JP2022501080A - 改良された反射自動集束 - Google Patents
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Abstract
Description
本願は、2018年6月6日に出願された、米国仮特許出願第62/681,284号の優先権およびその利益を主張し、その全体として参照することによって本明細書に組み込む。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつか毎に、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、測定トランスデューサ要素によって測定される反射と関連付けられる信号品質測定基準によって少なくとも部分的に加重される複数の測定トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値を調節することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。
(項目2)
前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値を下回ることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロの値を有する加重ベクトルを定義するように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超えることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロよりも大きく1以下の値を有する加重ベクトルを定義するように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目4)
前記コントローラはさらに、少なくとも部分的に、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離によって、前記測定トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を加重するように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目5)
前記測定トランスデューサ要素に対応する前記加重値は、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離に負に相関する、項目4に記載のシステム。
(項目6)
前記測定トランスデューサ要素は、前記各トランスデューサ要素と異なる、項目1に記載のシステム。
(項目7)
前記信号品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、項目1に記載のシステム。
(項目8)
前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定される前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、項目1に記載のシステム。
(項目9)
前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサを使用して、前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目1に記載のシステム。
(項目10)
少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備える、項目1に記載のシステム。
(項目11)
シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備え、前記コントローラはさらに、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目1に記載のシステム。
(項目12)
前記コントローラはさらに、それによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられるパラメータ値のうちの少なくとも1つを調節するように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目13)
前記コントローラはさらに、物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目14)
前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定するように構成される、項目13に記載のシステム。
(項目15)
前記コントローラはさらに、前記各トランスデューサ要素と前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目16)
前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射、および前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練するように構成される、項目15に記載のシステム。
(項目17)
前記介在組織の特性を入手するための画像診断法をさらに含む、項目15に記載のシステム。
(項目18)
前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、項目1に記載のシステム。
(項目19)
前記コントローラはさらに、
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられる第1の位相および前記各トランスデューサ要素と関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
を行うように構成される、項目1に記載のシステム。
(項目20)
前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つから前記標的までの第1の距離と前記各トランスデューサ要素から前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出するように構成される、項目19に記載のシステム。
(項目21)
前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出するように構成される、項目20に記載のシステム。
(項目22)
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつか毎に、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、測定トランスデューサ要素によって測定される反射と関連付けられる信号品質測定基準によって少なくとも部分的に加重される複数の測定トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値を調節することと
を含む、方法。
(項目23)
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値を下回ることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロの値を有する加重ベクトルを定義することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目24)
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超えることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロよりも大きく1以下の値を有する加重ベクトルを定義することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目25)
少なくとも部分的に、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離によって、前記測定トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を加重することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目26)
前記測定トランスデューサ要素に対応する前記加重値は、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離に負に相関する、項目25に記載の方法。
(項目27)
前記測定トランスデューサ要素は、前記各トランスデューサ要素と異なる、項目22に記載の方法。
(項目28)
前記信号品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、項目22に記載の方法。
(項目29)
前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定される前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、項目22に記載の方法。
(項目30)
前記超音波トランスデューサを使用して、前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすことをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目22に記載の方法。
(項目31)
少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目32)
シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入することと、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすこととをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目22に記載の方法。
(項目33)
前記測定トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられるパラメータ値のうちの少なくとも1つを調節することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目34)
物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目35)
前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記方法はさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定することを含む、項目34に記載の方法。
(項目36)
前記各トランスデューサ要素と前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目37)
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射、および前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練することをさらに含む、項目36に記載の方法。
(項目38)
前記介在組織の特性は、画像診断法を使用して入手される、項目36に記載の方法。
(項目39)
前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、項目22に記載の方法。
(項目40)
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられる第1の位相および前記各トランスデューサ要素と関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
をさらに含む、項目22に記載の方法。
(項目41)
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つから前記標的までの第1の距離と前記各トランスデューサ要素から前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出することをさらに含む、項目40に記載の方法。
(項目42)
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出することをさらに含む、項目41に記載の方法。
(項目43)
超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する、測定された反射に基づいて、前記トランスデューサ要素の改善セットを定義することと、
(c)前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものに関して、前記改善セットの中にない、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものを決定することと、
(d)前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる、前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられるパラメータ値を調節することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。
(項目44)
前記トランスデューサ要素のうちの第2のものは、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものからの事前決定された距離内に位置する、項目43に記載のシステム。
(項目45)
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、前記事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える前記品質測定基準を有する前記測定された反射と関連付けられる、項目43に記載のシステム。
(項目46)
前記品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、項目43に記載のシステム。
(項目47)
前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定される前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、項目43に記載のシステム。
(項目48)
前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサを使用して、前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目43に記載のシステム。
(項目49)
少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備える、項目43に記載のシステム。
(項目50)
シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備え、前記コントローラはさらに、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目43に記載のシステム。
(項目51)
前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を調節するように構成される、項目43に記載のシステム。
(項目52)
前記コントローラはさらに、物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、項目43に記載のシステム。
(項目53)
前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定するように構成される、項目52に記載のシステム。
(項目54)
前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、項目43に記載のシステム。
(項目55)
前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射、および前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練するように構成される、項目54に記載のシステム。
(項目56)
前記介在組織の特性を入手するための画像診断法をさらに含む、項目55に記載のシステム。
(項目57)
前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、項目43に記載のシステム。
(項目58)
前記コントローラはさらに、
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第1の位相および前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
を行うように構成される、項目43に記載のシステム。
(項目59)
前記コントローラはさらに、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの第1のものから前記標的までの第1の距離と前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものから前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出するように構成される、項目58に記載のシステム。
(項目60)
前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの第2のものによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサ要素と前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第2の位相を算出するように構成される、項目58に記載のシステム。
(項目61)
複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する測定された反射に基づいて、前記トランスデューサ要素の改善セットを定義することと、
(c)前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものに関して、前記改善セットの中にない前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものを決定することと、
(d)前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられるパラメータ値を調節することと
を含む、方法。
(項目62)
前記トランスデューサ要素のうちの第2のものは、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものからの事前決定された距離内に位置する、項目61に記載の方法。
(項目63)
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、前記事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える前記品質測定基準を有する前記測定された反射と関連付けられる、項目61に記載の方法。
(項目64)
前記品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、項目61に記載の方法。
(項目65)
前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定されるトランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、項目61に記載の方法。
(項目66)
前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすことをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目61に記載の方法。
(項目67)
少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入することをさらに含む、項目61に記載の方法。
(項目68)
シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入することと、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすこととをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目61に記載の方法。
(項目69)
前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を調節することをさらに含む、項目61に記載の方法。
(項目70)
物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、項目61に記載の方法。
(項目71)
前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記方法はさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定することを含む、項目70に記載の方法。
(項目72)
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、項目61に記載の方法。
(項目73)
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射、および前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練することをさらに含む、項目72に記載の方法。
(項目74)
画像診断法を使用して、前記介在組織の特性を入手することをさらに含む、項目73に記載の方法。
(項目75)
前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、項目61に記載の方法。
(項目76)
それぞれ、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第1の位相および前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
をさらに含む、項目61に記載の方法。
(項目77)
前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの第1のものから前記標的までの第1の距離と前記トランスデューサ要素のうちの第2のものから前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出することをさらに含む、項目76に記載の方法。
(項目78)
前記トランスデューサ要素のうちの第2のものによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第2の位相を算出することをさらに含む、項目76に記載の方法。
(項目79)
超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第1のパラメータ値を決定することと、
(c)前記トランスデューサ要素のうちの第2のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものと異なる、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を予測することと、
(d)前記標的領域において超音波焦点を作成するように、前記トランスデューサ要素のうちの第1および第2のものを駆動することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。
(項目80)
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものは、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える品質測定基準を有する前記反射を受信し、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する前記反射を受信する、項目79に記載のシステム。
(項目81)
複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第1のパラメータ値を決定することと、
(c)前記トランスデューサ要素のうちの第2のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものと異なる、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を予測することと、
(d)前記標的領域において超音波焦点を作成するように、前記トランスデューサ要素のうちの第1および第2のものを駆動することと
を含む、方法。
(項目82)
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものは、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える品質測定基準を有する前記反射を受信し、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する前記反射を受信する、項目81に記載のシステム。
(項目83)
超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を第1の1つ以上の標的領域に伝送させ、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の1つ以上の標的領域と異なる第2の標的領域において超音波焦点を発生させるように、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。
(項目84)
前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、項目83に記載のシステム。
(項目85)
前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサを使用して、前記第1の1つ以上の標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目83に記載のシステム。
(項目86)
少なくとも1つの音響反射体を前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備える、項目83に記載のシステム。
(項目87)
シードマイクロバブルを前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備え、前記コントローラはさらに、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目83に記載のシステム。
(項目88)
前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサと前記第2の標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定するように構成される、項目83に記載のシステム。
(項目89)
前記コントローラはさらに、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記測定された反射、および前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練するように構成される、項目88に記載のシステム。
(項目90)
前記介在組織の特性を入手するための画像診断法をさらに含む、項目89に記載のシステム。
(項目91)
前記コントローラはさらに、物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定するように構成される、項目83に記載のシステム。
(項目92)
前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記コントローラはさらに、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定するように構成される、項目91に記載のシステム。
(項目93)
前記コントローラはさらに、
それぞれ、前記第1の1つ以上の標的領域および前記第2の標的領域と関連付けられる第1の位相および第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定することと
を行うように構成される、項目83に記載のシステム。
(項目94)
前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサから前記第1の1つ以上の標的領域までの第1の距離と前記超音波トランスデューサから前記第2の標的領域までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出するように構成される、項目93に記載のシステム。
(項目95)
前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサへの前記第1の1つ以上の標的領域からの前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出するように構成される、項目93に記載のシステム。
(項目96)
複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を第1の1つ以上の標的領域に伝送させ、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の1つ以上の標的領域と異なる第2の標的領域において超音波焦点を発生させるように、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定することと
を含む、方法。
(項目97)
前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、項目96に記載の方法。
(項目98)
前記超音波トランスデューサを使用して、前記第1の1つ以上の標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすことをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目96に記載の方法。
(項目99)
少なくとも1つの音響反射体を前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入することをさらに含む、項目96に記載の方法。
(項目100)
シードマイクロバブルを前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入することと、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすこととをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、項目96に記載の方法。
(項目101)
前記超音波トランスデューサと前記第2の標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定することをさらに含む、項目96に記載の方法。
(項目102)
前記第1の1つ以上の標的領域からの前記測定された反射、および前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練することをさらに含む、項目101に記載の方法。
(項目103)
画像診断法を使用して、前記介在組織の特性を入手することをさらに含む、項目102に記載の方法。
(項目104)
物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定することをさらに含む、項目96に記載の方法。
(項目105)
前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記方法はさらに、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定することをさらに含む、項目104に記載の方法。
(項目106)
それぞれ、前記第1の1つ以上の標的領域および前記第2の標的領域と関連付けられる、第1の位相および第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定することと
をさらに含む、項目96に記載の方法。
(項目107)
前記超音波トランスデューサから前記第1の1つ以上の標的領域までの第1の距離と前記超音波トランスデューサから前記第2の標的領域までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出することをさらに含む、項目106に記載の方法。
(項目108)
前記超音波トランスデューサへの前記第1の1つ以上の標的領域からの前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出することをさらに含む、項目106に記載の方法。
Claims (108)
- 超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつか毎に、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、測定トランスデューサ要素によって測定される反射と関連付けられる信号品質測定基準によって少なくとも部分的に加重される複数の測定トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値を調節することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。 - 前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値を下回ることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロの値を有する加重ベクトルを定義するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超えることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロよりも大きく1以下の値を有する加重ベクトルを定義するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、少なくとも部分的に、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離によって、前記測定トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を加重するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記測定トランスデューサ要素に対応する前記加重値は、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離に負に相関する、請求項4に記載のシステム。
- 前記測定トランスデューサ要素は、前記各トランスデューサ要素と異なる、請求項1に記載のシステム。
- 前記信号品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、請求項1に記載のシステム。
- 前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定される前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサを使用して、前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項1に記載のシステム。
- 少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
- シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備え、前記コントローラはさらに、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、それによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられるパラメータ値のうちの少なくとも1つを調節するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定するように構成される、請求項13に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記各トランスデューサ要素と前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射、および前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練するように構成される、請求項15に記載のシステム。
- 前記介在組織の特性を入手するための画像診断法をさらに含む、請求項15に記載のシステム。
- 前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、
前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられる第1の位相および前記各トランスデューサ要素と関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
を行うように構成される、請求項1に記載のシステム。 - 前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つから前記標的までの第1の距離と前記各トランスデューサ要素から前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出するように構成される、請求項19に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出するように構成される、請求項20に記載のシステム。
- 複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつか毎に、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、測定トランスデューサ要素によって測定される反射と関連付けられる信号品質測定基準によって少なくとも部分的に加重される複数の測定トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられるパラメータ値を調節することと
を含む、方法。 - 前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値を下回ることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロの値を有する加重ベクトルを定義することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかによって測定される前記反射と関連付けられる前記信号品質測定基準が、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超えることを決定することに応じて、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくともいくつかに対応するゼロよりも大きく1以下の値を有する加重ベクトルを定義することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- 少なくとも部分的に、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離によって、前記測定トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を加重することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素に対応する前記加重値は、前記各トランスデューサ要素からの前記測定トランスデューサ要素の距離に負に相関する、請求項25に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素は、前記各トランスデューサ要素と異なる、請求項22に記載の方法。
- 前記信号品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、請求項22に記載の方法。
- 前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定される前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、請求項22に記載の方法。
- 前記超音波トランスデューサを使用して、前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすことをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項22に記載の方法。
- 少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入することと、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすこととをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項22に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記測定トランスデューサ要素のうちの1つと関連付けられるパラメータ値のうちの少なくとも1つを調節することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- 物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- 前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記方法はさらに、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定することを含む、請求項34に記載の方法。
- 前記各トランスデューサ要素と前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、請求項22に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射、および前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練することをさらに含む、請求項36に記載の方法。
- 前記介在組織の特性は、画像診断法を使用して入手される、請求項36に記載の方法。
- 前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、請求項22に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられる第1の位相および前記各トランスデューサ要素と関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記各トランスデューサ要素と関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
をさらに含む、請求項22に記載の方法。 - 前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つから前記標的までの第1の距離と前記各トランスデューサ要素から前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出することをさらに含む、請求項40に記載の方法。
- 前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記測定トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出することをさらに含む、請求項41に記載の方法。
- 超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する、測定された反射に基づいて、前記トランスデューサ要素の改善セットを定義することと、
(c)前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものに関して、前記改善セットの中にない、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものを決定することと、
(d)前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる、前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられるパラメータ値を調節することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。 - 前記トランスデューサ要素のうちの第2のものは、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものからの事前決定された距離内に位置する、請求項43に記載のシステム。
- 前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、前記事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える前記品質測定基準を有する前記測定された反射と関連付けられる、請求項43に記載のシステム。
- 前記品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、請求項43に記載のシステム。
- 前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定される前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、請求項43に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサを使用して、前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項43に記載のシステム。
- 少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備える、請求項43に記載のシステム。
- シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備え、前記コントローラはさらに、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項43に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を調節するように構成される、請求項43に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、請求項43に記載のシステム。
- 前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定するように構成される、請求項52に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節するように構成される、請求項43に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射、および前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練するように構成される、請求項54に記載のシステム。
- 前記介在組織の特性を入手するための画像診断法をさらに含む、請求項55に記載のシステム。
- 前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、請求項43に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、
前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第1の位相および前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
を行うように構成される、請求項43に記載のシステム。 - 前記コントローラはさらに、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの第1のものから前記標的までの第1の距離と前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものから前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出するように構成される、請求項58に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記トランスデューサ要素のうちの第2のものによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサ要素と前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第2の位相を算出するように構成される、請求項58に記載のシステム。
- 複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する測定された反射に基づいて、前記トランスデューサ要素の改善セットを定義することと、
(c)前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものに関して、前記改善セットの中にない前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものを決定することと、
(d)前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記標的領域における超音波焦点を改良するように、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられるパラメータ値を調節することと
を含む、方法。 - 前記トランスデューサ要素のうちの第2のものは、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものからの事前決定された距離内に位置する、請求項61に記載の方法。
- 前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、前記事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える前記品質測定基準を有する前記測定された反射と関連付けられる、請求項61に記載の方法。
- 前記品質測定基準は、前記測定された反射の信号対雑音比である、請求項61に記載の方法。
- 前記品質測定基準は、複数の測定の中の前記測定された反射に基づいて決定されるトランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる前記パラメータ値の反復性である、請求項61に記載の方法。
- 前記標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすことをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項61に記載の方法。
- 少なくとも1つの音響反射体を前記標的領域の中に導入することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- シードマイクロバブルを前記標的領域の中に導入することと、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすこととをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項61に記載の方法。
- 前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を調節することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記方法はさらに、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定することを含む、請求項70に記載の方法。
- 前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することをさらに含む、請求項61に記載の方法。
- 前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものによって測定される前記反射、および前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと前記標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練することをさらに含む、請求項72に記載の方法。
- 画像診断法を使用して、前記介在組織の特性を入手することをさらに含む、請求項73に記載の方法。
- 前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、請求項61に記載の方法。
- それぞれ、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第1の位相および前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる前記パラメータ値を調節することと
をさらに含む、請求項61に記載の方法。 - 前記改善セットの中の前記トランスデューサ要素のうちの第1のものから前記標的までの第1の距離と前記トランスデューサ要素のうちの第2のものから前記標的までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出することをさらに含む、請求項76に記載の方法。
- 前記トランスデューサ要素のうちの第2のものによって測定される前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第2の位相を算出することをさらに含む、請求項76に記載の方法。
- 超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第1のパラメータ値を決定することと、
(c)前記トランスデューサ要素のうちの第2のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものと異なる、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を予測することと、
(d)前記標的領域において超音波焦点を作成するように、前記トランスデューサ要素のうちの第1および第2のものを駆動することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。 - 前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものは、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える品質測定基準を有する前記反射を受信し、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する前記反射を受信する、請求項79に記載のシステム。
- 複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を標的領域に伝送させ、前記標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記トランスデューサ要素によって測定される前記反射に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものと関連付けられる第1のパラメータ値を決定することと、
(c)前記トランスデューサ要素のうちの第2のものと前記標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの第1のものと異なる、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものと関連付けられる第2のパラメータ値を予測することと、
(d)前記標的領域において超音波焦点を作成するように、前記トランスデューサ要素のうちの第1および第2のものを駆動することと
を含む、方法。 - 前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第1のものは、事前決定された閾値に等しいかまたはそれを超える品質測定基準を有する前記反射を受信し、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも第2のものは、事前決定された閾値を下回る品質測定基準を有する前記反射を受信する、請求項81に記載のシステム。
- 超音波トランスデューサを集束させるためのシステムであって、
複数のトランスデューサ要素を備える超音波トランスデューサと、
コントローラであって、前記コントローラは、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を第1の1つ以上の標的領域に伝送させ、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の1つ以上の標的領域と異なる第2の標的領域において超音波焦点を発生させるように、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定することと
を行うように構成される、コントローラと
を備える、システム。 - 前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、請求項83に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサを使用して、前記第1の1つ以上の標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項83に記載のシステム。
- 少なくとも1つの音響反射体を前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備える、請求項83に記載のシステム。
- シードマイクロバブルを前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入するための投与デバイスをさらに備え、前記コントローラはさらに、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすように構成され、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項83に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサと前記第2の標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定するように構成される、請求項83に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記測定された反射、および前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練するように構成される、請求項88に記載のシステム。
- 前記介在組織の特性を入手するための画像診断法をさらに含む、請求項89に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定するように構成される、請求項83に記載のシステム。
- 前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記コントローラはさらに、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定するように構成される、請求項91に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、
それぞれ、前記第1の1つ以上の標的領域および前記第2の標的領域と関連付けられる第1の位相および第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定することと
を行うように構成される、請求項83に記載のシステム。 - 前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサから前記第1の1つ以上の標的領域までの第1の距離と前記超音波トランスデューサから前記第2の標的領域までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出するように構成される、請求項93に記載のシステム。
- 前記コントローラはさらに、前記超音波トランスデューサへの前記第1の1つ以上の標的領域からの前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出するように構成される、請求項93に記載のシステム。
- 複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサを集束させる方法であって、前記方法は、
(a)前記トランスデューサ要素に、超音波を第1の1つ以上の標的領域に伝送させ、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の反射を測定させることと、
(b)前記測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の1つ以上の標的領域と異なる第2の標的領域において超音波焦点を発生させるように、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定することと
を含む、方法。 - 前記パラメータ値は、周波数、振幅、または位相のうちの少なくとも1つを備える、請求項96に記載の方法。
- 前記超音波トランスデューサを使用して、前記第1の1つ以上の標的領域内で少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすことをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項96に記載の方法。
- 少なくとも1つの音響反射体を前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入することをさらに含む、請求項96に記載の方法。
- シードマイクロバブルを前記第1の1つ以上の標的領域の中に導入することと、前記シードマイクロバブルおよび前記超音波トランスデューサを使用して、少なくとも1つの音響反射体の発生を引き起こすこととをさらに含み、前記音響反射体は、そこに伝送される前記超音波を反射する、請求項96に記載の方法。
- 前記超音波トランスデューサと前記第2の標的領域との間に位置する介在組織の特性に基づいて、前記パラメータ値を予測するように計算的に訓練された予測因子に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定することをさらに含む、請求項96に記載の方法。
- 前記第1の1つ以上の標的領域からの前記測定された反射、および前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する前記介在組織の特性を使用して、前記予測因子を計算的に訓練することをさらに含む、請求項101に記載の方法。
- 画像診断法を使用して、前記介在組織の特性を入手することをさらに含む、請求項102に記載の方法。
- 物理的モデルに少なくとも部分的に基づいて、前記トランスデューサ要素のうちの少なくとも1つと関連付けられるパラメータ値を決定することをさらに含む、請求項96に記載の方法。
- 前記物理的モデルは、複数のモデルパラメータを備え、前記方法はさらに、前記第1の1つ以上の標的領域からの前記超音波の測定された反射に少なくとも部分的に基づいて、前記モデルパラメータと関連付けられる値を決定することをさらに含む、請求項104に記載の方法。
- それぞれ、前記第1の1つ以上の標的領域および前記第2の標的領域と関連付けられる、第1の位相および第2の位相を算出することと、
前記算出された第1および第2の位相に少なくとも部分的に基づいて、前記パラメータ値を決定することと
をさらに含む、請求項96に記載の方法。 - 前記超音波トランスデューサから前記第1の1つ以上の標的領域までの第1の距離と前記超音波トランスデューサから前記第2の標的領域までの第2の距離との間の差異に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相と第2の位相との間の差異を算出することをさらに含む、請求項106に記載の方法。
- 前記超音波トランスデューサへの前記第1の1つ以上の標的領域からの前記反射と関連付けられるビーム経路に沿って、前記超音波トランスデューサと前記第1の1つ以上の標的領域との間に位置する介在組織の特性に少なくとも部分的に基づいて、前記第1の位相を算出することをさらに含む、請求項106に記載の方法。
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