JP2023121721A - Heat treatment device, and heat treatment method - Google Patents

Heat treatment device, and heat treatment method Download PDF

Info

Publication number
JP2023121721A
JP2023121721A JP2022200930A JP2022200930A JP2023121721A JP 2023121721 A JP2023121721 A JP 2023121721A JP 2022200930 A JP2022200930 A JP 2022200930A JP 2022200930 A JP2022200930 A JP 2022200930A JP 2023121721 A JP2023121721 A JP 2023121721A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heating
heat treatment
chamber
work
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022200930A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
崇史 高橋
Takashi Takahashi
明典 磯
Akinori Iso
真 武藤
Makoto Muto
哲明 木村
Tetsuaki Kimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to CN202310051976.0A priority Critical patent/CN116618260A/en
Priority to KR1020230014927A priority patent/KR20230125742A/en
Priority to TW112103978A priority patent/TWI819961B/en
Priority to TW112134752A priority patent/TW202403939A/en
Publication of JP2023121721A publication Critical patent/JP2023121721A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Drying Of Solid Materials (AREA)

Abstract

To provide a heat treatment device and a heat treatment method capable of maintaining cleanliness in a chamber and improving the quality of a work-piece without lowering productivity.SOLUTION: A heat treatment device 1 according to an embodiment of the present invention, comprises a chamber 10 capable of maintaining an atmosphere of a reduced pressure relative to the atmospheric pressure, an exhaust unit 40 connected to the chamber 10 to exhaust air present in the chamber 10, a support unit 30 supporting work-pieces W stored in the chamber 10, heating units 50 carrying out first heating of heating the work-pieces W with the work-pieces W being in a supported state by the support unit 30 and carrying out second heating of heating the inside of the chamber 10 with the work-pieces W being in an unsupported state by the support unit 30 at a higher rate of raising temperature than the first heating, and gas feeding units 60 feeding gas into the chamber to carry out cooling subsequent to the first heating and the second heating.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、熱処理装置及び熱処理方法に関する。 The present invention relates to a heat treatment apparatus and a heat treatment method.

FPDの製造や、半導体デバイス等の製造において、有機材料と溶媒を含む溶液が塗布されたワークを乾燥させて、ワーク上に所望の膜を形成することが行われている。乾燥を行うための装置として、例えば、大気圧より減圧された雰囲気を維持可能なチャンバと、チャンバの内部に設けられたワークを加熱するヒータと、を備えた熱処理装置が使用されている。このような熱処理装置は、ワークの表面に膜を形成する以外にも、ワークの表面を処理することにも用いられる。 2. Description of the Related Art In the manufacture of FPDs, semiconductor devices, etc., a desired film is formed on the work by drying the work coated with a solution containing an organic material and a solvent. As an apparatus for performing drying, for example, a heat treatment apparatus is used which includes a chamber capable of maintaining an atmosphere reduced from atmospheric pressure and a heater provided inside the chamber for heating a workpiece. Such a heat treatment apparatus is used not only for forming a film on the surface of a work but also for treating the surface of the work.

ワークに対する熱処理を繰り返すと、ワークの表面に含まれていた物質に由来して、チャンバ内に昇華物が発生する。例えば、ワークを加熱した際に、ワークの表面に含まれていた物質が気化するので、加熱されたワークよりも温度の低いチャンバの内壁に固体となって付着する場合がある。このように内壁に付着した物質が、チャンバの内壁から剥がれると、パーティクルとなってワークの表面に付着するので、ワークの品質低下を招く。 When the heat treatment of the work is repeated, a sublimate is generated in the chamber originating from the substances contained on the surface of the work. For example, when the workpiece is heated, the substance contained in the surface of the workpiece evaporates, and may solidify and adhere to the inner wall of the chamber whose temperature is lower than that of the heated workpiece. If the substance adhering to the inner wall is peeled off from the inner wall of the chamber, it becomes particles and adheres to the surface of the workpiece, resulting in deterioration of the quality of the workpiece.

また、ワークを加熱すると、チャンバ内が高温になるため、チャンバ内の部材が熱により膨張する。さらに、加熱後に冷却する際には、チャンバ内の部材は収縮する。部材が膨張と収縮を繰り返すと、部材同士が擦れ合い、パーティクルが発生する。このようなパーティクルも、熱処理中にワークに付着したり、チャンバの内壁に付着したものが剥がれ落ちてワークに付着したりすることによって、ワークの品質低下の原因となる。 Moreover, when the workpiece is heated, the temperature inside the chamber rises, and the members inside the chamber expand due to the heat. Furthermore, the members within the chamber contract during cooling after heating. When the member repeatedly expands and contracts, the members rub against each other and generate particles. Such particles also adhere to the work during heat treatment, or peel off from the inner wall of the chamber and adhere to the work, thereby degrading the quality of the work.

これに対処するため、定期的に、あるいはパーティクルの付着量、品質の低下度合などに応じて、チャンバの内壁等に付着したパーティクルを除去するメンテナンスが必要となる。 In order to deal with this, maintenance is required to remove particles adhering to the inner wall of the chamber, etc. periodically or depending on the amount of adhering particles, the degree of deterioration in quality, and the like.

国際公開第2019/117250号WO2019/117250

上記のようなメンテナンスの間は、ワークの加熱処理を行うことができない。このため、メンテナンスの時間が長くなったり、回数が多くなったりすると、生産性が大きく低下する。 During maintenance as described above, heat treatment of the work cannot be performed. For this reason, if the maintenance time is long or the number of times is large, the productivity is greatly reduced.

本発明の実施形態は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、生産性を低下させることなく、チャンバ内の清浄度を保ち、ワークの品質が向上する熱処理装置及び熱処理方法を提供することにある。 The embodiments of the present invention have been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide a heat treatment method that maintains cleanliness in the chamber and improves the quality of workpieces without reducing productivity. An object of the present invention is to provide an apparatus and a heat treatment method.

本発明の実施形態の熱処理装置は、大気圧よりも減圧された雰囲気を維持可能なチャンバと、前記チャンバに接続され、前記チャンバ内を排気する排気部と、前記チャンバ内に収容されたワークを支持する支持部と、前記支持部に前記ワークが支持された状態で前記ワークを加熱する第1加熱を行い、前記支持部に前記ワークが支持されていない状態で、前記第1加熱よりも速い昇温速度で前記チャンバ内を加熱する第2加熱を行う加熱部と、前記第1加熱後及び前記第2加熱後に、気体をチャンバ内に供給することにより冷却を行う給気部と、を有する。 A heat treatment apparatus according to an embodiment of the present invention comprises: a chamber capable of maintaining an atmosphere pressure-reduced below atmospheric pressure; an exhaust unit connected to the chamber for exhausting the interior of the chamber; and a workpiece accommodated in the chamber. and a first heating for heating the work in a state in which the work is supported by the support, and in a state in which the work is not supported by the support, the heating is faster than the first heating. a heating unit that performs second heating for heating the inside of the chamber at a temperature rising rate; and an air supply unit that performs cooling by supplying gas into the chamber after the first heating and after the second heating. .

本発明の実施形態の熱処理方法は、減圧されたチャンバ内の支持部にワークが支持された状態で、加熱部が前記ワークを加熱した後、給気部が気体を供給して冷却する第1の熱処理と、前記第1の熱処理後、前記チャンバから前記ワークを排出するワーク排出処理と、前記支持部に前記ワークが支持されていない状態で、前記加熱部が前記第1の熱処理よりも速い昇温速度により前記チャンバ内を加熱した後、前記給気部が前記気体を供給して冷却し、排気部が前記チャンバ内を排気する第2の熱処理と、を含む。 In the heat treatment method of the embodiment of the present invention, the heating unit heats the work in a state where the work is supported by the support unit in the depressurized chamber, and then the air supply unit supplies gas to cool the work. a work discharge process for discharging the work from the chamber after the first heat treatment; and a state in which the work is not supported by the support, and the heating unit is faster than the first heat treatment. a second heat treatment in which, after heating the inside of the chamber at a temperature rising rate, the air supply unit supplies the gas to cool the chamber, and the exhaust unit exhausts the inside of the chamber.

本発明の実施形態によれば、生産性を低下させることなく、チャンバ内の清浄度を保ち、ワークの品質が向上する熱処理装置及び熱処理方法を提供できる。 According to the embodiments of the present invention, it is possible to provide a heat treatment apparatus and a heat treatment method that maintain cleanliness in the chamber and improve the quality of workpieces without reducing productivity.

実施形態の熱処理装置を例示するための模式正面図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic front view for illustrating the heat processing apparatus of embodiment. 図1における熱処理装置のA-A矢視模式断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the heat treatment apparatus in FIG. 1 taken along the line AA. 図1における熱処理装置のB-B矢視模式断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the heat treatment apparatus in FIG. 1 taken along the line BB. カセットの内部及び給気部の配管及びノズルを示す模式斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view showing the inside of the cassette and the pipes and nozzles of the air supply section; 第1の熱処理における温度変化を示すグラフである。It is a graph which shows the temperature change in 1st heat processing. 第2の熱処理における温度変化を示すグラフである。It is a graph which shows the temperature change in 2nd heat processing. 第1の実施形態の熱処理装置の処理手順を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing a processing procedure of the heat treatment apparatus of the first embodiment;

実施形態の熱処理装置について、図面を参照しつつ説明する。
[第1の実施形態]
[概要]
図1に示すように、第1の実施形態の熱処理装置1は、大気圧よりも減圧された雰囲気においてワークWを加熱して、ワークWの表面に有機膜を形成する装置である。加熱処理前のワークWは、表面に溶液が塗布された基板である。基板は、例えば、ガラス基板や半導体ウェーハである。溶液は、有機材料を含む溶剤である。例えば、ポリアミド酸を含むワニスを溶液とすることができる。
A heat treatment apparatus according to an embodiment will be described with reference to the drawings.
[First embodiment]
[overview]
As shown in FIG. 1, the heat treatment apparatus 1 of the first embodiment is an apparatus that heats a workpiece W in an atmosphere that is reduced below atmospheric pressure to form an organic film on the surface of the workpiece W. As shown in FIG. The workpiece W before heat treatment is a substrate having a surface coated with a solution. The substrate is, for example, a glass substrate or a semiconductor wafer. A solution is a solvent containing an organic material. For example, a varnish containing polyamic acid can be in solution.

ワークWは、熱処理装置1において熱処理されることにより、溶液におけるポリアミド酸がイミド化され、基板の表面にポリイミド膜が形成される。なお、ワークWは、熱処理装置1に搬入される前に、上流の工程で図示しない仮焼成装置に搬入され、溶液が仮焼成されて半硬化状態とされる。仮焼成においては、例えば90℃以下、100Pa程度の圧力の雰囲気に3分以上放置することにより、溶液から予め溶媒の一部を蒸発させる。 The workpiece W is heat-treated in the heat treatment apparatus 1 to imidize polyamic acid in the solution and form a polyimide film on the surface of the substrate. In addition, before being carried into the heat treatment apparatus 1, the work W is carried into a temporary baking apparatus (not shown) in an upstream process, and the solution is temporarily baked to be in a semi-hardened state. In the calcination, for example, the solution is left in an atmosphere of 90° C. or less and a pressure of about 100 Pa for 3 minutes or more to evaporate part of the solvent in advance from the solution.

なお、各図中のX方向、Y方向、およびZ方向は、互いに直交する三方向を表している。本実施形態においては、X方向は左右方向、Y方向は前後方向、Z方向は上下方向である。但し、これらの方向は、熱処理装置1の設置方向を限定するものではない。 Note that the X direction, Y direction, and Z direction in each drawing represent three directions orthogonal to each other. In this embodiment, the X direction is the horizontal direction, the Y direction is the front-rear direction, and the Z direction is the vertical direction. However, these directions do not limit the installation direction of the heat treatment apparatus 1 .

[構成]
図1~図3に示すように、熱処理装置1は、チャンバ10、カセット20、支持部30、排気部40、加熱部50、給気部60、制御装置70を有する。
[composition]
As shown in FIGS. 1 to 3, the heat treatment apparatus 1 has a chamber 10, a cassette 20, a support section 30, an exhaust section 40, a heating section 50, an air supply section 60, and a control device .

(チャンバ)
チャンバ10は箱状の容器であり、大気圧よりも減圧された雰囲気を維持できるように、気密とすることが可能な構造を有している。チャンバ10の前後には開口10a、10bが設けられ、開口10a、10bには、それぞれОリングなどのシール材10cが設けられたフランジ10d、10eが形成されている。
(chamber)
The chamber 10 is a box-shaped container and has a structure that can be airtight so as to maintain an atmosphere that is reduced in pressure below atmospheric pressure. Openings 10a and 10b are provided in the front and rear of the chamber 10, and flanges 10d and 10e provided with sealing materials 10c such as O-rings are formed in the openings 10a and 10b, respectively.

前方の開口10aに対しては、図示しない開閉機構によって駆動される開閉扉11が、開位置と閉位置との間を上下方向にスライド移動可能に設けられている。開閉扉11を開位置とすると開口10aの前方が空いて、ワークWの搬入搬出を行うことができる。 An opening/closing door 11 driven by an opening/closing mechanism (not shown) is provided to the front opening 10a so as to be vertically slidable between an open position and a closed position. When the opening/closing door 11 is at the open position, the front side of the opening 10a is vacant, and the work W can be carried in and out.

また、開閉機構は、開閉扉11を前後方向に移動させることにより、チャンバ10の密閉状態及び開放状態を切り替える。密閉状態は、開閉扉11が開口10aのシール材10cを介して開口10aに押し付けられて、チャンバ10の内部が気密に封止された状態である。開放状態は、開閉扉11と開口10aのシール材10cとの間に隙間が空いていて、チャンバ10の内部が大気開放されている状態である。 Further, the opening/closing mechanism switches between the closed state and the open state of the chamber 10 by moving the opening/closing door 11 in the front-rear direction. The closed state is a state in which the opening/closing door 11 is pressed against the opening 10a via the sealing material 10c of the opening 10a, and the inside of the chamber 10 is airtightly sealed. The open state is a state in which there is a gap between the opening/closing door 11 and the sealing material 10c of the opening 10a, and the inside of the chamber 10 is open to the atmosphere.

後方の開口10bのフランジ10eには、シール材10cを介して、図示しないネジなどの締結部材を用いて蓋15が取り付けられることにより、チャンバ10の内部が気密に封止されている。チャンバ10から蓋15を取り外すことにより、後述するカセット20を、メンテナンスのために開口10bから出し入れできる。 The interior of the chamber 10 is airtightly sealed by attaching a lid 15 to the flange 10e of the rear opening 10b through a sealing material 10c using fastening members such as screws (not shown). By removing the lid 15 from the chamber 10, a later-described cassette 20 can be taken in and out through the opening 10b for maintenance.

(カセット)
本実施形態では、ワークWはカセット20を介してチャンバ10内に支持される。つまり、チャンバ10内に水平方向に支持されたカセット20の内部に、ワークWが搬入搬出される。カセット20は、チャンバ10内に上下方向に多段に配置される。各カセット20は、チャンバ10から取り出して個別にメンテナンスできるように、チャンバ10に対して着脱可能に設けられている。
(cassette)
In this embodiment, the work W is supported inside the chamber 10 via the cassette 20 . That is, the workpiece W is carried in and out of the cassette 20 that is horizontally supported in the chamber 10 . The cassettes 20 are arranged vertically in multiple stages within the chamber 10 . Each cassette 20 is detachably attached to the chamber 10 so that it can be removed from the chamber 10 and individually maintained.

カセット20は、図4に示すように、前方にワークWの搬入搬出を行う開口部20aを有する箱状体であり、内部に支持されるワークWを、上下左右の四方の面、および開口部20aと対向する面によって囲う。なお、図4においては、説明を容易にするために、カセット20の上面及び開口部20aと対向する面に設けられた均熱板22を示していない。 As shown in FIG. 4, the cassette 20 is a box-shaped body having an opening 20a for loading and unloading the work W at the front. Enclosed by the face facing 20a. For ease of explanation, FIG. 4 does not show the heat equalizing plate 22 provided on the upper surface of the cassette 20 and the surface facing the opening 20a.

カセット20は、カセットフレーム21、均熱板22、ワーク支持部23、カセット支持部24を有する。カセットフレーム21は、細長の部材により構成された骨組み構造である。カセットフレーム21は直方体の枠形状であり、上面及び下面には、前後方向に渡される梁21aが、X方向に複数本並べられている。梁21aの本数は特に限定されないが、本実施形態では4本とする。 The cassette 20 has a cassette frame 21 , a heat equalizing plate 22 , a work supporting portion 23 and a cassette supporting portion 24 . The cassette frame 21 is a skeleton structure composed of elongated members. The cassette frame 21 has a rectangular parallelepiped frame shape, and a plurality of beams 21a extending in the front-rear direction are arranged in the X direction on the upper surface and the lower surface. Although the number of beams 21a is not particularly limited, it is assumed to be four in this embodiment.

均熱板22は、カセット20のワークWを囲う面を構成し、ワークWに伝達される熱の偏りを抑制する。均熱板22は、例えば、ステンレスなどの熱伝導率の高い金属材料からなる板状部材である。均熱板22は、カセットフレーム21の上下左右及び開口部20aと対向する面に設けられることにより、箱状体のカセット20を構成する。 The heat equalizing plate 22 constitutes a surface surrounding the work W of the cassette 20 and suppresses uneven heat transfer to the work W. As shown in FIG. The heat equalizing plate 22 is, for example, a plate-like member made of a metal material with high thermal conductivity such as stainless steel. The heat equalizing plates 22 are provided on the top, bottom, left, and right sides of the cassette frame 21 and on the surface facing the opening 20a, thereby forming the box-shaped cassette 20. As shown in FIG.

より具体的には、カセットフレーム21の外枠と4本の梁21aとの間を埋めるように、上下それぞれに5枚の均熱板22が設けられる。カセットフレーム21の左右には、均熱板22が1枚ずつ設けられる。さらに、カセットフレーム21の開口部20aと対向する面には、均熱板22が1枚設けられる。これらの均熱板22は、カセット20として一体的にチャンバ10に出し入れできるので、個別に取り外し、装着が必要な従来の均熱板に比べて、メンテナンスが容易となる。また、開閉扉11の内側にも均熱板22が設けられていて、開閉扉11が閉位置に移動することで、ワークWの上下及び四方を囲うことができる。なお、カセットフレーム21と均熱板22とは、厳密には密着しておらず、気体が通過できる隙間が空いているため、排気部40によりチャンバ10の内部を排気したとき、均熱板22に囲われたワークWが支持される領域についても排気することができる。 More specifically, five heat equalizing plates 22 are provided on each of the upper and lower sides so as to fill the space between the outer frame of the cassette frame 21 and the four beams 21a. A heat equalizing plate 22 is provided on each of the left and right sides of the cassette frame 21 . Furthermore, one heat equalizing plate 22 is provided on the surface of the cassette frame 21 facing the opening 20a. Since these heat equalizing plates 22 can be inserted into and removed from the chamber 10 integrally as a cassette 20, maintenance is easier than conventional heat equalizing plates that must be removed and mounted individually. Further, a heat equalizing plate 22 is also provided inside the opening/closing door 11, and the workpiece W can be surrounded from above and below and on all four sides by moving the opening/closing door 11 to the closed position. Strictly speaking, the cassette frame 21 and the heat equalizing plate 22 are not in close contact with each other, and there is a gap through which gas can pass. It is also possible to evacuate the area where the workpiece W is supported, which is surrounded by .

ワーク支持部23はワークWを支持する。ワーク支持部23は、カセットフレーム21の下面の梁21aから上方に突出して設けられ、その先端でワークWの下面を支持する棒状体である。ワーク支持部23の配置や本数は、特に限定されないが、本実施形態では、各梁21aに等間隔に4本ずつ設けられる。すなわち、ワーク支持部23は、カセットフレーム21の下面において、格子状に4×4本設けられる。また、ワーク支持部23の先端は、ワークWの下面を傷つけないようにするため、例えば半球状とすることが好ましい。 The work supporting portion 23 supports the work W. As shown in FIG. The work supporting portion 23 is a rod-shaped body that protrudes upward from the beam 21a on the lower surface of the cassette frame 21 and supports the lower surface of the work W at its tip. Although the arrangement and the number of work support portions 23 are not particularly limited, in the present embodiment, four work support portions are provided on each beam 21a at regular intervals. That is, the work supporting portions 23 are provided in a grid pattern of 4×4 on the lower surface of the cassette frame 21 . In order not to damage the lower surface of the work W, the tip of the work support portion 23 is preferably hemispherical, for example.

カセット支持部24は、カセット20の側面から側方に突出し、後述の支持部30に支持される突出部である。カセット支持部24の前後方向の長さは、例えば、カセット20の前後方向の長さと同じである。カセット支持部24が後述の支持部30に支持されることにより、チャンバ10内に収容されたカセット20が、チャンバ10内に支持される。 The cassette support portion 24 is a projecting portion that projects laterally from the side surface of the cassette 20 and is supported by a support portion 30 described later. The longitudinal length of the cassette support portion 24 is, for example, the same as the longitudinal length of the cassette 20 . The cassette 20 accommodated in the chamber 10 is supported in the chamber 10 by supporting the cassette supporting portion 24 on the supporting portion 30 described below.

(支持部)
支持部30は、図1及び図3に示すように、チャンバ10内に収容されたワークWを支持する。本実施形態の支持部30は、前述のカセット20を介してワークWを支持する。支持部30は、チャンバ10の内部に立設されるフレーム31と、フレーム31の内部に設けられ、カセット20を支持する受け部32とを備える。フレーム31は、例えば、細長い部材を用いて構成される骨組み構造である。フレーム31は、直方体の枠構造であり、側面には板状の内壁が設けられている。
(support part)
The support part 30 supports the work W accommodated in the chamber 10, as shown in FIGS. The support part 30 of this embodiment supports the workpiece W via the cassette 20 described above. The support portion 30 includes a frame 31 erected inside the chamber 10 and a receiving portion 32 provided inside the frame 31 for supporting the cassette 20 . The frame 31 is, for example, a frame structure constructed using elongated members. The frame 31 has a rectangular parallelepiped frame structure, and plate-shaped inner walls are provided on the side surfaces thereof.

受け部32は、フレーム31の内壁において、同じ高さで左右に一対で、内側に突出して設けられた部材である。一対の受け部32は、カセット20の左右のカセット支持部24が搭載されることにより、1つのカセット20を支持する。また、一対の受け部32は、フレーム31の内壁に、上下方向にカセット20と同数設けられる。受け部32は、例えば、直方体である。受け部32の形状は、直方体に限定されず、断面がL字やU字の形状であってもよい。受け部32は、カセット支持部24の突出する方向と受け部32の突出する方向の長さは、カセット支持部24よりも短い。また、受け部32の前後方向の長さは、カセット支持部24の前後方向の長さよりも長いことが好ましい。また、受け部32の上下方向の長さは、カセット支持部24の下面からカセット20の下面までの長さである。本実施形態においては、図1及び図3に示すように、6つのカセット20に対応して、一対の受け部32が6組設けられる。 A pair of receiving portions 32 are provided on the inner wall of the frame 31 so as to protrude inward at the same height. The pair of receiving portions 32 supports one cassette 20 by mounting the left and right cassette supporting portions 24 of the cassette 20 thereon. The pair of receiving portions 32 are provided on the inner wall of the frame 31 in the same number as the cassettes 20 in the vertical direction. The receiving part 32 is, for example, a rectangular parallelepiped. The shape of the receiving portion 32 is not limited to a rectangular parallelepiped, and may have an L-shaped or U-shaped cross section. The receiving portion 32 is shorter than the cassette supporting portion 24 in the direction in which the cassette supporting portion 24 projects and in the direction in which the receiving portion 32 projects. Further, the length of the receiving portion 32 in the front-rear direction is preferably longer than the length of the cassette support portion 24 in the front-rear direction. The vertical length of the receiving portion 32 is the length from the bottom surface of the cassette support portion 24 to the bottom surface of the cassette 20 . In this embodiment, as shown in FIGS. 1 and 3 , six pairs of receiving portions 32 are provided corresponding to six cassettes 20 .

(排気部)
排気部40は、チャンバ10の内部を排気する構成部である。排気部40は、図1に示すように、第1の排気部41、第2の排気部42、第3の排気部43を有する。第1の排気部41は、例えば、チャンバ10の底面に設けられた排気口12に接続されている。第1の排気部41は、排気口12を介してチャンバ10の内部を排気する。
(Exhaust part)
The exhaust unit 40 is a component that exhausts the inside of the chamber 10 . The exhaust section 40 has a first exhaust section 41, a second exhaust section 42, and a third exhaust section 43, as shown in FIG. The first exhaust part 41 is connected to, for example, an exhaust port 12 provided on the bottom surface of the chamber 10 . The first exhaust section 41 exhausts the interior of the chamber 10 through the exhaust port 12 .

第1の排気部41は、例えば、配管41a、排気ポンプ41b、圧力調整部41cを有する。配管41aは排気口12に接続された気体の流路である。排気ポンプ41bは、大気圧から第1の所定の圧力まで粗引き排気を行うポンプである。排気ポンプ41bは、後述する排気ポンプ42bよりも排気量が多い。排気ポンプ41bとしては、例えば、ドライ真空ポンプを用いることができる。 The first exhaust section 41 has, for example, a pipe 41a, an exhaust pump 41b, and a pressure adjustment section 41c. A pipe 41 a is a gas flow path connected to the exhaust port 12 . The exhaust pump 41b is a pump that performs rough evacuation from atmospheric pressure to a first predetermined pressure. The exhaust pump 41b has a larger displacement than an exhaust pump 42b, which will be described later. A dry vacuum pump, for example, can be used as the exhaust pump 41b.

圧力調整部41cは、排気口12と排気ポンプ41bとの間に設けられている。圧力調整部41cは、チャンバ10の内圧を検出する図示しない真空計などの出力に基づいて、チャンバ10の内圧が第1の所定の圧力となるように制御する。圧力調整部41cとしては、例えば、APC(Auto Pressure Controller)を用いることができる。 The pressure adjustment portion 41c is provided between the exhaust port 12 and the exhaust pump 41b. Based on the output of a vacuum gauge (not shown) that detects the internal pressure of the chamber 10, the pressure adjustment unit 41c controls the internal pressure of the chamber 10 to a first predetermined pressure. For example, an APC (Auto Pressure Controller) can be used as the pressure adjustment unit 41c.

第2の排気部42は、例えば、チャンバ10の底面に設けられた排気口13に接続されている。第2の排気部42は、排気口13を介してチャンバ10の内部を排気する。第2の排気部42は、例えば、配管42a、排気ポンプ42b、圧力調整部42cを有する。配管42aは排気口13に接続された気体の流路である。排気ポンプ42bは、排気ポンプ41bによる粗引き排気の後、さらに低い第2の所定の圧力まで排気を行う。排気ポンプ42bは、例えば、高真空の分子流領域まで排気可能な排気能力を有する。排気ポンプ42bとしては、例えば、ターボ分子ポンプ(TMP:Turbo Molecular Pump)を用いることができる。 The second exhaust part 42 is connected to, for example, the exhaust port 13 provided on the bottom surface of the chamber 10 . The second exhaust part 42 exhausts the inside of the chamber 10 through the exhaust port 13 . The second exhaust section 42 has, for example, a pipe 42a, an exhaust pump 42b, and a pressure adjustment section 42c. A pipe 42 a is a gas flow path connected to the exhaust port 13 . After rough evacuation by the exhaust pump 41b, the exhaust pump 42b evacuates to a lower second predetermined pressure. The evacuation pump 42b has, for example, an evacuation capability capable of evacuating to a high-vacuum molecular flow region. As the exhaust pump 42b, for example, a turbo molecular pump (TMP) can be used.

圧力調整部42cは、排気口13と排気ポンプ42bとの間に設けられている。圧力調整部42cは、チャンバ10の内圧を検出する図示しない真空計などの出力に基づいて、チャンバ10の内圧が第2の所定の圧力となるように制御する。圧力調整部42cとしては、例えば、APCを用いることができる。 The pressure adjustment part 42c is provided between the exhaust port 13 and the exhaust pump 42b. Based on the output of a vacuum gauge (not shown) that detects the internal pressure of the chamber 10, the pressure adjusting unit 42c controls the internal pressure of the chamber 10 to a second predetermined pressure. For example, an APC can be used as the pressure adjustment unit 42c.

第3の排気部43は、例えば、チャンバ10の天井面に設けられた排気口14と、工場の排気系との間に接続されている。第3の排気部43は、例えば、配管43a、バルブ43bを有する。配管43aは、排気口14に接続された気体の流路である。バルブ43bは、排気口14と工場の排気系との間に設けられている。 The third exhaust part 43 is connected, for example, between the exhaust port 14 provided on the ceiling surface of the chamber 10 and the factory exhaust system. The third exhaust section 43 has, for example, a pipe 43a and a valve 43b. The pipe 43 a is a gas flow path connected to the exhaust port 14 . The valve 43b is provided between the exhaust port 14 and the factory exhaust system.

チャンバ10内に給気部60から冷却ガスを供給することで、チャンバ10内が冷却されるが、このときチャンバ10内が大気圧以上になったら、バルブ43bを開状態にすると、供給される冷却ガスによって押し出されるように、排気口14からチャンバ10内が強制的に排気される。 By supplying the cooling gas from the air supply unit 60 into the chamber 10, the inside of the chamber 10 is cooled. The inside of the chamber 10 is forcibly exhausted from the exhaust port 14 so as to be pushed out by the cooling gas.

(加熱部)
加熱部50は、第1加熱と第2加熱を行う。第1加熱は、支持部30にワークWが支持された状態で、ワークWを加熱する処理である。つまり、チャンバ10内にワークWが搬入され、支持部30に支持された状態で、第1加熱によってワークWが加熱されることにより、溶液の乾燥処理が行われる。なお、本実施形態では、乾燥処理には、溶液中のポリアミド酸が脱水されてイミド化が生じることも含まれる。
(Heating part)
The heating unit 50 performs first heating and second heating. The first heating is a process of heating the work W while the work W is supported by the support portion 30 . That is, the work W is carried into the chamber 10 and is heated by the first heating while being supported by the support portion 30, thereby drying the solution. In the present embodiment, the drying treatment also includes dehydration of the polyamic acid in the solution to cause imidization.

第2加熱は、支持部30にワークWが支持されていない状態で、第1加熱よりも速い昇温速度でチャンバ10内を加熱する処理である。第1加熱よりも速い昇温速度でチャンバ10内を加熱することで、チャンバ10内の部材は、第1加熱時とは異なる温度変化が生じる。第1加熱時とは異なる温度変化によってチャンバ10内に残留した昇華物をチャンバ10外に排出する。また、第1加熱時とは異なる温度変化によってチャンバ10内の部材同士が熱膨張し擦れ合い、パーティクルが発生する。チャンバ10内の部材同士を擦れ合せてパーティクルを発生させることで、第1加熱時にチャンバ10内の部材同士が擦れ合うことで生じるパーティクルの発生を抑制する。つまり、チャンバ10内からワークWが搬出された状態で、第2加熱を実行することによって、第1加熱よりも高速に温度を上昇させてチャンバ10内が加熱されることにより、ワークWへの昇華物やパーティクルの付着が抑制される。第2加熱は、ワークWの乾燥のための加熱とは異なり、チャンバ10内にワークWを入れない空の状態で行われる加熱であるため、空加熱とも呼ぶ。なお、チャンバ10内の部品の熱膨張により発生したパーティクルは、後述する第2加熱後の冷却において、第3の排気部43によりチャンバ10の外部に排出される。 The second heating is a process of heating the inside of the chamber 10 at a higher rate of temperature rise than the first heating while the workpiece W is not supported by the supporting portion 30 . By heating the inside of the chamber 10 at a rate of temperature increase faster than that of the first heating, the members inside the chamber 10 undergo temperature changes different from those during the first heating. A sublimate remaining in the chamber 10 due to a temperature change different from that during the first heating is discharged out of the chamber 10 . Also, due to a temperature change different from that during the first heating, the members in the chamber 10 thermally expand and rub against each other, generating particles. By rubbing the members in the chamber 10 against each other to generate particles, generation of particles caused by the members in the chamber 10 rubbing against each other during the first heating is suppressed. That is, by executing the second heating after the work W has been unloaded from the chamber 10, the inside of the chamber 10 is heated by increasing the temperature at a higher speed than the first heating. Adhesion of sublimate and particles is suppressed. Unlike heating for drying the workpiece W, the second heating is heating performed in an empty state with no workpiece W in the chamber 10 , so it is also called empty heating. Particles generated by thermal expansion of components in the chamber 10 are discharged to the outside of the chamber 10 by the third exhaust section 43 during cooling after the second heating, which will be described later.

加熱部50は、図1~図3に示すように、チャンバ10の内部におけるカセット20の上下に設けられている。加熱部50は、カセット20の内部に支持されたワークWの上下の面を加熱する。上側のカセット20と下側のカセット20の間に設けられた加熱部50は、上側のカセット20におけるワークWの下面を加熱するとともに、下側のカセット20におけるワークWの上面を加熱する。 The heating units 50 are provided above and below the cassette 20 inside the chamber 10, as shown in FIGS. The heating unit 50 heats the upper and lower surfaces of the work W supported inside the cassette 20 . The heating unit 50 provided between the upper cassette 20 and the lower cassette 20 heats the lower surface of the work W in the upper cassette 20 and heats the upper surface of the work W in the lower cassette 20 .

加熱部50は、少なくとも1つのヒータ51を有する。本実施形態の加熱部50は、複数のヒータ51を有する。ヒータ51は、例えば、シーズヒータ、遠赤外線ヒータ、遠赤外線ランプ、セラミックヒータ、カートリッジヒータなどを用いることができる。本実施形態のヒータ51は左右方向に延びた棒状である。また、ワークWの全面が均等に加熱されるように、複数本のヒータ51が前後方向に並んでいる。 The heating unit 50 has at least one heater 51 . The heating unit 50 of this embodiment has a plurality of heaters 51 . The heater 51 may be, for example, a sheathed heater, a far infrared heater, a far infrared lamp, a ceramic heater, a cartridge heater, or the like. The heater 51 of this embodiment is rod-shaped and extends in the left-right direction. In addition, a plurality of heaters 51 are arranged in the front-rear direction so that the entire surface of the work W is uniformly heated.

(給気部)
給気部60は、図2~図4に示すように、配管61、62、ノズル63、64を有する。なお、図2では配管62、ノズル64は図示を省略し、図3では配管61、ノズル63は図示を省略している。配管61は、各カセット20の奥側(開口部20aが設けられる正面と反対側の面であり、図2、図3における紙面左側)に、左右方向に沿って設けられている。配管62は、チャンバ10内の各カセット20の後方に、左右方向に沿って配置されている。これにより、配管61、62は、チャンバ10内の各カセット20の後方において隣接した状態で配置される。また、配管61、62は、上下方向に多段に設けられる。なお、配管61、62は、カセット20がチャンバ10から搬出される際に一緒に搬出される。つまり、配管61、62は、カセット20に設けられている。
(air supply unit)
The air supply unit 60 has pipes 61, 62 and nozzles 63, 64, as shown in FIGS. 2, the illustration of the pipe 62 and the nozzle 64 is omitted, and the illustration of the pipe 61 and the nozzle 63 is omitted in FIG. The pipe 61 is provided on the back side of each cassette 20 (the surface opposite to the front surface where the opening 20a is provided, the left side of the paper surface in FIGS. 2 and 3) along the left-right direction. The pipe 62 is arranged in the left-right direction behind each cassette 20 in the chamber 10 . Thereby, the pipes 61 and 62 are arranged adjacent to each other behind each cassette 20 in the chamber 10 . Further, the pipes 61 and 62 are provided in multiple stages in the vertical direction. Incidentally, the pipes 61 and 62 are carried out together when the cassette 20 is carried out from the chamber 10 . That is, the pipes 61 and 62 are provided in the cassette 20 .

配管61、配管62には、図4に示すように、ガス供給装置65から気体が供給される。本実施形態の気体は、冷却ガスである。ガス供給装置65は、チャンバ10の外側に設けられたガス源65a、ガス制御部65bを有する。ガス源65aは、例えば、高圧ガスボンベ、工場のガス供給管などとすることができる。ガス制御部65bは、配管61、62とガス源65aとの間に設けられ、配管61、62に対する冷却ガスの供給、停止、流量等を制御する。 Gas is supplied to the pipes 61 and 62 from a gas supply device 65 as shown in FIG. The gas in this embodiment is a cooling gas. The gas supply device 65 has a gas source 65a provided outside the chamber 10 and a gas controller 65b. The gas source 65a can be, for example, a high-pressure gas cylinder, a factory gas supply pipe, or the like. The gas control unit 65b is provided between the pipes 61 and 62 and the gas source 65a, and controls supply, stop, flow rate, etc. of the cooling gas to the pipes 61 and 62. FIG.

冷却ガスは、例えば窒素ガス、希ガス(アルゴンガスやヘリウムガスなど)などの、加熱されたワークWと反応し難いガスを用いる。冷却ガスの温度は特に限定されないが、例えば常温以下とする。 As the cooling gas, a gas that hardly reacts with the heated workpiece W, such as nitrogen gas or rare gas (argon gas, helium gas, etc.) is used. Although the temperature of the cooling gas is not particularly limited, it is, for example, normal temperature or below.

ガス供給装置65は、図示しないジョイント等の接続部を介して、カセット20に設けられた配管61に着脱自在に接続される。つまり、配管61は、カセット20をチャンバ10内に挿入した場合に、ガス供給装置65に接続され、カセット20をチャンバ10から取り出した場合にガス供給装置65との接続が解除される。また、ガス供給装置65は、カセット20に設けられた配管62に接続されている。 The gas supply device 65 is detachably connected to the pipe 61 provided in the cassette 20 via a connecting portion such as a joint (not shown). That is, the pipe 61 is connected to the gas supply device 65 when the cassette 20 is inserted into the chamber 10 and disconnected from the gas supply device 65 when the cassette 20 is removed from the chamber 10 . Also, the gas supply device 65 is connected to a pipe 62 provided in the cassette 20 .

ノズル63は、第1のノズルに相当し、配管61の側面に設けられた冷却ガスの吐出部である。ノズル63は、例えば、ワークWの下面とカセット20の下面の間に向けて冷却ガスを吐出する。これにより、ノズル63から放出される冷却ガスは、ワークWの下面を伝うように流れて、カセット20、ワークW及びチャンバ10の内部を冷却する(図2の破線矢印参照)。また、ノズル63は、第2加熱後の冷却において、ワークWを処理する領域に冷却ガスを吐出する。ワークWは、均熱板22に囲われた領域内で処理される。つまり、ノズル63は、均熱板22と均熱板22を支持する部材とが接触する部分に冷却ガスを吐出することができる。 The nozzle 63 corresponds to the first nozzle, and is a cooling gas discharge part provided on the side surface of the pipe 61 . The nozzle 63 discharges cooling gas toward, for example, between the lower surface of the work W and the lower surface of the cassette 20 . As a result, the cooling gas discharged from the nozzle 63 flows along the lower surface of the work W, cooling the inside of the cassette 20, the work W, and the chamber 10 (see the dashed arrows in FIG. 2). Further, the nozzle 63 discharges the cooling gas to the region where the work W is processed in the cooling after the second heating. The work W is processed within the area surrounded by the heat equalizing plate 22 . That is, the nozzle 63 can discharge the cooling gas to the portion where the heat equalizer plate 22 and the member supporting the heat equalizer plate 22 are in contact with each other.

ノズル64は、第2のノズルに相当し、配管62の側面に設けられた冷却ガスの吐出部である。ノズル64は、チャンバ10内の部材の接触部分、つまり、熱による膨張、収縮が起きて、部材同士の擦れが発生しやすい場所に向けて、冷却ガスを吐出する。擦れが発生しやすい場所とは、例えば、均熱板22と均熱板22を支持する部材とが接触する部分とすると良い。本実施形態では、図面の煩雑を避けるために、カセット支持部24と支持部30との接触部分へ冷却ガスを吐出するノズル64を図示している。カセット支持部24と支持部30との接触部分も、擦れによりパーティクルが発生し易い箇所である。 The nozzle 64 corresponds to a second nozzle and is a cooling gas discharge part provided on the side surface of the pipe 62 . The nozzle 64 discharges the cooling gas toward the contact portions of the members in the chamber 10, that is, the locations where expansion and contraction due to heat are likely to occur and the members are likely to rub against each other. The location where friction is likely to occur may be, for example, a portion where the heat equalizing plate 22 and a member supporting the heat equalizing plate 22 come into contact with each other. In this embodiment, in order to avoid complication of the drawing, the nozzles 64 for discharging the cooling gas to the contact portion between the cassette supporting portion 24 and the supporting portion 30 are illustrated. A contact portion between the cassette support portion 24 and the support portion 30 is also a portion where particles are likely to be generated due to friction.

また、上述に加え、ノズル64は、冷却ガスを吐出する方向がチャンバ10における排気口14が設けられた側を向くように設けられる。さらに、ノズル64は、ワークWを処理する領域の外側に向けて、冷却ガスを吐出する。本実施形態においては、排気口14は、チャンバ10の天井部にあるので、ノズル64は斜め上に向いている。また、ノズル64は、ワークWが収容される領域の外に向ける。なお、排気口14が設けられた側に向くとは、排気口14に向く場合には限定されず、排気口14が設けられた面に対して傾斜して向かう場合も含まれる。 In addition to the above, the nozzle 64 is provided so that the direction of discharging the cooling gas faces the side of the chamber 10 where the exhaust port 14 is provided. Furthermore, the nozzle 64 discharges the cooling gas toward the outside of the region where the work W is processed. In this embodiment, the exhaust port 14 is located in the ceiling of the chamber 10, so the nozzle 64 faces obliquely upward. Also, the nozzle 64 is directed outside the area in which the workpiece W is accommodated. It should be noted that facing toward the side where the exhaust port 14 is provided is not limited to facing toward the exhaust port 14 , but also includes a case where the direction is inclined with respect to the surface where the exhaust port 14 is provided.

これにより、ノズル64から放出される冷却ガスは、カセット20と支持部30との接触位置において、両部材が熱膨張及び収縮し、擦れにより発生するパーティクルを噴き上げて、排気口14に向かう排気とともに排出させることができる(図3の破線矢印参照)。また、ノズル64からの冷却ガスは、ワークWが収容されている場合でも、ワークWの外側に向かって吹き出されるので、パーティクルがワークWに付着することが抑制される。 As a result, the cooling gas emitted from the nozzle 64 thermally expands and contracts at the contact position between the cassette 20 and the support section 30, blows up particles generated by friction, and exhausts toward the exhaust port 14. It can be ejected (see dashed arrow in FIG. 3). Moreover, the cooling gas from the nozzle 64 is blown out toward the outside of the work W even when the work W is accommodated, so that particles are prevented from adhering to the work W.

