JP2562547Y2 - 抵抗測定装置 - Google Patents
抵抗測定装置Info
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- JP2562547Y2 JP2562547Y2 JP1991029476U JP2947691U JP2562547Y2 JP 2562547 Y2 JP2562547 Y2 JP 2562547Y2 JP 1991029476 U JP1991029476 U JP 1991029476U JP 2947691 U JP2947691 U JP 2947691U JP 2562547 Y2 JP2562547 Y2 JP 2562547Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、回路中を流れる定電
流を速やかに安定させることができるようにした抵抗測
定装置に関するものである。
流を速やかに安定させることができるようにした抵抗測
定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】抵抗測定装置のなかには、被測定物に定
電流を流し、その際の電圧を測定し、この実測電圧値と
の関係で抵抗を算定した後、これを抵抗値として表示す
るようにしたデジタルマルチメータのようなものもあ
る。
電流を流し、その際の電圧を測定し、この実測電圧値と
の関係で抵抗を算定した後、これを抵抗値として表示す
るようにしたデジタルマルチメータのようなものもあ
る。
【０００３】図２は、上記タイプの抵抗測定装置のもと
で四端子法を採用した測定回路の概要を例示すものであ
る。
で四端子法を採用した測定回路の概要を例示すものであ
る。
【０００４】同図によれば、その全体は、基準電圧Ｖre
f に基づく被測定物Ｒx への定電流ｉの供給が可能な定
電流供給回路５１と、被測定物Ｒx への定電流ｉの供給
時の電圧の測定と、その際の実測電圧との関係で算定さ
れる抵抗値の表示とが可能な抵抗測定回路６１とで構成
されている。
f に基づく被測定物Ｒx への定電流ｉの供給が可能な定
電流供給回路５１と、被測定物Ｒx への定電流ｉの供給
時の電圧の測定と、その際の実測電圧との関係で算定さ
れる抵抗値の表示とが可能な抵抗測定回路６１とで構成
されている。
【０００５】このうち、定電流供給回路５１は、基準電
圧Ｖref を発生させるための基準電圧発生回路５２と、
回路中に設けた基準抵抗５６との関係のもとで後段への
出力電圧Ｖr を制御する差動アンプ５３と、この差動ア
ンプ５３により出力制御された電圧を電流に変換し、定
電流ｉとして電流端子５７，５８を介して被測定物Ｒx
に供給可能とすべく駆動電源５５を備えた半導体素子５
４とで形成されている。
圧Ｖref を発生させるための基準電圧発生回路５２と、
回路中に設けた基準抵抗５６との関係のもとで後段への
出力電圧Ｖr を制御する差動アンプ５３と、この差動ア
ンプ５３により出力制御された電圧を電流に変換し、定
電流ｉとして電流端子５７，５８を介して被測定物Ｒx
に供給可能とすべく駆動電源５５を備えた半導体素子５
４とで形成されている。
【０００６】また、前記抵抗測定回路６１は、被測定物
Ｒx に定電流ｉを流した際に発生する電圧Ｖx を検出し
て取り込むための電圧測定端子６２，６３と、これらの
電圧測定端子６２，６３を介して取り込まれる電圧Ｖx
を測定し、その際の実測電圧との関係で算定される抵抗
値の表示を可能とした電圧計等からなる電圧測定・抵抗
値表示手段６４とで形成されている。
Ｒx に定電流ｉを流した際に発生する電圧Ｖx を検出し
て取り込むための電圧測定端子６２，６３と、これらの
電圧測定端子６２，６３を介して取り込まれる電圧Ｖx
を測定し、その際の実測電圧との関係で算定される抵抗
値の表示を可能とした電圧計等からなる電圧測定・抵抗
値表示手段６４とで形成されている。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】ところで、図２に示す
従来例は、比較的簡単な回路でその全体を構成すること
ができる点では優れているものの、被測定物Ｒx のイン
ピーダンスの大小にかかわらず、回路中を流れる定電流
ｉは常に一定となるように制御されている。
従来例は、比較的簡単な回路でその全体を構成すること
ができる点では優れているものの、被測定物Ｒx のイン
ピーダンスの大小にかかわらず、回路中を流れる定電流
ｉは常に一定となるように制御されている。
