JP2517580Y2 - レーザ回折／散乱式粒度分布測定用乾燥粉体検出アダプタ - Google Patents
レーザ回折／散乱式粒度分布測定用乾燥粉体検出アダプタInfo
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- JP2517580Y2 JP2517580Y2 JP1991002529U JP252991U JP2517580Y2 JP 2517580 Y2 JP2517580 Y2 JP 2517580Y2 JP 1991002529 U JP1991002529 U JP 1991002529U JP 252991 U JP252991 U JP 252991U JP 2517580 Y2 JP2517580 Y2 JP 2517580Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】 本考案は、レーザ回折／散乱式
の粒度分布測定装置を用いて、被測定粉体の粒度分布を
乾燥状態で測定するときに使用されるアダプタに関す
る。
の粒度分布測定装置を用いて、被測定粉体の粒度分布を
乾燥状態で測定するときに使用されるアダプタに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】 一般に、レーザ回折／散乱式の粒度分
布測定方法では、被測定粉体を媒体中に分散させ、その
分散状態の粉体にレーザ光を照射することによって得ら
れる粉体粒子による回折／散乱光の強度分布を測定し、
その測定結果からフラウンホーファ回折理論ないしはミ
ー散乱理論に基づく演算によってその粉体の粒度分布を
求める。
布測定方法では、被測定粉体を媒体中に分散させ、その
分散状態の粉体にレーザ光を照射することによって得ら
れる粉体粒子による回折／散乱光の強度分布を測定し、
その測定結果からフラウンホーファ回折理論ないしはミ
ー散乱理論に基づく演算によってその粉体の粒度分布を
求める。
【０００３】このようなレーザ回折／散乱式の粒度分布
測定において、例えば薬品や食品分野等においてよく見
られるように、液体に溶解するような粉体に対しては、
乾燥状態での測定が要求される。この場合、媒体として
液体を使用できないことから、通常は媒体として空気を
用い、つまり被測定粉体をエジェクタ等によってエアロ
ゾルの状態にしてレーザ光を照射し、回折／散乱光の強
度分布を測定する。
測定において、例えば薬品や食品分野等においてよく見
られるように、液体に溶解するような粉体に対しては、
乾燥状態での測定が要求される。この場合、媒体として
液体を使用できないことから、通常は媒体として空気を
用い、つまり被測定粉体をエジェクタ等によってエアロ
ゾルの状態にしてレーザ光を照射し、回折／散乱光の強
度分布を測定する。
【０００４】従来、このような乾燥粉体の粒度分布を測
定するために、以下に示すような手法が採用されてい
る。第１の手法は、図４に示すように、エジェクタの先
端噴出口４１を開放して被測定粉体のエアロゾルＡを吹
き出すとともに、少し離れたところに集塵装置の吸引口
４２を設置してそのエアロゾルＡを吸引する。そして、
レーザ回折／散乱光の測定は、エジェクタの噴出口４１
と集塵装置の吸引口４２との間で行う。
定するために、以下に示すような手法が採用されてい
る。第１の手法は、図４に示すように、エジェクタの先
端噴出口４１を開放して被測定粉体のエアロゾルＡを吹
き出すとともに、少し離れたところに集塵装置の吸引口
４２を設置してそのエアロゾルＡを吸引する。そして、
レーザ回折／散乱光の測定は、エジェクタの噴出口４１
と集塵装置の吸引口４２との間で行う。
【０００５】また、第２の手法は、図５に示すように、
エジェクタ噴出口と集塵装置吸引口の間をダクト５１で
連結し、そのダクト５１内部にエアロゾルＡを流すとと
もに、ダクト５１の途中に孔５１ａ，５１ｂを穿ってこ
れらを介してエアロゾルＡにレーザ光を照射し、かつ、
回折／散乱光を取り出す。更に第３の手法では、図６に
示すように、エジェクタ噴出口６１と集塵装置吸引口６
２の間を、小径ダクト６３と大径ダクト６４を接合した
アダプタ６０によって連結し、大径ダクト６４にレーザ
光照射用の孔６４ａと回折／散乱光取り出し用の孔６４
