JP2563458B2 - Defect inspection device for disk-shaped optical recording medium - Google Patents
Defect inspection device for disk-shaped optical recording mediumInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、円盤状光学記録媒体における損傷や異物混
入等の欠陥を検出する装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for detecting a defect such as damage or contamination of a disc-shaped optical recording medium.
従来の技術 円盤状光学記録媒体（以下、光ディスクという）にお
いては、製造途中で記録表面に傷が付いたり異物が混入
したりする欠陥を生じることがある。かかる欠陥は情報
再生時に大きい障害となるため、その有無をあらかじめ
検出する必要がある。2. Description of the Related Art In a disc-shaped optical recording medium (hereinafter referred to as an optical disc), defects such as scratches on the recording surface and inclusion of foreign matter may occur during manufacturing. Since such a defect becomes a great obstacle during information reproduction, it is necessary to detect the presence or absence of the defect in advance.
最近、コンピュータ外部メモリとしての光ディスクが
実用化されており、これら記録媒体はその特徴から、今
後の高度情報社会にとって不可欠な低廉記録媒体を提供
するものとして期待されている。そこで、光ディスクの
欠陥を、短時間で、しかも正確に検出できる量産用検査
装置が必要となってきた。Recently, an optical disk as a computer external memory has been put into practical use, and these recording media are expected to provide inexpensive recording media indispensable for the future advanced information society due to their characteristics. Therefore, there is a need for a mass production inspection device that can accurately detect defects in optical disks in a short time.
以下に従来例の欠陥検査装置について説明する。 A conventional defect inspection apparatus will be described below.
第３図は従来の欠陥検査装置の一例の構成図である。
１は光学検出素子で、光学ヘッド８から光ビームが光デ
ィスクに入射され、その記録面部で反射された読取光ビ
ームが導かれる。２は各々の光検出素子１から導かれた
読取光ビームのスポットに応じた出力について演算を
し、再生信号（RF）と、光学ヘッド８からの光ディスク
において形成するスポットの、螺旋状または同心円状ト
ラックに対する位置ずれに応じたトラッキングエラー信
号（TE）及び光学ヘッド８からの光ビームの記録面上で
の集束状態に応じたフォーカスエラー信号（FE）をそれ
ぞれ演算する信号処理部である。３〜５は各々これら再
生信号（RF），トラッキングエラー信号（TE），フォー
カスエラー信号（FE）を信号増幅し、再生信号（RF
´），トラッキングエラー信号（TE´），フォーカスエ
ラー信号（FE´）を得る信号増幅部である。６は信号増
幅された再生信号（RF´），トラッキングエラー信号
（TE´），フォーカスエラー信号（FE´）においてディ
スクにおける欠陥によりある閾値以上の大きさのエラー
を発生した場合に、その欠陥の大きさに準じたパルス幅
の検出パルスを出力して欠陥検出を行う欠陥検出部であ
る。７は欠陥検出部６で検出されたパルスのパルス幅大
きさより、検査基準と比較して良否判定を行い、検査装
置のシステムコントロールを行うコントロール部であ
る。FIG. 3 is a block diagram of an example of a conventional defect inspection apparatus.
Reference numeral 1 denotes an optical detection element, which causes a light beam to enter the optical disc from the optical head 8 and guide the reading light beam reflected by the recording surface portion thereof. Reference numeral 2 denotes an output corresponding to the spot of the read light beam guided from each photodetector 1, and the reproduction signal (RF) and the spot formed on the optical disc from the optical head 8 are spiral or concentric. It is a signal processing unit that calculates a tracking error signal (TE) according to the positional deviation with respect to the track and a focus error signal (FE) according to the focusing state of the light beam from the optical head 8 on the recording surface. 3 to 5 amplify the reproduction signal (RF), the tracking error signal (TE), and the focus error signal (FE), and reproduce the reproduction signal (RF).
