JP2557736B2 - Ghost reducer device - Google Patents
Ghost reducer deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はゴーストリデューサ装置に関し、特にトラ
ンスバーサルフィルタのタップ係数を逐次修正してゴー
ストを軽減する、ゴーストリデューサ装置に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a ghost reducer device, and more particularly to a ghost reducer device that sequentially corrects tap coefficients of a transversal filter to reduce ghost.
第3図に従来のこの種のゴーストリデューサ装置1の
ブロック図を示す。GCR演算部2によって、入力された
ビデオ信号のうちGCR(Ghost Cancelling Reference:ゴ
ースト除去基準)信号について、8フィールドシーケン
ス等の演算処理が行われる。GCR演算部2の出力信号は
フィルタ3に入力され、ゴーストが軽減される。FIG. 3 shows a block diagram of a conventional ghost reducer device 1 of this type. The GCR operation unit 2 performs operation processing such as an 8-field sequence on a GCR (Ghost Canceling Reference) signal of the input video signals. The output signal of the GCR calculator 2 is input to the filter 3 to reduce ghost.
フィルタ3の構成図を第4図に示す。フィルタ3は遅
延線4,乗算器5および加算器6を含み、第4図に示すフ
ィルタ3はFF型であるが、FB型あるいはFFとFBの混合型
でもよい。A block diagram of the filter 3 is shown in FIG. The filter 3 includes a delay line 4, a multiplier 5 and an adder 6, and the filter 3 shown in FIG. 4 is an FF type, but may be an FB type or a mixed type of FF and FB.
フィルタ3のタップ係数として最初はゼロあるいは初
期値が設定される。フィルタ3に入力されたGCR信号は
(1)式に従って処理される。Zero or an initial value is initially set as the tap coefficient of the filter 3. The GCR signal input to the filter 3 is processed according to the equation (1).
y=Σc・x …(1) フィルタ3から出力されたGCR信号は差分器7に与え
られ、基準波形発生部8からの出力との差をとることに
よって誤差信号eを得る。この誤差信号eに基づいて、
タップ係数演算部9によって、(2)あるいは(3)式
より、タップ係数を修正する。y = Σc · x (1) The GCR signal output from the filter 3 is applied to the differentiator 7, and the error signal e is obtained by taking the difference from the output from the reference waveform generator 8. Based on this error signal e,
The tap coefficient calculator 9 corrects the tap coefficient from the equation (2) or (3).
c(n+1)=c(n)−α・e …(2) c(n+1)=c(n)−α・sgn(e) …(3) e:誤差信号 α:定数 修正されたタップ係数は新たなタップ係数としてフィ
ルタ3に設定される。以後、収束するまですなわち誤差
信号が極めて小さくなるまで上記と同じ処理を繰り返
す。c (n + 1) = c (n) -α ・ e (2) c (n + 1) = c (n) -α ・ sgn (e) (3) e: error signal α: constant modified The tap coefficient is set in the filter 3 as a new tap coefficient. After that, the same processing as described above is repeated until convergence, that is, until the error signal becomes extremely small.
GCR演算部2に入力される信号は、A/D変換器によって
ディジタル信号に変換された離散的信号であり、通常は
第5図(a)に示されるような信号である。また基準波
形発生器8からも第5図(a)に示される信号が出力さ
れる。したがって、ゴーストが存在しなければ両信号の
差は「0」であり誤差信号は検出されない。The signal input to the GCR calculator 2 is a discrete signal converted into a digital signal by the A / D converter, and is usually a signal as shown in FIG. 5 (a). Further, the reference waveform generator 8 also outputs the signal shown in FIG. Therefore, if there is no ghost, the difference between the two signals is "0" and no error signal is detected.
しかし、GCR信号についてはピーク位置の時間ずれが
数クロック程度許容されているので、GCR演算部2への
入力信号においては、第5図(b)に示すように、ピー
ク位置がずれる可能性がある。また、伝送歪やA/D変換
器のクロック位相ずれによって、GCR演算部2への入力
信号のサンプル点が第5図(c)に示すようにずれる可
能性もある。この状態で第5図(a)に示される基準波
形発生器8からの出力との差分をとると、実際にはゴー
ストが存在しなくても誤差信号eが検出される。このた
め、従来の方法では、ゴースト検出が正確に行われない
という問題点があった。However, with respect to the GCR signal, since a time shift of the peak position is allowed for several clocks, the peak position may shift in the input signal to the GCR calculation unit 2 as shown in FIG. 5 (b). is there. Further, there is a possibility that the sampling points of the input signal to the GCR calculation unit 2 may shift as shown in FIG. 5 (c) due to transmission distortion and clock phase shift of the A / D converter. In this state, if the difference from the output from the reference waveform generator 8 shown in FIG. 5 (a) is taken, the error signal e is detected even if no ghost actually exists. Therefore, the conventional method has a problem that the ghost detection is not accurately performed.
それゆえに、この発明の主たる目的は、ゴーストがな
いときに誤動作しない、ゴーストリデューサ装置を提供
することである。Therefore, a primary object of the present invention is to provide a ghost reducer device that does not malfunction in the absence of ghosts.
この発明は、入力されたゴースト除去基準信号のサン
プル位相ずれを検出する検出手段、サンプル位相ずれを
補正する第1基準波形を演算出力する基準波形発生手
段、サンプル位相ずれの異なる複数の第2基準波形が格
納されたメモリ手段、サンプル位相ずれに対応する第2
基準波形をメモリ手段から出力させる読出手段、第1基
準波形の演算が終了するまで読出手段によって出力され
る第2基準波形を選択し、第1基準波形の演算が終了す
るとその第1基準波形を選択する選択手段、およびゴー
スト除去基準信号と選択手段の出力との誤差に応じてフ
ィルタのタップ係数を設定する設定手段を備える、ゴー
ストリデューサ装置である。The present invention is directed to a detecting means for detecting a sample phase shift of an input ghost elimination reference signal, a reference waveform generating means for calculating and outputting a first reference waveform for correcting the sample phase shift, and a plurality of second reference points having different sample phase shifts. Memory means for storing waveforms, second corresponding to sample phase shift
The reading means for outputting the reference waveform from the memory means, the second reference waveform output by the reading means until the calculation of the first reference waveform is completed, and the first reference waveform is selected when the calculation of the first reference waveform is completed. A ghost reducer device comprising: selecting means for selecting; and setting means for setting a tap coefficient of a filter according to an error between a ghost elimination reference signal and an output of the selecting means.
検出手段は、たとえば、GCR信号波形のピーク値の前
後2点あるいは4点のサンプル値からサンプル位相ずれ
をそれぞれ検出する。基準波形発生手段は、このように
して検出されたサンプル位相ずれを補正する第1基準波
形を演算出力する。一方、メモリ手段にはサンプル位相
ずれの異なる複数の第2基準波形が格納されており、読
出手段が、検出されたサンプル位相ずれに対応する第2
基準波形をメモリ手段から出力する。そして、選択手段
によって、第1基準波形の演算が終了するまでは読出手
段によって出力される第2基準波形が選択され、第1基
準波形の演算が終了するとその第1基準波形が選択され
る。その後、ゴースト除去基準信号と選択手段の出力と
の誤差に応じて設定手段によってフィルタのタップ係数
が設定される。The detecting means detects the sample phase shift from the sample values at two points or four points before and after the peak value of the GCR signal waveform, for example. The reference waveform generating means arithmetically outputs the first reference waveform for correcting the sample phase shift detected in this way. On the other hand, the memory means stores a plurality of second reference waveforms having different sample phase shifts, and the reading means outputs the second reference waveforms corresponding to the detected sample phase shifts.
The reference waveform is output from the memory means. The selecting means selects the second reference waveform output by the reading means until the calculation of the first reference waveform is completed, and when the calculation of the first reference waveform is completed, the first reference waveform is selected. After that, the tap coefficient of the filter is set by the setting means according to the error between the ghost elimination reference signal and the output of the selecting means.
この発明によれば、検出されたサンプル位相ずれに対
応する基準波形を用いることによって、A/D変換器のサ
ンプル位相ずれを含んだ波形が入力されても正確にゴー
ストを検出することができる。According to the present invention, by using the reference waveform corresponding to the detected sample phase shift, the ghost can be accurately detected even when the waveform including the sample phase shift of the A / D converter is input.
この発明の上述の目的,その他の目的,特徴および利
点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。The above-mentioned objects, other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of the embodiments with reference to the drawings.
第1図に示すこの発明の一実施例のゴーストリデュー
サ装置10において、GCR演算部12,フィルタ14,差分器16
およびタップ係数演算部18は、それぞれ、第3図の従来
のGCR演算部2,フィルタ3,差分器7およびタップ係数演
算部9と同じである。In the ghost reducer device 10 of one embodiment of the present invention shown in FIG. 1, a GCR operation unit 12, a filter 14, a difference device 16
The tap coefficient calculator 18 is the same as the conventional GCR calculator 2, filter 3, differencer 7 and tap coefficient calculator 9 shown in FIG. 3, respectively.
GCR信号はGCR演算部12に入力され、8フィールドシー
ケンス等の演算が行われる一方、ピーク・位相検出部20
でGCR信号のピーク位置およびサンプル位相ずれを検出
する。サンプル位相ずれはピーク値の前後2点あるいは
4点のサンプル値を用い、ピーク値からの非対称度によ
り検出する。このピーク位置およびサンプル位相ずれを
補正する第1基準波形を基準波形発生部22で発生させ
る。The GCR signal is input to the GCR calculation unit 12 to perform calculations such as an 8-field sequence, while the peak / phase detection unit 20
Detects the peak position of the GCR signal and the sample phase shift. The sample phase shift uses two or four sample values before and after the peak value and is detected by the degree of asymmetry from the peak value. The reference waveform generator 22 generates a first reference waveform for correcting the peak position and the sample phase shift.
しかしピーク位置およびサンプル位相ずれを検出した
後これらを補正する第1基準波形を計算し直していては
かなりの時間を要する。そこで、この実施例では、予め
サンプル位相をずらした何種類かの第2基準波形(一例
を第2図に示す)をストアしたメモリ24を併用する。However, after detecting the peak position and the sample phase shift and recalculating the first reference waveform for correcting them, it takes a considerable time. Therefore, in this embodiment, the memory 24 that stores several kinds of second reference waveforms (one example of which is shown in FIG. 2) whose sample phases are shifted in advance is also used.
第1図の基準波形メモリ24は予めサンプル位相をずら
せた何種類かの第2基準波形を備えたメモリで、第1基
準波形および第2基準波形の選択はアドレス指定部26に
よるアドレス指定によって行う。すなわち、ピーク・位
相検出部20の結果をもとに、アドレス指定部26では、ま
ず、サンプル位相ずれに従って基準波形メモリ24のアド
レスを設定し、或る第2基準波形を選択する。そして、
時間ずれは、フィルタ14から出力された信号のピーク位
置と基準波形メモリ24から出力された第2基準波形のピ
ーク位置とが一致するように、読み出すタイミングを変
更して補正する。このときスイッチ28は接点28a側に切
り換えておく。The reference waveform memory 24 shown in FIG. 1 is a memory provided with several kinds of second reference waveforms whose sample phases are shifted in advance, and the selection of the first reference waveform and the second reference waveform is performed by the address designation by the address designating section 26. . That is, based on the result of the peak / phase detecting unit 20, the address designating unit 26 first sets the address of the reference waveform memory 24 according to the sample phase shift and selects a certain second reference waveform. And
The time lag is corrected by changing the read timing so that the peak position of the signal output from the filter 14 and the peak position of the second reference waveform output from the reference waveform memory 24 match. At this time, the switch 28 is switched to the contact 28a side.
差分器16ではフィルタ14の出力信号と時間および位相
ずれの補正がなされた第2基準波形との差分を求めて誤
差信号eを出力する。この誤差信号eをもとに、タップ
係数演算部18では、前述のように、(2)あるいは
(3)式よりタップ係数を修正してフィルタ14に設定す
る。The differencer 16 obtains the difference between the output signal of the filter 14 and the second reference waveform whose time and phase are corrected, and outputs the error signal e. Based on this error signal e, the tap coefficient calculator 18 corrects the tap coefficient from the equation (2) or (3) and sets it in the filter 14 as described above.
このように、基準波形メモリ24を用いることにより、
時間ずれとサンプル位相ずれを補正した基準波形を瞬時
に発生することができる。しかしながら、サンプル位相
ずれの補正量については基準波形メモリ24にストアされ
ている第2基準波形の種類に依存する。すなわち、メモ
リ容量を考えるとあまり多くの第2基準波形をストアし
ておくことは不可能であるので、細かい補正は基準波形
発生部22から出力される第1基準波形を利用する。Thus, by using the reference waveform memory 24,
It is possible to instantly generate the reference waveform in which the time shift and the sample phase shift are corrected. However, the correction amount of the sample phase shift depends on the type of the second reference waveform stored in the reference waveform memory 24. That is, considering the memory capacity, it is impossible to store a large number of second reference waveforms, so the first correction waveform output from the reference waveform generator 22 is used for fine correction.
具体的には、GCR信号は1フィールドに1度だけ送ら
れてくるため、タップ係数修正が終了した後、次のGCR
信号が送られてくるまで最大1/60秒待つことになる。こ
の空き時間を利用してピーク・位相検出部20より得られ
た結果をもとに、基準波形発生部22によって、時間の許
す限り(次のGCR信号が入力されるまで)、時間ずれお
よびサンプル位相ずれを補正した第1基準波形を計算す
る。計算が終了する前に次のGCR信号が入力された場合
は基準波形メモリ24の出力信号を用い、タップ係数修正
後さらに次のGCR信号が送られてくるまでの空き時間を
利用して基準波形発生部22において残りの計算を行う。
そして、計算終了後は、スイッチ28を接点28b側に切り
換えて基準波形発生部22の出力を用いる。このように、
初期の大まかな補正は基準波形メモリ24を用いて高速に
処理し、細かい補正は基準波形発生部22から出力される
第1基準波形を用いて正確に行う。Specifically, the GCR signal is sent only once per field, so after the tap coefficient correction is completed, the next GCR
You will have to wait up to 1/60 second until the signal is sent. Based on the result obtained from the peak / phase detector 20 by using this idle time, the reference waveform generator 22 allows time deviation and sampling as long as time permits (until the next GCR signal is input). The first reference waveform with the phase shift corrected is calculated. If the next GCR signal is input before the calculation is completed, the output signal of the reference waveform memory 24 is used, and the reference waveform is used by using the idle time until the next GCR signal is sent after the tap coefficient correction. The generation unit 22 performs the rest of the calculation.
After the calculation is completed, the switch 28 is switched to the contact 28b side and the output of the reference waveform generator 22 is used. in this way,
The initial rough correction is processed at high speed using the reference waveform memory 24, and the fine correction is accurately performed using the first reference waveform output from the reference waveform generator 22.
なお、上述の実施例におけるスイッチ28,基準波形発
生部22および基準波形メモリ24は1つのメモリで構成す
ることも可能である。このときには、メモリ24のアドレ
ス指定がスイッチ28の代わりとなる。The switch 28, the reference waveform generator 22 and the reference waveform memory 24 in the above-described embodiment can be configured by one memory. At this time, addressing of memory 24 replaces switch 28.
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。 第2図はサンプル位相をずらせた基準波形の一例を示す
図解図である。 第3図は従来技術を示すブロック図である。 第4図はトランスバーサルフィルタの構成図である。 第5図は時間ずれおよびサンプル位相ずれを示す図解図
である。 図において、10はゴーストリデューサ装置、12はGCR演
算部、14はフィルタ、16は差分器、18はタップ係数演算
部、20はピーク・位相検出部、22は基準波形発生部、24
は基準波形メモリ、26はアドレス指定部、28はスイッチ
を示す。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an illustrative view showing one example of a reference waveform with a shifted sample phase. FIG. 3 is a block diagram showing a conventional technique. FIG. 4 is a block diagram of a transversal filter. FIG. 5 is an illustrative view showing a time shift and a sample phase shift. In the figure, 10 is a ghost reducer device, 12 is a GCR calculator, 14 is a filter, 16 is a difference unit, 18 is a tap coefficient calculator, 20 is a peak / phase detector, 22 is a reference waveform generator, and 24 is a reference waveform generator.
Is a reference waveform memory, 26 is an addressing unit, and 28 is a switch.
Claims (1)
ル位相ずれを検出する検出手段、 前記サンプル位相ずれを補正する第1基準波形を演算出
力する基準波形発生手段、 前記サンプル位相ずれの異なる複数の第2基準波形が格
納されたメモリ手段、 前記サンプル位相ずれに対応する第2基準波形を前記メ
モリ手段から出力させる読出手段、 前記第1基準波形の演算が終了するまで前記読出手段に
よって出力される前記第2基準波形を選択し、前記第1
基準波形の演算が終了するとその第1基準波形を選択す
る選択手段、および 前記ゴースト除去基準信号と前記選択手段の出力との誤
差に応じてフィルタのタップ係数を設定する設定手段を
備える、ゴーストリデューサ装置。1. A detecting means for detecting a sample phase shift of an input ghost removal reference signal, a reference waveform generating means for calculating and outputting a first reference waveform for correcting the sample phase shift, and a plurality of different sample phase shifts. Memory means for storing a second reference waveform; reading means for outputting a second reference waveform corresponding to the sample phase shift from the memory means; output by the reading means until the calculation of the first reference waveform is completed. The second reference waveform is selected and the first reference waveform is selected.
A ghost reducer comprising: selecting means for selecting the first reference waveform when the calculation of the reference waveform is completed; and setting means for setting the tap coefficient of the filter according to the error between the ghost elimination reference signal and the output of the selecting means. apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2260776A JP2557736B2 (en) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | Ghost reducer device |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2260776A JP2557736B2 (en) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | Ghost reducer device |
Publications (2)
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JPH04138777A JPH04138777A (en) | 1992-05-13 |
JP2557736B2 true JP2557736B2 (en) | 1996-11-27 |
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ID=17352572
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2260776A Expired - Fee Related JP2557736B2 (en) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | Ghost reducer device |
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Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH02110242A (en) * | 1988-10-18 | 1990-04-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Remote control failure diagnosis device for airconditioner |
-
1990
- 1990-09-29 JP JP2260776A patent/JP2557736B2/en not_active Expired - Fee Related
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