JP2019537707A - Camera module inspection device - Google Patents
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Abstract
被検査体の被検査端子と検査回路の検査端子とを電気的に連結する検査装置を提供する。検査装置は、信号用プローブと、接地用プローブと、前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、該導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングとを備える。これによれば、信号用プローブ及び信号端子間のノイズを効果的に遮蔽することができる。Provided is an inspection device for electrically connecting a terminal to be inspected of an object to be inspected and an inspection terminal of an inspection circuit. The inspection apparatus includes a signal probe, a ground probe, a signal probe hole formed so that the signal probe passes in an electrically non-contact state, and a signal probe hole in the ground contact state. A conductive block having a grounding probe hole formed so as to pass therethrough, and an insulating housing that accommodates the conductive block and supports both ends of the signal probe. According to this, noise between the signal probe and the signal terminal can be effectively shielded.
Description
本発明は、被検査体、例えば、カメラモジュールの電気的特性を検査するための検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection device for inspecting electrical characteristics of an object to be inspected, for example, a camera module.
近年、モバイル装置、例えばスマートフォン、PDA、タブレットPCなどが広く普及されている。それらのモバイル装置に使われる小型カメラモジュールは、3相(MIPI C−PHY)インターフェース10を備えている。図1は3相インターフェース10を示す図であり、複数の被検査端子12が2列に並んで突出して配列されたコネクター形状である。
In recent years, mobile devices, for example, smartphones, PDAs, tablet PCs, and the like have been widely used. The miniature camera modules used in these mobile devices have a three-phase (MIPI C-PHY)
カメラモジュールを検査するための検査装置は、2列に並んで配列された多数の信号用プローブ及び接地用プローブがそれぞれ、3相インターフェース10の信号用端子12及び接地用端子14に接触することによってテストを行う。しかし、高周波テスト動作時には各列の信号用プローブの間にノイズが多く発生し、テストができないという問題があった。
An inspection device for inspecting a camera module is configured such that a large number of signal probes and ground probes arranged in two rows contact a
本発明の目的は、上述した問題を解決するためのものであり、高周波テスト動作時に信号用プローブ間にノイズを遮断し、検査の信頼性を向上させることができるカメラモジュール検査装置を提供することにある。 An object of the present invention is to solve the above-described problem, and to provide a camera module inspection apparatus capable of cutting off noise between signal probes during a high-frequency test operation and improving the reliability of inspection. It is in.
上記の本発明の課題を解決するための、被検査体の被検査端子と検査回路の検査端子とを電気的に連結する検査装置が開示される。検査装置は、信号用プローブと、接地用プローブと、前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、前記導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングとを備えることを特徴とする。これによれば、信号用プローブ列の間のノイズを接地状態の導電性ブロックで遮断し、信頼性ある高周波テストを行うことができる。 An inspection apparatus for electrically connecting a terminal to be inspected of an object to be inspected and an inspection terminal of an inspection circuit for solving the problem of the present invention is disclosed. The inspection device includes a signal probe, a grounding probe, a signal probe hole formed so that the signal probe passes in an electrically non-contact state, and a signal probe hole in which the grounding probe is in an electrically contacted state. A conductive block having a grounding probe hole formed so as to pass therethrough, and an insulating housing that accommodates the conductive block and supports both ends of the signal probe. According to this, noise between the signal probe rows can be cut off by the conductive block in the ground state, and a reliable high-frequency test can be performed.
前記導電性ブロックは、前記絶縁ハウジングを通過して被検査端子の間に向かって突出及び延長するノイズ遮蔽部を有し、より確実なノイズ遮蔽が可能である。 The conductive block has a noise shielding portion that passes through the insulating housing and protrudes and extends between the terminals to be inspected, thereby enabling more reliable noise shielding.
前記検査装置は、前記カメラモジュールを収容する被検査体収容部、及び前記信号用プローブの一端部と前記接地用プローブの一端部が通過する多数のプローブ通過孔を設けられた底部を有し、前記絶縁ハウジングの上部に弾性的にフローティングされたインサートをさらに備えることができる。 The inspection device has a bottom portion provided with a plurality of probe passage holes through which an inspection object housing portion that houses the camera module and one end of the signal probe and one end of the grounding probe pass. The apparatus may further include an elastically floating insert above the insulating housing.
前記底部は、前記ノイズ遮蔽部が通過する開孔を有することができる。 The bottom may have an opening through which the noise shield passes.
前記検査装置は、前記信号用プローブの他端部と前記接地用プローブの他端部が通過する多数の第2プローブ通過孔が設けられた下部カバーをさらに備えることができる。 The inspection apparatus may further include a lower cover provided with a plurality of second probe passage holes through which the other end of the signal probe and the other end of the grounding probe pass.
前記導電性ブロックは、前記下部カバーを通過して検査端子に向かって突出及び延長する第2ノイズ遮蔽部を有し、より確実な接地状態を維持することができる。 The conductive block has a second noise shield that protrudes and extends toward the inspection terminal through the lower cover, and can maintain a more reliable ground state.
第2ノイズ遮蔽部は検査回路の接地端子(パッド)に接触する接地突起を有する。 The second noise shield has a ground protrusion that contacts a ground terminal (pad) of the inspection circuit.
本発明のカメラモジュール検査装置は、高周波テストにおいて信号プローブ間のノイズを効果的に遮蔽することができ、検査の信頼性を向上させることができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION The camera module inspection apparatus of this invention can shield the noise between signal probes in a high frequency test effectively, and can improve the reliability of an inspection.
以下、本発明の一実施例を、添付の図面を参照して述べる。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
カメラモジュール検査装置100は、被検査体、例えばスマートフォン用小型カメラモジュールの電気的特性を検査する。カメラモジュール検査装置100は、図1に示したようなカメラモジュールの3相インターフェース10の多数の端子に信号用プローブ110及び接地用プローブ120を接触させて検査し、例えば信号端子12に信号用プローブ110を接触させて、そして接地端子14に接地用プローブ120を接触させて検査を行う。
The camera
図2〜図5は、本発明の実施例に係るカメラモジュール検査装置100の斜視図、分解斜視図、平面図、及び断面図である。図示のように、カメラモジュール検査装置100は、信号用プローブ110、接地用プローブ120、信号用プローブ110及び接地用プローブ120が通過する導電性ブロック130、該導電性ブロックを収容する絶縁ハウジング140、該絶縁ハウジング140上にフローティング状態で配置されたインサート150、及び前記絶縁ハウジング140の下部に配置される下部カバー160を備える。
2 to 5 are a perspective view, an exploded perspective view, a plan view, and a cross-sectional view of the camera
信号用プローブ110及び接地用プローブ120は、ポゴタイプ(pogo type)ピン、カンチレバータイプ(cantilever type)ピン、バーチカルタイプ(vertical type)ピン、MEMS(microelectromechanical systems)ピンなどによって具現することができる。以下、信号用プローブ110及び接地用プローブ120は、ポゴタイプピンを取り上げて説明する。
The
信号用プローブ110は、円筒形のバレル、バレルの一側に部分挿入されてスライディング移動する上部プランジャー、バレルの他側に部分挿入されてスライディング移動する下部プランジャー、及び該上部プランジャー及び下部プランジャーの少なくとも一つを付勢するように前記バレル内に挿入されたバネを備える。前記上部プランジャー及び下部プランジャーのいずれか一方は信号端子12に接触し、いずれか他方は検査回路の信号端子(パッド)(図示せず)に接触する。信号用プローブ110は導電性ブロック130に電気的に接触することなく通過するよう、全体的に絶縁材質である、例えばテフロン(登録商標)のような絶縁材質からなるチューブでバレルを包んだり、絶縁スぺーサをバレルに取り付けることができる。また、前記上部プランジャー及び下部プランジャーのいずれか一方はスライディング移動せず、バレルに固定されてもよい。また、信号用プローブ110は、バレルがなく、バネ内で上部プランジャーと下部プランジャーとが交差スライディングする外付バネタイプのポゴピンが適用されてもよい。
The
接地用プローブ120は、基本的な構造が信号用プローブ110と同様であり、その説明を省略する。勿論、接地用プローブ120は、信号用プローブ110と異なる大きさであってもよく、導電性ブロック130に接触しても構わないので絶縁チューブや絶縁スペーサは不要である。
The
導電性ブロック130は、黄銅のような導電性材質で作製したり、非導電性ブロックに導電物質をコート又はメッキして作製することができる。導電性ブロック130は、多数の信号用プローブ110が電気的に非接触状態で通過する多数の信号プローブ孔132と、多数の接地用プローブ120が電気的に接触状態で通過する多数の接地プローブ孔134が平行に設けられている。信号用プローブ110と接地用プローブ120は、導電性ブロック130内に挿入される時、上部プランジャー及び下部プランジャーの両端部の少なくとも一部が露出される。実施例では15個の信号プローブ孔132と2個の接地プローブ孔134がそれぞれ2列に並んで配置されている。すなわち、第1列には1〜5番目の信号プローブ孔132、6番目の接地プローブ孔134、7〜11番目の信号プローブ孔132、12番目の接地プローブ孔134、及び13〜17番目の信号プローブ孔132が配置され、第2列には第1列と同様に、1〜5番目の信号プローブ孔132、6番目の接地プローブ孔134、7〜11番目の信号プローブ孔132、12番目の接地プローブ孔134、及び13〜17番目の信号プローブ孔132が配置されている。仮に、信号用プローブ110が絶縁チューブや絶縁スペーサで囲まれていれば、絶縁チューブや絶縁スペーサが信号プローブ孔132の内壁に接触するようになる。このような信号用プローブ110及び接地用プローブ120の構造は単に説明のための例であり、様々な構造を適用することができる。
The
導電性ブロック130は、上部面に、2列のプローブ孔132,134の間から上方に突出する上部ノイズ遮蔽部136を備える。ノイズ遮蔽部136は、検査時に2列の被検査端子12,14の間を遮蔽することによって、より確実にノイズを遮蔽することができる。
The
導電性ブロック130は、下部面に、第1列の信号及び接地プローブ孔132,134と第2列の信号及び接地プローブ孔132,134との間から下方延長して突出する下部ノイズ遮蔽部137を備える。下部ノイズ遮蔽部137には、第1列の2個の接地プローブ孔134からそれぞれ第2列の2個の接地プローブ孔134に向かって横に延びる、限定されない形態の接地突起138を有する。1対の接地突起138は、接地用プローブ120が接触する検査回路の接地端子(パッド)(図示せず)に接触するためのものである。接地突起138は、検査回路の接地パッドの形状やデザインに応じて1個又は3個以上でよく、その形状が互いに異なってもよい。
The
絶縁ハウジング140は、導電性ブロック130を収容する導電性ブロック収容部141と、インサート150を収容するインサート収容部142を備える。導電性ブロック130は、信号用プローブ110と接地用プローブ120が挿入された状態で絶縁ハウジング140に収容される。導電性ブロック収容部141は、上側には、信号用プローブ110と接地用プローブ120の上部プランジャーが通過する上部プランジャー通過孔143と、ノイズ遮蔽部136が通過する遮蔽部通過部とが形成された遮断壁145が設けられている。上部プランジャー通過孔143は、バレルが収容される大口径部146、及びプランジャーが通過する小口径部147で構成されている。このため、バレルは遮断壁145を通過せず遮断壁145に支持される。ここで、遮断壁145は、絶縁ハウジング140と分離されている状態で絶縁ハウジング140に結合することができる。導電性ブロック収容部141は、下方から導電性ブロック130自体が入るように開放されている。インサート収容部142は、上部プランジャー通過孔143と第1遮蔽部通過部144が形成された遮断壁145に相応する位置の上側に形成されている。
The
インサート150は、前記遮断壁145に相応する位置に、第2上部プランジャー通過孔153と第2遮蔽部通過部154が形成された底部155を有する。インサート150は、インサート150の底部155と絶縁ハウジング140の遮断壁145との間には4個のバネ170が介在されてフローティング状態を維持する。インサート150は両側面に、垂直に延在し、係止突段158を有する溝部159が形成されている。インサート150はバネ170の弾性力によって離脱しないように離脱防止ピン180によって拘束される。すなわち、インサート150は、離脱防止ピン180の頭が前記溝部159にはめ込まれた状態で、バネ170によって弾性的に溝部159内で上下運動する。
The
下部カバー160は、絶縁ハウジング140の導電性ブロック収容部141の開放された下部をカバーする。下部カバー160は、信号用プローブ110及び接地用プローブ120の下部プランジャーが通過する下部プランジャー通過孔163と、下部ノイズ遮蔽部137が通過する第3遮蔽部通過部164が形成されている。下部プランジャー通過孔163は、バレルが収容される第2大口径部166、及び下部プランジャーが通過する第2小口径部167で構成されている。このため、バレルは下部カバー160を通過せず下部カバー160に支持される。
The
図6は、検査時の検査装置100の状態を示す断面図である。検査時にはインサート150に挿入された被検査体、例えば3相インターフェース10を押下すれば、インサート150がバネ170を圧縮しながら下方移動する。したがって、3相インターフェース10の2列端子間の空間にノイズ遮蔽部136が収容され、2列端子のうち信号端子12の列と列の間を遮蔽することができる。図6で、信号用プローブ110は、テフロンのような絶縁チューブで包まれて導電性ブロック130に接触している状態が示されている。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state of the
接地プローブ120は導電性ブロック140に電気的に接触するので、導電性ブロック140は全体的に接地状態を維持する。その結果、導電性ブロック140を電気的に非接触状態で通過する信号用プローブ110の間にノイズ遮蔽のための環境を作ることができる。
Since the
上述によれば、本発明の検査装置は、被検査体の端子に、例えば、モバイル装置に使われる小型カメラモジュールの3相インターフェース10に、高周波テスト動作時のノイズを効果的に遮蔽することができる。
According to the above description, the inspection apparatus of the present invention can effectively shield noise during a high-frequency test operation to terminals of a device to be inspected, for example, to the three-
以上、本発明を限られた例示的実施例及び図面を用いて説明したが、本発明は上記の例示的実施例に限定されるものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者にとっては、以上の記載から様々な修正及び変形が可能である。 As described above, the present invention has been described using the limited exemplary embodiments and the drawings. However, the present invention is not limited to the above-described exemplary embodiments, and those having ordinary knowledge in the field to which the present invention pertains. Various modifications and variations are possible from the above description.
したがって、本発明の範囲は、説明された例示的実施例に限定されてはならず、後述する特許請求の範囲及びその同等物によって定められるべきである。 Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described exemplary embodiments, but should be defined by the claims set forth below, and equivalents thereof.
100 検査装置
110 信号用プローブ
120 接地用プローブ
130 導電性ブロック
136 上部ノイズ遮蔽部
137 下部ノイズ遮蔽部
138 接地突起
140 絶縁ハウジング
150 インサート
160 下部カバー
DESCRIPTION OF
Claims (7)
信号用プローブと、
接地用プローブと、
前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、
前記導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングと、
を備えることを特徴とするカメラモジュール検査装置。 A camera module inspection device,
A signal probe,
A grounding probe,
A conductive probe having a signal probe hole formed so that the signal probe passes therethrough in an electrically non-contact state, and a ground probe hole formed so that the ground probe passes in an electrically contact state. Sex block,
An insulating housing that houses the conductive block and supports both ends of the signal probe,
A camera module inspection device comprising:
前記下部カバーは、前記下部ノイズ遮蔽部が通過する第3遮蔽部通過部を有することを特徴とする、請求項5に記載のカメラモジュール検査装置。 The conductive block has a lower noise shield protruding downward from the conductive block and extending between the rows of the plurality of signal probes.
The camera module inspection device according to claim 5, wherein the lower cover has a third shielding part passing part through which the lower noise shielding part passes.
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