JP2022102688A - 高周波電源システム - Google Patents
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Abstract
Description
本開示はこのような状況に鑑み、IMDによる反射波Pr(反射係数と同義)の増加を抑える処理を簡略化する技術を提案する。
本明細書の記述は典型的な例示に過ぎず、特許請求の範囲又は適用例を如何なる意味においても限定するものではないことを理解する必要がある。
図1は、本実施形態による電源供給システム(高周波電源システムとも言う)1にプラズマ負荷40を接続した状態を示す図である。電源供給システム1は、ソース電源(高周波出力を供給)10と、バイアス電源(低周波出力を供給)20と、ソース電源10およびバイアス電源20のそれぞれから出力が供給され、ソース電源10およびバイアス電源20側とプラズマ負荷40側とのインピーダンス整合を取る整合器(インピーダンス変換装置ともいう)30と、を備え、ソース電源10から出力する進行波(ソース電力)とバイアス電源20から出力する進行波(バイアス電力)とを、例えば重畳してプラズマ負荷40に供給するシステムである。
図2は、本実施形態によるソース電源10の内部構成例を示す図である。図2に示されるように、ソース電源10は、トリガ信号生成部201と、周波数変調量・開始位相コントローラ202と、FM変調基本波形テーブル203と、開始位相設定部204と、変調量ゲイン設定部205と、変調テーブル更新部206と、基本波生成部207と、加算部(変調部)208と、DDS(Digital Direct Synthesizer)209と、増幅器210と、検出器211と、広帯域検出部212と、平均化処理部213と、振幅設定コントローラ216と、電力設定部214と、減算部215と、を備える。
図3Aおよび図3Bは、本実施形態による、ソース電源10内の整合処理を説明するためのフローチャートである。
周波数変調量・開始位相コントローラ202は、トリガ信号生成部201からトリガ信号(バイアス電源20の動作周波数(400kHz)と同一の信号:タイミング信号)を受け取り、開始位相設定部204に開始位相(初期値)の設定を指示する。当該指示に応答して、開始位相設定部204は、FM変調基本波形テーブル203から基本波形(例えば、40.68MHz±1.2MHzの範囲内の波形を400kHzの周波数で変調した波形)を読み込み、任意の開始位相(初期値)を設定し、当該開始位相を反映した基本波形を変調量ゲイン設定部205に出力する。
周波数変調量・開始位相コントローラ202から変調量ゲイン設定の指示を受け、開始位相設定部204から開始位相を反映した基本波形を受け取ると、変調量ゲイン設定部は、任意の変調量ゲイン(初期値)を設定し、当該変調量ゲインを反映した基本波形を変調テーブル更新部206に出力する。
検出器211は、変調量ゲイン(初期値)および開始位相(初期値)で変調し、増幅することによって得られた高周波出力(進行波Pf:増幅器210の出力)を検出すると共に、プラズマ負荷40側からの反射波Prを検出し、それらを広帯域検出部212に出力する。そして、広帯域検出部212は、所定検出回数分の(あるいは所定期間で検出された)進行波Pfおよび反射波Prを検出し、平均化処理部213で移動平均値を算出する。
周波数変調量・開始位相コントローラ202は、開始位相を前回の値から所定値分(変更ステップ量は予め決められている)変更する。このとき、変調量ゲインは前回と同一値に固定し、変調テーブル更新部206は、開始位相が変更された基本波を加算部(変調部)208に出力する。加算部(変調部)208は、変調テーブル更新部206から出力された基本波(開始位相が変更されたもの)を、基本波生成部207から出力された基本波に反映してFM変調を実行し、DDS209に出力する。
検出器211は、変調量ゲイン(初期値)および変更された開始位相で基本波を変調し、増幅することによって得られた高周波出力(進行波Pf:増幅器210の出力)を検出すると共に、プラズマ負荷40側からの反射波Prを検出し、それらを広帯域検出部212に出力する。そして、広帯域検出部212は、所定検出回数分の(あるいは所定期間で検出された)進行波Pfおよび反射波Prを検出し、平均化処理部213で移動平均値を算出する。
周波数変調量・開始位相コントローラ202は、ステップ304および305を繰り返し実行することによって得られた複数の反射波Prの中から最小の反射波Prを抽出し、それに対応する開始位相の値を取得する。そして、周波数変調量・開始位相コントローラ202は、以後の処理において、開始位相を上記取得した値に固定する。
なお、上記では複数の反射波Prの中から最小の反射波Prを抽出し、それに対応する開始位相の値を取得したが、これに限定されない。例えば、反射係数Γを用いてもよい。この場合は、進行波Pf及び反射波Prの情報に基づいて反射係数Γを算出し、ステップ304および305を繰り返し実行することによって得られた複数の反射係数の中から最小の反射係数を抽出し、それに対応する開始位相の値を取得すればよい。
Γ=√(Pr/Pf) ・・・・・ (1)
また、反射係数は、進行波電圧と反射波電圧とに基づいて算出してもよいし、他の方式で算出してもよい。検出器211は、所望の情報が検出できるものであればよい。
周波数変調量・開始位相コントローラ202は、変調量ゲインを前回の値から所定値分(変更ステップ量は予め決められている)変更する。このとき、開始位相の値は、ステップ306で決定された値に固定される。変調テーブル更新部206は、開始位相が固定値で変調量ゲインが変更された基本波を加算部(変調部)208に出力する。加算部(変調部)208は、変調テーブル更新部206から出力された基本波(開始位相が固定、変調量ゲインが変更されたもの)を、基本波生成部207から出力された基本波に反映してFM変調を実行し、DDS209に出力する。
検出器211は、固定された開始位相および変更された変調量ゲインで基本波を変調し、増幅することによって得られた高周波出力(進行波Pf:増幅器210の出力)を検出すると共に、整合器30からの反射波Prを検出し、それらを広帯域検出部212に出力する。そして、広帯域検出部212は、所定検出回数分の(あるいは所定期間で検出された)進行波Pfおよび反射波Prを検出し、平均化処理部213で移動平均値を算出する。
周波数変調量・開始位相コントローラ202は、ステップ307および308を繰り返し実行することによって得られた複数の反射波Prの中から最小の反射波Prを抽出し、それに対応する変調量ゲインの値を取得する。そして、周波数変調量・開始位相コントローラ202は、ステップ306で得られた開始位相と当該ステップで得た変調量ゲインを以後の変調動作を行う(整合完了)。
なお、上記では複数の反射波Prの中から最小の反射波Prを抽出し、それに対応する開始位相の値を取得したが、これに限定されない。例えば、ステップ306と同様に反射係数を用いてもよい。この場合は、ステップ306で説明したように、周波数変調量・開始位相コントローラ202において進行波Pfの情報は不要である。
図4は、変調動作開始から整合完了までの進行波Pfおよび反射波Prの変化の様子を示す図である。図4(a)は、変調動作開始時の進行波Pfおよび反射波Prと、変調設定条件(変調開始位相をスイープ)とを示している。図4(b)は、反射波Prが最小となる変調開始位相の値に固定したときの進行波Pfおよび反射波Prと、変調設定条件(変調量ゲインをスイープ)とを示している。図4(c)は、整合完了時の進行波Pfおよび反射波Prと、整合完了後の変調開始位相の値と変調量ゲインの値を示している。
(i)本実施形態によれば、ソース電源10において、周波数変調量・開始位相コントローラ202は、バイアス電源の動作周波数(第1周波数:400kHz)と同一の周波数を有し、FM変調のタイミング信号となるトリガ信号に応答して、変調開始位相および変調量ゲインをそれぞれ変化させながら反射波を検出し、当該反射波が最小となる最適変調開始位相および最適変調量ゲインを決定する。このようにすることにより、変調開始位相と変調量ゲインの値を制御するだけで整合動作が完了するので、整合動作における処理数を劇的に削減することが可能となる。
10 ソース(HF)電源
20 バイアス電源
30 整合器
40 プラズマ負荷
201 トリガ信号生成部
202 周波数変調量・開始位相コントローラ
203 FM変調基本波形テーブル
204 開始位相設定部
205 変調量ゲイン設定部
206 変調テーブル更新部
207 基本波生成部
208 加算部(変調部)
209 DDS
210 増幅器
211 検出器
212 広帯域検出部
213 平均化処理部
214 電力設定部
215 減算部
216 振幅設定コントローラ
Claims (5)
- 接続される負荷に対して高周波電力を提供する、高周波電源システムであって、
第1周波数でバイアス電力を供給するバイアス電源と、
前記第1周波数よりも高い第2周波数の高周波出力であって、前記第1周波数で周波数変調された高周波出力を供給するソース電源と、
前記バイアス電力と前記周波数変調された高周波出力とを取得し、前記ソース電源側のインピーダンスと前記負荷側のインピーダンスとの整合を取るインピーダンス整合回路を含む整合器と、を備え、
前記ソース電源は、前記第1周波数と同一の周波数を有し、タイミングを取るためのトリガ信号に応答して、変調開始位相および変調量ゲインをそれぞれ変化させながら反射波を検出し、当該反射波が最小となる最適変調開始位相および最適変調量ゲインを決定する、高周波電源システム。 - 請求項1において、
前記ソース電源は、
前記変調量ゲインを任意の値に固定した状態で前記変調開始位相をスイープしながら前記反射波を検出し、当該反射波が最小となる前記最適変調開始位相を決定し、
前記変調開始位相を前記最適変調開始位相に固定した状態で前記変調量ゲインをスイープしながら前記反射波を検出し、当該反射波が最小となる前記最適変調量ゲインを決定する、高周波電源システム。 - 請求項1または2において、
前記ソース電源は、進行波および反射波を検出し、当該検出した進行波および反射波の移動平均値を算出し、当該反射波の移動平均値が最小となる前記最適変調開始位相および前記最適変調量ゲインを決定する、高周波電源システム。 - 請求項1から3の何れか1項において、
前記ソース電源は、前記トリガ信号を発生するトリガ信号生成部を備える、高周波電源システム。 - 請求項1から4の何れか1項において、
前記ソース電源は、前記第1周波数の変調テーブルを有し、当該変調テーブルから読み出した波形の変調開始位相および変調量ゲインを前記最適変調開始位相および前記最適変調量ゲインに変更し、これを前記第2周波数の基本波形に適用して周波数変調を行う、高周波電源システム。
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