【０００８】このため、被測定物Ｒx が例えば抵抗とコ
ンデンサとを並列接続させたものであるような場合、端
子間電圧が被測定物Ｒx の抵抗分と定電流ｉとの積で決
定される電圧降下を発生させるためには、ある程度の時
間を要することになる。
ンデンサとを並列接続させたものであるような場合、端
子間電圧が被測定物Ｒx の抵抗分と定電流ｉとの積で決
定される電圧降下を発生させるためには、ある程度の時
間を要することになる。
【０００９】したがって、容量を含む被測定物Ｒx が接
続された場合には、測定値を真値に安定させるまでに時
間がかかる結果、このような測定応答速度の遅さに起因
する抵抗測定作業の非能率化を招来する不都合があっ
た。
続された場合には、測定値を真値に安定させるまでに時
間がかかる結果、このような測定応答速度の遅さに起因
する抵抗測定作業の非能率化を招来する不都合があっ
た。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本考案は、従来技術にみ
られた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構成
上の特徴は、高さの異なる基準電圧の発生を可能とする
基準電圧切替制御手段を経て発生させた基準電圧から得
られる定電流を接続させた被測定物に対し一対の電流端
子を介して流すための定電流供給回路と、前記被測定物
に対し定電流を流した際における一対の電圧測定端子を
介しての電圧の測定とこの測定電圧との関係で算定され
る抵抗値の表示とを可能とした抵抗測定回路と、被測定
物への前記電流端子間の電圧状態に応じて前記基準電圧
切替制御手段に対し高低制御された基準電圧を発生させ
るための制御電流の送出を可能とした制御電流供給回路
とを設けるとともに、被測定物への前記電流端子間の電
圧状態は、これらの電流端子間に被測定物が非接続であ
る場合に高い側の特別基準電圧を発生させ、被測定物が
接続されたときに時間を遅延して低い側の通常基準電圧
を発生させることで対応させたことにある。
られた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構成
上の特徴は、高さの異なる基準電圧の発生を可能とする
基準電圧切替制御手段を経て発生させた基準電圧から得
られる定電流を接続させた被測定物に対し一対の電流端
子を介して流すための定電流供給回路と、前記被測定物
に対し定電流を流した際における一対の電圧測定端子を
介しての電圧の測定とこの測定電圧との関係で算定され
る抵抗値の表示とを可能とした抵抗測定回路と、被測定
物への前記電流端子間の電圧状態に応じて前記基準電圧
切替制御手段に対し高低制御された基準電圧を発生させ
るための制御電流の送出を可能とした制御電流供給回路
とを設けるとともに、被測定物への前記電流端子間の電
圧状態は、これらの電流端子間に被測定物が非接続であ
る場合に高い側の特別基準電圧を発生させ、被測定物が
接続されたときに時間を遅延して低い側の通常基準電圧
を発生させることで対応させたことにある。
【００１１】
【作用】このため、制御電流供給回路は、被測定物の接
続・非接続の状態とその時間的遅れを発生する積分回路
との対応関係のもとで、定電流供給回路を構成している
基準電圧切替制御手段に対し高低制御された基準電圧を
発生させるための制御電流を送出することができる。
続・非接続の状態とその時間的遅れを発生する積分回路
との対応関係のもとで、定電流供給回路を構成している
基準電圧切替制御手段に対し高低制御された基準電圧を
発生させるための制御電流を送出することができる。
【００１２】したがって、新規に被測定物が回路中に接
続された場合には、一定の時間だけより多くの電流を被
測定物に流すことができるので、仮に被測定物がインピ
ーダンスの大きなものであっても、測定値を真値に安定
させることができるまでに要する時間（測定応答速度）
を短縮することができる。
続された場合には、一定の時間だけより多くの電流を被
測定物に流すことができるので、仮に被測定物がインピ
ーダンスの大きなものであっても、測定値を真値に安定
させることができるまでに要する時間（測定応答速度）
を短縮することができる。
【００１３】
【実施例】以下、図面に基づいてこの考案の実施例を説
明する。図１は、この考案の一実施例を示す回路図であ
る。
明する。図１は、この考案の一実施例を示す回路図であ
る。
【００１４】同図によれば、その全体は、接続された被
測定物Ｒx に対し定電流ｉを流すための定電流供給回路
１１と、その後段に位置して前記被測定物Ｒx を測定し
て得られる実測電圧に対応させて得られる抵抗値の表示
を可能とした抵抗測定回路２５と、前記定電流供給回路
１１に対し高低二種の基準電圧を択一的に発生させるた
めの制御電流の送出を可能とした制御電流供給回路３１
とを備えて構成されている。
測定物Ｒx に対し定電流ｉを流すための定電流供給回路
１１と、その後段に位置して前記被測定物Ｒx を測定し
て得られる実測電圧に対応させて得られる抵抗値の表示
を可能とした抵抗測定回路２５と、前記定電流供給回路
１１に対し高低二種の基準電圧を択一的に発生させるた
めの制御電流の送出を可能とした制御電流供給回路３１
とを備えて構成されている。
【００１５】このうち、定電流供給回路１１は、接続さ
れた被測定物Ｒx に対し一対の電流端子２０，２１を介
して定電流ｉを流すための基準電圧Ｖref １の発生を可
能とした第１基準電圧発生回路１２と、発生させた基準
電圧Ｖref １を高低二種に切替えて択一的に発生させる
ための基準電圧切替制御手段１３と、非反転入力端子の
側に印加される基準電圧Ｖref １を回路中に設けた基準
抵抗２２に流れる定電流ｉにより発生する電圧Ｖr を反
転入力端子の側に印加させて比較し、基準電圧Ｖref １
と電圧Ｖr とが等しくなるように後段に位置する半導体
素子１８に電圧を発生させる第１差動アンプ１７と、こ
の第１差動アンプ１７からの出力電圧を電流に変換して
定電流ｉを電流端子２０，２１を介して被測定物Ｒx に
供給可能としたトランジスタ等からなる半導体素子１８
とで形成されている。なお、符号１９は、前記半導体素
子１８のための駆動電源を示す。
れた被測定物Ｒx に対し一対の電流端子２０，２１を介
して定電流ｉを流すための基準電圧Ｖref １の発生を可
能とした第１基準電圧発生回路１２と、発生させた基準
電圧Ｖref １を高低二種に切替えて択一的に発生させる
ための基準電圧切替制御手段１３と、非反転入力端子の
側に印加される基準電圧Ｖref １を回路中に設けた基準
抵抗２２に流れる定電流ｉにより発生する電圧Ｖr を反
転入力端子の側に印加させて比較し、基準電圧Ｖref １
と電圧Ｖr とが等しくなるように後段に位置する半導体
素子１８に電圧を発生させる第１差動アンプ１７と、こ
の第１差動アンプ１７からの出力電圧を電流に変換して
定電流ｉを電流端子２０，２１を介して被測定物Ｒx に
供給可能としたトランジスタ等からなる半導体素子１８
とで形成されている。なお、符号１９は、前記半導体素
子１８のための駆動電源を示す。
【００１６】この場合、前記基準電圧切替制御手段１３
は、第１基準電圧発生回路１２と第１差動アンプ１７と
の間に介在配置されるものであり、第１基準電圧発生回
路１２での発生基準電圧Ｖref １を分岐させ、一方の側
には抵抗Ｒ1 を介在させて電圧降下させた通常基準電圧
Ｖref １a を取り出すための接点１４を、他方の側は電
圧を降下させない特別基準電圧Ｖref １b （＝Ｖref
１）を取り出すための接点１５をそれぞれ配置し、これ
らの接点１４，１５は、スイッチ１６により切替え可能
となって形成されている。
は、第１基準電圧発生回路１２と第１差動アンプ１７と
の間に介在配置されるものであり、第１基準電圧発生回
路１２での発生基準電圧Ｖref １を分岐させ、一方の側
には抵抗Ｒ1 を介在させて電圧降下させた通常基準電圧
Ｖref １a を取り出すための接点１４を、他方の側は電
圧を降下させない特別基準電圧Ｖref １b （＝Ｖref
１）を取り出すための接点１５をそれぞれ配置し、これ
らの接点１４，１５は、スイッチ１６により切替え可能
となって形成されている。
【００１７】しかも、このスイッチ１６は、制御電流供
給回路３１の側からの基準電圧切替制御手段１３の側へ
の制御電流の入力がない場合に接点１４と接触し、制御
電流供給回路３１の側からの制御電流の入力があった場
合に接点１５と接触するようにその自動切り替えが可能
となって配設されている。
給回路３１の側からの基準電圧切替制御手段１３の側へ
の制御電流の入力がない場合に接点１４と接触し、制御
電流供給回路３１の側からの制御電流の入力があった場
合に接点１５と接触するようにその自動切り替えが可能
となって配設されている。
【００１８】また、前記抵抗測定回路２５は、被測定物
Ｒx に定電流ｉを流した際に発生する通常測定時電圧Ｖ
x １を検出して取り込むための電圧測定端子２７，２８
と、これらの電圧測定端子２７，２８を介して取り込ま
れる通常測定時電圧Ｖx １を測定し、その際の実測電圧
との関係で算定される抵抗値の表示を可能とした電圧計
等からなる電圧測定・抵抗値表示手段２６とで形成され
ている。
Ｒx に定電流ｉを流した際に発生する通常測定時電圧Ｖ
x １を検出して取り込むための電圧測定端子２７，２８
と、これらの電圧測定端子２７，２８を介して取り込ま
れる通常測定時電圧Ｖx １を測定し、その際の実測電圧
との関係で算定される抵抗値の表示を可能とした電圧計
等からなる電圧測定・抵抗値表示手段２６とで形成され
ている。
【００１９】一方、前記制御電流供給回路３１は、前記
定電流供給回路１１に対し高低二種の基準電圧を択一的
に高低制御して発生させる制御電流の送出を可能とした
適宜の構成のものが採用されている。
定電流供給回路１１に対し高低二種の基準電圧を択一的
に高低制御して発生させる制御電流の送出を可能とした
適宜の構成のものが採用されている。
【００２０】これを図示例に従い具体的に説明すれば、
被測定物Ｒx が接続されている通常測定時電圧Ｖx １と
同じレベルの基準電圧Ｖref ２の発生が可能に設定され
ている第２基準電圧発生回路３２と、この第２基準電圧
発生回路３２での発生基準電圧Ｖref ２が反転入力端子
側に入力され、定電流供給回路１１における電流端子２
０の側が抵抗とコンデンサとからなる積分回路３５を介
在させて非反転入力端子側に入力され、反転入力端子の
側に印加される基準電圧Ｖref ２を非反転入力端子の側
に印加される被測定物Ｒx が接続された状態のもとでの
通常測定時電圧Ｖx １と比較して出力する第２差動アン
プ３３と、この第２差動アンプ３３からの出力電圧に基
づいて送出される順方向への電流のみを流すダイオード
等の電流制御素子３４とで形成されており、この電流制
御素子３４の後段は、定電流供給回路１１における基準
電圧切替制御手段１３の側へと接続されている。
被測定物Ｒx が接続されている通常測定時電圧Ｖx １と
同じレベルの基準電圧Ｖref ２の発生が可能に設定され
ている第２基準電圧発生回路３２と、この第２基準電圧
発生回路３２での発生基準電圧Ｖref ２が反転入力端子
側に入力され、定電流供給回路１１における電流端子２
０の側が抵抗とコンデンサとからなる積分回路３５を介
在させて非反転入力端子側に入力され、反転入力端子の
側に印加される基準電圧Ｖref ２を非反転入力端子の側
に印加される被測定物Ｒx が接続された状態のもとでの
通常測定時電圧Ｖx １と比較して出力する第２差動アン
プ３３と、この第２差動アンプ３３からの出力電圧に基
づいて送出される順方向への電流のみを流すダイオード
等の電流制御素子３４とで形成されており、この電流制
御素子３４の後段は、定電流供給回路１１における基準
電圧切替制御手段１３の側へと接続されている。
【００２１】なお、この考案において前記定電流供給回
路１１を構成している基準電圧切替制御手段１３は、図
示の構成例以外にも、例えば前記制御電流供給回路３１
から送出される制御電流をＣＰＵを介して制御用のディ
ジタル信号として送出し、この制御用のディジタル信号
をアナログ信号に変換し、このアナログ信号のもとで第
１基準電圧発生回路１２からの発生基準電圧を高低制御
しながら発生させ、この際の発生電圧を第１差動アンプ
１７の非反転入力端子の側に印加させ、リンギングを効
果的に抑制するようにして形成することもできる。
路１１を構成している基準電圧切替制御手段１３は、図
示の構成例以外にも、例えば前記制御電流供給回路３１
から送出される制御電流をＣＰＵを介して制御用のディ
ジタル信号として送出し、この制御用のディジタル信号
をアナログ信号に変換し、このアナログ信号のもとで第
１基準電圧発生回路１２からの発生基準電圧を高低制御
しながら発生させ、この際の発生電圧を第１差動アンプ
１７の非反転入力端子の側に印加させ、リンギングを効
果的に抑制するようにして形成することもできる。
【００２２】次に、上述のようにして構成されているこ
の考案につき、まず、被測定物Ｒxが回路中に接続され
ていない場合についてその作用を説明する。
の考案につき、まず、被測定物Ｒxが回路中に接続され
ていない場合についてその作用を説明する。
【００２３】すなわち、測定抵抗が無限大である被測定
物Ｒx が回路中に接続されていない状態（被測定物Ｒx
を取り外した状態）の場合には、電流源の開放電圧Ｖx
２が発生し、この開放電圧Ｖx ２が前記制御電流供給回
路３１側にも同時に発生し、第２差動アンプ３３の非反
転入力端子の側に印加されることになる。
物Ｒx が回路中に接続されていない状態（被測定物Ｒx
を取り外した状態）の場合には、電流源の開放電圧Ｖx
２が発生し、この開放電圧Ｖx ２が前記制御電流供給回
路３１側にも同時に発生し、第２差動アンプ３３の非反
転入力端子の側に印加されることになる。
【００２４】また、第２差動アンプ３３の反転入力端子
の側には、第２基準電圧発生回路３２から発生する基準
電圧Ｖref ２が印加される。
の側には、第２基準電圧発生回路３２から発生する基準
電圧Ｖref ２が印加される。
【００２５】そして、この場合の基準電圧Ｖref ２は、
通常測定時電圧Ｖx １に設定されているので、第２差動
アンプ３３からは、反転入力端子の側に印加される基準
電圧Ｖref ２よりも十分に大きい非反転入力端子の側の
開放電圧Ｖx ２が出力されることになる。
通常測定時電圧Ｖx １に設定されているので、第２差動
アンプ３３からは、反転入力端子の側に印加される基準
電圧Ｖref ２よりも十分に大きい非反転入力端子の側の
開放電圧Ｖx ２が出力されることになる。
【００２６】このため、電流制御素子３４を経て定電流
供給回路１１における基準電圧切替制御手段１３の側へ
と制御電流が流れ、この基準電圧切替制御手段１３にお
けるスイッチ１６が接点１５の側に接触することにな
る。
供給回路１１における基準電圧切替制御手段１３の側へ
と制御電流が流れ、この基準電圧切替制御手段１３にお
けるスイッチ１６が接点１５の側に接触することにな
る。
【００２７】このようにスイッチ１６が接点１５の側に
接触している場合、第１差動アンプ１の非反転入力端子
側には、高い側の特別基準電圧Ｖref １b が印加される
ことになる。
接触している場合、第１差動アンプ１の非反転入力端子
側には、高い側の特別基準電圧Ｖref １b が印加される
ことになる。
【００２８】しかも、この場合の特別基準電圧Ｖref １
b は、通常基準電圧Ｖref １a よりも大きく設定されて
いるので、回路中に通常測定時におけるよりも大きな電
流ｉを流すことができることになる。
b は、通常基準電圧Ｖref １a よりも大きく設定されて
いるので、回路中に通常測定時におけるよりも大きな電
流ｉを流すことができることになる。
【００２９】一方、被測定物Ｒx が回路中に接続される
と、この被測定物Ｒx により発生される電圧は、通常測
定時電圧Ｖx １に落ちる。この際、通常測定時電圧Ｖx
１が前記制御電流供給回路３１側にも同時に発生する。
そして、積分回路３５により一定時間遅れて通常測定時
電圧Ｖx １は第２差動アンプ３３の非反転入力端子の側
に印加されることになる。
と、この被測定物Ｒx により発生される電圧は、通常測
定時電圧Ｖx １に落ちる。この際、通常測定時電圧Ｖx
１が前記制御電流供給回路３１側にも同時に発生する。
そして、積分回路３５により一定時間遅れて通常測定時
電圧Ｖx １は第２差動アンプ３３の非反転入力端子の側
に印加されることになる。
【００３０】しかも、第２差動アンプ３３の反転入力端
子の側には、第２基準電圧発生回路３２から発生する基
準電圧Ｖref ２（＝Ｖx １）が印加され、したがって、
第２差動アンプ３３からの出力電圧は０Ｖになる。
子の側には、第２基準電圧発生回路３２から発生する基
準電圧Ｖref ２（＝Ｖx １）が印加され、したがって、
第２差動アンプ３３からの出力電圧は０Ｖになる。
【００３１】第２差動アンプ３３からの出力電圧が０Ｖ
である場合には、定電流供給回路１１における基準電圧
切替制御手段１３の側に制御電流が流れず、したがっ
て、基準電圧切替制御手段１３におけるスイッチ１６が
接点１４の側に接触することになる。
である場合には、定電流供給回路１１における基準電圧
切替制御手段１３の側に制御電流が流れず、したがっ
て、基準電圧切替制御手段１３におけるスイッチ１６が
接点１４の側に接触することになる。
【００３２】このようにスイッチ１６が接点１４の側に
接触することにより、第１差動アンプ１７の非反転入力
端子の側には、通常基準電圧Ｖref １a が印加され、回
路中に通常測定時の電流ｉが流れる結果、抵抗測定回路
２５における電圧測定・抵抗値表示手段２６に通常測定
時電圧Ｖx １が取り込まれ、真値である抵抗値が表示さ
れることになる。
接触することにより、第１差動アンプ１７の非反転入力
端子の側には、通常基準電圧Ｖref １a が印加され、回
路中に通常測定時の電流ｉが流れる結果、抵抗測定回路
２５における電圧測定・抵抗値表示手段２６に通常測定
時電圧Ｖx １が取り込まれ、真値である抵抗値が表示さ
れることになる。
【００３３】このため、被測定物Ｒx を接続した際の測
定応答速度を速め、真値に安定するまでの時間を短くす
ることができる。
定応答速度を速め、真値に安定するまでの時間を短くす
ることができる。
【００３４】
【考案の効果】以上述べたようにこの考案によれば、被
測定物が非接続状態にある場合、制御電流供給回路と連
動関係をとって定電流供給回路に組み込まれている基準
電圧切替制御手段は、高い側の特別基準電圧を発生させ
ることができる。また、回路中に被測定物を接続した際
には、一定時間だけ通常測定時におけるよりも大きな電
流を流すことができ、したがって、容量を含む被測定物
であっても測定値が真値に安定するまでの時間を短縮し
て測定応答速度を速くし、抵抗測定作業を能率的に効率
よく行なうことができる。
測定物が非接続状態にある場合、制御電流供給回路と連
動関係をとって定電流供給回路に組み込まれている基準
電圧切替制御手段は、高い側の特別基準電圧を発生させ
ることができる。また、回路中に被測定物を接続した際
には、一定時間だけ通常測定時におけるよりも大きな電
流を流すことができ、したがって、容量を含む被測定物
であっても測定値が真値に安定するまでの時間を短縮し
て測定応答速度を速くし、抵抗測定作業を能率的に効率
よく行なうことができる。
【図１】この考案の一実施例を示す回路図である。
【図２】従来からある抵抗測定装置に採用されている一
例としての回路図である。
例としての回路図である。
１１ 定電流供給回路 １２ 第１基準電圧発生回路 １３ 基準電圧切替制御手段 １４ 接点 １５ 接点 １６ スイッチ １７ 第１差動アンプ １８ 半導体素子 ２０ 電流端子 ２１ 電流端子 ２５ 抵抗測定回路 ２７ 電圧測定端子 ２８ 電圧測定端子 ２６ 電圧測定・抵抗値表示手段 ３１ 制御電流供給回路 ３２ 第２基準電圧発生回路 ３３ 第２差動アンプ ３４ 電流制御素子 ３５ 積分回路 Ｒx 被測定物
Claims (1)
- 【請求項１】 高さの異なる基準電圧の発生を可能とす
る基準電圧切替制御手段を経て発生させた基準電圧から
得られる定電流を接続させた被測定物に対し一対の電流
端子を介して流すための定電流供給回路と、前記被測定
物に対し定電流を流した際における一対の電圧測定端子
を介しての電圧の測定とこの測定電圧との関係で算定さ
れる抵抗値の表示とを可能とした抵抗測定回路と、被測
定物への前記電流端子間の電圧状態に応じて前記基準電
圧切替制御手段に対し高低制御された基準電圧を発生さ
せるための制御電流の送出を可能とした制御電流供給回
路とを設けるとともに、被測定物への前記電流端子間の
電圧状態は、これらの電流端子間に被測定物が非接続で
ある場合に高い側の特別基準電圧を発生させ、被測定物
が接続されたときに時間を遅延して低い側の通常基準電
圧を発生させることで対応させたことを特徴とする抵抗
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991029476U JP2562547Y2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991029476U JP2562547Y2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04118673U JPH04118673U (ja) | 1992-10-23 |
| JP2562547Y2 true JP2562547Y2 (ja) | 1998-02-10 |
Family
ID=31913332
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991029476U Expired - Fee Related JP2562547Y2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2562547Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH056543Y2 (ja) * | 1984-10-31 | 1993-02-19 |
-
1991
- 1991-04-02 JP JP1991029476U patent/JP2562547Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04118673U (ja) | 1992-10-23 |
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