JP2023035614A - 磁気ディスク装置及びリフレッシュ閾値の設定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 パフォーマンス及びデータの信頼性を向上可能な磁気ディスク装置及びリフレッシュ閾値の設定方法を提供することである。
【解決手段】 本実施形態に係る磁気ディスク装置は、第１トラックを有するディスクと、ヒータを有し、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記第１トラックの１周内でライト／リード処理特性に対応する評価指標の変動を抑制するように、前記第１トラックの１周内における前記ディスクへのライト処理に関連するパラメータの変動を設定する、コントローラと、を備える。
【選択図】 図１

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びリフレッシュ閾値の設定方法に関する。

磁気ディスク装置の磁気ディスク（以下、単に、ディスクと称する）の高記録密度化に伴って、ディスクの磁性膜等の不均一、若しくはメカ特性等に起因してディスクの１周内の記録再生特性の変動が、ビットエラーレート（ＢＥＲ）などの評価指標の変動として顕在化している。ディスクの所定のトラックにおいて、ＢＥＲは、一定になることが望ましい。

また、磁気ディスク装置では、データをライトした場合にヘッドからの漏れ磁束等の影響（Adjacent Track Interference : ATI）により、データが消去されるサイドイレーズが発生し得る。サイドイレーズを防止するために、磁気ディスク装置は、所定のトラックの周辺トラックにデータをライトした回数が規定回数を超えた場合に、所定のトラックのデータを書き直す処理（リフレッシュ処理又はリライト処理）を有している。

特開２０２１－００９７４７号公報 米国特許第８９４１９３７号明細書 米国特許第８２７９５４７号明細書 特開２０２０―１３５９０９号公報

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、パフォーマンス及びデータの信頼性を向上可能な磁気ディスク装置及びリフレッシュ閾値の設定方法を提供することである。

本実施形態に係る磁気ディスク装置は、第１トラックを有するディスクと、ヒータを有し、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記第１トラックの１周内でライト／リード処理特性に対応する評価指標の変動を抑制するように、前記第１トラックの１周内における前記ディスクへのライト処理に関連するパラメータの変動を設定する、コントローラと、を備える。

図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、実施形態に係るディスクの一例を示す模式図である。 図３は、ディスク及びヘッドの一例を示す拡大断面図である。 図４は、ライト処理の一例を示す模式図である。 図５は、所定のトラックの円周位置に対する実測評価指標の変動、近似評価指標の変動、及び補正評価指標の変動の一例を示す模式図である。 図６は、本実施形態に係る円周位置に対する補正評価指標の変動及び補正ライト処理パラメータの変動の一例を示す模式図である。 図７は、フリンジライトした場合の所定のトラックの円周位置に対するＢＥＲの変動の一例を示す模式図である。 図８は、実施形態に係る所定のトラックの円周位置に対するＴＢＧ値の変動及び円周位置に対する閾値補正値の変動の一例を示す模式図である。 図９は、実施形態に係る所定のトラックの区分領域に対する区分領域閾値の変動の一例を示す模式図である。 図１０は、所定のトラックの区分領域の一例を示す模式図である。 図１１は、実施形態に係るライト回数及び区分領域閾値のテーブルＴＢの一例を示す模式図である。 図１２は、実施形態に係るリフレッシュ閾値の設定方法の一例を示すフローチャートである。 図１３は、実施形態に係るリフレッシュ処理方法の一例を示す模式図である。

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（実施形態）
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、不揮発性メモリ８０と、バッファメモリ（バッファ）９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。

ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスクと称する）１０と、スピンドルモータ（以下、ＳＰＭと称する）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭと称する）１４とを有する。ディスク１０は、ＳＰＭ１２に取り付けられ、ＳＰＭ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の所定の位置まで移動制御する。ディスク１０及びヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。

ディスク１０は、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の内周から外周へ向かう方向、又はディスク１０の外周から内周へ向かう方向を半径方向と称する。半径方向において、内周から外周へ向かう方向を外方向（又は外側）と称し、内周から外周へ向かう方向を内方向（又は内側）と称する。円周方向は、ディスク１０の円周に沿った方向に相当する。半径方向及び円周方向は、互いに直交している。また、ディスク１０の半径方向の所定の位置を半径位置と称し、ディスク１０の円周方向の所定の位置を円周位置と称する場合もある。半径位置及び円周位置をまとめて単に位置と称する場合もある。ディスク１０のユーザデータ領域１０ａは、複数の領域に区分され得る。例えば、ユーザデータ領域１０ａは、半径方向において、所定の数のトラックを含む領域（以下、ゾーンと称する場合もある）毎に区分され得る。ゾーンは、半径方向において、トラック毎に区分され得る。

なお、“トラック”は、ディスク１０を半径方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域、ディスク１０の所定の半径位置の１周分の記録領域、ディスク１０の所定の半径位置の所定の記録領域、ディスク１０の円周方向に延長する記録領域、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路に相当する記録領域、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路、ディスク１０を半径方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置の１周分の記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置の所定の記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の円周方向に延長する記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路に相当する記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路に沿ってライトしたデータ、ディスク１０において円周方向に延長するデータ、ディスク１０の所定のトラックにライトされたデータ、ディスク１０の所定のトラックにライトされた１周分のデータ、ディスク１０の所定のトラックにライトされたデータの一部や、その他の種々の意味で用いる。“セクタ”は、ディスク１０の所定のトラックを円周方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域、ディスク１０の所定の半径位置で円周方向に延長する記録領域を区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域、ディスク１０の所定のトラックの所定の記録領域、ディスク１０の所定のトラックの所定の円周位置、ディスク１０の所定の半径位置における所定の円周位置（所定の位置）、ディスク１０の所定のトラックを円周方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置で円周方向に延長する記録領域を区分した複数の記録領域の１つの記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定のトラックの所定の記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定のトラックの所定の円周位置にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置における所定の円周位置（所定の位置）にライトされたデータ、所定のセクタにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。“トラックの半径方向の幅”を“トラック幅”と称する場合もある。“所定のトラックにおけるトラック幅の中心位置を通る経路”を“トラックセンタ”と称する場合もある。ユーザデータ領域１０ａにライトされるユーザにより利用可能なデータをユーザデータと称する場合もある。

ヘッド１５は、後述するスライダ１５０を本体として、当該スライダ１５０に実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０に記録されているデータをリードする。なお、“ライトヘッド１５Ｗ”を単に“ヘッド１５”と称する場合もあるし、“リードヘッド１５Ｒ”を単に“ヘッド１５”と称する場合もあるし、“ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ”をまとめて単に“ヘッド１５”と称する場合もある。“ヘッド１５の中心部”を“ヘッド１５”と称し、“ライトヘッド１５Ｗの中心部”を“ライトヘッド１５Ｗ”と称し、“リードヘッド１５Ｒの中心部”を“リードヘッド１５Ｒ”と称する場合もある。“ライトヘッド１５Ｗの中心部”を単に“ヘッド１５”と称する場合もあるし、“リードヘッド１５Ｒの中心部”を単に“ヘッド１５”と称する場合もある。“ヘッド１５の中心部を所定のトラックのトラックセンタに位置決めする”ことを“ヘッド１５を所定のトラックに位置決めする”、“ヘッド１５を所定のトラックに配置する”、又は“ヘッド１５を所定のトラックに位置する”等で表現する場合もある。

図２は、実施形態に係るディスク１０の一例を示す模式図である。図２に示すように、円周方向において、ディスク１０の回転する方向を回転方向と称する。なお、図２に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。図２において、ディスク１０は、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲ及び外周領域ＯＲの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。

図２に示した例では、ディスク１０は、ユーザデータ領域１０ａ、及びシステムエリア１０ｂを含む。図２では、ユーザデータ領域１０ａ及びシステムエリア１０ｂは、半径方向において隣接している。ここで、“隣接”とは、データ、物体、領域、及び空間等が接して並んでいることはもちろん、所定の間隔を置いて並んでいることも含む。図２では、システムエリア１０ｂは、ユーザデータ領域１０ａの外方向に隣接している。なお、システムエリア１０ｂは、ユーザデータ領域１０ａの内方向に隣接していてもよい。また、システムエリア１０ｂは、半径方向においてユーザデータ領域１０ａの間に配置されていてもよい。

図２に示した例では、ユーザデータ領域１０ａは、内周領域ＩＲから外周領域ＯＲに亘って配置されている。システムエリア１０ｂは、外周領域ＯＲに配置されている。なお、システムエリア１０ｂは、内周領域ＩＲ又は中周領域ＭＲに配置されていてもよい。システムエリア１０ｂは、外周領域ＯＲ、中周領域ＭＲ，又は内周領域ＩＲに分散して配置されていてもよい。

図２に示すように、ヘッド１５は、ディスク１０に対してＶＣＭ１４の駆動により回転軸周りで回転して内方向から外方向に向かって移動して所定の位置に配置される、又は外方向から内方向に向かって移動して所定の位置に配置される。

図３は、ディスク１０及びヘッド１５の一例を示す拡大断面図である。以下で、ヘッド１５からディスク１０へ向かう方向を下方向（又は下）と称し、ディスク１０からヘッド１５へ向かう方向を上方向（又は上）と称する。図３において、ディスク１０の回転方向Ｂと空気流Ｃの方向とは一致している。

図３に示した例では、ディスク１０は、基板１１１と、軟磁性層１１２と、磁気記録層１１３と、保護膜層１１４とが順に積層されている。基板１１１は、円板状の非磁性体で形成されている。軟磁性層１１２は、基板１１１の上に軟磁気特性を示す材料で形成されている。磁気記録層１１３は、軟磁性層１１２の上にディスク１０の表面に対して垂直方向に磁気異方性を有する。保護膜層１１４は、磁気記録層１１３の上に形成されている。

図３に示した例では、ヘッド１５は、スライダ１５０を有している。スライダ１５０は、例えば、アルミナとチタンカーバイドの焼結体（アルチック）とで形成されている。スライダ１５０は、ディスク１０の表面に対向するディスク対向面（エア・ベアリング・サーフェイス（ＡＢＳ））１５１と、空気流Ｃの流出側に位置するトレーリング端１５３とを有している。スライダ１５０は、ライトヘッド１５Ｗ、リードヘッド１５Ｒ、ヒータ１９１、及びヒータ１９２を含む。リードヘッド１５Ｒ及びライトヘッド１５Ｗの一部は、ディスク対向面１５１に露出している。ヒータ１９１は、ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒの間に配置されている。ヒータ１９２は、リードヘッド１５Ｒに対してライトヘッド１５Ｗと反対側に配置されている。言い換えると、リードヘッド１５Ｒは、ヒータ１９１及び１９２の間に配置されている。

リードヘッド１５Ｒは、磁性膜１６１、シールド膜１６２、及びシールド膜１６３で構成されている。磁性膜１６１は、シールド膜１６２及びシールド膜１６３の間に位置し、磁気抵抗効果を生じる。シールド膜１６２は、磁性膜１６１に対してトレーリング端１５３側に位置する。シールド膜１６３は、シールド膜１６２と対向している。磁性膜１６１、シールド膜１６２、及びシールド膜１６３の下端は、ディスク対向面１５１に露出している。

ライトヘッド１５Ｗは、リードヘッド１５Ｒに対して、スライダ１５０のトレーリング端１５３側に設けられている。ライトヘッド１５Ｗは、主磁極１７１と、トレーリングシールド（ライトシールド）１７２と、主磁極１７１に磁束を流すために主磁極１７１及びライトシールド１７２を含む磁気回路に巻きつくように配置された記録コイル１８０を備えている。

主磁極１７１は、高飽和磁束密度を有する軟磁性体からなる。主磁極１７１は、ディスク１０の磁気記録層１１３を磁化させるために、ディスク１０の表面に対して垂直方向の記録磁界を発生させる。図３に示した例では、主磁極１７１は、ディスク対向面１５１に対してほぼ垂直に延出している。主磁極１７１のディスク対向面１５１側の先端部１７１aの下面は、ディスク対向面１５１に露出している。主磁極１７１の先端部１７１aは、ディスク対向面１５１に向かって先細りに絞り込まれ、他の部分に対して幅の狭い柱状に形成されている。主磁極１７１の先端部１７１ａのクロストラック方向の幅は、トラックのトラック幅にほぼ対応している。クロストラック方向は、例えば、半径方向に沿った方向である。

ライトシールド１７２は、高飽和磁束密度を有する軟磁性体からなる。ライトシールド１７２は、主磁極１７１直下の軟磁性層１１２を介して効率的に磁路を閉じるために設けられている。ライトシールド１７２は、主磁極１７１に対してトレーリング端１５３側に位置している。ライトシールド１７２は、絶縁体１７３を介して主磁極１７１に連結している。主磁極１７１とライトシールド１７２とは、電気的に絶縁され、且つ磁気回路を形成している。ライトシールド１７２は、略Ｌ字形状に形成され、主磁極１７１の先端部１７１ａにライトギャップを置いて対向する先端部１７２ａを有している。先端部１７２ａの下面は、スライダ１５０のＡＢＳ１５１に露出している。

記録コイル１８０は、主磁極１７１に磁束を流すために主磁極１７１及びライトシールド１７２を含む磁気回路に巻きつくように設けられている。記録コイル１８０は、例えば、主磁極１７１とライトシールド１７２との間に設けられている。記録コイル１８０に所定の大きさの電流（記録電流（Ｉｗ）、又はライト電流（Ｉｗ）と称する場合もある）が供給されることで、主磁極１７１及びライトシールド１７２に記録磁界が励起される。そのため、主磁極１７１及びライトシールド１７２が磁化される。この磁化された主磁極１７１及びライトシールド１７２を流れる磁束によりディスク１０の磁気記録層１１３の記録ビットの磁化方向を変化させることで、記録電流に応じた磁化パターンをディスク１０に記録する。

ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２及びＶＣＭ１４の駆動を制御する。
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ、ライトドライバ、例えば、記録電流制御部３１０、及びヒータ制御部３２０などを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０）に出力する。記録電流制御部３１０は、ライトヘッド１５Ｗに電気的に接続され、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるライトデータに対応する記録電流をライトヘッド１５Ｗに供給する。一例では、記録電流制御部３１０は、記録コイル１８０に電気的に接続され、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるライトデータに対応する記録電流を記録コイル１８０に供給する。記録電流制御部３１０は、システムコントローラ１３０、例えば、ＭＰＵ６０の制御に応じて記録電流をライトヘッド１５Ｗに供給する。例えば、記録電流制御部３１０は、ＭＰＵ６０の制御に応じて記録電流を記録コイル１８０に供給する。ヒータ制御部３２０は、ヒータ１９１及び１９２に電気的に接続され、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるヒータを駆動させる電流をヒータ１９１及び１９２に供給する。ヒータ制御部３２０は、システムコントローラ１３０、例えば、ＭＰＵ６０の制御に応じて電流をヒータ１９１及び１９２に供給する。ヒータ制御部３２０が電流をヒータ１９１及び１９２に供給すると、ヒータ１９１及び１９２が発熱し、ヒータ１９１及び１９２の周囲のスライダ１５０の部分を加熱する。これにより、スライダ１５０、ライトヘッド１５Ｗ、リードヘッド１５Ｒが熱膨張し、ＡＢＳ１５１がディスク１０の表面側へ突出する。このように、ヒータ１９１及び１９２によってヘッド１５の浮上量（ＡＢＳ１５１とディスク１０の表面の距離）を調整することができる。ヒータ１９１及び１９２に通電する電流（又は電圧）の値によって、スライダ１５０、ライトヘッド１５Ｗ、及びリードヘッド１５Ｒが膨張する大きさが調整される。すなわち、ヒータ１９１及び１９２に通電する電流（又は電圧）の値によって、ヘッド１５の浮上量が調整される。

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。

不揮発性メモリ８０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ８０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。

バッファメモリ９０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ９０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ９０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。

システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０と、を含む。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ３０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、バッファメモリ９０、及びホスト１００に電気的に接続されている。

Ｒ／Ｗチャネル４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスク１０からホスト１００に転送されるリードデータ及びホスト１００から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。

ＨＤＣ５０は、データの転送を制御する。例えば、ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、及びバッファメモリ９０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＳＰＭ１２を制御し、ディスク１０を回転させる。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるデータ、例えば、ライトデータの保存先を選択する。ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、ディスク１０からホスト１００に転送されるデータ、例えば、リードデータの処理を制御する。また、ＭＰＵ６０は、データを記録する領域を管理する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、Ｒ／Ｗチャネル４０、及びＨＤＣ５０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１０、アクセス処理制御部６２０、及びリフレッシュ制御部６３０等を有している。ＭＰＵ６０は、各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、アクセス処理制御部６２０、及びリフレッシュ制御部６３０等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、アクセス処理制御部６２０、及びリフレッシュ制御部６３０を回路として有していてもよい。リード／ライト制御部６１０、アクセス処理制御部６２０、及びリフレッシュ制御部６３０等は、Ｒ／Ｗチャネル４０又はＨＤＣ５０に含まれていてもよい。

リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンド等に従って、ディスク１０からデータをリードするリード処理とディスク１０にデータをライトするライト処理とを制御する。リード／ライト制御部６１０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０の所定の位置に位置決めし、リード処理又はライト処理を実行する。以下、所定の領域にデータを記録若しくはライトすること（又はライト処理）、所定の領域からデータを読み出す若しくはリードすること（又はリード処理）や、所定の領域にヘッド１５等を移動させることを含む意味で“アクセス”という用語を用いる場合もある。

リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンド等に従って、ディスク１０の所定の領域に、半径方向に所定の間隔（ギャップ）を空けて所定のトラックの半径方向に隣接するトラック（以下、隣接トラックと称する場合もある）をライトする、又はランダムにデータをライトする通常記録を実行する。なお、リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンド等に従って、ディスク１０の所定の領域（以下、バンド又はバンド領域と称する場合もある）毎に、半径方向においてトラックの一部に次のトラックを重ね書きする瓦記録を実行してもよい。以下、“通常記録する”こと及び／又は“瓦記録する”ことを単に“ライトする”と表現する場合もある。所定のトラックの隣接トラックにライトすることを“フリンジライト”と称する場合もある。

図４は、ライト処理の一例を示す模式図である。図４には、円周方向の進行方向を示している。円周方向においてディスク１０に対してヘッド１５がデータをシーケンシャルにライト及びリードする方向、つまり、円周方向においてディスク１０に対してヘッド１５が進行する方向を進行方向と称する場合もある。例えば、進行方向は、ディスク１０の回転方向とは反対向きである。なお、進行方向は、ディスク１０の回転方向と同じ向きであってもよい。円周方向において、進行方向を後方向、又は単に後と称する場合もある。円周方向において、後方向と反対方向を前方向、又は単に前と称する場合もある。図４には、トラックＣＴＲｎ－１、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１を示している。図４では、例えば、トラックＣＴＲｎ－1、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１のトラック幅は、同じである。“同じ”、“同一”、“一致”、及び“同等”などの用語は、全く同じという意味はもちろん、実質的に同じであると見做せる程度に異なるという意味を含む。なお、トラックＣＴＲｎ－１乃至ＣＴＲｎ＋１のトラック幅は、異なっていてもよい。図４には、トラックＣＴＲｎ－１のトラックセンタＣＴＣｎ－1、トラックＣＴＲｎのトラックセンタＣＴＣｎ、及びトラックＣＴＲｎ＋１のトラックセンタＣＴＣｎ＋１を示している。図４に示した例では、トラックＣＴＲｎ－１、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１は、トラックピッチＣＴＰでライトされている。トラックＣＴＲｎ－1のトラックセンタＣＴＣｎ－1とトラックＣＴＲｎのトラックセンタＣＴＣｎとは、トラックピッチＣＴＰで離れている。トラックＣＴＲｎのトラックセンタＣＴＣｎとトラックＣＴＲｎ＋１のトラックセンタＣＴＣｎ＋１とは、トラックピッチＣＴＰで離れている。トラックＣＴＲｎ－１及びトラックＣＴＲｎは、ギャップＧＰで離れている。トラックＣＴＲｎ及びトラックＣＴＲｎ＋１は、ギャップＧＰで離れている。なお、トラックＣＴＲｎ－１乃至ＣＴＲｎ＋１は、異なるトラックピッチでライトされていてもよい。図４では、説明の便宜上、各トラックを所定のトラック幅で円周方向に延出している長方形状に示しているが、実際には、円周方向に沿って湾曲している。また、各トラックは、半径方向に変動しながら円周方向に延出している波状であってもよい。

図４に示した例では、リード／ライト制御部６１０は、ディスク１０の所定の領域において、トラックセンタＣＴＣｎ－１にヘッド１５を位置決めしてトラックＣＴＲｎ－１又はトラックＣＴＲｎ－1の所定のセクタをライト（又は通常記録）する。

リード／ライト制御部６１０は、トラックＣＴＲｎ－１のトラックセンタＣＴＣｎ－１から内方向にトラックピッチＣＴＰで離間しているトラックセンタＣＴＣｎにヘッド１５を位置決めしてトラックＣＴＲｎ又はトラックＣＴＲｎの所定のセクタをライト（又は通常記録）する。

リード／ライト制御部６１０は、トラックＣＴＲｎのトラックセンタＣＴＣｎから内方向にトラックピッチＣＴＰで離間しているトラックセンタＣＴＣｎ＋１にヘッド１５を位置決めしてトラックＣＴＲｎ＋１又はトラックＣＴＲｎ＋１の所定のセクタをライト（又は通常記録）する。

リード／ライト制御部６１０は、ディスク１０の所定の領域において、トラックＣＴＲｎ－１、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１をシーケンシャルにライト（又は通常記録）してもよいし、トラックＣＴＲｎ―１の所定のセクタ、トラックＣＴＲｎの所定のセクタ、及びトラックＣＴＲｎ＋１の所定のセクタにランダムにライト（又は通常記録）してもよい。

