JP2024089054A - Light quantity measuring device, projection device, light quantity measuring method, and control program - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 75
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 90
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 73
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 38
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 96
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 47
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 49
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 8
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 102220110177 rs142129056 Human genes 0.000 description 1
- 102220065847 rs794726907 Human genes 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
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- Video Image Reproduction Devices For Color Tv Systems (AREA)
- Projection Apparatus (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
Abstract
【課題】複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定可能な光量測定装置を提供すること。【解決手段】光量測定装置では、駆動回路が、動作モードが映像投影モードの場合、複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給し、動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行し、所定期間の処理では、第１期間において、複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して第１電流値の電流を供給し、且つ、第２期間において、複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給し、演算処理回路が、各所定期間の第１期間における光センサによる検出結果に基づき、複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する。【選択図】図２[Problem] To provide a light quantity measuring device capable of accurately measuring the light quantity of each of a plurality of semiconductor lasers while they are turned on. [Solution] In the light quantity measuring device, a drive circuit supplies a current of a first current value to each of a plurality of semiconductor lasers when the operating mode is an image projection mode, and periodically executes a process for a predetermined period consisting of a first period and a second period when the operating mode is a light quantity measuring mode, and in the process for the predetermined period, in the first period, the plurality of semiconductor lasers are selected in order for each group of one or more semiconductor lasers, the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group is stopped, and a current of the first current value is supplied to the remaining semiconductor lasers that have not been selected, and in the second period, a current of a second current value higher than the first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers, and an arithmetic processing circuit calculates the light quantity of each group of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor in the first period of each predetermined period. [Selected Figure] Figure 2
Description
本開示は、光量測定装置、投射装置、光量測定方法、及び、制御プログラムに関し、光源である波長の異なる複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定するのに適した光量測定装置、投射装置、光量測定方法、及び、制御プログラムに関する。 The present disclosure relates to a light quantity measuring device, a projection device, a light quantity measuring method, and a control program, and more particularly to a light quantity measuring device, a projection device, a light quantity measuring method, and a control program suitable for accurately measuring the light quantity of each of a plurality of semiconductor lasers with different wavelengths that serve as light sources while they are turned on.
光源からの光を、映像データに基づき反射型光変調素子により反射させて変調し、変調された光を反射型の偏光板により選択的に反射させて被投射媒体に画像を投射する投射装置が知られている。このような投射装置において、光源から射出される光の光路などに光センサを配置して光源の光量を検出し、検出した光量に基づき光源をフィードバック制御することで、光源の光量を安定させることができる。 Projection devices are known that modulate light from a light source by reflecting it with a reflective light modulation element based on video data, and then selectively reflect the modulated light with a reflective polarizing plate to project an image onto a projection medium. In such projection devices, a light sensor is disposed in the optical path of the light emitted from the light source to detect the amount of light from the light source, and feedback control of the light source based on the detected amount of light can be performed to stabilize the amount of light from the light source.
特許文献１には、光源から射出された光を、照射された光を映像データに基づき変調して反射させる反射型の光変調素子に照射させ、当該光変調素子に反射された光を投射する投射装置の光源からの光の光量を検出する検出装置が開示されている。この検出装置は、光源と光変調素子との間に設けられた光センサと、光変調素子から光源に向けて戻る戻り光の、当該光変調素子に照射される光に対する比率を映像データに基づき算出する比率算出部と、光センサの検出出力と、比率算出部で算出された前記比率と、を用いて光源から射出された光の光量を算出する光量算出部と、を備える。それにより、この検出装置は、光源からの光の光量を高精度に検出している。
特許文献１に開示された検出装置は、光源である波長の異なる複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を測定したい場合、例えば、光源である波長の異なる複数の半導体レーザを１つずつ順番に選択して点灯させることによって、当該複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を測定することができる。しかしながら、この検出装置では、測定対象の点灯中の半導体レーザの光量を測定している期間中、測定対象外の消灯中の半導体レーザの温度が、映像投影時（通常動作時）の温度よりも低くなってしまうため、複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定することができない、という課題があった。
The detection device disclosed in
本開示は以上の点に鑑みなされたもので、光源である波長の異なる複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定するのに適した光量測定装置、投射装置、光量測定方法、及び、制御プログラムを提供することを目的とする。 The present disclosure has been made in consideration of the above points, and aims to provide a light quantity measuring device, a projection device, a light quantity measuring method, and a control program suitable for accurately measuring the light quantity of each of a plurality of semiconductor lasers with different wavelengths that serve as light sources while they are turned on.
本開示の一態様にかかる光量測定装置は、光源に含まれる複数の半導体レーザのそれぞれを個別に駆動する駆動回路と、前記光源から射出された光を検出する光センサと、前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの光量を少なくとも算出する演算処理回路と、を備え、前記駆動回路は、動作モードが映像投影モードの場合、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給し、動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行し、前記所定期間の処理では、前記第１期間において、前記複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して前記第１電流値の電流を供給し、且つ、前記第２期間において、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して前記第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給し、前記演算処理回路は、各前記所定期間の前記第１期間における前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する。 The light quantity measuring device according to one aspect of the present disclosure includes a drive circuit that individually drives each of a plurality of semiconductor lasers included in a light source, an optical sensor that detects light emitted from the light source, and an arithmetic processing circuit that calculates at least the light quantity of each of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor. When the operation mode is an image projection mode, the drive circuit supplies a current of a first current value to each of the plurality of semiconductor lasers, and when the operation mode is a light quantity measuring mode, the drive circuit periodically executes a process for a predetermined period consisting of a first period and a second period. In the process for the predetermined period, in the first period, the plurality of semiconductor lasers are selected in order for each group of one or more semiconductor lasers, the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group is stopped, and the current of the first current value is supplied to the remaining semiconductor lasers that have not been selected, and in the second period, a current of a second current value higher than the first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers. The arithmetic processing circuit calculates the light quantity of each group of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor in the first period of each of the predetermined periods.
本開示の一態様にかかる光量測定方法は、光源に含まれる複数の半導体レーザのそれぞれを個別に駆動する駆動回路と、前記光源から射出された光を検出する光センサと、前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの光量を少なくとも算出する演算処理回路と、を備えた光量測定装置による光量測定方法であって、動作モードが映像投影モードの場合、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給し、動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行し、前記所定期間の処理では、前記第１期間において、前記複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して前記第１電流値の電流を供給し、且つ、前記第２期間において、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して前記第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給し、各前記所定期間の前記第１期間における前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する。 A light quantity measurement method according to one aspect of the present disclosure is a light quantity measurement method using a light quantity measurement device including a drive circuit that individually drives each of a plurality of semiconductor lasers included in a light source, an optical sensor that detects light emitted from the light source, and an arithmetic processing circuit that calculates at least the light quantity of each of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor, and when the operation mode is an image projection mode, a current of a first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers, and when the operation mode is a light quantity measurement mode, a process for a predetermined period consisting of a first period and a second period is periodically executed, and in the process for the predetermined period, in the first period, the plurality of semiconductor lasers are selected in order for each group of one or more semiconductor lasers, the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group is stopped, and the current of the first current value is supplied to the remaining semiconductor lasers that have not been selected, and in the second period, a current of a second current value higher than the first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers, and the light quantity of each group of the plurality of semiconductor lasers is calculated based on the detection result by the optical sensor in the first period of each of the predetermined periods.
本開示の一態様にかかる制御プログラムは、光源に含まれる複数の半導体レーザのそれぞれを個別に駆動する駆動回路と、前記光源から射出された光を検出する光センサと、前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの光量を少なくとも算出する演算処理回路と、を備えた光量測定装置における光量測定処理をコンピュータに実行させる制御プログラムであって、動作モードが映像投影モードの場合、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給する処理と、動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行する処理と、前記所定期間の処理では、前記第１期間において、前記複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して前記第１電流値の電流を供給し、且つ、前記第２期間において、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して前記第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給する処理と、各前記所定期間の前記第１期間における前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する処理と、をコンピュータに実行させる。 A control program according to one aspect of the present disclosure is a control program that causes a computer to execute a light quantity measurement process in a light quantity measurement device that includes a drive circuit that individually drives each of a plurality of semiconductor lasers included in a light source, an optical sensor that detects light emitted from the light source, and an arithmetic processing circuit that calculates at least the light quantity of each of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor, and that, when the operation mode is an image projection mode, supplies a current of a first current value to each of the plurality of semiconductor lasers, and, when the operation mode is a light quantity measurement mode, periodically executes a process for a predetermined period constituted by a first period and a second period. The computer is caused to execute a process periodically for the predetermined period, and in the process for the predetermined period, the computer executes a process for selecting the plurality of semiconductor lasers in groups of one or more semiconductor lasers in turn during the first period, stopping the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group, and supplying a current of the first current value to the remaining semiconductor lasers that have not been selected, and a process for supplying a current of a second current value higher than the first current value to each of the plurality of semiconductor lasers during the second period, and a process for calculating the light amount of each group of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor during the first period of each of the predetermined periods.
本開示によれば、光源である波長の異なる複数の半導体レーザのそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定するのに適した光量測定装置、投射装置、光量測定方法、及び、制御プログラムを提供することができる。 The present disclosure provides a light quantity measuring device, a projection device, a light quantity measuring method, and a control program suitable for accurately measuring the light quantity of each of a plurality of semiconductor lasers with different wavelengths that serve as light sources while they are turned on.
＜実施の形態１＞
図１は、実施の形態１にかかる投射装置１における光学系の構成例を示す図である。なお、以下において、適宜、青色の光をＢ光、緑色の光をＧ光、赤色の光をＲ光、黄色の光をＹ光、白色の光をＷ光、と記述する。
<First embodiment>
1 is a diagram showing an example of the configuration of an optical system in a
図１に示されるように、投射装置１は、例えばプロジェクタであって、光学系の構成として、光源部２と、照明光学部３と、を含む。光源部２は、複数のレーザダイオード（半導体レーザ）を含み青色として視認される所定の波長帯の光（Ｂ光）を射出する光源５００と、光源５００から射出されたＢ光に励起されて黄色光（Ｙ光）を発光する蛍光体が塗布された蛍光体ホイール６００と、を含み、Ｂ光およびＹ光を射出する。なお、光源部２から射出される光は、実際には、Ｂ光とＹ光とが合成された白色光（Ｗ光）である。光源部２の構成については、後述する。
As shown in FIG. 1, the
光源部２から射出されたＢ光およびＹ光は、照明光学部３に入射され、ミラー１１０で反射され方向を変更される。なお、光源部２および照明光学部３のレイアウトによっては、このミラー１１０は省略することができる。
The B and Y lights emitted from the light source unit 2 enter the illumination
ミラー１１０から射出されたＹ光およびＢ光は、フライアイレンズ１１１，１１２及び偏光変換素子１１３を介してレンズ１１４に入射される。フライアイレンズ１１１，１１２は、Ｙ光およびＢ光に基づく各光を後述する各光変調素子１１９，１２５，１２８に照射する際に、各光が各光変調素子１１９，１２５，１２８に均一に照射されるように分散させる均一照明光学系を構成する。
The Y light and B light emitted from the
偏光変換素子１１３は、偏光ビームスプリッタ及びλ／２板を組み合わせて構成され、通常光を偏光光に変換したり、偏光光の偏光を揃えたりものである。この例では、偏光変換素子１１３は、入射された光をＳ偏光の偏光光に変換するものとする。また、図１の例では、偏光変換素子１１３の側面に近接させて、光を検出する光センサ１０が設けられる。光センサ１０は、可視光の波長領域の全域にわたって感度を有する白色受光センサである。図１の光センサ１０は、偏光変換素子１１３に入射されたＢ光およびＹ光が偏光変換素子１１３から漏れた光を検出し、検出した光の光量（及び色度）に応じた検出結果を出力する。
The
Ｓ偏光の偏光光に変換されたＹ光およびＢ光は、偏光変換素子１１３から射出され、レンズ１１４を介してＢ光とＹ光とを分離する光分離器１１５に入射される。光分離器１１５は、例えばＢ光の波長帯域の光を反射しＹ光の波長帯域の光を透過させる第１のダイクロイックミラーと、Ｙ光の波長帯域の光を反射しＢ光の波長帯域の光を透過させる第２のダイクロイックミラーとを含む。光分離器１１５で分離されたＢ光は、光分離器１１５から射出されてミラー１１６に入射される。また、光分離器１１５で分離されたＹ光は、光分離器１１５から射出されてミラー１２１に入射される。
The Y light and B light converted into S-polarized polarized light are emitted from the
ミラー１１６に入射されたＢ光は、レンズ１１７を介して反射型偏光板１１８に入射される。反射型偏光板１１８は、Ｓ偏光およびＰ偏光のうち一方の偏光を透過し、他方の偏光を反射する。ここでは、レンズ１１７から射出されたＢ光がＳ偏光であり、後述するＲＧＢ各色の映像データのうちＢ色の映像データに基づいて駆動される反射型光変調素子１１９において白レベル（最大階調）で反射された光がＰ偏光であって、反射型偏光板１１８がＳ偏光を透過し、Ｐ偏光を反射する特性を有するものとする。
The B light incident on the
反射型偏光板１１８を透過したＢ光は、反射型光変調素子１１９に入射される。反射型光変調素子１１９は、Ｂ色の映像データに従い駆動され、入射された光を画素毎に変調および反射して射出する。反射型光変調素子１１９としては、例えばＬＣＯＳ（Ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｏｎ ｓｉｌｉｃｏｎ）などの反射型液晶素子を適用することができる。これは、後述する他の反射型光変調素子１２５，１２８でも同様である。
The B light transmitted through the reflective polarizing
反射型光変調素子１１９でＢ色の映像データに応じて画素毎に変調されたＢ光は、反射型偏光板１１８で反射されて方向を変更されて射出され、光合成プリズム１２０に第１の面から入射される。
The B light modulated for each pixel by the reflective
光分離器１１５で分離されミラー１２１に入射されたＹ光は、ミラー１２１で反射され方向を変更されてミラー１２１から射出される。ミラー１２１から射出されたＹ光は、色成分分離器１２２に入射され、Ｙ光から緑色光成分と赤色光成分とが分離される。例えば、色成分分離器１２２は、緑色光の波長帯域の光を反射し、赤色光の波長帯域の光を透過させるダイクロイックミラーを用いて構成される。
The Y light separated by the
色成分分離器１２２でＹ光から分離された緑色成分の光（緑色光。以下、Ｇ光）は、レンズ１２３を介して反射型偏光板１２４に入射される。上述のＢ光と同様に、Ｇ光がＳ偏光であるものとし、Ｇ光は、反射型偏光板１２４を透過して、Ｇ色の映像データに従い駆動される反射型光変調素子１２５に入射される。反射型光変調素子１２５は、入射されたＧ光をＧ色の映像データに応じて画素毎に変調および反射して射出する。反射型光変調素子１２５から射出されたＧ光は、反射型偏光板１２４で反射されて光合成プリズム１２０に第２の面から入射される。
The green component light (green light, hereafter referred to as G light) separated from the Y light by the
色成分分離器１２２でＹ光から分離された赤色成分の光（赤色光。以下、Ｒ光）は、レンズ１２６を介して反射型偏光板１２７に入射される。上述のＢ光と同様に、Ｒ光がＳ偏光であるものとし、Ｒ光は、反射型偏光板１２７を透過して、Ｒ色の映像データに従い駆動される反射型光変調素子１２８に入射される。反射型光変調素子１２８は、入射されたＲ光をＲ色の映像データに応じて画素毎に変調および反射して射出する。反射型光変調素子１２８から射出されたＲ光は、反射型偏光板１２７で反射されて光合成プリズム１２０に第３の面から入射される。
The red component light (red light, hereafter referred to as R light) separated from the Y light by the
光合成プリズム１２０は、それぞれ第１の面、第２の面および第３の面から入射されたＢ光、Ｇ光およびＲ光を合成して、ひとまとまりの光束として第４の面から射出する。光合成プリズム１２０から射出されたＲ光、Ｇ光およびＢ光を含む光束は、投射光学系（投射光学部）１２９を介して外部に射出される。
The
図２は、実施の形態１にかかる投射装置１の構成例を、信号処理系を中心に示すブロック図である。なお、図２に示される光学系の構成において、光源１１は、図１の光源５００に対応し、図２においては、図１の光源部２の他の構成は省略されている。また、図２において、反射型光変調素子１３は、図１におけるＢ光が照射される反射型光変調素子１１９に対応し、反射型偏光板１２は、図１における反射型偏光板１１８に対応するものとする。また、図２における投射光学系１４は、図１における投射光学系１２９に対応する。
Figure 2 is a block diagram showing an example of the configuration of the
図２において、例えば複数のレーザダイオード（半導体レーザ）を含む光源１１から射出された光２０が、反射型偏光板１２の第１面から入射される。ここで、図１の反射型偏光板１１８において説明した通り、反射型偏光板１２は、Ｓ偏光の光を透過し、Ｐ偏光の光を反射する。光２０をＳ偏光としたとき、光２０は、反射型偏光板１２を透過して反射型光変調素子１３に照射される。反射型光変調素子１３は、後述する表示素子駆動部３１により映像データに従い駆動され、映像データに応じて入射された光２０を変調して反射し光２１として射出する。
In FIG. 2, light 20 emitted from a
このとき、光２１は、ＲＧＢ各色の映像データに基づいて駆動される反射型光変調素子１３による映像データに応じた変調により、映像データが白レベル（最大階調）の場合には、Ｐ偏光で射出される。また、映像データが黒レベル（最小階調）の場合には、光２１はＳ偏光で射出される。さらに、映像データが白レベルと黒レベルの中間のグレーレベルの階調の場合には、光２１は、Ｐ偏光およびＳ偏光の各成分が階調に応じて混合されて射出される。
At this time, the light 21 is modulated according to the video data by the reflective
光２１は、反射型偏光板１２の第２面に入射され、反射型光変調素子１３の変調に応じてＰ偏光の成分が光２２として投射光学系１４に入射され、スクリーンなどの被投射媒体１５に投射される。光２１のＳ偏光の成分は、反射型偏光板１２を透過して、光２３として光源１１に向けて戻る。この反射型偏光板１２を透過して光源１１に向けて戻る光２３を、以下では、「戻り光」と呼ぶ。戻り光は、上述したように、映像データの階調が白レベル以外で発生する。
上述した図１の例では、例えば反射型光変調素子１１９で反射された光のうちＳ偏光の成分の光が、戻り光として、反射型偏光板１１８を透過してレンズ１１７に入射され、以下、入射の際の光路を逆に辿ってミラー１１６、光分離器１１５、レンズ１１４、偏光変換素子１１３、フライアイレンズ１１２，１１１を介してミラー１１０に入射され、ミラー１１０で反射されて光源部２に向けて射出される。この戻り光の光路中の偏光変換素子１１３において、戻り光の漏れ光が、光源部２からの光の漏れ光と共に、光センサ１０に検出される。
In the example of FIG. 1 described above, for example, the S-polarized light component of the light reflected by the reflective
図２において、投射装置１は、信号処理系の構成として、映像処理部３０と、表示素子駆動部３１と、光源光量算出ブロック（演算処理回路）３２と、光源駆動制御部（調整回路）３３と、光源駆動部（駆動回路）３４と、光量記憶部（記憶回路）３５とを含む。これらのうち、例えば映像処理部３０、光源光量算出ブロック３２および光源駆動制御部３３は、投射装置１が搭載するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）上でプログラムが動作することにより構成してもよいし、一部または全部を、互いに協働して動作するハードウェア回路により構成してもよい。
2, the
映像処理部３０は、例えば投射装置１の外部の機器から投射装置１に入力された入力映像データが供給される。入力映像データは、例えば、Ｒ、ＧおよびＢの各色の画素のデータを含み、所定のフレームレートにてフレーム単位で入力される。映像処理部３０は、供給された入力映像データに対して、ガンマ値γを用いたガンマ補正処理など所定の映像処理を施して出力する。映像処理部３０から出力された映像データは、表示素子駆動部３１および光源光量算出ブロック３２に供給される。
The
表示素子駆動部３１は、映像処理部３０から供給された映像データに基づき、反射型光変調素子１３を駆動するための駆動信号を生成する。この駆動信号は、反射型光変調素子１３に供給される。反射型光変調素子１３は、表示素子駆動部３１から供給された駆動信号に従い画素毎に駆動される。
The
光源光量算出ブロック３２は、映像処理部３０から映像データが供給されると共に、光を検出する光センサ１０の検出結果が供給される。光センサ１０の検出結果は、光センサ１０が検出した光の光量（及び色度）に応じた信号である。ここで、光センサ１０は、光源１１から射出された光２０と、反射型光変調素子１３で反射され反射型偏光板１２を透過した光２３とを検出する。光センサ１０の検出結果は、これら光２０の光量と、光２３の光量とを合計した光量に応じた信号となる。
The light source light
光源光量算出ブロック３２は、映像処理部３０から供給される映像データに基づき戻り光の光量を示す値を算出し、算出した戻り光光量を示す値と、光センサ１０の検出結果とを用いて、光源１１からの光２０の光量Ｌｏを求める。そして、光源光量算出ブロック３２は、光量Ｌｏを光源駆動制御部３３に供給する。
The light source light
光源駆動制御部３３は、光源１１の光量を制御するための駆動制御信号を生成し、生成した駆動制御信号を光源駆動部３４に供給する。光源駆動部３４は、この駆動制御信号に従い光源１１を駆動し、光２０を駆動制御信号に応じた光量で射出させる。
The light source drive control unit 33 generates a drive control signal for controlling the amount of light from the
ここで、光源駆動制御部３３に対して、光量記憶部３５が接続される。光量記憶部３５は、例えば投射装置１に内蔵される不揮発性のメモリであって、光源１１の基準となる光量を示す基準値Ｌｒｅｆを予め記憶する。光量記憶部３５への値の記憶は、例えば、投射装置１の工場出荷時やシステム設定時に行う。
Here, a light
光源駆動制御部３３は、光源光量算出ブロック３２から供給される光量Ｌｏと、光量記憶部３５に記憶される光量の基準値Ｌｒｅｆとを比較し、光源１１の光量が基準値Ｌｒｅｆに従った光量と等しくなるように、駆動制御信号を生成する。このように、光センサ１０の検出結果と、光量記憶部３５に記憶される基準値Ｌｒｅｆとに基づき、光源１１の光量がフィードバック制御される。
The light source drive control unit 33 compares the light quantity Lo supplied from the light source light
ところで、光源１１に含まれる複数のレーザダイオードのそれぞれの点灯時の光量は、経時劣化によって低下するが、それらの低下量は発光波長や個体ばらつきによって異なる。そのため、投射装置１には、光センサ１０を用いて光源１１に含まれる複数のレーザダイオードのそれぞれの点灯時の光量を個別に測定し、当該複数のレーザダイオードのそれぞれの点灯時の光量を個別にフィードバック制御することが求められている。
The amount of light emitted by each of the multiple laser diodes included in the
そこで、投射装置１は、光源１１に含まれる複数のレーザダイオードを１つずつ順番に選択して点灯させることによって、当該複数のレーザダイオードのそれぞれの点灯時の光量を個別に測定している。さらに、投射装置１は、測定対象である点灯中のレーザダイオードの光量を測定している期間中に、測定対象外の消灯中のレーザダイオードの温度が映像投影時（通常動作時）の温度よりも低くなり過ぎるのを防ぐため、測定期間外において、各レーザダイオードに対して映像投影時よりも高い電流値の電流を一時的に供給している。それにより、投射装置１は、映像投影時に近い（理想的には映像投影時と同じ）温度条件で、複数のレーザダイオードのそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定することができる。以下、具体的に説明する。
The
まず、図３を用いて、実施の形態１に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を説明する。図３は、実施の形態１に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を示すタイミングチャートである。本実施の形態では、光源１１が、例えば４３５ｎｍ，４４５ｎｍ，４５５ｎｍ等の波長の異なる青色の光を発光するレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を有する場合を例に説明する。ここで、光源駆動部３４と、光センサ１０、光源光量算出ブロック３２、光源駆動制御部３３、光源駆動部３４、及び、光量記憶部３５は、光量測定装置を構成している。
First, a method for measuring the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 using the
図３には、動作モードが光量測定モードである場合における、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに供給される電流の電流値のタイミングチャート、が示されている。また、図３には、動作モードが映像投影モードである場合における、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに供給される電流の電流値のタイミングチャート、も示されている。 Figure 3 shows a timing chart of the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 when the operating mode is the light intensity measurement mode. Figure 3 also shows a timing chart of the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 when the operating mode is the image projection mode.
ここで、映像投影モードとは、投射装置１によって被投影媒体に映像が投影される動作モードのことであり、光量測定モードとは、光源１１に含まれるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯時の光量の測定が行われる動作モードのことである。
Here, the image projection mode refers to an operating mode in which the
まず、動作モードが映像投影モードの場合、光源駆動部３４は、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して電流値Ｉ０の電流を常時供給することにより、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を駆動する（時刻ｔ０～ｔ１２）。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３はそれぞれ点灯（発光）する。
First, when the operating mode is the image projection mode, the light
続いて、動作モードが光量測定モードの場合、光源駆動部３４は、所定期間Ｔの処理を周期的に実行する。ここで、光源駆動部３４は、所定期間Ｔにおいて、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して１つずつ順番に電流値Ｉ０の電流を供給することにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を１つずつ順番に駆動する。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３は１つずつ順番に点灯（発光）する。光センサ１０は、点灯したレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を１つずつ順番に検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯中の光量を個別に測定する。そして、光源光量算出ブロック３２は、複数の所定期間Ｔにおける算出処理による複数の測定結果から、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯中の光量の平均値を個別に算出する。
Next, when the operation mode is the light amount measurement mode, the light
より具体的には、所定期間Ｔは、光量の測定が行われる第１期間（時刻ｔ０～ｔ３や時刻ｔ６～ｔ９）と、光量の測定が行われない第２期間（時刻ｔ３～ｔ６や時刻ｔ９～ｔ１２）と、によって構成される。 More specifically, the predetermined period T is made up of a first period (times t0 to t3 and times t6 to t9) during which light quantity is measured, and a second period (times t3 to t6 and times t9 to t12) during which light quantity is not measured.
第１期間において、まず、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ１に対して電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、レーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３に対する電流の供給を停止させる（時刻ｔ０～ｔ１）。それにより、レーザダイオードＬＤ１のみが点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ１のみの光量を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ１のみの光量を算出する。
In the first period, first, the light
第１期間において、次に、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ２に対して電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３に対する電流の供給を停止させる（時刻ｔ１～ｔ２）。それにより、レーザダイオードＬＤ２のみが点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ２のみの光量を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ２のみの光量を算出する。
Next, in the first period, the light
第１期間において、次に、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ３に対して電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２に対する電流の供給を停止させる（時刻ｔ２～ｔ３）。それにより、レーザダイオードＬＤ３のみが点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ３のみの光量を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ３のみの光量を算出する。
Next, in the first period, the light
なお、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時間は、光センサ１０による光量の検出が可能な最短時間以上に設定される。
The illumination time of each laser diode LD1 to LD3 is set to be equal to or longer than the shortest time during which the
第２期間において、光源駆動部３４は、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して電流値Ｉ０より高い電流値Ｉ１の電流を供給する（時刻ｔ３～ｔ６）。それにより、第１期間におけるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の消灯による温度低下が抑制されるため、投射装置１は、映像投影時に近い温度条件で、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時の光量を精度良く測定することができる。なお、第２期間では、光量の測定は行われない。
During the second period, the light
なお、電流値Ｉ１は、所定期間Ｔにおいて各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の平均電流値が何れも電流値Ｉ０と実質的に同じになるように、設定されることが好ましい。それにより、投射装置１は、実質的に映像投影時と同じ温度条件で、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時の光量を精度良く測定することができる。
The current value I1 is preferably set so that the average current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 during the predetermined period T is substantially the same as the current value I0. This allows the
続いて、図４を用いて、実施の形態１に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を説明する。図４は、実施の形態１に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を示すフローチャートである。
Next, a method for measuring the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 using the
まず、投射装置１は、動作モードを光量測定モードに設定する（ステップＳ１０１）。例えば、投射装置１は、動作モードを映像投影モードから光量測定モードに切り替える。それに伴い、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、測定用の固定パターンに切り替える（ステップＳ１０２）。例えば、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、全面ホワイトの固定パターンに切り替える。それにより、戻り光が抑制される。
First, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔのうちの第１期間において、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して１つずつ順番に電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、それによって点灯したレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量を１つずつ順番に測定する（ステップＳ１０３～Ｓ１０５）。測定結果は、光源の積算使用時間などの付加情報とともに、光量記憶部３５に記憶される（ステップＳ１０６）。
Then, during a first period of the predetermined period T, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔのうちの第２期間において、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに対して、電流値Ｉ０よりも高い電流値Ｉ１の電流を供給する（ステップＳ１０７）。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の消灯による温度低下が抑制されるため、投射装置１は、その後も、映像投影時に近い温度条件で、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時の光量を精度良く測定することができる。なお、第２期間では、光量の測定は行われない。
Then, in a second period of the predetermined period T, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔの処理の回数が予め設定された回数に達していなければ（ステップＳ１０８のＮＯ）、ステップＳ１０３～Ｓ１０７の処理に戻り、所定期間Ｔの処理の回数が予め設定された回数に達していれば（ステップＳ１０８のＹＥＳ）、光量測定モードの処理を終了させる。なお、予め設定された回数は、基本的には２回以上であるが、温度が安定しているのであれば１回であってもよい。投射装置１は、予め設定された回数分の光量の測定結果の平均値を算出し、最終的な測定結果として、光量記憶部３５に保存する。
Then, if the number of times the processing has been performed for the specified period T has not reached the preset number of times (NO in step S108), the
このように、本実施の形態にかかる投射装置１は、光源１１に含まれるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を１つずつ順番に選択して点灯させることによって、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯時の光量を個別に測定している。さらに、投射装置１は、測定対象である点灯中のレーザダイオードの光量を測定している期間中に、測定対象外の消灯中のレーザダイオードの温度が映像投影時（通常動作時）の温度よりも低くなり過ぎるのを防ぐため、測定期間外において、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して映像投影時よりも高い電流値の電流を一時的に供給している。それにより、投射装置１は、映像投影時に近い（理想的には映像投影時と同じ）温度条件で、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定することができる。
In this way, the
なお、動作モードが光量測定モードに設定されるタイミングは、任意のタイミングでよいが、例えば、投射装置１が映像投影モードで動作した後に電源をオフするタイミングで設定されることが好ましい。それにより、投射装置１は、映像投影モードで動作することで温度が安定した状態のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量を測定することができる。また、それにより、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、戻り光が抑制される全面ホワイトの固定パターンに切り替えやすくなる。
The timing at which the operation mode is set to the light quantity measurement mode may be any timing, but it is preferable to set it, for example, when the power is turned off after the
また、本実施の形態では、光源１１が３個のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３によって構成される場合を例に説明したが、それには限定されない。光源１１は、２個以上の任意の数のレーザダイオードによって構成されていてもよい。
In addition, in this embodiment, the
また、本実施の形態では、動作モードが映像投影モードの場合、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の電流値が一定である場合を例に説明したが、それには限定されない。動作モードが映像投影モードの場合でも、動作モードが光量測定モードの場合と同じ電流制御により、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に電流が供給されてもよい。それにより、投射装置１は、動作モードに関わらず、共通の電流制御によって、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を駆動することができる。なお、この場合には、映像のちらつき（フリッカー）を抑制するため、所定期間Ｔを１４ｍｓ以下にすることが好ましい。
In addition, in this embodiment, when the operating mode is the image projection mode, the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 is constant, but this is not limited to the above. Even when the operating mode is the image projection mode, current may be supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 by the same current control as when the operating mode is the light quantity measurement mode. This allows the
また、本実施の形態では、所定期間Ｔのうちの第２期間において、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の電流値が一定である場合を例に説明したが、それには限定されず、一定でなくてもよい。但し、映像のちらつき（フリッカー）を抑制するためには、一定であることが好ましい。 In addition, in this embodiment, the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 during the second period of the predetermined period T is constant, but this is not limited to the above and does not have to be constant. However, it is preferable that the current value is constant in order to suppress flickering of the image.
