JP2537892Y2 - IC test equipment - Google Patents
IC test equipmentInfo
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Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は各種のICを試験するIC試験装置に関する。[Detailed description of the invention] "Industrial application field" This invention relates to an IC test apparatus for testing various ICs.
「従来の技術」 IC試験装置では、被試験ICの一つの端子に複数の回路
が用意され、この複数の回路を一つの端子に接続して試
験が行われる。[Background Art] In an IC test apparatus, a plurality of circuits are prepared for one terminal of an IC under test, and a test is performed by connecting the plurality of circuits to one terminal.
被試験ICの一つの端子を複数の端子に分岐するために
パフォーマンスボードが用いられている。パフォーマン
スボードには被試験ICを装着するICソケットが実装さ
れ、このICソケットの端子が複数の端子に分岐されて複
数の回路が被試験ICの各端子に接続できる構造としてい
る。A performance board is used to branch one terminal of an IC under test into a plurality of terminals. An IC socket for mounting the IC under test is mounted on the performance board, and the terminal of the IC socket is branched into a plurality of terminals so that a plurality of circuits can be connected to each terminal of the IC under test.
第5図に従来のIC試験装置の構造を示す。図中100は
パフォーマンスボード、101はICソケット、200はマザー
ボード、300はピンカード、DUTは被試験ICを示す。FIG. 5 shows the structure of a conventional IC test apparatus. In the figure, 100 indicates a performance board, 101 indicates an IC socket, 200 indicates a motherboard, 300 indicates a pin card, and DUT indicates an IC under test.
ピンカード300はそれぞれ一枚のプリント配線板によ
って構成され、一枚のピンカード300に被試験ICDUTの複
数の端子分の試験用回路が実装される。ピンカード300
を収納した部分をテストヘッドと呼んでいる。Each of the pin cards 300 is constituted by one printed wiring board, and a test circuit for a plurality of terminals of the ICDUT under test is mounted on one pin card 300. Pin card 300
The part containing the is called the test head.
マザーボード200はボード201とシグナルコンタクトハ
ウジング202と、シグナルコンタクトハウジング202に支
持された接触子203と、ボード201の下面に形成した導電
パターンPと接触子203との間を電気的に接続する同軸
ケーブル群204と、ボード201を補強する補強染205とに
よって構成され、パフォーマンスボード100とピンカー
ド300との間に介在し、これらパフォーマンスボード100
とピンカード300との間を電気的に接続するために設け
られている。The motherboard 200 has a board 201, a signal contact housing 202, a contact 203 supported by the signal contact housing 202, and a coaxial cable for electrically connecting the contact 203 with a conductive pattern P formed on the lower surface of the board 201. A group 204 and a reinforcing dye 205 for reinforcing the board 201 are interposed between the performance board 100 and the pin card 300, and these performance boards 100
It is provided for electrical connection between the card and the pin card 300.
パフォーマンスボード100とマザーボード200との間お
よびピンカードとマザーボード200との間は従来はポゴ
ピンと呼ばれる接触子203および301によって接続されて
いる。The connection between the performance board 100 and the motherboard 200 and the connection between the pin card and the motherboard 200 are made by contacts 203 and 301 conventionally called pogo pins.
ポゴピンは第6図に示すように、例えば直径1mm程度
の導電パイプ601内にスプリングと摺動接点602とが挿入
され、摺動接点602がスプリングの偏倚力によって外向
きに弾性偏倚されており、この導電パイプ601がシグナ
ルコンタクトハウジング202およびピンカード300の上端
に、例えば導電パターンに半田付けされて支持され、摺
動接点602がパフォーマンスボード100およびマザーボー
ド200に形成した導電パターンPに圧接され、この圧接
によってマザーボード200を介してパフォーマンスボー
ド100とピンカード300との間が電気的に接続される。As shown in FIG. 6, the pogo pin has a spring and a sliding contact 602 inserted into, for example, a conductive pipe 601 having a diameter of about 1 mm, and the sliding contact 602 is elastically outwardly biased by a biasing force of the spring. The conductive pipe 601 is supported at the upper ends of the signal contact housing 202 and the pin card 300, for example, by soldering to a conductive pattern, and the sliding contact 602 is pressed against the conductive pattern P formed on the performance board 100 and the motherboard 200. The pressure connection electrically connects the performance board 100 and the pin card 300 via the motherboard 200.
「考案が解決しようとする課題」 接触子203および301は各1本ごとの摺動接点602を押
し込む力は50〜100グラム程度であるがピンの数が数千
本に達すると、全体として接触子203および301の各摺動
接点602を押し縮めて接触させる力は数百kgの力とな
る。"Problem to be solved by the invention" The contacts 203 and 301 have a force of about 50 to 100 grams to push each sliding contact 602, but when the number of pins reaches several thousand, the contacts come into contact as a whole. The force for pressing and contracting each of the sliding contacts 602 of the contacts 203 and 301 is a force of several hundred kg.
つまり、パフォーマンスボード100をマザーボード200
に接触させる部分と、マザーボード200をピンカード300
の接触子301に接触させる部分のそれぞれに数百kg程度
の力を掛ける必要がある。In other words, the performance board 100 is replaced with the motherboard 200
Contact the motherboard 200 with the pin card 300
It is necessary to apply a force of about several hundred kg to each of the portions to be brought into contact with the contactor 301.
従って、数百kgの力に耐えるようにパフォーマンスボ
ード100、マザーボード200、ピンカード300に剛性を持
たせなくてはならない。このためにボード201の上面側
に補強梁205を設けたり、またパフォーマンスボード100
の四周に補強枠102を設けているが、これらの補強梁205
と補強枠102を付加することにより全体の重量が大きく
なり、そのために他の部分も補強しなければならないか
ら、全体の重量が大きくなってしまう欠点がある。Therefore, the performance board 100, the motherboard 200, and the pin card 300 must have rigidity to withstand a force of several hundred kg. For this purpose, a reinforcing beam 205 is provided on the upper surface side of the board 201, or the performance board 100
The reinforcement frame 102 is provided around the four
With the addition of the reinforcing frame 102, the overall weight increases, and other parts must also be reinforced. Therefore, there is a disadvantage that the overall weight increases.
また、数百kg程度の力で圧接させなくてはならないか
ら、人力ではとても操作することはできない。このた
め、例えばエアシリンダ等を利用して操作させることが
考えられるが、エアシリンダも大型のものを使用しなけ
ればならないから、これにより益々重量が大きく、形状
も大きくなってしまう欠点がある。Also, since it has to be pressed with a force of about several hundred kg, it can not be operated very manually. For this reason, for example, it is conceivable to operate using an air cylinder or the like. However, a large air cylinder must be used, and this has the disadvantage that the weight and shape are further increased.
この考案の目的は、パフォーマンスボードとマザーボ
ードとの間およびマザーボードとピンカードとの間に大
きな接力を与えることなくこれら間を電気的に接続し、
切り離すことができる構造としたIC試験装置を提供しよ
うとするものである。The purpose of this invention is to electrically connect between the performance board and the motherboard and between the motherboard and the pin card without giving large contact force,
An object of the present invention is to provide an IC test apparatus having a structure that can be separated.
「課題を解決するための手段」 この考案ではパフォーマンスボードとマザーボードお
よびマザーボードとピンカードとの間に挿抜力を必要と
しない、ゼロインサーションフォース型コネクタを設
け、このゼロインサーションフォース型コネクタによっ
てパフォーマンスボード100とマザーボード200との間お
よびマザーボード200とピンカード300との間を電気的に
接続し、また切り離すことができるように構成したもの
である。"Means for solving the problem" In this invention, a zero insertion force type connector that does not require insertion / extraction force between the performance board and the motherboard and between the motherboard and the pin card is provided, and the zero insertion force type connector provides the performance. The configuration is such that the board 100 and the motherboard 200 and the motherboard 200 and the pin card 300 can be electrically connected and disconnected.
この考案によれば、ゼロインサーションフォース型コ
ネクタを用いたからパフォーマンスボード100をマザー
ボード200に接触させる部分およびマザーボード200にピ
ンカード300を接続する部分では全く圧接力を要さずに
接続し、また接続状態を維持させることができる。According to this invention, since the zero insertion force type connector is used, the part where the performance board 100 is brought into contact with the motherboard 200 and the part where the pin card 300 is connected to the motherboard 200 are connected without requiring any pressing force, and the connection is made again. The state can be maintained.
従って、この考案によれば人手だけでもパフォーマン
スボードとマザーボードとの間の接続およびマザーボー
ドとピンカードとの間の接続を行うことができる。また
接続状態において、偏倚力を全く与える必要がないから
パフォーマンスボードおよびマザーボード等を補強する
必要がない。Therefore, according to the present invention, the connection between the performance board and the motherboard and the connection between the motherboard and the pin card can be made by hand alone. In the connected state, there is no need to apply any biasing force, so there is no need to reinforce the performance board and motherboard.
よって、多ピン用IC試験装置を小形化し、軽量化する
ことができる利点が得られる。Therefore, there is an advantage that the multi-pin IC test apparatus can be reduced in size and weight.
「実施例」 第1図にこの考案の一実施例を示す。第1図におい
て、第5図と対応する部分には同一符号を付して示す。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. In FIG. 1, parts corresponding to those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals.
この考案においては、マザーボード200とパフォーマ
ンスボード100との間およびマザーボード200とピンカー
ド300との間をゼロインサーションフォース型コネクタ4
00によって接続する構造としたものである。In this invention, a zero insertion force type connector 4 is provided between the motherboard 200 and the performance board 100 and between the motherboard 200 and the pin card 300.
The structure is such that they are connected by 00.
このため、この例ではマザーボード200にゼロインサ
ーションフォース型コネクタ本体401を設け、パフォー
マンスボード100の下面とピンカード300の上辺に導電ピ
ン402を植設した例を示す。Therefore, in this example, an example is shown in which a zero insertion force type connector main body 401 is provided on the motherboard 200, and conductive pins 402 are planted on the lower surface of the performance board 100 and the upper side of the pin card 300.
第2図および第3図にゼロインサーションフォース型
コネクタ本体401の内部構造の一例を示す。コネクタ本
体401はそれぞれ細長い角筒状の絶縁体によって形成さ
れ、その一つの面に導電ピン402が挿入される孔403が形
成される。2 and 3 show an example of the internal structure of the zero insertion force type connector main body 401. FIG. Each of the connector bodies 401 is formed of an elongated rectangular cylindrical insulator, and a hole 403 into which the conductive pin 402 is inserted is formed on one surface thereof.
孔403の位置に可動接点404と固定接点405とが設けら
れる。可動接点404は自己のバネ力によって、例えば常
時固定接点405から離れる方向に偏倚力を受けている。A movable contact 404 and a fixed contact 405 are provided at the position of the hole 403. The movable contact 404 is biased by its own spring force, for example, in a direction away from the fixed contact 405 at all times.
可動接点404の配列方向に押板406と操作板407とが設
けられる。押板406には例えば縦方向に突条406Aが形成
され、また、操作板407には鋸歯状凹溝407Aが形成さ
れ、この突条406Aと鋸歯状凹溝407Aを係合させ、操作板
407を第2図の例では左方向に移動させることにより、
押板406を可動接点404側に偏倚させ、押板406を介して
可動接点404を固定接点405に向かって変位させる。この
可動接点404が変位することによって可動接点404と固定
接点405との間に導電ピン402が存在すれば導電ピン402
は固定接点405と可動接点404との間に挟まれ接触状態と
なる。A push plate 406 and an operation plate 407 are provided in the direction in which the movable contacts 404 are arranged. The push plate 406 is formed with, for example, a ridge 406A in the vertical direction, and the operation plate 407 is formed with a serrated concave groove 407A, and the ridge 406A and the serrated concave groove 407A are engaged with each other.
By moving 407 to the left in the example of FIG. 2,
The push plate 406 is biased toward the movable contact 404, and the movable contact 404 is displaced toward the fixed contact 405 via the push plate 406. When the movable contact 404 is displaced and the conductive pin 402 exists between the movable contact 404 and the fixed contact 405, the conductive pin 402
Is in a contact state between the fixed contact 405 and the movable contact 404.
第4図にゼロインサーションフォース型コネクタ本体
401の操作板407を可動させる機構の一例を示す。図の一
本のゼロインサーションフォース型コネクタ本体401に
は60〜80ピン分の挿入孔403を有し、一本のコネクタ本
体401に一枚のピンカード300が接続される。Fig. 4 shows the zero insertion force type connector body
6 shows an example of a mechanism for moving an operation plate 407 of 401. One zero insertion force type connector main body 401 in the figure has an insertion hole 403 for 60 to 80 pins, and one pin card 300 is connected to one connector main body 401.
コネクタ本体401はピンカード300の配列ピッチに等し
い配列で配置される。各コネクタ本体401の端部には取
付用の突起408と、操作板407の端部407Bが突出される。The connector bodies 401 are arranged in an arrangement equal to the arrangement pitch of the pin cards 300. At the end of each connector body 401, a mounting projection 408 and an end 407B of the operation plate 407 protrude.
操作板端部407Bに可動板500の板面に突設した突起501
を係合させ、複数のコネクタ本体401の操作板407を可動
板500を介して連結する。A projection 501 protruding from the plate surface of the movable plate 500 at the operation plate end 407B.
And the operation plates 407 of the plurality of connector bodies 401 are connected via the movable plate 500.
可動板500を変位させる機構としては、例えばレバー5
02の回動操作によって偏芯カム503を回動操作し、この
回動操作によって可動板500に突設したピン504が偏芯カ
ム503と係合し、ピン504と偏芯カム503との係合によっ
て可動板500をコネクタ本体401の長手方向に進退できる
ように装着して構成することができる。As a mechanism for displacing the movable plate 500, for example, a lever 5
02, the eccentric cam 503 is rotated. By this rotating operation, the pin 504 protruding from the movable plate 500 is engaged with the eccentric cam 503, and the pin 504 and the eccentric cam 503 are engaged. Depending on the case, the movable plate 500 can be mounted so as to be able to advance and retreat in the longitudinal direction of the connector main body 401.
この構成によれば、レバー502を矢印P方向に移動さ
せることにより、可動板500を矢印Q方向に前進させる
ことができる。可動板500が矢印Q方向に前進すること
により、コネクタ本体401の各操作板407が移動し、可動
接点404を閉じる方向に駆動する。このようにして一本
のレバー502の回動操作によって多数のゼロインサーシ
ョンフォース型コネクタを操作することができる。According to this configuration, the movable plate 500 can be advanced in the direction of the arrow Q by moving the lever 502 in the direction of the arrow P. As the movable plate 500 moves forward in the direction of arrow Q, each operation plate 407 of the connector body 401 moves, and drives the movable contact 404 in a direction to close. In this manner, a large number of zero insertion force type connectors can be operated by rotating the single lever 502.
「考案の効果」 以上説明したように、この考案によればパフォーマン
スボード100とマザーボード200との間およびマザーボー
ド200とピンカード300との間をゼロインサーションフォ
ース型コネクタ400によって接続する構造としたから、
パフォーマンスボード100とマザーボード200との間の接
続および切離しを行う際に無抵抗で挿抜を行うことがで
きる。また接続状態を維持するにも何ら圧接力を与えて
おく必要がないから、パフォーマンスボード100および
マザーボード200を特別に補強する必要がない。As described above, according to the present invention, the performance board 100 and the motherboard 200 and the motherboard 200 and the pin card 300 are connected by the zero insertion force type connector 400. ,
When connecting and disconnecting between the performance board 100 and the motherboard 200, insertion and removal can be performed without resistance. In addition, there is no need to apply any press contact force to maintain the connection state, so that it is not necessary to reinforce the performance board 100 and the motherboard 200.
また、マザーボード200とピンカード300との間も同様
の理由によって無抵抗で挿抜を行うことができ、また接
続状態を維持するにも何ら圧接力を与えておく必要がな
いから、マザーボード200およびピンカード300を特別に
補強する必要もない。よって、補強のための部材が必要
ないから小形化および軽量化を達することができる利点
が得られる。In addition, the motherboard 200 and the pin card 300 can be inserted and removed without resistance for the same reason, and it is not necessary to apply any press-contact force to maintain the connection state. There is no need to specially reinforce the card 300. Therefore, there is an advantage that a reduction in size and weight can be achieved because no member for reinforcement is required.
また、ゼロインサーションフォース型コネクタの構造
を鋸歯状凹溝407Aの傾斜面で押板406の突条406Aを押
し、押板406を介して可動接点404を可動させる構造とし
たから、操作板407を移動させる力はわずかな力で済
む。従って多数のゼロインサーションフォース型コネク
タを一斉に操作する構造を採っても小さな力で操作する
ことができる。この結果、多数のゼロインサーションフ
ォース型コネクタを一斉に操作する可動板500およびレ
バー502等の強度は小さくて済むから、可動板500,レバ
ー502を小形に作ることができる。よって、IC試験装置
の全体の構成も小形に作ることができる利点が得られ
る。Further, since the structure of the zero insertion force type connector is configured such that the ridge 406A of the push plate 406 is pressed by the inclined surface of the serrated concave groove 407A and the movable contact 404 is moved via the push plate 406, the operation plate 407 is provided. The force to move is small. Therefore, even with a structure in which a large number of zero insertion force type connectors are operated simultaneously, the operation can be performed with a small force. As a result, the strength of the movable plate 500, the lever 502, and the like for simultaneously operating a large number of zero insertion force type connectors can be small, so that the movable plate 500 and the lever 502 can be made small. Therefore, there is an advantage that the entire configuration of the IC test apparatus can be made small.
また、可動接点404と固定接点405の間に導電ピン402
を挟み付け、接続状態を維持する状態では、操作板407
を突条406Aに対して鋸歯状凹溝407Aと係合する位置より
外れた平坦面に係合する状態になるまで移動させれば、
操作板407には戻る方向の偏倚力が発生することはな
い。従って、インサーションフォース型コネクタを接続
状態に維持するために何ら力を必要としない。従って、
この点でも可動板500およびレバー502に強度を要求され
ないから、IC試験装置の全体を小形に作ることができる
利点が得られる。A conductive pin 402 is provided between the movable contact 404 and the fixed contact 405.
While the connection state is maintained, the operation plate 407
Is moved to a state in which it is engaged with the flat surface deviated from the position where it engages with the serrated groove 407A with respect to the ridge 406A,
No biasing force in the return direction is generated on the operation plate 407. Therefore, no force is required to maintain the insertion force type connector in the connected state. Therefore,
Also in this respect, strength is not required for the movable plate 500 and the lever 502, so that an advantage that the entire IC test apparatus can be made small can be obtained.
また、一度に複数のインサーションフォース型コネク
タを一斉に操作する構造を採ることにより、一操作でパ
フォーマンスボードおよびマザーボードとピンカードの
間を接続状態に設定することができ、操作性を向上する
ことができる。In addition, by adopting a structure in which multiple insertion force type connectors are operated simultaneously, the connection between the performance board, motherboard and pin card can be set by one operation, improving operability. Can be.
第1図はこの考案の一実施例を示す側面図、第2図はゼ
ロインサーションフォース型コネクタの一例を示す一部
を切欠いた斜視図、第3図はゼロインサーションフォー
ス型コネクタの一例を説明するための断面図、第4図は
ゼロインサーションフォース型コネクタの操作板の駆動
機構の一例を示す平面図、第5図は従来の技術を説明す
るための側面図、第6図は従来用いられている接触子の
構造を説明するための斜視図である。 100:パフォーマンスボード、101:ICソケット、200:マザ
ーボード、300:ピンカード、400:ゼロインサーションフ
ォース型コネクタ。FIG. 1 is a side view showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially cutaway perspective view showing an example of a zero insertion force type connector, and FIG. 3 is an example of a zero insertion force type connector. FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining, FIG. 4 is a plan view showing an example of a driving mechanism of an operation plate of a zero insertion force type connector, FIG. 5 is a side view for explaining a conventional technique, and FIG. It is a perspective view for explaining the structure of the contact used. 100: performance board, 101: IC socket, 200: motherboard, 300: pin card, 400: zero insertion force type connector.
Claims (1)
試験IC用ソケットの各一つの端子から各種の試験回路に
接続するための複数の端子を導出するパフォーマンスボ
ートと、パフォーマンスボートに導出された各端子に接
続する電気回路が実装されたピンカードと、このピンカ
ードと上記パフォーマンスボートとの間に介在し、パフ
ォーマンスボートとピンカードとの間を電気的に接続す
るマザーボードと、 上記マザーボードとパフォーマンスボートとの間および
マザーボードとピンカードとの間をゼロインサーション
フォース型コネクタによって接続および切離しを行う構
造としたIC試験装置において、 上記ゼロインサーションフォース型コネクタは、 B.絶縁体で形成された細長い角筒状のコネクタ本体と、 C.このコネクタ本体の一つの面に上記コネクタ本体の長
手方向に配列して形成され接触すべき相手の導電ピンを
挿入するための複数の孔と、 D.上記コネクタ本体の内部において、上記孔の位置ごと
に上記コネクタ本体の一方の内壁に沿って配置された固
定接点と、 E.この固定接点と対向し、上記コネクタ本体の他方の壁
に沿って配列され、自己のバネ力によって上記固定接点
から離れる方向の偏倚力を持つ可動接点と、 F.この可動接点と上記コネクタ本体の上記他方の壁との
間に介挿され、各可動接点と対向する面の裏側の位置に
上記コネクタ本体の他方の壁に向かって突出した突起を
具備した押板と、 G.この押板と上記他方の壁面との間に介挿され、上記押
板に形成された突起の位置に対向して深い凹部を有し、
この深い凹部から上記コネクタ本体の長手方向の何れか
一方の方向に向かって漸次浅くなる形状の鋸歯状凹溝
と、上記コネクタ本体の長手方向の何れか一方の端部か
ら突出した突出部とを具備した操作板と、 によって構成され、 H.このゼロインサーションフォース型コネクタが構成す
る上記コネクタ本体を上記マザーボードに複数並設し、
この並設した複数のコネクタ本体から突出した上記操作
板の突出端部に連結した可動板と、この可動板を上記操
作板の可動方向に駆動させるレバーとを設け、このレバ
ーを操作することにより複数のゼロインサーションフォ
ース型コネクタの操作板を一斉に操作可能としたことを
特徴とするIC試験装置。1. A performance boat in which a socket for an IC under test is mounted, and a plurality of terminals for connecting to various test circuits are derived from each one terminal of the socket for an IC under test. A pin card on which an electric circuit connected to each derived terminal is mounted, a motherboard interposed between the pin card and the performance boat, and electrically connecting the performance boat and the pin card; In an IC test apparatus configured to connect and disconnect between a motherboard and a performance boat and between a motherboard and a pin card by using a zero insertion force type connector, the zero insertion force type connector is composed of: C. One side of the connector body, formed with an elongated rectangular tubular connector body; D. a plurality of holes arranged in the longitudinal direction of the connector body for inserting mating conductive pins to be brought into contact with each other; D. inside the connector body, one of the connector bodies for each position of the hole E. a fixed contact disposed along the inner wall of the connector; E. facing the fixed contact, arranged along the other wall of the connector body, and having a biasing force in a direction away from the fixed contact by its own spring force. A movable contact, F. interposed between the movable contact and the other wall of the connector body, and protruding toward the other wall of the connector body at a position on the back side of a surface facing each movable contact. A push plate having a projection, G. a deep recess inserted between the push plate and the other wall surface and facing the position of the projection formed on the push plate;
A serrated concave groove having a shape that gradually becomes shallower from this deep recess toward one of the longitudinal directions of the connector main body, and a protruding portion that protrudes from one of the longitudinal ends of the connector main body. H. A plurality of the connector bodies constituted by the zero insertion force type connector are arranged side by side on the motherboard,
A movable plate connected to a protruding end of the operation plate protruding from the plurality of connector bodies arranged in parallel and a lever for driving the movable plate in the movable direction of the operation plate are provided, and by operating this lever An IC test apparatus characterized in that the operation plates of a plurality of zero insertion force type connectors can be operated simultaneously.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1990060799U JP2537892Y2 (en) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | IC test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP1990060799U JP2537892Y2 (en) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | IC test equipment |
Publications (2)
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