JP2024025163A - 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム、プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】自動露出制御（ＡＥＣ）のための放射線の線量の検出において、グリッドの影響を低減する技術を提供する。【解決手段】放射線撮影装置は、放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、複数の画素の一部が放射線の照射量を検出するための検出画素として動作する放射線検出器を備える。ここで、前記放射線検出器には、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の検出画素が連続して配置された検出画素群が構成されている。放射線撮影装置は、検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減するる。【選択図】 図１

Description

本開示は、放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム、プログラムに関する。

Ｘ線に代表される放射線を被写体に照射し、被写体を透過した放射線をフラットパネルディテクタ（以下、ＦＰＤと呼ぶ）にて画像化する技術が医療分野で用いられている。また、近年では自動露出制御（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｅｘｐｏｓｕｒｅ Ｃｏｎｔｒｏｌ：ＡＥＣ）機能を内蔵する放射線撮影装置が実用化されている。ＡＥＣを有する放射線撮影装置は、照射中の放射線量を測定し、その結果に応じて放射線の照射を終了させるように制御を行うことができる。このような放射線撮影装置は、例えば、放射線検出用に設定された画素（以下、検出画素と呼ぶ）からの信号の読み出しを放射線照射中に高速に行うことによって放射線量をモニターする。

一方、放射線は被写体内部で散乱線を発生させる。そのため、散乱線を低減するためのグリッドを被写体とＦＰＤの間に配置し撮影を行う場合がある。グリッドは、鉛等の放射線遮蔽物質と、アルミニウムやカーボン等の放射線透過物質とを、所定の幅で交互に並べて構成される。このようなグリッドを装着した状態で検出画素により放射線量をモニターすると、グリッドの放射線遮蔽物質と検出画素とが重なることにより検出画素が検出する信号量に差が生じ、ＡＥＣの精度が低下するという課題がある。特許文献１では検出画素の配置周期とグリッドの放射線遮蔽物質との配置周期を異ならせることで、このような課題の改善を図っている。

特開２０１３－２３６９１８号公報 特開２０１４－１５０８４４号公報（実施形態で参照される）

特許文献１では、検出画素の配置周期に応じてグリッドの放射線遮蔽物質の配置周期（例えば、グリッド密度）が限定されるため、任意の配置周期に対応できないという課題がある。また、放射線遮蔽物質の配置周期と検出画素の配置周期とを異ならせるだけではグリッドの影響を十分に低減することはできず、十分な精度改善効果が得られない場合がある。

本開示は、自動露出制御（ＡＥＣ）のための放射線の線量の検出における散乱線低減用のグリッドの影響を低減することを目的とする。

本発明の一態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、
放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部が放射線の照射量を検出するための検出画素として動作する放射線検出器と、ここで、前記放射線検出器には、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の検出画素が連続して配置された検出画素群が構成されている放射線検出器と、
前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減手段と、を備える。

本開示によれば、自動露出制御（ＡＥＣ）のための放射線の線量の検出において、散乱線低減用のグリッドの影響が低減される。

実施形態による放射線撮影装置の構成例を示す図。 実施形態による放射線撮影システムの構成例を示す図。 実施形態による放射線撮影装置におけるＡＥＣの採光野を説明する図。 グリッドによる影響を説明する図。 実施形態による検出画素の配置例を説明する図。 実施形態による撮影制御装置が行う処理を示すフローチャート。 実施形態による放射線撮影装置が行う処理を示すフローチャート。 実施形態による較正部が行う処理を示すフローチャート。 実施形態による重み付け加算の効果を説明する図。

以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。

なお、以下では、医療画像の撮影においては一般に放射線としてＸ線が用いられるが、本開示における放射線は、これに限られるものではない。放射線崩壊によって放出される粒子（光子を含む）の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、これらと同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えば粒子線、宇宙線なども、本開示の放射線に含まれるものとする。

図１は実施形態に係る放射線撮影装置１００の構成例を示す図である。放射線撮影装置１００は、放射線を電気信号に変換する複数の画素が、複数の行及び複数の列を構成するように配列された検出領域を含む放射線検出器と、複数の駆動線１１０と、複数の信号線１２０とを有する。複数の駆動線１１０は、画素の複数の行に対応して配置されており、それぞれの駆動線１１０が何れか１つの画素行に対応する。複数の信号線１２０は、画素の複数の列に対応して配置されており、それぞれの信号線１２０が何れか１つの画素列に対応する。

複数の画素は、放射線画像を取得するために用いられる複数の撮影画素１０１と、放射線の照射量をモニターするために用いられる１つ以上の検出画素１０４とを含む。撮影画素１０１は、放射線を電気信号に変換する変換素子１０２と、信号線１２０及び変換素子１０２を互いに接続するスイッチ素子１０３と、を含む。検出画素１０４は、放射線を電気信号に変換する変換素子１０５と、信号線１２０及び変換素子１０５を互いに接続するスイッチ素子１０６と、を含む。検出画素１０４は、複数の撮影画素１０１によって構成される行及び列に含まれるように配置される。

変換素子１０２の第１電極は、スイッチ素子１０３の第１主電極に接続され、変換素子１０２の第２電極は、バイアス線１３０に接続される。バイアス線１３０は、列方向に延びていて、列方向に配列された複数の変換素子１０２の第２電極に共通に接続される。バイアス線１３０は、電源回路１４０からバイアス電圧Ｖｓを受ける。１つの列に含まれる撮影画素１０１のスイッチ素子１０３の第２主電極は、１つの信号線１２０に接続される。１つの行に含まれる撮影画素１０１のスイッチ素子１０３の制御電極は、１つの駆動線１１０に接続される。検出画素１０４も撮影画素１０１と同様の画素構成を有しており、駆動線１１０及び信号線１２０に接続される。

駆動回路１５０は、制御部１８０からの制御信号に従って、複数の駆動線１１０を通じて、駆動対象の画素に対して駆動信号を供給するように構成される。駆動信号は、駆動対象の画素に含まれるスイッチ素子をオンにするための信号である。本実施形態では、各画素のスイッチ素子は、ハイレベルの信号でオンとなり、ローレベルの信号でオフとなるため、このハイレベルの信号を駆動信号と呼ぶ。画素に駆動信号が供給されることによって、この画素の変換素子に蓄積された信号が読出し回路１６０によって読み出し可能な状態となる。なお、駆動線１１０のうち、検出画素１０４に接続されている駆動線１１０を、検出駆動線１１１とも呼ぶ。

図１では検出画素１０４と撮影画素１０１が共通の検出駆動線１１１に接続される構成としている。この構成では、回路構成がシンプルとなりコスト面で有利である。また、ＡＥＣを使用しない撮影では検出画素１０４を撮影画素として使用することも可能である。反面、ＡＥＣを使用する場合、検出駆動線１１１で接続された撮影画素１０１は撮影画素として使用できないため、欠損画素として扱う必要がある。そこで、検出画素と撮影画素を別の駆動線に接続し、両者を独立に制御可能な構成にしてもよい。この構成では回路構成が複雑になるが、検出画素を撮影画素から独立して制御できる。そのため、ＡＥＣを使用する場合でも、検出画素以外を欠損画素として扱う必要はなく全ての撮影画素を使用することが可能になる。また、撮影画素との配置関係を考慮する必要がないため、検出画素の配置の自由度も高いという利点がある。いずれの構成にせよ、放射線撮影装置１００は、放射線撮影のための複数の撮影画素を有し、それら複数の撮影画素の一部を放射線の照射量を検出するための検出画素として動作させることが可能な構成を有している。

読出し回路１６０は、複数の信号線１２０を通じて、複数の画素から信号を読み出すように構成される。読出し回路１６０は、複数の増幅部１６１と、マルチプレクサ１６２と、アナログデジタル変換器（以下、ＡＤ変換器と呼ぶ）１６３とを含む。複数の信号線１２０のそれぞれは、読出し回路１６０の複数の増幅部１６１のうち対応する増幅部１６１に接続される。１つの信号線１２０に１つの増幅部１６１が対応している。マルチプレクサ１６２は、複数の増幅部１６１を所定の順番で選択し、選択した増幅部１６１からの信号をＡＤ変換器１６３に供給する。ＡＤ変換器１６３は、マルチプレクサ１６２から供給された信号をデジタル信号に変換して出力する。

以上のようにして撮影画素１０１および検出画素１０４から読み出され、デジタル信号に変換された信号は、信号処理部１７０に供給される。撮影画素１０１から読み出される信号は、放射線画像の画素値として用いられ得る。検出画素１０４から読み出される信号は、放射線の線量の検出値として用いられ得る。信号処理部１７０は、演算部１７１、較正部１７２、及び記憶部１７３を含み、撮影画素１０１または検出画素１０４から読み出された信号を処理する。より具体的には、演算部１７１は、撮影画素１０１から読み出された信号（画素値）に基づいて放射線画像を生成し、記憶部１７３に記憶する。記憶部１７３に記憶された放射線画像は、制御部１８０により読み出され、通信Ｉ／Ｆ１８１を介して撮影制御装置２５０へ送られる。較正部１７２は、検出画素１０４から読み出された信号（放射線の線量の検出値）から散乱線低減用のグリッドの影響を低減するために、検出画素１０４から読み出された信号を較正する。演算部１７１は、較正部１７２によって較正された信号（検出値）に基づいて放射線撮影装置１００に対する放射線の照射を検出したり、放射線の積算照射量を決定したりする。演算部１７１は、決定された放射線の照射量を積算することにより、積算照射量を取得する。信号処理部１７０は、演算部１７１による放射線の照射の検出結果、放射線の積算照射量などの情報を制御部１８０に通知する。

制御部１８０は、信号処理部１７０からの情報に基づいて、駆動回路１５０及び読出し回路１６０を制御する。制御部１８０は、信号処理部１７０からの情報に基づいて、例えば、露出（撮影画素１０１による照射された放射線に対応する電荷の蓄積）の開始及び終了を制御することによりＡＥＣを実現する。また、放射線の照射量を決定するために、制御部１８０は、放射線撮影中に、駆動回路１５０と読出し回路１６０を制御して検出画素１０４による検出値を繰り返し取得する。検出値の取得において、制御部１８０は、駆動回路１５０を制御することによって、検出駆動線１１１を走査し、検出画素１０４の信号を読み出し可能な状態にする。次に、制御部１８０は、読出し回路１６０を制御することによって、検出画素１０４に対応する列の信号を読み出す。こうして、読出し回路１６０は、放射線の照射中に検出画素１０４から信号（検出値）を読み出すことができ、信号処理部１７０に放射線の照射量を示す情報として出力する。このような動作により、放射線撮影装置１００の信号処理部１７０は、検出画素１０４における照射情報（積算照射量）を放射線照射中に得ることができる。制御部１８０は、信号処理部１７０から通知される積算照射量を閾値と比較することで露出の終了を判断する。

グリッド検出部１９０は、放射線撮影装置１００に散乱線低減用のグリッドが装着されているか否かを検出する。制御部１８０は、グリッド検出部１９０によりグリッドが装着されていることが検出された場合に、較正部１７２が検出画素１０４からの検出値の較正を行うように制御する。

図２は、放射線撮影装置１００を含む放射線撮影システム２００の構成例を示す図である。放射線撮影システム２００は、図１を参照して上述した放射線撮影装置１００と、放射線源２０１と、放射線源制御装置２０２と、撮影制御装置２５０とを備える。撮影制御装置２５０は、通信Ｉ／Ｆ２５１、撮影処理部２５２、操作部２５３、表示器２５４を備える。撮影制御装置２５０は、例えば、１つまたは複数のプロセッサ（不図示）がＲＯＭ，ＲＡＭなどのメモリ（不図示）に格納された所定のプログラムを実行することにより、各部の動作を実現する情報処理装置である。通信Ｉ／Ｆ２５１は、放射線撮影装置１００及び放射線源制御装置２０２と、撮影制御装置２５０とを通信可能に接続する。通信Ｉ／Ｆ２５１と通信Ｉ／Ｆ１８１との通信は、無線でもよいし、有線でもよい。操作部２５３は、表示器２５４に操作画面を表示し、Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ（ＧＵＩ）を提供する。また、被写体２０６の撮影時において、撮影プロトコルにより指定される撮影部位に応じて放射線撮影装置１００の前面に散乱線低減用のグリッド２０５が配置される。なお、放射線撮影装置１００は、被写体の部位等応じた様々な種類のグリッドを用いて放射線撮影を行うことができる。

上述のような放射線撮影システム２００における、放射線撮影の動作について説明する。図６は、実施形態による撮影制御装置２５０の撮影動作を説明するフローチャートである。また、図７は、実施形態による放射線撮影装置１００の動作を説明するフローチャートである。

まず、撮影制御装置２５０の操作部２５３は、表示器２５４上にＧＵＩを提供し、ＧＵＩを介してなされる操作者の指示を受け付ける（Ｓ６０１）。操作者が、ＧＵＩを介して、予め用意された複数の撮影プロトコルの中から所望の１つを指定すると、撮影処理部２５２は、操作部２５３を介してこれを受け付ける（Ｓ６０２）。撮影プロトコルとは、所望の検査を行う際に使用される一連の動作パラメータセットであり、複数の撮影プロトコルを予め作成しておくことで、操作者はＧＵＩを介して、検査に応じた条件設定を簡便に行うことができる。撮影プロトコルには、様々な設定が紐付けされている。そのような設定は、例えば、撮影部位、撮影条件、グリッドの有無、使用されるグリッドの特性を示す情報（例えば、グリッド密度）などを含む。また、撮影条件は、管電圧、管電流、ＡＥＣ情報（例えば、露出終了判定の閾値となる線量、使用される採光野（後述））、照射上限時間、線量をモニターする関心領域などの情報を含む。なお、本実施形態では、撮影プロトコルに紐付けられた撮影条件を元に線量制御（管電圧及び管電流の制御、ＡＥＣ制御）が行われる。また、較正部１７２は、撮影プロトコルの情報に含まれているグリッド密度に基づいて検出画素の出力値を較正する（詳細は後述）。

次に、撮影処理部２５２は、ＧＵＩを介して撮影指示が行われたか否かを判断する（Ｓ６０３）。例えば、ＧＵＩ上のプロトコル選択ボタンが操作者により押下されると、撮影処理部２５２は撮影指示がなされたと判断する（Ｓ６０３でＹＥＳ）。この場合、撮影処理部２５２は、通信Ｉ／Ｆ２５１を介して開始要求信号と指定された撮影プロトコルの情報とを含む撮影指示を、外部の装置である放射線撮影装置１００および放射線源制御装置２０２に送信する（Ｓ６０４）。

放射線撮影装置１００は、撮影制御装置２５０から開始要求信号を受信すると、放射線の照射を受け入れる準備を開始する（図７）。より具体的には、制御部１８０は、外部の装置（例えば、撮影制御装置２５０）から開始要求信号と撮影プロトコルの情報とを受信する（Ｓ７０１）。制御部１８０は、撮影プロトコルの情報に含まれている採光野の情報に基づいて、ＡＥＣ機能のために使用する検出画素を選択する（Ｓ７０２）。採光野および採光野の選択については後述する。なお、検出画素として選択されていない画素は撮影画素として用いられる。その後、制御部１８０は、各画素のリセット動作など、放射線の照射に対する受け入れ準備を行い（Ｓ７０３）、準備が整ったら通信Ｉ／Ｆ２５１を介して、撮影制御装置２５０、放射線源制御装置２０２に開始可能信号を送信する（Ｓ７０４）。開始可能信号は、放射線の照射が可能であることを通知する信号である。その後、制御部１８０は、撮影開始を待つ（Ｓ７０５）。

図６に戻り、撮影制御装置２５０に外部の装置（放射線撮影装置１００）から開始可能信号が通知されると、操作部２５３は、表示器２５４によりレディー表示を行う（Ｓ６０５でＹＥＳ，Ｓ６０６）。操作者は、表示器２５４のレディー表示を確認した後、撮影タイミングを見計らって不図示の照射スイッチを押下する。開始可能信号の通知と照射スイッチの押下により（Ｓ６０７でＹＥＳ）、撮影処理部２５２は、放射線源制御装置２０２に放射線の照射開始を指示し、放射線撮影装置１００に放射線撮影の開始を指示する（Ｓ６０８）。放射線撮影装置１００が撮影を終えると、撮影制御装置２５０は放射線撮影装置１００から放射線画像を取得する（Ｓ６０９）。

放射線撮影装置１００の制御部１８０は、撮影が開始したと判断すると（Ｓ７０５でＹＥＳ）、撮影画素と検出画素による放射線撮影（放射線検出）を開始する（Ｓ７０６）。なお、放射線撮影装置１００は、照射スイッチの押下に応じた信号（Ｓ６０８における放射線撮影の開始の指示）により撮影動作を開始してもよいし、放射線源２０１から照射される放射線を検出することにより撮影動作を開始してもよい。放射線撮影が行われている間、制御部１８０は、所定のタイミングで検出画素から照射線量を表す検出値を取得し、積算するよう駆動回路１５０、読出し回路１６０、信号処理部１７０を制御する。すなわち、制御部１８０は、放射線撮影中にＡＥＣ情報を収集するための所定のタイミングになると（Ｓ７０７でＹＥＳ）、駆動回路１５０と読出し回路１６０を制御して検出画素の信号を読み取る。信号処理部１７０の較正部１７２は、読み取られた検出画素から得られる検出値を較正し、較正された検出値を取得する（Ｓ７０９）。なお、較正部１７２による検出値の較正処理の詳細は、図８のフローチャートにより後述する。演算部１７１は、較正部１７２により取得された、較正後の検出値を積算し、積算値を算出する（Ｓ７１０）。こうして、選択された採光野の検出画素により検出された線量の積算値が、信号処理部１７０（較正部１７２と演算部１７１）により得られる。

放射線撮影装置１００の制御部１８０は、Ｓ７１０で算出された積算値が撮影プロトコルの情報により指定されている線量の閾値に到達したか否かを判断する（Ｓ７１１）。積算値が閾値に到達していなければ（Ｓ７１１でＮＯ）、処理はＳ７０７に戻り、放射線野照射が継続する。他方、積算値が閾値に到達すると（Ｓ７１１でＹＥＳ）、制御部１８０は照射終了と判断し、通信Ｉ／Ｆ１８１を介して放射線源制御装置２０２に終了要求信号を送信する（Ｓ７１２）。放射線源制御装置２０２は、終了要求信号を受信したことに応じて、放射線源２０１による放射線の照射を終了させる。なお、線量の閾値として、撮影プロトコルに紐付いて設定された線量をそのまま用いているが、これに限られるものではない。例えば、撮影プロトコルに紐付いて設定された線量と、各ユニット間の通信遅延、処理遅延等に基づいて、制御部１８０が線量の閾値を決定するようにしてもよい。例えば、撮影プロトコルに紐付いた線量から、終了要求信号が放射線源制御装置２０２に到達するまでの遅延、及び、信号処理部１７０が演算等に要する遅延の間に照射される線量を差し引いて、線量の閾値が設定されてもよい。また、放射線の照射時間が撮影プロトコルに紐付いている照射上限時間に達した場合、放射線源制御装置２０２は放射線撮影装置１００からの終了要求信号を待たずに放射線源２０１による放射線の照射を停止する。

放射線の照射停止後、放射線撮影装置１００では、制御部１８０が撮影画素の信号を読み取るよう制御する（Ｓ７１３）。すなわち、制御部１８０は、駆動回路１５０により検出画素１０４が接続されていない駆動線１１０（検出駆動線１１１以外の駆動線１１０）を順次走査し、読出し回路１６０により撮影画素１０１からの画像信号を読み出す。この動作により、放射線撮影装置１００は放射線画像を取得する。検出画素１０４に蓄積された電荷は放射線の照射中にすでに読み出されており、これらの画素からの信号は放射線画像の形成に使用できない。そこで、放射線撮影装置１００の信号処理部１７０（演算部１７１）は、検出駆動線１１１に接続された画素を欠損画素として扱い、これらの補正を行う（Ｓ７１４）。なお、欠損画素の補正方法については周知の技術を用いることができ、特に限定されない。例えば、欠損画素ではない周囲の正常画素の値から補間によって欠損画素の値が算出することにより欠損画素を補正する方法、線形予測などを用いて周辺の統計的な性質から欠損画素の値を推定し、補正する方法等を用いることができる。信号処理部１７０は、欠陥画素が補正された放射線画像を記憶部１７３に記憶し、制御部１８０は、記憶部１７３に記憶された放射線画像を通信Ｉ／Ｆを介して撮影制御装置２５０に送信する（Ｓ７１５）。

次に、本実施形態の採光野について説明する。図３は、本実施形態の放射線撮影装置１００に配置される採光野３００ａ～３００ｅ（以下、総称する場合は採光野３００と称する）の一例を示す。採光野３００は、複数の検出画素が配置された領域として定義される。本実施形態の放射線撮影装置１００には、５つの矩形の採光野３００ａ～３００ｅが設けられている。上述したように、撮影プロトコルの情報にはＡＥＣに使用する採光野３００の情報が含まれている。例えば、撮影プロトコルの情報により採光野３００ａ～３００ｃをＡＥＣに使用するように指定された場合、採光野３００ｄと採光野３００ｅ内の検出画素は、ＡＥＣに用いられない。ＡＥＣに用いられない採光野３００ｄ、３００ｅの検出画素は、通常の撮影画素として用いることができる。なお、ＡＥＣに用いられる採光野の選択は、撮影プロトコルの選択により自動的になされてもよいし、操作者がＧＵＩを介して明示的に行えるようにしてもよい。

ＡＥＣに使用する採光野３００内に配置されている複数の検出画素１０４によって撮影中の放射線の線量が検出され、ＡＥＣが行われる。また、採光野３００の配置方法は様々ある。例えば、放射線撮影装置１００の中心に対して採光野３００を対称に配置することにより、放射線の線量の検出における放射線撮影装置１００の向きの影響が解消または低減される。また、採光野３００自体の形状も図示のような矩形形状（正方形や長方形）に限られるものではなく、円形、楕円形であっても良いし、撮影部位の形状に沿うような形状であっても良い。

放射線撮影装置１００のＡＥＣ機能は、採光野３００内に配置された複数の検出画素の出力を放射線照射中に読み出すことで、採光野３００に照射された線量を検出する。採光野３００内の撮影画素の出力が照射された線量に相当し、採光野３００内の撮影画素の平均出力と照射中に読み出した検出画素１０４の平均出力が同等であれば、ＡＥＣによる撮影中の線量制御が精度よく行えることになる。しかしながら、放射線撮影装置１００にグリッド２０５を装着して撮影をする場合、放射線撮影装置１００における画素のサンプリングピッチ（画素サイズ）と、グリッド２０５のグリッド密度との関係により検出画素の出力が偏る場合がある。

図４は、グリッドの影響を例示した図である。グリッド構造４００は放射線遮蔽物質と放射線透過物質とが横方向に交互に並べて配置された、グリッド２０５の構造を示している。このようなグリッド構造４００を有するグリッド２０５を用いて撮影される放射線画像には、縦縞（以下、この縞をグリッド縞と呼ぶ）が生じる。これは、グリッド２０５の放射線遮蔽物質と重なる画素４０１では到達する放射線の線量が減少するのに対し、放射線透過物質と重なる画素４０２では到達する放射線の線量がほぼ維持されるためである。すなわち、放射線遮蔽物質と重なる画素４０１の出力が、放射線透過物質と重なる画素４０２の出力に対し、相対的に低下するため、検出画素１０４の位置によって出力がばらつくことになる。このばらつきは、多数の検出画素１０４の出力値から平均を求めることで緩和させることが可能である。しかしながら、検出画素１０４は撮影画像における欠損画素となるため、できるだけ少数の検出画素１０４から撮影画素の平均出力に近い値を算出することが望ましい。

そこで、本実施形態では、較正部１７２は、検出画素群５００を構成する複数の検出画素１０４から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する（以下、検出値の較正ともいう）。より具体的には、較正部１７２は、グリッド縞に関する周波数成分を低減するフィルタ特性を有するフィルタ処理を用いることにより、検出画素１０４の検出値のグリッド縞に関する周波数成分を低減する。例えば、本実施形態では、図５（ａ）に示されるように、斜め方向に３つの検出画素が連続した検出画素群５００が複数個配置された採光野３００が用いられる。較正部１７２は、それら連続する３画素から得られる信号を重み付け加算することにより検出値を較正し、グリッド縞の影響を低減する。以下、図８のフローチャートに従って、本実施形態による較正部１７２の、グリッド縞の影響を低減する処理について説明する。図８は、較正部１７２が、検出画素群により検出される線量を算出する処理を示すフローチャートであり、上述したＳ７０９の処理の詳細を示す。なお、図８のフローチャートを用いた説明では、Ｓ７０２で特定された採光野（ＡＥＣに用いるべく選択された採光野）に属する検出画素群５００（図５（ａ））の合計がＮ個であるとしている。また、それぞれの検出画素群５００に配置された３つの検出画素１０４からの出力をそれぞれ、図５（ｂ）に示したようにＶ_１、Ｖ_２、Ｖ_３と表記する。

上述の如く、放射線照射中（撮影中）にリアルタイムに検出画素１０４から読み出された信号は、信号処理部１７０に照射量の検出値として供給され、較正部１７２にて較正される。較正された検出値は、演算部１７１にて積算され、積算値が閾値に到達した場合は照射を停止するための動作を開始する。以下、較正部１７２による検出値の較正について説明する。較正部１７２は、まず、放射線撮影装置１００にグリッドが装着されているか否かを判定する（Ｓ８００）。グリッドが装着されているか否かは、例えば、撮影プロトコルの情報を参照することにより判断され得る。或いは、グリッド検出部１９０のグリッド検出結果によりグリッドが装着されているか否かが判断されてもよい。グリッドが装着されている判定された場合（Ｓ８００でＹＥＳ）、較正部１７２は、放射線撮影装置１００のサンプリングピッチ（ｍｍ）と、使用されるグリッド２０５のグリッド密度（本／ｃｍ）とから、較正に用いる重み係数ａ、ｂを算出する（Ｓ８０１）。重み係数ａ、ｂの詳細については、後述する。なお、グリッド２０５のグリッド密度は、撮影プロトコルの情報に含まれているので、較正部１７２はこれを用いる。他方、グリッドが装着されていないと判定された場合（Ｓ８００でＮＯ）、較正部１７２は、後述のＳ８０４にて重み付か加算による較正を行わない。この場合、較正部１７２は、後述の（３）式により、検出画素群を構成する３個の検出画素から得られる検出値の平均値を計算するために、係数ａ、ｂを１／３に設定する（Ｓ８１０）。

Ｓ８０１では、較正部１７２は、グリッド２０５の影響を低減するように、重み付け加算に用いる重み係数を決定する。重み係数の決定方法の一例を以下に説明する。図９（ａ）に示したように、グリッド縞と直交する方向の振幅スペクトルは、ある単一の周波数（図９では９０１）に集約する性質を持つ。そこで、この周波数成分を低減するように重み係数が設定される。例えば、３画素の重み付け加算（フィルタ処理）のための重み係数（フィルタ係数）を（ｂ，ａ，ｂ）とする場合、以下の（１）式によって重み係数ａ、ｂを算出することができる。

ただし、Ｇはグリッド密度（本／ｃｍ）を表し、Ｓは画素のサンプリングピッチ（ｍｍ）を表す。

ここで、（１）式による重み係数（ｂ，ａ，ｂ）のフィルタ特性の振幅応答は、図９（ｂ）に示したように、グリッド２０５に起因して放射線画像に現れるグリッド縞の周波数（グリッド周波数）と同じ周波数９０２の近傍で小さくなる（略０となる）。そのため、（１）式により得られる重み係数を用いて検出画素群５００から得られる値を重み付け加算（フィルタ処理）することで、グリッド縞の影響を低減することができる。このように、較正部１７２は、検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値を、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞の周波数における出力を低減するフィルタ処理を用いて較正する。図９（ｃ）は、検出画素群の較正前の出力値９０３と３画素の重み付け加算で較正した後の検出画素群の出力値９０４の例を示す。較正後の出力値９０４では、グリッド縞による出力値の揺らぎが低減されており、検出画素１０４の位置によらず安定した出力値を得ることができていることがわかる。

なお、（１）式ではグリッド密度とサンプリングピッチから重み係数を算出したが、画像上のグリッド周波数ｆｇ（ｒａｄ／ｓａｍｐｌｅ）から、下記の（２）式により重み係数ａ、ｂを算出するようにしても良い。

ここで、グリッド周波数ｆｇは、撮影制御装置２５０が放射線撮影装置１００を用いてグリッド２０５のみを撮影した放射線画像からあらかじめ算出しておき、撮影プロトコルの情報に含めて放射線撮影装置１００に通知する。撮影制御装置２５０は、撮影プロトコルの情報にグリッド周波数ｆｇを含めて放射線撮影装置１００に通知する。図６のＳ６１０～Ｓ６１３は、グリッド周波数ｆｇを測定するための処理を示している。表示器２５４に提供されたＧＵＩを介して操作者がグリッド周波数の測定の指示を行うと、撮影処理部２５２は、操作部２５３を介してこれを受け付ける（Ｓ６１０）。撮影処理部２５２は、通信Ｉ／Ｆ２５１を介して、グリッド周波数を測定するための撮影指示を放射線撮影装置１００と放射線源制御装置２０２に送信する（Ｓ６１１）。このとき、撮影プロトコルの情報は、全ての画素を撮影画素として用いるように、全ての採光野を使用しない設定とする指示を含む。その後、上述したＳ６０５～Ｓ６０８により放射線撮影を実行し、グリッド周波数ｆｇを算出するための放射線画像を放射線撮影装置１００から得る（Ｓ６１２）。撮影処理部２５２は、Ｓ６１２により取得された放射線画像からグリッド周波数ｆｇを計算する（Ｓ６１３）。

なお、グリッド周波数ｆｇの算出方法には、周知の方法を用いることができ、特に限定するものではない。例えば、本出願人より既に出願している特許文献２の方法を用いることができる。この方法は、定めた測定領域のパワースペクトルの比較によりグリッドの有無、方向、および周波数を検出するものであるが、詳細は特許文献２にて公知であるためここでは説明を省略する。なお、グリッド密度の情報に基づいてグリッド周波数を計算することも可能であるが、実際の撮影画像から計算した方がより高い精度でグリッド周波数を得ることができる。

図８に戻り、較正部１７２は、Ｓ８０２～Ｓ８０５の処理を、撮影プロトコルの情報によりＡＥＣに使用することが指定されている採光野（Ｓ７０２で選択された採光野）に属する全ての検出画素群（以下、その総数をＮとする）について行う。較正部１７２は、まず、ｉを０に初期化し（Ｓ８０２）、ｉがＮ未満の場合（Ｓ８０３でＹＥＳ）、ｉ番目の検出画素群から重み付け加算した値Ｍ_ｉを以下の（３）式により算出する（Ｓ８０４）。

なお、Ｓ８００でグリッドが無いと判定された場合は、Ｓ８１０で係数ａとｂに１／３が設定されているため、（３）式により３つの検出画素から得られる検出値（Ｖ_１、Ｖ_２、Ｖ_３）の単純な平均値がＭ_ｉとして算出されることになる。次に、較正部１７２は、ｉをインクリメントし（Ｓ８０５）、ｉがＮ未満の間（Ｓ８０３でＹＥＳと判定される間）、すなわち全ての検出画素群での算出が完了するまで、Ｓ８０４の処理を繰り返す。Ｓ７０２で選択された採光野に属する全ての検出画素群（Ｎ個の検出画素群）についてＭ_ｉが算出されると（Ｓ８０３でＮＯ）、較正部１７２は、Ｓ８０４で算出されたＮ個の値Ｍ_ｉの平均値Ｖを下記の（４）式により算出する（Ｓ８０６）。較正部１７２は、使用することが設定されている採光野ごとに平均値Ｖを算出し、演算部１７１に提供する。

演算部１７１は、較正部１７２から提供された値Ｖを累積して、照射線量に対応する検出値の累積値を得る（Ｓ７１０）。そして、制御部１８０は、この累積値と閾値と比較し、累積値が閾値を越えると、放射線源２０１による放射線照射を停止するための制御（終了要求信号の出力）を行う（Ｓ７１１、Ｓ７１２）。なお、上記では、ＡＥＣに用いられる採光野に属する全ての検出画素から得られる検出値を平均した値を累積したがこれに限られるものではない。例えば、選択された採光野ごとに較正された検出値の平均値を取得し、採光野ごとの累積値を算出するようにしてもよい。この場合、ＡＥＣに使用される採光野のうち、所定数以上の採光野に関して累積値が閾値を越えた場合に、照射終了と判定するようにしてもよい。

なお、本実施形態では、検出画素群５００における検出画素の配置を図５（ｂ）として説明したが、これに限られるものではない。例えば、図５（ｃ）の検出画素群５００ａのように、検出画素群５００とは異なる方向へ斜めに検出画素が連続していてもよい。また、検出画素群５００と検出画素群５００ａが混在してもよい。

さらに、図５（ｄ）や図５（ｅ）のように検出画素が行方向または列方向に３つの検出画素が連続した検出画素群５００ｂ、５００ｃを用いても上記処理を適用可能である。ただし、図５（ｄ）の、行方向に検出画素が並ぶ検出画素群５００ｂではグリッド縞が縦縞の場合に較正が可能である。また、図５（ｅ）の、列方向に検出画素が並ぶ検出画素群５００ｃではグリッド縞が横縞の場合に較正が可能である。従って、縦、横の両方向のグリッド縞に対応できる、対角方向に検出画素が並ぶ検出画素群５００、５００ａ（図５（ｂ）、図５（ｃ））の方が好適であるといえる。また、図５（ｄ）と図５（ｅ）の並びを組み合わせて十字型に検出画素が配置されてもよい。この場合、横方向の検出画素群と縦方向の検出画素群のそれぞれに上述した重み付け加算を行って２つの検出値を取得し、それらの平均値を十字型の検出画素群の検出値とすればよい。

また、その他の配置として図５（ｆ）のように３×３画素全てを検出画素１０４とする検出画素群５００ｄを用いることも可能である。この場合は、上述で求めた重み係数ａ、ｂを用いて、例えば下記の（５）式による重み付け加算を行えば良い。なお、（５）式では、連続する３行３列の検出画素の出力値をＶ_ｋ，ｌ（ｋ＝１，２，３、ｌ＝１，２，３）、グリッド密度をＧ（本／ｃｍ）、サンプリングピッチをＳ（ｍｍ）としている。

また、連続する検出画素の数は、３個に限られるものではなく、４個以上であってもよい。すなわち、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に３つ以上の検出画素が連続して配置されて検出画素群が構成されればよい。４つ以上の検出画素からなる検出画素群の場合は、上記の思想の拡張により重みづけ加算を行えばよい。例えば、図５（ｇ）に示されるような、４つの検出画素からなる検出画素群５００ｅの場合（それぞれの検出画素から得られる値をＶ_１～Ｖ_４とする）、次のように重み加算値が計算され得る。すなわち、Ｖ_１～Ｖ_３と上記重み係数ａ、ｂを用いて得られる重み加算値と、Ｖ_２～Ｖ_４と上記重み係数ａ、ｂを用いて得られる重み加算値との平均を計算し（式（６））、検出画素群５００ｅの重み加算値とする。

なお、較正部１７２は、重み係数の算出（Ｓ８０１）において、グリッドの特性を示す情報（グリッド密度またはグリッド周波数）を撮影プロトコルの情報から取得するが、本開示はこれに限られるものではない。例えば、グリッド検出部１９０が使用されるグリッド２０５を識別する機能を有し、較正部１７２はグリッド検出部１９０による識別結果に基づいてグリッド密度を取得するようにしてもよい。この場合、例えば、グリッドの識別情報とグリッド密度とを対応付けたテーブルを記憶部１７３に記憶しておき、較正部１７２はこのテーブルを参照してグリッド密度を取得するようにしてもよい。なお、グリッド２０５の識別情報が、グリッドの特性を示す情報の一部として、撮影プロトコルの情報から得られるようにしてもよい。或いは、撮影制御装置２５０から重み係数そのものが放射線撮影装置１００に通知されるようにしてもよい。その場合、撮影制御装置２５０は、放射線撮影装置１００に送る撮影プロトコルの情報に重み係数ａ、ｂを含ませる。また、その場合、撮影制御装置２５０は、使用されるグリッド２０５のグリッド密度と放射線撮影装置１００のサンプリングピッチとに基づいて、或いは、Ｓ６１３で取得されたグリッド周波数に基づいて、上述した方法で重み係数ａ、ｂを取得する。

以上のように、本開示の技術によれば、グリッド密度に応じて検出画素の出力を重み付け加算することで、グリッドの影響を低減し、ＡＥＣの精度を向上することができる。

本開示は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

本明細書の開示は、以下の放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法及びプログラムを含む。
項目１．
放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部が放射線の照射量を検出するための検出画素として動作する放射線検出器と、ここで、前記放射線検出器には、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の検出画素が連続して配置された検出画素群が構成されている放射線検出器と、
前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減手段と、を備える放射線撮影装置。
項目２．
前記低減手段は、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減するフィルタ特性を有するフィルタ処理を用いることにより、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減する、項目１に記載の放射線撮影装置。
項目３．
前記低減手段は、前記グリッドの特性を示す情報に基づいて前記フィルタ処理のための重み係数を取得する、項目２に記載の放射線撮影装置。
項目４．
前記低減手段は、前記グリッドの特性を示す情報を外部の装置から取得する、項目３に記載の放射線撮影装置。
項目５．
前記グリッドの特性を示す情報は、前記グリッドの識別情報を含み、
前記低減手段は、前記グリッドの識別情報に基づいて前記重み情報を取得する、項目３または４に記載の放射線撮影装置。
項目６．
前記グリッドの特性を示す情報は、前記グリッドのグリッド密度を含み、
前記低減手段は、前記グリッドのグリッド密度と前記放射線検出器のサンプリングピッチとに基づいて前記重み係数を取得する、項目３または４に記載の放射線撮影装置。
項目７．
前記検出画素群は、行方向、列方向、対角方向の何れか一つの方向に連続する３つの検出画素で構成され、
前記低減手段は、前記３つの検出画素の出力値をＶ_ｋ（ｋ＝１，２，３）、前記グリッド密度をＧ（本／ｃｍ）、前記サンプリングピッチをＳ（ｍｍ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、

により取得する、項目６に記載の放射線撮影装置。
項目８．
前記検出画素群は、連続する３行３列の検出画素で構成され、
前記低減手段は、前記３行３列の検出画素の出力値をＶ_ｋ，ｌ（ｋ＝１，２，３、ｌ＝１，２，３）、前記グリッド密度をＧ（本／ｃｍ）、前記サンプリングピッチをＳ（ｍｍ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、

により取得する、項目６に記載の放射線撮影装置。
項目９．
前記グリッドの特性を示す情報は、前記グリッドに起因して放射線画像に現れるグリッド縞の周波数であるグリッド周波数を含み、
前記低減手段は、前記グリッド周波数に基づいて前記重み係数を取得する、項目３または４に記載の放射線撮影装置。
項目１０．
前記検出画素群は、行方向、列方向、対角方向の何れか一つの方向に連続する３つの検出画素で構成され、
前記低減手段は、前記３つの検出画素の出力値をＶ_ｋ（ｋ＝１，２，３）、前記グリッド周波数をｆｇ（ｒａｄ／ｓａｍｐｌｅ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、

により取得する、項目９記載の放射線撮影装置。
項目１１．
前記検出画素群は、連続する３行３列の検出画素を備え、
前記低減手段は、前記３行３列の検出画素の出力値をＶ_ｋ，ｌ（ｋ＝１，２，３、ｌ＝１，２，３）、前記グリッド周波数をｆｇ（ｒａｄ／ｓａｍｐｌｅ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、

により取得する、項目９に記載の放射線撮影装置。
項目１２．
前記低減手段は、前記フィルタ処理のための重み係数を外部の装置から取得する、項目２に記載の放射線撮影装置。
項目１３．
１つまたは複数の前記検出画素群を有する領域が採光野として定義され、
前記低減手段は、前記採光野に属している全ての前記検出画素群からの検出値について前記グリッド縞に関する周波数成分を低減する処理を行い、平均することにより、前記採光野による検出値を得る、項目１乃至１２のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
項目１４．
複数の前記採光野から少なくとも１つの採光野を選択する選択手段をさらに備え、
前記低減手段は、前記選択されたすべての採光野に属している全ての検出画素からの検出値について、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減し、平均することにより、前記選択された採光野による検出値を得る、項目１３に記載の放射線撮影装置。
項目１５．
複数の前記採光野から少なくとも１つの採光野を選択する選択手段をさらに備え、
前記低減手段は、前記選択された採光野ごとに、採光野に属している全ての検出画素からの検出値について前記グリッド縞に関する周波数成分を低減し、平均することにより、前記選択された採光野ごとの検出値を得る、項目１３に記載の放射線撮影装置。
項目１６．
グリッドを使用するか否かを判定する判定手段をさらに備え、
前記低減手段は、グリッドが使用しないと判定された場合は、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減する処理を実施しない、項目１乃至１５のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
項目１７．
前記低減手段により前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値に基づいて、自動露出制御のための積算照射量を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記積算照射量が閾値を越える場合に、放射線の照射の停止を要求する信号を出力する出力手段と、をさらに備える項目１乃至１６のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
項目１８．
前記複数の画素から、前記検出画素および前記検出画素と同じ行に接続されている画素を除いた複数の撮影画素から放射線画像を取得する取得手段と、
前記検出画素が接続されている行に対応する画像を、前記放射線画像に基づいて補間する補間手段と、をさらに備える項目１乃至１７のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
項目１９．
放射線撮影装置と、前記放射線撮影装置に接続される情報処理装置と、を有する放射線撮影システムであって、
前記放射線撮影装置は、放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部を放射線の照射量を検出するための検出画素として動作させる放射線検出器を備え、ここで、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の前記検出画素が連続して配置された検出画素群が構成され、
前記放射線撮影システムは、
前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減手段と、
前記低減手段により前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値に基づいて、自動露出制御のための積算照射量を取得する取得手段と、
前記積算照射量に基づいて放射線の照射を終了させる露出制御手段と、を備える放射線撮影システム。
項目２０．
放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部が放射線の照射量を検出するための検出画素として動作する放射線検出器を有する放射線撮影装置の制御方法であって、
前記放射線検出器には、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の検出画素が連続して配置された検出画素群が構成され、
前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減工程を備える放射線撮影装置の制御方法。
項目２１．
項目１乃至１８のいずれか１項に記載された放射線撮影装置の各手段としてコンピュータを機能させるためのプログラム。

開示は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。

２００：放射線撮影システム、１００：放射線撮影装置、２０１：放射線源、２０２：放射線源制御装置、２５０：撮影制御装置、２５１：通信Ｉ／Ｆ、２５２：撮影処理部、２５３：操作部、２５４：表示器、２０５：グリッド、２０６：被写体

Claims (21)

1. 放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部が放射線の照射量を検出するための検出画素として動作する放射線検出器と、ここで、前記放射線検出器には、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の検出画素が連続して配置された検出画素群が構成されている放射線検出器と、
   前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減手段と、を備える放射線撮影装置。
2. 前記低減手段は、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減するフィルタ特性を有するフィルタ処理を用いることにより、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減する、請求項１に記載の放射線撮影装置。
3. 前記低減手段は、前記グリッドの特性を示す情報に基づいて前記フィルタ処理のための重み係数を取得する、請求項２に記載の放射線撮影装置。
4. 前記低減手段は、前記グリッドの特性を示す情報を外部の装置から取得する、請求項３に記載の放射線撮影装置。
5. 前記グリッドの特性を示す情報は、前記グリッドの識別情報を含み、
   前記低減手段は、前記グリッドの識別情報に基づいて前記重み情報を取得する、請求項３に記載の放射線撮影装置。
6. 前記グリッドの特性を示す情報は、前記グリッドのグリッド密度を含み、
   前記低減手段は、前記グリッドのグリッド密度と前記放射線検出器のサンプリングピッチとに基づいて前記重み係数を取得する、請求項３に記載の放射線撮影装置。
7. 前記検出画素群は、行方向、列方向、対角方向の何れか一つの方向に連続する３つの検出画素で構成され、
   前記低減手段は、前記３つの検出画素の出力値をＶ_ｋ（ｋ＝１，２，３）、前記グリッド密度をＧ（本／ｃｍ）、前記サンプリングピッチをＳ（ｍｍ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、
   

   

   により取得する、請求項６に記載の放射線撮影装置。
8. 前記検出画素群は、連続する３行３列の検出画素で構成され、
   前記低減手段は、前記３行３列の検出画素の出力値をＶ_ｋ，ｌ（ｋ＝１，２，３、ｌ＝１，２，３）、前記グリッド密度をＧ（本／ｃｍ）、前記サンプリングピッチをＳ（ｍｍ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、
   

   

   により取得する、請求項６に記載の放射線撮影装置。
9. 前記グリッドの特性を示す情報は、前記グリッドに起因して放射線画像に現れるグリッド縞の周波数であるグリッド周波数を含み、
   前記低減手段は、前記グリッド周波数に基づいて前記重み係数を取得する、請求項３に記載の放射線撮影装置。
10. 前記検出画素群は、行方向、列方向、対角方向の何れか一つの方向に連続する３つの検出画素で構成され、
    前記低減手段は、前記３つの検出画素の出力値をＶ_ｋ（ｋ＝１，２，３）、前記グリッド周波数をｆｇ（ｒａｄ／ｓａｍｐｌｅ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、
    

    

    により取得する、請求項９記載の放射線撮影装置。
11. 前記検出画素群は、連続する３行３列の検出画素を備え、
    前記低減手段は、前記３行３列の検出画素の出力値をＶ_ｋ，ｌ（ｋ＝１，２，３、ｌ＝１，２，３）、前記グリッド周波数をｆｇ（ｒａｄ／ｓａｍｐｌｅ）とした場合に、前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値であるＶを、
    

    

    により取得する、請求項９に記載の放射線撮影装置。
12. 前記低減手段は、前記フィルタ処理のための重み係数を外部の装置から取得する、請求項２に記載の放射線撮影装置。
13. １つまたは複数の前記検出画素群を有する領域が採光野として定義され、
    前記低減手段は、前記採光野に属している全ての前記検出画素群からの検出値について前記グリッド縞に関する周波数成分を低減する処理を行い、平均することにより、前記採光野による検出値を得る、請求項１に記載の放射線撮影装置。
14. 複数の前記採光野から少なくとも１つの採光野を選択する選択手段をさらに備え、
    前記低減手段は、前記選択されたすべての採光野の少なくとも何れかに属している全ての検出画素からの検出値について、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減し、平均することにより、前記選択された採光野による検出値を得る、請求項１３に記載の放射線撮影装置。
15. 複数の前記採光野から少なくとも１つの採光野を選択する選択手段をさらに備え、
    前記低減手段は、前記選択された採光野ごとに、採光野に属している全ての検出画素からの検出値について前記グリッド縞に関する周波数成分を低減し、平均することにより、前記選択された採光野ごとの検出値を得る、請求項１３に記載の放射線撮影装置。
16. グリッドを使用するか否かを判定する判定手段をさらに備え、
    前記低減手段は、グリッドが使用しないと判定された場合は、前記グリッド縞に関する周波数成分を低減する処理を実施しない、請求項１に記載の放射線撮影装置。
17. 前記低減手段により前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値に基づいて、自動露出制御のための積算照射量を取得する取得手段と、
    前記取得手段により取得された前記積算照射量が閾値を越える場合に、放射線の照射の停止を要求する信号を出力する出力手段と、をさらに備える請求項１に記載の放射線撮影装置。
18. 前記複数の画素から、前記検出画素および前記検出画素と同じ行に接続されている画素を除いた複数の撮影画素から放射線画像を取得する取得手段と、
    前記検出画素が接続されている行に対応する画像を、前記放射線画像に基づいて補間する補間手段と、をさらに備える請求項１に記載の放射線撮影装置。
19. 放射線撮影装置と、前記放射線撮影装置に接続される情報処理装置と、を有する放射線撮影システムであって、
    前記放射線撮影装置は、放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部を放射線の照射量を検出するための検出画素として動作させる放射線検出器を備え、ここで、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の前記検出画素が連続して配置された検出画素群が構成され、
    前記放射線撮影システムは、
    前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減手段と、
    前記低減手段により前記グリッド縞に関する周波数成分が低減された検出値に基づいて、自動露出制御のための積算照射量を取得する取得手段と、
    前記積算照射量に基づいて放射線の照射を終了させる露出制御手段と、を備える放射線撮影システム。
20. 放射線を電気信号に変換する複数の画素を有し、前記複数の画素の一部が放射線の照射量を検出するための検出画素として動作する放射線検出器を有する放射線撮影装置の制御方法であって、
    前記放射線検出器には、行方向、列方向、対角方向の少なくとも何れか一つの方向に複数の検出画素が連続して配置された検出画素群が構成され、
    前記検出画素群を構成する複数の検出画素から得られる放射線の照射量の検出値に含まれる、散乱線低減用のグリッドにより生じるグリッド縞に関する周波数成分を低減する低減工程を備える放射線撮影装置の制御方法。
21. 請求項１乃至１８のいずれか１項に記載された放射線撮影装置の各手段としてコンピュータを機能させるためのプログラム。

Images