JP2019537707A - Camera module inspection device - Google Patents

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Abstract

被検査体の被検査端子と検査回路の検査端子とを電気的に連結する検査装置を提供する。検査装置は、信号用プローブと、接地用プローブと、前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、該導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングとを備える。これによれば、信号用プローブ及び信号端子間のノイズを効果的に遮蔽することができる。Provided is an inspection device for electrically connecting a terminal to be inspected of an object to be inspected and an inspection terminal of an inspection circuit. The inspection apparatus includes a signal probe, a ground probe, a signal probe hole formed so that the signal probe passes in an electrically non-contact state, and a signal probe hole in the ground contact state. A conductive block having a grounding probe hole formed so as to pass therethrough, and an insulating housing that accommodates the conductive block and supports both ends of the signal probe. According to this, noise between the signal probe and the signal terminal can be effectively shielded.

Description

本発明は、被検査体、例えば、カメラモジュールの電気的特性を検査するための検査装置に関する。   The present invention relates to an inspection device for inspecting electrical characteristics of an object to be inspected, for example, a camera module.

近年、モバイル装置、例えばスマートフォン、ＰＤＡ、タブレットＰＣなどが広く普及されている。それらのモバイル装置に使われる小型カメラモジュールは、３相（ＭＩＰＩ Ｃ−ＰＨＹ）インターフェース１０を備えている。図１は３相インターフェース１０を示す図であり、複数の被検査端子１２が２列に並んで突出して配列されたコネクター形状である。   In recent years, mobile devices, for example, smartphones, PDAs, tablet PCs, and the like have been widely used. The miniature camera modules used in these mobile devices have a three-phase (MIPI C-PHY) interface 10. FIG. 1 is a diagram showing a three-phase interface 10, which has a connector shape in which a plurality of terminals to be inspected 12 are arranged so as to project in two rows.

カメラモジュールを検査するための検査装置は、２列に並んで配列された多数の信号用プローブ及び接地用プローブがそれぞれ、３相インターフェース１０の信号用端子１２及び接地用端子１４に接触することによってテストを行う。しかし、高周波テスト動作時には各列の信号用プローブの間にノイズが多く発生し、テストができないという問題があった。   An inspection device for inspecting a camera module is configured such that a large number of signal probes and ground probes arranged in two rows contact a signal terminal 12 and a ground terminal 14 of a three-phase interface 10, respectively. Perform a test. However, during the high frequency test operation, a lot of noise is generated between the signal probes in each column, and there is a problem that the test cannot be performed.

本発明の目的は、上述した問題を解決するためのものであり、高周波テスト動作時に信号用プローブ間にノイズを遮断し、検査の信頼性を向上させることができるカメラモジュール検査装置を提供することにある。   An object of the present invention is to solve the above-described problem, and to provide a camera module inspection apparatus capable of cutting off noise between signal probes during a high-frequency test operation and improving the reliability of inspection. It is in.

上記の本発明の課題を解決するための、被検査体の被検査端子と検査回路の検査端子とを電気的に連結する検査装置が開示される。検査装置は、信号用プローブと、接地用プローブと、前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、前記導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングとを備えることを特徴とする。これによれば、信号用プローブ列の間のノイズを接地状態の導電性ブロックで遮断し、信頼性ある高周波テストを行うことができる。   An inspection apparatus for electrically connecting a terminal to be inspected of an object to be inspected and an inspection terminal of an inspection circuit for solving the problem of the present invention is disclosed. The inspection device includes a signal probe, a grounding probe, a signal probe hole formed so that the signal probe passes in an electrically non-contact state, and a signal probe hole in which the grounding probe is in an electrically contacted state. A conductive block having a grounding probe hole formed so as to pass therethrough, and an insulating housing that accommodates the conductive block and supports both ends of the signal probe. According to this, noise between the signal probe rows can be cut off by the conductive block in the ground state, and a reliable high-frequency test can be performed.

前記導電性ブロックは、前記絶縁ハウジングを通過して被検査端子の間に向かって突出及び延長するノイズ遮蔽部を有し、より確実なノイズ遮蔽が可能である。   The conductive block has a noise shielding portion that passes through the insulating housing and protrudes and extends between the terminals to be inspected, thereby enabling more reliable noise shielding.

前記検査装置は、前記カメラモジュールを収容する被検査体収容部、及び前記信号用プローブの一端部と前記接地用プローブの一端部が通過する多数のプローブ通過孔を設けられた底部を有し、前記絶縁ハウジングの上部に弾性的にフローティングされたインサートをさらに備えることができる。   The inspection device has a bottom portion provided with a plurality of probe passage holes through which an inspection object housing portion that houses the camera module and one end of the signal probe and one end of the grounding probe pass. The apparatus may further include an elastically floating insert above the insulating housing.

前記底部は、前記ノイズ遮蔽部が通過する開孔を有することができる。   The bottom may have an opening through which the noise shield passes.

前記検査装置は、前記信号用プローブの他端部と前記接地用プローブの他端部が通過する多数の第２プローブ通過孔が設けられた下部カバーをさらに備えることができる。   The inspection apparatus may further include a lower cover provided with a plurality of second probe passage holes through which the other end of the signal probe and the other end of the grounding probe pass.

前記導電性ブロックは、前記下部カバーを通過して検査端子に向かって突出及び延長する第２ノイズ遮蔽部を有し、より確実な接地状態を維持することができる。   The conductive block has a second noise shield that protrudes and extends toward the inspection terminal through the lower cover, and can maintain a more reliable ground state.

第２ノイズ遮蔽部は検査回路の接地端子（パッド）に接触する接地突起を有する。   The second noise shield has a ground protrusion that contacts a ground terminal (pad) of the inspection circuit.

本発明のカメラモジュール検査装置は、高周波テストにおいて信号プローブ間のノイズを効果的に遮蔽することができ、検査の信頼性を向上させることができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION The camera module inspection apparatus of this invention can shield the noise between signal probes in a high frequency test effectively, and can improve the reliability of an inspection.

カメラモジュールの３相インターフェースを示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a three-phase interface of the camera module. 本発明の実施例に係る検査装置を示す斜視図である。It is a perspective view showing the inspection device concerning the example of the present invention. 図２のカメラモジュール検査装置を示す分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view showing the camera module inspection device of FIG. 図２のカメラモジュール検査装置を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view illustrating the camera module inspection device of FIG. 2. 図２のカメラモジュール検査装置のＩ−Ｉ線に沿う断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the camera module inspection device of FIG. 2 taken along the line II. 図２のカメラモジュール検査装置のＩＩ−ＩＩ線に沿う断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the camera module inspection device of FIG. 2 along the line II-II.

以下、本発明の一実施例を、添付の図面を参照して述べる。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

カメラモジュール検査装置１００は、被検査体、例えばスマートフォン用小型カメラモジュールの電気的特性を検査する。カメラモジュール検査装置１００は、図１に示したようなカメラモジュールの３相インターフェース１０の多数の端子に信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０を接触させて検査し、例えば信号端子１２に信号用プローブ１１０を接触させて、そして接地端子１４に接地用プローブ１２０を接触させて検査を行う。   The camera module inspection apparatus 100 inspects the electrical characteristics of an object to be inspected, for example, a small camera module for a smartphone. The camera module inspection apparatus 100 performs inspection by bringing a signal probe 110 and a grounding probe 120 into contact with a number of terminals of the three-phase interface 10 of the camera module as shown in FIG. The inspection is performed by bringing the contact 110 into contact and the grounding probe 120 into contact with the ground terminal 14.

図２〜図５は、本発明の実施例に係るカメラモジュール検査装置１００の斜視図、分解斜視図、平面図、及び断面図である。図示のように、カメラモジュール検査装置１００は、信号用プローブ１１０、接地用プローブ１２０、信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０が通過する導電性ブロック１３０、該導電性ブロックを収容する絶縁ハウジング１４０、該絶縁ハウジング１４０上にフローティング状態で配置されたインサート１５０、及び前記絶縁ハウジング１４０の下部に配置される下部カバー１６０を備える。   2 to 5 are a perspective view, an exploded perspective view, a plan view, and a cross-sectional view of the camera module inspection device 100 according to the embodiment of the present invention. As shown, the camera module inspection apparatus 100 includes a signal probe 110, a grounding probe 120, a conductive block 130 through which the signal probe 110 and the grounding probe 120 pass, an insulating housing 140 that houses the conductive block, An insert 150 is provided on the insulating housing 140 in a floating state, and a lower cover 160 is provided below the insulating housing 140.

信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０は、ポゴタイプ（ｐｏｇｏ ｔｙｐｅ）ピン、カンチレバータイプ（ｃａｎｔｉｌｅｖｅｒ ｔｙｐｅ）ピン、バーチカルタイプ（ｖｅｒｔｉｃａｌ ｔｙｐｅ）ピン、ＭＥＭＳ（ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｍｅｃｈａｎｉｃａｌ ｓｙｓｔｅｍｓ）ピンなどによって具現することができる。以下、信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０は、ポゴタイプピンを取り上げて説明する。   The signal probe 110 and the grounding probe 120 may be implemented by a pogo type pin, a cantilever type pin, a vertical type pin, a MEMS (microelectromechanical systems) pin, or the like. Hereinafter, the signal probe 110 and the grounding probe 120 will be described using a pogo-type pin.

信号用プローブ１１０は、円筒形のバレル、バレルの一側に部分挿入されてスライディング移動する上部プランジャー、バレルの他側に部分挿入されてスライディング移動する下部プランジャー、及び該上部プランジャー及び下部プランジャーの少なくとも一つを付勢するように前記バレル内に挿入されたバネを備える。前記上部プランジャー及び下部プランジャーのいずれか一方は信号端子１２に接触し、いずれか他方は検査回路の信号端子（パッド）（図示せず）に接触する。信号用プローブ１１０は導電性ブロック１３０に電気的に接触することなく通過するよう、全体的に絶縁材質である、例えばテフロン（登録商標）のような絶縁材質からなるチューブでバレルを包んだり、絶縁スぺーサをバレルに取り付けることができる。また、前記上部プランジャー及び下部プランジャーのいずれか一方はスライディング移動せず、バレルに固定されてもよい。また、信号用プローブ１１０は、バレルがなく、バネ内で上部プランジャーと下部プランジャーとが交差スライディングする外付バネタイプのポゴピンが適用されてもよい。   The signal probe 110 includes a cylindrical barrel, an upper plunger partially inserted into one side of the barrel and sliding, a lower plunger partially inserted into the other side of the barrel and sliding, and the upper plunger and the lower plunger. A spring is inserted into the barrel to bias at least one of the plungers. Either the upper plunger or the lower plunger contacts the signal terminal 12, and the other contacts the signal terminal (pad) (not shown) of the inspection circuit. The signal probe 110 is wrapped in a tube made of an insulating material such as Teflon (registered trademark) so as to pass through the conductive block 130 without being in electrical contact with the conductive block 130. A spacer can be attached to the barrel. Further, one of the upper plunger and the lower plunger may be fixed to a barrel without sliding. Further, the signal probe 110 may be an external spring type pogo pin in which the upper plunger and the lower plunger cross and slide in a spring without a barrel.

接地用プローブ１２０は、基本的な構造が信号用プローブ１１０と同様であり、その説明を省略する。勿論、接地用プローブ１２０は、信号用プローブ１１０と異なる大きさであってもよく、導電性ブロック１３０に接触しても構わないので絶縁チューブや絶縁スペーサは不要である。   The ground probe 120 has the same basic structure as the signal probe 110, and a description thereof will be omitted. Of course, the grounding probe 120 may be different in size from the signal probe 110 and may be in contact with the conductive block 130, so that an insulating tube or insulating spacer is not required.

導電性ブロック１３０は、黄銅のような導電性材質で作製したり、非導電性ブロックに導電物質をコート又はメッキして作製することができる。導電性ブロック１３０は、多数の信号用プローブ１１０が電気的に非接触状態で通過する多数の信号プローブ孔１３２と、多数の接地用プローブ１２０が電気的に接触状態で通過する多数の接地プローブ孔１３４が平行に設けられている。信号用プローブ１１０と接地用プローブ１２０は、導電性ブロック１３０内に挿入される時、上部プランジャー及び下部プランジャーの両端部の少なくとも一部が露出される。実施例では１５個の信号プローブ孔１３２と２個の接地プローブ孔１３４がそれぞれ２列に並んで配置されている。すなわち、第１列には１〜５番目の信号プローブ孔１３２、６番目の接地プローブ孔１３４、７〜１１番目の信号プローブ孔１３２、１２番目の接地プローブ孔１３４、及び１３〜１７番目の信号プローブ孔１３２が配置され、第２列には第１列と同様に、１〜５番目の信号プローブ孔１３２、６番目の接地プローブ孔１３４、７〜１１番目の信号プローブ孔１３２、１２番目の接地プローブ孔１３４、及び１３〜１７番目の信号プローブ孔１３２が配置されている。仮に、信号用プローブ１１０が絶縁チューブや絶縁スペーサで囲まれていれば、絶縁チューブや絶縁スペーサが信号プローブ孔１３２の内壁に接触するようになる。このような信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０の構造は単に説明のための例であり、様々な構造を適用することができる。   The conductive block 130 can be made of a conductive material such as brass, or can be made by coating or plating a non-conductive block with a conductive material. The conductive block 130 includes a number of signal probe holes 132 through which a number of signal probes 110 pass electrically in a non-contact state, and a number of ground probe holes through which a number of ground probes 120 pass electrically. 134 are provided in parallel. When the signal probe 110 and the ground probe 120 are inserted into the conductive block 130, at least a part of both ends of the upper plunger and the lower plunger is exposed. In the embodiment, fifteen signal probe holes 132 and two ground probe holes 134 are respectively arranged in two rows. That is, the first row has the first to fifth signal probe holes 132, the sixth ground probe hole 134, the seventh to eleventh signal probe holes 132, the twelfth ground probe hole 134, and the thirteenth to seventeenth signal probes. Probe holes 132 are arranged, and the second row, like the first row, has the first to fifth signal probe holes 132, the sixth ground probe hole 134, the seventh to eleventh signal probe holes 132, and the twelfth signal probe hole. The ground probe hole 134 and the thirteenth to seventeenth signal probe holes 132 are arranged. If the signal probe 110 is surrounded by an insulating tube and an insulating spacer, the insulating tube and the insulating spacer come into contact with the inner wall of the signal probe hole 132. The structures of the signal probe 110 and the grounding probe 120 are merely examples for explanation, and various structures can be applied.

導電性ブロック１３０は、上部面に、２列のプローブ孔１３２，１３４の間から上方に突出する上部ノイズ遮蔽部１３６を備える。ノイズ遮蔽部１３６は、検査時に２列の被検査端子１２，１４の間を遮蔽することによって、より確実にノイズを遮蔽することができる。   The conductive block 130 includes an upper noise shield 136 protruding upward from between the two rows of probe holes 132 and 134 on the upper surface. The noise shielding unit 136 can more reliably shield noise by shielding between the two rows of the terminals to be inspected 12 and 14 at the time of inspection.

導電性ブロック１３０は、下部面に、第１列の信号及び接地プローブ孔１３２，１３４と第２列の信号及び接地プローブ孔１３２，１３４との間から下方延長して突出する下部ノイズ遮蔽部１３７を備える。下部ノイズ遮蔽部１３７には、第１列の２個の接地プローブ孔１３４からそれぞれ第２列の２個の接地プローブ孔１３４に向かって横に延びる、限定されない形態の接地突起１３８を有する。１対の接地突起１３８は、接地用プローブ１２０が接触する検査回路の接地端子（パッド）（図示せず）に接触するためのものである。接地突起１３８は、検査回路の接地パッドの形状やデザインに応じて１個又は３個以上でよく、その形状が互いに異なってもよい。   The conductive block 130 has a lower noise shielding part 137 protruding downward from a space between the first row of signal and ground probe holes 132 and 134 and the second row of signal and ground probe holes 132 and 134. Is provided. The lower noise shielding portion 137 has a grounding protrusion 138 of an unlimited form extending laterally from the two grounding probe holes 134 in the first row to the two grounding probe holes 134 in the second row. The pair of grounding protrusions 138 are for contacting a grounding terminal (pad) (not shown) of the inspection circuit with which the grounding probe 120 contacts. The number of the grounding protrusions 138 may be one or three or more depending on the shape and design of the grounding pad of the inspection circuit, and the shapes may be different from each other.

絶縁ハウジング１４０は、導電性ブロック１３０を収容する導電性ブロック収容部１４１と、インサート１５０を収容するインサート収容部１４２を備える。導電性ブロック１３０は、信号用プローブ１１０と接地用プローブ１２０が挿入された状態で絶縁ハウジング１４０に収容される。導電性ブロック収容部１４１は、上側には、信号用プローブ１１０と接地用プローブ１２０の上部プランジャーが通過する上部プランジャー通過孔１４３と、ノイズ遮蔽部１３６が通過する遮蔽部通過部とが形成された遮断壁１４５が設けられている。上部プランジャー通過孔１４３は、バレルが収容される大口径部１４６、及びプランジャーが通過する小口径部１４７で構成されている。このため、バレルは遮断壁１４５を通過せず遮断壁１４５に支持される。ここで、遮断壁１４５は、絶縁ハウジング１４０と分離されている状態で絶縁ハウジング１４０に結合することができる。導電性ブロック収容部１４１は、下方から導電性ブロック１３０自体が入るように開放されている。インサート収容部１４２は、上部プランジャー通過孔１４３と第１遮蔽部通過部１４４が形成された遮断壁１４５に相応する位置の上側に形成されている。   The insulating housing 140 includes a conductive block housing 141 that houses the conductive block 130 and an insert housing 142 that houses the insert 150. The conductive block 130 is housed in the insulating housing 140 with the signal probe 110 and the ground probe 120 inserted. The upper part of the conductive block housing part 141 has an upper plunger passage hole 143 through which the upper plungers of the signal probe 110 and the ground probe 120 pass, and a shielding part passage part through which the noise shielding part 136 passes. A blocking wall 145 is provided. The upper plunger passage hole 143 includes a large-diameter portion 146 in which the barrel is housed, and a small-diameter portion 147 through which the plunger passes. Therefore, the barrel does not pass through the blocking wall 145 and is supported by the blocking wall 145. Here, the blocking wall 145 may be coupled to the insulating housing 140 while being separated from the insulating housing 140. The conductive block accommodating portion 141 is open so that the conductive block 130 itself can be inserted from below. The insert accommodating portion 142 is formed above a position corresponding to the blocking wall 145 where the upper plunger passage hole 143 and the first shielding portion passage portion 144 are formed.

インサート１５０は、前記遮断壁１４５に相応する位置に、第２上部プランジャー通過孔１５３と第２遮蔽部通過部１５４が形成された底部１５５を有する。インサート１５０は、インサート１５０の底部１５５と絶縁ハウジング１４０の遮断壁１４５との間には４個のバネ１７０が介在されてフローティング状態を維持する。インサート１５０は両側面に、垂直に延在し、係止突段１５８を有する溝部１５９が形成されている。インサート１５０はバネ１７０の弾性力によって離脱しないように離脱防止ピン１８０によって拘束される。すなわち、インサート１５０は、離脱防止ピン１８０の頭が前記溝部１５９にはめ込まれた状態で、バネ１７０によって弾性的に溝部１５９内で上下運動する。   The insert 150 has a bottom part 155 having a second upper plunger passage hole 153 and a second shielding part passage part 154 formed at a position corresponding to the blocking wall 145. The insert 150 maintains a floating state with four springs 170 interposed between the bottom 155 of the insert 150 and the blocking wall 145 of the insulating housing 140. The insert 150 has grooves 159 that extend vertically and have locking projections 158 on both sides. The insert 150 is restrained by a separation preventing pin 180 so as not to be separated by the elastic force of the spring 170. That is, the insert 150 is resiliently moved up and down in the groove 159 by the spring 170 in a state where the head of the separation preventing pin 180 is fitted in the groove 159.

下部カバー１６０は、絶縁ハウジング１４０の導電性ブロック収容部１４１の開放された下部をカバーする。下部カバー１６０は、信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０の下部プランジャーが通過する下部プランジャー通過孔１６３と、下部ノイズ遮蔽部１３７が通過する第３遮蔽部通過部１６４が形成されている。下部プランジャー通過孔１６３は、バレルが収容される第２大口径部１６６、及び下部プランジャーが通過する第２小口径部１６７で構成されている。このため、バレルは下部カバー１６０を通過せず下部カバー１６０に支持される。   The lower cover 160 covers an open lower part of the conductive block housing part 141 of the insulating housing 140. The lower cover 160 has a lower plunger passage hole 163 through which the lower plungers of the signal probe 110 and the grounding probe 120 pass, and a third shield passage portion 164 through which the lower noise shield 137 passes. The lower plunger passage hole 163 includes a second large-diameter portion 166 in which the barrel is accommodated, and a second small-diameter portion 167 through which the lower plunger passes. Therefore, the barrel is supported by the lower cover 160 without passing through the lower cover 160.

図６は、検査時の検査装置１００の状態を示す断面図である。検査時にはインサート１５０に挿入された被検査体、例えば３相インターフェース１０を押下すれば、インサート１５０がバネ１７０を圧縮しながら下方移動する。したがって、３相インターフェース１０の２列端子間の空間にノイズ遮蔽部１３６が収容され、２列端子のうち信号端子１２の列と列の間を遮蔽することができる。図６で、信号用プローブ１１０は、テフロンのような絶縁チューブで包まれて導電性ブロック１３０に接触している状態が示されている。   FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state of the inspection device 100 at the time of inspection. At the time of inspection, if a test object inserted into the insert 150, for example, the three-phase interface 10, is pressed, the insert 150 moves downward while compressing the spring 170. Therefore, the noise shielding unit 136 is accommodated in the space between the two-row terminals of the three-phase interface 10, and it is possible to shield between the rows of the signal terminals 12 among the two-row terminals. FIG. 6 shows a state in which the signal probe 110 is wrapped in an insulating tube such as Teflon and is in contact with the conductive block 130.

接地プローブ１２０は導電性ブロック１４０に電気的に接触するので、導電性ブロック１４０は全体的に接地状態を維持する。その結果、導電性ブロック１４０を電気的に非接触状態で通過する信号用プローブ１１０の間にノイズ遮蔽のための環境を作ることができる。   Since the ground probe 120 is in electrical contact with the conductive block 140, the conductive block 140 maintains the ground state as a whole. As a result, an environment for shielding noise can be created between the signal probes 110 passing through the conductive block 140 in a non-contact state.

上述によれば、本発明の検査装置は、被検査体の端子に、例えば、モバイル装置に使われる小型カメラモジュールの３相インターフェース１０に、高周波テスト動作時のノイズを効果的に遮蔽することができる。   According to the above description, the inspection apparatus of the present invention can effectively shield noise during a high-frequency test operation to terminals of a device to be inspected, for example, to the three-phase interface 10 of a small camera module used in a mobile device. it can.

以上、本発明を限られた例示的実施例及び図面を用いて説明したが、本発明は上記の例示的実施例に限定されるものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者にとっては、以上の記載から様々な修正及び変形が可能である。   As described above, the present invention has been described using the limited exemplary embodiments and the drawings. However, the present invention is not limited to the above-described exemplary embodiments, and those having ordinary knowledge in the field to which the present invention pertains. Various modifications and variations are possible from the above description.

したがって、本発明の範囲は、説明された例示的実施例に限定されてはならず、後述する特許請求の範囲及びその同等物によって定められるべきである。   Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described exemplary embodiments, but should be defined by the claims set forth below, and equivalents thereof.

１００ 検査装置
１１０ 信号用プローブ
１２０ 接地用プローブ
１３０ 導電性ブロック
１３６ 上部ノイズ遮蔽部
１３７ 下部ノイズ遮蔽部
１３８ 接地突起
１４０ 絶縁ハウジング
１５０ インサート
１６０ 下部カバー DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Inspection apparatus 110 Signal probe 120 Grounding probe 130 Conductive block 136 Upper noise shielding part 137 Lower noise shielding part 138 Grounding protrusion 140 Insulating housing 150 Insert 160 Lower cover

Claims (7)

カメラモジュール検査装置であって、
信号用プローブと、
接地用プローブと、
前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、
前記導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングと、
を備えることを特徴とするカメラモジュール検査装置。 A camera module inspection device,
A signal probe,
A grounding probe,
A conductive probe having a signal probe hole formed so that the signal probe passes therethrough in an electrically non-contact state, and a ground probe hole formed so that the ground probe passes in an electrically contact state. Sex block,
An insulating housing that houses the conductive block and supports both ends of the signal probe,
A camera module inspection device comprising: 前記導電性ブロックは、前記導電性ブロックから上方に突出し、前記絶縁ハウジングの上部プレートを通過してカメラモジュールの端子の列の間に延長する上部ノイズ遮蔽部を有することを特徴とする、請求項１に記載のカメラモジュール検査装置。   The method of claim 1, wherein the conductive block has an upper noise shield protruding upward from the conductive block and extending between a row of terminals of a camera module through an upper plate of the insulating housing. 2. The camera module inspection device according to 1. 前記カメラモジュールを収容する被検査体収容部と、前記信号用プローブの第１端部及び前記接地用プローブの第１端部が通過する多数のプローブ通過孔が設けられた底部とを有し、前記絶縁ハウジング上に弾性的にフローティングされたインサートをさらに備えることを特徴とする、請求項２に記載のカメラモジュール検査装置。   An inspection object housing part that houses the camera module, and a bottom part provided with a number of probe passage holes through which the first end of the signal probe and the first end of the grounding probe pass; 3. The camera module inspection device according to claim 2, further comprising an insert that is elastically floated on the insulating housing. 前記絶縁ハウジングの上部プレート及び前記インサートの底部はそれぞれ、前記上部ノイズ遮蔽部が通過する第１遮蔽部通過部及び第２遮蔽部通過部を有することを特徴とする、請求項３に記載のカメラモジュール検査装置。   4. The camera according to claim 3, wherein the upper plate of the insulating housing and the bottom of the insert respectively have a first shielding portion passing portion and a second shielding portion passing portion through which the upper noise shielding portion passes. 5. Module inspection device. 前記信号用プローブの第２端部及び前記接地用プローブの第２端部が通過する多数の第２プローブ通過孔を有する下部カバーをさらに備えることを特徴とする、請求項１に記載のカメラモジュール検査装置。   The camera module according to claim 1, further comprising a lower cover having a plurality of second probe passage holes through which the second end of the signal probe and the second end of the grounding probe pass. Inspection equipment. 前記導電性ブロックは、前記導電性ブロックから下方に突出し及び前記多数の信号用プローブの列の間に延長する下部ノイズ遮蔽部を有し、
前記下部カバーは、前記下部ノイズ遮蔽部が通過する第３遮蔽部通過部を有することを特徴とする、請求項５に記載のカメラモジュール検査装置。 The conductive block has a lower noise shield protruding downward from the conductive block and extending between the rows of the plurality of signal probes.
The camera module inspection device according to claim 5, wherein the lower cover has a third shielding part passing part through which the lower noise shielding part passes. 前記下部ノイズ遮蔽部は、前記接地プローブが接触する検査回路の接地端子に接触する少なくとも一つの接地突起を有することを特徴とする、請求項６に記載のカメラモジュール検査装置。   7. The camera module inspection device according to claim 6, wherein the lower noise shielding unit has at least one ground protrusion that contacts a ground terminal of the inspection circuit that the ground probe contacts.
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