JP2569758B2 - 濁度計の校正方法 - Google Patents
濁度計の校正方法Info
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- JP2569758B2 JP2569758B2 JP63241993A JP24199388A JP2569758B2 JP 2569758 B2 JP2569758 B2 JP 2569758B2 JP 63241993 A JP63241993 A JP 63241993A JP 24199388 A JP24199388 A JP 24199388A JP 2569758 B2 JP2569758 B2 JP 2569758B2
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、汚水処理場などで使用して、懸濁物の濃度
を光学的に測定する浸漬形の濁度計の校正方法に関する
ものである。
を光学的に測定する浸漬形の濁度計の校正方法に関する
ものである。
B.発明の概要 本発明は、校正容器内の標準液に検出部の所要部分を
浸漬して零点校正、スパン校正を行う浸漬形の濁度計の
校正方法において、 信号サンプリング周期毎にアナログ信号をサンプリン
グし、過去N個のデータの変動係数を求めて、その安定
性から校正値が安定したか否かを判定することにより、 校正値の個人差をなくして校正値の安定化を図り、校
正時間の短縮と測定精度の向上を図るようにしたもので
ある。
浸漬して零点校正、スパン校正を行う浸漬形の濁度計の
校正方法において、 信号サンプリング周期毎にアナログ信号をサンプリン
グし、過去N個のデータの変動係数を求めて、その安定
性から校正値が安定したか否かを判定することにより、 校正値の個人差をなくして校正値の安定化を図り、校
正時間の短縮と測定精度の向上を図るようにしたもので
ある。
C.従来の技術 浸漬形濁度計の構成例を第3図に示す。図中、21は検
出部、22は変換器である。前記検出部21はパイプ部と検
出器本体とからなり、検水槽23の岸面の取付台24に固定
され、前記変換器22とは検出部用ケーブル25により接続
されている。また、この検出部21にはブラシ式の洗浄器
26が並設され、洗浄器用ケーブル27により前記変換器22
に接続されている。検出器本体の検出面は、例えば散乱
光検出方式では第4図に示すように同心配置の発光面S1
と受光面S2を有しており、前記洗浄器26のブラシ26Aに
より適時ブラッシングされる。
出部、22は変換器である。前記検出部21はパイプ部と検
出器本体とからなり、検水槽23の岸面の取付台24に固定
され、前記変換器22とは検出部用ケーブル25により接続
されている。また、この検出部21にはブラシ式の洗浄器
26が並設され、洗浄器用ケーブル27により前記変換器22
に接続されている。検出器本体の検出面は、例えば散乱
光検出方式では第4図に示すように同心配置の発光面S1
と受光面S2を有しており、前記洗浄器26のブラシ26Aに
より適時ブラッシングされる。
なお、前記変換器22は、商用電源から必要な測定電源
を得るとともに、検出部21からの検出信号を変換処理し
て濁度表示したり、変換処理の結果を監視制御室などへ
送出する機能を備えている。
を得るとともに、検出部21からの検出信号を変換処理し
て濁度表示したり、変換処理の結果を監視制御室などへ
送出する機能を備えている。
第5図は回路構成を示すもので、発光光線をガラス窓
を通して検水中に投射する発光ダイオード31、懸濁物A
による散乱光の一部を受光するフォトダイオード32、受
光信号を増幅する増幅器33、この増幅器の後段に順次位
置するフィルタ回路34及び整流回路35が検出部21に設け
られ、発光回路36、電源回路37及び変換増幅部38が変換
器22に設けられている。
を通して検水中に投射する発光ダイオード31、懸濁物A
による散乱光の一部を受光するフォトダイオード32、受
光信号を増幅する増幅器33、この増幅器の後段に順次位
置するフィルタ回路34及び整流回路35が検出部21に設け
られ、発光回路36、電源回路37及び変換増幅部38が変換
器22に設けられている。
このような構成の濁度計は、電源投入後、第6図に示
す処理フローに従って動作する。この処理フローに零校
正、スパン校正方法が含まれている。
す処理フローに従って動作する。この処理フローに零校
正、スパン校正方法が含まれている。
また、濁度計は長期間連続的に使用されるため、検出
面の汚れ、回路素子の経時変化、電気特性の経時変化等
によって検出出力に誤差を生じることがあり、適時その
検出特性をチェックしておく必要がある。
面の汚れ、回路素子の経時変化、電気特性の経時変化等
によって検出出力に誤差を生じることがあり、適時その
検出特性をチェックしておく必要がある。
校正時には、第7図に示すように校正容器41に標準液
42を満たし、この液中に検出部21の先端部(検出器本
体)を浸漬して、その時の出力が規定値となるように調
整する。校正値の決定は、校正者が表示パネルを見て値
が安定したと判断した時、スイッチを操作することによ
って行う。
42を満たし、この液中に検出部21の先端部(検出器本
体)を浸漬して、その時の出力が規定値となるように調
整する。校正値の決定は、校正者が表示パネルを見て値
が安定したと判断した時、スイッチを操作することによ
って行う。
D.発明が解決しようとする課題 ここで問題となるのは、校正値が真に安定したかどう
かの判断基準が人により異なることである。人により判
断基準が異なれば、全く同じ校正条件で数人に校正を行
わせた時、校正値が異なる可能性が十分にあり、測定精
度に影響する。また、校正はできるだけ短時間で終了さ
せる必要があるが、安定の判断が不明確であるため、安
定状態となる以前に校正を終了させてしまったり、必要
以上に校正に時間を掛けてしまう場合がある。
かの判断基準が人により異なることである。人により判
断基準が異なれば、全く同じ校正条件で数人に校正を行
わせた時、校正値が異なる可能性が十分にあり、測定精
度に影響する。また、校正はできるだけ短時間で終了さ
せる必要があるが、安定の判断が不明確であるため、安
定状態となる以前に校正を終了させてしまったり、必要
以上に校正に時間を掛けてしまう場合がある。
本発明の目的は、校正値の個人差をなくすことがで
き、かつ高い精度での校正が可能な濁度計の校正方法を
提供することにある。
き、かつ高い精度での校正が可能な濁度計の校正方法を
提供することにある。
E.課題を解決するための手段 本発明は、校正容器内の標準液に検出部の所要部分を
浸漬して零点校正、スパン校正を行う浸漬形の濁度計に
おいて、信号サンプリング周期毎にアナログ信号をサン
プリングし、このアナログ信号の平均値、平方和、標準
偏差、過去N個のデータの変動係数を各々計算した後、
変動係数の安定性から校正値が安定したか否かを判定す
るようにしたことを特徴とするものである。
浸漬して零点校正、スパン校正を行う浸漬形の濁度計に
おいて、信号サンプリング周期毎にアナログ信号をサン
プリングし、このアナログ信号の平均値、平方和、標準
偏差、過去N個のデータの変動係数を各々計算した後、
変動係数の安定性から校正値が安定したか否かを判定す
るようにしたことを特徴とするものである。
F.作用 校正時に信号入力安定性判定の基準となる変動係数が
計算され、これが一定の条件を連続して所定回数満足す
ると、校正曲線が安定したと見なされ、この時の値が校
正値となる。この校正値に個人差はなく、しかも高精度
の値が速やかに求められる。
計算され、これが一定の条件を連続して所定回数満足す
ると、校正曲線が安定したと見なされ、この時の値が校
正値となる。この校正値に個人差はなく、しかも高精度
の値が速やかに求められる。
G.実施例 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説
明する。
明する。
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示すもので、
1はアナログ信号増幅部、2はデジタル演算部、3は表
示器、21は検出部、41は校正容器、42は標準液である。
1はアナログ信号増幅部、2はデジタル演算部、3は表
示器、21は検出部、41は校正容器、42は標準液である。
前記デジタル演算部2には信号サンプリング周期Kt毎
にアナログ信号Aiを入力し、このアナログ信号の平均値
、平方和Sn、標準偏差σn及び過去N個の変動係数CV
nを次の各式から計算し、変動係数CVnを用いて安定性を
判定する。
にアナログ信号Aiを入力し、このアナログ信号の平均値
、平方和Sn、標準偏差σn及び過去N個の変動係数CV
nを次の各式から計算し、変動係数CVnを用いて安定性を
判定する。
CVn=σn/ 安定性の判定:CVn≦α(0<α<0.1) の条件をy回以上連続して満足した場合に第2図の校正
曲線が安定したと見なす。
曲線が安定したと見なす。
この時、濁度計では、零またはスパンLED(発光ダイ
オード)を点滅させ、同時に表示器3に規定の電圧値を
表示するようにしている。
オード)を点滅させ、同時に表示器3に規定の電圧値を
表示するようにしている。
なお、α及びyの値は、零点校正、スパン校正、フル
スケールの値や要求される校正後の測定精度を検討して
決定する。
スケールの値や要求される校正後の測定精度を検討して
決定する。
このような構成とすると、校正時に信号入力安定性判
定の基準となる変動係数CVnが計算され、 CVn≦α(0<α<0.1) の条件を連続してy回満足した場合に校正曲線が安定し
たと見なされ、この時の値が校正値となる。従って、校
正値に個人差がなくなり、短時間で高精度の濁度測定が
可能となる。
定の基準となる変動係数CVnが計算され、 CVn≦α(0<α<0.1) の条件を連続してy回満足した場合に校正曲線が安定し
たと見なされ、この時の値が校正値となる。従って、校
正値に個人差がなくなり、短時間で高精度の濁度測定が
可能となる。
H.発明の効果 以上のように本発明によれば、信号サンプリング周期
毎にアナログ信号をサンプリングし、過去N個のデータ
の変動係数を求めて、その安定性から校正値が安定した
か否かを判定するようにしたので、校正値の個人差をな
くすことができる。また、デジタル演算により高速、高
精度で計算することができ、校正時間の短縮と測定精度
の向上が図れる。
毎にアナログ信号をサンプリングし、過去N個のデータ
の変動係数を求めて、その安定性から校正値が安定した
か否かを判定するようにしたので、校正値の個人差をな
くすことができる。また、デジタル演算により高速、高
精度で計算することができ、校正時間の短縮と測定精度
の向上が図れる。
第1図は本発明による校正方法に用いられる濁度計の一
実施例を示すブロック図、第2図は同実施例の校正曲線
図、第3図は浸漬形濁度計の構成例を示す構成説明図、
第4図は同濁度計の検出部検出面の正面図、第5図及び
第6図は同濁度計の回路構成を示すブロック図及び処理
フロー図、第7図は校正状態を説明するための断面図で
ある。 1……アナログ増幅部、2……デジタル演算部、3……
表示器、21……検出部、22……変換器、25……ケーブ
ル、26……洗浄器、31……発光ダイオード、32……フォ
トダイオード、41……校正容器、42……標準液。
実施例を示すブロック図、第2図は同実施例の校正曲線
図、第3図は浸漬形濁度計の構成例を示す構成説明図、
第4図は同濁度計の検出部検出面の正面図、第5図及び
第6図は同濁度計の回路構成を示すブロック図及び処理
フロー図、第7図は校正状態を説明するための断面図で
ある。 1……アナログ増幅部、2……デジタル演算部、3……
表示器、21……検出部、22……変換器、25……ケーブ
ル、26……洗浄器、31……発光ダイオード、32……フォ
トダイオード、41……校正容器、42……標準液。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−63839(JP,A) 特開 昭62−256839(JP,A) 特開 昭63−169539(JP,A) 実開 昭60−165849(JP,U)
Claims (1)
- 【請求項1】校正容器内の標準液に検出部の所要部分を
浸漬して零点校正、スパン校正を行う濁度計の校正方法
において、信号サンプリング周期毎にアナログ信号をサ
ンプリングし、このアナログ信号の平均値、平方和、標
準偏差、過去N個のデータの変動係数を各々計算した
後、変動係数の安定性から校正値が安定したか否かを判
定するようにしたことを特徴とする濁度計の校正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63241993A JP2569758B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 濁度計の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63241993A JP2569758B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 濁度計の校正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0288944A JPH0288944A (ja) | 1990-03-29 |
JP2569758B2 true JP2569758B2 (ja) | 1997-01-08 |
Family
ID=17082653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63241993A Expired - Fee Related JP2569758B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 濁度計の校正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2569758B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2745267B2 (ja) * | 1992-08-03 | 1998-04-28 | 野田通信株式会社 | 濁度をデジタル表示する濁度計測方法 |
JPH0688784A (ja) * | 1992-09-05 | 1994-03-29 | Horiba Ltd | ガス分析計の校正方法 |
EP3757547B1 (en) * | 2019-06-28 | 2022-11-23 | ABB Schweiz AG | Turbidity calibration-correction apparatus and method for an automated calibration correction |
-
1988
- 1988-09-27 JP JP63241993A patent/JP2569758B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0288944A (ja) | 1990-03-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |