JP2021181921A - Flaw detection device and flaw detection method - Google Patents
Flaw detection device and flaw detection method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021181921A JP2021181921A JP2020087335A JP2020087335A JP2021181921A JP 2021181921 A JP2021181921 A JP 2021181921A JP 2020087335 A JP2020087335 A JP 2020087335A JP 2020087335 A JP2020087335 A JP 2020087335A JP 2021181921 A JP2021181921 A JP 2021181921A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- image pickup
- outer peripheral
- peripheral surface
- surface side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 43
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000010485 coping Effects 0.000 description 1
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
本発明は、丸棒状または円筒状の部材の外周面に設けられた突出部を有する対象物の外周面の画像を生成する探傷装置、および探傷方法に関する。 The present invention relates to a flaw detection device and a flaw detection method for generating an image of the outer peripheral surface of an object having a protrusion provided on the outer peripheral surface of a round bar-shaped or cylindrical member.
特許文献1には、歯車の歯先をラインカメラにより撮像し、得られた画像を結合して歯先面の展開画像を生成し、歯車の表面を検査する技術が記載されている。 Patent Document 1 describes a technique of capturing a tooth tip of a gear with a line camera, combining the obtained images to generate a developed image of the tooth tip surface, and inspecting the surface of the gear.
ところが、歯丈が長い歯車など対象物表面の突出部の突出量が大きい場合など、1台のラインカメラだけでは突出部の根元が隣接する突出部の影になるため撮像できない欠陥部分が発生する。そのため、得られた画像は対象物の表面のすべてが反映されたものではなくなり、突出部を含む外周面全域の表面状態を正しく確認することができない。 However, when the amount of protrusion on the surface of an object such as a gear with a long tooth length is large, a defect part that cannot be imaged occurs because the root of the protrusion is a shadow of the adjacent protrusion with only one line camera. .. Therefore, the obtained image does not reflect the entire surface of the object, and the surface state of the entire outer peripheral surface including the protrusion cannot be confirmed correctly.
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、円筒形状の外周面の画像であって欠陥部分が抑制された画像を生成する探傷装置、および探傷方法を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a flaw detection device and a flaw detection method for generating an image of a cylindrical outer peripheral surface in which a defect portion is suppressed.
上記目的を達成するために、本発明の1つである探傷装置は、円筒状の外周面に外向きに突出する突出部を有する対象物の前記外周面の画像を生成する探傷装置であって、行列状に配置される複数の撮像画素を有する撮像素子と、前記撮像素子に像を結像する光学系を備えた撮像装置と、前記撮像装置と前記対象物とを前記対象物の周方向に相対回転させる回転装置と、前記回転装置による相対回転と同期した所定の時間間隔で前記対象物の外周面の画像を前記撮像装置に撮像させる撮像部と、前記撮像装置が撮像した画像データから、前記突出部の所定の第一面側が撮像される第一領域データ、および前記突出部の前記第一面側と逆側の第二面側が撮像される第二領域データを特定して取得する領域特定部と、前記第一領域データ、および前記第二領域データを合成して前記外周面の展開画像を生成する画像合成部と、を備える。 In order to achieve the above object, the flaw detector according to the present invention is a flaw detector that generates an image of the outer peripheral surface of an object having an outwardly protruding protrusion on the outer peripheral surface of a cylinder. An image pickup element having a plurality of image pickup pixels arranged in a matrix, an image pickup device provided with an optical system for forming an image on the image pickup element, and the image pickup device and the object in the circumferential direction of the object. From the rotating device that rotates relative to the image, the image pickup unit that causes the image pickup device to capture an image of the outer peripheral surface of the object at a predetermined time interval synchronized with the relative rotation by the rotation device, and the image data captured by the image pickup device. , The first region data in which a predetermined first surface side of the protruding portion is imaged, and the second region data in which the second surface side opposite to the first surface side of the protruding portion is imaged are specified and acquired. It includes a region specifying unit, an image synthesizing unit that synthesizes the first region data and the second region data to generate a developed image of the outer peripheral surface.
また、上記目的を達成するために、本発明の他の1つである探傷方法は、円筒状の外周面に外向きに突出する突出部を有する対象物の前記外周面の画像を生成する探傷方法であって、行列状に配置される複数の撮像画素を有する撮像素子と、前記撮像素子に像を結像する光学系を備えた撮像装置と前記対象物とを前記対象物の周方向に回転装置が相対回転させ、前記回転装置による相対回転と同期した所定の時間間隔で前記対象物の外周面の画像を前記撮像装置に撮像部が撮像させ、前記撮像装置が撮像した画像データから、前記突出部の所定の第一面側が撮像される第一領域データ、および前記突出部の前記第一面側と逆側の第二面側が撮像される第二領域データを領域特定部が特定して取得し、前記第一領域データ、および前記第二領域データを合成して前記外周面の展開画像を画像合成部が生成し、前記展開画像に基づき対象物表面の傷を検出する。 Further, in order to achieve the above object, another flaw detection method of the present invention is to generate an image of the outer peripheral surface of an object having an outwardly protruding protrusion on the outer peripheral surface of the cylinder. It is a method, in which an image pickup element having a plurality of image pickup pixels arranged in a matrix, an image pickup device provided with an optical system for forming an image on the image pickup element, and the object are placed in the circumferential direction of the object. The rotating device rotates relative to each other, and the image pickup unit captures an image of the outer peripheral surface of the object at a predetermined time interval synchronized with the relative rotation by the rotating device. The region specifying unit identifies the first region data in which the predetermined first surface side of the protruding portion is imaged and the second region data in which the second surface side opposite to the first surface side of the protruding portion is imaged. The image synthesizing unit generates a developed image of the outer peripheral surface by synthesizing the first region data and the second region data, and detects scratches on the surface of the object based on the developed image.
本探傷装置、および探傷方法によれば、対象物の外周面に存在する突出部に起因した欠陥部分の発生を抑制した外周面の画像を得ることが可能となる。 According to this flaw detection device and the flaw detection method, it is possible to obtain an image of the outer peripheral surface in which the generation of defective portions due to the protrusions existing on the outer peripheral surface of the object is suppressed.
以下に、本発明に係る探傷装置、および探傷方法の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の位置関係、および接続状態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下では複数の発明を一つの実施の形態として説明する場合があるが、請求項に記載されていない構成要素については、その請求項に係る発明に関しては任意の構成要素であるとして説明している。また、図面は、本発明を説明するために適宜強調や省略、比率の調整を行った模式的な図となっており、実際の形状や位置関係、比率とは異なる場合がある。 Hereinafter, embodiments of the flaw detection device and the flaw detection method according to the present invention will be described with reference to the drawings. The numerical values, shapes, materials, components, positional relationships of the components, connection states, steps, the order of steps, etc. shown in the following embodiments are examples, and are not intended to limit the present invention. Further, in the following, a plurality of inventions may be described as one embodiment, but the components not described in the claims will be described as arbitrary components with respect to the claimed invention. ing. Further, the drawings are schematic views in which emphasis, omission, and ratio adjustment are appropriately performed in order to explain the present invention, and may differ from the actual shape, positional relationship, and ratio.
図1は、探傷装置の機構構成等を示す斜視図である。図2は、探傷装置の機構構成を示す側面図である。これらの図に示すように探傷装置100は、円筒状の外周面に外向きに突出する突出部210を有する対象物200の外周面の画像を生成して探傷に供する探傷装置100であって、撮像装置110と、回転装置120と、画像生成装置130と、を備えている。本実施の形態の場合、探傷装置100は、照明装置140を備えている。
FIG. 1 is a perspective view showing the mechanical configuration of the flaw detector. FIG. 2 is a side view showing the mechanical configuration of the flaw detector. As shown in these figures, the
対象物200は、探傷装置100により得られた外周面の展開画像に基づき傷の有無が検査される検査対象であって、円筒状の外周面に外向きに突出する突出部210を備えている。対象物200の種類は、特に限定されるものではなく、例えば、平歯車、ウォームシャフトなどを含む歯車、ボルト、木ネジなどを含む締結具、ホブ、エンドミルなどを含む切削工具などを例示することができる。本実施の形態の場合、対象物200としてピニオンシャフトを例示しており、突出部210は、突条となっており、ピニオンシャフトの歯が対応している。
The
撮像装置110は、対象物200の外周面を突出部210と共に撮像するいわゆるエリアカメラであって、撮像素子111(図4参照)と、光学系112(図4参照)とを備えている。撮像素子111は、光学系112により結像した像を二次元の画像データを取得する装置であり、行列状(マトリクス状)に配置される複数の撮像画素を有する。撮像素子111の種類は特に限定されるものではなく、CCD(Charge Coupled Devices)タイプの撮像素子111、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)タイプの撮像素子111などを例示することができる。光学系112は、撮像素子111に結像させる単数、または複数の光学素子により形成されるものである。光学系112の種類は、特に限定されるものではない。本実施の形態の場合、光学系112は、突出部210の突出量(歯丈)程度の被写界深度を備え、突出部210の頂上部分(歯先)から突出部210の裾の部分(歯底)までピントが合うものとなっている。光学系112は、回転装置120に保持された対象物200の回転軸222と光軸221とが直交するように配置されている。
The
回転装置120は、撮像装置110と対象物200とを対象物200の周方向に相対回転させる装置である。本実施の形態の場合、回転装置120に対し撮像装置110は、固定的に配置されており、回転装置120は、対象物200の回転軸222周りに対象物200を回転させることにより撮像装置110と対象物200との相対回転を実現している。回転装置120の具体的な態様は、特に限定されるものではないが、本実施の形態の場合、回転装置120は、対象物200の軸部211の周面に当接する二つのローラ121からなるローラ対を対象物200の両端にそれぞれ配置し、撮像装置110の光軸221と対象物200の回転軸222とが直交するように対象物200を保持している。ローラ121の回転軸が対象物200の回転軸222と平行になるように各ローラ121は配置されている。回転装置120のローラ121の少なくとも1つは、駆動装置(不図示)により回転駆動力が付与され、他のローラ121は、自由に回転するものとなっている。
The
照明装置140は、撮像装置110が対象物200の外周面を撮像するために対象物200の外周面に光を照射する装置である。照明装置140の種類は特に限定されるものではないが、本実施の形態の場合、第一光源141と、第二光源142と、保持機構143とを備えている。
The
第一光源141は、突出部210の第一面側231に光を照射する。第二光源142は、第一面側231とは逆側の第二面側232に光を照射する。本実施の形態の場合、対象物200の回転軸222が図中のY軸に沿って配置されており、Y軸の負側(Y−)からY軸の正側(Y+)に向かって時計回り(右回り)方向に法線が向く突出部210の面(歯面)が第一面側231、反時計回り(左回り)方向に法線が向く突出部210の面(歯面)が第二面側232となっている。
The
第一光源141、および第二光源142が放射する光の種類は、特に限定されるものではなく、レーザー光やLED光などの単色光でもよく、白色光などでも構わない。また、撮像装置110が撮像可能であれば可視光以外でも構わない。例えば、対象物200の外周面に蛍光を発する粉体が付着している様な場合は、蛍光物質が励起する波長を含む可視光ではない光を照射するものでもよい。第一光源141、および第二光源142は、撮像装置110が撮像する対象物200の領域全体、つまり、前記領域内の突出部210の頂上部(歯先面)、第一面側231、第二面側232、隣り合う突出部210の間(歯元)をできる限り均等な照度となるように光を照射している。
The type of light emitted by the
保持機構143は、第一光源141、および第二光源142の位置を対象物200の外周面に沿って移動可能に第一光源141、および第二光源142をそれぞれ保持する部材である。本実施の形態の場合、保持機構143は、回転装置120に保持された対象物200の回転軸222を中心とした円弧形状を成しており、第一光源141、および第二光源142を、回転軸222を中心とした円周に沿って移動させ、所定の位置で保持することができるものとなっている。また、保持機構143は、回転軸222と平行な軸周りで第一光源141、および第二光源142をそれぞれ回転可能に保持している。
The
図3は、探傷装置が備える画像生成装置の機能構成を示すブロック図である。同図に示すように、画像生成装置130は、撮像装置110と回転装置120とを制御して対象物200の外周面の展開画像を生成するECU(Electronic Control Unit)の1つである。本実施の形態の場合、画像生成装置130は、非一時的記憶媒体に記録されたプログラムを実行することにより実現する処理部として、撮像部131と、領域特定部132と、画像合成部133と、回転制御部134と、傷検出部135と、を備えている。
FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of an image generation device included in the flaw detector. As shown in the figure, the
回転制御部134は、回転装置120による撮像装置110と対象物200との相対回転を制御する。本実施の形態の場合、回転制御部134は、回転装置120が備える駆動装置を制御して、等速で対象物200を回転させる。回転制御部134は、対象物200の諸元を入力することで適切な回転速度を導出しても構わない。また、所定の回転速度で対象物200を回転させた後、指定された箇所を先の回転速度よりも遅い回転速度で対象物200を回転させても構わない。
The
撮像部131は、回転装置120による対象物200と撮像装置110との相対回転と同期した所定の時間間隔で対象物200の外周面の画像を撮像装置110に撮像させる処理部である。撮像部131は、一定の時間間隔、例えば30fpsで撮像装置110に撮像させてもよい。また、回転制御部134から取得した同期信号に基づき、または対象物200の回転速度に対応した時間間隔で撮像装置110に対象物200を撮像させても構わない。
The
図4は、領域特定部が取得する領域データの関係を示す図である。同図に示すように、領域特定部132は、撮像装置110の撮像素子111が撮像した画像データ150から、突出部210の第一面側231が撮像される第一領域データ151、および突出部210の第二面側232が撮像される第二領域データ152を特定して取得する。本実施の形態の場合、領域特定部132は、画像データ150から突出部210の頂上部が撮像される第三領域データ153も特定して取得している。領域特定部132の領域の特定の仕方は特に限定されるものではなく、作業者が画像データ150からなる画像を目視により確認して複数の領域を指定することにより第一領域データ151、第二領域データ152、第三領域データ153を特定してもよい。また、対象物200の諸元を入力することで適切な第一領域データ151、第二領域データ152、第三領域データ153を特定しても構わない。
FIG. 4 is a diagram showing the relationship of the area data acquired by the area specifying unit. As shown in the figure, the
領域特定部132は、撮像装置110に指示を与えることにより第一領域データ151、第二領域データ152、第三領域データ153をそれぞれ取得してもよい。また、領域特定部132は、画像データ150を取得した後、得られた画像データ150から第一領域データ151、第二領域データ152、第三領域データ153をそれぞれ切り出しても構わない。
The
第一領域データ151、第二領域データ152、第三領域データ153の幅は、撮像画素の1つから取得するデータでもよく、複数の撮像画素から取得するデータでも構わない。
The width of the
画像合成部133は、第一領域データ151、第二領域データ152、および第三領域データ153をそれぞれ合成して対象物200の外周面を相互に異なる方向で撮像した展開画像である例えば図5に模式的に示すような第一合成画像161、第二合成画像162、第三合成画像163を生成する。画像合成部133は、生成した第一合成画像161、第二合成画像162、第三合成画像163を表示装置170に表示させる。画像合成部133は、撮像素子111で一度に撮像した画像の部分が並ぶように第一合成画像161、第二合成画像162、第三合成画像163を並べて表示させてもよい。
The
傷検出部135は、画像合成部133が生成した第一合成画像161、第二合成画像162、第三合成画像163に基づき、ディープラーニングなどの人工知能を用いて傷を検出する。傷検出部135は、検出した傷が作業者に目視で認識できるように第一合成画像161、第二合成画像162、第三合成画像163の対応箇所に目印を付すことができる。
The
本実施の形態で説明した画像生成装置130を備えた探傷装置100によれば、1つの撮像装置110により複数のアングルから対象物200の外周面を撮像することできるため、突出部210に起因した欠損部が抑制された展開画像を生成することができる。従って、対象物200の外周面に発生した傷を見逃すことなく検出することが可能となる。
According to the
また、複数のアングルを一つの撮像素子111により一度に取得するため、欠損部の少ない展開画像を高速で生成することが可能となる。例えば、対象物200がピニオンシャフトのように、突出部210の根元(歯元)側の厚み(歯厚)が先端(歯先)側の厚みよりも薄い場合、一台のラインカメラでは、突出部210の根本(歯元)部分に撮像できない欠陥部分が発生する場合があるが、上記探傷装置100によれば、複数台のラインカメラを必要とせず、1台の撮像装置110によって、突出部210の先端を含む第一面側231、および第二面側232を撮影することができ、得られた画像に基づき探傷を実施することができる。
Further, since a plurality of angles are acquired at once by one
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではない。例えば、本明細書において記載した構成要素を任意に組み合わせて、また、構成要素のいくつかを除外して実現される別の実施の形態を本発明の実施の形態としてもよい。また、上記実施の形態に対して本発明の主旨、すなわち、請求の範囲に記載される文言が示す意味を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例も本発明に含まれる。 The present invention is not limited to the above embodiment. For example, another embodiment realized by arbitrarily combining the components described in the present specification and excluding some of the components may be an embodiment of the present invention. The present invention also includes modifications obtained by making various modifications that can be conceived by those skilled in the art within the scope of the gist of the present invention, that is, the meaning indicated by the wording described in the claims, with respect to the above-described embodiment. Will be.
例えば、実施の形態では、第一領域データ151、第二領域データ152、および第三領域データ153を取得する場合を説明したが、図6に示すように、さらに、第四領域データ154、および第五領域データ155を取得し、第四合成画像、第五合成画像を生成しても構わない。
For example, in the embodiment, the case of acquiring the
また、図4では、光学系112による焦点が対象物200の外側に存在する場合を説明したが、焦点が対象物200の内側に存在しても構わない。
Further, in FIG. 4, the case where the focal point by the
探傷装置、および探傷方法は、外周面に突起のある、歯車、ネジ、切削工具などの傷の検出に利用可能である。 The flaw detector, and flaw detector method, can be used to detect scratches on gears, screws, cutting tools, etc. with protrusions on the outer peripheral surface.
100…探傷装置、110…撮像装置、111…撮像素子、112…光学系、120…回転装置、121…ローラ、130…画像生成装置、131…撮像部、132…領域特定部、133…画像合成部、134…回転制御部、135…傷検出部、140…照明装置、141…第一光源、142…第二光源、143…保持機構、150…画像データ、151…第一領域データ、152…第二領域データ、153…第三領域データ、154…第四領域データ、155…第五領域データ、161…第一合成画像、162…第二合成画像、163…第三合成画像、170…表示装置、200…対象物、210…突出部、211…軸部、221…光軸、222…回転軸、231…第一面側、232…第二面側 100 ... flaw detector, 110 ... image pickup device, 111 ... image pickup element, 112 ... optical system, 120 ... rotation device, 121 ... roller, 130 ... image generation device, 131 ... image pickup unit, 132 ... area identification unit, 133 ... image synthesis Unit, 134 ... Rotation control unit, 135 ... Scratch detection unit, 140 ... Lighting device, 141 ... First light source, 142 ... Second light source, 143 ... Holding mechanism, 150 ... Image data, 151 ... First area data, 152 ... Second region data, 153 ... third region data, 154 ... fourth region data, 155 ... fifth region data, 161 ... first composite image, 162 ... second composite image, 163 ... third composite image, 170 ... display Device, 200 ... Object, 210 ... Projection, 211 ... Shaft, 221 ... Optical axis, 222 ... Rotating shaft, 231 ... First surface side, 232 ... Second surface side
Claims (5)
行列状に配置される複数の撮像画素を有する撮像素子と、前記撮像素子に像を結像する光学系を備えた撮像装置と、
前記撮像装置と前記対象物とを前記対象物の周方向に相対回転させる回転装置と、
前記回転装置による相対回転と同期した所定の時間間隔で前記対象物の外周面の画像を前記撮像装置に撮像させる撮像部と、
前記撮像装置が撮像した画像データから、前記突出部の所定の第一面側が撮像される第一領域データ、および前記突出部の前記第一面側と逆側の第二面側が撮像される第二領域データを特定して取得する領域特定部と、
前記第一領域データ、および前記第二領域データを合成して前記外周面の展開画像を生成する画像合成部と、
を備える探傷装置。 A flaw detector that produces an image of the outer peripheral surface of an object having an outwardly projecting protrusion on the outer peripheral surface of a cylinder.
An image pickup device having a plurality of image pickup pixels arranged in a matrix, an image pickup device provided with an optical system for forming an image on the image pickup element, and an image pickup device.
A rotating device that relatively rotates the image pickup device and the object in the circumferential direction of the object, and
An image pickup unit that causes the image pickup device to take an image of the outer peripheral surface of the object at a predetermined time interval synchronized with the relative rotation by the rotation device.
From the image data captured by the image pickup apparatus, the first region data in which the predetermined first surface side of the protrusion is imaged, and the second surface side opposite to the first surface side of the protrusion is imaged. The area identification part that identifies and acquires the two area data, and
An image synthesizing unit that synthesizes the first region data and the second region data to generate a developed image of the outer peripheral surface.
A flaw detector equipped with.
請求項1に記載の探傷装置。 The flaw detection device according to claim 1, further comprising a rotation control unit that controls relative rotation between the image pickup device and the object by the rotation device.
請求項1または2に記載の探傷装置。 The positions of the first light source that irradiates the first surface side of the protrusion, the second light source that irradiates the second surface side, the first light source, and the second light source are the outer peripheral surfaces. The flaw detection device according to claim 1 or 2, further comprising a lighting device including a holding mechanism for holding the first light source and the second light source so as to be movable along the same.
請求項1から3のいずれか一項に記載の探傷装置。 The flaw detection device according to any one of claims 1 to 3, further comprising a scratch detection unit that detects scratches on the surface of an object using artificial intelligence based on a developed image acquired from the image synthesis unit.
行列状に配置される複数の撮像画素を有する撮像素子と、前記撮像素子に像を結像する光学系を備えた撮像装置と前記対象物とを前記対象物の周方向に回転装置が相対回転させ、
前記回転装置による相対回転と同期した所定の時間間隔で前記対象物の外周面の画像を前記撮像装置に撮像部が撮像させ、
前記撮像装置が撮像した画像データから、前記突出部の所定の第一面側が撮像される第一領域データ、および前記突出部の前記第一面側と逆側の第二面側が撮像される第二領域データを領域特定部が特定して取得し、
前記第一領域データ、および前記第二領域データを合成して前記外周面の展開画像を画像合成部が生成し、
前記展開画像に基づき対象物表面の傷を検出する
探傷方法。 A flaw detection method for generating an image of the outer peripheral surface of an object having an outwardly projecting protrusion on the outer peripheral surface of a cylinder.
An image pickup device having an image pickup element having a plurality of image pickup pixels arranged in a matrix, an image pickup device provided with an optical system for forming an image on the image pickup element, and the object are rotated relative to each other in the circumferential direction of the object. Let me
The image pickup unit causes the image pickup device to take an image of the outer peripheral surface of the object at a predetermined time interval synchronized with the relative rotation by the rotation device.
From the image data captured by the image pickup apparatus, the first region data in which the predetermined first surface side of the protrusion is imaged, and the second surface side opposite to the first surface side of the protrusion is imaged. Two area data is specified and acquired by the area identification part,
The image synthesizing unit generates a developed image of the outer peripheral surface by synthesizing the first region data and the second region data.
A flaw detection method for detecting scratches on the surface of an object based on the developed image.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020087335A JP7501093B2 (en) | 2020-05-19 | 2020-05-19 | Flaw detection device and flaw detection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020087335A JP7501093B2 (en) | 2020-05-19 | 2020-05-19 | Flaw detection device and flaw detection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021181921A true JP2021181921A (en) | 2021-11-25 |
JP7501093B2 JP7501093B2 (en) | 2024-06-18 |
Family
ID=78606548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020087335A Active JP7501093B2 (en) | 2020-05-19 | 2020-05-19 | Flaw detection device and flaw detection method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7501093B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024127492A1 (en) * | 2022-12-13 | 2024-06-20 | 株式会社Rutilea | Rotary blade inspection device and rotary blade inspection method |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000171409A (en) | 1998-12-02 | 2000-06-23 | Ntt Fanet Systems Corp | Visual examination method and apparatus |
JP5495017B2 (en) | 2009-10-01 | 2014-05-21 | スズキ株式会社 | Tooth contact surface detection device |
JP6298033B2 (en) | 2015-11-26 | 2018-03-20 | Ckd株式会社 | Appearance inspection device |
JP6599829B2 (en) | 2016-09-01 | 2019-10-30 | 富士フイルム株式会社 | Inspection apparatus and method |
JP6671309B2 (en) | 2017-03-13 | 2020-03-25 | 株式会社Screenホールディングス | Inspection device and inspection method |
JP6975423B2 (en) | 2017-12-14 | 2021-12-01 | 株式会社エヌテック | All-around image generator and all-around image generation method |
JP7113627B2 (en) | 2018-02-05 | 2022-08-05 | 株式会社Screenホールディングス | Image Acquisition Device, Image Acquisition Method and Inspection Device |
JP2020038066A (en) | 2018-09-03 | 2020-03-12 | 日立化成株式会社 | Visual inspection system for gear tooth flank |
-
2020
- 2020-05-19 JP JP2020087335A patent/JP7501093B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024127492A1 (en) * | 2022-12-13 | 2024-06-20 | 株式会社Rutilea | Rotary blade inspection device and rotary blade inspection method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7501093B2 (en) | 2024-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3636651B2 (en) | Radiation inspection system and inspection method | |
JP4878907B2 (en) | Image inspection apparatus and image inspection method using the image inspection apparatus | |
TWI475218B (en) | Observation device and observation method | |
JP5144401B2 (en) | Wafer inspection equipment | |
JP2005049221A (en) | Inspection device and inspection method | |
JP2021181921A (en) | Flaw detection device and flaw detection method | |
JP2012026858A (en) | Device for inspecting inner peripheral surface of cylindrical container | |
KR20090130719A (en) | Tomography images acquisition method | |
JP5469012B2 (en) | Imaging apparatus and imaging method of imaging apparatus | |
JP5042503B2 (en) | Defect detection method | |
JP5127781B2 (en) | Internal inspection method for square cans | |
JPH0560527A (en) | Rotary optical image pickup device | |
JP2008020344A (en) | Radiation tomographic imaging system | |
JP2021025878A (en) | Magnetic particle flaw inspection device and magnetic particle flaw inspection method | |
JP2003156453A (en) | Method of inspecting side face | |
JP5584732B2 (en) | Imaging device | |
JP5001815B2 (en) | Film inspection equipment | |
CN114363603A (en) | Camera module inspection device | |
JP2021139630A (en) | Surface inspection device and surface inspection method | |
JP6672897B2 (en) | Inspection device and inspection method for rotating body | |
CN219957395U (en) | Sealing ring image acquisition device | |
JP2011150203A (en) | Device and method for focus adjustment of lens barrel | |
JPH11325862A (en) | Photographing method and photographing device for cylindrical body inner wall surface | |
JP2024049778A (en) | Cylinder inner peripheral surface inspection device | |
JP2021196189A (en) | Inspection device and inspection method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230414 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240415 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240520 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7501093 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |