JP2524417B2 - Method of measuring partial discharge of high voltage applied insulator - Google Patents
Method of measuring partial discharge of high voltage applied insulatorInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、高電圧印加絶縁体の部分放電測定方法に関
し、特に、S/N比の高い周波数帯域において波形観察に
よる部分放電パルスとノイズの識別を可能にした高電圧
印加絶縁体の部分放電測定方法に関する。The present invention relates to a method for measuring partial discharge of a high-voltage applied insulator, and particularly to a partial discharge pulse and noise by waveform observation in a frequency band having a high S / N ratio. The present invention relates to a method for measuring partial discharge of a high-voltage applied insulator that enables identification.
従来、高電圧印加絶縁体、例えば、電力ケーブル線路
の部分放電を測定するには、多くの場合、第４図に示す
回路を用い、高圧導体41と大地の間に結合コンデンサ42
を接続しておき、電力ケーブル43の接地線44と大地の間
に検出インピーダンス45を挿入してその両端に生じる電
位差を測定装置46で測定する方法であった。この方法
は、更に、下記の三種に大別される。Conventionally, in order to measure the partial discharge of a high voltage applied insulator, for example, a power cable line, the circuit shown in FIG. 4 is often used, and a coupling capacitor 42 is connected between the high voltage conductor 41 and the ground.
Is connected, the detection impedance 45 is inserted between the ground wire 44 of the power cable 43 and the ground, and the potential difference generated at both ends thereof is measured by the measuring device 46. This method is further classified into the following three types.
（１） 低周波測定法（測定周波数10kHzないし1000kH
z） （２） 広帯域測定法（測定周波数kHzないし数MHz） （３） 同調式測定法（測定周波数100kHzないし数MH
z） これらのうち広帯域測定法と低周波測定法は、パルス
波形の観察が可能なため、部分放電パルスとノイズを波
形で識別できる利点がある。同調式測定法は、ノイズの
少ない周波数を選ぶことにより高い測定感度（S/N比）
を得ることができる。(1) Low frequency measurement method (measurement frequency 10kHz to 1000kH
z) (2) Wideband measurement method (measurement frequency kHz to several MHz) (3) Tuning method (measurement frequency 100 kHz to several MH)
z) Of these, the broadband measurement method and the low-frequency measurement method have the advantage that the partial discharge pulse and noise can be distinguished by the waveform because the pulse waveform can be observed. The tuning measurement method has a high measurement sensitivity (S / N ratio) by selecting a frequency with less noise.
Can be obtained.
しかし、電力ケーブル線路現場における部分放電の測
定感度は一般にノイズレベルに支配され、広帯域測定法
および低周波測定法の測定感度はノイズの多い場所では
非常に低い。However, the measurement sensitivity of the partial discharge in the power cable line field is generally governed by the noise level, and the measurement sensitivity of the wide band measurement method and the low frequency measurement method is very low in a noisy place.
一方、同調式測定法では前述のように周波数の選択に
より比較的高いS/N比での測定が可能であるが、同調式
測定法で得られる出力の波形は部分放電パルスの特徴的
波形を含んでいないので、波形観察による部分放電パル
スとノイズの識別はできない。それ故、同調式測定法で
パルスが検出されても、部分放電パルスなのかノイズな
のか確実に判断できないことが往々にしてある。On the other hand, in the tunable measurement method, it is possible to measure at a relatively high S / N ratio by selecting the frequency as described above, but the output waveform obtained by the tuned measurement method is the characteristic waveform of the partial discharge pulse. Since it is not included, the partial discharge pulse and noise cannot be discriminated by waveform observation. Therefore, even if a pulse is detected by the tuning measurement method, it is often impossible to reliably determine whether the pulse is a partial discharge pulse or noise.
従って、本発明の目的は、波形観察による部分放電パ
ルスとノイズの識別が可能で、しかも高い測定感度、即
ち、S/N比が得られる高電圧印加絶縁体の部分放電測定
方法を実現することである。Therefore, an object of the present invention is to realize a partial discharge measuring method for a high-voltage applied insulator, which can distinguish a partial discharge pulse and noise by observing a waveform, and which has a high measurement sensitivity, that is, an S / N ratio. Is.
本発明は、上記目的を達成するため、信号波形に基づ
いて部分放電の測定ができる第１の部分放電測定方法
と、測定される部分放電信号の抽出周波数を所定の周波
数に設定して部分放電の測定ができる第２の部分放電測
定方法とにより高電圧印加絶縁体の部分放電パルスの測
定を行い、少なくとも２つのメモリ領域を有し時間をア
ドレスとするディジタルメモリの第一のメモリ領域に前
記第１の部分放電測定方法による測定で得られる出力信
号を記憶させ、前記ディジタルメモリの第二のメモリ領
域に前記第２の部分放電測定方法による測定で得られる
予め定めたレベルを超える出力信号を記憶させ、前記第
二のメモリ領域に記憶された前記第２の部分放電測定方
法の出力信号の検出タイミングと同じタイミングのアド
レスから、前記第一のメモリ領域に記憶された前記第１
の部分放電測定方法の出力信号を読み出し、前記第一の
メモリ領域から読み出された前記第１の部分放電測定方
法の出力信号の波形を観察して前記高電圧印加絶縁体の
部分放電を測定することを特徴とする高電圧印加絶縁体
の部分放電測定方法を提供するものである。In order to achieve the above object, the present invention provides a first partial discharge measuring method capable of measuring partial discharge based on a signal waveform, and a partial discharge in which an extraction frequency of a measured partial discharge signal is set to a predetermined frequency. And a second partial discharge measuring method capable of measuring the partial discharge pulse of the high-voltage applying insulator, and the first memory area of a digital memory having at least two memory areas and having a time as an address, The output signal obtained by the measurement by the first partial discharge measuring method is stored, and the output signal exceeding the predetermined level obtained by the measurement by the second partial discharge measuring method is stored in the second memory area of the digital memory. The first address is stored from the address of the same timing as the detection timing of the output signal of the second partial discharge measuring method stored in the second memory area. Stored in said memory area first
Measuring the partial discharge of the high voltage applying insulator by observing the waveform of the output signal of the first partial discharge measuring method read out from the first memory area. The present invention provides a method for measuring a partial discharge of a high-voltage applied insulator, which is characterized in that
本発明は下記各要件から成る。 The present invention comprises the following requirements.
（１） 第１の部分放電測定方法による部分放電パルス
の測定 （２） 第２の部分放電測定方法による部分放電パルス
の測定 （３） 第１の部分放電測定方法による出力信号の記憶 （４） 第２の部分放電測定方法で得られる予め定めた
レベルを超える出力信号の記憶 （５） 第２の部分放電測定方法の検出タイミングをタ
イミング信号とし、そのタイミングに相当する第１の部
分放電測定方法の出力信号のメモリからの読み出し （６） メモリから読み出された第１の部分放電測定方
法の出力信号の波形の観察 以下、各要件について詳しく説明する。(1) Measurement of partial discharge pulse by first partial discharge measuring method (2) Measurement of partial discharge pulse by second partial discharge measuring method (3) Storage of output signal by first partial discharge measuring method (4) Storage of output signal exceeding predetermined level obtained by second partial discharge measurement method (5) First partial discharge measurement method corresponding to the timing, using the detection timing of the second partial discharge measurement method as a timing signal (6) Observing the waveform of the output signal of the first partial discharge measuring method read from the memory. Each requirement will be described in detail below.
（１） 第１の部分放電測定方法による部分放電パルス
の測定 従来の部分放電測定方法において常用される回路（結
合コンデンサと検出インピーダンスを利用する回路）か
ら得られる検出信号を第１の部分放電測定方法で処理し
て波形観察を行う。得られた信号を適当なフィルタに通
して所定の周波数成分を取り出してもよく、ノイズを減
少させることができる。また複数のタイミングにおける
入力信号のレベルをチェックし、その結果が部分放電パ
ルスに特有の波形の条件を満足したとき、入力信号を通
過させるゲート回路を用いてもよく、それにより第１の
部分放電測定方法のS/N比を向上させることができる。(1) Measurement of Partial Discharge Pulse by First Partial Discharge Measurement Method First partial discharge measurement using a detection signal obtained from a circuit (a circuit using a coupling capacitor and a detection impedance) commonly used in the conventional partial discharge measurement method. Waveform observation is performed by processing by the method. The obtained signal may be passed through an appropriate filter to extract a predetermined frequency component, and noise can be reduced. A gate circuit may be used that passes the input signal when the levels of the input signal are checked at a plurality of timings and the result satisfies the condition of the waveform peculiar to the partial discharge pulse. The S / N ratio of the measuring method can be improved.
（２） 第２の部分放電測定方法による部分放電パルス
の測定 従来の部分放電測定方法において常用される回路（結
合コンデンサと検出インピーダンスを利用する回路）か
ら得られる検出信号を第２の部分放電測定方法で処理す
る。即ち、検出インピーダンスから得られる信号を、予
め定めた同調周波数を有する同調回路へ入力させる。信
号が同調周波数に一致した周波数成分を有するとき、そ
の成分が同調信号として検出される。(2) Measurement of partial discharge pulse by the second partial discharge measurement method The second partial discharge measurement is performed by using the detection signal obtained from the circuit (the circuit using the coupling capacitor and the detection impedance) commonly used in the conventional partial discharge measurement method. Process. That is, the signal obtained from the detected impedance is input to the tuning circuit having the predetermined tuning frequency. When the signal has a frequency component that matches the tuning frequency, that component is detected as the tuning signal.
（３） 第１の部分放電測定方法による出力信号の記憶 第１の部分放電測定方法による信号検出には従来公知
の方法を用いる。部分放電パルスは微弱なので、広帯域
増幅器で増幅し、増幅器の出力をディジタルメモリの一
つのメモリ領域（メモリ領域M1とする）に記憶させる。
検出された信号の波形を観察して部分放電パルスとノイ
ズを識別する必要があるので、ディジタルメモリのサン
プリング間隔（時間）は、波形の特徴を崩さないで波形
識別を可能にする程度に短かくなければならない。(3) Storage of Output Signal by First Partial Discharge Measuring Method A conventionally known method is used for signal detection by the first partial discharge measuring method. Since the partial discharge pulse is weak, it is amplified by the wide band amplifier and the output of the amplifier is stored in one memory area (referred to as memory area M 1 ) of the digital memory.
Since it is necessary to observe the waveform of the detected signal to distinguish between partial discharge pulses and noise, the sampling interval (time) of the digital memory should be short enough to allow waveform discrimination without destroying the characteristics of the waveform. There must be.
（４） 第２の部分放電測定方法で得られる予め定めた
レベルを超える出力信号の記憶 第２の部分放電測定方法による出力信号のレベルが予
め定めた基準値を超えたときに限り、その信号をディジ
タルメモリの他の一つのメモリ領域（メモリ領域M2とす
る）に記憶させる。そのためには、例えば第２の部分放
電測定方法で得られた出力信号のレベルをレベル検出器
に入力し、予め設定された基準値（閾値）より高いレベ
ルの信号の有無を検出し、レベル検出器の出力をレベル
検出器とメモリの入力との間に介在させたゲート回路の
トリガー入力として用い、トリガー入力があるときのみ
ゲート回路がゲートを開き、第２の部分放電測定方法の
出力信号をディジタルメモリに入力させる。第２の部分
放電測定方法による信号は波形の観測を必要とせず、信
号の確実な検出が重要なので、メモリ領域M2のサンプリ
ング間隔（時間）は、第２の部分放電測定方法で検出さ
れる信号（波形）の最小の持続時間またはそれより若干
短い間隔とするのが適当である（メモリ容量の効率
上）。(4) Storing the output signal obtained by the second partial discharge measurement method that exceeds a predetermined level Only when the level of the output signal obtained by the second partial discharge measurement method exceeds a predetermined reference value, that signal is stored. Are stored in another one memory area of the digital memory (referred to as memory area M 2 ). For that purpose, for example, the level of the output signal obtained by the second partial discharge measurement method is input to a level detector, and the presence or absence of a signal having a level higher than a preset reference value (threshold value) is detected to detect the level. The output of the instrument is used as the trigger input of the gate circuit interposed between the level detector and the input of the memory, the gate circuit opens the gate only when there is a trigger input, and the output signal of the second partial discharge measurement method is output. Input to digital memory. The sampling interval (time) of the memory area M 2 is detected by the second partial discharge measurement method because the signal by the second partial discharge measurement method does not require waveform observation and reliable detection of the signal is important. A minimum duration of the signal (waveform) or an interval slightly shorter than that is suitable (for efficiency of memory capacity).
（５） 第２の部分放電測定方法の検出タイミングをタ
イミング信号とし、そのタイミングに相当する第１の部
分放電測定方法の出力信号のメモリからの読み出し 第二のメモリ領域M2の記憶内容に基づいて、第２の部
分放電測定方法による出力信号が基準値を超えたときの
タイミングおよびその前後の所定の時限における第一の
メモリ領域M1の記憶内容を読み出し、読み出された記憶
内容に基づいて第１の部分放電測定方法の出力信号の波
形を再生する。(5) The detection timing of the second partial discharge measurement method is used as a timing signal, and the output signal of the first partial discharge measurement method corresponding to the timing is read from the memory. Based on the storage content of the second memory area M 2. Then, the storage content of the first memory area M 1 at the timing when the output signal by the second partial discharge measuring method exceeds the reference value and at a predetermined time period before and after that is read, and based on the read storage content. The waveform of the output signal of the first partial discharge measuring method is reproduced.
ディジタルメモリには、さらに他のメモリ領域に、ケ
ーブル課電電圧波形、位相（特に三相交流ケーブル線路
の場合）のも記憶させてもよい。The digital memory may also store the cable voltage waveform and the phase (especially in the case of a three-phase AC cable line) in another memory area.
（６） メモリから読み出された第１の部分放電測定方
法の出力信号の波形の観察 上記のようにしてディジタルメモリのメモリ領域M1か
ら読み出された第１の部分放電測定方法による検出信号
を、CRT、オシロスコープ等に入力して、再生される波
形を観察する。メモリ領域M2からの第２の部分放電測定
方法の出力信号も同時に表示すると、部分放電パルスの
確認をさらに容易にする。他のメモリ領域にケーブル課
電電圧波形、位相等を記憶させた場合は、これらも同時
に表示してもよい。これによりさらに検出パルスの関連
情報が増え、対象ケーブルからの部分放電パルスかどう
かの判断の信頼性を高めることができる。つまり、部分
放電の実質的な検出感度が向上する。(6) Observing the waveform of the output signal of the first partial discharge measuring method read from the memory The detection signal of the first partial discharge measuring method read from the memory area M 1 of the digital memory as described above To the CRT, oscilloscope, etc. and observe the reproduced waveform. When the output signal of the second partial discharge measuring method from the memory area M 2 is also displayed at the same time, the confirmation of the partial discharge pulse is further facilitated. When the voltage waveform of the voltage applied to the cable, the phase, etc. are stored in another memory area, these may be displayed at the same time. As a result, the information related to the detection pulse is further increased, and the reliability of the determination as to whether the pulse is the partial discharge pulse from the target cable can be improved. That is, the substantial detection sensitivity of partial discharge is improved.
本発明によると、ディジタルメモリの２つのメモリ領
域に、第１の部分放電測定方法による出力信号と第２の
部分放電測定方法で得られる予め定めたレベルを超える
出力信号をそれぞれ記憶させ、記憶された第２の部分放
電測定方法の出力信号の検出タイミングをタイミング信
号として、第２の部分放電測定方法の出力信号と同じタ
イミングに相当するアドレスから、第１の部分放電測定
方法の出力信号を読み出し、その波形を観察するように
したので、部分放電パルスの可能性の高いタイミングを
第２の部分放電測定方法の持つ高いS/N比で検出し、第
１の部分放電測定方法の出力信号の波形を観察して部分
放電パルスかノイズかを識別することができる。即ち、
本発明によると、波形観察による部分放電パルスとノイ
ズとの識別を、S/N比の高い第２の部分放電測定方法で
検出されたパルスの検出タイミングに基づいて行うこと
ができる。別の表現をすれば、S/N比の高い測定法であ
る第２の部分放電測定方法の信頼度を、波形観察により
高めることができる。According to the present invention, an output signal obtained by the first partial discharge measuring method and an output signal obtained by the second partial discharge measuring method which exceeds a predetermined level are respectively stored and stored in two memory areas of the digital memory. Using the detection timing of the output signal of the second partial discharge measurement method as a timing signal, the output signal of the first partial discharge measurement method is read from the address corresponding to the same timing as the output signal of the second partial discharge measurement method. Since the waveform is observed, the timing with a high possibility of the partial discharge pulse is detected by the high S / N ratio of the second partial discharge measurement method, and the output signal of the first partial discharge measurement method is detected. The waveform can be observed to distinguish between partial discharge pulses and noise. That is,
According to the present invention, the partial discharge pulse and the noise can be distinguished by observing the waveform based on the detection timing of the pulse detected by the second partial discharge measuring method having a high S / N ratio. In other words, the reliability of the second partial discharge measurement method, which is a measurement method with a high S / N ratio, can be increased by observing the waveform.
以下に、実施例を示し本発明を更に詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples.
〔実施例１〕 本発明による部分放電測定方法に用いた構成を第１図
に示す。第１図で測定対象の電力ケーブル１はコンデン
サCXとして表現されている。電力ケーブル線路の高圧導
体1bと大地の間には結合コンデンサ２が接続され、電力
ケーブル１のシースの接地線1aと大地の間には検出イン
ピーダンス３が挿入されている。検出インピーダンス３
の両端に生じる電位差はプリアンプ４に入力され、プリ
アンプ４の出力は、広帯域測定チャンネルC1の広帯域増
幅器５の入力と、同調式測定チャンネルC2の同調回路８
に接続されている。広帯域増幅器５の出力はA/D変換器
６を経てディジタルメモリ７の入力71に接続されてい
る。同調回路８の出力は増幅器９の入力に接続されてお
り、増幅器９の出力は、レベル検出器10とゲート回路11
の入力に接続されている。レベル検出器10は予め設定さ
れた基準値（閾値）より高いレベルの信号の有無を検出
して出力する。レベル検出器10の出力はゲート回路11の
トリガー入力に接続されている。ゲート回路11の出力は
A/D変換器12を経てディジタルメモリ７の入力72に接続
されている。Example 1 FIG. 1 shows the configuration used in the partial discharge measuring method according to the present invention. In Fig. 1, the power cable 1 to be measured is represented as a capacitor C X. A coupling capacitor 2 is connected between the high voltage conductor 1b of the power cable line and the ground, and a detection impedance 3 is inserted between the ground wire 1a of the sheath of the power cable 1 and the ground. Detection impedance 3
The potential difference generated at both ends of the preamplifier 4 is input to the preamplifier 4, and the output of the preamplifier 4 is input to the wideband amplifier 5 of the wideband measurement channel C 1 and the tuning circuit 8 of the tunable measurement channel C 2.
It is connected to the. The output of the broadband amplifier 5 is connected to the input 71 of the digital memory 7 via the A / D converter 6. The output of the tuning circuit 8 is connected to the input of the amplifier 9, and the output of the amplifier 9 is the level detector 10 and the gate circuit 11
Connected to the input of. The level detector 10 detects and outputs the presence or absence of a signal having a level higher than a preset reference value (threshold value). The output of the level detector 10 is connected to the trigger input of the gate circuit 11. The output of the gate circuit 11 is
It is connected to the input 72 of the digital memory 7 via the A / D converter 12.
ディジタルメモリ７は時間をアドレスとして構成され
ており、メモリ領域M1とメモリ領域M2を有し、入力71は
メモリ領域M1に、入力72はメモリ領域M2に対する各入力
である。メモリ領域M1,M2の出力はCRT駆動回路13に接続
され、CRT駆動回路13の出力がCRT14に接続されている。
メモリ領域M1から読み出された信号はCRT駆動回路13に
入力され、CRT駆動回路13はCRT14を駆動する。メモリ領
域M2からの読み出し出力も、CRT駆動回路13に入力され
る。ここでアドレスカウンタ、メモリ７の入出力を制御
する制御回路等の説明は省略する。The digital memory 7 is configured with time as an address, has a memory area M 1 and a memory area M 2 , and an input 71 is an input to the memory area M 1 and an input 72 is an input to the memory area M 2 . The outputs of the memory areas M 1 and M 2 are connected to the CRT drive circuit 13, and the output of the CRT drive circuit 13 is connected to the CRT 14.
The signal read from the memory area M 1 is input to the CRT drive circuit 13, and the CRT drive circuit 13 drives the CRT 14. The read output from the memory area M 2 is also input to the CRT drive circuit 13. Here, description of the address counter, the control circuit for controlling the input / output of the memory 7, and the like will be omitted.
第１図の構成の動作を以下に説明する。電力ケーブル
１に部分放電が発生すると、部分放電パルスは結合コン
デンサ２と検出インピーダンス３により形成される閉回
路に部分放電電流を生じ、検出インピーダンス３の両端
に生じる電位差はプリアンプ４で増幅され、広帯域測定
チャンネルC1の広帯域増幅器５と、同調式測定チャンネ
ルC2の同調回路８に入力される。広帯域測定チャンネル
C1では、広帯域増幅器５により増幅された部分放電パル
ス信号は、A/D変換器６を経てディジタルメモリ７の入
力71に入力され、メモリ領域M1に記憶される。同調式測
定チャンネルC2では、部分放電パルス信号は同調回路８
に入り、同調回路８の出力は増幅器９で増幅されてレベ
ル検出器10に入力される。レベル検出器10で基準値より
高いレベルの信号が検出されると、レベル検出器10から
の出力がゲート回路11のトリガー入力に供給されるの
で、ゲート回路11はゲートを開き、入力信号、即ち、増
幅器９の出力がA/D変換器12を経てディジタルメモリ７
のメモリ領域M2に記憶される。メモリ領域M1,M2の記憶
内容はアドレス信号により同期を取られながら読み出さ
れて、CRT駆動回路13に供給される。CRT駆動回路13はメ
モリ７から読み出されたデータに基づいてCRT14を駆動
し、第２図で（Ａ），（Ｂ）に示す波形を表示する。第
２図で（Ａ）は広帯域測定法により検出された信号波
形、（Ｂ）は同調法により検出された信号の波形を示
す。時刻t1とt3とで同調法による、閾値以上のレベルの
信号が検出されているが、時刻t2とt4では検出されてい
ない。CRTによる時刻t1とt3の波形観察の結果、時刻t1
における信号は部分放電パルスのもの、時刻t3における
信号はノイズであると判断される。The operation of the configuration shown in FIG. 1 will be described below. When a partial discharge occurs in the power cable 1, the partial discharge pulse causes a partial discharge current in a closed circuit formed by the coupling capacitor 2 and the detection impedance 3, and the potential difference generated across the detection impedance 3 is amplified by the preamplifier 4 and wideband. It is input to the wide band amplifier 5 of the measurement channel C 1 and the tuning circuit 8 of the tunable measurement channel C 2 . Wideband measurement channel
At C 1 , the partial discharge pulse signal amplified by the broadband amplifier 5 is input to the input 71 of the digital memory 7 via the A / D converter 6 and stored in the memory area M 1 . In the tuned measurement channel C 2 , the partial discharge pulse signal is fed to the tuned circuit 8
Then, the output of the tuning circuit 8 is amplified by the amplifier 9 and input to the level detector 10. When the level detector 10 detects a signal of a level higher than the reference value, the output from the level detector 10 is supplied to the trigger input of the gate circuit 11, so that the gate circuit 11 opens the gate and the input signal, that is, , The output of the amplifier 9 passes through the A / D converter 12 and the digital memory 7
Stored in the memory area M 2 . The storage contents of the memory areas M 1 and M 2 are read out in synchronization with the address signal and supplied to the CRT drive circuit 13. The CRT drive circuit 13 drives the CRT 14 based on the data read from the memory 7, and displays the waveforms shown in (A) and (B) in FIG. In FIG. 2, (A) shows a signal waveform detected by the wide band measurement method, and (B) shows a signal waveform detected by the tuning method. A signal of a level equal to or higher than the threshold value is detected by the tuning method at the times t 1 and t 3 , but it is not detected at the times t 2 and t 4 . As a result of waveform observation at time t 1 and t 3 by CRT, time t 1
It is determined that the signal at is that of the partial discharge pulse, and the signal at time t 3 is noise.
〔実施例２〕 本発明による部分放電測定方法に用いた他の構成を第
３図に示す。第３図で電力ケーブル、結合コンデンサ
２、接地線1a、高圧導体1b、検出インピーダンス３、プ
リアンプ４、広帯域測定チャンネルC1、同調式測定チャ
ンネルC2、広帯域増幅器５、同調回路８、増幅器９は、
第１図と同様であり、説明を省略する。広帯域増幅器５
の出力はゲート回路11の入力に、ゲート回路11の出力は
CRT駆動回路13に接続され、その出力はCRT14に供給され
る。増幅器９の出力はレベル検出器10に接続されてい
る。レベル検出器10は、予め設定された基準値（閾値）
より高いレベルの信号の有無を検出して出力する。レベ
ル検出器10の出力はゲート回路11のトリガー入力に接続
されている。ゲート回路11はトリガー入力があるときの
みゲートを開き、入力信号、即ち、広帯域増幅器５から
の信号を通過させる。Example 2 Another configuration used in the partial discharge measuring method according to the present invention is shown in FIG. In FIG. 3, the power cable, coupling capacitor 2, ground wire 1a, high-voltage conductor 1b, detection impedance 3, preamplifier 4, wideband measurement channel C 1 , tunable measurement channel C 2 , wideband amplifier 5, tuning circuit 8, and amplifier 9 are ,
Since it is the same as in FIG. 1, the description is omitted. Wideband amplifier 5
The output of is to the input of the gate circuit 11, and the output of the gate circuit 11 is
It is connected to the CRT drive circuit 13 and its output is supplied to the CRT 14. The output of the amplifier 9 is connected to the level detector 10. The level detector 10 has a preset reference value (threshold value).
The presence or absence of a higher level signal is detected and output. The output of the level detector 10 is connected to the trigger input of the gate circuit 11. The gate circuit 11 opens the gate only when there is a trigger input, and passes the input signal, that is, the signal from the wide band amplifier 5.
第３図の構成の動作を以下に説明する。電力ケーブル
１に部分放電が発生すると、第１図の構成と同様、部分
放電パルスは結合コンデンサ２と検出インピーダンス３
により形成される閉回路に部分放電電流を生じ、検出イ
ンピーダンス３の両端に生じる電位差がプリアンプ４で
増幅され、広帯域増幅器５と同調回路８に入力される。
同調式測定チャンネルC2の増幅器９から、レベル検出器
10に予め設定された基準値より高いレベルの信号の出力
があると、レベル検出器10から出力がゲート回路11のト
リガー入力に供給されるので、ゲート回路11はゲートを
開き、入力信号、即ち、広帯域増幅器５からの信号がゲ
ート回路11を通過し、CRT駆動回路13に供給され、CRT14
でその波形が再生される。即ち、同調式測定チャンネル
C2からの信号が予め設定された基準値を超えるレベルを
有するときのみ、広帯域測定チャンネルC1からの信号の
波形が観察される。従って、この波形観察に基づいて、
検出されたパルスが部分放電パルスであるかノイズであ
るか識別することができる。The operation of the configuration shown in FIG. 3 will be described below. When a partial discharge occurs in the power cable 1, a partial discharge pulse is generated by the coupling capacitor 2 and the detection impedance 3 as in the configuration of FIG.
A partial discharge current is generated in the closed circuit formed by, and the potential difference across the detection impedance 3 is amplified by the preamplifier 4 and input to the wideband amplifier 5 and the tuning circuit 8.
Level detector from amplifier 9 of tuned measurement channel C 2
When there is an output of a signal having a level higher than a preset reference value in 10, the output from the level detector 10 is supplied to the trigger input of the gate circuit 11, so that the gate circuit 11 opens the gate and the input signal, that is, , The signal from the wide band amplifier 5 passes through the gate circuit 11 and is supplied to the CRT drive circuit 13, where the CRT14
Will play the waveform. That is, tuned measurement channel
The waveform of the signal from the wideband measurement channel C 1 is observed only when the signal from C 2 has a level above a preset reference value. Therefore, based on this waveform observation,
It is possible to identify whether the detected pulse is a partial discharge pulse or noise.
本発明によると、同調式測定法のS/N比の高い周波数
が選定できる方法で有意のパルスが検出されたときに、
部分放電パルスとノイズとの識別を波形観察によって行
うようにしたので、信頼度をさらに高めることができ
る。即ち、S/N比の高い周波数帯域において波形観察に
よる部分放電パルスのノイズの識別を可能にした高電圧
印加絶縁体の部分放電測定方法が提供される。According to the present invention, when a significant pulse is detected by a method in which a high S / N ratio of the tuning measurement method can be selected,
Since the partial discharge pulse and the noise are discriminated by the waveform observation, the reliability can be further enhanced. That is, there is provided a method for measuring partial discharge of a high-voltage applied insulator, which makes it possible to identify noise of a partial discharge pulse by observing a waveform in a frequency band having a high S / N ratio.
第１図は本発明による部分放電測定方法の一実施例に用
いた構成を示す説明図、第２図は実施例の構成中で検出
される信号波形の例を示す説明図、第３図は本発明によ
る部分放電測定方法の他の実施例に用いた構成を示す説
明図、第４図は従来の部分放電測定方法を示す説明図で
ある。 符号の説明 １……電力ケーブル 1a……接地線 1b……高圧導体 ２……結合コンデンサ ３……検出インピーダンス ４……プリアンプ ５……広帯域増幅器 ６……A/D変換器 ７……ディジタルメモリ ８……同調回路 ９……増幅器 10……レベル検出器 11……ゲート回路 12……A/D変換器 13……CRT駆動回路 14……CRT 41……高圧導体 42……結合コンデンサ 43……電力ケーブル 44……接地線 45……検出インピーダンス 46……測定装置 71,72……ディジタルメモリ入力FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration used in an embodiment of the partial discharge measuring method according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a signal waveform detected in the configuration of the embodiment, and FIG. FIG. 4 is an explanatory view showing a structure used in another embodiment of the partial discharge measuring method according to the present invention, and FIG. 4 is an explanatory view showing a conventional partial discharge measuring method. Explanation of code 1 …… Power cable 1a …… Grounding wire 1b …… High voltage conductor 2 …… Coupling capacitor 3 …… Detecting impedance 4 …… Preamplifier 5 …… Broadband amplifier 6 …… A / D converter 7 …… Digital memory 8 …… Tuning circuit 9 …… Amplifier 10 …… Level detector 11 …… Gate circuit 12 …… A / D converter 13 …… CRT drive circuit 14 …… CRT 41 …… High voltage conductor 42 …… Coupling capacitor 43… … Power cable 44 …… Grounding wire 45 …… Detection impedance 46 …… Measuring device 71,72 …… Digital memory input
フロントページの続き (72)発明者 遠藤 桓 茨城県日立市日高町５丁目１番１号 日 立電線株式会社電線研究所内 (72)発明者 萩谷 幹夫 茨城県日立市日高町５丁目１番１号 日 立電線株式会社電線研究所内 (72)発明者 今井 友章 茨城県日立市日高町５丁目１番１号 日 立電線株式会社電線研究所内 (56)参考文献 「高電圧試験ハンドブック」ＰＰ. 392〜429 電気学会昭和58年３月30日発 行Front Page Continuation (72) Inventor Akira Endo 5-1-1 Hidaka-cho, Hitachi City, Ibaraki Pref., Electric Wire Research Institute, Hitsuden Cable (72) Inventor Mikio Hagiya 5-1-1 Hidaka-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture No. 1 in the Electric Wire Research Laboratory, Nitate Electric Cable Co., Ltd. (72) Inventor, Tomoaki Imai 5-1-1, Hidaka-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture, inside the Electric Wire Research Laboratories, Hitate Electric Cable Co., Ltd. (56) References "High Voltage Testing Handbook" PP. 392-429 The Institute of Electrical Engineers of Japan Issued March 30, 1983
Claims (1)
る第１の部分放電測定方法と、測定される部分放電信号
の抽出周波数を所定の周波数に設定して部分放電の測定
ができる第２の部分放電測定方法とにより高電圧印加絶
縁体の部分放電パルスの測定を行い、 少なくとも２つのメモリ領域を有し時間をアドレスとす
るディジタルメモリの第一のメモリ領域に前記第１の部
分放電測定方法による測定で得られる出力信号を記憶さ
せ、 前記ディジタルメモリの第二のメモリ領域に前記第２の
部分放電測定方法による測定で得られる予め定めたレベ
ルを超える出力信号を記憶させ、 前記第二のメモリ領域に記憶された前記第２の部分放電
測定方法の出力信号の検出タイミングと同じタイミング
のアドレスから、前記第一のメモリ領域に記憶された前
記第１の部分放電測定方法の出力信号を読み出し、 前記第一のメモリ領域から読み出された前記第１の部分
放電測定方法の出力信号の波形を観察して前記高電圧印
加絶縁体の部分放電を測定することを特徴とする高電圧
印加絶縁体の部分放電測定方法。1. A first partial discharge measuring method capable of measuring partial discharge based on a signal waveform, and a second partial discharge measuring method by setting an extraction frequency of a measured partial discharge signal to a predetermined frequency. Measuring the partial discharge pulse of the high-voltage applied insulator, and measuring the first partial discharge in a first memory area of a digital memory having at least two memory areas and addressing time. Storing an output signal obtained by measurement by a method, storing an output signal exceeding a predetermined level obtained by measurement by the second partial discharge measurement method in a second memory area of the digital memory, Stored in the first memory area from the address of the same timing as the detection timing of the output signal of the second partial discharge measuring method stored in the second memory area. The output signal of the first partial discharge measuring method is read, and the waveform of the output signal of the first partial discharge measuring method read from the first memory area is observed to observe the high voltage application insulator part. A method for measuring partial discharge of a high-voltage applied insulator, characterized by measuring discharge.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2042175A JP2524417B2 (en) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | Method of measuring partial discharge of high voltage applied insulator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2042175A JP2524417B2 (en) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | Method of measuring partial discharge of high voltage applied insulator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03245070A JPH03245070A (en) | 1991-10-31 |
| JP2524417B2 true JP2524417B2 (en) | 1996-08-14 |
Family
ID=12628646
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2042175A Expired - Lifetime JP2524417B2 (en) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | Method of measuring partial discharge of high voltage applied insulator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2524417B2 (en) |
-
1990
- 1990-02-22 JP JP2042175A patent/JP2524417B2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 「高電圧試験ハンドブック」ＰＰ．３９２〜４２９電気学会昭和５８年３月３０日発行 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03245070A (en) | 1991-10-31 |
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