′), A tracking error signal (TE ′), and a focus error signal (FE ′). Reference numeral 6 indicates a defect of a reproduced signal (RF '), tracking error signal (TE'), and focus error signal (FE '), which have been amplified by a signal, when an error larger than a certain threshold value is caused by a defect in the disk. The defect detection unit outputs a detection pulse having a pulse width according to the size to detect a defect. Reference numeral 7 is a control unit for performing system control of the inspection apparatus by comparing the inspection pulse width with the inspection reference based on the pulse width of the pulse detected by the defect detection unit 6.
以上の様に構成された欠陥検査装置について、以下そ
の動作を説明する。The operation of the defect inspection device configured as described above will be described below.
まず、トラッキングサーボコントロール及びフォーカ
スサーボコントロールが行なわれたもとで、光ディスク
に形成された螺旋状または同心円状トラックにそって再
生パワーの光ビームにて検査を行うと、光ディスクの外
表面や螺旋状または同心円状トラックが形成された記録
部面の汚れや傷等の欠陥がある場合には、その欠陥が光
学ヘッドより読みとられて、光学検出部を形成する複数
の光検出素子１の検出信号中に欠陥による変化が生じ
る。そして、複数の光検出素子１の検出信号によるディ
スクの欠陥に起因する変化に基づき、複数の光検出素子
１の検出信号の演算が行われる。欠陥は、信号処理部２
から得られる再生信号（RF）に信号欠陥を生ぜしめると
ともに、同じく信号処理部から得られるトラッキングエ
ラー信号（TE）、及びフォーカスエラー信号（FE）中に
も欠陥部を生じる。First, under the control of tracking servo control and focus servo control, when an inspection is performed with a light beam of reproduction power along a spiral or concentric track formed on the optical disc, the outer surface of the optical disc or the spiral or concentric circle is examined. When there is a defect such as stains or scratches on the surface of the recording section on which the circular track is formed, the defect is read by the optical head and is detected in the detection signals of the plurality of photodetection elements 1 forming the optical detection section. Changes due to defects occur. Then, the detection signals of the plurality of photo-detecting elements 1 are calculated based on the changes caused by the detection signals of the plurality of photo-detecting elements 1 due to the defect of the disk. The defect is the signal processing unit 2
In addition to causing a signal defect in the reproduction signal (RF) obtained from the same, a defect portion also occurs in the tracking error signal (TE) and the focus error signal (FE) obtained from the signal processing unit.
第５図に、再生信号中に含まれる欠陥検出の測定原理
を示す。再生信号は欠陥の種類により増加する方向にも
減少する方向にも変化する。この信号に対し、閾値を設
定して欠陥検出を行い、閾値を起えた欠陥の大きさに準
じた幅のパルスを出力する。そして、このパルス幅の大
きさをクロックパルスによって計測し、欠陥の大きさを
検出する。FIG. 5 shows the measurement principle of defect detection included in the reproduced signal. The reproduction signal changes both in an increasing direction and a decreasing direction depending on the type of defect. A threshold value is set for this signal to detect a defect, and a pulse having a width according to the size of the defect causing the threshold value is output. Then, the size of this pulse width is measured by the clock pulse to detect the size of the defect.
再生信号（RF）中での重大欠陥は記録情報と読込み情
報との不一致、つまりビットエラーやドロップアウトを
引き起こす原因となる。また、トラッキングエラー信号
（TE）及びフォーカスエラー信号（FE）中に比較的大き
な欠陥が発生した場合、トラッキングサーボコントロー
ルあるいはフォーカスサーボコントロールが正常に作動
しなくなる事態が生じ易くなる。A serious defect in the reproduction signal (RF) causes a discrepancy between recorded information and read information, that is, a bit error or a dropout. Further, when a relatively large defect occurs in the tracking error signal (TE) and the focus error signal (FE), it is likely that the tracking servo control or the focus servo control will not operate normally.
このため、欠陥検出装置では、ディスク中で、ビット
エラーやドロップアウトの原因となり得る重大欠陥及び
トラッキングサーボコントロール及びフォーカスサーボ
コントロールが正常に動作しなくなる原因となり得る重
大欠陥を適確に検出を行う必要性がある。Therefore, it is necessary for the defect detection device to accurately detect a serious defect that may cause a bit error or dropout in the disc and a serious defect that may cause the tracking servo control and the focus servo control to not operate normally. There is a nature.
