaw detector - Google Patents
Magnetizing force control method for magnetic flaw detectorInfo
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は鋼、合金など非磁性でな
い金属帯の内部または表面の欠陥をオンラインで検査す
る磁気探傷装置の磁化力制御方法に係り、金属帯の種類
または厚さが変わっても欠陥についての検出信号レベル
をほぼ一定に保つ磁化力制御方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for controlling a magnetizing force of a magnetic flaw detector for inspecting defects inside or on a surface of a non-magnetic metal strip such as steel, alloy or the like on-line. The present invention also relates to a magnetizing force control method for keeping a detection signal level of a defect substantially constant.
【０００２】[0002]
【従来の技術】薄鋼帯の絞り加工や曲げ加工に致命的な
損傷を及ぼす微少な疵や非金属性介在物による欠陥の検
出には、従来から漏洩磁束探傷法が用いられている。こ
の探傷法は、直流で磁化された薄鋼帯の内部に欠陥があ
ると、その欠陥部分の薄鋼帯表面に欠陥の大きさに応じ
た漏洩磁束が生じることを利用して、欠陥の大きさと位
置を検出する方法である。前記漏洩磁束を検出する磁気
検出素子を走行する薄鋼帯の幅方向に複数個配置し、薄
鋼帯の欠陥をオンラインで検出する磁気探傷装置は、例
えば特開昭５６−６１６４５号公報や特開昭６３−１０
７８４９号公報に開示されている。また、磁気探傷装置
の磁化器には通常直流電源が用いられ、薄鋼帯の探傷す
る部分を磁化するよう一定の磁化電流が供給されてい
る。2. Description of the Related Art A magnetic flux leakage inspection method has conventionally been used for detecting minute flaws and defects caused by non-metallic inclusions that cause fatal damage to drawing and bending of a thin steel strip. This flaw detection method utilizes the fact that if there is a defect inside a thin steel strip magnetized by direct current, a leakage magnetic flux corresponding to the size of the defect is generated on the surface of the thin steel strip at the defect, and the defect size is determined. And a method of detecting the position. A magnetic flaw detector which arranges a plurality of magnetic detecting elements for detecting the leakage magnetic flux in the width direction of a traveling thin steel strip and detects defects of the thin steel strip online is disclosed in, for example, JP-A-56-61645. 63-10
No. 7849. In addition, a DC power supply is usually used for the magnetizer of the magnetic flaw detector, and a constant magnetizing current is supplied to magnetize the flaw-detected portion of the thin steel strip.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来の漏洩磁束探傷方法においては、金属帯を磁化
すると、欠陥が無い正常な部分からも若干の漏洩磁束
（浮遊磁界）が生じる。この浮遊磁界は、金属帯への磁
気力が増すごとに徐々にその強度が大きくなるが、金属
帯が磁気飽和点以上に磁化されると急激にその強度が大
きくなる。また、金属帯の磁化部が磁気飽和点よりも小
さな一定の磁化力で磁化されている場合は、金属帯の厚
さが厚いほど前記金属帯の内部の磁束密度が小さくな
る。従って、上記のように構成された磁気探傷装置の磁
化電流を一定とする磁化方法においては、対象とする金
属帯の種類と厚さの範囲で、どのような種類と厚さであ
っても磁気飽和しない範囲の磁化力を与える磁化電流を
供給せざるをえない。しかしこの磁化電流一定の場合
は、金属帯の種類と厚さによって金属帯内部の磁束密度
が変化するため、同一の体積の欠陥であってもその種類
や厚さの違いによって、欠陥の検出信号レベルが異な
り、欠陥の検出精度が安定しないという問題点があっ
た。However, in the above-mentioned conventional leakage magnetic flux detection method, when the metal band is magnetized, a slight leakage magnetic flux (floating magnetic field) is generated even from a normal portion having no defect. The intensity of the stray magnetic field gradually increases as the magnetic force applied to the metal band increases, but the intensity rapidly increases when the metal band is magnetized to a magnetic saturation point or higher. When the magnetized portion of the metal band is magnetized with a constant magnetizing force smaller than the magnetic saturation point, the magnetic flux density inside the metal band decreases as the thickness of the metal band increases. Therefore, in the magnetizing method for making the magnetizing current of the magnetic flaw detector configured as described above constant, the magnetic field is not limited to the type and thickness of the target metal band, regardless of the type and thickness. A magnetizing current which gives a magnetizing force in a range not to be saturated has to be supplied. However, when the magnetizing current is constant, the magnetic flux density inside the metal band changes depending on the type and thickness of the metal band. Therefore, even if the defect has the same volume, the defect detection signal depends on the type and thickness of the defect. There is a problem that the levels are different and the accuracy of detecting the defects is not stable.
