JP2023059486A - Inspection method and method for manufacturing elliptically polarizing plate - Google Patents

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Abstract

To provide a method capable of easily inspecting a direction of an absorption axis of a linear polarizer and a method for manufacturing an elliptically polarizing plate including the method even in the case of the elliptically polarizing plate subjected to polarization sunglass countermeasures.SOLUTION: An inspection method according to one embodiment includes: a step for measuring an azimuth angle Ψ(λi) relative to n measurement wavelengths λi (i=1-n) of elliptically polarized light emitted from a λ/4 plate within an inspection object (elliptically polarizing plate), in which the measurement wavelengths λi are wavelengths in which a relative angle between an absorption axis or a transmission axis of a linear polarizer and a reference axis and an azimuth angle of elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate satisfy a linear relationship when a phase delay axis or a phase advance axis of the linear polarizer and the λ/4 plate within a laminate of the λ/4 plate is set to the reference axis; and a step for obtaining a direction of an absorption axis or a transmission axis of a linear polarizer to be inspected on the basis of an azimuth angle Ψ(λi) of elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate of the laminate, a linear relational expression that an angle relative to a reference side of the laminate of the absorption axis or the transmission axis of the linear polarizer of the laminate satisfies, and measurement results of the azimuth angle Ψ(λi).SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、検査方法、および楕円偏光板の製造方法に関する。 The present invention relates to an inspection method and a method for manufacturing an elliptically polarizing plate.

近年、携帯電話やタブレット端末などの普及が進み、画像表示装置として液晶表示装置や有機ＥＬ表示装置（ＯＬＥＤ）が広く用いられるようになってきた。また、表示装置の薄型化に伴い、表示装置に用いられる偏光板などの各部材の薄型化が求められている。例えば、有機ＥＬ表示装置は、通常、外光が金属電極（陰極）で反射されて鏡面のように視認されることを抑制するために、有機ＥＬパネルの視認側表面に楕円偏光板が配置される。 2. Description of the Related Art In recent years, mobile phones, tablet terminals, and the like have become popular, and liquid crystal display devices and organic EL display devices (OLED) have come to be widely used as image display devices. In addition, along with the thinning of the display device, thinning of each member such as a polarizing plate used in the display device is required. For example, in an organic EL display device, an elliptically polarizing plate is usually arranged on the viewing side surface of the organic EL panel in order to suppress external light from being reflected by a metal electrode (cathode) and viewed like a mirror surface. be.

上記楕円偏光板としては、一般的には直線偏光板とλ／４板との積層体が用いられている。楕円偏光板として、例えば、直線偏光子と、特定の屈折率特性を有する１枚の位相差層を積層したものも知られている（例えば、特許文献１～２参照）。 As the elliptically polarizing plate, a laminate of a linear polarizing plate and a λ/4 plate is generally used. As an elliptically polarizing plate, for example, a laminate of a linear polarizer and one retardation layer having specific refractive index characteristics is also known (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

さらに、偏光サングラス越しに画面を見たときの視認性を改善するための手段（偏光サングラス対策）が従来いくつか提案されている（特許文献４～１２）。 Furthermore, several conventional means for improving the visibility of a screen viewed through polarized sunglasses (countermeasures against polarized sunglasses) have been proposed (Patent Documents 4 to 12).

偏光サングラス対策が施された楕円偏光板は、どちらから検査光を入射しても直線偏光が得られず、通常用いられるクロスニコルの検査方法で楕円偏光板に用いられている直線偏光子の吸収軸を測定することができない。このような場合には、楕円偏光板から出射される楕円偏光の偏光状態を測定し楕円偏光板に用いられている直線偏光子の吸収軸の方向を計算によって求める手法が知られている（例えば、非特許文献１）。しかしながら、このような方法では吸収軸の方向の検査が煩雑になることから、改善の余地があった。 The elliptically polarizing plate with polarized sunglasses does not obtain linearly polarized light regardless of which direction the inspection light is incident on, and the absorption of the linear polarizer used for the elliptically polarizing plate in the commonly used crossed Nicols inspection method. Axis cannot be measured. In such a case, a method of measuring the polarization state of the elliptically polarized light emitted from the elliptically polarizing plate and calculating the direction of the absorption axis of the linear polarizer used in the elliptically polarizing plate is known (for example, , Non-Patent Document 1). However, there is room for improvement because such a method complicates inspection of the direction of the absorption axis.

特許第３３２５５６０号公報Japanese Patent No. 3325560 特開２０１４－６３１４３号公報JP 2014-63143 A 特開平９－２２９８１７号公報JP-A-9-229817 特開２００９－１２２４５４号公報JP 2009-122454 A 特開２０１１－１０７１９８号公報JP 2011-107198 A 特開２０１１－２１５６４６号公報JP 2011-215646 A 特開２０１２－２３０３９０号公報JP 2012-230390 A 特開平０３－１７４５１２号公報JP-A-03-174512 特開２０１３－２３１７６１号公報Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2013-231761 特開２０１１－１１３０１８号公報Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2011-113018 特開２０１３－１８２１６２号公報JP 2013-182162 A 特開２０１３－２００４４５号公報JP 2013-200445 A

王子計測機器株式会社，「９．楕円偏光の測定方法」、[online]、[令和３年６月２９日検索]、インターネット<URL: https://oji-keisoku.co.jp/cms/uploads/kbr_shiryo09.pdf>Oji Keisoku Kiki Co., Ltd., "9. Measurement method of elliptically polarized light", [online], [searched on June 29, 2021], Internet <URL: https://oji-keisoku.co.jp/cms/ uploads/kbr_shiryo09.pdf>

本発明では、偏光サングラス対策がされた楕円偏光板であっても、楕円偏光板に用いられる直線偏光子の吸収軸の方向を簡便に検査できる検査方法およびその検査方法を含む楕円偏光板の製造方法を提供することを目的とする。 In the present invention, an inspection method for easily inspecting the direction of the absorption axis of a linear polarizer used in an elliptically polarizing plate, even if the elliptically polarizing plate is designed for polarized sunglasses, and manufacturing of an elliptically polarizing plate including the inspection method. The purpose is to provide a method.

本発明に係る検査方法は、直線偏光を解消するための直線偏光解消フィルム、直線偏光子およびλ／４板がこの順に積層されており、上記直線偏光子の吸収軸と上記λ／４板の遅相軸との相対角が４５°±５°である楕円偏光板を検査対象として検査する方法であって、
上記検査対象が有する直線偏光解消フィルム側から光を入射し、上記検査対象が有するλ／４板から出射される楕円偏光のｎ個（ただし、ｎは２～６）の測定波長λｉ（ｉ＝１～ｎ）それぞれに対する方位角Ψ（λｉ）を測定する測定工程であって、
上記ｎ個の測定波長λｉは、直線偏光子とλ／４板とがこの順に積層された積層体が有するλ／４板の遅相軸または進相軸を基準軸とした場合において、上記積層体が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸と上記基準軸との相対角と、上記積層体が有するλ／４板から出射される楕円偏光の方位角とが、上記積層体が有するλ／４板の遅相軸と上記直線偏光子の吸収軸との相対角が４５°±５°の範囲内において直線関係を満たす波長である、
上記測定工程と、
上記積層体が有するλ／４板から出射される楕円偏光の上記ｎ個の測定波長λｉに対する方位角Ψ（λｉ）と、上記積層体が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の上記積層体の基準辺に対する角度との関係を示しており予め決定されている直線関係式、および、上記測定工程における上記検査対象に対する方位角Ψ（λi）の測定結果に基づいて、上記検査対象が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の方向を求める軸方向決定工程と、
を備える。 In the inspection method according to the present invention, a linear depolarizing film for eliminating linearly polarized light, a linear polarizer and a λ/4 plate are laminated in this order, and the absorption axis of the linear polarizer and the λ/4 plate A method of inspecting an elliptically polarizing plate having a relative angle of 45° ± 5° with respect to the slow axis as an inspection object,
Light is incident from the linearly depolarizing film side of the inspection object, and n (where n is 2 to 6) measurement wavelengths λi (i = 1 to n), a measuring step of measuring the azimuth angle Ψ (λi) for each,
The n measurement wavelengths λi are obtained when the slow axis or the fast axis of the λ / 4 plate of a laminate in which a linear polarizer and a λ / 4 plate are laminated in this order is used as a reference axis. The relative angle between the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the body and the reference axis and the azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the λ / 4 plate of the laminate are λ / A wavelength that satisfies a linear relationship within a range of 45° ± 5° between the slow axis of the four plates and the absorption axis of the linear polarizer.
the measuring step;
The azimuth angle Ψ (λi) of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate of the laminate with respect to the n measurement wavelengths λi, and the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the laminate. A straight line possessed by the inspection object based on the measurement result of the azimuth angle Ψ (λi) with respect to the inspection object in the measurement step, and a predetermined linear relational expression showing the relationship between an axis direction determination step of determining the direction of the absorption axis or transmission axis of the polarizer;
Prepare.

上記検査方法では、上記直線関係式を用いることから、測定工程で楕円偏光板のλ／４板側から出射される楕円偏光を測定すれば、吸収軸または透過軸の方向を得ることができる。そのため、偏光サングラス対策がされた楕円偏光板であっても、楕円偏光板に用いられる直線偏光子の吸収軸の方向を簡便に検査できる。 Since the above inspection method uses the above linear relational expression, the direction of the absorption axis or the transmission axis can be obtained by measuring the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate side of the elliptically polarizing plate in the measurement step. Therefore, even if the elliptically polarizing plate has a countermeasure against polarized sunglasses, the direction of the absorption axis of the linear polarizer used for the elliptically polarizing plate can be easily inspected.

一実施形態に係る検査方法は、上記ｎ個の測定波長λiを選択する測定波長選択工程と、上記積層体が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の上記積層体の基準辺に対する角度をＸとし、上記積層体が有するλ／４板から出射される楕円偏光の上記ｎ個の測定波長λｉに対する方位角Ψ（λｉ）と、上記Ｘとの直線関係を示す式（１）を決定する直線関係式決定工程と、を更に備えてもよい。この場合、上記軸方向決定工程では、上記測定結果と上記式（１）とに基づいて、上記検査対象が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の方向を求める。

Figure 2023059486000002

（（１）中において、ａｉおよびｂはフィッティングによって決定される定数である） An inspection method according to one embodiment includes a measurement wavelength selection step of selecting the n measurement wavelengths λi, and an angle of the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the laminate with respect to the reference side of the laminate by X and the azimuth angle Ψ (λi) of the elliptically polarized light emitted from the λ / 4 plate of the laminate with respect to the n measurement wavelengths λi and the linear relationship between the above X and the straight line that determines the equation (1) and a relational expression determination step. In this case, in the axial direction determination step, the direction of the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the inspection object is obtained based on the measurement result and the formula (1).
Figure 2023059486000002
(In (1), ai and b are constants determined by fitting)

この場合、上記式（１）を用いて吸収軸または透過軸の方向を求めることが可能である。 In this case, the direction of the absorption axis or transmission axis can be determined using the above equation (1).

上記直線関係式決定工程では、上記積層体に対応する複数の積層体サンプルであり各積層体サンプルにおける上記吸収軸または透過軸と上記基準軸との相対角が異なる上記複数の積層体サンプルを準備し、上記複数の積層体サンプルそれぞれの上記Ｘと、上記ｎ個の測定波長に対する上記方位角Ψ（λｉ）との測定結果に基づいて、上記式（１）を決定し、 上記複数の積層体サンプルは、直線偏光を楕円偏光に変換可能であるとともに、楕円偏光を直線偏光に変換可能な楕円偏光板であってもよい。 In the step of determining the linear relational expression, a plurality of laminate samples corresponding to the laminate and having different relative angles between the absorption axis or the transmission axis and the reference axis in each laminate sample are prepared. and determining the above formula (1) based on the measurement results of the X of each of the plurality of laminate samples and the azimuth angle Ψ (λi) for the n measurement wavelengths, and the plurality of laminates The sample may be an elliptically polarizing plate capable of converting linearly polarized light into elliptically polarized light and elliptically polarized light into linearly polarized light.

この場合、複数の積層体サンプルの測定結果に基づいて式（１）を決定する。たとえば、上記測定結果を得るために使用する測定器に、測定工程で使用する測定器を採用することによって、測定器における測定誤差の影響を低減できる。その結果、吸収軸または透過軸の方向を精度良く求めることが可能である。 In this case, formula (1) is determined based on the measurement results of a plurality of laminate samples. For example, by adopting the measuring instrument used in the measurement process as the measuring instrument used to obtain the above measurement results, the influence of measurement errors in the measuring instrument can be reduced. As a result, it is possible to obtain the direction of the absorption axis or the transmission axis with high accuracy.

上記ｎが２であってもよい。この場合、測定工程での測定時間を短縮できる。 2 may be sufficient as said n. In this case, the measurement time in the measurement process can be shortened.

上記ｎ個の測定波長λｉは、波長５４８ｎｍと波長６２９ｎｍを含んでもよい。この場合、測定精度の向上を図れる。 The n measurement wavelengths λi may include a wavelength of 548 nm and a wavelength of 629 nm. In this case, it is possible to improve the measurement accuracy.

本発明の他の側面に係る楕円偏光板の製造方法は、上記検査方法を含む。 A method for manufacturing an elliptically polarizing plate according to another aspect of the present invention includes the inspection method described above.

この場合、偏光サングラス対策がされた楕円偏光板の製造する場合であっても、楕円偏光板に用いられる直線偏光子の吸収軸の方向を簡便に検査できる。そのため、楕円偏光板の製造に要する時間（楕円偏光板の検査時間を含む）を短縮可能である。 In this case, even in the case of manufacturing an elliptically polarizing plate with a countermeasure against polarized sunglasses, the direction of the absorption axis of the linear polarizer used for the elliptically polarizing plate can be easily inspected. Therefore, the time required for manufacturing the elliptically polarizing plate (including the inspection time of the elliptically polarizing plate) can be shortened.

本発明によれば、偏光サングラス対策がされた楕円偏光板であっても、楕円偏光板に用いられる直線偏光子の吸収軸の方向を簡便に検査できる検査方法およびその検査方法を含む楕円偏光板の製造方法を提供できる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, an inspection method capable of easily inspecting the direction of the absorption axis of a linear polarizer used in an elliptically polarizing plate, even if the elliptical polarizing plate is designed for polarized sunglasses, and an elliptically polarizing plate including the inspection method. can provide a manufacturing method of

図１は、本発明の一実施形態に係る検査方法の検査対象としての楕円偏光板の構成の一例を示す模式図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the configuration of an elliptically polarizing plate as an inspection object of an inspection method according to an embodiment of the present invention. 図２（ａ）は、遅相軸（進相軸）と透過軸の配置関係を示す図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）の場合において、楕円偏光板から出射される３つの波長に対する楕円偏光に対応する楕円を模式的に示す図である。FIG. 2(a) is a diagram showing the arrangement relationship between the slow axis (fast axis) and the transmission axis, and FIG. 2(b) shows the light emitted from the elliptically polarizing plate in the case of FIG. FIG. 4 is a diagram schematically showing ellipses corresponding to elliptically polarized light for three wavelengths; 図３（ａ）は、遅相軸（進相軸）と透過軸の配置関係を示す図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）の場合において、楕円偏光板から出射される３つの波長に対する楕円偏光に対応する楕円を模式的に示す図である。FIG. 3(a) is a diagram showing the positional relationship between the slow axis (fast axis) and the transmission axis, and FIG. 3(b) shows the light emitted from the elliptically polarizing plate in the case of FIG. 3(a). FIG. 4 is a diagram schematically showing ellipses corresponding to elliptically polarized light for three wavelengths; 図４は、一実施形態に係る検査方法のフローチャートを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a flowchart of an inspection method according to one embodiment. 図５は、一実施形態に係る検査方法が有する測定波長選択工程および直線関係式決定工程で使用する積層体の層構成の一例を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of the layer configuration of a laminate used in the measurement wavelength selection process and the linear relational expression determination process of the inspection method according to one embodiment. 図６は、一実施形態に係る検査方法が有する測定波長選択工程において、選択すべき測定波長が満たす条件を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining the conditions satisfied by the measurement wavelengths to be selected in the measurement wavelength selection process of the inspection method according to one embodiment.

まず、本開示で使用する用語および記号を説明する。 First, the terms and symbols used in this disclosure will be explained.

（１）屈折率（ｎｘ、ｎｙ、ｎｚ）
「ｎｘ」は面内の屈折率が最大となる方向（すなわち、遅相軸方向）の屈折率であり、「ｎｙ」は面内で遅相軸と直交する方向の屈折率であり、「ｎｚ」は厚み方向の屈折率である。 (1) refractive index (nx, ny, nz)
“nx” is the refractive index in the direction in which the in-plane refractive index is maximum (that is, the slow axis direction), “ny” is the in-plane refractive index in the direction orthogonal to the slow axis, and “nz ” is the refractive index in the thickness direction.

（２）面内位相差値
面内位相差値（Ｒｅ（λ））は、２３℃、波長λ（ｎｍ）におけるフィルムの面内の位相差値をいう。Ｒｅ（λ）は、フィルムの厚みをｄ（ｎｍ）としたとき、Ｒｅ（λ）＝（ｎｘ－ｎｙ）×ｄによって求められる。 (2) In-plane Retardation Value The in-plane retardation value (Re(λ)) is the in-plane retardation value of the film at 23° C. and wavelength λ (nm). Re(λ) is determined by Re(λ)=(nx−ny)×d, where d (nm) is the thickness of the film.

（３）厚み方向の位相差値
厚み方向の位相差値（Ｒｔｈ（λ））は、２３℃、波長λ（ｎｍ）におけるフィルムの厚み方向の位相差値をいう。Ｒｔｈ（λ）は、フィルムの厚みをｄ（ｎｍ）としたとき、Ｒｔｈ（λ）＝（（ｎｘ＋ｎｙ）／２－ｎｚ）×ｄによって求められる。 (3) Thickness Direction Retardation Value The thickness direction retardation value (Rth(λ)) refers to the thickness direction retardation value of a film at 23° C. and a wavelength λ (nm). Rth(λ) is determined by Rth(λ)=((nx+ny)/2−nz)×d, where d (nm) is the thickness of the film.

次に、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を付し、重複する説明を省略する。図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。 Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and overlapping descriptions are omitted. The dimensional proportions of the drawings do not necessarily match those of the description.

図１は、一実施形態に係る検査方法で検査する検査対象の構成を説明するための模式図である。図１に示した検査対象は、楕円偏光板１０である。楕円偏光板１０は、直線偏光子１１、λ／４板１２および直線偏光解消フィルム１３を有する。直線偏光子１１、λ／４板１２および直線偏光解消フィルム１３は、直線偏光解消フィルム１３、直線偏光子１１およびλ／４板１２の順に積層されている。 FIG. 1 is a schematic diagram for explaining the configuration of an inspection object to be inspected by an inspection method according to an embodiment. The object to be inspected shown in FIG. 1 is an elliptically polarizing plate 10 . The elliptically polarizing plate 10 has a linear polarizer 11 , a λ/4 plate 12 and a linear depolarizing film 13 . Linear polarizer 11 , λ/4 plate 12 and linear depolarization film 13 are laminated in the order of linear depolarization film 13 , linear polarizer 11 and λ/4 plate 12 .

＜直線偏光子＞
直線偏光子１１は、その吸収軸に平行な振動面を持つ直線偏光を吸収し、吸収軸に直交する（透過軸と平行な）振動面をもつ直線偏光を透過する性質を有する吸収型の偏光子である。代表的な偏光子としては、重合性液晶化合物の硬化物を含む液晶偏光子、一軸延伸されたポリビニルアルコール系樹脂フィルムに二色性色素を吸着配向させた偏光フィルム（以下、「ＰＶＡ系偏光フィルム」と称す場合もある）等が挙げられる。 <Linear polarizer>
The linear polarizer 11 is absorptive polarized light having a property of absorbing linearly polarized light having a vibration plane parallel to its absorption axis and transmitting linearly polarized light having a vibration plane orthogonal to the absorption axis (parallel to the transmission axis). is a child Typical polarizers include a liquid crystal polarizer containing a cured product of a polymerizable liquid crystal compound, and a polarizing film in which a dichroic dye is adsorbed and oriented on a uniaxially stretched polyvinyl alcohol resin film (hereinafter referred to as "PVA polarizing film ”) and the like.

液晶偏光子の典型的な製造方法を簡単に説明する。まず、適当な支持体を準備する。次いで、当該支持体の表面上に配向膜を形成する。続いて、配向膜上に、重合性液晶化合物と二色性色素とを含む液状組成物を塗工し乾燥することで、配向膜上に重合性液晶化合物を含む塗工層を形成する。その後、塗工層を光照射により重合・硬化させて、液晶偏光子が支持体上に得られる。かかる支持体として、透明樹脂フィルムを用いれば、当該透明樹脂フィルムを保護フィルムとする液晶偏光子を製造することができる。 A typical manufacturing method for a liquid crystal polarizer will be briefly described. First, a suitable support is prepared. Next, an alignment film is formed on the surface of the support. Subsequently, a liquid composition containing a polymerizable liquid crystal compound and a dichroic dye is applied onto the alignment film and dried to form a coating layer containing the polymerizable liquid crystal compound on the alignment film. Thereafter, the coating layer is polymerized and cured by light irradiation to obtain a liquid crystal polarizer on the support. If a transparent resin film is used as such a support, a liquid crystal polarizer can be manufactured using the transparent resin film as a protective film.

液晶偏光子としては、例えば、特開２０１６－１７０３６８号公報に記載されるものであってもよい。二色性色素としては、波長３８０～８００ｎｍの範囲内に吸収を有するものを用いることができ、有機染料を用いることが好ましい。二色性色素として、例えば、アゾ化合物が挙げられる。液晶化合物は、配向したままの状態で重合することができる液晶化合物であり、分子内に重合性基を有することができる。ＷＯ２０１１／０２４８９１に記載されるように、液晶性を有する二色性色素から液晶偏光子を形成してもよい。重合後（液晶硬化層からなる偏光子の形成後）は、液晶化合物はもはや液晶性を示す必要はない。 The liquid crystal polarizer may be, for example, one described in JP-A-2016-170368. As the dichroic dye, those having absorption in the wavelength range of 380 to 800 nm can be used, and organic dyes are preferably used. Dichroic dyes include, for example, azo compounds. A liquid crystal compound is a liquid crystal compound that can be polymerized in an aligned state, and can have a polymerizable group in its molecule. A liquid crystal polarizer may be formed from dichroic dyes having liquid crystallinity, as described in WO2011/024891. After polymerization (after formation of a polarizer composed of a cured liquid crystal layer), the liquid crystal compound no longer needs to exhibit liquid crystallinity.

液晶偏光子の厚みは、例えば、０．２μｍ～１０μｍである。 The thickness of the liquid crystal polarizer is, for example, 0.2 μm to 10 μm.

続いて、ＰＶＡ系偏光フィルムを簡単に説明する。ＰＶＡ系偏光フィルムは、例えば、ＰＶＡ系樹脂フィルムを一軸延伸する工程；ＰＶＡ系樹脂フィルムを二色性色素で染色することにより二色性色素を吸着させる工程（染色処理）；二色性色素が吸着されたＰＶＡ系樹脂フィルムをホウ酸水溶液等の架橋液で処理する工程（架橋処理）；及び、架橋液による処理後に水洗する工程（洗浄処理）を含む方法等によって製造できる。 Next, the PVA-based polarizing film will be briefly described. The PVA-based polarizing film is produced by, for example, a step of uniaxially stretching the PVA-based resin film; a step of dyeing the PVA-based resin film with a dichroic dye to adsorb the dichroic dye (dyeing treatment); It can be produced by a method including a step of treating the adsorbed PVA-based resin film with a cross-linking solution such as an aqueous boric acid solution (cross-linking treatment); and a step of washing with water after the treatment with the cross-linking solution (washing treatment).

ＰＶＡ系樹脂としては、ポリ酢酸ビニル系樹脂をケン化したものを用いることができる。ポリ酢酸ビニル系樹脂としては、酢酸ビニルの単独重合体であるポリ酢酸ビニルの他、酢酸ビニルと共重合可能な他の単量体との共重合体等が挙げられる。酢酸ビニルに共重合可能な他の単量体の例は、不飽和カルボン酸類、オレフィン類、ビニルエーテル類、不飽和スルホン酸類、及びアンモニウム基を有する（メタ）アクリルアミド類等を含む。 As the PVA-based resin, a saponified polyvinyl acetate-based resin can be used. Examples of polyvinyl acetate-based resins include polyvinyl acetate, which is a homopolymer of vinyl acetate, and copolymers of vinyl acetate with other monomers that can be copolymerized. Examples of other monomers copolymerizable with vinyl acetate include unsaturated carboxylic acids, olefins, vinyl ethers, unsaturated sulfonic acids, and (meth)acrylamides having an ammonium group.

本開示において、「（メタ）アクリル」とは、アクリル及びメタクリルから選択される少なくとも一方を意味する。 In the present disclosure, "(meth)acryl" means at least one selected from acryl and methacryl.

ＰＶＡ系樹脂のケン化度は通常、８５～１００ｍｏｌ％であり、９８ｍｏｌ％以上が好ましい。ＰＶＡ系樹脂は変性されていてもよく、例えば、アルデヒド類で変性されたポリビニルホルマール又はポリビニルアセタール等を用いることもできる。ＰＶＡ系樹脂の平均重合度は通常、１０００～１００００であり、１５００～５０００が好ましい。ＰＶＡ系樹脂の平均重合度は、ＪＩＳ Ｋ ６７２６に準拠して求めることができる。 The saponification degree of the PVA-based resin is usually 85 to 100 mol %, preferably 98 mol % or more. The PVA-based resin may be modified, for example, aldehyde-modified polyvinyl formal or polyvinyl acetal may be used. The average degree of polymerization of the PVA-based resin is usually 1,000 to 10,000, preferably 1,500 to 5,000. The average degree of polymerization of the PVA-based resin can be determined according to JIS K6726.

このようなＰＶＡ系樹脂を製膜したものが、偏光子製造用の原反フィルム（ＰＶＡ系樹脂フィルム）として用いられる。ＰＶＡ系樹脂を製膜する方法は、特に限定されるものではなく、公知の方法が採用される。ＰＶＡ系樹脂フィルムの厚みは特に制限されないが、偏光フィルムの厚みを１５μｍ以下とするためには、５～３５μｍのものを用いることが好ましい。より好ましくは、２０μｍ以下である。かかるＰＶＡ系樹脂フィルムの厚みは、最終的に得られるＰＶＡ系偏光フィルムが所望の厚みとなるようにして選択することができる。 A film obtained by forming such a PVA-based resin is used as a raw film (PVA-based resin film) for manufacturing a polarizer. A method for forming a PVA-based resin into a film is not particularly limited, and a known method is adopted. Although the thickness of the PVA-based resin film is not particularly limited, it is preferable to use a PVA-based resin film having a thickness of 5 to 35 μm in order to make the thickness of the polarizing film 15 μm or less. More preferably, it is 20 μm or less. The thickness of the PVA-based resin film can be selected so that the finally obtained PVA-based polarizing film has a desired thickness.

ＰＶＡ系樹脂フィルムの一軸延伸は、二色性色素による染色処理前に行っても、当該染色処理と同時に行っても、染色処理の後に行ってもよい。一軸延伸を染色処理の後で行う場合、かかる一軸延伸は、架橋処理の前に行っても、架橋処理中に行ってもよい。また、これらの複数の処理の段階で一軸延伸を複数回に分けて行ってもよい。 The uniaxial stretching of the PVA-based resin film may be performed before the dyeing treatment with the dichroic dye, simultaneously with the dyeing treatment, or after the dyeing treatment. When the uniaxial stretching is performed after the dyeing treatment, the uniaxial stretching may be performed before the cross-linking treatment or during the cross-linking treatment. In addition, the uniaxial stretching may be divided into a plurality of stages in these plurality of treatment stages.

一軸延伸にあたっては、長尺状のＰＶＡ系樹脂フィルムを用いる場合には例えば、このＰＶＡ系樹脂フィルムをロールに掛け渡し、当該ロールの周速を異ならせることにより、ロール間で一軸に延伸してもよいし、熱ロールを用いて一軸に延伸してもよい。また一軸延伸は、大気中で延伸を行う乾式延伸であってもよいし、溶剤や水を用いてＰＶＡ系樹脂フィルムを膨潤させた状態で延伸を行う湿式延伸であってもよい。延伸倍率は通常、３～８倍である。複数回の一軸延伸により、ＰＶＡ系樹脂フィルムを延伸する場合には、元長に比しての延伸倍率が通常、３～８倍になるようにする。なお、この延伸倍率も、最終的に得られるＰＶＡ系偏光フィルムが所望の厚みとなるようにして選択することができる。 In the uniaxial stretching, when a long PVA-based resin film is used, for example, the PVA-based resin film is stretched over rolls and the circumferential speed of the rolls is varied to uniaxially stretch between the rolls. Alternatively, the film may be uniaxially stretched using hot rolls. The uniaxial stretching may be dry stretching in which the film is stretched in the atmosphere, or wet stretching in which the PVA-based resin film is stretched in a swollen state using a solvent or water. The draw ratio is usually 3 to 8 times. When the PVA-based resin film is stretched by uniaxial stretching a plurality of times, the stretching ratio is usually 3 to 8 times the original length. This draw ratio can also be selected so that the finally obtained PVA-based polarizing film has a desired thickness.

ＰＶＡ系樹脂フィルムを二色性色素で染色する方法（染色処理）としては、典型的には、かかるＰＶＡ系樹脂フィルムを、二色性色素を含有した水溶液に浸漬する方法が採用される。二色性色素としては、ヨウ素や二色性有機染料が用いられる。なお、ＰＶＡ系樹脂フィルムは、染色処理の前に水への浸漬処理を施しておくことが好ましい。 As a method of dyeing a PVA-based resin film with a dichroic dye (dyeing treatment), a method of immersing such a PVA-based resin film in an aqueous solution containing a dichroic dye is typically employed. Iodine and dichroic organic dyes are used as dichroic dyes. The PVA-based resin film is preferably immersed in water before being dyed.

二色性色素による染色処理後の架橋処理としては通常、染色されたＰＶＡ系樹脂フィルムをホウ酸含有水溶液に浸漬する方法などが採用される。二色性色素としてヨウ素を用いる場合、このホウ酸含有水溶液は、ヨウ化カリウムを含有することが好ましい。 As the cross-linking treatment after the dyeing treatment with the dichroic dye, a method of immersing the dyed PVA-based resin film in an aqueous boric acid-containing solution is usually employed. When iodine is used as the dichroic dye, the boric acid-containing aqueous solution preferably contains potassium iodide.

かくして、ＰＶＡ系偏光フィルムが得られる。ＰＶＡ系偏光フィルムの厚みも液晶偏光子と同様に、より薄膜であると好ましく、好ましくは１５μｍ以下であり、より好ましくは１３μｍ以下であり、さらに好ましくは１０μｍ以下であり、特に好ましくは８μｍ以下である。偏光フィルムの厚みは、通常２μｍ以上であり、３μｍ以上であることが好ましい。 Thus, a PVA-based polarizing film is obtained. The thickness of the PVA-based polarizing film is preferably as thin as the liquid crystal polarizer, preferably 15 μm or less, more preferably 13 μm or less, even more preferably 10 μm or less, and particularly preferably 8 μm or less. be. The thickness of the polarizing film is usually 2 μm or more, preferably 3 μm or more.

直線偏光子１１は、単独で用いることもできるが、一般的には、直線偏光子１１の片面又は両面に保護フィルムを貼合した構成でも用いることができる。 The linear polarizer 11 can be used alone, but in general, it can also be used in a configuration in which a protective film is laminated on one side or both sides of the linear polarizer 11 .

上記保護フィルムとしては、例えば、透明な樹脂フィルムが用いられ、かかる樹脂フィルムを構成する透明樹脂としては、トリアセチルセルロースやジアセチルセルロースに代表されるアセチルセルロース系樹脂、ポリメチルメタクリレートに代表されるメタクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリオレフィン系樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリスルホン樹脂等が挙げられる。これらのうち、複数種の透明樹脂からなる樹脂フィルムを保護フィルムとすることもできる。保護フィルムの一例は、トリアセチルセルロースフィルム（ＴＡＣフィルム）である。 As the protective film, for example, a transparent resin film is used, and the transparent resin constituting such a resin film includes acetylcellulose resins such as triacetyl cellulose and diacetyl cellulose, and methacrylic resin such as polymethyl methacrylate. Resins, polyester resins, polyolefin resins, polycarbonate resins, polyether ether ketone resins, polysulfone resins, and the like. Among these, a resin film made of a plurality of kinds of transparent resins can also be used as the protective film. An example of a protective film is triacetyl cellulose film (TAC film).

直線偏光子１１を楕円偏光板１０の構成で用いる形態において、後述するλ／４板１２を積層する側に保護フィルムを有する場合、その保護フィルムは実質的に無配向であるものを用いる。ここで、実質的に無配向とは、フィルムの面内位相差値Ｒｅ（５５０）と厚み方向の位相差値Ｒｔｈ（５５０）がともに－１０ｎｍ～１０ｎｍであることをいう。 In the form in which the linear polarizer 11 is used in the configuration of the elliptically polarizing plate 10, if a protective film is provided on the side on which the λ/4 plate 12 described later is laminated, the protective film is substantially non-oriented. Here, “substantially non-oriented” means that both the in-plane retardation value Re (550) and the thickness direction retardation value Rth (550) of the film are −10 nm to 10 nm.

＜λ／４板＞
λ／４板１２は、入射した直線偏光を楕円偏光に変換する機能を有する。λ／４板１２の面内位相差値Ｒｅ（５５０）は、８０ｎｍ～２００ｎｍである。λ／４板１２は、直線偏光子１１に対して、λ／４板１２の遅相軸と直線偏光子１１の吸収軸との相対角が４５°±５°となるように配置される。 <λ/4 plate>
The λ/4 plate 12 has a function of converting incident linearly polarized light into elliptically polarized light. The in-plane retardation value Re(550) of the λ/4 plate 12 is 80 nm to 200 nm. The λ/4 plate 12 is arranged with respect to the linear polarizer 11 so that the relative angle between the slow axis of the λ/4 plate 12 and the absorption axis of the linear polarizer 11 is 45°±5°.

λ／４板１２としては、特に限定されず、公知のものが使用できる。例えば、特開平５－１００１１４号公報に記載されているポリカーボネートフィルム、特開２００６―１７１７１３号公報に記載のノルボルネン系樹脂からなるフィルム、特開２００９－２７６７５３号公報に記載のポリプロピレン系樹脂からなるフィルム、特許第５７０６０７１号公報に記載の位相差フィルム、特開２００６－１７１２４０号公報に記載の位相差フィルムなどの位相差フィルムが好ましく用いられる。 The λ/4 plate 12 is not particularly limited, and known ones can be used. For example, a polycarbonate film described in JP-A-5-100114, a film made of norbornene-based resin described in JP-A-2006-171713, a film made of a polypropylene-based resin described in JP-A-2009-276753. , a retardation film described in Japanese Patent No. 5706071 and a retardation film described in JP-A-2006-171240 are preferably used.

薄型化の観点からλ／４板１２として重合性液晶化合物の硬化物層を用いることも好ましい。重合性液晶化合物の材料としては、特に限定されないが、例えば、棒状液晶化合物、ディスコチック液晶化合物のほか、特許第５４６３６６６号公報、特開２０１０－０３１２２３号公報、特開２０１０－０３０９７９号公報、特開２００９－１７３８９３号公報、特開２００９－２２７６６７号公報、特開２０１０－２４１９１９号公報、特開２０１０－０２４４３８号公報、特開２０１１－１６２６７８号公報、特開２０１１－２０７７６５号公報、特開２０１０－２７０１０８号公報、特開２０１１－２４６３８１号公報、特開２０１２－０２１０６８号公報、特開２０１６－１２１３３９号公報、特開２０１８－０８７１５２号公報、特開２０１７－１７９３６７号公報、特開２０１７－２１０６０１号公報、特開２０１９－１５１７６３号公報、特許第６７００４６８、特開２０２０－０７４０２１号公報、特許第５０８４２９３号公報、特開２０１８－４０８７６号公報、特開２０１９－５６７２７号公報、特開２０２０－４２１４９号公報、特開２０２０－１４３２０５号公報などに記載の重合性液晶化合物が挙げられる。 From the viewpoint of thinning, it is also preferable to use a cured product layer of a polymerizable liquid crystal compound as the λ/4 plate 12 . The material of the polymerizable liquid crystal compound is not particularly limited. JP 2009-173893, JP 2009-227667, JP 2010-241919, JP 2010-024438, JP 2011-162678, JP 2011-207765, JP 2010 -270108, JP 2011-246381, JP 2012-021068, JP 2016-121339, JP 2018-087152, JP 2017-179367, JP 2017-210601 JP, JP 2019-151763, JP 6700468, JP 2020-074021, JP 5084293, JP 2018-40876, JP 2019-56727, JP 2020-42149 JP-A-2020-143205, and the like.

＜直線偏光解消フィルム＞
直線偏光解消フィルム１３とは、入射した直線偏光を直線偏光とは別の状態、例えば、無偏光や楕円偏光に変換する機能を持つフィルムである。直線偏光解消フィルム１３としては、前述のλ／４板１２と同様のものを用いることができる。この場合には、λ／４板１２と同様に、直線偏光解消フィルム１３は、直線偏光子１１に対して、直線偏光解消フィルム１３の遅相軸と直線偏光子１１の吸収軸との相対角が４５°±５°となるように配置される。 <Linear depolarization film>
The linear depolarization film 13 is a film having a function of converting incident linearly polarized light into a state different from linearly polarized light, for example, non-polarized light or elliptically polarized light. As the linearly depolarizing film 13, the same one as the λ/4 plate 12 described above can be used. In this case, similarly to the λ/4 plate 12, the linear depolarizing film 13 has a relative angle between the slow axis of the linear depolarizing film 13 and the absorption axis of the linear polarizer 11 with respect to the linear polarizer 11. is 45°±5°.

λ／４板以外の直線偏光解消フィルム１３としては、特に制限されず、公知のものを用いることができる。例えば、１０００ｎｍ～３００００ｎｍのポリエチレンテレフタレート系樹脂からなる位相差フィルムや特許第５６４３７４４号公報、特開２０１４－２１９６３２号公報、特開２０１８－２８６１４号公報、特開２０１９－１２４９２０号公報などに記載の直線偏光解消フィルムが挙げられる。 The linearly depolarizing film 13 other than the λ/4 plate is not particularly limited, and known films can be used. For example, a retardation film made of polyethylene terephthalate resin of 1000 nm to 30000 nm or a straight line described in Patent No. 5643744, JP 2014-219632, JP 2018-28614, JP 2019-124920, etc. Examples include depolarizing films.

＜接着剤および粘着剤＞
直線偏光解消フィルム１３、直線偏光子１１およびλ／４板１２は、接着剤層または粘着剤層を介して積層される。図１では、接着剤層または粘着剤層の図示を省略している。接着剤としては、例えば、ポリビニルアルコール系接着剤等の水系接着剤、紫外線硬化型接着剤等の活性エネルギー線硬化型接着剤が挙げられる。また、粘着剤としては、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、ポリオレフィン系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ウレタン系粘着剤、ビニルアルキルエーテル系粘着剤、ポリビニルアルコール系粘着剤、ポリビニルピロリドン系粘着剤、ポリアクリルアミド系粘着剤、セルロース系粘着剤等が挙げられる。 <Adhesive and Adhesive>
The linear depolarizing film 13, the linear polarizer 11 and the λ/4 plate 12 are laminated via adhesive layers or adhesive layers. In FIG. 1, illustration of an adhesive layer or a pressure-sensitive adhesive layer is omitted. Examples of adhesives include water-based adhesives such as polyvinyl alcohol-based adhesives, and active energy ray-curable adhesives such as ultraviolet-curable adhesives. In addition, as adhesives, acrylic adhesives, rubber adhesives, polyolefin adhesives, silicone adhesives, urethane adhesives, vinyl alkyl ether adhesives, polyvinyl alcohol adhesives, and polyvinylpyrrolidone adhesives. , polyacrylamide-based adhesives, cellulose-based adhesives, and the like.

楕円偏光板１０では、直線偏光解消フィルム１３から光が入射されると、λ／４板１２側から楕円偏光の光が出射される。逆に、λ／４板１２側から光が入射されると、直線偏光解消フィルム１３の機能によって、直線偏光が解消された状態で光が出射される。たとえば、直線偏光解消フィルム１３が前述したようにλ／４板として機能する場合、直線偏光解消フィルム１３側からも楕円偏光の光が出射される。 In the elliptically polarizing plate 10, when light is incident from the linearly depolarizing film 13, elliptically polarized light is emitted from the λ/4 plate 12 side. Conversely, when the light is incident from the λ/4 plate 12 side, the light is emitted with the linearly polarized light eliminated by the function of the linearly depolarizing film 13 . For example, when the linearly depolarizing film 13 functions as a λ/4 plate as described above, elliptically polarized light is also emitted from the linearly depolarizing film 13 side.

有機ＥＬパネル、液晶表示装置などの表示装置では、表示装置内の電極などの外光反射によって表示面が鏡面のように視認されることを防止するため、通常、楕円偏光板が使用される。このような楕円偏光板として楕円偏光板１０を用いることが可能である。楕円偏光板１０を上記表示装置に適用した場合、直線偏光解消フィルム１３の上記作用によって、表示装置の画面からは直線偏光が解消された状態の光が出射される。よって、楕円偏光板１０を上記表示装置に適用した場合、たとえば偏光サングラス越しでも表示装置で表示される映像などを確実に視認可能である。 In display devices such as organic EL panels and liquid crystal display devices, an elliptically polarizing plate is usually used in order to prevent the display surface from appearing like a specular surface due to reflection of external light from electrodes in the display device. An elliptically polarizing plate 10 can be used as such an elliptically polarizing plate. When the elliptically polarizing plate 10 is applied to the above display device, the linearly polarized light is emitted from the screen of the display device due to the above action of the linearly depolarizing film 13 . Therefore, when the elliptically polarizing plate 10 is applied to the display device, an image displayed on the display device can be reliably viewed even through polarized sunglasses, for example.

楕円偏光板１０は、たとえば、次のように製造される。 Elliptical polarizing plate 10 is manufactured, for example, as follows.

まず、直線偏光解消フィルム１３、直線偏光子１１およびλ／４板１２を積層することによって楕円偏光板１０を形成する（積層工程）。直線偏光解消フィルム１３、直線偏光子１１およびλ／４板１２を積層するタイミングは限定されない。たとえば、直線偏光子１１とλ／４板１２を積層した後に、直線偏光子１１上に直線偏光解消フィルム１３を積層してもよい。或いは、直線偏光子１１に対して直線偏光解消フィルム１３およびλ／４板１２を同じタイミングで積層してもよい。直線偏光子１１の片面または両面に前述した保護フィルムが配置される場合には、直線偏光子１１の片面または両面に保護フィルムが配置されれば、保護フィルムの積層タイミングも限定されない。 First, the elliptically polarizing plate 10 is formed by laminating the linear depolarizing film 13, the linear polarizer 11 and the λ/4 plate 12 (lamination step). The timing of laminating the linear depolarizing film 13, the linear polarizer 11 and the λ/4 plate 12 is not limited. For example, after laminating the linear polarizer 11 and the λ/4 plate 12 , the linear depolarization film 13 may be laminated on the linear polarizer 11 . Alternatively, the linear depolarizing film 13 and the λ/4 plate 12 may be laminated on the linear polarizer 11 at the same timing. When the protective film described above is arranged on one or both sides of the linear polarizer 11, the lamination timing of the protective films is not limited as long as the protective films are arranged on one or both sides of the linear polarizer 11.

楕円偏光板１０を構成する各層は、上述した接着剤または粘着剤を介して積層されればよい。積層工程において、直線偏光子１１およびλ／４板１２は、前述したように、λ／４板１２の遅相軸と直線偏光子１１の吸収軸との相対角が４５°±５°となるように配置される。 Each layer constituting the elliptically polarizing plate 10 may be laminated via the above-described adhesive or pressure-sensitive adhesive. In the lamination step, the linear polarizer 11 and the λ/4 plate 12 have a relative angle of 45°±5° between the slow axis of the λ/4 plate 12 and the absorption axis of the linear polarizer 11, as described above. are arranged as follows.

次に、直線偏光子１１の吸収軸の方向を検査する（検査工程）。以下の説明では断らない限り、吸収軸の方向とは、楕円偏光板１０における基準辺に対する方向である。一実施形態において、基準辺は、測定装置など楕円偏光板１０をセットする場合において、測定装置が有する押し当て板に接する辺でよい。たとえば、楕円偏光板１０を厚さ方向から見た場合の形状が長方形または正方形である場合、上記基準辺は、上記長方形または正方形の一辺に対して規定される。よって、吸収軸の方向は、上記基準辺に対する方向に相当する。 Next, the direction of the absorption axis of the linear polarizer 11 is inspected (inspection step). In the following description, the direction of the absorption axis is the direction with respect to the reference side of the elliptically polarizing plate 10 unless otherwise specified. In one embodiment, when the elliptical polarizing plate 10 is set in a measuring device, the reference side may be a side that is in contact with a pressing plate of the measuring device. For example, when the shape of the elliptically polarizing plate 10 when viewed from the thickness direction is a rectangle or square, the reference side is defined with respect to one side of the rectangle or square. Therefore, the direction of the absorption axis corresponds to the direction with respect to the reference side.

＜検査方法＞
本検査方法では、直線偏光子とλ／４板とを有する楕円偏光板の次の特性を利用し、直線偏光子１１の吸収軸の方向を検査する。楕円偏光板が有する特性を図２および図３を参照して説明する。図２は、吸収軸と遅相軸との間の相対角が４５°の場合に対応し、図２（ａ）は、遅相軸（進相軸）と透過軸の配置関係を示す図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）の場合において、楕円偏光板から出射される３つの波長に対する楕円偏光に対応する楕円を模式的に示す図である。図３は、吸収軸と遅相軸との間の相対角が４５°からズレしている場合に対応し、図３（ａ）は、遅相軸（進相軸）と透過軸の配置関係を示す図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）の場合において、楕円偏光板から出射される３つの波長に対する楕円偏光に対応する楕円を模式的に示す図である。 <Inspection method>
In this inspection method, the following characteristics of an elliptically polarizing plate having a linear polarizer and a λ/4 plate are used to inspect the direction of the absorption axis of the linear polarizer 11 . Characteristics of the elliptically polarizing plate will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. FIG. 2 corresponds to the case where the relative angle between the absorption axis and the slow axis is 45°, and FIG. FIG. 2(b) is a diagram schematically showing ellipses corresponding to elliptically polarized light with respect to three wavelengths emitted from the elliptically polarizing plate in the case of FIG. 2(a). FIG. 3 corresponds to the case where the relative angle between the absorption axis and the slow axis deviates from 45°, and FIG. and FIG. 3(b) is a diagram schematically showing ellipses corresponding to elliptically polarized light for three wavelengths emitted from the elliptically polarizing plate in the case of FIG. 3(a).

直線偏光子の吸収軸とλ／４板の遅相軸が、図２（ａ）に示したように、４５°で配置されている場合、直線偏光子側から入射されλ／４板から出射された光の偏光状態は、楕円偏光である。 When the absorption axis of the linear polarizer and the slow axis of the λ/4 plate are arranged at 45° as shown in FIG. The polarization state of the emitted light is elliptically polarized.

図２（ａ）では、直線偏光子の透過軸を軸Ａ１として示しており、λ／４板の遅相軸および進相軸それぞれを軸Ｂ１および軸Ｂ２として示している。λ／４板において、遅相軸と進相軸との間の角度は９０°である。 In FIG. 2A, the transmission axis of the linear polarizer is indicated as axis A1, and the slow axis and fast axis of the λ/4 plate are indicated as axis B1 and axis B2, respectively. In a λ/4 plate, the angle between the slow axis and the fast axis is 90°.

λ／４板から出射された楕円偏光の方位角（本実施形態では、透過軸に対する楕円の長軸方向。以下、同様）は、図２（ｂ）に示したように、光の波長によらず直線偏光子の透過軸に一致する。つまり、方位角が、複数の波長に対して同じ値であることは、直線偏光子の吸収軸とλ／４板が４５°で配置されていることに相当する。 The azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate (in this embodiment, the major axis direction of the ellipse with respect to the transmission axis; the same shall apply hereinafter) depends on the wavelength of light, as shown in FIG. coincides with the transmission axis of the linear polarizer. That is, the fact that the azimuth angle has the same value for a plurality of wavelengths corresponds to the fact that the absorption axis of the linear polarizer and the λ/4 plate are arranged at 45°.

図２（ｂ）における３つの線種（破線、一点鎖線、二点鎖線）で示した３つの楕円は、３つの異なる波長の光に対する楕円偏光の状態を示している。図２（ｂ）では、説明の便宜のため、図２（ａ）と同様に、軸Ａ、軸Ｂ１および軸Ｂ２を示している。 Three ellipses indicated by three line types (broken line, one-dot chain line, two-dot chain line) in FIG. 2(b) shows axis A, axis B1 and axis B2 as in FIG. 2(a) for convenience of explanation.

一方、図３（ａ）に示したように、直線偏光子の吸収軸（図３（ａ）中の軸Ａ）とλ／４板の遅相軸（図３（ａ）中の軸Ｂ１）が４５°の配置からズレている場合（図３（ａ）では４７°）、図３（ｂ）に示したように、波長ごとに楕円偏光の方位角（透過軸に対する楕円の長軸方向）が異なる。図３（ｂ）における３つの線種の異なる楕円の意味は、図２（ｂ）の場合と同様であり、図２（ｂ）の場合と同様に、図３（ｂ）でも軸Ａ、軸Ｂ１および軸Ｂ２を示している。 On the other hand, as shown in FIG. 3(a), the absorption axis of the linear polarizer (axis A in FIG. 3(a)) and the slow axis of the λ/4 plate (axis B1 in FIG. 3(a)) is shifted from the arrangement of 45° (47° in FIG. 3(a)), as shown in FIG. is different. The meaning of the three ellipses with different line types in FIG. 3(b) is the same as in FIG. B1 and axis B2 are indicated.

本願発明者らは楕円偏光板の上記特性に着目し、測定波長ごとの楕円偏光の方位角のずれ量から、直線偏光子の吸収軸を検査可能なことを見いだした。 The inventors of the present application focused on the above characteristics of the elliptically polarizing plate and found that the absorption axis of the linear polarizer can be inspected from the amount of deviation of the azimuth angle of the elliptically polarized light for each measurement wavelength.

上記特性を利用した一実施形態に係る検査方法を具体的に説明する。検査方法は、図４に示したように、測定工程Ｓ３と、軸方向決定工程Ｓ４とを有する。検査方法は、測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２を有してもよい。本実施形態では、測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２を有する場合を説明する。 An inspection method according to an embodiment using the above characteristics will be specifically described. The inspection method, as shown in FIG. 4, has a measurement step S3 and an axial direction determination step S4. The inspection method may have a measurement wavelength selection step S1 and a linear relationship equation determination step S2. In this embodiment, the case of having the measurement wavelength selection step S1 and the linear relational equation determination step S2 will be described.

測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２は、何れも光学シミュレーションで実施してもよいし、実際の測定結果を用いて実施してもよい。以下では、測定波長選択工程Ｓ１を光学シミュレーションで実施し、直線関係式決定工程Ｓ２を実際の測定結果を用いて行う場合を説明する。 Both the measurement wavelength selection step S1 and the linear relational expression determination step S2 may be performed by optical simulation, or may be performed using actual measurement results. A case will be described below in which the measurement wavelength selection step S1 is performed by optical simulation, and the linear relational expression determination step S2 is performed using actual measurement results.

本実施形態における測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２では、図５に示した積層体２０を使用する。積層体２０は、直線偏光子２１とλ／４板２２とを有する楕円偏光板であり、直線偏光子２１およびλ／４板２２は、この順に積層されている。測定波長選択工程Ｓ１を光学シミュレーションで実施する場合、具体的には、積層体２０に対応するモデルを使用する。このモデルを、積層体モデル（楕円偏光板モデル）２０Ｍと称す。直線関係式決定工程Ｓ２を実際の測定結果を用いて実施する場合、具体的には、積層体２０に対応するサンプルを使用する。このサンプルを、積層体サンプル（楕円偏光板サンプル）２０Ｓと称す。積層体モデル２０Ｍおよび積層体サンプル２０Ｓが有する直線偏光子２１は、直線偏光子の機能を有すれば、直線偏光子１１と厚さなどは異なっていてもよい。一実施形態において、積層体モデル２０Ｍおよび積層体サンプル２０Ｓが有するλ／４板２２は、λ／４板１２と同じ構成を有する。λ／４板２２とλ／４板１２の構成が同じであることで、波長分散性も同じである。その結果、後述する楕円の方位角の波長による変化も同じになり、一層正確に測定可能である。 In the measurement wavelength selection step S1 and the linear relational expression determination step S2 in this embodiment, the laminate 20 shown in FIG. 5 is used. The laminate 20 is an elliptically polarizing plate having a linear polarizer 21 and a λ/4 plate 22, and the linear polarizer 21 and the λ/4 plate 22 are laminated in this order. When the measurement wavelength selection step S1 is performed by optical simulation, specifically, a model corresponding to the laminate 20 is used. This model is called a laminate model (elliptically polarizing plate model) 20M. When performing the linear relational expression determination step S2 using actual measurement results, specifically, a sample corresponding to the laminate 20 is used. This sample is called a laminate sample (elliptically polarizing plate sample) 20S. The linear polarizer 21 included in the laminate model 20M and the laminate sample 20S may be different from the linear polarizer 11 in terms of thickness and the like as long as it has the function of a linear polarizer. In one embodiment, the λ/4 plate 22 of the laminate model 20M and the laminate sample 20S has the same configuration as the λ/4 plate 12 . Since the λ/4 plate 22 and the λ/4 plate 12 have the same structure, they have the same wavelength dispersion. As a result, the change in the azimuth angle of the ellipse due to the wavelength, which will be described later, becomes the same, and it can be measured more accurately.

直線関係式決定工程Ｓ２では、積層体サンプル２０Ｓを実際の測定器に設置するため、積層体サンプル２０Ｓは、直線偏光子２１に対してλ／４板２２と反対側に、保護フィルムが配置されていてもよい。積層体サンプル２０Ｓを用いる場合、後述するように、直線偏光子２１の吸収軸の方向を測定器で実験的に測定することから、直線偏光を楕円偏光に変換可能であるとともに、楕円偏光を直線偏光に可能なサンプルである。すなわち、積層体サンプル２０Ｓは。図１に示した直線偏光解消フィルム１３の機能を有しない。よって、積層体サンプル２０Ｓが保護フィルムを有する場合、保護フィルムは、入射された光の偏光状態を維持したまま出射可能なフィルムであり、たとえば、ＴＡＣフィルムである。 In the linear relational expression determination step S2, since the laminate sample 20S is installed in an actual measuring instrument, the laminate sample 20S has a protective film disposed on the side opposite to the λ/4 plate 22 with respect to the linear polarizer 21. may be When using the laminate sample 20S, as described later, the direction of the absorption axis of the linear polarizer 21 is experimentally measured with a measuring instrument, so that linearly polarized light can be converted into elliptically polarized light, and elliptically polarized light can be converted into linearly polarized light. It is a sample that can be polarized. That is, the laminate sample 20S is It does not have the function of the linear depolarizing film 13 shown in FIG. Therefore, when the laminate sample 20S has a protective film, the protective film is a film that can emit light while maintaining the polarization state of incident light, such as a TAC film.

測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２の一例を説明する。 An example of the measurement wavelength selection step S1 and the linear relational expression determination step S2 will be described.

［測定波長選択工程］
測定波長選択工程Ｓ１では、測定工程Ｓ３で使用するｎ個（ｎは２～６）の測定波長λｉ（ｉ＝１～ｎ）を選択する。 [Measurement wavelength selection process]
In the measurement wavelength selection step S1, n (n is 2 to 6) measurement wavelengths λi (i=1 to n) to be used in the measurement step S3 are selected.

測定波長選択工程Ｓ１では、前述したように、図５に示した積層体モデル２０Ｍを使用して、ｎ個の測定波長λｉを選択する。 In the measurement wavelength selection step S1, n measurement wavelengths λi are selected using the laminate model 20M shown in FIG. 5, as described above.

ｎ個の測定波長λｉは、積層体モデル２０Ｍが有するλ／４板２２の遅相軸（基準軸）と積層体モデル２０Ｍが有する直線偏光子２１の吸収軸との相対角と、λ／４板２２から出射される楕円偏光の方位角とが、λ／４板２２の遅相軸と直線偏光子２１の吸収軸との相対角が４５°±５°の範囲内において直線関係を満たす波長である。 The n measurement wavelengths λi are the relative angle between the slow axis (reference axis) of the λ/4 plate 22 of the laminate model 20M and the absorption axis of the linear polarizer 21 of the laminate model 20M, and λ/4 A wavelength that satisfies a linear relationship between the azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the plate 22 and the relative angle between the slow axis of the λ/4 plate 22 and the absorption axis of the linear polarizer 21 within the range of 45°±5° is.

測定波長選択工程Ｓ１では、積層体モデル２０Ｍにおいて、直線偏光子２１側から光を入射した場合においてλ／４板２２から出射される楕円偏光の方位角を計算する。このような計算を、相対角を４５°からずらしながら実施するとともに、入射光の波長を変えながら実施する。得られた計算結果において、図６に示したように、相対角と方位角とが直線関係にある波長を測定波長λｉとして選択する。図６において、縦軸は方位角を示しており、横軸は、相対角における４５°からのズレ角を示しており、横軸の０°の位置は、相対角が４５°に相当する。すなわち、横軸に示したズレ角に４５°を加算した値が相対角に対応する。たとえば、横軸が、２°の位置は、相対角が４７°（４５°＋２°）の場合に相当する。図６では、異なる３つの測定波長（測定波長λａ，測定波長λｂおよび測定波長λｃ）の場合を模式的に示している。 In the measurement wavelength selection step S1, the azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate 22 is calculated when the light is incident from the linear polarizer 21 side in the laminate model 20M. Such calculations are performed while shifting the relative angle from 45° and changing the wavelength of the incident light. In the obtained calculation results, as shown in FIG. 6, a wavelength having a linear relationship between the relative angle and the azimuth angle is selected as the measurement wavelength λi. In FIG. 6, the vertical axis indicates the azimuth angle, the horizontal axis indicates the deviation angle from 45° in the relative angle, and the position of 0° on the horizontal axis corresponds to the relative angle of 45°. That is, a value obtained by adding 45° to the deviation angle shown on the horizontal axis corresponds to the relative angle. For example, a position where the horizontal axis is 2° corresponds to a relative angle of 47° (45°+2°). FIG. 6 schematically shows the case of three different measurement wavelengths (measurement wavelength λa, measurement wavelength λb, and measurement wavelength λc).

λ／４板２２の遅相軸と直線偏光子２１の吸収軸との間の相対角とλ／４板２２から出射される楕円偏光の方位角との関係が直線関係にあるとは、図６に示したように、横軸に相対角（図６では、４５°からのズレ角で表記）をとり縦軸にλ／４板２２から出射される楕円偏光の方位角をとった場合に、相対角が４５°±５°の範囲において線形の関係にあることをいう。相対角が４５°の前後で方位角が９０°反転する場合においては、相対角が４５°前後の一方の方位角の値を９０°補正することで線形の関係が得られる場合には測定波長として採用可能である。 The relationship between the relative angle between the slow axis of the λ/4 plate 22 and the absorption axis of the linear polarizer 21 and the azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate 22 is linear. 6, when the horizontal axis represents the relative angle (in FIG. 6, the deviation angle from 45°) and the vertical axis represents the azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate 22. , means that the relative angle is in a linear relationship within the range of 45°±5°. In the case where the azimuth angle is reversed by 90° when the relative angle is around 45°, if a linear relationship can be obtained by correcting one of the azimuth angles around the relative angle of 45° by 90°, the measurement wavelength can be adopted as

測定波長λｉの数は、少ないほうが測定にかかる時間を短縮できるため望ましい。たとえば、ｎは、４以下が好ましく、さらに３以下が好ましく、最も好ましいのは２である。ｎ個の測定波長λｉは、たとえば、波長５４８ｎｍと波長６２９ｎｍを含む。ｎが２の場合、すなわち、２つの測定波長λｉ（すなわち、測定波長λ１と測定波長λ２）を選択する場合、波長５４８ｎｍと波長６２９ｎｍを選択することが好ましい。測定波長λｉを選択する場合、直線関係における傾きが大きい測定波長を選択することが好ましい。傾きが大きい場合、方位角の変化に対する吸収軸の角度のずれ量が小さく、方位角の測定結果における装置誤差等の影響を低減し易い。その結果、吸収軸の方向の測定精度の向上を図れる。波長５４８ｎｍと波長６２９ｎｍを用いる場合、上記直線関係における傾きが大きくなりやすい。 A smaller number of measurement wavelengths λi is desirable because the time required for measurement can be shortened. For example, n is preferably 4 or less, more preferably 3 or less, and most preferably 2. The n measurement wavelengths λi include, for example, wavelengths of 548 nm and 629 nm. When n is 2, that is, when selecting two measurement wavelengths λi (that is, measurement wavelength λ1 and measurement wavelength λ2), it is preferable to select wavelengths of 548 nm and 629 nm. When selecting the measurement wavelength λi, it is preferable to select a measurement wavelength with a large slope in the linear relationship. When the inclination is large, the amount of deviation of the angle of the absorption axis with respect to the change in the azimuth angle is small, and it is easy to reduce the influence of apparatus error and the like on the measurement result of the azimuth angle. As a result, it is possible to improve the measurement accuracy in the direction of the absorption axis. When the wavelengths of 548 nm and 629 nm are used, the slope of the linear relationship tends to increase.

［直線関係式決定工程］
直線関係式決定工程Ｓ２は、測定波長選択工程Ｓ１の後に実施される。この工程では、前述したように、図５に示した積層体サンプル２０Ｓを使用する。 [Linear Relational Equation Determining Step]
The linear relational expression determination step S2 is performed after the measurement wavelength selection step S1. In this step, as described above, the laminate sample 20S shown in FIG. 5 is used.

直線関係式決定工程Ｓ２では、λ／４板２２側から出射される測定波長λｉにおける楕円偏光の方位角Ψ（λｉ）と、直線偏光子２１の吸収軸のλ／４板２２に対する角度Ｘとの直線関係式である下記式（１）を決定する。式（１）を決定することは、ａｉおよびｂを決定することに相当する。 In the linear relational expression determination step S2, the azimuth angle Ψ (λi) of the elliptically polarized light at the measurement wavelength λi emitted from the λ/4 plate 22 side, the angle X of the absorption axis of the linear polarizer 21 with respect to the λ/4 plate 22, and Determine the following equation (1), which is a linear relational expression. Determining equation (1) is equivalent to determining ai and b.

Figure 2023059486000003

式（１）中において、ａｉおよびｂはフィッティングによって決定される定数である。
Figure 2023059486000003
In equation (1), ai and b are constants determined by fitting.

式（１）を決定する方法の一例を具体的に説明する。直線偏光子２１の吸収軸とλ／４板２２の遅相軸との間の相対角が異なる複数の積層体サンプル２０Ｓを準備する。上記相対角は、たとえば、４０°～５０°の範囲から選択される。複数の積層体サンプル２０Ｓとしては、１０個以上を準備することが好ましい。 A specific example of the method for determining equation (1) will be described. A plurality of laminate samples 20S having different relative angles between the absorption axis of the linear polarizer 21 and the slow axis of the λ/4 plate 22 are prepared. The relative angle is selected, for example, from the range of 40°-50°. It is preferable to prepare ten or more laminate samples 20S.

準備した各積層体サンプル２０Ｓを、測定器にセットして、直線偏光子２１側から光を入射しλ／４板２２側から出射された楕円偏光の方位角Ψを、測定波長選択工程Ｓ１で選択したｎ個の測定波長λｉに対して測定する。更に、λ／４板２２側から光を入射し、直線偏光子２１から出射される直線偏光を利用して吸収軸の方向を測定する。測定器は、上記方位角Ψおよび吸収軸の方向を測定可能な測定器であればよく、測定器の例は、位相差測定装置（例えば、王子計測機器株式会社製の「ＫＯＢＲＡ－ＨＢＰＲ」）である。本実施形態において、上記測定器には、後述する測定工程Ｓ３で使用する測定器と同じ測定器を使用する。 Each prepared laminate sample 20S is set in a measuring instrument, and the azimuth angle Ψ of the elliptically polarized light incident from the linear polarizer 21 side and emitted from the λ/4 plate 22 side is measured in the measurement wavelength selection step S1. Measurement is performed for n selected measurement wavelengths λi. Furthermore, light is incident from the λ/4 plate 22 side, and the linearly polarized light emitted from the linear polarizer 21 is used to measure the direction of the absorption axis. The measuring device may be any measuring device capable of measuring the azimuth angle Ψ and the direction of the absorption axis, and an example of the measuring device is a phase difference measuring device (for example, "KOBRA-HBPR" manufactured by Oji Scientific Instruments Co., Ltd.). is. In this embodiment, the same measuring instrument as that used in the measuring step S3, which will be described later, is used as the measuring instrument.

複数の積層体サンプル２０Ｓに対して得られた測定結果（すなわち、方位角Ψ（λｉ）と対応する角度Ｘ）に対して重回帰分析を適用することによって、式（１）のａｉおよびｂを決定する。これにより、式（１）が得られる。 By applying multiple regression analysis to the measurement results (i.e., the azimuth angle Ψ(λi) and the corresponding angle X) obtained for a plurality of laminate samples 20S, ai and b in Equation (1) are decide. Equation (1) is thus obtained.

［測定工程］
検査対象である楕円偏光板１０が有する直線偏光解消フィルム１３側から光を入射し、楕円偏光板１０が有するλ／４板１２から出射される楕円偏光の各測定波長λｉに対する方位角Ψ（λｉ）を測定する。本実施形態における測定工程Ｓ３では、直線関係式決定工程Ｓ２で使用した測定器を用いて、上記方位角Ψ（λｉ）を測定する。 [Measurement process]
Light is incident from the linearly depolarizing film 13 side of the elliptically polarizing plate 10 to be inspected, and the azimuth angle Ψ (λi ) is measured. In the measuring step S3 in this embodiment, the azimuth angle Ψ(λi) is measured using the measuring instrument used in the linear relational expression determining step S2.

［軸方向決定工程］
軸方向決定工程Ｓ４では、直線関係式（１）、および、測定工程Ｓ３における楕円偏光板１０に対する方位角Ψ（λi）の測定結果に基づいて、楕円偏光板１０が有する直線偏光子１１の吸収軸の方向、すなわち、角度Ｘを求める。 [Axis direction determination process]
In the axial direction determination step S4, the absorption of the linear polarizer 11 of the elliptically polarizing plate 10 is determined based on the linear relational expression (1) and the measurement result of the azimuth angle Ψ (λi) with respect to the elliptically polarizing plate 10 in the measuring step S3. Determine the direction of the axis, ie, the angle X.

上記検査方法の説明では、測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２を実施する場合を説明した。しかしながら、これらの工程を一度実施し、選択した測定波長に対する式（１）が得られていれば、楕円偏光板１０を検査する場合、測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２を省略して、測定工程Ｓ３および軸方向決定工程Ｓ４を実施することが可能である。 In the above description of the inspection method, the case where the measurement wavelength selection step S1 and the linear relational equation determination step S2 are performed has been described. However, if these steps are performed once and formula (1) for the selected measurement wavelength is obtained, when inspecting the elliptically polarizing plate 10, the measurement wavelength selection step S1 and the linear relationship equation determination step S2 are omitted. It is possible to carry out the measuring step S3 and the axial direction determining step S4.

上述した検査方法では、前述した楕円偏光板の特性を用いており、且つ、予め式（１）を準備しておくことから、直線偏光解消フィルム１３を有する場合でも簡便に吸収軸の方向を検査できる。この点を、式（１）を使用せずに楕円偏光板１０を検査する場合と比較して説明する。 In the inspection method described above, the characteristics of the elliptically polarizing plate described above are used, and the formula (1) is prepared in advance, so the direction of the absorption axis can be easily inspected even when the linearly depolarizing film 13 is provided. can. This point will be described in comparison with the case of inspecting the elliptically polarizing plate 10 without using equation (1).

楕円偏光板１０では、直線偏光解消フィルム１３側から直線偏光が出射されないことから、式（１）を予め決定していない場合、たとえば、次のような検査方法（以下、「参考検査方法」と称す）が考えられる。
・ステップ１：位相差測定装置（例えば、王子計測機器株式会社製の「ＫＯＢＲＡ－ＨＢＰＲ」）を用いて、光を直線偏光解消フィルム１３側から楕円偏光板１０に入射し、λ／４板１２側から出力される楕円偏光を測定する。
・ステップ２：測定した楕円偏光をポアンカレ球上にプロットする。
・ステップ３：ポアンカレ球におけるプロット点を、ポアンカレ球の赤道面に投影する。
・ステップ４：ステップ１～ステップ３を５以上（たとえば、５～６）の異なる波長に対して実施する。
・ステップ５：ステップ４までを実施することで得られたポアンカレ球の赤道面に投影された複数の投影点に対してフィッティングを実施し、得られた結果から、吸収軸の方向を推定する。通常、ステップ５における複数の投影点は、直線偏光子１１を光が通過することで得られる直線偏光の方向（透過軸）の方向に沿うため、上記フィッティングによって吸収軸（又は透過軸）の方向が推定できる。 In the elliptically polarizing plate 10, since linearly polarized light is not emitted from the linearly depolarizing film 13 side, if the formula (1) is not determined in advance, for example, the following inspection method (hereinafter referred to as "reference inspection method") ) can be considered.
Step 1: Using a phase difference measuring device (for example, “KOBRA-HBPR” manufactured by Oji Scientific Instruments Co., Ltd.), light is incident on the elliptically polarizing plate 10 from the linearly depolarizing film 13 side, and the λ / 4 plate 12 Measure the elliptical polarization output from the side.
• Step 2: Plot the measured elliptical polarization on the Poincare sphere.
Step 3: Project the plotted points on the Poincare sphere onto the equatorial plane of the Poincare sphere.
• Step 4: Perform steps 1-3 for 5 or more (eg, 5-6) different wavelengths.
Step 5: Perform fitting on a plurality of projection points projected onto the equatorial plane of the Poincare sphere obtained by performing steps up to step 4, and estimate the direction of the absorption axis from the obtained results. Normally, the plurality of projection points in step 5 are along the direction of the linearly polarized light (transmission axis) obtained by the light passing through the linear polarizer 11, so the above fitting allows the direction of the absorption axis (or transmission axis) can be estimated.

上記のようにステップ１～ステップ５を経て吸収軸の方向を推定する場合、吸収軸の方向を推定するごとに、ステップ５のフィッティングが必要になる。更に、吸収軸の方向を推定するまでに時間を要する。 When estimating the direction of the absorption axis through steps 1 to 5 as described above, the fitting of step 5 is required each time the direction of the absorption axis is estimated. Furthermore, it takes time to estimate the direction of the absorption axis.

これに対して、本開示で説明した検査方法では、測定波長選択工程Ｓ１および直線関係式決定工程Ｓ２を実施して、予め式（１）を準備する。そのため、測定工程Ｓ３において、検査対象である楕円偏光板１０を測定器にセットし、λ／４板１２側から出射される楕円偏光を測定することによって、吸収軸の方向を計算できる。すなわち、本検査方法では、簡便に吸収軸の方向を検査できる。更に、吸収軸の方向の検査を短時間で実施可能である。 On the other hand, in the inspection method described in the present disclosure, the measurement wavelength selection step S1 and the linear relational equation determination step S2 are performed to prepare the equation (1) in advance. Therefore, in the measurement step S3, the direction of the absorption axis can be calculated by setting the elliptically polarizing plate 10 to be inspected in a measuring instrument and measuring the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate 12 side. That is, in this inspection method, the direction of the absorption axis can be easily inspected. Furthermore, the inspection of the direction of the absorption axis can be carried out in a short time.

上記ステップ１～ステップ５を実施する参考検査方法では、検査対象として楕円偏光板によっては、赤道面に投影された複数の投影点が密集し、吸収軸の方向の測定精度が低下する場合がある。これに対して、本検査方法では、測定工程Ｓ３での楕円偏光の方位角と式（１）に基づいて吸収軸の方向を得るため、測定精度を確保可能である。 In the reference inspection method in which steps 1 to 5 are performed, depending on the elliptically polarizing plate as the inspection object, a plurality of projection points projected on the equatorial plane may be concentrated, and the measurement accuracy in the direction of the absorption axis may decrease. . On the other hand, in this inspection method, since the direction of the absorption axis is obtained based on the azimuth angle of the elliptically polarized light and the formula (1) in the measurement step S3, the measurement accuracy can be ensured.

測定波長選択工程Ｓ１において、前述したように、光学シミュレーションを用いて測定波長λｉを選択する場合、測定波長選択工程Ｓ１を簡便に実施できるとともに、測定波長選択工程Ｓ１に要する時間を短縮可能である。測定波長選択工程Ｓ１は、実験的に実施してもよい。この場合には、直線関係式決定工程Ｓ２で説明した楕円偏光板サンプルを用いて、吸収軸の方向の測定および楕円偏光の測定を行い、その測定結果に基づいて測定波長λｉを選択することができる。 In the measurement wavelength selection step S1, as described above, when the measurement wavelength λi is selected using optical simulation, the measurement wavelength selection step S1 can be easily performed, and the time required for the measurement wavelength selection step S1 can be shortened. . The measurement wavelength selection step S1 may be performed experimentally. In this case, the direction of the absorption axis and the elliptically polarized light are measured using the elliptically polarizing plate sample described in the linear relationship determination step S2, and the measurement wavelength λi can be selected based on the measurement results. can.

直線関係式決定工程Ｓ２は、光学シミュレーションで実施してもよい。しかしながら、たとえば、前述したように、測定工程Ｓ３で使用する測定器と同じ測定器を用いた実際の測定結果に基づいて式（１）を決定することによって、測定工程Ｓ３での測定誤差を小さくできる。その結果、吸収軸の方向の測定精度（検査精度）が向上する。 The linear relational expression determination step S2 may be performed by optical simulation. However, for example, as described above, by determining equation (1) based on actual measurement results using the same measuring instrument as the measuring instrument used in measuring step S3, the measurement error in measuring step S3 can be reduced. can. As a result, the measurement accuracy (inspection accuracy) in the direction of the absorption axis is improved.

測定波長λｉの個数が２個、すなわち、ｎ＝２の場合、測定工程Ｓ３でも２つの測定波長に対して測定を実施すればよいことから、測定工程Ｓ３に要する時間を短縮できる。 When the number of measurement wavelengths λi is two, that is, when n=2, it is sufficient to measure two measurement wavelengths in the measurement step S3, so the time required for the measurement step S3 can be shortened.

上記検査方法を含む楕円偏光板の製造方法では、楕円偏光板１０が有する吸収軸の方向を簡便に検査できる。その結果、所望の吸収軸の方向を有する楕円偏光板１０を効率的に製造可能である。 In the method for manufacturing an elliptically polarizing plate including the inspection method described above, the direction of the absorption axis of the elliptically polarizing plate 10 can be easily inspected. As a result, the elliptically polarizing plate 10 having a desired absorption axis direction can be efficiently manufactured.

以上、本発明の実施形態を説明した。しかしながら、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示される範囲が含まれることが意図されるとともに、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The embodiments of the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and is intended to include the scope indicated by the scope of the claims. Modifications are intended to be included.

λ／４板１２の遅相軸（基準軸）と直線偏光子の吸収軸との相対角と、楕円偏光板１０の基準辺に対する方位角とに基づいて、式（１）を算出する場合を説明した。しかしながら、基準軸は進相軸でもよいし、上記遅相軸または進相軸に対する相対角を規定するための直線偏光子における軸は透過軸でもよい。これは、λ／４板では、遅相軸と進相軸との間の角度は９０°であり、直線偏光子では、吸収軸と透過軸との間の角度は９０°であり、相対角を規定する２つの軸の組み合わせの違いは、式（１）におけるａｉおよびｂの違いとして式（１）に反映されるからである。式（１）におけるＸは、透過軸の方向（換言すれば基準辺に対する角度）でもよい。すなわち、軸方向決定工程Ｓ４では、透過軸の方向を決定してもよい。 Based on the relative angle between the slow axis (reference axis) of the λ / 4 plate 12 and the absorption axis of the linear polarizer, and the azimuth angle with respect to the reference side of the elliptically polarizing plate 10, the case where formula (1) is calculated explained. However, the reference axis may be the fast axis, and the axis of the linear polarizer for defining the relative angle to the slow axis or the fast axis may be the transmission axis. This means that for a λ/4 plate the angle between the slow and fast axes is 90°, for a linear polarizer the angle between the absorption and transmission axes is 90°, and the relative angle This is because the difference in the combination of the two axes defining is reflected in the formula (1) as the difference between ai and b in the formula (1). X in Equation (1) may be the direction of the transmission axis (in other words, the angle with respect to the reference side). That is, in the axial direction determination step S4, the direction of the transmission axis may be determined.

以下、実施例に基づいて本発明を具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、試薬、物質量とその割合、操作等は本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更することができる。従って、本発明は以下の実施例に限定され制限されるものではない。 EXAMPLES The present invention will be specifically described below based on examples. The materials, reagents, amounts and ratios of substances, operations, etc. shown in the following examples can be changed as appropriate without departing from the gist of the present invention. Accordingly, the present invention is limited and not restricted to the following examples.

（１）厚さの測定：
株式会社ニコン製のデジタルマイクロメーター“ＭＨ－１５Ｍ”を用いて測定した。 (1) Thickness measurement:
It was measured using a digital micrometer "MH-15M" manufactured by Nikon Corporation.

（２）面内位相差値Ｒｅ（５５０）および厚み方向の位相差値Ｒｔｈ（５５０）の測定：
王子計測機器株式会社製の平行ニコル回転法を原理とする位相差計“ＫＯＢＲＡ（登録商標）－ＨＢＰＲ”を用い、２３℃の温度において、波長５５０ｎｍでの面内位相差値および厚み方向の位相差値を測定した。 (2) Measurement of in-plane retardation value Re (550) and thickness direction retardation value Rth (550):
Using a phase difference meter "KOBRA (registered trademark)-HBPR" manufactured by Oji Scientific Instruments Co., Ltd. based on the parallel Nicols rotation method, at a temperature of 23 ° C., the in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm and the position in the thickness direction Retardation values were measured.

（３）楕円偏光の方位角の測定：
王子計測機器株式会社製の平行ニコル回転法を原理とする位相差計“ＫＯＢＲＡ（登録商標）－ＨＢＰＲ”を用い、２３℃の温度において、波長５４８．３ｎｍおよび波長６２９．１ｎｍの２波長について楕円偏光の方位角Ψ（５４８．３）およびΨ（６２９．１）を測定した。 (3) Measurement of azimuth angle of elliptically polarized light:
Using a phase difference meter "KOBRA (registered trademark)-HBPR" manufactured by Oji Scientific Instruments Co., Ltd., which uses the parallel Nicols rotation method as a principle, at a temperature of 23 ° C., an ellipse is obtained for two wavelengths of 548.3 nm and 629.1 nm. Polarization azimuthal angles Ψ(548.3) and Ψ(629.1) were measured.

（直線偏光子の作製）
厚み３０μｍのポリビニルアルコールフィルム（平均重合度約２４００、ケン化度９９．９モル％以上）を、乾式延伸により約４倍に一軸延伸し、さらに緊張状態を保ったまま、４０℃の純水に４０秒間浸漬した後、ヨウ素／ヨウ化カリウム／水の重量比が０．０５２／５．７／１００の水溶液に２８℃で３０秒間浸漬して染色処理を行った。その後、ヨウ化カリウム／ホウ酸／水の重量比が１１．０／６．２／１００の水溶液に７０℃で１２０秒間浸漬した。引き続き、８℃の純水で１５秒間洗浄した後、３００Ｎの張力で保持した状態で、６０℃で５０秒間、次いで７５℃で２０秒間乾燥して、ポリビニルアルコールフィルムにヨウ素が吸着配向している厚み１２μｍの吸収型偏光フィルムを得た。 (Production of linear polarizer)
A polyvinyl alcohol film with a thickness of 30 μm (average degree of polymerization: about 2,400, degree of saponification: 99.9 mol% or more) is uniaxially stretched by dry stretching to about 4 times, and then is placed in pure water at 40° C. while maintaining the tension. After being immersed for 40 seconds, it was dyed by being immersed in an aqueous solution of iodine/potassium iodide/water at a weight ratio of 0.052/5.7/100 at 28° C. for 30 seconds. After that, it was immersed in an aqueous solution of potassium iodide/boric acid/water at a weight ratio of 11.0/6.2/100 at 70° C. for 120 seconds. Subsequently, after washing with pure water at 8°C for 15 seconds, the film was dried at 60°C for 50 seconds and then at 75°C for 20 seconds while maintaining a tension of 300N. An absorptive polarizing film having a thickness of 12 μm was obtained.

（λ／４板）
λ／４板として、厚み２５μｍのノルボルネン系樹脂からなる延伸フィルムに、厚み３μｍのハードコート層を形成したフィルム（日本製紙株式会社製、商品名「ＣＯＰ２５ＳＴ－ＨＣ」）を用いた。λ／４板のＲｅ（５５０）は、９８．１ｎｍであった。 (λ/4 plate)
As the λ/4 plate, a film (manufactured by Nippon Paper Industries Co., Ltd., trade name “COP25ST-HC”) obtained by forming a 3 μm-thick hard coat layer on a 25 μm-thick stretched norbornene-based resin film was used. Re(550) of the λ/4 plate was 98.1 nm.

（保護フィルム）
保護フィルムとして、トリアセチルセルロースフィルム（コニカミノルタ株式会社製、「ＫＣ２ＣＴ」）を用いた。保護フィルムの厚みは２０μｍであった。保護フィルムのＲｅ（５５０）は２．６ｎｍであり、Ｒｔｈ（５５０）は１．２ｎｍであった。 (Protective film)
A triacetyl cellulose film (“KC2CT” manufactured by Konica Minolta, Inc.) was used as the protective film. The thickness of the protective film was 20 μm. The protective film had Re(550) of 2.6 nm and Rth(550) of 1.2 nm.

（楕円偏光板の作製）
λ／４板と直線偏光子及び保護フィルムを、厚み５μｍのシート状粘着剤〔リンテック株式会社製の「ＮＣＦ ＃Ｌ２」〕を介して貼合し、楕円偏光板を作製した。この際、直線偏光子の吸収軸とλ／４板の遅相軸の相対角を、４５°±３°の範囲内で貼合した１２枚の楕円偏光板を作製した。 (Production of elliptical polarizing plate)
A λ/4 plate, a linear polarizer, and a protective film were pasted together via a 5 μm-thick sheet-like adhesive [“NCF #L2” manufactured by Lintec Corporation] to prepare an elliptically polarizing plate. At this time, 12 elliptically polarizing plates were produced by pasting together such that the relative angle between the absorption axis of the linear polarizer and the slow axis of the λ/4 plate was within the range of 45°±3°.

こうして作製した１２枚の楕円偏光板それぞれを、長辺１５０ｍｍ×短辺１００ｍｍの大きさに裁断した。このようにして得られた長辺１５０ｍｍ×短辺１００ｍｍの大きさを有する楕円偏光板を評価サンプルと称す。この時、評価サンプル（楕円偏光板）を保護フィルム側からみて、長辺を基準辺（長辺に平行な線を０°とし時計回りを正とする）とした場合に、直線偏光子の吸収軸の角度が１３５°、λ／４板の遅相軸の角度がそれぞれ約９０°となるようにした。 Each of the 12 elliptically polarizing plates thus produced was cut into a size of 150 mm long side×100 mm short side. An elliptically polarizing plate having a size of 150 mm long side×100 mm short side thus obtained is called an evaluation sample. At this time, when the evaluation sample (elliptically polarizing plate) is viewed from the protective film side and the long side is the reference side (the line parallel to the long side is 0 ° and the clockwise direction is positive), the absorption of the linear polarizer The angle of the axis was set to 135°, and the angle of the slow axis of the λ/4 plate was set to about 90°.

作製した１２枚の評価サンプルについて、λ／４板側から光を入射させ直線偏光子の吸収軸の角度と、保護フィルム側から光を入射させ楕円の方位角Ψ（５４８．３）およびΨ（６２９．１）を測定した。直線偏光子の吸収軸の角度は、位相差計“ＫＯＢＲＡ（登録商標）－ＨＢＰＲ”を用いて測定した。測定角度の基準は、評価サンプルの長辺方向とした。測定結果は、表１に示したとおりであった。表１では、測定で得られた実測値（角度）をＸｐとして表記している。 For the 12 prepared evaluation samples, the angle of the absorption axis of the linear polarizer when light is incident from the λ / 4 plate side and the azimuth angle Ψ (548.3) and Ψ () of the ellipse when light is incident from the protective film side 629.1) was measured. The angle of the absorption axis of the linear polarizer was measured using a phase difference meter “KOBRA (registered trademark)-HBPR”. The standard of the measurement angle was the long side direction of the evaluation sample. The measurement results were as shown in Table 1. In Table 1, the measured value (angle) obtained by the measurement is indicated as Xp.

こうして得られた測定結果から重回帰分析を行い、直線偏光子の吸収軸の角度Ｘ（保護フィルム側から見た場合の角度に統一するため９０°加えた値）と楕円の方位角Ψ（５４８．３）、Ψ（６２９．１）との関係式を得た。得られた関係式は下記の式（２）であった。
Ｘ（°）＝－１．４３３６８×Ψ（５４８．３）
＋２．４２９４６×Ψ（６２９．１）＋９０．２１１３３・・・（２） Multiple regression analysis was performed from the measurement results thus obtained, and the angle X of the absorption axis of the linear polarizer (the value added by 90 ° to unify the angle when viewed from the protective film side) and the azimuth angle Ψ of the ellipse (548 .3), we obtained the relation with Ψ(629.1). The obtained relational expression was the following expression (2).
X (°) = -1.43368 x Ψ (548.3)
+2.42946×Ψ(629.1)+90.21133 (2)

こうして得られた式（２）と、上記方位角Ψ（５４８．３）およびΨ（６２９．１）とを用いて、１２枚の評価サンプルの直線偏光子の吸収軸の角度Ｘを計算した計算結果は表１のとおりであった。表１には、吸収軸の角度の計算値（計算結果）と実測値との差も示している。

Figure 2023059486000004
Using the thus obtained formula (2) and the azimuth angles Ψ (548.3) and Ψ (629.1), the angle X of the absorption axis of the linear polarizer of the 12 evaluation samples was calculated. Table 1 shows the results. Table 1 also shows the difference between the calculated value (calculated result) and the measured value of the angle of the absorption axis.
Figure 2023059486000004

評価サンプルは、λ／４板、直線偏光子および保護フィルムを有する積層体であり、直線偏光解消フィルムを有しない。しかしながら、上記保護フィルムを直線偏光解消フィルムに置き換えても、方位角Ψ（５４８．３）およびΨ（６２９．１）の測定結果は同じである。したがって、式（２）と、上記方位角Ψ（５４８．３）およびΨ（６２９．１）とを用いて、１２枚の評価サンプルそれぞれが有する直線偏光子の吸収軸の角度Ｘを得ることは、図４を用いて説明した検査方法における吸収軸の角度の測定に対応する。 The evaluation sample is a laminate having a λ/4 plate, a linear polarizer and a protective film, and does not have a linear depolarizing film. However, if the protective film is replaced with a linear depolarizing film, the azimuth angles Ψ(548.3) and Ψ(629.1) are measured the same. Therefore, using equation (2) and the azimuth angles Ψ (548.3) and Ψ (629.1), it is possible to obtain the angle X of the absorption axis of the linear polarizer of each of the 12 evaluation samples. , corresponds to the measurement of the angle of the absorption axis in the inspection method described with reference to FIG.

表１に示した実測値の吸収軸の角度Ｘｐに対し、計算値の角度Ｘをグラフにプロットして、ＸとＸｐとの関係を示す近似式と、それらの相関係数を得た。近似式は、式（３）に示したように、比例係数が１．０００の直線近似式であり、相関係数は、０．９９９１１であった。
Ｘ＝１．００００Ｘｐ・・・（３） The angle X of the calculated value was plotted on a graph with respect to the angle Xp of the absorption axis of the measured value shown in Table 1 to obtain an approximate expression showing the relationship between X and Xp and their correlation coefficient. The approximation formula was a linear approximation formula with a proportional coefficient of 1.000, as shown in formula (3), and a correlation coefficient of 0.99911.
X=1.0000Xp (3)

これらの結果より、方位角の測定結果と、上記式（２）とを用いることによって、非常によい精度で吸収軸の角度を得ることができることが確認できた。 From these results, it was confirmed that the angle of the absorption axis can be obtained with very good accuracy by using the measurement result of the azimuth angle and the above equation (2).

１０…楕円偏光板（検査対象）、１１…直線偏光子、１２…λ／４板、１３…直線偏光解消フィルム、２０…積層体、２０Ｍ…積層体モデル、２０Ｓ…積層体サンプル、Ａ…透過軸、Ｂ１…遅相軸、Ｂ２…進相軸。 10... Elliptical polarizing plate (inspection object), 11... Linear polarizer, 12... λ/4 plate, 13... Linearly depolarizing film, 20... Laminate, 20M... Laminate model, 20S... Laminate sample, A... Transmission Axes, B1... slow axis, B2... fast axis.

Claims (6)

直線偏光を解消するための直線偏光解消フィルム、直線偏光子およびλ／４板がこの順に積層されており、前記直線偏光子の吸収軸と前記λ／４板の遅相軸との相対角が４５°±５°である楕円偏光板を検査対象として検査する方法であって、
前記検査対象が有する直線偏光解消フィルム側から光を入射し、前記検査対象が有するλ／４板から出射される楕円偏光のｎ個（ただし、ｎは２～６）の測定波長λｉ（ｉ＝１～ｎ）それぞれに対する方位角Ψ（λｉ）を測定する測定工程であって、
前記ｎ個の測定波長λｉは、直線偏光子とλ／４板とがこの順に積層された積層体が有するλ／４板の遅相軸または進相軸を基準軸とした場合において、前記積層体が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸と前記基準軸との相対角と、前記積層体が有するλ／４板から出射される楕円偏光の方位角とが、前記積層体が有するλ／４板の遅相軸と前記直線偏光子の吸収軸との相対角が４５°±５°の範囲内において直線関係を満たす波長である、
前記測定工程と、
前記積層体が有するλ／４板から出射される楕円偏光の前記ｎ個の測定波長λｉに対する方位角Ψ（λｉ）と、前記積層体が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の前記積層体の基準辺に対する角度との関係を示しており予め決定されている直線関係式、および、前記測定工程における前記検査対象に対する方位角Ψ（λi）の測定結果に基づいて、前記検査対象が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の方向を求める軸方向決定工程と、
を備える、
検査方法。 A linear depolarizing film for eliminating linearly polarized light, a linear polarizer and a λ/4 plate are laminated in this order, and the relative angle between the absorption axis of the linear polarizer and the slow axis of the λ/4 plate is A method for inspecting an elliptically polarizing plate having an angle of 45°±5° as an inspection object,
Light is incident from the linearly depolarizing film side of the inspection object, and n (where n is 2 to 6) measurement wavelengths λi (i = 1 to n), a measuring step of measuring the azimuth angle Ψ (λi) for each,
The n measurement wavelengths λi are obtained when the slow axis or the fast axis of the λ / 4 plate of a laminate in which a linear polarizer and a λ / 4 plate are laminated in this order is used as a reference axis. The relative angle between the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the body and the reference axis, and the azimuth angle of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate of the laminate, are the λ/ A wavelength that satisfies a linear relationship within a range of 45° ± 5° between the slow axis of the four plates and the absorption axis of the linear polarizer.
the measuring step;
The azimuth angle Ψ (λi) of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate of the laminate with respect to the n measurement wavelengths λi, and the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the laminate. A straight line possessed by the inspection object based on the measurement result of the azimuth angle Ψ (λi) with respect to the inspection object in the measurement step and a predetermined linear relational expression showing the relationship between the angle with respect to the reference side an axis direction determination step of determining the direction of the absorption axis or transmission axis of the polarizer;
comprising a
Inspection method. 前記ｎ個の測定波長λiを選択する測定波長選択工程と、
前記積層体が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の前記積層体の基準辺に対する角度をＸとし、前記積層体が有するλ／４板から出射される楕円偏光の前記ｎ個の測定波長λｉに対する方位角Ψ（λｉ）と、前記Ｘとの直線関係を示す式（１）を決定する直線関係式決定工程と、
を更に備え、
前記軸方向決定工程では、前記測定結果と前記式（１）とに基づいて、前記検査対象が有する直線偏光子の吸収軸または透過軸の方向を求める、
請求項１に記載の検査方法。
Figure 2023059486000005
（（１）中において、ａｉおよびｂはフィッティングによって決定される定数である） a measurement wavelength selection step of selecting the n measurement wavelengths λi;
Let X be the angle of the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the laminate with respect to the reference side of the laminate, and the n measurement wavelengths λi of the elliptically polarized light emitted from the λ/4 plate of the laminate. A linear relational expression determining step for determining the azimuth angle Ψ (λi) with respect to
further comprising
In the axial direction determination step, based on the measurement result and the formula (1), the direction of the absorption axis or transmission axis of the linear polarizer of the inspection object is obtained.
The inspection method according to claim 1.
Figure 2023059486000005
(In (1), ai and b are constants determined by fitting) 前記直線関係式決定工程では、前記積層体に対応する複数の積層体サンプルであり各積層体サンプルにおける前記吸収軸または透過軸と前記基準軸との相対角が異なる前記複数の積層体サンプルを準備し、前記複数の積層体サンプルそれぞれの前記Ｘと、前記ｎ個の測定波長に対する前記方位角Ψ（λｉ）との測定結果に基づいて、前記式（１）を決定し、
前記複数の積層体サンプルは、直線偏光を楕円偏光に変換可能であるとともに、楕円偏光を直線偏光に変換可能な楕円偏光板である、
請求項２に記載の検査方法。 In the step of determining the linear relational expression, a plurality of laminate samples corresponding to the laminate, each having a different relative angle between the absorption axis or the transmission axis and the reference axis, are prepared. and determining the formula (1) based on the measurement results of the X of each of the plurality of laminate samples and the azimuth angle Ψ (λi) for the n measurement wavelengths,
The plurality of laminate samples are elliptically polarizing plates capable of converting linearly polarized light into elliptically polarized light and converting elliptically polarized light into linearly polarized light,
The inspection method according to claim 2. 前記ｎが２である、
請求項１～３の何れか一項に記載の検査方法。 wherein said n is 2;
The inspection method according to any one of claims 1 to 3. 前記ｎ個の測定波長λｉは、波長５４８ｎｍと波長６２９ｎｍを含む、
請求項１～４の何れか一項に記載の検査方法。 The n measurement wavelengths λi include a wavelength of 548 nm and a wavelength of 629 nm,
The inspection method according to any one of claims 1 to 4. 請求項１～５の何れか一項に記載の検査方法を含む、
楕円偏光板の製造方法。 Including the inspection method according to any one of claims 1 to 5,
A method for producing an elliptically polarizing plate.
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