ここで、従来の欠陥検査装置の検査フローチャートを
第４図に示す。光ディスクは膨大な記録容量を有してお
り、その情報トラック量も膨大な数となる。このため、
従来の欠陥検査装置では、検査時間の短縮を考慮して、
ユーザー情報トラック範囲を一定トラック間隔に飛び越
して、欠陥検査を行っており、円盤状光学記録媒体の欠
陥の大きさに対する検査基準値WAに対し、検査基準WBを
設定し（WA＞WB）、欠陥に対する良否判定を行ってい
た。Here, an inspection flowchart of the conventional defect inspection apparatus is shown in FIG. An optical disc has an enormous recording capacity, and the amount of information tracks on it is enormous. For this reason,
In the conventional defect inspection equipment, considering the reduction of inspection time,
User information Track range is skipped over a certain track interval for defect inspection, and inspection standard W B is set to inspection standard value W A for the size of the defect of the disk-shaped optical recording medium (W A > W B ), the defect was judged to be good or bad.
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような従来の構成及び検査法での
欠陥検査装置では、光ディスクの全面を一定トラック間
隔に飛びこしながら欠陥検査を行っているため、検査ト
ラック間に挟まれる様な欠陥や、数十トラックにまたが
る様な光ディスク基板表面や螺旋状または同心円状トラ
ックが形成された記録面部の汚れや傷などの重大欠陥の
検出が困難であるという問題点を有していた。DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention However, in the defect inspection apparatus with the conventional configuration and inspection method as described above, since the defect inspection is performed while jumping the entire surface of the optical disk at a constant track interval, it is sandwiched between the inspection tracks. However, it is difficult to detect such defects and serious defects such as dirt and scratches on the surface of the optical disk substrate that extends over several tens of tracks or the recording surface portion where spiral or concentric tracks are formed. .
本発明は上記従来の問題点を解決するため、ディスク
状記録媒体における重大欠陥を、短時間の検査時間でし
かも確実に検出を行なえることを実現し、欠陥に対する
信頼性を向上させた欠陥検査装置を提供することを目的
とするものである。In order to solve the above-mentioned conventional problems, the present invention realizes that a serious defect in a disk-shaped recording medium can be reliably detected in a short inspection time, and a defect inspection with improved reliability against the defect is realized. The purpose is to provide a device.
課題を解決するための手段 本発明においては、円盤状光学記録媒体における螺旋
状または同心円状トラックのデータ領域の欠陥検出を行
うに際して、円盤状光学記録媒体の一定間隔トラックご
とに検査を行い、円盤状光学記録媒体の内部または表面
部に存在するものとされた欠陥部が、読取位置におかれ
る状態に応じて読み取られた時に得られる欠陥検出パル
スより、その欠陥部分の発生位置情報を蓄積し、それら
検出位置情報により、検出された欠陥部分の前後トラッ
クを網羅したトラックの再検査を行うことにより、円盤
状光学記録媒体における、重大欠陥を、短時間の検査時
間で、しかもより確実に検出を行うことを可能にしたも
のである。Means for Solving the Problems In the present invention, when detecting a defect in a data area of a spiral or concentric circular track in a disk-shaped optical recording medium, an inspection is performed for each track at regular intervals of the disk-shaped optical recording medium, The defect detection pulse obtained when a defective portion, which is supposed to be present inside or on the surface of the optical recording medium, is read according to the state of being placed at the reading position, accumulates the occurrence position information of the defective portion. By performing the re-inspection of the tracks covering the tracks before and after the detected defective portion based on the detected position information, serious defects in the disc-shaped optical recording medium can be detected more reliably in a short inspection time. It is possible to do.
作用 この構成によって、情報トラック範囲を一定トラック
毎に飛び起こして欠陥検査を行う際に、重大欠陥の大き
さの閾値WCを従来法での閾値WBよりさらに小さな値に設
定し（WB＞WC）する等して、欠陥発生時の位置情報を検
出し、この欠陥情報を記録していき、その欠陥発生位置
情報に基づき、欠陥発生位置の前後のトラックを網羅す
る全トラックについて再検査を行うことにより、重大欠
陥に対する信頼性の向上を実現することができる。Operation With this configuration, when performing defect inspection by jumping up the information track range for every certain track, the threshold value W C of the size of the serious defect is set to a value smaller than the threshold value W B in the conventional method (W B > W C ) to detect the position information at the time of defect occurrence and record this defect information. Based on the defect occurrence position information, all tracks covering the tracks before and after the defect occurrence position are re-recorded. By performing the inspection, it is possible to realize the improvement of the reliability for the serious defect.
実 施 例 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しなが
ら説明する。第１図は本発明の一実施例における欠陥検
査装置の構成図を示すものである。第１図において、21
は光学ヘッド30からの光ビームがディスクに入射されて
その記録面部で反射された読取光ビームが導かれる光検
出素子、22は各々の光検出素子21から導かれた読取光ビ
ームのスポットに応じた出力について演算をし、再生信
号（RF）と光学ヘッドからの光ディスクにおいて形成さ
れるスポットの螺旋状トラックに対する位置ずれに応じ
たトラッキングエラー信号（TE），光学ヘッドからの光
ビームのディスクにおける記録面部上での集束状態に応
じたフォーカスエラー信号（FE）を演算する信号処理部
である。23〜25はこれら再生信号（RF），トラッキング
エラー信号（TE），フォーカスエラー信号（FE）を信号
増幅し、再生信号（RF´），トラッキングエラー信号
（TE´），フォーカスエラー信号（FE´）を得る信号増
幅部である。26はその増幅された再生信号（RF´），ト
ラッキングエラー信号（TE´），フォーカスエラー信号
（FE´）においてディスクの外面部または、ディスク中
における欠陥によりある閾値以上の異常信号（エラー）
を発生した場合に、その欠陥の大きさに応じたパルス幅
の検出パルスを出力する欠陥検出部、27はその欠陥検出
部26で再生信号（RF´），トラッキングエラー信号（TE
´），フォーカスエラー信号（FE´）中にエラーが発生
した場合に得られたパルスをトリガとして、そのエラー
発生の位置情報を検出する欠陥位置情報検出部、28は欠
陥位置情報検出部27で得られた再生信号（RF），トラッ
キングエラー信号（TE）、及びフォーカスエラー信号
（FE）中のエラー発生位置情報を蓄積する欠陥情報記録
部であり、メモリーで構成されている。Examples Hereinafter, one example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 21
Is a photodetector element through which the light beam from the optical head 30 is incident on the disc and the read light beam reflected by the recording surface is guided, and 22 is a spot of the read light beam guided from each photodetector element 21. The output is calculated, and the reproduction signal (RF) and the tracking error signal (TE) according to the positional deviation of the spot formed on the optical disk from the optical head with respect to the spiral track, the recording of the light beam from the optical head on the disk It is a signal processing unit that calculates a focus error signal (FE) according to the focusing state on the surface portion. 23 to 25 amplify the reproduction signal (RF), the tracking error signal (TE), and the focus error signal (FE), and reproduce the reproduction signal (RF '), the tracking error signal (TE'), and the focus error signal (FE '). ) Is obtained. Reference numeral 26 denotes an abnormal signal (error) above a certain threshold due to a defect in the outer surface of the disc or the disc in the amplified reproduction signal (RF '), tracking error signal (TE'), and focus error signal (FE ').
When a defect occurs, the defect detection unit 27 outputs a detection pulse having a pulse width corresponding to the size of the defect. The defect detection unit 26 includes a reproduction signal (RF ′) and a tracking error signal (TE).
′), A defect position information detection unit that detects position information of the error occurrence by using a pulse obtained when an error occurs in the focus error signal (FE ′) as a trigger, and 28 is a defect position information detection unit 27. A defect information recording unit for accumulating error occurrence position information in the obtained reproduction signal (RF), tracking error signal (TE), and focus error signal (FE), and is composed of a memory.
29は欠陥検出部26で欠陥パルスが発生された時に、欠
陥位置情報検出部27より位置情報を読み込み、欠陥情報
記録部28へ位置情報を記録させたり、パルス幅の大きさ
を検査基準値と比較して良否判定を行い、また欠陥の再
測定時の再検査先頭アドレス計算等を行う、検査装置の
システムコントロール部である。29, when a defect pulse is generated in the defect detection unit 26, the position information is read from the defect position information detection unit 27, the position information is recorded in the defect information recording unit 28, or the size of the pulse width is used as an inspection reference value. It is a system control unit of the inspection apparatus that performs a pass / fail judgment by comparison and performs re-inspection start address calculation when re-measurement of a defect.
以上の様に構成された本実施例の欠陥検査装置につい
て、以下、その動作を第２図の欠陥検査装置の検査フロ
ーチャートを参照しながら説明する。検査スタート後、
プロセス100にて検査ドライブの立上げを行い、トラッ
キングサーボコントロール及び、フォーカスサーボコン
トロールを安定に保つ。次にプロセス101においてディ
スクのユーザー領域の先頭アドレスに光学ヘッドをシー
クさせ、シーク完了後の次の１回転で、１トラック分の
欠陥検査を行う。このとき、プロセス103では再生信
号，トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号
中の欠陥検査を行い、欠陥の大きさが検査基準値WAに対
し、WCとなる基準値を設定する。ただし、WKの値は、従
来測定法での基準値WAに対し、WA＞WB＞WCとなる値とす
る。ディシジョン104において、欠陥の大きさがWCを越
えるエラーが発生した場合、プロセス105へ進み欠陥発
生位置データとその大きさについて、位置情報記録用メ
モリ上に記録する。The operation of the defect inspection apparatus of the present embodiment configured as described above will be described below with reference to the inspection flowchart of the defect inspection apparatus of FIG. After the inspection starts,
The inspection drive is started up in process 100 to keep tracking servo control and focus servo control stable. Next, in process 101, the optical head is sought at the head address of the user area of the disc, and the defect inspection for one track is performed in the next one rotation after the seek is completed. At this time, in the process 103, the defect inspection in the reproduction signal, the tracking error signal and the focus error signal is performed, and the defect size is set to a reference value W C with respect to the inspection reference value W A. However, the value of W K is a value such that W A > W B > W C with respect to the reference value W A in the conventional measurement method. When an error in which the size of the defect exceeds W C occurs in the decision 104, the process proceeds to process 105, and the defect occurrence position data and its size are recorded in the position information recording memory.
次に、プロセス107に進み、次の検査トラックへジャ
ンプを行う。ディシジョン104にて欠陥が発生しなかっ
た場合にも同様に次の検査トラックへジャンプする。Then proceed to process 107 to jump to the next inspection track. When no defect is generated in the decision 104, the process similarly jumps to the next inspection track.
以上のことをユーザー使用情報領域が終了するまでの
間くり返し行い、ディシジョン106にて、ユーザ領域の
最終トラックが検査が終った後にプロセス108にて欠陥
情報記録用メモリの内容を読込む。プロセス109にて、1
08で読込んだ欠陥情報についての解析を行う。大きさが
WC以上の欠陥が発生している場合には、その欠陥位置情
報より欠陥検査トラックを含めた前後の未検査トラック
を全て網羅する様にプロセス111にて再検査先頭アドレ
ス及び再検査終了アドレスの計算を行う。WC以上の欠陥
が複数個発生している場合には複数個分の再検査先頭ア
ドレス及び再検査終了アドレスが計算される。The above operations are repeated until the end of the user use information area, and the content of the defect information recording memory is read at process 108 after the final track of the user area has been inspected at decision 106. In process 109, 1
Analyze the defect information read in 08. Size is
When a defect of W C or more is generated, process 111 sets the re-inspection start address and re-inspection end address so that all the uninspected tracks before and after the defect inspection track are covered from the defect position information. Calculate. When a plurality of defects of W C or more occur, the re-inspection start address and re-inspection end address for a plurality of defects are calculated.