(制御装置)
制御装置70は、熱処理装置1の各部を制御するコンピュータである。制御装置70は、プログラムを実行するプロセッサと、プログラムや動作条件などの各種情報を記憶するメモリ、各要素を駆動する駆動回路を有する。なお、制御装置70には、情報を入力する入力装置、情報を表示する表示装置が接続されている。
(Control device)
The control device 70 is a computer that controls each part of the heat treatment apparatus 1 . The control device 70 has a processor that executes programs, a memory that stores various information such as programs and operating conditions, and a drive circuit that drives each element. An input device for inputting information and a display device for displaying information are connected to the control device 70 .

以下に例示する第1および第2の所定圧力、第1から第3の所定温度、所定昇温速度、第1から第4の所定時間、第1および第2の所定回数、所定タイミング、所定基準時等は、入力装置によってあらかじめ所望の値が制御装置70に入力される。入力された所望の値は、メモリに記憶されている。入力装置、出力装置は、各種の信号を外部の装置との間で送受信するインタフェースを含む。例えば、入力装置は、上流の装置からワークWが到来することを通知する信号を受信する受信部を含み、出力装置は、上流の装置へワークWを受け入れ可能であることを通知する信号を送信する送信部を含む。 First and second predetermined pressures, first to third predetermined temperatures, predetermined heating rates, first to fourth predetermined times, first and second predetermined times, predetermined timings, predetermined criteria, which are illustrated below Desired values such as time are inputted in advance to the control device 70 by an input device. The entered desired value is stored in memory. Input devices and output devices include interfaces for transmitting and receiving various signals to and from external devices. For example, the input device includes a receiver that receives a signal notifying that the workpiece W is coming from the upstream device, and the output device transmits a signal notifying that the workpiece W can be received to the upstream device. Includes a transmitter that

本実施形態の制御装置70は、開閉制御部71、排気制御部72、第1の熱処理部73、第2の熱処理部74、中断処理部75を有する。開閉制御部71は、開閉扉11の開閉機構を制御する。つまり、開閉制御部71は、開閉扉11を開位置及び閉位置に移動させる制御や、密閉状態及び開放状態を切り替える制御を行う。 The control device 70 of this embodiment has an opening/closing control section 71 , an exhaust control section 72 , a first heat processing section 73 , a second heat processing section 74 and an interruption processing section 75 . The opening/closing control section 71 controls the opening/closing mechanism of the opening/closing door 11 . That is, the opening/closing control unit 71 performs control to move the opening/closing door 11 to the open position and the closed position, and control to switch between the closed state and the open state.

開閉制御部71は、開閉機構を制御して開閉扉11を開放状態として開位置に移動させ、チャンバ10へワークWが搬入された後、開閉扉11を閉位置に移動させて、密閉状態とする。ワークWを搬出する際には、チャンバ10内を大気圧とした後、開閉機構を制御して開閉扉11を開放状態として開位置に移動させ、チャンバ10からワークWが搬出された後、開閉扉11を閉位置に移動させて、密閉状態とする。 The opening/closing control unit 71 controls the opening/closing mechanism to open the opening/closing door 11 and move it to the open position. do. When carrying out the work W, after the inside of the chamber 10 is brought to the atmospheric pressure, the open/close mechanism is controlled to open the open/close door 11 and move it to the open position. The door 11 is moved to the closed position to be in a closed state.

排気制御部72は、排気部40の圧力調整部41c、42c、バルブ43b等を制御することにより、チャンバ10内の圧力を制御する。第1の熱処理部73は、排気部40、加熱部50、給気部60を制御することにより、ワークWに対して第1加熱及び冷却による第1の熱処理を行わせる。本実施形態における第1の熱処理は、乾燥処理である。第1の熱処理部73による温度制御は、チャンバ10内に設けられた不図示の温度計の検出値に基づいて、ヒータ51に供給する電力量を制御することにより行う。 The exhaust control unit 72 controls the pressure in the chamber 10 by controlling the pressure adjusting units 41c and 42c of the exhaust unit 40, the valve 43b, and the like. The first heat treatment section 73 controls the exhaust section 40 , the heating section 50 , and the air supply section 60 to subject the workpiece W to the first heat treatment by first heating and cooling. The first heat treatment in this embodiment is a drying treatment. The temperature control by the first heat treatment section 73 is performed by controlling the amount of electric power supplied to the heater 51 based on the detected value of a thermometer (not shown) provided inside the chamber 10 .

第1の熱処理では、排気して減圧した状態で、第1加熱及び冷却を行う。図5のグラフの一点鎖線に示すように、第1加熱は、第1昇温工程及び第1温度維持工程、第2昇温工程及び第2温度維持工程の2ステップで行う。第1昇温工程では、ワークWを第1の所定温度まで上昇させ、第1温度維持工程で第1の所定温度を維持しながら第1の所定時間熱処理する。第1の所定温度は、溶液に含まれる水分や溶媒を排出させる温度、例えば、100~200℃とすると良い。第1の所定時間は、例えば、15min~60minとすると良い。 In the first heat treatment, first heating and cooling are performed in a state of being evacuated and decompressed. As indicated by the dashed line in the graph of FIG. 5, the first heating is performed in two steps: a first temperature raising process and a first temperature maintaining process, and a second temperature raising process and a second temperature maintaining process. In the first temperature raising step, the work W is raised to a first predetermined temperature, and in the first temperature maintaining step, the work W is heat-treated for a first predetermined time while maintaining the first predetermined temperature. The first predetermined temperature is preferably a temperature at which water and solvent contained in the solution are discharged, eg, 100 to 200.degree. The first predetermined period of time is preferably 15 min to 60 min, for example.

第2昇温工程では、ワークWを第1昇温工程の第1の所定温度からさらに高い第2の所定温度まで上昇させ、第2温度維持工程で第2の所定温度を維持しながら第2の所定時間熱処理する。第2の所定温度は、イミド化が起きる温度、例えば、300℃~500℃とすると良い。第2の所定時間は、例えば、15min~60minとすると良い。分子鎖の充填度の高い有機膜を得るためには、500℃を15min維持することがより好ましい。なお、第1昇温工程、第2昇温工程は、どちらも昇温速度を例えば、5℃/minとすると良い。 In the second temperature raising step, the workpiece W is raised from the first predetermined temperature in the first temperature raising step to a higher second predetermined temperature, and in the second temperature maintaining step, the second temperature is maintained while maintaining the second predetermined temperature. heat treatment for a predetermined time. The second predetermined temperature is preferably a temperature at which imidation occurs, eg, 300.degree. C. to 500.degree. The second predetermined time may be, for example, 15 minutes to 60 minutes. In order to obtain an organic film with a high degree of packing of molecular chains, it is more preferable to maintain 500° C. for 15 minutes. In both the first temperature raising step and the second temperature raising step, the temperature raising rate is preferably 5° C./min, for example.

さらに、冷却は、第1の熱処理部73が給気部60を制御することにより、ガス供給装置65から冷却ガスを供給し、ノズル63、64から冷却ガスを吐出させることによって、チャンバ10内を第3の所定温度まで降温させる降温工程によって、チャンバ10を待機状態とする。この第3の所定温度は、例えば、50℃~140℃とすると良い。 Further, the cooling is performed by the first heat treatment section 73 controlling the air supply section 60 to supply the cooling gas from the gas supply device 65 and discharge the cooling gas from the nozzles 63 and 64, thereby cooling the chamber 10. The chamber 10 is placed in a standby state by the cooling step of cooling down to the third predetermined temperature. This third predetermined temperature may be, for example, 50.degree. C. to 140.degree.

例えば、第1の熱処理後、搬出されるワークWの温度が常温であれば、ワークWの搬出は容易である。しかし、熱処理装置1においては、ワークWは連続的に加熱処理される。また、第1の熱処理に続いて第2の熱処理も行われる場合がある。そのため、ワークWを搬出するたびにワークWの温度を常温にすると、次のワークWを昇温させる時間、第2加熱の昇温時間が長くなり、生産性が低下するおそれがある。このため、降温させる第3の所定温度は、上記のようにすることが好ましい。 For example, if the temperature of the work W to be carried out after the first heat treatment is normal temperature, the work W can be carried out easily. However, in the heat treatment apparatus 1, the workpiece W is continuously heat-treated. A second heat treatment may also be performed following the first heat treatment. Therefore, if the temperature of the work W is set to room temperature each time the work W is unloaded, the time for raising the temperature of the next work W and the time for raising the temperature of the second heating are lengthened, which may reduce productivity. Therefore, it is preferable to set the third predetermined temperature to be lowered as described above.

なお、第3の所定温度に降温する前に、開閉扉11を開放状態としてしまうと、開口10aを介してチャンバ10の内部に流入する酸素と、ワークWの基板に塗布された膜の成分とが反応してしまい、所望の膜質を有するワークWが得られなくなるおそれがある。従って、第3の所定温度は、このような反応が生じる温度よりも低い。 If the opening/closing door 11 is opened before the temperature is lowered to the third predetermined temperature, the oxygen flowing into the chamber 10 through the opening 10a and the components of the film applied to the substrate of the work W are mixed. reacts, and there is a possibility that the workpiece W having the desired film quality cannot be obtained. Accordingly, the third predetermined temperature is below the temperature at which such reactions occur.

第2の熱処理部74は、排気部40、加熱部50、給気部60を制御することにより、ワークWが無い状態で、排気、第2加熱及び冷却による第2の熱処理を行わせる。本実施形態の第2の熱処理は、第2加熱、つまり空加熱を含む。第2の熱処理部74による第2の熱処理は、所定のタイミングで行われる。所定のタイミングは、例えば、所定の基準時から第3の所定時間が経過した場合、第1の熱処理の回数が第1の所定回数に達した場合、オペレータによる入力装置からの指示入力があった場合等である。所定の基準時は、例えば、ワークWを受け入れ可能であることを通知する信号を、上流の装置に送信した時である。 The second heat treatment section 74 controls the exhaust section 40, the heating section 50, and the air supply section 60 to perform the second heat treatment by the exhaust, the second heating, and the cooling in the absence of the workpiece W. The second heat treatment of this embodiment includes second heating, ie, empty heating. The second heat treatment by the second heat treatment section 74 is performed at a predetermined timing. The predetermined timing is, for example, when a third predetermined time elapses from a predetermined reference time, when the number of times of the first heat treatment reaches the first predetermined number of times, or when the operator inputs an instruction from the input device. and so on. The predetermined reference time is, for example, the time when a signal notifying that the work W can be accepted is sent to the upstream device.

第2の熱処理では、図6のグラフの実線で示すように、第2加熱による昇温工程を1ステップで行う。昇温工程では、第1加熱と同じ第2の所定温度まで、チャンバ10内を加熱する。ただし、第2加熱における昇温速度は、第1加熱よりも速い。例えば、第2加熱においては、10℃/minの速度で、300℃~500℃まで昇温させる。 In the second heat treatment, as indicated by the solid line in the graph of FIG. 6, the step of raising the temperature by the second heating is performed in one step. In the temperature raising process, the inside of the chamber 10 is heated to the same second predetermined temperature as the first heating. However, the rate of temperature increase in the second heating is faster than in the first heating. For example, in the second heating, the temperature is raised from 300° C. to 500° C. at a rate of 10° C./min.

また、第2加熱は、第1加熱と同様に、第1の排気部41、第2の排気部42により、減圧した状態で行う。大気圧または低真空など、酸素がある状態で昇温させてしまうと、チャンバ内のものが酸化してしまう恐れがあるためである。なお、第1加熱と第2加熱においては、昇温速度は異なるが、加熱の最高温度である第2の所定温度及び減圧時の圧力は同じである。 Moreover, the second heating is performed in a decompressed state by the first exhaust section 41 and the second exhaust section 42, similarly to the first heating. This is because if the temperature is raised in the presence of oxygen, such as at atmospheric pressure or in a low vacuum, there is a risk that things in the chamber will be oxidized. In addition, in the first heating and the second heating, although the heating rate is different, the second predetermined temperature, which is the maximum heating temperature, and the pressure during decompression are the same.

なお、第2の熱処理は、ワークWの乾燥を目的とするものではなく、チャンバ10内の部品を膨張、収縮させるための加熱である。そのため、第1の熱処理とは異なり、第2の所定温度に到達したら、即座に冷却する降温工程を行う。つまり、第2の熱処理では、最高温度を長時間維持する必要はない。このように加熱及び冷却を高速に行うことにより、第2の熱処理の時間を短縮化できる。 Note that the second heat treatment is not intended to dry the work W, but is heating to expand and contract the parts in the chamber 10 . Therefore, unlike the first heat treatment, when the second predetermined temperature is reached, a cooling process is performed to cool immediately. In other words, it is not necessary to maintain the highest temperature for a long time in the second heat treatment. By performing heating and cooling at high speed in this manner, the time for the second heat treatment can be shortened.

降温工程では、ガス供給装置65が冷却ガスを供給し、給気部60のノズル63、64から冷却ガスが吐出することによって、チャンバ10内を第3の所定温度まで降温させる。この第3の所定温度は、50℃~140℃とすると良い。この降温工程においては、冷却ガスの吐出により、チャンバ10内の気圧が大気圧以上になると、バルブ43bが開いて第3の排気部43から排気が行われる。これにより、カセット20と支持部30との接触位置に吹き付けられた冷却ガスとともに、熱膨張及び収縮による擦れで発生したパーティクルが排気口14に向かい、チャンバ10外に排出される。パーティクルの動きを促進して、排出され易くするため、ノズル63、64からの冷却ガスの吐出量(単位時間当たりの吐出量)は、第1加熱後の冷却における冷却ガスの吐出量よりも多く設定されている。 In the temperature lowering step, the gas supply device 65 supplies the cooling gas, and the cooling gas is discharged from the nozzles 63 and 64 of the air supply unit 60 to lower the temperature inside the chamber 10 to a third predetermined temperature. The third predetermined temperature should be 50.degree. C. to 140.degree. In this temperature lowering step, when the pressure in the chamber 10 becomes equal to or higher than the atmospheric pressure due to the discharge of the cooling gas, the valve 43b is opened and the third exhaust section 43 is exhausted. As a result, particles generated by friction due to thermal expansion and contraction are directed to the exhaust port 14 and discharged out of the chamber 10 together with the cooling gas blown to the contact position between the cassette 20 and the support portion 30 . In order to promote the movement of particles and make them easier to discharge, the discharge amount of the cooling gas from the nozzles 63 and 64 (discharge amount per unit time) is larger than the discharge amount of the cooling gas in the cooling after the first heating. is set.

さらに、第2の熱処理では、第2加熱と冷却のサイクルを第2の所定回数行うことにより、チャンバ10内の部品の膨張、収縮を繰り返し行わせて、パーティクルを発生させる。第2の所定回数は、2回以上であり、例えば、図6に示すように、3回行うことが好ましい。第2の熱処理後は、チャンバ10は待機状態となる。なお、待機状態とせずに、次のワークWが到来することを通知する信号を受信するまで、第2加熱と冷却のサイクルを継続してもよい。 Furthermore, in the second heat treatment, the second heating and cooling cycles are performed a second predetermined number of times to repeatedly expand and contract the components in the chamber 10 to generate particles. The second predetermined number of times is two or more, and preferably three times, for example, as shown in FIG. After the second heat treatment, chamber 10 is in a standby state. Alternatively, the second heating and cooling cycle may be continued until a signal notifying the arrival of the next workpiece W is received without entering the standby state.

中断処理部75は、第2加熱における昇温工程中に、ワークWが到来することを通知する信号を受信した場合に、第2加熱を中断させる。上記のように、ワークWは、熱処理装置1より上流の装置、例えば、仮焼成装置によって溶液が仮焼成されて半硬化状態とされる。中断処理部75は、第2加熱において最高温度に達する前に、このような上流の装置からワークWが到来することを通知する信号を受信した場合には、加熱部50による加熱を停止して、ノズル63、64からの冷却ガスの吐出によって第3の所定温度まで冷却することにより、待機状態とする。なお、降温工程中に信号を受信しても、ワークWを受け入れる際には、待機状態となるまで冷却する必要があるため、降温工程を継続する。 The interruption processing unit 75 interrupts the second heating when a signal notifying that the workpiece W is coming is received during the temperature rising process in the second heating. As described above, the work W is made into a semi-hardened state by calcining the solution by a device upstream of the heat treatment device 1, for example, a calcining device. The interruption processing unit 75 stops heating by the heating unit 50 when receiving a signal notifying that the workpiece W is coming from such an upstream device before reaching the maximum temperature in the second heating. , the cooling gas is discharged from the nozzles 63 and 64 to cool them to a third predetermined temperature, thereby entering a standby state. Even if the signal is received during the temperature lowering process, the temperature lowering process is continued because the workpiece W needs to be cooled until it enters a standby state when receiving it.

[動作]
以上のような本実施形態の動作の手順を、上記の図1~図6に加えて、図7のフローチャートを参照して説明する。まず、カセット20は、開口部20aを手前にして、チャンバ10内の各支持部30の位置に挿入され、受け部32に支持されている。本実施形態においては、6つのカセット20が、各受け部32に支持されることにより収容されている。なお、カセット20内にはワークWは支持されていない。
[motion]
The operation procedure of the present embodiment as described above will be described with reference to the flow chart of FIG. 7 in addition to FIGS. First, the cassette 20 is inserted into the position of each supporting portion 30 in the chamber 10 with the opening 20a facing forward, and is supported by the receiving portion 32 . In this embodiment, six cassettes 20 are accommodated by being supported by each receiving portion 32 . No work W is supported in the cassette 20 .

この状態で、開閉制御部71が、開閉機構を制御することにより開閉扉11を開放状態とし、上方に移動させて開位置とする(ステップS01)。続いて、図示しないロボットアームにより、チャンバ10内の上の段のカセット20から、下の段のカセット20の順に、ワークWを搬入する(ステップS02)。搬入されたワークWは、カセット20の内部に設けられたワーク支持部23に支持される。 In this state, the opening/closing control unit 71 controls the opening/closing mechanism to open the opening/closing door 11 and moves it upward to the open position (step S01). Subsequently, a robot arm (not shown) loads the workpieces W into the chamber 10 in order from the upper cassette 20 to the lower cassette 20 (step S02). The loaded work W is supported by a work support portion 23 provided inside the cassette 20 .

ワークWの搬入作業が完了すると、開閉制御部71が開閉機構を制御することにより、開閉扉11を下方に移動させて、閉位置とした後、開口10aに押し付けるように移動させることにより、チャンバ10の内部を密閉状態にする(ステップS03)。 When the loading operation of the workpiece W is completed, the opening/closing control unit 71 controls the opening/closing mechanism to move the opening/closing door 11 downward to the closed position, and then presses it against the opening 10a to open the chamber. 10 is sealed (step S03).

さらに、排気制御部72により排気部40を制御し、チャンバ10の内部を減圧する(ステップS04)。この減圧は、まず、第3の排気部43のバルブ43bを閉じた状態で、第1の排気部41の排気ポンプ41bによって大気圧から第1の所定の圧力まで粗引き排気を行う。次に、第2の排気部42の排気ポンプ42bによって、第1の所定の圧力よりもさらに低い第2の所定の圧力まで排気を行う。これにより、例えば1×10-2~100Pa程度の圧力まで減圧する。 Further, the exhaust control unit 72 controls the exhaust unit 40 to reduce the pressure inside the chamber 10 (step S04). For this decompression, first, rough evacuation is performed from the atmospheric pressure to a first predetermined pressure by the exhaust pump 41b of the first exhaust section 41 while the valve 43b of the third exhaust section 43 is closed. Next, the exhaust pump 42b of the second exhaust section 42 evacuates to a second predetermined pressure that is lower than the first predetermined pressure. As a result, the pressure is reduced to about 1×10 −2 to 100 Pa, for example.

チャンバ10の内部空間が第2の所定の圧力まで減圧されると、第1の熱処理部73が、加熱部50のヒータ51に電力を印加させて、第1の熱処理を開始する(ステップS05)。この第1の熱処理においては、図5に示すように、まず、ワークWを第1の所定温度まで昇温させる第1昇温工程を行う(ステップS06)。そして、昇温によって達した第1の所定温度を第1の所定時間維持する第1温度維持工程を行う(ステップS07)。これにより、ワークWの溶液に含まれている水分やガスなどが排出される。 When the internal space of the chamber 10 is depressurized to the second predetermined pressure, the first heat treatment section 73 applies electric power to the heater 51 of the heating section 50 to start the first heat treatment (step S05). . In this first heat treatment, as shown in FIG. 5, first, a first temperature raising step is performed to raise the temperature of the workpiece W to a first predetermined temperature (step S06). Then, a first temperature maintaining step of maintaining the first predetermined temperature reached by the temperature rise for a first predetermined time is performed (step S07). As a result, moisture, gas, and the like contained in the solution of the work W are discharged.

続いて、第1の熱処理部73は、加熱部50のヒータ51への印加電力を制御することにより、第1昇温工程における第1の所定温度よりも高い第2の所定温度まで昇温させる第2昇温工程を行う(ステップS08)。そして、昇温によって達した第2の所定温度を第2の所定時間維持する第2温度維持工程を行う(ステップS09)。この加熱で、ワークWの基板の表面にイミド化により有機膜が形成される。 Subsequently, the first heat treatment section 73 controls the power applied to the heater 51 of the heating section 50 to raise the temperature to a second predetermined temperature higher than the first predetermined temperature in the first temperature raising step. A second temperature raising step is performed (step S08). Then, a second temperature maintaining step is performed to maintain the second predetermined temperature reached by the temperature rise for a second predetermined time (step S09). By this heating, an organic film is formed on the surface of the substrate of the work W by imidization.

第2の所定時間が経過すると、第1の熱処理部73は、加熱部50のヒータ51を停止させて、有機膜が形成されたワークWの温度を、第3の所定温度まで冷却する降温工程を行う(ステップS10)。すなわち、排気部40による排気を停止し、給気部60に、ガス供給装置65からの冷却ガスを供給させる。これにより、チャンバ10の内部が徐々に大気圧に近づくとともに、ワークWが冷却される。 After the second predetermined time has elapsed, the first heat treatment unit 73 stops the heater 51 of the heating unit 50, and cools the temperature of the work W on which the organic film is formed to a third predetermined temperature. (step S10). That is, the exhaust unit 40 stops exhausting, and the cooling gas from the gas supply device 65 is supplied to the air supply unit 60 . As a result, the inside of the chamber 10 gradually approaches the atmospheric pressure, and the workpiece W is cooled.

チャンバ10の内部が大気圧になると、排気制御部72によりバルブ43bを開き、第3の排気部43を介して、冷却ガスをチャンバ10の外部に排気する。チャンバ10内が、ワークWを搬出可能な第3の所定温度まで冷却されると、給気部60による冷却ガスの供給が停止され、待機状態となる(ステップS11)。 When the pressure inside the chamber 10 reaches the atmospheric pressure, the exhaust control unit 72 opens the valve 43 b to exhaust the cooling gas to the outside of the chamber 10 through the third exhaust unit 43 . When the inside of the chamber 10 is cooled to the third predetermined temperature at which the workpiece W can be unloaded, the supply of the cooling gas by the air supply unit 60 is stopped and a standby state is entered (step S11).

次に、開閉制御部71が開閉扉11の開閉機構を制御することにより、チャンバ10の内部を開放状態にし、さらに開閉扉11を開位置に移動させて開口10aを開く(ステップS12)。そして、図示しないロボットアームにより、下の段のカセット20から順次ワークWが搬出される(ステップS13)。 Next, the opening/closing control unit 71 controls the opening/closing mechanism of the opening/closing door 11 to open the inside of the chamber 10, and moves the opening/closing door 11 to the open position to open the opening 10a (step S12). Then, the workpieces W are sequentially unloaded from the cassette 20 in the lower stage by a robot arm (not shown) (step S13).

チャンバ10内から全てのワークWが搬出されると、開閉制御部71は、開閉扉11の開閉機構を制御することにより、開閉扉11を閉位置に移動させ、開口10aに押し付けるように移動させて密閉状態とする(ステップS14)。そして、制御装置70は、ワークWを受け入れ可能であることを通知する信号を、上流の装置に送信する(ステップS15)。なお、熱処理装置1の停止指示が入力された場合には(ステップS16のYES)、処理を終了する。 When all the workpieces W are carried out from the chamber 10, the opening/closing control unit 71 controls the opening/closing mechanism of the opening/closing door 11 to move the opening/closing door 11 to the closed position so as to press it against the opening 10a. to bring it into a sealed state (step S14). Then, the control device 70 transmits a signal notifying that the work W can be accepted to the upstream device (step S15). If an instruction to stop the heat treatment apparatus 1 is input (YES in step S16), the process ends.

第2の熱処理部74は、熱処理装置1が稼働を継続する場合(ステップS16のNO)、上流の装置から次のワークWが到来することを通知する信号を受信し(ステップS17のYES)、次のワークWが到来すると上記のステップS01以降の処理を行う。一方、ワークWを受け入れ可能であることを通知する信号を出力してから、つまり所定の基準時から次のワークWが到来することを通知する信号を受信することなく(ステップS17のNO)、第3の所定時間が経過した場合(ステップS18のYES)、第2の熱処理を開始する(ステップS19)。つまり、第1の熱処理の終了から所定時間(第3の所定時間)、ワークWが来ない場合、次の第1の熱処理を行うことができないと考えられるので、この時間を利用して空加熱を行なう。例えば、上流の装置で何等かの問題が起きて、長時間、熱処理装置1にワークWが到来しない場合などに、空加熱を行うことができる。 When the heat treatment apparatus 1 continues to operate (NO in step S16), the second heat treatment section 74 receives a signal notifying that the next workpiece W arrives from the upstream apparatus (YES in step S17), When the next workpiece W arrives, the processes after step S01 are performed. On the other hand, after outputting the signal notifying that the work W can be accepted, that is, without receiving the signal notifying that the next work W will arrive from the predetermined reference time (NO in step S17), If the third predetermined time has passed (YES in step S18), the second heat treatment is started (step S19). In other words, if the work W does not arrive for a predetermined time (third predetermined time) after the end of the first heat treatment, it is considered that the next first heat treatment cannot be performed, so this time is used for idle heating. do For example, empty heating can be performed when the work W does not reach the heat treatment apparatus 1 for a long time due to some problem occurring in an upstream apparatus.

まず、第2の熱処理部74は、排気制御部72により排気部40を制御し、チャンバ10の内部を減圧する(ステップS20)。この減圧は、第1の熱処理における減圧と同様に、バルブ43bを閉じ、排気ポンプ41bによって粗引き排気を行った後、排気ポンプ42bによって第2の所定の圧力まで排気を行う。これにより、例えば1×10-2~100Pa程度の圧力まで減圧する。 First, the second heat treatment section 74 controls the exhaust section 40 by the exhaust control section 72 to reduce the pressure inside the chamber 10 (step S20). As in the case of the pressure reduction in the first heat treatment, the valve 43b is closed, the exhaust pump 41b performs rough evacuation, and the exhaust pump 42b exhausts to a second predetermined pressure. As a result, the pressure is reduced to about 1×10 −2 to 100 Pa, for example.

チャンバ10の内部空間が第2の所定の圧力まで減圧されると、加熱部50のヒータ51に電力を印加させて、チャンバ10内を第2の所定温度まで上昇させる昇温工程を行う(ステップS21)。これにより、カセット20及び支持部30等のチャンバ10内の部材が熱膨張する。 When the internal space of the chamber 10 is depressurized to the second predetermined pressure, power is applied to the heater 51 of the heating unit 50 to perform a temperature raising process for raising the inside of the chamber 10 to the second predetermined temperature (step S21). As a result, members inside the chamber 10 such as the cassette 20 and the support portion 30 are thermally expanded.

このような第2の熱処理において、昇温中で第2の所定温度に達していない場合であって(ステップS22のNO)、上流の装置から次のワークWが到来することを通知する信号を受信しない場合には(ステップS23のNO)、昇温を継続する。第2の熱処理部74は、第2の所定温度まで達した場合(ステップS22のYES)、降温工程を行う(ステップS24)。 In such a second heat treatment, if the temperature is rising and has not yet reached the second predetermined temperature (NO in step S22), a signal notifying that the next workpiece W will arrive is sent from the upstream device. If not received (NO in step S23), the temperature rise is continued. When the temperature reaches the second predetermined temperature (YES in step S22), the second heat treatment section 74 performs a temperature lowering step (step S24).

つまり、第2の熱処理部74は、降温工程において加熱部50のヒータ51を停止して、ガス供給装置65に冷却ガスを供給させることにより、給気部60のノズル63、64から冷却ガスを吐出させる。チャンバ10内が大気圧になったら、バルブ43bを開いて第3の排気部43による排気を行う。このときも冷却ガスの供給は継続する。これにより、チャンバ10の内部が冷却されるため、カセット20及び支持部30等のチャンバ10内の部材が収縮する。ノズル64からの冷却ガスは、カセット20と支持部30との接触部分に上方に向けて吹き付けられるので、カセット20と支持部30との熱膨張と収縮によって発生したパーティクルが、排気口14に向かう排気とともに排出される。 In other words, the second heat treatment section 74 stops the heater 51 of the heating section 50 in the temperature lowering step and causes the gas supply device 65 to supply the cooling gas, thereby supplying the cooling gas from the nozzles 63 and 64 of the air supply section 60 . Let it spit out. When the pressure inside the chamber 10 reaches the atmospheric pressure, the valve 43b is opened and the third exhaust section 43 performs exhaust. At this time as well, the supply of the cooling gas continues. As a result, the inside of the chamber 10 is cooled, and the members inside the chamber 10 such as the cassette 20 and the support section 30 contract. Since the cooling gas from the nozzle 64 is blown upward to the contact portion between the cassette 20 and the support portion 30, particles generated by thermal expansion and contraction between the cassette 20 and the support portion 30 are directed toward the exhaust port 14. Emitted with the exhaust.

特に、支持部30の受け部32における突出する方向の長さがカセット支持部24の突出する方向の長さよりも短いことが好ましい。この場合、ノズル64から吐出される冷却ガスは、カセット支持部24と受け部32とが接触する部分に吹き付けられる。そのため、パーティクルをより排出することができる。また、前述の通り、受け部32の前後方向の長さは、カセット支持部24の前後方向の長さよりも長い。そして、受け部32の上下方向の長さは、カセット支持部24の下面からカセット20の下面までの長さである。そのため、受け部32は、ノズル64からの冷却ガスを誘導する役割を有する。 In particular, it is preferable that the length in the direction in which the receiving portion 32 of the support portion 30 protrudes is shorter than the length in the direction in which the cassette support portion 24 protrudes. In this case, the cooling gas discharged from the nozzle 64 is sprayed onto the portion where the cassette support portion 24 and the receiving portion 32 contact each other. Therefore, more particles can be discharged. Further, as described above, the length of the receiving portion 32 in the front-rear direction is longer than the length of the cassette support portion 24 in the front-rear direction. The vertical length of the receiving portion 32 is the length from the bottom surface of the cassette support portion 24 to the bottom surface of the cassette 20 . Therefore, the receiving portion 32 has a role of guiding the cooling gas from the nozzle 64 .

ノズル64からの冷却ガスは、受け部32に沿って前後方向に流れる。その結果、冷却ガスは、カセット20の開口部20a近くのカセット支持部24と受け部32とが接触している部分まで流れる。つまり、前後方向において、カセット支持部24と受け部32とが接触する部分に対して冷却ガスが吹き付けられる。したがって、パーティクルをより排出することができる。第2の熱処理部74は、第3の所定温度まで冷却すると、給気部60による冷却ガスの供給を停止させる。 Cooling gas from the nozzle 64 flows along the receiving portion 32 in the front-rear direction. As a result, the cooling gas flows to the portion where the cassette support portion 24 and the receiving portion 32 are in contact near the opening 20 a of the cassette 20 . That is, the cooling gas is blown to the portion where the cassette support portion 24 and the receiving portion 32 contact each other in the front-rear direction. Therefore, more particles can be discharged. When the second heat treatment section 74 is cooled to the third predetermined temperature, the supply of the cooling gas by the air supply section 60 is stopped.

上記の第2の熱処理における加熱と冷却の1サイクルが、第2の所定回数に達していない場合には(ステップS25のNO)、上記のように減圧後、昇温工程と降温工程を再度行う(ステップS20~S24)。第2の熱処理における加熱と冷却の回数が第2の所定回数に達した場合には(ステップS25のYES)、チャンバ10は待機状態となり、次のワークWが来た場合には、上記のステップS01以降の処理を行う。 If one cycle of heating and cooling in the second heat treatment has not reached the second predetermined number of times (NO in step S25), the temperature raising step and the temperature lowering step are performed again after reducing the pressure as described above. (Steps S20 to S24). When the number of times of heating and cooling in the second heat treatment reaches the second predetermined number of times (YES in step S25), the chamber 10 enters a standby state, and when the next workpiece W arrives, the above step Processing after S01 is performed.

なお、第2加熱において昇温工程中に、上流の装置から次のワークWが到来することを通知する信号を受信した場合(ステップS23のYES)、中断処理部75は、加熱部50による加熱を停止し、上記と同様に降温工程を行う(ステップS26)。そして、待機状態となる第3の所定温度になり、給気部60による冷却ガスの供給を停止した後は、上記のステップS01以降の処理を行う。 In the second heating, when a signal notifying that the next workpiece W arrives from the upstream device is received during the temperature rising step (YES in step S23), the interruption processing unit 75 causes the heating unit 50 to heat the workpiece W. is stopped, and the temperature lowering step is performed in the same manner as described above (step S26). Then, after reaching the third predetermined temperature for the standby state and stopping the supply of the cooling gas by the air supply unit 60, the processing from step S01 onward is performed.

[効果]
(1)本実施形態の熱処理装置1は、大気圧よりも減圧された雰囲気を維持可能なチャンバ10と、チャンバ10に接続され、チャンバ10内を排気する排気部40と、チャンバ10内に収容されたワークWを支持する支持部30と、支持部30にワークWが支持された状態でワークWを加熱する第1加熱を行い、支持部30にワークWが支持されていない状態で、第1加熱よりも速い昇温速度でチャンバ10内を加熱する第2加熱を行う加熱部50と、前記第1加熱後及び前記第2加熱後に、気体をチャンバ内に供給することにより冷却を行う給気部60と、を有する。
[effect]
(1) The heat treatment apparatus 1 of the present embodiment includes a chamber 10 capable of maintaining an atmosphere pressure-reduced below atmospheric pressure, an exhaust section 40 connected to the chamber 10 for exhausting the interior of the chamber 10, and a A first heating is performed to heat the work W in a state where the work W is supported by the support portion 30 that supports the work W, and in a state where the work W is not supported by the support portion 30, a first heating is performed. A heating unit 50 that performs second heating that heats the inside of the chamber 10 at a temperature increase rate faster than the first heating, and a supply that cools by supplying gas into the chamber after the first heating and after the second heating. and an air section 60 .

また、本実施形態の熱処理装置1は、排気部40、加熱部50、給気部60を制御する制御装置70を有し、制御装置70は、加熱部50及び給気部60が、第1加熱及び冷却を行う第1の熱処理を実行させる第1の熱処理部73と、第1の熱処理がなされたワークWがチャンバ10から排出された後、加熱部50、給気部60及び排気部40が、第2加熱、冷却及び排気を行う第2の熱処理を実行させる第2の熱処理部74と、を有する。 The heat treatment apparatus 1 of the present embodiment also includes a control device 70 that controls the exhaust section 40, the heating section 50, and the air supply section 60. The control device 70 controls the heating section 50 and the air supply section 60 to A first heat treatment unit 73 that performs a first heat treatment for heating and cooling, and a heating unit 50, an air supply unit 60, and an exhaust unit 40 after the workpiece W subjected to the first heat treatment is discharged from the chamber 10. has a second heat treatment section 74 for performing a second heat treatment of second heating, cooling and evacuation.

さらに、本実施形態の熱処理方法は、減圧されたチャンバ10内の支持部30にワークWが支持された状態で、加熱部50がワークWを加熱した後、給気部60が気体を供給して冷却する第1の熱処理と、第1の熱処理後、チャンバ10からワークWを排出するワーク排出処理と、支持部30にワークWが支持されていない状態で、加熱部50が第1の熱処理よりも速い昇温速度によりチャンバ10内を加熱した後、給気部60が気体を供給して冷却し、排気部40がチャンバ10内を排気する第2の熱処理と、を含む。 Furthermore, in the heat treatment method of the present embodiment, the heating unit 50 heats the work W in a state where the work W is supported by the support unit 30 in the decompressed chamber 10, and then the air supply unit 60 supplies gas. a first heat treatment in which the work W is cooled by the heat treatment; a work discharge process in which the work W is discharged from the chamber 10 after the first heat treatment; and a second heat treatment in which the inside of the chamber 10 is heated at a faster rate of temperature rise than the above, the air supply unit 60 supplies gas to cool the chamber 10, and the inside of the chamber 10 is exhausted by the exhaust unit 40.

このため、ワークWに対する第1加熱を行っていない間に、第2加熱及び冷却を行い、チャンバ10内部の部材の膨張と収縮により発生するパーティクルや、加熱により軟化して排出し易くなった昇華物を、排気部40の排気とともにチャンバ10外に排出させて、チャンバ10内の清浄度を維持できる。従って、パーティクルがワークWの表面に付着することによる品質低下を低減でき、歩留まりも向上する。特に、第2加熱では、第1加熱に比べて昇温速度が速いので、熱膨張による部材同士の擦れが発生しやすくなり、発生し得るパーティクルを除去できる。 For this reason, while the first heating is not performed on the work W, the second heating and cooling are performed, and particles generated by expansion and contraction of the members inside the chamber 10 and sublimation softened by heating and easily discharged The cleanliness of the interior of the chamber 10 can be maintained by discharging the matter to the outside of the chamber 10 together with the exhaust from the exhaust section 40 . Therefore, it is possible to reduce deterioration in quality due to particles adhering to the surface of the work W, and to improve the yield. In particular, in the second heating, the rate of temperature rise is faster than in the first heating, so the members are likely to rub against each other due to thermal expansion, and particles that may be generated can be removed.

また、昇華物やパーティクルが排気により除去されるので、熱処理装置1を停止して行うクリーニングのためのメンテナンスの頻度を低減して、生産性の低下を抑えることができる。さらに、チャンバ10内の付着物を低減できるので、メンテナンスに要する時間を短縮でき、生産効率を向上させることができる。なお、第2加熱を行うことは、次のワークWが到来するまでのチャンバ10内の温度維持にもなるため、エネルギー効率も良い。 In addition, since the sublimate and particles are removed by the exhaust, the frequency of maintenance for cleaning performed by stopping the heat treatment apparatus 1 can be reduced, and a decrease in productivity can be suppressed. Furthermore, since deposits in the chamber 10 can be reduced, the time required for maintenance can be shortened, and production efficiency can be improved. It should be noted that performing the second heating also maintains the temperature in the chamber 10 until the next workpiece W arrives, so the energy efficiency is also good.

(2)本実施形態の熱処理装置1は、加熱部50及び給気部60は、第2加熱及び冷却を、複数回行う。このため、チャンバ10内の部材の膨張と収縮を繰り返し行って、パーティクルを発生させて除去するので、その後の処理においてチャンバ10内に発生するパーティクルを低減できる。 (2) In the heat treatment apparatus 1 of the present embodiment, the heating unit 50 and the air supply unit 60 perform the second heating and cooling multiple times. Therefore, the members in the chamber 10 are repeatedly expanded and contracted to generate and remove particles, so that the particles generated in the chamber 10 in subsequent processing can be reduced.

(3)本実施形態の熱処理装置1は、給気部60と接続され、ワークWの下面に向けて気体を吐出するノズル63が設けられている。このため、均熱板22に囲われ、ワークWを処理する領域に気体を吹き付けることができる。その結果、均熱板22と均熱板22を支持する部材とが接触する部分に気体を吹き付けることができ、パーティクルを排気とともに除去することができる。 (3) The heat treatment apparatus 1 of the present embodiment is provided with a nozzle 63 that is connected to the air supply section 60 and ejects gas toward the lower surface of the workpiece W. As shown in FIG. Therefore, the gas can be blown to the area surrounded by the heat equalizing plate 22 and where the work W is to be processed. As a result, the gas can be blown to the portion where the heat soaking plate 22 and the member supporting the heat soaking plate 22 are in contact, and the particles can be removed together with the exhaust.

(4)本実施形態の熱処理装置1は、給気部60と接続され、チャンバ10内の部材の接触部分に気体を吹き付けるノズル64が設けられている。このため、パーティクルの発生し易い箇所に気体を吹き付けて、排気とともに除去することができる。 (4) The heat treatment apparatus 1 of the present embodiment is provided with a nozzle 64 that is connected to the air supply section 60 and blows gas onto the contact portion of the members in the chamber 10 . For this reason, it is possible to blow the gas to a location where particles are likely to be generated and remove them together with the exhaust.

(5)チャンバ10には、排気部40による排気を行う排気口14が設けられ、ノズル64は、チャンバ10における排気口14が設けられた側に向けて、気体を吐出する。このため、排気に向かう気流を発生させて、パーティクルを排出し易くすることができる。 (5) The chamber 10 is provided with an exhaust port 14 for exhausting by the exhaust unit 40, and the nozzle 64 discharges gas toward the side of the chamber 10 where the exhaust port 14 is provided. For this reason, it is possible to generate an airflow toward the exhaust gas and facilitate the discharge of the particles.

(6)ノズル63からの気体の吐出量は、第1加熱後の冷却よりも第2加熱後の冷却の方が多い。このため、接触部分への吹き付けの気体の流量、排気のための気体の流量が多くなるので、パーティクルが排出され易くなる。ノズル63は、ワークWの下面を冷却するために、吐出口が斜め上を向いている。カセット20の下面に取り付けられた均熱板22に気体を吹き付けるには、カセット20の上面に取り付けられた均熱板22に気体を吹き付ける必要がある。ノズル63からの気体の吐出量を多くすることで、カセット20の下面に設けられた均熱板22に吹き付けられる気体の流量が多くなり、パーティクルがより排出される。 (6) The amount of gas discharged from the nozzle 63 is larger during cooling after the second heating than during cooling after the first heating. For this reason, the flow rate of the gas for blowing to the contact portion and the flow rate of the gas for exhausting are increased, so that the particles are easily discharged. In order to cool the lower surface of the work W, the nozzle 63 has a discharge opening facing obliquely upward. In order to blow the gas onto the heat soaking plate 22 attached to the bottom surface of the cassette 20, it is necessary to blow the gas onto the heat soaking plate 22 attached to the top surface of the cassette 20. FIG. By increasing the amount of gas discharged from the nozzles 63, the flow rate of the gas blown onto the heat soaking plate 22 provided on the lower surface of the cassette 20 increases, and more particles are discharged.

(7)ノズル64からの気体の吐出量は、第1加熱後の冷却よりも第2加熱後の冷却の方が多い。このため、接触部分への吹き付けの気体の流量、排気のための気体の流量が多くなるので、パーティクルが排出され易くなる。 (7) The amount of gas discharged from the nozzle 64 is larger during cooling after the second heating than during cooling after the first heating. For this reason, the flow rate of the gas for blowing to the contact portion and the flow rate of the gas for exhausting are increased, so that the particles are easily discharged.

(8)第1加熱及び第2加熱における加熱の最高温度は同じである。このため、第1加熱の温度条件において発生する可能性のあるパーティクルを、あらかじめ除去することができる。 (8) The highest heating temperature is the same in the first heating and the second heating. Therefore, particles that may be generated under the temperature conditions of the first heating can be removed in advance.

(9)第2の熱処理部74は、第1の熱処理後の所定の基準時から、第3の所定時間が経過するまでの間に、ワークWがチャンバ10に到来することを通知する信号を受信しない場合に、加熱部50、給気部60及び排気部40に第2の熱処理を実行させる。このため、ワークWが来ない空き時間に、パーティクルを排出する空加熱を行うことができ、第2の熱処理のためにワークWの生産が妨げられることがないため、生産性の低下を抑えることができる。 (9) The second heat treatment section 74 sends a signal notifying that the work W arrives in the chamber 10 during a period from a predetermined reference time after the first heat treatment until a third predetermined time elapses. If not, the heating unit 50, the air supply unit 60, and the exhaust unit 40 are made to perform the second heat treatment. Therefore, idle heating for discharging particles can be performed during the idle time when the work W does not come, and the production of the work W is not hindered by the second heat treatment, thereby suppressing a decrease in productivity. can be done.

(10)制御装置70は、第2加熱における昇温中に、ワークWが到来することを通知する信号を受信した場合に、第2加熱を中断させる中断処理部75を有する。このため、ワークWの生産が妨げられて、生産効率を低下させることを防止できる。 (10) The control device 70 has an interruption processing section 75 that interrupts the second heating when a signal notifying that the workpiece W is coming is received during the temperature rise in the second heating. Therefore, it is possible to prevent the production of the work W from being hindered and the production efficiency from being lowered.

[第2の実施形態]
本発明の第2の実施形態を説明する。第2の実施形態は、上記の第1の実施形態と基本的な構成は同一である。但し、第2の実施形態では、第2の熱処理部74が、第1の熱処理後の所定の基準時から、第2の熱処理を行うために必要な時間が経過するまでの間に、ワークWがチャンバ10に到来しない場合に、加熱部50、給気部60及び排気部40に第2の熱処理を実行させる。
[Second embodiment]
A second embodiment of the present invention will be described. The second embodiment has the same basic configuration as the first embodiment described above. However, in the second embodiment, the second heat treatment section 74 performs the work W during the period from the predetermined reference time after the first heat treatment to the elapse of the time required for performing the second heat treatment. does not reach the chamber 10, the heating unit 50, the air supply unit 60, and the exhaust unit 40 are caused to perform the second heat treatment.

より具体的には、上記の第1の実施形態におけるフローチャートのステップS15において、ワークWを受け入れ可能であることを通知する信号が上流の装置に送信される。次に、信号を受信した上流の装置から、次のワークWが到来する予定時間を通知する信号が送信される。なお、次のワークWが到来する予定時間とは、次のワークWが熱処理装置1に到来するまでにどのくらいの時間を要するかという時間間隔のことを指す。また、次のワークWが到来する予定時間をt1と呼ぶこともある。上流の装置から送信された信号を受信したら、次のワークWが到来する予定時間と第2の熱処理を行うために必要な時間とを比較する。比較した結果、次のワークWが熱処理装置1に到来する前に、第2の熱処理を行うことができると判断した場合に、ステップS19以降の処理を行う。但し、第2の熱処理を行うために必要な時間より、次のワークWが到来するまでの予定時間の方が短い場合には、チャンバ10を待機状態にして、次のワークWが到来するとステップS01以降の処理を行う。なお、第2の熱処理を行うために必要な時間をt2と呼ぶこともある。 More specifically, in step S15 of the flow chart in the first embodiment, a signal is sent to the upstream device to notify that the work W can be accepted. Next, the upstream device that received the signal transmits a signal that notifies the expected arrival time of the next work W. FIG. The expected arrival time of the next workpiece W refers to a time interval indicating how long it takes for the next workpiece W to arrive at the heat treatment apparatus 1 . Also, the estimated time at which the next workpiece W arrives is sometimes called t1. When the signal transmitted from the upstream device is received, the scheduled arrival time of the next workpiece W is compared with the time required for performing the second heat treatment. As a result of the comparison, when it is determined that the second heat treatment can be performed before the next workpiece W arrives at the heat treatment apparatus 1, the processes after step S19 are performed. However, if the estimated time until the arrival of the next work W is shorter than the time required for performing the second heat treatment, the chamber 10 is placed in a standby state, and when the next work W arrives, step Processing after S01 is performed. Note that the time required to perform the second heat treatment is sometimes called t2.

t2は、例えば、第2の熱処理における加熱と冷却を1サイクル行うために必要な時間である。t1とt2とを比較し、t1≧t2の場合、第2の熱処理を行う。なお、所定の基準時が時刻であった場合、次のワークWが熱処理装置1に到来する予定時刻と所定の基準時とからt1を求めることもできる。 t2 is, for example, the time required to perform one cycle of heating and cooling in the second heat treatment. t1 and t2 are compared, and if t1≧t2, a second heat treatment is performed. If the predetermined reference time is time, t1 can also be obtained from the scheduled arrival time of the next workpiece W at the heat treatment apparatus 1 and the predetermined reference time.

また、t1≧t2の場合、第2の熱処理の繰り返し回数を算出する。繰り返し回数は、t1をt2で除算し、除算で得られた値の小数点以下を切り捨てることで算出する。ここで、得られた繰り返し回数の値が第2の所定回数の値よりも小さい場合、第2の所定回数の値を繰り返し回数の値に変更する。これにより、ワークWが来ない空き時間に、パーティクルを排出する空加熱を行うことができ、第2の熱処理のためにワークWの生産が妨げられることがないため、生産性の低下を抑えることができる。 Further, when t1≧t2, the number of repetitions of the second heat treatment is calculated. The number of repetitions is calculated by dividing t1 by t2 and truncating the resulting value after the decimal point. Here, if the obtained value of the number of repetitions is smaller than the value of the second predetermined number of times, the value of the second predetermined number of times is changed to the value of the number of repetitions. As a result, idle heating for discharging particles can be performed during the idle time when the workpiece W does not come, and the production of the workpiece W is not hindered by the second heat treatment, thereby suppressing a decrease in productivity. can be done.

[変形例]
(1)第2の熱処理における第2加熱と冷却の回数は、上記で例示したものには限定されない。また、上記の第2の実施形態で例示したように、あらかじめ次のワークWが到来するまでの時間が分かっている場合には、その時間に応じて第2の熱処理部74が回数を変更してもよい。例えば、比較的時間が短い場合には、回数を少なくし、時間が長い場合には回数を多くすることができる。この時間は、上流の装置からの信号、実際の運用結果に応じて設定することができる。
[Modification]
(1) The number of times of the second heating and cooling in the second heat treatment is not limited to those exemplified above. Further, as exemplified in the above second embodiment, when the time until the next workpiece W arrives is known in advance, the second heat treatment section 74 changes the number of times according to the time. may For example, when the time is relatively short, the number of times can be decreased, and when the time is long, the number of times can be increased. This time can be set according to signals from upstream equipment and actual operational results.

(2)第2の熱処理における冷却後、具体的には第3の所定温度となってから開閉扉11を開位置へと移動させ、第4の所定時間の間、開位置を維持するようにしてもよい。第4の所定時間の間、冷却ガスは、ノズル63およびノズル64から吐出され続けている。そのため、第4の所定時間の間、開閉扉11を開位置とすることで、チャンバ10の内部で発生したパーティクルを、開口10aから熱処理装置1の外部へと排出することができる。 (2) After cooling in the second heat treatment, specifically after reaching the third predetermined temperature, the open/close door 11 is moved to the open position and maintained in the open position for a fourth predetermined time. may The cooling gas continues to be discharged from the nozzles 63 and 64 for the fourth predetermined time. Therefore, by opening the opening/closing door 11 for the fourth predetermined time, particles generated inside the chamber 10 can be discharged to the outside of the heat treatment apparatus 1 through the opening 10a.

冷却ガスが開口10aから熱処理装置1の外部へと排出されることで、チャンバ10内の冷却ガスの流れ方が変わる。そのため、第2加熱後の冷却時に気体が流れず澱んでいた部分にも気体が流れるようになる。したがって、パーティクルがより排出される。また、開口10aは、チャンバ10の天井面に設けられた排気口14よりも開口面積が大きい。そのため、開口10aのコンダクタンスは、排気口14のコンダクタンスよりも小さくなる。その結果、排出される気体の量が増えるので、パーティクルがより排出される。したがって、パーティクルの排出能力を向上させることができる。 As the cooling gas is discharged from the heat treatment apparatus 1 through the opening 10a, the flow of the cooling gas in the chamber 10 changes. As a result, the gas can flow even in the stagnant portion where the gas does not flow during the cooling after the second heating. Therefore, more particles are emitted. Further, the opening 10 a has a larger opening area than the exhaust port 14 provided on the ceiling surface of the chamber 10 . Therefore, the conductance of the opening 10 a is smaller than the conductance of the exhaust port 14 . As a result, more particles are discharged because the amount of discharged gas increases. Therefore, it is possible to improve the particle discharge capability.

なお、第4の所定時間は、シミュレーションや実験などを行うことで適宜決定することができる。第4の所定時間は、例えば、30secから10min程度とする。また、次のワークWが到来する予定時刻と所定の基準時との差分の時間を求め、差分の時間が第2の熱処理を行うために必要な時間よりも少ない場合、次のワークWが到来するまで、開閉扉11を開位置へと移動させ、ノズル63およびノズル64から冷却ガスの吐出を継続するようにしてもよい。また、開閉扉11を開位置へと移動させた際に、排気口14に設けられたバルブ43bは、閉じてもよいし、開けたままとしてもよい。 It should be noted that the fourth predetermined time can be appropriately determined by performing simulations, experiments, or the like. The fourth predetermined time is, for example, approximately 30 seconds to 10 minutes. Further, the difference time between the scheduled arrival time of the next workpiece W and the predetermined reference time is obtained, and if the difference time is less than the time required to perform the second heat treatment, the next workpiece W arrives. The opening/closing door 11 may be moved to the open position until the cooling gas is discharged from the nozzles 63 and 64 . Further, when the opening/closing door 11 is moved to the open position, the valve 43b provided at the exhaust port 14 may be closed or left open.

(3)ワークWの基板、溶液は上記で例示したものには限定されない。溶液には、液体が仮焼成されて半硬化状態(流れない状態)のものも含まれる。有機材料は、溶剤により溶解が可能なものであれば特に限定されない。加熱前のワークWは、基板のみであってもよい。また、ワークWを加熱して、ワークWの表面に無機膜などを形成したり、ワークWの表面を処理したりする熱処理装置1にも適用できる。 (3) The substrate of the workpiece W and the solution are not limited to those exemplified above. The solution also includes a semi-cured state (non-flowing state) obtained by calcining a liquid. The organic material is not particularly limited as long as it can be dissolved by a solvent. The workpiece W before heating may be only the substrate. Further, the present invention can also be applied to a heat treatment apparatus 1 that heats a work W to form an inorganic film or the like on the surface of the work W, or treats the surface of the work W.

(4)カセット20を用いることにより、複数の均熱板22の出し入れが容易となるので、メンテナンスの容易化が可能となる。但し、本発明の熱処理装置1は、カセット20は必須ではない。つまり、支持部30によるワークWの支持は、ワークWを直接支持する場合も、間接的に支持する場合も含む。 (4) By using the cassette 20, it becomes easy to put in and take out the plurality of heat equalizing plates 22, so maintenance can be facilitated. However, the heat treatment apparatus 1 of the present invention does not require the cassette 20 . In other words, the support of the work W by the support portion 30 includes the case of directly supporting the work W and the case of indirectly supporting the work W.

(5)加熱部50のヒータ51は、第1の熱処理を行うものと、第2の熱処理を行うものを別にすることもできる。但し、前述のように共通のヒータ51を用いることにより、消費電力の低減、製造コストの低減、省スペース化などを図ることができる。また、ヒータ51は、大気圧よりも減圧された雰囲気においてワークWを加熱できれば、前述で例示したものには限定されない。 (5) Separate heaters 51 of the heating unit 50 may be used for the first heat treatment and for the second heat treatment. However, by using the common heater 51 as described above, it is possible to reduce power consumption, reduce manufacturing costs, and save space. Moreover, the heater 51 is not limited to the above-described example as long as it can heat the workpiece W in an atmosphere that is reduced in pressure below the atmospheric pressure.

(6)ガス制御部65bは、配管61、62とガス源65aとの間に設けられ、配管61、62に対する冷却ガスの供給、停止、流量等を制御するとしたが、配管61と配管62それぞれにガス制御部を設け、ノズル63と、ノズル64からの冷却ガスの吐出を個別に制御してもよい。例えば、ノズル64からの冷却ガスの吐出を、第1の熱処理では行わず、第2の熱処理における降温工程でのみ行うようにすることもできる。 (6) The gas control unit 65b is provided between the pipes 61 and 62 and the gas source 65a, and controls the supply, stop, flow rate, etc. of the cooling gas to the pipes 61 and 62. A gas control unit may be provided in the nozzle 63 and the discharge of the cooling gas from the nozzle 64 may be individually controlled. For example, the cooling gas may be discharged from the nozzle 64 only in the temperature lowering step in the second heat treatment, not in the first heat treatment.

(7)第1加熱は、2ステップで行うとしたが、これには限定されない。ワークWの種類や、ワークWの表面に塗布される溶液の組成や状態によって選択することができ、1ステップでもよく、3ステップ以上でもよい。 (7) Although the first heating is performed in two steps, it is not limited to this. It can be selected according to the type of work W and the composition and state of the solution applied to the surface of work W, and may be one step or three or more steps.

(8)ノズル64は、チャンバ10内の部材同士の擦れが発生しやすい部分に対して吐出口をチャンバ10における排気口14が設けられた側に向けて、冷却ガスを吐出するとしたが、これに限定されない。ノズル64は、吐出口をチャンバ10における排気口14が設けられた側とは反対側に向けて冷却ガスを吐出するようにしてもよい。さらに、ノズル64は、ワークWを処理する領域の外側に向けて、冷却ガスを吐出するとしたが、これに限定されない。カセット20の上面あるいはカセット20の下面に取り付けられた均熱板に対してノズル64は冷却ガスを吐出するようにしてもよい。あるいは、カセット20の側面に取り付けられた均熱板に対してノズル64は冷却ガスを吐出するようにしてもよい。 (8) The nozzle 64 discharges the cooling gas toward the part where the members in the chamber 10 are likely to rub against each other, with the discharge port directed toward the side of the chamber 10 where the exhaust port 14 is provided. is not limited to The nozzle 64 may discharge the cooling gas with its discharge port directed to the side of the chamber 10 opposite to the side where the exhaust port 14 is provided. Furthermore, although the nozzle 64 discharges the cooling gas toward the outside of the region where the work W is processed, the present invention is not limited to this. The nozzles 64 may discharge cooling gas to a heat equalizing plate attached to the upper surface of the cassette 20 or the lower surface of the cassette 20 . Alternatively, the nozzles 64 may discharge cooling gas to a heat equalizing plate attached to the side surface of the cassette 20 .

(9)ガス供給装置65は、冷却ガスを供給するようにしたが、これに限定されない。ガス供給装置65は、複数のガス源65aを有し、チャンバ10内の温度によってチャンバ10内に供給する気体を変更できるようにしてもよい。例えば、チャンバ10内の温度が200℃以下となったら、冷却ガスに代えてクリーンドライエアー(CDA)をチャンバ10内に供給するようにしてもよい。例えば、第2の熱処理における冷却後、開閉扉11を開けている間、つまり第4の所定時間の間、CDAをチャンバ10内に供給するようにしてもよい。 (9) The gas supply device 65 supplies cooling gas, but is not limited to this. The gas supply device 65 may have a plurality of gas sources 65 a so that the gas supplied into the chamber 10 can be changed according to the temperature inside the chamber 10 . For example, when the temperature in the chamber 10 becomes 200° C. or lower, clean dry air (CDA) may be supplied into the chamber 10 instead of the cooling gas. For example, after cooling in the second heat treatment, CDA may be supplied into the chamber 10 while the opening/closing door 11 is open, that is, during the fourth predetermined time.

[他の実施形態]
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、下記に示す他の実施形態も包含する。また、本発明は、上記実施形態及び下記の他の実施形態を全て又はいずれかを組み合わせた形態も包含する。さらに、これらの実施形態を発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができ、その変形も本発明に含まれる。
[Other embodiments]
The present invention is not limited to the above embodiments, but also includes other embodiments shown below. In addition, the present invention also includes forms in which all or any of the above embodiments and other embodiments described below are combined. Furthermore, various omissions, replacements, and modifications can be made to these embodiments without departing from the scope of the invention, and the modifications are also included in the present invention.

1 熱処理装置
10 チャンバ
10a、10b 開口
10c シール材
10d フランジ
11 開閉扉
12、13、14 排気口
15 蓋
20 カセット
20a 開口部
21 カセットフレーム
21a 梁
22 均熱板
23 ワーク支持部
24 カセット支持部
30 支持部
31 フレーム
32 受け部
40 排気部
41 第1の排気部
41a 配管
41b 排気ポンプ
41c 圧力調整部
42 第2の排気部
42a 配管
42b 排気ポンプ
42c 圧力調整部
43 第3の排気部
43a 配管
43b バルブ
50 加熱部
51 ヒータ
60 給気部
61、62 配管
63、64、65 ガス供給装置
65a ガス源
65b ガス制御部
70 制御装置
71 開閉制御部
72 排気制御部
73 第1の熱処理部
74 第2の熱処理部
75 中断処理部
1 heat treatment apparatus 10 chambers 10a, 10b opening 10c sealing material 10d flange 11 open/close doors 12, 13, 14 exhaust port 15 lid 20 cassette 20a opening 21 cassette frame 21a beam 22 heat equalizing plate 23 work supporting portion 24 cassette supporting portion 30 support Part 31 Frame 32 Receiving Part 40 Exhaust Part 41 First Exhaust Part 41a Piping 41b Exhaust Pump 41c Pressure Adjusting Part 42 Second Exhaust Part 42a Piping 42b Exhaust Pump 42c Pressure Adjusting Part 43 Third Exhaust Part 43a Piping 43b Valve 50 Heating unit 51 Heater 60 Air supply units 61, 62 Pipes 63, 64, 65 Gas supply device 65a Gas source 65b Gas control unit 70 Control device 71 Opening/closing control unit 72 Exhaust control unit 73 First heat treatment unit 74 Second heat treatment unit 75 Interrupt processing unit

Claims (14)

大気圧よりも減圧された雰囲気を維持可能なチャンバと、
前記チャンバに接続され、前記チャンバ内を排気する排気部と、
前記チャンバ内に収容されたワークを支持する支持部と、
前記支持部に前記ワークが支持された状態で前記ワークを加熱する第1加熱を行い、前記支持部に前記ワークが支持されていない状態で、前記第1加熱よりも速い昇温速度で前記チャンバ内を加熱する第2加熱を行う加熱部と、
前記第1加熱後及び前記第2加熱後に、気体をチャンバ内に供給することにより冷却を行う給気部と、
を有する熱処理装置。
a chamber capable of maintaining an atmosphere pressure-reduced below atmospheric pressure;
an exhaust unit connected to the chamber for exhausting the interior of the chamber;
a support for supporting the workpiece accommodated in the chamber;
performing first heating for heating the work in a state where the work is supported by the support, and in a state where the work is not supported by the support, the chamber at a rate of temperature increase faster than that of the first heating; A heating unit that performs second heating that heats the inside,
an air supply unit that performs cooling by supplying gas into the chamber after the first heating and after the second heating;
A heat treatment apparatus having
前記加熱部及び前記給気部は、前記第2加熱及び前記第2加熱後の冷却を、複数回行う請求項1記載の熱処理装置。 The heat treatment apparatus according to claim 1, wherein the heating unit and the air supply unit perform the second heating and the cooling after the second heating a plurality of times. 前記給気部と接続され、前記ワークの下面に向けて前記気体を吐出する第1のノズルが設けられている請求項1記載の熱処理装置。 2. The heat treatment apparatus according to claim 1, further comprising a first nozzle which is connected to said air supply unit and which discharges said gas toward the lower surface of said workpiece. 前記給気部と接続され、前記チャンバ内の部材の接触部分に前記気体を吹き付ける第2のノズルが設けられている請求項3記載の熱処理装置。 4. The heat treatment apparatus according to claim 3, further comprising a second nozzle which is connected to said air supply section and which blows said gas onto contact portions of members in said chamber. 前記チャンバには、前記排気部による排気を行う排気口が設けられ、
前記第2のノズルは、前記チャンバにおける前記排気口が設けられた側に向けて、前記気体を吐出する請求項4記載の熱処理装置。
The chamber is provided with an exhaust port for performing exhaust by the exhaust unit,
5. The heat treatment apparatus according to claim 4, wherein the second nozzle discharges the gas toward the side of the chamber provided with the exhaust port.
前記第1のノズルからの前記気体の吐出量は、前記第1加熱後の冷却よりも前記第2加熱後の冷却の方が多い請求項3記載の熱処理装置。 4. The heat treatment apparatus according to claim 3, wherein the amount of the gas discharged from the first nozzle is larger in the cooling after the second heating than in the cooling after the first heating. 前記第2のノズルからの前記気体の吐出量は、前記第1加熱後の冷却よりも前記第2加熱後の冷却の方が多い請求項4記載の熱処理装置。 5. The heat treatment apparatus according to claim 4, wherein the discharge amount of said gas from said second nozzle is larger in cooling after said second heating than in cooling after said first heating. 前記第1加熱及び前記第2加熱における加熱の最高温度は同じである請求項1記載の熱処理装置。 2. The heat treatment apparatus according to claim 1, wherein the maximum heating temperature in said first heating and said second heating is the same. 前記チャンバには開口が設けられ、前記開口に対して開位置と閉位置に移動することで、前記チャンバの密閉状態および開放状態を切り替える開閉扉を有し、
前記第2加熱及び前記第2加熱後の冷却が終了後、前記気体の吐出を継続しつつ、前記開閉扉を開位置へと移動させる請求項1乃至8のいずれかに記載の熱処理装置。
An opening is provided in the chamber, and an open/close door is provided to switch between a closed state and an open state of the chamber by moving to an open position and a closed position with respect to the opening,
9. The heat treatment apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein after the second heating and the cooling after the second heating are completed, the open/close door is moved to the open position while continuing to discharge the gas.
前記排気部、前記加熱部、前記給気部を制御する制御装置を有し、
前記制御装置は、
前記加熱部及び前記給気部が、前記第1加熱及び冷却を行う第1の熱処理を実行させる第1の熱処理部と、
前記第1の熱処理がなされた前記ワークが前記チャンバから排出された後、前記加熱部、前記給気部及び前記排気部が、前記第2加熱、冷却を行う第2の熱処理を実行させる第2の熱処理部と、
を有する請求項1記載の熱処理装置。
A control device that controls the exhaust unit, the heating unit, and the air supply unit,
The control device is
a first heat treatment unit that causes the heating unit and the air supply unit to perform a first heat treatment that performs the first heating and cooling;
After the workpiece subjected to the first heat treatment is discharged from the chamber, the heating unit, the air supply unit, and the exhaust unit perform the second heat treatment for performing the second heating and cooling. a heat treatment section of
The heat treatment apparatus according to claim 1, comprising:
前記第2の熱処理部は、前記第1の熱処理後の所定の基準時から、所定時間が経過するまでの間に、前記ワークが前記チャンバに到来することを通知する信号を受信しない場合に、前記加熱部、前記給気部及び前記排気部に前記第2の熱処理を実行させる請求項10記載の熱処理装置。 If the second heat treatment section does not receive a signal notifying that the workpiece will arrive in the chamber within a predetermined period of time from a predetermined reference time after the first heat treatment, 11. The heat treatment apparatus according to claim 10, wherein the heating section, the air supply section, and the exhaust section are caused to perform the second heat treatment. 前記第2の熱処理部は、前記第1の熱処理後の所定の基準時から、前記第2の熱処理を行うために必要な時間が経過するまでの間に、前記ワークが前記チャンバに到来しない場合に、前記加熱部、前記給気部及び前記排気部に前記第2の熱処理を実行させる請求項10記載の熱処理装置。 If the workpiece does not arrive in the chamber from a predetermined reference time after the first heat treatment until the time required for performing the second heat treatment elapses, the second heat treatment unit 11. The heat treatment apparatus according to claim 10, wherein said second heat treatment is performed by said heating part, said air supply part and said exhaust part. 前記制御装置は、前記第2加熱における昇温中に、前記ワークが到来することを通知する信号を受信した場合に、前記第2加熱を中断させる中断処理部を有する請求項10乃至12のいずれかに記載の熱処理装置。 13. The controller according to any one of claims 10 to 12, wherein the control device comprises an interruption processing unit that interrupts the second heating when receiving a signal notifying that the workpiece is coming while the temperature is rising in the second heating. The heat treatment apparatus according to 1. 減圧されたチャンバ内の支持部にワークが支持された状態で、加熱部が前記ワークを加熱した後、給気部が気体を供給して冷却する第1の熱処理と、
前記第1の熱処理後、前記チャンバから前記ワークを排出するワーク排出処理と、
前記支持部に前記ワークが支持されていない状態で、前記加熱部が前記第1の熱処理よりも速い昇温速度により前記チャンバ内を加熱した後、前記給気部が前記気体を供給して冷却し、排気部が前記チャンバ内を排気する第2の熱処理と、
を含む熱処理方法。
a first heat treatment in which the heating unit heats the work while the work is supported by the support unit in the decompressed chamber, and then the air supply unit supplies gas to cool the work;
a work discharge process for discharging the work from the chamber after the first heat treatment;
In a state in which the work is not supported by the support portion, the heating portion heats the inside of the chamber at a temperature rising rate faster than that of the first heat treatment, and then the air supply portion supplies the gas to cool the chamber. and a second heat treatment in which an exhaust unit exhausts the inside of the chamber;
A heat treatment method comprising:
JP2022200930A 2022-02-21 2022-12-16 Heat treatment device, and heat treatment method Pending JP2023121721A (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310051976.0A CN116618260A (en) 2022-02-21 2023-02-02 Heat treatment apparatus and heat treatment method
KR1020230014927A KR20230125742A (en) 2022-02-21 2023-02-03 Heat treating device and heat treating method
TW112103978A TWI819961B (en) 2022-02-21 2023-02-04 Heat treatment device and heat treatment method
TW112134752A TW202403939A (en) 2022-02-21 2023-02-04 Heat treating device and heat treating method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022024913 2022-02-21
JP2022024913 2022-02-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2023121721A true JP2023121721A (en) 2023-08-31

Family

ID=87797961

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022200930A Pending JP2023121721A (en) 2022-02-21 2022-12-16 Heat treatment device, and heat treatment method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2023121721A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011066106A (en) Method of manufacturing semiconductor device, and substrate processing device
JP2023121721A (en) Heat treatment device, and heat treatment method
US20080154410A1 (en) Method for cleaning vacuum apparatus, device for controlling vacuum apparatus, and computer-readable storage medium storing control program
TWI819961B (en) Heat treatment device and heat treatment method
JP2013191782A (en) Load lock device
JP2008159787A (en) Cleaning method in vacuum device, control device in the vacuum device, and memory medium having control program stored therein
CN116618260A (en) Heat treatment apparatus and heat treatment method
JP7312235B2 (en) Organic film forming apparatus and cleaning method for organic film forming apparatus
JP2023032160A (en) Heating processing device
TWI806373B (en) Organic film forming device, and method for cleaning organic film forming device
JP3184666B2 (en) Operating method of plasma device
JP7246446B2 (en) Heat treatment apparatus and heat treatment method
TWI802205B (en) Heat treatment device
JP7291755B2 (en) heat treatment equipment
CN114833048B (en) Heating treatment device
TWI836291B (en) Heat treatment device
JP2019184230A (en) Organic film formation device, organic film formation system and organic film formation method
JP2023107329A (en) Heat treatment device and heat treatment method
TWI823438B (en) Organic film forming device and method for manufacturing organic film
US20230107154A1 (en) Maintenance method and heat treatment apparatus
CN117043913A (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
CN111809165A (en) Cleaning method of deposition equipment
TW202410351A (en) Maintenance methods of heat treatment equipment
JP2003332302A (en) Ashing equipment
JP2001129383A (en) Method for controlling evacuation for substrate processing system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230523

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20240123

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240130

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240318