JP2022064487A - Probe device - Google Patents

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Abstract

To provide a probe device that does not require screw tightening with the terminal of a test object.SOLUTION: A probe device 10 brings an end face 48 of an electroconductive probe 40 into contact with a test terminal (electric power terminal) 81 provided inside of an insertion opening 93 of a test object (three-phase motor) 80 and inspects the electrical characteristic of the test object 80. A guide 14, while supporting the probe 40, guides the position of the probe 40 along the inner wall of the insertion opening 93 when inserted into the insertion opening 93 of the test object 80. A clamping claw 27 is connected to the guide 14 and, while the end face of the probe 40 is in contact with a test terminal 81, removably engages with a part 96 to be clamped, which is formed on the test terminal 81 of the test object 80 on the side opposite an opening end 92 of the insertion opening 93. A snap lock 30 fixes a clamping claw 27 in position while the clamping claw 27 is engaged with the part to be clamped (rear wall) 96 of the test object 80.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、プローブ装置に関する。 The present invention relates to a probe device.

従来、被検査体の端子にプローブを接触させた状態で通電し、被検査体の電気的特性を検査するプローブ装置が知られている。例えば特許文献１に開示されたプローブ装置は、導電性のプローブ本体と、プローブ本体の軸線方向の移動を制限する移動制限部を有する支持部材と、弾性部材とを備えている。 Conventionally, there is known a probe device that inspects the electrical characteristics of an inspected object by energizing the inspected object in a state where the probe is in contact with the terminal of the inspected object. For example, the probe device disclosed in Patent Document 1 includes a conductive probe main body, a support member having a movement limiting portion for limiting the movement of the probe main body in the axial direction, and an elastic member.

特開２０１１－２０２９６２号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-202962

特許文献１の段落［０００８］には、被検査体の端子とプローブ装置とをねじ等で締め付ける方式のものでは、ねじの締め付け時間が必要で生産性が悪くなることが記載されている。例えば被検査体の端子が３相モータのＵＶＷ各相の電力端子である場合、三箇所のねじ接続及び取り外しに時間がかかる。また、例えばモータを搭載物に取り付けるためのねじ部を使用する場合、プローブ装置の取り付けによりねじ部を壊していないかを検査する工程が必要になる。 In paragraph [0008] of Patent Document 1, it is described that the method of tightening the terminal of the object to be inspected and the probe device with a screw or the like requires a screw tightening time and the productivity is deteriorated. For example, when the terminal of the object to be inspected is the power terminal of each phase of UVW of the three-phase motor, it takes time to connect and disconnect the screws at three places. Further, for example, when a threaded portion for attaching the motor to the mounted object is used, a step of inspecting whether the threaded portion is broken by attaching the probe device is required.

本発明はこのような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、被検査体の端子とのねじ締めを必要としないプローブ装置を提供することにある。 The present invention has been created in view of these points, and an object of the present invention is to provide a probe device that does not require screw tightening with a terminal of an object to be inspected.

本発明のプローブ装置は、被検査体（８０）の挿入口（９３）の内部に設けられた被検査端子（８１）に導電性のプローブ（４０）の端面（４８）を接触させ、被検査体の電気的特性を検査する。このプローブ装置は、一つ以上のプローブと、ガイド（１４）と、クランプ爪（２７）と、スナップロック（３０）と、を備える。 In the probe device of the present invention, the end face (48) of the conductive probe (40) is brought into contact with the terminal (81) to be inspected inside the insertion port (93) of the object to be inspected (80) to be inspected. Examine the electrical properties of the body. The probe device comprises one or more probes, a guide (14), a clamp claw (27), and a snap lock (30).

ガイドは、プローブを支持しつつ、被検査体の挿入口に挿入されたとき挿入口の内壁に沿ってプローブの位置を案内する。ガイドと連結されたクランプ爪は、プローブの端面が被検査端子に接触した状態で、被検査体において被検査端子に対し挿入口の開口端（９２）とは反対側に形成された被クランプ部（９６）に脱着可能に係止される。スナップロックは、クランプ爪が被検査体の被クランプ部に係止した状態でクランプ爪を固定する。 The guide, while supporting the probe, guides the position of the probe along the inner wall of the insertion slot when inserted into the insertion slot of the subject to be inspected. The clamp claw connected to the guide is a clamped portion formed on the side opposite to the opening end (92) of the insertion port with respect to the terminal to be inspected in the state where the end face of the probe is in contact with the terminal to be inspected. It is detachably locked to (96). The snap lock fixes the clamp claw in a state where the clamp claw is locked to the clamped portion of the object to be inspected.

本発明のプローブ装置は、被検査体の端子とのねじ締めを必要とせず、ガイド、クランプ爪及びスナップロックを用いた簡単な構造で被検査体に脱着可能である。したがって、作業時間を短縮することができる。また、従来技術のように被検査体のねじ部を使用しないため、ねじ部を検査する工程が不要となる。 The probe device of the present invention does not require screw tightening with the terminal of the object to be inspected, and can be attached to and detached from the object to be inspected with a simple structure using a guide, a clamp claw and a snap lock. Therefore, the working time can be shortened. Further, unlike the conventional technique, the threaded portion of the object to be inspected is not used, so that the step of inspecting the threaded portion becomes unnecessary.

特に３相モータのように複数の被検査端子を有する被検査体に適用される場合、本発明のプローブ装置は、複数の被検査端子にそれぞれ接触可能な複数のプローブが平行に配置されていることが好ましい。これにより、一回のクランプ爪の脱着で複数箇所のねじ締めを不要とすることができるため、上記の効果がより顕著となる。 In particular, when applied to an object to be inspected having a plurality of terminals to be inspected such as a three-phase motor, in the probe device of the present invention, a plurality of probes that can each contact the plurality of terminals to be inspected are arranged in parallel. Is preferable. As a result, it is possible to eliminate the need for screw tightening at a plurality of locations by attaching and detaching the clamp claw once, so that the above effect becomes more remarkable.

一実施形態によるプローブ装置をプローブ先端側から視た斜視図。A perspective view of the probe device according to the embodiment as viewed from the probe tip side. 一実施形態によるプローブ装置をプローブ基端側から視た断面斜視図。A cross-sectional perspective view of the probe device according to one embodiment as viewed from the probe base end side. 一実施形態によるプローブ装置の側面図。A side view of a probe device according to an embodiment. プローブ先端部の好ましい構成例を示す詳細構成図。A detailed configuration diagram showing a preferable configuration example of the probe tip. プローブ装置のガイドを被検査体の挿入口に挿入する作業を説明する図。The figure explaining the work of inserting the guide of a probe device into the insertion opening of an inspected object. スナップロックのレバーを下ろし、クランプ爪を被検査体に係止させる作業を説明する図。The figure explaining the work of lowering the lever of the snap lock and locking the clamp claw to the inspected object.

（一実施形態）
以下、本発明の一実施形態によるプローブ装置を図面に基づいて説明する。本実施形態のプローブ装置は、被検査体としての３相モータに設けられたＵＶＷ各相の電力端子にプローブを接触させることで、３相モータの電気的特性を検査する。 (One embodiment)
Hereinafter, a probe device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The probe device of the present embodiment inspects the electrical characteristics of the three-phase motor by bringing the probe into contact with the power terminals of each UVW phase provided in the three-phase motor as the object to be inspected.

図１～図３を参照し、プローブ装置１０の全体構成について説明する。図２、図３において破線ハッチング部分は、被検査体である３相モータ８０のモータケース９０を示す。モータケース９０は、図１、図２の紙面上側を天側、下側を地側として検査治具にセットされる。以下の説明では、便宜上、モータケース９０の設置状態を基準として上、下、横等の方向を記載する場合がある。図３は、後述する作用の説明でも参照される。 The overall configuration of the probe device 10 will be described with reference to FIGS. 1 to 3. In FIGS. 2 and 3, the broken line hatched portion indicates the motor case 90 of the three-phase motor 80 to be inspected. The motor case 90 is set in the inspection jig with the upper side of the paper surface of FIGS. 1 and 2 as the top side and the lower side as the ground side. In the following description, for convenience, the directions such as up, down, and sideways may be described with reference to the installation state of the motor case 90. FIG. 3 is also referred to in the description of the action described later.

モータケース９０の上部には、側方に向かって開口する挿入口９３が形成されている。挿入口９３の内部には、端子埋込壁９８に埋め込まれた金属製の電力端子８１が設けられている。電力端子８１の面は、挿入口９３の開口端９２に対しほぼ平行に位置している。図２、図３には一つの電力端子８１しか図示されていないが、実際にはＵＶＷ相の三つの電力端子が横一列に配置されている。各相の電力端子を介して外部のインバータから３相モータ８０の巻線に３相電力が供給される。 An insertion port 93 that opens laterally is formed on the upper portion of the motor case 90. Inside the insertion slot 93, a metal power terminal 81 embedded in the terminal embedding wall 98 is provided. The surface of the power terminal 81 is located substantially parallel to the opening end 92 of the insertion slot 93. Although only one power terminal 81 is shown in FIGS. 2 and 3, in reality, three power terminals of the UVW phase are arranged in a horizontal row. Three-phase power is supplied to the windings of the three-phase motor 80 from an external inverter via the power terminals of each phase.

プローブ装置１０は、挿入口９３の開口端９２と直交する方向から導電性のプローブ４０の端面４８を電力端子８１に接触させることにより、巻線抵抗等の電気的特性を検査する。以下の明細書中では３相モータ８０における機能よりも検査段階での役割に着目し、電力端子８１を「被検査端子８１」と記す。また、３相モータ８０を「被検査体８０」と記す。 The probe device 10 inspects electrical characteristics such as winding resistance by bringing the end surface 48 of the conductive probe 40 into contact with the power terminal 81 from a direction orthogonal to the opening end 92 of the insertion port 93. In the following specification, focusing on the role in the inspection stage rather than the function in the three-phase motor 80, the power terminal 81 is referred to as "inspected terminal 81". Further, the three-phase motor 80 is referred to as "inspected body 80".

モータケース９０の開口端９２側から視て挿入口９３の裏側、すなわち被検査端子８１に対し開口端９２とは反対側には、開口端９２と略平行な方向に凹溝９４が形成されている。凹溝９４の開口端９２側に立ち上がる背壁９６は、後述する「被クランプ部」として機能する。挿入口９３の上方を覆う延伸壁９１は、開口端９２の上部から背壁９６に向かって水平方向に延伸し、角部において傾斜壁９５を経て背壁９６に接続している。 A concave groove 94 is formed in a direction substantially parallel to the opening end 92 on the back side of the insertion port 93 when viewed from the opening end 92 side of the motor case 90, that is, on the side opposite to the opening end 92 with respect to the terminal to be inspected 81. There is. The back wall 96 rising toward the opening end 92 of the concave groove 94 functions as a “clamped portion” described later. The extending wall 91 covering the upper part of the insertion opening 93 extends horizontally from the upper part of the opening end 92 toward the back wall 96, and is connected to the back wall 96 via the inclined wall 95 at the corner portion.

プローブ装置１０は、横一列に平行に配置された三つのプローブ４０が被検査体８０の挿入口９３に挿入され、各プローブ４０の端面４８が三つの被検査端子８１に接触するように構成されている。そのためにプローブ装置１０は、プローブ４０の他、ベース１１、ガイド１４、クランプアーム２１、クランプ爪２７、スナップロック３０等を備える。 The probe device 10 is configured such that three probes 40 arranged in parallel in a horizontal row are inserted into the insertion port 93 of the inspected body 80, and the end surface 48 of each probe 40 comes into contact with the three inspected terminals 81. ing. Therefore, the probe device 10 includes a base 11, a guide 14, a clamp arm 21, a clamp claw 27, a snap lock 30, and the like, in addition to the probe 40.

プローブ４０は、筒状のプローブ本体４１と、プローブ本体４１の先端側に形成されたプローブヘッド４７とを有する。プローブ４０は、プローブ本体４１の内部にスプリングが挿入された周知のスプリング式プローブであり、バネ力によって端面４８が被検査端子８１に押し付けられる。なお、本実施形態に特有のプローブ先端部の詳細構成については後述する。 The probe 40 has a tubular probe main body 41 and a probe head 47 formed on the distal end side of the probe main body 41. The probe 40 is a well-known spring-type probe in which a spring is inserted inside the probe main body 41, and the end face 48 is pressed against the terminal to be inspected 81 by the spring force. The detailed configuration of the probe tip portion peculiar to this embodiment will be described later.

ベース１１は、プローブ本体４１の基端部を支持すると共に、スペーサ１３を介してガイド１４を支持している。ガイド１４は、プローブ本体４１の軸方向中央部の周囲において、挿入口９３の形状及び大きさに対応する板状に形成されている。本実施形態の挿入口９３は図５に示すように略長方形であり、ガイド１４は、挿入口９３の上下左右の内壁に嵌合する四辺と、角部を逃がす四辺とからなる八角形の板状に形成されている。ガイド１４は、プローブ４０を直接、或いは、スペーサ１３及びベース１１を介して間接的に支持しつつ、挿入口９３に挿入されたとき挿入口９３の内壁に沿ってプローブ４０の位置を案内する。 The base 11 supports the base end portion of the probe main body 41 and also supports the guide 14 via the spacer 13. The guide 14 is formed in a plate shape corresponding to the shape and size of the insertion port 93 around the central portion in the axial direction of the probe main body 41. As shown in FIG. 5, the insertion port 93 of the present embodiment is substantially rectangular, and the guide 14 is an octagonal plate composed of four sides that fit into the upper, lower, left, and right inner walls of the insertion port 93, and four sides that allow the corners to escape. It is formed in a shape. The guide 14 guides the position of the probe 40 along the inner wall of the insertion slot 93 when inserted into the insertion slot 93 while directly or indirectly supporting the probe 40 via the spacer 13 and the base 11.

本実施形態では、金属製のガイド１４は、プローブ４０間の沿面距離を確保するため、ベース側絶縁板１５及びヘッド側絶縁板１６に挟まれている。ベース側絶縁板１５とベース１１との間にはプローブ出力端子５１が設けられている。プローブ４０が検出した信号は、プローブ出力端子５１に接続された図示しない信号ケーブルを介してコントローラに出力される。ベース１１に取り付けられた配線保持板５２は信号ケーブルを保持する。 In the present embodiment, the metal guide 14 is sandwiched between the base side insulating plate 15 and the head side insulating plate 16 in order to secure the creepage distance between the probes 40. A probe output terminal 51 is provided between the base-side insulating plate 15 and the base 11. The signal detected by the probe 40 is output to the controller via a signal cable (not shown) connected to the probe output terminal 51. The wiring holding plate 52 attached to the base 11 holds the signal cable.

クランプアーム２１は、トルクヒンジ１２を支点として回転可能にベース１１に取り付けられている。図３に示すように、ガイド１４が挿入口９３に挿入され、プローブ４０の端面４８が被検査端子８１に接触した状態で、クランプアーム２１は、二点鎖線で示す準備位置から、実線で示すクランプ位置まで回転可能である。 The clamp arm 21 is rotatably attached to the base 11 with the torque hinge 12 as a fulcrum. As shown in FIG. 3, with the guide 14 inserted into the insertion slot 93 and the end surface 48 of the probe 40 in contact with the terminal to be inspected 81, the clamp arm 21 is shown by a solid line from the preparation position shown by the alternate long and short dash line. It can rotate to the clamp position.

クランプアーム２１の先端には、爪ホルダ２６がクランプアーム２１の延伸方向にスライド可能にボルト２３で取り付けられている。補助ブロック２２は、ボルト２３の先端に設けられたストッパの可動空間を形成する。補助ブロック２２と爪ホルダ２６との間には爪ホルダ２６を外方向に付勢するリリースバネ２５が装着されている。クランプ爪２７が解除されたとき、リリースバネ２５が爪ホルダ２６を背壁９６から離すことで、取り外しやすくなる。また、爪ホルダ２６にはフック２８が設けられている。 A claw holder 26 is attached to the tip of the clamp arm 21 with bolts 23 so as to be slidable in the extending direction of the clamp arm 21. The auxiliary block 22 forms a movable space for a stopper provided at the tip of the bolt 23. A release spring 25 for urging the claw holder 26 outward is mounted between the auxiliary block 22 and the claw holder 26. When the clamp claw 27 is released, the release spring 25 separates the claw holder 26 from the back wall 96, so that it can be easily removed. Further, the claw holder 26 is provided with a hook 28.

クランプ位置における爪ホルダ２６のベース１１側の面には、プローブ４０の端面４８と対向するようにクランプ爪２７が取り付けられている。クランプ爪２７は、クランプアーム２１、ベース１１及びスペーサ１３を介してガイド１４と連結されている。クランプ位置においてクランプ爪２７は、プローブ４０の端面４８が被検査端子８１に接触した状態で、モータケース９０の背壁９６に脱着可能に係止される。したがって、背壁９６は、「被クランプ部」として機能する。 A clamp claw 27 is attached to the surface of the claw holder 26 on the base 11 side at the clamp position so as to face the end surface 48 of the probe 40. The clamp claw 27 is connected to the guide 14 via the clamp arm 21, the base 11, and the spacer 13. At the clamp position, the clamp claw 27 is detachably locked to the back wall 96 of the motor case 90 in a state where the end surface 48 of the probe 40 is in contact with the terminal 81 to be inspected. Therefore, the back wall 96 functions as a “clamped portion”.

クランプ爪２７が背壁９６に係止されたときモータケース９０を傷付けないようにするため、クランプ爪２７は、モータケース９０より硬度の低い材料で形成されている。一方、リリースバネ２５の付勢力Ｆｒを受ける爪ホルダ２６は強度の高い金属製である方が好ましいため、クランプ爪２７は爪ホルダ２６とは別体で構成され、爪ホルダ２６に取り付けられている。 The clamp claw 27 is made of a material having a hardness lower than that of the motor case 90 so as not to damage the motor case 90 when the clamp claw 27 is locked to the back wall 96. On the other hand, since the claw holder 26 that receives the urging force Fr of the release spring 25 is preferably made of high-strength metal, the clamp claw 27 is configured separately from the claw holder 26 and is attached to the claw holder 26. ..

クランプ位置におけるクランプアーム２１の上面にはスナップロック３０が設けられている。スナップロック３０は、本体３１、スナップアーム３２、シャフト３３及びレバー３４等を有する。スナップアーム３２の先端に支持されたシャフト３３を、爪ホルダ２６のフック２８に引っ掛けてレバー３４を下ろすことでフック２８に引っ張り力Ｆｓが付与される。引っ張り力Ｆｓは、爪ホルダ２６を介してクランプ爪２７に伝わり、背壁９６に対するクランプ力Ｆｃとなる。このようにスナップロック３０は、クランプ爪２７が「被クランプ部」としての背壁９６に係止した状態でクランプ爪２７を固定する。 A snap lock 30 is provided on the upper surface of the clamp arm 21 at the clamp position. The snap lock 30 has a main body 31, a snap arm 32, a shaft 33, a lever 34, and the like. A pulling force Fs is applied to the hook 28 by hooking the shaft 33 supported by the tip of the snap arm 32 on the hook 28 of the claw holder 26 and lowering the lever 34. The pulling force Fs is transmitted to the clamp claw 27 via the claw holder 26 and becomes a clamping force Fc with respect to the back wall 96. In this way, the snap lock 30 fixes the clamp claw 27 in a state where the clamp claw 27 is locked to the back wall 96 as the “clamped portion”.

次に図４を参照し、プローブ４０先端部の好ましい構成例について説明する。被検査端子８１の面がプローブ４０の軸と直交する方向に精度良く配置される場合、プローブ４０の端面４８と被検査端子８１とは広い面積で電気的に接触可能である。しかし、被検査端子８１が傾いている場合、導通に必要な接触面積が確保できなくなるおそれがある。 Next, with reference to FIG. 4, a preferable configuration example of the tip of the probe 40 will be described. When the surface of the terminal 81 to be inspected is accurately arranged in the direction orthogonal to the axis of the probe 40, the end surface 48 of the probe 40 and the terminal 81 to be inspected can be electrically contacted over a wide area. However, if the terminal 81 to be inspected is tilted, the contact area required for conduction may not be secured.

なお、従来技術によりプローブを被検査体８０にねじ締めする場合、締結力によりプローブを被検査体８０に押し付けて接触部を変形させることで、強固な接続状態を作ることが可能であった。それに比べ、本実施形態でのクランプ力はねじ締結力に及ばないため、代わりにプローブ４０先端部の構造によって被検査端子８１への倣い性を向上させることが求められる。この課題に対する解決手段として、図４に示すプローブ４０は、球面ジョイント構造を採用する。 When the probe is screwed to the inspected body 80 by the prior art, it is possible to create a strong connection state by pressing the probe against the inspected body 80 by the fastening force to deform the contact portion. On the other hand, since the clamping force in the present embodiment does not reach the screw fastening force, it is required to improve the imitability to the terminal to be inspected 81 by the structure of the tip of the probe 40 instead. As a solution to this problem, the probe 40 shown in FIG. 4 adopts a spherical joint structure.

プローブ４０は、筒状のプローブ本体４１と、プローブヘッド４７と、ボール４３とを有する。プローブヘッド４７は、プローブ本体４１の先端側に別体に形成され、端面４８が被検査端子８１に接触可能である。ボール４３は、プローブ本体４１の先端に形成されたテーパ凹部４２とプローブヘッド４７との間に設けられる。ボール４３は、例えばねじ４４によりプローブヘッド４７に連結され、且つ、ボールカバー４５に保持されることでテーパ凹部４２に当接しつつ回動可能に設けられている。 The probe 40 has a tubular probe body 41, a probe head 47, and a ball 43. The probe head 47 is formed separately on the tip end side of the probe main body 41, and the end surface 48 can come into contact with the terminal to be inspected 81. The ball 43 is provided between the tapered recess 42 formed at the tip of the probe main body 41 and the probe head 47. The ball 43 is connected to the probe head 47 by, for example, a screw 44, and is held by the ball cover 45 so as to be rotatable while being in contact with the tapered recess 42.

プローブ本体４１、プローブヘッド４７及びボール４３は、いずれも銅合金等の導電性の良い金属で形成されている。プローブ本体４１を先端側に付勢するスプリング力Ｆｓｐにより、プローブヘッド４７は、端面４８が被検査端子８１の面に接触するようにボール４３の回転に伴ってＳｗ方向に揺動する。これにより、プローブ４０の端面４８と被検査端子８１との導通に必要な接触面積を確保することができる。 The probe body 41, the probe head 47, and the ball 43 are all made of a metal having good conductivity such as a copper alloy. Due to the spring force Fsp that urges the probe body 41 toward the tip end, the probe head 47 swings in the Sw direction as the ball 43 rotates so that the end surface 48 comes into contact with the surface of the terminal 81 to be inspected. As a result, the contact area required for conduction between the end surface 48 of the probe 40 and the terminal 81 to be inspected can be secured.

次に図３、図５、図６を参照し、被検査体８０の電気的性能の検査工程におけるプローブ装置１０の接続作業について説明する。第１段階として図５に、ガイド１４を被検査体８０の挿入口９３に挿入する作業を示す。このとき、クランプアーム２１はベース１１に対して起こされている。作業者は、図５の状態から矢印Ｋ１で示すように、挿入口９３の内壁に沿ってガイド１４を挿入する。第２段階で作業者は、図３に示すように、トルクヒンジ１２を支点として準備位置からクランプまでクランプアーム２１を回転させる。 Next, with reference to FIGS. 3, 5, and 6, the connection work of the probe device 10 in the step of inspecting the electrical performance of the object to be inspected 80 will be described. As a first step, FIG. 5 shows a work of inserting the guide 14 into the insertion slot 93 of the inspected body 80. At this time, the clamp arm 21 is raised with respect to the base 11. The operator inserts the guide 14 along the inner wall of the insertion port 93 as shown by the arrow K1 from the state of FIG. In the second stage, as shown in FIG. 3, the operator rotates the clamp arm 21 from the preparation position to the clamp with the torque hinge 12 as a fulcrum.

第３段階として図６に、スナップロック３０のレバー３４を下ろし、クランプ爪２７を被検査体８０に係止させる作業を示す。この作業で例えば作業者は、図６の紙面手前に立ち、右手で配線保持板５２を押さえながら左手でクランプアーム２１を持ち、矢印Ｋ２、Ｋ３で示すように、レバー３４を下ろしてフック２８を引っ張る。クランプ爪２７が背壁９６に係止した状態で固定されると接続作業が完了する。そして作業者は、三つのプローブ４０により被検査端子８１に通電し、３相モータ８０におけるＵＶＷ相の電気的特性を検査する。検査終了後、レバー３４を持ち上げると、リリースバネ２５の付勢力により、クランプ爪２７が背壁９６から離れる。 As a third step, FIG. 6 shows an operation of lowering the lever 34 of the snap lock 30 and locking the clamp claw 27 to the object to be inspected 80. In this work, for example, the operator stands in front of the paper in FIG. 6, holds the clamp arm 21 with the left hand while holding the wiring holding plate 52 with the right hand, lowers the lever 34 and lowers the hook 28 as shown by arrows K2 and K3. pull. When the clamp claw 27 is fixed to the back wall 96 in a locked state, the connection work is completed. Then, the operator energizes the terminal 81 to be inspected by the three probes 40 and inspects the electrical characteristics of the UVW phase in the three-phase motor 80. When the lever 34 is lifted after the inspection is completed, the clamp claw 27 is separated from the back wall 96 by the urging force of the release spring 25.

本実施形態のプローブ装置１０は、被検査体８０の被検査端子８１とのねじ締めを必要とせず、ガイド１４、クランプ爪２７及びスナップロック３０を用いた簡単な構造で被検査体８０に脱着可能である。したがって、作業時間を短縮することができる。また、被検査体８０のねじ部を使用しないため、ねじ部を検査する工程が不要となる。 The probe device 10 of the present embodiment does not require screw tightening with the inspected terminal 81 of the inspected body 80, and is attached to and detached from the inspected body 80 with a simple structure using a guide 14, a clamp claw 27, and a snap lock 30. It is possible. Therefore, the working time can be shortened. Further, since the threaded portion of the inspected body 80 is not used, the step of inspecting the threaded portion becomes unnecessary.

被検査体として３相モータ８０に適用される本実施形態のプローブ装置１０は、三つの被検査端子８１にそれぞれ接触可能な三つのプローブ４０が平行に配置されている。これにより、一回のクランプ爪の脱着で三箇所のねじ締めを不要とすることができるため、上記の効果がより顕著となる。一例では、本実施形態により、ねじ締めでの作業時間に対し作業時間を約３分の１に短縮可能である。 In the probe device 10 of the present embodiment applied to the three-phase motor 80 as an inspected object, three probes 40 that can contact each of the three inspected terminals 81 are arranged in parallel. As a result, it is possible to eliminate the need for screw tightening at three points by attaching and detaching the clamp claw once, so that the above effect becomes more remarkable. In one example, according to the present embodiment, the working time can be reduced to about one-third of the working time for screw tightening.

（その他の実施形態）
クランプ爪２７が係止される「被クランプ部」は、上記実施形態における背壁９６のような形状に限らず、クランプ爪２７が係止可能な形状であればよい。 (Other embodiments)
The "clamped portion" to which the clamp claw 27 is locked is not limited to the shape like the back wall 96 in the above embodiment, and may be any shape as long as the clamp claw 27 can be locked.

また、本発明のプローブ装置が適用される被検査体は３相モータに限らず、一つ以上の被検査端子を有するものであればよい。プローブ装置に設けられるプローブの数は被検査端子の数に応じて決められればよい。複数のプローブは横一列に限らず、どのように配置されてもよい。 Further, the object to be inspected to which the probe device of the present invention is applied is not limited to a three-phase motor, and may be any one having one or more terminals to be inspected. The number of probes provided in the probe device may be determined according to the number of terminals to be inspected. The plurality of probes are not limited to one horizontal row and may be arranged in any way.

以上、本発明は、上記実施形態になんら限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の形態で実施可能である。 As described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and can be implemented in various embodiments without departing from the spirit of the present invention.

１０・・・プローブ装置、
１４・・・ガイド、
２７・・・クランプ爪、
３０・・・スナップロック、
４０・・・プローブ、 ４８・・・端面、
８０・・・３相モータ（被検査体）、 ８１・・・電力端子（被検査端子）、
９２・・・開口端、 ９３・・・挿入口、 ９６・・・背壁（被クランプ部）。 10 ... Probe device,
14 ... Guide,
27 ... Clamp claws,
30 ... Snap lock,
40 ... probe, 48 ... end face,
80 ... 3-phase motor (inspected object), 81 ... power terminal (inspected terminal),
92 ... Open end, 93 ... Insertion port, 96 ... Back wall (clamped part).

Claims (3)

被検査体（８０）の挿入口（９３）の内部に設けられた被検査端子（８１）に導電性のプローブ（４０）の端面（４８）を接触させ、前記被検査体の電気的特性を検査するプローブ装置であって、
一つ以上の前記プローブと、
前記プローブを支持しつつ、前記被検査体の前記挿入口に挿入されたとき前記挿入口の内壁に沿って前記プローブの位置を案内するガイド（１４）と、
前記ガイドと連結され、前記プローブの端面が前記被検査端子に接触した状態で、前記被検査体において前記被検査端子に対し前記挿入口の開口端（９２）とは反対側に形成された被クランプ部（９６）に脱着可能に係止されるクランプ爪（２７）と、
前記クランプ爪が前記被検査体の前記被クランプ部に係止した状態で前記クランプ爪を固定するスナップロック（３０）と、
を備えるプローブ装置。 The end face (48) of the conductive probe (40) is brought into contact with the terminal (81) to be inspected provided inside the insertion port (93) of the inspected body (80) to obtain the electrical characteristics of the inspected body. It is a probe device to be inspected.
With one or more of the probes
A guide (14) that guides the position of the probe along the inner wall of the insertion port when inserted into the insertion port of the object to be inspected while supporting the probe.
A cover formed on the object to be inspected on the side opposite to the opening end (92) of the insertion port with respect to the terminal to be inspected in a state of being connected to the guide and having the end surface of the probe in contact with the terminal to be inspected. A clamp claw (27) that is detachably locked to the clamp portion (96),
A snap lock (30) for fixing the clamp claw in a state where the clamp claw is locked to the clamped portion of the object to be inspected, and
A probe device equipped with. 前記プローブは、
筒状のプローブ本体（４１）と、
前記プローブ本体の先端側に別体に形成され、端面が前記被検査端子に接触可能なプローブヘッド（４７）と、
前記プローブ本体の先端に形成されたテーパ凹部（４２）と前記プローブヘッドとの間において、前記プローブヘッドに連結され、且つ、前記テーパ凹部に当接しつつ回動可能に設けられたボール（４３）と、
を有する請求項１に記載のプローブ装置。 The probe is
Cylindrical probe body (41) and
A probe head (47), which is formed separately on the tip end side of the probe body and whose end surface can contact the terminal to be inspected,
A ball (43) connected to the probe head and rotatably provided while being in contact with the tapered recess between the tapered recess (42) formed at the tip of the probe body and the probe head. When,
The probe device according to claim 1. 前記被検査体の複数の前記被検査端子にそれぞれ接触可能な複数の前記プローブが平行に配置されている請求項１または２に記載のプローブ装置。 The probe device according to claim 1 or 2, wherein a plurality of the probes capable of contacting the plurality of terminals to be inspected are arranged in parallel.
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