JP2022532803A - Adjustment member for measuring device - Google Patents
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Abstract
本開示の有利な測定デバイスおよびシステムならびにその調整方法/技法が、本明細書に開示される。本開示は、測定デバイスに関連する一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整するための改善された測定デバイス(たとえば、圧力/温度測定デバイス)および改善されたシステム/方法を提供する。より詳細には、本開示は、使用者が封止型測定デバイスのオフセットおよび/またはスパンを調整することを可能にする調整部材(たとえば、磁石部材)を有する封止型測定デバイス(たとえば、封止型圧力トランスデューサまたはトランスミッタなどの封止型信号調節デバイス)を提供する。測定デバイスは、使用者が測定デバイスの一つ以上の機能に調整を加えることを可能にする調整部材を含む。たとえば、封止型圧力トランスデューサは、使用者が測定デバイスの筐体またはハウジングを破らずに、出力オフセットおよび/またはスパンの精細(精密)調整を(たとえば、現場で)行うことを可能にする磁石部材を含むことができる。【選択図】図1Advantageous measurement devices and systems of the present disclosure and adjustment methods/techniques thereof are disclosed herein. The present disclosure provides improved measurement devices (eg, pressure/temperature measurement devices) and improved systems/methods for adjusting one or more functions (eg, offset and/or span) associated with the measurement device. offer. More particularly, the present disclosure provides a sealed measurement device (e.g., a sealed Encapsulated Signal Conditioning Devices, such as Encapsulated Pressure Transducers or Transmitters). The measuring device includes an adjustment member that allows a user to make adjustments to one or more functions of the measuring device. For example, sealed pressure transducers are magnets that allow the user to make fine adjustments (e.g., in the field) of output offset and/or span without breaking the enclosure or housing of the measurement device. can include members. [Selection drawing] Fig. 1
Description
関連出願の相互参照
本出願は、全体として参照により本明細書に組み込まれている、2019年5月24日出願の米国特許非仮出願第16/422,165号の利益を主張する。
Cross-reference to related applications This application claims the benefit of US Patent Non-Provisional Application No. 16 / 422,165 filed May 24, 2019, which is incorporated herein by reference in its entirety.
本開示は、測定デバイス(たとえば、圧力または温度測定デバイス)および、測定デバイスに関連する一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整するための方法に関し、より詳細には、使用者が封止型測定デバイスの一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整することを可能にする調整部材(たとえば、磁石部材)を有する封止型測定デバイス(たとえば、封止型圧力トランスデューサまたはトランスミッタなどの封止型信号調節デバイス)に関する。 The present disclosure relates, in more detail, to a measuring device (eg, a pressure or temperature measuring device) and a method for adjusting one or more functions (eg, offset and / or span) associated with the measuring device. A sealed measuring device (eg, a sealed) having an adjusting member (eg, a magnet member) that allows a person to adjust one or more functions (eg, offset and / or span) of the sealed measuring device. Enclosed signal conditioning devices such as type pressure transducers or transmitters).
圧力または温度を測定するために使用される機器および信号調節デバイスなどの測定デバイスには、産業界で数えきれない用途がある。たとえば、プロセス媒体の圧力を測定するように構成された圧力測定デバイス(たとえば、トランスデューサ、トランスミッタ、デジタルゲージなど)がよく知られている。 Measuring devices such as equipment and signal conditioning devices used to measure pressure or temperature have countless applications in the industry. For example, pressure measuring devices configured to measure the pressure of a process medium (eg, transducers, transmitters, digital gauges, etc.) are well known.
測定デバイスは、商業および産業の適用例に対する無数の異なる環境で有用である。典型的には、圧力測定デバイスは、圧力を測定し、値の表示を提供する。 Measuring devices are useful in a myriad of different environments for commercial and industrial applications. Typically, the pressure measuring device measures the pressure and provides a display of the value.
通常、いくつかの測定デバイスに関連するオフセットおよび/またはスパンを調整しようとすることは、非常に難しい可能性がある。たとえば、危険な場所に位置する特定の測定デバイスは、オフセットおよび/またはスパンを調整しようとする前に、危険な環境から取り出されるべきである。いくつかの測定デバイスでは、使用者は、オフセットおよび/またはスパンを調整しようとするとき、スリーブを開き、ねじ回しを利用してポテンショメータのねじを回す必要がある。 Attempting to adjust offsets and / or spans, which are usually associated with some measuring devices, can be very difficult. For example, a particular measuring device located in a hazardous location should be removed from the hazardous environment before attempting to adjust the offset and / or span. On some measuring devices, the user needs to open the sleeve and use a screwdriver to turn the potentiometer screw when trying to adjust the offset and / or span.
他の測定デバイスでは、使用者は、オフセットおよび/またはスパンを調整しようとするとき、ボタンなどにアクセスするために、ネームプレートねじおよびネームプレートを取り外す必要があり、これにはリスク(たとえば、封止型トランスミッタの内部の露出、および/または危険な場所(hazloc)のエネルギーへの露出)が伴う。また、封止型ポートは、設計および製造するのが高価であり、安全要件を満たすには、再封止に関して現場の要員に依拠することは危険を伴う可能性がある。 With other measuring devices, the user must remove the nameplate screw and nameplate to access buttons, etc. when attempting to adjust the offset and / or span, which is a risk (eg, sealing). It is accompanied by internal exposure of the stationary transmitter and / or exposure to energy in a dangerous place (hazloc). Also, sealed ports are expensive to design and manufacture, and relying on field personnel for resealing can be dangerous to meet safety requirements.
したがって、測定デバイスに関連する一つ以上の機能を調整する改善されたシステム/方法および関連する使用方法に対する関心が存在する。 Therefore, there is interest in improved systems / methods and related uses that coordinate one or more functions associated with the measurement device.
上記その他の非効率性および改善の機会は、本開示のシステム、方法、およびアセンブリによって対処および/または克服される。 The other inefficiencies and opportunities for improvement described above are addressed and / or overcome by the systems, methods, and assemblies of the present disclosure.
本開示は、有利な測定デバイス(たとえば、圧力または温度測定デバイス)、ならびに測定デバイスに関連する一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整するための改善されたシステムおよび方法を提供する。より詳細には、本開示は、使用者が封止型測定デバイスの一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整すること(たとえば、測定デバイスの封止を破らずに)を可能にする調整部材(たとえば、磁石部材)を有する改善された封止型測定デバイス(たとえば、封止型圧力トランスデューサまたはトランスミッタなどの封止型信号調節デバイス)を提供する。 The present disclosure provides advantageous measuring devices (eg, pressure or temperature measuring devices), as well as improved systems and methods for adjusting one or more functions (eg, offset and / or span) associated with the measuring device. offer. More specifically, the present disclosure allows the user to adjust one or more functions (eg, offset and / or span) of a sealed measuring device (eg, without breaking the sealing of the measuring device). Provided is an improved sealed measuring device (eg, a sealed signal conditioning device such as a sealed pressure transducer or transmitter) with a validating member (eg, a magnetic member).
測定デバイスは、使用者が測定デバイスの一つ以上の機能に調整を加えることを可能にする調整部材を含む。たとえば、封止型圧力トランスデューサは、使用者が測定デバイスの筐体またはハウジングを破らずに、出力オフセットおよび/またはスパンの精細(精密)調整(たとえば、現場で)を行うことを可能にする磁石部材を含むことができる。 The measuring device includes an adjusting member that allows the user to make adjustments to one or more functions of the measuring device. For example, sealed pressure transducers are magnets that allow the user to make fine (precision) adjustments (eg, in the field) of output offsets and / or spans without breaking the housing or housing of the measuring device. Members can be included.
本開示は、測定システムを調整する方法を提供し、この方法は、プロセスを運転することと、プロセスに関連するパラメータを測定するためにプロセスに対して測定デバイスを取り付けることと、測定デバイスに電力を印加することと、測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間内に測定デバイスの標的領域またはその近位に調整部材を位置決めして標的領域またはその近位への調整部材の後の位置決めを介した測定デバイスの一つ以上の機能の事後の調整を可能にする調整モードに測定デバイスを入れることと、測定デバイスが測定デバイスの一つ以上の機能を調整するための調整モードにある状態で標的領域またはその近位に調整部材を事後的に位置決めすることと、を含む。 The present disclosure provides a method of adjusting a measurement system, which is to operate the process, attach a measurement device to the process to measure parameters related to the process, and power the measurement device. And positioning the adjustment member in the target area of the measurement device or proximal to it within a predetermined period of time after applying power to the measurement device and positioning after the adjustment member in the target area or proximal to it. Putting the measurement device in an adjustment mode that allows post-adjustment of one or more functions of the measurement device through, and the state that the measurement device is in the adjustment mode to adjust one or more functions of the measurement device. Includes post-positioning of the adjusting member in or proximal to the target area.
本開示はまた、プロセスが圧力下で運転され、測定デバイスが封止型圧力測定デバイスである、測定システムを調整する方法を提供する。 The disclosure also provides a method of tuning a measuring system in which the process is operated under pressure and the measuring device is a sealed pressure measuring device.
本開示はまた、測定デバイスが圧力測定デバイスまたは温度測定デバイスである、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a method of adjusting a measuring system, wherein the measuring device is a pressure measuring device or a temperature measuring device.
本開示はまた、測定デバイスが圧力トランスデューサまたは圧力トランスミッタである、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a method of tuning a measuring system, where the measuring device is a pressure transducer or pressure transmitter.
本開示はまた、測定デバイスが封止型信号調節デバイスである、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、調整部材が磁石部材である、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、測定デバイスが感知要素を含み、感知要素が磁気感受性のある論理入力デバイスである、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system, wherein the measurement device is a sealed signal conditioning device. The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system in which the adjusting member is a magnetic member. The present disclosure also provides a method of tuning a measurement system in which the measuring device comprises a sensing element, the sensing element being a magnetically sensitive logical input device.
本開示はまた、測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間が約30秒以下である、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、測定デバイスの一つ以上の機能の調整が測定デバイスのデジタルまたはアナログ出力を調整することを含む、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、測定デバイスの一つ以上の機能の調整が測定デバイスのオフセットまたはスパンを調整することを含む、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、測定デバイスの一つ以上の機能の調整が測定デバイスの筐体またはハウジングを破らずに行われる、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system in which a predetermined period of time after applying power to a measurement device is about 30 seconds or less. The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system, comprising adjusting one or more functions of the measurement device to adjust the digital or analog output of the measurement device. The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system, comprising adjusting one or more functions of the measurement device to adjust the offset or span of the measurement device. The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system in which the adjustment of one or more functions of the measurement device is performed without breaking the housing or housing of the measurement device.
本開示はまた、標的領域またはその近位に調整部材を位置決めして測定デバイスを調整モードに入れることが、測定デバイスを調整モードに入れるために標的領域またはその近位における調整部材の所定のシーケンスコードまたは配置リズムを必要とする、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、所定のシーケンスコードまたは配置リズムが測定デバイスを調整モードに入れるために標的領域またはその近位における調整部材の二度以上のノックまたは配置を含む、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also allows the measuring device to be placed in adjustment mode by positioning the adjustment member in or proximal to the target area, which is a predetermined sequence of adjustment members in the target area or proximal to the target area in order to put the measurement device into adjustment mode. Provides a way to tune a measurement system that requires chords or placement rhythms. The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system in which a given sequence code or placement rhythm involves two or more knocks or placements of the adjustment member in or proximal to the target area to put the measurement device into adjustment mode. do.
本開示はまた、測定デバイスが調整モードに入る前に第1の信号および第2の信号を送る、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、調整モードが、測定デバイスに印加されるプロセスのパラメータの数値または百分率値に応じて、測定デバイスの第1の機能を調整する動作または機能と、測定デバイスの第2の機能を調整する動作または機能との間で切り換わる、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a method of tuning a measurement system that sends a first signal and a second signal before the measuring device enters the tuning mode. The present disclosure also provides an operation or function in which the adjustment mode adjusts the first function of the measurement device according to the numerical value or percentage value of the process parameter applied to the measurement device, and the second function of the measurement device. Provides a method of adjusting a measurement system that switches between the action or function to be adjusted.
本開示はまた、プロセスが圧力下で運転され、第1の機能を調整することが測定デバイスのオフセットを調整することを含み、第2の機能を調整することが測定デバイスのスパンを調整することを含む、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、測定デバイスに印加される圧力のパーセントに応じて、調整モードが第1の機能の調整と第2の機能の調整との間で切り換わる、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also includes that the process is operated under pressure and adjusting the first function adjusts the offset of the measuring device, and adjusting the second function adjusts the span of the measuring device. Provides a method of adjusting the measurement system, including. The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system in which the adjustment mode switches between a first function adjustment and a second function adjustment depending on the percentage of pressure applied to the measuring device. ..
本開示はまた、測定デバイスがプロセスの第1のパラメータ範囲で動作させられるときに標的領域またはその近位に調整部材を事後的に位置決めすることによって測定デバイスの第1の機能を調整することができ、測定デバイスがプロセスの第2のパラメータ範囲で動作させられるときに標的領域またはその近位に調整部材を事後的に位置決めすることによって測定デバイスの第2の機能を調整することができる、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure may also tune the first function of the measuring device by ex post-positioning the adjusting member in or proximal to the target region when the measuring device is operated in the first parameter range of the process. The second function of the measuring device can be tuned by ex post-positioning the adjusting member in or proximal to the target area when the measuring device is operated in the second parameter range of the process. Provides a way to tune the system.
本開示はまた、プロセスが圧力下で運転され、第1の機能を調整することが測定デバイスのオフセットを調整することを含み、第2の機能を調整することが測定デバイスのスパンを調整することを含む、測定システムを調整する方法を提供する。本開示はまた、プロセスの第1のパラメータ範囲が測定デバイスに印加される圧力の約+10%から約-10%であり、プロセスの第2のパラメータ範囲が測定デバイスに印加される圧力の約40%以上である、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also includes that the process is operated under pressure and adjusting the first function adjusts the offset of the measuring device, and adjusting the second function adjusts the span of the measuring device. Provides a method of adjusting the measurement system, including. The present disclosure also discloses that the first parameter range of the process is from about + 10% to about -10% of the pressure applied to the measuring device and the second parameter range of the process is about the pressure applied to the measuring device. Provides a way to adjust the measurement system, which is more than 40%.
本開示はまた、測定デバイスが調整モードにある状態での標的領域またはその近位への調整部材の事後の位置決めのたびに測定デバイスの一つ以上の機能を増分的に調整する、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a measurement system that incrementally adjusts one or more functions of the measurement device with each subsequent subsequent positioning of the adjustment member in or proximal to the target area while the measurement device is in adjustment mode. Provides a way to adjust.
本開示はまた、一つ以上の機能の複数の正の増分調整が調整上限に到達した後の標的領域またはその近位への調整部材の次の事後の位置決めが次の増分調整を調整下限へ送り、次いで次の事後の調整が調整下限から正に増加する、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also discloses that the next subsequent positioning of the adjustment member to the target area or proximal to the target area after multiple positive incremental adjustments of one or more functions have reached the adjustment upper limit will bring the next incremental adjustment to the adjustment lower limit. Provides a method of adjusting the measurement system, where the feed and then the next subsequent adjustment increases positively from the adjustment lower limit.
本開示はまた、測定デバイスが調整モードになった後、標的領域またはその近位への調整部材の位置決めの非活動状態の時間枠の後、測定デバイスが非調整モードに入る、測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also tunes the measurement system, after the measuring device goes into tuned mode, after an inactive time frame for positioning the tuning member to the target area or proximal to it, the measuring device goes into tuned mode. Provide a way to do it.
本開示はまた、測定デバイスが、非調整モードに入った後、第1の信号および第2の信号を送る測定システムを調整する方法を提供する。 The present disclosure also provides a method of tuning a measuring system that sends a first signal and a second signal after the measuring device has entered non-tuning mode.
本開示はまた、測定システムを調整する方法を提供し、この方法は、プロセスを運転することと、プロセスに関連するパラメータを測定するためにプロセスに対して測定デバイスを取り付けることと、測定デバイスに電力を印加することと、測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間内に測定デバイスの標的領域またはその近位に調整部材を位置決めして標的領域またはその近位への調整部材の事後の位置決めを介した測定デバイスの一つ以上の機能の事後の調整を可能にする調整モードに測定デバイスを入れることと、測定デバイスが測定デバイスの一つ以上の機能を調整するための調整モードにある状態で標的領域またはその近位に調整部材を事後的に位置決めすることと、を含み、測定デバイスが封止型信号調節デバイスであり、測定デバイスが調整モードに入る前に少なくとも第1の信号を送り、測定デバイスがプロセスの第1のパラメータ範囲で動作させられるときに標的領域またはその近位に調整部材を事後的に位置決めすることによって測定デバイスの第1の機能を調整することができ、測定デバイスがプロセスの第2のパラメータ範囲で動作させられるときに標的領域またはその近位に調整部材を事後的に位置決めすることによって測定デバイスの第2の機能を調整することができ、測定デバイスが調整モードにある状態での標的領域またはその近位への調整部材の事後の位置決めのたびに測定デバイスの一つ以上の機能を増分的に調整し、測定デバイスが調整モードになった後で標的領域またはその近位への調整部材の位置決めの非活動状態の時間枠の後に測定デバイスが非調整モードに入る。 The present disclosure also provides a method of adjusting a measurement system, which is to operate the process, attach a measurement device to the process to measure parameters related to the process, and attach the measurement device to the measurement device. Subsequent application of power and post-conditioning of the conditioning member to the target area or proximal to the target area of the measuring device within a predetermined period of time after power is applied to the measuring device. Putting the measuring device in an adjustment mode that allows post-adjustment of one or more functions of the measuring device through positioning, and the measuring device is in the adjustment mode for adjusting one or more functions of the measuring device. Ex post-positioning of the regulator in the target area or proximal to it, including the measurement device being a sealed signal regulator and at least the first signal before the instrument enters tuning mode. The first function of the measuring device can be tuned and measured by post-positioning the adjusting member in or proximal to the target area when the feeding and measuring device is operated in the first parameter range of the process. The second function of the measuring device can be tuned by post-positioning the adjuster in or proximal to the target area when the device is operated in the second parameter range of the process, and the measuring device tunes. Incrementally adjust one or more functions of the measuring device with each subsequent positioning of the adjustment member in or proximal to the target area in mode, and the target area after the measuring device is in adjustment mode. Alternatively, the measuring device enters the non-adjustment mode after an inactive time frame for positioning the adjusting member proximal to it.
本開示はまた、圧力測定システムを調整する方法を提供し、この方法は、プロセスを圧力下で運転することと、プロセスに関連する圧力を測定するためにプロセスに対して圧力測定デバイスを取り付けることと、圧力測定デバイスに電力を印加することと、圧力測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間内に圧力測定デバイスの標的領域またはその近位に磁石部材を位置決めして標的領域またはその近位への磁石部材の事後の位置決めを介した圧力測定デバイスのオフセットまたはスパンの事後の調整を可能にする調整モードに圧力測定デバイスを入れることと、圧力測定デバイスが測定デバイスのオフセットまたはスパンを調整するための調整モードにある状態で標的領域またはその近位に磁石部材を事後的に位置決めすることと、を含み、標的領域またはその近位に磁石部材を位置決めして圧力測定デバイスを調整モードに入れることが、圧力測定デバイスを調整モードに入れるために標的領域またはその近位における磁石部材の所定のシーケンスコードまたは配置リズムを必要とし、圧力測定デバイスのオフセットまたはスパンの調整が圧力測定デバイスの筐体またはハウジングを破らずに行われる。 The present disclosure also provides a method of adjusting a pressure measuring system, in which the process is operated under pressure and a pressure measuring device is attached to the process to measure the pressure associated with the process. And, by applying power to the pressure measuring device and positioning the magnet member in or proximal to the target area of the pressure measuring device within a predetermined period after applying power to the pressure measuring device, the target area or its vicinity. Putting the pressure measuring device into an adjustment mode that allows post-adjustment of the pressure measuring device offset or span through the post-positioning of the magnet member to the position, and the pressure measuring device adjusts the offset or span of the measuring device. Post-positioning of the magnet member in or proximal to the target area while in adjustment mode for positioning the magnet member in or proximal to the target area to put the pressure measuring device in adjustment mode. Entering requires a given sequence code or placement rhythm of the magnet member in the target area or proximal to it to put the pressure measuring device into adjustment mode, and adjusting the offset or span of the pressure measuring device is the casing of the pressure measuring device. It is done without breaking the body or housing.
実施形態の任意の組合せまたは順列が考えられる。本開示の開示するシステム、方法、およびアセンブリの追加の有利な特徴、機能、および適用例は、以下の説明から、特に添付の図とともに読むと明らかである。本開示に挙げるすべての参照は、全体として参照により本明細書に組み込まれている。 Any combination or sequence of embodiments can be considered. Additional advantageous features, functions, and application examples of the systems, methods, and assemblies disclosed in this disclosure are apparent from the following description, especially with the accompanying figures. All references listed in this disclosure are incorporated herein by reference in their entirety.
実施形態の特徴および態様について、添付の図面を参照して以下に説明する。添付の図面では、要素は必ずしも原寸に比例して描写されていない。 The features and embodiments of the embodiments will be described below with reference to the accompanying drawings. In the attached drawings, the elements are not necessarily depicted in proportion to their actual size.
本開示の例示的な実施形態について、添付の図を参照してさらに説明する。後述および図示する様々なステップ、特徴、およびステップ/特徴の組合せを異なる形で配置および構成しても、本開示の範囲内に入る実施形態を得ることができることに留意されたい。開示するシステム、方法、およびアセンブリを作製および使用する当業者を支援するために、添付の図を参照する。 Exemplary embodiments of the present disclosure will be further described with reference to the accompanying figures. It should be noted that different arrangements and configurations of the various steps, features, and combinations of steps / features described and illustrated below can also result in embodiments that fall within the scope of the present disclosure. Refer to the attached figures to assist those skilled in the art of making and using the disclosed systems, methods, and assemblies.
本明細書に開示する例示的な実施形態は、本開示の有利な測定デバイス(たとえば、圧力または温度測定デバイス)およびシステムならびにその調整方法/技法を示す。しかし、開示する実施形態は、本開示の単なる例示であり、本開示は、様々な形態で実施することができることを理解されたい。したがって、例示的な測定デバイス/調整方法ならびに関連する組立ておよび使用プロセス/技法を参照して本明細書に開示する詳細は、限定であると解釈されるべきではなく、本開示の有利な測定デバイス/方法および/または代替の測定デバイス/方法をどのように作製および使用するかを当業者に教示するための単なる基礎であると解釈されるべきである。 Exemplary embodiments disclosed herein show advantageous measuring devices (eg, pressure or temperature measuring devices) and systems of the present disclosure and methods / techniques thereof. However, it should be understood that the embodiments disclosed are merely exemplary of the present disclosure and that the present disclosure can be implemented in various forms. Accordingly, the details disclosed herein with reference to exemplary measurement devices / adjustment methods and related assembly and use processes / techniques should not be construed as limiting and are advantageous measurement devices of the present disclosure. It should be construed as merely the basis for teaching one of ordinary skill in the art how to make and use / methods and / or alternative measuring devices / methods.
本開示は、測定デバイスに関連する一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整するための改善された測定デバイス(たとえば、圧力または温度測定デバイス)ならびに改善されたシステムおよび方法を提供する。より詳細には、本開示は、使用者が封止型測定デバイスの一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整することを可能にする調整部材(たとえば、磁石部材)を有する有利な封止型測定デバイス(たとえば、封止型圧力トランスデューサまたはトランスミッタなどの封止型信号調節デバイス)を提供する。 The present disclosure provides improved measuring devices (eg, pressure or temperature measuring devices) as well as improved systems and methods for adjusting one or more functions (eg, offset and / or span) associated with the measuring device. offer. More specifically, the present disclosure has adjusting members (eg, magnetic members) that allow the user to adjust one or more functions (eg, offset and / or span) of the sealed measuring device. An advantageous sealed measuring device (eg, a sealed signal conditioning device such as a sealed pressure transducer or transmitter) is provided.
現在の慣行では、いくつかの測定デバイスに関連するオフセットおよび/またはスパンを調整しようとすることは、非常に難しい可能性がある。一例として、いくつかの従来の測定デバイスは、危険な場所に位置しており、オフセットおよび/またはスパンを調整しようとする前に、危険な環境から取り出されるべきである。多くの場合、HazLoc(ATEX)および機能安全規格はどちらも、あらゆる現場での調整(または修正)には任意の変更のためのアクセスを可能にするツールを必要とすることを要求しており、したがってそのような行為は慎重に行われなければならない。特定の従来の測定デバイスでは、使用者は、オフセットおよび/またはスパンを調整しようとするとき、スリーブを開き、ねじ回しを利用してポテンショメータのねじを回す必要がある。いくつかの他の従来の測定デバイスでは、使用者は、オフセットおよび/またはスパンを調整しようとするとき、ボタンなどにアクセスするために、ネームプレートねじおよびネームプレートを取り外す必要がある。 With current practice, trying to adjust offsets and / or spans associated with some measuring devices can be very difficult. As an example, some conventional measuring devices are located in hazardous locations and should be removed from the hazardous environment before attempting to adjust the offset and / or span. In many cases, both HazLoc (ATEX) and functional safety standards require that any field adjustments (or modifications) require tools that allow access for any changes. Therefore, such actions must be carried out with caution. In certain conventional measuring devices, the user needs to open the sleeve and use a screwdriver to turn the potentiometer screw when attempting to adjust the offset and / or span. In some other conventional measuring devices, the user needs to remove the nameplate screw and nameplate to access buttons etc. when trying to adjust the offset and / or span.
例示的な実施形態では、本開示は、調整部材(たとえば、磁石部材)を利用して、測定デバイスのオフセットおよび/またはスパンを調整することによって、測定デバイス(たとえば、封止型圧力トランスデューサまたはトランスミッタなどの封止型信号調節デバイス)の一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)を調整する改善されたシステム/方法を提供し、それによって結果として著しい動作上、製造上、および商業上の利点を提供する。 In an exemplary embodiment, the present disclosure utilizes a regulating member (eg, a magnetic member) to adjust the offset and / or span of the measuring device to adjust the measuring device (eg, a sealed pressure transducer or transmitter). It provides an improved system / method for adjusting one or more functions (eg, offset and / or span) of a sealed signal conditioning device (such as a sealed signal conditioning device), thereby resulting in significant operational, manufacturing, and commercial use. Provides the above benefits.
図面を次に参照すると、本明細書および図面全体にわたって、同様の部分はそれぞれ同じ参照番号で示されている。図面は必ずしも原寸に比例しておらず、特定の図では、見やすくする目的で一部分が強調されていることがある。 With reference to the drawings below, similar parts are indicated by the same reference numbers throughout the specification and the drawings. Drawings are not always proportional to actual size, and certain drawings may be partially emphasized for clarity.
図1に示すように、本開示の一実施形態を描写する測定デバイス10が示されている。例示的な測定デバイス10は、圧力または温度測定デバイス10などの形態をとるが、本開示はこれに限定されない。
As shown in FIG. 1, a measuring
より詳細には、例示的な測定デバイス10は、封止型測定デバイス10(たとえば、封止型圧力トランスデューサ10またはトランスミッタ10などの封止型信号調節デバイス10)の形態をとる。測定デバイス10は、プロセスに関連するパラメータを測定するために、プロセスに対して取り付けられるように構成および寸法設定される(たとえば、プロセス媒体の圧力を測定するように構成された圧力トランスデューサ/トランスミッタ10など)。
More specifically, the
概して、測定デバイス10(たとえば、封止型圧力トランスデューサ10)は、使用者が測定デバイス10の一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)に調整を加えることを可能にする調整部材14(たとえば、磁石部材14)を含む。
In general, the measuring device 10 (eg, a sealed pressure transducer 10) is an adjusting
たとえば、封止型圧力トランスデューサ10は、使用者が測定デバイス10の筐体またはハウジング12を破らずに、出力オフセットおよび/またはスパンの精細(精密)調整(たとえば、現場で)を行うことを可能にする調整部材14(たとえば、磁石部材14)を含むことができる。
For example, the sealed
例示的な実施形態では、磁石部材14(たとえば、ねじ回しの端部に位置するものに類似した小さい磁石部材14)を利用し、測定デバイス10に電力を印加してから所定の期間内(たとえば、約30秒以内、約10秒以内など)に、ハウジング12の指定または標的領域内でハウジング12またはその近位に磁石部材14をタップ/接触または配置することによって、次いで測定デバイス10の出力(たとえば、アナログおよび/またはデジタル出力)が、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置を介して、測定デバイス10の感知要素16を介して(たとえば、測定デバイス10内の中心に位置するリードスイッチ16を介して)、(細かく)段階的に増加する。特定の実施形態では、測定デバイス10の出力は、その後、磁石部材14がハウジング12の指定/標的領域またはその近位で定位置に保持(たとえば、2秒または3秒超など)された場合、自動的に増加して速度が上昇する。
In an exemplary embodiment, a magnetic member 14 (eg, a small
他の実施形態では、調整部材14は、回転リング14(たとえば、ハウジング12の周囲)または磁気ホイール14などの形態をとることができ、そのような調整部材14を使用して、交番する磁気パルス(たとえば、ハウジング12またはその近位への調整部材14のタップ/ノック/配置を繰り返すこと)を容易にすることができることに留意されたい。
In other embodiments, the adjusting
例示的な実施形態では、感知要素16は、磁気感受性のある(デジタル)論理入力デバイス(たとえば、磁気スイッチ16)である(ただし、より複雑な磁気入力方法のために、ホール効果またはGMRセンサ16によって交換または強化することもできる)。
In an exemplary embodiment, the
特定の実施形態では、測定デバイス10の複数の感知要素16(たとえば、複数のリードスイッチ16)が、追加の入力機能または通信のために、追加の遠隔論理入力を提供することができることに留意されたい。
It is noted that in certain embodiments, the plurality of sensing elements 16 (eg, the plurality of reed switches 16) of the measuring
他の実施形態では、ホール効果センサ16またはGMR(巨大磁気抵抗)デバイス16が、比例(単なる論理ではない)入力を提供し、磁気通信入力が調整または構成のための発見的入力として働くことをさらに容易にするために、代わり(リードスイッチ16の代替)になることができる。
In another embodiment, the
他の実施形態では、感知要素16はまた、触覚スイッチ(たとえば、磁石部材14がなく、手動で操作される)、ハウジング12上/その付近の「タップ」などを検出するための衝撃センサ(たとえば、圧電またはマイクロフォン)、位置スイッチ、光スイッチ/センサ、またはウィーガント効果デバイス、GMR(巨大磁気抵抗)、もしくはホール効果センサ16などの他の磁気センサの形態をとることができることに留意されたい。
In other embodiments, the
以下でさらに論じるように、磁石部材14を介した測定デバイス10のオフセットおよび/またはスパンの事後の調整を可能にするために、ハウジング12またはその近位における調整部材14(たとえば、磁石部材14)の固定もしくは所定のシーケンスコードまたはノック/タップ/配置のリズム/シーケンス(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の二度のノック/タップ/配置、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の三度のノック/タップ/配置、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の複数の特定のノック/タップ/配置など)を必要とすることによって、測定デバイス10のためのセキュリティを提供することができる。測定デバイス10の一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)の事後の調整を可能にするためのハウジング12またはその近位への磁石部材14の固定もしくは所定のシーケンスコードまたはノック/タップ/配置のリズムに対するそのような要件は、測定デバイス10の不注意または無許可の較正または調整を防止することができる。
As further discussed below, the adjustment member 14 (eg, magnet member 14) in the
一例では、測定デバイス10(たとえば、圧力トランスデューサ/トランスミッタ10)は、プロセスに関連するパラメータ(たとえば、圧力)を測定するために、プロセスに対して取り付けることができる。 In one example, a measuring device 10 (eg, pressure transducer / transmitter 10) can be attached to a process to measure process-related parameters (eg, pressure).
次いで、測定デバイス10に電力を印加することができる。
Power can then be applied to the measuring
測定デバイス10に電力を印加した後の所定の期間内(たとえば、約30秒以内、約10秒以内など)に、ハウジング12の所定または標的領域(たとえば、ハウジングのラベルなどの上に表示される)内で、ハウジング12またはその近位に、磁石部材14をタップまたは接触/配置/位置決めして(たとえば、正しいノックオンまたはタッピングセキュリティコード/リズム/シーケンスを使用する)、測定デバイス10またはその近位(たとえば、ハウジング12の標的領域またはその近位)への磁石部材14の事後の接触または配置を介した測定デバイス10の一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)の事後の調整を可能にする調整モードに、測定デバイスを入れることができる。
Within a predetermined period of time after applying power to the measuring device 10 (eg, within about 30 seconds, within about 10 seconds, etc.), it will appear on the predetermined or target area of the
上述したように、測定デバイス10に対する磁石部材14のさらなる接触または配置を介した測定デバイス10の一つ以上の機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパン)の事後の調整を可能にする調整モードに、測定デバイスを入れるために、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の固定もしくは所定のシーケンスコードまたはノック/タップ/配置のリズム/シーケンスを必要とすることによって、測定デバイス10のためのセキュリティを提供することができる。
As mentioned above, in an adjustment mode that allows post-adjustment of one or more functions (eg, offset and / or span) of the
次いで測定デバイス10は、第1の信号(たとえば、高い電流)を送り、次いで第2の信号(たとえば、低い電流)を送ることによって応答し(測定デバイス10に電力を供給した後の所定の期間内に、ハウジング12またはその近位での正しいノックオンまたはタッピングセキュリティコード/リズム/配置が、指定領域に印加された後)、その後、調整モードに入る。たとえば、測定デバイス10のアナログ出力は、短時間だけ高くなり、次いで数秒以内だけ低くなることによって、調整モード入りの成功を告知することができる。測定デバイス10は、調整モードに入ったことを示すために、一つの信号だけを送ることができ、または複数の信号を送ることができることに留意されたい。
The measuring
調整モードにある状態で、使用者は次いで、磁石部材14を利用して、指定の領域でハウジング12またはその近位に磁石部材14をタップまたはノック/配置し、測定デバイス10の出力への調整を加える(たとえば、アナログ出力のオフセットまたはスパンを増加させる)ことができる。
In the adjustment mode, the user then utilizes the
例示的な実施形態では、測定デバイスの調整モードは、測定デバイス10に印加されるプロセスのパラメータの数値または百分率値に応じて(たとえば、測定デバイス10に印加される実際の圧力に応じて)、測定デバイス10の第1の機能を調整/変更する動作または機能(たとえば、測定デバイス10への「ゼロ」または「オフセット」調整)と、測定デバイス10の第2の機能を調整/変更する動作または機能(たとえば、測定デバイス10への「スパン」調整)との間で切り換わることができる。
In an exemplary embodiment, the adjustment mode of the measuring device depends on the numerical value or percentage value of the parameters of the process applied to the measuring device 10 (eg, depending on the actual pressure applied to the measuring device 10). An action or function that adjusts / changes the first function of the measuring device 10 (for example, a "zero" or "offset" adjustment to the measuring device 10) and an action or a function that adjusts / changes the second function of the measuring
言い換えれば、例示的な測定デバイス10の調整モードは、測定デバイス10に印加される実際の圧力(たとえば、圧力のパーセント)に応じて、(i)測定デバイス10への「ゼロ」または「オフセット」調整の動作と、(ii)測定デバイス10への「スパン」調整の動作との間で切り換わることができる。
In other words, the adjustment mode of the
たとえば、測定デバイス10が、プロセスの第1のパラメータ範囲内(たとえば、測定デバイス10に印加される圧力の約+10%から約-10%、測定デバイス10に印加される圧力の約+20%から約-20%、測定デバイス10に印加される圧力の約+30%から約-10%など)で動作させられる場合、指定領域内でのハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後の別個のタップまたはノック/配置のたびに、測定デバイス10の出力オフセットゼロに影響を与える。
For example, the measuring
言い換えれば、測定デバイス10に印加される実際の圧力が、第1のパラメータ範囲内(たとえば、±10%)である場合、ハウジング12またはその近位への磁石部材14のタップ/ノック/配置のたびに、測定デバイスの出力オフセットゼロに影響を与える(たとえば、デバイス10のアナログ出力のオフセットを増加させる)。
In other words, if the actual pressure applied to the measuring
同様に、測定デバイス10が、プロセスの第2のパラメータ範囲内(たとえば、測定デバイス10に印加される圧力の約40%以上、測定デバイス10に印加される圧力の約50%以上など)で動作させられる場合、指定領域内でのハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後の別個のタップまたはノック/配置のたびに、測定デバイス10の出力スパン利得に影響を与える(たとえば、デバイス10のアナログ出力のスパンを増加させる)。
Similarly, the measuring
言い換えれば、測定デバイス10に印加される実際の圧力が、第2のパラメータ範囲内(たとえば、測定デバイス10に印加される圧力の約40%以上)である場合、ハウジング12またはその近位への磁石部材14のタップ/ノック/配置のたびに、測定デバイスの出力スパン利得に影響を与える。
In other words, if the actual pressure applied to the measuring
例示的な実施形態では、測定デバイス10の出力(オフセットおよび/またはスパン)への調整は、正の方向に増分的に増大し(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)、各調整が調整上限に達した後、出力への調整は反転して調整下限(たとえば、オフセットまたはスパンの調整下限)へ進み、次いで調整下限から正に増加する(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)。
In an exemplary embodiment, the adjustment to the output (offset and / or span) of the measuring
たとえば、調整上限は、+10%の出力変化とすることができ、調整下限は、-10%の出力変化とすることができるが、本開示はこれに限定されない。逆に、他の所望の調整上限および/または調整下限(たとえば、±5%の出力変化、±15%の出力変化など)を利用することもできることに留意されたい。 For example, the adjustment upper limit can be a + 10% output change and the adjustment lower limit can be a -10% output change, but the present disclosure is not limited to this. Note that conversely, other desired adjustment upper and / or adjustment lower limits (eg, ± 5% output change, ± 15% output change, etc.) can be utilized.
出力(たとえば、オフセットまたはスパン)への増分調整(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)は、任意の好適な増分数(たとえば、0.01%の出力変化、0.10%の出力変化、1%の出力変化、2%の出力変化、3%の出力変化など)とすることができる。
Incremental adjustment to output (eg offset or span) (eg for each subsequent tap / knock / placement of
この場合も、特定の実施形態では、測定デバイス10の出力は、その後、磁石部材14がハウジング12の指定/標的領域またはその近位で定位置に保持(たとえば、2秒または3秒超など)された場合、速度が自動的に増加および上昇することに留意されたい(たとえば、出力への増分調整が加速する)。
Again, in certain embodiments, the output of the measuring
言い換えれば、一実施形態では、トランスデューサ10上の標的領域内またはその近位へ磁石14をタップ/配置することで、オフセット(またはスパン)を最初はゆっくりと引き続き増大させ、次いで速度を増大させ、出力変化が+10%になった時点で、磁石14のさらなる入力タップ/配置は、調整を逆転させて-10%へ進み、次いで引き続き増分的に増大する。
In other words, in one embodiment, by tapping / placing the
測定デバイス10に対して反対の調整方向を構成することもでき、測定デバイス10の出力(オフセットおよび/またはスパン)への調整が、負の方向に増分的に減少し(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)、各調整が調整下限に達した後、出力への調整は反転して調整上限(たとえば、オフセットまたはスパンの調整上限)へ進み、次いで調整上限から負に増加する(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)ことに留意されたい。
It is also possible to configure the opposite adjustment direction for the measuring
図2~図8は、本開示の例示的な測定デバイス10のオフセットを調整することを描写するグラフを示す。
FIGS. 2-8 show graphs illustrating adjusting the offset of the
概して、調整部材14を利用して、測定デバイス10の読取り値をゼロ圧力で調整することができる(オフセット調整)。
In general, the adjusting
図2は、4mAから20mAの圧力トランスデューサ10になるように構成された測定デバイス10の出力を描写するグラフを示し、4mAは、0psi(重量ポンド毎平方インチ)の圧力読取り値になるように構成されており、20mAは、圧力トランスデューサ10の最大範囲になるように構成され、100psiの圧力読取り値に対応するように構成される。
Figure 2 shows a graph depicting the output of a measuring
図2に示すように、測定デバイス10は、20psiで動作させることができる。測定デバイス10のオフセット出力を調整するために、使用者は、まず、図3に示すように、測定デバイス10に対する印加圧力を、プロセスの第1のパラメータ範囲内(たとえば、測定デバイス10に印加される圧力の約+10%から約-10%)に減少させるはずである(圧力が0psiまで下げられる)。
As shown in FIG. 2, the measuring
トランスデューサ10への電力を切り、次いで再び入れることができる。
測定デバイス10に電力を印加した後の所定の期間内(たとえば、約30秒以内、約10秒以内など)に、ハウジング12の所定または標的領域内で、ハウジング12またはその近位に、磁石部材14をタップまたは接触/配置/位置決めして(たとえば、正しいノックオンまたはタッピングセキュリティコード/リズム/シーケンスを使用する)、測定デバイス10またはその近位(たとえば、ハウジング12の標的領域またはその近位)への磁石部材14の事後の接触または配置を介した測定デバイス10のオフセットの事後の調整(測定デバイス10がプロセスの第1のパラメータ範囲内で動作することによる)を可能にする調整モードに、測定デバイスを入れることができる。
Within a predetermined period of time after applying power to the measuring device 10 (eg, within about 30 seconds, within about 10 seconds, etc.), within a predetermined or target area of the
その後、図4および図5に示すように、測定デバイス10またはその近位に磁石部材14を事後的にタップまたは保持することで、出力オフセットを増加させる。
The output offset is then increased by ex post facto tapping or holding the
事後の各調整が調整上限に達した後、出力への調整は反転して調整下限(たとえば、図6に示すオフセットの調整下限)へ進み、次いで図7および図8に示すように、調整下限から正に増加する(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)。
After each subsequent adjustment reaches the adjustment upper limit, the adjustment to the output is reversed and proceeds to the adjustment lower limit (eg, the offset adjustment lower limit shown in FIG. 6), and then the adjustment lower limit as shown in FIGS. 7 and 8. Increases positively from (for example, with each subsequent tap / knock / placement of the
図8は、測定デバイス10の出力オフセットが測定デバイス10の4mAで0psiへ再較正される(たとえば、±0.01%誤差範囲内)ことを描写している。
Figure 8 illustrates that the output offset of measuring
測定デバイス10の4mAで0psiになるように再較正した後、使用者は、調整部材をハウジング14から取り除き、所定の期間(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の最後の接触/配置から約30秒、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の最後の接触/配置から約10秒など)にわたって待機することができる。
After recalibrating the measuring
次いで測定デバイス10は、第1の信号(たとえば、高い電流)を送り、次いで第2の信号(たとえば、低い電流)を送ることによって応答し(所定の期間にわたって待機した後)、その後、調整モードを出る(たとえば、非調整モードに入る)。測定デバイス10は、調整モードを出たことを示すために、一つの信号だけを送ることができ、または複数の信号を送ることができることに留意されたい。
The measuring
言い換えれば、非活動状態(磁気14の入力に関する)の所定の期間(たとえば、約30秒)にわたって待機した後、出力(たとえば、アナログ出力)のオフセットまたはスパン(または両方)に加えられるあらゆる変化は、測定デバイス10の不揮発性メモリに恒久的に記憶され、出力は、短時間だけ高くなり、次いで数秒以内だけ低くなることによって、これを告知する。
In other words, any change made to the output (eg analog output) offset or span (or both) after waiting for a given period of inactivity (for the input of magnetic 14) (eg about 30 seconds) , Permanently stored in the non-volatile memory of the measuring
図9~図12は、本開示の例示的な測定デバイス10のスパンを調整することを描写するグラフを示す。
9-12 show graphs depicting adjusting the span of the
概して、調整部材14を利用して、出力スケールを変化させることによって、測定デバイス10の読取り値をより高い圧力で調整することができる(スパン調整)。
In general, the adjusting
図9は、4mAから20mAの圧力トランスデューサ10になるように構成された測定デバイス10の出力を描写するグラフを示し、4mAは、0psiの圧力読取り値になるように構成されており、20mAは、圧力トランスデューサ10の最大範囲になるように構成され、100psiの圧力読取り値に対応するように構成される。
Figure 9 shows a graph depicting the output of a measuring
図9に示すように、測定デバイス10は、20psiで動作させることができる。測定デバイス10のスパン出力を調整するために、使用者は、まず、図10に示すように、測定デバイス10に対する印加圧力をプロセスの第2のパラメータ範囲内(たとえば、測定デバイス10に印加される圧力の約40%以上など)に増大させるはずである(圧力が80psiまで上げられる)。
As shown in FIG. 9, the measuring
トランスデューサ10への電力を切り、次いで再び入れることができる。
測定デバイス10に電力を印加した後の所定の期間内(たとえば、約30秒以内、約10秒以内など)に、ハウジング12の所定または標的領域内で、ハウジング12またはその近位に、磁石部材14をタップまたは接触/配置/位置決めして(たとえば、正しいノックオンまたはタッピングセキュリティコード/リズム/シーケンスを使用する)、測定デバイス10またはその近位(たとえば、ハウジング12の標的領域またはその近位)への磁石部材14の事後の接触または配置を介した測定デバイス10のスパンの事後の調整(測定デバイス10がプロセスの第2のパラメータ範囲内で動作することによる)を可能にする調整モードに、測定デバイスを入れることができる。
Within a predetermined period of time after applying power to the measuring device 10 (eg, within about 30 seconds, within about 10 seconds, etc.), within a predetermined or target area of the
その後、図11および図12に示すように、測定デバイス10またはその近位に対して磁石部材14を事後的にタップまたは保持することで、出力スパンを増加させる。
The output span is then increased by ex post facto tapping or holding the
事後の各調整が調整上限に達した後、出力への調整は反転して調整下限(たとえば、スパンの調整下限)へ進み、次いで調整下限から正に増加する(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の事後のタップ/ノック/配置のたびに)ことに留意されたい。
After each subsequent adjustment reaches the adjustment upper limit, the adjustment to the output reverses to the adjustment lower limit (eg, the span adjustment lower limit) and then increases positively from the adjustment lower limit (eg,
図12は、測定デバイス10の出力スパンが測定デバイス10の20mAで100psiへ再較正されることを描写している(たとえば、20mAは、圧力トランスデューサ10の最大範囲になるように構成され、±0.01%の誤差範囲内で100psiの圧力読取り値に対応するように構成される)。
Figure 12 illustrates that the output span of measuring
測定デバイス10の20mAで100psiになるように再較正した後、使用者は、調整部材をハウジング14から取り除き、所定の期間(たとえば、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の最後の接触/配置から約30秒、ハウジング12またはその近位への磁石部材14の最後の接触/配置から約10秒など)にわたって待機することができる。
After recalibrating the measuring
次いで測定デバイス10は、第1の信号(たとえば、高い電流)を送り、次いで第2の信号(たとえば、低い電流)を送ることによって応答し(所定の期間にわたって待機した後)、その後、調整モードを出る。測定デバイス10は、調整モードを出たことを示すために、一つの信号だけを送ることができ、または複数の信号を送ることができることに留意されたい。
The measuring
調整部材14を介した例示的な測定デバイス10の調整機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパンの調整)により、使用者または設置者が、ハウジング/筐体12を破らずに、測定デバイス10などを調整または較正すること(たとえば、トリムポットなどへのアクセスを得るため)が可能になることが有利であり、これは、燃焼を防止または抑制するために本質安全または防爆機器が必要とされうる危険な場所で特に有益である。
The adjustment function of the
調整部材14を介した例示的な測定デバイス10の調整機能(たとえば、オフセットおよび/またはスパンの調整)はまた、水中トランスデューサ10、密閉封止型デバイス10、またはさらには全溶接構造デバイス10などの任意のしっかりと封止された測定デバイス10に対して、使用者によるまたは現場での較正を提供することが非常に有利であることに留意されたい。
The adjustment function of the
これらの調整方法/プロセスの様々な部分または区分のタイミングおよび範囲は、可変であることに留意されたい。たとえば、電力投入後の30秒の時間帯または時間枠は、10秒または任意の他の好適な持続時間に変更することができる。 Note that the timing and scope of the various parts or divisions of these adjustment methods / processes are variable. For example, the time zone or time frame of 30 seconds after power-on can be changed to 10 seconds or any other suitable duration.
オフセット調整とスパン調整とを区別するための圧力範囲(または類似のデバイス10に対する他の入力変数)は、特注の適用例に合わせて変更または定義することができる。 The pressure range (or other input variable for a similar device 10) to distinguish between offset and span adjustments can be modified or defined for custom applications.
ノックコード自体は、任意の好適なシーケンスまたはタイミング/デューティーサイクル(またはさらには、たとえばモールス符号を検出するタイミング)とすることができる。告知信号は、いくつかの他の信号またはシーケンスによって実施することができる。 The knock code itself can be any suitable sequence or timing / duty cycle (or even timing to detect, for example, Morse code). The notification signal can be implemented by some other signal or sequence.
磁石のタップ/配置は、電磁的とすることもできる(より速い実行もしくはより複雑な入力シーケンス/セキュリティコード化、または遠隔調整を可能にする)。出力信号は、アナログである必要はなく、デジタルとすることができる。 Magnet taps / placements can also be electromagnetic (allowing faster execution or more complex input sequences / security coding, or remote adjustment). The output signal does not have to be analog and can be digital.
最後に、外部入力のための磁気入力方法は、オフセットおよびスパン調整(およびセキュアアクセス)に限定されるものではない。たとえば、そのような磁気入力方法は、多種多様な目的で、デバイスのリセット、トリガの入力(たとえば、データロギングまたはタイマのため)として使用することができる。 Finally, magnetic input methods for external inputs are not limited to offset and span adjustment (and secure access). For example, such magnetic input methods can be used for device resets, trigger inputs (eg, for data logging or timers) for a wide variety of purposes.
調整部材14を有する例示的な測定デバイス10は、ゼロおよびスパンの両方を調整することが可能である。
An
調整部材14を有する例示的な測定デバイス10は、単にゼロをアサート/設定するのではなく、広い範囲全体にわたって精細調整を実行することが可能である。
An
調整部材14を有する例示的な測定デバイス10は、デバイス10を現場で較正するために危険な環境から取り出す必要なく、デバイス10が危険な環境で動作しているときに、現場での較正を実行することが可能である。
An
上述したように、ノックコード機能は、偶然または無許可の調整を防止し、機能安全のためのIEC-61508規格に準拠するように機能を実施することを可能にする。 As mentioned above, the knock code function prevents accidental or unauthorized adjustments and makes it possible to perform the function to comply with the IEC-61508 standard for functional safety.
告知機能(ノックコードが受け入れられたとき、および較正調整が完了したときにトリガされる)により、デバイス10に対して較正調整が確定/完了/開始されたことを、使用者が確実に知ることが可能になる。
The notification function (triggered when the knock code is accepted and when the calibration adjustment is completed) ensures that the user knows that the calibration adjustment has been confirmed / completed / started for the
調整部材14および関連する調整機能を有する例示的な測定デバイス10は、ゼロおよびスパンに対するトリムポットに関連する誤差を低減させる。
An
本開示のシステムおよび方法について、本開示の例示的な実施形態を参照して説明したが、本開示は、そのような例示的な実施形態および/または実装形態に限定されるものではない。逆に、本開示のシステムおよび方法は、本開示から当業者には容易に明らかになるように、多くの実装形態および適用例の余地がある。本開示は、開示する実施形態のそのような修正例、改善例、および/または変形例を明白に包含する。本開示の範囲から逸脱することなく、上記の構造には多くの変更を加えることができ、本開示の多くの広く異なる実施形態をなすことができるため、図面および本明細書に含まれるすべての内容は、限定的な意味ではなく例示として解釈されるものとすることが意図される。上記の開示では、追加の修正例、変形例、および置換えも意図される。したがって、添付の特許請求の範囲は、本開示の範囲に一貫して広く解釈されることが適当である。 Although the systems and methods of the present disclosure have been described with reference to exemplary embodiments of the present disclosure, the present disclosure is not limited to such exemplary embodiments and / or implementations. Conversely, the systems and methods of the present disclosure have room for many embodiments and applications, as will be readily apparent to those of skill in the art from the present disclosure. The present disclosure expressly includes such modifications, improvements, and / or variations of the disclosed embodiments. All of which are included in the drawings and the present specification, as many modifications can be made to the above structure without departing from the scope of the present disclosure and many widely different embodiments of the present disclosure can be made. The content is intended to be construed as an example rather than a limiting meaning. Additional modifications, modifications, and replacements are also intended in the above disclosure. Therefore, it is appropriate that the appended claims are consistently and broadly construed within the scope of the present disclosure.
Claims (26)
プロセスを運転することと、
該プロセスに関連するパラメータを測定するために、該プロセスに対して測定デバイスを取り付けることと、
該測定デバイスに電力を印加することと、
該測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間内に、該測定デバイスの標的領域またはその近位に調整部材を位置決めして、該標的領域またはその近位への該調整部材の事後の位置決めを介した該測定デバイスの一つ以上の機能の事後の調整を可能にする調整モードに、該測定デバイスを入れることと、
該測定デバイスが該測定デバイスの一つ以上の機能を調整するための前記調整モードにある状態で、前記標的領域またはその近位に前記調整部材を事後的に位置決めすることと、
を含む方法。 It ’s a way to adjust the measurement system.
Driving the process and
Attaching a measuring device to the process to measure the parameters associated with the process
Applying power to the measuring device
Within a predetermined period of time after applying power to the measuring device, the adjusting member is positioned in or proximal to the target area of the measuring device and the post-positioning of the adjusting member in or proximal to the target area. Putting the measuring device into an adjustment mode that allows post-adjustment of one or more functions of the measuring device via
Ex post-positioning of the adjustment member in or proximal to the target region while the measurement device is in said adjustment mode for adjusting one or more functions of the measurement device.
How to include.
前記測定デバイスは、封止型圧力測定デバイスである、
請求項1に記載の方法。 The process is operated under pressure and
The measuring device is a sealed pressure measuring device.
The method according to claim 1.
該感知要素は、磁気感受性のある論理入力デバイスである、
請求項1に記載の方法。 The measuring device includes a sensing element.
The sensing element is a magnetically sensitive logical input device.
The method according to claim 1.
前記第1の機能を調整することは、前記測定デバイスのオフセットを調整することを含み、
前記第2の機能を調整することは、前記測定デバイスのスパンを調整することを含む、
請求項15に記載の方法。 The process is operated under pressure and
Adjusting the first function involves adjusting the offset of the measuring device.
Adjusting the second function includes adjusting the span of the measuring device.
The method according to claim 15.
前記測定デバイスは、前記プロセスの第2のパラメータ範囲で動作させられるとき、前記標的領域またはその近位に前記調整部材を事後的に位置決めすることによって、該測定デバイスの第2の機能を調整することができる、請求項1に記載の方法。 When the measuring device is operated in the first parameter range of the process, it adjusts the first function of the measuring device by ex post-positioning the adjusting member in or proximal to the target area. It is possible,
When the measuring device is operated in the second parameter range of the process, the measuring device adjusts the second function of the measuring device by ex post-positioning the adjusting member in or proximal to the target area. The method of claim 1.
前記第1の機能を調整することは、前記測定デバイスのオフセットを調整することを含み、
前記第2の機能を調整することは、前記測定デバイスのスパンを調整することを含む、
請求項1に記載の方法。 The process is operated under pressure and
Adjusting the first function involves adjusting the offset of the measuring device.
Adjusting the second function includes adjusting the span of the measuring device.
The method according to claim 1.
前記プロセスの前記第2のパラメータ範囲は、前記測定デバイスに印加される圧力の約40%以上である、
請求項18に記載の方法。 The first parameter range of the process is from about + 10% to about -10% of the pressure applied to the measuring device.
The second parameter range of the process is about 40% or more of the pressure applied to the measuring device.
18. The method of claim 18.
プロセスを運転することと、
該プロセスに関連するパラメータを測定するために、該プロセスに対して測定デバイスを取り付けることと、
該測定デバイスに電力を印加することと、
該測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間内に、該測定デバイスの標的領域またはその近位に調整部材を位置決めして、該標的領域またはその近位への該調整部材の事後の位置決めを介した該測定デバイスの一つ以上の機能の事後の調整を可能にする調整モードに、該測定デバイスを入れることと、
該測定デバイスが該測定デバイスの一つ以上の機能を調整するための前記調整モードにある状態で、前記標的領域またはその近位に前記調整部材を事後的に位置決めすることと、
を含み、
前記測定デバイスは、封止型信号調節デバイスであり、
該測定デバイスは、前記調整モードに入る前に、少なくとも第1の信号を送り、
該測定デバイスは、前記プロセスの第1のパラメータ範囲で動作させられるとき、前記標的領域またはその近位に前記調整部材を事後的に位置決めすることによって、該測定デバイスの第1の機能を調整することができ、
該測定デバイスは、前記プロセスの第2のパラメータ範囲で動作させられるとき、前記標的領域またはその近位に前記調整部材を事後的に位置決めすることによって、該測定デバイスの第2の機能を調整することができ、
該測定デバイスが前記調整モードにある状態での、前記標的領域またはその近位への前記調整部材の事後の位置決めのたびに、該測定デバイスの一つ以上の機能を増分的に調整し、
該測定デバイスが前記調整モードになった後、前記標的領域またはその近位への前記調整部材の位置決めの非活動状態の時間枠の後、前記測定デバイスは、非調整モードに入る、方法。 It ’s a way to adjust the measurement system.
Driving the process and
Attaching a measuring device to the process to measure the parameters associated with the process
Applying power to the measuring device
Within a predetermined period of time after applying power to the measuring device, the adjusting member is positioned in or proximal to the target area of the measuring device and the post-positioning of the adjusting member in or proximal to the target area. Putting the measuring device into an adjustment mode that allows post-adjustment of one or more functions of the measuring device via
Ex post-positioning of the adjustment member in or proximal to the target region while the measurement device is in said adjustment mode for adjusting one or more functions of the measurement device.
Including
The measuring device is a sealed signal conditioning device.
The measuring device sends at least a first signal before entering the adjustment mode.
When operated in the first parameter range of the process, the measuring device adjusts the first function of the measuring device by ex post-positioning the adjusting member in or proximal to the target area. It is possible,
The measuring device adjusts the second function of the measuring device by ex post-positioning the adjusting member in or proximal to the target region when operated in the second parameter range of the process. It is possible,
Each time the measuring device is in the tuning mode and the post-positioning of the conditioning member to or proximal to the target area, one or more functions of the measuring device are incrementally adjusted.
A method of the measuring device entering the non-adjusting mode after an inactive time frame for positioning the adjusting member in or proximal to the target region after the measuring device has entered the tuning mode.
プロセスを圧力下で運転することと、
該プロセスに関連する圧力を測定するために、該プロセスに対して圧力測定デバイスを取り付けることと、
該圧力測定デバイスに電力を印加することと、
該圧力測定デバイスに電力を印加した後の所定の期間内に、該圧力測定デバイスの標的領域またはその近位に磁石部材を位置決めして、該標的領域またはその近位への該磁石部材の事後の位置決めを介した該圧力測定デバイスのオフセットまたはスパンの事後の調整を可能にする調整モードに、該圧力測定デバイスを入れることと、
該圧力測定デバイスが該測定デバイスのオフセットまたはスパンを調整するための前記調整モードにある状態で、前記標的領域またはその近位に前記磁石部材を事後的に位置決めすることと、
を含み、
前記標的領域またはその近位に前記磁石部材を位置決めして、前記圧力測定デバイスを前記調整モードに入れることは、該圧力測定デバイスを該調整モードに入れるために、該標的領域またはその近位における該磁石部材の所定のシーケンスコードまたは配置リズムを必要とし、
該圧力測定デバイスの前記オフセットまたはスパンの前記調整は、該圧力測定デバイスの筐体またはハウジングを破らずに行われる、方法。 How to adjust the pressure measurement system,
Running the process under pressure and
To measure the pressure associated with the process, attach a pressure measuring device to the process and
Applying power to the pressure measuring device
Within a predetermined period of time after applying power to the pressure measuring device, the magnet member is positioned at or proximal to the target region of the pressure measuring device, and the posterior of the magnet member to the target region or proximal thereof. Putting the pressure measurement device into an adjustment mode that allows subsequent adjustment of the offset or span of the pressure measurement device via positioning of the pressure measurement device.
Ex post-positioning of the magnetic member in or proximal to the target region while the pressure measuring device is in said adjustment mode for adjusting the offset or span of the measuring device.
Including
Positioning the magnet member in or proximal to the target area to put the pressure measuring device into the adjustment mode is in the target area or proximal to the pressure measuring device in order to enter the adjustment mode. Requires a given sequence code or placement rhythm of the magnet member
A method in which the adjustment of the offset or span of the pressure measuring device is performed without breaking the housing or housing of the pressure measuring device.
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