JP2020166919A - Magnetic recording medium - Google Patents
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Abstract
Description
本技術は、磁気記録媒体に関する。 The present technology relates to magnetic recording media.
近年、コンピュータ用データストレージとして利用されている磁気テープ（磁気記録媒体）では、データの記録密度を向上するために、トラック幅及び隣接するトラック間の距離は非常に狭くなっている。このようにトラック幅及びトラック間の距離が狭くなると、例えば温湿度変化などの環境要因に起因するテープ自体の寸法変化量として最大許容される変化量がますます小さくなる。 In recent years, in magnetic tapes (magnetic recording media) used as data storage for computers, the track width and the distance between adjacent tracks are very narrow in order to improve the data recording density. When the track width and the distance between tracks are narrowed in this way, the maximum permissible amount of change in the dimensions of the tape itself due to environmental factors such as temperature and humidity changes becomes smaller and smaller.
寸法変化量を小さくするための技術がこれまでにいくつか提案されてきている。例えば、下記特許文献１に開示された磁気テープ媒体は、非磁性支持体の幅方向のヤング率をＸ且つバック層の幅方向のヤング率をＹとしたときに、Ｘが８５０ｋｇ／ｍｍ２以上であるか又は８５０ｋｇ／ｍｍ２未満の場合はＸ×Ｙが６×１０５以上であり、且つ、磁性層を含む層の幅方向のヤング率をＺとしたときＹ／Ｚが６．０以下であることを特徴とする。 Several techniques for reducing the amount of dimensional change have been proposed so far. For example, the magnetic tape medium disclosed in Patent Document 1 below has an X of 850 kg / mm 2 or more, where X is the Young's modulus in the width direction of the non-magnetic support and Y is the Young's modulus in the width direction of the back layer. and in which either or 850kg / mm X × Y in the case of less than 2 6 × 10 5 or more in, and, Y / Z is 6.0 or less when the width direction of the Young's modulus of the layer containing the magnetic layer is Z It is characterized by being.
本技術は、テープの長手方向にかかるテンションを調整することによって、幅方向の寸法変化を抑制することができる磁気記録媒体を提供することを主目的とする。 A main object of the present technology is to provide a magnetic recording medium capable of suppressing a dimensional change in the width direction by adjusting the tension applied in the longitudinal direction of the tape.
本技術は、
磁性層、非磁性層、ベース層、及びバック層をこの順に有する層構造を有し、
磁気記録媒体の平均厚みｔ Ｔ が、３．５μｍ≦ｔ Ｔ ≦５．５μｍであり、
磁気記録媒体の長手方向のテンション変化に対する磁気記録媒体の幅方向の寸法変化量Δｗが、７００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎであり、且つ、
前記長手方向の収縮率が、０．０８％以下である、長尺状の磁気記録媒体を提供する。
前記寸法変化量Δｗは、７５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎでありうる。
前記寸法変化量Δｗは、８００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎでありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みｔ Ｔ は、３．５μｍ≦ｔ Ｔ ≦５．３μｍでありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みｔ Ｔ は、３．５μｍ≦ｔ Ｔ ≦５．２μｍでありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みｔ Ｔ は、３．５μｍ≦ｔ Ｔ ≦５．０μｍでありうる。
前記磁性層の平均厚みｔ m は、３５ｎｍ≦ｔ m ≦１２０ｎｍでありうる。
前記非磁性層の平均厚みは、０．６μｍ以上２．０μｍ以下でありうる。
前記ベース層の平均厚みは、２．５μｍ以上６μｍ以下でありうる。
前記ベース層の平均厚みは、２．６μｍ以上５μｍ以下でありうる。
前記バック層の平均厚みｔ b は、ｔ b ≦０．６μｍでありうる。
前記収縮率が、０．０７％以下でありうる。
長手方向の１％伸び荷重が、０．６０Ｎ以下でありうる。
長手方向の１％伸び荷重が、０．５５Ｎ以下でありうる。
前記磁性層は磁性粉および結着剤を含み、
前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、バリウムフェライト磁性粉又はコバルトフェライト磁性粉を含むものでありうる。
前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉を含み、
前記磁気記録媒体のＳＦＤ（Switching Field Distribution）曲線におけるメインピーク高さＸと磁場ゼロ付近のサブピークの高さＹとのピーク比Ｘ／Ｙが、３．０以上１００以下でありうる。
前記ε酸化鉄磁性粉の平均粒子サイズが、８ｎｍ以上２２ｎｍ以下でありうる。
前記磁性粉は、バリウムフェライト磁性粉を含み、
前記磁性層の平均厚みｔ ｍ ［ｎｍ］が、３５ｎｍ≦ｔ ｍ ≦１００ｎｍであり、
前記磁気記録媒体の垂直方向における保磁力Ｈｃが、１６０ｋＡ／ｍ以上２８０ｋＡ／ｍ以下でありうる。
前記バリウムフェライト磁性粉の平均粒子サイズが、１２ｎｍ以上２５ｎｍ以下でありうる。
前記磁気記録媒体の温度膨張係数αが、５．５［ｐｐｍ／℃］≦α≦９［ｐｐｍ／℃］でありうる。
前記磁気記録媒体の湿度膨張係数βが、β≦５．５［ｐｐｍ／％ＲＨ］でありうる。
前記磁気記録媒体のポアソン比ρが、０．２５≦ρでありうる。
長手方向の弾性限界値σ MD が、０．７［Ｎ］≦σ MD でありうる。
前記弾性限界値σ MD が、弾性限界測定を行う際の速度Ｖに依らないものでありうる。
前記磁性層が垂直配向しているものでありうる。
前記磁性層は、３以上１１以下のサーボバンドを有するものでありうる。
前記磁性層は、前記長手方向に平行な複数の記録トラックを形成可能に構成され、
前記記録トラックの幅は、２μｍ以下でありうる。
前記ベース層は、ポリエステル系樹脂を含むものでありうる。
磁性面と該磁性面とは反対側となるバック面とを有し、
前記磁性面と前記バック面の層間摩擦係数μが、０．２０≦μ≦０．８０でありうる。
前記バック層の表面粗度Ｒ ａｂ が、３．０ｎｍ≦Ｒ ａｂ ≦７．５ｎｍでありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比が、６５％以上でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比が、７３％以上でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における保磁力Ｈｃが、２２０ｋＡ／ｍ以上３１０ｋＡ／ｍ以下でありうる。
本技術は、
前記磁気記録媒体と、
カートリッジケースと、
リールと、を含み、
前記磁気記録媒体が、前記リールに巻き取られた状態で前記カートリッジケース内に収容されている磁気記録カートリッジを提供する。
This technology
It has a layer structure having a magnetic layer, a non-magnetic layer, a base layer, and a back layer in this order.
The average thickness t T of the magnetic recording medium is 3.5 μm ≤ t T ≤ 5.5 μm .
The amount of dimensional change Δw in the width direction of the magnetic recording medium with respect to the tension change in the longitudinal direction of the magnetic recording medium is 700 ppm / N ≦ Δw ≦ 20000 ppm / N, and
Provided is a long magnetic recording medium having a shrinkage rate in the longitudinal direction of 0.08% or less.
The amount of dimensional change Δw can be 750 ppm / N ≦ Δw ≦ 20000 ppm / N.
The amount of dimensional change Δw can be 800 ppm / N ≦ Δw ≦ 20000 ppm / N.
The average thickness t T of the magnetic recording medium can be 3.5 μm ≦ t T ≦ 5.3 μm .
The average thickness t T of the magnetic recording medium can be 3.5 μm ≦ t T ≦ 5.2 μm .
The average thickness t T of the magnetic recording medium can be 3.5 μm ≦ t T ≦ 5.0 μm .
The average thickness t m of the magnetic layer may be 35nm ≦ t m ≦ 120nm.
The average thickness of the non-magnetic layer can be 0.6 μm or more and 2.0 μm or less .
The average thickness of the base layer can be 2.5 μm or more and 6 μm or less .
The average thickness of the base layer can be 2.6 μm or more and 5 μm or less .
The average thickness t b of the back layer can be t b ≤ 0.6 μm .
The shrinkage rate can be 0.07% or less .
The 1% elongation load in the longitudinal direction can be 0.60 N or less .
The 1% elongation load in the longitudinal direction can be 0.55 N or less .
The magnetic layer contains magnetic powder and a binder and contains
The magnetic powder may include ε iron oxide magnetic powder, barium ferrite magnetic powder, or cobalt ferrite magnetic powder .
The magnetic powder contains ε iron oxide magnetic powder and contains
The peak ratio X / Y of the main peak height X and the sub-peak height Y near zero magnetic field in the SFD (Switching Field Distribution) curve of the magnetic recording medium may be 3.0 or more and 100 or less .
The average particle size of the ε-iron oxide magnetic powder can be 8 nm or more and 22 nm or less .
The magnetic powder contains barium ferrite magnetic powder and contains
The average thickness t m of the magnetic layer [nm] is a 35nm ≦ t m ≦ 100nm,
The coercive force Hc in the vertical direction of the magnetic recording medium can be 160 kA / m or more and 280 kA / m or less .
The average particle size of the barium ferrite magnetic powder can be 12 nm or more and 25 nm or less .
The coefficient of thermal expansion α of the magnetic recording medium can be 5.5 [ppm / ° C] ≤ α ≤ 9 [ppm / ° C] .
The coefficient of thermal expansion β of the magnetic recording medium can be β ≦ 5.5 [ppm /% RH] .
The Poisson's ratio ρ of the magnetic recording medium can be 0.25 ≦ ρ .
The elastic limit value σ MD in the longitudinal direction can be 0.7 [N] ≤ σ MD .
The elastic limit value σ MD may not depend on the velocity V when performing the elastic limit measurement .
The magnetic layer may be vertically oriented .
The magnetic layer may have a servo band of 3 or more and 11 or less .
The magnetic layer is configured to be capable of forming a plurality of recording tracks parallel to the longitudinal direction.
The width of the recording track can be 2 μm or less .
The base layer may contain a polyester resin .
It has a magnetic surface and a back surface that is opposite to the magnetic surface.
The inter-story friction coefficient μ between the magnetic surface and the back surface can be 0.20 ≦ μ ≦ 0.80 .
The surface roughness R ab of the back layer may be 3.0 nm ≦ R ab ≦ 7.5 nm .
The vertical square ratio of the magnetic recording medium can be 65% or more .
The vertical square ratio of the magnetic recording medium can be 73% or more .
The coercive force Hc in the vertical direction of the magnetic recording medium can be 220 kA / m or more and 310 kA / m or less .
This technology
With the magnetic recording medium
Cartridge case and
Including reels
Provided is a magnetic recording cartridge in which the magnetic recording medium is housed in the cartridge case in a state of being wound on the reel .
以下、本技術を実施するための好適な形態について説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態を示したものであり、本技術の範囲がこれらの実施形態のみに限定されることはない。 Hereinafter, a suitable mode for carrying out the present technology will be described. It should be noted that the embodiments described below show typical embodiments of the present technology, and the scope of the present technology is not limited to these embodiments.
本技術について、以下の順序で説明を行う。
１．本技術の説明
２．第１の実施形態（塗布型の磁気記録媒体の例）
（１）磁気記録媒体の構成
（２）各層の説明
（３）物性及び構造
（４）磁気記録媒体の製造方法
（５）記録再生装置
（６）効果
（７）変形例
３．第２の実施形態（真空薄膜型の磁気記録媒体の例）
（１）磁気記録媒体の構成
（２）各層の説明
（３）物性及び構造
（４）スパッタ装置の構成
（５）磁気記録媒体の製造方法
（６）効果
（７）変形例
４．第３の実施形態（真空薄膜型の磁気記録媒体の例）
５．実施例
This technology will be described in the following order.
1. 1. Description of this technology 2. First Embodiment (Example of coating type magnetic recording medium)
(1) Configuration of magnetic recording medium (2) Description of each layer (3) Physical properties and structure (4) Manufacturing method of magnetic recording medium (5) Recording / playback device (6) Effect (7) Modification example 3. Second embodiment (example of vacuum thin film type magnetic recording medium)
(1) Configuration of magnetic recording medium (2) Description of each layer (3) Physical properties and structure (4) Configuration of sputtering equipment (5) Manufacturing method of magnetic recording medium (6) Effect (7) Modification example 4. Third Embodiment (Example of vacuum thin film type magnetic recording medium)
5. Example
１．本技術の説明 1. 1. Description of this technology
磁気記録媒体（例えば磁気記録テープ）の記録容量をさらに高めることが求められている。例えば、記録容量（記録面積）を増やすために、磁気記録媒体をより薄くして（全厚を低減して）、磁気記録媒体を含むカートリッジ製品１つ当たりのテープ長を増加させることが考えられる。
しかしながら、磁気記録媒体がより薄くなることによって、トラック幅方向の寸法変化が起こり易くなりうる。当該寸法変化は、特に長期保存した場合に起こりやすい。幅方向の寸法変化は、例えばオフトラック現象など、磁気記録にとって望ましくない現象を引き起こしうる。オフトラック現象は、磁気ヘッドが読み取るべきトラック位置に対象のトラックが存在しないこと、又は、磁気ヘッドが間違ったトラック位置を読み取ることをいう。
It is required to further increase the recording capacity of a magnetic recording medium (for example, a magnetic recording tape). For example, in order to increase the recording capacity (recording area), it is conceivable to make the magnetic recording medium thinner (reduce the total thickness) and increase the tape length per cartridge product including the magnetic recording medium. ..
However, as the magnetic recording medium becomes thinner, dimensional changes in the track width direction can easily occur. The dimensional change is likely to occur especially after long-term storage. Dimensional changes in the width direction can cause undesired phenomena for magnetic recording, such as off-track phenomena. The off-track phenomenon means that the target track does not exist at the track position to be read by the magnetic head, or the magnetic head reads the wrong track position.
従来は、磁気記録媒体の寸法変化抑制のために、例えば磁気記録媒体の寸法変化抑制のための層を追加するなどの手法が行われていた。
しかしながら、当該層の追加は磁気記録テープの厚みを高める場合があり、前記カートリッジ製品１つ当たりのテープ長を増加させない。
Conventionally, in order to suppress the dimensional change of the magnetic recording medium, for example, a method of adding a layer for suppressing the dimensional change of the magnetic recording medium has been performed.
However, the addition of the layer may increase the thickness of the magnetic recording tape and does not increase the tape length per cartridge product.
本発明者らは、長尺状の磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することによって当該磁気記録媒体の幅を一定又はほぼ一定に保つことができる記録再生装置における使用に適している磁気記録媒体を検討している。当該記録再生装置は、例えば磁気記録媒体の幅方向の寸法又は寸法変化を検知し、検知結果に基づき長手方向のテンションを調整する。
しかしながら、寸法変化が抑制された磁気記録媒体は、長手方向のテンション変化による幅方向の寸法変化量が小さい。そのため、当該磁気記録媒体は、前記記録再生装置による長手方向のテンション調整を行っても、その幅を一定又はほぼ一定に保つことは難しい。
The present inventors have made magnetic recording suitable for use in a recording / playback apparatus capable of keeping the width of the long magnetic recording medium constant or substantially constant by adjusting the tension in the longitudinal direction of the long magnetic recording medium. I am considering a medium. The recording / reproducing device detects, for example, the width direction dimension or the dimensional change of the magnetic recording medium, and adjusts the tension in the longitudinal direction based on the detection result.
However, the magnetic recording medium in which the dimensional change is suppressed has a small amount of dimensional change in the width direction due to the tension change in the longitudinal direction. Therefore, it is difficult to keep the width of the magnetic recording medium constant or substantially constant even if the tension is adjusted in the longitudinal direction by the recording / reproducing device.
以上の状況を踏まえ、本発明者らは、薄く、長手方向のテンションを調整する記録再生装置における使用に適しており、且つ、前記記録再生装置における使用のための適性が保存によって低下することを抑制することができる磁気記録媒体について検討した。その結果、本発明者らは特定の構成を有する磁気記録媒体がこれらの要件を満たすことを見出した。すなわち、本技術は、平均厚みｔＴが、ｔＴ≦５．５μｍであり、長手方向のテンション変化に対する幅方向の寸法変化量Δｗが、６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、且つ、長手方向の収縮率が、０．０８％以下である、磁気記録媒体を提供する。 In view of the above circumstances, the present inventors have stated that they are thin and suitable for use in a recording / reproducing device that adjusts tension in the longitudinal direction, and that the suitability for use in the recording / reproducing device is reduced by storage. A magnetic recording medium that can be suppressed was examined. As a result, the present inventors have found that a magnetic recording medium having a specific configuration satisfies these requirements. That is, in the present technology, the average thickness t T is t T ≦ 5.5 μm, the amount of dimensional change Δw in the width direction with respect to the tension change in the longitudinal direction is 650 ppm / N ≦ Δw, and the contraction in the longitudinal direction. Provided is a magnetic recording medium having a rate of 0.08% or less.
本技術に従う磁気記録媒体の平均厚みｔＴは、５．５μｍ以下であり、より好ましくは５．３μｍ以下であり、さらにより好ましくは５．２μｍ以下、５．０μｍ以下又は４．６μｍ以下でありうる。本技術に従う磁気記録媒体はこのように薄いものであるので、例えば１つの磁気記録カートリッジ中に巻き取られるテープ長をより長くすることができ、これにより１つの磁気記録カートリッジ当たりの記録容量を高めることができる。 The average thickness t T of the magnetic recording medium according to the present technology is 5.5 μm or less, more preferably 5.3 μm or less, and even more preferably 5.2 μm or less, 5.0 μm or less, or 4.6 μm or less. sell. Since the magnetic recording medium according to the present technology is so thin, for example, the length of the tape wound in one magnetic recording cartridge can be made longer, thereby increasing the recording capacity per magnetic recording cartridge. be able to.
本技術に従う磁気記録媒体は、長手方向のテンション変化に対する幅方向の寸法変化量Δｗが、６５０ｐｐｍ／Ｎ以上であり、より好ましくは６７０ｐｐｍ／Ｎ以上であり、さらにより好ましくは７００ｐｐｍ／Ｎ以上、７１０ｐｐｍ／Ｎ以上、７３０ｐｐｍ／Ｎ以上、７５０ｐｐｍ／Ｎ以上、７８０ｐｐｍ／Ｎ以上、又は８００ｐｐｍ／Ｎ以上であってよい。磁気記録媒体が上記数値範囲内の寸法変化量Δｗを有することが、当該磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することで当該磁気記録媒体の幅を一定に保つことを可能とすることに貢献する。
また、前記寸法変化量Δｗの上限は、特に限定されるものではないが、例えば１７０００００ｐｐｍ／Ｎ以下、好ましくは２００００ｐｐｍ／Ｎ以下、より好ましくは８０００ｐｐｍ／Ｎ以下、さらにより好ましくは５０００ｐｐｍ／Ｎ以下、４０００ｐｐｍ／Ｎ以下、３０００ｐｐｍ／Ｎ以下、又は２０００ｐｐｍ／Ｎ以下でありうる。寸法変化量Δｗが大きすぎる場合、製造工程内で安定して走行させることが困難になる場合がある。
寸法変化量Δｗの測定方法は、以下２．の（３）において説明する。
In the magnetic recording medium according to the present technology, the amount of dimensional change Δw in the width direction with respect to the tension change in the longitudinal direction is 650 ppm / N or more, more preferably 670 ppm / N or more, still more preferably 700 ppm / N or more, 710 ppm. It may be / N or more, 730 ppm / N or more, 750 ppm / N or more, 780 ppm / N or more, or 800 ppm / N or more. The fact that the magnetic recording medium has a dimensional change amount Δw within the above numerical range contributes to making it possible to keep the width of the magnetic recording medium constant by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium. To do.
The upper limit of the dimensional change amount Δw is not particularly limited, but is, for example, 1700000 ppm / N or less, preferably 20000 ppm / N or less, more preferably 8000 ppm / N or less, still more preferably 5000 ppm / N or less. It can be 4000 ppm / N or less, 3000 ppm / N or less, or 2000 ppm / N or less. If the amount of dimensional change Δw is too large, it may be difficult to run the product stably in the manufacturing process.
The method for measuring the amount of dimensional change Δw is as follows. This will be described in (3).
本技術に従う磁気記録媒体は、長手方向の収縮率が、０．０８％以下であり、好ましくは０．０７％以下である。収縮率が上記数値範囲内にあることによって、磁気記録媒体を長期保存した場合にも、前記記録再生装置における使用への適性が変わらない。そのため、例えばオフトラック現象など、磁気記録にとって望ましくない現象が起こりにくくなる。また、前記長手方向の収縮率は、例えば０％以上であってよい。
収縮率の測定方法は、以下２．の（３）において説明する。
The magnetic recording medium according to the present technology has a shrinkage rate in the longitudinal direction of 0.08% or less, preferably 0.07% or less. When the shrinkage rate is within the above numerical range, the suitability for use in the recording / reproducing device does not change even when the magnetic recording medium is stored for a long period of time. Therefore, an undesired phenomenon for magnetic recording, such as an off-track phenomenon, is less likely to occur. Further, the shrinkage rate in the longitudinal direction may be, for example, 0% or more.
The method for measuring the shrinkage rate is as follows. This will be described in (3).
本技術に従う磁気記録媒体は、好ましくはバック層を備え、前記バック層の表面粗度Ｒａｂは、好ましくは３．０ｎｍ≦Ｒａｂ≦７．５ｎｍであり、より好ましくは３．０ｎｍ≦Ｒａｂ≦７．３ｎｍである。表面粗度Ｒａｂが上記数値範囲内にあることが、磁気記録媒体のハンドリング性の向上に貢献する。
前記バック層の表面粗度Ｒａｂは、より好ましくは７．２ｎｍ以下であり、さらにより好ましくは７．０ｎｍ以下、６．５ｎｍ以下、６．３ｎｍ以下、又は６．０ｎｍ以下であってよい。また、前記表面粗度Ｒａｂは、より好ましくは３．２ｎｍ以上であり、さらにより好ましくは３．４ｎｍ以上であってよい。表面粗度Ｒａｂが上記数値範囲内にあることによって、特には上記上限値以下であることによって、ハンドリング性の向上に加えて、良好な電磁変換特性を達成することができる。
表面粗度Ｒａｂの測定方法は、以下２．の（３）において説明する。
The magnetic recording medium according to the present technology preferably includes a back layer, and the surface roughness R ab of the back layer is preferably 3.0 nm ≦ R ab ≦ 7.5 nm, and more preferably 3.0 nm ≦ R ab. ≦ 7.3 nm. The fact that the surface roughness R ab is within the above numerical range contributes to the improvement of the handleability of the magnetic recording medium.
The surface roughness R ab of the back layer is more preferably 7.2 nm or less, and even more preferably 7.0 nm or less, 6.5 nm or less, 6.3 nm or less, or 6.0 nm or less. The surface roughness R ab may be more preferably 3.2 nm or more, and even more preferably 3.4 nm or more. When the surface roughness R ab is within the above numerical range, particularly when it is not more than the above upper limit value, it is possible to achieve good electromagnetic conversion characteristics in addition to improving handleability.
The method for measuring the surface roughness R ab is as follows. This will be described in (3).
本技術に従い磁気記録媒体は、好ましくは長尺状の磁気記録媒体であり、例えば磁気記録テープ（特には長尺状の磁気記録テープ）でありうる。 According to the present technology, the magnetic recording medium is preferably a long magnetic recording medium, for example, a magnetic recording tape (particularly a long magnetic recording tape).
本技術に従う磁気記録媒体は、磁性層、ベース層、及びバック層を備えていてもよく、これらの層に加えて、他の層を含んでいてよい。当該他の層は、磁気記録媒体の種類に応じて適宜選択されてよい。本技術に従う磁気記録媒体は、例えば塗布型の磁気記録媒体であってよく又は真空薄膜型の磁気記録媒体であってよい。前記塗布型の磁気記録媒体について、以下２．においてより詳細に説明する。真空薄膜型の磁気記録媒体について、以下３．及び４．においてより詳細に説明する。上記３つの層以外に前記磁気記録媒体に含まれる層については、これらの説明を参照されたい。 The magnetic recording medium according to the present technology may include a magnetic layer, a base layer, and a back layer, and may include other layers in addition to these layers. The other layer may be appropriately selected depending on the type of magnetic recording medium. The magnetic recording medium according to the present technology may be, for example, a coating type magnetic recording medium or a vacuum thin film type magnetic recording medium. Regarding the coating type magnetic recording medium, the following 2. Will be described in more detail in. Regarding the vacuum thin film type magnetic recording medium, the following 3. And 4. Will be described in more detail in. For layers included in the magnetic recording medium other than the above three layers, refer to these explanations.
本技術に従う磁気記録媒体は、例えば少なくとも一つのデータバンドと少なくとも二つのサーボバンドとを有しうる。データバンドの数は例えば２〜１０であり、特には３〜６、より特には４又は５でありうる。サーボバンドの数は、例えば３〜１１であり、特には４〜７であり、より特には５又は６でありうる。これらサーボバンド及びデータバンドは、例えば長尺状の磁気記録媒体（特には磁気記録テープ）の長手方向に延びるように、特には略平行となるように配置されていてよい。前記データバンド及び前記サーボバンドは、前記磁性層に設けられうる。このようにデータバンド及びサーボバンドを有する磁気記録媒体として、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に従う磁気記録テープを挙げることができる。すなわち、本技術に従う磁気記録媒体は、ＬＴＯ規格に従う磁気記録テープであってよい。例えば、本技術に従う磁気記録媒体は、ＬＴＯ８又はそれ以降の規格（例えばＬＴＯ９、ＬＴＯ１０、ＬＴＯ１１、又はＬＴＯ１２など）に従う磁気記録テープであってよい。
本技術に従う長尺状の磁気記録媒体（特には磁気記録テープ）の幅は、例えば５ｍｍ〜３０ｍｍであり、特には７ｍｍ〜２５ｍｍであり、より特には１０ｍｍ〜２０ｍｍ、さらにより特には１１ｍｍ〜１９ｍｍでありうる。長尺状の磁気記録媒体（特には磁気記録テープ）の長さは、例えば５００ｍ〜１５００ｍでありうる。例えばＬＴＯ８規格に従うテープ幅は１２．６５ｍｍであり、長さは９６０ｍである。
A magnetic recording medium according to the present technology may have, for example, at least one data band and at least two servo bands. The number of data bands can be, for example, 2-10, in particular 3-6, more particularly 4 or 5. The number of servo bands can be, for example, 3-11, particularly 4-7, and more particularly 5 or 6. These servo bands and data bands may be arranged so as to extend in the longitudinal direction of, for example, a long magnetic recording medium (particularly a magnetic recording tape), and in particular to be substantially parallel to each other. The data band and the servo band may be provided on the magnetic layer. As a magnetic recording medium having a data band and a servo band as described above, a magnetic recording tape conforming to the LTO (Linear Tape-Open) standard can be mentioned. That is, the magnetic recording medium according to the present technology may be a magnetic recording tape according to the LTO standard. For example, the magnetic recording medium according to the present technology may be a magnetic recording tape according to LTO8 or a later standard (for example, LTO9, LTO10, LTO11, or LTO12).
The width of a long magnetic recording medium (particularly a magnetic recording tape) according to the present technology is, for example, 5 mm to 30 mm, particularly 7 mm to 25 mm, more particularly 10 mm to 20 mm, and even more particularly 11 mm to 19 mm. Can be. The length of the long magnetic recording medium (particularly the magnetic recording tape) can be, for example, 500 m to 1500 m. For example, the tape width according to the LTO8 standard is 12.65 mm, and the length is 960 m.
２．第１の実施形態（塗布型の磁気記録媒体の例） 2. First Embodiment (Example of coating type magnetic recording medium)
（１）磁気記録媒体の構成 (1) Configuration of magnetic recording medium
まず、図１を参照して、第１の実施形態に係る磁気記録媒体１０の構成について説明する。磁気記録媒体１０は、例えば垂直配向処理を施した磁気記録媒体であって、図１に示すように、長尺状のベース層（基体ともいう）１１と、ベース層１１の一方の主面上に設けられた下地層（非磁性層）１２と、下地層１２上に設けられた磁性層（記録層ともいう）１３と、ベース層１１の他方の主面上に設けられたバック層１４とを備える。以下では、磁気記録媒体１０の両主面のうち、磁性層１３が設けられた側の面を磁性面といい、当該磁性面とは反対側の面（バック層１４が設けられた側の面）をバック面という。 First, the configuration of the magnetic recording medium 10 according to the first embodiment will be described with reference to FIG. The magnetic recording medium 10 is, for example, a magnetic recording medium that has been subjected to a vertical alignment treatment, and as shown in FIG. 1, is on one main surface of a long base layer (also referred to as a substrate) 11 and a base layer 11. A base layer (non-magnetic layer) 12 provided on the base layer 12, a magnetic layer (also referred to as a recording layer) 13 provided on the base layer 12, and a back layer 14 provided on the other main surface of the base layer 11. To be equipped. In the following, of the two main surfaces of the magnetic recording medium 10, the surface on the side where the magnetic layer 13 is provided is referred to as a magnetic surface, and the surface opposite to the magnetic surface (the surface on the side where the back layer 14 is provided). ) Is called the back surface.
磁気記録媒体１０は長尺状を有し、記録再生の際には長手方向に走行される。また、磁気記録媒体１０は、好ましくは１００ｎｍ以下、より好ましくは７５ｎｍ以下、更により好ましくは６０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成されていてよく、例えば最短記録波長が上記範囲内にある記録再生装置に用いられうる。この記録再生装置は、記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備えるものであってもよい。記録トラック幅は、例えば２μｍ以下である。 The magnetic recording medium 10 has a long shape and travels in the longitudinal direction during recording and reproduction. Further, the magnetic recording medium 10 may be configured to be capable of recording a signal at the shortest recording wavelength of preferably 100 nm or less, more preferably 75 nm or less, still more preferably 60 nm or less, and particularly preferably 50 nm or less, for example, the shortest recording. It can be used for recording / playback devices whose wavelength is within the above range. This recording / reproducing device may include a ring-shaped head as a recording head. The recording track width is, for example, 2 μm or less.
（２）各層の説明 (2) Explanation of each layer
（ベース層） (Base layer)
ベース層１１は、磁気記録媒体１０の支持体として機能しうるものであり、例えば可撓性を有する長尺状の非磁性基体であり、特には非磁性のフィルムでありうる。ベース層１１の厚みは、例えば２μｍ以上８μｍ以下であり、好ましくは２．２μｍ以上７μｍ以下であり、より好ましくは２．５μｍ以上６μｍ以下であり、さらにより好ましくは２．６μｍ以上５μｍ以下でありうる。ベース層１１は、例えば、ポリエステル系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、芳香族ポリエーテルケトン樹脂、及びその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種を含みうる。ベース層１１が上記材料のうちの２種以上を含む場合、それらの２種以上の材料は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、又は、積層されていてもよい。 The base layer 11 can function as a support for the magnetic recording medium 10, and can be, for example, a flexible, elongated non-magnetic substrate, particularly a non-magnetic film. The thickness of the base layer 11 is, for example, 2 μm or more and 8 μm or less, preferably 2.2 μm or more and 7 μm or less, more preferably 2.5 μm or more and 6 μm or less, and even more preferably 2.6 μm or more and 5 μm or less. sell. The base layer 11 may contain, for example, at least one of a polyester resin, a polyolefin resin, a cellulose derivative, a vinyl resin, an aromatic polyetherketone resin, and other polymer resins. When the base layer 11 contains two or more of the above materials, the two or more materials may be mixed, copolymerized, or laminated.
前記ポリエステル系樹脂は、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、ＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）、ＰＢＮ（ポリブチレンナフタレート）、ＰＣＴ（ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート）、ＰＥＢ（ポリエチレン−ｐ−オキシベンゾエート）、及びポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの１種又は２種以上の混合物であってよい。本技術の好ましい実施態様に従い、ベース層１１は、ＰＥＴ又はＰＥＮから形成されてよい。 The polyester resin is, for example, PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene terephthalate), PBT (polybutylene terephthalate), PBN (polybutylene terephthalate), PCT (polycyclohexylene methylene terephthalate), PEB (polyethylene- It may be one or a mixture of two or more of p-oxybenzoate) and polyethylene bisphenoxycarboxylate. According to a preferred embodiment of the technique, the base layer 11 may be formed from PET or PEN.
前記ポリオレフィン系樹脂は、例えば、ＰＥ（ポリエチレン）及びＰＰ（ポリプロピレン）のうちの１種又は２種以上の混合物であってよい。 The polyolefin-based resin may be, for example, one or a mixture of two or more of PE (polyethylene) and PP (polypropylene).
前記セルロース誘導体は、例えば、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、ＣＡＢ（セルロースアセテートブチレート）、及びＣＡＰ（セルロースアセテートプロピオネート）のうちの１種又は２種以上の混合物であってよい。 The cellulose derivative may be, for example, one or a mixture of one or more of cellulose diacetate, cellulose triacetate, CAB (cellulose acetate butyrate), and CAP (cellulose acetate propionate).
前記ビニル系樹脂は、例えば、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）及びＰＶＤＣ（ポリ塩化ビニリデン）のうちの１種又は２種以上の混合物であってよい。 The vinyl resin may be, for example, one or a mixture of two or more of PVC (polyvinyl chloride) and PVDC (polyvinylidene chloride).
前記芳香族ポリエーテルケトン樹脂は、例えば、ＰＥＫ（ポリエーテルケトン）、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）、ＰＥＫＫ（ポリエーテルケトンケトン）、及びＰＥＥＫＫ（ポリエーテルエーテルケトンケトン）のうちの１種又は２種以上の混合物であってよい。本技術の好ましい実施態様に従い、ベース層１１は、ＰＥＥＫから形成されてよい。 The aromatic polyetherketone resin is, for example, one or two of PEK (polyetherketone), PEEK (polyetheretherketone), PEKK (polyetherketoneketone), and PEEKK (polyetheretherketoneketone). It may be a mixture of seeds or more. According to a preferred embodiment of the technique, the base layer 11 may be formed from PEEK.
前記その他の高分子樹脂は、例えば、ＰＡ（ポリアミド、ナイロン）、芳香族ＰＡ（芳香族ポリアミド、アラミド）、ＰＩ（ポリイミド）、芳香族ＰＩ（芳香族ポリイミド）、ＰＡＩ（ポリアミドイミド）、芳香族ＰＡＩ（芳香族ポリアミドイミド）、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール、例えばザイロン（登録商標））、ポリエーテル、ポリエーテルエステル、ＰＥＳ（ポリエーテルサルフォン）、ＰＥＩ（ポリエーテルイミド）、ＰＳＦ（ポリスルフォン）、ＰＰＳ（ポリフェニレンスルフィド）、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＡＲ（ポリアリレート）、及びＰＵ（ポリウレタン）のうちの１種又は２種以上の混合物であってよい。 The other polymer resins include, for example, PA (polyamide, nylon), aromatic PA (aromatic polyamide, aramid), PI (polyimide), aromatic PI (aromatic polyimide), PAI (polyamideimide), and aromatic. PAI (aromatic polyamide-imide), PBO (polybenzoxazole, eg, Zyrone®), polyether, polyether ester, PES (polyethersulphon), PEI (polyetherimide), PSF (polysulphon), It may be one or a mixture of two or more of PPS (polyphenylene sulfide), PC (polyamide), PAR (polyamide), and PU (polyimide).
（磁性層） (Magnetic layer)
磁性層１３は、例えば垂直記録層でありうる。磁性層１３は、磁性粉を含みうる。磁性層１３は、磁性粉に加えて、例えば結着剤及び導電性粒子をさらに含みうる。磁性層１３は、必要に応じて、例えば潤滑剤、研磨剤、及び防錆剤などの添加剤をさらに含んでいてもよい。 The magnetic layer 13 can be, for example, a perpendicular recording layer. The magnetic layer 13 may contain magnetic powder. The magnetic layer 13 may further contain, for example, a binder and conductive particles in addition to the magnetic powder. The magnetic layer 13 may further contain additives such as, for example, a lubricant, an abrasive, and a rust preventive, if necessary.
磁性層１３の平均厚みｔｍは、好ましくは３５ｎｍ≦ｔｍ≦１２０ｎｍであり、より好ましくは３５ｎｍ≦ｔｍ≦１００ｎｍであり、特に好ましくは３５ｎｍ≦ｔｍ≦９０ｎｍでありうる。磁性層１３の平均厚みｔｍが上記数値範囲内にあることが、電磁変換特性の向上に貢献する。 The average thickness t m of the magnetic layer 13 is preferably 35nm ≦ t m ≦ 120nm, more preferably 35nm ≦ t m ≦ 100nm, particularly preferably be a 35nm ≦ t m ≦ 90nm. The fact that the average thickness t m of the magnetic layer 13 is within the above numerical range contributes to the improvement of the electromagnetic conversion characteristics.
磁性層１３の平均厚みｔｍは以下のようにして求められる。まず、磁気記録媒体１０を、その主面に対して垂直に薄く加工して試験片を作製し、その試験片の断面を透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察を行う。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍
次に、得られたＴＥＭ像を用い、磁気記録媒体１０の長手方向で少なくとも１０点以上の位置で磁性層１３の厚みを測定した後、それらの測定値を単純平均（算術平均）して磁性層１３の平均厚みｔｍ（ｎｍ）とする。
The average thickness t m of the magnetic layer 13 is obtained as follows. First, the magnetic recording medium 10, to prepare a test piece was machined vertically thin relative to the main surface, that the cross-section of the specimen transmission electron microscope by (Transmission Electron Microscope TEM), observed under the following conditions I do.
Equipment: TEM (H9000NAR manufactured by Hitachi, Ltd.)
Acceleration voltage: 300kV
Magnification: 100,000 times Next, using the obtained TEM image, the thickness of the magnetic layer 13 is measured at at least 10 points or more in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10, and then the measured values are simply averaged ( arithmetic mean) to the average thickness t m of the magnetic layer 13 (nm).
磁性層１３は、好ましくは垂直配向している磁性層である。本明細書内において、垂直配向とは、磁気記録媒体１０の長手方向（走行方向）に測定した角形比Ｓ１が３５％以下であることをいう。当該角形比Ｓ１の測定方法は、以下で別途説明する。
なお、磁性層１３は、面内配向（長手配向）している磁性層であってもよい。すなわち、磁気記録媒体１０が水平記録型の磁気記録媒体であってもよい。しかしながら、高記録密度化という点で、垂直配向がより好ましい。
The magnetic layer 13 is preferably a magnetic layer that is vertically oriented. In the present specification, the vertical orientation means that the square ratio S1 measured in the longitudinal direction (traveling direction) of the magnetic recording medium 10 is 35% or less. The method for measuring the square ratio S1 will be described separately below.
The magnetic layer 13 may be a magnetic layer that is in-plane oriented (longitudinal oriented). That is, the magnetic recording medium 10 may be a horizontal recording type magnetic recording medium. However, vertical orientation is more preferable in terms of increasing recording density.
（磁性粉） (Magnetic powder)
磁性層１３に含まれる磁性粉をなす磁性粒子として、例えばイプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）、ガンマヘマタイト、マグネタイト、二酸化クロム、コバルト被着酸化鉄、六方晶フェライト、バリウムフェライト（ＢａＦｅ）、Ｃｏフェライト、ストロンチウムフェライト、及びメタル（金属）などを挙げることができるが、これらに限定されない。前記磁性粉は、これらのうちの１種であってよく、又は、２種以上の組合せであってもよい。特に好ましくは、前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、バリウムフェライト磁性粉、コバルトフェライト磁性粉、又はストロンチウムフェライト磁性粉を含みうる。なお、ε酸化鉄はＧａ及び／又はＡｌを含んでいてもよい。これらの磁性粒子については、例えば磁性層１３の製造方法、テープの規格、及びテープの機能などの要因に基づいて当業者により適宜選択されてよい。 Examples of the magnetic particles forming the magnetic powder contained in the magnetic layer 13 include epsilon-type iron oxide (ε-iron oxide), gamma hematite, magnetite, chromium dioxide, cobalt-coated iron oxide, hexagonal ferrite, barium ferrite (BaFe), and Co. Examples include, but are not limited to, ferrite, strontium ferrite, and metal. The magnetic powder may be one of these, or may be a combination of two or more. Particularly preferably, the magnetic powder may contain ε iron oxide magnetic powder, barium ferrite magnetic powder, cobalt ferrite magnetic powder, or strontium ferrite magnetic powder. In addition, ε-iron oxide may contain Ga and / or Al. These magnetic particles may be appropriately selected by those skilled in the art based on factors such as, for example, the method for producing the magnetic layer 13, the standard of the tape, and the function of the tape.
磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）Ｄは、好ましくは２２ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上２２ｎｍ以下、更により好ましくは１０ｎｍ以上２０ｎｍ以下でありうる。 The average particle size (average maximum particle size) D of the magnetic powder can be preferably 22 nm or less, more preferably 8 nm or more and 22 nm or less, and even more preferably 10 nm or more and 20 nm or less.
上記の磁性粉の平均粒子サイズＤは、以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気記録媒体１０をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法などにより加工して薄片を作製し、ＴＥＭにより薄片の断面観察を行う。次に、撮影したＴＥＭ写真から５００個のε酸化鉄粒子を無作為に選び出し、それぞれの粒子の最大粒子サイズｄｍａｘを測定して、磁性粉の最大粒子サイズｄｍａｘの粒度分布を求める。ここで、“最大粒子サイズｄｍａｘ”とは、いわゆる最大フェレ径を意味し、具体的には、ε酸化鉄粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のものをいう。その後、求めた最大粒子サイズｄｍａｘの粒度分布から最大粒子サイズｄｍａｘのメジアン径（５０％径、Ｄ５０）を求めて、これを磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）Ｄとする。 The average particle size D of the above magnetic powder is obtained as follows. First, the magnetic recording medium 10 to be measured is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to prepare flakes, and the cross section of the flakes is observed by TEM. Next, 500 ε-iron oxide particles are randomly selected from the photographed TEM photographs, and the maximum particle size d max of each particle is measured to obtain the particle size distribution of the maximum particle size d max of the magnetic powder. Here, the "maximum particle size d max " means the so-called maximum ferret diameter, and specifically, the distance between two parallel lines drawn from all angles so as to be in contact with the contour of the ε iron oxide particles. The largest of these. Thereafter, the median diameter (50% diameter, D50) of the maximum particle size d max from the grain size distribution of the maximum particle size d max found by seeking, which is the average particle size (average maximum particle size) D of the magnetic powder.
磁性粒子の形状は、磁性粒子の結晶構造に依拠している。例えば、ＢａＦｅ及びストロンチウムフェライトは六角板状でありうる。ε酸化鉄は球状でありうる。コバルトフェライトは立方状でありうる。メタルは紡錘状でありうる。磁気記録媒体１０の製造工程においてこれらの磁性粒子が配向される。 The shape of the magnetic particles depends on the crystal structure of the magnetic particles. For example, BaFe and strontium ferrite can be hexagonal plate-shaped. ε Iron oxide can be spherical. Cobalt ferrite can be cubic. The metal can be spindle-shaped. These magnetic particles are oriented in the manufacturing process of the magnetic recording medium 10.
本技術の一つの好ましい実施態様に従い、前記磁性粉は、好ましくはε酸化鉄を含むナノ粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）の粉末を含みうる。ε酸化鉄粒子は微粒子でも高保磁力を得ることができる。ε酸化鉄粒子に含まれるε酸化鉄は、磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向していることが好ましい。 According to one preferred embodiment of the present technology, the magnetic powder may preferably contain a powder of nanoparticles containing ε-iron oxide (hereinafter referred to as “ε-iron oxide particles”). High coercive force can be obtained even with fine particles of ε iron oxide particles. It is preferable that the ε-iron oxide contained in the ε-iron oxide particles is preferentially crystal-oriented in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10.
ε酸化鉄粒子は、球状若しくはほぼ球状を有しているか、又は、立方体状若しくはほぼ立方体状を有している。ε酸化鉄粒子が上記のような形状を有しているため、磁性粒子としてε酸化鉄粒子を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、媒体の厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制できる。したがって、磁性粉の分散性を高め、より良好なＳＮＲ（Signal-to-Noise Ratio）を得ることができる。 The ε-iron oxide particles have a spherical or substantially spherical shape, or have a cubic shape or a substantially cubic shape. Since the ε-iron oxide particles have the above-mentioned shape, the thickness of the medium when the ε-iron oxide particles are used as the magnetic particles is larger than that when the hexagonal plate-shaped barium ferrite particles are used as the magnetic particles. It is possible to reduce the contact area between particles in the direction and suppress the aggregation of particles. Therefore, it is possible to improve the dispersibility of the magnetic powder and obtain a better SNR (Signal-to-Noise Ratio).
ε酸化鉄粒子は、コアシェル型構造を有する。具体的には、ε酸化鉄粒子は、図２に示すように、コア部２１と、このコア部２１の周囲に設けられた２層構造のシェル部２２とを備える。２層構造のシェル部２２は、コア部２１上に設けられた第１シェル部２２ａと、第１シェル部２２ａ上に設けられた第２シェル部２２ｂとを備える。 The ε iron oxide particles have a core-shell type structure. Specifically, as shown in FIG. 2, the ε-iron oxide particles include a core portion 21 and a shell portion 22 having a two-layer structure provided around the core portion 21. The shell portion 22 having a two-layer structure includes a first shell portion 22a provided on the core portion 21 and a second shell portion 22b provided on the first shell portion 22a.
コア部２１は、ε酸化鉄を含む。コア部２１に含まれるε酸化鉄は、ε−Ｆｅ２Ｏ３結晶を主相とするものが好ましく、単相のε−Ｆｅ２Ｏ３からなるものがより好ましい。 The core portion 21 contains ε iron oxide. The ε-iron oxide contained in the core portion 21 is preferably one having ε-Fe 2 O 3 crystals as the main phase, and more preferably one composed of single-phase ε-Fe 2 O 3 .
第１シェル部２２ａは、コア部２１の周囲のうちの少なくとも一部を覆っている。具体的には、第１シェル部２２ａは、コア部２１の周囲を部分的に覆っていてもよいし、コア部２１の周囲全体を覆っていてもよい。コア部２１と第１シェル部２２ａの交換結合を十分なものとし、磁気特性を向上する観点からすると、コア部２１の表面全体を覆っていることが好ましい。 The first shell portion 22a covers at least a part of the periphery of the core portion 21. Specifically, the first shell portion 22a may partially cover the periphery of the core portion 21, or may cover the entire periphery of the core portion 21. From the viewpoint of making the exchange coupling between the core portion 21 and the first shell portion 22a sufficient and improving the magnetic characteristics, it is preferable to cover the entire surface of the core portion 21.
第１シェル部２２ａは、いわゆる軟磁性層であり、例えば、α−Ｆｅ、Ｎｉ−Ｆｅ合金又はＦｅ−Ｓｉ−Ａｌ合金などの軟磁性体を含みうる。α−Ｆｅは、コア部２１に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。 The first shell portion 22a is a so-called soft magnetic layer, and may contain a soft magnetic material such as an α-Fe, Ni-Fe alloy or Fe-Si-Al alloy. α-Fe may be obtained by reducing ε-iron oxide contained in the core portion 21.
第２シェル部２２ｂは、酸化防止層としての酸化被膜である。第２シェル部２２ｂは、α酸化鉄、酸化アルミニウム、又は酸化ケイ素を含みうる。α酸化鉄は、例えばＦｅ３Ｏ４、Ｆｅ２Ｏ３、及びＦｅＯのうちの少なくとも１種の酸化鉄を含みうる。第１シェル部２２ａがα−Ｆｅ（軟磁性体）を含む場合には、α酸化鉄は、第１シェル部２２ａに含まれるα−Ｆｅを酸化することにより得られるものであってもよい。 The second shell portion 22b is an oxide film as an antioxidant layer. The second shell portion 22b may contain α-iron oxide, aluminum oxide, or silicon oxide. The α-iron oxide may contain, for example, at least one iron oxide of Fe 3 O 4 , Fe 2 O 3 , and Fe O. When the first shell portion 22a contains α-Fe (soft magnetic material), the α-iron oxide may be obtained by oxidizing α-Fe contained in the first shell portion 22a.
ε酸化鉄粒子が、上述のように第１シェル部２２ａを有することで、熱安定性を確保することができ、これによりコア部２１単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ且つ／又はε酸化鉄粒子（コアシェル粒子）全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。また、ε酸化鉄粒子が、上述のように第２シェル部２２ｂを有することで、磁気記録媒体１０の製造工程及びその工程前において、ε酸化鉄粒子が空気中に暴露されて、粒子表面に錆びなどが発生することにより、ε酸化鉄粒子の特性が低下することを抑制することができる。したがって、磁気記録媒体１０の特性劣化を抑制することができる。 Since the ε iron oxide particles have the first shell portion 22a as described above, thermal stability can be ensured, whereby the coercive force Hc of the core portion 21 alone can be maintained at a large value and / or ε. The coercive force Hc of the iron oxide particles (core-shell particles) as a whole can be adjusted to a coercive force Hc suitable for recording. Further, since the ε-iron oxide particles have the second shell portion 22b as described above, the ε-iron oxide particles are exposed to the air in the manufacturing process of the magnetic recording medium 10 and before the process, and are exposed to the surface of the particles. It is possible to suppress deterioration of the characteristics of ε iron oxide particles due to the occurrence of rust and the like. Therefore, deterioration of the characteristics of the magnetic recording medium 10 can be suppressed.
ε酸化鉄粒子は、図６に示されるとおり、単層構造のシェル部２３を有していてもよい。この場合、シェル部２３は、第１シェル部２２ａと同様の構成を有する。但し、ε酸化鉄粒子の特性劣化を抑制する観点からすると、ε酸化鉄粒子が２層構造のシェル部２２を有していることがより好ましい。 As shown in FIG. 6, the ε-iron oxide particles may have a shell portion 23 having a single-layer structure. In this case, the shell portion 23 has the same configuration as the first shell portion 22a. However, from the viewpoint of suppressing deterioration of the characteristics of the ε-iron oxide particles, it is more preferable that the ε-iron oxide particles have a shell portion 22 having a two-layer structure.
ε酸化鉄粒子は、コアシェル構造に代えて添加剤を含んでいてもよく、又は、コアシェル構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。これらの場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体の保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはアルミニウム（Ａｌ）、ガリウム（Ｇａ）、及びインジウム（Ｉｎ）からなる群より選ばれる１種以上である。
具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε−Ｆｅ２−ｘＭｘＯ３結晶（ここで、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくは、Ａｌ、Ｇａ、及びＩｎからなる群より選ばれる１種以上である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。
The ε-iron oxide particles may contain an additive instead of the core-shell structure, or may have a core-shell structure and may contain an additive. In these cases, a part of Fe of the ε iron oxide particles is replaced with an additive. Even if the ε-iron oxide particles contain an additive, the coercive force Hc of the entire ε-iron oxide particles can be adjusted to a coercive force Hc suitable for recording, so that the ease of recording can be improved. The additive is one or more selected from the group consisting of metal elements other than iron, preferably trivalent metal elements, more preferably aluminum (Al), gallium (Ga), and indium (In).
Specifically, the ε-iron oxide containing the additive is an ε-Fe 2-x M x O 3 crystal (where M is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably Al. , Ga, and one or more selected from the group consisting of In. X is, for example, 0 <x <1).
本技術の他の好ましい実施態様に従い、前記磁性粉は、バリウムフェライト（ＢａＦｅ）磁性粉であってもよい。バリウムフェライト磁性粉は、バリウムフェライトを主相とする鉄酸化物の磁性粒子（以下「バリウムフェライト粒子」という。）を含む。バリウムフェライト磁性粉は、例えば高温多湿環境でも抗磁力が落ちないなど、データ記録の信頼性が高い。このような観点から、バリウムフェライト磁性粉は、前記磁性粉として好ましい。 According to another preferred embodiment of the present technology, the magnetic powder may be barium ferrite (BaFe) magnetic powder. The barium ferrite magnetic powder contains magnetic particles of iron oxide having barium ferrite as the main phase (hereinafter referred to as "barium ferrite particles"). The barium ferrite magnetic powder has high reliability of data recording, for example, the coercive force does not decrease even in a high temperature and high humidity environment. From such a viewpoint, the barium ferrite magnetic powder is preferable as the magnetic powder.
バリウムフェライト磁性粉の平均粒子サイズは、５０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上４０ｎｍ以下、さらにより好ましくは１２ｎｍ以上２５ｎｍ以下である。 The average particle size of the barium ferrite magnetic powder is 50 nm or less, more preferably 10 nm or more and 40 nm or less, and even more preferably 12 nm or more and 25 nm or less.
磁性層１３が磁性粉としてバリウムフェライト磁性粉を含む場合、磁性層１３の平均厚みｔｍ［ｎｍ］が、３５ｎｍ≦ｔｍ≦１００ｎｍであることが好ましい。また、磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に測定した保磁力Ｈｃが、好ましくは１６０ｋＡ／ｍ以上２８０ｋＡ／ｍ以下、より好ましくは１６５ｋＡ／ｍ以上２７５ｋＡ／ｍ以下、更により好ましくは１７０ｋＡ／ｍ以上２７０ｋＡ／ｍ以下である。 If the magnetic layer 13 include a barium ferrite magnetic powder as a magnetic powder, the average thickness t m of the magnetic layer 13 [nm] is preferably a 35nm ≦ t m ≦ 100nm. The coercive force Hc measured in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10 is preferably 160 kA / m or more and 280 kA / m or less, more preferably 165 kA / m or more and 275 kA / m or less, and even more preferably 170 kA / m. It is m or more and 270 kA / m or less.
本技術のさらに他の好ましい実施態様に従い、磁性粉は、コバルトフェライト磁性粉でありうる。コバルトフェライト磁性粉は、コバルトフェライトを主相とする鉄酸化物の磁性粒子（以下「コバルトフェライト磁性粒子」という。）を含む。コバルトフェライト磁性粒子は、一軸異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト磁性粒子は、例えば、立方体状又はほぼ立方体状を有している。コバルトフェライトは、Ｃｏを含むコバルトフェライトである。コバルトフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、Ｃｕ、及びＺｎからなる群より選ばれる１種以上をさらに含んでいてもよい。 According to still another preferred embodiment of the present technology, the magnetic powder can be a cobalt ferrite magnetic powder. The cobalt ferrite magnetic powder contains magnetic particles of iron oxide having cobalt ferrite as the main phase (hereinafter referred to as "cobalt ferrite magnetic particles"). The cobalt ferrite magnetic particles preferably have uniaxial anisotropy. The cobalt ferrite magnetic particles have, for example, a cubic shape or a substantially cubic shape. Cobalt ferrite is a cobalt ferrite containing Co. In addition to Co, cobalt ferrite may further contain one or more selected from the group consisting of Ni, Mn, Al, Cu, and Zn.
コバルトフェライトは、例えば以下の式（１）で表される平均組成を有する。
ＣｏｘＭｙＦｅ２Ｏｚ・・・（１）
（但し、式（１）中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、Ｃｕ、及びＺｎからなる群より選ばれる１種以上の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ及びｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）
Cobalt ferrite has, for example, an average composition represented by the following formula (1).
Co x M y Fe 2 O z ··· (1)
(However, in the formula (1), M is one or more metals selected from the group consisting of, for example, Ni, Mn, Al, Cu, and Zn. X is 0.4 ≦ x ≦ 1.0. Y is a value within the range of 0 ≦ y ≦ 0.3. However, x and y satisfy the relationship of (x + y) ≦ 1.0. Z is 3 ≦ z ≦. It is a value within the range of 4. A part of Fe may be replaced with another metal element.)
コバルトフェライト磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは２５ｎｍ以下、より好ましくは２３ｎｍ以下である。コバルトフェライト磁性粉の保磁力Ｈｃは、好ましくは２５００Ｏｅ以上、より好ましくは２６００Ｏｅ以上３５００Ｏｅ以下である。 The average particle size of the cobalt ferrite magnetic powder is preferably 25 nm or less, more preferably 23 nm or less. The coercive force Hc of the cobalt ferrite magnetic powder is preferably 2500 Oe or more, more preferably 2600 Oe or more and 3500 Oe or less.
本技術のさらに他の好ましい実施態様に従い、磁性粉が、六方晶フェライトを含有するナノ粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）の粉末を含みうる。六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状又はほぼ六角板状を有する。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、Ｐｂ、及びＣａのうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａ及びＳｒのうちの少なくとも１種を含みうる。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライト又はストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外に、Ｓｒ、Ｐｂ、及びＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外に、Ｂａ、Ｐｂ、及びＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ１２Ｏ１９で表される平均組成を有しうる。ここで、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、Ｐｂ、及びＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａ及びＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、Ｐｂ、及びＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、Ｐｂ、及びＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。
磁性粉が六方晶フェライト粒子の粉末を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは５０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上４０ｎｍ以下、さらにより好ましくは１５ｎｍ以上３０ｎｍ以下である。
According to still another preferred embodiment of the present technique, the magnetic powder may include powders of nanoparticles containing hexagonal ferrite (hereinafter referred to as "hexagonal ferrite particles"). The hexagonal ferrite particles have, for example, a hexagonal plate shape or a substantially hexagonal plate shape. The hexagonal ferrite may preferably contain at least one of Ba, Sr, Pb, and Ca, and more preferably at least one of Ba and Sr. Specifically, the hexagonal ferrite may be, for example, barium ferrite or strontium ferrite. In addition to Ba, barium ferrite may further contain at least one of Sr, Pb, and Ca. The strontium ferrite may further contain at least one of Ba, Pb, and Ca in addition to Sr.
More specifically, the hexagonal ferrite can have an average composition represented by the general formula MFe 12 O 19 . Here, M is, for example, at least one metal among Ba, Sr, Pb, and Ca, preferably at least one metal among Ba and Sr. M may be a combination of Ba and one or more metals selected from the group consisting of Sr, Pb, and Ca. Further, M may be a combination of Sr and one or more metals selected from the group consisting of Ba, Pb, and Ca. In the above general formula, a part of Fe may be replaced with another metal element.
When the magnetic powder contains hexagonal ferrite particle powder, the average particle size of the magnetic powder is preferably 50 nm or less, more preferably 10 nm or more and 40 nm or less, and even more preferably 15 nm or more and 30 nm or less.
（結着剤） (Binder)
結着剤としては、ポリウレタン系樹脂又は塩化ビニル系樹脂などに架橋反応を付与した構造の樹脂が好ましい。しかしながら結着剤はこれらに限定されるものではなく、磁気記録媒体１０に対して要求される物性などに応じて、その他の樹脂を適宜配合してもよい。配合する樹脂としては、通常、塗布型の磁気記録媒体１０において一般的に用いられる樹脂であれば、特に限定されない。 As the binder, a resin having a structure in which a cross-linking reaction is applied to a polyurethane resin, a vinyl chloride resin, or the like is preferable. However, the binder is not limited to these, and other resins may be appropriately blended depending on the physical properties required for the magnetic recording medium 10. The resin to be blended is not particularly limited as long as it is a resin generally used in the coating type magnetic recording medium 10.
前記結着剤として、例えば、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−塩化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステル−塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル−塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル−塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル−エチレン共重合体、ポリ弗化ビニル、塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、及び合成ゴムなどが挙げられる。 As the binder, for example, polyvinyl chloride, polyvinyl acetate, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, vinyl chloride-vinylidene chloride copolymer, vinyl chloride-acrylonitrile copolymer, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymer. , acrylic acid ester - vinyl chloride - vinylidene chloride copolymer, A acrylic acid ester - vinylidene chloride copolymer, a methacrylic acid ester - copolymer vinylidene chloride polymer, methacrylate - copolymer vinyl chloride polymer, a methacrylic acid ester - ethylene Copolymers, polyfluorovinyl, vinylidene chloride-acrylonitrile copolymers, acrylonitrile-butadiene copolymers, polyamide resins, polyvinyl butyral, cellulose derivatives (cellulose acetate butyrate, cellulose diacetate, cellulose triacetate, cellulose propionate, Nitrocellulose), styrene-butadiene copolymers, polyester resins, amino resins, synthetic rubbers and the like.
また、前記結着剤として、熱硬化性樹脂又は反応型樹脂が用いられてもよく、これらの例としては、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、及び尿素ホルムアルデヒド樹脂などが挙げられる。 Further, a thermosetting resin or a reactive resin may be used as the binder, and examples thereof include phenol resin, epoxy resin, urea resin, melamine resin, alkyd resin, silicone resin, and polyamine resin. And urea formaldehyde resin and the like.
また、上述した各結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、−ＳＯ３Ｍ、−ＯＳＯ３Ｍ、−ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）２などの極性官能基が導入されていてもよい。ここで、式中Ｍは、水素原子、又は、リチウム、カリウム、及びナトリウムなどのアルカリ金属である。 Further, in each of the above-mentioned binders, polar functional groups such as -SO 3 M, -OSO 3 M, -COOM, and P = O (OM) 2 are introduced for the purpose of improving the dispersibility of the magnetic powder. May be. Here, M in the formula is a hydrogen atom or an alkali metal such as lithium, potassium, and sodium.
更に、極性官能基としては、−ＮＲ１Ｒ２、−ＮＲ１Ｒ２Ｒ３＋Ｘ−の末端基を有する側鎖型のもの、＞ＮＲ１Ｒ２＋Ｘ−の主鎖型のものが挙げられる。ここで、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は、水素原子又は炭化水素基であり、Ｘ−は、弗素、塩素、臭素、若しくはヨウ素などのハロゲン元素イオン、又は、無機若しくは有機イオンである。また、極性官能基としては、−ＯＨ、−ＳＨ、−ＣＮ、及びエポキシ基なども挙げられる。 Further, as the polar functional group, -NR1R2, -NR1R2R3 + X - as the side chain type having an end group of,> NR1R2 + X - include those of the main chain type. Here, R1, R2, and R3 in the formula are hydrogen atoms or hydrocarbon groups, and X − is a halogen element ion such as fluorine, chlorine, bromine, or iodine, or an inorganic or organic ion. Further, examples of the polar functional group include -OH, -SH, -CN, and an epoxy group.
（添加剤） (Additive)
磁性層１３は、非磁性補強粒子として、酸化アルミニウム（α、β、又はγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）などをさらに含有していてもよい。 The magnetic layer 13 has aluminum oxide (α, β, or γ alumina), chromium oxide, silicon oxide, diamond, garnet, emery, boron nitride, titanium carbide, silicon carbide, titanium carbide, and titanium oxide as non-magnetic reinforcing particles. (Rutile type or anatase type titanium oxide) and the like may be further contained.
（下地層） (Underground layer)
下地層１２は、非磁性粉及び結着剤を主成分として含む非磁性層である。上述の磁性層１３に含まれる結着剤に関する説明が、下地層１２に含まれる結着剤についても当てはまる。下地層１２は、必要に応じて、導電性粒子、潤滑剤、硬化剤、及び防錆剤などのうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。 The base layer 12 is a non-magnetic layer containing non-magnetic powder and a binder as main components. The above description of the binder contained in the magnetic layer 13 also applies to the binder contained in the base layer 12. The base layer 12 may further contain at least one additive such as conductive particles, a lubricant, a curing agent, and a rust preventive, if necessary.
下地層１２の平均厚みは、好ましくは０．６μｍ以上２．０μｍ以下、より好ましくは０．８μｍ以上１．４μｍ以下である。なお、下地層１２の平均厚みは、磁性層１３の平均厚みｔｍと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層１２の厚みに応じて適宜調整される。 The average thickness of the base layer 12 is preferably 0.6 μm or more and 2.0 μm or less, and more preferably 0.8 μm or more and 1.4 μm or less. The average thickness of the base layer 12 is obtained in the same manner as the average thickness t m of the magnetic layer 13. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the base layer 12.
（非磁性粉） (Non-magnetic powder)
下地層１２に含まれる非磁性粉は、例えば、無機粒子及び有機粒子から選ばれる少なくとも１種を含みうる。１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、又は、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物、及び金属硫化物から選ばれる１種又は２種以上の組み合わせを含む。より具体的には、無機粒子は、例えばオキシ水酸化鉄、ヘマタイト、酸化チタン、及びカーボンブラックから選ばれる１種又は２種以上でありうる。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、及び板状などの各種形状が挙げられるが、これらに特に限定されるものではない。 The non-magnetic powder contained in the base layer 12 may contain, for example, at least one selected from inorganic particles and organic particles. One kind of non-magnetic powder may be used alone, or two or more kinds of non-magnetic powder may be used in combination. The inorganic particles include, for example, one or a combination of two or more selected from metals, metal oxides, metal carbonates, metal sulfates, metal nitrides, metal carbides, and metal sulfides. More specifically, the inorganic particles can be one or more selected from, for example, iron oxyhydroxide, hematite, titanium oxide, and carbon black. Examples of the shape of the non-magnetic powder include, but are not limited to, various shapes such as needle shape, spherical shape, cube shape, and plate shape.
（バック層） (Back layer)
バック層１４は、結着剤及び非磁性粉を含みうる。バック層１４は、必要に応じて潤滑剤、硬化剤、及び帯電防止剤などの各種添加剤を含んでいてもよい。上述の下地層１２に含まれる結着剤及び非磁性粉について述べた説明が、バック層１４に含まれる結着剤及び非磁性粉についても当てはまる。 The back layer 14 may contain a binder and a non-magnetic powder. The back layer 14 may contain various additives such as a lubricant, a curing agent, and an antistatic agent, if necessary. The above description of the binder and the non-magnetic powder contained in the base layer 12 also applies to the binder and the non-magnetic powder contained in the back layer 14.
バック層１４に含まれる無機粒子の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。無機粒子の平均粒子サイズは、上記の磁性粉の平均粒子サイズＤと同様にして求められる。 The average particle size of the inorganic particles contained in the back layer 14 is preferably 10 nm or more and 150 nm or less, and more preferably 15 nm or more and 110 nm or less. The average particle size of the inorganic particles is obtained in the same manner as the average particle size D of the magnetic powder described above.
バック層１４の平均厚みｔｂは、ｔｂ≦０．６μｍであることが好ましい。バック層１４の平均厚みｔｂが上記範囲内にあることで、磁気記録媒体１０の平均厚みｔＴをｔＴ≦５．５μｍにした場合でも、下地層１２及びベース層１１の厚みを厚く保つことが出来、これにより磁気記録媒体１０の記録再生装置内での走行安定性を保つことが出来る。 The average thickness t b of the back layer 14 is preferably t b ≦ 0.6 μm. By keeping the average thickness t b of the back layer 14 within the above range, the thickness of the base layer 12 and the base layer 11 is kept thick even when the average thickness t T of the magnetic recording medium 10 is set to t T ≤ 5.5 μm. This makes it possible to maintain the running stability of the magnetic recording medium 10 in the recording / reproducing device.
バック層１４の平均厚みｔｂは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージを用いて、サンプルの異なる場所の厚みを５点以上測定し、それらの測定値を単純平均（算術平均）して、平均値ｔＴ［μｍ］を算出する。続いて、サンプルのバック層１４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）等の溶剤や希塩酸等で除去した後、再び上記のレーザーホロゲージを用いてサンプルの異なる場所の厚みを５点以上測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して平均値ｔＢ［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層１４の平均厚みｔｂ［μｍ］を求める。
ｔｂ［μｍ］＝ｔＴ［μｍ］−ｔＢ［μｍ］
The average thickness t b of the back layer 14 is obtained as follows. First, a 1/2 inch wide magnetic recording medium 10 is prepared, cut into a length of 250 mm, and a sample is prepared. Next, using a laser holo gauge manufactured by Mitutoyo as a measuring device, the thicknesses of different places of the sample are measured at 5 points or more, and these measured values are simply averaged (arithmetic mean), and the average value t T [μm] Is calculated. Subsequently, after removing the back layer 14 of the sample with a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid, the thickness of different parts of the sample is measured again using the above laser holo gauge at 5 points or more, and these measured values are measured. Is simply averaged (arithmetic mean) to calculate the average value t B [μm]. Then, the average thickness t b [μm] of the back layer 14 is obtained from the following formula.
t b [μm] = t T [μm] -t B [μm]
（３）物性及び構造 (3) Physical properties and structure
（磁気記録媒体の平均厚みｔＴ） (Average thickness t T of magnetic recording medium)
磁気記録媒体１０の平均厚みｔＴは、ｔＴ≦５．５μｍである。磁気記録媒体１０の平均厚みｔＴがｔＴ≦５．５μｍであると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を従来よりも高めることができる。磁気記録媒体１０の平均厚みｔＴの下限値は特に限定されるものではないが、例えば、３．５μｍ≦ｔＴである。 The average thickness t T of the magnetic recording medium 10 is t T ≦ 5.5 μm. When the average thickness t T of the magnetic recording medium 10 is t T ≦ 5.5 μm, the recording capacity that can be recorded in one data cartridge can be increased as compared with the conventional case. The lower limit of the average thickness t T of the magnetic recording medium 10 is not particularly limited, but is, for example, 3.5 μm ≦ t T.
磁気記録媒体１０の平均厚みｔＴは、バック層１４の平均厚みｔｂの測定方法において説明した平均値ｔＴの測定方法により求められる。 The average thickness t T of the magnetic recording medium 10 is determined by the method of measuring the average value t T described in the method of measuring the average thickness t b of the back layer 14.
（寸法変化量Δｗ） (Dimensional change Δw)
磁気記録媒体１０の長手方向のテンション変化に対する磁気記録媒体１０の幅方向の寸法変化量Δｗ［ｐｐｍ／Ｎ］は、６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、より好ましくは６７０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、より好ましくは７００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、より好ましくは７１０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、より好ましくは７３０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、より好ましくは７５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、さらにより好ましくは７８０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、特に好ましくは８００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗである。寸法変化量ΔｗがΔｗ＜６４０ｐｐｍ／Ｎであると、記録再生装置による長手方向のテンションの調整では、幅の変化を抑制することが困難となる虞がある。寸法変化量Δｗの上限値は特に限定されるものではないが、例えばΔｗ≦１７０００００ｐｐｍ／Ｎ、好ましくはΔｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎ、より好ましくはΔｗ≦８０００ｐｐｍ／Ｎ、さらにより好ましくはΔｗ≦５０００ｐｐｍ／Ｎ、Δｗ≦４０００ｐｐｍ／Ｎ、Δｗ≦３０００ｐｐｍ／Ｎ、Δｗ≦２０００ｐｐｍ／Ｎでありうる。
当業者は、寸法変化量Δｗを適宜設定することができる。例えば、寸法変化量Δｗは、ベース層１１の厚み及び／又はベース層１１の材料を選択することにより所望の値に設定されうる。また、寸法変化量Δｗは、例えばベース層を構成するフィルムの縦横方向の延伸強度を調整することによって、所望の値に設定されてもよい。例えば、幅方向により強く延伸することによって、Δｗはより低下し、反対に、縦方向における延伸を強めることによって、Δｗは上昇する。
The amount of dimensional change Δw [ppm / N] in the width direction of the magnetic recording medium 10 with respect to the change in tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 is 650 ppm / N ≦ Δw, more preferably 670 ppm / N ≦ Δw, and more. It is preferably 700 ppm / N ≦ Δw, more preferably 710 ppm / N ≦ Δw, more preferably 730 ppm / N ≦ Δw, more preferably 750 ppm / N ≦ Δw, and even more preferably 780 ppm / N. ≦ Δw, and particularly preferably 800 ppm / N ≦ Δw. If the amount of dimensional change Δw is Δw <640 ppm / N, it may be difficult to suppress the change in width by adjusting the tension in the longitudinal direction by the recording / reproducing device. The upper limit of the amount of dimensional change Δw is not particularly limited, but for example, Δw ≦ 1700000 ppm / N, preferably Δw ≦ 20000 ppm / N, more preferably Δw ≦ 8000 ppm / N, and even more preferably Δw ≦ 5000 ppm / N. , Δw ≦ 4000 ppm / N, Δw ≦ 3000 ppm / N, Δw ≦ 2000 ppm / N.
Those skilled in the art can appropriately set the amount of dimensional change Δw. For example, the amount of dimensional change Δw can be set to a desired value by selecting the thickness of the base layer 11 and / or the material of the base layer 11. Further, the dimensional change amount Δw may be set to a desired value, for example, by adjusting the stretching strength in the vertical and horizontal directions of the film constituting the base layer. For example, by stretching more strongly in the width direction, Δw decreases more, and conversely, by increasing stretching in the longitudinal direction, Δw increases.
寸法変化量Δｗは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプル１０Ｓを作製する。次に、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎ、０．６Ｎ、１．０Ｎの順で荷重をかけ、０．２Ｎ、０．６Ｎ、及び１．０Ｎの荷重におけるサンプル１０Ｓの幅を測定する。続いて、以下の式より寸法変化量Δｗを求める。なお、０．６Ｎの荷重をかけた場合の測定は、測定において異常が生じていないかを確認するため（特にはこれら３つの測定結果が直線的になっていることを確認するため）に行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
各荷重をかけたときのサンプル１０Ｓの幅は以下のようにして測定される。まず、測定装置としてキーエンス社製のデジタル寸法測定器ＬＳ−７０００を組み込んだ、図３Ａに示す測定装置を準備し、この測定装置にサンプル１０Ｓをセットする。具体的には、長尺状のサンプル（磁気記録媒体）１０Ｓの一端を固定部２３１により固定する。次に、図３Ａに示されるとおり、サンプル１０Ｓを、５本の略円柱状且つ棒状の支持部材２３２に乗せる。サンプル１０Ｓは、そのバック面が５本の支持部材２３２に接するように、これら支持部材に乗せられる。５本の支持部材２３２（特にその表面）はいずれもステンレス鋼ＳＵＳ３０４から形成されており、その表面粗さＲｚ（最大高さ）は０．１５μｍ〜０．３μｍである。 The width of the sample 10S when each load is applied is measured as follows. First, the measuring device shown in FIG. 3A incorporating the digital dimension measuring device LS-7000 manufactured by KEYENCE is prepared as the measuring device, and the sample 10S is set in the measuring device. Specifically, one end of the long sample (magnetic recording medium) 10S is fixed by the fixing portion 231. Next, as shown in FIG. 3A, the sample 10S is placed on five substantially columnar and rod-shaped support members 232. The sample 10S is placed on these support members so that its back surface is in contact with the five support members 232. All of the five support members 232 (particularly their surfaces) are made of stainless steel SUS304, and their surface roughness Rz (maximum height) is 0.15 μm to 0.3 μm.
５本の棒状の支持部材２３２の配置を、図３Ｂを参照しながら説明する。図３Ｂに示されるとおり、サンプル１０Ｓは、５本の支持部材２３２に乗せられている。５本の支持部材２３２について、以下では、固定部２３１に最も近いほうから「第１支持部材」、「第２支持部材」、「第３支持部材」（スリット２３２Ａを有する）、「第４支持部材」、及び「第５支持部材」（重り２３３に最も近い）という。これら５本の支持部材の直径は、７ｍｍである。第１支持部材と第２支持部材との距離ｄ１（特にはこれら支持部材の中心の間の距離）は２０ｍｍである。第２支持部材と第３支持部材との距離ｄ２は３０ｍｍである。第３支持部材と第４支持部材との距離ｄ３は３０ｍｍである。第４支持部材と第５支持部材との距離ｄ４は２０ｍｍである。また、サンプル１０Ｓのうち第２支持部材、第３支持部材、及び第４支持部材の間に乗っている部分が、重力方向に対して略垂直の平面を形成するように、これら３つの支持部材は配置されている。また、サンプル１０Ｓが、第１支持部材と第２支持部材との間では、前記略垂直の平面に対してθ１＝３０°の角度を形成するように、第１支持部材及び第２支持部材は配置されている。さらに、サンプル１０Ｓが、第４支持部材と第５支持部材との間では、前記略垂直の平面に対してθ２＝３０°の角度を形成するように、第４支持部材及び第５支持部材は配置されている。
また、５本の支持部材２３２のうち、第３支持部材は回転しないように固定されているが、その他の４本の支持部材は全て回転可能である。
The arrangement of the five rod-shaped support members 232 will be described with reference to FIG. 3B. As shown in FIG. 3B, the sample 10S is placed on five support members 232. Regarding the five support members 232, in the following, the "first support member", the "second support member", the "third support member" (having the slit 232A), and the "fourth support" from the side closest to the fixing portion 231. It is called "member" and "fifth support member" (closest to the weight 233). The diameter of these five support members is 7 mm. The distance d 1 (particularly, the distance between the centers of these support members) between the first support member and the second support member is 20 mm. The distance d 2 between the second support member and the third support member is 30 mm. The distance d 3 between the third support member and the fourth support member is 30 mm. The distance d 4 between the fourth support member and the fifth support member is 20 mm. Further, these three support members form a plane substantially perpendicular to the direction of gravity so that the portion of the sample 10S that sits between the second support member, the third support member, and the fourth support member forms a plane substantially perpendicular to the direction of gravity. Is placed. Further, the first support member and the second support member so that the sample 10S forms an angle of θ 1 = 30 ° with respect to the substantially vertical plane between the first support member and the second support member. Is placed. Further, the fourth support member and the fifth support member so that the sample 10S forms an angle of θ 2 = 30 ° with respect to the substantially vertical plane between the fourth support member and the fifth support member. Is placed.
Further, of the five support members 232, the third support member is fixed so as not to rotate, but all the other four support members are rotatable.
サンプル１０Ｓは、支持部材２３２上でサンプル１０Ｓの幅方向に移動しないように保持される。なお、支持部材２３２のうち、発光器２３４及び受光器２３５の間に位置し且つ固定部２３１と荷重をかける部分とのほぼ中心に位置する支持部材２３２にはスリット２３２Ａが設けられている。スリット２３２Ａを介して発光器２３４から受光器２３５に光Ｌが照射されるようになっている。スリット２３２Ａのスリット幅は１ｍｍであり、光Ｌは、スリット２３２Ａの枠に遮られることなく、当該幅を通り抜けられる。 The sample 10S is held on the support member 232 so as not to move in the width direction of the sample 10S. A slit 232A is provided in the support member 232, which is located between the light emitter 234 and the light receiver 235 and is located substantially at the center of the fixing portion 231 and the portion to which the load is applied. Light L is emitted from the light emitter 234 to the light receiver 235 via the slit 232A. The slit width of the slit 232A is 1 mm, and the light L can pass through the width without being blocked by the frame of the slit 232A.
続いて、温度２５℃相対湿度５０％の一定環境下に制御されたチャンバー内に測定装置を収容した後、サンプル１０Ｓの他端に、０．２Ｎの荷重をかけるための重り２３３を取り付け、サンプル１０Ｓを上記環境内に２時間置く。２時間置いた後に、サンプル１０Ｓの幅を測定する。次に、０．２Ｎの荷重をかけるための重りを、０．６Ｎの荷重をかけるための重りに変更し、当該変更の５分後にサンプル１０Ｓの幅を測定する。最後に、１．０Ｎの荷重をかけるための重りに変更し、当該変更の５分後にサンプル１０Ｓの幅を測定する。
以上のとおり、重り２３３の重さを調整することによりサンプル１０Ｓの長手方向に加わる荷重を変化させることができる。各荷重が加えられた状態で、発光器２３４から受光器２３５に向けて光Ｌを照射し、長手方向に荷重が加えられたサンプル１０Ｓの幅を測定する。当該幅の測定は、サンプル１０Ｓがカールしていない状態で行われる。発光器２３４及び受光器２３５は、デジタル寸法測定器ＬＳ−７０００に備えられているものである。
Subsequently, after the measuring device is housed in a chamber controlled under a constant environment of a temperature of 25 ° C. and a relative humidity of 50%, a weight 233 for applying a load of 0.2 N is attached to the other end of the sample 10S, and the sample is sampled. Place 10S in the above environment for 2 hours. After leaving for 2 hours, the width of sample 10S is measured. Next, the weight for applying a load of 0.2N is changed to a weight for applying a load of 0.6N, and the width of the sample 10S is measured 5 minutes after the change. Finally, the weight is changed to a weight for applying a load of 1.0 N, and the width of the sample 10S is measured 5 minutes after the change.
As described above, the load applied in the longitudinal direction of the sample 10S can be changed by adjusting the weight of the weight 233. In a state in which the load is applied, it is irradiated with light L toward the photodetector 235 from the light emitting device 234, to measure the width of the sample 10S a load is applied in the longitudinal direction. The measurement of the width is performed in a state where the sample 10S is not curled. The light emitter 234 and the light receiver 235 are provided in the digital dimension measuring instrument LS-7000.
（温度膨張係数α） (Coefficient of thermal expansion α)
磁気記録媒体１０の温度膨張係数α［ｐｐｍ／℃］は、好ましくは５．５ｐｐｍ／℃≦α≦９ｐｐｍ／℃であり、より好ましくは５．９ｐｐｍ／℃≦α≦８ｐｐｍ／℃でありうる。温度膨張係数αが上記範囲内にあると、記録再生装置による磁気記録媒体１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録媒体１０の幅の変化を更に抑制することができる。 The coefficient of thermal expansion α [ppm / ° C.] of the magnetic recording medium 10 is preferably 5.5 ppm / ° C.≤α≤9 ppm / ° C., and more preferably 5.9 ppm / ° C.≤α≤8 ppm / ° C. When the coefficient of thermal expansion α is within the above range, the change in the width of the magnetic recording medium 10 can be further suppressed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 by the recording / reproducing device.
温度膨張係数αは以下のようにして求められる。まず、寸法変化量Δｗの測定方法と同様にしてサンプル１０Ｓを作製し、寸法変化量Δｗの測定方法と同様の測定装置にサンプル１０Ｓをセットしたのち、測定装置を温度２９℃相対湿度２４％の一定環境に制御されたチャンバー内に収容する。次に、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎの荷重をかけ、上記環境にサンプル１０Ｓを２時間置く。その後、相対湿度２４％を保持したまま、４５℃、２９℃、及び１０℃の順で温度を変え、４５℃、２９℃、及び１０℃におけるサンプル１０Ｓの幅を測定し、以下の式より温度膨張係数αを求める。これら温度での測定は、各温度への到達後２時間後に行われる。なお、２９℃の温度における測定は、測定において異常が生じていないかを確認するため（特にはこれら３つの測定結果が直線的になっていることを確認するため）に行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
（湿度膨張係数β） (Humidity expansion coefficient β)
磁気記録媒体１０の湿度膨張係数β［ｐｐｍ／％ＲＨ］は、好ましくはβ≦５．５ｐｐｍ／％ＲＨであり、より好ましくはβ≦５．２ｐｐｍ／％ＲＨであり、さらにより好ましくはβ≦５．０ｐｐｍ／％ＲＨでありうる。湿度膨張係数βが上記範囲内にあると、記録再生装置による磁気記録媒体１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録媒体１０の幅の変化を更に抑制することができる。 The coefficient of thermal expansion β [ppm /% RH] of the magnetic recording medium 10 is preferably β ≦ 5.5 ppm /% RH, more preferably β ≦ 5.2 ppm /% RH, and even more preferably β ≦. It can be 5.0 ppm /% RH. When the coefficient of thermal expansion β is within the above range, the change in the width of the magnetic recording medium 10 can be further suppressed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 by the recording / reproducing device.
湿度膨張係数βは以下のようにして求められる。まず、寸法変化量Δｗの測定方法と同様にしてサンプル１０Ｓを作製し、寸法変化量Δｗの測定方法と同様の測定装置にサンプル１０Ｓをセットしたのち、測定装置を温度２９℃相対湿度２４％の一定環境に制御されたチャンバー内に収容する。次に、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎの荷重をかけ、上記環境中にサンプル１０Ｓを２時間置く。その後、温度２９℃を保持したまま、８０％、２４％、１０％の順で相対湿度を変え、８０％、２４％、及び１０％におけるサンプル１０Ｓの幅を測定し、以下の式より湿度膨張係数βを求める。これら湿度での測定は、各湿度に到達した直後に行われる。なお、２４％の湿度における測定は、測定において異常が生じていないかを確認するために行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
（ポアソン比ρ） (Poisson's ratio ρ)
磁気記録媒体１０のポアソン比ρは、好ましくは０．２５≦ρであり、より好ましくは０．２９≦ρであり、さらにより好ましくは０．３≦ρでありうる。ポアソン比ρが上記範囲内であると、記録再生装置による磁気記録媒体１０の長手方向のテンションの調整による磁気記録媒体１０の幅の変化をより行いやすくなる。 The Poisson's ratio ρ of the magnetic recording medium 10 is preferably 0.25 ≦ ρ, more preferably 0.29 ≦ ρ, and even more preferably 0.3 ≦ ρ. When the Poisson's ratio ρ is within the above range, it becomes easier to change the width of the magnetic recording medium 10 by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 by the recording / reproducing device.
ポアソン比ρは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを１５０ｍｍの長さに切り出しサンプルを作製したのち、そのサンプルの中央部に６ｍｍ×６ｍｍのサイズのマークを付与する。次に、チャック間の距離が１００ｍｍとなるようにサンプルの長手方向の両端部をチャックし、初期荷重２Ｎをかけ、その際のサンプルの長手方向のマークの長さを初期長とし、サンプルの幅方向のマークの幅を初期幅とする。続いて、引張速度０．５ｍｍ／ｍｉｎで、インストロンタイプの万能引張試験装置にて引張り、キーエンス製イメージセンサーにて、サンプルの長手方向のマークの長さ及びサンプルの幅方向のマークの幅それぞれの寸法変化量を測定する。その後、以下の式よりポアソン比ρを求める。
（長手方向の弾性限界値σＭＤ） (Elastic limit value in the longitudinal direction σ MD )
磁気記録媒体１０の長手方向の弾性限界値σＭＤ［Ｎ］が、好ましくは０．７Ｎ≦σＭＤであり、より好ましくは０．７５Ｎ≦σＭＤであり、さらにより好ましくは０．８Ｎ≦σＭＤでありうる。弾性限界値σＭＤが上記範囲であると、記録再生装置による磁気記録媒体１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録媒体１０の幅の変化を更に抑制することができる。また、ドライブ側の制御がし易くなる。磁気記録媒体１０の長手方向の弾性限界値σＭＤの上限値は特に限定されるものではないが、例えばσＭＤ≦５.０Ｎである。弾性限界値σＭＤが、弾性限界測定を行う際の速度Ｖに依らないことが好ましい。弾性限界値σＭＤが上記速度Ｖに依らないことで、記録再生装置における磁気記録媒体１０の走行速度や、記録再生装置のテンション調整速度とその応答性に影響を受ける事無く、効果的に磁気記録媒体１０の幅の変化を抑制できるからである。弾性限界値σＭＤは、例えば、下地層１２、磁性層１３、及びバック層１４の硬化条件の選択、及び／又は、ベース層１１の材質の選択により所望の値に設定される。例えば、下地層形成用塗料、磁性層形成用塗料、及びバック層形成用塗料の硬化時間を長くするほど又は硬化温度を上げるほど、これらの各塗料に含まれるバインダと硬化剤の反応が促進する。これにより、弾性的な特徴が向上し、弾性限界値σＭＤが向上する。 Longitudinal elastic limit σ MD [N] of the magnetic recording medium 10, preferably 0.7 N ≦ sigma MD, more preferably from 0.75N ≦ sigma MD, even more preferably 0.8N ≦ sigma It can be MD . When the elastic limit value σ MD is in the above range, the change in the width of the magnetic recording medium 10 can be further suppressed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 by the recording / reproducing device. In addition, it becomes easier to control the drive side. The upper limit of the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 is not particularly limited, but is, for example, σ MD ≤ 5.0 N. It is preferable that the elastic limit value σ MD does not depend on the velocity V when performing the elastic limit measurement. Since the elastic limit value σ MD does not depend on the above speed V, it is effectively magnetic without being affected by the traveling speed of the magnetic recording medium 10 in the recording / playback device, the tension adjustment speed of the recording / playback device, and its responsiveness. This is because the change in the width of the recording medium 10 can be suppressed. The elastic limit value σ MD is set to a desired value by, for example, selecting the curing conditions of the base layer 12, the magnetic layer 13, and the back layer 14, and / or selecting the material of the base layer 11. For example, the longer the curing time of the base layer forming paint, the magnetic layer forming paint, and the back layer forming paint, or the higher the curing temperature, the more the reaction between the binder contained in each of these paints and the curing agent accelerates. .. As a result, the elastic characteristics are improved and the elastic limit value σ MD is improved.
弾性限界値σＭＤは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを１５０ｍｍの長さに切り出しサンプルを作製し、チャック間距離λ０がλ０＝１００ｍｍとなるように、万能引張試験装置にサンプルの長手方向の両端をチャックする。次に、引張速度０．５ｍｍ／ｍｉｎでサンプルを引張り、チャック間距離λ（ｍｍ）に対する荷重σ（Ｎ）を連続的に計測する。続いて、得られたλ（ｍｍ）、σ（Ｎ）のデータを用い、Δλ（％）とσ（Ｎ）の関係をグラフ化する。但し、Δλ（％）は以下の式により与えられる。
Δλ（％）＝（（λ−λ０）／λ０）×１００
次に、上記のグラフ中、σ≧０．２Ｎの領域で、グラフが直線となる領域を算出し、その最大荷重σを弾性限界値σＭＤ（Ｎ）とする。
The elastic limit value σ MD is obtained as follows. First, a 1/2 inch wide magnetic recording medium 10 is prepared, cut out to a length of 150 mm to prepare a sample, and sampled in a universal tensile test device so that the distance between chucks λ 0 is λ 0 = 100 mm. Chuck both ends in the longitudinal direction of. Next, the sample is pulled at a tensile speed of 0.5 mm / min, and the load σ (N) with respect to the interchuck distance λ (mm) is continuously measured. Subsequently, the obtained data of λ (mm) and σ (N) are used to graph the relationship between Δλ (%) and σ (N). However, Δλ (%) is given by the following equation.
Δλ (%) = ((λ−λ 0 ) / λ 0 ) × 100
Next, in the above graph, a region in which the graph becomes a straight line is calculated in the region of σ ≧ 0.2N, and the maximum load σ thereof is set as the elastic limit value σ MD (N).
（磁性面とバック面との間の摩擦係数μ） (Friction coefficient μ between the magnetic surface and the back surface)
磁気記録媒体１０の前記磁性層側の表面と前記バック層側の表面との間の摩擦係数μ（以下「層間摩擦係数μ」ともいう）は、好ましくは０．２０≦μ≦０．８０であり、より好ましくは０．２０≦μ≦０．７８であり、さらにより好ましくは０．２５≦μ≦０．７５である。前記摩擦係数μが上記範囲内にあると、磁気記録媒体１０のハンドリング性が向上する。例えば、前記摩擦係数μが上記範囲内にあると、例えば磁気記録媒体１０をリール（例えば図５のリール１０Ｃなど）に巻いたときに巻ズレが発生することを抑制できる。より具体的には、摩擦係数μが小さすぎる場合（例えばμ＜０．１８である場合）と、カートリッジリールに既に巻かれている磁気記録媒体１０のうち最外周に位置する部分の磁性面と、その外側に新たに巻こうとしている磁気記録媒体１０のバック面との間の層間摩擦が極端に低い状態となり、新たに巻こうとしている磁気記録媒体１０が、既に巻かれている磁気記録媒体１０のうち最外周に位置する部分の磁性面からズレやすくなる。したがって、磁気記録媒体１０の巻ズレが発生する。一方、摩擦係数μが大きすぎる場合（例えば０．８２＜μ又は０．８０＜μである場合）、ドライブ側リールの最外周から正に巻き出されようとしている磁気記録媒体１０のバック面と、その直下に位置する、未だドライブリールに巻かれたままの磁気記録媒体１０の磁性面との間の層間摩擦が極端に高い状態となり、上記バック面と上記磁性面とが貼り付いた状態となる。したがって、カートリッジリールへと向かう磁気記録媒体１０の動作が不安定となり、これにより磁気記録媒体１０の巻ズレが発生する。 The friction coefficient μ (hereinafter, also referred to as “interlayer friction coefficient μ”) between the surface of the magnetic recording medium 10 on the magnetic layer side and the surface on the back layer side is preferably 0.20 ≦ μ ≦ 0.80. Yes, more preferably 0.20 ≦ μ ≦ 0.78, and even more preferably 0.25 ≦ μ ≦ 0.75. When the friction coefficient μ is within the above range, the handleability of the magnetic recording medium 10 is improved. For example, when the friction coefficient μ is within the above range, it is possible to suppress the occurrence of winding deviation when, for example, the magnetic recording medium 10 is wound on a reel (for example, the reel 10C in FIG. 5). More specifically, when the friction coefficient μ is too small (for example, when μ <0.18), and the magnetic surface of the outermost portion of the magnetic recording medium 10 already wound on the cartridge reel. The interlayer friction between the magnetic recording medium 10 to be newly wound and the back surface of the magnetic recording medium 10 to be newly wound is extremely low, and the magnetic recording medium 10 to be newly wound is already wound. Of the ten, the portion located on the outermost circumference is easily displaced from the magnetic surface. Therefore, the winding deviation of the magnetic recording medium 10 occurs. On the other hand, when the friction coefficient μ is too large (for example, when 0.82 <μ or 0.80 <μ), the back surface of the magnetic recording medium 10 which is about to be unwound from the outermost circumference of the drive-side reel. The interlayer friction between the magnetic recording medium 10 and the magnetic surface of the magnetic recording medium 10 which is located directly below the drive reel and is still wound on the drive reel is extremely high, and the back surface and the magnetic surface are stuck to each other. Become. Therefore, the operation of the magnetic recording medium 10 toward the cartridge reel becomes unstable, which causes the magnetic recording medium 10 to be unwound.
前記摩擦係数μは以下のようにして求められる。まず、１インチ径の円柱に、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０をバック面を表にして巻き付け、磁気記録媒体１０を固定する。次に、この円柱に対し、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を今度は磁性面が接触する様に抱き角θ（°）＝１８０°＋１°〜１８０°−１０°で接触させ、磁気記録媒体１０の一端を可動式ストレインゲージと繋ぎ、他方端にテンションＴ０＝０．６（Ｎ）を付与する。可動式ストレインゲージを０．５ｍｍ／ｓにて８往復させた際の各往路でのストレインゲージの読みＴ１（Ｎ）〜Ｔ８（Ｎ）を測定し、Ｔ４〜Ｔ８の平均値をＴａｖｅ（Ｎ）とする。その後、以下の式より摩擦係数μを求める。
（バック層の表面粗度Ｒａｂ） (Surface roughness R ab of back layer)
バック層１４の表面粗度（すなわち、バック面の表面粗度）Ｒａｂ［ｎｍ］は、好ましくは７．５ｎｍ以下であり、より好ましくは７．２ｎｍ以下であり、さらにより好ましくは７．０ｎｍ以下、６．５ｎｍ以下、６．３ｎｍ以下、又は６．０ｎｍ以下である。また、前記表面粗度Ｒａｂは、好ましくは３．０ｎｍ以上であり、より好ましくは３．２ｎｍ以上であり、さらにより好ましくは３．４ｎｍ以上である。バック層の表面粗度Ｒａｂが上記範囲内にあると、磁気記録媒体１０のハンドリング性を向上させることができる。また、磁気記録媒体１０の巻き取り時に、磁性層の表面に及ぼす影響を低減でき、電磁変換特性への悪影響を抑制することができる。ハンドリング性と電磁変換特性とは相反する特性であるが、上記数値範囲内の表面粗度Ｒａｂが、これらの両立を可能とする。 The surface roughness of the back layer 14 (that is, the surface roughness of the back surface) R ab [nm] is preferably 7.5 nm or less, more preferably 7.2 nm or less, and even more preferably 7.0 nm. Hereinafter, it is 6.5 nm or less, 6.3 nm or less, or 6.0 nm or less. The surface roughness R ab is preferably 3.0 nm or more, more preferably 3.2 nm or more, and even more preferably 3.4 nm or more. When the surface roughness R ab of the back layer is within the above range, the handleability of the magnetic recording medium 10 can be improved. Further, when the magnetic recording medium 10 is wound up, the influence on the surface of the magnetic layer can be reduced, and the adverse effect on the electromagnetic conversion characteristics can be suppressed. The handling properties and the electromagnetic conversion characteristics is a contradictory properties, surface roughness R ab in the numerical range, to enable these both.
バック面の表面粗度Ｒａｂは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、そのバック面を上にしてスライドガラスに貼り付け（すなわち磁性面がスライドガラスに貼り付けられる）、サンプル片とする。次に、そのサンプル片のバック面を下記の光干渉を用いた非接触粗度計により、面粗度を測定する。
装置：光干渉を用いた非接触粗度計
（株式会社菱化システム製非接触表面・層断面形状計測システムVertScan R5500GL-M100-AC）
対物レンズ：２０倍（約２３７μｍ×１７８μｍ視野）
分解能：６４０points×４８０points
測定モード：ｐｈａｓｅ
波長フィルター：５２０ｎｍ
面補正：２次多項式近似面にて補正
上述のようにして、長手方向で少なくとも５点以上の位置にて面粗度を測定したのち、各位置で得られた表面プロファイルから自動計算されたそれぞれの算術平均粗さＳａ（ｎｍ）の平均値をバック面の表面粗度Ｒａｂ（ｎｍ）とする。
The surface roughness R ab of the back surface is obtained as follows. First, a 1/2 inch wide magnetic recording medium 10 is prepared and attached to a slide glass with its back surface facing up (that is, the magnetic surface is attached to the slide glass) to prepare a sample piece. Next, the surface roughness of the back surface of the sample piece is measured by a non-contact roughness meter using the following optical interference.
Equipment: Non-contact roughness meter using optical interference (Non-contact surface / layer cross-sectional shape measurement system VertScan R5500GL-M100-AC manufactured by Ryoka System Co., Ltd.)
Objective lens: 20x (approx. 237 μm x 178 μm field of view)
Resolution: 640 points x 480 points
Measurement mode: phase
Wavelength filter: 520 nm
Surface correction: Correction with a quadratic polynomial approximation surface As described above, after measuring the surface roughness at at least 5 points or more in the longitudinal direction, each of them is automatically calculated from the surface profile obtained at each position. Let the average value of the arithmetic average roughness Sa (nm) of the back surface be the surface roughness R ab (nm) of the back surface.
（長手方向の収縮率） (Vertical contraction rate)
磁気記録媒体１０の長手方向の収縮率は、０．０８％以下であり、好ましくは０．０７％以下である。収縮率が上記数値範囲内にあることによって、磁気記録媒体を長期保存した場合にも、前記記録再生装置における使用への適性が変わらない。そのため、例えばオフトラック現象など、磁気記録にとって望ましくない現象が起こりにくくなる。また、前記長手方向の収縮率は、例えば０％以上であってよい。 The shrinkage ratio of the magnetic recording medium 10 in the longitudinal direction is 0.08% or less, preferably 0.07% or less. When the shrinkage rate is within the above numerical range, the suitability for use in the recording / reproducing device does not change even when the magnetic recording medium is stored for a long period of time. Therefore, an undesired phenomenon for magnetic recording, such as an off-track phenomenon, is less likely to occur. Further, the shrinkage rate in the longitudinal direction may be, for example, 0% or more.
前記収縮率は以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを５０ｍｍの長さに切り出しサンプルを作製する。当該サンプルの磁性層側の表面に、針で長手方向に２箇所、１５ｍｍ幅の圧痕をつけ、ＴＯＰＣＯＮ ＴＵＭ−２２０ＥＳ及びＣＯＲＤＩＮＡＴＥ ＣＯＭＰＵＴＥＲ ＣＡ−１Ｂを用いて、２点間の距離Ｌ１（ｍｍ）を計測する。次に、張力をかけない状態でサンプルを６０℃ＤＲＹの恒温槽で７２時間保存する。続いて、サンプルを恒温槽から取り出し、室温で１時間放置したのち、Ｌ１と同じ方法で、サンプルの２点間の距離Ｌ２（ｍｍ）を計測する。その後、以下の式より収縮率を求める。
収縮率（％）＝（（Ｌ１−Ｌ２）／Ｌ１）×１００
上述のようにして、１ｍのテープからほぼ等間隔に３本５０ｍｍ長さのサンプルを切り出し、３本のサンプルについて同様の測定を行い、各サンプルの収縮率（％）の平均値を長手方向の収縮率（％）とする。
The shrinkage rate is obtained as follows. First, a 1/2 inch wide magnetic recording medium 10 is prepared, and the magnetic recording medium 10 is cut out to a length of 50 mm to prepare a sample. The surface of the sample on the magnetic layer side is indented at two points in the longitudinal direction with a width of 15 mm with a needle, and the distance L1 (mm) between the two points is measured using TOPCON TUM-220ES and CORDINATE COMPUTER CA-1B. To do. Next, the sample is stored in a constant temperature bath at 60 ° C. DRY for 72 hours without tension. Subsequently, the sample is taken out from the constant temperature bath, left at room temperature for 1 hour, and then the distance L2 (mm) between the two points of the sample is measured by the same method as L1. After that, the shrinkage rate is calculated from the following formula.
Shrinkage rate (%) = ((L1-L2) / L1) × 100
As described above, three 50 mm long samples are cut out from a 1 m tape at approximately equal intervals, the same measurement is performed on the three samples, and the average value of the shrinkage ratio (%) of each sample is measured in the longitudinal direction. The shrinkage rate (%).
なお、前記収縮率は、例えば以下のとおりに調整することができる。磁気記録媒体１０における収縮を抑制するために、例えば磁気記録媒体１０の塗布工程又は乾燥工程においてベース張力を調整することが行われてよく、又は、塗布工程において巻き取り張力を調整することが行われてもよい。また、磁気記録媒体１０に生じた収縮を緩和するために、例えば磁気記録媒体１０をカートリッジに収容した状態で５０℃５０％Ｒｈ環境で１週間保存することが行われてよく、又は、磁気記録媒体１０の硬化工程後の製造工程内で６０℃環境で３日間保存することが行われてもよい。 The shrinkage rate can be adjusted as follows, for example. In order to suppress shrinkage in the magnetic recording medium 10, for example, the base tension may be adjusted in the coating step or the drying step of the magnetic recording medium 10, or the take-up tension may be adjusted in the coating step. You may be broken. Further, in order to alleviate the shrinkage of the magnetic recording medium 10, for example, the magnetic recording medium 10 may be stored in a cartridge in a 50 ° C. and 50% Rh environment for one week, or magnetic recording may be performed. The medium 10 may be stored in a 60 ° C. environment for 3 days in the manufacturing process after the curing step.
（長手方向の１％伸び荷重） (1% elongation load in the longitudinal direction)
磁気記録媒体１０の長手方向の１％伸び荷重は、好ましくは０．６０Ｎ以下であり、より好ましくは０．５５Ｎ以下であり、より好ましくは０．５２Ｎ以下である。１％伸び荷重は、好ましくは０．２０Ｎ以上であり、より好ましくは０．３０Ｎ以上であり、さらにより好ましくは０．４０Ｎ以上でありうる。１％伸び荷重が上記数値範囲内にあることによって、前記記録再生装置における使用への適性が良くなる。 The 1% elongation load in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 is preferably 0.60 N or less, more preferably 0.55 N or less, and more preferably 0.52 N or less. The 1% elongation load is preferably 0.20 N or more, more preferably 0.30 N or more, and even more preferably 0.40 N or more. When the 1% elongation load is within the above numerical range, the suitability for use in the recording / reproducing device is improved.
前記１％伸び荷重は以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを１００ｍｍの長さに切り出しサンプルを作製する。当該サンプルを、室温下にてＡＵＴＯＧＲＡＰＨ ＡＧ−１００Ｄ（島津製作所製）で引張速度１０ｍｍ／ｍｉｎで０．５％伸び荷重（σ０．５）と１．５％伸び荷重（σ１．５）を測定し、σ１．５−σ０．５の値を１％伸び荷重（Ｎ）とする。 The 1% elongation load is obtained as follows. First, a 1/2 inch wide magnetic recording medium 10 is prepared, and the magnetic recording medium 10 is cut out to a length of 100 mm to prepare a sample. The sample was measured at room temperature with AUTOGRAPH AG-100D (manufactured by Shimadzu Corporation) at a tensile speed of 10 mm / min and measured with a 0.5% elongation load (σ0.5) and a 1.5% elongation load (σ1.5). , Σ1.5-σ0.5 is defined as a 1% elongation load (N).
（保磁力Ｈｃ） (Coercive force Hc)
磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に測定した保磁力Ｈｃが、好ましくは２２０ｋＡ／ｍ以上３１０ｋＡ／ｍ以下、より好ましくは２３０ｋＡ／ｍ以上３００ｋＡ／ｍ以下、更により好ましくは２４０ｋＡ／ｍ以上２９０ｋＡ／ｍ以下である。保磁力Ｈｃが２２０ｋＡ／ｍ以上であると、保磁力Ｈｃが十分な大きさとなるため、記録ヘッドからの漏れ磁界により、隣接するトラックに記録された磁化信号が劣化することを抑制できる。したがって、より優れたＳＮＲを得ることができる。一方、保磁力Ｈｃが３１０ｋＡ／ｍ以下であると、記録ヘッドによる飽和記録が容易になるため、より優れたＳＮＲを得ることができる。 The coercive force Hc measured in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10 is preferably 220 kA / m or more and 310 kA / m or less, more preferably 230 kA / m or more and 300 kA / m or less, and even more preferably 240 kA / m or more. It is 290 kA / m or less. When the coercive force Hc is 220 kA / m or more, the coercive force Hc becomes sufficiently large, so that deterioration of the magnetization signal recorded on the adjacent track due to the leakage magnetic field from the recording head can be suppressed. Therefore, a better SNR can be obtained. On the other hand, when the coercive force Hc is 310 kA / m or less, saturation recording by the recording head becomes easy, so that a more excellent SNR can be obtained.
上記の保磁力Ｈｃは以下のようにして求められる。まず、長尺状の磁気記録媒体１０から測定サンプルを切り出し、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて測定サンプルの厚み方向（磁気記録媒体１０の厚み方向）に測定サンプル全体のＭ−Ｈループを測定する。次に、アセトンまたはエタノールなどを用いて塗膜（下地層１２、磁性層１３など）を払拭し、ベース層１１のみを残してバックグラウンド補正用とし、ＶＳＭを用いてベース層１１の厚み方向（磁気記録媒体１０の厚み方向）にベース層１１のＭ−Ｈループを測定する。その後、測定サンプル全体のＭ−Ｈループからベース層１１のＭ−Ｈループを引き算して、バックグラウンド補正後のＭ−Ｈループを得る。得られたＭ−Ｈループから保磁力Ｈｃを求める。なお、上記のＭ−Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ−Ｈループを磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。 The above coercive force Hc is obtained as follows. First, a measurement sample is cut out from a long magnetic recording medium 10, and the entire measurement sample is cut out in the thickness direction of the measurement sample (thickness direction of the magnetic recording medium 10) using a vibrating sample magnetometer (VSM). Measure the MH loop. Next, the coating film (base layer 12, magnetic layer 13, etc.) is wiped off with acetone, ethanol, or the like, leaving only the base layer 11 for background correction, and VSM is used in the thickness direction of the base layer 11 ( The MH loop of the base layer 11 is measured in the thickness direction of the magnetic recording medium 10. Then, the MH loop of the base layer 11 is subtracted from the MH loop of the entire measurement sample to obtain the MH loop after background correction. The coercive force Hc is obtained from the obtained MH loop. It is assumed that all the above-mentioned measurements of the MH loop are performed at 25 ° C. Further, it is assumed that "demagnetic field correction" is not performed when measuring the MH loop in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10.
（保磁力Ｈｃ（５０）と保磁力Ｈｃ（２５）との比率Ｒ） (Ratio R of coercive force Hc (50) and coercive force Hc (25))
５０℃にて磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に測定した保磁力Ｈｃ（５０）と２５℃にて磁気記録媒体１０の厚み方向に測定した保磁力Ｈｃ（２５）との比率Ｒ（＝（Ｈｃ（５０）／Ｈｃ（２５））×１００）が、好ましくは９５％以上、より好ましくは９６％以上、更により好ましくは９７％以上、特に好ましくは９８％以上である。上記比率Ｒが９５％以上であると、保磁力Ｈｃの温度依存性が小さくなり、高温環境下におけるＳＮＲの劣化を抑制することができる。 The ratio R (50) of the coercive force Hc (50) measured in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10 at 50 ° C. and the coercive force Hc (25) measured in the thickness direction of the magnetic recording medium 10 at 25 ° C. = (Hc (50) / Hc (25)) × 100) is preferably 95% or more, more preferably 96% or more, even more preferably 97% or more, and particularly preferably 98% or more. When the ratio R is 95% or more, the temperature dependence of the coercive force Hc becomes small, and deterioration of SNR in a high temperature environment can be suppressed.
上記の保磁力Ｈｃ（２５）は、上記の保磁力Ｈｃの測定方法と同様にして求められる。また、上記の保磁力Ｈｃ（５０）は、測定サンプル及びベース層１１のＭ−Ｈループの測定をいずれも５０℃にて行うこと以外は上記の保磁力Ｈｃの測定方法と同様にして求められる。 The coercive force Hc (25) is obtained in the same manner as the method for measuring the coercive force Hc. The coercive force Hc (50) is obtained in the same manner as the method for measuring the coercive force Hc, except that the measurement sample and the MH loop of the base layer 11 are both measured at 50 ° C. ..
（長手方向に測定した角形比Ｓ１） (Square ratio S1 measured in the longitudinal direction)
磁気記録媒体１０の長手方向（走行方向）に測定した角形比Ｓ１が、好ましくは３５％以下、より好ましくは２７％以下、更により好ましくは２０％以下である。角形比Ｓ１が３５％以下であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、より優れたＳＮＲを得ることができる。したがって、より優れた電磁変換特性を得ることができる。また、サーボ信号形状が改善され、ドライブ側の制御がより行い易くなる。
本明細書内において、磁気記録媒体が垂直配向しているとは、磁気記録媒体の角形比Ｓ１が上記数値範囲内にあること（例えば３５％以下であること）を意味しうる。本技術に従う磁気記録媒体は好ましくは垂直配向している。
The square ratio S1 measured in the longitudinal direction (traveling direction) of the magnetic recording medium 10 is preferably 35% or less, more preferably 27% or less, and even more preferably 20% or less. When the square ratio S1 is 35% or less, the vertical orientation of the magnetic powder becomes sufficiently high, so that a more excellent SNR can be obtained. Therefore, better electromagnetic conversion characteristics can be obtained. In addition, the shape of the servo signal is improved, making it easier to control the drive side.
In the present specification, the vertical orientation of the magnetic recording medium may mean that the square ratio S1 of the magnetic recording medium is within the above numerical range (for example, 35% or less). Magnetic recording media according to the present technology are preferably vertically oriented.
上記の角形比Ｓ１は以下のようにして求められる。まず、長尺状の磁気記録媒体１０から測定サンプルを切り出し、ＶＳＭを用いて磁気記録媒体１０の長手方向（走行方向）に対応する測定サンプル全体のＭ−Ｈループを測定する。次に、アセトン又はエタノールなどを用いて塗膜（下地層１２、磁性層１３など）を払拭し、ベース層１１のみを残して、バックグラウンド補正用とし、ＶＳＭを用いてベース層１１の長手方向（磁気記録媒体１０の走行方向）に対応するベース層１１のＭ−Ｈループを測定する。その後、測定サンプル全体のＭ−Ｈループからベース層１１のＭ−Ｈループを引き算して、バックグラウンド補正後のＭ−Ｈループを得る。得られたＭ−Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）及び残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）を以下の式に代入して、角形比Ｓ１（％）を計算する。なお、上記のＭ−Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。
角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００
The square ratio S1 is obtained as follows. First, a measurement sample is cut out from the long magnetic recording medium 10, and the MH loop of the entire measurement sample corresponding to the longitudinal direction (traveling direction) of the magnetic recording medium 10 is measured using a VSM. Next, the coating film (base layer 12, magnetic layer 13, etc.) is wiped off with acetone, ethanol, or the like, leaving only the base layer 11 for background correction, and VSM is used in the longitudinal direction of the base layer 11. The MH loop of the base layer 11 corresponding to (the traveling direction of the magnetic recording medium 10) is measured. Then, the MH loop of the base layer 11 is subtracted from the MH loop of the entire measurement sample to obtain the MH loop after background correction. By substituting the saturated magnetization Ms (emu) and residual magnetization Mr (emu) of the obtained MH loop into the following equation, the square ratio S1 (%) is calculated. It is assumed that all the above-mentioned measurements of the MH loop are performed at 25 ° C.
Square ratio S1 (%) = (Mr / Ms) x 100
（垂直方向に測定した角形比Ｓ２） (Square ratio S2 measured in the vertical direction)
磁気記録媒体１０の垂直方向（厚み方向）に測定した角形比Ｓ２が、好ましくは６５％以上、より好ましくは７３％以上、更により好ましくは８０％以上である。角形比Ｓ２が６５％以上であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、より優れたＳＮＲを得ることができる。したがって、より優れた電磁変換特性を得ることができる。また、サーボ信号形状が改善され、よりドライブ側の制御がし易くなる。
本明細書内において、磁気記録媒体が垂直配向しているとは、磁気記録媒体の角形比Ｓ２が上記数値範囲内にあること（例えば６５％以上であること）を意味してもよい。
The square ratio S2 measured in the vertical direction (thickness direction) of the magnetic recording medium 10 is preferably 65% or more, more preferably 73% or more, and even more preferably 80% or more. When the square ratio S2 is 65% or more, the vertical orientation of the magnetic powder becomes sufficiently high, so that a more excellent SNR can be obtained. Therefore, better electromagnetic conversion characteristics can be obtained. In addition, the shape of the servo signal is improved, making it easier to control the drive side.
In the present specification, the vertical orientation of the magnetic recording medium may mean that the square ratio S2 of the magnetic recording medium is within the above numerical range (for example, 65% or more).
角形比Ｓ２は、Ｍ−Ｈループを磁気記録媒体１０及びベース層１１の垂直方向（厚み方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１と同様にして求められる。なお、角形比Ｓ２の測定においては、Ｍ−Ｈループを磁気記録媒体１０の垂直方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。 The square ratio S2 is obtained in the same manner as the square ratio S1 except that the MH loop is measured in the vertical direction (thickness direction) of the magnetic recording medium 10 and the base layer 11. In the measurement of the square ratio S2, "demagnetic field correction" is not performed when the MH loop is measured in the vertical direction of the magnetic recording medium 10.
角形比Ｓ１及びＳ２は、例えば磁性層形成用塗料に印加される磁場の強度、磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間、磁性層形成用塗料中における磁性粉の分散状態、又は磁性層形成用塗料中における固形分の濃度を調整することにより所望の値に設定される。具体的には例えば、磁場の強度を強くするほど、角形比Ｓ１が小さくなるのに対して、角形比Ｓ２が大きくなる。また、磁場の印加時間を長くするほど、角形比Ｓ１が小さくなるのに対して、角形比Ｓ２が大きくなる。また、磁性粉の分散状態を向上するほど、角形比Ｓ１が小さくなるのに対して、角形比Ｓ２が大きくなる。また、固形分の濃度を低くするほど、角形比Ｓ１が小さくなるのに対して、角形比Ｓ２が大きくなる。なお、上記の調整方法は単独で使用してもよいし、２以上組み合わせて使用してもよい。 The square ratios S1 and S2 are, for example, the strength of the magnetic field applied to the magnetic layer forming paint, the application time of the magnetic field to the magnetic layer forming paint, the dispersed state of the magnetic powder in the magnetic layer forming paint, or the magnetic layer forming. The desired value is set by adjusting the concentration of the solid content in the paint. Specifically, for example, as the strength of the magnetic field is increased, the square ratio S1 becomes smaller, whereas the square ratio S2 becomes larger. Further, as the application time of the magnetic field is lengthened, the square ratio S1 becomes smaller, while the square ratio S2 becomes larger. Further, as the dispersed state of the magnetic powder is improved, the square ratio S1 becomes smaller, while the square ratio S2 becomes larger. Further, as the concentration of the solid content is lowered, the square ratio S1 becomes smaller, while the square ratio S2 becomes larger. The above adjustment method may be used alone or in combination of two or more.
（ＳＦＤ） (SFD)
磁気記録媒体１０のＳＦＤ（Switching Field Distribution）曲線において、メインピーク高さＸと磁場ゼロ付近のサブピークの高さＹとのピーク比Ｘ／Ｙが、好ましくは３．０以上、より好ましくは５．０以上、更により好ましくは７．０以上、特に好ましくは１０．０以上、最も好ましくは２０．０以上である（図４参照）。ピーク比Ｘ／Ｙが３．０以上であると、実際の記録に寄与するε酸化鉄粒子の他にε酸化鉄特有の低保磁力成分（例えば軟磁性粒子や超常磁性粒子など）が磁性粉中に多く含まれることを抑制できる。したがって、記録ヘッドからの漏れ磁界により、隣接するトラックに記録された磁化信号が劣化することを抑制できるので、より優れたＳＮＲを得ることができる。ピーク比Ｘ／Ｙの上限値は特に限定されるものではないが、例えば１００以下である。 In the SFD (Switching Field Distribution) curve of the magnetic recording medium 10, the peak ratio X / Y of the main peak height X and the sub-peak height Y near zero magnetic field is preferably 3.0 or more, more preferably 5. It is 0 or more, more preferably 7.0 or more, particularly preferably 10.0 or more, and most preferably 20.0 or more (see FIG. 4). When the peak ratio X / Y is 3.0 or more, in addition to the ε-iron oxide particles that contribute to the actual recording, low coercive force components peculiar to ε-iron oxide (for example, soft magnetic particles and superparamagnetic particles) are magnetic powder. It can be suppressed that it is contained in a large amount. Therefore, it is possible to suppress deterioration of the magnetization signal recorded on the adjacent track due to the leakage magnetic field from the recording head, so that a better SNR can be obtained. The upper limit of the peak ratio X / Y is not particularly limited, but is, for example, 100 or less.
上記のピーク比Ｘ／Ｙは、以下のようにして求められる。まず、上記の保磁力Ｈｃの測定方法と同様にして、バックグラウンド補正後のＭ−Ｈループを得る。次に、得られたＭ−ＨループからＳＦＤカーブを算出する。ＳＦＤカーブの算出には測定機に付属のプログラムを用いてもよいし、その他のプログラムを用いてもよい。算出したＳＦＤカーブがＹ軸（ｄＭ／ｄＨ）を横切る点の絶対値を「Ｙ」とし、Ｍ−Ｈループで言うところの保磁力Ｈｃ近傍に見られるメインピークの高さを「Ｘ」として、ピーク比Ｘ／Ｙを算出する。なお、Ｍ−Ｈループの測定は、上記の保磁力Ｈｃの測定方法と同様に２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ−Ｈループを磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。 The above peak ratio X / Y is obtained as follows. First, the MH loop after background correction is obtained in the same manner as the above-mentioned method for measuring the coercive force Hc. Next, the SFD curve is calculated from the obtained MH loop. A program attached to the measuring machine may be used for calculating the SFD curve, or another program may be used. Let "Y" be the absolute value of the point where the calculated SFD curve crosses the Y axis (dM / dH), and let "X" be the height of the main peak seen near the coercive force Hc in the MH loop. Calculate the peak ratio X / Y. It is assumed that the measurement of the MH loop is performed at 25 ° C. in the same manner as the above-mentioned method for measuring the coercive force Hc. Further, it is assumed that "demagnetic field correction" is not performed when measuring the MH loop in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10.
（活性化体積Ｖａｃｔ） (Activated volume Vact )
活性化体積Ｖａｃｔが、好ましくは８０００ｎｍ３以下、より好ましくは６０００ｎｍ３以下、更により好ましくは５０００ｎｍ３以下、特に好ましくは４０００ｎｍ３以下、最も好ましくは３０００ｎｍ３以下である。活性化体積Ｖａｃｔが８０００ｎｍ３以下であると、磁性粉の分散状態が良好になるため、ビット反転領域を急峻にすることができ、記録ヘッドからの漏れ磁界により、隣接するトラックに記録された磁化信号が劣化することを抑制できる。したがって、より優れたＳＮＲを得ることができる。 Activation volume V act is preferably 8000 nm 3 or less, more preferably 6000 nm 3 or less, still more preferably 5000 nm 3 or less, particularly preferably 4000 nm 3 or less, most preferably 3000 nm 3 or less. When activation volume V act is at 8000 nm 3 or less, the dispersion state of the magnetic particles becomes excellent, it is possible to steep bit inversion region, the leakage magnetic field from a recording head, which is recorded in adjacent tracks Deterioration of the magnetization signal can be suppressed. Therefore, a better SNR can be obtained .
上記の活性化体積Ｖａｃｔは、Ｓｔｒｅｅｔ＆Ｗｏｏｌｌｅｙにより導出された下記の式により求められる。
Ｖａｃｔ（ｎｍ３）＝ｋＢ×Ｔ×Χｉｒｒ／（μ０×Ｍｓ×Ｓ）
（但し、ｋＢ：ボルツマン定数（１．３８×１０−２３Ｊ／Ｋ）、Ｔ：温度（Ｋ）、Χｉｒｒ：非可逆磁化率、μ０：真空の透磁率、Ｓ：磁気粘性係数、Ｍｓ：飽和磁化（ｅｍｕ／ｃｍ３））
The above activated volume Vact is calculated by the following formula derived by Street & Woolley.
V act (nm 3) = k B × T × Χ irr / (μ 0 × Ms × S)
(However, k B : Boltzmann constant (1.38 × 10-23 J / K), T: temperature (K), Χ irr : irreversible magnetic susceptibility, μ 0 : vacuum magnetic permeability, S: magnetic viscosity coefficient, Ms: Saturation magnetization (emu / cm 3 ))
上記式に代入される非可逆磁化率Χｉｒｒ、飽和磁化Ｍｓ、及び磁気粘性係数Ｓは、ＶＳＭを用いて以下のようにして求められる。なお、ＶＳＭによる測定方向は、磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）とする。また、ＶＳＭによる測定は、長尺状の磁気記録媒体１０から切り出された測定サンプルに対して２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ−Ｈループを磁気記録媒体１０の厚み方向（垂直方向）に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。 The irreversible magnetic susceptibility Χ irr , the saturation magnetization Ms, and the magnetic viscosity coefficient S substituted in the above equation are obtained by using VSM as follows. The measurement direction by VSM is the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10. Further, the measurement by VSM shall be performed at 25 ° C. on the measurement sample cut out from the long magnetic recording medium 10. Further, it is assumed that "demagnetic field correction" is not performed when measuring the MH loop in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic recording medium 10.
（非可逆磁化率Χｉｒｒ） (Lossy susceptibility Χ irr )
非可逆磁化率Χｉｒｒは、残留磁化曲線（ＤＣＤ曲線）の傾きにおいて、残留保磁力Ｈｒ付近における傾きと定義される。まず、磁気記録媒体１０全体に−１１９３ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）の磁界を印加し、磁界をゼロに戻し残留磁化状態とする。その後、反対方向に約１５．９ｋＡ／ｍ（２００Ｏｅ）の磁界を印加し再びゼロに戻し残留磁化量を測定する。その後も同様に、先ほどの印加磁界よりもさらに１５．９ｋＡ／ｍ大きい磁界を印加しゼロに戻す測定を繰り返し行い、印加磁界に対して残留磁化量をプロットしＤＣＤ曲線を作成する。得られたＤＣＤ曲線から、磁化量ゼロとなる点を残留保磁力Ｈｒとし、さらにＤＣＤ曲線を微分し、各磁界におけるＤＣＤ曲線の傾きを求める。このＤＣＤ曲線の傾きにおいて、残留保磁力Ｈｒ付近の傾きがΧｉｒｒとなる。 The irreversible magnetic susceptibility Χ irr is defined as the slope near the residual coercive force Hr in the slope of the residual magnetization curve (DCD curve). First, a magnetic field of -1193 kA / m (15 kOe) is applied to the entire magnetic recording medium 10, and the magnetic field is returned to zero to be in a residual magnetization state. Then, a magnetic field of about 15.9 kA / m (200 Oe) is applied in the opposite direction to return it to zero again, and the residual magnetization amount is measured. After that, similarly, the measurement of applying a magnetic field 15.9 kA / m larger than the applied magnetic field and returning it to zero is repeated, and the residual magnetization amount is plotted against the applied magnetic field to create a DCD curve. From the obtained DCD curve, the point where the amount of magnetization becomes zero is defined as the residual coercive force Hr, and the DCD curve is further differentiated to obtain the slope of the DCD curve in each magnetic field. In the slope of this DCD curve, the slope near the residual coercive force Hr is Χ irr .
（飽和磁化Ｍｓ） (Saturation magnetization Ms)
まず、磁気記録媒体１０の厚み方向に磁気記録媒体１０（測定サンプル）全体のＭ−Ｈループを測定する。次に、アセトン及びエタノールなどを用いて塗膜（下地層１２、磁性層１３など）を払拭し、ベース層１１のみを残して、バックグラウンド補正用として、ベース層１１のＭ−Ｈループを同様に厚み方向に測定する。その後、磁気記録媒体１０全体のＭ−Ｈループからベース層１１のＭ−Ｈループを引き算して、バックグラウンド補正後のＭ−Ｈループを得る。得られたＭ−Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）の値と、測定サンプル中の磁性層１３の体積（ｃｍ３）から、Ｍｓ（ｅｍｕ／ｃｍ３）を算出する。なお、磁性層１３の体積は測定サンプルの面積に磁性層１３の平均厚みを乗ずることにより求められる。磁性層１３の体積の算出に必要な磁性層１３の平均厚みの算出方法については後述する。 First, the MH loop of the entire magnetic recording medium 10 (measurement sample) is measured in the thickness direction of the magnetic recording medium 10. Next, the coating film (base layer 12, magnetic layer 13, etc.) is wiped off with acetone, ethanol, or the like, leaving only the base layer 11, and the MH loop of the base layer 11 is similarly used for background correction. Measure in the thickness direction. Then, the MH loop of the base layer 11 is subtracted from the MH loop of the entire magnetic recording medium 10 to obtain the MH loop after background correction. Ms (emu / cm 3 ) is calculated from the value of the saturation magnetization Ms (emu) of the obtained MH loop and the volume (cm 3 ) of the magnetic layer 13 in the measurement sample. The volume of the magnetic layer 13 is obtained by multiplying the area of the measurement sample by the average thickness of the magnetic layer 13. The method of calculating the average thickness of the magnetic layer 13 required for calculating the volume of the magnetic layer 13 will be described later.
（磁気粘性係数Ｓ） (Magnetic viscosity coefficient S)
まず、磁気記録媒体１０（測定サンプル）全体に−１１９３ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）の磁界を印加し、磁界をゼロに戻し残留磁化状態とする。その後、反対方向に、ＤＣＤ曲線より得られた残留保磁力Ｈｒの値と同等の磁界を印加する。磁界を印加した状態で１０００秒間、磁化量を一定の時間間隔で継続的に測定する。このようにして得られた、時間ｔと磁化量Ｍ（ｔ）の関係を以下の式に照らし合わせて、磁気粘性係数Ｓを算出する。
Ｍ（ｔ）＝Ｍ０＋Ｓ×ｌｎ（ｔ）
（但し、Ｍ（ｔ）：時間ｔの磁化量、Ｍ０：初期の磁化量、Ｓ：磁気粘性係数、ｌｎ（ｔ）：時間の自然対数）
First, a magnetic field of -1193 kA / m (15 kOe) is applied to the entire magnetic recording medium 10 (measurement sample), and the magnetic field is returned to zero to be in a residual magnetization state. Then, in the opposite direction, a magnetic field equivalent to the value of the residual coercive force Hr obtained from the DCD curve is applied. The amount of magnetization is continuously measured at regular time intervals for 1000 seconds while a magnetic field is applied. The magnetic viscosity coefficient S is calculated by comparing the relationship between the time t and the amount of magnetization M (t) thus obtained with the following equation.
M (t) = M0 + S × ln (t)
(However, M (t): magnetization amount at time t, M0: initial magnetization amount, S: magnetic viscosity coefficient, ln (t): natural logarithm of time)
（算術平均粗さＲａ） (Arithmetic Mean Roughness Ra)
磁性面の算術平均粗さＲａは、好ましくは２．５ｎｍ以下、より好ましくは２．０ｎｍ以下である。Ｒａが２．５ｎｍ以下であると、より優れたＳＮＲを得ることができる。 The arithmetic mean roughness Ra of the magnetic surface is preferably 2.5 nm or less, more preferably 2.0 nm or less. When Ra is 2.5 nm or less, a better SNR can be obtained.
上記の算術平均粗さＲａは以下のようにして求められる。まず、ＡＦＭ（Atomic Force Microscope）（ブルカー製、Dimension Icon）を用いて磁性層１３が設けられている側の表面を観察して、断面プロファイルを取得する。次に、取得した断面プロファイルから、ＪＩＳ Ｂ０６０１：２００１に準拠して算術平均粗さＲａを求める。 The above arithmetic mean roughness Ra is obtained as follows. First, an AFM (Atomic Force Microscope) (manufactured by Bruker, Dimension Icon) is used to observe the surface on the side where the magnetic layer 13 is provided to acquire a cross-sectional profile. Next, the arithmetic mean roughness Ra is obtained from the acquired cross-sectional profile in accordance with JIS B0601: 2001.
（４）磁気記録媒体の製造方法 (4) Manufacturing method of magnetic recording medium
次に、上述の構成を有する磁気記録媒体１０の製造方法について説明する。まず、非磁性粉及び結着剤などを溶剤に混練及び／又は分散させることにより、下地層形成用塗料を調製する。次に、磁性粉及び結着剤などを溶剤に混練及び／又は分散させることにより、磁性層形成用塗料を調製する。磁性層形成用塗料及び下地層形成用塗料の調製には、例えば、以下の溶剤、分散装置、及び混練装置を用いることができる。 Next, a method of manufacturing the magnetic recording medium 10 having the above-described configuration will be described. First, a coating material for forming an underlayer is prepared by kneading and / or dispersing a non-magnetic powder, a binder, or the like in a solvent. Next, a paint for forming a magnetic layer is prepared by kneading and / or dispersing a magnetic powder, a binder, or the like in a solvent. For the preparation of the paint for forming the magnetic layer and the paint for forming the base layer, for example, the following solvent, dispersion device, and kneading device can be used.
上述の塗料調製に用いられる溶剤としては、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、及びシクロヘキサノンなどのケトン系溶媒；例えばメタノール、エタノール、及びプロパノールなどのアルコール系溶媒；例えば酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸プロピル、乳酸エチル、及びエチレングリコールアセテートなどのエステル系溶媒；ジエチレングリコールジメチルエーテル、２−エトキシエタノール、テトラヒドロフラン、及びジオキサンなどのエーテル系溶媒；ベンゼン、トルエン、及びキシレンなどの芳香族炭化水素系溶媒；並びに、メチレンクロライド、エチレンクロライド、四塩化炭素、クロロホルム、及びクロロベンゼンなどのハロゲン化炭化水素系溶媒などが挙げられる。これらのうちの１つが用いられてもよく、又は、２以上の混合物が用いられてもよい。 Examples of the solvent used for preparing the above-mentioned paint include ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; alcohol solvents such as methanol, ethanol, and propanol; for example, methyl acetate, ethyl acetate, and butyl acetate. , Ester solvents such as propyl acetate, ethyl lactate, and ethylene glycol acetate; ether solvents such as diethylene glycol dimethyl ether, 2-ethoxyethanol, tetrahydrofuran, and dioxane; aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene, and xylene; In addition, halogenated hydrocarbon solvents such as methylene chloride, ethylene chloride, carbon tetrachloride, chloroform, and chlorobenzene can be mentioned. One of these may be used, or a mixture of two or more may be used.
上述の塗料調製に用いられる混練装置としては、例えば連続二軸混練機、多段階で希釈可能な連続二軸混練機、ニーダー、加圧ニーダー、及びロールニーダーなどの混練装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。また、上述の塗料調製に用いられる分散装置としては、例えばロールミル、ボールミル、横型サンドミル、縦型サンドミル、スパイクミル、ピンミル、タワーミル、パールミル（例えばアイリッヒ社製「ＤＣＰミル」など）、ホモジナイザー、及び超音波分散機などの分散装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。 As the kneading device used for the above-mentioned paint preparation, for example, a kneading device such as a continuous twin-screw kneader, a continuous twin-screw kneader that can be diluted in multiple stages, a kneader, a pressure kneader, and a roll kneader can be used. However, the device is not particularly limited to these devices. Further, as the disperser used for the above-mentioned paint preparation, for example, a roll mill, a ball mill, a horizontal sand mill, a vertical sand mill, a spike mill, a pin mill, a tower mill, a pearl mill (for example, "DCP mill" manufactured by Eirich), a homogenizer, and a super Dispersing devices such as a sound wave disperser can be used, but the device is not particularly limited to these devices.
次に、下地層形成用塗料をベース層１１の一方の主面に塗布して乾燥させることにより、下地層１２を形成する。続いて、この下地層１２上に磁性層形成用塗料を塗布して乾燥させることにより、磁性層１３を下地層１２上に形成する。なお、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉をベース層１１の厚み方向に磁場配向させる。また、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉をベース層１１の長手方向（走行方向）に磁場配向させたのちに、ベース層１１の厚み方向に磁場配向させるようにしてもよい。磁性層１３の形成後、ベース層１１の他方の主面にバック層１４を形成する。これにより、磁気記録媒体１０が得られる。 Next, the base layer 12 is formed by applying the base layer forming paint to one main surface of the base layer 11 and drying it. Subsequently, the magnetic layer forming paint is applied onto the base layer 12 and dried to form the magnetic layer 13 on the base layer 12. At the time of drying, the magnetic powder is magnetically oriented in the thickness direction of the base layer 11 by, for example, a solenoid coil. Further, at the time of drying, the magnetic powder may be magnetically oriented in the longitudinal direction (running direction) of the base layer 11 by, for example, a solenoid coil, and then the magnetic field may be oriented in the thickness direction of the base layer 11. After the formation of the magnetic layer 13, the back layer 14 is formed on the other main surface of the base layer 11. As a result, the magnetic recording medium 10 is obtained.
その後、得られた磁気記録媒体１０を大径コアに巻き直し、硬化処理を行う。最後に、磁気記録媒体１０に対してカレンダー処理を行った後、所定の幅（例えば１／２インチ幅）に裁断する。以上により、目的とする細長い長尺状の磁気記録媒体１０が得られる。 Then, the obtained magnetic recording medium 10 is rewound on a large-diameter core and cured. Finally, after performing calendar processing on the magnetic recording medium 10, it is cut into a predetermined width (for example, 1/2 inch width). From the above, the target elongated magnetic recording medium 10 can be obtained.
（５）記録再生装置 (5) Recording / playback device
［記録再生装置の構成］ [Configuration of recording / playback device]
次に、図５を参照して、上述の構成を有する磁気記録媒体１０の記録及び再生を行う記録再生装置３０の構成の一例について説明する。 Next, with reference to FIG. 5, an example of the configuration of the recording / reproducing device 30 for recording and reproducing the magnetic recording medium 10 having the above configuration will be described.
記録再生装置３０は、磁気記録媒体１０の長手方向に加わるテンションを調整可能な構成を有している。また、記録再生装置３０は、磁気記録カートリッジ１０Ａを装填可能な構成を有している。ここでは、説明を容易とするために、記録再生装置３０が、１つの磁気記録カートリッジ１０Ａを装填可能な構成を有している場合について説明するが、記録再生装置３０が、複数の磁気記録カートリッジ１０Ａを装填可能な構成を有していてもよい。 The recording / reproducing device 30 has a configuration in which the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 can be adjusted. The recording and reproducing apparatus 30 has a loadable constituting the magnetic recording Rokuka cartridges 10A. Here, for ease of description, the recording and reproducing apparatus 30, there will be described a case of having a loadable constituting one magnetic recording Rokuka cartridges 10A, the recording and reproducing apparatus 30 is a plurality of magnetic serial Rokuka cartridges 10A may a have a loadable configuration.
記録再生装置３０は、ネットワーク４３を介してサーバ４１及びパーソナルコンピュータ（以下「ＰＣ」という。）４２等の情報処理装置に接続されており、これらの情報処理装置から供給されたデータを磁気記録カートリッジ１０Ａに記録可能に構成されている。記録再生装置３０の最短記録波長は、好ましくは１００ｎｍ以下、より好ましくは７５ｎｍ以下、更により好ましくは６０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以下である。 Reproducing apparatus 30 via the network 43 server 41 and the personal computer (hereinafter referred to as "PC".) Connected to the information processing apparatus 42 such as is, magnetic recording record data supplied from these information processing apparatus It is recordable configured to cartridges 10A. The shortest recording wavelength of the recording / reproducing device 30 is preferably 100 nm or less, more preferably 75 nm or less, still more preferably 60 nm or less, and particularly preferably 50 nm or less.
記録再生装置は、図５に示すように、スピンドル３１と、記録再生装置側のリール３２と、スピンドル駆動装置３３と、リール駆動装置３４と、複数のガイドローラ３５と、ヘッドユニット３６と、通信インターフェース（以下、Ｉ／Ｆ）３７と、制御装置３８とを備えている。 As shown in FIG. 5, the recording / playback device communicates with the spindle 31, the reel 32 on the recording / playback device side, the spindle drive device 33, the reel drive device 34, the plurality of guide rollers 35, and the head unit 36. It includes an interface (hereinafter, I / F) 37 and a control device 38.
スピンドル３１は、磁気記録カートリッジ１０Ａを装着可能に構成されている。磁気記録カートリッジ１０Ａは、ＬＴＯ（Linear Tape Open）規格に準拠しており、カートリッジケース１０Ｂに磁気記録媒体１０を巻装した単一のリール１０Ｃを回転可能に収容している。磁気記録媒体１０には、サーボ信号としてハの字状のサーボパターンが予め記録されている。リール３２は、磁気記録カートリッジ１０Ａから引き出された磁気記録媒体１０の先端を固定可能に構成されている。
本技術は、本技術に従う磁気記録媒体を含む磁気記録カートリッジも提供する。当該磁気記録カートリッジ内において、前記磁気記録媒体は、例えばリールに巻き付けられていてよい。
The spindle 31 is configured to magnetic recording Rokuka cartridges 10A can be mounted. Magnetic recording Rokuka cartridges 10A complies with the LTO (Linear Tape Open) standard, and rotatably accommodating a single reel 10C that wound the magnetic recording medium 10 in the cartridge case 10B. A V-shaped servo pattern is pre-recorded on the magnetic recording medium 10 as a servo signal. Reel 32 is fixably configuration the tip of the magnetic recording medium 10 drawn from the magnetic recording Rokuka cartridges 10A.
The present technology also provides a magnetic recording cartridge containing a magnetic recording medium according to the present technology. In the magnetic recording cartridge, the magnetic recording medium may be wound around a reel, for example.
スピンドル駆動装置３３は、スピンドル３１を回転駆動させる装置である。リール駆動装置３４は、リール３２を回転駆動させる装置である。磁気記録媒体１０に対してデータの記録又は再生を行う際には、スピンドル駆動装置３３とリール駆動装置３４とが、スピンドル３１とリール３２とを回転駆動させることによって、磁気記録媒体１０を走行させる。ガイドローラ３５は、磁気記録媒体１０の走行をガイドするためのローラである。 The spindle drive device 33 is a device that rotationally drives the spindle 31. The reel drive device 34 is a device that rotationally drives the reel 32. When recording or reproducing data on the magnetic recording medium 10, the spindle drive device 33 and the reel drive device 34 drive the spindle 31 and the reel 32 to rotate, thereby causing the magnetic recording medium 10 to travel. .. The guide roller 35 is a roller for guiding the traveling of the magnetic recording medium 10.
ヘッドユニット３６は、磁気記録媒体１０にデータ信号を記録するための複数の記録ヘッドと、磁気記録媒体１０に記録されているデータ信号を再生するための複数の再生ヘッドと、磁気記録媒体１０に記録されているサーボ信号を再生するための複数のサーボヘッドとを備える。記録ヘッドとしては例えばリング型ヘッドを用いることができるが、記録ヘッドの種類はこれに限定されるものではない。 The head unit 36 includes a plurality of recording heads for recording a data signal on the magnetic recording medium 10, a plurality of reproduction heads for reproducing the data signal recorded on the magnetic recording medium 10, and the magnetic recording medium 10. It is provided with a plurality of servo heads for reproducing the recorded servo signal. As the recording head, for example, a ring type head can be used, but the type of the recording head is not limited to this.
通信Ｉ／Ｆ３７は、サーバ４１及びＰＣ４２等の情報処理装置と通信するためのものであり、ネットワーク４３に対して接続される。 The communication I / F 37 is for communicating with an information processing device such as a server 41 and a PC 42, and is connected to the network 43.
制御装置３８は、記録再生装置３０の全体を制御する。例えば、制御装置３８は、サーバ４１及びＰＣ４２等の情報処理装置の要求に応じて、情報処理装置から供給されるデータ信号をヘッドユニット３６により磁気記録媒体１０に記録する。また、制御装置３８は、サーバ４１及びＰＣ４２等の情報処理装置の要求に応じて、ヘッドユニット３６により、磁気記録媒体１０に記録されたデータ信号を再生し、情報処理装置に供給する。 The control device 38 controls the entire recording / playback device 30. For example, the control device 38 records the data signal supplied from the information processing device on the magnetic recording medium 10 by the head unit 36 in response to the request of the information processing device such as the server 41 and the PC 42. Further, the control device 38 reproduces the data signal recorded on the magnetic recording medium 10 by the head unit 36 and supplies the data signal to the information processing device in response to the request of the information processing device such as the server 41 and the PC 42.
また、制御装置３８は、ヘッドユニット３６から供給されるサーボ信号に基づき、磁気記録媒体１０の幅の変化を検出する。具体的には、磁気記録媒体１０にはサーボ信号として複数のハの字状のサーボパターンが記録されており、ヘッドユニット３６はヘッドユニット３６上の２つのサーボヘッドにより、異なる２つのサーボパターンを同時に再生し、其々のサーボ信号を得ることが出来る。このサーボ信号から得られる、サーボパターンとヘッドユニットとの相対位置情報を用いて、サーボパターンを追従する様に、ヘッドユニット３６の位置を制御する。これと同時に、２つのサーボ信号波形を比較する事で、サーボパターンの間の距離情報も得ることが出来る。各々の測定時に得られるこのサーボパターン間の距離情報を比較する事で、各々の測定時におけるサーボパターン間の距離の変化を得ることができる。これに、サーボパターン記録時のサーボパターン間の距離情報を加味する事で、磁気記録媒体１０の幅の変化も計算できる。制御装置３８は、上述のようにして得られたサーボパターン間の距離の変化、または計算した磁気記録媒体１０の幅の変化に基づき、スピンドル駆動装置３３及びリール駆動装置３４の回転駆動を制御し、磁気記録媒体１０の幅が規定の幅、またはほぼ規定の幅となるように、磁気記録媒体１０の長手方向のテンションを調整する。これにより、磁気記録媒体１０の幅の変化を抑制することができる。 Further, the control device 38 detects a change in the width of the magnetic recording medium 10 based on the servo signal supplied from the head unit 36. Specifically, a plurality of C-shaped servo patterns are recorded as servo signals on the magnetic recording medium 10, and the head unit 36 has two different servo patterns by the two servo heads on the head unit 36. It can be played back at the same time and each servo signal can be obtained. The position of the head unit 36 is controlled so as to follow the servo pattern by using the relative position information between the servo pattern and the head unit obtained from this servo signal. At the same time, the distance information between the servo patterns can be obtained by comparing the two servo signal waveforms. By comparing the distance information between the servo patterns obtained at each measurement, it is possible to obtain a change in the distance between the servo patterns at each measurement. By adding the distance information between the servo patterns at the time of recording the servo pattern to this, the change in the width of the magnetic recording medium 10 can also be calculated. The control device 38 controls the rotational drive of the spindle drive device 33 and the reel drive device 34 based on the change in the distance between the servo patterns obtained as described above or the calculated change in the width of the magnetic recording medium 10. The tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 is adjusted so that the width of the magnetic recording medium 10 becomes a specified width or a substantially specified width. Thereby, the change in the width of the magnetic recording medium 10 can be suppressed.
［記録再生装置の動作］ [Operation of recording / playback device]
次に、上記構成を有する記録再生装置３０の動作について説明する。 Next, the operation of the recording / reproducing device 30 having the above configuration will be described.
まず、磁気記録カートリッジ１０Ａを記録再生装置３０に装着し、磁気記録媒体１０の先端を引き出して、複数のガイドローラ３５及びヘッドユニット３６を介してリール３２まで移送し、磁気記録媒体１０の先端をリール３２に取り付ける。 First, mounting the magnetic recording Rokuka cartridges 10A to the recording and reproducing apparatus 30, pull out the leading end of the magnetic recording medium 10, and transferred to the reel 32 via a plurality of guide rollers 35 and the head unit 36, the magnetic recording medium 10 The tip is attached to the reel 32.
次に、図示しない操作部を操作すると、スピンドル駆動装置３３とリール駆動装置３４とが制御装置３８の制御により駆動され、リール１０Ｃからリール３２へ向けて磁気記録媒体１０が走行されるように、スピンドル３１とリール３２とが同方向に回転される。これにより、磁気記録媒体１０がリール３２に巻き取られつつ、ヘッドユニット３６によって、磁気記録媒体１０への情報の記録または磁気記録媒体１０に記録された情報の再生が行われる。 Next, when an operation unit (not shown) is operated, the spindle drive device 33 and the reel drive device 34 are driven by the control of the control device 38, and the magnetic recording medium 10 is driven from the reel 10C to the reel 32. The spindle 31 and the reel 32 are rotated in the same direction. As a result, while the magnetic recording medium 10 is wound around the reel 32, the head unit 36 records the information on the magnetic recording medium 10 or reproduces the information recorded on the magnetic recording medium 10.
また、リール１０Ｃに磁気記録媒体１０を巻き戻す場合は、上記とは逆方向に、スピンドル３１とリール３２とが回転駆動されることにより、磁気記録媒体１０がリール３２からリール１０Ｃに走行される。この巻き戻しの際にも、ヘッドユニット３６による、磁気記録媒体１０への情報の記録または磁気記録媒体１０に記録された情報の再生が行われる。 When the magnetic recording medium 10 is rewound on the reel 10C, the spindle 31 and the reel 32 are rotationally driven in the opposite direction to the above, so that the magnetic recording medium 10 travels from the reel 32 to the reel 10C. .. At the time of this rewinding, the head unit 36 also records the information on the magnetic recording medium 10 or reproduces the information recorded on the magnetic recording medium 10.
（６）効果 (6) Effect
第１の実施形態に係る磁気記録媒体１０では、磁気記録媒体１０の平均厚みｔＴが、ｔＴ≦５．５μｍであり、磁気記録媒体１０の長手方向のテンション変化に対する磁気記録媒体１０の幅方向の寸法変化量Δｗが、６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、且つ、長手方向の収縮率が０．０８％以下である。これにより、記録再生装置により磁気記録媒体１０の長手方向のテンションを調整することで、磁気記録媒体１０の幅の変化を抑制することができる。例えば磁気記録媒体１０の幅の変化をもたらしうる温湿度変化があったとしても、磁気記録媒体１０の幅を一定又はほぼ一定に保つことができる。当該テンション調整による幅の変化の抑制は、長期保存後でも可能である。さらに、磁気記録媒体１０は、その厚みがｔＴ≦５．５μｍと薄いが、ハンドリング性に優れている。 In the magnetic recording medium 10 according to the first embodiment, the average thickness t T of the magnetic recording medium 10 is t T ≤ 5.5 μm, and the width of the magnetic recording medium 10 with respect to a change in tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10. The amount of dimensional change Δw in the direction is 650 ppm / N ≦ Δw, and the shrinkage rate in the longitudinal direction is 0.08% or less. As a result, the change in the width of the magnetic recording medium 10 can be suppressed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 by the recording / reproducing device. For example, even if there is a temperature / humidity change that can cause a change in the width of the magnetic recording medium 10, the width of the magnetic recording medium 10 can be kept constant or substantially constant. It is possible to suppress the change in width by adjusting the tension even after long-term storage. Further, the magnetic recording medium 10 has a thin thickness of t T ≦ 5.5 μm, but is excellent in handleability.
（７）変形例 (7) Modification example
［変形例１］ [Modification 1]
磁気記録媒体１０が、図７に示すように、ベース層１１の少なくとも一方の表面に設けられたバリア層１５をさらに備えるようにしてもよい。バリア層１５は、環境に応じたベース層１１の寸法変化を抑える為の層である。例えば、その寸法変化を及ぼす原因の一例としてベース層１１の吸湿性が挙げられ、バリア層１５によりベース層１１への水分の侵入速度を低減できる。バリア層１５は、金属又は金属酸化物を含む。金属としては、例えば、Ａｌ、Ｃｕ、Ｃｏ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｎｉ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｇｅ、Ｙ、Ｚｒ、Ｍｏ、Ｒｕ、Ｐｄ、Ａｇ、Ｂａ、Ｐｔ、Ａｕ、及びＴａのうちの少なくとも１種を用いることができる。金属酸化物としては、例えば、Ａｌ２Ｏ３、ＣｕＯ、ＣｏＯ、ＳｉＯ２、Ｃｒ２Ｏ３、ＴｉＯ２、Ｔａ２Ｏ５、及びＺｒＯ２のうちの少なくとも１種を用いることができるし、上記金属の酸化物の何れかを用いることもできる。またダイヤモンド状炭素（Diamond-Like Carbon：ＤＬＣ）又はダイヤモンドなどを用いることもできる。 As shown in FIG. 7, the magnetic recording medium 10 may further include a barrier layer 15 provided on at least one surface of the base layer 11. The barrier layer 15 is a layer for suppressing a dimensional change of the base layer 11 according to the environment. For example, the hygroscopicity of the base layer 11 can be mentioned as an example of the cause of the dimensional change, and the barrier layer 15 can reduce the rate of moisture invasion into the base layer 11. The barrier layer 15 contains a metal or a metal oxide. Examples of the metal include Al, Cu, Co, Mg, Si, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Zn, Ga, Ge, Y, Zr, Mo, Ru, Pd, Ag, Ba, Pt, At least one of Au and Ta can be used. As the metal oxide, for example, at least one of Al 2 O 3 , CuO, CoO, SiO 2 , Cr 2 O 3 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , and ZrO 2 can be used. Any of the metal oxides can also be used. Further, diamond-like carbon (DLC), diamond, or the like can also be used.
バリア層１５の平均厚みは、好ましくは２０ｎｍ以上１０００ｎｍ以下、より好ましくは５０ｎｍ以上１０００ｎｍ以下である。バリア層１５の平均厚みは、磁性層１３の平均厚みｔｍと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、バリア層１５の厚みに応じて適宜調整される。 The average thickness of the barrier layer 15 is preferably 20 nm or more and 1000 nm or less, and more preferably 50 nm or more and 1000 nm or less. The average thickness of the barrier layer 15 is determined in the same manner as the average thickness t m of the magnetic layer 13. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the barrier layer 15.
［変形例２］ [Modification 2]
磁気記録媒体１０は、ライブラリ装置に組み込まれてもよい。すなわち、本技術は、少なくとも一つの磁気記録媒体１０を備えているライブラリ装置も提供する。当該ライブラリ装置は、磁気記録媒体１０の長手方向に加わるテンションを調整可能な構成を有しており、上記で述べた記録再生装置３０を複数備えるものであってもよい。 The magnetic recording medium 10 may be incorporated in the library device. That is, the present technology also provides a library device including at least one magnetic recording medium 10. The library device has a configuration in which the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 can be adjusted, and may include a plurality of the recording / playback devices 30 described above.
［変形例３］ [Modification 3]
磁気記録媒体１０は、サーボライタによるサーボ信号書き込み処理に付されてもよい。当該サーボライタが、サーボ信号の記録時などに磁気記録媒体１０の長手方向のテンションを調整することで、磁気記録媒体１０の幅を一定又はほぼ一定に保ちうる。この場合、当該サーボライタは、磁気記録媒体１０の幅を検出する検出装置を備えうる。当該サーボライタは、当該検出装置の検出結果に基づき、磁気記録媒体１０の長手方向のテンションを調整しうる。 The magnetic recording medium 10 may be subjected to a servo signal writing process by a servo writer. The servo writer can keep the width of the magnetic recording medium 10 constant or substantially constant by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 at the time of recording a servo signal or the like. In this case, the servo writer may include a detection device that detects the width of the magnetic recording medium 10. The servo writer can adjust the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 based on the detection result of the detection device.
３．第２の実施形態（真空薄膜型の磁気記録媒体の例） 3. 3. Second embodiment (example of vacuum thin film type magnetic recording medium)
（１）磁気記録媒体の構成 (1) Configuration of magnetic recording medium
第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０は、長尺状の垂直磁気記録媒体であり、図８に示すように、フィルム状のベース層１１１と、軟磁性裏打ち層（Soft magnetic underlayer、以下「ＳＵＬ」という。）１１２と、第１のシード層１１３Ａと、第２のシード層１１３Ｂと、第１の下地層１１４Ａと、第２の下地層１１４Ｂと、磁性層１１５とを備える。ＳＵＬ１１２、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂ、及び磁性層１１５は、例えば、スパッタリングにより形成された層（以下「スパッタ層」ともいう）などの真空薄膜でありうる。 The magnetic recording medium 110 according to the second embodiment is a long perpendicular magnetic recording medium, and as shown in FIG. 8, a film-like base layer 111 and a soft magnetic underlayer (hereinafter referred to as “Soft magnetic underlayer”, hereinafter “” It is referred to as "SUL".) 112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first base layer 114A, a second base layer 114B, and a magnetic layer 115. The SUL 112, the first and second seed layers 113A and 113B, the first and second base layers 114A and 114B, and the magnetic layer 115 are, for example, layers formed by sputtering (hereinafter, also referred to as “sputtering layers”) and the like. Can be a vacuum thin film.
ＳＵＬ１１２、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、及び第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、ベース層１１１の一方の主面（以下「表面」という。）と磁性層１１５との間に設けられ、ベース層１１１から磁性層１１５の方向に向かってＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂの順序で積層されている。 The SUL 112, the first and second seed layers 113A and 113B, and the first and second base layers 114A and 114B are formed by forming one main surface (hereinafter referred to as "surface") of the base layer 111 and the magnetic layer 115. It is provided between them, and is laminated in the order of SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first base layer 114A, and the second base layer 114B in the direction from the base layer 111 to the magnetic layer 115. Has been done.
磁気記録媒体１１０が、必要に応じて、磁性層１１５上に設けられた保護層１１６と、保護層１１６上に設けられた潤滑層１１７とをさらに備えるようにしてもよい。また、磁気記録媒体１１０が、必要に応じて、ベース層１１１の他方の主面（以下「裏面」という。）上に設けられたバック層１１８をさらに備えるようにしてもよい。 If necessary, the magnetic recording medium 110 may further include a protective layer 116 provided on the magnetic layer 115 and a lubricating layer 117 provided on the protective layer 116. Further, the magnetic recording medium 110 may further include a back layer 118 provided on the other main surface (hereinafter referred to as “back surface”) of the base layer 111, if necessary.
以下では、磁気記録媒体１１０の長手方向（ベース層１１１の長手方向）を機械方向（ＭＤ：Machine Direction）という。ここで、機械方向とは、磁気記録媒体１１０に対する記録及び再生ヘッドの相対的な移動方向、すなわち記録再生時に磁気記録媒体１１０が走行される方向を意味する。 Hereinafter, a machine direction (longitudinal direction of the base layer 111) longitudinal direction of the magnetic recording medium 110 (MD: Machine Direction) say. Here, the mechanical direction means a direction in which the recording and reproduction heads move relative to the magnetic recording medium 110, that is, a direction in which the magnetic recording medium 110 travels during recording and reproduction.
第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０は、今後ますます需要が高まることが期待されるデータアーカイブ用ストレージメディアとして用いて好適なものである。この磁気記録媒体１１０は、例えば、現在のストレージ用塗布型磁気記録媒体の１０倍以上の面記録密度、すなわち５０Ｇｂ／ｉｎ２以上の面記録密度を実現することが可能である。このような面記録密度を有する磁気記録媒体１１０を用いて、一般のリニア記録方式のデータカートリッジを構成した場合には、データカートリッジ１巻当たり１００ＴＢ以上の大容量記録が可能になる。 The magnetic recording medium 110 according to the second embodiment is suitable for use as a storage medium for data archiving, which is expected to be in increasing demand in the future. The magnetic recording medium 110 can, for example, realize a surface recording density of 10 times or more that of the current coating type magnetic recording medium for storage, that is, a surface recording density of 50 Gb / in 2 or more. When a general linear recording type data cartridge is configured by using the magnetic recording medium 110 having such a surface recording density, a large capacity recording of 100 TB or more per volume of the data cartridge becomes possible.
第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０は、リング型の記録ヘッドと巨大磁気抵抗効果（Giant Magnetoresistive：ＧＭＲ）型またはトンネル磁気抵抗効果（Tunneling Magnetoresistive：ＴＭＲ）型の再生ヘッドとを有する記録再生装置（データを記録再生するための記録再生装置）に用いて好適なものである。また、第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０は、サーボ信号書込ヘッドとしてリング型の記録ヘッドが用いられるものであることが好ましい。磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりデータ信号が垂直記録される。また、磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりサーボ信号が垂直記録される。 The magnetic recording medium 110 according to the second embodiment is a recording / reproduction having a ring-type recording head and a giant magnetoresistive effect (GMR) type or tunnel magnetoresistive effect (TMR) type reproduction head. It is suitable for use in an apparatus (a recording / reproducing apparatus for recording / reproducing data). Further, it is preferable that the magnetic recording medium 110 according to the second embodiment uses a ring-type recording head as the servo signal writing head. A data signal is vertically recorded on the magnetic layer 115 by, for example, a ring-shaped recording head. Further, the servo signal is vertically recorded on the magnetic layer 115 by, for example, a ring-shaped recording head.
（２）各層の説明 (2) Explanation of each layer
（ベース層） (Base layer)
ベース層１１１については、第１の実施形態におけるベース層１１に関する説明が当てはまるので、ベース層１１１についての説明は省略する。 As for the base layer 111, since the description of the base layer 11 in the first embodiment applies, the description of the base layer 111 will be omitted.
（ＳＵＬ） (SUL)
ＳＵＬ１１２は、アモルファス状態の軟磁性材料を含む。軟磁性材料は、例えば、Ｃｏ系材料及びＦｅ系材料のうちの少なくとも１種を含む。Ｃｏ系材料は、例えば、ＣｏＺｒＮｂ、ＣｏＺｒＴａ、又はＣｏＺｒＴａＮｂを含む。Ｆｅ系材料は、例えば、ＦｅＣｏＢ、ＦｅＣｏＺｒ、又はＦｅＣｏＴａを含む。 SUL112 contains a soft magnetic material in an amorphous state. The soft magnetic material contains, for example, at least one of a Co-based material and an Fe-based material. The Co-based material includes, for example, CoZrNb, CoZrTa, or CoZrTaNb. Fe-based materials include, for example, FeCoB, FeCoZr, or FeCoTa.
ＳＵＬ１１２は、単層のＳＵＬであり、ベース層１１１上に直接設けられている。ＳＵＬ１１２の平均厚みは、好ましくは１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下、より好ましくは２０ｎｍ以上３０ｎｍ以下である。 The SUL 112 is a single-layer SUL and is provided directly on the base layer 111. The average thickness of SUL112 is preferably 10 nm or more and 50 nm or less, and more preferably 20 nm or more and 30 nm or less.
ＳＵＬ１１２の平均厚みは、第１の実施形態における磁性層１３の平均厚みの測定方法と同じ方法で求められる。なお、後述する、ＳＵＬ１１２以外の層の平均厚み（すなわち、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂ、及び磁性層１１５の平均厚み）も、第１の実施形態における磁性層１３の平均厚みの測定方法と同じ方法で求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、各層の厚みに応じて適宜調整される。 The average thickness of SUL112 is obtained by the same method as the method for measuring the average thickness of the magnetic layer 13 in the first embodiment. The average thickness of the layers other than SUL112 (that is, the average thickness of the first and second seed layers 113A and 113B, the first and second base layers 114A and 114B, and the magnetic layer 115), which will be described later, is also the first. It is obtained by the same method as the method for measuring the average thickness of the magnetic layer 13 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of each layer.
（第１、第２のシード層） (1st and 2nd seed layers)
第１のシード層１１３Ａは、Ｔｉ及びＣｒを含む合金を含み、アモルファス状態を有している。また、この合金には、Ｏ（酸素）がさらに含まれていてもよい。この酸素は、スパッタリング法などの成膜法で第１のシード層１１３Ａを成膜する際に、第１のシード層１１３Ａ内に微量に含まれる不純物酸素であってもよい。 The first seed layer 113A contains an alloy containing Ti and Cr and has an amorphous state. Further, this alloy may further contain O (oxygen). This oxygen may be impurity oxygen contained in a small amount in the first seed layer 113A when the first seed layer 113A is formed by a film forming method such as a sputtering method.
ここで、“合金”とは、Ｔｉ及びＣｒを含む固溶体、共晶体、及び金属間化合物などの少なくとも一種を意味する。“アモルファス状態”とは、Ｘ線回折または電子線回折法などにより、ハローが観測され、結晶構造を特定できないことを意味する。 Here, the "alloy" means at least one of a solid solution containing Ti and Cr, a co-crystal, an intermetallic compound, and the like. The "amorphous state" means that the halo is observed by X-ray diffraction or electron diffraction, and the crystal structure cannot be specified.
第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉ及びＣｒの総量に対するＴｉの原子比率は、好ましくは３０原子％以上１００原子％未満、より好ましくは５０原子％以上１００原子％未満の範囲内である。Ｔｉの原子比率が３０％未満であると、Ｃｒの体心立方格子（Body-Centered Cubic lattice：ｂｃｃ）構造の（１００）面が配向するようになり、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの配向性が低下する虞がある。 The atomic ratio of Ti to the total amount of Ti and Cr contained in the first seed layer 113A is preferably in the range of 30 atomic% or more and less than 100 atomic%, and more preferably 50 atomic% or more and less than 100 atomic%. When the atomic ratio of Ti is less than 30%, the (100) plane of the body-centered cubic lattice (bcc) structure of Cr becomes oriented and is formed on the first seed layer 113A. There is a risk that the orientation of the first and second base layers 114A and 114B will decrease.
上記Ｔｉの原子比率は次のようにして求められる。磁性層１１５側から磁気記録媒体１１０をイオンミリングしながら、オージェ電子分光法（Auger Electron Spectroscopy、以下「ＡＥＳ」という。）による第１のシード層１１３Ａの深さ方向分析（デプスプロファイル測定）を行う。次に、得られたデプスプロファイルから、膜厚方向におけるＴｉ及びＣｒの平均組成（平均原子比率）を求める。次に、求めたＴｉ及びＣｒの平均組成を用いて、上記Ｔｉの原子比率を求める。 The atomic ratio of Ti is obtained as follows. While ion-milling the magnetic recording medium 110 from the magnetic layer 115 side, depth direction analysis (depth profile measurement) of the first seed layer 113A by Auger Electron Spectroscopy (hereinafter referred to as “AES”) is performed. .. Next, the average composition (average atomic ratio) of Ti and Cr in the film thickness direction is obtained from the obtained depth profile. Next, the atomic ratio of Ti is obtained by using the obtained average composition of Ti and Cr.
第１のシード層１１３ＡがＴｉ、Ｃｒ、及びＯを含む場合、第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉ、Ｃｒ、及びＯの総量に対するＯの原子比率は、好ましくは１５原子％以下、より好ましくは１０原子％以下である。Ｏの原子比率が１５原子％を超えると、ＴｉＯ２結晶が生成することにより、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶核形成に影響を与えるようになり、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの配向性が低下する虞がある。上記Ｏの原子比率は、上記Ｔｉの原子比率と同様の解析方法を用いて求められる。 When the first seed layer 113A contains Ti, Cr, and O, the atomic ratio of O to the total amount of Ti, Cr, and O contained in the first seed layer 113A is preferably 15 atomic% or less, more preferably. Is 10 atomic% or less. When the atomic ratio of O exceeds 15 atomic%, TiO 2 crystals are formed, which affects the crystal nucleation of the first and second base layers 114A and 114B formed on the first seed layer 113A. As a result, the orientation of the first and second base layers 114A and 114B may decrease. The atomic ratio of O is obtained by using the same analysis method as the atomic ratio of Ti.
第１のシード層１１３Ａに含まれる合金が、Ｔｉ及びＣｒ以外の元素を添加元素としてさらに含んでいてもよい。この添加元素は、例えば、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｍｏ、Ａｌ、及びＷからなる群より選ばれる１種以上の元素であってよい。 The alloy contained in the first seed layer 113A may further contain elements other than Ti and Cr as additive elements. This additive element may be, for example, one or more elements selected from the group consisting of Nb, Ni, Mo, Al, and W.
第１のシード層１１３Ａの平均厚みは、好ましくは２ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは３ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。 The average thickness of the first seed layer 113A is preferably 2 nm or more and 15 nm or less, and more preferably 3 nm or more and 10 nm or less.
第２のシード層１１３Ｂは、例えば、ＮｉＷ又はＴａを含み、結晶状態を有している。第２のシード層１１３Ｂの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上２０ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１５ｎｍ以下である。 The second seed layer 113B contains, for example, NiW or Ta and has a crystalline state. The average thickness of the second seed layer 113B is preferably 3 nm or more and 20 nm or less, and more preferably 5 nm or more and 15 nm or less.
第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂは、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂに類似した結晶構造を有し、結晶成長を目的として設けられるシード層ではなく、当該第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂのアモルファス状態によって第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの垂直配向性を向上するシード層である。 The first and second seed layers 113A and 113B have a crystal structure similar to that of the first and second base layers 114A and 114B, and are not seed layers provided for the purpose of crystal growth, but the first and second seed layers. It is a seed layer that improves the vertical orientation of the first and second base layers 114A and 114B by the amorphous state of the seed layers 113A and 113B of 2.
（第１、第２の下地層） (1st and 2nd base layers)
第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。これは、磁性層１１５の配向性を高め、且つ、第２の下地層１１４Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えばＲｕ−ＳｉＯ２、Ｒｕ−ＴｉＯ２、及びＲｕ−ＺｒＯ２などのＲｕ合金酸化物が挙げられ、Ｒｕ合金はこれらのうちのいずれか一つであってよい。 The first and second base layers 114A and 114B preferably have the same crystal structure as the magnetic layer 115. When the magnetic layer 115 contains a Co-based alloy, the first and second base layers 114A and 114B contain a material having a hexagonal close- packed (hcp) structure similar to that of the Co-based alloy, and c of the structure. It is preferable that the axis is oriented in the direction perpendicular to the film surface (that is, in the film thickness direction). This is because the orientation of the magnetic layer 115 can be improved and the matching of the lattice constants of the second base layer 114B and the magnetic layer 115 can be relatively good. As the material having a hexagonal close- packed (hcp) structure, it is preferable to use a material containing Ru, and specifically, Ru alone or a Ru alloy is preferable. Examples of the Ru alloy include Ru alloy oxides such as Ru-SiO 2 , Ru-TiO 2 , and Ru-ZrO 2, and the Ru alloy may be any one of these.
上述のように、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの材料として同様のものを用いることができる。しかしながら、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂそれぞれの目的とする効果が異なっている。具体的には、第２の下地層１１４Ｂについてはその上層となる磁性層１１５のグラニュラ構造を促進する膜構造であり、第１の下地層１１４Ａについては結晶配向性の高い膜構造である。このような膜構造を得るためには、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂそれぞれのスパッタ条件などの成膜条件を異なるものとすることが好ましい。 As described above, similar materials can be used as the materials for the first and second base layers 114A and 114B. However, the desired effects of the first and second base layers 114A and 114B are different from each other. Specifically, the second base layer 114B has a film structure that promotes the granular structure of the magnetic layer 115 that is the upper layer thereof, and the first base layer 114A has a film structure with high crystal orientation. In order to obtain such a film structure, it is preferable that the film forming conditions such as the sputtering conditions of the first and second base layers 114A and 114B are different.
第１の下地層１１４Ａの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。第２の下地層１１４Ｂの平均厚みは、好ましくは７ｎｍ以上４０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上２５ｎｍ以下である。 The average thickness of the first base layer 114A is preferably 3 nm or more and 15 nm or less, and more preferably 5 nm or more and 10 nm or less. The average thickness of the second base layer 114B is preferably 7 nm or more and 40 nm or less, and more preferably 10 nm or more and 25 nm or less.
（磁性層） (Magnetic layer)
磁性層（記録層ともいう）１１５は、磁性材料が垂直に配向した垂直磁気記録層でありうる。磁性層１１５は、記録密度を向上する観点からすると、Ｃｏ系合金を含むグラニュラ磁性層であることが好ましい。このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含む強磁性結晶粒子と、この強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界（非磁性体）とから構成されている。より具体的には、このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含むカラム（柱状結晶）と、このカラムを取り囲み、それぞれのカラムを磁気的に分離する非磁性粒界（例えばＳｉＯ２などの酸化物）とから構成されている。この構造では、それぞれのカラムが磁気的に分離した構造を有する磁性層１１５を構成することができる。 The magnetic layer (also referred to as a recording layer) 115 may be a perpendicular magnetic recording layer in which the magnetic material is vertically oriented. From the viewpoint of improving the recording density, the magnetic layer 115 is preferably a granular magnetic layer containing a Co-based alloy. The granular magnetic layer is composed of ferromagnetic crystal grains containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (non-magnetic substances) surrounding the ferromagnetic crystal grains. More specifically, this granular magnetic layer comprises a column (columnar crystal) containing a Co-based alloy and a non-magnetic grain boundary (for example, an oxide such as SiO 2 ) that surrounds the column and magnetically separates each column. ) And. With this structure, it is possible to form a magnetic layer 115 having a structure in which each column is magnetically separated.
Ｃｏ系合金は、六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有し、そのｃ軸が膜面に対して垂直方向（膜厚方向）に配向している。Ｃｏ系合金としては、少なくともＣｏ、Ｃｒ、及びＰｔを含有するＣｏＣｒＰｔ系合金を用いることが好ましい。ＣｏＣｒＰｔ系合金は、さらに添加元素を含んでいてもよい。添加元素としては、例えば、Ｎｉ及びＴａなどからなる群より選ばれる１種以上の元素が挙げられる。 The Co-based alloy has a hexagonal close- packed (hcp) structure, and its c-axis is oriented in the direction perpendicular to the film surface (film thickness direction). As the Co-based alloy, it is preferable to use a CoCrPt-based alloy containing at least Co, Cr, and Pt. The CoCrPt-based alloy may further contain an additive element. Examples of the additive element include one or more elements selected from the group consisting of Ni, Ta, and the like.
強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界は、非磁性金属材料を含む。ここで、金属には半金属を含むものとする。非磁性金属材料としては、例えば、金属酸化物及び金属窒化物のうちの少なくとも一方を用いることができ、グラニュラ構造をより安定に維持する観点からすると、金属酸化物を用いることが好ましい。金属酸化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、Ｙ、及びＨｆなどからなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属酸化物が挙げられ、少なくともＳｉ酸化物（すなわちＳｉＯ２）を含む金属酸化物が好ましい。金属酸化物の具体例としては、ＳｉＯ２、Ｃｒ２Ｏ３、ＣｏＯ、Ａｌ２Ｏ３、ＴｉＯ２、Ｔａ２Ｏ５、ＺｒＯ２、及びＨｆＯ２などが挙げられる。金属窒化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、Ｙ、及びＨｆなどからなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属窒化物が挙げられる。金属窒化物の具体例としては、ＳｉＮ、ＴｉＮ、及びＡｌＮなどが挙げられる。 The non-magnetic grain boundaries surrounding the ferromagnetic crystal grains include non-magnetic metal materials. Here, it is assumed that the metal includes a semimetal. As the non-magnetic metal material, for example, at least one of a metal oxide and a metal nitride can be used, and from the viewpoint of maintaining a more stable granular structure, it is preferable to use a metal oxide. Examples of the metal oxide include metal oxides containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, Hf and the like, and at least Si. Metal oxides containing oxides (ie, SiO 2 ) are preferred. Specific examples of the metal oxide include SiO 2 , Cr 2 O 3 , CoO, Al 2 O 3 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , ZrO 2 , and HfO 2 . Examples of the metal nitride include metal nitrides containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, Hf and the like. Specific examples of the metal nitride include SiN, TiN, AlN and the like.
強磁性結晶粒子に含まれるＣｏＣｒＰｔ系合金と、非磁性粒界に含まれるＳｉ酸化物とが、以下の式（１）に示す平均組成を有していることが好ましい。反磁界の影響を抑え、かつ、十分な再生出力を確保できる飽和磁化量Ｍｓを実現でき、これにより、記録再生特性の更なる向上を実現できるからである。
（ＣｏｘＰｔｙＣｒ１００−ｘ−ｙ）１００−ｚ−（ＳｉＯ２）ｚ・・・（１）
（但し、式（１）中において、ｘ、ｙ、ｚはそれぞれ、６９≦ｘ≦７５、１０≦ｙ≦１６、９≦ｚ≦１２の範囲内の値である。）
It is preferable that the CoCrPt-based alloy contained in the ferromagnetic crystal particles and the Si oxide contained in the non-magnetic grain boundaries have the average composition shown in the following formula (1). This is because it is possible to realize a saturation magnetization amount Ms that can suppress the influence of the demagnetizing field and secure a sufficient reproduction output, thereby further improving the recording / reproduction characteristics.
(Co x Pt y Cr 100-xy ) 100-z- (SiO 2 ) z ... (1)
(However, in the formula (1), x, y, and z are values within the range of 69 ≦ x ≦ 75, 10 ≦ y ≦ 16, and 9 ≦ z ≦ 12, respectively.)
なお、上記組成は次のようにして求めることができる。磁性層１１５側から磁気記録媒体１１０をイオンミリングしながら、ＡＥＳによる磁性層１１５の深さ方向分析を行い、膜厚方向におけるＣｏ、Ｐｔ、Ｃｒ、Ｓｉ、及びＯの平均組成（平均原子比率）を求める。 The composition can be obtained as follows. While ion-milling the magnetic recording medium 110 from the magnetic layer 115 side, the depth direction analysis of the magnetic layer 115 by AES is performed, and the average composition (average atomic ratio) of Co, Pt, Cr, Si, and O in the film thickness direction. Ask for.
磁性層１１５の平均厚みｔｍ［ｎｍ］は、好ましくは９ｎｍ≦ｔｍ≦９０ｎｍ、より好ましくは９ｎｍ≦ｔｍ≦２０ｎｍ、更により好ましくは９ｎｍ≦ｔｍ≦１５ｎｍである。磁性層１１５の平均厚みｔｍが上記数値範囲内にあることによって、電磁変換特性を向上することができる。 The average thickness t m of the magnetic layer 115 [nm] is preferably 9nm ≦ t m ≦ 90nm, more preferably 9nm ≦ t m ≦ 20nm, even more preferably 9nm ≦ t m ≦ 15nm. By average thickness t m of the magnetic layer 115 is within the above range, it is possible to improve the electromagnetic conversion characteristics.
（保護層） (Protective layer)
保護層１１６は、例えば、炭素材料又は二酸化ケイ素（ＳｉＯ２）を含み、保護層１１６の膜強度の観点からすると、炭素材料を含むことが好ましい。炭素材料としては、例えば、グラファイト、ダイヤモンド状炭素（Diamond-Like Carbon：ＤＬＣ）、又はダイヤモンドなどが挙げられる。 The protective layer 116 contains, for example, a carbon material or silicon dioxide (SiO 2 ), and is preferably contained from the viewpoint of the film strength of the protective layer 116. Examples of the carbon material include graphite, diamond-like carbon (DLC), diamond and the like.
（潤滑層） (Lubrication layer)
潤滑層１１７は、少なくとも１種の潤滑剤を含む。潤滑層１１７は、必要に応じて各種添加剤、例えば防錆剤など、をさらに含んでいてもよい。潤滑剤は、少なくとも２つのカルボキシル基と１つのエステル結合とを有し、下記の一般式（１）で表されるカルボン酸系化合物の少なくとも１種を含む。潤滑剤は、下記の一般式（１）で表されるカルボン酸系化合物以外の種類の潤滑剤をさらに含んでいてもよい。
一般式（１）：
General formula (1):
上記カルボン酸系化合物は、下記の一般式（２）又は（３）で表されるものであることが好ましい。
一般式（２）：
一般式（３）：
General formula (2):
General formula (3):
潤滑剤は、上記の一般式（２）及び（３）で表されるカルボン酸系化合物の一方または両方を含むことが好ましい。 The lubricant preferably contains one or both of the carboxylic acid compounds represented by the above general formulas (2) and (3).
一般式（１）で示されるカルボン酸系化合物を含む潤滑剤を磁性層１１５または保護層１１６などに塗布すると、疎水性基である含フッ素炭化水素基又は炭化水素基Ｒｆ間の凝集力により潤滑作用が発現する。Ｒｆ基が含フッ素炭化水素基である場合には、総炭素数が６〜５０であり、且つフッ化炭化水素基の総炭素数が４〜２０であることが好ましい。Ｒｆ基は、例えば飽和又は不飽和の直鎖、分岐鎖、又は環状の炭化水素基であってよいが、好ましくは飽和の直鎖状炭化水素基でありうる。 When a lubricant containing a carboxylic acid compound represented by the general formula (1) is applied to the magnetic layer 115, the protective layer 116, or the like, lubrication is performed by the cohesive force between the hydrophobic group, the fluorine-containing hydrocarbon group or the hydrocarbon group Rf. The action is manifested. When the Rf group is a fluorinated hydrocarbon group, it is preferable that the total carbon number is 6 to 50 and the total carbon number of the fluorinated hydrocarbon group is 4 to 20. The Rf group may be, for example, a saturated or unsaturated straight chain, branched chain, or cyclic hydrocarbon group, but is preferably a saturated linear hydrocarbon group.
例えば、Ｒｆ基が炭化水素基である場合には、下記一般式（４）で表される基であることが望ましい。
一般式（４）：
General formula (4):
また、Ｒｆ基が含フッ素炭化水素基である場合には、下記一般式（５）で表される基であることが望ましい。
一般式（５）：
General formula (5):
フッ化炭化水素基は、上記のように分子内の１箇所に集中していても、また下記一般式（６）のように分散していてもよく、−ＣＦ３や−ＣＦ２−ばかりでなく−ＣＨＦ２や−ＣＨＦ−等であってもよい。
一般式（６）：
General formula (6):
一般式（４）、（５）、及び（６）において炭素数を上記のように限定したのは、アルキル基または含フッ素アルキル基を構成する炭素数（ｌ、又は、ｍとｎの和）が上記下限以上であると、その長さが適度の長さとなり、疎水性基間の凝集力が有効に発揮され、良好な潤滑作用が発現し、摩擦・摩耗耐久性が向上するからである。また、その炭素数が上記上限以下であると、上記カルボン酸系化合物からなる潤滑剤の、溶媒に対する溶解性が良好に保たれるからである。 In the general formulas (4), (5), and (6), the number of carbon atoms is limited as described above because the number of carbon atoms constituting the alkyl group or the fluorine-containing alkyl group (l or the sum of m and n). When is equal to or more than the above lower limit, the length becomes an appropriate length, the cohesive force between the hydrophobic groups is effectively exhibited, a good lubricating action is exhibited, and the friction / wear durability is improved. .. Further, when the number of carbon atoms is not more than the above upper limit, the solubility of the lubricant composed of the above carboxylic acid compound in a solvent is kept good.
