JP2021034025A - レーダ反射点のクラスタリング装置、方法及び電子機器 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施例はレーダ反射点のクラスタリング方法を提供する。図1は本発明の実施例のレーダ反射点のクラスタリング方法を示す1つの概略図である。図1に示すように、該方法は以下のステップを含む。
本発明の実施例はレーダ反射点のクラスタリング装置を提供し、第1実施例と同様な内容について説明を省略する。
(外2)
となる。
本発明の実施例は、第2実施例に記載のレーダ反射点のクラスタリング装置を含む電子機器をさらに提供し、ここでその内容を援用する。該電子機器は例えばコンピュータ、サーバ、ワークステーション、ラップトップコンピュータ、スマートフォンなどであってもよく、本発明の実施例はこれに限定されない。
(外3)
となる。
Claims (10)
- レーダ反射点のクラスタリング装置であって、
検出対象から反射されたレーダエコー信号に基づいてレーダ反射点情報を取得する取得部と、
検出対象の特徴に基づいて第1クラスタリング係数を決定し、前記第1クラスタリング係数に基づいて前記レーダ反射点情報に対して第1クラスタリングを行う第1クラスタリング部と、
前記第1クラスタリング後に形成された少なくとも2つのクラスタが条件を満たすか否かを判断する判断部と、
前記少なくとも2つのクラスタが前記条件を満たす場合、前記第1クラスタリング係数を第2クラスタリング係数に調整し、前記第2クラスタリング係数に基づいて前記レーダ反射点情報に対して第2クラスタリングを行う第2クラスタリング部と、を含む、装置。 - 前記レーダ反射点情報は、空間次元情報、速度次元情報及び強度次元情報のうちの少なくとも1つを含み、
前記第1クラスタリング係数及び/又は前記第2クラスタリング係数は、空間重み係数、速度重み係数及び強度重み係数のうちの少なくとも1つを含み、
前記空間重み係数は、長さ重み係数、幅重み係数及び高さ重み係数のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の装置。 - 前記条件は、前記少なくとも2つのクラスタ間の距離が第1閾値よりも小さいか否か、前記少なくとも2つのクラスタの高さが第2閾値よりも小さいか否か、前記少なくとも2つのクラスタのレーダ点の数の差が第3閾値よりも大きいか否か、前記少なくとも2つのクラスタの速度の差が第4閾値よりも大きいか否か、及び前記少なくとも2つのクラスタの信号強度の差が第5閾値よりも大きいか否か、のうちの1つ又は任意の組み合わせを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記少なくとも2つのクラスタが前記条件を満たす場合、検出対象の特徴に基づいて前記レーダ反射点情報を変換する変換部、をさらに含み、
前記第2クラスタリング部は、前記第2クラスタリング係数及び変換後のレーダ反射点情報に基づいて前記レーダ反射点情報に対して前記第2クラスタリングを行う、請求項1に記載の装置。 - 前記変換部は、
前記少なくとも2つのクラスタの中心点に基づいて前記中心点間の角度を計算し、
前記角度に基づいて前記レーダ反射点情報に対して空間次元回転を行い、前記変換後のレーダ反射点情報を取得する、請求項4に記載の装置。 - 前記検出対象の特徴は、前記検出対象の形態特徴、前記検出対象の運動特徴、及び前記検出対象の反射特徴のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記検出対象の形態特徴は、長さと幅との比率、長さと高さとの比率、幅と高さとの比率、又は長さと幅と高さとの比率を含み、
前記検出対象の運動特徴は、平行移動運動の一致性、回転運動の一致性、又は運動の類似性を含み、
前記検出対象の反射特徴は、密度、材料、信号吸収、又は反射比率を含む、請求項7に記載の装置。 - レーダ反射点のクラスタリング方法であって、
検出対象から反射されたレーダエコー信号に基づいてレーダ反射点情報を取得するステップと、
検出対象の特徴に基づいて第1クラスタリング係数を決定し、前記第1クラスタリング係数に基づいて前記レーダ反射点情報に対して第1クラスタリングを行うステップと、
前記第1クラスタリング後に形成された少なくとも2つのクラスタが条件を満たすか否かを判断するステップと、
前記少なくとも2つのクラスタが前記条件を満たす場合、前記第1クラスタリング係数を第2クラスタリング係数に調整し、前記第2クラスタリング係数に基づいて前記レーダ反射点情報に対して第2クラスタリングを行うステップと、を含む、方法。 - コンピュータプログラムが記憶されているメモリと、プロセッサと、を含む電子機器であって、
前記プロセッサは、
検出対象から反射されたレーダエコー信号に基づいてレーダ反射点情報を取得するステップと、
検出対象の特徴に基づいて第1クラスタリング係数を決定し、前記第1クラスタリング係数に基づいて前記レーダ反射点情報に対して第1クラスタリングを行うステップと、
前記第1クラスタリング後に形成された少なくとも2つのクラスタが条件を満たすか否かを判断するステップと、
前記少なくとも2つのクラスタが前記条件を満たす場合、前記第1クラスタリング係数を第2クラスタリング係数に調整し、前記第2クラスタリング係数に基づいて前記レーダ反射点情報に対して第2クラスタリングを行うステップと、を実行する、電子機器。
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