アクセス処理制御部６２０は、アクセス処理、例えば、ライト処理及びリード処理を制御する。アクセス処理制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタのライト及びリード処理特性に対応する評価指標に基づいて、ライト処理に対応する特性値（以下、ライト処理パラメータ又は単にパラメータと称する場合もある）を制御する。評価指標は、例えば、誤り率（ビットエラーレート：ＢＥＲ）等を含む。ライト処理パラメータは、例えば、記録密度（Bits Per Inch : BPI）、記録電流、ヒータに印加する電流（又は電圧）の値に相当するヒータ設定値、データの転送速度、及び所定の領域の記録密度に対応するデータのライト時の記録周波数（以下、単に記録周波数と称する場合もある）等を含む。以下、説明の便宜上、“所定の記録領域にライトしたデータのＢＥＲ”を単に“所定の記録領域のＢＥＲ”と称し、“所定の記録領域にライトするデータの記録密度”を単に“所定の記録領域の記録密度”と称し、“所定の記録領域にデータをライトする時の記録電流”を単に“所定の記録領域の記録電流”と称し、“所定の記録領域にデータをライトする時のヒータ設定値”を単に“所定の記録領域のヒータ設定値”と称し、“所定の記録領域にデータをライトする時のデータの転送速度”を単に“所定の記録領域の転送速度”と称し、“所定の記録領域にデータをライトする時の記録周波数”を単に“所定の記録領域の記録周波数”と称する場合もある。評価指標は、評価指標に対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。ＢＥＲは、ＢＥＲに対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。ライト処理パラメータは、ライト処理パラメータに対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。記録密度、記録電流、ヒータ設定値、転送速度、又は記録周波数は、記録密度、記録電流、ヒータ設定値、転送速度、又は記録周波数に対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの１周内の評価指標の変動（以下、単に評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、このトラックの１周内のＢＥＲの変動（以下、単にＢＥＲの変動と称する場合もある）に基づいて、このトラックの１周内のライト処理パラメータの変動（以下、単にライト処理パラメータの変動と称する場合もある）、例えば、このトラックの１周内の記録密度の変動（以下、単に記録密度の変動と称する場合もある）、このトラックの１周内の記録電流の変動（以下、単に記録電流の変動と称する場合もある）、このトラックの１周内のヒータ設定値の変動（以下、単にヒータ設定値の変動と称する場合もある）、このトラックの１周内の転送速度の変動（以下、単に転送速度の変動と称する場合もある）、若しくはこのトラックの１周内の記録周波数の変動（以下、単に記録周波数の変動と称する場合もある）を制御する。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける所定の領域毎、例えば、所定のトラックを区分した領域（以下、区分領域と称する場合もある）毎の各評価指標、例えば、所定のトラックの各区分領域の各ＢＥＲに基づいて、このトラックの各区分領域の各ライト処理パラメータ、例えば、このトラックの各区分領域の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を制御する。区分領域は、円周方向において所定のトラックを区分した複数の領域の１つの領域に相当する。区分領域は、例えば、所定のトラックの内の複数のセクタで構成され得る。なお、区分領域の円周方向の長さは
同じであってもよいし、異なっていてもよい。言い換えると、所定のトラックの複数の区分領域は、同じ数のセクタを有していてもよいし、異なる数のセクタを有していてもよい。また、区分領域は、所定のトラックの１つのセクタに相当していてもよい。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置の各評価指標、例えば、所定のトラックの各円周位置の各ＢＥＲに基づいて、このトラックの各円周位置の各ライト処理パラメータ、例えば、このトラックの各円周位置の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を制御する。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各セクタの各評価指標、例えば、所定のトラックの各セクタの各ＢＥＲに基づいて、このトラックの各セクタの各ライト処理パラメータ、例えば、このトラックの各セクタの各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を制御する。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおけるライト処理パラメータを基準となる一定のライト処理パラメータ（以下、基準ライト処理パラメータと称する場合もある）に設定し、このトラックにおける評価指標の変動（以下、実測評価指標の変動と称する場合もある）を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの実測評価指標の変動に基づいて、この実測評価指標の変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける基準ライト処理パラメータからのライト処理パラメータの変化量の変動（以下、ライト処理パラメータ補正量の変動又はライト処理パラメータ変化量の変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける基準ライト処理パラメータにライト処理パラメータ補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックの基準ライト処理パラメータをこのトラックのライト処理パラメータの変動（以下、補正ライト処理パラメータの変動又は補正パラメータの変動と称する場合もある）に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに補正ライト処理パラメータの変動を設定する。

なお、アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、所定のトラックにおけるライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックにおける実測評価指標の変動を測定する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、測定したこのトラックの実測評価指標の変動に基づいて、このトラックにおけるライト処理パラメータ補正量の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、このトラックにおける基準ライト処理パラメータにライト処理パラメータ補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、このトラックの基準ライト処理パラメータをこのトラックの補正ライト処理パラメータの変動に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、このトラックに補正ライト処理パラメータの変動を設定する。また、アクセス処理制御部６２０は、各トラックにおける各補正ライト処理パラメータの変動を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける記録密度、記録電流、ヒータ設定値、転送速度、若しくは記録周波数を基準となる一定の記録密度（以下、基準記録密度と称する場合もある）、基準となる一定の記録電流（以下、基準記録電流と称する場合もある）、基準となる一定のヒータ設定値（以下、基準ヒータ設定値と称する場合もある）、基準となる一定の転送速度（以下、基準転送速度と称する場合もある）、若しくは基準となる一定の記録周波数（以下、基準記録周波数と称する場合もある）に設定し、このトラックにおけるＢＥＲの変動（以下、実測ＢＥＲの変動と称する場合もある）を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの実測ＢＥＲの変動に基づいて、このトラックの実測ＢＥＲの変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数からの記録密度の変化量の変動（以下、記録密度補正量の変動又は記録密度変化量の変動と称する場合もある）、記録電流の変化量の変動（以下、記録電流補正量の変動又は記録電流変化量の変動と称する場合もある）、ヒータ設定値の変化量の変動（以下、ヒータ設定値補正量の変動又はヒータ設定値変化量の変動と称する場合もある）、転送速度の変化量の変動（以下、転送速度補正量の変動又は転送速度変化量の変動と称する場合もある）、若しくは記録周波数の変化量の変動（以下、記録周波数補正量の変動又は記録周波数変化量の変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に、記録密度補正量の変動、記録電流補正量の変動、ヒータ設定値補正量の変動、転送速度補正量の変動、若しくは記録周波数補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数をこのトラックにおける記録密度の変動（以下、補正記録密度の変動と称する場合もある）、記録電流の変動（以下、補正記録電流の変動と称する場合もある）、ヒータ設定値の変動（以下、補正ヒータ設定値の変動と称する場合もある）、転送速度の変動（以下、補正転送速度の変動と称する場合もある）、若しくは記録周波数の変動（以下、補正記録周波数の変動と称する場合もある）に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに補正記録密度の変動、補正記録電流の変動、補正ヒータ設定値、補正転送速度の変動、若しくは補正記録周波数の変動を設定する。アクセス処理制御部６２０は、各トラックにおける補正記録密度の変動、補正記録電流の変動、補正ヒータ設定値、補正転送速度の変動、若しくは補正記録周波数の変動を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各ライト処理パラメータを基準となる基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各円周位置の各評価指標（以下、実測評価指標と称する場合もある）を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測評価指標に基づいて、このトラックの各円周位置の各実測評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各円周位置の各基準ライト処理パラメータからの各円周位置の各ライト処理パラメータの変化量（以下、ライト処理パラメータ補正量又はライト処理パラメータ変化量と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の各基準ライト処理パラメータに各円周位置の各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の各基準ライト処理パラメータを各円周位置の各ライト処理パラメータ（以下、補正ライト処理パラメータと称する場合もある）に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各円周位置に対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置における各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける評価指標の変動（又は実測評価指標の変動）は、所定のトラックの各円周位置の各評価指標（又は実測評価指標）を含む。所定のトラックにおけるライト処理パラメータ補正量の変動は、所定のトラックの各円周位置の各ライト処理パラメータ補正量を含む。所定のトラックにおけるライト処理パラメータの変動は、所定のトラックの各円周位置の各ライト処理パラメータを含む。所定のトラックにおける補正ライト処理パラメータの変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正ライト処理パラメータを含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各円周位置の各ＢＥＲ（以下、実測ＢＥＲと称する場合もある）を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲに基づいて、このトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各円周位置の各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数からの各円周位置の各記録密度の変化量（以下、記録密度補正量又は記録密度変化量と称する場合もある）、各記録電流の変化量（以下、記録電流補正量又は記録電流変化量と称する場合もある）、各ヒータ設定値の変化量（以下、ヒータ設定補正量又はヒータ設定変化量と称する場合もある）、各転送速度の変化量（以下、転送速度補正量又は転送速度変化量と称する場合もある）、若しくは各記録周波数の変化量（以下、記録周波数補正量又は記録周波数変化量と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数に、各円周位置の記録密度補正量、記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数をこのトラックにおける各円周位置の各記録密度（以下、補正記録密度と称する場合もある）、各記録電流（以下、補正記録電流と称する場合もある）、各ヒータ設定値（以下、補正ヒータ設定値と称する場合もある）、各転送速度（以下、補正転送速度と称する場合もある）、若しくは各記録周波数（以下、補正記録周波数と称する場合もある）に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに各円周位置に対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置における各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおけるＢＥＲの変動（又は実測ＢＥＲの変動）は、所定のトラックの各円周位置の各ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）を含む。所定のトラックにおける記録密度の変動は、所定のトラックの各円周位置の各記録密度を含む。所定のトラックにおける記録密度補正量の変動は、所定のトラックの各円周位置の各記録密度補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録密度の変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正記録密度を含む。所定のトラックにおける記録電流の変動は、所定のトラックの各円周位置の各記録電流を含む。所定のトラックにおける記録電流補正量の変動は、所定のトラックの各円周位置の各記録電流補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録電流の変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正記録電流を含む。所定のトラックにおけるヒータ設定値の変動は、所定のトラックの各円周位置の各ヒータ設定値を含む。所定のトラックにおけるヒータ設定値補正量の変動は、所定のトラックの各円周位置の各ヒータ設定値補正量を含む。所定のトラックにおける補正ヒータ設定値の変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正ヒータ設定値を含む。所定のトラックにおける転送速度の変動は、所定のトラックの各円周位置の各転送速度を含む。所定のトラックにおける転送速度補正量の変動は、所定のトラックの各円周位置の各転送速度補正量を含む。所定のトラックにおける補正転送速度の変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正転送速度を含む。所定のトラックにおける記録周波数の変動は、所定のトラックの各円周位置の各記録周波数を含む。所定のトラックにおける記録周波数補正量の変動は、所定のトラックの各円周位置の各記録周波数補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録周波数の変動は、所定のトラックの各円周位置の各補記録周波数を含む。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各区分領域の各ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各区分領域の各実測評価指標を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各区分領域の各実測評価指標に基づいて、このトラックの各区分領域の各実測評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各区分領域の各基準ライト処理パラメータからの各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の各基準ライト処理パラメータに各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の各基準ライト処理パラメータを各区分領域の各補正ライト処理パラメータに補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各区分領域に対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける評価指標の変動（又は実測評価指標の変動）は、所定のトラックの各区分領域の各評価指標（又は実測評価指標）を含む。所定のトラックにおけるライト処理パラメータの変動は、所定のトラックの各区分領域の各ライト処理パラメータを含む。所定のトラックにおけるライト処理パラメータ補正量の変動は、所定のトラックの各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を含む。所定のトラックにおける補正ライト処理パラメータの変動は、所定のトラックの各区分領域の各補正ライト処理パラメータを含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各区分領域の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各区分領域の各ＢＥＲ（以下、実測ＢＥＲと称する場合もある）を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各区分領域の各実測ＢＥＲに基づいて、このトラックの各区分領域の各実測ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各区分領域の各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数からの各区分領域の各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数に、各区分領域の記録密度補正量、記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数をこのトラックにおける各区分領域の各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに各区分領域に対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおけるＢＥＲの変動（又は実測ＢＥＲの変動）は、所定のトラックの各区分領域の各ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）を含む。所定のトラックにおける記録密度の変動は、所定のトラックの各区分領域の各記録密度を含む。所定のトラックにおける記録密度補正量の変動は、所定のトラックの各区分領域の各記録密度補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録密度の変動は、所定のトラックの各区分領域の各補正記録密度を含む。所定のトラックにおける記録電流の変動は、所定のトラックの各区分領域の各記録電流を含む。所定のトラックにおける記録電流補正量の変動は、所定のトラックの各区分領域の各記録電流補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録電流の変動は、所定のトラックの各区分領域の各補正記録電流を含む。所定のトラックにおけるヒータ設定値の変動は、所定のトラックの各区分領域の各ヒータ設定値を含む。所定のトラックにおけるヒータ設定値補正量の変動は、所定のトラックの各区分領域の各ヒータ設定値補正量を含む。所定のトラックにおける補正ヒータ設定値の変動は、所定のトラックの各区分領域の各補正ヒータ設定値を含む。所定のトラックにおける転送速度の変動は、所定のトラックの各区分領域の各転送速度を含む。所定のトラックにおける転送速度補正量の変動は、所定のトラックの各区分領域の各転送速度補正量を含む。所定のトラックにおける補正転送速度の変動は、所定のトラックの各区分領域の各補正転送速度を含む。所定のトラックにおける記録周波数の変動は、所定のトラックの各区分領域の各記録周波数を含む。所定のトラックにおける補正記録周波数の変動は、所定のトラックの各区分領域の各補記録周波数を含む。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各セクタの各ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各セクタの各実測評価指標を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各セクタの各実測評価指標に基づいて、このトラックの各セクタの各実測評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各セクタの各基準ライト処理パラメータからの各セクタの各ライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの各基準ライト処理パラメータに各セクタの各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの各基準ライト処理パラメータを各セクタの各ライト処理パラメータ（以下、補正ライト処理パラメータと称する場合もある）に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各セクタに対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各セクタにおける各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける評価指標の変動（又は実測評価指標の変動）は、所定のトラックの各セクタの各評価指標（実測評価指標）を含む。所定のトラックにおけるライト処理パラメータの変動は、所定のトラックの各セクタの各ライト処理パラメータを含む。所定のトラックにおけるライト処理パラメータ補正量の変動は、所定のトラックの各セクタの各ライト処理パラメータ補正量を含む。所定のトラックにおける補正ライト処理パラメータの変動は、所定のトラックの各セクタの各補正ライト処理パラメータを含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各セクタの各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各セクタの各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各セクタの各実測ＢＥＲに基づいて、このトラックの各セクタの各実測ＢＥＲを均一に補正（又は調整）するためのこのトラックにおける各セクタの各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数からの各セクタの各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数に、各セクタの記録密度補正量、記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの各基準記録密度、各基準記録電流、各基準ヒータ設定値、各基準転送速度、若しくは各基準記録周波数をこのトラックにおける各セクタの各記録密度（以下、補正記録密度と称する場合もある）、各記録電流（以下、補正記録電流と称する場合もある）、各ヒータ設定値（以下、補正ヒータ設定値と称する場合もある）、各転送速度（以下、補正転送速度と称する場合もある）、若しくは各記録周波数（以下、補正記録周波数と称する場合もある）に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに各セクタに対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各セクタにおける各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおけるＢＥＲの変動（又は実測ＢＥＲの変動）は、所定のトラックの各セクタの各ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）を含む。所定のトラックにおける記録密度の変動は、所定のトラックの各セクタの各記録密度を含む。所定のトラックにおける記録密度補正量の変動は、所定のトラックの各セクタの各記録密度補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録密度の変動は、所定のトラックの各セクタの各補正記録密度を含む。所定のトラックにおける記録電流の変動は、所定のトラックの各セクタの各記録電流を含む。所定のトラックにおける記録電流補正量の変動は、所定のトラックの各セクタの各記録電流補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録電流の変動は、所定のトラックの各セクタの各補正記録電流を含む。所定のトラックにおけるヒータ設定値の変動は、所定のトラックの各セクタの各ヒータ設定値を含む。所定のトラックにおけるヒータ設定値補正量の変動は、所定のトラックの各セクタの各ヒータ設定値補正量を含む。所定のトラックにおける補正ヒータ設定値の変動は、所定のトラックの各セクタの各補正ヒータ設定値を含む。所定のトラックにおける転送速度の変動は、所定のトラックの各セクタの各転送速度を含む。所定のトラックにおける転送速度補正量の変動は、所定のトラックの各セクタの各転送速度補正量を含む。所定のトラックにおける補正転送速度の変動は、所定のトラックの各セクタの各補正転送速度を含む。所定のトラックにおける記録周波数の変動は、所定のトラックの各セクタの各記録周波数を含む。所定のトラックにおける記録周波数補正量の変動は、所定のトラックの各セクタの各記録周波数補正量を含む。所定のトラックにおける補正記録周波数の変動は、所定のトラックの各セクタの各補記録周波数を含む。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおけるライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの実測評価指標の変動を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの実測評価指標の変動を近似化し、近似化したこのトラックの実測評価指標の変動（以下、近似評価指標の変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの近似評価指標の変動を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの近似評価指標の変動（以下、補正評価指標の変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの補正評価指標の変動に基づいて、このトラックにおける補正評価指標の変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける基準ライト処理パラメータからのライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける基準ライト処理パラメータにライト処理パラメータ補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックの基準ライト処理パラメータをこのトラックの補正ライト処理パラメータの変動に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに補正ライト処理パラメータの変動を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける補正ライト処理パラメータの変動を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

