JP2022150475A - Abnormality detection system of power supply device - Google Patents
Abnormality detection system of power supply device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022150475A JP2022150475A JP2021053093A JP2021053093A JP2022150475A JP 2022150475 A JP2022150475 A JP 2022150475A JP 2021053093 A JP2021053093 A JP 2021053093A JP 2021053093 A JP2021053093 A JP 2021053093A JP 2022150475 A JP2022150475 A JP 2022150475A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- abnormality detection
- gate
- signal
- input
- level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 114
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 106
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 7
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002547 anomalous effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/30—Reactive power compensation
Landscapes
- Power Sources (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
Description
本発明は、サイリスタなどの自己保持型のスイッチング素子を備えた電源装置における前記スイッチング素子の誤作動等の異常を検出する異常検出システムに関する。 The present invention relates to an abnormality detection system for detecting an abnormality such as a malfunction of a switching element in a power supply device having a self-holding switching element such as a thyristor.
上記の異常検出システムが対象とする電源装置としては、例えばフリッカ補償装置があげられる(特許文献1参照)。例えばこのフリッカ補償装置を対象とする異常検出システムにおいては、サイリスタなどの自己保持型のスイッチング素子に対するトリガー用のゲート信号の状態とスイッチング素子のON/OFFつまり電源ラインにおける通電信号の状態との組み合わせから、スイッチング素子の異常を検出することが考えられる。 For example, a flicker compensator can be cited as a power supply device to which the above-described anomaly detection system is intended (see Patent Document 1). For example, in an anomaly detection system intended for this flicker compensator, the combination of the state of a gate signal for triggering a self-holding switching element such as a thyristor and the ON/OFF state of the switching element, that is, the state of an energization signal in the power supply line. Therefore, it is conceivable to detect an abnormality in the switching element.
ゲート信号の入力がないときに通電信号の入力がない場合およびゲート信号の入力があるときに通電信号の入力がある場合は正常動作状態であると判定され、ゲート信号の入力がないときに通電信号の入力があれば異常動作状態であると判定される。 If there is no energization signal input when there is no gate signal input, or if there is an energization signal input when there is a gate signal input, it is determined that the operating state is normal. If there is a signal input, it is determined that an abnormal operation state exists.
しかしながら、従来の異常検出システムにあっては、ゲート信号の入力があるにもかかわらず通電信号の入力がない場合の異常判定ができなかった。その理由は、次のように考察することができる。 However, in the conventional abnormality detection system, it was not possible to determine abnormality when there was no input of the energization signal although there was an input of the gate signal. The reason can be considered as follows.
従来においては、サイリスタの異常の判定は、一定時間以上(例えば2分以上)にわたりサイリスタに電流が流れ続けることをもって行うようになっている。すなわち、電流が長時間にわたり流れっぱなしになっていることをもって異常と判定している。 Conventionally, a thyristor abnormality is determined based on the fact that current continues to flow through the thyristor for a certain period of time or more (for example, two minutes or more). In other words, it is judged as abnormal if the current continues to flow for a long period of time.
単発パルスのゲート信号は“L”レベルから立上り変化して“H”レベルとなり、その直後に“H”レベルから立下り変化して“L”レベルに戻る。ゲート信号の立上り変化によってサイリスタはターンオンし、電流の流れを開始する。そして、サイリスタの自己保持機能により、ある時間にわたり電流の流れが持続する。その時間が経過して電流レベルが基準レベル以下まで低下すればサイリスタはターンオフし、電流は流れなくなる。これはサイリスタの正常な動作態様であり、異常ではない。 The single-pulse gate signal rises from "L" level to "H" level, and immediately after that, falls from "H" level to return to "L" level. A rising transition in the gate signal turns on the thyristor and initiates current flow. The self-holding feature of the thyristor then sustains current flow for a period of time. When the time elapses and the current level drops below the reference level, the thyristor turns off and no current flows. This is normal operation of the thyristor and is not an anomaly.
一方、異常時にはサイリスタはターンオフすることなくオン状態を誤保持したままとなる。従来では、上記の正常状態での一定時間にわたるオン状態継続と、異常状態での一定時間をオーバーして異常に長くオン状態を継続する2つの状態を識別することができなかった。それは、サイリスタの特性として、ゲート信号の入力時間とサイリスタの導通時間とが一致しないという性質があるためである。 On the other hand, in the event of an abnormality, the thyristor remains erroneously held in the ON state without being turned off. Conventionally, it has not been possible to distinguish between the two states, namely, the ON state continued for a certain period of time in the normal state, and the ON state continued for an abnormally long time exceeding the certain period of time in the abnormal state. This is because a characteristic of the thyristor is that the input time of the gate signal and the conduction time of the thyristor do not match.
以上のような理由により、従来の電源装置の異常検出システムにあっては、異常検出についての誤動作の発生の可能性が高く、異常検出の信頼性に課題があった。 For the reasons described above, in the conventional abnormality detection system for power supply devices, there is a high possibility of occurrence of malfunction in abnormality detection, and there is a problem in the reliability of abnormality detection.
本発明はこのような不都合を解消することを目的としている。 An object of the present invention is to eliminate such inconveniences.
本発明は、次の手段を講じることにより上記の課題を解決する。以下では、理解を容易にするため、本発明の電源装置の異常検出システムの構成を表す図1を用いて説明する。図1において、1はサイリスタなどの自己保持型のスイッチング素子、20はスイッチング素子1が挿入された電源ライン、SG はスイッチング素子1をターンオンさせるためのゲート信号、ST はスイッチング素子1がオン状態にあって電源ライン20に電流が流れていることを示す通電信号、E1は異常検出部、E2はタイマーカウンタ、E3は異常報知器である。期間についてTlong(第1の判定期間)、Tshort(第2の判定期間)、Twindow(計数許可期間)の符号を付加し、計数値についてN(クロックの計数値)、N0 (異常検出のための基準計数値(プリセット値))の符号を付加し、基準時間についてT0 の符号を付加して記述する。
The present invention solves the above problems by taking the following measures. In order to facilitate understanding, FIG. 1 showing the configuration of an abnormality detection system for a power supply according to the present invention will be described below. In FIG. 1, 1 is a self-holding switching element such as a thyristor, 20 is a power supply line in which the
本発明による電源装置の異常検出システムは、
ゲート端子にゲート信号SG が入力されるとターンオンして電源ライン20に電流を流し、前記ゲート信号SG の入力がなくなっても電流が流れ続け、その電流レベルが基準レベル以下まで低下するとターンオフする自己保持型のスイッチング素子1と、異常検出部E1と、タイマーカウンタE2とを備え、前記異常検出部E1は前記スイッチング素子1を介して前記電源ライン20に電流が流れている状態を示す通電信号ST を入力し、その通電信号ST の有無に応じて前記タイマーカウンタE2を制御するように構成された電源装置の異常検出システムであって、
前記異常検出部E1は少なくとも前記ゲート信号が入力されない状態で前記通電信号が入力される第1のモード、前記ゲート信号が入力される状態で前記通電信号が入力されない第2のモードおよび前記ゲート信号が入力される状態で前記通電信号も入力される第3のモードにおける状態判定が可能に構成され、
前記タイマーカウンタE2は、入力されるクロックSA の計数値Nが異常検出のための基準計数値N0 に達したときに異常検出信号SB を送出するように構成され、
前記異常検出部E1は、前記異常検出のための基準計数値N0 に対応する基準時間T0 よりも長い第1の判定期間Tlongと、前記第1の判定期間Tlongよりも短い第2の判定期間Tshortと、前記第2の判定期間Tshortの終了時点から前記第1の判定期間Tlongの終了時点までの期間である計数許可期間Twindowを設定し、
前記第1のモードになると、前記第1および第2の判定期間Tlong,Tshortおよび前記計数許可期間Twindowにかかわらず前記タイマーカウンタE2による計数動作を開始させ、前記タイマーカウンタE2は、クロックSA の計数値Nが前記異常検出のための基準計数値N0 に達したときに前記異常検出信号SB を送出するように構成され、
前記第2のモードになると、前記タイマーカウンタE2による計数動作を開始させ、前記タイマーカウンタE2は、前記第1の判定期間Tlongの終了前にクロックSA の計数値Nが前記異常検出のための基準計数値N0 に達したときに前記異常検出信号SB を送出するように構成され、
前記第3のモードになると、前記第2の判定期間Tshortの終了時点から前記タイマーカウンタE2による計数動作を開始させ、前記タイマーカウンタE2は、前記第2の判定期間Tshortの終了時点から前記第1の判定期間Tlongの終了時点までの期間で表される計数許可期間TwindowにおけるによるクロックSA の計数値Nが前記異常検出のための基準計数値N0 に達しないときには前記異常検出信号SB の送出は実行しないように構成されている。
An abnormality detection system for a power supply device according to the present invention includes:
When the gate signal SG is input to the gate terminal, it is turned on to allow current to flow through the
The abnormality detection section E1 has at least a first mode in which the energization signal is input while the gate signal is not input, a second mode in which the energization signal is not input while the gate signal is input, and the gate signal. is configured to enable state determination in a third mode in which the energization signal is also input in a state in which is input,
The timer counter E2 is configured to send out an abnormality detection signal S B when the count value N of the input clock S A reaches a reference count value N0 for abnormality detection,
The abnormality detection unit E1 has a first determination period T long that is longer than a reference time T 0 corresponding to the reference count value N 0 for the abnormality detection, and a second determination period T long that is shorter than the first determination period T long . and a counting permission period T window , which is a period from the end of the second determination period T short to the end of the first determination period T long ,
When the first mode is entered, regardless of the first and second determination periods Tlong and Tshort and the counting permission period Twindow , the timer counter E2 starts counting operation, and the timer counter E2 is clocked. configured to send out the abnormality detection signal S B when the count value N of S A reaches the reference count value N 0 for the abnormality detection,
When the second mode is entered, the counting operation of the timer counter E2 is started, and the timer counter E2 detects that the count value N of the clock S A for the abnormality detection is detected before the end of the first determination period T long . configured to send out the abnormality detection signal S B when the reference count value N 0 of
When the third mode is entered, the timer counter E2 starts counting from the end of the second determination period T short , and the timer counter E2 starts counting from the end of the second determination period T short . When the count value N of the clock S A in the counting permission period T window represented by the period up to the end of the first determination period T long does not reach the reference count value N 0 for the abnormality detection, the abnormality detection The transmission of the signal S B is configured not to be executed.
本発明の上記の構成によれば、次のような作用が発揮される。 According to the above configuration of the present invention, the following effects are exhibited.
ゲート信号SG の入力が検出されず、かつ通電信号ST の入力も検出されないとき(これを第4のモードとする)、タイマーカウンタE2も異常報知器E3も動作することはなく、異常検出とはならない。すなわち、異常検出機能の誤動作は生じない。 When the input of the gate signal S G is not detected and the input of the energization signal S T is not detected (this is referred to as the fourth mode), neither the timer counter E2 nor the anomaly alarm E3 operates, and an anomaly is detected. does not become That is, malfunction of the abnormality detection function does not occur.
次に、ゲート信号SG が入力されない状態で、かつ通電信号ST が入力される第1のモードになると、第1の判定期間Tlong、第2の判定期間Tshortおよび計数許可期間TwindowにかかわらずタイマーカウンタE2による計数動作を開始させる。そして、タイマーカウンタE2によるクロックSA の計数値Nが異常検出のための基準計数値N0 (時間としては基準時間T0 に対応)に達したときに異常検出信号SB を送出する。 Next, when the gate signal S G is not input and the energization signal ST is input in the first mode, the first determination period T long , the second determination period T short and the counting permission period T window are set. Regardless, the counting operation by the timer counter E2 is started. Then, when the count value N of the clock S A by the timer counter E2 reaches the reference count value N 0 (corresponding to the reference time T 0 in terms of time) for detecting an abnormality, the abnormality detection signal S B is sent.
この第1のモードの場合、ゲート信号SG の入力がないにもかかわらず、自己保持型のスイッチング素子1が導通し通電信号ST の入力が生じてしまっている。自己保持型ゆえにこのスイッチング素子1は導通しっぱなしとなっており、その異常事態は長時間にわたるものとなる。したがって、異常検出についての時間的制約はないと捉えることが可能で、第1の判定期間Tlong、第2の判定期間Tshortおよび計数許可期間Twindowと比較する必要性はなしとしてかまわない。
In the first mode, the self-
異常検出について時間的制約がないことからタイマーカウンタE2を始動してクロックSA の計数値Nをインクリメント(またはデクリメント)すれば、必ず異常検出のための基準計数値(プリセット値)N0に達することになり、タイマーカウンタE2は異常検出信号SB を送出する。 Since there is no time constraint for abnormality detection, if the timer counter E2 is started and the count value N of the clock S A is incremented (or decremented), the reference count value (preset value) N0 for abnormality detection is always reached. As a result, the timer counter E2 sends out an abnormality detection signal S B .
次に、ゲート信号SG が入力される状態で、かつ通電信号ST が入力されない第2のモードになると、タイマーカウンタE2による計数動作を開始させる。そして、第1の判定期間Tlongの終了前にタイマーカウンタE2によるクロックSA の計数値Nが異常検出のための基準計数値N0 に達したときに異常検出信号SB を送出する。 Next, in the second mode in which the gate signal S G is input and the energization signal S T is not input, the timer counter E2 starts counting operation. Then, when the count value N of the clock S A by the timer counter E2 reaches the reference count value N0 for abnormality detection before the end of the first judgment period Tlong , the abnormality detection signal S B is sent.
この第2のモードの場合、ゲート信号SG の入力があるにもかかわらず、通電信号ST の入力がなく、自己保持型のスイッチング素子1に異常が生じている。この場合の異常検出の手段として、比較的長い第1の判定期間Tlongを設定し、その判定期間内でタイマーカウンタE2を動作させる。この第1の判定期間Tlongは異常検出のための基準計数値N0 に対応する基準時間T0 よりも長い期間であると定めているので、期間内には必ずタイマーカウンタE2によるクロックSA の計数値Nは異常検出のための基準計数値N0 に達することになり、タイマーカウンタE2は異常検出信号SB を送出する。
In the case of the second mode, although there is an input of the gate signal S G , there is no input of the energization signal S T , and the self-
次に、ゲート信号SG の入力が検出される状態で、かつ通電信号ST も入力される第3のモードになると、第2の判定期間Tshortの終了時点からタイマーカウンタE2による計数動作を開始させ、計数許可期間Twindowの終了時点までクロックSA の計数を許可する。 Next, when the input of the gate signal S G is detected and the third mode in which the energization signal ST is also input is entered, the counting operation by the timer counter E2 is started from the end of the second judgment period T short . The counting of the clock S A is permitted until the end of the counting permitted period T window .
計数許可期間Twindowは比較的長い第1の判定期間Tlongよりも短く、この計数許可期間Twindowの範囲内ではタイマーカウンタE2によるクロックSA の計数値Nが異常検出のための基準計数値N0 にまで達することはない。したがって、タイマーカウンタE2は異常検出信号SB の送出は行わず、異常検出とはならない。すなわち、異常検出機能の誤動作は生じない。 The counting permission period T window is shorter than the relatively long first judgment period T long , and within the range of this counting permission period T window , the count value N of the clock S A by the timer counter E2 is the reference count value for abnormality detection. It never reaches N 0 . Therefore, the timer counter E2 does not send out the abnormality detection signal SB , and the abnormality is not detected. That is, malfunction of the abnormality detection function does not occur.
ここで、異常検出信号SB が入力されると異常状態を報知する異常報知器E3をさらに備え、
タイマーカウンタは異常報知器E3に対し異常検出信号SB を送出するようにしてもよい。
Here, further comprising an anomaly annunciator E3 for announcing an anomalous state when an anomaly detection signal S B is input,
The timer counter may send an abnormality detection signal S B to the abnormality alarm device E3.
上記構成の本発明の電源装置の異常検出システムにおいては、次のように構成することが可能である。すなわち、
前記異常検出部は第1の単安定マルチバイブレータ、第2の単安定マルチバイブレータ、ExORゲート、NORゲート、NANDゲートを備え、
前記第1の単安定マルチバイブレータは前記比較的長い第1の判定期間を設定し、
前記第2の単安定マルチバイブレータは前記比較的短い第2の判定期間を設定し、
前記ExORゲートは前記第1の単安定マルチバイブレータによる前記第1の判定期間と前記第2の単安定マルチバイブレータによる前記第2の判定期間との差分の前記計数許可期間を設定し、
前記NORゲートは前記ExORゲートの出力とクロックパルスとを入力として前記計数許可期間において前記クロックパルスを通過させ、
前記NANDゲートは前記第1の単安定マルチバイブレータによる前記第1の判定期間内での前記NORゲートによるクロックパルスの通過数と、前記計数許可期間内での前記NORゲートによるクロックパルスの通過数とに真偽を区別する論理を付与して、前記タイマーカウンタに送出するように構成されている。
The abnormality detection system of the power supply device of the present invention having the above configuration can be configured as follows. i.e.
The abnormality detection unit includes a first monostable multivibrator, a second monostable multivibrator, an ExOR gate, a NOR gate, and a NAND gate,
the first monostable multivibrator sets the relatively long first determination period;
the second monostable multivibrator sets the relatively short second determination period;
the ExOR gate sets the counting permitted period for the difference between the first determination period by the first monostable multivibrator and the second determination period by the second monostable multivibrator;
the NOR gate receives the output of the ExOR gate and a clock pulse as inputs and allows the clock pulse to pass through during the counting permission period;
The NAND gate determines the number of clock pulses passed by the NOR gate within the first determination period of the first monostable multivibrator and the number of clock pulses passed by the NOR gate within the counting permission period. is provided with a logic for distinguishing between true and false, and is sent to the timer counter.
本発明によれば、次のような効果が発揮される。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the following effects are exhibited.
上記4つのモードのうち異常検出となるのは第1のモードと第2のモードの2つであり、異常検出とならないのは第3のモードと第4のモードの2つである。異常検出となる第1のモードでは異常検出のための計数動作の期間との比較はしておらず、同じく異常検出となる第2のモードでは異常検出のための計数動作の期間として比較的長い第1の判定期間Tlong(異常検出のための基準計数値N0 に対応する基準時間T0 よりも長い)と比較している。これによって、2つのモードにおいて異常検出が可能となっている。 Among the above four modes, the first and second modes are the two that detect an abnormality, and the third and fourth modes do not. In the first mode of abnormality detection, the period of counting operation for abnormality detection is not compared, and in the second mode of abnormality detection, the period of counting operation for abnormality detection is relatively long. It is compared with the first judgment period T long (longer than the reference time T 0 corresponding to the reference count value N 0 for abnormality detection). This enables abnormality detection in two modes.
そして、異常検出としてはならない第3のモードでは計数値Nが基準計数値N0 にまで達しないようにするために、第2のモードの場合に設定する比較的長い第1の判定期間Tlongよりも短い計数許可期間Twindowを形成している。この計数許可期間Twindowを形成するのに、比較的短い第2の判定期間Tshortを用いて、比較的長い第1の判定期間Tlongと比較的短い第2の判定期間Tshortとの差分で計数許可期間Twindowを形成している。 In order to prevent the count value N from reaching the reference count value N0 in the third mode, which is not used as an abnormality detection, a relatively long first determination period T long is set in the case of the second mode. A counting permission period T window shorter than . A relatively short second determination period T short is used to form the counting permission period T window , and the difference between the relatively long first determination period T long and the relatively short second determination period T short is forms a count-permitted period T window .
第2のモードと第1のモードとの相違点は、異常検出のための計数動作の期間と比較するかしないかの単純な相違である。加えて、第2のモードと第3のモードとの相違点は、比較的長い第1の判定期間Tlongのみと比較するか、比較的長い第1の判定期間Tlongとともに比較的短い第2の判定期間Tshortとも比較するかのこれも単純な相違である。第1の判定期間Tlongと第2の判定期間Tshortの形成の論理は互いに同一または類似のものであり、その相違点は小さなものであって、構成が複雑化する度合いを抑制している。 The difference between the second mode and the first mode is a simple difference in whether or not the period of counting operation for abnormality detection is compared. In addition, the difference between the second mode and the third mode is that either the relatively long first determination period T long is compared alone, or the relatively long first determination period T long is combined with the relatively short second determination period T long . This is also a simple difference in whether it is compared with the judgment period T short of . The logic of formation of the first determination period T long and the second determination period T short is the same or similar, and the difference is small, which suppresses the complexity of the configuration. .
すなわち、本発明によれば、比較的簡単な構成により、異常検出についての誤動作の発生を防止して異常検出の信頼性を向上させることができる。 That is, according to the present invention, with a relatively simple configuration, it is possible to prevent the occurrence of malfunctions in abnormality detection and improve the reliability of abnormality detection.
以下、上記構成の本発明の電源装置の異常検出システムにつき、その実施の形態を具体的な実施例のレベルで詳しく説明する。 Hereinafter, the embodiment of the abnormality detection system for the power supply device of the present invention having the above configuration will be described in detail at the level of specific examples.
本発明にかかわる電源装置の異常検出システムの実施例を示す図2において、20は電源装置における電源ライン、1は電源ライン20に挿入されたサイリスタなどの自己保持型の半導体スイッチング素子、2はスイッチング素子1のゲート端子に対してゲート信号SG を中継供給するゲート基板、3は電源ライン20に設けた計器用変流器(CT)で捉える電流を検出するための電流検出回路、4は第1の単安定マルチバイブレータ、5は第2の単安定マルチバイブレータ、6はExOR(排他的論理和)ゲート、7はNOR(否定論理和)ゲート、8はNAND(否定論理積)ゲート、9は負論理(ローアクティブ)入力のORゲート、10はOR(論理和)ゲート、11はタイマーカウンタ、12はDフリップフロップ、13は誤作動検出のための発光ダイオード(LED)、14は故障復帰用スイッチである。NANDゲート8と負論理入力のORゲート9とは同一の動作論理を有し、互いに置き換え可能である。タイマーカウンタ11は図1のタイマーカウンタE2に対応し、Dフリップフロップ12と発光ダイオード13は図1の異常報知器E3に対応している。電流検出回路3、第1の単安定マルチバイブレータ4、第2の単安定マルチバイブレータ5、各種論理ゲート6,7,8,9,10は図1の異常検出部E1を構成している。
2 showing an embodiment of an abnormality detection system for a power supply according to the present invention, 20 is a power supply line in the power supply, 1 is a self-holding semiconductor switching element such as a thyristor inserted in the
第1の単安定マルチバイブレータ4のA1端子にゲート信号SG を入力し、第2の単安定マルチバイブレータ5のB1端子に電流検出回路3からの通電信号ST を入力する。
The gate signal S G is input to the A1 terminal of the first
ExORゲート6には第1の単安定マルチバイブレータ4のQ1出力端子からの制御信号SM1と第2の単安定マルチバイブレータ5のQ1反転出力端子からの制御信号SN1が入力される。NORゲート7にはクロックパルスCLKとExORゲート6からの制御信号S1 が入力される。NANDゲート8にはNORゲート7からの制御信号S2 とDフリップフロップ12のQ1反転出力端子からの制御信号S6 が入力される。負論理入力のORゲート9には第1の単安定マルチバイブレータ4のQ2反転出力端子からの制御信号SM2とDフリップフロップ12のQ1反転出力端子からの制御信号S6 が入力される。ORゲート10には第2の単安定マルチバイブレータ5のQ2出力端子からの制御信号SN2と負論理入力のORゲート9からの制御信号S7 が入力される。
The control signal S M1 from the Q1 output terminal of the first
タイマーカウンタ11のCLK入力端子にはNANDゲート8からの制御信号S3 が入力され、RESET入力端子にはORゲート10からの制御信号S8 が入力される。Dフリップフロップ12のCLK入力端子にはタイマーカウンタ11のQ4出力端子からのクロックパルスCLKが入力され、RESET入力端子には故障復帰用スイッチ14からの制御信号S9 が入力され、Q1出力端子は発光ダイオード13のアノードに接続され、制御信号S5 が供給される。
The control signal S3 from the NAND gate 8 is input to the CLK input terminal of the
次に、以上のように構成された電源装置の異常検出システムの動作を説明する。 Next, the operation of the power supply abnormality detection system configured as described above will be described.
ExORゲート6の動作論理は、
入力(L L) → 出力〔L〕
入力(L H) → 出力〔H〕
入力(H L) → 出力〔H〕
入力(H H) → 出力〔L〕
である。
The operating logic of the ExOR gate 6 is
Input (L L) → Output [L]
Input (L H) → Output [H]
Input (HL) → Output (H)
Input (H H) → Output [L]
is.
NORゲート7の動作論理は、
入力(L L) → 出力〔H〕
入力(L H) → 出力〔L〕
入力(H L) → 出力〔L〕
入力(H H) → 出力〔L〕
である。
The operating logic of the NOR
Input (L L) → Output [H]
Input (L H) → Output [L]
Input (HL) → Output (L)
Input (H H) → Output [L]
is.
NANDゲート8および負論理入力のORゲート9の動作論理は、
入力(L L) → 出力〔H〕
入力(L H) → 出力〔H〕
入力(H L) → 出力〔H〕
入力(H H) → 出力〔L〕
である。
The operational logic of the NAND gate 8 and the negative logic input OR
Input (L L) → Output [H]
Input (L H) → Output [H]
Input (HL) → Output (H)
Input (H H) → Output [L]
is.
まずは、最も基本的なモードである第4のモードから説明する。 First, the fourth mode, which is the most basic mode, will be described.
[1]第4のモード:ゲート信号無し、通電無し⇒正常判定(図3)
第4のモードはゲート信号SG の入力が検出されず、かつ通電信号ST の入力も検出されない動作モードである。この第4のモードを図3のタイミングチャートを用いて説明する。
[1] Fourth mode: no gate signal, no energization ⇒ normal judgment (Fig. 3)
The fourth mode is an operation mode in which neither the input of the gate signal S G nor the input of the energization signal ST is detected. This fourth mode will be described with reference to the timing chart of FIG.
サイリスタ(自己保持型のスイッチング素子)1のゲート端子に作用するゲート信号SG が第1の単安定マルチバイブレータ4に入力されないときは、ゲート信号SG のレベルが“L”レベルに固定化されている。また、電流検出回路3から入力される通電信号ST が第2の単安定マルチバイブレータ5に入力されないときは、通電信号ST のレベルが“H”レベルに固定化されている。
When the gate signal S G acting on the gate terminal of the thyristor (self-holding switching element) 1 is not input to the first
第1の単安定マルチバイブレータ4のQ1出力端子から出力される制御信号SM1は“L”レベルとなる。第2の単安定マルチバイブレータ5のQ1反転出力端子から出力される制御信号SN1は“H”レベルとなる。制御信号SM1(“L”レベル)と制御信号SN1(“H”レベル)を入力したExORゲート6は制御信号S1 として“H”レベルを出力する。NORゲート7はExORゲート6からの“H”レベルの制御信号S1 と周期的に“H”/“L”を繰り返すクロックパルスCLKを入力するが、制御信号S1 が“H”レベルを継続している関係で、NORゲート7は制御信号S2 として“L”レベルを出力する。
The control signal S M1 output from the Q1 output terminal of the first
NORゲート7からの制御信号S2 とDフリップフロップ12のQ1反転出力端子からの“H”レベルに固定化された制御信号S6 を入力するNANDゲート8は、制御信号S2 が“L”レベルであるので“H”レベルに固定化された制御信号S3 を出力する。
A NAND gate 8 receives the control signal S2 from the NOR
CLK入力端子に“H”/“L”遷移しない制御信号S3 を入力するタイマーカウンタ11はカウント動作を停止したままであり、そのQ4出力端子からのカウントアップ信号S4 は“L”レベルを継続する。
The
CLK入力端子にタイマーカウンタ11からの“L”レベルに固定化されたカウントアップ信号S4 を入力するDフリップフロップ12は、そのQ1出力端子から出力する点灯制御信号S5 として“L”レベルを継続して出力し、したがって、発光ダイオード13は消灯状態を保持する。
The D flip-
この発光ダイオード13の消灯状態は、第1の単安定マルチバイブレータ4からの制御信号SM1が“L”レベルを維持し、かつ、第2の単安定マルチバイブレータ5からの制御信号SN1が“H”レベルを維持しているという条件下で成立している。
In the extinguished state of the
タイマーカウンタ11からDフリップフロップ12のCLK入力端子に入力されるカウントアップ信号S4 は“L”レベルを維持していて、クロック入力が不活性であるため、Dフリップフロップ12のQ1反転出力端子からの制御信号S6 は“H”レベルを保持する。第1の単安定マルチバイブレータ4のQ2反転出力端子からの制御信号SM2も“H”レベルを保持していて負論理入力のORゲート9の2入力は“H”,“H”であるので、負論理入力のORゲート9からの制御信号S7 は“L”レベルとなる。第2の単安定マルチバイブレータ5のQ2出力端子からの制御信号SN2は“L”レベルであるので、ORゲート10からの制御信号S8 は“L”レベルであり、タイマーカウンタ11に対してはリセットは作用しない。
Since the count-up signal S4 input from the
以上のように、ゲート信号SG の入力が検出されず、したがって正常な応答結果として通電信号ST の入力も検出されない第4のモードにあっては、発光ダイオード13は消灯したままであり、異常報知とはならない。したがって、故障復帰用スイッチ14は操作されず、制御信号S9 は“L”レベルのままである。
As described above, in the fourth mode in which the input of the gate signal S G is not detected, and therefore the input of the energization signal S T is not detected as a normal response result, the
[2]第1のモード:ゲート信号無し、通電有り⇒異常判定(図4)
次に、異常検出になる第1のモードについて説明する。第1のモードはゲート信号SG の入力が検出されていないのにもかかわらず、通電信号ST の入力が検出されてしまう異常状態の場合の動作である。すなわち、自己保持型のスイッチング素子1に対してゲート信号SG を送出していないのにもかかわらず、スイッチング素子1がターンオンしてしまうので、発光ダイオード13を点灯させる場合である。この第1のモードを図4のタイミングチャートを用いて説明する。
[2] First mode: no gate signal, energized ⇒ abnormality determination (Fig. 4)
Next, the 1st mode used as abnormality detection is demonstrated. The first mode is an operation in an abnormal state in which the input of the energization signal ST is detected although the input of the gate signal S G is not detected. That is, the self-holding
(1)イベント時刻t10~t11での動作
自己保持型のスイッチング素子1のゲート端子に対してゲート信号SG を立ち上げていないにもかかわらず、突然時刻t10において電流検出回路3から通電信号ST が入力された場合を検討する。通電信号ST は、図3の第4のモードのスイッチング素子1の非導通状態を示す場合には連続する“H”レベル状態となるが、スイッチング素子1が不測に導通する異常の場合には、その自己保持特性のために図4に示すように、“H”,“L”が極短周期で繰り返される信号形態の連続パルスとなる。この連続パルスの開始時刻をイベント時刻t10とする。
(1) Operation at event times t 10 to t 11 Although the gate signal SG is not raised to the gate terminal of the self-holding switching element 1 , the
第1の単安定マルチバイブレータ4においては、ゲート信号SG が“L”レベルを継続していることからワンショットパルスの制御信号SM1は変化せず、“L”レベルを継続する。同時並行的に制御信号SM2も変化せず“H”レベルを継続する。
In the first
一方、第2の単安定マルチバイブレータ5においては、ワンショットパルスの制御信号SN1をQ1反転出力端子から出力する。通電信号ST が異常で際限なく繰り返されるため、第2の単安定マルチバイブレータ5はワンショット動作を際限なく繰り返し、ワンショットパルスの制御信号SN1の“L”レベル状態も変化なくそのまま継続される。つまり、制御信号SN1の立下り変化は1回限りとなる。
On the other hand, the second
ExORゲート6は、イベント時刻t10の瞬間直後では連続“L”レベルの制御信号SM1と“H”レベルから極短のパルス幅で“L”レベルへ立ち下がる制御信号SN1とを入力として、制御信号SN1と同様に立ち下がる制御信号S1 を出力する。この場合の制御信号S1 は、“H”レベルから極短のパルス幅で“L”レベルへ立ち下がり、引き続いて“L”レベルを維持する。 The ExOR gate 6 receives as inputs the control signal S M1 which is continuously at the "L" level immediately after the event time t10 and the control signal S N1 which falls from the "H" level to the "L" level with an extremely short pulse width. , outputs a control signal S 1 that falls in the same manner as the control signal S N1 . In this case, the control signal S1 falls from the "H" level to the "L" level with an extremely short pulse width and then maintains the "L" level.
NORゲート7は、“L”レベルの制御信号S1 と、“H”,“L”が極短周期で繰り返される信号形態のクロックパルスCLKとを入力として、そのクロックパルスCLKを反転させた反転クロックパルス/CLKを制御信号S2 (反転クロックパルスS2 )として出力する。なお、この反転クロックパルスS2 はイベント時刻t12を越えても続くことになる。
The NOR
NANDゲート8は、1入力がDフリップフロップ12からの制御信号S6 の“H”レベルであるから、もう1つの入力の反転クロックパルスS2 を反転させ、“L”,“H”を繰り返す正転クロックパルスS3 を出力する。この正転クロックパルスS3 はクロックパルスCLKと同期した信号となるが、これがタイマーカウンタ11のCLK入力端子に入力されるので、タイマーカウンタ11はそのパルスを計数する。タイマーカウンタ11はある時間の経過後、基準計数値N0 まで計数しカウントアップ(プリセット値到達)する。この時刻をイベント時刻t11とする。
Since one input of the NAND gate 8 is the "H" level of the control signal S6 from the D flip-
タイマーカウンタ11がカウントアップするとDフリップフロップ12の状態が変化するが、カウントアップするまでは変化しないので、イベント時刻t11までは制御信号S4 ,S5 ,S6 ,S7 ,S8 も変化しない。 When the timer counter 11 counts up, the state of the D flip - flop 12 changes. It does not change.
(2)イベント時刻t11~t12での動作
イベント時刻t11においてタイマーカウンタ11の基準計数値N0 までのカウントアップが成立するとカウントアップ信号S4 が単発パルスの状態で立ち上がり、これに起因してDフリップフロップ12のQ1出力端子から出力される点灯制御信号S5 が“L”レベルから反転して“H”レベルに立ち上がり、発光ダイオード13を点灯させ、異常報知となる。イベント時刻t11の瞬間直後にはカウントアップ信号S4 は“L”レベルへ復帰する。
( 2 ) Operation at event times t11 to t12 When the timer counter 11 counts up to the reference count value N0 at event time t11 , the count - up signal S4 rises in a single pulse state. Then, the lighting control signal S5 output from the Q1 output terminal of the D flip-flop 12 is inverted from the "L" level and rises to the "H" level, causing the
Dフリップフロップ12のQ1反転出力端子から出力される制御信号S6 がイベント時刻t11において“H”レベルから反転して“L”レベルに変化し、これに応動して、NANDゲート8から出力されるクロックパルスS3 は“H”レベルを継続する状態に変化し、負論理入力のORゲート9から出力される制御信号S7 、ORゲート10から出力されるリセット制御信号S8 も“H”レベルを継続する状態に変化する。
The control signal S6 output from the Q1 inverted output terminal of the D flip-flop 12 is inverted from the "H" level to the "L" level at the event time t11 . The input clock pulse S3 changes to a state of continuing "H" level , and the control signal S7 output from the negative logic input OR
(3)イベント時刻t12以降での動作
発光ダイオード13の点灯によって異常が発生したことが報知されるが、その確認後イベント時刻t12において故障復帰用スイッチ14が操作されてリセット制御信号S9 が“H”レベルに立ち上げられると、制御信号S5 ,S6 ,S7 ,S8 は初期状態に復帰し、点灯していた発光ダイオード13は消灯する。その後、スイッチング素子1を修復することになる。
( 3 ) Operation after event time t12 Lighting of the light emitting diode 13 informs that an abnormality has occurred. rises to the "H" level, the control signals S5 , S6 , S7 and S8 return to their initial states, and the
もし、故障復帰用スイッチ14を操作しなければ、発光ダイオード13の点灯すなわち異常報知は続行される。
If the failure recovery switch 14 is not operated, the lighting of the
[3]第2のモード:ゲート信号有り、通電無し⇒異常判定(図5)
次に、これも異常検出になる第2のモードについて説明する。第2のモードはゲート信号SG の入力が検出されているにもかかわらず、通電信号ST の入力の検出がなされない異常状態の場合の動作である。すなわち、自己保持型のスイッチング素子1に対してゲート信号SG を送出したにもかかわらず、スイッチング素子1がターンオンしないので、発光ダイオード13を点灯させる場合である。この第2のモードを図5のタイミングチャートを用いて説明する。
[3] Second mode: With gate signal, without energization ⇒ Abnormal judgment (Fig. 5)
Next, a description will be given of a second mode in which this is also an abnormality detection. The second mode is an operation in an abnormal state in which the input of the energization signal ST is not detected even though the input of the gate signal S G is detected. That is, even though the gate signal S G is sent to the self-holding
(1)イベント時刻t20~t22での動作
イベント時刻t20において、ゲート信号SG が単発パルスの状態で“L”レベル状態から“H”レベルに立ち上がり、ゲート基板2を介して自己保持型のスイッチング素子1のゲート端子に印加される。これによって通常(正常動作時)であればスイッチング素子1がトリガされてターンオンして、スイッチング素子1を通る電源ライン20に電流が流れ、図6(第3のモード)に示すように、電流検出回路3はその検出信号を通電信号ST (微小パルス幅の矩形波2個分(“H”→“L”→“H”→“L”→“H”)のパルス信号)として第2の単安定マルチバイブレータ5に送出するはずのところ、何らかの不具合により通電信号ST のパルス入力がなされない(図5)、という場合を検討する。通電信号ST としては、入力がないことから第4のモード(図3)の場合と同様に連続する“H”レベル状態となる。第1の単安定マルチバイブレータ4は、単発パルスのゲート信号SG の入力によって状態が変化するが、第2の単安定マルチバイブレータ5の方は第3のモードの場合とは異なり、状態は変化しない。
(1) Operation at event times t 20 to t 22 At event time t 20 , the gate signal S G rises from the “L” level to the “H” level in a single pulse state, and self-holds through the
まず、第1の単安定マルチバイブレータ4においては、後述する第3のモード(図6)も同様の動作状態となる。すなわち、短パルス“H”レベルのゲート信号SG が印加されたイベント時刻t20のタイミングでQ1出力端子からワンショットパルスの制御信号SM1が“L”レベルから“H”レベルに立ち上がる。なお、このワンショットパルスの制御信号SM1のパルス幅はワンショット期間であり、これは比較的長い(異常検出のための基準計数値N0 に対応する基準時間T0 よりも僅かに長い)第1の判定期間Tlongである。第1の判定期間Tlongの終了時点はイベント時刻t22となる。
First, in the first
一方、第2の単安定マルチバイブレータ5においては、電流検出回路3から入力される通電信号ST の不具合によりワンショットパルスの制御信号SN1は“H”レベル状態を維持したままとなり、ExORゲート6はワンショットパルスの制御信号SM1を反転した制御信号S1 を出力する。この制御信号S1 はイベント時刻t22までは“L”レベルを継続する。なお、イベント時刻t22を過ぎると反転して“H”レベルとなり、あとは“H”レベルを継続することになる。
On the other hand, in the second
比較的長い第1の判定期間Tlongにおいて“L”レベルの制御信号S1 とクロックパルスCLKを入力するNORゲート7はクロックパルスCLKの“H”,“L”を反転させたクロックパルスS2 (反転クロックパルス/CLK)を出力する。
The NOR
Dフリップフロップ12のQ1反転出力端子から出力される制御信号S6 が“H”レベルとなっている期間(t20~t21)において、NANDゲート8は反転クロックパルスS2 を再反転した状態のクロックパルスS3 (クロックパルスCLKに同期した信号)をタイマーカウンタ11のCLK入力端子に入力し、計数を開始する。この計数はイベント時刻t20から開始され、基準計数値N0 まで進められる(カウントアップ(プリセット値到達))。
During the period (t 20 to t 21 ) in which the control signal S 6 output from the Q1 inverted output terminal of the D flip-
(2)イベント時刻t21~t22での動作
イベント時刻t21はタイマーカウンタ11のカウントアップ時刻である。カウントアップしたタイマーカウンタ11は、そのQ4出力端子からカウントアップ信号S4 を単発パルスの状態で出力する。カウントアップ時刻t21は制御信号SM1の第1の判定期間Tlongの終了時刻t22よりも早い時刻である。
(2) Operation at Event Times t 21 to t 22 Event time t 21 is the count-up time of the
カウントアップ信号S4 がCLK入力端子に入力されたDフリップフロップ12においては、Q1出力端子から“H”レベルに立ち上がった点灯制御信号S5 が出力され、発光ダイオード13が点灯し、異常報知となる。
In the D flip-
同時にイベント時刻t21において、Dフリップフロップ12のQ1反転出力端子から出力される制御信号S6 が“L”レベルに反転し、NANDゲート8から出力される制御信号S3 が“H”レベルに変化し固定化される。また、負論理入力のORゲート9から出力される制御信号S7 が“H”レベルに立ち上がり、ORゲート10から出力される単発パルスのリセット制御信号S8 も“H”レベルに立ち上がり、タイマーカウンタ11の計数がゼロクリアされる。 At the same time, at the event time t21 , the control signal S6 output from the Q1 inverted output terminal of the D flip-flop 12 is inverted to "L" level, and the control signal S3 output from the NAND gate 8 is inverted to "H" level. Changed and fixed. In addition, the control signal S7 output from the negative logic input OR gate 9 rises to "H" level, the single pulse reset control signal S8 output from the OR gate 10 also rises to "H" level, and the timer counter A count of 11 is cleared to zero.
タイマーカウンタ11が計数を開始するイベント時刻t20からカウントアップするイベント時刻t21までの時間Tupは、ワンショットパルスの制御信号SM1が“H”レベルとなっている比較的長い第1の判定期間Tlongよりも短く設定されている。
The time Tup from the event time t20 when the
(3)イベント時刻t22~t23での動作
一方、イベント時刻t22においては、第1の単安定マルチバイブレータ4のQ1出力端子から出力されるワンショットパルスの制御信号SM1が“L”レベルに立ち下がるのに同期してQ2反転出力端子から出力される制御信号SM2が単発パルスの状態で、イベント時刻t22で“H”レベルから“L”レベルに立ち下がり、次いでイベント時刻t23で“L”レベルから“H”レベルに立ち上がる。
(3) Operation at event times t 22 to t 23 On the other hand, at event time t 22 , the one-shot pulse control signal S M1 output from the Q1 output terminal of the first
イベント時刻t22では制御信号SN1は“H”レベルを継続しているが、制御信号SM1が“H”レベルから“L”レベルへと変化するので、ExORゲート6から出力されるクロック通過許可信号S1 は“L”レベルから“H”レベルへと変化する。クロック通過許可信号S1 はイベント時刻t22以降は“H”レベルを維持し、それに連動して制御信号S2 は“L”レベルを維持し、制御信号S3 は“H”レベルを維持する。タイマーカウンタ11はイベント時刻t21以降はアップカウントのインクリメント動作を停止することになる。
At event time t22 , the control signal S N1 continues to be at the "H" level, but since the control signal S M1 changes from the "H" level to the "L" level, the clock output from the ExOR gate 6 passes through. The enable signal S1 changes from "L" level to "H" level. After the event time t22 , the clock passage permission signal S1 maintains the "H" level, and in conjunction therewith the control signal S2 maintains the "L" level , and the control signal S3 maintains the "H" level. . After the event time t21 , the
(4)イベント時刻t23~t24での動作
制御信号S7 を出力する負論理入力のORゲート9は、制御信号S6 と制御信号SM2を2入力とするが、時刻t21までは2入力がS6 =“H”,SM2 =“H”であるので制御信号S7 は“L”レベルであり、時刻t21以降では2入力がS6 =“L”,SM2 =“H”であるので制御信号S7 は“H”レベル、制御信号SM2が“L”レベルとなっているごく短い期間t22~t23では2入力がS6 =“L”,SM2 =“L”であるので制御信号S7 は引き続いて“H”レベル、時刻t23以降では2入力がS6 =“L”,SM2 =“H”なので制御信号S7 はさらに引き続いて“H”レベルとなる。ORゲート10に対して第2の単安定マルチバイブレータ5から入力される制御信号SN2は“L”レベルであるので、ORゲート10から出力される制御信号S8 は制御信号S7 と同じ波形となる。制御信号S7 ,S8 の“H”レベルは時刻t24まで続く。
( 4 ) Operation at event times t23 to t24 The negative logic input OR gate 9 that outputs the control signal S7 receives the control signal S6 and the control signal S M2 as two inputs. Since the two inputs are S 6 =“H” and S M2 =“H”, the control signal S 7 is at the “L” level . Since the control signal S7 is at "H" level and the control signal S M2 is at "L" level, during the very short period t22 to t23 , the two inputs are S6 ="L", S M2 = Since the control signal S7 is " L ", the control signal S7 continues to be at " H " level. "Level. Since the control signal S N2 input from the second monostable multivibrator 5 to the OR gate 10 is at "L" level, the control signal S8 output from the OR gate 10 has the same waveform as the control signal S7. becomes. The "H" level of the control signals S7 and S8 continues until time t24 .
すでに説明したようにイベント時刻t21における発光ダイオード13の点灯によって異常が発生したことが報知されるが、その確認後イベント時刻t24において故障復帰用スイッチ14が操作されてリセット制御信号S9 が“H”レベルに立ち上げられると、制御信号S5 ,S6 ,S7 ,S8 は初期状態に復帰し、点灯していた発光ダイオード13は消灯する。その後、スイッチング素子1を修復することになる。
As already explained, the occurrence of an abnormality is notified by the lighting of the light emitting diode 13 at the event time t21 . When raised to the "H" level, the control signals S5 , S6 , S7 and S8 are restored to their initial states, and the
もし、故障復帰用スイッチ14を操作しなければ、発光ダイオード13の点灯すなわち異常報知は続行される。
If the failure recovery switch 14 is not operated, the lighting of the
[4]第3のモード:ゲート信号有り、通電有り⇒正常判定(図6)
次に、異常検出とはならない第3のモードについて説明する。第3のモードはゲート信号SG の入力が検出され、これに適正に応動する状態で、自己保持型のスイッチング素子1がターンオンし、発光ダイオード13の点灯は起こらない場合の動作である。この第3のモードを図6のタイミングチャートを用いて説明する。
[4] Third mode: with gate signal, with energization ⇒ normal judgment (Fig. 6)
Next, a description will be given of a third mode in which no abnormality is detected. The third mode is the operation when the input of the gate signal SG is detected and the self-holding
(1)イベント時刻t30~t31 での動作
イベント時刻t30において、自己保持型のスイッチング素子1のゲート端子に作用するゲート信号SG が単発パルスの状態で“L”レベル状態から“H”レベルに立ち上がり、ゲート基板2を介してスイッチング素子1のゲート端子に印加される。これによって所期通りにスイッチング素子1がトリガされてターンオンし、電源ライン20に所期通りに電流が流れると、電流検出回路3を介して通電信号ST が第2の単安定マルチバイブレータ5のB1入力端子に入力される。スイッチング素子1の正常なターンオン動作を所期通りに検出した場合、電流検出回路3は通電信号ST として微小パルス幅の矩形波2個分(“H”→“L”→“H”→“L”→“H”)のパルス信号を出力する。パルス信号2個分が過ぎると、通電信号ST は連続した“H”レベル状態を保持する。
(1) Operation at event times t 30 to t 31 At event time t 30 , the gate signal S G acting on the gate terminal of the self-holding
単発パルスのゲート信号SG の立ち上がりエッジによって、第1の単安定マルチバイブレータ4と第2の単安定マルチバイブレータ5の状態がともに変化する。
The states of both the first
まず、第1の単安定マルチバイブレータ4においては、“H”レベルのゲート信号SG が印加されたイベント時刻t30においてQ1出力端子からワンショットパルスの制御信号SM1が“L”レベルから“H”レベルに立ち上がる。なお、このワンショットパルスの制御信号SM1のパルス幅は比較的長い第1の判定期間Tlongである。ワンショットパルスの制御信号SM1の“H”レベル期間は時刻t33までとなり、時刻t33以降は“L”レベルに保持される。
First, in the first
電流検出回路3から入力される通電信号ST は所定のサイクル(2回)だけ“L”,“H”を繰り返した後、“H”レベルに安定化する。第2の単安定マルチバイブレータ5においては、通電信号ST が印加されると、Q1反転出力端子から出力されるワンショットパルスの制御信号SN1が“H”レベルから“L”レベルに立ち下がる。このワンショットパルスの制御信号SN1のパルス幅は比較的短い第2の判定期間Tshortである。
The energization signal S T input from the
第2の単安定マルチバイブレータ5によるワンショットパルスの制御信号SN1の“L”レベル期間は時刻t31までとなり、時刻t31以降は“H”レベルに保持される。制御信号SM1の比較的長い第1の判定期間Tlongは、制御信号SN1の比較的短い第2の判定期間Tshortよりも長く設定されている(Tshort<Tlong)。
The " L " level period of the one-shot pulse control signal SN1 by the second
イベント時刻t30以降の両制御信号SM1,SN1の変化に対してExORゲート6の出力状態の変化を調べると、第1の単安定マルチバイブレータ4からの制御信号SM1は“L”レベルから“H”レベルに変化し、第2の単安定マルチバイブレータ5からの制御信号SN1は“H”レベルから“L”レベルに変化しているが、2入力の組み合わせ(“H”と“L”)には変わりがないので、ExORゲート6からの制御信号S1 には変化がなく、第2の単安定マルチバイブレータ5の比較的短い第2の判定期間Tshort(t30~t31)では制御信号S1 は“H”レベルとなる。
Examining the change in the output state of the ExOR gate 6 with respect to the changes in both the control signals S M1 and S N1 after the event time t30 reveals that the control signal S M1 from the first
以上の結果、比較的短い第2の判定期間Tshortの範囲内では、NORゲート7の2入力は“H”レベルの制御信号S1 とクロックパルスCLKであるので、NORゲート7から出力される制御信号S2 は“L”レベルとなる。
As a result, within the range of the relatively short second judgment period T short , the two inputs of the NOR
NANDゲート8の2入力はDフリップフロップ12からの“H”レベルの制御信号S6 とNORゲート7からの“L”レベルの制御信号S2 であるので、NANDゲート8から出力されるクロックパルスS3 は“H”レベルとなる。このクロックパルスS3 はタイマーカウンタ11のCLK入力端子に入力されるが、クロックパルスS3 は“H”レベルの連続信号であるので、計数動作は行われない。
Since the two inputs of the NAND gate 8 are the "H" level control signal S6 from the D flip-flop 12 and the "L" level control signal S2 from the NOR
タイマーカウンタ11のQ4出力端子から出力されるカウントアップ信号S4 は変化せず“L”レベルのままであり、Dフリップフロップ12からの点灯制御信号S5 も“L”レベルのままと、いずれも第4のモード(図3)の場合と同様になり、発光ダイオード13は消灯状態を保持する。
The count-up signal S4 output from the Q4 output terminal of the timer counter 11 remains unchanged at "L" level, and the lighting control signal S5 from the D flip-flop 12 also remains at "L" level. is the same as in the fourth mode (FIG. 3), and the light-emitting
(2)イベント時刻t31~t32での動作
次のイベント時刻は第2の単安定マルチバイブレータ5の比較的短い第2の判定期間Tshortがタイムアップした時刻t31である。このイベント時刻t31においては、それまで“L”レベルとなっていた第2の単安定マルチバイブレータ5からの制御信号SN1が“H”レベルへと立ち上がる。第1の単安定マルチバイブレータ4の比較的長い第1の判定期間Tlongはまだタイムアップしていないので、第1の単安定マルチバイブレータ4からの制御信号SM1は“H”レベルを継続している。その結果、イベント時刻t31~t32の期間にわたり、ExORゲート6の2入力は“H”,“H”となり、その制御信号S1 は“H”レベルから“L”レベルへと立ち下がる。
(2) Operation at Event Times t 31 to t 32 The next event time is time t 31 when the relatively short second judgment period T short of the second
この“L”レベルとなった制御信号S1 とクロックパルスCLKとがNORゲート7に入力され、出力される制御信号S2 はクロックパルスCLKに対してタイミング的に“H”/“L”が反転した反転クロックパルスとなる。クロックパルスCLKは常時的に発振され続けている矩形波信号である。ExORゲート6から出力される制御信号S1 は、“L”レベルの状態でクロックパルスCLKを通過させるクロック通過許可信号S1 として機能する。 This "L" level control signal S1 and the clock pulse CLK are input to the NOR gate 7 , and the output control signal S2 is "H"/"L" in timing with respect to the clock pulse CLK. It becomes an inverted inverted clock pulse. The clock pulse CLK is a rectangular wave signal that continues to oscillate all the time. The control signal S1 output from the ExOR gate 6 functions as a clock passage permission signal S1 that allows the clock pulse CLK to pass in the "L" level state.
反転クロックパルスである制御信号S2 はNANDゲート8の1入力となる。NANDゲート8の他の1入力はDフリップフロップ12のQ1反転出力端子から出力される制御信号S6 であり、この制御信号S6 は“H”レベルである。NANDゲート8は一方の入力が“H”レベルに維持されている状態では、他方の入力の論理レベル(“H”,“L”)を反転した論理レベル(“L”,“H”)を出力する。したがって、NANDゲート8からタイマーカウンタ11に対して入力される制御信号S3 は、クロックパルスCLKに同期したクロック制御信号となる。このクロックパルスS3 をCLK端子に入力したはタイマーカウンタ11においては、計数動作が開始される。
The control signal S 2 , which is an inverted clock pulse, becomes one input of the NAND gate 8 . Another input of the NAND gate 8 is the control signal S6 output from the Q1 inverted output terminal of the D flip-flop 12 , and this control signal S6 is at "H" level. When one of the inputs of the NAND gate 8 is maintained at "H" level, the NAND gate 8 outputs logic levels ("L", "H") obtained by inverting the logic levels ("H", "L") of the other input. Output. Therefore, the control signal S3 input from the NAND gate 8 to the
第2の単安定マルチバイブレータ5においては、Q2出力端子から出力される制御信号SN2は、Q1反転出力端子から出力されるワンショットパルスの制御信号SN1の立ち上がりタイミングを検出する信号で、単発パルスとしてイベント時刻t31に生成されるように構成されている。この単発パルスの制御信号SN2は、タイマーカウンタ11に対するリセット信号の機能を有している。
In the second
イベント時刻t31において、制御信号SN1の立ち上がりに同期した制御信号SN2の単発パルスの立ち上がりによって、ORゲート10からタイマーカウンタ11のRESET端子に入力される単発パルスのリセット制御信号S8 が立ち上がり、タイマーカウンタ11のカウント動作がゼロクリアされる。このイベント時刻t31でのタイマーカウンタ11のゼロクリアと計数開始とが同期しているので、カウントは「0」からのリスタートとなる。しかし、タイマーカウンタ11においては、規定の基準計数値N0 は大きめの数値を設定されており、イベント時刻t31~t32の期間内ではタイマーカウンタ11は基準計数値N0 までカウントアップ(プリセット値到達)することはなく、そのQ4出力端子からはカウントアップ信号S4 として“H”レベルを出力することはない。したがって、発光ダイオード13は消灯状態を保持する。
At the event time t31 , the single-pulse reset control signal S8 input from the OR gate 10 to the RESET terminal of the timer counter 11 rises due to the rise of the single pulse of the control signal S N2 synchronized with the rise of the control signal S N1 . , the count operation of the
(3)イベント時刻t32~t34での動作
イベント時刻t32において、NANDゲート8のクロックパルスS3 は“H”レベルに立ち上がり、固定化される。すなわち、タイマーカウンタ11によるカウント動作は停止し、カウントアップ(プリセット値到達)となる。
(3) Operation at Event Times t 32 to t 34 At event time t 32 , the clock pulse S 3 of the NAND gate 8 rises to "H" level and is fixed. That is, the
次のイベント時刻は第1の単安定マルチバイブレータ4の比較的長い第1の判定期間Tlongがタイムアップした時刻t33である。このイベント時刻t33においては、第1の単安定マルチバイブレータ4から出力されるワンショットパルスの制御信号SM1が“H”レベルから“L”レベルへ立ち下がる(比較的長い第1の判定期間Tlongの終了)。一方、第2の単安定マルチバイブレータ5から出力されるワンショットパルスの制御信号SN1は“H”レベルを維持しているので、ExORゲート6から出力される制御信号S1 は“L”レベルから“H”レベルへ立ち上がる。NORゲート7から出力される制御信号S2 は“L”レベルである。NANDゲート8の2入力(S2 ,S6 )が“L”,“H”となるので、NANDゲート8から出力されるクロックパルスS3 はパルス変化を規制され、一定振幅の“H”レベルの直流状態へ移行する。
The next event time is time t 33 when the relatively long first determination period T long of the first
一方、イベント時刻t33においては、第1の単安定マルチバイブレータ4のQ1出力端子から出力されるワンショットパルスの制御信号SM1が“L”レベルに立ち下がるのに同期してQ2反転出力端子から出力される制御信号SM2が単発パルスの状態で“H”レベルから“L”レベルに立ち下がり、直後のイベント時刻t34で再び“H”レベルに立ち上がる。
On the other hand, at the event time t33 , in synchronism with the fall of the one-shot pulse control signal S M1 output from the Q1 output terminal of the first
この単発パルスの“L”レベルとなる矩形波信号の制御信号SM2が負論理入力のORゲート9に入力され、他の1入力の制御信号S6 が“H”レベルであるため、負論理入力のORゲート9から出力される制御信号S7 は単発パルスの状態で“H”レベルに立ち上がる矩形波信号となる。このときORゲート10に対して第2の単安定マルチバイブレータ5から入力される制御信号SN2は“L”レベルであるので、ORゲート10から出力される制御信号S8 は単発パルスの“H”レベルの制御信号S7 と同期したものとなる。すなわち、リセット制御信号S8 がタイマーカウンタ11のRESET端子に入力される。この2つの制御信号S7 ,S8 の単発パルスの存在期間は時刻t33~t34である。
The control signal S M2 of a rectangular wave signal that becomes the "L" level of this single pulse is input to the negative logic input OR gate 9 , and the control signal S6 of the other one input is at the "H" level. The control signal S7 output from the input OR gate 9 is a rectangular wave signal that rises to "H" level in a single pulse state. At this time, since the control signal S N2 input from the second
すなわち、タイマーカウンタ11は、その基準計数値N0 に達する以前の段階でゼロクリアされてしまい、したがって、タイマーカウンタ11のQ4出力端子から“H”レベルのカウントアップ信号S4 が出力されることはなく、Dフリップフロップ12の状態も変化しない。つまり、Dフリップフロップ12のQ1出力端子から出力される点灯制御信号S5 は“L”レベルのままであり、発光ダイオード13は消灯状態を保つ。Dフリップフロップ12のQ1反転出力端子から出力される制御信号S6 は“H”レベルを保つ。
That is, the
以上詳述したように、この第3のモードでは、自己保持型のスイッチング素子1のゲート端子に対してターンオンさせるためのゲート信号SG が印加され、電流検出回路3がスイッチング素子1の通電状態を所期通り正確に検出する動作態様となり、この応動作用は目的とする動作内容と期待する結果の動作内容とが整合性を有し、矛盾がないものであり、そのことが発光ダイオード13の消灯状態継続となって現れている。すなわち、発光ダイオード13の非点灯をもって、電源装置の異常検出システムの正常状態をそのまま所望の通り適正に報知することになる。
As described in detail above, in the third mode, the gate signal S G for turning on the gate terminal of the self-holding
本発明は、電源装置の異常検出システムに関して、構成の簡単化とともに、異常検出の信頼性を向上させる技術として有用である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is useful as a technique for simplifying the configuration of an abnormality detection system for a power supply and improving the reliability of abnormality detection.
E1 異常検出部
E2 タイマーカウンタ
E3 異常報知器
SG ゲート信号
ST 通電信号
Tlong 比較的長い第1の判定期間
Tshort 比較的短い第2の判定期間
Twindow 計数許可期間
1 サイリスタなどの自己保持型のスイッチング素子
4 第1の単安定マルチバイブレータ
5 第2の単安定マルチバイブレータ
6 ExORゲート
7 NORゲート
8 NANDゲート
9 負論理入力のORゲート
10 ORゲート
11 タイマーカウンタ
12 Dフリップフロップ
13 発光ダイオード(LED)
14 故障復帰用スイッチ
20 電源ライン
E1 Abnormality detector E2 Timer counter E3 Abnormality alarm S G gate signal S T energization signal T long first judgment period relatively long T short second judgment period relatively short T window counting
14
Claims (3)
前記異常検出部は少なくとも前記ゲート信号が入力されない状態で前記通電信号が入力される第1のモード、前記ゲート信号が入力される状態で前記通電信号が入力されない第2のモードおよび前記ゲート信号が入力される状態で前記通電信号も入力される第3のモードにおける状態判定が可能に構成され、
前記タイマーカウンタは、入力されるクロックの計数値が異常検出のための基準計数値に達したときに異常検出信号を送出するように構成され、
前記異常検出部は、前記異常検出のための基準計数値に対応する基準時間よりも長い第1の判定期間と、前記第1の判定期間よりも短い第2の判定期間と、前記第2の判定期間の終了時点から前記第1の判定期間の終了時点までの期間である計数許可期間を設定し、
前記第1のモードになると、前記第1および第2の判定期間および前記計数許可期間にかかわらず前記タイマーカウンタによる計数動作を開始させ、前記タイマーカウンタは、クロックの計数値が前記異常検出のための基準計数値に達したときに前記異常検出信号を送出するように構成され、
前記第2のモードになると、前記タイマーカウンタによる計数動作を開始させ、前記タイマーカウンタは、前記第1の判定期間の終了前にクロックの計数値が前記異常検出のための基準計数値に達したときに前記異常検出信号を送出するように構成され、
前記第3のモードになると、前記第2の判定期間の終了時点から前記タイマーカウンタによる計数動作を開始させ、前記タイマーカウンタは、前記第2の判定期間の終了時点から前記第1の判定期間の終了時点までの期間で表される計数許可期間におけるによるクロックの計数値が前記異常検出のための基準計数値に達しないときには前記異常検出信号の送出は実行しないように構成されている電源装置の異常検出システム。 When a gate signal is input to the gate terminal, it turns on and current flows through the power supply line. Even if the gate signal is no longer input, the current continues to flow, and when the current level drops below the reference level, it turns off. A switching element, an abnormality detection section, and a timer counter are provided. The abnormality detection section receives an energization signal indicating a state in which current is flowing through the power supply line via the switching element, and determines whether or not the energization signal is present. An abnormality detection system for a power supply device configured to control the timer counter according to
The abnormality detection section has at least a first mode in which the energization signal is input while the gate signal is not input, a second mode in which the energization signal is not input while the gate signal is input, and a gate signal. It is configured to enable state determination in a third mode in which the energization signal is also input in the input state,
The timer counter is configured to send out an abnormality detection signal when the count value of the input clock reaches a reference count value for abnormality detection,
The abnormality detection unit includes a first determination period that is longer than a reference time corresponding to a reference count value for detecting an abnormality, a second determination period that is shorter than the first determination period, and a second determination period that is shorter than the first determination period. setting a counting permission period that is a period from the end of the determination period to the end of the first determination period;
When the first mode is entered, regardless of the first and second determination periods and the counting permission period, the timer counter starts a counting operation, and the timer counter has a count value of the clock for the abnormality detection. configured to send out the abnormality detection signal when the reference count value of
When the second mode is entered, the counting operation of the timer counter is started, and the count value of the clock of the timer counter reaches the reference count value for the abnormality detection before the end of the first determination period. When configured to send the abnormality detection signal,
When the third mode is entered, the counting operation of the timer counter is started from the end of the second determination period, and the timer counter starts the first determination period from the end of the second determination period. A power supply device configured not to transmit the abnormality detection signal when the count value of the clock does not reach the reference count value for the abnormality detection during the counting permission period represented by the period until the end point. Anomaly detection system.
前記タイマーカウンタは、前記異常報知器に対し前記異常検出信号を送出することを特徴とする請求項1に記載の電源装置の異常検出システム。 further comprising an anomaly annunciator that notifies an anomaly when the anomaly detection signal is input;
2. The power supply abnormality detection system according to claim 1, wherein said timer counter sends said abnormality detection signal to said abnormality alarm device.
前記第1の単安定マルチバイブレータは前記第1の判定期間を設定し、
前記第2の単安定マルチバイブレータは前記第2の判定期間を設定し、
前記ExORゲートは前記第1の単安定マルチバイブレータによる前記第1の判定期間と前記第2の単安定マルチバイブレータによる前記第2の判定期間との差分の前記計数許可期間を設定し、
前記NORゲートは前記ExORゲートの出力とクロックパルスとを入力として前記計数許可期間において前記クロックパルスを通過させ、
前記NANDゲートは前記第1の単安定マルチバイブレータによる前記第1の判定期間内での前記NORゲートによるクロックパルスの通過数と、前記計数許可期間内での前記NORゲートによるクロックパルスの通過数とに真偽を区別する論理を付与して、前記タイマーカウンタに送出するように構成されている請求項1または請求項2に記載の電源装置の異常検出システム。 The abnormality detection unit includes a first monostable multivibrator, a second monostable multivibrator, an ExOR gate, a NOR gate, and a NAND gate,
The first monostable multivibrator sets the first determination period,
the second monostable multivibrator sets the second determination period;
the ExOR gate sets the counting permitted period for the difference between the first determination period by the first monostable multivibrator and the second determination period by the second monostable multivibrator;
the NOR gate receives the output of the ExOR gate and a clock pulse as inputs and allows the clock pulse to pass through during the counting permission period;
The NAND gate determines the number of clock pulses passed by the NOR gate within the first determination period of the first monostable multivibrator and the number of clock pulses passed by the NOR gate within the counting permission period. 3. The abnormality detection system for a power supply device according to claim 1, wherein a logic for discriminating between truth and falsehood is added to and sent to said timer counter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021053093A JP7496659B2 (en) | 2021-03-26 | 2021-03-26 | Power supply abnormality detection system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021053093A JP7496659B2 (en) | 2021-03-26 | 2021-03-26 | Power supply abnormality detection system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022150475A true JP2022150475A (en) | 2022-10-07 |
JP7496659B2 JP7496659B2 (en) | 2024-06-07 |
Family
ID=83464172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021053093A Active JP7496659B2 (en) | 2021-03-26 | 2021-03-26 | Power supply abnormality detection system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7496659B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115864295A (en) * | 2022-11-28 | 2023-03-28 | 富满微电子集团股份有限公司 | Method, circuit and chip for judging abnormal protection |
CN117650492A (en) * | 2024-01-29 | 2024-03-05 | 天津圣亚特科技发展有限公司 | Intelligent electric leakage control system based on thyristor fault feedback |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000092710A (en) | 1998-09-07 | 2000-03-31 | Nissin Electric Co Ltd | Power equipment |
-
2021
- 2021-03-26 JP JP2021053093A patent/JP7496659B2/en active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115864295A (en) * | 2022-11-28 | 2023-03-28 | 富满微电子集团股份有限公司 | Method, circuit and chip for judging abnormal protection |
CN117650492A (en) * | 2024-01-29 | 2024-03-05 | 天津圣亚特科技发展有限公司 | Intelligent electric leakage control system based on thyristor fault feedback |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7496659B2 (en) | 2024-06-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2022150475A (en) | Abnormality detection system of power supply device | |
EP2002272B1 (en) | Apparatus and method for providing a clock signal | |
US8325451B2 (en) | Power switching circuit | |
US5828243A (en) | Method for detecting clock failure and switching to backup clock | |
US7239187B2 (en) | Reset circuit and digital communication apparatus | |
JP5198062B2 (en) | System and method for detecting power failure conditions | |
TWI627809B (en) | Electrostatic discharge protection circuit | |
US7016993B2 (en) | I2C MUX with anti-lock device | |
EP1237282B1 (en) | Circuit for the detection of clock signal period abnormalities | |
US7738621B2 (en) | Counter with overflow prevention capability | |
US5057683A (en) | Error preventive circuit for a photoelectric switch | |
CN109729235B (en) | Clock backup circuit in video processor and video processor | |
US10530366B1 (en) | Low voltage differential signaling fault detector | |
US4564774A (en) | Binary logic device having input and output alternating signals | |
WO1997014044A1 (en) | Counter and a revolution stop detection apparatus using the counter | |
JP2001227493A (en) | Fan control circuit | |
JP2604644B2 (en) | External master clock abnormality detection circuit of clock device | |
JP4699707B2 (en) | Fire alarm system | |
US20230027878A1 (en) | Fault recovery system for functional circuits | |
SU1257776A1 (en) | D.c.voltage converter | |
CN117424301A (en) | Battery protection circuit, chip and system | |
SU1201860A1 (en) | Device for reception of information | |
JP2024044801A (en) | Microcontrollers and Electronic Circuits | |
JPWO2021199622A5 (en) | ||
JPH051827Y2 (en) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230907 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240509 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240521 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240523 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7496659 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |