JP2021056525A - 表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】フレキシブルな表示パネルを有する表示装置において、曲げによる配線の断線リスクを低減する。【解決手段】第1領域54には、基板40の上に、第1無機膜42、第1絶縁膜44、第2無機膜46、配線58、第3無機膜50、及び有機絶縁膜52がこの順に積層する。第2領域56には、基板40の上に、第1無機膜42、配線58、第3無機膜50、及び有機絶縁膜52がこの順に積層し、且つ第1絶縁膜44と第2無機膜46とが配置されない。第3領域30には、基板40の上に、配線58と有機絶縁膜52とがこの順に積層し、且つ第1無機膜42、第1絶縁膜44、第2無機膜46、及び第3無機膜50が配置されない箇所を備える。【選択図】図3

Description

本発明は表示装置に関する。
有機エレクトロルミネッセンス(electroluminescence:EL)表示装置などのフラットパネルディスプレイは基板上に薄膜トランジスタ(thin film transistor:TFT)や有機発光ダイオード(organic light-emitting diode:OLED)などが形成された表示パネルを有する。表示パネルの基材には従来、ガラス基板が用いられていたが近年、当該基材にポリイミド膜などの樹脂フィルム等を用いて、表示パネルを曲げることができるフレキシブルディスプレイの開発が進められている。
フレキシブルディスプレイの用途として、表示パネルの画像表示領域より外側に設けられ、集積回路(integrated circuit:IC)やフレキシブルプリント基板(flexible printed circuit:FPC)が実装される部分を表示領域の裏側に折り曲げて狭額縁化を図ることが考えられている。
特開2016−031499号公報
表示パネルにて樹脂フィルム等の基材の上には表示素子のほか配線が形成され、配線の表面は無機絶縁膜で被覆される。ここで、フレキシブルな表示パネルでは曲げに伴う応力により配線の断線リスクが高まる。
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであり、フレキシブルな表示パネルを有する表示装置において、曲げによる配線の断線リスクを低減することを目的とする。
本発明に係る表示装置は、可撓性を有する基材の一方の主面上に表示素子及び配線を含む表示機能層を設けた表示パネルを有する表示装置であって、前記一方の主面上に、前記配線の表面を、前記配線に直に接する有機絶縁膜で被覆した有機膜被覆配線領域を有する。
本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の表示パネルの模式的な平面図である。 図1に示すII−II線に沿った位置での表示パネルの模式的な垂直断面図である。 図2(a)に示す領域IIIにおけるアレイ基板の模式的な垂直断面図である。 湾曲領域でのアレイ基板の垂直断面構造の一例を示す模式図である。 湾曲領域でのアレイ基板の垂直断面構造の他の例を示す模式図である。 図2(a)に示す領域IIIにおける配線の下地の段差部を3つとする構成例の模式的な垂直断面図である。 湾曲領域にて配線の下に無機材料膜を配置する構造を示すアレイ基板の模式的な垂直断面図である。
以下、本発明の実施の形態(以下実施形態という。)について図面を参照して説明する。但し、本発明は、その要旨を逸脱しない範囲において様々な態様で実施することができ、以下に例示する実施形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。本明細書と各図において、既出の図に関して説明したものと同様の機能を備えた要素には、同一の符号を付して、重複する説明を省略することがある。
さらに、本発明の詳細な説明において、ある構成物と他の構成物の位置関係を規定する際、「上に」「下に」とは、ある構成物の直上あるいは直下に位置する場合のみでなく、特に断りの無い限りは、間にさらに他の構成物を介在する場合を含むものとする。
本発明の実施形態に係る表示装置は有機EL表示装置であり、その表示パネルは樹脂フィルム等の可撓性を有する基材(フレキシブル基板ともいう)を用いて湾曲可能に構成される。表示パネルにて樹脂フィルム等の基材の上には表示素子のほか配線が形成され、配線の表面は無機絶縁膜で被覆される。ここで、フレキシブルディスプレイでは、上述したように表示パネルの部品実装領域を表示領域の裏側に折り曲げて狭額縁化を図るといったことが行われる。表示パネルを裏側へ折り曲げると、曲がりを有した部分(湾曲部)にて外側面(凸となる表面)寄りの層には引張応力が作用し、内側面(凹となる表面)寄りの層には圧縮応力が作用する。そのため、基本的に配線やその絶縁膜にも応力が作用する。
無機材料膜は上述の引張応力の影響を受け易いため、湾曲部では配線の絶縁膜にクラックを生じ得る。クラックは絶縁膜の絶縁性能を低下させるだけでなく、クラックの近傍にて配線に対する応力集中が起こり配線の断線リスクが高まる。本実施形態の表示パネルでは当該断線リスクの低減が図られる。
図1は実施形態に係る有機EL表示装置の表示パネル2の模式的な平面図である。表示パネル2の本体基板4は矩形であり、表示領域6、額縁領域8及び部品実装領域10からなる。
表示領域6には画素が2次元配列され、各画素に対応してOLEDやTFTなどからなる画素回路が形成される。また表示領域6にはOLED及び画素回路の動作に必要な電気信号や電源を供給するための配線が形成される。
額縁領域8は表示領域6の外縁に位置し、その内側境界は表示領域6の輪郭に一致し、外側境界は矩形であり、その3辺が本体基板4の辺と重複し、残り1辺が部品実装領域10との境界となる。
部品実装領域10は額縁領域8に隣接して設けられる。額縁領域8と部品実装領域10とを、即ち、表示領域6の外側に位置する領域を、周辺領域という。部品実装領域10は3辺が本体基板4の辺と重複し、残り1辺が額縁領域8との境界である矩形である。OLED又は画素回路に信号を供給する配線は、表示領域6から部品実装領域10に引き出される。つまり、部品実装領域10には表示領域6から引き出された一群の配線が配置される。また、部品実装領域10には、当該配線群を外部回路に接続するための接続端子が配置される。例えば、接続端子にはFPC12が接続され、FPC12は表示パネル2に関する駆動回路や制御装置などに接続される。FPC12には例えば、表示パネル2の駆動用IC14などが搭載され得る。駆動用IC14は、本体基板4上の部品実装領域10に配置されてもよい。
図2は図1に示すII−II線に沿った位置での表示パネル2の模式的な垂直断面図である。図2(a)は図1に示すように本体基板4及びFPC12が同一平面上に位置する状態での断面図である。
本体基板4は、基材の一方の主面に表示素子及び配線を含む表示機能層が形成されたアレイ基板20を含む。アレイ基板20は基材の表面に表示機能層として、画素回路のTFTや配線などを形成する層、OLEDを構成する層、OLEDを封止する封止層などが積層された構造を有する。アレイ基板20は可撓性を備えたフィルム状の基材を用いてフレキシブルに形成される。例えば、当該基材としてポリイミドなどの可撓性絶縁材を用いることができる。本体基板4はさらに、アレイ基板20の表示面に貼り付けられた保護フィルム22や偏光板24、またアレイ基板20の裏面に貼り付けられた補強フィルム26や熱拡散シート28などを含み得る。アレイ基板20の保護フィルム22が配置されていない箇所には、図2(a)に示すように、樹脂膜60が配置されている。なお、偏光板24が保護フィルム22を兼ねる構造にしてもよい。また、熱拡散シート28を配置しない構造も有り得る。
本体基板4は部品実装領域10にて湾曲可能に構成される。これにより、表示領域6から見て湾曲領域30より先の部品実装領域10である非湾曲領域32、及びFPC12、またFPC12に接続される他の回路基板を表示領域6の裏側に折り返すことができる。
このように折り返すことで、表示パネル2の平面視のサイズを小さくすることができ、表示パネル2を搭載する電子機器の小型化を図ることができる。なお、部品実装領域10は、湾曲領域30より表示領域6側の位置にも非湾曲領域38を備えている。図2(b)はこの場合の断面図であり、本体基板4の部品実装領域10及びFPC12を本体基板4の表示領域6の裏面側に折り返した状態での断面図である。
このように表示パネル2のうち本体基板4の部品実装領域10に設ける湾曲領域30から先の部分が裏面に隠れることにより、電子機器の正面に占める表示領域6の割合を大きくすることができる。また、駆動用IC14などを表示パネル2のうち裏面に折り返される部分に搭載し、表示面側に現れる額縁領域8はIC等の部品の配置領域として用いないようにすることにより、額縁領域8の面積を小さくできる。すなわち、表示デバイスにおけるいわゆる狭額縁化を進めることができる。
なお、湾曲領域30には補強フィルム26を貼り付けないことで、当該領域の柔軟性を増し、より小さい曲率半径で表示パネル2を湾曲させることができる。図2(b)に示す湾曲部34の曲率半径が小さくなるほど、折り曲げられた表示パネル2の平面視でのサイズも小さくなり、また折り曲げられた表示パネル2の厚さも小さくなる。
また、湾曲領域30に補強フィルム26を貼り付けないことで、湾曲部34における曲げ応力の中立面の位置は補強フィルム26を被着した部分よりも表面側(アレイ基板20における樹脂膜60が配置されている側)に移動し得る。本実施形態では、湾曲領域30におけるアレイ基板20の裏面に補強フィルム26を貼付しないことと、部品実装領域10におけるアレイ基板20の表面に塗布・積層する樹脂膜60とにより、湾曲部34における応力の中立面の位置を制御してアレイ基板20の表面に形成される配線層における応力を小さくし、配線の断線を起こりにくくする。例えば、湾曲部34における中立面の位置を配線層の近傍に制御することで応力を小さくすることができる。また、配線層が中立面より内側面寄り、つまり、表示パネル2の湾曲により凹となる面寄りに位置するように中立面の位置を調節することで、配線の応力が圧縮方向となり、引張応力よりも断線を起こしにくくすることが可能である。
折り曲げられた表示パネル2の内側、即ち、図2(b)に示す断面視で非湾曲領域(図2(a)に示す領域32,38)に挟まれた隙間にはスペーサー36が配置される。スペーサー36は当該隙間の間隔を一定以上に保つ。これにより、表示パネル2に厚み方向の圧力が加わっても湾曲部34の曲率が許容範囲に保たれる。またスペーサー36の端部は湾曲部34の背面に応じた曲率の曲面とし、当該端部を湾曲部34の背面に当接させることで、湾曲部34の表面に圧力が加わっても湾曲部34の形状を一定に保つことができる。
図3は図2(a)に示す領域IIIにおけるアレイ基板20の模式的な垂直断面図である。図3に示す断面は、部品実装領域10のうち湾曲領域30より表示領域6側に位置する非湾曲領域38と、湾曲領域30のうち表示領域6側の端部領域とを含んでいる。
さて、上述したように本体基板4は、基材の一方の主面に表示素子及び配線を含む表示機能層が形成されたアレイ基板20を含む。ここで、基材上の積層構造を表示機能層と称しているのは、その主要部が表示領域6における構造であるからであるが、表示領域6に積層する膜を額縁領域8及び部品実装領域10にも積層し、それら領域に必要な構造を形成することができる。当該表示領域6に積層する膜は、表示領域6から連続して額縁領域8及び部品実装領域10まで延在してもよい。また、当該表示領域6に積層する膜は、表示領域6と額縁領域8と部品実装領域10とにおいて、同層に位置するが、連続せずに分断して配置されてもよい。
例えば、部品実装領域10には表示領域6と共通にアンダーコート層42(第1無機膜)、TEOS膜44(第1絶縁膜)、層間絶縁膜46(第2無機膜)、金属膜48、SiN膜50(第3無機膜)、有機平坦化膜52(有機絶縁膜)が積層され得る。
具体的には、アンダーコート層42はアレイ基板20の基材40の表面に積層される層であり、下地膜ともいう。基材40は、可撓性を有する基板(樹脂基板、フィルム基板)であり、例えばポリイミドを用いて形成される。アンダーコート層42は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNy)等からなる無機膜で形成され、それらの積層構造であっても良い。本実施形態では、アンダーコート層42は基材40の表面全体に成膜した後、アンダーコート層42のうち図3に現れる部分より右側はエッチングにより除去し、図3に示す構造にパターニングされる。これにより、部品実装領域10におけるアンダーコート層42は非湾曲領域38のうち湾曲領域30の近傍を除く部分に積層される。また、基材40の厚さは、アンダーコート層42が除去された部分の方が、アンダーコート層42が設けられている部分よりも、小さい。
アンダーコート層42の上には半導体層が積層され、表示領域6では当該半導体層により画素回路のTFTのチャネル領域、ソース領域及びドレイン領域が形成される。半導体層の形成後、表示領域6におけるゲート絶縁膜としてTEOS(TetraEthyl OrthoSilicate)からなるTEOS膜44が積層される。なお、TEOS膜に代えてSiOxからなるSiO膜を用いることもできる。
表示領域6ではTEOS膜44の上に積層した金属膜をパターニングしてTFTのゲート電極などが形成される。当該ゲート電極等を覆って、層間絶縁膜46として無機膜が積層される。
一方、部品実装領域10では図3に示すように、TEOS膜44及び層間絶縁膜46は非湾曲領域38のうち表示領域側の一部の領域54に設けられる。即ち、TEOS膜44及び層間絶縁膜46は、表示領域6から額縁領域8を通り非湾曲領域38の途中まで(領域54まで)延びて、位置している。部品実装領域10の領域54以外の部分に設けられたTEOS膜44及び層間絶縁膜46は、例えばエッチングによって除去される。これにより、図3に示す領域54よりも湾曲領域30の側に位置する領域56において、アンダーコート層42の表面が露出される。
層間絶縁膜46の上には金属膜48が形成される。当該金属膜をパターニングして表示領域6にはTFTのソース電極及びドレイン電極、並びに配線群が形成される。一方、部品実装領域10では金属膜48により、上述した表示領域6から引き出される配線群や当該配線群を外部回路に接続するための接続端子が形成される。
図3に示す金属膜48は当該配線群のうちの1本の配線58に対応する。部品実装領域10の配線58は表示領域6から非湾曲領域38及び湾曲領域30を経由して、図2(a)に示す非湾曲領域32まで延在される。ここで、図3に示すように湾曲領域30では、配線58は基材40の表面に形成される。湾曲領域30では配線58の下層に位置するアンダーコート層42、TEOS膜44及び層間絶縁膜46が配置されていないので、配線58は湾曲部34にて内側面に近づく(基材40の側に近づく)。これにより、配線58の位置を応力の中立面の位置、又は圧縮応力となる中立面より基材40の側とすることが可能となり、引張応力による配線58の破断を避けることが可能となる。なお、配線58が基材40の表面に形成される領域は、図3に示すように非湾曲領域38のうち、湾曲領域30に隣接する部分の一部に及んでも良い。
図3に示す実施形態の構造において、基材40と配線58との間の厚さ方向の距離、即ち基材40と配線58との間に位置する層の厚み(積層された複数の層厚の合計)は、非湾曲領域38の表示領域6側から湾曲領域30側へ向けて、段階的に減少している。領域54では、配線58(金属膜48)の下にはアンダーコート層42、TEOS膜44及び層間絶縁膜46が存在する。一方、領域56では、配線58(金属膜48)の下にはアンダーコート層42のみが設けられる。なお、領域56におけるアンダーコート層42の厚さを、領域54におけるアンダーコート層42の厚さよりも小さくしてもよい。さらに、湾曲領域30では、配線58(金属膜48)が基材40の表面に形成される。つまり、基材40と金属膜48との間の厚さ方向の距離が3段階に変えられる。このように、領域54と湾曲領域30とでの金属膜48の下地の高低差を複数の段差に分散させ、各段差を小さくすることで、段差部分での配線58の断線を生じにくくすることができる。
SiNyで形成されたSiN膜50は金属膜48の上に積層される。部品実装領域10におけるSiN膜50は図3に示す例では、非湾曲領域38のうち領域56の右端を除く部分に積層される。SiN膜50の端部の位置は非湾曲領域38内であればよい。つまり、SiN膜50の端部は非湾曲領域38における配線58が基材40の表面に形成される領域に及んでも良いが、湾曲領域30の配線58の上にはSiN膜50は形成されない。
SiN膜50等の無機材料膜の絶縁膜は引張応力によりクラックを生じ易い。また、湾曲部34では外側面寄りほど引張応力が生じ易いので、湾曲領域30(湾曲部34)にSiN膜50を配置すると、クラックが生ずる可能性はより大きくなる。そして当該SiN膜50等のクラック(配線58の直上に位置するクラック)は配線58の破断の原因となり得る。本実施形態では、湾曲領域30では配線58の表面にSiN膜50などの無機材料膜を積層していないので、配線58の破断を抑制する顕著な効果を有している。
有機平坦化膜52は表示領域6ではTFTや配線等が形成されたアレイ基板20の表面を平坦化し、その平坦化された表面にOLEDが形成される。一方、部品実装領域10では、図3に示すように、有機平坦化膜52は、SiN膜50が形成される領域ではSiN膜50の表面に積層され、また、SiN膜50が形成されない領域では配線58を覆う。
配線58を被覆した有機平坦化膜52は、有機平坦化膜52形成後の工程での各種処理から配線58を保護し、またアレイ基板20の完成後においては配線58を絶縁する機能や配線58の腐食を抑制する等の配線58を保護する機能を有する。例えば、有機平坦化膜52はアクリルを主成分とするポジ型感光性有機材料で形成される。なお、図3に示す積層構造とは異なり、SiN膜50が有機平坦化膜52の上に配置されてもよい。
SiN膜50が形成されず有機平坦化膜52が配線58を覆う領域を有機膜被覆配線領域と称することにすると、少なくとも湾曲領域30は有機膜被覆配線領域とされる。
さらに部品実装領域10には樹脂が塗布され、有機平坦化膜52の上に樹脂膜60が形成される。例えば、樹脂膜60の塗布工程は、部品実装領域10にFPC12やICを実装した後に行われる。当該塗布工程は、部品実装領域10にFPC12やICを実装した後とすることで、それら接続部を樹脂膜60で保護することが可能である。しかし、FPC12やICの実装前に当該塗布工程を行ってもよい。
図3に示す構成では既に述べたように、湾曲領域30においてはアンダーコート層42、TEOS膜44、層間絶縁膜46が設けられず、基材40の表面に配線58が接して配置されている。図4は湾曲領域30でのアレイ基板20の模式的な垂直断面図であり、図3のIV−IV線に沿った断面を示している。基材40の絶縁表面に下面を接して配線58が形成され、配線58の上に有機平坦化膜52が積層される。有機平坦化膜52は配線58の表面、つまり上面及び側面を被覆する。上述したように有機平坦化膜52は絶縁性を備え配線58を絶縁する機能を有し、また配線58を保護する機能を有する。有機平坦化膜52の上には樹脂膜60が積層される。
一般的に有機平坦化膜52や樹脂膜60はSiOxやSiNy等の無機材料膜よりも柔軟であり、例えば、湾曲させた際の引張応力の影響を比較的受けにくい。そのため、湾曲領域30にて配線58を被覆する有機平坦化膜52はSiN膜50に比べて曲げによるクラック等を生じにくく、配線58の断線が防止される。また、湾曲領域30は基材40と配線58との間のアンダーコート層42等の無機材料膜が除去されることでも曲げやすくなっている。これらの構成により、湾曲部34の曲率を大きくしてそのサイズを小さくし、表示パネル2の平面サイズや厚みの一層の縮小を図ることができる。
図4に示す構造では、有機平坦化膜52は複数の配線58に亘って連続して形成されている。一方、有機平坦化膜52は配線58ごとに分離して形成してもよい。図5は当該構造を示すアレイ基板20の模式的な垂直断面図であり、図3の湾曲領域30のIV−IV線に沿った断面を示している。基材40の絶縁表面に下面を接して配線58が形成され、配線58の上に有機平坦化膜52が積層される。例えば、有機平坦化膜52はフォトレジストを用いて形成され、フォトリソグラフィ技術により配線58間の有機平坦化膜52を除去する。これにより、配線58の上面及び側面が有機平坦化膜52で被覆され、配線58間に基材40の表面が露出する構造が形成される。樹脂膜60は有機平坦化膜52の表面及びそれらの間に露出する基材40の表面を被覆する。
上述したように、基材40と配線58との間の厚さ方向の距離を表示領域6側から湾曲領域30側にかけて複数回に分けて段階的に小さくすることで、当該距離の変化を段階的な変化とはしない場合と比べ、当該距離が変化する、複数箇所に分けられた個々の段差部の高低差を小さくすることができ、段差部での配線58の断線が起こりにくくなる。図3に示す構造では、当該距離が順次小さくなる領域が3つあるので、段差部は2つ設けられている。なお、段差部は3つ以上設けてもよい。
図6は段差部を3つ設ける構成例を示す断面図であり、図3と同様、図2(a)に示す領域IIIにおけるアレイ基板20の模式的な垂直断面図である。図6の構造では、アンダーコート層42が残される領域のうち湾曲領域30側の一部の領域70にてアンダーコート層42の厚みを薄くする。これにより、非湾曲領域38には、図3の構成と同様の領域54及び領域56に加え、薄くされたアンダーコート層42が存在する領域70が形成される。
領域70の構造は例えば、アンダーコート層42をエッチングで一部除去することにより形成できる。具体的には、アンダーコート層42の上に、フォトレジスト等でエッチングマスクを形成し、エッチング処理により領域70のアンダーコート層42を選択的に削る。
図6に示す構造では、当該エッチング処理に対するエッチングストッパ膜72が少なくとも領域70に形成される。例えば、アンダーコート層42を多層膜で形成する際に、それら多層膜の間にエッチングストッパ膜72が形成される。例えば、アンダーコート層42をSiOとSiNとの積層構造にし、SiOとSiNとの間にエッチングストッパ膜72を配置する。この場合、領域54,56,70に連続して延在するSiOを形成し、当該SiOに接して、図6に示す位置にエッチングストッパ膜72を設け、更に当該SiOとエッチングストッパ膜72とに接してSiNを形成する。その後、領域70に位置する当該SiNをエッチングする。このエッチング工程において、エッチングストッパ膜72が形成されているので、エッチングストッパ膜72の下層に位置するSiOはエッチングされない。即ち、領域70におけるアンダーコート層42のエッチングはエッチングストッパ膜72に達すると停止する。領域70ではエッチングにより露出したエッチングストッパ膜72の表面に配線58が形成される。
エッチングストッパ膜72の材料は、アンダーコート層42のエッチングに対して選択比が大きいものであればよい。例えば、SiOx、SiNyで形成されるアンダーコート層42に対して、ポリシリコンでエッチングストッパ膜72を形成することができる。また、エッチングストッパ膜72は金属膜や透明アモルファス酸化物半導体(transparent amorphous oxide semiconductors:TAOS)で形成することもできる。
なお、図3及び図6の構成にて、表示領域6から見て湾曲領域30より先の非湾曲領域32での基材40上の積層構造は湾曲領域30と基本的に共通とすることができる。すなわち、非湾曲領域32には、基材40と配線58との間のアンダーコート層42、TEOS膜44及び層間絶縁膜46は積層されず、配線58は湾曲領域30から非湾曲領域32にかけて基本的に平坦に形成される。
上述の実施形態では、湾曲領域30にて配線58の下に無機材料膜が存在しない。これに対して、湾曲領域30に形成された配線58の表面は上述の実施形態と同様、無機材料膜で被覆しないが、配線58の下には無機材料膜を配置する構造とすることもできる。図7は当該構造を示すアレイ基板20の模式的な垂直断面図であり、湾曲領域30における図4、図5と同様の断面を示している。配線58を形成する位置に対応して、アンダーコート層42が残され、そのアンダーコート層42の表面に図5と同様の構造の配線58及び有機平坦化膜52が形成される。湾曲部34にてアンダーコート層42は配線58より内側面寄り(基材40の側)に位置し、アンダーコート層42に対する応力は基本的に圧縮応力である。つまり、引張応力下で生じやすいクラックはアンダーコート層42には生じにくく、配線58の破断も生じにくい。
樹脂膜60は、上述した応力の中立面の位置の制御の機能を有すると共に、配線58を保護する機能も有する。すなわち、樹脂膜60は、配線58を保護する有機平坦化膜52の上を覆うことで、配線58の保護を強固にする。具体的には、樹脂膜60を設けることにより、配線58の断線や傷・ヒビや配線58への水分浸入の一層の抑制が図られる。
一方、有機平坦化膜52は、樹脂膜60の塗布工程に先んじて形成され、樹脂膜60の形成前においても配線58を保護する。また、有機平坦化膜52は配線58の表面に接するので、表示パネル2又は本体基板4が高温となる環境、状況で使用される場合や、温度変化が激しい環境、状況で使用される場合には、有機平坦化膜52を基材40と同様に熱膨張係数が小さい材料とすることで配線58の応力を低減する機能を持たせることができる。この点、フォトレジスト膜は概して低熱膨張率であるので、有機平坦化膜52に好適である。
配線58を有機平坦化膜52と樹脂膜60との2層の有機絶縁膜で保護する構造では、好適な保護を実現する有機絶縁膜の材料選択が容易となる。例えば、有機平坦化膜52の材料は水分浸入阻止の能力よりも熱膨張率が低いことに重きを置いて選択し、樹脂膜60の材料は水分浸入阻止の能力に重きを置いて選択することができる。
上述の実施形態では、部品実装領域10の湾曲領域30が有機膜被覆配線領域とされ、湾曲部での配線保護を図っているが、有機膜被覆配線領域とすることによる湾曲部での配線保護は本体基板4の部品実装領域10以外の部分にて湾曲部を設ける際にも適用することができる。具体的には、表示領域6の画素回路や各種信号線と部品実装領域10の端子とをつなぐ配線は額縁領域8を通る。例えば、この額縁領域8に有機膜被覆配線領域を設け湾曲させることができ、額縁領域8を裏面に折り曲げることで表示パネル2の一層のサイズ縮小を図れる。また、表示領域自体を曲げたり、折り畳んだりすることができる表示パネルの開発も行われており、表示パネル2をそのようなものとする場合には表示領域6に設ける湾曲領域を有機膜被覆配線領域としてもよい。
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく種々の変形が可能である。例えば、実施形態で説明した構成は、実質的に同一の構成、同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成で置き換えることができる。
2 表示パネル、4 本体基板、6 表示領域、8 額縁領域、10 部品実装領域、12 FPC、14 駆動用IC、20 アレイ基板、22 保護フィルム、24 偏光板、26 補強フィルム、28 熱拡散シート、30 湾曲領域、32,38 非湾曲領域、34 湾曲部、36 スペーサー、40 基材、42 アンダーコート層、44 TEOS膜、46 層間絶縁膜、48 金属膜、50 SiN膜、52 有機平坦化膜、58 配線、60 樹脂膜。

Claims (10)

  1. 表示領域と、
    前記表示領域の外側に位置する周辺領域と、
    可撓性を有する基板と、
    前記基板の上に位置する第1無機膜と、
    前記第1無機膜の上に位置する第1絶縁膜と、
    前記第1絶縁膜の上に位置する第2無機膜と、
    前記第2無機膜の上に位置する配線と、
    前記配線の上に位置する第3無機膜と、
    前記第3無機膜の上に位置する有機絶縁膜と、を有し、
    前記周辺領域は、
    第1領域と、
    前記第1領域に接し、前記第1領域に対して前記表示領域とは反対の側に位置する第2領域と、
    前記第2領域に対して前記第1領域とは反対の側に位置する第3領域と、を有し、
    前記第1領域には、前記基板の上に、前記第1無機膜、前記第1絶縁膜、前記第2無機膜、前記配線、前記第3無機膜、及び前記有機絶縁膜がこの順に積層し、
    前記第2領域には、前記基板の上に、前記第1無機膜、前記配線、前記第3無機膜、及び前記有機絶縁膜がこの順に積層し、且つ前記第1絶縁膜と前記第2無機膜とが配置されず、
    前記第3領域には、前記基板の上に、前記配線と前記有機絶縁膜とがこの順に積層し、且つ前記第1無機膜、前記第1絶縁膜、前記第2無機膜、及び前記第3無機膜が配置されない箇所を備えることを特徴とする表示装置。
  2. 請求項1に記載の表示装置において、
    前記第3領域は湾曲していることを特徴とする表示装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の表示装置において、
    前記基板は、前記第1領域における第1の厚さと、前記第3領域における第2の厚さとを有し、
    前記第1無機膜は、前記基板に直に接する第1膜と、前記第1膜に対して前記基板とは反対の側に位置する第2膜とを含み、
    前記第2の厚さは、前記第1の厚さよりも小さく、
    前記基板は、前記第1の厚さから前記第2の厚さへ厚さが減少する段差部を有し、
    前記段差部に接して、前記第1の厚さの基板上に、前記第1膜と、前記第1膜に直に接するポリシリコン又は酸化物半導体からなる半導体層と、前記半導体層に直に接する前記配線とが積層する第4領域を有することを特徴とする表示装置。
  4. 請求項3に記載の表示装置において、
    前記第4領域に接し、且つ前記第4領域に対して前記段差部とは反対の側に、前記第1膜、前記半導体層、前記第2膜がこの順で積層する領域を有することを特徴とする表示装置。
  5. 請求項1から請求項4の何れか1項に記載の表示装置において、
    前記第1無機膜は、前記第1領域における厚さよりも、前記第2領域における厚さの方が、小さいことを特徴とする表示装置。
  6. 請求項1から請求項5の何れか1項に記載の表示装置において、
    前記配線は、複数本が並んで配置され、
    前記第3領域において、前記有機絶縁膜は、複数の前記配線の上面と側面とに直に接し、且つ複数の前記配線の間の部分を埋めていることを特徴とする表示装置。
  7. 請求項1から請求項5の何れか1項に記載の表示装置において、
    前記配線は、複数本が並んで配置され、
    前記第3領域において、前記有機絶縁膜は、複数の前記配線の上面と側面とに直に接し、且つ複数の前記配線の間には、前記有機絶縁膜が位置しない部分を有し、
    少なくとも前記第3領域には、前記配線と前記有機絶縁膜と、前記有機絶縁膜が位置しない前記部分とを覆う樹脂膜が位置することを特徴とする表示装置。
  8. 請求項7に記載の表示装置において、
    複数の前記配線の各々と前記基板との間に、前記第1無機膜が複数の前記配線の各々に沿って位置することを特徴とする表示装置。
  9. 請求項1から請求項8の何れか1項に記載の表示装置において、
    前記第3領域に対して前記第2領域とは反対の側に、前記基板の端部が位置し、
    前記端部には、フレキシブルプリント基板が配置され、
    前記端部と前記フレキシブルプリント基板とは、前記第2領域に重なって折り返されることを特徴とする表示装置。
  10. 請求項1から請求項9の何れか1項に記載の表示装置において、
    前記表示領域には、薄膜トランジスタが配置され、
    前記第1絶縁膜は、前記薄膜トランジスタのゲート絶縁膜であることを特徴とする表示装置。

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