なお、アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、所定のトラックにおけるライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの実測評価指標の変動を測定する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、測定したこのトラックの実測評価指標の変動を近似化し、近似化したこのトラックの近似評価指標の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、算出したこのトラックの近似評価指標の変動を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの補正評価指標の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、算出したこのトラックの補正評価指標の変動に基づいて、この補正評価指標の変動を均一に補正（又は調整）するためのこのトラックにおける基準ライト処理パラメータからのライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、このトラックにおける基準ライト処理パラメータにライト処理パラメータ補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、このトラックの基準ライト処理パラメータをこのトラックの補正ライト処理パラメータの変動に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、このトラックに補正ライト処理パラメータの変動を設定する。また、アクセス処理制御部６２０は、アイドル時に又はリアルタイムで、各トラックにおける各補正ライト処理パラメータの変動を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの実測ＢＥＲの変動を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの実測ＢＥＲの変動を近似化し、近似化したこのトラックの実測ＢＥＲの変動（以下、近似ＢＥＲの変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの近似ＢＥＲの変動を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの近似ＢＥＲの変動（以下、補正ＢＥＲの変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの補正ＢＥＲの変動に基づいて、このトラックにおける補正ＢＥＲの変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数からの記録密度補正量の変動、記録電流補正量の変動、ヒータ設定値補正量の変動、転送速度補正量の変動、若しくは記録周波数補正量の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に、記録密度補正量の変動、記録電流補正量の変動、ヒータ設定値補正量の変動、転送速度補正量の変動、若しくは記録周波数補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックの基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数をこのトラックの補正記録密度の変動、補正記録電流の変動、補正ヒータ設定値の変動、補正転送速度の変動、若しくは補正記録周波数の変動に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックに補正記録密度の変動、補正記録電流の変動、補正ヒータ設定値の変動、補正転送速度の変動、若しくは補正記録周波数の変動を設定する。アクセス処理制御部６２０は、各トラックにおける補正記録密度の変動、補正記録電流の変動、補正ヒータ設定値の変動、補正転送速度の変動、若しくは補正記録周波数の変動を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける記録密度を基準記録密度に設定し、このトラックの実測ＢＥＲの変動を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの実測ＢＥＲの変動を近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの近似ＢＥＲの変動を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの補正ＢＥＲの変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける補正ＢＥＲの変動に基づいて、このトラックにおける補正ＢＥＲの変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける基準記録密度からのこのトラックの記録密度補正量の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準記録密度に各円周位置の各記録密度補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける基準記録密度に、このトラックの記録密度補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックの基準記録密度をこのトラックの記録密度補正量の変動をこのトラックの補正記録密度の変動に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける補正記録密度の変動に比例する記録周波数（補正記録周波数）の変動に相当するタイムベースジェネレータ（ＴＢＧ）値の変動（以下、ＴＢＧ値の変動と称する場合もある）を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにＴＢＧ値の変動を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおけるＴＢＧ値の変動を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各円周位置の各実測評価指標を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測評価指標を近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各近似評価指標を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各円周位置の各補正評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各補正評価指標に基づいて、このトラックの各円周位置の各補正評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各円周位置の基準ライト処理パラメータからの各円周位置の各ライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準ライト処理パラメータに各円周位置の各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準ライト処理パラメータを各円周位置の各補正ライト処理パラメータに補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各円周位置に対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置における各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける近似評価指標の変動は、所定のトラックの各円周位置の各近似評価指標を含む。所定のトラックにおける補正評価指標の変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正評価指標を含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各円周位置の各補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各円周位置の各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各円周位置の各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各円周位置の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数からの各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に各円周位置の各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数をこのトラックの各円周位置の各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置に対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置における各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける近似ＢＥＲの変動は、所定のトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを含む。所定のトラックにおける補正ＢＥＲの変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正ＢＥＲを含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各記録密度を基準記録密度に設定し、このトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各円周位置の補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各円周位置の各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各円周位置の各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各円周位置の基準記録密度からの各円周位置の各記録密度補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準記録密度に各円周位置の各記録密度補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の基準記録密度を各円周位置の各補正記録密度に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置の各補正記録密度に比例する各円周位置の各記録周波数（補正記録周波数）に相当する各円周位置の各ＴＢＧ値を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各円周位置に対応する各ＴＢＧ値を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置における各ＴＢＧ値を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおけるＴＢＧ値の変動は、所定のトラックの各円周位置の各ＴＢＧ値を含む。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各区分領域の各ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各区分領域の各実測評価指標を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各区分領域の各実測評価指標を近似化し、近似化したこのトラックの各区分領域の各近似評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各区分領域の各近似評価指標を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各区分領域の各補正評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各区分領域の各補正評価指標に基づいて、このトラックの各区分領域の各補正評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各区分領域の基準ライト処理パラメータからの各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準ライト処理パラメータに各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準ライト処理パラメータを各区分領域の各補正ライト処理パラメータに補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各区分領域に対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける近似評価指標の変動は、所定のトラックの各区分領域の各近似評価指標を含む。所定のトラックにおける補正評価指標の変動は、所定のトラックの各区分領域の各補正評価指標を含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各区分領域の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各区分領域の各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各区分領域の各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各区分領域の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各区分領域の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各区分領域の各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各区分領域の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数からの各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に各区分領域の各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数をこのトラックの各区分領域の各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各円周位置に対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける近似ＢＥＲの変動は、所定のトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを含む。所定のトラックにおける補正ＢＥＲの変動は、所定のトラックの各円周位置の各補正ＢＥＲを含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各区分領域の各記録密度を基準記録密度に設定し、このトラックの各区分領域の各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各区分領域の各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各区分領域の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各区分領域の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各区分領域の補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各区分領域の各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各区分領域の基準記録密度からの各区分領域の各記録密度補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度に各区分領域の各記録密度補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度を各区分領域の各補正記録密度に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の各補正記録密度に比例する各区分領域の各記録周波数（補正記録周波数）に相当する各区分領域の各ＴＢＧ値を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各区分領域に対応する各ＴＢＧ値を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各ＴＢＧ値を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおけるＴＢＧ値の変動は、所定のトラックの各区分領域の各ＴＢＧ値を含む。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各セクタの各ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各セクタの各実測評価指標を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各セクタの各実測評価指標を近似化し、近似化したこのトラックの各セクタの各近似評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各セクタの各近似評価指標を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各セクタの各補正評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各セクタの各補正評価指標に基づいて、このトラックの各セクタの各補正評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各セクタの基準ライト処理パラメータからの各セクタの各ライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの基準ライト処理パラメータに各セクタの各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの基準ライト処理パラメータを各セクタの各補正ライト処理パラメータに補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各セクタに対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各セクタにおける各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける近似評価指標の変動は、所定のトラックの各セクタの各近似評価指標を含む。所定のトラックにおける補正評価指標の変動は、所定のトラックの各セクタの各補正評価指標を含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各セクタの各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各セクタの各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各セクタの各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各セクタの各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各セクタの各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各セクタの各補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各セクタの各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各セクタの各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各セクタの基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数からの各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に各セクタの各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数をこのトラックの各セクタの各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各セクタに対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各セクタにおける各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおける近似ＢＥＲの変動は、所定のトラックの各セクタの各近似ＢＥＲを含む。所定のトラックにおける補正ＢＥＲの変動は、所定のトラックの各セクタの各補正ＢＥＲを含む。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各セクタの各記録密度を基準記録密度に設定し、このトラックの各セクタの各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各セクタの各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各セクタの各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各セクタの各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各セクタの補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各セクタの各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各セクタの各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各セクタの基準記録密度からの各セクタの各記録密度補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの基準記録密度に各セクタの各記録密度補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの基準記録密度を各セクタの各補正記録密度に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各セクタの各補正記録密度に比例する各セクタの各記録周波数（補正記録周波数）に相当する各セクタの各ＴＢＧ値を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各セクタに対応する各ＴＢＧ値を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各セクタにおける各ＴＢＧ値を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

所定のトラックにおけるＴＢＧ値の変動は、所定のトラックの各セクタの各ＴＢＧ値を含む。

アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックの各円周位置の各実測評価指標を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測評価指標を近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各近似評価指標を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各区分領域の各補正評価指標を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各区分領域の各補正評価指標に基づいて、このトラックの各区分領域の各補正評価指標を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各区分領域の基準ライト処理パラメータからの各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準ライト処理パラメータに各区分領域の各ライト処理パラメータ補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準ライト処理パラメータを各区分領域の各補正ライト処理パラメータに補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各区分領域に対応する各補正ライト処理パラメータを設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各補正ライト処理パラメータを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各記録密度、各記録電流、各ヒータ設定値、各転送速度、若しくは各記録周波数を基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に設定し、このトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおける各区分領域の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数からの各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数に各区分領域の各記録密度補正量、各記録電流補正量、各ヒータ設定補正量、各転送速度補正量、若しくは各記録周波数補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度、基準記録電流、基準ヒータ設定値、基準転送速度、若しくは基準記録周波数を各区分領域の各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックの各区分領域に対応する各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各補正記録密度、各補正記録電流、各補正ヒータ設定値、各補正転送速度、若しくは各補正記録周波数を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

例えば、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックにおける各円周位置の各記録密度を基準記録密度に設定し、このトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したこのトラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを近似化し、近似化したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したこのトラックの各区分領域の補正ＢＥＲを算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したこのトラックにおける各区分領域の各補正ＢＥＲに基づいて、このトラックの各区分領域の各補正ＢＥＲを均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックの各区分領域の基準記録密度からの各区分領域の各記録密度補正量を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度に各区分領域の各記録密度補正量を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の基準記録密度を各区分領域の各補正記録密度に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域の各ＴＢＧ値を算出する。アクセス処理制御部６２０は、このトラックにおける各区分領域に対応する各ＴＢＧ値を設定する。アクセス処理制御部６２０は、所定のトラックの各区分領域における各ＴＢＧ値を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

図５は、所定のトラックの円周位置に対する実測評価指標の変動ＭＢＬ５、近似評価指標の変動ＡＢＬ５、及び補正評価指標の変動ＣＢＬ５の一例を示す模式図である。図５において、縦軸は、ＢＥＲを示し、横軸は、円周位置を示している。図５の縦軸において、ＢＥＲは、矢印の先端側に進むに従って大きくなり、矢印の先端と反対側に進むに従って小さくなる。図５の横軸の円周位置は、所定のトラックにおいてデータのライトを開始する円周位置（以下、開始位置と称する場合もある）と、所定のトラックにおいてデータのライトが終了する円周位置（以下、終了位置と称する場合もある）とを含む。開始位置及び終了位置は、所定のトラックの円周方向において一致していてもよいし、所定のトラックの円周方向において異なっていてもよい。図５には、測定した所定のトラックにおける円周位置に対する実測評価指標の変動（以下、単に実測評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対する実測ＢＥＲの変動（以下、単に実測ＢＥＲの変動と称する場合もある）ＭＢＬ５と、所定のトラックにおける円周位置に対する近似評価指標の変動（以下、単に近似評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対する近似ＢＥＲの変動（以下、単に近似ＢＥＲの変動と称する場合もある）ＡＢＬ５と、所定のトラックにおける円周位置に対する補正評価指標の変動（以下、単に補正評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対する補正ＢＥＲの変動（以下、単に補正ＢＥＲの変動と称する場合もある）ＣＢＬ５とを示している。また、図５の横軸の先端側には、実測ＢＥＲの変動の最大値（Max）及び平均値(Ave.)と、近似ＢＥＲの変動の最大値（Max）及び平均値(Ave.)と、補正ＢＥＲの変動の最大値（Max）及び平均値(Ave.)とを示している。

図５に示した例では、アクセス処理制御部６２０は、所定のトラック、例えば、現在アクセスしているトラック（以下、オントラック（On-track）と称する場合もある）における各円周位置の各記録密度を基準記録密度に設定し、オントラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを測定し、オントラックの実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ５を取得する。

アクセス処理制御部６２０は、以下に記載の式（１）により、測定したオントラックの各円周位置の各実測ＢＥＲを近似化して、近似化したオントラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを算出し、オントラックの近似ＢＥＲの変動ＡＢＬ５を取得する。
ｙａ＝ａ×ｃоｓ（ｐｘ１＋ｂ）＋ｃａ （１）
ここで、ｙａは、近似ＢＥＲであり、ｐは、係数であり、ｘ１は、実測ＢＥＲであり、ａは、係数であり、ｂは、係数であり、ｃａは、所定のトラックの近似ＢＥＲの変動ＡＢＬ５の変動の平均値に相当する。

アクセス処理制御部６２０は、以下に記載の式（２）により、算出したオントラックの各円周位置の各近似ＢＥＲを補正（又は調整）し、補正（又は調整）したオントラックの各円周位置の各補正ＢＥＲを算出し、オントラックの補正ＢＥＲの変動ＣＢＬ５を取得する。
ｙｃ＝ｘ＋ｃｖ （２）
ここで、ｙｃは、補正ＢＥＲであり、ｃｖは、補正量である。補正量ｃｖは、以下に記載の式（３）により算出され得る。
ｃｖ＝ｘ２－ｃａ （３）
ここで、ｘ２は、近似ＢＥＲである。

図６は、本実施形態に係る円周位置に対する補正評価指標の変動ＣＢＬ６及び補正ライト処理パラメータの変動ＣＰＬ６の一例を示す模式図である。図６において、縦軸は、ＢＥＲ及びライト処理パラメータを示し、横軸は、円周位置を示している。図６において、ＢＥＲは、大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図６において、ライト処理パラメータは、大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図６の横軸の円周位置は、開始位置と終了位置とを含む。図６には、基準ライト処理パラメータ、例えば、基準記録密度ＤＰＬ６と、円周位置に対する補正ライト処理パラメータの変動（以下、単に補正ライト処理パラメータの変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対する補正記録密度の変動（以下、単に補正記録密度の変動と称する場合もある）ＣＰＬ６と、円周位置に対する補正評価指標（又は実測評価指標）の変動（以下、単に補正評価指標（又は実測評価指標）の変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対する補正ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）の変動（以下、単に補正ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）の変動と称する場合もある）ＭＢＬ６と、補正ライト処理パラメータの変動に対応する円周位置に対する評価指標の変動（以下、抑制評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、補正記録密度の変動ＣＰＬ６に対応する円周位置に対する実測ＢＥＲの変動（以下、抑制ＢＥＲの変動と称する場合もある）ＳＢＬ６とを示している。

図６に示した例では、アクセス処理制御部６２０は、オントラックにおける記録密度を基準記録密度に設定し、オントラックにおける実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したオントラックの実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６に基づいて、オントラックの実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を均一に調整する、又は抑制するためのオントラックにおける記録密度補正量の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、オントラックにおける基準記録密度に、記録密度補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、オントラックにおける基準記録密度ＤＰＬ６をオントラックにおける補正記録密度の変動ＣＰＬ６に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、オントラックに補正記録密度の変動ＣＰＬ６を設定する。図６に示すように、オントラックにおいて、補正記録密度の変動ＣＰＬ６を設定することで、実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６が抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６に抑制される。

図６に示した例では、アクセス処理制御部６２０は、オントラックにおける各記録密度を基準記録密度ＤＰＬ６に設定し、オントラックの実測ＢＥＲの変動を測定する。アクセス処理制御部６２０は、測定したオントラックの実測ＢＥＲの変動を近似化し、近似化したオントラックの近似ＢＥＲの変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したオントラックの近似ＢＥＲの変動を補正（又は調整）し、補正（又は調整）したオントラックの補正ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を算出する。アクセス処理制御部６２０は、算出したオントラックの補正ＢＥＲの変動ＭＢＬ６に基づいて、オントラックにおける補正ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を均一に調整する、又は抑制するための記録密度補正量の変動を算出する。アクセス処理制御部６２０は、オントラックにおける基準記録密度に、記録密度補正量の変動を加算（又は減算）する。これにより、アクセス処理制御部６２０は、オントラックの基準記録密度をオントラックの補正記録密度の変動ＣＰＬ６に補正（又は調整）する。アクセス処理制御部６２０は、オントラックに補正記録密度の変動ＣＰＬ６を設定する。図６に示すように、オントラックにおいて、補正記録密度の変動ＣＰＬ６を設定することで、補正ＢＥＲの変動ＭＢＬ６が抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６に抑制される。

図７は、フリンジライトした場合の所定のトラックの円周位置に対するＢＥＲの変動の一例を示す模式図である。図７において、縦軸は、ＢＥＲを示し、横軸は、円周位置を示している。図７において、ＢＥＲは、大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図７の横軸の円周位置は、開始位置と終了位置とを含む。図７には、補正評価指標（又は実測評価指標）の変動、例えば、補正ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）の変動ＭＢＬ６と、抑制評価指標の変動、例えば、抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６とを示している。また、図７には、補正評価指標（又は実測評価指標）の変動、例えば、補正ＢＥＲ（又は実測ＢＥＲ）の変動ＭＢＬ６を含むオントラックにフリンジライトした場合のオントラックの円周位置に対する評価指標の変動（以下、単に初期フリンジ評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対するＢＥＲの変動（以下、初期フリンジＢＥＲの変動と称する場合もある）ＤＦＢＬ７と、抑制評価指標の変動、例えば、抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６を含むオントラックにフリンジライトした場合のオントラックの円周位置に対する評価指標の変動（以下、単に補正後フリンジ評価指標の変動と称する場合もある）、例えば、円周位置に対するＢＥＲの変動（以下、単に補正後フリンジＢＥＲの変動と称する場合もある）ＣＦＢＬ７と、を示している。

図７に示した例では、アクセス処理制御部６２０は、オントラックに基準記録密度ＤＰＬ６を設定した場合、オントラックにおいて実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を測定する。アクセス処理制御部６２０は、実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を有するオントラックの隣接トラックにフリンジライトされた場合、初期フリンジＢＥＲの変動ＤＦＢＬ７を測定する。

図７に示した例では、アクセス処理制御部６２０は、オントラックに補正記録密度の変動ＣＰＬ６を設定した場合、オントラックにおいて抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６を測定する。アクセス処理制御部６２０は、抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６を有するオントラックの隣接トラックにライトされた場合、補正後フリンジＢＥＲの変動ＣＦＢＬ７を測定する。