また、本実施の形態では、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の測定が、間隔を空けずに連続して行われる場合を例に説明したが、それには限定されない。レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の測定は、間隔を空けて順番に行われてもよい。それにより、投射装置１は、光量の測定が行われていない期間中に、光センサ１０及び光源光量算出ブロック３２による処理、光センサ１０と光源光量算出ブロック３２との間の通信、及び、測定結果の光量記憶部３５への保存処理、を実行することができる。
In addition, in this embodiment, the measurement of the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 is performed continuously without any interval, but this is not limited to the example. The measurement of the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 may be performed in sequence with intervals. This allows the
さらに、本実施の形態では、投射装置１が、光源１１に含まれるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を１つずつ順番に選択して点灯させることによって、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯時の光量を個別に測定する場合を例に説明したが、それには限定されない。投射装置１は、光源１１に含まれる複数のレーザダイオードを、共通の波長を有する２つ以上のレーザダイオードの群ごとに順番に選択して点灯させることによって、複数のレーザダイオードのそれぞれの群の点灯時の光量を個別に測定してもよい。それにより、投射装置１は、複数のレーザダイオードを一つずつ順番に選択する場合よりも、光量の測定回数を減らすことができるため、光量の測定期間を短くすることができ、複数のレーザダイオードの温度の低下を抑制することができる。その結果、投射装置１は、複数のレーザダイオードのそれぞれの群の光量をより精度良く測定することができる。
In addition, in this embodiment, the
例えば、光源１１が、発光波長が４３５ｎｍのレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ４と、発光波長が４４５ｎｍのレーザダイオードＬＤ５～ＬＤ８と、発光波長が４５５ｎｍのレーザダイオードＬＤ９～ＬＤ１２と、によって構成されている場合、まず、投射装置１は、共通の波長を有するレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ４の群を選択して点灯させることによって、当該レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ４の群の光量を測定する。その後、投射装置１は、共通の波長を有するレーザダイオードＬＤ５～ＬＤ８の群を選択して点灯させることによって、当該レーザダイオードＬＤ５～ＬＤ８の群の光量を測定する。その後、投射装置１は、共通の波長を有するレーザダイオードＬＤ９～ＬＤ１２の群を選択して点灯させることによって、当該レーザダイオードＬＤ９～ＬＤ１２の群の光量を測定する。
For example, if the
＜実施の形態２＞
実施の形態２では、実施の形態１の場合と比較して、光源１１に含まれるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の測定方法が異なる。以下、具体的に説明する。
<Embodiment 2>
In the second embodiment, the method of measuring the light amounts of the laser diodes LD1 to LD3 included in the
まず、図５を用いて、実施の形態２に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を説明する。図５は、実施の形態２に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を示すタイミングチャートである。本実施の形態では、光源１１が、例えば４３５ｎｍ，４４５ｎｍ，４５５ｎｍ等の波長の異なる青色の光を発光するレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を有する場合を例に説明する。ここで、光源駆動部３４と、光センサ１０、光源光量算出ブロック３２、光源駆動制御部３３、光源駆動部３４、及び、光量記憶部３５は、光量測定装置を構成している。
First, a method for measuring the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 using the
図５には、動作モードが光量測定モードである場合における、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに供給される電流の電流値のタイミングチャート、が示されている。また、図５には、動作モードが映像投影モードである場合における、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに供給される電流の電流値のタイミングチャート、も示されている。 Figure 5 shows a timing chart of the current values of the currents supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 when the operating mode is the light intensity measurement mode. Figure 5 also shows a timing chart of the current values of the currents supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 when the operating mode is the image projection mode.
まず、動作モードが映像投影モードの場合、光源駆動部３４は、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して電流値Ｉ０の電流を常時供給することにより、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を駆動する（時刻ｔ０～ｔ１２）。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３はそれぞれ点灯（発光）する。
First, when the operating mode is the image projection mode, the light
続いて、動作モードが光量測定モードの場合、光源駆動部３４は、所定期間Ｔの処理を周期的に実行する。ここで、光源駆動部３４は、所定期間Ｔにおいて、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を１つずつ順番に選択して、選択中の１つのダイオードに対する電流の供給を停止し、且つ、非選択の２つのダイオードに対して電流値Ｉ０の電流を供給することにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のうちの２つを一組として、一組ずつ順番に駆動する。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３は一組ずつ順番に点灯（発光）する。光センサ１０は、２つ一組で点灯したレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量を一組ずつ順番に検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯中の光量を個別に算出する。そして、光源光量算出ブロック３２は、複数の所定期間Ｔにおける算出処理による複数の算出結果から、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯中の光量の平均値を個別に算出する。
Next, when the operation mode is the light quantity measurement mode, the light
より具体的には、所定期間Ｔは、光量の測定が行われる第１期間（時刻ｔ０～ｔ３や時刻ｔ６～ｔ９）と、光量の測定が行われない第２期間（時刻ｔ３～ｔ６や時刻ｔ９～ｔ１２）と、によって構成される。 More specifically, the predetermined period T is made up of a first period (times t0 to t3 and times t6 to t9) during which light quantity is measured, and a second period (times t3 to t6 and times t9 to t12) during which light quantity is not measured.
第１期間において、まず、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ１に対する電流の供給を停止するとともに、レーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給する（時刻ｔ０～ｔ１）。それにより、レーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３が点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３のそれぞれの光量の合算値Ｋ２３を算出する。
In the first period, first, the light
第１期間において、次に、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ２に対する電流の供給を停止するとともに、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給する（時刻ｔ１～ｔ２）。それにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３が点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３のそれぞれの光量の合算値Ｋ１３を算出する。
Next, in the first period, the light
第１期間において、次に、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ３に対する電流の供給を停止するとともに、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給する（時刻ｔ２～ｔ３）。それにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２が点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれの光量の合算値Ｋ１２を算出する。
Next, in the first period, the light
そして、光源光量算出ブロック３２は、上述の光量の合算値Ｋ２３，Ｋ１３，Ｋ１２から、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２，ＬＤ３のそれぞれの光量を算出する。
Then, the light source light
なお、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時間は、光センサ１０による光量の検出が可能な最短時間以上に設定される。
The illumination time of each laser diode LD1 to LD3 is set to be equal to or longer than the shortest time during which the
ここで、レーザダイオードＬＤ１の光量をＫ１、レーザダイオードＬＤ２の光量をＫ２、レーザダイオードＬＤ３の光量をＫ３とすると、レーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３のそれぞれの光量の合算値Ｋ２３、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３のそれぞれの光量の合算値Ｋ１３、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれの光量の合算値Ｋ１２は、それぞれ以下の式（１）、式（２）及び式（３）のように表される。 Here, if the light amount of the laser diode LD1 is K1, the light amount of the laser diode LD2 is K2, and the light amount of the laser diode LD3 is K3, then the combined light amount K23 of the laser diodes LD2 and LD3, the combined light amount K13 of the laser diodes LD1 and LD3, and the combined light amount K12 of the laser diodes LD1 and LD2 are respectively expressed as the following formulas (1), (2), and (3).
Ｋ２３＝Ｋ２＋Ｋ３ ・・・（１）
Ｋ１３＝Ｋ１＋Ｋ３ ・・・（２）
Ｋ１２＝Ｋ１＋Ｋ２ ・・・（３）
K23=K2+K3 (1)
K13=K1+K3 (2)
K12=K1+K2... (3)
また、式（１）、式（２）及び式（３）より、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量Ｋ１～Ｋ３は、それぞれ以下の式（４）、式（５）及び式（６）のように表される。 Furthermore, from equations (1), (2), and (3), the light intensities K1 to K3 of the laser diodes LD1 to LD3 are expressed by the following equations (4), (5), and (6), respectively.
Ｋ１＝（Ｋ１２＋Ｋ１３－Ｋ２３）／２ ・・・（４）
Ｋ２＝（Ｋ１２＋Ｋ２３－Ｋ１３）／２ ・・・（５）
Ｋ３＝（Ｋ２３＋Ｋ１３－Ｋ１２）／２ ・・・（６）
K1=(K12+K13-K23)/2 (4)
K2=(K12+K23-K13)/2 (5)
K3=(K23+K13-K12)/2 ... (6)
したがって、光源光量算出ブロック３２は、式（４）、式（５）及び式（６）を用いることにより、光量Ｋ２３，Ｋ１３，Ｋ１２から、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量Ｋ１～Ｋ３を算出することができる。
Therefore, the light source light
第２期間において、光源駆動部３４は、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して電流値Ｉ０より高い電流値Ｉ２の電流を供給する（時刻ｔ３～ｔ６）。それにより、第１期間におけるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の消灯による温度低下が抑制されるため、投射装置１は、映像投影時に近い温度条件で、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時の光量を精度良く測定することができる。なお、第２期間では、光量の測定は行われない。
During the second period, the light
なお、電流値Ｉ２は、所定期間Ｔにおいて各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の平均電流値が何れも電流値Ｉ０と実質的に同じになるように、設定されることが好ましい。それにより、投射装置１は、実質的に映像投影時と同じ温度条件で、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時の光量を精度良く測定することができる。
The current value I2 is preferably set so that the average current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 during the predetermined period T is substantially the same as the current value I0. This allows the
続いて、図６を用いて、実施の形態２に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を説明する。図６は、実施の形態２に係る投射装置１による各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量測定方法を示すフローチャートである。
Next, a method for measuring the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 using the
まず、投射装置１は、動作モードを光量測定モードに設定する（ステップＳ２０１）。例えば、投射装置１は、動作モードを映像投影モードから光量測定モードに切り替える。それに伴い、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、測定用の固定パターンに切り替える（ステップＳ２０２）。例えば、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、全面ホワイトの固定パターンに切り替える。それにより、戻り光が抑制される。
First, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔのうちの第１期間において、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して２つ一組ずつ順番に電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、それによって２つ一組で点灯したレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の光量を一組ずつ順番に測定する（ステップＳ２０３～Ｓ２０５）。その後、投射装置１は、例えば式（４）、式（５）及び式（６）を用いることにより、各組の光量Ｋ２３，Ｋ１３，Ｋ１２から、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量を算出する（ステップＳ２０６）。算出結果は、光源の積算使用時間などの付加情報とともに、光量記憶部３５に記憶される（ステップＳ２０７）。
Then, in a first period of the predetermined period T, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔのうちの第２期間において、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに対して、電流値Ｉ０よりも高い電流値Ｉ２の電流を供給する（ステップＳ２０８）。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の消灯による温度低下が抑制されるため、投射装置１は、その後も、映像投影時に近い温度条件で、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時の光量を精度良く測定することができる。なお、第２期間では、光量の測定は行われない。
Then, in a second period of the predetermined period T, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔの処理の回数が予め設定された回数に達していなければ（ステップＳ２０９のＮＯ）、ステップＳ２０３～Ｓ２０８の処理に戻り、所定期間Ｔの処理の回数が予め設定された回数に達していれば（ステップＳ２０９のＹＥＳ）、光量測定モードの処理を終了させる。なお、予め設定された回数は、基本的には２回以上であるが、温度が安定しているのであれば１回であってもよい。投射装置１は、予め設定された回数分の光量の測定結果の平均値を算出し、最終的な測定結果として、光量記憶部３５に保存する。
Then, if the number of times the processing has been performed for the specified period T has not reached the preset number of times (NO in step S209), the
このように、本実施の形態にかかる投射装置１は、光源１１に含まれるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を２つ一組ずつ順番に選択して点灯させることによって、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯時の光量を個別に測定している。さらに、投射装置１は、測定対象である点灯中のレーザダイオードの光量を測定している期間中に、測定対象外の消灯中のレーザダイオードの温度が映像投影時（通常動作時）の温度よりも低くなり過ぎるのを防ぐため、測定期間外において、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して映像投影時よりも高い電流値の電流を一時的に供給している。それにより、投射装置１は、映像投影時に近い（理想的には映像投影時と同じ）温度条件で、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯中の光量を精度良く測定することができる。
In this way, the
なお、動作モードが光量測定モードに設定されるタイミングは、任意のタイミングでよいが、例えば、投射装置１が映像投影モードで動作した後に電源をオフするタイミングで設定されることが好ましい。それにより、投射装置１は、映像投影モードで動作することで温度が安定した状態のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量を測定することができる。また、それにより、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、戻り光が抑制される全面ホワイトの固定パターンに切り替えやすくなる。
The timing at which the operation mode is set to the light quantity measurement mode may be any timing, but it is preferable to set it, for example, when the power is turned off after the
また、本実施の形態では、光源１１が３個のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３によって構成される場合を例に説明したが、それには限定されない。光源１１は、２個以上の任意の数のレーザダイオードによって構成されていてもよい。
In addition, in this embodiment, the
また、本実施の形態では、動作モードが映像投影モードの場合、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の電流値が一定である場合を例に説明したが、それには限定されない。動作モードが映像投影モードの場合でも、動作モードが光量測定モードの場合と同じ電流制御により、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に電流が供給されてもよい。それにより、投射装置１は、動作モードに関わらず、共通の電流制御によって、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を駆動することができる。なお、この場合には、映像のちらつき（フリッカー）を抑制するため、所定期間Ｔを１４ｍｓ以下にすることが好ましい。
In addition, in this embodiment, when the operating mode is the image projection mode, the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 is constant, but this is not limited to the above. Even when the operating mode is the image projection mode, current may be supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 by the same current control as when the operating mode is the light quantity measurement mode. This allows the
また、本実施の形態では、所定期間Ｔのうちの第２期間において、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の電流値が一定である場合を例に説明したが、それには限定されず、一定でなくてもよい。但し、映像のちらつき（フリッカー）を抑制するためには、一定であることが好ましい。 In addition, in this embodiment, the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 during the second period of the predetermined period T is constant, but this is not limited to the above and does not have to be constant. However, it is preferable that the current value is constant in order to suppress flickering of the image.
また、本実施の形態では、光量Ｋ２３，Ｋ１３，Ｋ１２の測定が、間隔を空けずに連続して行われる場合を例に説明したが、それには限定されない。光量Ｋ２３，Ｋ１３，Ｋ１２の測定は、間隔を空けて順番に行われてもよい。それにより、投射装置１は、光量の測定が行われていない期間中に、光センサ１０及び光源光量算出ブロック３２による処理、光センサ１０と光源光量算出ブロック３２との間の通信、及び、測定結果の光量記憶部３５への保存処理、を実行することができる。
In addition, in the present embodiment, the measurement of the light quantities K23, K13, and K12 is performed continuously without any interval, but the present invention is not limited to this. The measurement of the light quantities K23, K13, and K12 may be performed in sequence with intervals. This allows the
さらに、本実施の形態では、投射装置１が、光源１１に含まれるレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を１つずつ順番に選択して、選択中の１つのレーザダイオードに対する電流の供給を停止し、且つ、非選択の残りのレーザダイオードを点灯させることによって、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの点灯時の光量を個別に測定する場合を例に説明したが、それには限定されない。投射装置１は、光源１１に含まれる複数のレーザダイオードを、共通の波長を有する２つ以上のレーザダイオードの群ごとに順番に選択して、選択中の群のレーザダイオードに対する電流の供給を停止し、且つ、非選択の残りのレーザダイオードを点灯させることによって、複数のレーザダイオードのそれぞれの群の点灯時の光量を個別に測定してもよい。それにより、投射装置１は、複数のレーザダイオードを一つずつ順番に選択する場合よりも、光量の測定回数を減らすことができるため、光量の測定期間を短くすることができ、複数のレーザダイオードの温度の低下を抑制することができる。その結果、投射装置１は、複数のレーザダイオードのそれぞれの群の光量をより精度良く測定することができる。
Furthermore, in this embodiment, the
例えば、光源１１が、発光波長が４３５ｎｍのレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ４と、発光波長が４４５ｎｍのレーザダイオードＬＤ５～ＬＤ８と、発光波長が４５５ｎｍのレーザダイオードＬＤ９～ＬＤ１２と、によって構成されている場合、まず、投射装置１は、共通の波長を有するレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ４の群を選択して、選択中のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対する電流の供給を停止し、且つ、非選択の残りのレーザダイオードＬＤ４～ＬＤ１２を点灯させることによって、光量Ｋ２３’を測定する。その後、投射装置１は、共通の波長を有するレーザダイオードＬＤ５～ＬＤ８の群を選択して、選択中のレーザダイオードＬＤ５～ＬＤ８に対する電流の供給を停止し、且つ、非選択の残りのレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ４，ＬＤ９～ＬＤ１２を点灯させることによって、光量Ｋ１３’を測定する。その後、投射装置１は、共通の波長を有するレーザダイオードＬＤ９～ＬＤ１２の群を選択して、選択中のレーザダイオードＬＤ９～ＬＤ１２に対する電流の供給を停止し、且つ、非選択の残りのレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ８を点灯させることによって、光量Ｋ１２’を測定する。そして、投射装置１は、光量Ｋ２３’，Ｋ１３’，Ｋ１２’の測定値から、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ１２のそれぞれの光量を算出する。このときの光量の算出方法については、上記した式（１）～式（６）を用いた算出方法と基本的には同じであるため、その説明を省略する。
For example, if the
＜実施の形態３＞
前述のように、光源１１に含まれる複数のレーザダイオードのそれぞれの点灯時の光量は、経時劣化によって低下するが、それらの低下量は発光波長や個体ばらつきによって異なる。そのため、関連技術の投射装置では、経時劣化によって、光源１１の発光スペクトルが変化し、それに伴って、映像の色（色度）が経時劣化前の色から変化してしまう、という課題があった。
<Third embodiment>
As described above, the light intensity of each of the laser diodes included in the
そこで、実施の形態３に係る投射装置１は、光源１１から射出される経年劣化前後の光の色度の測定結果を比較して、その比較結果に基づいて、複数のレーザダイオードのそれぞれに供給される電流を個別に制御することにより、経年劣化後に光源１１から射出される光の色度を経年劣化前の色度に近くなるように調整している。ここで、投射装置１は、測定対象である点灯中のレーザダイオードの色度を測定している期間中に、測定対象外の消灯中のレーザダイオードの温度が映像投影時（通常動作時）の温度よりも低くなり過ぎるのを防ぐため、測定期間外において、特定のレーザダイオードに対して映像投影時よりも高い電流値の電流を一時的に供給している。それにより、投射装置１は、映像投影時に近い（理想的には映像投影時と同じ）温度条件で、光源１１から射出された光の色度を精度良く測定し且つ調整することができる。以下、具体的に説明する。
The
まず、図７を用いて、実施の形態３に係る投射装置１による色度測定方法を説明する。図７は、実施の形態３に係る投射装置１による色度測定方法を示すタイミングチャートである。本実施の形態では、光源１１が、例えば４３５ｎｍ，４４５ｎｍ，４５５ｎｍ等の波長の異なる青色の光を発光するレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を有する場合を例に説明する。ここで、光源駆動部３４と、光センサ１０、光源光量算出ブロック３２、光源駆動制御部３３、光源駆動部３４、及び、光量記憶部３５は、色度調整装置を構成している。
First, a chromaticity measurement method using the
図７には、動作モードが色度測定モードである場合における、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに供給される電流の電流値のタイミングチャート、が示されている。また、図７には、動作モードが映像投影モードである場合における、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに供給される電流の電流値のタイミングチャート、も示されている。 Figure 7 shows a timing chart of the current values supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 when the operating mode is the chromaticity measurement mode. Figure 7 also shows a timing chart of the current values supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 when the operating mode is the image projection mode.
ここで、映像投影モードとは、投射装置１によって被投影媒体に映像が投影される動作モードのことであり、色度測定モードとは、光源１１から射出される光の色度の測定が行われる動作モードのことである。なお、色度測定モードでは、光源１１から射出される光の明度の測定がさらに行われてもよい。動作モードには、さらに、光源１１から射出される光の色度の調整が行われる色度調整モードがある。なお、色度調整モードでは、光源１１から射出される光の明度の調整がさらに行われてもよい。
Here, the image projection mode refers to an operating mode in which the
以下では、製品出荷前などの経年劣化前の時点（基準時点）から所定期間が経過して経年劣化した色度の測定及び調整が行われる場合について説明する。 The following describes a case where measurement and adjustment of chromaticity that has deteriorated over time is performed after a certain period of time has passed since a point in time before deterioration occurred (a reference point), such as before the product was shipped.
まず、動作モードが映像投影モードの場合、光源駆動部３４は、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に対して電流値Ｉ０の電流を常時供給することにより、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を駆動する（時刻ｔ０～ｔ１０）。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３はそれぞれ点灯（発光）する。
First, when the operating mode is the image projection mode, the light
続いて、動作モードが色度測定モードの場合、光源駆動部３４は、所定期間Ｔの処理を周期的に実行する。ここで、光源駆動部３４は、所定期間Ｔにおいて、まず、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給し、その後、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給する。それにより、まず、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２が点灯し、その後、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３が点灯する。光センサ１０は、まず、点灯したレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光を検出し、その後、点灯したレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の点灯中の色度を算出し、その後、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の点灯中の色度を算出する。そして、光源光量算出ブロック３２は、複数の所定期間Ｔにおける算出処理による複数の算出結果から、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の点灯中の色度の平均値、及び、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の点灯中の色度の平均値、を算出する。
Next, when the operating mode is the chromaticity measurement mode, the light
より具体的には、所定期間Ｔは、色度の測定が行われる第１期間（時刻ｔ０～ｔ２や時刻ｔ５～ｔ７）と、色度の測定が行われない第２期間（時刻ｔ２～ｔ５や時刻ｔ７～ｔ１０）と、によって構成される。 More specifically, the predetermined period T is composed of a first period (times t0 to t2 and times t5 to t7) during which chromaticity measurements are performed, and a second period (times t2 to t5 and times t7 to t10) during which chromaticity measurements are not performed.
第１期間において、まず、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、レーザダイオードＬＤ３に対する電流の供給を停止する（時刻ｔ０～ｔ１）。それにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２が点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光の色度Ｃ１２を算出する。
In the first period, first, the light
第１期間において、次に、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、レーザダイオードＬＤ２に対する電流の供給を停止する（時刻ｔ１～ｔ２）。それにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３が点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光の色度Ｃ１３を算出する。
Next, in the first period, the light
なお、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の点灯時間は、光センサ１０による光の検出が可能な最短時間以上に設定される。
The illumination time of each laser diode LD1 to LD3 is set to be equal to or longer than the shortest time during which light can be detected by the
第２期間において、光源駆動部３４は、基準となるレーザダイオードＬＤ１に対して、第１期間と同様に電流値Ｉ０の電流を供給し続ける（時刻ｔ２～ｔ５）。また、第２期間において、光源駆動部３４は、第１期間で点灯し続けていたレーザダイオードＬＤ１以外のレーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０より高い電流値Ｉ３の電流を供給する（時刻ｔ２～ｔ５）。それにより、第１期間におけるレーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３の消灯による温度低下が抑制されるため、投射装置１は、映像投影時に近い温度条件で、光源１１から射出される光の色度を精度良く測定することができる。なお、第２期間では、光の色度の測定は行われない。
During the second period, the light
なお、電流値Ｉ３は、所定期間Ｔにおける各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の平均電流値が何れも電流値Ｉ０と実質的に同じになるように、設定されることが好ましい。それにより、投射装置１は、実質的に映像投影時と同じ温度条件で、光源１１から射出される光の色度を精度良く測定することができる。
The current value I3 is preferably set so that the average current values of the currents supplied to the laser diodes LD1 to LD3 during the predetermined period T are all substantially the same as the current value I0. This allows the
本実施の形態では、基準のレーザダイオードがレーザダイオードＬＤ１である場合を例に説明したが、それには限定されない。基準のレーザダイオードは、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のうち何れであってもよい。但し、基準のレーザダイオードは、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のうち、最も短い波長、又は、最も長い波長のレーザダイオードであることが好ましい。それにより、基準のレーザダイオオードの光の色度と、色度測定時に基準のレーザダイオードとペアになるレーザダイオードの光の色度と、の色度差が大きくなるため、経年劣化前後の色度の変化の検出が容易になる。 In this embodiment, the reference laser diode is laser diode LD1, but the present invention is not limited to this. The reference laser diode may be any of laser diodes LD1 to LD3. However, it is preferable that the reference laser diode is the laser diode with the shortest or longest wavelength among laser diodes LD1 to LD3. This increases the chromaticity difference between the chromaticity of the light from the reference laser diode and the chromaticity of the light from the laser diode that is paired with the reference laser diode during chromaticity measurement, making it easier to detect changes in chromaticity before and after deterioration over time.
なお、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３単体の光の色度が既知である場合には、基準のレーザダイオードは、最も短い波長のレーザダイオード、及び、最も長い波長のレーザダイオードのうち、他のレーザダイオードとの色度差が最も大きくなるレーザダイオードであることが好ましい。また、光センサ１０の分光感度特性が既知の場合には、基準のレーザダイオードは、最も短い波長のレーザダイオード、及び、最も長い波長のレーザダイオードのうち、光センサ１０による感度が高いレーザダイオードであることが好ましい。さらに、光センサ１０のピーク感度波長が既知の場合には、基準のレーザダイオードは、最も短い波長のレーザダイオード、及び、最も長い波長のレーザダイオードのうち、光センサ１０のピーク感度波長に近いレーザダイオードであることが好ましい。それらにより、経年劣化前後の色度の変化の検出がさらに容易になる。
When the chromaticity of the light of each of the laser diodes LD1 to LD3 is known, the reference laser diode is preferably the laser diode with the largest chromaticity difference from the other laser diodes among the laser diode with the shortest wavelength and the laser diode with the longest wavelength. When the spectral sensitivity characteristics of the
なお、明度の測定を行う場合には、光源駆動部３４は、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給する。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３が点灯する。このとき、光センサ１０は、点灯中のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の合算した光を検出する。光源光量算出ブロック３２は、光センサ１０による検出結果に基づいて、点灯中のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の合算した光の明度を算出する。
When measuring the brightness, the light
続いて、図８を用いて、実施の形態３に係る投射装置１による色度調整方法を説明する。図８は、実施の形態３に係る投射装置１による色度調整方法を説明するための概念図である。
Next, a chromaticity adjustment method using the
光量記憶部３５には、製品出荷前などの経年劣化前の時点（基準時点）のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光の色度Ｃ１２＿ｉｎｉ、基準時点のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光の色度Ｃ１３＿ｉｎｉ、及び、基準時点のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の合算した光の明度ＢＡ＿ｉｎｉの情報が記憶されている。色度Ｃ１２＿ｉｎｉ、色度Ｃ１３＿ｉｎｉ及び明度ＢＡは、経年劣化前の基準時点において、経年劣化後の色度Ｃ１２、Ｃ１３及び明度ＢＡの測定方法と同様の方法で測定されている。
The light
ここで、経年劣化前後ではレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率が異なっている。そこで、投射装置１は、経年劣化後のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率を、経年劣化前の比率に近づけることにより、光源１１から射出される光の色度を、経年劣化前の状態に近づける。
Here, the ratio of the light amounts of the laser diodes LD1 to LD3 differs before and after deterioration over time. Therefore, the
具体的には、まず、投射装置１の光源駆動制御部３３は、基準のレーザダイオードＬＤ１に供給される電流の電流値を固定した状態で、レーザダイオードＬＤ２に供給される電流の電流値を調整することにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光の色度Ｃ１２を、基準時点の色度Ｃ１２＿ｉｎｉに近づける。理想的には、光源駆動制御部３３は、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光の色度Ｃ１２を、基準時点の色度Ｃ１２＿ｉｎｉと実質的に同一にする。その後、光源駆動制御部３３は、基準のレーザダイオードＬＤ１に供給される電流の電流値を固定した状態で、レーザダイオードＬＤ３に供給される電流の電流値を調整することにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光の色度Ｃ１３を、基準時点の色度Ｃ１３＿ｉｎｉに近づける。理想的には、光源駆動制御部３３は、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光の色度Ｃ１３を、基準時点の色度Ｃ１３＿ｉｎｉと実質的に同一にする。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率が経年劣化前の状態に近づくため、光源１１から射出される光の色度が経年劣化前の状態に近づく。理想的には、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率が経年劣化前の状態と同じになるため、光源１１から射出される光の色度が経年劣化前の状態と同じになる。
Specifically, first, the light source drive control unit 33 of the
なお、明度の調整を行う場合には、光源駆動制御部３３は、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率を保った状態で、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量を調整することにより、光源１１から射出される光の明度ＢＡを、基準時点の明度ＢＡ＿ｉｎｉに近づける（理想的には、同じにする）。
When adjusting the brightness, the light source drive control unit 33 adjusts the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3 while maintaining the ratio of the light intensity of each of the laser diodes LD1 to LD3, thereby bringing the brightness BA of the light emitted from the
続いて、図９～図１１を用いて、実施の形態３に係る投射装置１による経年劣化前の光の色度の測定方法を説明する。図９～図１１は、実施の形態３に係る投射装置１による経年劣化前の光の色度の測定方法を示すフローチャートである。なお、図９～図１１には、経年劣化前の光の色度の測定方法に加えて、経年劣化前の光の明度の測定方法も示されている。
Next, a method for measuring the chromaticity of light before deterioration over time using the
まず、投射装置１は、経年劣化前の基準時点における光源１１の光の色度が光量記憶部３５に保存されているか否かの判定を行う（ステップＳ３０１）。基準時点における光源１１の光の色度が光量記憶部３５に保存されている場合（ステップＳ３０１のＹＥＳ）、ステップＳ３０３の処理に進み、基準時点における光源１１の光の色度が光量記憶部３５に保存されていない場合（ステップＳ３０１のＮＯ）、投射装置１は、基準時点における光源１１の光の色度の測定及び測定結果の保存を行う（ステップＳ３０２）。
First, the
図１０には、ステップＳ３０２の詳細な処理、即ち、色度の測定及び測定結果の保存に関する詳細な処理が示されている。図１０に示されるように、まず、投射装置１は、動作モードを色度測定モードに設定する（ステップＳ４０１）。それに伴い、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、測定用の固定パターンに切り替える（ステップＳ４０２）。例えば、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、全面ホワイトの固定パターンに切り替える。それにより、戻り光が抑制される。
Figure 10 shows the detailed process of step S302, i.e., the detailed process of measuring chromaticity and saving the measurement results. As shown in Figure 10, first, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔのうちの第１期間において、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給した後、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給するとともに、点灯したレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光の色度Ｃ１２＿ｉｎｉを測定した後、点灯したレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光の色度Ｃ１３＿ｉｎｉを測定する（ステップＳ４０３～Ｓ４０５）。これらの測定結果は、光量記憶部３５に保存される（ステップＳ４０６）。
Then, in a first period of the predetermined period T, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔのうちの第２期間において、第１期間で点灯し続けていたレーザダイオードＬＤ１以外のレーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０よりも高い電流値Ｉ３の電流を供給する（ステップＳ４０７）。それにより、レーザダイオードＬＤ２，ＬＤ３の消灯による温度低下が抑制されるため、投射装置１は、その後も、映像投影時に近い温度条件で、光源１１から射出される光の色度を精度良く測定することができる。なお、第２期間では、光の色度の測定は行われない。
Then, in a second period of the predetermined period T, the
その後、投射装置１は、所定期間Ｔの処理の回数が予め設定された回数に達していなければ（ステップＳ４０８のＮＯ）、ステップＳ４０３～Ｓ４０７の処理に戻り、所定期間Ｔの処理の回数が予め設定された回数に達していれば（ステップＳ４０８のＹＥＳ）、色度測定モードの処理を終了させる。なお、予め設定された回数は、基本的には２回以上であるが、温度が安定しているのであれば１回であってもよい。投射装置１は、予め設定された回数分の色度の測定結果の平均値を算出し、最終的な測定結果として、光量記憶部３５に保存する。
Then, if the number of times the processing has been performed for the specified period T has not reached the preset number of times (NO in step S408), the
図９に戻り、説明を続ける。次に、投射装置１は、経年劣化前の基準時点における光源１１の光の明度が光量記憶部３５に保存されているか否かの判定を行う（ステップＳ３０３）。基準時点における光源１１の光の明度が光量記憶部３５に保存されている場合（ステップＳ３０３のＹＥＳ）、投射装置１は、基準時点における光源１１の光の色度及び明度の測定及び保存処理を終了する。それに対し、基準時点における光源１１の光の明度が光量記憶部３５に保存されていない場合（ステップＳ３０３のＮＯ）、投射装置１は、基準時点における光源１１の光の明度の測定及び測定結果の保存を行う（ステップＳ３０４）。
Returning to FIG. 9, the explanation will continue. Next, the
図１１には、ステップＳ３０４の詳細な処理、即ち、明度の測定及び測定結果の保存に関する詳細な処理が示されている。図１１に示されるように、まず、投射装置１は、動作モードを色度測定モードに設定する（ステップＳ５０１）。それに伴い、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、測定用の固定パターンに切り替える（ステップＳ５０２）。例えば、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、全面ホワイトの固定パターンに切り替える。それにより、戻り光が抑制される。
Figure 11 shows the detailed process of step S304, i.e., the detailed process of measuring the brightness and storing the measurement results. As shown in Figure 11, first, the
その後、投射装置１は、光源１１に含まれる全てのレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれに対して電流値Ｉ０の電流を供給し、それによって点灯したレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３の合算した光の明度ＢＡ＿ｉｎｉを測定する（ステップＳ５０３、Ｓ５０４）。測定結果は、光量記憶部３５に保存される（ステップＳ５０５）。そして、投射装置１は、基準時点における光源１１の光の色度及び明度の測定及び保存処理を終了する。
Then, the
続いて、図１２を用いて、実施の形態３に係る投射装置１による経年劣化後の光の色度の測定及び調整方法を説明する。図１２は、実施の形態３に係る投射装置１による経年劣化後の光の色度の測定方法及び調整方法を示すフローチャートである。なお、図１２には、経年劣化後の光の色度の測定方法及び調整方法に加えて、経年劣化後の光の明度の測定方法及び調整方法も示されている。
Next, a method for measuring and adjusting the chromaticity of light after deterioration over time using the
まず、投射装置１は、動作モードを色度調整モードに設定する（ステップＳ６０１）。それに伴い、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、測定用の固定パターンに切り替える（ステップＳ６０２）。例えば、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、全面ホワイトの固定パターンに切り替える。それにより、戻り光が抑制される。
First, the
その後、投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光の色度を調整するか否かの判断を行う（ステップＳ６０３）。投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光の色度を調整しないと判断した場合（ステップＳ６０３のＮＯ）、ステップＳ６０７の処理に進み、経年劣化後の光源１１の光の色度を調整すると判断した場合（ステップＳ６０３のＹＥＳ）、経年劣化前の色度の測定方法と同様の方法で、経年劣化後の色度Ｃ１２，Ｃ１３の測定を行う（ステップＳ６０４）。
Then, the
その後、投射装置１は、基準のレーザダイオードＬＤ１に供給される電流値を固定した状態で、レーザダイオードＬＤ２に供給される電流の電流値を調整することにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の合算した光の色度Ｃ１２を、経年劣化前の色度Ｃ１２＿ｉｎｉに近づける（理想的には、実質的に同一にする）（ステップＳ６０５）。また、投射装置１は、基準のレーザダイオードＬＤ１に供給される電流値を固定した状態で、レーザダイオードＬＤ３に供給される電流の電流値を調整することにより、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ３の合算した光の色度Ｃ１３を、基準時点の色度Ｃ１３＿ｉｎｉに近づける（理想的には、実質的に同じにする）（ステップＳ６０６）。それにより、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率が経年劣化前の状態に近づく（理想的には、実質的に同じになる）。その後、投射装置１は、ステップＳ６０７の処理に進む。
Then, the
その後、投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光の明度を調整するか否かの判断を行う（ステップＳ６０７）。投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光の明度を調整しないと判断した場合（ステップＳ６０７のＮＯ）、ステップＳ６１０の処理に進み、経年劣化後の光源１１の光の明度を調整すると判断した場合（ステップＳ６０７のＹＥＳ）、経年劣化前の明度の測定方法と同様の方法で、経年劣化後の明度ＢＡの測定を行う（ステップＳ６０８）。
Then, the
その後、投射装置１は、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量の比率を保った状態で、レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３のそれぞれの光量を調整することにより、光源１１から射出される光の明度ＢＡを、基準時点の明度ＢＡ＿ｉｎｉに近づける（理想的には、実質的に同じにする）（ステップＳ６０９）。その後、投射装置１は、ステップＳ６１０の処理に進む。
Then, while maintaining the ratio of the light intensities of the laser diodes LD1 to LD3, the
その後、投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光のＲＧＢを調整するか否かの判断を行う（ステップＳ６１０）。投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光のＲＧＢを調整しないと判断した場合（ステップＳ６１０のＮＯ）、経年劣化後の光源１１の光の色度等の調整を終了し、経年劣化後の光源１１の光のＲＧＢを調整すると判断した場合（ステップＳ６１０のＹＥＳ）、ＲＧＢの調整を行う（ステップＳ６１１）。ＲＧＢの調整は、映像のＲＧＢゲイン、映像のＲＧＢオフセット、及び、光源１１のＲＧＢ出力などを調整することによって行われる。その際、ＲＧＢの調整は、光センサ１０による検出結果、被投影媒体に投影された光の測定値、及び、ＯＳＤメニューや通信コマンド等の手段を用いてユーザーから入力される色や明るさの設定値などを参照して、行われてもよい。その後、投射装置１は、経年劣化後の光源１１の光の色度等の調整を終了する。
Then, the
このように、本実施の形態に係る投射装置１は、光源１１から射出される経年劣化前後の光の色度の測定結果を比較して、その比較結果に基づいて、複数のレーザダイオードのそれぞれに供給される電流を個別に制御することにより、経年劣化後に光源１１から射出される光の色度を経年劣化前の色度に近くなるように調整している。ここで、投射装置１は、測定対象である点灯中のレーザダイオードの色度を測定している期間中に、測定対象外の消灯中のレーザダイオードの温度が映像投影時（通常動作時）の温度よりも低くなり過ぎるのを防ぐため、測定期間外において、特定のレーザダイオードに対して映像投影時よりも高い電流値の電流を一時的に供給している。それにより、投射装置１は、映像投影時に近い（理想的には映像投影時と同じ）温度条件で、光源１１から射出された光の色度を精度良く測定し且つ調整することができる。
In this way, the
なお、動作モードが色度測定モードに設定されるタイミングは、任意のタイミングでよいが、例えば、投射装置１が映像投影モードで動作した後に電源をオフするタイミングで設定されることが好ましい。それにより、投射装置１は、映像投影モードで動作することで温度が安定した状態のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３から色度を測定することができる。また、それにより、投射装置１は、映像処理部３０から映像データとして出力される画像表示パターンを、戻り光が抑制される全面ホワイトの固定パターンに切り替えやすくなる。
The timing at which the operating mode is set to the chromaticity measurement mode may be any timing, but it is preferable to set it, for example, when the power is turned off after the
また、本実施の形態では、光源１１が３個のレーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３によって構成される場合を例に説明したが、それには限定されない。光源１１は、２個以上の任意の数のレーザダイオードによって構成されていてもよい。何れの場合でも、光源１１に含まれる複数のレーザダイオードのうち何れかのレーザダイオードが基準のレーザダイオードとして用いられる。また、本実施の形態でも、実施の形態１、２の場合と同様に、共通の波長を有する複数のレーザダイオードを纏めて駆動して光量を測定してもよい。
In addition, in this embodiment, the
また、本実施の形態では、動作モードが映像投影モードの場合、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の電流値が一定である場合を例に説明したが、それには限定されない。動作モードが映像投影モードの場合でも、動作モードが色度測定モードの場合と同じ電流制御により、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に電流が供給されてもよい。それにより、投射装置１は、動作モードに関わらず、共通の電流制御によって、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３を駆動することができる。なお、この場合には、映像のちらつき（フリッカー）を抑制するため、所定期間Ｔを１４ｍｓ以下にすることが好ましい。
In addition, in this embodiment, when the operating mode is the image projection mode, the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 is constant, but this is not limited to the above. Even when the operating mode is the image projection mode, current may be supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 by the same current control as when the operating mode is the chromaticity measurement mode. This allows the
また、本実施の形態では、所定期間Ｔのうちの第２期間において、各レーザダイオードＬＤ１～ＬＤ３に供給される電流の電流値が一定である場合を例に説明したが、それには限定されず、一定でなくてもよい。但し、映像のちらつき（フリッカー）を抑制するためには、一定であることが好ましい。 In addition, in this embodiment, the current value of the current supplied to each of the laser diodes LD1 to LD3 during the second period of the predetermined period T is constant, but this is not limited to the above and does not have to be constant. However, it is preferable that the current value is constant in order to suppress flickering of the image.
さらに、本実施の形態では、色度Ｃ１２，Ｃ１３の測定や色度Ｃ１２＿ｉｎｉ，Ｃ１３＿ｉｎｉの測定が、間隔を空けずに連続して行われる場合を例に説明したが、それには限定されない。色度Ｃ１２，Ｃ１３の測定や色度Ｃ１２＿ｉｎｉ，Ｃ１３＿ｉｎｉの測定は、間隔を空けて順番に行われてもよい。それにより、投射装置１は、色度の測定が行われていない期間中に、光センサ１０及び光源光量算出ブロック３２による処理、光センサ１０と光源光量算出ブロック３２との間の通信、及び、測定結果の光量記憶部３５への保存処理、を実行することができる。
Furthermore, in the present embodiment, the measurement of chromaticity C12, C13 and the measurement of chromaticity C12_ini, C13_ini are performed continuously without any interval, but the present invention is not limited to this. The measurement of chromaticity C12, C13 and the measurement of chromaticity C12_ini, C13_ini may be performed sequentially with an interval. This allows the
なお、本開示は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。 Note that this disclosure is not limited to the above-described embodiment, and can be modified as appropriate without departing from the spirit and scope of the present disclosure.
また、本開示は、投射装置１における制御処理の一部又は全部を、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）にコンピュータプログラムを実行させることにより実現することが可能である。
In addition, this disclosure can realize some or all of the control processing in the
上述したプログラムは、コンピュータに読み込まれた場合に、実施形態で説明された１又はそれ以上の機能をコンピュータに行わせるための命令群（又はソフトウェアコード）を含む。プログラムは、非一時的なコンピュータ可読媒体又は実体のある記憶媒体に格納されてもよい。限定ではなく例として、コンピュータ可読媒体又は実体のある記憶媒体は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ－Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ－Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリ、ＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ－Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）又はその他のメモリ技術、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標）ディスク又はその他の光ディスクストレージ、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスクストレージ又はその他の磁気ストレージデバイスを含む。プログラムは、一時的なコンピュータ可読媒体又は通信媒体上で送信されてもよい。限定ではなく例として、一時的なコンピュータ可読媒体又は通信媒体は、電気的、光学的、音響的、またはその他の形式の伝搬信号を含む。 The above-mentioned program includes a set of instructions (or software code) that, when loaded into a computer, causes the computer to perform one or more functions described in the embodiments. The program may be stored on a non-transitory computer-readable medium or a tangible storage medium. By way of example and not limitation, computer-readable media or tangible storage media include RAM (Random-Access Memory), ROM (Read-Only Memory), flash memory, SSD (Solid-State Drive) or other memory technology, CD-ROM, DVD (Digital Versatile Disc), Blu-ray (registered trademark) disk or other optical disk storage, magnetic cassette, magnetic tape, magnetic disk storage or other magnetic storage device. The program may be transmitted on a temporary computer-readable medium or a communication medium. By way of example and not limitation, transitory computer-readable media or communication media include electrical, optical, acoustic, or other forms of propagated signals.
１ 投射装置
２ 光源部
３ 照明光学部
１０ 光センサ
１１ 光源
１２ 反射型偏光板
１３ 反射型光変調素子
１４ 投射光学系
１５ 被投射媒体
２０～２３ 光
３０ 映像処理部
３１ 表示素子駆動部
３２ 光源光量算出ブロック
３３ 光源駆動制御部
３４ 光源駆動部
３５ 光量記憶部
１１０ ミラー
１１１ フライアイレンズ
１１２ フライアイレンズ
１１３ 偏光変換素子
１１４ レンズ
１１５ 光分離器
１１６ ミラー
１１７ レンズ
１１８ 反射型偏光板
１１９ 反射型光変調素子
１２０ 光合成プリズム
１２１ ミラー
１２２ 色成分分離器
１２３ レンズ
１２４ 反射型偏光板
１２５ 反射型光変調素子
１２６ レンズ
１２７ 反射型偏光板
１２８ 反射型光変調素子
１２９ 投射光学系
５００ 光源
６００ 蛍光体ホイール
ＬＤ１～ＬＤ３ レーザダイオード
REFERENCE SIGNS
Claims (5)
前記光源から射出された光を検出する光センサと、
前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの光量を少なくとも算出する演算処理回路と、
を備え、
前記駆動回路は、
動作モードが映像投影モードの場合、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給し、
動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行し、
前記所定期間の処理では、前記第１期間において、前記複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して前記第１電流値の電流を供給し、且つ、前記第２期間において、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して前記第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給し、
前記演算処理回路は、各前記所定期間の前記第１期間における前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する、
光量測定装置。 a drive circuit for individually driving each of the plurality of semiconductor lasers included in the light source;
an optical sensor that detects light emitted from the light source;
a calculation circuit that calculates at least the amount of light from each of the semiconductor lasers based on a detection result by the optical sensor;
Equipped with
The drive circuit includes:
When the operation mode is an image projection mode, a current having a first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers;
When the operation mode is a light amount measurement mode, a process for a predetermined period constituted by a first period and a second period is periodically executed;
In the process for the predetermined period, during the first period, the plurality of semiconductor lasers are selected in order for each group of one or more semiconductor lasers, the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group is stopped, and a current of the first current value is supplied to the remaining unselected semiconductor lasers, and during the second period, a current of a second current value higher than the first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers;
the arithmetic processing circuit calculates the amount of light of each group of the plurality of semiconductor lasers based on a detection result by the optical sensor in the first period of each of the predetermined periods.
Light quantity measuring device.
請求項１に記載の光量測定装置。 when the operation mode is a light amount measurement mode, the drive circuit sets the second current value so that an average current value of a current supplied to each of the semiconductor lasers during the predetermined period is substantially equal to the first current value.
2. The light quantity measuring device according to claim 1.
前記光源から射出された光を、照射された光を映像データに基づき変調して反射させる反射型の光変調素子と、
前記光変調素子によって変調された光を射出する投射光学部と、
前記光源と前記光変調素子との間に前記光センサが設けられた請求項１に記載の光量測定装置と、
を備えた、投射装置。 The light source;
a reflective light modulation element that modulates the light emitted from the light source based on image data and reflects the light;
a projection optical unit that emits light modulated by the light modulation element;
The light quantity measuring device according to claim 1 , wherein the light sensor is provided between the light source and the light modulation element;
A projection device comprising:
前記光源から射出された光を検出する光センサと、
前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの光量を少なくとも算出する演算処理回路と、
を備えた光量測定装置による光量測定方法であって、
動作モードが映像投影モードの場合、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給し、
動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行し、
前記所定期間の処理では、前記第１期間において、前記複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して前記第１電流値の電流を供給し、且つ、前記第２期間において、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して前記第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給し、
各前記所定期間の前記第１期間における前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する、
光量測定方法。 a drive circuit for individually driving each of the plurality of semiconductor lasers included in the light source;
an optical sensor that detects light emitted from the light source;
a calculation circuit that calculates at least the amount of light from each of the semiconductor lasers based on a detection result by the optical sensor;
A light quantity measuring method using a light quantity measuring device comprising:
When the operation mode is an image projection mode, a current having a first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers;
When the operation mode is a light amount measurement mode, a process for a predetermined period constituted by a first period and a second period is periodically executed;
In the process for the predetermined period, during the first period, the plurality of semiconductor lasers are selected in order for each group of one or more semiconductor lasers, the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group is stopped, and a current of the first current value is supplied to the remaining unselected semiconductor lasers, and during the second period, a current of a second current value higher than the first current value is supplied to each of the plurality of semiconductor lasers;
calculating the light amount of each group of the plurality of semiconductor lasers based on the detection result by the optical sensor in the first period of each of the predetermined periods;
Light measurement method.
前記光源から射出された光を検出する光センサと、
前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの光量を少なくとも算出する演算処理回路と、
を備えた光量測定装置における光量測定処理をコンピュータに実行させる制御プログラムであって、
動作モードが映像投影モードの場合、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して第１電流値の電流を供給する処理と、
動作モードが光量測定モードの場合、第１期間及び第２期間によって構成される所定期間の処理を周期的に実行する処理と、
前記所定期間の処理では、前記第１期間において、前記複数の半導体レーザを一つ以上の半導体レーザの群ごとに順番に選択して、選択された群の半導体レーザに対する電流の供給を停止し、選択されていない残りの半導体レーザに対して前記第１電流値の電流を供給し、且つ、前記第２期間において、前記複数の半導体レーザのそれぞれに対して前記第１電流値よりも高い第２電流値の電流を供給する処理と、
各前記所定期間の前記第１期間における前記光センサによる検出結果に基づいて、前記複数の半導体レーザのそれぞれの群の光量を算出する処理と、
をコンピュータに実行させる制御プログラム。 a drive circuit for individually driving each of the plurality of semiconductor lasers included in the light source;
an optical sensor that detects light emitted from the light source;
a calculation circuit that calculates at least the amount of light from each of the semiconductor lasers based on a detection result by the optical sensor;
A control program for causing a computer to execute a light quantity measurement process in a light quantity measurement device comprising:
supplying a current of a first current value to each of the plurality of semiconductor lasers when the operation mode is an image projection mode;
When the operation mode is a light amount measurement mode, a process of periodically executing a process for a predetermined period constituted by a first period and a second period;
the processing for the predetermined period includes a process of selecting the plurality of semiconductor lasers in order for each group of one or more semiconductor lasers during the first period, stopping the supply of current to the semiconductor lasers of the selected group, and supplying a current of the first current value to the remaining unselected semiconductor lasers, and, during the second period, supplying a current of a second current value higher than the first current value to each of the plurality of semiconductor lasers;
calculating an amount of light from each group of the plurality of semiconductor lasers based on a detection result by the optical sensor in the first period of each of the predetermined periods;
A control program that causes a computer to execute the above.
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