【０００４】この発明はかかる問題点を解決するために
なされたものであり、金属帯の厚さや種類による透磁率
の違いにかかわらずオンラインで安定した欠陥検出精度
が得られる金属帯の磁気探傷装置の磁化力制御方法を得
ることを目的とする。The present invention has been made in order to solve such a problem, and a magnetic flaw detection apparatus for a metal strip capable of obtaining stable online defect detection accuracy regardless of the difference in magnetic permeability depending on the thickness and type of the metal strip. It is an object of the present invention to obtain a magnetizing force control method.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気探傷装
置の磁化力制御方法は、走行する金属帯を磁化器により
磁化し、前記金属帯の内部または表面の欠陥により生ず
る漏洩磁束を検出して欠陥信号を得る磁気探傷装置の磁
化力を制御する方法において、前記金属帯の種類または
厚さの相違にかかわらず、同一体積の欠陥についてはほ
ぼ一定レベルの欠陥検出信号が得られる磁化電流値のデ
ータを、あらかじめ前記種類及び厚さに対応してそれぞ
れ記憶する記憶手段と、前記磁気探傷装置に供給される
前記金属帯の種類及び厚さ情報に基づき前記記憶手段か
ら対応する磁化電流値のデータを読出す読出手段と、前
記読出手段により読出された磁化電流値のデータに基づ
き前記磁化器の磁化電流を制御する制御手段とを備えた
ものである。A magnetizing force control method for a magnetic flaw detector according to the present invention comprises magnetizing a running metal band with a magnetizer and detecting a leakage magnetic flux caused by a defect inside or on the surface of the metal band. A method for controlling the magnetizing force of a magnetic flaw detector that obtains a defect signal by using a magnetizing current value that can provide a defect detection signal of a substantially constant level for defects of the same volume regardless of the type or thickness of the metal strip. And a storage means for storing in advance the data corresponding to the type and the thickness, respectively, and a corresponding magnetization current value from the storage means based on the type and thickness information of the metal strip supplied to the magnetic flaw detector. A reading means for reading data; and a control means for controlling a magnetizing current of the magnetizer based on data of a magnetizing current value read by the reading means.
【０００６】[0006]
【作用】本発明においては、走行する金属帯を磁化器に
より磁化し、前記金属帯の内部または表面の欠陥により
生ずる漏洩磁束を検出して欠陥信号を得る磁気探傷装置
の磁化力を制御する方法において、記憶手段は前記金属
帯の種類または厚さの相違にかかわらず、同一体積の欠
陥についてはほぼ一定レベルの欠陥検出信号が得られる
磁化電流値のデータを、あらかじめ前記種類及び厚さに
対応してそれぞれ記憶する。読出手段は前記磁気探傷装
置に供給される前記金属帯の種類及び厚さ情報に基づき
前記記憶手段から対応する磁化電流値のデータを読出
す。制御手段は前記読出手段により読出された磁化電流
値のデータに基づき前記磁化器の磁化電流を制御する。According to the present invention, a method for controlling the magnetizing force of a magnetic flaw detector which magnetizes a running metal band by a magnetizer and detects a leakage magnetic flux generated by a defect inside or on the surface of the metal band to obtain a defect signal. In the storage means, regardless of the type or thickness of the metal strip, the magnetizing current value from which a defect detection signal of a substantially constant level can be obtained for a defect of the same volume, corresponds to the type and thickness in advance. And memorize each. The reading means reads the corresponding magnetizing current value data from the storage means based on the type and thickness information of the metal strip supplied to the magnetic flaw detector. The control means controls the magnetizing current of the magnetizer based on the data of the magnetizing current read by the reading means.
【０００７】[0007]
【実施例】図２は金属帯として薄鋼帯を用いたものであ
り、薄鋼帯の走行方向と平行する面における磁気探傷器
の断面模式図であり、図３は薄鋼帯の幅方向（走行方向
と直角方向）の面における磁気探傷器の断面と磁化器の
説明図である。図２及び図３において、１は薄鋼帯、２
は中空ロール、３は磁化ヨークであり、３ａ及び３ｂは
磁化ヨーク先端の開放部、４は磁化コイルである。そし
て磁化コイル４及び磁化ヨーク３により磁化器が構成さ
れる。５は磁気検出素子群であり、複数ｎ個の磁気検出
素子が直線状に所定間隔で配列されている。６はコント
ローラであり、磁気検出素子群５から各検出素子毎の出
力信号が入力される。７は磁化電源であり、コントロー
ラ６から供給される後述する磁化電流設定信号に基づ
き、磁化電流を磁化コイル４に供給する。FIG. 2 is a cross-sectional schematic view of a magnetic flaw detector using a thin steel strip as a metal strip in a plane parallel to the running direction of the thin steel strip, and FIG. 3 is a width direction of the thin steel strip. FIG. 2 is an explanatory diagram of a cross section of the magnetic flaw detector and a magnetizer in a plane (a direction perpendicular to the running direction). 2 and 3, 1 is a thin steel strip, 2
Is a hollow roll, 3 is a magnetized yoke, 3a and 3b are open portions at the tip of the magnetized yoke, and 4 is a magnetized coil. The magnetizing coil 4 and the magnetizing yoke 3 form a magnetizer. Reference numeral 5 denotes a magnetic sensing element group, and a plurality of n magnetic sensing elements are linearly arranged at predetermined intervals. Reference numeral 6 denotes a controller to which an output signal for each detection element is input from the magnetic detection element group 5. A magnetizing power supply 7 supplies a magnetizing current to the magnetizing coil 4 based on a magnetizing current setting signal supplied from the controller 6 to be described later.
【０００８】図２及び図３において、中空ロール２は非
磁性材料により製作され、内部に磁化ヨーク３、磁化コ
イル４及び磁気検出素子群５が薄鋼帯１の幅方向に配置
されている。磁化電源７が磁化コイル４に磁化電流を流
し、磁化ヨーク３を磁化させると、前記磁化ヨーク３の
開放部３ａ，３ｂからの磁束により走行する薄鋼帯１は
磁化される。そして磁気検出素子群５は薄鋼帯１の内部
または表面に欠陥がある場合に生じる漏洩磁束を検出し
てコントローラ６へ供給する。2 and 3, a hollow roll 2 is made of a non-magnetic material, and a magnetized yoke 3, a magnetized coil 4, and a magnetic sensing element group 5 are arranged inside the thin steel strip 1 in the width direction. When the magnetizing power supply 7 supplies a magnetizing current to the magnetizing coil 4 to magnetize the magnetizing yoke 3, the traveling thin steel strip 1 is magnetized by the magnetic flux from the open portions 3a and 3b of the magnetizing yoke 3. Then, the magnetic detection element group 5 detects a leakage magnetic flux generated when there is a defect inside or on the surface of the thin steel strip 1 and supplies it to the controller 6.
【０００９】図４は磁化電流を一定とした場合の薄鋼帯
の厚さと欠陥検出レベルとの特性図である。同図におい
ては、ある鋼種の厚さ０．１６ｍｍの薄鋼帯サンプルに
それぞれ０．２ｍｍφ、０．３ｍｍφ及び０．６ｍｍφ
のドリルによる人工欠陥穴をあけ、これと同一種類で厚
さの異なる５種類の薄鋼帯サンプルとを重ねることによ
り厚さを６種類に変化させ、磁化電流一定の磁化方法に
おける厚さ（単位はｍｍ）と欠陥検出信号レベル（単位
はボルト）との関係を調査した結果を示している。図４
より薄鋼帯の厚さが厚くなるほど、同一体積の欠陥検出
信号レベルは低下することが判る。これは厚さが厚いほ
ど薄鋼帯１内部における磁化部分の磁束密度が減少する
ためと考えられる。FIG. 4 is a characteristic diagram showing the relationship between the thickness of the thin steel strip and the defect detection level when the magnetizing current is constant. In the figure, 0.2 mmφ, 0.3 mmφ, and 0.6 mmφ are applied to a 0.16 mm thin steel strip sample of a certain steel type, respectively.
Drilled artificial defects by drilling, and superimposing five kinds of thin steel strip samples of the same type but different thickness to change the thickness to six types. Indicates the result of investigating the relationship between mm) and the defect detection signal level (unit: volt). FIG.
It can be seen that as the thickness of the thin steel strip increases, the defect detection signal level of the same volume decreases. This is considered to be because the magnetic flux density of the magnetized portion inside the thin steel strip 1 decreases as the thickness increases.
【００１０】また上記現象は種類の異なる薄鋼帯におい
ても、同じように発生するものである。そして薄鋼帯の
種類を変更するとその欠陥検出信号レベルは変化する
が、この検出信号レベルは一般に既知の種類の欠陥検出
信号値に所定係数を乗算することにより得られる程度の
ものである。[0010] The above phenomenon also occurs in different types of thin steel strips. When the type of the thin steel strip is changed, the defect detection signal level changes. However, this detection signal level is generally such that it can be obtained by multiplying a known type of defect detection signal value by a predetermined coefficient.
【００１１】図５は欠陥検出信号レベルを一定とした場
合の薄鋼帯の厚さと磁化電流との特性図である。同図に
おいては、ある鋼種の厚さ０．１６ｍｍの薄鋼帯サンプ
ルに０．２ｍｍφのドリルによる人工欠陥穴をあけ、こ
れと同一種類で厚さの異なる５種類の薄鋼帯サンプルを
重ねることにより厚さを６種類に変化させ、欠陥検出信
号レベルがそれぞれの厚さで一定になるように磁化電流
値を調整した場合に、その磁化電流（単位はアンペア）
と厚さ（単位はｍｍ）との関係を調査した結果を示して
いる。図５により、薄鋼帯の厚さの違いにかかわらず同
一体積の欠陥について一定の欠陥検出信号レベルを得る
ためには、厚さが厚くなるほど大きな磁化電流が必要で
あることが判る。これは換言すると、被探傷物から洩れ
出す浮遊磁界の強さを一定に保つように、磁化器４０の
励磁電流を制御する必要があるということである。FIG. 5 is a characteristic diagram of the thickness of the thin steel strip and the magnetizing current when the defect detection signal level is fixed. In the same figure, an artificial defect hole is drilled with a drill of 0.2 mmφ in a thin steel strip sample of a certain steel type with a thickness of 0.16 mm, and five types of thin steel strip samples of the same type but different in thickness are stacked. When the magnetizing current value is adjusted so that the defect detection signal level becomes constant at each thickness, the magnetizing current (unit is ampere)
2 shows the results of an investigation on the relationship between the thickness and the thickness (unit: mm). FIG. 5 shows that in order to obtain a constant defect detection signal level for defects of the same volume irrespective of the difference in thickness of the thin steel strip, a larger magnetizing current is required as the thickness increases. In other words, it is necessary to control the exciting current of the magnetizer 40 so as to keep the strength of the stray magnetic field leaking from the inspection object constant.
【００１２】従って金属帯の種類及び厚さに対応して所
望の（即ち一定レベルの欠陥検出信号が得られる）磁化
電流値のデータをあらかじめコントローラ６内の記憶手
段に記憶させておけば、コントロール６は実際に磁気探
傷を行なう金属帯の種類及び厚さ情報により前記記憶手
段に記憶しておいた磁化電流値のデータを読出し、これ
から磁化電流設定信号を磁化電源７に供給することがで
きる。Therefore, if data of a desired magnetizing current value (that is, a certain level of defect detection signal is obtained) corresponding to the type and thickness of the metal strip is stored in advance in the storage means in the controller 6, the control can be performed. Reference numeral 6 reads out the magnetizing current value data stored in the storage means based on the type and thickness information of the metal strip to be actually subjected to magnetic flaw detection, and from this, can supply a magnetizing current setting signal to the magnetizing power supply 7.
【００１３】図１は本発明に係る磁化電流制御手段を含
む磁気探傷装置の概略構成を示すブロック図である。同
図において、５は磁気検出素子群で内部にｎ個の磁気検
出素子５１〜５ｎを含む。６はコントローラであり、内
部にマルチプレクサ６１、信号処理回路６２、データ処
理制御装置６３及び表示器６４を含む。７は磁化電源、
４０は磁化器であり、磁化ヨーク３及び磁化コイル４に
より構成される。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a magnetic flaw detector including a magnetizing current control means according to the present invention. In the figure, reference numeral 5 denotes a magnetic detecting element group, which includes n magnetic detecting elements 51 to 5n inside. Reference numeral 6 denotes a controller, which internally includes a multiplexer 61, a signal processing circuit 62, a data processing control device 63, and a display 64. 7 is a magnetizing power supply,
Reference numeral 40 denotes a magnetizer, which includes the magnetization yoke 3 and the magnetization coil 4.
【００１４】図１の動作を説明する。磁化電源７は後述
する磁化電流設定信号に基づき、設定された磁化電流を
磁化コイル４に供給する。磁気検出素子群５内の各磁気
検出素子５１〜５ｎからの出力信号はそれぞれコントロ
ーラ６内のマルチプレクサ６１へ入力される。マルチプ
レクサ６１はデータ処理制御装置６３から供給される選
択制御信号に基づき、入力される各磁気検出素子５１〜
５ｎからの出力信号を１つずつ順番に選択して、これを
次の信号処理回路６２に送出する。The operation of FIG. 1 will be described. The magnetizing power supply 7 supplies a set magnetizing current to the magnetizing coil 4 based on a magnetizing current setting signal described later. Output signals from the magnetic detection elements 51 to 5n in the magnetic detection element group 5 are input to the multiplexer 61 in the controller 6, respectively. The multiplexer 61 receives the input magnetic detection elements 51 to 51 based on the selection control signal supplied from the data processing control device 63.
The output signals from 5n are sequentially selected one by one and sent to the next signal processing circuit 62.
【００１５】信号処理回路６２は、各磁気検出素子５１
〜５ｎから出力されマルチプレクサ６１を介して入力さ
れる信号を該当磁気検出素子５ｉ（ｉ＝１，２，…ｎ）
が検出した漏洩磁束の大きさに対応した検出電圧Ｖ０i
に変換する回路であり、例えば雑音除去のためのローパ
スフィルタ、ピーク値検出回路、加減算回路及び増幅器
等により構成することができる。信号処理回路６２から
出力される各磁気検出素子５ｉ毎の検出電圧Ｖ０i はデ
ータ処理制御装置６３に供給される。A signal processing circuit 62 is provided for each magnetic sensing element 51.
5n (i = 1, 2,... N) corresponding to the magnetic detection element 5i (i = 1, 2,... N)
Voltage V0 i corresponding to the magnitude of the leakage magnetic flux detected by
The circuit can be configured by, for example, a low-pass filter for removing noise, a peak value detection circuit, an addition / subtraction circuit, an amplifier, and the like. The detection voltage V0 i for each magnetic sensor 5i output from the signal processing circuit 62 is supplied to the data processing control unit 63.
【００１６】データ処理制御装置６３は一種の電子計算
機であり、例えばマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）、ラン
ダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリメモリ
（ＲＯＭ）及び入出力インターフェース（Ｉ／Ｏ Ｉ
Ｆ）等により構成される。データ処理制御装置６３内の
前記ＲＯＭには制御用プログラムのほかに、各磁気検出
素子５ｉ（ｉ＝１，２，…ｎ）毎にそれぞれ感度係数Ｋ
ａi をあらかじめ記憶している。そして信号処理回路６
２から入力される各検出電圧Ｖ０i に該当磁気検出素子
５ｉに対応する感度係数Ｋａi を乗算して、金属帯１に
おける該当磁気検出素子５ｉの対向位置に発生している
欠陥の規模を示す電圧Ｖｆi （Ｖｆi ＝Ｋａi ・Ｖ
０i ）を算出して、表示器６４へ表示する。The data processing control device 63 is a kind of electronic computer, for example, a microprocessor (CPU), a random access memory (RAM), a read only memory (ROM), and an input / output interface (I / O I).
F) and the like. In the ROM in the data processing control device 63, in addition to the control program, the sensitivity coefficient K for each magnetic detection element 5i (i = 1, 2,...
a i is stored in advance. And the signal processing circuit 6
2 is multiplied by the sensitivity coefficient Ka i corresponding to the corresponding magnetic detection element 5i to each detection voltage V0 i input from 2 to indicate the size of a defect occurring at a position facing the corresponding magnetic detection element 5i in the metal strip 1. voltage Vf i (Vf i = Ka i · V
0 i ) is calculated and displayed on the display 64.
【００１７】またデータ処理制御装置６３内の前記ＲＯ
Ｍには、図５で説明した同一体積の欠陥については金属
帯の種類や厚さの相違に関係なく一定の欠陥検出信号レ
ベルを得るために、金属帯１の種類と厚さに対応する磁
化電流値のデータをあらかじめ記憶している。このデー
タの記憶方法は前記種類と厚さに対応する各データをテ
ーブル形式で記憶しても、あるいは図５の曲線を近似演
算する演算式で記憶していてもいずれでもよい。また金
属帯の種類毎の各データとして記憶しても、基準種類の
データのみを記憶して、種類の変更には演算（例えば係
数の乗算）を行って算出するものでもよい。いずれにし
ろ金属帯の種類と厚さを指定すると対応する磁化電流値
のデータが得られるような所要データをＲＯＭに記憶し
ておけばよい。The RO in the data processing control unit 63
M indicates the magnetization corresponding to the type and thickness of the metal strip 1 in order to obtain a constant defect detection signal level regardless of the type and thickness of the metal strip for the defects of the same volume described in FIG. Current value data is stored in advance. The method of storing the data may be either storing the data corresponding to the type and thickness in a table format or storing the data in an arithmetic expression that approximates the curve in FIG. Alternatively, the data may be stored as data for each type of metal band, or only the data of the reference type may be stored, and the type may be changed by performing an operation (for example, multiplication of a coefficient). In any case, necessary data may be stored in the ROM so that when the type and thickness of the metal band are designated, the corresponding magnetizing current value data can be obtained.
【００１８】データ処理制御装置６３には、外部から磁
気探傷を行なうべき金属帯１の種類及び厚さ情報が入力
される。また厚さについては、磁気探傷装置に組込まれ
た板厚計の測定値が入力されることもある。データ処理
制御装置６３内のＣＰＵは上記種類及び厚さ情報に基づ
き、ＲＯＭ内に記憶されている磁化電流値のデータを直
接読出すか、または読出しデータから所望の磁化電流値
を算出して、これを磁化電流設定値の信号として磁化電
源７に供給する。磁化電源７は前記磁化電流設定値に基
づき、前記種類及び厚さの相違にかかわらず金属帯１の
内部磁化部の磁束密度が一定になるような磁化電流を磁
化コイル４に供給する。その結果金属帯の種類及び厚さ
の違いにかかわらず同一体積の欠陥については、ほぼ一
定レベルの欠陥検出信号が得られる。The type and thickness information of the metal strip 1 to be subjected to magnetic flaw detection is input to the data processing controller 63 from the outside. As for the thickness, a measured value of a thickness gauge incorporated in the magnetic flaw detector may be inputted. The CPU in the data processing control device 63 reads the magnetizing current value data stored in the ROM directly or calculates a desired magnetizing current value from the read data based on the type and thickness information. Is supplied to the magnetization power supply 7 as a signal of the magnetization current set value. The magnetizing power supply 7 supplies a magnetizing current to the magnetizing coil 4 based on the magnetizing current set value such that the magnetic flux density of the internal magnetized portion of the metal strip 1 becomes constant regardless of the type and thickness. As a result, a defect detection signal of a substantially constant level is obtained for defects of the same volume regardless of the type and thickness of the metal strip.
【００１９】図６は本発明による磁化電流制御を行なっ
た場合の探傷結果例を示す図である。同図においては、
金属帯に設けられた０．２ｍｍφ、０．３ｍｍφ及び
０．６ｍｍφのドリルによる人工欠陥に対して磁化電流
制御を行なって探傷を行なうと、金属帯の厚さの変化に
かかわらず、それぞれ同一体積の欠陥検出信号がほぼ一
定レベルとなることを示している。FIG. 6 is a diagram showing an example of a flaw detection result when the magnetizing current control according to the present invention is performed. In the figure,
When flaw detection is performed by controlling the magnetizing current for artificial defects with a 0.2 mmφ, 0.3 mmφ, and 0.6 mmφ drill provided on the metal strip, the same volume is obtained regardless of the change in the thickness of the metal strip. Indicate that the defect detection signal of the above is at a substantially constant level.
【００２０】[0020]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、走行する
金属帯を磁化器により磁化し、前記金属帯の内部または
表面の欠陥により生ずる漏洩磁束を検出して欠陥信号を
得る磁気探傷装置の磁化力を制御する方法において、前
記金属帯の種類または厚さの相違にかかわらず、同一体
積の欠陥についてはほぼ一定レベルの欠陥検出信号が得
られる磁化電流値のデータを、あらかじめ前記種類及び
厚さに対応してそれぞれ記憶手段に記憶し、前記磁気探
傷装置に供給される前記金属帯の種類及び厚さ情報に基
づき前記記憶手段から対応する磁化電流値のデータを読
出し、前記読出された磁化電流値のデータに基づき前記
磁化器の磁化電流を制御するようにしたので、金属帯の
種類や厚さが変化しても、同一体積の欠陥からはほぼ同
一レベルの欠陥検出信号が得られ、オンラインで安定し
た欠陥検出精度を得ることができる。As described above, according to the present invention, a magnetic flaw detector which magnetizes a running metal band by a magnetizer and detects a leakage magnetic flux generated by a defect inside or on the surface of the metal band to obtain a defect signal. In the method of controlling the magnetizing force, regardless of the type or thickness of the metal band, the magnetizing current value data at which a defect detection signal of a substantially constant level can be obtained for a defect of the same volume is determined in advance by the type and the type. The corresponding magnetizing current value is stored in the storage means corresponding to the thickness, and the data of the corresponding magnetizing current value is read out from the storage means based on the type and thickness information of the metal strip supplied to the magnetic flaw detector, and the read-out is performed. Since the magnetizing current of the magnetizer is controlled based on the magnetizing current value data, even if the type or thickness of the metal band changes, defect detection of almost the same level can be performed from defects of the same volume. Signal is obtained, it is possible to obtain a stable defect detection accuracy online.
【図１】本発明に係る磁化電流制御手段を含む磁気探傷
装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a magnetic flaw detector including a magnetizing current control unit according to the present invention.
【図２】薄鋼帯の走行方向と平行する面における磁気探
傷器の断面模式図である。FIG. 2 is a schematic sectional view of the magnetic flaw detector in a plane parallel to a running direction of the thin steel strip.
【図３】薄鋼帯の幅方向の面における磁気探傷器の断面
と磁化器の説明図である。FIG. 3 is an explanatory view of a cross section of a magnetic flaw detector and a magnetizer on a surface in a width direction of a thin steel strip.
【図４】磁化電流を一定とした場合の薄鋼帯の厚さと欠
陥検出信号レベルとの特性図である。FIG. 4 is a characteristic diagram of the thickness of a thin steel strip and the level of a defect detection signal when the magnetizing current is constant.
【図５】欠陥検出信号レベルを一定とした場合の金属帯
の厚さと磁化電流の特性図である。FIG. 5 is a characteristic diagram of a metal strip thickness and a magnetizing current when a defect detection signal level is fixed.
【図６】本発明による磁化電流制御を行なった場合の探
傷結果例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of a flaw detection result when the magnetizing current control according to the present invention is performed.
１ 薄鋼帯 ２ 中空ロール ３ 磁化ヨーク ４ 磁化コイル ５ 磁気検出素子群 ６ コントローラ ７ 磁化電源 ４０ 磁化器 ６１ マルチプレクサ ６２ 信号処理回路 ６３ データ処理制御装置 ６４ 表示器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Thin steel strip 2 Hollow roll 3 Magnetization yoke 4 Magnetization coil 5 Magnetic detection element group 6 Controller 7 Magnetization power supply 40 Magnetizer 61 Multiplexer 62 Signal processing circuit 63 Data processing control device 64 Display
Claims (1)
前記金属帯の内部または表面の欠陥により生ずる漏洩磁
束を検出して欠陥信号を得る磁気探傷装置の磁化力を制
御する方法において、 前記金属帯の種類または厚さの相違にかかわらず、同一
体積の欠陥についてはほぼ一定レベルの欠陥検出信号が
得られる磁化電流値のデータを、あらかじめ前記種類及
び厚さに対応してそれぞれ記憶手段に記憶し、 前記磁気探傷装置に供給される前記金属帯の種類及び厚
さ情報に基づき前記記憶手段から対応する磁化電流値の
データを読出し、 前記読出された磁化電流値のデータに基づき前記磁化器
の磁化電流を制御することを特徴とする磁気探傷装置の
磁化力制御方法。1. A running metal strip is magnetized by a magnetizer,
In the method for controlling the magnetizing force of a magnetic flaw detector which obtains a defect signal by detecting a leakage magnetic flux generated by a defect inside or on the surface of the metal strip, regardless of the type or thickness of the metal strip, For the defect, data of the magnetizing current value at which a defect detection signal of a substantially constant level is obtained is stored in advance in the storage means in accordance with the type and thickness, and the type of the metal strip supplied to the magnetic flaw detector. And reading the corresponding magnetizing current value data from the storage means based on the thickness information, and controlling the magnetizing current of the magnetizer based on the read magnetizing current value data. Power control method.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22135891A JP2605517B2 (en) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | Magnetizing force control method for magnetic flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP22135891A JP2605517B2 (en) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | Magnetizing force control method for magnetic flaw detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0560731A JPH0560731A (en) | 1993-03-12 |
| JP2605517B2 true JP2605517B2 (en) | 1997-04-30 |
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ID=16765545
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|---|---|---|---|
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2605517B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH085610A (en) * | 1991-06-04 | 1996-01-12 | Nkk Corp | Method and system for magnetic detection |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5169626B2 (en) * | 2008-08-27 | 2013-03-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | Internal defect measurement method |
-
1991
- 1991-09-02 JP JP22135891A patent/JP2605517B2/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| JPH085610A (en) * | 1991-06-04 | 1996-01-12 | Nkk Corp | Method and system for magnetic detection |
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