JP2022153104A - Mass spectrometer and mass spectrometry - Google Patents

Abstract

To provide a mass spectrometer capable of preventing integration of pieces of profile spectrum data including an influence of noise when acquiring mass spectrum data by integrating plural pieces of profile spectrum data.SOLUTION: A mass spectrometer 1 includes: measurement parts 10, 21, 22 for measuring one sample for k times (k is a natural number of 2 or higher) and acquiring profile spectrum data comprising an intensity value of an ion for each mass-to-charge ratio within a range of each mass-to-charge ratio each; a mass-to-charge ratio partial range setting part 23 for setting n partial ranges (n is a natural number of 2 or larger) including plural mass-to-charge ratios each for dividing a range of the mass-to-charge ratio; a total ion intensity calculation part 24 for calculating total ion intensity as a sum of the intensity values for each of the n partial ranges for each K pieces of profile spectrum data acquired the measurement part; and a deviation value detection part 25 for performing statistical verification of the k total ion intensity values for each of the n partial ranges and detecting a deviation value.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、質量分析装置及び質量分析方法に関する。 The present invention relates to a mass spectrometer and a mass spectrometry method.

マトリックス支援レーザ脱離イオン化（Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization：ＭＡＬＤＩ）法では、レーザ光を吸収し難い分析対象物やレーザ光で損傷を受け易い分析対象物（例えばタンパク質から成る物）を分析するために、分析対象物よりもレーザ光を吸収し易く且つイオン化し易いマトリックスと該分析対象物を混合した試料を作製し、この試料にレーザ光を照射することにより、試料中の分析対象物、マトリックス、及びレーザ光の相互作用によって該分析対象物をイオン化する。ＭＡＬＤＩ法は、分子量の大きな高分子化合物をあまり解離させることなく分析することができ、しかも感度が高く微量分析にも好適であることから、近年、生命科学などの分野で広く利用されている。 Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization (MALDI) is used to analyze analytes that do not easily absorb laser light or that are easily damaged by laser light (for example, proteins). Second, a sample is prepared by mixing the analyte with a matrix that is more likely to absorb and ionize laser light than the analyte, and the sample is irradiated with laser light to detect the analyte in the sample, the matrix , and laser light ionize the analyte. In recent years, the MALDI method has been widely used in fields such as life science because it can analyze high-molecular weight compounds with high molecular weights without causing much dissociation, and is highly sensitive and suitable for trace analysis.

ＭＡＬＤＩ法における試料は一般的に、マトリックスを含有する溶液と分析対象物を混合し、この混合液をサンプルプレートに付着させ、混合液を乾燥（混合液中の溶媒を気化）させることにより作製する。このように作製された試料において、分析対象物は試料中に均一に存在するとは限らず、特定の位置に偏在している可能性がある。そこで従来より、1つの試料に対してレーザ光を照射してそれにより生成されたイオンを質量分析し所定の質量電荷比範囲に亘るデータ（プロファイルスペクトルデータ）を取得するという動作を、その試料上でレーザ光の照射位置を変化させながら複数回（例えば数十～数百回）繰り返し、その複数回の測定で得られたプロファイルスペクトルデータを積算することにより、その試料についてのマススペクトルデータを取得する、という処理が行われている（例えば特許文献１参照）。 A sample in the MALDI method is generally prepared by mixing a matrix-containing solution and an analyte, attaching the mixture to a sample plate, and drying the mixture (evaporating the solvent in the mixture). . In a sample prepared in this manner, the analyte is not necessarily uniformly present in the sample, and may be unevenly distributed in a specific position. Therefore, conventionally, an operation of irradiating a sample with a laser beam, mass-analyzing the ions generated thereby, and acquiring data (profile spectrum data) over a predetermined mass-to-charge ratio range has been performed on the sample. While changing the irradiation position of the laser beam, the measurement is repeated multiple times (for example, tens to hundreds of times), and by integrating the profile spectrum data obtained from the multiple measurements, the mass spectral data of the sample is acquired. (see Patent Document 1, for example).

特開2014-212068号公報（[0003]-[0006]）JP 2014-212068 ([0003]-[0006])

このようにプロファイルスペクトルデータを複数回取得する間に、突発的な放電等によってパルスノイズが生じることがある。そうすると、複数のプロファイルスペクトルデータのうちの1つの、或るm/z（質量電荷比）にのみ、パルスノイズによるピークが生じることがある。このパルスノイズによるピークが分析対象物のイオンに由来するピークと同程度又はそれよりも小さければ、複数のプロファイルスペクトルデータを積算したマススペクトルデータでは当該1つのピークが、分析対象物由来の複数回積算されたピークよりも相対的に十分に小さくなるため問題とはならない。しかし、パルスノイズのピークが分析対象物のイオンのピークよりも十分に大きい場合には、積算後のマススペクトルデータにおいても該1つのピークが分析対象物由来の積算されたピークと同程度になることがある。その場合には、当該ピークがパルスノイズに由来するものであるのか、分析対象物のイオンに由来するものであるのかを識別することが困難になる。 Pulse noise may occur due to a sudden discharge or the like while the profile spectrum data are acquired a plurality of times in this way. Then, a peak due to pulse noise may occur only at a certain m/z (mass-to-charge ratio) in one of the plurality of profile spectrum data. If the peak due to this pulse noise is comparable to or smaller than the peak derived from the ions of the analyte, then in the mass spectrum data obtained by integrating a plurality of profile spectrum data, the single peak is multiple times derived from the analyte. This is not a problem as it is relatively well smaller than the integrated peak. However, if the peak of the pulse noise is sufficiently larger than the peak of the ions of the analyte, the single peak in the mass spectrum data after integration will be comparable to the integrated peak derived from the analyte. Sometimes. In that case, it becomes difficult to distinguish whether the peak is due to pulse noise or due to ions of the analyte.

ここではＭＡＬＤＩ法を例として説明したが、ＭＡＬＤＩ法以外の質量分析方法を用いる際にも、Ｓ／Ｎ比を高くするために複数のプロファイルスペクトルデータを積算する場合に同様の問題が生じる。 Although the MALDI method has been described here as an example, similar problems also arise when using mass spectrometry methods other than the MALDI method when integrating a plurality of profile spectrum data in order to increase the S/N ratio.

本発明が解決しようとする課題は、複数のプロファイルスペクトルデータを積算することでマススペクトルデータを取得する際に、ノイズの影響を含むプロファイルスペクトルデータを積算することを防ぐことができる質量分析装置及び質量分析方法を提供することである。 The problem to be solved by the present invention is a mass spectrometer that can prevent integration of profile spectrum data including the influence of noise when obtaining mass spectrum data by integrating a plurality of profile spectrum data, and It is to provide a mass spectrometry method.

上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置は、
1つの試料に対してk回（kは2以上の自然数）の測定を実行してそれぞれ所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータを取得する測定部と、
前記質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲を設定する質量電荷比部分範囲設定部と、
前記測定部により取得されたk回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、前記n個の部分範囲の各々につき、前記強度値の和であるトータルイオン強度を算出するトータルイオン強度算出部と、
前記n個の部分範囲の各々につき、前記k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行い、外れ値を検出する外れ値検出部と
を備える。 A mass spectrometer according to the present invention, which has been made to solve the above problems,
A measurement in which one sample is measured k times (where k is a natural number of 2 or more) to acquire profile spectrum data consisting of ion intensity values for each mass-to-charge ratio within a predetermined mass-to-charge ratio range. Department and
a mass-to-charge ratio partial range setting unit that sets n (n is a natural number equal to or greater than 2) partial ranges each including a plurality of mass-to-charge ratios by dividing the mass-to-charge ratio range;
a total ion intensity calculation unit that calculates a total ion intensity, which is the sum of the intensity values, for each of the n partial ranges for each k times of profile spectrum data acquired by the measurement unit;
an outlier detection unit that performs a statistical test on the k total ion intensity values for each of the n subranges and detects an outlier.

本発明に係る質量分析方法は、
1つの試料に対してk回（kは2以上の自然数）の測定を実行してそれぞれ所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータを取得する測定工程と、
前記質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲を設定する質量電荷比部分範囲設定工程と、
前記測定工程により取得されたk回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、前記n個の部分範囲の各々につき、前記強度値の和であるトータルイオン強度を算出するトータルイオン強度算出工程と、
前記n個の部分範囲の各々につき、前記k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行い、外れ値を検出する外れ値検出工程と
を有する。 The mass spectrometry method according to the present invention is
A measurement in which one sample is measured k times (where k is a natural number of 2 or more) to acquire profile spectrum data consisting of ion intensity values for each mass-to-charge ratio within a predetermined mass-to-charge ratio range. process and
a mass-to-charge ratio partial range setting step of setting n (n is a natural number of 2 or more) partial ranges each including a plurality of mass-to-charge ratios by dividing the mass-to-charge ratio range;
a total ion intensity calculation step of calculating a total ion intensity, which is the sum of the intensity values, for each of the n partial ranges for each k times of profile spectrum data obtained by the measurement step;
an outlier detection step of performing a statistical test on the k total ion intensity values for each of the n partial ranges and detecting an outlier.

本発明によれば、プロファイルスペクトルデータが取得される質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個の部分範囲の各々において質量電荷比毎の強度値の和であるトータルイオン強度を算出し、それらn個の部分範囲の各々につき、k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行うことにより外れ値を検出する。プロファイルスペクトルデータが前記のようなノイズの影響を含む場合、いずれかの部分範囲のトータルイオン強度が統計的検定により外れ値として検出される。従って、外れ値とされた部分範囲を含むプロファイルスペクトルデータを除外して積算を行うことでマススペクトルを求めたり、外れ値が検出されたときには分析を中止したりすること等により、ノイズの影響を含むプロファイルスペクトルデータを積算することを防ぐことができる。 According to the present invention, a total Ionic intensities are calculated and outliers are detected by performing a statistical test on k total ionic strength values for each of the n subranges. If the profile spectral data contains the effects of noise as described above, the total ion intensity of any subrange will be detected as an outlier by statistical testing. Therefore, the effects of noise can be minimized by excluding the profile spectrum data that includes the outliers and accumulating them to obtain the mass spectrum, or by stopping the analysis when an outlier is detected. It is possible to avoid accumulating the profile spectral data that contains it.

本発明に係る質量分析装置の一実施形態を示す概略構成図。1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a mass spectrometer according to the present invention; FIG. 本実施形態の質量分析装置が有するＭＳ／ＭＳ測定条件設定部の構成を示す概略図。FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of an MS/MS measurement condition setting unit included in the mass spectrometer of this embodiment; 本実施形態の質量分析装置の動作及び本発明に係る質量分析方法の一実施形態を示すフローチャート。4 is a flow chart showing the operation of the mass spectrometer of this embodiment and an embodiment of the mass spectrometry method according to the present invention. 本実施形態において得られる、ノイズを含むプロファイルスペクトルデータの例を示すグラフ。5 is a graph showing an example of profile spectrum data containing noise obtained in the present embodiment; 本実施形態において得られるトータルイオン強度の値を示す表の一例であって、25回分のプロファイルスペクトルデータの各々で得られた、5個のセグメントの各々におけるトータルイオン強度の値を示す表。FIG. 10 is an example of a table showing values of total ion intensity obtained in the present embodiment, which is a table showing values of total ion intensity in each of five segments obtained from each of 25 profile spectrum data; FIG. 図５に示した例に対して行ったスミルノフ－グラブス検定の結果を示す表。6 is a table showing the results of a Smirnov-Grubbs test performed on the example shown in FIG. 5; 本実施形態で求めたマススペクトルの一例を示すグラフ。The graph which shows an example of the mass spectrum calculated|required by this embodiment. 比較例で求めたマススペクトルの一例を示すグラフ。The graph which shows an example of the mass spectrum calculated|required by the comparative example.

以下、図１～図８を用いて、本発明に係る質量分析装置及び方法の実施形態を説明する。 Embodiments of the mass spectrometer and method according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 8. FIG.

(1) 本実施形態の質量分析装置の構成
図１に、本発明に係る質量分析装置の一実施形態であるＭＡＬＤＩ質量分析装置１の構成を示す。このＭＡＬＤＩ質量分析装置１は、イオン源としてＭＡＬＤＩイオン源を用い、質量分離器としてイオントラップ型質量分離器を用いた質量分析装置である。ＭＡＬＤＩ質量分析装置１は、ＭＡＬＤＩ質量分析実行部１０、制御・処理部２０、入力部３１、及び表示部３２を備える。 (1) Configuration of Mass Spectrometer of Present Embodiment FIG. 1 shows the configuration of a MALDI mass spectrometer 1 that is an embodiment of the mass spectrometer according to the present invention. This MALDI mass spectrometer 1 is a mass spectrometer using a MALDI ion source as an ion source and an ion trap mass separator as a mass separator. The MALDI mass spectrometer 1 includes a MALDI mass spectrometer executing section 10 , a control/processing section 20 , an input section 31 and a display section 32 .

ＭＡＬＤＩ質量分析実行部１０は、真空ポンプ１９１により真空排気される真空チャンバ１９を有し、この真空チャンバ１９内に、サンプルプレート９０が載置される試料ステージ１２と、引出電極１４と、四重極型デフレクタ１５と、イオントラップ１６と、イオン検出器１７とが配置されている。 The MALDI mass spectrometry unit 10 has a vacuum chamber 19 that is evacuated by a vacuum pump 191. In this vacuum chamber 19, a sample stage 12 on which a sample plate 90 is placed, an extraction electrode 14, a quadruple A pole deflector 15, an ion trap 16 and an ion detector 17 are arranged.

ここで、ＭＡＬＤＩ質量分析実行部１０が有する各要素の位置関係を示すために、図１中に示すように、互いに直交するＸ、Ｙ、Ｚの３軸を便宜的に定める。通常、Ｘ－Ｙ平面は装置の設置面に平行な面であり、試料ステージ１２におけるサンプルプレート載置面もＸ－Ｙ平面に平行である。 Here, in order to show the positional relationship of each element of the MALDI mass spectrometry execution unit 10, as shown in FIG. Normally, the XY plane is a plane parallel to the installation plane of the apparatus, and the sample plate mounting plane of the sample stage 12 is also parallel to the XY plane.

試料ステージ１２の上面に対向する真空チャンバ１９の壁面（天面）には、透明な窓１９２が設けられ、この窓１９２の外側にはレーザ光源１１が配置されている。試料ステージ１２は、モータ等を含むステージ駆動部１３によりＸ軸、Ｙ軸の２軸方向に移動自在である。 A wall surface (top surface) of the vacuum chamber 19 facing the upper surface of the sample stage 12 is provided with a transparent window 192 , and the laser light source 11 is arranged outside the window 192 . The sample stage 12 is movable in the X-axis and Y-axis directions by a stage drive unit 13 including a motor and the like.

四重極型デフレクタ１５はＹ軸方向に延伸する４本のロッド電極からなり、図示しない電源からロッド電極にそれぞれ印加される直流電圧によって、それらロッド電極で囲まれる空間にイオンの進行方向を略直角に折り曲げる偏向電場を形成する。 The quadrupole deflector 15 is composed of four rod electrodes extending in the Y-axis direction, and a DC voltage is applied to each rod electrode from a power supply (not shown) to deflect the ions in the space surrounded by the rod electrodes. Creates a bending electric field that bends at right angles.

イオントラップ１６は、略円環状であるリング電極１６１と、そのリング電極１６１を挟んで対向して配置される入口側エンドキャップ電極１６２及び出口側エンドキャップ電極１６４とを含む３次元四重極型の構成である。四重極型デフレクタ１５側に位置する入口側エンドキャップ電極１６２にはイオン入射穴１６３が、出口側エンドキャップ電極１６４にはイオン出射穴１６５が、それぞれ形成されている。図示しない電源からリング電極１６１、入口側エンドキャップ電極１６２及び出口側エンドキャップ電極１６４にはそれぞれ所定の電圧が印加され、それによって、それら電極で囲まれる空間にイオンを捕捉したり、或いは、イオンを該空間内からイオン出射穴１６５を通して排出したりすることができる。 The ion trap 16 is a three-dimensional quadrupole type including a substantially annular ring electrode 161 and an entrance-side end cap electrode 162 and an exit-side end cap electrode 164 which are arranged facing each other with the ring electrode 161 interposed therebetween. is the configuration. An ion entrance hole 163 and an ion exit hole 165 are formed in the entrance-side endcap electrode 162 and the exit-side endcap electrode 164 located on the quadrupole deflector 15 side, respectively. Predetermined voltages are applied from a power source (not shown) to the ring electrode 161, the entrance-side endcap electrode 162, and the exit-side endcap electrode 164, respectively. can be discharged from the space through the ion emission hole 165 .

解離ガス供給部１８は、ＭＳ／ＭＳ測定を行う際に、衝突誘起解離（ＣＩＤ：Collision Induced Dissociation）のための解離ガスをイオントラップ１６内に供給するものである。 The dissociated gas supply unit 18 supplies a dissociated gas for collision induced dissociation (CID) into the ion trap 16 when performing MS/MS measurement.

制御・処理部２０は、機能ブロックとして、測定制御部２１、データ収集部２２、質量電荷比部分範囲設定部２３、トータルイオン強度算出部２４、外れ値検出部２５、マススペクトルデータ算出部２６、ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７、及び表示制御部２８を有する。ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７はその内部にピーク検出部２７１と、イオン特定部２７２と、ＭＳ／ＭＳ測定条件特定部２７３とを有する（図３）。 The control/processing unit 20 includes, as functional blocks, a measurement control unit 21, a data collection unit 22, a mass-to-charge ratio partial range setting unit 23, a total ion intensity calculation unit 24, an outlier detection unit 25, a mass spectrum data calculation unit 26, It has an MS/MS measurement condition setting unit 27 and a display control unit 28 . The MS/MS measurement condition setting unit 27 has therein a peak detection unit 271, an ion identification unit 272, and an MS/MS measurement condition identification unit 273 (FIG. 3).

測定制御部２１は測定を実行するために、ＭＡＬＤＩ質量分析実行部１０に含まれる各構成要素を制御するものである。データ収集部２２は、アナログデジタル変換器やデータ格納用の記憶部（いずれも図示せず）を含み、イオン検出器１７による検出信号をデジタル化し、所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータとして前記記憶部に格納するものである。これら測定制御部２１及びデータ収集部２２、並びにＭＡＬＤＩ質量分析実行部１０により、前記測定部が構成される。 The measurement control section 21 controls each component included in the MALDI mass spectrometry execution section 10 in order to perform measurement. The data acquisition unit 22 includes an analog-to-digital converter and a storage unit for data storage (both not shown), digitizes the detection signal by the ion detector 17, and converts the mass-to-charge ratio within the range of a predetermined mass-to-charge ratio. It is stored in the storage unit as profile spectrum data consisting of intensity values of ions for each. The measurement control unit 21, the data collection unit 22, and the MALDI mass spectrometry execution unit 10 constitute the measurement unit.

質量電荷比部分範囲設定部２３、トータルイオン強度算出部２４、外れ値検出部２５、マススペクトルデータ算出部２６、及びＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７の詳細は、本実施形態のＭＡＬＤＩ質量分析装置１の動作の説明と共に後述する。 Details of the mass-to-charge ratio partial range setting unit 23, the total ion intensity calculation unit 24, the outlier detection unit 25, the mass spectrum data calculation unit 26, and the MS/MS measurement condition setting unit 27 are described in the MALDI mass spectrometer of this embodiment. This will be described later together with the description of the operation of No. 1.

表示制御部２８は、表示部３２に画像を表示するための制御を行うものである。また、表示制御部２８は、ＭＡＬＤＩ質量分析実行部１０で得られるプロファイルスペクトルデータ中にノイズが存在したときにその旨を表示部３２に警告表示させる制御を行う警告表示制御部２８１を含んでいる。警告表示制御部２８１の詳細は後述する。警告表示制御部２８１及び表示部３２により、後記ノイズ発生情報通知部が構成される。 The display control section 28 performs control for displaying an image on the display section 32 . The display control unit 28 also includes a warning display control unit 281 that performs control to display a warning on the display unit 32 when noise is present in the profile spectrum data obtained by the MALDI mass spectrometry execution unit 10. . Details of the warning display control unit 281 will be described later. The warning display control section 281 and the display section 32 constitute a noise occurrence information notification section described later.

制御・処理部２０では、パーソナルコンピューターやワークステーションなどのコンピューターと、該コンピューターにインストールされた専用のソフトウェアにより、上記機能ブロックが具現化される。入力部３１は該コンピューターに付設されたキーボードやポインティングデバイスであり、表示部３２はディスプレイモニタである。 In the control/processing unit 20, the above functional blocks are realized by a computer such as a personal computer or workstation and dedicated software installed in the computer. An input unit 31 is a keyboard or pointing device attached to the computer, and a display unit 32 is a display monitor.

(2) 本実施形態の質量分析装置の動作、及び本実施形態の質量分析方法
図３を用いて、本実施形態のＭＡＬＤＩ質量分析装置１の動作、及び本発明に係る質量分析方法の一実施形態を説明する。 (2) Operation of the Mass Spectrometer of the Present Embodiment and Mass Spectrometry Method of the Present Embodiment Using FIG. Explain the form.

まず、以下のように、試料に対する測定を行う（ステップ１：測定工程）。初めに、分析対象物とマトリックスを混合した試料をサンプルプレート９０の表面に付着させ、該サンプルプレート９０を試料ステージ１２上に載置する。次に、真空ポンプ１９１により真空チャンバ１９内を真空引きする。 First, the sample is measured as follows (step 1: measurement process). First, a sample in which an analyte and a matrix are mixed is adhered to the surface of the sample plate 90 and the sample plate 90 is placed on the sample stage 12 . Next, the inside of the vacuum chamber 19 is evacuated by the vacuum pump 191 .

以下、測定制御部２１による制御に基づき、測定が実行される。まず、ステージ駆動部１３により試料ステージ１２をＸ－Ｙ方向に移動させることでサンプルプレート９０の表面上の試料を所定の位置に配置し、レーザ光源１１からレーザビームを試料に照射することにより、分析対象物、マトリックス、及びレーザ光の相互作用によって該分析対象物をイオン化する。生成されたイオンは、引出電極１４により形成される電場によってサンプルプレート９０の近傍から上方に引き出され、概ねＺ軸方向に進行して四重極型デフレクタ１５に到達する。四重極型デフレクタ１５により形成される偏向電場によって、イオンの軌道は略90°曲げられる。そしてイオンは、概ねＸ軸方向に進行し、イオン入射穴１６３を通ってイオントラップ１６の内部空間に入り、リング電極１６１に印加される高周波電圧によって形成される電場によって一旦捕捉される。その後、入口側エンドキャップ電極１６２及び出口側エンドキャップ電極１６４に印加される電圧によって形成される電場によって、イオンは質量電荷比の小さい順（又は逆に大きい順）にイオン出射穴１６５を通して外部に排出される。イオン検出器１７はイオントラップ１６から排出されたイオンを順次検出し、入射したイオン量に応じた検出信号を生成して出力する。データ収集部２２は、この検出信号を受けてデジタル化し、所定の質量電荷比範囲に亘るプロファイルスペクトルデータとして記憶部に格納する。 After that, the measurement is executed under the control of the measurement control section 21 . First, the sample stage 12 is moved in the XY directions by the stage driving unit 13 to place the sample on the surface of the sample plate 90 at a predetermined position, and the sample is irradiated with a laser beam from the laser light source 11, The interaction of the analyte, matrix, and laser light ionizes the analyte. The generated ions are extracted upward from the vicinity of the sample plate 90 by the electric field formed by the extraction electrode 14 , travel approximately in the Z-axis direction, and reach the quadrupole deflector 15 . The deflection electric field formed by the quadrupole deflector 15 bends the ion trajectory by approximately 90°. Then, the ions generally travel in the X-axis direction, enter the internal space of the ion trap 16 through the ion entrance hole 163 , and are temporarily captured by the electric field formed by the high-frequency voltage applied to the ring electrode 161 . After that, an electric field formed by voltages applied to the entrance-side end cap electrode 162 and the exit-side end cap electrode 164 causes the ions to exit through the ion exit hole 165 in ascending order of mass-to-charge ratio (or conversely, in ascending order). Ejected. The ion detector 17 sequentially detects ions ejected from the ion trap 16 and generates and outputs a detection signal corresponding to the amount of incident ions. The data acquisition unit 22 receives and digitizes the detection signal, and stores it in the storage unit as profile spectrum data over a predetermined mass-to-charge ratio range.

1つの試料に対して上述したような1回の測定が終了すると、同じ試料上の異なる部位が測定位置に来るようにステージ駆動部１３により試料ステージ１２が僅かに移動される。そして、上記と同様にして2回目の測定が実行され、これがk回繰り返される。このkの値は入力部３１を用いてユーザが指定する。 When one measurement as described above is completed for one sample, the sample stage 12 is slightly moved by the stage driving section 13 so that different parts on the same sample come to the measurement position. A second measurement is then performed in the same manner as above, and this is repeated k times. The value of k is specified by the user using the input unit 31 .

このように1つの試料に対してk回の測定が実施されると、データ収集部２２の記憶部には所定の質量電荷比範囲に亘るk個のプロファイルスペクトルデータが保存される。なお、1個のプロファイルスペクトルデータが質量電荷比の異なる多数のデータを有する1群のデータから成るため、記憶部には「k群のデータ」が記録されるということもできる。 When k measurements are performed on one sample in this way, the storage unit of the data acquisition unit 22 stores k pieces of profile spectrum data over a predetermined range of mass-to-charge ratios. Since one piece of profile spectrum data consists of a group of data having a large number of data with different mass-to-charge ratios, it can be said that "k groups of data" are recorded in the storage unit.

ステップ２以下では、ステップ１で得られたプロファイルスペクトルデータに基づいてマススペクトルを取得する操作を行う。以下、その操作を、具体例を交えつつ説明する。 In step 2 and below, an operation is performed to obtain a mass spectrum based on the profile spectrum data obtained in step 1. FIG. The operation will be described below with specific examples.

この具体例では、520.68～5085.97の質量電荷比範囲でプロファイルスペクトルデータを取得し、1つの試料に対して25回（k=25）の測定を実行した。得られた25個のプロファイルスペクトルデータに、0～24の番号を付す。図４に、得られたプロファイルスペクトルデータのうち、ノイズを含むものを示す。図４の下側に示したプロファイルNo. 24のデータでは、m/z=1350付近にパルス状のノイズ（パルスノイズ１）が見られ、同図の上側に示したプロファイルNo. 8のデータではm/z=4800付近にパルス状のノイズ（パルスノイズ２）が見られる。これらパルスノイズ１、２はいずれも、他のプロファイルスペクトルデータには見られない。これらパルスノイズ１、２は、本来の試料由来のピークよりも数十倍大きいため、25個のプロファイルスペクトルデータをそのまま積算することでマススペクトルを作成すると、これらパルスノイズ由来のピークが試料由来のピークと同程度の強度となってしまい、パルスノイズ由来のピークを試料由来のピークと誤認してしまうおそれがある。そこで、本実施形態では以下の操作を行う。 In this example, profile spectral data were acquired over the mass-to-charge ratio range of 520.68 to 5085.97, and 25 (k=25) measurements were performed on one sample. The obtained 25 profile spectrum data are numbered from 0 to 24. FIG. 4 shows the obtained profile spectrum data containing noise. In the data of profile No. 24 shown in the lower part of Fig. 4, pulse-shaped noise (pulse noise 1) can be seen near m/z = 1350, and in the data of profile No. 8 shown in the upper part of the same figure, Pulse noise (pulse noise 2) is seen near m/z=4800. Neither of these pulse noises 1 and 2 are found in other profile spectral data. These pulse noises 1 and 2 are several tens of times larger than the peaks derived from the original sample. There is a possibility that the peak derived from the pulse noise will be misidentified as the peak derived from the sample because the intensity will be the same as that of the peak. Therefore, in this embodiment, the following operations are performed.

まず、ステップ２（質量電荷比部分範囲設定工程）において、質量電荷比部分範囲設定部２３は、前述した所定の質量電荷比範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲（「セグメント」とも呼ぶ）を設定する。上記具体例では、n=5とし、各部分範囲を520.68～1520.68（「セグメント0」と呼ぶ）、1520.68～2520.68（セグメント1）、2520.68～3520.68（セグメント2）、3520.68～4520.68（セグメント3）、及び4520.68～5085.97（セグメント4）と設定した。これらnの値及び各部分範囲の質量電荷比の範囲は、入力部３１を用いてユーザが指定する。 First, in step 2 (mass-to-charge ratio partial range setting step), the mass-to-charge ratio partial range setting unit 23 divides the above-described predetermined mass-to-charge ratio range into n pieces each including a plurality of mass-to-charge ratios (n is Set a subrange (also called a "segment") of a natural number greater than or equal to 2). In the above specific example, with n=5, each partial range is 520.68 to 1520.68 (called "segment 0"), 1520.68 to 2520.68 (segment 1), 2520.68 to 3520.68 (segment 2), 3520.68 to 4520.68 (segment 3), and 4520.68 to 5085.97 (segment 4). The value of n and the mass-to-charge ratio range of each partial range are specified by the user using the input unit 31 .

次に、ステップ３（トータルイオン強度算出工程）において、トータルイオン強度算出部２４は、k回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、n個の部分範囲の各々が有する複数のm/zでそれぞれ得られた強度値の和（トータルイオン強度）を算出する。図５に、上記具体例において25回分のプロファイルスペクトルデータの各々で得られた、5個の部分範囲の各々におけるトータルイオン強度の値を表で示す。図中に太枠を付した、プロファイルNo. 24のセグメント0におけるトータルイオン強度は、No. 24以外のプロファイルスペクトルデータのセグメント0におけるトータルイオン強度よりも高くなっている。同様に図中に太枠を付した、プロファイルNo. 8のセグメント4におけるトータルイオン強度は、No. 8以外のプロファイルスペクトルデータのセグメント4におけるトータルイオン強度よりも高くなっている。これらはいずれも、上述のパルスノイズが出現したプロファイルスペクトルデータ及び質量電荷比に対応している。 Next, in step 3 (total ion intensity calculation step), the total ion intensity calculation unit 24 obtains a plurality of m/z that each of the n partial ranges has for each k times of profile spectrum data. Calculate the sum of intensity values (total ion intensity). FIG. 5 tabulates the total ion intensity values in each of the five subranges obtained with each of the 25 profile spectral data in the above example. The total ion intensity in segment 0 of profile No. 24 indicated by a thick frame in the figure is higher than the total ion intensity in segment 0 of profile spectrum data other than No. 24. FIG. Similarly, the total ion intensity in segment 4 of profile No. 8 indicated by a thick frame in the figure is higher than the total ion intensity in segment 4 of profile spectrum data other than No. 8. All of these correspond to the profile spectrum data and the mass-to-charge ratio in which the above-described pulse noise appears.

但し、特にプロファイルNo. 8・セグメント4のトータルイオン強度は、他のプロファイルスペクトルデータのセグメント4との差がさほど大きくなく、ユーザ（人）がこれらのデータを見てノイズの有無を判断することは困難である。そこで、統計的検定の手法を用いる。すなわち、外れ値検出部２５は、n個の部分範囲の各々につき、k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行うことにより、それらトータルイオン強度の外れ値、すなわち所定の範囲から外れた値を検出する（ステップ４：外れ値検出工程）。 However, the difference between the total ion intensity of profile No. 8 and segment 4 and segment 4 of other profile spectrum data is not particularly large, and the user (person) can judge the presence or absence of noise by looking at these data. It is difficult. Therefore, a statistical test method is used. That is, the outlier detection unit 25 performs a statistical test on the total ion intensity values for k times for each of the n subranges, so that the outliers of the total ion intensity, that is, out of the predetermined range A value is detected (step 4: outlier detection step).

統計的検定の手法には様々なものが知られているが、上記具体例では、外れ値を求めるのに最も一般的な方法の1つであるスミルノフ－グラブス（Smirnov-Grubbs）検定を用いた。検定結果を図６の表に示す。同図中の「FALSE」はトータルイオン強度が外れ値とは判定されなかったものを示し、「TRUE」はトータルイオン強度が外れ値であると判定されたものである。パルスノイズが出現したプロファイルスペクトルデータ及び質量電荷比に対応しているプロファイルNo. 24のセグメント0及びプロファイルNo. 8のセグメント4のトータルイオン強度が「TRUE」、すなわち外れ値と判定されている。 Various statistical test methods are known, but in the above specific example, Smirnov-Grubbs test, which is one of the most common methods for finding outliers, was used. . The test results are shown in the table of FIG. "FALSE" in the figure indicates that the total ion intensity was not determined to be an outlier, and "TRUE" indicates that the total ion intensity was determined to be an outlier. The total ion intensity of segment 0 of profile No. 24 and segment 4 of profile No. 8 corresponding to the profile spectrum data and mass-to-charge ratio in which pulse noise appeared was determined to be "TRUE", that is, an outlier.

ステップ４において外れ値を検出した（ステップ５においてYESの）場合、マススペクトルデータ算出部２６は、k回分のプロファイルスペクトルデータのうち、外れ値検出部２５で外れ値が検出されたものを除いたプロファイルスペクトルデータを積算することにより、マススペクトルデータを算出する（ステップ６：マススペクトルデータ算出工程）。上記具体例では、25回分のプロファイルスペクトルデータのうち、外れ値が検出されたプロファイルNo. 8及び24のデータを除いた23回分のプロファイルスペクトルデータを積算する。これにより得られたマススペクトルを図７に示す。併せて、比較例として、プロファイルNo. 8及び24のデータを含めた25回分のプロファイルスペクトルデータを積算したマススペクトルを図８に示す。図８ではパルスノイズ１及び２に対応する2つのピークがマススペクトル中に見られるのに対して、図７にはそれら2つのピークが見られない。このように、本実施形態により、パルスノイズ１及び２の影響を排除したマススペクトルを得ることができる。 If an outlier is detected in step 4 (YES in step 5), the mass spectral data calculator 26 removes the outlier detected by the outlier detector 25 from k profile spectral data. By integrating the profile spectrum data, mass spectrum data is calculated (step 6: mass spectrum data calculation step). In the above specific example, of the 25 profile spectral data, 23 profile spectral data excluding the data of profile Nos. 8 and 24 in which outliers are detected are integrated. The mass spectrum thus obtained is shown in FIG. Also, as a comparative example, FIG. Two peaks corresponding to pulse noises 1 and 2 are seen in the mass spectrum in FIG. 8, whereas those two peaks are not seen in FIG. Thus, according to this embodiment, a mass spectrum in which the effects of pulse noises 1 and 2 are eliminated can be obtained.

また、外れ値検出部２５は、外れ値を検出したとき、外れ値検出信号を表示制御部２８中の警告表示制御部２８１に送信する。警告表示制御部２８１は、外れ値検出信号を受信したとき、ノイズが発生したことを示す警告を表示部３２に表示させる制御を行う（ステップ７：ノイズ発生情報通知工程）。表示部３２に表示する警告は、文字であってもよいし、図であってもよい。また、単にノイズが発生したことのみを表示してもよいが、ノイズが発生した場合には真空チャンバ１９内に汚れが付着していることや装置中に何らかの不具合が発生している可能性があることから、メンテナンスを促す表示を行うようにしてもよい。警告表示制御部２８１による表示を行うと共に、又は当該表示を行う代わりに、外れ値検出部２５が外れ値を検出したときにその旨をログファイルに記録するようにしてもよい。 Further, when detecting an outlier, the outlier detection unit 25 transmits an outlier detection signal to the warning display control unit 281 in the display control unit 28 . When receiving the outlier detection signal, the warning display control unit 281 controls the display unit 32 to display a warning indicating that noise has occurred (step 7: noise generation information notification step). The warning displayed on the display unit 32 may be characters or a diagram. It is also possible to simply display that noise has occurred, but if noise has occurred, there is a possibility that dirt has adhered to the inside of the vacuum chamber 19 or that some sort of problem has occurred in the apparatus. Therefore, a display prompting maintenance may be provided. When the outlier detection unit 25 detects an outlier, it may be recorded in the log file along with the display by the warning display control unit 281 or instead of the display.

一方、ステップ４において外れ値を検出しなかった（ステップ５においてNOの）場合、マススペクトルデータ算出部２６は、k回分のプロファイルスペクトルデータを全て積算することにより、マススペクトルデータを算出する（ステップ６’：マススペクトルデータ算出工程）。 On the other hand, if no outlier is detected in step 4 (NO in step 5), the mass spectral data calculator 26 calculates mass spectral data by accumulating all profile spectral data for k times (step 6': mass spectral data calculation step).

ステップ５においてYESの場合にはステップ６及び７を経た後に、ステップ５においてNOの場合にはステップ６’を経た後に、表示制御部２８は、マススペクトルデータ算出部２６で得られたマススペクトルのデータに基づいて、表示部３２にマススペクトルを表示させる制御を行う。これにより、表示部３２にマススペクトルが表示される（ステップ８：マススペクトル表示工程）。 After steps 6 and 7 if YES in step 5, or after step 6' if NO in step 5, the display control unit 28 displays the mass spectrum obtained by the mass spectrum data calculation unit 26. Based on the data, control is performed to display the mass spectrum on the display unit 32 . Thereby, the mass spectrum is displayed on the display unit 32 (step 8: mass spectrum display step).

本実施形態ではさらに、ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７は、マススペクトルデータ算出部２６で算出されたマススペクトルデータに基づいて、以下のようにＭＳ／ＭＳ測定を実行するための条件を設定する（ステップ９：ＭＳ／ＭＳ測定条件設定工程）。まず、ピーク検出部２７１は、マススペクトルデータ算出部２６で算出されたマススペクトルデータからマススペクトルのピークを検出する。次に、イオン特定部２７２は、ピーク検出部２７１で検出されたピークが出現している質量電荷比の値を求めたうえで、それらの質量電荷比に対応するイオンを特定する。ＭＳ／ＭＳ測定条件特定部２７３は、イオン特定部２７２で特定されたイオンをプリカーサイオンとして、解離ガス供給部１８から供給するガスの種類や各電極に印加する電圧等、そのプリカーサイオンに対応したＭＳ／ＭＳ測定を実行する条件を特定する。これらイオン特定部２７２によるイオンの特定、及びＭＳ／ＭＳ測定条件特定部２７３によるＭＳ／ＭＳ測定の実行条件の特定のために、ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７は質量電荷比とイオン（プリカーサイオン）の対応関係、及びプリカーサイオン毎のＭＳ／ＭＳ測定の実行条件を記憶した記憶部を有する。 Further, in this embodiment, the MS/MS measurement condition setting unit 27 sets conditions for performing MS/MS measurement as follows, based on the mass spectrum data calculated by the mass spectrum data calculation unit 26. (Step 9: MS/MS measurement condition setting step). First, the peak detection unit 271 detects mass spectrum peaks from the mass spectrum data calculated by the mass spectrum data calculation unit 26 . Next, the ion specifying unit 272 obtains values of mass-to-charge ratios at which the peaks detected by the peak detecting unit 271 appear, and then specifies ions corresponding to those mass-to-charge ratios. The MS/MS measurement condition specifying unit 273 uses the ions specified by the ion specifying unit 272 as precursor ions, and determines the type of gas supplied from the dissociated gas supply unit 18, the voltage applied to each electrode, etc. corresponding to the precursor ions. Specify the conditions under which the MS/MS measurements are performed. In order to specify the ions by the ion specifying unit 272 and specify the MS/MS measurement execution conditions by the MS/MS measurement condition specifying unit 273, the MS/MS measurement condition setting unit 27 sets the mass-to-charge ratio and the ion (precursor ion ) and execution conditions for MS/MS measurement for each precursor ion.

このように設定された条件に基づいて、測定制御部２１はＭＳ／ＭＳ測定を行い（ステップ１０）、ＭＳ／ＭＳ測定が終了すると、一連の動作が完了する。 Based on the conditions set in this way, the measurement control unit 21 performs MS/MS measurement (step 10), and when the MS/MS measurement is completed, a series of operations is completed.

(3) 変形例
本発明は上記実施形態には限定されず、種々の変形が可能である。 (3) Modifications The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications are possible.

上記実施形態では外れ値を求める際にスミルノフ－グラブス検定を用いたが、トンプソン検定等の他の統計的検定の手法を用いてもよい。 In the above embodiment, the Smirnov-Grubbs test is used to find outliers, but other statistical test techniques such as the Thompson test may be used.

上記実施形態において、ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７は省略し、表示部３２に表示されるマススペクトルに基づいてユーザがＭＳ／ＭＳ測定の条件を入力部３１から入力するようにしてもよい。また、ＭＳ／ＭＳ測定を行わない場合には、ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部２７と共に解離ガス供給部１８を省略してもよい。 In the above embodiment, the MS/MS measurement condition setting unit 27 may be omitted, and the user may input the MS/MS measurement conditions from the input unit 31 based on the mass spectrum displayed on the display unit 32 . Moreover, when MS/MS measurement is not performed, the dissociated gas supply unit 18 may be omitted together with the MS/MS measurement condition setting unit 27 .

上記実施形態では、k回分のプロファイルスペクトルデータ中にノイズピークが存在したときに、表示部（ディスプレイモニタ）３２に警告を表示しているが、その代わりに、ブザーの鳴動やランプの点灯等で警告を行うようにしてもよい。また、これらの警告を行うことは必須ではなく、警告表示制御部２８１を省略してもよい。 In the above embodiment, a warning is displayed on the display unit (display monitor) 32 when there is a noise peak in the profile spectrum data for k times. A warning may be issued. Moreover, it is not essential to issue these warnings, and the warning display control unit 281 may be omitted.

上記実施形態では、k回分のプロファイルスペクトルデータのうちの一部にノイズピークが存在したときに、ノイズピークが存在するプロファイルスペクトルデータを除いたロファイルスペクトルデータを積算してマススペクトルを算出しているが、このようなノイズピークが存在したときにはマススペクトルの算出を行わずに警告の通知のみを行うようにしてもよい。 In the above embodiment, when a noise peak exists in a part of the profile spectrum data for k times, profile spectrum data excluding the profile spectrum data in which the noise peak exists is integrated to calculate the mass spectrum. However, when such a noise peak exists, only a warning may be notified without calculating the mass spectrum.

上記実施形態ではイオントラップ型質量分離器を用いたが、飛行時間型質量分離器等、他の質量分離器を用いてもよい。 Although the ion trap mass separator is used in the above embodiment, other mass separators such as a time-of-flight mass separator may be used.

上記実施形態ではＭＡＬＤＩ質量分析装置を対象としたが、それ以外の質量分析装置にも本発明を適用することができる。 Although the above embodiments dealt with the MALDI mass spectrometer, the present invention can also be applied to other mass spectrometers.

［態様］
上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。 [Aspect]
It will be appreciated by those skilled in the art that the exemplary embodiments described above are specific examples of the following aspects.

（第１項）
第１項に係る質量分析装置は、
1つの試料に対してk回（kは2以上の自然数）の測定を実行してそれぞれ所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータを取得する測定部と、
前記質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲を設定する質量電荷比部分範囲設定部と、
前記測定部により取得されたk回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、前記n個の部分範囲の各々につき、前記強度値の和であるトータルイオン強度を算出するトータルイオン強度算出部と、
前記n個の部分範囲の各々につき、前記k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行い、外れ値を検出する外れ値検出部と
を備える。 (Section 1)
The mass spectrometer according to paragraph 1,
A measurement in which one sample is measured k times (where k is a natural number of 2 or more) to acquire profile spectrum data consisting of ion intensity values for each mass-to-charge ratio within a predetermined mass-to-charge ratio range. Department and
a mass-to-charge ratio partial range setting unit that sets n (n is a natural number equal to or greater than 2) partial ranges each including a plurality of mass-to-charge ratios by dividing the mass-to-charge ratio range;
a total ion intensity calculation unit that calculates a total ion intensity, which is the sum of the intensity values, for each of the n partial ranges for each k times of profile spectrum data acquired by the measurement unit;
an outlier detection unit that performs a statistical test on the k total ion intensity values for each of the n subranges and detects an outlier.

（第６項）
第６項に係る質量分析方法は、
1つの試料に対してk回（kは2以上の自然数）の測定を実行してそれぞれ所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータを取得する測定工程と、
前記質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲を設定する質量電荷比部分範囲設定工程と、
前記測定工程により取得されたk回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、前記n個の部分範囲の各々につき、前記強度値の和であるトータルイオン強度を算出するトータルイオン強度算出工程と、
前記n個の部分範囲の各々につき、前記k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行い、外れ値を検出する外れ値検出工程と
を有する。 (Section 6)
The mass spectrometry method according to paragraph 6,
A measurement in which one sample is measured k times (where k is a natural number of 2 or more) to acquire profile spectrum data consisting of ion intensity values for each mass-to-charge ratio within a predetermined mass-to-charge ratio range. process and
a mass-to-charge ratio partial range setting step of setting n (n is a natural number of 2 or more) partial ranges each including a plurality of mass-to-charge ratios by dividing the mass-to-charge ratio range;
a total ion intensity calculation step of calculating a total ion intensity, which is the sum of the intensity values, for each of the n partial ranges for each k times of profile spectrum data obtained by the measurement step;
an outlier detection step of performing a statistical test on the k total ion intensity values for each of the n partial ranges and detecting an outlier.

第１項に係る質量分析装置及び第６項に係る質量分析方法によれば、プロファイルスペクトルデータが取得される質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個の部分範囲の各々において質量電荷比毎の強度値の和であるトータルイオン強度を算出し、それらn個の部分範囲の各々につき、k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行うことにより外れ値を検出する。プロファイルスペクトルデータが前記のようなノイズの影響を含む場合、いずれかの部分範囲のトータルイオン強度が統計的検定により外れ値として検出される。従って、外れ値とされた部分範囲を含むプロファイルスペクトルデータを除外して積算を行うことでマススペクトルを求めたり、外れ値が検出されたときには分析を中止したりすること等により、ノイズの影響を含むプロファイルスペクトルデータを積算することを防ぐことができる。 According to the mass spectrometer according to item 1 and the mass spectrometry method according to item 6, the range of mass-to-charge ratios for acquiring profile spectrum data is divided into n partial ranges each containing a plurality of mass-to-charge ratios Calculate the total ion intensity, which is the sum of the intensity values for each mass-to-charge ratio, in each of the n subranges. To detect. If the profile spectral data contains the effects of noise as described above, the total ion intensity of any subrange will be detected as an outlier by statistical testing. Therefore, the effects of noise can be minimized by excluding the profile spectrum data that includes the outliers and accumulating them to obtain the mass spectrum, or by stopping the analysis when an outlier is detected. It is possible to avoid accumulating the profile spectral data that contains it.

なお、部分範囲毎のトータルイオン強度の外れ値を検出する代わりに、質量電荷比毎の強度の外れ値を検出すると、何らかの原因で本来の質量電荷比からわずかにずれた位置に出現した試料由来のピークを誤ってノイズとして検出してしまうおそれがある。それに対して第１項に係る質量分析装置及び第６項に係る質量分析方法では、複数の質量電荷比を含む部分範囲を単位として統計的検定を行うため、本来の質量電荷比からわずかにずれた試料由来のピークが含まれていても部分範囲単位では外れ値とはならず、誤検出を防ぐことができる。 It should be noted that instead of detecting outliers in total ion intensity for each partial range, outliers in intensity for each mass-to-charge ratio are detected. peak may be detected as noise by mistake. On the other hand, in the mass spectrometer according to the first term and the mass spectrometry method according to the sixth term, since the statistical test is performed in units of subranges containing a plurality of mass-to-charge ratios, the mass-to-charge ratio slightly deviates from the original Even if a peak derived from a different sample is included, it will not be an outlier in the subrange unit, and erroneous detection can be prevented.

（第２項）
第２項に係る質量分析装置は、第１項に係る質量分析装置においてさらに、前記k回分のプロファイルスペクトルデータのうち前記外れ値が検出されたプロファイルスペクトルデータを除いたプロファイルスペクトルデータを積算することによりマススペクトルデータを取得するマススペクトルデータ算出部を備える。 (Section 2)
In the mass spectrometer according to item 2, in the mass spectrometer according to item 1, the profile spectrum data obtained by excluding the profile spectrum data in which the outlier is detected among the profile spectrum data for the k times is integrated. and a mass spectral data calculator that acquires mass spectral data.

第２項に係る質量分析装置によれば、外れ値が検出されたプロファイルスペクトルデータを除いたプロファイルスペクトルデータを積算することにより、複数（k回分）のプロファイルスペクトルデータ中に含まれるノイズの影響を排除したマススペクトルデータを取得することができる。 According to the mass spectrometer according to the second term, by accumulating profile spectrum data excluding profile spectrum data in which outliers are detected, the influence of noise contained in a plurality of (k times) profile spectrum data is reduced. Excluded mass spectral data can be obtained.

（第３項）
第３項に係る質量分析装置は、第２項に係る質量分析装置においてさらに、
前記マススペクトルデータ算出部で取得されたマススペクトルデータに基づいてマススペクトルのピークを検出するピーク検出部と、
前記ピーク検出部で検出されたピークが出現する質量電荷比を求め、該質量電荷比に対応するイオンを特定するイオン特定部と、
前記イオン特定部で特定されたイオンをプリカーサイオンとして該プリカーサイオンに対応したＭＳ／ＭＳ測定を実行する条件を特定するＭＳ／ＭＳ測定条件特定部と
を備える。 (Section 3)
The mass spectrometer according to the third term is the mass spectrometer according to the second term, further comprising:
a peak detection unit for detecting mass spectrum peaks based on the mass spectrum data acquired by the mass spectrum data calculation unit;
an ion identification unit that obtains the mass-to-charge ratio at which the peak detected by the peak detection unit appears and identifies ions corresponding to the mass-to-charge ratio;
an MS/MS measurement condition specifying unit that specifies, as precursor ions, the ions specified by the ion specifying unit and conditions for performing MS/MS measurement corresponding to the precursor ions.

第３項に係る質量分析装置によれば、前記マススペクトルデータ算出部で取得されたマススペクトルデータに基づいてイオンを特定し、該イオンをプリカーサイオンとして特定された測定条件に基づいてＭＳ／ＭＳ測定を実行する。そのため、ユーザの手間を要することなく容易に、且つ、ノイズの影響を除去して確実にＭＳ／ＭＳ測定を行うことができる。 According to the mass spectrometer according to the third aspect, ions are specified based on the mass spectrum data acquired by the mass spectrum data calculation unit, and the ions are specified as precursor ions by MS / MS based on the measurement conditions. Make a measurement. As a result, MS/MS measurement can be performed easily without user's trouble, and without the influence of noise.

（第４項）
第４項に係る質量分析装置は、第１項～第３項のいずれか１項に係る装置においてさらに、前記外れ値検出部が外れ値を検出した際に、ノイズの発生を示すノイズ発生情報を使用者に通知するノイズ発生情報通知部を備える。 (Section 4)
The mass spectrometer according to item 4 is the apparatus according to any one of items 1 to 3, further comprising noise generation information indicating generation of noise when the outlier detection unit detects an outlier. and a noise generation information notification unit that notifies the user of the noise occurrence information.

第４項に係る質量分析装置によれば、外れ値検出部が外れ値を検出した際にノイズ発生情報を使用者に通知するため、ノイズが発生したことを使用者が知ることができる。ノイズ発生情報としては、音（ブザー、音声等）や光、あるいは画面上に表示される文字や図等が挙げられる。 According to the mass spectrometer according to item 4, when the outlier detector detects an outlier, the user is informed of the occurrence of noise because the noise occurrence information is notified to the user. Noise generation information includes sounds (buzzers, voices, etc.), lights, characters and figures displayed on the screen, and the like.

第４項に係る質量分析装置のうち第２項を引用するものは、ノイズ発生情報を使用者に通知すると共に、マススペクトルデータ算出部において、外れ値が検出されたプロファイルスペクトルデータを除いたプロファイルスペクトルデータを積算することによりマススペクトル（外れ値除外マススペクトル）データの取得も行う。表示部の画面上には警告と共に（又は警告は画面上には表示せずに）、外れ値除外マススペクトルを表示してもよいし、ユーザによる選択操作に応じて、外れ値非除外プロファイルスペクトル（外れ値が検出されたプロファイルスペクトルデータを含めて積算したもの）と外れ値除外マススペクトルのいずれか又は両方を表示するようにしてもよい。あるいは、ノイズが発生する場合には質量分析装置に何らかの異常が生じていることも考えられるため、マススペクトルデータの取得は行わずにノイズ発生情報の通知のみを行うようにしてもよい（第４項に係る質量分析装置のうち第２項を引用しないもの）。 Of the mass spectrometers according to paragraph 4, those citing paragraph 2 notify the user of noise occurrence information, and in the mass spectrum data calculation unit, a profile excluding profile spectrum data in which outliers are detected Mass spectrum (outlier-excluded mass spectrum) data is also obtained by integrating spectrum data. The outlier-excluded mass spectrum may be displayed on the screen of the display unit with a warning (or the warning is not displayed on the screen), or the outlier-not-excluded profile spectrum may be displayed according to the user's selection operation. Either or both of (the integrated profile spectrum data including the outlier detected) and the outlier-excluded mass spectrum may be displayed. Alternatively, if noise occurs, it is conceivable that some kind of abnormality has occurred in the mass spectrometer. Therefore, only notification of noise occurrence information may be performed without acquiring mass spectrum data (fourth of the mass spectrometers pertaining to the paragraph that do not cite paragraph 2).

（第５項）
第５項に係る質量分析装置は、第４項に係る質量分析装置において、前記ノイズ発生情報はメンテナンスの実行を促す情報を含むものである。 (Section 5)
The mass spectrometer according to item 5 is the mass spectrometer according to item 4, wherein the noise occurrence information includes information prompting execution of maintenance.

第５項に係る質量分析装置によれば、使用者にメンテナンスの実行を促す情報（文字、音声等）を通知するため、それを受けた使用者がメンテナンスを実行することにより、それ以降、正常な状態で質量分析を行うことができる。 According to the mass spectrometer according to item 5, in order to notify the user of the information (characters, voice, etc.) that prompts the user to perform maintenance, the user who receives the information can perform the maintenance. Mass spectrometry can be performed in a stable state.

１…ＭＡＬＤＩ質量分析装置
１０…ＭＡＬＤＩ質量分析実行部
１１…レーザ光源
１２…試料ステージ
１３…ステージ駆動部
１４…引出電極
１５…四重極型デフレクタ
１６…イオントラップ
１６１…リング電極
１６２…入口側エンドキャップ電極
１６３…イオン入射穴
１６４…出口側エンドキャップ電極
１６５…イオン出射穴
１７…イオン検出器
１８…解離ガス供給部
１９…真空チャンバ
１９１…真空ポンプ
１９２…真空チャンバの窓
２０…制御・処理部
２１…測定制御部
２２…データ収集部
２３…質量電荷比部分範囲設定部
２４…トータルイオン強度算出部
２５…外れ値検出部
２６…マススペクトルデータ算出部
２７…ＭＳ／ＭＳ測定条件設定部
２７１…ピーク検出部
２７２…イオン特定部
２７３…ＭＳ／ＭＳ測定条件特定部
２８…表示制御部
２８１…警告表示制御部
３１…入力部
３２…表示部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... MALDI mass spectrometer 10... MALDI mass spectrometry execution part 11... Laser light source 12... Sample stage 13... Stage drive part 14... Extraction electrode 15... Quadrupole type deflector 16... Ion trap 161... Ring electrode 162... Entrance side end Cap electrode 163 Ion injection hole 164 Exit side end cap electrode 165 Ion emission hole 17 Ion detector 18 Dissociated gas supply unit 19 Vacuum chamber 191 Vacuum pump 192 Vacuum chamber window 20 Control/processing unit 21... Measurement control part 22... Data acquisition part 23... Mass-to-charge ratio partial range setting part 24... Total ion intensity calculation part 25... Outlier detection part 26... Mass spectrum data calculation part 27... MS/MS measurement condition setting part 271... Peak detection unit 272 Ion identification unit 273 MS/MS measurement condition identification unit 28 Display control unit 281 Warning display control unit 31 Input unit 32 Display unit

Claims (6)

1つの試料に対してk回（kは2以上の自然数）の測定を実行してそれぞれ所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータを取得する測定部と、
前記質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲を設定する質量電荷比部分範囲設定部と、
前記測定部により取得されたk回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、前記n個の部分範囲の各々につき、前記強度値の和であるトータルイオン強度を算出するトータルイオン強度算出部と、
前記n個の部分範囲の各々につき、前記k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行い、外れ値を検出する外れ値検出部と
を備える質量分析装置。 A measurement in which one sample is measured k times (where k is a natural number of 2 or more) to acquire profile spectrum data consisting of ion intensity values for each mass-to-charge ratio within a predetermined mass-to-charge ratio range. Department and
a mass-to-charge ratio partial range setting unit that sets n (n is a natural number equal to or greater than 2) partial ranges each including a plurality of mass-to-charge ratios by dividing the mass-to-charge ratio range;
a total ion intensity calculation unit that calculates a total ion intensity, which is the sum of the intensity values, for each of the n partial ranges for each k times of profile spectrum data acquired by the measurement unit;
a mass spectrometer, comprising: an outlier detection unit that performs statistical testing on the k total ion intensity values for each of the n subranges and detects outliers; さらに、前記k回分のプロファイルスペクトルデータのうち前記外れ値が検出されたプロファイルスペクトルデータを除いたプロファイルスペクトルデータを積算することによりマススペクトルデータを取得するマススペクトルデータ算出部を備える、請求項１に記載の質量分析装置。 2. The method according to claim 1, further comprising a mass spectral data calculation unit that acquires mass spectral data by accumulating profile spectral data other than the profile spectral data in which the outlier is detected among the profile spectral data for the k times. A mass spectrometer as described. さらに、
前記マススペクトルデータ算出部で取得されたマススペクトルデータに基づいてマススペクトルのピークを検出するピーク検出部と、
前記ピーク検出部で検出されたピークが出現する質量電荷比を求め、該質量電荷比に対応するイオンを特定するイオン特定部と、
前記イオン特定部で特定されたイオンをプリカーサイオンとして該プリカーサイオンに対応したＭＳ／ＭＳ測定を実行する条件を特定するＭＳ／ＭＳ測定条件特定部と
を備える請求項２に記載の質量分析装置。 moreover,
a peak detection unit for detecting mass spectrum peaks based on the mass spectrum data acquired by the mass spectrum data calculation unit;
an ion identification unit that obtains the mass-to-charge ratio at which the peak detected by the peak detection unit appears and identifies ions corresponding to the mass-to-charge ratio;
3. The mass spectrometer according to claim 2, further comprising: an MS/MS measurement condition specifying unit that specifies conditions for performing MS/MS measurement corresponding to the precursor ions, using the ions specified by the ion specifying unit as precursor ions. さらに、前記外れ値検出部が外れ値を検出した際に、ノイズの発生を示すノイズ発生情報を使用者に通知するノイズ発生情報通知部を備える、請求項１～３のいずれか１項に記載の質量分析装置。 4. The apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising a noise occurrence information notification unit that notifies a user of noise occurrence information indicating noise occurrence when the outlier detection unit detects an outlier. mass spectrometer. 前記ノイズ発生情報がメンテナンスの実行を促す情報を含むものである、請求項４に記載の質量分析装置。 5. The mass spectrometer according to claim 4, wherein said noise occurrence information includes information prompting execution of maintenance. 1つの試料に対してk回（kは2以上の自然数）の測定を実行してそれぞれ所定の質量電荷比の範囲内の質量電荷比毎のイオンの強度値から成るプロファイルスペクトルデータを取得する測定工程と、
前記質量電荷比の範囲を分割した、それぞれ複数の質量電荷比を含むn個（nは2以上の自然数）の部分範囲を設定する質量電荷比部分範囲設定工程と、
前記測定工程により取得されたk回分のプロファイルスペクトルデータ毎に、前記n個の部分範囲の各々につき、前記強度値の和であるトータルイオン強度を算出するトータルイオン強度算出工程と、
前記n個の部分範囲の各々につき、前記k回分のトータルイオン強度の値について統計的検定を行い、外れ値を検出する外れ値検出工程と
を有する質量分析方法。 A measurement in which one sample is measured k times (where k is a natural number of 2 or more) to acquire profile spectrum data consisting of ion intensity values for each mass-to-charge ratio within a predetermined mass-to-charge ratio range. process and
a mass-to-charge ratio partial range setting step of setting n (n is a natural number of 2 or more) partial ranges each including a plurality of mass-to-charge ratios by dividing the mass-to-charge ratio range;
a total ion intensity calculation step of calculating a total ion intensity, which is the sum of the intensity values, for each of the n partial ranges for each k times of profile spectrum data obtained by the measurement step;
and an outlier detection step of performing a statistical test on the k total ion intensity values for each of the n partial ranges and detecting an outlier.

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