JP2019510350A - イオン光学デバイス - Google Patents
イオン光学デバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019510350A JP2019510350A JP2018550606A JP2018550606A JP2019510350A JP 2019510350 A JP2019510350 A JP 2019510350A JP 2018550606 A JP2018550606 A JP 2018550606A JP 2018550606 A JP2018550606 A JP 2018550606A JP 2019510350 A JP2019510350 A JP 2019510350A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- optical device
- ion optical
- ion
- mass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
- H01J49/429—Scanning an electric parameter, e.g. voltage amplitude or frequency
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/403—Time-of-flight spectrometers characterised by the acceleration optics and/or the extraction fields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/422—Two-dimensional RF ion traps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/422—Two-dimensional RF ion traps
- H01J49/4225—Multipole linear ion traps, e.g. quadrupoles, hexapoles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
Abstract
Description
Claims (15)
- 空間内の第1の方向の2つの側に互いに対向して配置され、前記第1の方向に沿って延びる、閉込め電極ユニットの1つまたは複数のペアと、
前記第1の方向の上流に位置し、前記第1の方向に沿ってイオンを導入するためのイオン入口と、
互いに逆の高周波電圧を閉込め電極ユニットのペアにそれぞれ印加し、閉込め電極ユニットに、前記第1の方向に対してほぼ垂直な第2の方向に分布された複数のDC電位を形成し、前記第1の方向の長さの少なくとも一部にわたって前記第2の方向にポテンシャル障壁を形成するための電力供給デバイスと、
前記第2の方向におけるポテンシャル障壁の2つの側において前記空間内に位置する、少なくとも1つの第1のエリアおよび少なくとも1つの第2のエリアと、
前記ポテンシャル障壁を変化させるように前記電力供給デバイスの出力を制御するために、前記電力供給デバイスに接続された制御デバイスであって、前記第1のエリア内に移送または貯蔵されたイオンが、前記イオンの質量電荷比または移動度に基づいて異なる方法で、ポテンシャル障壁を通して前記第2のエリアに移送されるように操作し、前記第1の方向に沿っての移送を継続する、制御デバイスと、を備えた、イオン光学デバイス。 - 前記制御デバイスは、前記電力供給デバイスの出力振幅または周波数を操作して、前記ポテンシャル障壁の位置、高さ、または傾斜方向を調整するために使用されることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 前記第2のエリア内のイオンは、前記第1の方向に沿って前記イオン光学デバイスから放出されることになることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 前記第2のエリアの下流に配置され、前記イオン光学デバイスの出口に接続された、前記第2のエリア内のイオンをイオン光学デバイスの外に放出するための抽出電極ユニットをさらに備えている、請求項3に記載のイオン光学デバイス。
- イオンの放出に影響するために使用される周期的パルス電圧が、前記抽出電極ユニットに印加されることを特徴とする、請求項4に記載のイオン光学デバイス。
- 前記イオン光学デバイスの後の段階に、前記制御デバイスが接続された質量分析装置が設けられ、前記制御デバイスは、前記電力供給デバイスおよび前記質量分析装置を、放出のために前記第2のエリアに移送されるイオンの質量電荷比または移動度を、前記質量分析装置に関して前記制御デバイスによって設定された、分析を必要とするイオンの質量にマッチするように制御するために使用されることを特徴とする、請求項3に記載のイオン光学デバイス。
- 各閉込め電極ユニットは、前記第2の方向に沿って配置された複数の電極を備え、逆相の高周波電圧とDC電圧は、隣接する電極に印加され、2つのペアになっている閉込め電極ユニットの前記電極は、1対1のペアを形成し、逆相の高周波電圧は、2つのペアになっている電極にそれぞれ印加されることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 各閉込め電極ユニットの電極は、平行に離間していることを特徴とする、請求項7に記載のイオン光学デバイス。
- 各閉込め電極ユニットは、4以上の電極を備えていることを特徴とする、請求項7に記載のイオン光学デバイス。
- 前記空間内に衝突ガスが存在することを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 前記衝突ガスは、0.1Paから10Paの範囲の圧力を有することを特徴とする、請求項10に記載のイオン光学デバイス。
- 0度より大きく50度より小さい開角度が、前記第1の方向においてDC侵入場を導入するため、および、前記第1の方向における下流のイオンを圧縮するとともに移送するために、前記ペアになっている閉込め電極ユニット間に形成されていることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 0度より大きく20度以下の開角度が、ペアになっている閉込め電極ユニット間に形成されていることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 前記第1の方向の2つの端部におけるペアになっている閉込め電極ユニット間の開距離の比が1から2.8であることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
- 前記第1の方向の2つの端部におけるペアになっている閉込め電極ユニット間の開距離の比が1.9から2.4であることを特徴とする、請求項1に記載のイオン光学デバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610260015.0A CN107305833B (zh) | 2016-04-25 | 2016-04-25 | 离子光学装置 |
CN201610260015.0 | 2016-04-25 | ||
PCT/JP2017/013345 WO2017187880A1 (en) | 2016-04-25 | 2017-03-30 | Ion optical device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019510350A true JP2019510350A (ja) | 2019-04-11 |
JP6601575B2 JP6601575B2 (ja) | 2019-11-06 |
Family
ID=58664759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018550606A Active JP6601575B2 (ja) | 2016-04-25 | 2017-03-30 | イオン光学デバイス |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10763098B2 (ja) |
JP (1) | JP6601575B2 (ja) |
CN (1) | CN107305833B (ja) |
DE (1) | DE112017002161B4 (ja) |
WO (1) | WO2017187880A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11244817B2 (en) * | 2018-05-31 | 2022-02-08 | Shimadzu Corporation | Analytical device, analysis method and program |
US11728153B2 (en) * | 2018-12-14 | 2023-08-15 | Thermo Finnigan Llc | Collision cell with enhanced ion beam focusing and transmission |
CN110310881A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-10-08 | 宁波大学 | 用于离子串级质谱分析的碰撞诱导解离池及其使用方法 |
CN113707532A (zh) * | 2020-05-21 | 2021-11-26 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪、质谱方法以及检测*** |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008530748A (ja) * | 2005-02-14 | 2008-08-07 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2009538501A (ja) * | 2006-05-22 | 2009-11-05 | 株式会社島津製作所 | 平行平板電極配置装置及び方法 |
JP2010541125A (ja) * | 2007-09-21 | 2010-12-24 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | イオンガイド装置、イオン誘導方法、及び、質量分析方法 |
WO2016067373A1 (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-06 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置 |
JP2018520481A (ja) * | 2015-07-23 | 2018-07-26 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4223937B2 (ja) * | 2003-12-16 | 2009-02-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US7323683B2 (en) | 2005-08-31 | 2008-01-29 | The Rockefeller University | Linear ion trap for mass spectrometry |
GB0522327D0 (en) * | 2005-11-01 | 2005-12-07 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB0524042D0 (en) | 2005-11-25 | 2006-01-04 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US7582864B2 (en) | 2005-12-22 | 2009-09-01 | Leco Corporation | Linear ion trap with an imbalanced radio frequency field |
DE102006040000B4 (de) | 2006-08-25 | 2010-10-28 | Bruker Daltonik Gmbh | Speicherbatterie für Ionen |
US7838826B1 (en) * | 2008-08-07 | 2010-11-23 | Bruker Daltonics, Inc. | Apparatus and method for parallel flow ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry |
JP2011066079A (ja) | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Toshiba Corp | フレア補正方法及び半導体デバイスの製造方法 |
JP5314603B2 (ja) | 2010-01-15 | 2013-10-16 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析装置 |
GB201000852D0 (en) | 2010-01-19 | 2010-03-03 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB2495667A (en) * | 2010-07-09 | 2013-04-17 | Aldan Asanovich Saparqaliyev | Mass spectrometry method and devcie for implementing same |
US8581177B2 (en) | 2011-04-11 | 2013-11-12 | Thermo Finnigan Llc | High duty cycle ion storage/ion mobility separation mass spectrometer |
US8299443B1 (en) | 2011-04-14 | 2012-10-30 | Battelle Memorial Institute | Microchip and wedge ion funnels and planar ion beam analyzers using same |
GB201111569D0 (en) * | 2011-07-06 | 2011-08-24 | Micromass Ltd | Apparatus and method of mass spectrometry |
GB201114735D0 (en) | 2011-08-25 | 2011-10-12 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US8637816B1 (en) * | 2012-07-31 | 2014-01-28 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for MS-MS-analysis |
US8835839B1 (en) | 2013-04-08 | 2014-09-16 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation device |
-
2016
- 2016-04-25 CN CN201610260015.0A patent/CN107305833B/zh active Active
-
2017
- 2017-03-30 WO PCT/JP2017/013345 patent/WO2017187880A1/en active Application Filing
- 2017-03-30 JP JP2018550606A patent/JP6601575B2/ja active Active
- 2017-03-30 US US16/088,553 patent/US10763098B2/en active Active
- 2017-03-30 DE DE112017002161.8T patent/DE112017002161B4/de active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008530748A (ja) * | 2005-02-14 | 2008-08-07 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2009538501A (ja) * | 2006-05-22 | 2009-11-05 | 株式会社島津製作所 | 平行平板電極配置装置及び方法 |
JP2010541125A (ja) * | 2007-09-21 | 2010-12-24 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | イオンガイド装置、イオン誘導方法、及び、質量分析方法 |
WO2016067373A1 (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-06 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置 |
JP2018520481A (ja) * | 2015-07-23 | 2018-07-26 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190080895A1 (en) | 2019-03-14 |
CN107305833B (zh) | 2019-05-28 |
DE112017002161B4 (de) | 2022-09-29 |
CN107305833A (zh) | 2017-10-31 |
US10763098B2 (en) | 2020-09-01 |
DE112017002161T5 (de) | 2019-01-10 |
JP6601575B2 (ja) | 2019-11-06 |
WO2017187880A1 (en) | 2017-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10796893B2 (en) | RF ion guide with axial fields | |
US20230386818A1 (en) | Multi-pass mass spectrometer | |
US7456388B2 (en) | Ion guide for mass spectrometer | |
US11621156B2 (en) | Multi-reflecting time of flight mass analyser | |
JP5005094B2 (ja) | イオンガイド装置、イオン誘導方法、及び、質量分析方法 | |
US6900430B2 (en) | Mass spectrometer and measurement system using the mass spectrometer | |
JP6601575B2 (ja) | イオン光学デバイス | |
DE112010005660B4 (de) | lonenfallen-Massenspektrometer | |
DE112007002694T5 (de) | Ionentransferanordnung | |
EP2665085A2 (en) | Apparatus and method for controlling ions | |
WO2014169754A1 (zh) | 离子导引装置以及离子导引方法 | |
US10741379B2 (en) | Mass spectrometer, ion optical device, and method for ion manipulation in mass spectrometer using trap with concentric ring electrodes | |
US8981287B2 (en) | Ion analysis apparatus and method | |
US20230118221A1 (en) | Ion Transport between Ion Optical Devices at Different Gas Pressures | |
US10395914B2 (en) | Efficient ion trapping | |
CN112514029B (zh) | 具有高占空比的多程质谱仪 | |
CN112514029A (zh) | 具有高占空比的多程质谱仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190709 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190830 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190910 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190923 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6601575 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |