JP2021065909A - レーザ加工機 - Google Patents

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広太郎 河合
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Abstract

【課題】レーザ切断加工の後工程の処理を無くすか又は減らした上で、レーザ加工機の交換部品コストの低減を図りながら、レーザ加工機の生産性を高めること。【解決手段】レーザ加工ヘッド26の側部に、レーザ加工ヘッド26の内部にアシストガスを供給するためのガス供給口44が形成され、レーザ加工ヘッド26の側部に、供給されたアシストガスの一部をレーザ加工ヘッド26の外側に排出するためのガス排出口50が形成されている。ガス供給口44からガス排出口50に流れるアシストガスの流路がレーザビームのビーム軸BAを横切るように、ガス供給口44の出口開口部44aとガス排出口50の入口開口部50aは、レーザビームのビーム軸BAを挟んで対向配置されている。【選択図】図2

Description

本発明は、板状のワーク材(板金)に対してレーザ切断加工を行うレーザ加工機に関する。
レーザ加工機は、ワーク材に向かってアシストガスを噴射しながらレーザビーム(レーザ光)を照射するレーザ加工ヘッドを備えている。レーザ加工ヘッドは、レーザビームを出力するレーザ発振器に光学的に接続されている。また、レーザ加工ヘッドの内部には、ワーク材に向かってレーザビームを集束させる集束レンズが設けられている。レーザ加工ヘッドの内部における集束レンズのビーム射出側には、高価な集束レンズをスパッタ等から保護する保護ガラスが設けられている。更に、レーザ加工ヘッドの側部には、レーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給するためのガス供給口が設けられている。ガス供給口は、保護ガラスよりも低い高さ位置に位置しており、アシストガスを収容するガスボンベ等のアシストガス供給源に接続されている。
なお、本発明に関連する先行技術として特許文献1に示すものがある。
特表2001−509889号公報
ところで、レーザ切断加工中に、ノズルのノズル開口部(ノズル孔)周辺を除くレーザ加工ヘッドの内部においては、アシストガスの圧力が略一定であり、アシストガスの流速が低速又は略ゼロになっている(後述の実施例参照)。また、ピアシング中には、多量のスパッタがワーク材の加工点から上方向に向かって飛散する。その結果、ピアシング中に、スパッタがノズルのノズル開口部からレーザ加工ヘッドの内部に侵入すれば、保護ガラスに付着し易くなる。更に、スパッタの付着によって保護ガラスの汚れの度合いが大きくなると、加工不良が発生するため、保護ガラスの汚れの度合いを監視しながら、その監視結果に基づいて保護ガラスを交換する必要がある(特許文献1参照)。
しかしながら、保護ガラスが集束レンズよりも安価であるとはいえ、保護ガラスの交換頻度が増えると、レーザ加工機の交換部品コストが増大する。また、保護ガラスの交換を行うには、レーザ切断加工を一旦中断しなければならず、保護ガラスの交換頻度が増えると、レーザ切断加工の中断時間が長くなって、レーザ加工機の生産性が低下する。
一方、保護ガラスの交換頻度を減らすために、レーザ加工ヘッドの内部におけるアシストガスの圧力を高くして、スパッタのレーザ加工ヘッドの内部への侵入を抑えると、融解金属の冷却効果も増し、スパッタの水平方向の飛散距離も増して、ワーク材にピアス穴中心から放射線状に固着する。場合によっては、ワーク材における製品部分にもスパッタが固着して、製品不良を招く。
つまり、製品不良を減らした上で、レーザ加工機の交換部品コストの低減を図りながら、レーザ加工機の生産性を高めることが困難であるという問題がある。
そこで、本発明は、前述の問題を解決するために、保護ガラスへのスパッタ付着を低減できる、レーザ加工機を提供することを目的とする。
実施形態に係るレーザ加工機は、レーザ加工ヘッドの側部に設けられ、集束レンズを保護する保護ガラスとノズル開口部(ノズル孔)の間に位置し、前記レーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給するためのガス供給口と、前記レーザ加工ヘッドの側部に設けられ、前記保護ガラスと前記ノズル開口部の間に位置し、供給されたアシストガスの一部を前記レーザ加工ヘッドの外側に排出するためのガス排出口と、を備える。実施形態に係るレーザ加工機において、前記レーザ加工ヘッドは、前記ガス供給口から供給されたアシストガスが前記ノズル開口部及び前記ガス排出口から排出されるように構成され、前記ガス供給口から前記ガス排出口に流れるアシストガスの流路がレーザビーム(レーザ光)のビーム軸(光軸)を横切るように、前記ガス供給口と前記ガス排出口が対向配置され、前記レーザ加工ヘッド内部における、前記ノズル開口部近傍の流速が前記ガス排出口近傍の流速より速くなるように、前記ノズル開口部の開口面積及び前記ガス排出口の入口開口部の開口面積が設定されている。
実施形態に係るレーザ加工機においては、前記ガス排出口の前記入口開口部の開口面積が前記ガス供給口の出口開口部の開口面積より大きく設定されてもよい。前記ガス供給口の前記出口開口部及び前記ガス排出口の前記入口開口部がスリット状にそれぞれ形成されてもよい。また、実施態様に係るレーザ加工機は、開閉動作によって、前記ガス排出口を前記レーザ加工ヘッドの外側と連通する連通状態と、前記レーザ加工ヘッドの外側との連通を遮断する遮断状態とに切り替える電磁バルブを備えてもよい。この場合に、実施態様に係るレーザ加工機は、ピアシングの開始時又は開始直前に前記電磁バルブの開動作を実行しかつピアシングの終了後に前記電磁バルブの閉動作を実行する制御装置を備えてもよい。
実施態様に係るレーザ加工機の構成によると、ピアシングの開始時又は開始直前に、前記レーザ加工ヘッドの内部に供給されたアシストガスは、前記ノズルの前記ノズル開口部に向かって流れ、前記ノズルの前記ノズル開口部からワーク材に向かって噴射される。また、前記レーザ加工ヘッドの内部に供給されたアシストガスの一部は、前記ガス排出口に向かって流れ、前記レーザ加工ヘッドの外側に排出される。換言すれば、前記レーザ加工ヘッドの内部において、前記ノズルの前記ノズル開口部に向かうメインフローと、前記ガス排出口に向かうサイドフローを生成する。これにより、ピアシング中に、スパッタが前記ノズルの前記ノズル開口部から前記レーザ加工ヘッドの内部に侵入しても、サイドフローによってスパッタを前記ガス排出口から前記レーザ加工ヘッドの外側に排出することができる。つまり、前記レーザ加工ヘッドの内部におけるアシストガスの圧力を高めに設定してなくても、前記保護ガラスへのスパッタ付着を低減することができる。
本発明によれば、ワーク材へのスパッタ固着を抑えつつ、保護ガラスの交換頻度を減らすことができる。よって、製品不良を減らした上で、レーザ加工機の交換部品コストの低減を図りながら、レーザ加工機の生産性を高めることができる。
図1は、実施形態に係るレーザ加工機の模式的な斜視図である。 図2は、実施形態に係るレーザ加工機の主要部の模式的な断面図である。 図3は、図2におけるIII部の拡大図である。 図4は、図3におけるIV-IV線に沿った断面図である。 図5は、図3におけるV部の拡大図である。 図6(a)は、レーザ加工ヘッドの内部からガス供給口の出口開口部を見た図である。図6(b)は、レーザ加工ヘッドの内部からガス排出口の入口開口部を見た図である。図6(c)は、下方向からレーザ加工ヘッドのノズルを見た図である。 図7は、実施形態に係るレーザ加工機の制御ブロック図である。 図8Aは、ガス排出口を遮断状態に切り替えかつガス供給口からレーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給する場合における、レーザ加工ヘッドの内部及びその周辺の圧力分布についての流体解析結果を示す図である。 図8Bは、ガス排出口を遮断状態に切り替えかつガス供給口からレーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給する場合における、レーザ加工ヘッドの内部及びその周辺の流速分布についての流体解析結果を示す図である。 図9Aは、ガス排出口を連通状態に切り替えかつガス供給口からレーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給する場合における、レーザ加工ヘッドの内部及びその周辺の圧力分布についての流体解析結果を示す図である。 図9Bは、ガス排出口を連通状態に切り替えかつガス供給口からレーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給する場合における、レーザ加工ヘッドの内部及びその周辺の流速分布についての流体解析結果を示す図である。
以下、実施形態について図1から図7を参照して説明する。
なお、本願の明細書又は特許請求の範囲において、「設けられる」とは、直接的に設けられることの他に、別部材を介して間接的に設けられることを含む意である。「X軸方向」とは、水平方向の1つである左右方向のことをいい、「Y軸方向」とは、X軸方向に直交する水平方向の1つである前後方向のことをいう。「及び/又は」とは、2つのうちのいずれか一方と両方を含む意である。図面中、「FF」は前方向、「FR」は後方向、「L」は左方向、「R」は右方向、「U」は上方向、「D」は下方向をそれぞれ指している。
図1に示すように、実施形態に係るレーザ加工機10は、板状のワーク材(板金)Wに対してレーザ切断加工を行う。レーザ切断加工には、ピアシングとアプローチ加工と製品加工が含まれる。ピアシングとは、ワーク材Wにおける製品部分Wmの輪郭の近傍にピアス穴Whを形成するための加工のことである。アプローチ加工とは、ピアス穴Whからワーク材Wの製品部分Wmの輪郭まで連絡するスリットWsを形成するための加工のことをいう。製品加工とは、ワーク材Wにおける製品部分Wmの輪郭に沿って切断する加工のことをいう。そして、実施形態に係るレーザ加工機10の具体的な構成は、以下の通りである。
レーザ加工機10は、X軸方向に延びたベッド12を備えている。ベッド12には、ワーク材Wを支持するX軸方向に延びた加工テーブル14が設けられている。加工テーブル14は、X軸方向に間隔を置いて配置された複数の支持板(スキッド板)16を有している。各支持板16は、Y軸方向に延びており、各支持板16の上部には、ワーク材Wを点接触で支持するための複数の山型の突起16aがY軸方向に間隔を置いて形成されている。加工テーブル14には、ワーク材Wの端部をクランプする複数のクランパ(図示省略)が設けられている。
ベッド12には、加工テーブル14を跨ぐようにY軸方向に延びた門型の可動フレーム18がX軸方向へ移動可能に設けられている。可動フレーム18は、ベッド12の適宜位置に設けられたX軸移動アクチュエータとしてのX軸モータ20の駆動によりX軸方向へ移動する。また、可動フレーム18の水平部18aには、キャリッジ22がY軸方向へ移動可能に設けられている。キャリッジ22は、可動フレーム18の適宜位置に設けられたY軸移動アクチュエータとしてのY軸モータ24の駆動によりY軸方向へ移動する。
キャリッジ22には、ワーク材Wに向かってアシストガスを噴射しながらレーザビーム(レーザ光)を照射する筒状のレーザ加工ヘッド26が設けられている。レーザ加工ヘッド26の軸心は、レーザビームのビーム軸(光軸)BAと一致している。レーザ加工ヘッド26は、その先端側(下端側)に、アシストガスを噴射しながらレーザビームを照射するためのノズル28を有しており、ノズル28は、鉛直下方を向いている。レーザ加工ヘッド26は、X軸モータ20の駆動により可動フレーム18と一体的にX軸方向へ移動し、更にY軸モータ24の駆動によりキャリッジ22と一体的にY軸方向へ移動する。また、レーザ加工ヘッド26は、レーザビームを出力(発振)するレーザ発振器の一例としてのファイバレーザ発振器30にプロセスファイバ32を介して光学的に接続されている。
なお、レーザ発振器として、プロセスファイバ32を通じてレーザビームをレーザ加工ヘッド26へ伝送できればよく、ファイバレーザ発振器30の代わりに、YAGレーザ発振器、ディスクレーザ発振器、又はダイレクトダイオードレーザ発振器(DDL発振器)等を用いてもよい。又は、図示はしないが、レーザビームをレーザ加工ヘッド26へ空間伝送する炭酸ガスレーザ発振器を用いてもよい。
図1及び図2に示すように、レーザ加工ヘッド26の内部には、プロセスファイバ32の射出端から出射されレーザビームをコリメートするコリメートレンズ34が設けられている。レーザ加工ヘッド26の内部におけるコリメートレンズ34のビーム射出側(下側)には、レーザビームをワーク材Wに向かって集束させる集束レンズ36がレンズホルダ38を介して設けられている。また、レーザ加工ヘッド26内部の集束レンズ36のビーム射出側には、集束レンズ36をスパッタやヒュームから保護する保護ガラス40が保護ガラスホルダ42を介して設けられている。つまり、保護ガラス40は、保護ガラスホルダ42を介してレーザ加工ヘッド26に着脱可能(引き出し可能)に設けられている。
図2から図6に示すように、レーザ加工ヘッド26の側部には、レーザ加工ヘッド26の内部に酸素、窒素等のアシストガスを供給するためのガス供給口44が形成されている。ガス供給口44は、保護ガラス40よりも低い高さ位置(ノズル28側)に位置している。換言すれば、ガス供給口44は、保護ガラス40とノズル28のノズル開口部(ノズル孔)28hの間に位置している。ガス供給口44の出口開口部44aは、レーザビームのビーム軸BAに対して直交する方向に延びるスリット状に形成されている(図6(a)参照)。ガス供給口44は、アシストガスを収容するガスボンベ等のアシストガス源46にガス配管48を介して接続されている。なお、図示は省略するが、ガス配管48の途中には、ガス配管48の流路を開閉する切替バルブが配設されている。
レーザ加工ヘッド26の側部におけるガス供給口44の反対側には、レーザ加工ヘッド26の内部に供給されたアシストガスの一部をレーザ加工ヘッド26の外側に排出するためのガス排出口50が形成されている。ガス排出口50は、保護ガラス40よりも低い高さ位置に位置している。換言すれば、ガス排出口50は、保護ガラス40とノズル28のノズル開口部28hの間に位置している。ガス排出口50の入口開口部50aは、レーザビームのビーム軸BAに対して直交する方向に延びるスリット状に形成されている(図6(b)参照)。ガス排出口50の出口側は、大気開放されている。レーザ加工ヘッド26は、ガス供給口44から供給されたアシストガスがノズル28のノズル開口部28h及びガス排出口50から排出されるように構成されている。
ガス供給口44からガス排出口50に流れるアシストガスの流路がレーザビームのビーム軸BAを横切るように、ガス供給口44の出口開口部44aとガス排出口50の入口開口部50aは、レーザビームのビーム軸BAを挟んで対向配置されている。換言すれば、ガス排出口50の入口開口部50aは、レーザビームのビーム軸BAに対して直交する方向から見てガス供給口44の出口開口部44aに重なっている。ガス排出口50の入口開口部50aの中心位置50acは、ガス供給口44の出口開口部44aの中心位置44acと同じ高さ位置に位置している(図5参照)。ガス排出口50の入口開口部50aの開口面積は、ノズル28のノズル開口部28hの開口面積よりも小さく設定されている(図6(b)(c)参照)。ガス排出口50の入口開口部50aの開口面積は、ガス供給口44の出口開口部44aの開口面積より大きく設定されている(図6(a)(b)参照)。換言すれば、レーザ加工ヘッド26内部における、ノズル28のノズル開口部28h近傍の流速がガス排出口50近傍の流速より速くなるように、ノズル28のノズル開口部28hの開口面積、ガス供給口44の出口開口部44aの開口面積、及びガス排出口50の入口開口部50aの開口面積が設定されている。
なお、ガス排出口50の入口開口部50aとガス供給口44の出口開口部44aの対向配置は、レーザビームのビーム軸BAに対して直交する方向から見て完全に重なっている場合に限定されるものではなく、少なくともガス排出口50の入口開口部50aとガス供給口44の出口開口部44aとの間をアシストガスが直線的に流れる程度であればよい。ガス排出口50の入口開口部50aの中心位置50acがガス供給口44の出口開口部44aの中心位置44acよりも低い位置でもよい。
図2及び図3に示すように、レーザ加工ヘッド26の側部におけるガス排出口50側には、ガス排出口50の流路を開閉する電磁バルブ52が設けられている。電磁バルブ52は、その開閉動作によって、ガス排出口50をレーザ加工ヘッド26の外側(大気)と連通する連通状態と、レーザ加工ヘッド26の外側との連通を遮断する遮断状態とに切り替える。
なお、電磁バルブ52がガス排出口50を前記連通状態と前記遮断状態とに切り替えることができれば、電磁バルブ52をガス排出口50側から離隔した位置に設けてもよい。この場合には、電磁バルブ52は、ガス排出口50の出口側に接続したガス配管(図示省略)の流路を開閉する。また、ガス排出口50の出口側に、スパッタを捕獲するフィルタ(図示省略)を設けてもよい。ガス排出口50の出口側に、アシストガスを回収してアシストガス源46に戻すための回収配管(図示省略)を接続してもよい。
図7に示すように、レーザ加工機10は、加工プログラム等に基づいて、X軸モータ20、Y軸モータ24、ファイバレーザ発振器30、及び電磁バルブ52等を制御する制御装置54を備えている。NC装置54は、1つ又は複数のコンピュータによって構成されており、加工プログラム等を記憶するメモリと、加工プログラム等を実行するCPU(Central Processing Unit)とを有している。制御装置54は、ピアシングの開始時又は開始直前に電磁バルブ52の開動作を実行する。制御装置54は、電磁バルブ52の開動作を実行した直後に、ファイバレーザ発振器30のレーザビームの出力動作を実行する。制御装置54は、ピアシングの終了直後に電磁バルブ52の閉動作を実行する。制御装置54は、レーザビームの反射光の光量が所定の光量以下になったことに基づいて、ピアシングの終了を認識する。
続いて、実施形態の作用効果について説明する。
(レーザ切断加工に関する作用)
ワーク材Wを加工テーブル14に支持させた状態で、制御装置54は、X軸モータ20及び/又はY軸モータ24を制御してレーザ加工ヘッド26をワーク材Wにおける製品部分Wmの輪郭の近傍の上方位置に位置決めする。次に、制御装置54は、電磁バルブ52の開動作を実行してガス排出口50を前記連通状態に切り替える。そして、制御装置54は、ファイバレーザ発振器30のレーザビームの出力動作を実行する。すると、レーザ加工ヘッド26からワーク材Wに向かってアシストガスを噴射しながらレーザ光を照射する。これにより、ワーク材Wに対してピアシングを行って、ワーク材Wにおける製品部分Wm(図1参照)の輪郭の近傍にピアス穴Wh(図1参照)を形成することができる。また、ピアシング中にレーザ加工ヘッド26内に侵入したスパッタは、ガス排出口50に押し流される。
ピアシングの終了直後に、制御装置54は、電磁バルブ52の開動作を実行してガス排出口50を前記遮断状態に切り替える。そして、レーザ加工ヘッド26からアシストガスを噴射しながらレーザ光を照射した状態で、制御装置54は、X軸モータ20及び/又はY軸モータ24を制御してレーザ加工ヘッド26をワーク材Wにおける製品部分Wmの輪郭の一部の上方位置まで移動させる。これにより、ワーク材Wに対してアプローチ加工を行って、ワーク材WにスリットWs(図1参照)を形成することができる。
アプローチ加工に続けて、レーザ加工ヘッド26からアシストガスを噴射しながらレーザ光を照射した状態で、制御装置54は、X軸モータ20及び/又はY軸モータ24を制御してレーザ加工ヘッド26をワーク材Wにおける製品部分Wmの輪郭に沿って移動させる。これにより、ワーク材Wに対して製品加工を行って、ワーク材Wから製品を取出すことができる。
(アシストガスの流れに関する作用)
前述のように、ガス供給口44の出口開口部44a及びガス排出口50の入口開口部50aがそれぞれスリット状に形成されている。ガス供給口44の出口開口部44aとガス排出口50の入口開口部50aがレーザビームのビーム軸BAを挟んで対向配置されている。ガス排出口50の入口開口部50aの開口面積がガス供給口44の出口開口部44aの開口面積より大きく設定されている。そのため、ピアシングの開始時又は開始直前に、電磁バルブ52の開動作を実行してガス排出口50を前記連通状態に切り替えると、アシストガスは次のように流動する。
ガス供給口44からレーザ加工ヘッド26の内部に供給されたアシストガスは、ノズル28のノズル開口部28hに向かって流れ、ノズル28のノズル開口部28hからワーク材Wに向かって噴射される。また、レーザ加工ヘッド26の内部に供給されたアシストガスの一部は、ガス排出口50に向かって流れ、レーザ加工ヘッド26の外側に排出される。換言すれば、レーザ加工ヘッド26の内部において、ノズル28のノズル開口部28hに向かうメインフロー(本流)と、ガス排出口50に向かうサイドフローを生成する(後述の実施例参照)。これにより、ピアシング中に、スパッタがノズル28のノズル開口部28hからレーザ加工ヘッド26の内部に侵入しても、サイドフローによってスパッタをガス排出口50からレーザ加工ヘッド26の外側に排出することができる。つまり、レーザ加工ヘッド26の内部におけるアシストガスの圧力を高めに設定してなくても、保護ガラス40へのスパッタ付着を低減することができる。
ピアシングの終了直後に、電磁バルブ52の開動作を実行してガス排出口50を前記遮断状態に切り替えるため、スパッタのレーザ加工ヘッド26の内部への侵入を防止しつつ、アシストガスの消費量を最小限に抑えることができる。
(実施形態の効果)
従って、実施形態によれば、レーザ加工ヘッド26の内部におけるアシストガスの圧力を高めに設定してなくても、保護ガラス40へのスパッタ付着を低減できるため、ワーク材Wへのスパッタ固着を抑えつつ、保護ガラス40の交換頻度を減らすことができる。よって、製品不良を減らした上で、レーザ加工機10の交換部品コストの低減を図りながら、レーザ加工機10の生産性を高めることができる。
また、実施形態によれば、ピアシング中にスパッタのレーザ加工ヘッド26の内部への侵入を防止しつつ、ピアシング後においてはアシストガスがノズル28のノズル開口部28hのみからしか噴出されないので、アシストガスの必要以上の消費を抑えることができる。
なお、本発明は、前述の実施形態の説明に限るものでなく、適宜の変更を行うことにより、その他、種々の態様で実施可能である。また、本発明に包含される権利範囲は、前述の実施形態に限定されるものでない。
実施例について、図3、図8Aから図9Bについて説明する。
図3に示すガス排出口50を前記遮断状態に切り替えかつガス供給口44からレーザ加工ヘッド26の内部にアシストガスを供給する場合における、レーザ加工ヘッド26の内部及びその周辺の圧力分布及び流速分布についての流体解析を行った。その結果をまとめると、図8A及び図8Bに示すようになる。なお、レーザ加工ヘッド26の内部及びその周辺の圧力分布及び流速分布について複数種のハッチングによって区分けし、ガス供給口44の内部の圧力分布及び流速分布は解析対象から除外した。
即ち、図8Aに示すように、ノズル28のノズル開口部28h周辺を除くレーザ加工ヘッド26の内部及びガス排出口50の内部においては、圧力が低速又は略一定であることが確認された。また、図8Bに示すように、ノズル28のノズル開口部28h周辺を除くレーザ加工ヘッド26の内部においては、流速が低速又は略ゼロであることが確認された。
更に、レーザ加工ヘッド26の内部及びその周辺の圧力分布及び流速分布についての流体解析を行った。その結果をまとめると、図9A及び図9Bに示すようになる。なお、図9A及び図9Bにおいても、レーザ加工ヘッド26の内部及びその周辺の圧力分布及び流速分布について複数種のハッチングによって区分けし、ガス供給口44の内部の圧力分布及び流速分布は解析対象から除外した。
即ち、図9Aに示すように、入口開口部50a周辺を除くガス排出口50の内部においては、圧力が大気圧程度に下がることが確認された。また、図9Bに示すように、レーザ加工ヘッド26の内部において、ノズル28のノズル開口部28hに向かうメインフローの他に、ガス排出口50に向かうサイドフローを生成することが確認された。ノズル28のノズル開口部28hとワーク材Wとの間の流速が500m/sec程度であるのに対して、サイドフローの流速が300m/sec程度であることが確認された。これにより、ピアシング中に、スパッタがノズル28のノズル開口部28hからレーザ加工ヘッド26の内部に侵入しても、サイドフローによってスパッタをガス排出口50からレーザ加工ヘッド26の外側に排出できる。
また、図9Bに示すように、ガス排出口50の内部における入口開口部50aの直下流側に上向きの流れを生成することが確認された。これは、図9Aに示すように、レーザ加工ヘッド26の内部におけるガス排出口50の入口開口部50aの下側に圧力の高い箇所が生成されていることによるものと考えられる。
10 レーザ加工機
12 ベッド
14 加工テーブル
16 支持板
16a 突起
18 可動フレーム
18a 水平部
20 X軸モータ
22 キャリッジ
24 Y軸モータ
26 レーザ加工ヘッド
28 ノズル
28h ノズル開口部
30 ファイバレーザ発振器
32 プロセスファイバ
34 コリメートレンズ
36 集束レンズ
38 レンズホルダ
40 保護ガラス
42 保護ガラスホルダ
44 ガス供給口
44a 出口開口部
44ac 中心位置
46 アシストガス源
48 ガス配管
50 ガス排出口
50a 入口開口部
50ac 中心位置
52 電磁バルブ
54 制御装置
BA レーザビームのビーム軸
W 板状のワーク材(板金)
Wh ピアス穴
Ws スリット
Wm 製品部分

Claims (5)

  1. レーザ加工ヘッドの側部に設けられ、集束レンズを保護する保護ガラスとノズル開口部の間に位置し、前記レーザ加工ヘッドの内部にアシストガスを供給するためのガス供給口と、
    前記レーザ加工ヘッドの側部に設けられ、前記保護ガラスと前記ノズル開口部の間に位置し、供給されたアシストガスの一部を前記レーザ加工ヘッドの外側に排出するためのガス排出口と、を備え、
    前記レーザ加工ヘッドは、前記ガス供給口から供給されたアシストガスが前記ノズル開口部及び前記ガス排出口から排出されるように構成され、
    前記ガス供給口から前記ガス排出口に流れるアシストガスの流路がレーザビームのビーム軸を横切るように、前記ガス供給口と前記ガス排出口が対向配置され、
    前記レーザ加工ヘッド内部における、前記ノズル開口部近傍の流速が前記ガス排出口近傍の流速より速くなるように、前記ノズル開口部の開口面積及び前記ガス排出口の入口開口部の開口面積が設定されていることを特徴とするレーザ加工機。
  2. 前記ガス排出口の前記入口開口部の開口面積が前記ガス供給口の出口開口部の開口面積より大きく設定されていることを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工機。
  3. 前記ガス供給口の出口開口部及び前記ガス排出口の前記入口開口部がスリット状にそれぞれ形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のレーザ加工機。
  4. 開閉動作によって、前記ガス排出口を前記レーザ加工ヘッドの外側と連通する連通状態と、前記レーザ加工ヘッドの外側との連通を遮断する遮断状態とに切り替える電磁バルブを備えたことを特徴とする請求項1から請求項3のうちのいずれか1項に記載のレーザ加工機。
  5. ピアシングの開始時又は開始直前に前記電磁バルブの開動作を実行しかつピアシングの終了後に前記電磁バルブの閉動作を実行する制御装置を備えたことを特徴とする請求項4に記載のレーザ加工機。
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