JP2549430Y2 - 検測装置 - Google Patents
検測装置Info
- Publication number
- JP2549430Y2 JP2549430Y2 JP1994010367U JP1036794U JP2549430Y2 JP 2549430 Y2 JP2549430 Y2 JP 2549430Y2 JP 1994010367 U JP1994010367 U JP 1994010367U JP 1036794 U JP1036794 U JP 1036794U JP 2549430 Y2 JP2549430 Y2 JP 2549430Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diameter
- hole
- measurement
- master
- electric micrometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、加工ワークの孔内径
を検測する装置に関する。
を検測する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ワークの加工と孔径の測定を可能にした
工作機として、孔径の測定に先立ち、工具マガジンに収
容されている測定バーに、基準寸法を与えるマスターゲ
ージをマスタゲージの装冠装置により装冠して測定バー
にマスター寸法をメカニカルに移し取り、次いで工具交
換装置で工具マガジンに収容されている測定バーを加工
主軸に装着し、加工主軸に装着された状態で、移し取っ
たマスター寸法を制御装置へ記憶し、それから孔径を計
って比較するもの（特開昭５２−５８１７９号）が知ら
れている。
工作機として、孔径の測定に先立ち、工具マガジンに収
容されている測定バーに、基準寸法を与えるマスターゲ
ージをマスタゲージの装冠装置により装冠して測定バー
にマスター寸法をメカニカルに移し取り、次いで工具交
換装置で工具マガジンに収容されている測定バーを加工
主軸に装着し、加工主軸に装着された状態で、移し取っ
たマスター寸法を制御装置へ記憶し、それから孔径を計
って比較するもの（特開昭５２−５８１７９号）が知ら
れている。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】前記従来の装置では、
測定バーでマスター寸法をメカニカルに移し取り、この
マスター寸法を制御装置に記憶して、その後、この記憶
されたマスター寸法に対する孔径を測定するので、１つ
の孔測定について、マスター測定と孔径測定が交互に繰
り返され、測定バーの移動、装着に時間がかかり、短時
間に孔径測定が完了しない問題があった。
測定バーでマスター寸法をメカニカルに移し取り、この
マスター寸法を制御装置に記憶して、その後、この記憶
されたマスター寸法に対する孔径を測定するので、１つ
の孔測定について、マスター測定と孔径測定が交互に繰
り返され、測定バーの移動、装着に時間がかかり、短時
間に孔径測定が完了しない問題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この考案は、前記従来技
術の問題点を解決するために、ベッド上をＸ、Ｙ、Ｚ軸
方向に移動する移動ヘッドに、所定範囲の内径を測定可
能な内径検測用の電気マイクロメータを搭載し、前記ベ
ッドには、電気マイクロメータに複数の基準径を与える
マスタゲージを装備し、測定に先立ち電気マイクロメー
タによりマスタゲージを測定して予め複数の基準径を一
括記憶する記憶部を含み、加工孔測定時には、前記電気
マイクロメータにより測定された加工孔の径の実測値
と、前記記憶部に記憶した複数の基準径から選択された
その加工孔の径に対応する基準径とを比較して、内径を
検測するようにした処理部を備えたことを特徴とする。
術の問題点を解決するために、ベッド上をＸ、Ｙ、Ｚ軸
方向に移動する移動ヘッドに、所定範囲の内径を測定可
能な内径検測用の電気マイクロメータを搭載し、前記ベ
ッドには、電気マイクロメータに複数の基準径を与える
マスタゲージを装備し、測定に先立ち電気マイクロメー
タによりマスタゲージを測定して予め複数の基準径を一
括記憶する記憶部を含み、加工孔測定時には、前記電気
マイクロメータにより測定された加工孔の径の実測値
と、前記記憶部に記憶した複数の基準径から選択された
その加工孔の径に対応する基準径とを比較して、内径を
検測するようにした処理部を備えたことを特徴とする。
【０００５】
【作用】測定に先立ち、複数の基準径を与えるマスタゲ
ージを電気マイクロメータで測定し、これから測定すべ
き複数の基準径を一括して記憶部に記憶する。次いで、
電気マイクロメータでワーク孔内径を測定する。内径を
検測している孔と対応してそれと比較する基準径を、記
憶した複数の基準径の内から選択し、その選択された基
準径と実測値とを比較し、内径を検測する。
ージを電気マイクロメータで測定し、これから測定すべ
き複数の基準径を一括して記憶部に記憶する。次いで、
電気マイクロメータでワーク孔内径を測定する。内径を
検測している孔と対応してそれと比較する基準径を、記
憶した複数の基準径の内から選択し、その選択された基
準径と実測値とを比較し、内径を検測する。
【０００６】
【実施例】図２において、コラム１は、Ｚ軸，Ｘ軸用モ
ータ２，３と各送りねじ軸４，５とにより、ベット６上
を水平移動するようにしてある。コラム１の前面には、
検測用の移動ヘッド７がＹ軸用モータ８と送りねじ軸９
によって昇降自在に装架してある。この移動ヘッド７に
は、図５に示す位置関係で、２本の中空軸１０，１１が
図４に示すように摺動案内ブッシュ１２，１２を介して
回り止めを施されてＺ軸方向に摺動自在に挿通してあ
る。各中空軸１０（１１）の後端部には、夫々ガイド部
材１３が一体連結され、ガイド部材１３の一側面には、
上下方向の直線ガイド溝１３ａが形成してある。移動ヘ
ッド７の後端に一体連結したブラケット１４の夫々両側
には、出力軸が１８０度旋回するロータリアクチュエー
タ１５が固着され、ロータリアクチュエータ１５の出力
軸に連結したアーム１６先端のカムフォロア１７が、前
記直線ガイド溝１３ａ内に嵌込まれている。
ータ２，３と各送りねじ軸４，５とにより、ベット６上
を水平移動するようにしてある。コラム１の前面には、
検測用の移動ヘッド７がＹ軸用モータ８と送りねじ軸９
によって昇降自在に装架してある。この移動ヘッド７に
は、図５に示す位置関係で、２本の中空軸１０，１１が
図４に示すように摺動案内ブッシュ１２，１２を介して
回り止めを施されてＺ軸方向に摺動自在に挿通してあ
る。各中空軸１０（１１）の後端部には、夫々ガイド部
材１３が一体連結され、ガイド部材１３の一側面には、
上下方向の直線ガイド溝１３ａが形成してある。移動ヘ
ッド７の後端に一体連結したブラケット１４の夫々両側
には、出力軸が１８０度旋回するロータリアクチュエー
タ１５が固着され、ロータリアクチュエータ１５の出力
軸に連結したアーム１６先端のカムフォロア１７が、前
記直線ガイド溝１３ａ内に嵌込まれている。
【０００７】中空軸１０（１１）の先端には、連結部材
１８が一体連結されている。連結部材１８には、図３に
示すようにＬ字状の連結ブラケット１９が一体連結して
ある。連結ブラケット１９には公知の電気マイクロメー
タ２０が固着してある。この電気マイクロメータ２０
は、一対の開閉可能なアーム２１とその先端の検出子２
２を備え、各アーム２１に対応した空圧シリンダ２３の
ピストンロッドの作用でアーム２１を開閉するようにな
っている。２つの電気マイクロメータ２０は、夫々加工
孔の測定範囲が異なっており、例えば一方は内径３０ф
〜５０ф用、他方は５０ф〜７０ф用である。そして、
測定時に制御プログラムにより測定する孔の径に応じて
何れか一方の電気マイクロメータ２０が図３の仮想線で
示す検測位置へ、前記ロータリアクチュエータ１５の動
作で突出するようにしてある。電気マイクロメータ２０
からの信号線及び空圧シリンダへの空気配管は中空軸１
０（１１）の中空孔を通して行なわれる。
１８が一体連結されている。連結部材１８には、図３に
示すようにＬ字状の連結ブラケット１９が一体連結して
ある。連結ブラケット１９には公知の電気マイクロメー
タ２０が固着してある。この電気マイクロメータ２０
は、一対の開閉可能なアーム２１とその先端の検出子２
２を備え、各アーム２１に対応した空圧シリンダ２３の
ピストンロッドの作用でアーム２１を開閉するようにな
っている。２つの電気マイクロメータ２０は、夫々加工
孔の測定範囲が異なっており、例えば一方は内径３０ф
〜５０ф用、他方は５０ф〜７０ф用である。そして、
測定時に制御プログラムにより測定する孔の径に応じて
何れか一方の電気マイクロメータ２０が図３の仮想線で
示す検測位置へ、前記ロータリアクチュエータ１５の動
作で突出するようにしてある。電気マイクロメータ２０
からの信号線及び空圧シリンダへの空気配管は中空軸１
０（１１）の中空孔を通して行なわれる。
【０００８】図６の３０，３１は、マイクロメータ２０
に、測定の基準径を与えるために、複数の異なる直径を
有するマスタリングを重ねたマスタゲージで、３０ф〜
５０ф用と５０ф〜７０ф用とがゲージホルダ３２内に
並設され、カバー３３で一体取着してある。ゲージホル
ダ３２は図１，２に示すように、ベッド６から立上げた
支柱３４に固着したシリンダ３５のピストンロッド３５
ａに連結され、上下に移動するようにしてある。
に、測定の基準径を与えるために、複数の異なる直径を
有するマスタリングを重ねたマスタゲージで、３０ф〜
５０ф用と５０ф〜７０ф用とがゲージホルダ３２内に
並設され、カバー３３で一体取着してある。ゲージホル
ダ３２は図１，２に示すように、ベッド６から立上げた
支柱３４に固着したシリンダ３５のピストンロッド３５
ａに連結され、上下に移動するようにしてある。
【０００９】次に処理部４０は、公知のマイクロコンピ
ュータを用いた構成で、記憶部４１と演算部４２及び演
算結果の表示部４３を備えている。前記記憶部４１内に
は、測定に先立ち、電気マイクロメータ２０でマスタゲ
ージ３０，３１を検測して、複数のマスタ値を記憶する
マスタテーブル４１ａがある。また、加工孔の座標値と
その加工孔の径が対応して記憶してあり、孔径の検測時
に、電気マイクロメー タ２０の座標値に基づいて加工孔
を特定して、その加工孔の径に応じた基準径を前記マス
タテーブル４１ａに記憶された複数のマスタ値から選択
し、これと実測値とを比較し、検測するようプログラム
されている。
ュータを用いた構成で、記憶部４１と演算部４２及び演
算結果の表示部４３を備えている。前記記憶部４１内に
は、測定に先立ち、電気マイクロメータ２０でマスタゲ
ージ３０，３１を検測して、複数のマスタ値を記憶する
マスタテーブル４１ａがある。また、加工孔の座標値と
その加工孔の径が対応して記憶してあり、孔径の検測時
に、電気マイクロメー タ２０の座標値に基づいて加工孔
を特定して、その加工孔の径に応じた基準径を前記マス
タテーブル４１ａに記憶された複数のマスタ値から選択
し、これと実測値とを比較し、検測するようプログラム
されている。
【００１０】さて、フレキシブル加工ラインで加工され
た多数の径の異なる孔を有するワークに対し、本検測装
置は次のようにして孔加工の良否を判別する。検測に先
立ち、これから検測すべき複数の加工孔の基準径の読込
みを一括して行なう。シリンダ３５の動作でマスタゲー
ジ３０を待機位置から基準径測定位置（図２の二点鎖線
位置）へ位置させる。この状態で、移動ヘッド７の一方
の電気マイクロメータ（例えば３０ф〜５０ф用）２０
をロータリアクチュエータ１５の動作で突出させ、Ｘ，
Ｙ，Ｚ軸の移動動作で、３０ф〜５０ф用のマスタゲー
ジ３０内へ検出子２２を臨ませてアーム２１を開き、検
出子２２をゲージ内径に接触させて、その時の検出値を
マスターテーブル４１ａへＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ…と順に記憶
しておく。他方の電気マイクロメータ（５０ф〜７０ф
用）も同様に行なう。マスタゲージ３０に対して、電気
マイクロメータ２０は、ほとんど同じ位置で（厳密に
は、本実施例ではＺ軸方向に僅かづつ移動して）基準径
を次々と読み込めるため、マスタゲージ３０を大きく移
動させることなく複数の基準径の読み込みを短時間で行
いうる。
た多数の径の異なる孔を有するワークに対し、本検測装
置は次のようにして孔加工の良否を判別する。検測に先
立ち、これから検測すべき複数の加工孔の基準径の読込
みを一括して行なう。シリンダ３５の動作でマスタゲー
ジ３０を待機位置から基準径測定位置（図２の二点鎖線
位置）へ位置させる。この状態で、移動ヘッド７の一方
の電気マイクロメータ（例えば３０ф〜５０ф用）２０
をロータリアクチュエータ１５の動作で突出させ、Ｘ，
Ｙ，Ｚ軸の移動動作で、３０ф〜５０ф用のマスタゲー
ジ３０内へ検出子２２を臨ませてアーム２１を開き、検
出子２２をゲージ内径に接触させて、その時の検出値を
マスターテーブル４１ａへＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ…と順に記憶
しておく。他方の電気マイクロメータ（５０ф〜７０ф
用）も同様に行なう。マスタゲージ３０に対して、電気
マイクロメータ２０は、ほとんど同じ位置で（厳密に
は、本実施例ではＺ軸方向に僅かづつ移動して）基準径
を次々と読み込めるため、マスタゲージ３０を大きく移
動させることなく複数の基準径の読み込みを短時間で行
いうる。
【００１１】次いで、ワークＷの加工孔の検測を行な
う。これから検測する孔径を測定できる電気マイクロメ
ータ２０を予め選択し、ロータリアクチュエータ１５の
動作で突出させる。次いで、Ｘ，Ｙ，Ｚ軸移動で、目的
の孔Ｈに向かう。空圧シリンダ２３が圧空排出の状態で
アーム２１が閉じているので（図７）、このまま、目的
の孔Ｈへ検出子２２を臨ませ、その位置で圧空供給する
とアーム２１が互いに開き、検出子２２が孔内面に接触
する。このアーム２１の移動量が処理部４０へ送られ、
処理部４０では、Ｘ，Ｙ，Ｚ軸の座標値から現在検測中
の孔を特定し、その孔に対応し、その孔と比較すべき基
準径をマスタテーブル４１ａ内に一括記憶した複数のマ
スタ値から選択し、その選択されたマスタ値と実測値を
比較し、公差内ならＯＫを、外れていればＮＧを表示部
４３へ表示する。１つの電気マイクロメータ２０は測定
範囲内であれば、孔径にかかわらず検測可能で、しかも
Ｘ、Ｙ、Ｚ軸に沿って移動するので、孔位置も問わず検
測できることになる。また、電気マイクロメータ自体が
Ｘ、Ｙ、Ｚに移動するので、特にトランスファ加工ライ
ンでは、送られてくるワークを、移動ヘッド前方に固定
するだけでよく、ワークを受け入れる時の位置決め制御
が容易であり、トランスファ加工ラインに用いて好適で
ある。そして、孔の基準径がワーク変更で変わる場合、
マスタゲージ３０，３１を交換してマスタテーブルのマ
スタ値を書換えればよく、あまり手間がかからない。
う。これから検測する孔径を測定できる電気マイクロメ
ータ２０を予め選択し、ロータリアクチュエータ１５の
動作で突出させる。次いで、Ｘ，Ｙ，Ｚ軸移動で、目的
の孔Ｈに向かう。空圧シリンダ２３が圧空排出の状態で
アーム２１が閉じているので（図７）、このまま、目的
の孔Ｈへ検出子２２を臨ませ、その位置で圧空供給する
とアーム２１が互いに開き、検出子２２が孔内面に接触
する。このアーム２１の移動量が処理部４０へ送られ、
処理部４０では、Ｘ，Ｙ，Ｚ軸の座標値から現在検測中
の孔を特定し、その孔に対応し、その孔と比較すべき基
準径をマスタテーブル４１ａ内に一括記憶した複数のマ
スタ値から選択し、その選択されたマスタ値と実測値を
比較し、公差内ならＯＫを、外れていればＮＧを表示部
４３へ表示する。１つの電気マイクロメータ２０は測定
範囲内であれば、孔径にかかわらず検測可能で、しかも
Ｘ、Ｙ、Ｚ軸に沿って移動するので、孔位置も問わず検
測できることになる。また、電気マイクロメータ自体が
Ｘ、Ｙ、Ｚに移動するので、特にトランスファ加工ライ
ンでは、送られてくるワークを、移動ヘッド前方に固定
するだけでよく、ワークを受け入れる時の位置決め制御
が容易であり、トランスファ加工ラインに用いて好適で
ある。そして、孔の基準径がワーク変更で変わる場合、
マスタゲージ３０，３１を交換してマスタテーブルのマ
スタ値を書換えればよく、あまり手間がかからない。
【００１２】
【考案の効果】以上のようにこの考案の装置によれば、
複数の基準径を与えるマスタゲージを検測することによ
り予め複数の基準径を記憶部に一括記憶して、測定して
いる孔と対応して、その孔と比較すべき基準径をその記
憶部に記憶した複数の基準径から選択し、その選択され
た基準径と実測値とを比較して内径を検測するようにし
たので、異なる孔径を連続して検測するときでも、マス
タゲージの検測と、孔径の検測とをその都度繰り返す必
要がなく、電気マイクロメータの移動量を少なくでき、
測定時間を短縮できる効果がある。また、本願では、そ
のような電気マイクロメータをＸ，Ｙ，Ｚ軸移動するよ
うにしたので、トランスファ加工ラインに適用するとき
には、送られてくるワークを、移動ヘッド前方に固定す
るだけでよく、ワークを受け入れる時の位置決め制御が
容易であるという利点がある。
複数の基準径を与えるマスタゲージを検測することによ
り予め複数の基準径を記憶部に一括記憶して、測定して
いる孔と対応して、その孔と比較すべき基準径をその記
憶部に記憶した複数の基準径から選択し、その選択され
た基準径と実測値とを比較して内径を検測するようにし
たので、異なる孔径を連続して検測するときでも、マス
タゲージの検測と、孔径の検測とをその都度繰り返す必
要がなく、電気マイクロメータの移動量を少なくでき、
測定時間を短縮できる効果がある。また、本願では、そ
のような電気マイクロメータをＸ，Ｙ，Ｚ軸移動するよ
うにしたので、トランスファ加工ラインに適用するとき
には、送られてくるワークを、移動ヘッド前方に固定す
るだけでよく、ワークを受け入れる時の位置決め制御が
容易であるという利点がある。
【図１】この考案の検測装置の側面図である。
【図２】図１の正面図である。
【図３】移動ヘッドの平面図である。
【図４】図３のＩＩＩ−ＩＩＩ断面図である。
【図５】図４のＶ−Ｖ視図である。
【図６】マスタゲージ断面図である。
【図７】電気マイクロメータ拡大図である。
６ ベッド、７ 移動ヘッド、２０ 電気マイクロメー
タ、３０ マスタゲージ、３１ マスタゲージ、４０
処理部、４１ 記憶部
タ、３０ マスタゲージ、３１ マスタゲージ、４０
処理部、４１ 記憶部
Claims (1)
- 【請求項１】 ベッド上をＸ、Ｙ、Ｚ軸方向に移動する
移動ヘッドに、所定範囲の内径を測定可能な内径検測用
の電気マイクロメータを搭載し、前記ベッドには、電気
マイクロメータに複数の基準径を与えるマスタゲージを
装備し、測定に先立ち電気マイクロメータによりマスタ
ゲージを測定して予め複数の基準径を一括記憶する記憶
部を含み、加工孔測定時には、前記電気マイクロメータ
により測定された加工孔の径の実測値と、前記記憶部に
記憶した複数の基準径から選択されたその加工孔の径に
対応する基準径とを比較して、内径を検測するようにし
た処理部を備えたことを特徴とする検測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1994010367U JP2549430Y2 (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 検測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1994010367U JP2549430Y2 (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 検測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0720505U JPH0720505U (ja) | 1995-04-11 |
| JP2549430Y2 true JP2549430Y2 (ja) | 1997-09-30 |
Family
ID=11748197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1994010367U Expired - Lifetime JP2549430Y2 (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 検測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2549430Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5039666B2 (ja) * | 2008-08-29 | 2012-10-03 | 三菱重工業株式会社 | 表面粗さの測定方法、表面粗さ測定装置及び加工装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5258179A (en) * | 1975-11-07 | 1977-05-13 | Toshiba Mach Co Ltd | Apparatus for measuring diameter of hold bored |
| JPS6032121B2 (ja) * | 1979-05-02 | 1985-07-26 | 株式会社三豊製作所 | 内径測定器 |
-
1994
- 1994-07-28 JP JP1994010367U patent/JP2549430Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0720505U (ja) | 1995-04-11 |
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