次に、プロセス112において、プロセス111で計算を行
った再検査先頭アドレスに光学ヘッドをシークさせ、先
頭アドレスから終了アドレスまでの全トラックの欠陥検
査を行い、ディシジョン114ではプロセス105同様に欠陥
情報を欠陥位置情報用メモリに情報をストアしていく。Next, in process 112, the optical head is sought to the re-inspection start address calculated in process 111, and defect inspection of all tracks from the start address to the end address is performed. Information is stored in the defect position information memory.
そして、ディシジョン115では同様な作業を欠陥情報
数だけくり返す。このとき、再検査は欠陥発生トラック
前後を数本飛びの飛び越し検査で行うようにしてもよ
い。Then, the decision 115 repeats the same operation for the number of pieces of defect information. At this time, the re-inspection may be performed by an inter-inspection of several tracks before and after the defect occurrence track.
最後に、プロセス116にて欠陥の大きさの検査基準値W
Aにて欠陥の良否判定を行い、測定を終了する。Finally, in process 116, the defect size inspection reference value W
At A, the quality of the defect is judged and the measurement is completed.
発明の効果 以上の様に、本発明によれば、円盤状光学記録媒体に
おける螺旋状または同心円状トラックの欠陥検出を行う
に際して、最初に円盤状光学記録媒体の一定間隔トラッ
クごとに検査を行うことにより、円盤状光学記録媒体の
内部または表面部に存在するものとされる欠陥部が読取
位置におかれた状態に応じて欠陥検出信号を発生する円
盤状光学媒体の欠陥検査時間を短縮でき、さらに、円盤
状光学記録媒体の読み取りにより得られる欠陥検出パル
スにより、その欠陥部分の発生位置情報を蓄積してその
欠陥部分前後トラックについて再検査を行うようにした
ことにより円盤状光学記録媒体における重大欠陥をより
確実に検査することができるものである。EFFECTS OF THE INVENTION As described above, according to the present invention, when detecting a defect of a spiral or concentric circular track in a disk-shaped optical recording medium, first, an inspection is performed for each fixed-interval track of the disk-shaped optical recording medium. Thereby, it is possible to shorten the defect inspection time of the disc-shaped optical medium that generates a defect detection signal according to the state in which the defective portion supposed to be present inside or on the surface of the disc-shaped optical recording medium is placed at the reading position, Further, by using a defect detection pulse obtained by reading the disc-shaped optical recording medium, the position information of the defect portion is accumulated and re-inspection is performed on the tracks before and after the defect portion. The defect can be inspected more reliably.
第１図は本発明の一実施例の円盤状光学記録媒体の欠陥
検査装置の構成を示すブロック図、第２図はその検査工
程のフローチャート、第３図はその動作を示す波形図、
第４図は従来例の円盤状光学記録媒体の欠陥検査装置の
構成を示すブロック図、第５図はその検査工程のフロー
チャートである。 21……光検出素子、22……信号処理部、23〜25……信号
増幅部、26……欠陥情報検出部、27……欠陥情報検査回
路、28……欠陥情報記録部、29……コントロール部。FIG. 1 is a block diagram showing the structure of a defect inspection apparatus for a disk-shaped optical recording medium according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart of the inspection process, and FIG. 3 is a waveform diagram showing its operation.
FIG. 4 is a block diagram showing the structure of a conventional disk-shaped optical recording medium defect inspection apparatus, and FIG. 5 is a flowchart of the inspection process. 21 ... Photodetector element, 22 ... Signal processing section, 23-25 ... Signal amplification section, 26 ... Defect information detection section, 27 ... Defect information inspection circuit, 28 ... Defect information recording section, 29 ... Control section.
Claims (4)
円状の情報トラックを一定トラック数毎に飛び越し走査
しながら光ビームを収束して照射しこの前記円盤状光学
記録媒体からの反射ビームを検出する光検出器を含む検
出手段と、前記円盤状光学記録媒体上の欠陥により前記
反射ビームが強度変調されて前記検出手段の出力信号が
一定レベルを越えたときにパルス信号を発生するパルス
発生手段と、前記光ビームの円盤状光学記録媒体の欠陥
位置を検出する位置検出手段と、その欠陥発生位置情報
を蓄える手段とを有し、前記欠陥発生位置情報により欠
陥発生トラックを含む前後トラックもしくは前後の複数
トラックの再検査をするようにしたことを特徴とする円
盤状光学記録媒体の欠陥検査装置。1. A light beam is converged and radiated by scanning a spiral or concentric information track on a disk-shaped optical recording medium while scanning the track at intervals of a fixed number of tracks, and a reflected beam from the disk-shaped optical recording medium is irradiated. Detection means including a photodetector for detecting, and pulse generation for generating a pulse signal when the output signal of the detection means exceeds a certain level due to intensity modulation of the reflected beam due to a defect on the disk-shaped optical recording medium. Means, position detecting means for detecting a defect position of the disc-shaped optical recording medium of the light beam, and means for accumulating defect occurrence position information, front and rear tracks including defect occurrence tracks according to the defect occurrence position information, or A defect inspection device for a disc-shaped optical recording medium, characterized in that a plurality of front and rear tracks are re-inspected.
欠陥検査発生トラックを間に挟んだ前後２つの飛び越し
検査合格トラックで挟まれる未検査トラックを全部検査
するようにしたことを特徴とする請求項１記載の円盤状
光学記録媒体の欠陥検査装置。2. The re-inspection is such that all uninspected tracks sandwiched by two jumping inspection passing tracks sandwiching a defect inspection occurrence track in the track jumping inspection are inspected. Defect inspection device for disk-shaped optical recording media.
対する検査基準値（WC）と再検査時の欠陥の大きさに対
する検査基準値（WA）とを異なった値に設定するように
した請求項１または２記載の円盤状光学記録媒体の欠陥
検査装置。3. The inspection reference value (W C ) for the defect size at the track jump inspection and the inspection reference value (W A ) for the defect size at the re-inspection are set to different values. The defect inspection apparatus for a disk-shaped optical recording medium according to claim 1.
対する検査基準値（WC）と再検査時の欠陥の大きさに対
する検査基準値（WA）は、WA＞WCとなるような値に設定
するようにした請求項３記載の円盤状光学記録媒体の欠
陥検査装置。4. The inspection reference value (W C ) for the defect size at the track jump inspection and the inspection reference value (W A ) for the defect size at the re-inspection are such that W A > W C. The defect inspection device for a disk-shaped optical recording medium according to claim 3, wherein the defect inspection device is set to a value.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8087788A JP2563458B2 (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Defect inspection device for disk-shaped optical recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8087788A JP2563458B2 (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Defect inspection device for disk-shaped optical recording medium |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01253638A JPH01253638A (en) | 1989-10-09 |
| JP2563458B2 true JP2563458B2 (en) | 1996-12-11 |
Family
ID=13730576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8087788A Expired - Lifetime JP2563458B2 (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Defect inspection device for disk-shaped optical recording medium |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2563458B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2178088A3 (en) * | 1999-07-15 | 2011-10-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of scanning a recording disc for defects, and recording device for recording information on a disc-shaped recording medium |
| EP1553589A1 (en) | 2004-01-07 | 2005-07-13 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Method for playback or recording of an optical recording medium |
| EP2112654A4 (en) * | 2007-02-14 | 2009-10-28 | Panasonic Corp | Optical disc device |
| JP4676500B2 (en) * | 2007-08-22 | 2011-04-27 | 東洋ガラス株式会社 | Container mouth side defect inspection method and apparatus |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP8087788A patent/JP2563458B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01253638A (en) | 1989-10-09 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080919 Year of fee payment: 12 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080919 |