ｂを設ける。
エジェクタ噴出口と集塵装置吸引口の間をダクト５１で
連結し、そのダクト５１内部にエアロゾルＡを流すとと
もに、ダクト５１の途中に孔５１ａ，５１ｂを穿ってこ
れらを介してエアロゾルＡにレーザ光を照射し、かつ、
回折／散乱光を取り出す。更に第３の手法では、図６に
示すように、エジェクタ噴出口６１と集塵装置吸引口６
２の間を、小径ダクト６３と大径ダクト６４を接合した
アダプタ６０によって連結し、大径ダクト６４にレーザ
光照射用の孔６４ａと回折／散乱光取り出し用の孔６４
ｂを設ける。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】 以上のような従来の
手法のうち、いわば開放型である第１の手法では、レー
ザ光がカバー等によって遮蔽されていないので、直接人
の目の中にレーザ光が入ることもあって危険である。ま
た、気流から外れた飛散粒子が光学系やその他の部分に
付着し、測定誤差や汚染の原因となるという問題があ
る。
手法のうち、いわば開放型である第１の手法では、レー
ザ光がカバー等によって遮蔽されていないので、直接人
の目の中にレーザ光が入ることもあって危険である。ま
た、気流から外れた飛散粒子が光学系やその他の部分に
付着し、測定誤差や汚染の原因となるという問題があ
る。
【０００７】また、直管を使用する第２の手法では、粒
子の輸送を確実にするためには管径を小さくしなければ
ならず、その結果として当然のことながら回折／散乱光
の取り出し用の孔５１ｂの径も小さくなってしまい、回
折／散乱角の大きい光は取り出すことができない。この
ことは微小粒子の測定が不可能であるという欠点とな
る。
子の輸送を確実にするためには管径を小さくしなければ
ならず、その結果として当然のことながら回折／散乱光
の取り出し用の孔５１ｂの径も小さくなってしまい、回
折／散乱角の大きい光は取り出すことができない。この
ことは微小粒子の測定が不可能であるという欠点とな
る。
【０００８】更に第３の手法では、小径と大径のダクト
６３と６４の接合部で気流が滞留してそこに粒子の付着
が生じてメンテナンスが面倒であるとともに、レーザ光
照射用孔６４ａや取り出し孔６４ｂの径を第２の手法に
比して大きくできる反面、気流から外れた飛散粒子がそ
れらの孔から外部に放出され、光学系への付着による測
定誤差や汚染の原因ともなる。
６３と６４の接合部で気流が滞留してそこに粒子の付着
が生じてメンテナンスが面倒であるとともに、レーザ光
照射用孔６４ａや取り出し孔６４ｂの径を第２の手法に
比して大きくできる反面、気流から外れた飛散粒子がそ
れらの孔から外部に放出され、光学系への付着による測
定誤差や汚染の原因ともなる。
【０００９】本考案はこのような従来の手法における問
題点を一挙に解決し、安全で、汚染や測定誤差が少な
く、しかもメンテナンスのが容易な乾燥粉体検出用アダ
プタの提供を目的としている。
題点を一挙に解決し、安全で、汚染や測定誤差が少な
く、しかもメンテナンスのが容易な乾燥粉体検出用アダ
プタの提供を目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】 上記の目的を達成する
ための構成を、実施例に対応する図１および図２を参照
しつつ説明すると、本考案のアダプタは、被測定粉体を
媒質とするエアロゾル噴出機構Ｅの噴出口に連続して装
着され、エアロゾルＡの入口１ａを有する小径管１と、
その小径管１と同軸上に配設され、エアロゾル出口２ａ
を有する大径管２と、小径管１および大径管２を接続す
るテーパ管３と、そのテーパ管３上に設けられた測定用
レーザ光導入管４および少なくとも一つの回折／散乱光
取り出し管５を備えたことによって特徴付けられる。
ための構成を、実施例に対応する図１および図２を参照
しつつ説明すると、本考案のアダプタは、被測定粉体を
媒質とするエアロゾル噴出機構Ｅの噴出口に連続して装
着され、エアロゾルＡの入口１ａを有する小径管１と、
その小径管１と同軸上に配設され、エアロゾル出口２ａ
を有する大径管２と、小径管１および大径管２を接続す
るテーパ管３と、そのテーパ管３上に設けられた測定用
レーザ光導入管４および少なくとも一つの回折／散乱光
取り出し管５を備えたことによって特徴付けられる。
【００１１】
【作用】 小径管１と大径管２の間をテーパ管３で接続
することにより、この接続部分での気流の滞留を防止で
き、粒子沈着を無くすることができる。しかも、測定用
レーザ光導入管４および回折／散乱光取り出し管５をこ
のテーパ管３上に設けることによって、これらの管４お
よび５は大径管２のエアロゾル出口２ａ側、つまりエア
ロゾルＡの吸引側に向かって開口することになり、その
結果、エジェクタ側から噴出されてくる粒子は抵抗（圧
力損失）が大きいためこれらの管４および５内に入る恐
れがなく、光学系に達して汚染させることがない。ま
た、レーザ光通路は管４および５で覆われており、レー
ザ光が外部に漏れることがなく安全性の点でも改善され
る。
することにより、この接続部分での気流の滞留を防止で
き、粒子沈着を無くすることができる。しかも、測定用
レーザ光導入管４および回折／散乱光取り出し管５をこ
のテーパ管３上に設けることによって、これらの管４お
よび５は大径管２のエアロゾル出口２ａ側、つまりエア
ロゾルＡの吸引側に向かって開口することになり、その
結果、エジェクタ側から噴出されてくる粒子は抵抗（圧
力損失）が大きいためこれらの管４および５内に入る恐
れがなく、光学系に達して汚染させることがない。ま
た、レーザ光通路は管４および５で覆われており、レー
ザ光が外部に漏れることがなく安全性の点でも改善され
る。
【００１２】
【実施例】 図１は本考案実施例の外観図で、図２はそ
の矢印ａの方向に直交し、かつレーザ光の光軸（測定光
学系の光軸）Ｌに沿う平面で切断して示す断面図であ
る。本考案のアダプタは、小径管１の一端とこれと同軸
上の大径管２の一端とをテーパ管３によって接続した構
造を持ち、小径管１の他端は開口してエジェクタＥの噴
出口に接続されるエアロゾル入口１ａを、また、大径管
２の他端は集塵装置（図示せず）の吸引口に接続される
エアロゾル出口２ａを形成している。
の矢印ａの方向に直交し、かつレーザ光の光軸（測定光
学系の光軸）Ｌに沿う平面で切断して示す断面図であ
る。本考案のアダプタは、小径管１の一端とこれと同軸
上の大径管２の一端とをテーパ管３によって接続した構
造を持ち、小径管１の他端は開口してエジェクタＥの噴
出口に接続されるエアロゾル入口１ａを、また、大径管
２の他端は集塵装置（図示せず）の吸引口に接続される
エアロゾル出口２ａを形成している。
【００１３】テーパ管３には、小径管１および大径管２
の中心軸に直交する向きに測定用レーザ光導入管４と、
その導入管４に対向する回折／散乱光取り出し管５が固
着されているとともに、また、この導入管４と取り出し
管５に対して直交する方向に側方散乱光取り出し管６
が、更に取り出し管６よりも導入管４側に延びる後方散
乱光取り出し管７が固着されている。
の中心軸に直交する向きに測定用レーザ光導入管４と、
その導入管４に対向する回折／散乱光取り出し管５が固
着されているとともに、また、この導入管４と取り出し
管５に対して直交する方向に側方散乱光取り出し管６
が、更に取り出し管６よりも導入管４側に延びる後方散
乱光取り出し管７が固着されている。
【００１４】これらの各管の基端はそれぞれテーパ管３
に向かって開口しているとともに、先端は外部に向かっ
て開口している。このうち、回折／散乱光取り出し管５
は、先端開口部に向かって径が次第に拡大する内径形状
を有しており、この拡径角度は、ここから取り出そうと
する最大角度の回折／散乱光がその壁面に当たらないよ
うに充分な角度にされている。
に向かって開口しているとともに、先端は外部に向かっ
て開口している。このうち、回折／散乱光取り出し管５
は、先端開口部に向かって径が次第に拡大する内径形状
を有しており、この拡径角度は、ここから取り出そうと
する最大角度の回折／散乱光がその壁面に当たらないよ
うに充分な角度にされている。
【００１５】以上の本考案実施例を使用するとき、図１
に示すように小径管１のエアロゾル入口１ａにエジェク
タＥの噴出口を挿入する。また、大径管２のエアロゾル
出口２ａには集塵装置の吸引口を接続する。更に、測定
用レーザ光導入管４の先端開口部は粒度分布測定装置の
測定用レーザ光の出射部を配置し、回折／散乱光取り出
し管５の先端開口部は同じく粒度分布測定装置のリング
デテクタ等の光強度分布測定部を配置する。
に示すように小径管１のエアロゾル入口１ａにエジェク
タＥの噴出口を挿入する。また、大径管２のエアロゾル
出口２ａには集塵装置の吸引口を接続する。更に、測定
用レーザ光導入管４の先端開口部は粒度分布測定装置の
測定用レーザ光の出射部を配置し、回折／散乱光取り出
し管５の先端開口部は同じく粒度分布測定装置のリング
デテクタ等の光強度分布測定部を配置する。
【００１６】すなわち、アダプタ（小径管１および大径
管２）の中心軸を粒度分布測定装置の測定光学系の光軸
Ｌに直交させるようにアダプタを配置するわけである。
また、必要に応じて側方散乱光取り出し管６および後方
散乱光取り出し管７の先端開口部には、それぞれ側方散
乱光センサおよび後方散乱光センサを配設する。なお、
小径管１のエアロゾル入口１ａに接続すべきエジェクタ
Ｅの噴出口の外径寸法は、図２に示すようにエアロゾル
入口１ａの内径寸法よりも小さくし、両者の間に隙間Ｇ
が生じるようにすることが望ましい。
管２）の中心軸を粒度分布測定装置の測定光学系の光軸
Ｌに直交させるようにアダプタを配置するわけである。
また、必要に応じて側方散乱光取り出し管６および後方
散乱光取り出し管７の先端開口部には、それぞれ側方散
乱光センサおよび後方散乱光センサを配設する。なお、
小径管１のエアロゾル入口１ａに接続すべきエジェクタ
Ｅの噴出口の外径寸法は、図２に示すようにエアロゾル
入口１ａの内径寸法よりも小さくし、両者の間に隙間Ｇ
が生じるようにすることが望ましい。
【００１７】以上のようなセッティングにより、エジェ
クタＥから被測定粉体のエアロゾルＡを噴出すると、そ
のエアロゾルＡはエアロゾル入口１ａから小径管１内に
流入するが、図２のようにエジェクタＥの噴出口外径と
エアロゾル入口１ａの内径との間に隙間Ｇが形成されて
いる場合には、この隙間Ｇから矢印ｂで示すような気流
が流入し、一種のシースフローが形成され、粒子の管内
面への付着を防止できる。
クタＥから被測定粉体のエアロゾルＡを噴出すると、そ
のエアロゾルＡはエアロゾル入口１ａから小径管１内に
流入するが、図２のようにエジェクタＥの噴出口外径と
エアロゾル入口１ａの内径との間に隙間Ｇが形成されて
いる場合には、この隙間Ｇから矢印ｂで示すような気流
が流入し、一種のシースフローが形成され、粒子の管内
面への付着を防止できる。
【００１８】さて、小径管１内に噴出されたエアロゾル
Ａは、集塵装置の吸引作用もあいまって図２に矢印ｃで
示すように大径管２のエアロゾル出口２ａに向かって流
れていく。そして、このエアロゾルＡにはテーパ管３内
部で測定用レーザ光が照射され、このレーザ光はエアロ
ゾルＡ内の被測定粒子により径に応じた回折／散乱を受
け、回折／散乱光取り出し管５、側方散乱光取り出し管
６および後方散乱光取り出し管７を介して各光センサに
導かれる。
Ａは、集塵装置の吸引作用もあいまって図２に矢印ｃで
示すように大径管２のエアロゾル出口２ａに向かって流
れていく。そして、このエアロゾルＡにはテーパ管３内
部で測定用レーザ光が照射され、このレーザ光はエアロ
ゾルＡ内の被測定粒子により径に応じた回折／散乱を受
け、回折／散乱光取り出し管５、側方散乱光取り出し管
６および後方散乱光取り出し管７を介して各光センサに
導かれる。
【００１９】このようなエアロゾルＡの流れにおいて、
テーパ管３に設けられた測定用レーザ光導入管４、回折
／散乱光取り出し管５、側方散乱光取り出し管６および
後方散乱光取り出し管７は、テーパ管３に対する開口部
が大径管２側に向いているので、つまりエアロゾルＡの
流れの向きとは逆向きに傾いているので、図２に矢印ｄ
で示すような気流は、抵抗（圧力損失）が大きくなるた
め発生せず、エアロゾルＡ内の粒子がこれらの管内に入
ることがない。
テーパ管３に設けられた測定用レーザ光導入管４、回折
／散乱光取り出し管５、側方散乱光取り出し管６および
後方散乱光取り出し管７は、テーパ管３に対する開口部
が大径管２側に向いているので、つまりエアロゾルＡの
流れの向きとは逆向きに傾いているので、図２に矢印ｄ
で示すような気流は、抵抗（圧力損失）が大きくなるた
め発生せず、エアロゾルＡ内の粒子がこれらの管内に入
ることがない。
【００２０】また、小径管１と大径管２は段部をもって
接続されているのではなく、テーパ管３によって滑らか
に接続されているため、この接続部分で気流の滞留が生
じることがなく、従ってこの部分に粒子が付着すること
が極めて少なくなる。更に、この実施例のように回折／
散乱光取り出し管５を先端へ向かう程径を拡大した形状
とすることにより、この取り出し管５のテーパ管３に対
する開口面積にも拘らずより大角度の回折／散乱光の測
定が可能となる。
接続されているのではなく、テーパ管３によって滑らか
に接続されているため、この接続部分で気流の滞留が生
じることがなく、従ってこの部分に粒子が付着すること
が極めて少なくなる。更に、この実施例のように回折／
散乱光取り出し管５を先端へ向かう程径を拡大した形状
とすることにより、この取り出し管５のテーパ管３に対
する開口面積にも拘らずより大角度の回折／散乱光の測
定が可能となる。
【００２１】なお、測定用レーザ光導入管４の先端開口
部は、図３に示すように粒度分布測定装置のレーザ光出
口３１に対して充分に接近させ、粒度分布測定装置の本
来の光学系に対して光が漏れないように連結することが
望ましい。
部は、図３に示すように粒度分布測定装置のレーザ光出
口３１に対して充分に接近させ、粒度分布測定装置の本
来の光学系に対して光が漏れないように連結することが
望ましい。
【００２２】
【考案の効果】 以上説明したように、本考案によれ
ば、エジェクタ噴出口に接続される小径管と、集塵装置
吸引口に接続される大径管とを、テーパ管で相互に接続
したので、このアダプタ内を流れるエアロゾルはテーパ
管に沿って滑らかに大径管へと導かれ、従来の段部を有
する接続に比して気流の滞留が生じず、この部分に粒子
が付着する不具合が解消される。また、このテーパ管に
測定用レーザ光導入管および回折／散乱光取り出し管を
設けることにより、その開口部がエアロゾル吸引側に向
くことになり、アダプタ内の気流がこれらの開口部に向
かうことがなく、粒子がこれらの開口部を介して外部に
飛散する恐れがなくなり、光学系の汚染ならびにそのた
めの測定誤差の発生が解消され、測定の信頼性が向上す
ると同時に、上記の点と併せてメンテナンスが容易とな
るとともに故障の頻度も減少する。
ば、エジェクタ噴出口に接続される小径管と、集塵装置
吸引口に接続される大径管とを、テーパ管で相互に接続
したので、このアダプタ内を流れるエアロゾルはテーパ
管に沿って滑らかに大径管へと導かれ、従来の段部を有
する接続に比して気流の滞留が生じず、この部分に粒子
が付着する不具合が解消される。また、このテーパ管に
測定用レーザ光導入管および回折／散乱光取り出し管を
設けることにより、その開口部がエアロゾル吸引側に向
くことになり、アダプタ内の気流がこれらの開口部に向
かうことがなく、粒子がこれらの開口部を介して外部に
飛散する恐れがなくなり、光学系の汚染ならびにそのた
めの測定誤差の発生が解消され、測定の信頼性が向上す
ると同時に、上記の点と併せてメンテナンスが容易とな
るとともに故障の頻度も減少する。
【００２３】更に、測定用レーザ光ならびに回折／散乱
光は、それぞれ導入管および取り出し管内を導かれるの
で、レーザ光が外部に漏れる心配がなく、装置の安全性
が向上する。
光は、それぞれ導入管および取り出し管内を導かれるの
で、レーザ光が外部に漏れる心配がなく、装置の安全性
が向上する。
【図１】 本考案実施例の外観図
【図２】 図１の矢印ａに直交する方向で、かつ、レー
ザ光軸Ｌに沿う平面で切断した本考案実施例の断面図
ザ光軸Ｌに沿う平面で切断した本考案実施例の断面図
【図３】 その測定用レーザ光導入管４の先端開口部と
粒度分布測定装置のレーザ光出射口との接続関係の例を
示す説明図
粒度分布測定装置のレーザ光出射口との接続関係の例を
示す説明図
【図４】 乾燥粉体の粒度分布を測定するための第１の
従来手法の説明図
従来手法の説明図
【図５】 同じく第２の従来手法の説明図
【図６】 同じく第３の従来手法の説明図
１・・・・小径管 １ａ・・・・エアロゾル入口 ２・・・・大径管 ２ａ・・・・エアロゾル出口 ３・・・・テーパ管 ４・・・・測定用レーザ光導入管 ５・・・・回折／散乱光取り出し管 ６・・・・側方散乱光取り出し管 ７・・・・後方散乱光取り出し管 Ａ・・・・エアロゾル Ｅ・・・・エジェクタ
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザ回折／散乱式粒度分布測定装置を
用いて粉体の粒度分布を乾燥状態で測定するために、被
測定粉体を媒質とするエアロゾル噴出機構の噴出口に連
設されるアダプタであって、上記噴出口に連続して装着
され、エアロゾルの入口を有する小径管と、その小径管
と同軸上に配設され、エアロゾル出口を有する大径管
と、上記小径管および大径管を接続するテーパ管と、そ
のテーパ管上に設けられた測定用レーザ光導入管および
少なくとも一つの回折／散乱光取り出し管を備えたこと
を特徴とするレーザ回折／散乱式粒度分布測定用乾燥粉
体検出アダプタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991002529U JP2517580Y2 (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | レーザ回折／散乱式粒度分布測定用乾燥粉体検出アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991002529U JP2517580Y2 (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | レーザ回折／散乱式粒度分布測定用乾燥粉体検出アダプタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0499059U JPH0499059U (ja) | 1992-08-27 |
| JP2517580Y2 true JP2517580Y2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=31730722
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991002529U Expired - Lifetime JP2517580Y2 (ja) | 1991-01-30 | 1991-01-30 | レーザ回折／散乱式粒度分布測定用乾燥粉体検出アダプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2517580Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2642872B2 (ja) * | 1994-06-29 | 1997-08-20 | 工業技術院長 | 粒子物性測定装置 |
| JP5967525B2 (ja) * | 2012-06-13 | 2016-08-10 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 粉塵検出装置 |
| JP5837107B2 (ja) * | 2014-01-17 | 2015-12-24 | シャープ株式会社 | 粒子測定器 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60243571A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | Nippon Furnace Kogyo Kaisha Ltd | 流れ観察段面と直交する方向の速度測定方法 |
| JPS6114542A (ja) * | 1984-06-30 | 1986-01-22 | Toshiba Corp | 粒径測定装置 |
| JPH01314531A (ja) * | 1988-06-15 | 1989-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気掃除機の塵検知装置 |
-
1991
- 1991-01-30 JP JP1991002529U patent/JP2517580Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0499059U (ja) | 1992-08-27 |
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