特に、一般式（１）、（２）、及び（３）におけるＲｆ基は、フッ素原子を含有すると、摩擦係数の低減、さらには走行性の改善等に効果がある。但し、含フッ素炭化水素基とエステル結合との間に炭化水素基を設け、含フッ素炭化水素基とエステル結合との間を隔てて、エステル結合の安定性を確保して加水分解を防ぐことが好ましい。 In particular, when the Rf group in the general formulas (1), (2) and (3) contains a fluorine atom, it is effective in reducing the friction coefficient and further improving the runnability. However, it is possible to provide a hydrocarbon group between the fluorine-containing hydrocarbon group and the ester bond to ensure the stability of the ester bond and prevent hydrolysis by separating the fluorine-containing hydrocarbon group and the ester bond. preferable.
また、Ｒｆ基がフルオロアルキルエーテル基又はパーフルオロポリエーテル基を有するものであってもよい。 Further, the Rf group may have a fluoroalkyl ether group or a perfluoropolyether group.
一般式（１）におけるＲ基は、なくてもよいが、ある場合には、比較的炭素数の少ない炭化水素鎖であることが好ましい。 The R group in the general formula (1) may be absent, but in some cases, it is preferably a hydrocarbon chain having a relatively small number of carbon atoms.
また、Ｒｆ基又はＲ基は、構成元素として窒素、酸素、硫黄、リン、及びハロゲンから選ばれる１又は複数の元素を含み、既述した官能基に加えて、ヒドロキシル基、カルボキシル基、カルボニル基、アミノ基、及びエステル結合等を更に有していてもよい。 The Rf group or R group contains one or more elements selected from nitrogen, oxygen, sulfur, phosphorus, and halogen as constituent elements, and in addition to the functional groups described above, a hydroxyl group, a carboxyl group, and a carbonyl group. , Amino group, ester bond and the like.
一般式（１）で示されるカルボン酸系化合物は、具体的には以下に示す化合物の少なくとも１種であることが好ましい。すなわち、潤滑剤は、以下に示す化合物を少なくとも１種含むことが好ましい。
CF3(CF2)7(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
C17H35COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)2OCOCH2CH(C18H37)COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CHF2(CF2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)2OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)6OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)11OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)6OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
C18H37OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)4COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)4COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)9(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)12COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)5(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7CH(C9H19)CH2CH=CH(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7CH(C6H13)(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CH3(CH2)3(CH2CH2CH(CH2CH2(CF2)9CF3))2(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
Specifically, the carboxylic acid compound represented by the general formula (1) is preferably at least one of the compounds shown below. That is, the lubricant preferably contains at least one of the following compounds.
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 10 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 3 (CH 2 ) 10 COOCH (COOH) CH 2 COOH
C 17 H 35 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 2 OCOCH 2 CH (C 18 H 37 ) COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CHF 2 (CF 2 ) 7 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 2 OCOCH 2 CH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 6 OCOCH 2 CH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 11 OCOCH 2 CH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 3 (CH 2 ) 6 OCOCH 2 CH (COOH) CH 2 COOH
C 18 H 37 OCOCH 2 CH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 4 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 3 (CH 2 ) 4 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 3 (CH 2 ) 7 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 9 (CH 2 ) 10 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 (CH 2 ) 12 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 5 (CH 2 ) 10 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 CH (C 9 H 19 ) CH 2 CH = CH (CH 2 ) 7 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CF 3 (CF 2 ) 7 CH (C 6 H 13 ) (CH 2 ) 7 COOCH (COOH) CH 2 COOH
CH 3 (CH 2 ) 3 (CH 2 CH 2 CH (CH 2 CH 2 (CF 2 ) 9 CF 3 )) 2 (CH 2 ) 7 COOCH (COOH) CH 2 COOH
一般式（１）で示されるカルボン酸系化合物は、環境への負荷の小さい非フッ素系溶剤に可溶であり、例えば炭化水素系溶剤、ケトン系溶剤、アルコール系溶剤、及びエステル系溶剤などの汎用溶剤を用いて、塗布、浸漬、噴霧などの操作を行えるという利点を備えている。具体的には、前記汎用溶剤として、例えばヘキサン、ヘプタン、オクタン、デカン、ドデカン、ベンゼン、トルエン、キシレン、シクロヘキサン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、及びシクロヘキサノンなどの溶媒を挙げることができる。 The carboxylic acid-based compound represented by the general formula (1) is soluble in a non-fluorine-based solvent having a small impact on the environment, such as a hydrocarbon-based solvent, a ketone-based solvent, an alcohol-based solvent, and an ester-based solvent. It has the advantage that operations such as coating, dipping, and spraying can be performed using a general-purpose solvent. Specifically, as the general-purpose solvent, for example, hexane, heptane, octane, decane, dodecane, benzene, toluene, xylene, cyclohexane, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, methanol, ethanol, isopropanol, diethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, and cyclohexanone. Such solvents can be mentioned.
保護層１１６が炭素材料を含む場合には、潤滑剤として上記カルボン酸系化合物を保護層１１６上に塗布すると、保護層１１６上に潤滑剤分子の極性基部である２つのカルボキシル基と少なくとも１つのエステル結合基が吸着され、疎水性基間の凝集力により特に耐久性の良好な潤滑層１１７を形成することができる。 When the protective layer 116 contains a carbon material, when the carboxylic acid compound is applied onto the protective layer 116 as a lubricant, the protective layer 116 has two carboxyl groups which are polar groups of the lubricant molecule and at least one. The ester-bonding groups are adsorbed, and the cohesive force between the hydrophobic groups makes it possible to form a lubricating layer 117 having particularly good durability.
なお、潤滑剤は、上述のように磁気記録媒体１１０の表面に潤滑層１１７として保持されるのみならず、磁気記録媒体１１０を構成する磁性層１１５及び保護層１１６などの層に含まれ、保有されていてもよい。 The lubricant is not only held as a lubricating layer 117 on the surface of the magnetic recording medium 110 as described above, but is also contained and retained in layers such as the magnetic layer 115 and the protective layer 116 constituting the magnetic recording medium 110. It may have been done.
（バック層） (Back layer)
バック層１１８については、第１の実施形態におけるバック層１４に関する説明が当てはまる。 For the back layer 118, the description of the back layer 14 in the first embodiment applies.
（３）物性及び構造 (3) Physical properties and structure
上記２．の（３）において述べた物性及び構造に関する説明の全てが、第２の実施形態についても当てはまる。例えば、磁気記録媒体１１０の平均厚みｔＴ、寸法変化量Δｗ、温度膨張係数α、湿度膨張係数β、ポアソン比ρ、長手方向の弾性限界値σＭＤ、磁性面とバック面との間の摩擦係数μ、バック層１１８の表面粗度Ｒａｂ、長手方向の収縮率、及び長手方向の１％伸び荷重は、第１の実施形態におけるものと同様であってよい。そのため、第２の実施形態の磁気記録媒体の物性及び構造についての説明は省略する。 Above 2. All of the explanations regarding the physical properties and the structure described in (3) of (3) also apply to the second embodiment. For example, the average thickness t T of the magnetic recording medium 110, the amount of dimensional change Δw, the coefficient of thermal expansion α, the coefficient of thermal expansion β, the Poisson's ratio ρ, the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction, and the friction between the magnetic surface and the back surface. coefficient mu, surface roughness R ab of the back layer 118, longitudinal shrinkage, and 1% elongation load in the longitudinal direction may be the same as those in the first embodiment. Therefore, the description of the physical properties and structure of the magnetic recording medium of the second embodiment will be omitted.
（４）スパッタ装置の構成 (4) Configuration of sputtering equipment
以下、図９を参照して、第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０の製造に用いられるスパッタ装置１２０の構成の一例について説明する。このスパッタ装置１２０は、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ及び磁性層１１５の成膜に用いられる連続巻取式スパッタ装置であり、図９に示すように、成膜室１２１と、金属キャン（回転体）であるドラム１２２と、カソード１２３ａ〜１２３ｆと、供給リール１２４と、巻き取りリール１２５と、複数のガイドロール１２７ａ〜１２７ｃ、１２８ａ〜１２８ｃとを備える。スパッタ装置１２０は、例えばＤＣ（直流）マグネトロンスパッタリング方式の装置であるが、スパッタリング方式はこの方式に限定されるものではない。 Hereinafter, an example of the configuration of the sputtering apparatus 120 used for manufacturing the magnetic recording medium 110 according to the second embodiment will be described with reference to FIG. 9. This sputtering apparatus 120 is a continuous winding type sputtering used for forming a SUL 112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first base layer 114A, a second base layer 114B, and a magnetic layer 115. As shown in FIG. 9, the apparatus is a film forming chamber 121, a metal can (rotating body) drum 122, cathodes 123a to 123f, a supply reel 124, a take-up reel 125, and a plurality of guide rolls. It includes 127a to 127c and 128a to 128c. The sputtering apparatus 120 is, for example, a DC (direct current) magnetron sputtering type apparatus, but the sputtering method is not limited to this type.
成膜室１２１は、排気口１２６を介して図示しない真空ポンプに接続され、この真空ポンプにより成膜室１２１内の雰囲気が所定の真空度に設定される。成膜室１２１の内部には、回転可能な構成を有するドラム１２２、供給リール１２４、及び巻き取りリール１２５が配置されている。成膜室１２１の内部には、供給リール１２４とドラム１２２との間におけるベース層１１１の搬送をガイドするための複数のガイドロール１２７ａ〜１２７ｃが設けられていると共に、ドラム１２２と巻き取りリール１２５との間におけるベース層１１１の搬送をガイドするための複数のガイドロール１２８ａ〜１２８ｃが設けられている。スパッタ時には、供給リール１２４から巻き出されたベース層１１１が、ガイドロール１２７ａ〜１２７ｃ、ドラム１２２、及びガイドロール１２８ａ〜１２８ｃを介して巻き取りリール１２５に巻き取られる。ドラム１２２は円柱状の形状を有し、長尺状のベース層１１１はドラム１２２の円柱面状の周面に沿わせて搬送される。ドラム１２２には、図示しない冷却機構が設けられており、スパッタ時には、例えば−２０℃程度に冷却される。成膜室１２１の内部には、ドラム１２２の周面に対向して複数のカソード１２３ａ〜１２３ｆが配置されている。これらのカソード１２３ａ〜１２３ｆにはそれぞれターゲットがセットされている。具体的には、カソード１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄ、１２３ｅ、１２３ｆにはそれぞれ、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、磁性層１１５を成膜するためのターゲットがセットされている。これらのカソード１２３ａ〜１２３ｆにより複数の種類の膜、すなわちＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５が同時に成膜される。 The film forming chamber 121 is connected to a vacuum pump (not shown) via an exhaust port 126, and the atmosphere in the film forming chamber 121 is set to a predetermined degree of vacuum by this vacuum pump. Inside the film forming chamber 121, a drum 122 having a rotatable structure, a supply reel 124, and a take-up reel 125 are arranged. Inside the film forming chamber 121, a plurality of guide rolls 127a to 127c for guiding the transfer of the base layer 111 between the supply reel 124 and the drum 122 are provided, and the drum 122 and the take-up reel 125 are provided. A plurality of guide rolls 128a to 128c are provided to guide the transfer of the base layer 111 to and from the base layer 111. At the time of sputtering, the base layer 111 unwound from the supply reel 124 is wound on the take-up reel 125 via the guide rolls 127a to 127c, the drum 122, and the guide rolls 128a to 128c. The drum 122 has a columnar shape, and the elongated base layer 111 is conveyed along the cylindrical peripheral surface of the drum 122. The drum 122 is provided with a cooling mechanism (not shown), and is cooled to, for example, about −20 ° C. during sputtering. Inside the film forming chamber 121, a plurality of cathodes 123a to 123f are arranged so as to face the peripheral surface of the drum 122. Targets are set on each of these cathodes 123a to 123f. Specifically, the cathodes 123a, 123b, 123c, 123d, 123e, and 123f have SUL112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first base layer 114A, and a second base layer 114B, respectively. , A target for forming the magnetic layer 115 is set. With these cathodes 123a to 123f, a plurality of types of films, that is, SUL 112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first base layer 114A, a second base layer 114B, and a magnetic layer 115 are simultaneously formed. A film is formed.
上述の構成を有するスパッタ装置１２０では、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５をRolltoRoll法により連続成膜することができる。 In the sputtering apparatus 120 having the above structure, the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first base layer 114A, the second base layer 114B, and the magnetic layer 115 are continuously formed by the Roll to Roll method. Can be filmed.
（５）磁気記録媒体の製造方法 (5) Method for manufacturing magnetic recording medium
第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０は、例えば、以下のようにして製造することができる。 The magnetic recording medium 110 according to the second embodiment can be manufactured, for example, as follows.
まず、図９に示したスパッタ装置１２０を用いて、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５をベース層１１１の表面上に順次成膜する。具体的には以下のようにして成膜する。まず、成膜室１２１を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、成膜室１２１内にＡｒガスなどのプロセスガスを導入しながら、カソード１２３ａ〜１２３ｆにセットされたターゲットをスパッタする。これにより、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５が、走行するベース層１１１の表面に順次成膜される。 First, the sputtering apparatus 120 shown in FIG. 9 is used to base the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first base layer 114A, the second base layer 114B, and the magnetic layer 115. A film is sequentially formed on the surface of the layer 111. Specifically, the film is formed as follows. First, the film forming chamber 121 is evacuated to a predetermined pressure. Then, while introducing a process gas such as Ar gas into the film forming chamber 121, the targets set on the cathodes 123a to 123f are sputtered. As a result, the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first base layer 114A, the second base layer 114B, and the magnetic layer 115 are sequentially formed on the surface of the traveling base layer 111. Will be done.
スパッタ時の成膜室１２１の雰囲気は、例えば、１×１０−５Ｐａ〜５×１０−５Ｐａ程度に設定される。ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５の膜厚及び特性は、ベース層１１１を巻き取るテープライン速度、スパッタ時に導入するＡｒガスなどのプロセスガスの圧力（スパッタガス圧）、及び投入電力などを調整することにより制御可能である。 Atmosphere of the film forming chamber 121 during the sputtering, for example, on the order of 1 × 10 -5 Pa~5 × 10 -5 Pa. The film thickness and characteristics of the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first base layer 114A, the second base layer 114B, and the magnetic layer 115 are the tape line speed at which the base layer 111 is wound. It can be controlled by adjusting the pressure (sputter gas pressure) of a process gas such as Ar gas introduced at the time of sputtering, the input power, and the like.
次に、磁性層１１５上に保護層１１６を成膜する。保護層１１６の成膜方法としては、例えば化学気相成長（Chemical Vapor Deposition：ＣＶＤ）法または物理蒸着（Physical Vapor Deposition：ＰＶＤ）法を用いることができる。 Next, the protective layer 116 is formed on the magnetic layer 115. As a method for forming the protective layer 116, for example, a chemical vapor deposition (CVD) method or a physical vapor deposition (PVD) method can be used.
次に、結着剤、無機粒子、及び潤滑剤などを溶剤に混練、分散させることにより、バック層成膜用の塗料を調製する。次に、ベース層１１１の裏面上にバック層成膜用の塗料を塗布して乾燥させることにより、バック層１１８をベース層１１１の裏面上に成膜する。 Next, a coating material for forming a back layer is prepared by kneading and dispersing a binder, inorganic particles, a lubricant and the like in a solvent. Next, the back layer 118 is formed on the back surface of the base layer 111 by applying a coating film for forming a back layer on the back surface of the base layer 111 and drying the coating.
次に、例えば潤滑剤を保護層１１６上に塗布し、潤滑層１１７を成膜する。潤滑剤の塗布方法としては、例えば、グラビアコーティング、ディップコーティングなどの各種塗布方法を用いることができる。次に、必要に応じて、磁気記録媒体１１０を所定の幅に裁断する。以上により、図８に示した磁気記録媒体１１０が得られる。 Next, for example, a lubricant is applied on the protective layer 116 to form the lubricating layer 117. As a method of applying the lubricant, for example, various application methods such as gravure coating and dip coating can be used. Next, if necessary, the magnetic recording medium 110 is cut to a predetermined width. As a result, the magnetic recording medium 110 shown in FIG. 8 is obtained.
（６）効果 (6) Effect
第２の実施形態に係る磁気記録媒体１１０では、第１の実施形態と同様に、記録再生装置により磁気記録媒体１１０の長手方向のテンションを調整することで、磁気記録媒体１１０の幅の変化を抑制することができる。例えば磁気記録媒体１１０の幅の変化をもたらしうる温湿度変化があったとしても、磁気記録媒体１１０の幅を一定又はほぼ一定に保つことができる。当該テンション調整による幅の変化の抑制は、長期保存後であっても可能である。さらに、磁気記録媒体１１０の厚みはｔＴ≦５．５μｍと薄いが、ハンドリング性に優れている。 In the magnetic recording medium 110 according to the second embodiment, as in the first embodiment, the width of the magnetic recording medium 110 is changed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 110 by the recording / reproducing device. It can be suppressed. For example, even if there is a temperature / humidity change that can cause a change in the width of the magnetic recording medium 110, the width of the magnetic recording medium 110 can be kept constant or substantially constant. It is possible to suppress the change in width by adjusting the tension even after long-term storage. Further, although the thickness of the magnetic recording medium 110 is as thin as t T ≦ 5.5 μm, it is excellent in handleability.
（７）変形例 (7) Modification example
磁気記録媒体１１０が、ベース層１１１とＳＵＬ１１２との間に下地層をさらに備えるようにしてもよい。ＳＵＬ１１２はアモルファス状態を有するため、ＳＵＬ１１２上に形成される層のエピタキシャル成長を促す役割を担わないが、ＳＵＬ１１２の上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶配向を乱さないことが求められる。そのためには、軟磁性材料がカラムを形成しない微細な構造を有していることが好ましいが、ベース層１１１からの水分などのガスの放出の影響が大きい場合、軟磁性材料が粗大化し、ＳＵＬ１１２上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶配向を乱してしまう虞がある。ベース層１１１からの水分などのガスの放出の影響を抑制するためには、上述のように、ベース層１１１とＳＵＬ１１２との間に、Ｔｉ及びＣｒを含む合金を含み、アモルファス状態を有する下地層を設けることが好ましい。この下地層の具体的な構成としては、第２の実施形態の第１のシード層１１３Ａと同様の構成を採用することができる。 The magnetic recording medium 110 may further include a base layer between the base layer 111 and the SUL 112. Since SUL112 has an amorphous state, it does not play a role of promoting epitaxial growth of the layer formed on SUL112, but does not disturb the crystal orientation of the first and second underlying layers 114A and 114B formed on SUL112. Is required. For that purpose, it is preferable that the soft magnetic material has a fine structure that does not form a column, but when the influence of the release of gas such as moisture from the base layer 111 is large, the soft magnetic material becomes coarse and SUL112. There is a risk of disturbing the crystal orientation of the first and second base layers 114A and 114B formed above. In order to suppress the influence of the release of gas such as water from the base layer 111, as described above, an alloy containing Ti and Cr is contained between the base layer 111 and SUL112, and the base layer has an amorphous state. It is preferable to provide. As a specific structure of the base layer, the same structure as that of the first seed layer 113A of the second embodiment can be adopted.
磁気記録媒体１１０が、第２のシード層１１３Ｂ及び第２の下地層１１４Ｂのうちの少なくとも１つの層を備えていなくてもよい。但し、ＳＮＲの向上の観点からすると、第２のシード層１１３Ｂ及び第２の下地層１１４Ｂの両方の層を備えることがより好ましい。 The magnetic recording medium 110 may not include at least one of the second seed layer 113B and the second base layer 114B. However, from the viewpoint of improving the SNR, it is more preferable to include both the second seed layer 113B and the second base layer 114B.
磁気記録媒体１１０が、単層のＳＵＬに代えて、ＡＰＣ−ＳＵＬ（Antiparallel Coupled ＳＵＬ）を備えるようにしてもよい。 The magnetic recording medium 110 may include an APC-SUL (Antiparallel Coupled SUL) instead of the single-layer SUL.
４．第３の実施形態（真空薄膜型の磁気記録媒体の例） 4. Third Embodiment (Example of vacuum thin film type magnetic recording medium)
（磁気記録媒体の構成） (Structure of magnetic recording medium)
第３の実施形態に係る磁気記録媒体１３０は、図１０に示すように、ベース層１１１と、ＳＵＬ１１２と、シード層１３１と、第１の下地層１３２Ａと、第２の下地層１３２Ｂと、磁性層１１５とを備える。なお、第３の実施形態において第２の実施形態と同様の箇所には同一の符号を付して説明を省略する。 As shown in FIG. 10, the magnetic recording medium 130 according to the third embodiment has a base layer 111, a SUL 112, a seed layer 131, a first base layer 132A, a second base layer 132B, and magnetism. It includes a layer 115. In the third embodiment, the same reference numerals are given to the same parts as those in the second embodiment, and the description thereof will be omitted.
ＳＵＬ１１２、シード層１３１、第１、第２の下地層１３２Ａ、１３２Ｂは、ベース層１１１の一方の主面と磁性層１１５との間に設けられ、ベース層１１１から磁性層１１５の方向に向かってＳＵＬ１１２、シード層１３１、第１の下地層１３２Ａ、第２の下地層１３２Ｂの順序で積層されている。 SUL112, seed layer 131, first, second base layer 132A, 132B is provided between the one main surface and the magnetic layer 115 of the base over the scan layer 111, the base layer 111 in the direction of the magnetic layer 115 The SUL 112, the seed layer 131, the first base layer 132A, and the second base layer 132B are laminated in this order.
（シード層） (Seed layer)
シード層１３１は、Ｃｒ、Ｎｉ、及びＦｅを含み、面心立方格子（ｆｃｃ）構造を有し、この面心立方構造の（１１１）面がベース層１１１の表面に平行になるように優先配向している。ここで、優先配向とは、Ｘ線回折法のθ−２θスキャンにおいて面心立方格子構造の（１１１）面からの回折ピーク強度が他の結晶面からの回折ピークより大きい状態、またはＸ線回折法のθ−２θスキャンにおいて面心立方格子構造の（１１１）面からの回折ピーク強度のみが観察される状態を意味する。 The seed layer 131 contains Cr, Ni, and Fe, has a face-centered cubic lattice (fcc) structure, and is preferentially oriented so that the (111) plane of the face-centered cubic structure is parallel to the surface of the base layer 111. are doing. Here, the preferential orientation is a state in which the intensity of the diffraction peak from the face-centered cubic lattice structure (111) plane is greater than the diffraction peak from another crystal plane in the θ-2θ scan of the X-ray diffraction method, or X-ray diffraction. It means a state in which only the diffraction peak intensity from the (111) plane of the face-centered cubic lattice structure is observed in the θ-2θ scan of the method.
シード層１３１のＸ線回折の強度比率は、ＳＮＲの向上の観点から、好ましくは６０ｃｐｓ／ｎｍ以上、より好ましくは７０ｃｐｓ／ｎｍ以上、さらにより好ましくは８０ｃｐｓ／ｎｍ以上である。ここで、シード層１３１のＸ線回折の強度比率は、シード層１３１のＸ線回折の強度Ｉ（ｃｐｓ）をシード層１３１の平均厚みＤ（ｎｍ）で除算して求められる値（Ｉ／Ｄ（ｃｐｓ／ｎｍ））である。 The intensity ratio of X-ray diffraction of the seed layer 131 is preferably 60 cps / nm or more, more preferably 70 cps / nm or more, and even more preferably 80 cps / nm or more from the viewpoint of improving the SNR. Here, the intensity ratio of the X-ray diffraction of the seed layer 131 is a value (I / D) obtained by dividing the intensity I (cps) of the X-ray diffraction of the seed layer 131 by the average thickness D (nm) of the seed layer 131. (Cps / nm)).
シード層１３１に含まれるＣｒ、Ｎｉ、及びＦｅは、以下の式（２）で表される平均組成を有することが好ましい。
ＣｒＸ（ＮｉＹＦｅ１００−Ｙ）１００−Ｘ・・・（２）
（但し、式（２）中において、Ｘは１０≦Ｘ≦４５、Ｙは６０≦Ｙ≦９０の範囲内である。）Ｘが上記範囲内であると、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。同様にＹが上記範囲内であると、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
Cr, Ni, and Fe contained in the seed layer 131 preferably have an average composition represented by the following formula (2).
Cr X (Ni Y Fe 100-Y ) 100-X ... (2)
(However, in the formula (2), X is within the range of 10 ≦ X ≦ 45 and Y is within the range of 60 ≦ Y ≦ 90.) When X is within the above range, the face-centered cubic of Cr, Ni, and Fe is cubic. The (111) orientation of the lattice structure is improved, and a better SNR can be obtained. Similarly, when Y is within the above range, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe is improved, and a better SNR can be obtained.
シード層１３１の平均厚みは、５ｎｍ以上４０ｎｍ以下であることが好ましい。シード層１３１の平均厚みをこの範囲内にすることで、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向を向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。なお、シード層１３１の平均厚みは、第１の実施形態における磁性層１３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、シード層１３１の厚みに応じて適宜調整される。 The average thickness of the seed layer 131 is preferably 5 nm or more and 40 nm or less. By setting the average thickness of the seed layer 131 within this range, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe can be improved, and a better SNR can be obtained. The average thickness of the seed layer 131 is obtained in the same manner as the magnetic layer 13 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the seed layer 131.
（第１、第２の下地層） (1st and 2nd base layers)
第１の下地層１３２Ａは、面心立方格子構造を有するＣｏ及びＯを含み、カラム（柱状結晶）構造を有している。Ｃｏ及びＯを含む第１の下地層１３２Ａでは、Ｒｕを含む第２の下地層１３２Ｂとほぼ同様の効果（機能）が得られる。Ｃｏの平均原子濃度に対するＯの平均原子濃度の濃度比（（Ｏの平均原子濃度）／（Ｃｏの平均原子濃度））が１以上である。濃度比が１以上であると、第１の下地層１３２Ａを設ける効果が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。 The first base layer 132A contains Co and O having a face-centered cubic lattice structure, and has a column (columnar crystal) structure. The first base layer 132A containing Co and O has almost the same effect (function) as the second base layer 132B containing Ru. The concentration ratio of the average atomic concentration of O to the average atomic concentration of Co ((average atomic concentration of O) / (average atomic concentration of Co)) is 1 or more. When the concentration ratio is 1 or more, the effect of providing the first base layer 132A is improved, and a better SNR can be obtained.
カラム構造は、ＳＮＲ向上の観点から、傾斜していることが好ましい。その傾斜の方向は、長尺状の磁気記録媒体１３０の長手方向であることが好ましい。このように長手方向が好ましいのは、以下の理由による。本実施形態に係る磁気記録媒体１３０は、いわゆるリニア記録用の磁気記録媒体であり、記録トラックは磁気記録媒体１３０の長手方向に平行となる。また、本実施形態に係る磁気記録媒体１３０は、いわゆる垂直磁気記録媒体でもあり、記録特性の観点からすると、磁性層１１５の結晶配向軸が垂直方向であることが好ましいが、第１の下地層１３２Ａのカラム構造の傾きの影響で、磁性層１１５の結晶配向軸に傾きが生じる場合がある。リニア記録用である磁気記録媒体１３０においては、記録時のヘッド磁界との関係上、磁気記録媒体１３０の長手方向に磁性層１１５の結晶配向軸が傾いている構成が、磁気記録媒体１３０の幅方向に磁性層１１５の結晶配向軸が傾いている構成に比べて、結晶配向軸の傾きによる記録特性への影響を低減できる。磁気記録媒体１３０の長手方向に磁性層１１５の結晶配向軸を傾かせるためには、上記のように第１の下地層１３２Ａのカラム構造の傾斜方向を磁気記録媒体１３０の長手方向とすることが好ましい。 The column structure is preferably inclined from the viewpoint of improving SNR. The direction of inclination is preferably the longitudinal direction of the long magnetic recording medium 130. The reason why the longitudinal direction is preferable in this way is as follows. The magnetic recording medium 130 according to the present embodiment is a so-called magnetic recording medium for linear recording, and the recording track is parallel to the longitudinal direction of the magnetic recording medium 130. Further, the magnetic recording medium 130 according to the present embodiment is also a so-called perpendicular magnetic recording medium, and from the viewpoint of recording characteristics, it is preferable that the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is in the vertical direction, but the first base layer Due to the influence of the inclination of the column structure of 132A, the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 may be inclined. In the magnetic recording medium 130 for linear recording, the width of the magnetic recording medium 130 is such that the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is tilted in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 130 in relation to the head magnetic field at the time of recording. Compared with the configuration in which the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is tilted in the direction, the influence of the tilt of the crystal orientation axis on the recording characteristics can be reduced. In order to incline the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 130, the inclination direction of the column structure of the first base layer 132A may be the longitudinal direction of the magnetic recording medium 130 as described above. preferable.
カラム構造の傾斜角は、好ましくは０°より大きく６０°以下であることが好ましい。傾斜角が０°より大きく６０°以下の範囲では、第１の下地層１３２Ａに含まれるカラムの先端形状の変化が大きくほぼ三角山状になるため、グラニュラ構造の効果が高まり、低ノイズ化し、ＳＮＲが向上する傾向がある。一方、傾斜角が６０°を超えると、第１の下地層１３２Ａに含まれるカラムの先端形状の変化が小さくほぼ三角山状とはなりにくいため、低ノイズ効果が薄れる傾向がある。 The inclination angle of the column structure is preferably larger than 0 ° and 60 ° or less. In the range where the inclination angle is larger than 0 ° and 60 ° or less, the change in the tip shape of the column included in the first base layer 132A is large and the shape becomes almost triangular, so that the effect of the granular structure is enhanced and the noise is reduced. SNR tends to improve. On the other hand, when the inclination angle exceeds 60 °, the change in the tip shape of the column included in the first base layer 132A is small and it is difficult to form a substantially triangular mountain shape, so that the low noise effect tends to be diminished.
カラム構造の平均粒径は、３ｎｍ以上１３ｎｍ以下である。平均粒径が３ｎｍ未満であると、磁性層１１５に含まれるカラム構造の平均粒径が小さくなるため、現在の磁性材料では記録を保持する能力が低下する虞がある。一方、平均粒径が１３ｎｍ以下であると、ノイズを抑制し、より良好なＳＮＲを得ることができる。 The average particle size of the column structure is 3 nm or more and 13 nm or less. If the average particle size is less than 3 nm, the average particle size of the column structure contained in the magnetic layer 115 becomes small, so that the current magnetic material may reduce the ability to hold records. On the other hand, when the average particle size is 13 nm or less, noise can be suppressed and a better SNR can be obtained.
第１の下地層１３２Ａの平均厚みは、１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下であることが好ましい。第１の下地層１３２Ａの平均厚みが１０ｎｍ以上であると、第１の下地層１３２Ａの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。一方、第１の下地層１３２Ａの平均厚みが１５０ｎｍ以下であると、カラムの粒径が大きくなることを抑制できる。したがって、ノイズを抑制し、より良好なＳＮＲを得ることができる。なお、第１の下地層１３２Ａの平均厚みは、第１の実施形態における磁性層１３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、第１の下地層１３２Ａの厚みに応じて適宜調整される。 The average thickness of the first base layer 132A is preferably 10 nm or more and 150 nm or less. When the average thickness of the first base layer 132A is 10 nm or more, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of the first base layer 132A is improved, and a better SNR can be obtained. On the other hand, when the average thickness of the first base layer 132A is 150 nm or less, it is possible to suppress an increase in the particle size of the column. Therefore, noise can be suppressed and a better SNR can be obtained. The average thickness of the first base layer 132A is obtained in the same manner as the magnetic layer 13 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the first base layer 132A.
第２の下地層１３２Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第２の下地層１３２Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。磁性層１１５の配向性を高め、かつ、第２の下地層１３２Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方最密充填構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えば、Ｒｕ−ＳｉＯ２、Ｒｕ−ＴｉＯ２またはＲｕ−ＺｒＯ２などのＲｕ合金酸化物が挙げられる。 The second base layer 132B preferably has the same crystal structure as the magnetic layer 115. When the magnetic layer 115 contains a Co-based alloy, the second base layer 132B contains a material having a hexagonal close- packed (hcp) structure similar to that of the Co-based alloy, and the c-axis of the structure is on the film surface. On the other hand, it is preferably oriented in the vertical direction (that is, in the film thickness direction). This is because the orientation of the magnetic layer 115 can be improved, and the matching of the lattice constants of the second base layer 132B and the magnetic layer 115 can be relatively good. As the material having a hexagonal close- packed structure, it is preferable to use a material containing Ru, and specifically, Ru alone or a Ru alloy is preferable. Examples of the Ru alloy include Ru alloy oxides such as Ru-SiO 2 , Ru-TiO 2 and Ru-ZrO 2 .
第２の下地層１３２Ｂの平均厚みは、一般的な磁気記録媒体における下地層（例えばＲｕを含む下地層）よりも薄くてもよく、例えば、１ｎｍ以上５ｎｍ以下とすることが可能である。第２の下地層１３２Ｂの下に上述の構成を有するシード層１３１及び第１の下地層１３２Ａを設けているので、第２の下地層１３２Ｂの平均厚みが上述のように薄くても良好なＳＮＲが得られる。なお、第２の下地層１３２Ｂの平均厚みは、第１の実施形態における磁性層１３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、第２の下地層１３２Ｂの厚みに応じて適宜調整される。 The average thickness of the second base layer 132B may be thinner than that of the base layer (for example, the base layer containing Ru) in a general magnetic recording medium, and can be, for example, 1 nm or more and 5 nm or less. Since the seed layer 131 having the above-mentioned structure and the first base layer 132A are provided under the second base layer 132B, the SNR is good even if the average thickness of the second base layer 132B is thin as described above. Is obtained. The average thickness of the second base layer 132B is obtained in the same manner as the magnetic layer 13 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the second base layer 132B.
（効果） (effect)
第３の実施形態に係る磁気記録媒体１３０では、第１の実施形態と同様に、磁気記録媒体１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録媒体１０の幅を一定またはほぼ一定に保つことができる。 In the magnetic recording medium 130 according to the third embodiment, similarly to the first embodiment, the width of the magnetic recording medium 10 can be kept constant or substantially constant by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10. it can.
第３の実施形態に係る磁気記録媒体１３０は、ベース層１１１と第２の下地層１３２Ｂとの間にシード層１３１及び第１の下地層１３２Ａを備えている。シード層１３１は、Ｃｒ、Ｎｉ、及びＦｅを含み、面心立方格子構造を有し、この面心立方構造の（１１１）面がベース層１１１の表面に平行になるように優先配向している。第１の下地層１３２Ａは、Ｃｏ及びＯを含み、Ｃｏの平均原子濃度に対するＯの平均原子濃度の比が１以上であり、平均粒径が３ｎｍ以上１３ｎｍ以下であるカラム構造を有する。これにより、第２の下地層１３２Ｂの厚さを薄くして高価な材料であるＲｕをできるだけ使用せずに、良好な結晶配向を有し、かつ高い抗磁力を有する磁性層１１５を実現できる。 The magnetic recording medium 130 according to the third embodiment includes a seed layer 131 and a first base layer 132A between the base layer 111 and the second base layer 132B. The seed layer 131 contains Cr, Ni, and Fe, has a face-centered cubic lattice structure, and is preferentially oriented so that the (111) plane of the face-centered cubic structure is parallel to the surface of the base layer 111. .. The first base layer 132A contains Co and O, and has a column structure in which the ratio of the average atomic concentration of O to the average atomic concentration of Co is 1 or more and the average particle size is 3 nm or more and 13 nm or less. Thereby, the thickness of the second base layer 132B can be reduced to realize a magnetic layer 115 having a good crystal orientation and a high coercive force without using Ru, which is an expensive material, as much as possible.
第２の下地層１３２Ｂに含まれるＲｕは、磁性層１１５の主成分であるＣｏと同じ六方最密格子構造を有する。このため、Ｒｕには、磁性層１１５の結晶配向性向上とグラニュラ性促進とを両立させる効果がある。また、第２の下地層１３２Ｂに含まれるＲｕの結晶配向を更に向上させるために、第２の下地層１３２Ｂの下に第１の下地層１３２Ａ及びシード層１３１を設けている。第３の実施形態に係る磁気記録媒体１３０においては、Ｒｕを含む第２の下地層１３２Ｂとほぼ同様の効果（機能）を、面心立方格子構造を有する安価なＣｏＯを含む第１の下地層１３２Ａで実現している。このため、第２の下地層１３２Ｂの厚さを薄くできる。また、第１の下地層１３２Ａの結晶配向を高めるために、Ｃｒ、Ｎｉ、及びＦｅを含むシード層１３１を設けている。 Ru contained in the second base layer 132B has the same hexagonal close-packed lattice structure as Co, which is the main component of the magnetic layer 115. Therefore, Ru has the effect of both improving the crystal orientation of the magnetic layer 115 and promoting the granularity. Further, in order to further improve the crystal orientation of Ru contained in the second base layer 132B, the first base layer 132A and the seed layer 131 are provided under the second base layer 132B. In the magnetic recording medium 130 according to the third embodiment, the first base layer containing an inexpensive CoO having a face-centered cubic lattice structure has almost the same effect (function) as the second base layer 132B containing Ru. It is realized at 132A. Therefore, the thickness of the second base layer 132B can be reduced. Further, in order to enhance the crystal orientation of the first base layer 132A, a seed layer 131 containing Cr, Ni, and Fe is provided.
５．実施例 5. Example
以下、実施例により本技術を具体的に説明するが、本技術はこれらの実施例のみに限定されるものではない。 Hereinafter, the present technology will be specifically described with reference to Examples, but the present technology is not limited to these Examples.
以下の実施例及び比較例において、磁気テープの平均厚みｔＴ、磁気テープの長手方向のテンション変化に対する磁気テープの幅方向の寸法変化量Δｗ、磁気テープの温度膨張係数α、磁気テープの湿度膨張係数β、磁気テープのポアソン比ρ、磁気テープの長手方向の弾性限界値σＭＤ、磁性層の平均厚みｔｍ、角形比Ｓ２、バック層の平均厚みｔｂ、バック層の表面粗度Ｒａｂ、磁性面とバック面の層間摩擦係数μ、長手方向の収縮率、及び長手方向の１％伸び荷重は、第１の実施形態にて説明した測定方法により求められた値である。但し、後述するように、実施例１１では、長手方向の弾性限界値σＭＤを測定する際の速度Ｖを、第１の実施形態にて説明した測定方法とは異なる値とした。 In the following examples and comparative examples, the average thickness t T of the magnetic tape, the amount of dimensional change Δw in the width direction of the magnetic tape with respect to the tension change in the longitudinal direction of the magnetic tape, the temperature expansion coefficient α of the magnetic tape, and the humidity expansion of the magnetic tape. Coefficient β, Poisson's ratio ρ of magnetic tape, elastic limit value σ MD in the longitudinal direction of magnetic tape, average thickness t m of magnetic layer, square ratio S2, average thickness t b of back layer, surface roughness R ab of back layer The interlayer friction coefficient μ between the magnetic surface and the back surface, the shrinkage rate in the longitudinal direction, and the 1% elongation load in the longitudinal direction are values obtained by the measuring method described in the first embodiment. However, as will be described later, in the eleventh embodiment, the velocity V at the time of measuring the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction is set to a value different from the measuring method described in the first embodiment.
［実施例１］
（磁性層形成用塗料の調製工程）
磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第１組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第１組成物と、下記配合の第２組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにサンドミル混合を行い、フィルター処理を行い、磁性層形成用塗料を調製した。
[Example 1]
(Preparation process of paint for forming magnetic layer)
The paint for forming the magnetic layer was prepared as follows. First, the first composition having the following composition was kneaded with an extruder. Next, the kneaded first composition and the second composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disper and premixed. Subsequently, sand mill mixing was further performed and filtering was performed to prepare a coating material for forming a magnetic layer.
（第１組成物）
ε酸化鉄ナノ粒子（ε−Ｆｅ２Ｏ３結晶粒子）の粉末：１００質量部
塩化ビニル系樹脂（シクロヘキサノン溶液３０質量％）：１０質量部（重合度３００、Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ３Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
酸化アルミニウム粉末：５質量部
（α−Ａｌ２Ｏ３、平均粒径０．２μｍ）
カーボンブラック：２質量部
（東海カーボン社製、商品名：シーストＴＡ）
(First composition)
Powder of ε iron oxide nanoparticles (ε-Fe 2 O 3 crystal particles): 100 parts by mass Vinyl chloride resin (cyclohexanone solution 30% by mass): 10 parts by mass (degree of polymerization 300, Mn = 10000, OSO 3 as polar group) It contains K = 0.07 mmol / g and secondary OH = 0.3 mmol / g.)
Aluminum oxide powder: 5 parts by mass (α-Al 2 O 3 , average particle size 0.2 μm)
Carbon black: 2 parts by mass (manufactured by Tokai Carbon Co., Ltd., product name: Seast TA)
（第２組成物）
塩化ビニル系樹脂：１．１質量部
（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）
ｎ−ブチルステアレート：２質量部
メチルエチルケトン：１２１．３質量部
トルエン：１２１．３質量部
シクロヘキサノン：６０．７質量部
(Second composition)
Vinyl chloride resin: 1.1 parts by mass (resin solution: resin content 30% by mass, cyclohexanone 70% by mass)
n-Butyl stearate: 2 parts by mass Methyl ethyl ketone: 121.3 parts by mass Toluene: 121.3 parts by mass Cyclohexanone: 60.7 parts by mass
最後に、上述のようにして調製した磁性層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、日本ポリウレタン社製）：４質量部と、ミリスチン酸：２質量部とを添加した。 Finally, 4 parts by mass of polyisocyanate (trade name: Coronate L, manufactured by Nippon Polyurethane Industry Co., Ltd.) and 2 parts by mass of myristic acid are added as a curing agent to the paint for forming a magnetic layer prepared as described above. did.
（下地層形成用塗料の調製工程）
下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第３組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第３組成物と、下記配合の第４組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにサンドミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
(Preparation process of paint for forming base layer)
The paint for forming the base layer was prepared as follows. First, the third composition having the following composition was kneaded with an extruder. Next, the kneaded third composition and the fourth composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disper and premixed. Subsequently, sand mill mixing was further performed and filtering was performed to prepare a coating material for forming a base layer.
（第３組成物）
針状酸化鉄粉末：１００質量部
（α−Ｆｅ２Ｏ３、平均長軸長０．１５μｍ）
塩化ビニル系樹脂：５５．６質量部
（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）
カーボンブラック：１０質量部
（平均粒径２０ｎｍ）
(Third composition)
Needle-shaped iron oxide powder: 100 parts by mass (α-Fe 2 O 3 , average major axis length 0.15 μm)
Vinyl chloride resin: 55.6 parts by mass (resin solution: resin content 30% by mass, cyclohexanone 70% by mass)
Carbon black: 10 parts by mass (average particle size 20 nm)
（第４組成物）
ポリウレタン系樹脂ＵＲ８２００（東洋紡績製）：１８．５質量部
ｎ−ブチルステアレート：２質量部
メチルエチルケトン：１０８．２質量部
トルエン：１０８．２質量部
シクロヘキサノン：１８．５質量部
(4th composition)
Polyurethane resin UR8200 (manufactured by Toyo Spinning Co., Ltd.): 18.5 parts by mass n-butyl stearate: 2 parts by mass Methyl ethyl ketone: 108.2 parts by mass Toluene: 108.2 parts by mass Cyclohexanone: 18.5 parts by mass
最後に、上述のようにして調製した下地層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、日本ポリウレタン社製）：４質量部と、ミリスチン酸：２質量部とを添加した。 Finally, polyisocyanate (trade name: Coronate L, manufactured by Nippon Polyurethane Industry Co., Ltd.): 4 parts by mass and myristic acid: 2 parts by mass are added as a curing agent to the base layer forming paint prepared as described above. did.
（バック層形成用塗料の調製工程）
バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。
カーボンブラック（旭カーボン株式会社製、商品名：＃８０）：１００質量部
ポリエステルポリウレタン：１００質量部
（日本ポリウレタン社製、商品名：Ｎ−２３０４）
メチルエチルケトン：５００質量部
トルエン：４００質量部
シクロヘキサノン：１００質量部
(Preparation process of paint for forming back layer)
The back layer forming paint was prepared as follows. The following raw materials were mixed in a stirring tank equipped with a disper and filtered to prepare a coating material for forming a back layer.
Carbon black (manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: # 80): 100 parts by mass Polyester polyurethane: 100 parts by mass (manufactured by Nippon Polyurethane Industry Co., Ltd., product name: N-2304)
Methyl ethyl ketone: 500 parts by mass Toluene: 400 parts by mass Cyclohexanone: 100 parts by mass
（成膜工程）
上述のようにして作製した塗料を用いて、非磁性支持体である長尺のポリエチレンナフタレートフィルム（以下「ＰＥＮフィルム」という。）上に平均厚み１．０μｍの下地層、及び平均厚みｔｍが９０ｎｍの磁性層を以下のようにして形成した。まず、フィルム上に、下地層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、フィルム上に下地層を形成した。次に、下地層上に、磁性層形成用塗料を塗布し、乾燥させることにより、下地層上に磁性層を形成した。なお、磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ソレノイドコイルにより、磁性粉をフィルムの厚み方向に磁場配向させた。また、磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間を調整し、磁気テープの厚み方向（垂直方向）における角形比Ｓ２を６５％に設定した。
(Film formation process)
Using a paint prepared as described above, the base layer having an average thickness of 1.0μm polyethylene naphthalate long film is a non-magnetic support (hereinafter referred to as "PEN film".) On, and the average thickness t m A 90 nm magnetic layer was formed as follows. First, a base layer forming paint was applied onto the film and dried to form a base layer on the film. Next, a paint for forming a magnetic layer was applied onto the base layer and dried to form a magnetic layer on the base layer. When the paint for forming the magnetic layer was dried, the magnetic powder was magnetically oriented in the thickness direction of the film by a solenoid coil. Further, the application time of the magnetic field to the paint for forming the magnetic layer was adjusted, and the square ratio S2 in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic tape was set to 65%.
続いて、下地層及び磁性層が形成されたフィルムに対して、平均厚みｔｂが０．６μｍのバック層を塗布し乾燥させた。そして、下地層、磁性層、及びバック層が形成されたフィルムに対して硬化処理を行った。続いて、カレンダー処理を行い、磁性層表面を平滑化した。この際、磁性面とバック面の層間摩擦係数μが約０．５となるように、カレンダー処理の条件（温度）を調整した後、再硬化処理を施し、平均厚みｔＴが５．５μｍの磁気テープが得られた。 Subsequently, with respect to the underlying layer and the magnetic layer formed film, the average thickness t b was shown applied to dry the backing layer of 0.6 .mu.m. Then, the film on which the base layer, the magnetic layer, and the back layer were formed was cured. Subsequently, a calendar process was performed to smooth the surface of the magnetic layer. At this time, after adjusting the calendar processing conditions (temperature) so that the inter-story friction coefficient μ between the magnetic surface and the back surface is about 0.5, re-curing treatment is performed, and the average thickness t T is 5.5 μm. A magnetic tape was obtained.
（裁断の工程）
上述のようにして得られた磁気テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断し、コアに巻き取ってパンケーキを得た。
(Cutting process)
The magnetic tape obtained as described above was cut to a width of 1/2 inch (12.65 mm) and wound around a core to obtain a pancake.
以上のとおりにして得られた磁気テープは、表１に示す特性を有した。例えば、当該磁気テープの寸法変化量Δｗは７０５ｐｐｍ／Ｎであり、且つ、長手方向の収縮率は０．０５％であった。 The magnetic tape obtained as described above had the characteristics shown in Table 1. For example, the amount of dimensional change Δw of the magnetic tape was 705 ppm / N, and the shrinkage rate in the longitudinal direction was 0.05%.
［実施例２］
寸法変化量Δｗが７５０ｐｐｍ／Ｎとなるように実施例１よりもＰＥＮフィルムの厚みを薄くしたこと以外は実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。当該磁気テープの平均厚みｔＴは５μｍであった。
[Example 2]
A magnetic tape was obtained by the same method as in Example 1 except that the thickness of the PEN film was made thinner than that in Example 1 so that the amount of dimensional change Δw was 750 ppm / N. The average thickness t T of the magnetic tape was 5 μm.
［実施例３］
寸法変化量Δｗが８００ｐｐｍ／Ｎとなるように実施例１よりもＰＥＮフィルムの厚みを薄くし且つバック層及び下地層の平均厚みを薄くしたこと以外は実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。当該磁気テープの平均厚みｔＴは４．５μｍであった。
[Example 3]
A magnetic tape was obtained by the same method as in Example 1 except that the thickness of the PEN film was made thinner than in Example 1 and the average thickness of the back layer and the base layer was made thinner so that the amount of dimensional change Δw was 800 ppm / N. It was. The average thickness t T of the magnetic tape was 4.5 μm.
［実施例４］
寸法変化量Δｗが８００ｐｐｍ／Ｎとなるように実施例１よりもＰＥＮフィルムの厚みを薄くし、バック層及び下地層の平均厚みを薄くし、且つ、下地層、磁性層、及びバック層が形成されたフィルムの硬化処理条件を調整したこと以外は、実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 4]
The thickness of the PEN film is made thinner than in Example 1 so that the amount of dimensional change Δw is 800 ppm / N, the average thickness of the back layer and the base layer is made thinner, and the base layer, the magnetic layer, and the back layer are formed. A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1 except that the curing treatment conditions of the film were adjusted.
［実施例５］
温度膨張係数αが８．０ｐｐｍ／℃となるように下地層形成用塗料の組成を変更したこと以外は実施例４と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 5]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 4 except that the composition of the coating material for forming the base layer was changed so that the coefficient of thermal expansion α was 8.0 ppm / ° C.
［実施例６］
湿度膨張係数βが３．０ｐｐｍ／％ＲＨとなるようにＰＥＮフィルムの両表面に薄いバリア層を形成したこと以外は実施例４と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 6]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 4 except that thin barrier layers were formed on both surfaces of the PEN film so that the coefficient of thermal expansion β was 3.0 ppm /% RH.
［実施例７］
ポアソン比ρが０．３１となるようにバック層形成用塗料の組成を変更したこと以外は実施例４と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 7]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 4 except that the composition of the back layer forming paint was changed so that the Poisson's ratio ρ was 0.31.
［実施例８］
ポアソン比ρが０．３５となるようにバック層形成用塗料の組成を変更したこと以外は実施例４と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 8]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 4 except that the composition of the back layer forming paint was changed so that the Poisson's ratio ρ was 0.35.
［実施例９］
長手方向の弾性限界値σＭＤが０．８Ｎとなるように下地層、磁性層、及びバック層が形成されたフィルムの硬化条件を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 9]
A magnetic tape was obtained by the same method as in Example 7 except that the curing conditions of the film on which the base layer, the magnetic layer, and the back layer were formed were adjusted so that the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction was 0.8 N. It was.
［実施例１０］
長手方向の弾性限界値σＭＤが３．５Ｎとなるように下地層、磁性層、及びバック層が形成されたフィルムの硬化条件及び再硬化条件を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 10]
The same method as in Example 7 except that the curing conditions and re-curing conditions of the film on which the base layer, the magnetic layer, and the back layer were formed was adjusted so that the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction was 3.5 N. Obtained magnetic tape.
［実施例１１］
実施例９と同様にして磁気テープを得た。そして、得られた磁気テープの弾性限界値σＭＤを、長手方向の弾性限界値σＭＤを測定する際の速度Ｖを５ｍｍ／ｍｉｎに変更して測定した。その結果、長手方向の弾性限界値σＭＤは、上記速度Ｖが０．５ｍｍ／ｍｉｎの長手方向の弾性限界値σＭＤ（実施例９）に対して変化はなく０．８であった。
[Example 11]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 9. Then, the elastic limit sigma MD of the obtained magnetic tape were measured by changing the velocity V when measuring the longitudinal direction of the elastic limit sigma MD to 5 mm / min. As a result, the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction was 0.8 with no change from the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction in which the velocity V was 0.5 mm / min.
［実施例１２］
磁性層の平均厚みｔｍが４０ｎｍとなるように磁性層形成用塗料の塗布厚を変更したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 12]
The average thickness t m of the magnetic layer except for changing the coating thickness of the magnetic layer-forming coating material so as to 40nm to obtain a magnetic tape in the same manner as in Example 7.
［実施例１３］
（ＳＵＬの成膜工程）
まず、以下の成膜条件にて、非磁性支持体としての長尺の高分子フィルムの表面上に、平均厚み１０ｎｍのＣｏＺｒＮｂ層（ＳＵＬ）を成膜した。なお、高分子フィルムとしては、ＰＥＮフィルムを用いた。
成膜方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：ＣｏＺｒＮｂターゲット
ガス種：Ａｒ
ガス圧：０．１Ｐａ
[Example 13]
(SUL film formation process)
First, a CoZrNb layer (SUL) having an average thickness of 10 nm was formed on the surface of a long polymer film as a non-magnetic support under the following film forming conditions. A PEN film was used as the polymer film.
Film formation method: DC magnetron sputtering method Target: CoZrNb Target gas type: Ar
Gas pressure: 0.1 Pa
（第１のシード層の成膜工程）
次に、以下の成膜条件にて、ＣｏＺｒＮｂ層上に平均厚み５ｎｍのＴｉＣｒ層（第１のシード層）を成膜した。
スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：ＴｉＣｒターゲット
到達真空度：５×１０−５Ｐａ
ガス種：Ａｒ
ガス圧：０．５Ｐａ
(First seed layer film forming process)
Next, a TiCr layer (first seed layer) having an average thickness of 5 nm was formed on the CoZrNb layer under the following film forming conditions.
Sputtering method: DC magnetron Sputtering method Target: TiCr Target reaching Vacuum degree: 5 × 10 -5 Pa
Gas type: Ar
Gas pressure: 0.5 Pa
（第２のシード層の成膜工程）
次に、以下の成膜条件にて、ＴｉＣｒ層上に平均厚み１０ｎｍのＮｉＷ層（第２のシード層）を成膜した。
スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：ＮｉＷターゲット
到達真空度：５×１０−５Ｐａ
ガス種：Ａｒ
ガス圧：０．５Ｐａ
(Step of forming a second seed layer)
Next, a NiW layer (second seed layer) having an average thickness of 10 nm was formed on the TiCr layer under the following film forming conditions.
Sputtering method: DC magnetron Sputtering method Target: NiW Target reaching vacuum degree: 5 × 10 -5 Pa
Gas type: Ar
Gas pressure: 0.5 Pa
（第１の下地層の成膜工程）
次に、以下の成膜条件にて、ＮｉＷ層上に平均厚み１０ｎｍのＲｕ層（第１の下地層）を成膜した。
スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：Ｒｕターゲット
ガス種：Ａｒ
ガス圧：０．５Ｐａ
(First base layer film forming process)
Next, a Ru layer (first base layer) having an average thickness of 10 nm was formed on the NiW layer under the following film forming conditions.
Sputtering method: DC magnetron Sputtering method Target: Ru Target Gas type: Ar
Gas pressure: 0.5 Pa
（第２の下地層の成膜工程）
次に、以下の成膜条件にて、Ｒｕ層上に平均厚み２０ｎｍのＲｕ層（第２の下地層）を成膜した。
スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：Ｒｕターゲット
ガス種：Ａｒ
ガス圧：１．５Ｐａ
(Step of forming the second base layer)
Next, a Ru layer (second base layer) having an average thickness of 20 nm was formed on the Ru layer under the following film forming conditions.
Sputtering method: DC magnetron Sputtering method Target: Ru Target Gas type: Ar
Gas pressure: 1.5 Pa
（磁性層の成膜工程）
次に、以下の成膜条件にて、Ｒｕ層上に平均厚み９ｎｍの（ＣｏＣｒＰｔ）−（ＳｉＯ２）層（磁性層）を成膜した。
成膜方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：（ＣｏＣｒＰｔ）−（ＳｉＯ２）ターゲット
ガス種：Ａｒ
ガス圧：１．５Ｐａ
(Magnetic layer film formation process)
Next, a (CoCrPt)-(SiO 2 ) layer (magnetic layer) having an average thickness of 9 nm was formed on the Ru layer under the following film forming conditions.
Film formation method: DC magnetron sputtering method Target: (CoCrPt)-(SiO 2 ) Target gas type: Ar
Gas pressure: 1.5 Pa
（保護層の成膜工程）
次に、以下の成膜条件にて、磁性層上に平均厚み５ｎｍのカーボン層（保護層）を成膜した。
成膜方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
ターゲット：カーボンターゲット
ガス種：Ａｒ
ガス圧：１．０Ｐａ
(Protective layer film formation process)
Next, a carbon layer (protective layer) having an average thickness of 5 nm was formed on the magnetic layer under the following film forming conditions.
Film formation method: DC magnetron sputtering method Target: Carbon target Gas type: Ar
Gas pressure: 1.0 Pa
（潤滑層の成膜工程）
次に、潤滑剤を保護層上に塗布し、潤滑層を成膜した。
(Lubrication layer film formation process)
Next, a lubricant was applied on the protective layer to form a lubricating layer.
（バック層の成膜工程）
次に、磁性層とは反対側の面に、バック層形成用塗料を塗布し乾燥することにより、平均厚みｔｂが０．３μｍのバック層を形成した。これにより、平均厚みｔＴが４．０μｍの磁気テープが得られた。
(Back layer film formation process)
Next, a back layer forming paint was applied to the surface opposite to the magnetic layer and dried to form a back layer having an average thickness t b of 0.3 μm. As a result, a magnetic tape having an average thickness t T of 4.0 μm was obtained.
（裁断の工程）
上述のようにして得られた磁気テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断した。
(Cutting process)
The magnetic tape obtained as described above was cut to a width of 1/2 inch (12.65 mm).
以上のとおりにして得られた磁気テープは、表１に示す特性を有した。例えば、当該磁気テープの寸法変化量Δｗは８００ｐｐｍ／Ｎであり、且つ、長手方向の収縮率は０．０７％であった。 The magnetic tape obtained as described above had the characteristics shown in Table 1. For example, the amount of dimensional change Δw of the magnetic tape was 800 ppm / N, and the shrinkage rate in the longitudinal direction was 0.07%.
［実施例１４］
バック層の厚みを０．２μｍに変更したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。当該磁気テープの平均厚みは４．４μｍであった。
[Example 14]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the thickness of the back layer was changed to 0.2 μm. The average thickness of the magnetic tape was 4.4 μm.
［実施例１５］
バック層の表面粗度Ｒａｂが３．４ｎｍとなるようにバック層形成用塗料の組成を変更したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 15]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the composition of the coating material for forming the back layer was changed so that the surface roughness R ab of the back layer was 3.4 nm.
［実施例１６］
摩擦係数μが０．２０となるようにカレンダー処理の条件（温度）を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 16]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the calendar processing conditions (temperature) were adjusted so that the friction coefficient μ was 0.20.
［実施例１７］
バック層の表面粗度Ｒａｂが３．２ｎｍとなるようにバック層形成用塗料の組成を変更し、摩擦係数μが０．７８となるようにカレンダー処理の条件（温度）を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 17]
Except that the composition of the back layer forming paint was changed so that the surface roughness R ab of the back layer was 3.2 nm, and the calendar processing conditions (temperature) were adjusted so that the friction coefficient μ was 0.78. Obtained a magnetic tape in the same manner as in Example 7.
［実施例１８］
磁性層の平均厚みｔｍが１１０ｎｍとなるように磁性層形成用塗料の塗布厚を変更したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 18]
The average thickness t m of the magnetic layer except for changing the coating thickness of the magnetic layer-forming coating material so as to 110nm to obtain a magnetic tape in the same manner as in Example 7.
［実施例１９］
バック層の表面粗度Ｒａｂが７．２ｎｍとなるようにバック層形成用塗料の組成を変更したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 19]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the composition of the coating material for forming the back layer was changed so that the surface roughness R ab of the back layer was 7.2 nm.
［実施例２０］
摩擦係数μが０．１８となるようにカレンダー処理の条件（温度）を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 20]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the calendar processing conditions (temperature) were adjusted so that the friction coefficient μ was 0.18.
［実施例２１］
摩擦係数μが０．８２となるようにカレンダー処理の条件（温度）を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 21]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the calendar processing conditions (temperature) were adjusted so that the friction coefficient μ was 0.82.
［実施例２２］
磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間を調整し磁気テープの厚み方向（垂直方向）における角形比Ｓ２を７３％に設定したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 22]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the application time of the magnetic field to the magnetic layer forming paint was adjusted and the square ratio S2 in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic tape was set to 73%.
［実施例２３］
磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間を調整し磁気テープの厚み方向（垂直方向）における角形比Ｓ２を８０％に設定したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 23]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the application time of the magnetic field to the magnetic layer forming paint was adjusted and the square ratio S2 in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic tape was set to 80%.
［実施例２４］
長手方向の弾性限界値σＭＤが５Ｎとなるように下地層、磁性層、及びバック層が形成されたフィルムの硬化条件並びに再硬化条件を調整したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 24]
Magnetic tape in the same manner as in Example 7 except that the curing conditions and re-curing conditions of the film on which the base layer, magnetic layer, and back layer were formed were adjusted so that the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction was 5N. Got
［実施例２５］
ε酸化鉄ナノ粒子に代えてバリウムフェライト（ＢａＦｅ１２Ｏ１９）ナノ粒子を用いたこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 25]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that barium ferrite (BaFe 12 O 19 ) nanoparticles were used instead of the ε iron oxide nanoparticles.
［実施例２６］
寸法変化量Δｗが６７０［ｐｐｍ／Ｎ］となるようにＰＥＮフィルムのテンシライズを変更したこと以外は実施例２５と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 26]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 25 except that the tensification of the PEN film was changed so that the amount of dimensional change Δw was 670 [ppm / N].
［実施例２７］
寸法変化量Δｗが６５０［ｐｐｍ／Ｎ］となるようにＰＥＮフィルムのテンシライズを変更したこと以外は実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。
[Example 27]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1 except that the tensification of the PEN film was changed so that the amount of dimensional change Δw was 650 [ppm / N].
［比較例１］
寸法変化量Δｗが６５０［ｐｐｍ／Ｎ］となるようにＰＥＮフィルムのテンシライズを変更し、塗布工程での巻き取り張力を上げたこと以外は実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。当該磁気テープの長手方向の収縮率は０．０９％であった。
[Comparative Example 1]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1 except that the tensification of the PEN film was changed so that the amount of dimensional change Δw was 650 [ppm / N] and the winding tension in the coating step was increased. The shrinkage rate of the magnetic tape in the longitudinal direction was 0.09%.
［比較例２］
塗布工程での巻き取り張力を上げたこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。当該磁気テープの長手方向の収縮率は０．１１％であった。
[Comparative Example 2]
A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 7 except that the take-up tension in the coating step was increased. The shrinkage rate of the magnetic tape in the longitudinal direction was 0.11%.
［比較例３］
ε酸化鉄ナノ粒子に代えてバリウムフェライト（ＢａＦｅ１２Ｏ１９）ナノ粒子を用い、寸法変化量Δｗが６３０［ｐｐｍ／Ｎ］となるようにＰＥＮフィルムのテンシライズを変更したこと以外は実施例７と同じ方法で磁気テープを得た。当該磁気テープの平均厚みｔＴは５．７μｍであった。
[Comparative Example 3]
Example 7 except that barium ferrite (BaFe 12 O 19 ) nanoparticles were used instead of ε iron oxide nanoparticles and the tensilization of the PEN film was changed so that the amount of dimensional change Δw was 630 [ppm / N]. Magnetic tape was obtained in the same way. The average thickness t T of the magnetic tape was 5.7 μm.
（テープ幅の変化量の判定）
まず、１／２インチ幅の磁気テープを組み込んだカートリッジサンプルを準備した。当該カートリッジサンプルには、カートリッジケース内に設けられたリールに前記磁気テープが巻き付けられて収容されていた。なお、磁気テープには、ハの字の磁気パターンの列を、互いに既知の間隔（以下、「予め記録した際の既知の磁気パターン列の間隔」という。）で、長手方向に平行に２列以上予め記録した。次に、カートリッジサンプルを記録再生装置で往復走行をさせた。そして、往復走行時に上記のハの字の磁気パターン列の２列以上を同時に再生し、それぞれの列の再生波形の形状から、走行時の磁気パターン列の間隔を連続的に計測した。尚、走行時には、この計測された磁気パターン列の間隔情報に基づき、スピンドル駆動装置とリール駆動装置の回転駆動を制御し、磁気パターン列の間隔が規定の幅、またはほぼ規定の幅となるように、磁気テープの長手方向のテンションを自動で調整する様にした。この磁気パターン列の間隔の１往復分全ての計測値を単純平均したものを「計測された磁気パターン列の間隔」とし、これと「予め記録した際の既知の磁気パターン列の間隔」の差分を「テープ幅の変化」とした。
(Judgment of change in tape width)
First, a cartridge sample incorporating a 1/2 inch wide magnetic tape was prepared. The magnetic tape was wound around a reel provided in the cartridge case and housed in the cartridge sample. In addition, on the magnetic tape, two rows of magnetic patterns in the shape of a C are arranged in parallel in the longitudinal direction at intervals known to each other (hereinafter, referred to as "intervals of known magnetic pattern rows when recorded in advance"). The above was recorded in advance. Next, the cartridge sample was reciprocated by the recording / playback device. Then, two or more rows of the above-mentioned V-shaped magnetic pattern trains were simultaneously reproduced during the reciprocating travel, and the intervals between the magnetic pattern trains during the travel were continuously measured from the shape of the reproduced waveform of each row. During traveling, the rotational drive of the spindle drive device and the reel drive device is controlled based on the measured distance information of the magnetic pattern train so that the distance between the magnetic pattern trains becomes a specified width or almost a specified width. In addition, the tension in the longitudinal direction of the magnetic tape is automatically adjusted. The simple average of all the measured values for one round trip of the magnetic pattern string interval is defined as the "measured magnetic pattern string interval", and the difference between this and the "known magnetic pattern string interval when recorded in advance". Was defined as "change in tape width".
また、記録再生装置による往復走行は、恒温恒湿槽中で行った。往復走行の速度は５ｍ／ｓｅｃであった。往復走行中の温湿度は、上記の往復走行とは独立に、温度範囲１０℃〜４５℃、相対湿度範囲１０％〜８０％で、予め組まれた環境変化プログラム（例：１０℃１０％→２９℃８０％→１０℃１０％を２回繰り返す。１０℃１０％から２９℃８０％へ２時間で変化させ、且つ、２９℃８０％→１０℃１０％へ２時間で変化させる。）に従って、徐々に且つ繰り返し変化させた。 In addition, the reciprocating travel by the recording / reproducing device was performed in a constant temperature and humidity chamber. The speed of reciprocating travel was 5 m / sec. The temperature and humidity during the reciprocating travel are independent of the above reciprocating travel, with a temperature range of 10 ° C to 45 ° C and a relative humidity range of 10% to 80%, and a pre-assembled environmental change program (eg, 10 ° C 10% → 29 ° C. 80% → 10 ° C. 10% is repeated twice. The temperature is changed from 10 ° C. 10% to 29 ° C. 80% in 2 hours, and 29 ° C. 80% → 10 ° C. 10% in 2 hours.) , Gradually and repeatedly changed.
この評価を、「予め組まれた環境変化プログラム」が終了するまで繰り返した。評価終了後、各往復時に得られた「テープ幅の変化」それぞれの絶対値全てを用いて平均値（単純平均）を計算し、その値をそのテープの「実効的なテープ幅の変化量」とした。この「実効的なテープ幅の変化量」の理想からの乖離（小さい程望ましい）に従った判定を各テープに対して行い、８段階の判定値をそれぞれ付与した。なお、評価“８”が最も望ましい判定結果を示し、評価“１”が最も望ましくない判定結果を示すものとした。前記８段階のいずれかの評価を有する磁気テープは、テープ走行時に以下の状態が観察される。
８：何も異常が発生しない。
７：走行時に、軽度のエラーレートの上昇がみられる。
６：走行時に、重度のエラーレートの上昇がみられる。
５：走行時に、サーボ信号が読めず軽度（１〜２回）の再読み込みがかかる。
４：走行時に、サーボ信号が読めず中度（１０回以内）の再読み込みがかかる。
３：走行時に、サーボ信号が読めず重度（１０回超）の再読み込みがかかる。
２：サーボが読めず、システムエラーで時々停止する。
１：サーボが読めず、システムエラーで即時に停止する。
This evaluation was repeated until the "pre-assembled environmental change program" was completed. After the evaluation is completed, the average value (simple average) is calculated using all the absolute values of the "change in tape width" obtained at each round trip, and that value is the "effective amount of change in tape width" of the tape. And said. Judgment was made for each tape according to the deviation from the ideal of this "effective amount of change in tape width" (smaller is preferable), and judgment values of 8 levels were given respectively. The evaluation "8" indicates the most desirable judgment result, and the evaluation "1" indicates the most undesired judgment result. The following states are observed when the magnetic tape having any of the above eight grades is evaluated.
8: No abnormality occurs.
7: A slight increase in the error rate is observed when driving.
6: When driving, a severe increase in the error rate is observed.
5: When driving, the servo signal cannot be read and a slight reload (1-2 times) is required.
4: When driving, the servo signal cannot be read and moderate reloading (within 10 times) is required.
3: When driving, the servo signal cannot be read and severe (more than 10 times) reloading is required.
2: The servo cannot be read and sometimes stops due to a system error.
1: The servo cannot be read and stops immediately due to a system error.
さらに、磁気テープをカートリッジに組み込んだ状態で、５０℃５０％Ｒｈ環境にて１週間保存した後、再度同じの判定を行った。 Further, the magnetic tape was stored in the cartridge in a 50 ° C. and 50% Rh environment for one week, and then the same determination was made again.
（電磁変換特性の評価）
まず、ループテスター（Microphysics社製）を用いて、磁気テープの再生信号を取得した。以下に、再生信号の取得条件について示す。
head:GMR
headspeed : 2m/s
signal : 単一記録周波数（１０ＭＨｚ）
記録電流：最適記録電流
(Evaluation of electromagnetic conversion characteristics)
First, a loop tester (manufactured by Microphysics) was used to acquire a reproduction signal of a magnetic tape. The acquisition conditions for the reproduction signal are shown below.
head: GMR
headspeed: 2m / s
signal: Single recording frequency (10MHz)
Recording current: Optimal recording current
次に、再生信号をスペクトラムアナライザ（spectrum analyzer）によりスパン（SPAN）0〜20MHz（resolution band width=100kHz, VBW = 30kHz）で取り込んだ。次に、取り込んだスペクトルのピークを信号量Ｓとすると共に、ピークを除いたfloor noiseを積算して雑音量Ｎとし、信号量Ｓと雑音量Ｎの比Ｓ／ＮをＳＮＲ（Signal-to-Noise Ratio）として求めた。次に、求めたＳＮＲを、リファレンスメディアとしての比較例１のＳＮＲを基準とした相対値（ｄＢ）に変換した。次に、上述のようにして得られたＳＮＲ（ｄＢ）を用いて、電磁変換特性の良否を以下のようにして判定した。
より良好：磁気テープのＳＮＲが評価基準サンプル（比較例１）のＳＮＲ（＝０（ｄＢ））よりも１ｄＢ以上良い。
良好：磁気テープのＳＮＲが評価基準サンプル（比較例１）のＳＮＲ（＝０（ｄＢ））と同等、もしくはこのＳＮＲ（＝０（ｄＢ））を超える。
不良：磁気テープのＳＮＲが評価基準サンプル（比較例１）のＳＮＲ（＝０（ｄＢ））未満である。
Next, the reproduced signal was captured by a spectrum analyzer with a span (SPAN) of 0 to 20 MHz (resolution band width = 100 kHz, VBW = 30 kHz). Next, the peak of the captured spectrum is defined as the signal amount S, the floor noise excluding the peak is integrated to obtain the noise amount N, and the ratio S / N of the signal amount S and the noise amount N is SNR (Signal-to-). Noise Ratio). Next, the obtained SNR was converted into a relative value (dB) based on the SNR of Comparative Example 1 as a reference medium. Next, using the SNR (dB) obtained as described above, the quality of the electromagnetic conversion characteristics was determined as follows.
Better: The SNR of the magnetic tape is 1 dB or more better than the SNR (= 0 (dB)) of the evaluation reference sample (Comparative Example 1).
Good: The SNR of the magnetic tape is equal to or exceeds the SNR (= 0 (dB)) of the evaluation reference sample (Comparative Example 1) or exceeds this SNR (= 0 (dB)).
Defective: The SNR of the magnetic tape is less than the SNR (= 0 (dB)) of the evaluation reference sample (Comparative Example 1).
（巻ズレの評価）
まず、上記の“テープ幅の変化量の判定”後のカートリッジサンプルを準備した。次に、カートリッジサンプルからテープが巻かれたリールを取り出し、巻かれたテープの端面を目視にて観察した。なお、リールにはフランジがあり、少なくとも１つのフランジは透明または半透明であり、内部のテープ巻き状態をフランジ越しに観察することができる。
(Evaluation of winding deviation)
First, a cartridge sample after the above "determination of the amount of change in tape width" was prepared. Next, the reel on which the tape was wound was taken out from the cartridge sample, and the end face of the wound tape was visually observed. The reel has a flange, and at least one of the flanges is transparent or translucent, and the internal tape winding state can be observed through the flange.
観察の結果、テープの端面が平坦でなく、段差やテープの飛び出しがある場合、テープの巻ズレがあるものとした。また、これらの段差やテープの飛び出しが複数個観察される程、「巻ズレ」は悪いものとした。上記の判定をサンプル毎に行った。各サンプルの巻ズレ状態を、リファレンスメディアとしての比較例１の巻ズレ状態と比較し、良否を以下のようにして判定した。
良好：サンプルの巻ズレ状態が、基準サンプル（比較例１）の巻ズレ状態と同等もしくは少ない場合。
不良：サンプルの巻ズレ状態が、基準サンプル（比較例１）の巻ズレ状態とより多い場合。
As a result of observation, if the end face of the tape is not flat and there is a step or the tape pops out, it is assumed that the tape is miswound. In addition, the more these steps and the protrusion of the tape were observed, the worse the "winding deviation" was. The above determination was made for each sample. The winding misalignment state of each sample was compared with the winding misalignment state of Comparative Example 1 as a reference medium, and the quality was judged as follows.
Good: When the winding misalignment state of the sample is equal to or less than the winding misalignment state of the reference sample (Comparative Example 1).
Defective: When the winding misalignment state of the sample is larger than the winding misalignment state of the reference sample (Comparative Example 1).
表１は、実施例１〜２２及び比較例１〜５の磁気テープの構成及び評価結果を示す。 Table 1 shows the configurations and evaluation results of the magnetic tapes of Examples 1 to 22 and Comparative Examples 1 to 5.
なお、表１中の各記号は、以下の測定値を意味する。
ｔＴ：磁気テープの厚み（単位：μｍ）
Δｗ：磁気テープの長手方向のテンション変化に対する磁気テープの幅方向の寸法変化量（単位：ｐｐｍ／Ｎ）
α：磁気テープの温度膨張係数（単位：ｐｐｍ／℃）
β：磁気テープの湿度膨張係数（単位：ｐｐｍ／％ＲＨ）
ρ：磁気テープのポアソン比
σＭＤ：磁気テープの長手方向の弾性限界値（単位：Ｎ）
Ｖ：弾性限界測定を行う際の速度（単位：ｍｍ／ｍｉｎ）
ｔｍ：磁性層の平均厚み（単位：ｎｍ）
Ｓ２：磁気テープの厚み方向（垂直方向）における角形比（単位：％）
ｔｂ：バック層の平均厚み（単位：μｍ）
Ｒａｂ：バック層の表面粗度（単位：ｎｍ）
μ：磁性面とバック面の層間摩擦係数
In addition, each symbol in Table 1 means the following measured values.
t T : Thickness of magnetic tape (unit: μm)
Δw: Dimensional change in the width direction of the magnetic tape with respect to the tension change in the longitudinal direction of the magnetic tape (unit: ppm / N)
α: Coefficient of thermal expansion of magnetic tape (unit: ppm / ° C)
β: Humidity expansion coefficient of magnetic tape (unit: ppm /% RH)
ρ: Poisson's ratio of magnetic tape σ MD : Elastic limit value in the longitudinal direction of magnetic tape (unit: N)
V: Velocity when measuring elastic limit (unit: mm / min)
t m : Average thickness of magnetic layer (unit: nm)
S2: Square ratio (unit:%) in the thickness direction (vertical direction) of the magnetic tape
t b : Average thickness of back layer (unit: μm)
R ab : Surface roughness of the back layer (unit: nm)
μ: Coefficient of friction between magnetic surface and back surface
表１に示される結果より、以下のことが分かる。 From the results shown in Table 1, the following can be seen.
実施例１〜２７の磁気テープはいずれも、保存前後においてテープ幅の変化量の判定結果が４以上であった。（すなわち「実効的なテープ幅の変化量」の理想からの乖離が小さい）よって、本技術に従う磁気記録媒体は、長手方向のテンションを調整する記録再生装置における使用に適していることがわかる。
また、当該記録再生装置への適性が、前記保存の前後でほぼ変わらない。そのため、前記記録再生装置への適性が、長期間にわたって安定的に維持されることも分かる。
In each of the magnetic tapes of Examples 1 to 27, the determination result of the amount of change in the tape width before and after storage was 4 or more. (That is, the deviation from the ideal of "effective amount of change in tape width" is small). Therefore, it can be seen that the magnetic recording medium according to the present technology is suitable for use in a recording / reproducing device that adjusts the tension in the longitudinal direction.
In addition, the suitability for the recording / playback device is almost the same before and after the storage. Therefore, it can be seen that the suitability for the recording / reproducing device is stably maintained for a long period of time.
実施例１〜２７についてのテープ幅の変化量の判定結果より、磁気記録テープの寸法変化量Δｗが６５０ｐｐｍ／Ｎ以上、より好ましくは７００ｐｐｍ／Ｎ以上、より好ましくは７５０ｐｐｍ／Ｎ以上、さらにより好ましくは８００ｐｐｍ／Ｎ以上であることによって、当該磁気記録テープは、長手方向のテンションを調整する記録再生装置における使用（特には当該テンションの調整によるテープの幅の調整）により適したものとなることが分かる。 From the determination result of the change amount of the tape width for Examples 1 to 27, the dimensional change amount Δw of the magnetic recording tape is 650 ppm / N or more, more preferably 700 ppm / N or more, more preferably 750 ppm / N or more, and even more preferably. Is 800 ppm / N or more, which makes the magnetic recording tape more suitable for use in a recording / playback device that adjusts the tension in the longitudinal direction (particularly, adjusting the width of the tape by adjusting the tension). I understand.
実施例１と比較例１とを対比すると、実施例１の磁気テープは、長手方向の収縮率が０．０５％であり、保存後のテープ幅の変化量の判定結果が４である一方で、比較例１の磁気テープは、長手方向の収縮率が０．０９％であり、保存後のテープ幅の変化量の判定結果が１であった。また、実施例７と比較例２とを対比すると、実施例７の磁気テープは、長手方向の収縮率が０．０７％であり、保存後のテープ幅の変化量の判定結果が６である一方で、比較例２の磁気テープは、長手方向の収縮率が０．１１％であり、保存後のテープ幅の変化量の判定結果が１であった。そのため、磁気記録テープの長手方向の収縮率が０．０８％以下、好ましくは０．０７％以下であることによって、当該磁気記録テープは、保存による前記記録再生装置への適性の劣化を抑制できることがわかる。 Comparing Example 1 and Comparative Example 1, the magnetic tape of Example 1 has a shrinkage rate of 0.05% in the longitudinal direction, and the determination result of the amount of change in the tape width after storage is 4. The magnetic tape of Comparative Example 1 had a shrinkage rate of 0.09% in the longitudinal direction, and the determination result of the amount of change in the tape width after storage was 1. Further, when comparing Example 7 and Comparative Example 2, the magnetic tape of Example 7 has a shrinkage rate of 0.07% in the longitudinal direction, and the determination result of the amount of change in the tape width after storage is 6. On the other hand, the magnetic tape of Comparative Example 2 had a shrinkage rate of 0.11% in the longitudinal direction, and the determination result of the amount of change in the tape width after storage was 1. Therefore, when the shrinkage rate of the magnetic recording tape in the longitudinal direction is 0.08% or less, preferably 0.07% or less, the magnetic recording tape can suppress deterioration of suitability for the recording / reproducing device due to storage. I understand.
実施例３〜６等の評価結果の比較から、「実効的なテープ幅の変化量」の理想からの乖離を抑制する観点からすると、温度膨張係数αが５．９ｐｐｍ／℃≦α≦８ｐｐｍ／℃であることが好ましいことがわかる。また、実施例３〜６等の評価結果の比較から、「実効的なテープ幅の変化量」の理想からの乖離を抑制する観点からすると、湿度膨張係数βがβ≦５ｐｐｍ／％ＲＨであることが好ましいことがわかる。 From the viewpoint of suppressing the deviation from the ideal of "effective tape width change amount" from the comparison of the evaluation results of Examples 3 to 6 and the like, the coefficient of thermal expansion α is 5.9 ppm / ° C. ≤ α ≤ 8 ppm /. It can be seen that the temperature is preferably ° C. Further, from the viewpoint of suppressing the deviation from the ideal of "effective amount of change in tape width" from the comparison of the evaluation results of Examples 3 to 6, the humidity expansion coefficient β is β ≦ 5 ppm /% RH. It turns out that is preferable.
実施例７、９、１０等の評価結果の比較から、「実効的なテープ幅の変化量」の理想からの乖離を抑制する観点からすると、長手方向の弾性限界値σＭＤが、０．８Ｎ≦σＭＤであることが好ましいことがわかる。
実施例９及び１１の比較から、弾性限界値σＭＤが、弾性限界測定を行う際の速度Ｖに寄らないことが分かる。
From the comparison of the evaluation results of Examples 7, 9, 10, etc., from the viewpoint of suppressing the deviation of the "effective tape width change amount" from the ideal, the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction is 0.8 N. It can be seen that ≤σ MD is preferable.
From the comparison of Examples 9 and 11, it can be seen that the elastic limit value σ MD does not depend on the velocity V when the elastic limit measurement is performed.
実施例７及び１８の評価結果の比較から、電磁変換特性を良好にする観点からは、磁性層の厚みが１００ｎｍ以下、特には９０ｎｍ以下であることが好ましいことがわかる。 From the comparison of the evaluation results of Examples 7 and 18, it can be seen that the thickness of the magnetic layer is preferably 100 nm or less, particularly preferably 90 nm or less, from the viewpoint of improving the electromagnetic conversion characteristics.
実施例７、１５、１７、１９等の評価結果の比較から、電磁変換特性の向上の観点からすると、バック層の表面粗度Ｒａｂが、好ましくは３．２ｎｍ≦Ｒａｂ≦７．２ｎｍであることがわかる。 From the comparison of the evaluation results of Examples 7, 15, 17, 19 and the like, from the viewpoint of improving the electromagnetic conversion characteristics, the surface roughness R ab of the back layer is preferably 3.2 nm ≤ R ab ≤ 7.2 nm. It turns out that there is.
実施例７、１６、１７、２０、及び２１の評価結果を相互に比較すると、巻ずれを抑制する観点からは、摩擦係数μは、０．１８＜μ＜０．８２、特には０．２０≦μ≦０．８０、より特には０．２０≦μ≦０．７８、さらにより特には０．２５≦μ≦０．７５であることが好ましいことがわかる。 Comparing the evaluation results of Examples 7, 16, 17, 20, and 21 with each other, the friction coefficient μ is 0.18 <μ <0.82, particularly 0.20, from the viewpoint of suppressing unwinding. It can be seen that it is preferable that ≦ μ ≦ 0.80, more particularly 0.20 ≦ μ ≦ 0.78, and even more particularly 0.25 ≦ μ ≦ 0.75.
実施例７、２２、２３の評価結果の比較から、電磁変換特性の向上の観点からすると、垂直方向における磁気テープの角形比Ｓ２が７３％以上、特には８０％以上であることが好ましいことがわかる。 From the comparison of the evaluation results of Examples 7, 22 and 23, from the viewpoint of improving the electromagnetic conversion characteristics, it is preferable that the square ratio S2 of the magnetic tape in the vertical direction is 73% or more, particularly 80% or more. Recognize.
実施例７、２５、２６等の評価結果の比較から、磁性粒子としてバリウムフェライトナノ粒子を用いた場合にも、磁性粒子としてε酸化鉄ナノ粒子を用いた場合と同様の評価結果が得られることがわかる。 From the comparison of the evaluation results of Examples 7, 25, 26, etc., the same evaluation results as when ε-iron oxide nanoparticles are used as magnetic particles can be obtained even when barium ferrite nanoparticles are used as magnetic particles. I understand.
実施例１３と他の実施例の結果との比較から、真空薄膜型（スパッタタイプ）の磁気記録テープであっても、塗布型の磁気記録テープと同様の評価結果が得られることが分かる。 From the comparison between the results of Example 13 and the results of other examples, it can be seen that even the vacuum thin film type (sputter type) magnetic recording tape can obtain the same evaluation results as the coating type magnetic recording tape.
以上、本技術の実施形態及び実施例について具体的に説明したが、本技術は、上述の実施形態及び実施例に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。 Although the embodiments and examples of the present technology have been specifically described above, the present technology is not limited to the above-described embodiments and examples, and various modifications based on the technical idea of the present technology are possible. Is.
例えば、上述の実施形態及び実施例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料、及び数値等はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料、及び数値等を用いてもよい。また、化合物等の化学式は代表的なものであって、同じ化合物の一般名称であれば、記載された価数等に限定されない。 For example, the configurations, methods, processes, shapes, materials, numerical values, etc. given in the above-described embodiments and examples are merely examples, and different configurations, methods, processes, shapes, materials, and materials are used as necessary. Numerical values and the like may be used. Further, the chemical formulas of the compounds and the like are typical, and the general names of the same compounds are not limited to the stated valences and the like.
また、上述の実施形態及び実施例の構成、方法、工程、形状、材料、及び数値等は、本技術の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。 In addition, the configurations, methods, processes, shapes, materials, numerical values, and the like of the above-described embodiments and examples can be combined with each other as long as they do not deviate from the gist of the present technology.
また、本明細書において、「〜」を用いて示された数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。本明細書に段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値または下限値は、他の段階の数値範囲の上限値または下限値に置き換えてもよい。本明細書に例示する材料は、特に断らない限り、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いることができる。 Further, in the present specification, the numerical range indicated by using "-" indicates a range including the numerical values before and after "-" as the minimum value and the maximum value, respectively. In the numerical range described stepwise in the present specification, the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of one step may be replaced with the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of another step. Unless otherwise specified, the materials exemplified in the present specification may be used alone or in combination of two or more.
なお、本技術は、以下のような構成をとることもできる。
〔１〕平均厚みｔＴが、ｔＴ≦５．５μｍであり、
長手方向のテンション変化に対する幅方向の寸法変化量Δｗが、６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、且つ、
前記長手方向の収縮率が、０．０８％以下である、
磁気記録媒体。
〔２〕垂直方向における角形比が６５％以上である、〔１〕に記載の磁気記録媒体。
〔３〕前記寸法変化量Δｗが、７００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗである、〔１〕又は〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔４〕前記寸法変化量Δｗが、７５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗである、〔１〕又は〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔５〕前記寸法変化量Δｗが、８００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗである、〔１〕又は〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔６〕前記収縮率が、０．０７％以下である、〔１〕〜〔５〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔７〕前記磁気記録媒体が、バック層を備え、
前記バック層の表面粗度Ｒａｂが、３．０ｎｍ≦Ｒａｂ≦７．５ｎｍである、〔１〕〜〔６〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔８〕前記磁気記録媒体が、磁性層及びバック層を備え、
前記磁性層側の表面と前記バック層側の表面との間の摩擦係数μが、０．２０≦μ≦０．８０である、〔１〕〜〔７〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔９〕長手方向の１％伸び荷重が、０．６０Ｎ以下である、〔１〕〜〔８〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１０〕温度膨張係数αが、５．５ｐｐｍ／℃≦α≦９ｐｐｍ／℃であり、且つ、
湿度膨張係数βが、β≦５．５ｐｐｍ／％ＲＨである、
〔１〕〜〔９〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１１〕ポアソン比ρが、０．２５≦ρである、〔１〕〜〔１０〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１２〕長手方向の弾性限界値σＭＤが、０．７Ｎ≦σＭＤである、〔１〕〜〔１１〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１３〕前記弾性限界値σＭＤが、弾性限界測定を行う際の速度Ｖに依らない、〔１２〕に記載の磁気記録媒体。
〔１４〕前記磁気記録媒体が、磁性層を備え、
前記磁性層が垂直配向しているものである、〔１〕〜〔１３〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１５〕前記磁気記録媒体が、バック層を備え、
前記バック層の平均厚みｔｂが、ｔｂ≦０．６μｍである、〔１〕〜〔１４〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１６〕前記磁気記録媒体が、磁性層を備え、
前記磁性層がスパッタ層である、〔１〕〜〔１５〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１７〕前記磁性層の平均厚みｔｍが、９ｎｍ≦ｔｍ≦９０ｎｍである、〔１６〕に記載の磁気記録媒体。
〔１８〕前記磁気記録媒体が、磁性層を備え、
前記磁性層が磁性粉を含む、〔１〕〜〔１５〕のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
〔１９〕前記磁性層の平均厚みｔｍが、３５ｎｍ≦ｔｍ≦１２０ｎｍである、〔１８〕に記載の磁気記録媒体。
〔２０〕前記磁性粉が、ε酸化鉄磁性粉、バリウムフェライト磁性粉、コバルトフェライト磁性粉、又はストロンチウムフェライト磁性粉を含む、〔１８〕又は〔１９〕に記載の磁気記録媒体。
〔２１〕前記収縮率が、０．０７％以下である、〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２２〕前記磁気記録媒体が、バック層を備え、
前記バック層の表面粗度Ｒａｂが、３．０ｎｍ≦Ｒａｂ≦７．５ｎｍである、〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２３〕前記磁気記録媒体が、磁性層及びバック層を備え、
前記磁性層側の表面と前記バック層側の表面との間の摩擦係数μが、０．２０≦μ≦０．８０である、〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２４〕長手方向の１％伸び荷重が、０．６０Ｎ以下である、〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２５〕温度膨張係数αが、５．５ｐｐｍ／℃≦α≦９ｐｐｍ／℃であり、且つ、
湿度膨張係数βが、β≦５．５ｐｐｍ／％ＲＨである、
〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２６〕ポアソン比ρが、０．２５≦ρである、〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２７〕長手方向の弾性限界値σＭＤが、０．７Ｎ≦σＭＤである、〔２〕に記載の磁気記録媒体。
〔２８〕前記弾性限界値σＭＤが、弾性限界測定を行う際の速度Ｖに依らない、〔２７〕に記載の磁気記録媒体。
The present technology can also have the following configuration.
[1] The average thickness t T is t T ≤ 5.5 μm.
The amount of dimensional change Δw in the width direction with respect to the tension change in the longitudinal direction is 650 ppm / N ≦ Δw, and
It said longitudinal shrinkage is 0.08% or less,
Magnetic recording medium.
[2] The magnetic recording medium according to [1], wherein the square ratio in the vertical direction is 65% or more.
[3] The magnetic recording medium according to [1] or [2], wherein the dimensional change amount Δw is 700 ppm / N ≦ Δw.
[4] The magnetic recording medium according to [1] or [2], wherein the dimensional change amount Δw is 750 ppm / N ≦ Δw.
[5] The magnetic recording medium according to [1] or [2], wherein the dimensional change amount Δw is 800 ppm / N ≦ Δw.
[6] The magnetic recording medium according to any one of [1] to [5], wherein the shrinkage rate is 0.07% or less.
[7] The magnetic recording medium includes a back layer and has a back layer.
The magnetic recording medium according to any one of [1] to [6], wherein the surface roughness R ab of the back layer is 3.0 nm ≦ R ab ≦ 7.5 nm.
[8] The magnetic recording medium includes a magnetic layer and a back layer.
The magnetism according to any one of [1] to [7], wherein the friction coefficient μ between the surface on the magnetic layer side and the surface on the back layer side is 0.20 ≦ μ ≦ 0.80. recoding media.
[9] The magnetic recording medium according to any one of [1] to [8], wherein the 1% elongation load in the longitudinal direction is 0.60 N or less.
[10] The coefficient of thermal expansion α is 5.5 ppm / ° C. ≤ α ≤ 9 ppm / ° C., and
Humidity expansion coefficient β is β ≦ 5.5 ppm /% RH.
The magnetic recording medium according to any one of [1] to [9].
[11] The magnetic recording medium according to any one of [1] to [10], wherein the Poisson's ratio ρ is 0.25 ≦ ρ.
[12] The magnetic recording medium according to any one of [1] to [11], wherein the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction is 0.7N ≦ σ MD .
[13] The magnetic recording medium according to [12], wherein the elastic limit value σ MD does not depend on the velocity V at the time of performing the elastic limit measurement.
[14] The magnetic recording medium includes a magnetic layer and has a magnetic layer.
The magnetic recording medium according to any one of [1] to [13], wherein the magnetic layer is vertically oriented.
[15] The magnetic recording medium includes a back layer.
The magnetic recording medium according to any one of [1] to [14], wherein the average thickness t b of the back layer is t b ≦ 0.6 μm.
[16] The magnetic recording medium includes a magnetic layer.
The magnetic recording medium according to any one of [1] to [15], wherein the magnetic layer is a sputtering layer.
[17] The average thickness t m of the magnetic layer is a 9nm ≦ t m ≦ 90nm, magnetic recording medium according to [16].
[18] The magnetic recording medium includes a magnetic layer.
The magnetic recording medium according to any one of [1] to [15], wherein the magnetic layer contains magnetic powder.
[19] The average thickness t m of the magnetic layer is a 35nm ≦ t m ≦ 120nm, magnetic recording medium according to [18].
[20] The magnetic recording medium according to [18] or [19], wherein the magnetic powder contains ε iron oxide magnetic powder, barium ferrite magnetic powder, cobalt ferrite magnetic powder, or strontium ferrite magnetic powder.
[21] The magnetic recording medium according to [2], wherein the shrinkage rate is 0.07% or less.
[22] The magnetic recording medium includes a back layer.
The magnetic recording medium according to [2], wherein the surface roughness R ab of the back layer is 3.0 nm ≦ R ab ≦ 7.5 nm.
[23] The magnetic recording medium includes a magnetic layer and a back layer.
The magnetic recording medium according to [2], wherein the friction coefficient μ between the surface on the magnetic layer side and the surface on the back layer side is 0.20 ≦ μ ≦ 0.80.
[24] The magnetic recording medium according to [2], wherein the 1% elongation load in the longitudinal direction is 0.60 N or less.
[25] The coefficient of thermal expansion α is 5.5 ppm / ° C. ≤ α ≤ 9 ppm / ° C., and
Humidity expansion coefficient β is β ≦ 5.5 ppm /% RH.
The magnetic recording medium according to [2].
[26] The magnetic recording medium according to [2], wherein the Poisson's ratio ρ is 0.25 ≦ ρ.
[27] The magnetic recording medium according to [2], wherein the elastic limit value σ MD in the longitudinal direction is 0.7N ≦ σ MD .
[28] The magnetic recording medium according to [27], wherein the elastic limit value σ MD does not depend on the velocity V at the time of performing the elastic limit measurement.
１０ 磁気記録媒体
１１ ベース層
１２ 下地層
１３ 磁性層
１４ バック層
10 Magnetic recording medium 11 Base layer 12 Base layer 13 Magnetic layer 14 Back layer
本技術は、
磁性層、非磁性層、ベース層、及びバック層をこの順に有する層構造を有し、
磁気記録媒体の平均厚みｔＴ が、ｔ Ｔ ≦５．５μｍであり、
磁気記録媒体の長手方向のテンション変化に対する磁気記録媒体の幅方向の寸法変化量Δｗが、６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、且つ、
前記長手方向の収縮率が、０．０８％以下である、長尺状の磁気記録媒体を提供する。
前記寸法変化量Δｗは、７５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎでありうる。
前記寸法変化量Δｗは、８００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎでありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みｔＴは、３．５μｍ≦ｔＴ≦５．３μｍでありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みｔＴは、３．５μｍ≦ｔＴ≦５．２μｍでありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みｔＴは、３．５μｍ≦ｔＴ≦５．０μｍでありうる。
前記磁性層の平均厚みｔmは、３５ｎｍ≦ｔm≦１２０ｎｍでありうる。
前記非磁性層の平均厚みは、０．６μｍ以上２．０μｍ以下でありうる。
前記ベース層の平均厚みは、２．５μｍ以上６μｍ以下でありうる。
前記ベース層の平均厚みは、２．６μｍ以上５μｍ以下でありうる。
前記バック層の平均厚みｔbは、ｔb≦０．６μｍでありうる。
前記収縮率が、０．０７％以下でありうる。
長手方向の１％伸び荷重が、０．６０Ｎ以下でありうる。
長手方向の１％伸び荷重が、０．５５Ｎ以下でありうる。
前記磁性層は磁性粉および結着剤を含み、
前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、バリウムフェライト磁性粉又はコバルトフェライト磁性粉を含むものでありうる。
前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉を含み、
前記磁気記録媒体のＳＦＤ（Switching Field Distribution）曲線におけるメインピーク高さＸと磁場ゼロ付近のサブピークの高さＹとのピーク比Ｘ／Ｙが、３．０以上１００以下でありうる。
前記ε酸化鉄磁性粉の平均粒子サイズが、８ｎｍ以上２２ｎｍ以下でありうる。
前記磁性粉は、バリウムフェライト磁性粉を含み、
前記磁性層の平均厚みｔｍ［ｎｍ］が、３５ｎｍ≦ｔｍ≦１００ｎｍであり、
前記磁気記録媒体の垂直方向における保磁力Ｈｃが、１６０ｋＡ／ｍ以上２８０ｋＡ／ｍ以下でありうる。
前記バリウムフェライト磁性粉の平均粒子サイズが、１２ｎｍ以上２５ｎｍ以下でありうる。
前記磁気記録媒体の温度膨張係数αが、５．５［ｐｐｍ／℃］≦α≦９［ｐｐｍ／℃］でありうる。
前記磁気記録媒体の湿度膨張係数βが、β≦５．５［ｐｐｍ／％ＲＨ］でありうる。
前記磁気記録媒体のポアソン比ρが、０．２５≦ρでありうる。
長手方向の弾性限界値σMDが、０．７［Ｎ］≦σMDでありうる。
前記弾性限界値σMDが、弾性限界測定を行う際の速度Ｖに依らないものでありうる。
前記磁性層が垂直配向しているものでありうる。
前記磁性層は、３以上１１以下のサーボバンドを有するものでありうる。
前記磁性層は、前記長手方向に平行な複数の記録トラックを形成可能に構成され、
前記記録トラックの幅は、２μｍ以下でありうる。
前記ベース層は、ポリエステル系樹脂を含むものでありうる。
磁性面と該磁性面とは反対側となるバック面とを有し、
前記磁性面と前記バック面の層間摩擦係数μが、０．２０≦μ≦０．８０でありうる。
前記バック層の表面粗度Ｒａｂが、３．０ｎｍ≦Ｒａｂ≦７．５ｎｍでありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比が、６５％以上でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比が、７３％以上でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における保磁力Ｈｃが、２２０ｋＡ／ｍ以上３１０ｋＡ／ｍ以下でありうる。
本技術は、
前記磁気記録媒体と、
カートリッジケースと、
リールと、を含み、
前記磁気記録媒体が、前記リールに巻き取られた状態で前記カートリッジケース内に収容されている磁気記録カートリッジを提供する。
This technology
It has a layer structure having a magnetic layer, a non-magnetic layer, a base layer, and a back layer in this order.
The average thickness t T of the magnetic recording medium is t T ≤ 5.5 μm.
The amount of dimensional change Δw in the width direction of the magnetic recording medium with respect to the tension change in the longitudinal direction of the magnetic recording medium is 650 ppm / N ≦ Δw , and
Provided is a long magnetic recording medium having a shrinkage rate in the longitudinal direction of 0.08% or less.
The amount of dimensional change Δw can be 750 ppm / N ≦ Δw ≦ 20000 ppm / N.
The amount of dimensional change Δw can be 800 ppm / N ≦ Δw ≦ 20000 ppm / N.
The average thickness t T of the magnetic recording medium can be 3.5 μm ≦ t T ≦ 5.3 μm.
The average thickness t T of the magnetic recording medium can be 3.5 μm ≦ t T ≦ 5.2 μm.
The average thickness t T of the magnetic recording medium can be 3.5 μm ≦ t T ≦ 5.0 μm.
The average thickness t m of the magnetic layer may be 35nm ≦ t m ≦ 120nm.
The average thickness of the non-magnetic layer can be 0.6 μm or more and 2.0 μm or less.
The average thickness of the base layer can be 2.5 μm or more and 6 μm or less.
The average thickness of the base layer can be 2.6 μm or more and 5 μm or less.
The average thickness t b of the back layer can be t b ≤ 0.6 μm.
The shrinkage rate can be 0.07% or less.
The 1% elongation load in the longitudinal direction can be 0.60 N or less.
The 1% elongation load in the longitudinal direction can be 0.55 N or less.
The magnetic layer contains magnetic powder and a binder and contains
The magnetic powder may include ε iron oxide magnetic powder, barium ferrite magnetic powder, or cobalt ferrite magnetic powder.
The magnetic powder contains ε iron oxide magnetic powder and contains
The peak ratio X / Y of the main peak height X and the sub-peak height Y near the magnetic field zero in the SFD (Switching Field Distribution) curve of the magnetic recording medium can be 3.0 or more and 100 or less.
The average particle size of the ε-iron oxide magnetic powder can be 8 nm or more and 22 nm or less.
The magnetic powder contains barium ferrite magnetic powder and contains
The average thickness t m of the magnetic layer [nm] is a 35nm ≦ t m ≦ 100nm,
The coercive force Hc in the vertical direction of the magnetic recording medium can be 160 kA / m or more and 280 kA / m or less.
The average particle size of the barium ferrite magnetic powder can be 12 nm or more and 25 nm or less.
The coefficient of thermal expansion α of the magnetic recording medium can be 5.5 [ppm / ° C] ≤ α ≤ 9 [ppm / ° C].
The coefficient of thermal expansion β of the magnetic recording medium can be β ≦ 5.5 [ppm /% RH].
The Poisson's ratio ρ of the magnetic recording medium can be 0.25 ≦ ρ.
The elastic limit value σ MD in the longitudinal direction can be 0.7 [N] ≤ σ MD .
The elastic limit value σ MD may not depend on the velocity V when performing the elastic limit measurement.
The magnetic layer may be vertically oriented.
The magnetic layer may have a servo band of 3 or more and 11 or less.
The magnetic layer is configured to be capable of forming a plurality of recording tracks parallel to the longitudinal direction.
The width of the recording track can be 2 μm or less.
The base layer may contain a polyester resin.
It has a magnetic surface and a back surface that is opposite to the magnetic surface.
The inter-story friction coefficient μ between the magnetic surface and the back surface can be 0.20 ≦ μ ≦ 0.80.
The surface roughness R ab of the back layer may be 3.0 nm ≦ R ab ≦ 7.5 nm.
The vertical square ratio of the magnetic recording medium can be 65% or more.
The vertical square ratio of the magnetic recording medium can be 73% or more.
The coercive force Hc in the vertical direction of the magnetic recording medium can be 220 kA / m or more and 310 kA / m or less.
This technology
With the magnetic recording medium
Cartridge case and
Including reels
Provided is a magnetic recording cartridge in which the magnetic recording medium is housed in the cartridge case in a state of being wound on the reel.
Claims (34)
磁気記録媒体の平均厚みｔＴが、３．５μｍ≦ｔＴ≦５．５μｍであり、
磁気記録媒体の長手方向のテンション変化に対する磁気記録媒体の幅方向の寸法変化量Δｗが、７００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎであり、且つ、
前記長手方向の収縮率が、０．０８％以下である、
長尺状の磁気記録媒体。 It has a layer structure having a magnetic layer, a non-magnetic layer, a base layer, and a back layer in this order.
The average thickness t T of the magnetic recording medium is 3.5 μm ≤ t T ≤ 5.5 μm .
The amount of dimensional change Δw in the width direction of the magnetic recording medium with respect to the tension change in the longitudinal direction of the magnetic recording medium is 700 ppm / N ≦ Δw ≦ 20000 ppm / N , and
It said longitudinal shrinkage is 0.08% or less,
A long magnetic recording medium.
前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、バリウムフェライト磁性粉又はコバルトフェライト磁性粉を含む、請求項１から１４のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。 The magnetic layer contains magnetic powder and a binder and contains
The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 14, wherein the magnetic powder contains ε-iron oxide magnetic powder, barium ferrite magnetic powder, or cobalt ferrite magnetic powder .
前記磁気記録媒体のＳＦＤ（Switching Field Distribution）曲線におけるメインピーク高さＸと磁場ゼロ付近のサブピークの高さＹとのピーク比Ｘ／Ｙが、３．０以上１００以下である、請求項１５に記載の磁気記録媒体。 The magnetic powder contains ε iron oxide magnetic powder and contains
15. The peak ratio X / Y of the main peak height X and the sub-peak height Y near zero magnetic field in the SFD (Switching Field Distribution) curve of the magnetic recording medium is 3.0 or more and 100 or less. The magnetic recording medium described .
前記磁性層の平均厚みｔ ｍ ［ｎｍ］が、３５ｎｍ≦ｔ ｍ ≦１００ｎｍであり、
前記磁気記録媒体の垂直方向における保磁力Ｈｃが、１６０ｋＡ／ｍ以上２８０ｋＡ／ｍ以下である、請求項１５に記載の磁気記録媒体。 The magnetic powder contains barium ferrite magnetic powder and contains
The average thickness t m of the magnetic layer [nm] is a 35nm ≦ t m ≦ 100nm,
The magnetic recording medium according to claim 15, wherein the coercive force Hc in the vertical direction of the magnetic recording medium is 160 kA / m or more and 280 kA / m or less .
前記記録トラックの幅は、２μｍ以下である、請求項１から２６のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。 The magnetic layer is configured to be capable of forming a plurality of recording tracks parallel to the longitudinal direction.
The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 26, wherein the width of the recording track is 2 μm or less .
前記磁性面と前記バック面の層間摩擦係数μが、０．２０≦μ≦０．８０である、請求項１から２８のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。 It has a magnetic surface and a back surface that is opposite to the magnetic surface.
The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 28, wherein the interlayer friction coefficient μ between the magnetic surface and the back surface is 0.20 ≦ μ ≦ 0.80 .
カートリッジケースと、
リールと、を含み、
前記磁気記録媒体が、前記リールに巻き取られた状態で前記カートリッジケース内に収容されている磁気記録カートリッジ。
The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 33,
Cartridge case and
Including reels
A magnetic recording cartridge in which the magnetic recording medium is housed in the cartridge case while being wound on the reel .
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