JP2023050153A - 希釈ありまたはなしのアドオンおよび反復アリコート試験 - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、一般に、実験室自動化システムにおいて既存のアリコートの追加および反復試験を行うためのシステムおよび方法に関する。
例えば、いくつかの理由を挙げると、時間を短縮するため、相互汚染を防ぐため、実験室自動化システムからサンプル管を送るため、規制上の理由、顧客の好みのためにサンプルを凍結するためなど、実験室自動化システムにおいてアリコートを形成するいくつかの理由がある。しかしながら、現在、既に形成されたサンプル管に対して追加の/アドオンの試験(反復または反射)が要求された後に、追加試験が元の一次サンプル管に対して行われるべきか、または既存のアリコートサンプル管から行われるべきかを決定することは困難であり得る。
本開示の目的は、実験室の時間と費用をより効率的に使用するために、一次サンプル管を使用するか、または一次管から追加の新たなアリコートサンプル管を形成する必要性を回避するために、その試験サンプルの追加の試験要求に既に利用可能な既存のアリコートサンプル管を使用することである。
以下の実施形態の詳細な説明では、本明細書の一部を形成し、限定ではなく例示として開示が実施され得る特定の実施形態が示されている添付の図面を参照する。他の実施形態を利用することができ、本開示の精神および範囲から逸脱することなく、論理的、機械的および電気的変更を行うことができることを理解されたい。
-既存のアリコートサンプル管に割り当てられた追加試験の数を削減し、任意の残りの試験のために一次サンプル管を使用する。
-既存のアリコートサンプル管に割り当てられた追加試験の数を削減し、任意の残りの試験のために別のアリコートサンプル管を形成する。
-既存のアリコートサンプル管を破棄し、残りの全ての開放試験のために一次サンプル管を使用する。
-既存のアリコートサンプル管に割り当てられた優先度の低い試験を破棄する。
Claims (15)
- 実験室自動化システム100内で追加サンプル試験をそのサンプルの既存のアリコート(aliquot)サンプル管または一次サンプル管に割り当てる方法であって、前記実験室自動化システム100が、実験室ミドルウェア150のワークフロー制御ユニットと、前記ワークフロー制御ユニット150と通信する複数の実験室装置120、130、140と、搬送システム110と、を備え、前記方法が、
前記既存のアリコートサンプル管の処理が開始された後に、前記既存のアリコートサンプル管に対する追加サンプル試験の要求を前記ワークフロー制御ユニット150によって受信することと、
前記既存のアリコートサンプル管が回収可能な標的位置120にあるかどうかを判定することと、
前記既存のアリコートサンプル管が回収可能な標的位置120にない場合、前記搬送システム110を介して前記既存のアリコートサンプル管が回収可能な標的位置120に到達するまで待機することと、
前記既存のアリコートサンプル管が回収可能な標的位置120にある場合、アリコートのタイムアウトが発生したかどうかを判定することと、
アリコートのタイムアウトが発生した場合、前記ワークフロー制御ユニット150によって前記追加サンプル試験を前記一次サンプル管に再割り当てすることと、
アリコートのタイムアウトが発生していない場合、前記搬送システム110によって前記既存のアリコートサンプル管を前記分析実験室装置140のうちの少なくとも1つに搬送することと、
前記分析実験室装置140のうちの少なくとも1つによって前記既存のアリコートサンプル管から追加サンプル試験を行うことと
を含む、方法。 - 前記既存のアリコートサンプル管が回収可能な標的位置120にあり、アリコートのタイムアウトが発生していない場合、前記追加サンプル試験のために適切なサンプル量が前記既存のアリコートサンプル管に残っているかどうかを判定することと、
前記追加サンプル試験を行うために十分なサンプル量が前記既存のアリコートサンプル管に残っていない場合、前記追加サンプル試験を前記一次サンプル管に再割り当てすることと、
前記追加サンプル試験を行うために十分なサンプル量が前記既存のアリコートサンプル管に残っている場合、前記搬送システム110によって前記既存のアリコートサンプル管を前記分析実験室装置140のうちの少なくとも1つに搬送することと、
前記分析実験室装置140のうちの少なくとも1つによって前記既存のアリコートサンプル管から前記追加サンプル試験を行うことと
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記追加サンプル試験を行うために十分なサンプル量が前記既存のアリコートサンプル管に残っていない場合、前記既存のアリコートサンプル管を破棄することをさらに含む、請求項2に記載の方法。
- 前記追加サンプル試験を行うために十分なサンプル量が前記既存のアリコートサンプル管に残っていない場合、優先度の低い試験を破棄することをさらに含む、請求項2または3に記載の方法。
- 前記追加サンプル試験を行うために十分なサンプル量が前記既存のアリコートサンプル管に残っていない場合、前記実験室ミドルウェア150の前記ワークフロー制御ユニットにエラーメッセージを提供することをさらに含む、請求項2に記載の方法。
- 前記追加サンプル試験が前記一次サンプル管に再割り当てされる場合、前記一次サンプル管の位置を特定することと、
前記一次サンプル管が回収可能な標的位置120にある場合、前記一次サンプル管に対する前記追加サンプル試験の再割り当てを完了することと
をさらに含む、請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。 - 前記アリコートのタイムアウトが時間ベースであり、前記追加サンプル試験を前記既存のアリコートサンプル管に割り当てた後に、前記アリコートのタイムアウトが前記ワークフロー制御ユニット150によって再開される、請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記アリコートのタイムアウトがメッセージベースであり、メッセージを受信した後に、前記アリコートのタイムアウトが前記ワークフロー制御ユニット150によって再開される、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記追加サンプル試験が前記一次サンプル管に再割り当てされる場合、新たなアリコートのサンプル管が作成され、前記アリコートのタイムアウトが前記ワークフロー制御ユニット150によって開始される、請求項1に記載の方法。
- 前記追加サンプル試験が、反復試験、再実行試験、および/または反射試験である、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 再実行試験が、手動または分析実験室装置140によって希釈される、請求項10に記載の方法。
- 前記追加サンプル試験が、そのサンプルからの以前の試験結果に基づいて決定される、請求項1に記載の方法。
- 前記実験室自動化システム100の構成に基づいて前記追加サンプル試験を行うために、前記少なくとも1つの分析実験室装置140を割り当てることをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 実験室自動化システム100のオペレータに、追加サンプル試験が割り当てられた分析実験室装置140を通知することをさらに含む、請求項13に記載の方法。
- 実験室自動化システム100であって、
ワークフロー制御ユニットを備える実験室ミドルウェア150であって、前記ワークフロー制御ユニット150が、追加サンプル試験の要求を一次サンプル管またはそのサンプルの既存のアリコートサンプル管に割り当てるように構成されている、実験室ミドルウェア150と、
分析前、分析後、および分析実験室装置を備える、前記ワークフロー制御ユニット150と通信する複数の実験室装置120、130、140であって、前記複数の分析実験室装置140が、前記一次サンプル管または前記既存のアリコートサンプル管内のサンプルに対して試験を行うように構成された、複数の分析実験室装置120、130、140と、
前記一次サンプル管または前記既存のアリコートサンプル管内のサンプルを試験するために前記複数の実験室分析装置140に搬送するように構成された、搬送システム110と
を備える、実験室自動化システム100。
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