JP2021194243A - 眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラム - Google Patents
眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラム Download PDFInfo
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Abstract
Description
図1〜図3に示すように、眼科装置1は、眼底カメラユニット2、OCTユニット100及び演算制御ユニット200を含む。眼底カメラユニット2は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。OCTユニット100には、眼底(又は前眼部)のOCT画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
図1に示す眼底カメラユニット2には、被検眼Eの眼底Efの表面形態を表す2次元画像(眼底像)を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、例えば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、例えば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、又は近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット2は、これら以外の画像、例えばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。
図2を参照しつつOCTユニット100の構成の一例を説明する。OCTユニット100には、眼底EfのOCT画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスウェプトソースタイプのOCT装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、波長走査型(波長掃引型)光源からの光を測定光と参照光とに分割し、眼底Efを経由した測定光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系における干渉光の検出結果(検出信号)は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット200に送られる。
演算制御ユニット200の構成について説明する。
主制御部211は、前述の眼科装置1の各部に制御信号を出力することにより各種制御を行う。特に、主制御部211は、眼底カメラユニット2に対して、CCDイメージセンサ35、38、LCD39、合焦駆動部31A、光路長変更部41、光スキャナ42、OCT合焦駆動部45A、及びVCC駆動部47Aを制御する。更に、主制御部211は、OCTユニット100に対して、光源ユニット101、参照駆動部114A、偏波コントローラ103、118、アッテネータ120、検出器125を制御する。
記憶部212は、各種のデータを記憶する。記憶部212に記憶されるデータとしては、例えば、OCT画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者IDや氏名などの被検者に関する情報や、左眼/右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部212には、外部の装置(例えば、レフラクトメータや自覚検眼装置)によりあらかじめ取得された検眼データや、眼科装置1を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。検眼データは、被検眼の乱視度数、及び乱視軸角度を含む。検眼データは、更に被検眼の球面度数を含んでもよい。検眼データは、被検眼の球面度数、乱視度数、及び乱視軸角度の少なくとも1つを含んでもよい。
画像形成部220は、検出器125からの検出信号(干渉信号)に基づいて、眼底Efの断層像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部220は、干渉光学系による干渉光LCの検出結果に基づいて被検眼Eの画像を形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去(ノイズ低減)、フィルター処理、FFT(Fast Fourier Transform)などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のAライン(被検眼E内における各測定光LSの経路)における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。
データ処理部230は、干渉光LCの検出結果、又は画像形成部220により形成された画像に対して各種のデータ処理(画像処理)や解析処理を施す。例えば、データ処理部230は、干渉信号の信号対雑音比の解析、画像の輝度補正、分散補正等の各種補正処理を実行する。
データ処理部230は、上記の解析処理を行う解析部231を含む。解析部231は、少なくとも、干渉光LCの検出結果又は画像形成部220により形成された断層像を解析し、断層像の画質(信号対雑音比)に対応した評価値(評価値の統計値を含む)を解析結果として出力する。主制御部211(補正制御部211B)は、解析部231により得られた解析結果に基づいてVCCレンズ47、OCT合焦駆動部45A、光路長変更部41、偏波コントローラ103、118の少なくとも1つを制御することが可能である。特に、サークルスキャンに対応した偏向パターンに従って測定光LSを偏向することにより取得された干渉光LCの検出結果又は当該検出結果に基づいて形成された断層像を解析部231の解析対象とすることで、光源が高速化した場合でも、眼球の動き等の影響を受けることなく、撮影条件を高精度に調整することが可能になる。
画像分割部231Aは、画像形成部220により形成された断層像をAスキャン方向に交差する方向に分割することにより複数の分割画像を生成する。いくつかの実施形態では、画像分割部231Aは、断層像をBスキャン方向(又はAスキャン方向に直交する方向)に分割することにより複数の分割画像を生成する。いくつかの実施形態では、画像分割部231Aは、被検眼Eの瞳孔に相当する位置におけるスキャン中心位置を中心とする扇形の径方向に交差する方向に分割することにより複数の分割画像を生成する。複数の分割画像の形状又はサイズは同一であってもよいし、異なっていてもよい。
画像評価部231Bは、画像分割部231Aにより生成された複数の分割画像のそれぞれについて解析処理を施し、得られた解析結果に対応する評価値を算出する。すなわち、画像評価部231Bは、複数の分割画像に対して複数の評価値を算出する。
ユーザインターフェイス240には、表示部240Aと操作部240Bとが含まれる。表示部240Aは、前述した演算制御ユニット200の表示デバイスや表示装置3を含んで構成される。操作部240Bは、前述した演算制御ユニット200の操作デバイスを含んで構成される。操作部240Bには、眼科装置1の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼底カメラユニット2が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部240Bは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部240Aは、眼底カメラユニット2の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。
上記のように、実施形態では、本撮影の前に仮撮影が実行され、本撮影のための撮影条件の調整が行われる。撮影条件の調整には、VCCレンズ47の調整、OCT合焦レンズ45の調整、光路長変更部41又はコーナーキューブ114の調整、偏波コントローラ103、118の調整がある。
まず、主制御部211は、OCT計測を実行する。OCT計測では、サークルスキャンが実行される(すなわち、干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に測定光LSが偏向される)。画像形成部220は、サークルスキャンにより得られた干渉光LCの検出結果に基づいて、図6に示すような断層像IMGを形成する。
いくつかの実施形態では、OCT合焦レンズ45の調整は、VCCレンズ47の調整と同様に、サークルスキャンにより得られた断層像(又は干渉光LCの検出結果)を用いて実行される。すなわち、サークルスキャンにより得られた断層像を分割した複数の分割画像の複数の評価値の統計値が所定の第2終了条件を満足するまで、OCT計測と、上記の統計値の算出と、OCT合焦駆動部45Aに対する制御とが反復的に実行される。第2終了条件は、第1終了条件と同様であってよい。例えば、主制御部211は、統計値と第2終了条件を満たすための第2既定値との差が小さくなるように、OCT計測と統計値の算出とOCT合焦駆動部45Aに対する制御とを反復的に実行する。主制御部211は、統計値と第2既定値との関係が所定の第2関係になったとき、OCT合焦レンズ45の調整を終了する。
いくつかの実施形態では、光路長変更部41又はコーナーキューブ114の調整は、VCCレンズ47の調整と同様に、サークルスキャンにより得られた断層像(又は干渉光LCの検出結果)を用いて実行される。この場合、サークルスキャンにより得られた断層像全体の単一の評価値が所定の第3終了条件を満足するまで、OCT計測と、上記の評価値の算出と、光路長変更部41又は参照駆動部114Aに対する制御とが反復的に実行される。第3終了条件は、断層像における注目部位(組織)に相当する画像領域が所定の深さ範囲内に入るための条件である。断層像における注目部位に相当する画像領域の特定は、断層像に対してセグメンテーション処理を実行することにより得られた複数の層領域から所望の注目部位に相当する層領域を特定することにより行われる。例えば、主制御部211は、評価値と第3終了条件を満たすための第3既定値との差が小さくなるように、OCT計測と統計値の算出と光路長変更部41又はコーナーキューブ114に対する制御とを反復的に実行する。主制御部211は、評価値と第3既定値との関係が所定の第3関係になったとき、光路長変更部41又はコーナーキューブ114の調整を終了する。
いくつかの実施形態では、偏波コントローラ103、118の調整は、VCCレンズ47の調整と同様に、サークルスキャンにより得られた断層像(又は干渉光LCの検出結果)を用いて実行される。この場合、サークルスキャンにより得られた断層像全体の単一の評価値が所定の第4終了条件を満足するまで、OCT計測と、上記の評価値の算出と、偏波コントローラ103、118に対する制御とが反復的に実行される。第4終了条件は、断層像全体の画質が最も高くなるための条件(例えば、評価値が最大値になること)である。例えば、主制御部211は、評価値と第4終了条件を満たすための第4既定値との差が小さくなるように、OCT計測と統計値の算出と偏波コントローラ103、118に対する制御とを反復的に実行する。主制御部211は、評価値と第4既定値との関係が所定の第4関係になったとき、偏波コントローラ103、118の調整を終了する。
実施形態に係る眼科装置1の動作例について説明する。
まず、所定の固視位置に固視標を提示した状態で、主制御部211は、被検眼Eに対する光学系のアライメント調整を行う。アライメント調整の例として、手動で行う場合と自動で行う場合とがある。
次に、主制御部211は、VCC駆動部47Aを初期化する。VCC駆動部47Aを初期化することにより、VCCレンズ47の円柱度数を初期化する。これにより、後述のステップS3〜ステップS6において、意図しない円柱度数が適用された状態で眼科装置1の各部の調整が行われる事態を回避することができる。
続いて、主制御部211は、被検眼Eにおける注目部位に相当する画像領域が断層像における所定の深さ範囲に入るように、注目部位に相当する画像領域が描出される深さ位置の調整を行う。
次に、主制御部211は、フォーカス調整を行う。
次に、主制御部211は、偏波調整を行う。偏波調整では、測定光LSの偏波状態及び参照光LRの偏波状態の少なくとも一方が調整される。
次に、主制御部211は、VCCレンズ47の調整を行う。
ステップS2〜ステップS6により眼科装置1の各部の調整を調整することにより撮影条件が調整されると、主制御部211は、本撮影のためのOCT計測を実行する。
まず、主制御部211は、VCC駆動部47Aを制御して、円柱レンズ471、472を回動して円柱度数(図11のθp)を初期値に設定する。
次に、主制御部211は、OCTユニット100等を制御してOCT計測を実行する。
次に、主制御部211は、ステップS12において得られた干渉光LCの検出結果に基づいてOCT画像(断層像)を画像形成部220に形成させる。
次に、主制御部211は、円柱軸角度を更に変更してOCT画像の再評価を行うか否かを判定する。例えば、主制御部211は、0度から180度までの範囲の円柱軸角度θaについてOCT画像の評価を行うようにOCT画像の再評価を繰り返す。
ステップS14においてOCT画像の再評価を行うと判定されたとき(ステップS14:Y)、主制御部211は、VCC駆動部47Aを制御して、円柱度数θpを維持した状態で円柱レンズ471の軸方向と円柱レンズ472の軸方向とを変更する。
ステップS14においてOCT画像の再評価を行わないと判定されたとき(ステップS14:N)、主制御部211は、円柱軸角度を決定する。
次に、主制御部211は、VCC駆動部47Aを制御して、円柱レンズ471、472を回動して所定の円柱度数を設定する。
次に、主制御部211は、ステップS12と同様に、OCTユニット100等を制御してOCT計測を実行する。
次に、主制御部211は、ステップS13と同様に、ステップS18において得られた干渉光LCの検出結果に基づいてOCT画像(断層像)を画像形成部220に形成させる。
次に、主制御部211は、円柱度数を更に変更してOCT画像の再評価を行うか否かを判定する。例えば、主制御部211は、0度から90度までの範囲の円柱度数θpについてOCT画像の評価を行うようにOCT画像の再評価を繰り返す。
ステップS20においてOCT画像の再評価を行うと判定されたとき(ステップS20:Y)、主制御部211は、VCC駆動部47Aを制御して、円柱軸角度θaを維持した状態で円柱レンズ471の軸方向と円柱レンズ472の軸方向とを変更する。
ステップS20においてOCT画像の再評価を行わないと判定されたとき(ステップS20:N)、主制御部211は、円柱度数を決定する。
続いて、主制御部211は、VCC駆動部47Aを制御して、ステップS16において決定された円柱軸角度θa´とステップS22において決定された円柱度数θp″を用いてVCCレンズ47を調整する。
実施形態に係る眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムについて説明する。
3 表示装置
41 光路長変更部
45 OCT合焦レンズ
47 VCCレンズ
47A VCC駆動部
100 OCTユニット
103、118 偏波コントローラ
114 コーナーキューブ
114A 参照駆動部
200 演算制御ユニット
210 制御部
211 主制御部
211A 光スキャナ制御部
211B 補正制御部
211C 表示制御部
212 記憶部
220 画像形成部
230 データ処理部
231 解析部
231A 画像分割部
231B 画像評価部
240A 表示部
E 被検眼
LC 干渉光
LR 参照光
LS 測定光
Claims (33)
- 非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する光スキャナ制御部と、
前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する補正制御部と、
を含む眼科装置。 - 前記干渉光の検出結果を解析する解析部を含み、
前記補正制御部は、前記解析部により得られた解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。 - 前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部を含み、
前記解析部は、前記画像をAスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、
前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項2に記載の眼科装置。 - 前記解析部は、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、
前記補正制御部は、前記複数の分割画像に対する複数の評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項3に記載の眼科装置。 - 前記解析部により算出された前記評価値又は前記統計値を表示手段に表示させる第1表示制御部を含む
ことを特徴とする請求項4に記載の眼科装置。 - 前記光スキャナ制御部は、前記被検眼の第1スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御することで前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御した後、前記第1スキャン範囲を内包する第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御し、
前記画像形成部は、前記第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する
ことを特徴とする請求項3〜請求項5のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記光スキャナ制御部は、前記被検眼の移動に対して前記干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて前記第2スキャン範囲の位置を補正し、補正された前記第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する
ことを特徴とする請求項6に記載の眼科装置。 - 前記第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて形成された前記被検眼の画像を表示手段に表示させる第2表示制御部を含む
ことを特徴とする請求項6又は請求項7に記載の眼科装置。 - 前記干渉光学系は、前記測定光の光路に配置され、前記測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含み、
前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する
ことを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含み、
前記光スキャナ制御部は、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御し、
前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記光路長変更部材を制御する
ことを特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光の偏波状態又は前記参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含み、
前記光スキャナ制御部は、前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御し、
前記補正制御部は、前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記偏波状態変更部材を制御する
ことを特徴とする請求項1〜請求項10のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である
ことを特徴とする請求項1〜請求項11のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む
ことを特徴とする請求項12に記載の眼科装置。 - 前記円柱度数及び前記円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段に表示させる第3表示制御部を含む
ことを特徴とする請求項12又は請求項13に記載の眼科装置。 - 前記光スキャナ制御部は、サークル状に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御することにより前記水平方向及び前記垂直方向に前記測定光を偏向させる
ことを特徴とする請求項1〜請求項14のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 回折限界をrとし、前記被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をRとし、前記スキャンラインにおけるAライン数をNとしたとき、R×π/N<rを満たす
ことを特徴とする請求項15に記載の眼科装置。 - 非点収差補正光学部材と、光スキャナとを含み、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記非点収差補正光学部材及び前記光スキャナを介して前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系を含む眼科装置の制御方法であって、
前記干渉光学系の光軸に垂直な平面における水平方向及び垂直方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第1制御ステップと、
前記第1制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて非点収差を補正するように前記非点収差補正光学部材を制御する第2制御ステップと、
を含む眼科装置の制御方法。 - 前記干渉光の検出結果を解析する解析ステップを含み、
前記第2制御ステップは、前記解析ステップにおいて得られた解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項17に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第1画像形成ステップを含み、
前記解析ステップは、前記画像をAスキャン方向に交差する方向に分割することにより得られた複数の分割画像のそれぞれを解析し、
前記第2制御ステップは、前記複数の分割画像に対応する複数の解析結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項18に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記解析ステップは、各分割画像について解析結果に対応する評価値を算出し、
前記第2制御ステップは、前記複数の分割画像に対する前記評価値の統計値に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御する
ことを特徴とする請求項19に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記解析ステップにおいて算出された前記評価値又は前記統計値を表示手段に表示させる第1表示制御ステップを含む
ことを特徴とする請求項20に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記第2制御ステップにおいて、前記第1制御ステップにおいて前記被検眼の第1スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記非点収差補正光学部材を制御した後に、前記第1スキャン範囲を内包する第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する第3制御ステップと、
前記第3制御ステップにおいて前記第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する第2画像形成ステップと、
を含む
ことを特徴とする請求項17〜請求項21のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記第2制御ステップは、前記被検眼の移動に対して前記干渉光学系を追従することにより得られたトラッキング情報に基づいて前記第2スキャン範囲の位置を補正し、補正された前記第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナを制御する
ことを特徴とする請求項22に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記第2スキャン範囲を前記測定光でスキャンすることにより得られた前記干渉光の検出結果に基づいて形成された前記被検眼の画像を表示手段に表示させる第2表示制御ステップを含む
ことを特徴とする請求項22又は請求項23に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記干渉光学系は、前記測定光の光路に配置され、前記測定光の焦点位置を変更可能な合焦位置変更部材を含み、
前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記合焦位置変更部材を制御する第4制御ステップを含む
ことを特徴とする請求項17〜請求項24のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更部材を含み、
前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第5制御ステップと、
前記第5制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記光路長変更部材を制御する第6制御ステップと、
を含む
ことを特徴とする請求項17〜請求項25のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記干渉光学系は、前記測定光の光路又は前記参照光の光路に配置され、前記測定光の偏波状態又は前記参照光の偏波状態を変更する偏波状態変更部材を含み、
前記干渉光学系の光軸に交差する方向に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御する第7制御ステップと、
前記第7制御ステップにおいて偏向された前記測定光を前記被検眼に照射することにより前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記偏波状態変更部材を制御する第8制御ステップと、
を含む
ことを特徴とする請求項17〜請求項26のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記非点収差補正光学部材は、円柱度数及び円柱軸角度を変更可能である
ことを特徴とする請求項17〜請求項27のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記非点収差補正光学部材は、バリアブルクロスシリンダレンズを含む
ことを特徴とする請求項28に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記円柱度数及び前記円柱軸角度の少なくとも一方を表示手段に表示させる第3表示制御ステップを含む
ことを特徴とする請求項28又は請求項29に記載の眼科装置の制御方法。 - 前記第1制御ステップは、サークル状に前記測定光を偏向するように前記光スキャナを制御することにより前記水平方向及び前記垂直方向に前記測定光を偏向させる
ことを特徴とする請求項17〜請求項30のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。 - 回折限界をrとし、前記被検眼におけるサークル状のスキャンラインの直径をRとし、前記スキャンラインにおけるAライン数をNとしたとき、R×π/N<rを満たす
ことを特徴とする請求項31に記載の眼科装置の制御方法。 - コンピュータに、請求項17〜請求項32のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させることを特徴とするプログラム。
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