JP2545333B2 - 磁気ヘッドおよび磁気ディスクのテスタ―における位置決め誤差を補償するための方法および装置 - Google Patents
磁気ヘッドおよび磁気ディスクのテスタ―における位置決め誤差を補償するための方法および装置Info
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- JP2545333B2 JP2545333B2 JP5235916A JP23591693A JP2545333B2 JP 2545333 B2 JP2545333 B2 JP 2545333B2 JP 5235916 A JP5235916 A JP 5235916A JP 23591693 A JP23591693 A JP 23591693A JP 2545333 B2 JP2545333 B2 JP 2545333B2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
- G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
- G11B5/5526—Control therefor; circuits, track configurations or relative disposition of servo-information transducers and servo-information tracks for control thereof
- G11B5/553—Details
- G11B5/5534—Initialisation, calibration, e.g. cylinder "set-up"
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ヘッドおよび磁気
ディスクのテスターに関し、特に、読書きヘッドおよび
磁気ディスクの改良されたテスターと、このようなテス
ターの作動中に起こる位置決めを補償するための方法に
関する。
ディスクのテスターに関し、特に、読書きヘッドおよび
磁気ディスクの改良されたテスターと、このようなテス
ターの作動中に起こる位置決めを補償するための方法に
関する。
【0002】
【従来技術】コンピュータディスクドライブの組み立て
に先行して、この主要素、例えば読書き磁気ヘッドおよ
び磁気ヘッドが、磁気ヘッドおよびディスクテスターで
チェックされるのが普通である。
に先行して、この主要素、例えば読書き磁気ヘッドおよ
び磁気ヘッドが、磁気ヘッドおよびディスクテスターで
チェックされるのが普通である。
【0003】従来のヘッドおよびディスクテスターの例
の簡単な斜視図が図1に示されている。このようなテス
ターは、米国特許出願第840527号(1992年2
月25日)に説明されている。このテスターは、2つの
平行なレール10および12から成り、レール10およ
び12は、例えばボルト(図示せず)により確実に取り
付けられ、上部レール14および16を支持し案内す
る。上部レール14および16は、外側リング18に確
実に取り付けられ、外側リング18は、内側リング20
を回転自在に支持助する。後方部が、磁気ヘッド22を
有する磁気ヘッドホルダー21を担持する。したがっ
て、磁気ヘッド22は、矢印Aが示す方向に前後移動で
き、ヘッド22を通過する軸線Bのまわりを内側リング
20の手段によって回転される。スピンドル24が、固
定軸線に関して回転し、テストされる磁気ディスク26
を保持し、回転する。
の簡単な斜視図が図1に示されている。このようなテス
ターは、米国特許出願第840527号(1992年2
月25日)に説明されている。このテスターは、2つの
平行なレール10および12から成り、レール10およ
び12は、例えばボルト(図示せず)により確実に取り
付けられ、上部レール14および16を支持し案内す
る。上部レール14および16は、外側リング18に確
実に取り付けられ、外側リング18は、内側リング20
を回転自在に支持助する。後方部が、磁気ヘッド22を
有する磁気ヘッドホルダー21を担持する。したがっ
て、磁気ヘッド22は、矢印Aが示す方向に前後移動で
き、ヘッド22を通過する軸線Bのまわりを内側リング
20の手段によって回転される。スピンドル24が、固
定軸線に関して回転し、テストされる磁気ディスク26
を保持し、回転する。
【0004】ディスク26の所定の場所、およびディス
クのトラック(図示せず)に対する所定の角度でのヘッ
ドの位置決めにおいて、上部レール14および16は、
底部レール10および12にわたって誘導され、磁気デ
ィスク26に関して磁気ヘッド22を放射方向にシフト
する。次に、内側リング20が回転し、所望の位置、お
よびトラックに対する所定の角度に磁気ヘッド22が位
置される。
クのトラック(図示せず)に対する所定の角度でのヘッ
ドの位置決めにおいて、上部レール14および16は、
底部レール10および12にわたって誘導され、磁気デ
ィスク26に関して磁気ヘッド22を放射方向にシフト
する。次に、内側リング20が回転し、所望の位置、お
よびトラックに対する所定の角度に磁気ヘッド22が位
置される。
【0005】テストは、磁気ディスク22およびディス
ク26が所定の相互関係で正確に位置決めされることが
要求される。測定されるパラメータの間で重要なもの
は、トラックプロファイルである。トラックプロファイ
ルは、例えば、トラック中心線に関し横方向のシフトに
従った振幅、パルス形状等のようなリードバック(readb
ack)信号パラメータを測定することによって得られる特
性である。
ク26が所定の相互関係で正確に位置決めされることが
要求される。測定されるパラメータの間で重要なもの
は、トラックプロファイルである。トラックプロファイ
ルは、例えば、トラック中心線に関し横方向のシフトに
従った振幅、パルス形状等のようなリードバック(readb
ack)信号パラメータを測定することによって得られる特
性である。
【0006】外側リング18は上部レール14および1
6とともに図1に示されるキャリッジ28を形成してい
る。キャリッジ28は、底部レール10および12に沿
ってリードスクリュー(図示せず)を介して可逆ステッ
パーモータから移動される。
6とともに図1に示されるキャリッジ28を形成してい
る。キャリッジ28は、底部レール10および12に沿
ってリードスクリュー(図示せず)を介して可逆ステッ
パーモータから移動される。
【0007】図1の装置は、例えばフィードバックを利
用しないオープンループ装置である。典型的に、トラッ
ク幅は、約10μmまたはそれ以下である。この型のオ
ープンループ装置は、約1μmの位置決め誤差を発生さ
せる。しかし、トラック幅が1μm以下の新世代のハー
ドディスクの出現によって、1μmの誤差が計測目的に
おいて受け入れがたくなった。
用しないオープンループ装置である。典型的に、トラッ
ク幅は、約10μmまたはそれ以下である。この型のオ
ープンループ装置は、約1μmの位置決め誤差を発生さ
せる。しかし、トラック幅が1μm以下の新世代のハー
ドディスクの出現によって、1μmの誤差が計測目的に
おいて受け入れがたくなった。
【0008】正確な位置決めを改良する1つの方法は、
閉ループ装置を用いることであり、これは、ヘッド22
の移動を計測し、いかなる位置決め誤差をも積極的に修
正するものである。しかし、計測装置によって直接ヘッ
ド22の移動距離を計測することが、非常に困難であ
る。これは、ヘッドに隣接する空間がスピンドル24、
磁気ディスク26、およびキャリッジ28上にヘッド2
2を取り外し可能に取り付けるための手段によって占め
られているからである。したがって、線形解読器のよう
な計測装置を配置するための十分な空間がない。
閉ループ装置を用いることであり、これは、ヘッド22
の移動を計測し、いかなる位置決め誤差をも積極的に修
正するものである。しかし、計測装置によって直接ヘッ
ド22の移動距離を計測することが、非常に困難であ
る。これは、ヘッドに隣接する空間がスピンドル24、
磁気ディスク26、およびキャリッジ28上にヘッド2
2を取り外し可能に取り付けるための手段によって占め
られているからである。したがって、線形解読器のよう
な計測装置を配置するための十分な空間がない。
【0009】キャリッジの中心から外れた場所、例えば
キャリッジに隣接する場所に組み立てられる計測装置、
つまり閉ループ装置を有するテスターを設けることによ
って、この問題が解決するよう試みがなされてきた。こ
のような装置の1つの例として、グジク・テクニカル・
エンタープライズ(カリフォルニア州サン・ジョセ、1
992年7月)製の試験用ディスク/ヘッドテスターが
ある。このテスターの簡単な立体図が図2に示されてい
る。
キャリッジに隣接する場所に組み立てられる計測装置、
つまり閉ループ装置を有するテスターを設けることによ
って、この問題が解決するよう試みがなされてきた。こ
のような装置の1つの例として、グジク・テクニカル・
エンタープライズ(カリフォルニア州サン・ジョセ、1
992年7月)製の試験用ディスク/ヘッドテスターが
ある。このテスターの簡単な立体図が図2に示されてい
る。
【0010】図2のテスターは、線形解読器がキャッリ
ジ28aの一方の側に非常に接近した場所、例えば底部
レール12a付近に備え付けられることを除けば、図1
のものと全く同一である。解読器11は、固定されてい
る部分と移動可能な部分との2つの部分から成る。固定
されている部分は、ネジ15および17によって、例え
ばハウジング13aに取り付けられるリーダーヘッドで
あり、移動可能な部分は、キャリッジ28aに、例えば
ネジ19および23によって上部レール16aに確実に
取り付けられる解読器スケール11bである。
ジ28aの一方の側に非常に接近した場所、例えば底部
レール12a付近に備え付けられることを除けば、図1
のものと全く同一である。解読器11は、固定されてい
る部分と移動可能な部分との2つの部分から成る。固定
されている部分は、ネジ15および17によって、例え
ばハウジング13aに取り付けられるリーダーヘッドで
あり、移動可能な部分は、キャリッジ28aに、例えば
ネジ19および23によって上部レール16aに確実に
取り付けられる解読器スケール11bである。
【0011】テスト中、キャリッジ28aが磁気ディス
ク26aに関して磁気ヘッド22aと共に移動すると
き、解読器11は、磁気ヘッド22aの位置を決定する
ために使用される。解読器11は、磁気ヘッド22aの
位置を計測しない。これは、解読器が置かれているキャ
リッジ28a側の計測点の移動が磁気ヘッドの中心と近
似的に等しいと仮定しているからである。しかし、キャ
リッジの移動中に片揺れが起きた場合、この仮定は成り
立たない。
ク26aに関して磁気ヘッド22aと共に移動すると
き、解読器11は、磁気ヘッド22aの位置を決定する
ために使用される。解読器11は、磁気ヘッド22aの
位置を計測しない。これは、解読器が置かれているキャ
リッジ28a側の計測点の移動が磁気ヘッドの中心と近
似的に等しいと仮定しているからである。しかし、キャ
リッジの移動中に片揺れが起きた場合、この仮定は成り
立たない。
【0012】より特定的に、片揺れが起きた場合におい
て、磁気ヘッド22aは、磁気ヘッド22aから計測点
までの距離に等しい半径で、この計測点に関して回転移
動される。半径10cmおよび片揺れ角5μラジアンに
おいて、片揺れによる計測点に関する磁気ヘッド22a
の移動、つまり位置計測誤差は、0.5μmである。
て、磁気ヘッド22aは、磁気ヘッド22aから計測点
までの距離に等しい半径で、この計測点に関して回転移
動される。半径10cmおよび片揺れ角5μラジアンに
おいて、片揺れによる計測点に関する磁気ヘッド22a
の移動、つまり位置計測誤差は、0.5μmである。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】したがって、ヘッド位
置誤差の補償をするためのフィードバック信号として解
読器11の出力信号を使用する図2のテスターの閉ルー
プ補償装置(図示せず)では、0.5μm以上の正確さ
を達成することができない。
置誤差の補償をするためのフィードバック信号として解
読器11の出力信号を使用する図2のテスターの閉ルー
プ補償装置(図示せず)では、0.5μm以上の正確さ
を達成することができない。
【0014】したがって、本発明の目的は、ヘッドの位
置決めの精度を改良し、ヘッド位置決め誤差の自己補償
能力を有し、位置決めが0.05μm以上の精度である
読書きヘッドおよび磁気ディスク用テスターを提供する
ことである。本発明の他の目的は、このようなテスター
作動中に生じる位置決め誤差を補償する方法を提供する
ことである。本発明のその他の目的は、0.05μm以
上のトラックプロファイル計測の精度を確実にするディ
スクおよびヘッドテスターを提供することである。
置決めの精度を改良し、ヘッド位置決め誤差の自己補償
能力を有し、位置決めが0.05μm以上の精度である
読書きヘッドおよび磁気ディスク用テスターを提供する
ことである。本発明の他の目的は、このようなテスター
作動中に生じる位置決め誤差を補償する方法を提供する
ことである。本発明のその他の目的は、0.05μm以
上のトラックプロファイル計測の精度を確実にするディ
スクおよびヘッドテスターを提供することである。
【0015】本発明における他の利点および態様は、後
述する説明および図面を考慮することによって、明らか
になる。
述する説明および図面を考慮することによって、明らか
になる。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明において、ヘッド
およびディスクテスターが、キャリッジと一対の数値出
力式解読器とから成り、このキャリッジは、多数のレー
ル上を滑ることができるように支持され、一対の数値出
力式線形解読器は、キャリッジの中心線に関して対称で
あってキャリッジの移動方向に対して平行であるように
キャリッジの両側に備え付けられている。
およびディスクテスターが、キャリッジと一対の数値出
力式解読器とから成り、このキャリッジは、多数のレー
ル上を滑ることができるように支持され、一対の数値出
力式線形解読器は、キャリッジの中心線に関して対称で
あってキャリッジの移動方向に対して平行であるように
キャリッジの両側に備え付けられている。
【0017】
【実施例】本発明のヘッドおよびディスクテスターの簡
単な平面図が、図3に示されている。
単な平面図が、図3に示されている。
【0018】図2のテスターと同様に、図3のテスター
は、テスト中に底部レール36および38に沿って移動
するキャリッジ30を有し、キャリッジ30はヘッドホ
ルダー32および磁気ヘッド34を有している。このキ
ャリッジは、磁気ヘッド34を粗く位置決めするために
リードスクリュー41を介して駆動され、次に、精密な
位置決めをするために圧電変換器を介してステッパーモ
ータ39によって駆動される。
は、テスト中に底部レール36および38に沿って移動
するキャリッジ30を有し、キャリッジ30はヘッドホ
ルダー32および磁気ヘッド34を有している。このキ
ャリッジは、磁気ヘッド34を粗く位置決めするために
リードスクリュー41を介して駆動され、次に、精密な
位置決めをするために圧電変換器を介してステッパーモ
ータ39によって駆動される。
【0019】2個の数値出力式線形解読器40および4
2(例えば、米国キャノン製モデルL−104)が、キ
ャリッジ30の中心線に関して対称で、かつ、このキャ
リッジの移動方向に対して平行にキャリッジ30の両側
に備え付けられている。これら解読器は、0.01μm
の解像度でキャリッジの移動距離を計測することが可能
である。
2(例えば、米国キャノン製モデルL−104)が、キ
ャリッジ30の中心線に関して対称で、かつ、このキャ
リッジの移動方向に対して平行にキャリッジ30の両側
に備え付けられている。これら解読器は、0.01μm
の解像度でキャリッジの移動距離を計測することが可能
である。
【0020】図2のテスターのように、解読器の各々
が、固定される部分と移動可能な部分という2つの部分
から成り、固定される部分は、ハウジング43に取り付
けられる部分40aおよび42a(図3)であり、移動
可能な部分は、外部リング35に取り付けられる部分4
0bおよび42bである。
が、固定される部分と移動可能な部分という2つの部分
から成り、固定される部分は、ハウジング43に取り付
けられる部分40aおよび42a(図3)であり、移動
可能な部分は、外部リング35に取り付けられる部分4
0bおよび42bである。
【0021】解読器40および42は、キャリッジの両
側に備え付けられる。これは、これら解読器の位置を比
較的接近させことができるということと、そして、関心
のある位置、例えば磁気ヘッド34の読書き要素の所在
位置に線形解読器を備え付けることが困難であり、不便
であり、さらには物理的に不可能な場合もあるからであ
る。ヘッド34がテストされる位置の範囲が確保される
ために、線形解読器の長さが75から100mmのもの
が選択される。
側に備え付けられる。これは、これら解読器の位置を比
較的接近させことができるということと、そして、関心
のある位置、例えば磁気ヘッド34の読書き要素の所在
位置に線形解読器を備え付けることが困難であり、不便
であり、さらには物理的に不可能な場合もあるからであ
る。ヘッド34がテストされる位置の範囲が確保される
ために、線形解読器の長さが75から100mmのもの
が選択される。
【0022】図4に示すとおり、計測点FおよびGを結
ぶ直線上の任意の点Sの位置が、次ぎに示すとおり、2
点FおよびGの位置を用いて数式で表すことができる。
位置S=(位置F|GS|+位置G|FS|)/|FG
|。ここで、GSは点Gから点Sまでの距離であり、F
Gは点Fから点Gまでの距離である。
ぶ直線上の任意の点Sの位置が、次ぎに示すとおり、2
点FおよびGの位置を用いて数式で表すことができる。
位置S=(位置F|GS|+位置G|FS|)/|FG
|。ここで、GSは点Gから点Sまでの距離であり、F
Gは点Fから点Gまでの距離である。
【0023】したがって、点Sに計測装置を配置するこ
となく、点Sの位置が高い精度で得られる。例えば、点
FとGとの幾何学的中点の水平位置が、点FおよびGの
位置の相加平均として表せる。
となく、点Sの位置が高い精度で得られる。例えば、点
FとGとの幾何学的中点の水平位置が、点FおよびGの
位置の相加平均として表せる。
【0024】図3のテスターの平面概要図で示されると
おり、解読器40および42両方の出力は、計算ユニッ
ト45の入力に接続される。このユニットは、解読器4
0および42の出力信号の相加平均を計算し、この相加
平均は、幾何学的中点Qの位置を表している。磁気ヘッ
ド34は、点Q付近に位置される。
おり、解読器40および42両方の出力は、計算ユニッ
ト45の入力に接続される。このユニットは、解読器4
0および42の出力信号の相加平均を計算し、この相加
平均は、幾何学的中点Qの位置を表している。磁気ヘッ
ド34は、点Q付近に位置される。
【0025】図4において、片揺れにおける磁気ヘッド
34および上部レールの位置が、点線によって示されて
いる。片揺れが生じるとき、磁気ヘッド34の中心H
(ヘッドの読書き要素の位置を表す)が、半径QHで点
H1に向かって点Qを軸にして回転し、計測点Fが、点
F1に向かって点Qを中心にして回転する。ここで、半
径QHは、半径QFよりも非常に小さい。磁気ヘッド3
4が点Q付近(0.1mm以内)に物理的に位置される
ことから、50μラジアンまでの片揺れ角度においても
点Hの計算された移動における誤差δ1が無視(5n
m)できる。
34および上部レールの位置が、点線によって示されて
いる。片揺れが生じるとき、磁気ヘッド34の中心H
(ヘッドの読書き要素の位置を表す)が、半径QHで点
H1に向かって点Qを軸にして回転し、計測点Fが、点
F1に向かって点Qを中心にして回転する。ここで、半
径QHは、半径QFよりも非常に小さい。磁気ヘッド3
4が点Q付近(0.1mm以内)に物理的に位置される
ことから、50μラジアンまでの片揺れ角度においても
点Hの計算された移動における誤差δ1が無視(5n
m)できる。
【0026】計算ユニット45の出力は、フィードバッ
ク線47およびコントローラ増幅器49を通じて圧電変
換器37に接続される。この圧電変換器37は、磁気ヘ
ッド34の移動の補償をする。
ク線47およびコントローラ増幅器49を通じて圧電変
換器37に接続される。この圧電変換器37は、磁気ヘ
ッド34の移動の補償をする。
【0027】したがって、計測装置は、0.05μmよ
りも精密(例えば0.02から0.05μm)に作動す
る閉ループを形成する。
りも精密(例えば0.02から0.05μm)に作動す
る閉ループを形成する。
【0028】
【動作】図3の磁気ヘッドおよびディスクテスターは、
以下のように動作する。
以下のように動作する。
【0029】第1に、磁気ヘッド34は、リードスクリ
ュー41を通じてステッパーモータ39の手段によっ
て、高速でディスク上の所望の位置(図示せず)付近へ
移動される。次ぎに、ヘッド34の良好な位置決めが、
圧電変換器37を介してキャリッジ30を移動すること
によって実行される。解読器40および42が、計算ユ
ニット45に伝えられる出力を与える。次ぎに、計算ユ
ニット45は、前述のように、これら解読器の出力の相
加平均としてキャリッジ移動方向の点Qの位置を計算す
る。
ュー41を通じてステッパーモータ39の手段によっ
て、高速でディスク上の所望の位置(図示せず)付近へ
移動される。次ぎに、ヘッド34の良好な位置決めが、
圧電変換器37を介してキャリッジ30を移動すること
によって実行される。解読器40および42が、計算ユ
ニット45に伝えられる出力を与える。次ぎに、計算ユ
ニット45は、前述のように、これら解読器の出力の相
加平均としてキャリッジ移動方向の点Qの位置を計算す
る。
【0030】この計算結果は、フィードバック線47お
よびコントローラ増幅器49を介して圧電変換器37へ
伝えられ、この計算結果は、移動誤差に対する反対の方
向、つまり点Qの位置を修正する方向のキャリッジの移
動が計算されたものである。磁気ヘッド34が物理的に
点Q付近(0.1mmの距離)にあることから、ヘッド
34も修正位置付近(約5nm以下)に位置される。
よびコントローラ増幅器49を介して圧電変換器37へ
伝えられ、この計算結果は、移動誤差に対する反対の方
向、つまり点Qの位置を修正する方向のキャリッジの移
動が計算されたものである。磁気ヘッド34が物理的に
点Q付近(0.1mmの距離)にあることから、ヘッド
34も修正位置付近(約5nm以下)に位置される。
【0031】前述のように、閉ループ装置の補償は、す
ぐれた繰り返し精度(つまり、0.02から0.05μ
m)でヘッド34の最終的な位置決めを与える。
ぐれた繰り返し精度(つまり、0.02から0.05μ
m)でヘッド34の最終的な位置決めを与える。
【0032】
【発明の効果】したがって、ヘッド位置決め精度が改良
され、精度が0.02から0.05μmのヘッド位置決
め精度の自己補償能力を有する読書きヘッドおよび磁気
ディスク用テスターが提供されたことが示された。本発
明は、上記テスターの作動中に発生する位置決め誤差を
補償するための手段を与え、約0.05μmのトラック
プロファイル計測精度を確実にするテスターの製作を可
能にする。
され、精度が0.02から0.05μmのヘッド位置決
め精度の自己補償能力を有する読書きヘッドおよび磁気
ディスク用テスターが提供されたことが示された。本発
明は、上記テスターの作動中に発生する位置決め誤差を
補償するための手段を与え、約0.05μmのトラック
プロファイル計測精度を確実にするテスターの製作を可
能にする。
【0033】ヘッドおよびディスクテスターは、1つの
特定の実施例において詳細に説明されたが、この実施例
と、テスターの部品、材料および様態は、ある例として
与えられたにすぎず、テスターのその他多くの変形物が
可能である。例えば、同一の方法および計測装置が、磁
気ヘッドテストではなく、ディスクテスト操作に適用可
能である。線形解読器が、ホログラフィースケール、磁
気ストリップリーダー、またはレーザー干渉計等のよう
に、多様な形態で実施され得る。圧電変換器は、フィー
ドバックコマンドの効果において必要な解像度でキャリ
ッジの位置を調節できるような他の良好な位置決め装置
と置き換えることができる。コントローラの実施は、デ
ジタル信号処理か、アナログ電子回路か、非電子的手段
か、または上記のものの組合わせを基本としている。解
読器は、キャリッジ両側の対称な2地点に配置される必
要はなく、非対称なキャリッジの2地点であっても、こ
れらの設置において便利な場所に配置されてもよい。し
かし、この場合、上記に示されたものとは別の方程式
が、補償量を計算するために使用される。
特定の実施例において詳細に説明されたが、この実施例
と、テスターの部品、材料および様態は、ある例として
与えられたにすぎず、テスターのその他多くの変形物が
可能である。例えば、同一の方法および計測装置が、磁
気ヘッドテストではなく、ディスクテスト操作に適用可
能である。線形解読器が、ホログラフィースケール、磁
気ストリップリーダー、またはレーザー干渉計等のよう
に、多様な形態で実施され得る。圧電変換器は、フィー
ドバックコマンドの効果において必要な解像度でキャリ
ッジの位置を調節できるような他の良好な位置決め装置
と置き換えることができる。コントローラの実施は、デ
ジタル信号処理か、アナログ電子回路か、非電子的手段
か、または上記のものの組合わせを基本としている。解
読器は、キャリッジ両側の対称な2地点に配置される必
要はなく、非対称なキャリッジの2地点であっても、こ
れらの設置において便利な場所に配置されてもよい。し
かし、この場合、上記に示されたものとは別の方程式
が、補償量を計算するために使用される。
【0034】さらに、解読器の固定要素(リーダーヘッ
ド)は、キャリッジに取り付けられて移動可能となり、
解読器の移動可能要素は、それらをハウジングに取り付
けることによって固定することができる。この既に述べ
たものとは逆の配列は、磁気ヘッドが移動する線に対し
て直角な線に沿って磁気ヘッドの読書きヘッドおよび2
つのリーダーヘッドが永久的に位置されるように、リー
ダーヘッドを位置することができる。
ド)は、キャリッジに取り付けられて移動可能となり、
解読器の移動可能要素は、それらをハウジングに取り付
けることによって固定することができる。この既に述べ
たものとは逆の配列は、磁気ヘッドが移動する線に対し
て直角な線に沿って磁気ヘッドの読書きヘッドおよび2
つのリーダーヘッドが永久的に位置されるように、リー
ダーヘッドを位置することができる。
【0035】したがって、本発明の範囲は、与えられた
例によってではなく、特許請求の範囲およびそれらの法
的同等物によって決定されるべきものである。
例によってではなく、特許請求の範囲およびそれらの法
的同等物によって決定されるべきものである。
【図1】位置決め誤差補償装置のない在来型従来技術の
ヘッドおよびディスクテスターの概要斜視図である。
ヘッドおよびディスクテスターの概要斜視図である。
【図2】ヘッド位置決め誤差を計測するための解読器を
有する周知の従来技術の磁気ヘッドおよびディスクテス
ターの概要斜視図である。
有する周知の従来技術の磁気ヘッドおよびディスクテス
ターの概要斜視図である。
【図3】本発明のテスターの概要平面図である。
【図4】片揺れ(ヨーイング)における、計測点の移動
距離を示す概要図である。
距離を示す概要図である。
10、12...底部レール 11...解読器 11a...解読器の固定された部分 11b...解読器の移動可能な部分 13、13b...テスターハウジング 14、16、16a...上部レール 18...外部リング 20...内部リング 21...磁気ヘッドホルダー 22、22a,34...磁気ヘッド 15、17、19、23...スクリュー 24...スピンドル 26、26a...磁気ディスク 28、28a,30...キャリッジ 32...ヘッドホルダー 35...外部リング 36、38...底部レール 37...圧電変換器 39...ステッパー 40、42...線形解読器 41...リードスクリュー 40a、42a...解読器の固定された部分 40b、42b...解読器の移動可能な部分 43...ハウジング 45...計算ユニット 47...フィードバック線 49...コントローラ増幅器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウフク・カラスラン アメリカ合衆国カリフォルニア州サニー ヴェール、オールド・サンフランシス コ・ロード718D (72)発明者 ボリス・スラツキー アメリカ合衆国カリフォルニア州ロス・ アルトス、キャシー・レーン1514 (56)参考文献 特開 昭63−106969(JP,A) 特開 平3−119577(JP,A)
Claims (16)
- 【請求項1】 磁気ヘッドおよびディスクテスターにお
いて磁気ヘッドの位置決め誤差を補償するための方法で
あって、前記方法が、 固定された位置において磁気ディスクを回転自在に支持
するスピンドルユニットを設ける工程と、 前記スピンドルの横側にそれぞれ位置される複数の直線
誘導路を設ける工程と、 前記誘導路での移動が可能であり、磁気ヘッドを担持す
るキャリッジを設ける工程と、 移動路線において前記キャリッジを駆動するための往復
移動可能な駆動手段を設ける工程と、 前記磁気ディスクに関して前記磁気ヘッドの位置を計測
するための計測装置を設ける工程と、 前記往復移動可能な駆動手段によって前記磁気ヘッドを
前記磁気ディスクに関して与えられた位置へ移動させる
工程と、 基準となる位置からの前記キャリッジの第1の位置およ
び第2の位置の移動を計測する工程と、 計算ユニットの手段によって計測部材の出力を基にした
前記磁気ヘッドの誤差直線移動を計算する工程と、 前記計算ユニットから前記駆動手段へ出力信号を送る工
程と、 誤差直線移動と反対方向に前記キャリッジを移動させる
ことによって、前記磁気ディスクに関する正確な位置へ
前記磁気ヘッドをシフトさせる工程とから成り、 前記磁気ヘッドが、読書き要素を有し、 前記往復移動可能な駆動手段が、前記磁気ディスクに関
して前記磁気ヘッドに移動を伝えることが可能であり、 前記計測装置が、 前記キャリッジの前記第1の位置に位置される第1の計
測部材と、 前記キャリッジの前記第2の位置に位置される第2の計
測部材と、 前記第1および第2の計測部材の出力を基にして前記磁
気ヘッドの移動を計算するために配置される前記計算ユ
ニットと、 前記磁気ヘッドの位置決め誤差を消去し、前記磁気ヘッ
ドを前記磁気ディスクに関する正確な位置に戻すよう
に、前記計算ユニットを前記駆動手段に接続するフィー
ドバック線とから成り、 前記第1の計測部材は、前記第1の位置の移動の計測が
可能であり、前記第2の計測手段は、前記第2の位置の
移動の計測が可能であり、前記移動は、非対称な摩擦力
のような不安定性要因による前記誘導路における前記キ
ャリッジの片揺れの影響によってある程度生じる、とこ
ろの方法。 - 【請求項2】 請求項1の方法であって、 前記磁気ヘッドを前記磁気ヘッドに関して与えられた位
置へ移動させる前記工程が、前記磁気ヘッドを粗く位置
決めするために使用されるステッパーモータと、前記ス
テッパーモータと直結して配列され、前記磁気ヘッドを
精密に位置決めするための圧電変換器とによって実行さ
れる、ところの方法。 - 【請求項3】 請求項2の方法であって、 基準となる位置からの前記キャリッジの前記第1の位置
および前記第2の位置の移動を計測するための前記工程
が、前記第1の位置および前記第2の位置のために行わ
れ、前記第1の位置および前記第2の位置は、前記キャ
リッジの両側に位置し、かつ、前記磁気ヘッドの前記読
書き要素を通る平面内に位置し、前記平面は、前記移動
路線に平行であり、前記第1および第2の位置は、前記
磁気ヘッドの前記読書き要素から等距離にあり、その結
果前記磁気ヘッドの前記移動が前記第1および第2の位
置の前記移動の符号化された相加平均となっている、と
ころの方法。 - 【請求項4】 請求項3の方法であって、 前記磁気ヘッドの誤差直線移動を計算する前記工程が、
複数の線形解読器の出力に基づいて実行される、ところ
の方法。 - 【請求項5】 請求項4の方法であって、 前記線形解読器が、0.01μmよりも劣らない精度の
計測を反復しておこなう、ところの方法。 - 【請求項6】 請求項5の方法であって、 前記計測装置が、前記フィードバック線にコントローラ
増幅器を設ける、ところの方法。 - 【請求項7】 磁気ヘッド位置決め誤差の補償をする磁
気ヘッドおよびディスクテスターであって、 前記テスターが、 固定された位置に磁気ディスクを回転自在に支持するス
ピンドルユニットと、 前記スピンドルユニットの横側にそれぞれ位置される複
数の直線誘導路と、 前記誘導路での移動が可能であり、磁気ヘッドを担持す
るキャリッジと、 移動路線において前記キャリッジを駆動するための駆動
手段と、 前記磁気ディスクに関して前記磁気ヘッドの位置を計測
するための計測装置とから成り、 前記磁気ヘッドが読書き要素を有し、 前記駆動手段が前記磁気ディスクに関して前記磁気ヘッ
ドに移動を伝えることが可能であり、 前記計測装置が、 前記キャリッジの第1の位置に位置される第1の計測部
材と、 前記キャリッジの第2の位置に位置される第2の計測部
材と、 前記第1および第2の計測部材の出力に基づいて前記ヘ
ッドの移動を計算するために配列される計算ユニット
と、 前記計算ユニットから前記駆動手段へのフィードバック
線とから成り、これにより、前記磁気ヘッドの位置決め
誤差が消去され、前記磁気ヘッドが前記磁気ヘッドに関
して正確な位置へ戻され、 前記第1の計測部材は前記第1の位置の移動の計測が可
能であり、前記第2の計測部材は前記第2の位置の移動
の計測が可能であり、前記移動が、非対称な摩擦力のよ
うな不安定性要因による前記誘導路における前記キャリ
ッジの片揺れの影響によってある程度生じる、ところの
テスター。 - 【請求項8】 請求項7のテスターであって、 前記駆動手段が往復運動可能であり、前記磁気ヘッドを
粗く位置決めするための第1の駆動手段と、前記第1の
駆動手段に直結して配列され、前記磁気ヘッドを精密に
位置決めするための第2の駆動手段とから成る、ところ
のテスター。 - 【請求項9】 請求項8のテスターであって、 前記第1の位置が前記キャリッジの第1の横側に位置さ
れ、前記第2の位置が前記第1の横側と反対側の前記キ
ャリッジの第2の横側に位置され、前記第1および第2
の位置は共に、前記磁気ヘッドの読書き要素を通り、前
記移動路線に平行な平面に位置され、前記第1および第
2の位置は、前記読書き要素から等距離にあり、その結
果前記磁気ヘッドの前記移動が前記第1および第2の位
置の前記移動の符号化された相加平均となる、ところの
テスター。 - 【請求項10】 請求項9のテスターであって、 前記計測部材が線形解読器であり、前記第1の駆動手段
がステッパーモータであり、前記第2の駆動手段が圧電
変換器である、ところのテスター。 - 【請求項11】 請求項10のテスターであって、 前記線形解読器が0.01μmよりも劣らない反復精度
を有する、ところのテスター。 - 【請求項12】 請求項11のテスターであって、 前記フィードバックループがコントローラ増幅器を有す
る、ところのテスター。 - 【請求項13】 磁気ヘッド位置決め誤差の補償をする
ための磁気ヘッドおよびディスクテスターであって、 固定された位置において磁気ディスクを回転自在に支持
するスピンドルユニットと、 前記スピンドルユニットの両側に等距離に配列される直
線誘導路と、 前記誘導路での移動が可能であり、磁気ヘッドを担持す
るキャリッジと、 前記磁気ヘッドを粗く位置決めするためのステッパーモ
ータと、 前記ステッパーモータと前記キャリッジとの間のリード
スクリューと、 前記磁気ディスクに関して前記磁気ヘッドの位置を計測
するための計測装置とから成り、 前記磁気ヘッドが読書き要素を有し、 前記キャリッジが第1および第2の横側を有し、 前記圧電変換器が前記リードスクリューと前記キャリッ
ジとの間に位置され、 前記往復移動可能な駆動手段が前記磁気ディスクに関し
て放射方向の前記磁気ヘッドの移動を伝えることが可能
であり、 前記計測装置が、 前記キャリッジの前記第1の横側に位置される第1の線
形解読器と、 前記キャリッジの前記第2の横側に位置される第2の線
形解読器と、 前記第1および第2の線形解読器の出力に基づいて前記
ヘッドの移動を計算する計算ユニットと、 コントローラ増幅器を含み、前記計算ユニットを前記コ
ントローラ増幅器を介して前記駆動手段に接続するフィ
ードバック線とから成り、このことから前記磁気ヘッド
の位置決め誤差を消去し、前記磁気ヘッドを前記磁気デ
ィスクに関して正確な位置へ戻すようになり、 前記第1の線形解読器は前記第1の横側の第1の位置の
第1の直線移動の計測が可能であり、前記第2の線形解
読器は前記第2の横側の第2の位置の第2の直線移動の
計測が可能であり、前記第1および第2の直線移動は前
記放射方向に平行であり、前記第1および第2の移動は
非対称な摩擦力のような不安定性要因による前記誘導路
の前記キャリッジの片揺れの影響によってある程度生じ
る、ところのテスター。 - 【請求項14】 請求項13のテスターであって、 前記第1および第2の位置が、前記磁気ヘッドの前記読
書き要素を通って前記方向に平行な平面に位置され、前
記磁気ヘッドの前記移動が前記第1および第2の位置の
前記第1および第2の直線移動の符号化された相加平均
であり、その結果前記第1および第2の位置が前記磁気
ヘッドの前記読書き要素から等距離である、ところのテ
スター。 - 【請求項15】 請求項14のテスターであって、 前記線形解読器が0.01μmよりも劣らない反復性を
有する、ところのテスター。 - 【請求項16】 請求項15のテスターであって、 前記フィードバックループがコントローラ増幅器を有す
る、ところのテスター。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/036,975 US5382887A (en) | 1993-03-25 | 1993-03-25 | Method and apparatus for compensating positioning error in magnetic-head and magnetic-disk tester |
US036975 | 1993-03-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06301947A JPH06301947A (ja) | 1994-10-28 |
JP2545333B2 true JP2545333B2 (ja) | 1996-10-16 |
Family
ID=21891748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5235916A Expired - Fee Related JP2545333B2 (ja) | 1993-03-25 | 1993-08-30 | 磁気ヘッドおよび磁気ディスクのテスタ―における位置決め誤差を補償するための方法および装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5382887A (ja) |
JP (1) | JP2545333B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5786677A (en) * | 1995-12-20 | 1998-07-28 | Phase Metrics | Stops and a clutch for a loader that test the flying height of a disk drive head gimbal assembly |
US5808435A (en) * | 1996-05-28 | 1998-09-15 | Kmy Instruments | Micropositioning device for disk head testing system |
KR100264796B1 (ko) * | 1996-06-29 | 2000-09-01 | 윤종용 | 헤드맵핑에 의한 드라이브 신뢰성 향상방법 |
KR100403049B1 (ko) * | 1996-06-29 | 2004-04-14 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크드라이브의위치에러신호및타이밍편차보상방법 |
KR100223632B1 (ko) * | 1996-10-30 | 1999-10-15 | 윤종용 | 헤드 디스크 어셈블리 테스트공정의 수율향상을 위한 자동화시스템 및 그 운용방법 |
US6094047A (en) * | 1997-12-02 | 2000-07-25 | Guzik Technical Enterprises | Method and apparatus for balancing rotating components of a spinstand of a magnetic head and disk tester |
US6236201B1 (en) * | 1999-02-01 | 2001-05-22 | Guzik Technical Enterprises | Magnetic head and disk tester with pitch correction |
US6242910B1 (en) | 1999-02-01 | 2001-06-05 | Guzik Technical Enterprises | Magnetic head and disk tester with yaw correction |
US6510752B1 (en) | 1999-02-22 | 2003-01-28 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for testing microactuators on a suspension assembly |
US6538838B1 (en) | 1999-02-22 | 2003-03-25 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for closed-loop spin-stand testing |
US6023145A (en) * | 1999-04-21 | 2000-02-08 | Guzik Technical Enterprises | Head and disk tester with a thermal drift-compensated closed-loop positioning system |
US6483300B1 (en) | 2000-02-08 | 2002-11-19 | Seagate Technology Llc | Spin-stand having a disc heater |
US6590388B2 (en) | 2000-08-04 | 2003-07-08 | Seagate Technology Llc | Non-destructive defective magneto-resistive head detection utilizing a micro-track |
KR100468764B1 (ko) * | 2001-09-13 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 디스크 위의 위치 정보를 제공하는 방법 및 장치 |
JP3756109B2 (ja) * | 2001-11-28 | 2006-03-15 | 富士通メディアデバイス株式会社 | 磁気ヘッド支持機構及び磁気ヘッド位置決め制御機構 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3742470A (en) * | 1971-12-30 | 1973-06-26 | Information Storage Systems | Memory disc pack drive having accurate read/write head positioning |
US4836916A (en) * | 1983-12-23 | 1989-06-06 | Three Phoenix Company | Handling apparatus for magnetic recording disks |
US4702101A (en) * | 1985-08-12 | 1987-10-27 | Proquip, Inc. | Apparatus and method for testing the calibration of a hard disk substrate tester |
JPS63153456A (ja) * | 1986-12-18 | 1988-06-25 | Yokogawa Electric Corp | 光デイスクテストシステム |
US5032932A (en) * | 1988-06-02 | 1991-07-16 | Seiko Seiki Kabushiki Kaisha | Hard disk testing method |
US4902971A (en) * | 1988-09-14 | 1990-02-20 | Guzik Technical Enterprises, Inc. | Magnetic head and disc tester employing pivot arm on linearly movable slide |
-
1993
- 1993-03-25 US US08/036,975 patent/US5382887A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-08-30 JP JP5235916A patent/JP2545333B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5382887A (en) | 1995-01-17 |
JPH06301947A (ja) | 1994-10-28 |
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