図７に示すように、補正後フリンジＢＥＲの変動ＣＦＢＬ７の変化量は、初期フリンジＢＥＲの変動ＤＦＢＬ７の変化量よりも大きい。図７に示した例では、補正後フリンジＢＥＲの変動ＣＦＢＬ７の一部が初期フリンジＢＥＲの変動ＤＦＢＬ７の一部よりも大きくなり、且つ補正後フリンジＢＥＲの変動ＣＦＢＬ７の一部が初期フリンジＢＥＲの変動ＤＦＢＬの一部よりも小さくなっている。したがって、実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６のオントラックの隣接トラックにライトした場合と比較して抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６のオントラックの隣接トラックにライトした場合の方が、オントラックの所定の領域のヘッド１５からの漏れ磁束等の影響（Adjacent Track Interference : ATI）が大きくなり、且つオントラックの他の領域のヘッド１５からのＡＴＩが小さくなり得る。言い換えると、抑制ＢＥＲの変動ＳＢＬ６を有するオントラックの隣接トラックにライトした場合よりも実測ＢＥＲの変動ＭＢＬ６を有するトラックの隣接トラックにライトした場合の方が、オントラックの所定の領域のデータが劣化しやすくなり、且つオントラックの他の領域のデータが劣化しにくくなる可能性がある。つまり、補正ライト処理パラメータに補正されたオントラックの隣接トラックにデータをライトした場合よりも補正されていないオントラックの隣接トラックにライトした場合の方が、オントラックの所定の領域のデータが劣化しやすくなる可能性があり、且つオントラックの他の領域のデータが劣化しにくくなる可能性がある。言い換えると、補正ライト処理パラメータに補正されたオントラックの隣接トラックにデータをライトした場合よりも補正されていないオントラックの隣接トラックにライトした場合の方が、オントラックの所定の領域のデータが劣化しやすくなる可能性がある。

リフレッシュ制御部６３０は、データをライトした回数（以下、ライト回数と称する場合もある）をカウントする。リフレッシュ制御部６３０は、対象とする領域（以下、対象領域と称する場合もある）から半径方向に所定の範囲内に位置する領域（以下、近接領域と称する場合もある）にデータをライトしたライト回数（以下、近接領域ライト回数と称する場合もある）をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域から外方向に所定の範囲内に位置する近接領域（以下、外方向近接領域と称する場合もある）にデータをライトした近接領域ライト回数（以下、外方向近接領域ライト回数又は外方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。また、例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域から内方向に所定の範囲内に位置する近接領域（以下、内方向近接領域と称する場合もある）にデータをライトした近接領域ライト回数（以下、内方向近接領域ライト回数又は内方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。リフレッシュ制御部６３０は、ライト回数をテーブルとして所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、又はバッファメモリ９０等に保持していてもよい。

リフレッシュ制御部６３０は、対象領域から半径方向に所定の範囲内に位置する近接領域にデータをライトした場合、近接領域ライト回数を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域から半径方向に所定の範囲内に位置する近接領域にデータをライトした場合、近接領域ライト回数を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、外方向近接領域にデータをライトした場合、外方向近接領域ライト回数（外方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、外方向近接領域にデータをライトした場合、外方向近接領域ライト回数（外方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、内方向近接領域にデータをライトした場合、内方向近接領域ライト回数（内方向ライト回数）を所定の値を増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、内方向近接領域にデータをライトした場合、内方向近接領域ライト回数（内方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。

リフレッシュ制御部６３０は、対象領域に半径方向で隣接する領域（以下、隣接領域と称する場合もある）にデータをライトしたライト回数（以下、隣接領域ライト回数と称する場合もある）をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域の外方向に隣接する隣接領域（以下、外方向隣接領域と称する場合もある）にデータをライトした隣接領域ライト回数（以下、外方向隣接領域ライト回数又は外方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。また、例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域の内方向に隣接する隣接領域（以下、内方向隣接領域と称する場合もある）にデータをライトした隣接領域ライト回数(以下、内方向隣接領域ライト回数又は内方向ライト回数と称する場合もある)をカウントする。

リフレッシュ制御部６３０は、対象領域の半径方向に位置する隣接領域にデータをライトした場合、隣接領域ライト回数を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域の半径方向に位置する隣接領域にデータをライトした場合、隣接領域ライト回数を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、外方向隣接領域にデータをライトした場合、外方向隣接領域ライト回数（外方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、外方向隣接領域にデータをライトした場合、外方向隣接領域ライト回数（外方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、内方向隣接領域にデータをライトした場合、内方向隣接領域ライト回数（内方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、内方向隣接領域にデータをライトした場合、内方向隣接領域ライト回数（内方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。

リフレッシュ制御部６３０は、対象とする区分領域（以下、対象区分領域と称する場合もある）から半径方向に所定の範囲内に位置する区分領域（以下、近接区分領域と称する場合もある）にデータをライトしたライト回数（以下、近接区分領域ライト回数と称する場合もある）をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域から外方向に所定の範囲内に位置する近接区分領域（以下、外方向近接区分領域と称する場合もある）にデータをライトした近接区分領域ライト回数（以下、外方向近接区分領域ライト回数又は外方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。また、例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域から内方向に所定の範囲内に位置する近接区分領域（以下、内方向近接区分領域と称する場合もある）にデータをライトした近接区分領域ライト回数（以下、内方向近接区分領域ライト回数又は内方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。

リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域から半径方向に所定の範囲内に位置する近接区分領域にデータをライトした場合、近接区分領域ライト回数を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域から半径方向に所定の範囲内に位置する近接区分領域にデータをライトした場合、近接区分領域ライト回数を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、外方向近接区分領域にデータをライトした場合、外方向近接区分領域ライト回数（外方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、外方向近接区分領域にデータをライトした場合、外方向近接区分領域ライト回数（外方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、内方向近接区分領域にデータをライトした場合、内方向近接区分領域ライト回数（内方向ライト回数）を所定の値を増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、内方向近接区分領域にデータをライトした場合、内方向近接区分領域ライト回数（内方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。

リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域に半径方向で隣接する区分領域（以下、隣接区分領域と称する場合もある）にデータをライトしたライト回数（以下、隣接区分領域ライト回数と称する場合もある）をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域の外方向に隣接する隣接区分領域（以下、外方向隣接区分領域と称する場合もある）にデータをライトした隣接区分領域ライト回数（以下、外方向隣接区分領域ライト回数又は外方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。また、例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域の内方向に隣接する隣接区分領域（以下、内方向隣接区分領域と称する場合もある）にデータをライトした隣接区分領域ライト回数(以下、内方向隣接区分領域ライト回数又は内方向ライト回数と称する場合もある)をカウントする。

リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域の半径方向に位置する隣接区分領域にデータをライトした場合、隣接区分領域ライト回数を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域の半径方向に位置する隣接区分領域にデータをライトした場合、隣接区分領域ライト回数を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、外方向隣接区分領域にデータをライトした場合、外方向隣接区分領域ライト回数（外方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、外方向隣接区分領域にデータをライトした場合、外方向隣接区分領域ライト回数（外方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、内方向隣接区分領域にデータをライトした場合、内方向隣接区分領域ライト回数（内方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、内方向隣接区分領域にデータをライトした場合、内方向隣接区分領域ライト回数（内方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。

リフレッシュ制御部６３０は、対象とするセクタ（以下、対象セクタと称する場合もある）から半径方向に所定の範囲内に位置するセクタ（以下、近接セクタと称する場合もある）にデータをライトしたライト回数（以下、近接セクタライト回数と称する場合もある）をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタから外方向の所定の範囲内に位置する近接セクタ（以下、外方向近接セクタと称する場合もある）にデータをライトした近接セクタライト回数（以下、外方向近接セクタライト回数又は外方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。また、例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタから内方向の所定の範囲内に位置する近接セクタ（以下、内方向近接セクタと称する場合もある）にデータをライトした近接セクタライト回数（以下、内方向近接セクタライト回数又は内方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。なお、データをライトした際に対象領域に書きにじみや漏れ磁界等の影響を及ぼすセクタを製造段階の測定により検出し、この検出したセクタを近接セクタとして設定していてもよい。また、データをライトした際に対象領域に書きにじみや漏れ磁界等の影響を及ぼすセクタを動作処理時に検出して、この検出したセクタを近接セクタとして設定していてもよい。

リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタから半径方向に所定の範囲内に位置する近接セクタにデータをライトした場合、近接セクタライト回数を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタから半径方向に所定の範囲内に位置する近接セクタにデータをライトした場合、近接セクタライト回数を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、外方向近接セクタにデータをライトした場合、外方向近接セクタライト回数（外方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、外方向近接セクタにデータをライトした場合、外方向近接セクタライト回数（外方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、内方向近接セクタにデータをライトした場合、内方向近接セクタライト回数（内方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、内方向近接セクタにデータをライトした場合、内方向近接セクタライト回数（内方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。

リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタの半径方向に隣接するセクタ（以下、隣接セクタと称する場合もある）にデータをライトしたライト回数（以下、隣接セクタライト回数と称する場合もある）をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタの外方向に隣接する隣接セクタ（以下、外方向隣接セクタと称する場合もある）にデータをライトした隣接セクタライト回数（以下、外方向隣接セクタライト回数又は外方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。また、例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタの内方向に隣接する隣接セクタ（以下、内方向隣接セクタと称する場合もある）にデータをライトした隣接セクタライト回数（以下、内方向隣接セクタライト回数又は内方向ライト回数と称する場合もある）をカウントする。

リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタの半径方向に隣接する隣接セクタにデータをライトした場合、隣接セクタライト回数を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、対象セクタの半径方向に隣接する隣接セクタにデータをライトした場合、隣接セクタライト回数を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、外方向隣接セクタにデータをライトした場合、外方向隣接セクタライト回数（外方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、外方向隣接セクタにデータをライトした場合、外方向隣接セクタライト回数（外方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。リフレッシュ制御部６３０は、内方向隣接セクタにデータをライトした場合、内方向隣接セクタライト回数（内方向ライト回数）を所定の値分増加（インクリメント）させる。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、内方向隣接セクタにデータをライトした場合、内方向隣接セクタライト回数（内方向ライト回数）を１増加（インクリメント）させる。

リフレッシュ制御部６３０は、対象領域にライトされたデータと同じデータを対象領域に書き直す処理（以下、リライト、リライト処理、リフレッシュ、又はリフレッシュ処理と称する場合もある）又は対象領域にデータを上書きする処理若しくは書き換える処理（以下、上書き処理、書き換え処理、リライト、リライト処理、リフレッシュ、又はリフレッシュ処理と称する場合もある）を実行する。以下、書き直す処理、上書き処理、又は書き換え処理をまとめてリライト、リライト処理、リフレッシュ、又はリフレッシュ処理と称する場合もある。“上書き”とは、“所定の領域の所定の位置にライトされたデータ上にデータをライトすること“や、”所定の領域の所定の位置にライトされたデータと同じ領域の同じ位置にデータをライトすること“を含む。

リフレッシュ制御部６３０は、所定の領域に対応するリフレッシュ処理を実行するライト回数の閾値（以下、リフレッシュ閾値と称する場合もある）を有している。リフレッシュ閾値は、所定の領域のデータが特定の量、例えば、データを破壊する量よりも大きいＡＴＩを受けた場合のこの領域の半径方向の領域へのライト回数に相当する。リフレッシュ制御部６３０は、所定の領域に対応するリフレッシュ閾値をテーブルとして所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、又はバッファメモリ９０等に保持していてもよい。

図７に示したように、所定のトラックにおいて評価指標の変動を抑制するためにこのトラックにおけるライト処理パラメータの変動を補正した場合、このトラックの隣接トラックにフリンジライトした際に、このトラックの所定の領域のデータがＡＴＩ等により劣化しやすくなり、且つこのトラックの他の領域のデータがＡＴＩ等により劣化を抑制され得る。そのため、所定のトラックにおいて評価指標の変動を抑制するためにこのトラックにおけるライト処理パラメータの変動を補正した場合、このトラックのＡＴＩ等によりデータが劣化しやすくなる領域に対するリフレッシュ閾値を小さくし、且つこのトラックのＡＴＩ等によるデータの劣化がしにくくなる領域に対するリフレッシュ閾値を大きくするように、このトラックの領域毎にリフレッシュ閾値を設定することが望ましい。言い換えると、所定のトラックにおいて評価指標の変動を抑制するためにこのトラックのライト処理パラメータの変動を補正した場合、このトラックのＡＴＩ等の影響が受けやすい領域に対するリフレッシュ閾値を小さくし、且つこのトラックのＡＴＩ等の影響を受けにくい領域に対するリフレッシュ閾値を大きくするように、このトラックの領域毎にリフレッシュ閾値を設定することが望ましい。

リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおける区分領域毎の各リフレッシュ閾値（以下、区分領域閾値と称する場合もある）を有している。リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおけるライト処理パラメータの変動に応じて、所定のトラックにおいて基準となる一定のリフレッシュ閾値（以下、基準閾値と称する場合もある）を区分領域毎に補正して各区分領域閾値を算出する。言い換えると、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックのライト処理パラメータの変動に応じて、所定のトラックにおける基準閾値を補正するためのこのトラックにおける複数の区分領域にそれぞれ対応する複数の区分領域閾値を含む区分領域閾値の変動を算出する。

例えば、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおける補正記録密度の変動に比例する補正記録周波数の変動に相当するＴＢＧ値の変動に応じて、所定のトラックにおける区分領域毎の各リフレッシュ閾値を補正する区分領域毎の各補正値（以下、閾値補正値と称する場合もある）を算出する。言い換えると、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおけるＴＢＧ値の変動に応じて、このトラックにおけるリフレッシュ閾値の変動を補正するこのトラックにおける閾値補正値の変動を算出する。リフレッシュ制御部６３０は、各区分領域の基準閾値と各区分領域の各閾値補正値とに基づいて、各区分領域の各区分領域閾値を算出する。言い換えると、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおける基準閾値と閾値補正値の変動とに基づいて、このトラックにおける区分領域閾値の変動を算出する。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおける各区分領域の基準閾値に各区分領域の各閾値補正値を積算して、各区分領域の各区分領域閾値を算出する。言い換えると、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックにおける基準閾値に閾値補正値の変動を積算して、このトラックにおける区分領域閾値の変動を算出する。所定のトラックにおける複数の区分領域閾値は、異なっていてもよい。所定のトラックにおける複数の区分領域閾値の一部は、同じであってもよい。

リフレッシュ制御部６３０は、対象領域に対応するライト回数が対象領域に対応するリフレッシュ閾値よりも大きいと判定した場合、対象領域にリフレッシュ処理を実行する。なお、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域に対応するライト回数が対象領域に対応するリフレッシュ閾値よりも大きいと判定した場合、対象領域を含むトラック（対象トラック）にリフレッシュ処理を実行する。対象領域にリフレッシュ処理を実行した場合、リフレッシュ制御部６３０は、対象領域に対応するライト回数をリセットする、例えば、０にする。

例えば、対象区分領域に対応するライト回数（例えば、外方向ライト回数及び内方向ライト回数の合計）がこの対象区分領域に対応する区分領域閾値よりも大きいと判定した場合、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域をリードして、対象区分領域のデータを対象区分領域の同じ位置に書き直すリフレッシュ処理を実行する。なお、対象区分領域に対応するライト回数がこの対象区分領域に対応する区分領域閾値よりも大きいと判定した場合、リフレッシュ制御部６３０は、対象区分領域を含むトラック（対象トラック）からリードして、対象区分領域を含むトラックのデータをこのトラックの同じ位置に書き直すリフレッシュ処理を実行してもよい。

図８は、本実施形態に係る所定のトラックの円周位置に対するＴＢＧ値の変動及び円周位置に対する閾値補正値の変動の一例を示す模式図である。図８において、縦軸は、ＴＢＧ値及び閾値補正値を示し、横軸は、円周位置を示している。図８において、ＴＢＧ値は、原点（＝０）よりも正の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、原点（＝０）よりも負の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図８において、閾値補正値は、原点（＝１）よりも大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、原点（＝１）よりも小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図６の横軸の円周位置は、開始位置と終了位置とを含む。図８の横軸の円周位置において、開始位置から終了位置までの範囲は、区分領域毎に区分されている。図８には、所定のトラックにおける円周位置に対するＴＢＧ値の変動（以下、単にＴＢＧ値の変動と称する場合もある）ＴＢＧＬ８と、所定のトラックにおける円周位置に対する閾値補正値の変動（以下、単に閾値補正値の変動と称する場合もある）ＴＣＶＬ８とを示している。

図８に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、所定のトラックのＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８に応じて、所定のトラックの区分領域毎の各閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を算出する。リフレッシュ制御部６３０は、ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８が原点（＝０）よりも小さい区分領域では閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を原点（＝１）よりも大きくなり、且つＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８が原点（＝０）よりも大きい区分領域では閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を原点（＝１）よりも小さくなるように算出する。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８の形状、例えば、波形形状と逆転した形状になるように閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を算出する。言い換えると、リフレッシュ制御部６３０は、ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８に対応するライト処理パラメータ、例えば、記録密度の変動の形状（波形形状）と逆転した形状になるように閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を算出する。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８に対応する補正ライト処理パラメータ、例えば、補正記録密度の変動の形状と逆転した形状になるように閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を算出する。

図９は、本実施形態に係る所定のトラックの区分領域に対する区分領域閾値の変動の一例を示す模式図である。図９において、縦軸は、リフレッシュ閾値を示し、横軸は、円周位置を示している。図９において、リフレッシュ閾値は、大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図９の横軸の円周位置は、開始位置と終了位置とを含む。図９の横軸の円周位置において、開始位置から終了位置までの範囲は、区分領域毎に区分されている。図９には、所定のトラックにおける基準閾値ＣＴＶＬ９と、所定のトラックにおける区分領域に対する区分領域閾値の変動（以下、単に区分領域閾値の変動と称する場合もある）ＤＡＴＬ９とを示している。

図９に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、基準閾値ＣＴＶＬ９に図８に示した閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８を積算して、各区分領域の各区分領域閾値を算出し、区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９を取得する。区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９は、閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８に対応している。言い換えると、区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９の形状（例えば、波形形状）は、閾値補正値の変動ＴＣＶＬ８の形状とほぼ同じである。区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９の形状は、ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８に対応するライト処理パラメータ、例えば、記録密度の変動の形状とほぼ逆転している。ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８が原点（＝０）よりも小さい区分領域では、区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９が、基準閾値ＣＴＶＬ９よりも大きくなり、ＴＢＧの変動ＴＢＧＬ８が原点（＝０）よりも大きい区分領域では、区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９が、基準閾値ＣＴＶＬ９よりも小さくなる。例えば、区分領域閾値の変動ＤＡＴＬ９は、所定のトラックの隣接トラックにデータをライトした際にＡＴＩを受けやすい区分領域では小さくなり、且つ隣接トラックにデータをライトした際にＡＴＩを受けにくい区分領域では大きくなる。

図１０は、所定のトラックの区分領域の一例を示す模式図である。図１０には、トラックＣＴＲｎ―１、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１を示している。トラックＣＴＲｎ―１、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１は、図４に示したトラックＣＴＲｎ―１、ＣＴＲｎ、及びＣＴＲｎ＋１に相当する。図１０に示した例では、トラックＣＴＲｎ―１は、区分領域ＤＡ０（ｎ―１）、ＤＡ１（ｎ―１）、ＤＡ２（ｎ―１）、ＤＡ３（ｎ―１）、及びＤＡ４（ｎ―１）に区分されている。区分領域ＤＡ０（ｎ―１）、ＤＡ１（ｎ―１）、ＤＡ２（ｎ―１）、ＤＡ３（ｎ―１）、及びＤＡ４（ｎ―１）は、記載の順番で後方向に連続して並んでいる。図１０において、トラックＣＴＲｎは、区分領域ＤＡ０ｎ、ＤＡ１ｎ、ＤＡ２ｎ、ＤＡ３ｎ、及びＤＡ４ｎに区分されている。区分領域ＤＡ０ｎ、ＤＡ１ｎ、ＤＡ２ｎ、ＤＡ３ｎ、及びＤＡ４ｎは、記載の順番で後方向に連続して並んでいる。図１０において、トラックＣＴＲｎ＋１は、区分領域ＤＡ０（ｎ＋１）、ＤＡ１（ｎ＋１）、ＤＡ２（ｎ＋１）、ＤＡ３（ｎ＋１）、及びＤＡ４（ｎ＋１）に区分されている。区分領域ＤＡ０（ｎ＋１）、ＤＡ１（ｎ＋１）、ＤＡ２（ｎ＋１）、ＤＡ３（ｎ＋１）、及びＤＡ４（ｎ＋１）は、記載の順番で後方向に連続して並んでいる。図１０に示した例では、半径方向において、区分領域ＤＡ０（ｎ―１）、ＤＡ０ｎ、及びＤＡ０（ｎ＋１）は、記載の順番で内方向に間隔を置いて連続して並んでいる。図１０に示した例では、半径方向において、区分領域ＤＡ１（ｎ―１）、ＤＡ１ｎ、及びＤＡ１（ｎ＋１）は、記載の順番で内方向に間隔を置いて連続して並んでいる。図１０に示した例では、半径方向において、区分領域ＤＡ２（ｎ―１）、ＤＡ２ｎ、及びＤＡ２（ｎ＋１）は、記載の順番で内方向に間隔を置いて連続して並んでいる。図１０に示した例では、半径方向において、区分領域ＤＡ３（ｎ―１）、ＤＡ３ｎ、及びＤＡ３（ｎ＋１）は、記載の順番で内方向に間隔を置いて連続して並んでいる。図１０に示した例では、半径方向において、区分領域ＤＡ４（ｎ―１）、ＤＡ４ｎ、及びＤＡ４（ｎ＋１）は、記載の順番で内方向に間隔を置いて連続して並んでいる。

図１０に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ０（ｎ―１）及びＤＡ０（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ０ｎのライト回数をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ０（ｎ―１）及びＤＡ０（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ０ｎのライト回数を１増加させる。

図１０に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ１（ｎ―１）及びＤＡ１（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ１ｎのライト回数をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ１（ｎ―１）及びＤＡ１（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ１ｎのライト回数を１増加させる。

図１０に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ２（ｎ―１）及びＤＡ２（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ２ｎのライト回数をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ２（ｎ―１）及びＤＡ２（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ２ｎのライト回数を１増加させる。

図１０に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ３（ｎ―１）及びＤＡ３（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ３ｎのライト回数をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ３（ｎ―１）及びＤＡ３（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ３ｎのライト回数を１増加させる。

図１０に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ４（ｎ―１）及びＤＡ４（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ４ｎのライト回数をカウントする。例えば、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ４（ｎ―１）及びＤＡ４（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ４ｎのライト回数を１増加させる。

図１１は、本実施形態に係るライト回数及び区分領域閾値のテーブルＴＢの一例を示す模式図である。図１１において、テーブルＴＢは、トラックＣＴＲｎを含む。トラックＣＴＲｎは、図１０に対応している。図１１には、テーブルＴＢは、区分領域ＤＡ０ｎ、ＤＡ１ｎ、ＤＡ２ｎ、ＤＡ３ｎ、及びＤＡ４ｎと、ライト回数ＷＣ０ｎ、ＷＣ１ｎ、ＷＣ２ｎ、ＷＣ３ｎ、及びＷＣ４ｎと、区分領域閾値ＲＨＴ０ｎ、ＲＨＴ１ｎ，ＲＨＴ２ｎ，ＲＨＴ３ｎ，及びＲＨＴ４ｎとを含む。テーブルＴＢは、所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、又はバッファメモリ９０等に記録され得る。区分領域ＤＡ０ｎ、ＤＡ１ｎ、ＤＡ２ｎ、ＤＡ３ｎ、及びＤＡ４ｎは、トラックＣＴＲｎに対応している。ライト回数ＷＣ０ｎは、区分領域ＤＡ０ｎに対応している。ライト回数ＷＣ１ｎは、区分領域ＤＡ１ｎに対応している。ライト回数ＷＣ２ｎは、区分領域ＤＡ２ｎに対応している。ライト回数ＷＣ３ｎは、区分領域ＤＡ３ｎに対応している。ライト回数ＷＣ４ｎは、区分領域ＤＡ４ｎに対応している。区分領域閾値ＲＨＴ０ｎは、区分領域ＤＡ０ｎに対応している。区分領域閾値ＲＨＴ１ｎは、区分領域ＤＡ１ｎに対応している。区分領域閾値ＲＨＴ２ｎは、区分領域ＤＡ２ｎに対応している。区分領域閾値ＲＨＴ３ｎは、区分領域ＤＡ３ｎに対応している。区分領域閾値ＲＨＴ４ｎは、区分領域ＤＡ４ｎに対応している。

図１１に示した例では、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ０（ｎ―１）及びＤＡ０（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ０ｎに対応するライト回数ＷＣ０ｎを１増加させる。リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ０ｎに対応するライト回数ＷＣ０ｎが区分領域ＤＡ０ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ０ｎよりも大きいと判定した場合、区分領域ＤＡ０ｎにリフレッシュ処理を実行する。なお、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ０ｎに対応するライト回数ＷＣ０ｎが区分領域ＤＡ０ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ０ｎよりも大きいと判定した場合、トラックＣＴＲｎにリフレッシュ処理を実行する。

リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ１（ｎ―１）及びＤＡ１（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ１ｎに対応するライト回数ＷＣ１ｎを１増加させる。リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ１ｎに対応するライト回数ＷＣ１ｎが区分領域ＤＡ１ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ１ｎよりも大きいと判定した場合、区分領域ＤＡ１ｎにリフレッシュ処理を実行する。なお、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ１ｎに対応するライト回数ＷＣ１ｎが区分領域ＤＡ１ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ１ｎよりも大きいと判定した場合、トラックＣＴＲｎにリフレッシュ処理を実行する。

リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ２（ｎ―１）及びＤＡ２（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ２ｎに対応するライト回数ＷＣ２ｎを１増加させる。リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ２ｎに対応するライト回数ＷＣ２ｎが区分領域ＤＡ２ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ２ｎよりも大きいと判定した場合、区分領域ＤＡ２ｎにリフレッシュ処理を実行する。なお、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ２ｎに対応するライト回数ＷＣ２ｎが区分領域ＤＡ２ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ２ｎよりも大きいと判定した場合、トラックＣＴＲｎにリフレッシュ処理を実行する。

リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ３（ｎ―１）及びＤＡ３（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ３ｎに対応するライト回数ＷＣ３ｎを１増加させる。リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ３ｎに対応するライト回数ＷＣ３ｎが区分領域ＤＡ３ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ３ｎよりも大きいと判定した場合、区分領域ＤＡ３ｎにリフレッシュ処理を実行する。なお、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ３ｎに対応するライト回数ＷＣ３ｎが区分領域ＤＡ３ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ３ｎよりも大きいと判定した場合、トラックＣＴＲｎにリフレッシュ処理を実行する。

リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ４（ｎ―１）及びＤＡ４（ｎ＋１）にライトした場合、区分領域ＤＡ４ｎに対応するライト回数ＷＣ４ｎを１増加させる。リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ４ｎに対応するライト回数ＷＣ４ｎが区分領域ＤＡ４ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ４ｎよりも大きいと判定した場合、区分領域ＤＡ４ｎにリフレッシュ処理を実行する。なお、リフレッシュ制御部６３０は、区分領域ＤＡ４ｎに対応するライト回数ＷＣ４ｎが区分領域ＤＡ４ｎに対応する区分領域閾値ＲＨＴ４ｎよりも大きいと判定した場合、トラックＣＴＲｎにリフレッシュ処理を実行する。

図１２は、本実施形態に係るリフレッシュ閾値の設定方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、所定のトラックにおいて、ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し（Ｂ１２０１）、このトラックにおける実測評価指標の変動を測定する（Ｂ１２０２）。ＭＰＵ６０は、測定した所定のトラックの実測評価指標の変動に基づいて、このトラックにおける実測評価指標の変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおけるライト処理パラメータ補正量の変動を算出する（Ｂ１２０３）。ＭＰＵ６０は、基準ライト処理パラメータ及びライト処理パラメータ補正量の変動に基づいて、所定のトラックの補正ライト処理パラメータの変動を算出する（Ｂ１２０４）。ＭＰＵ６０は、所定のトラックの補正ライト処理パラメータの変動に基づいて、所定のトラックのＡＴＩ等の影響を受けやすい領域のリフレッシュ閾値を小さくし、このトラックのＡＴＩ等の影響を受けにくい領域のリフレッシュ閾値を大きくするように、このトラックにおける閾値補正値の変動を算出する（Ｂ１２０５）。言い換えると、ＭＰＵ６０は、所定のトラックの補正ライト処理パラメータの変動に基づいて、所定のトラックのＡＴＩ等の影響を受けやすい領域のリフレッシュ閾値を小さくし、このトラックのＡＴＩ等の影響を受けにくい領域のリフレッシュ閾値を大きくするように、このトラックの各区分領域の各閾値補正値を算出する。ＭＰＵ６０は、所定のトラックにおける閾値補正値の変動に基づいて、このトラックにおける区分領域閾値の変動を設定し（Ｂ１２０６）、処理を終了する。言い換えるとＭＰＵ６０は、各区分領域の各閾値補正値に基づいて、各区分領域の各区分領域閾値を設定する。

図１３は、本実施形態に係るリフレッシュ処理方法の一例を示す模式図である。
ＭＰＵ６０は、対象トラックの対象区分領域の半径方向に隣接する隣接区分領域にデータをライトし（Ｂ１３０１）、対象区分領域のライト回数をカウントする（Ｂ１３０２）。ＭＰＵ６０は、対象区分領域のライト回数が区分領域閾値よりも大きいか区分領域閾値以下であるかを判定する（Ｂ１３０３）。対象区分領域のライト回数が区分領域閾値以下であると判定した場合（Ｂ１３０３のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。対象区分領域のライト回数が区分領域閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ１３０３のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象区分領域にリフレッシュ処理を実行し（Ｂ１３０４）、処理を終了する。なお、対象区分領域のライト回数が区分領域閾値よりも大きいと判定した場合、ＭＰＵ６０は、対象トラックにリフレッシュ処理を実行してもよい。

本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、所定のトラックにおいて、ライト処理パラメータを基準ライト処理パラメータに設定し、このトラックにおける実測評価指標の変動を測定する。磁気ディスク装置１は、測定した所定のトラックの実測評価指標の変動に基づいて、このトラックにおける実測評価指標の変動を均一に調整する、又は抑制するためのこのトラックにおけるライト処理パラメータ補正量の変動を算出する。磁気ディスク装置１は、基準ライト処理パラメータ及びライト処理パラメータ補正量の変動に基づいて、所定のトラックの補正ライト処理パラメータの変動を算出する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの補正ライト処理パラメータの変動に基づいて、所定のトラックのＡＴＩ等の影響を受けやすい領域のリフレッシュ閾値を小さくし、このトラックのＡＴＩ等の影響を受けにくい領域のリフレッシュ閾値を大きくするように、このトラックにおける閾値補正値の変動を算出する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックにおける閾値補正値の変動に基づいて、このトラックにおける区分領域閾値の変動を設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、パフォーマンス及びデータの信頼性を向上することができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…不揮発性メモリ、９０…バッファメモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。

Claims (15)

1. 第１トラックを有するディスクと、
   ヒータを有し、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
   前記第１トラックの１周内でライト／リード処理特性に対応する評価指標の変動を抑制するように、前記第１トラックの１周内における前記ディスクへのライト処理に関連するパラメータの変動を設定する、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
2. 前記コントローラは、前記パラメータの変動に応じて、前記第１トラックの１周内における書き直す処理を実行するリフレッシュ閾値の変動を設定する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記リフレッシュ閾値の変動は、前記第１トラックを区分した複数の区分領域にそれぞれ対応する複数のリフレッシュ閾値を含む、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記コントローラは、前記パラメータの変動の形状と形状が逆転する前記リフレッシュ閾値の変動を設定する、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記コントローラは、前記第１トラックにおける前記ディスクの半径方向に隣接する隣接トラックにデータをライトした際に前記ヘッドの漏れ磁束の影響を受けやすい前記複数の区分領域の内の第１区分領域で小さくなり、且つ前記隣接トラックにデータをライトした際に前記ヘッドの漏れ磁束の影響を受けにくい前記複数の区分領域の内の第２区分領域で大きくなるように、前記リフレッシュ閾値の変動を設定する、請求項４に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記評価指標の変動は、ビットエラーレートの変動である、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記パラメータの変動は、記録密度の変動である、請求項６に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記パラメータの変動は、記録電流の変動である、請求項６に記載の磁気ディスク装置。
9. 前記パラメータの変動は、前記ヒータの設定値の変動である、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
10. 前記パラメータの変動は、データの転送速度の変動である、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
11. 前記パラメータの変動は、記録周波数の変動である、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
12. 前記コントローラは、前記複数の区分領域の内の第１区分領域の前記ディスクの半径方向に隣接する隣接区分領域にデータをライトした第1ライト回数が前記第１区分領域に対応するリフレッシュ閾値の変動の内の第１リフレッシュ閾値よりも大きいと判定した場合、前記第１区分領域のデータを書き直す、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
13. 前記コントローラは、前記複数の区分領域の内の第１区分領域の前記ディスクの半径方向に隣接する隣接区分領域にデータをライトした第1ライト回数が前記第１区分領域に対応するリフレッシュ閾値の変動の内の第１リフレッシュ閾値よりも大きいと判定した場合、前記第１トラックのデータを書き直す、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
14. 第１トラックを有するディスクと、ヒータを有し、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるリフレッシュ閾値の設定方法であって、
    前記第１トラックの１周内でライト／リード処理特性に対応する評価指標の変動を抑制するように、前記第１トラックの１周内における前記ディスクへのライト処理に関連するパラメータの変動を設定し、
    前記パラメータの変動に応じて、前記第１トラックにおける書き直す処理を実行するリフレッシュ閾値の変動を設定する、リフレッシュ閾値の設定方法。
15. 第１トラックを有するディスクと、
    ヒータを有し、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
    前記第１トラックを複数の区分領域に区分し、前記第１トラックにおいて前記複数の区分領域にそれぞれ書き直す処理を実行する複数のリフレッシュ閾値を設定し、前記複数の区分領域の内の第１区分領域の前記ディスクの半径方向に隣接する隣接区分領域にデータをライトした第１ライト回数が前記第１区分領域に対応する前記複数のリフレッシュ閾値の内の第１リフレッシュ閾値よりも大きいと判定した場合、前記第１トラックにおいてデータを書き直す処理を実行する、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。

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