JP2019191116A - 放射線検出装置および検査装置 - Google Patents
放射線検出装置および検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019191116A JP2019191116A JP2018087485A JP2018087485A JP2019191116A JP 2019191116 A JP2019191116 A JP 2019191116A JP 2018087485 A JP2018087485 A JP 2018087485A JP 2018087485 A JP2018087485 A JP 2018087485A JP 2019191116 A JP2019191116 A JP 2019191116A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- shielding member
- radiation shielding
- detection apparatus
- phosphor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 203
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 21
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 206010073306 Exposure to radiation Diseases 0.000 description 1
- MCVAAHQLXUXWLC-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[S-2].[Gd+3].[Gd+3] Chemical compound [O-2].[O-2].[S-2].[Gd+3].[Gd+3] MCVAAHQLXUXWLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- BAZGIOYKWQZSCP-UHFFFAOYSA-N lutetium sulfur monoxide Chemical compound [Lu].O=S BAZGIOYKWQZSCP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000006335 response to radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
【課題】放射線検出装置の品質の向上を比較的簡素な構成で実現する。【解決手段】放射線検出装置は、放射線を検出するための複数のセンサ部が所定方向に配列されたセンサ基板と、前記センサ基板から前記複数のセンサ部の配列方向および前記放射線の入射方向の双方と交差する方向に離間した位置に配置され、放射線を光に変換可能に構成された蛍光体と、前記センサ基板の前記配列方向側方に配置された第1の放射線遮蔽部材と、前記センサ基板と前記蛍光体との間に配置され、前記蛍光体の光を前記複数のセンサ部に通過可能に構成された第2の放射線遮蔽部材と、を備え、前記交差する方向で見たときに、前記第2の放射線遮蔽部材は前記第1の放射線遮蔽部材と重なるように位置している。【選択図】図1
Description
本発明は、放射線検出装置および検査装置に関する。
特許文献1には、放射線検出装置に入射した放射線が該装置の各部材で散乱して該装置から漏れ出すことにより医師等のユーザが被曝することを防止するため、放射線遮蔽部材を配置することが記載されている。
特許文献2には、放射線を光に変換する蛍光体と、該光を検出する複数のセンサ部が配列されたラインセンサと、を備える放射線検出装置が記載されている。多くの部材は一般に放射線に晒されることによって劣化するが、このことは、センサ部についても同様であり、例えば、上記散乱に起因する放射線によってセンサ特性が変動することがある。特許文献2の構成の場合、上記散乱に起因する放射線量はラインセンサの端部領域において比較的(例えば中央部領域に比べて)大きくなると考えられ、そのため、ラインセンサの特性が不均一になる可能性があった。このことは、放射線検出装置の品質の低下の原因となりうるため、構造上の改善の余地があった。
本発明は、放射線検出装置の品質の向上を比較的簡素な構成で実現することを目的とする。
本発明の一つの側面は放射線検出装置にかかり、前記放射線検出装置は、放射線を検出するための複数のセンサ部が所定方向に配列されたセンサ基板と、前記センサ基板から前記複数のセンサ部の配列方向および前記放射線の入射方向の双方と交差する方向に離間した位置に配置され、放射線を光に変換可能に構成された蛍光体と、前記センサ基板の前記配列方向側方に配置された第1の放射線遮蔽部材と、前記センサ基板と前記蛍光体との間に配置され、前記蛍光体の光を前記複数のセンサ部に通過可能に構成された第2の放射線遮蔽部材と、を備え、前記交差する方向で見たときに、前記第2の放射線遮蔽部材は前記第1の放射線遮蔽部材と重なるように位置していることを特徴とする。
本発明によれば、放射線検出装置の品質を向上させることができる。
以下、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明する。なお、各図は、構造ないし構成を説明する目的で記載された模式図に過ぎず、図示された各部材の寸法は必ずしも現実のものを反映するものではない。また、各図において、同一の部材または同一の要素には同一の参照番号を付しており、以下、重複する内容については説明を省略する。
[第1実施形態]
図1(A)は、第1実施形態に係る放射線検出装置1の構成を示す斜視図である。本実施形態では、放射線検出装置1は長尺状に延設され、放射線ラインセンサ等と表現されてもよい。
図1(A)は、第1実施形態に係る放射線検出装置1の構成を示す斜視図である。本実施形態では、放射線検出装置1は長尺状に延設され、放射線ラインセンサ等と表現されてもよい。
後述の他の図においても同様であるが、図中には、構造の理解の容易化のため、互いに交差あるいは実質的に直交するX方向、Y方向およびZ方向を示す。X方向は、上記長尺状の放射線検出装置1の短手方向に対応し、Y方向は該装置1の長手方向に対応し、また、Z方向は該装置1の高さ方向に対応する。本明細書では、説明の簡易化のため、放射線検出装置1内の2以上の部材または要素間の相対的な位置関係を示す表現が用いられる。例えば、本明細書では、+X/−X方向にシフトした位置関係を「X方向側方」等と表現する場合があるが、短手方向側方等と表現されてもよい。また、本明細書では、+Y/−Y方向にシフトした位置関係を「Y方向側方」等と表現する場合があるが、長手方向側方等と表現されてもよい。また、本明細書では、+Z方向にシフトした位置関係を「上」、「上方」等と表現し、また、−Z方向にシフトした位置関係を「下」、「下方」等と表現する場合がある。
図1(B)は、切断面をX−Z平面(垂直面)とする放射線検出装置1の断面構造を示す。図1(C)は、図1(B)を+Y方向で見た側面図を示す。図2(A)は、切断面をX−Y平面(水平面)とする放射線検出装置1の断面構造を示す。図2(B)は、図2(A)を−Z方向で見た上面図を示す。放射線検出装置1は、筐体10、センサ基板11、蛍光体(シンチレータ)12、及び、放射線遮蔽部材131〜133を備える。
筐体10は、1以上の部材で構成されて放射線検出装置1を構成する部材ないし要素を直接的/間接的に支持し、支持体等とも表現される。筐体10は、その形状によっては、支持フレーム、或いは単にフレーム等と表現されてもよい。本実施形態では、筐体10は、センサ基板11を支持する第1の支持部材101、及び、蛍光体12を支持する第2の支持部材102を含む。筐体10、ここでは支持部材101及び102には、樹脂等の絶縁性の材料が用いられてもよいが、より好適には、放射線耐性の比較的高い材料が用いられるとよい。例えば、タングステン(W)、鉛(Pb)等、放射線を遮蔽(ないし吸収)可能な粒子を含有する材料、例えばタングステン含有樹脂、が好適に用いられうる。
尚、本実施形態では、支持部材101及び102は、締結部材、接着剤等により相互に固定されるものとするが、他の実施形態として、支持部材101及び102は一体成形されてもよい。
詳細については後述とするが、支持部材101は、Y方向で向かい合う一対の端部101Ea及び101Ebを含み、図2(A)及び図2(B)に示されるように、それら一対の端部101Ea及び101Ebの間においてセンサ基板11を支持する。端部101Ebについても同様とするが、本実施形態では、図2(B)に示されるように、端部101Eaの厚さ(Y方向での厚さ)T1は、端部101Eaからセンサ基板11までの距離L1よりも大きいものとする。尚、支持部材101は、一対の端部101Ea及び101Ebを接続する側壁部(Y−Z平面を形成する板部)および底面部(X−Y平面を形成する板部)を更に含み、支持部材101の各部分と放射線遮蔽部材132とで形成される空間にセンサ基板11を収容可能となっている。
支持部材102は、支持部材101のX方向側方に配置されて蛍光体12を支持する。本実施形態では、支持部材102の上面は支持部材101を向くように傾斜しており、よって、蛍光体12は傾斜姿勢で固定される。尚、傾斜とは水平でない且つ垂直でない状態をいい、支持部材102の上面の傾斜角(水平面との成す角)は、例えば10〜80度の範囲内、好適には20〜70度の範囲内、とすればよい。
センサ基板11は、本実施形態では垂直姿勢(面方向がY−Z平面と平行となる姿勢)で固定されるものとする。センサ基板11は、例えばエポキシガラスで構成されたプリント基板であり、センサ基板11上にはラインセンサ111が形成されている。ラインセンサ111は、Y方向に延設されており、複数のセンサ部が1以上の列を形成するようにY方向に配列されて成る。
ラインセンサ111の例としてはCCD/CMOSイメージセンサ等が挙げられ、上記複数のセンサ部は、例えばフォトダイオード等の光電変換素子、及び、該光電変換素子を駆動する回路部を含む。尚、この回路部の概念には、光電変換素子と共に画素を形成して該光電変換素子から信号を読み出す1以上のトランジスタの他、それ/それらを制御するための画素外の回路部、例えばシフトレジスタ、ラッチ回路、デコーダ等、も含まれる。
蛍光体12は、放射線を光に変換可能に構成される。蛍光体12の材料としては、例えば、酸硫化ガドリニウム(Gd2O2S:Tb(GOS))粒子を樹脂等のバインダに含有させたものを用いることができる。蛍光体12の材料としては、GOS粒子の他、酸硫化ルテチウム(Lu2O2S:Tb(LOS))粒子等、公知の他の蛍光体粒子を含有する材料が用いられてもよい。このような構成により、蛍光体12は、放射線検出装置1に放射線が入射したことに応じて、その線量に応じた強度(光量)の光を発生する。この光は、シンチレーション光とも称される。
放射線遮蔽部材131〜133には、筐体10、ここでは支持部材101及び102、よりも放射線透過率の低い材料で構成される。例えば、放射線遮蔽部材101〜103は、タングステン、鉛等、放射線を遮蔽可能な材料で構成される。或いは、放射線遮蔽部材101〜103は、放射線を遮蔽可能な粒子(例えばタングステン、鉛等の粒子)を含有する材料(例えばタングステン含有樹脂)で構成されてもよく、その場合、該粒子の含有量が筐体10より大きくなるように構成されればよい。
第1の放射線遮蔽部材131は、一対の端部101Ea及び101Ebのそれぞれとセンサ基板11との間に配置される。本実施形態では、放射線遮蔽部材131は、X−Z方向と平行姿勢で設置された板状部材である。よって、センサ基板11のY方向両側方において2つの放射線遮蔽部材131が互いに向かい合って設置されることとなる。本実施形態では、放射線遮蔽部材131は、端部101Ea(又は101Eb)に対して接着剤により固定される。詳細については後述とするが、放射線遮蔽部材131は、X方向で見たときに(X方向での視点において)蛍光体12と重なるように配置される。
第2の放射線遮蔽部材132は、X方向におけるセンサ基板11および蛍光体12の間かつY方向における一対の端部101Ea及び101Ebの間に配置される。本実施形態では、放射線遮蔽部材132は、支持部材101の端部101Ea及び101Eb並びに底面部に対して接着剤により固定される。放射線遮蔽部材132は、蛍光体12からのシンチレーション光を通過可能に構成され、本実施形態では、Y方向に延び且つ光が通過可能な開口(スリット孔)132OPを有する。
また、詳細については後述とするが、放射線遮蔽部材132は、X方向で見たときに放射線遮蔽部材131と重なるように位置している。また、放射線遮蔽部材131と放射線遮蔽部材132とは直接的に接触していてもよいし、間接的に(接着剤等を介して)接触していてもよい。
第3の放射線遮蔽部材133は、図1(A)等に示されるように、支持部材101上に天板として配置され、支持部材101および放射線遮蔽部材132と共に、それらにより形成される空間内にセンサ基板11及びラインセンサ111を収容する。放射線遮蔽部材133は、Z方向で見たときに(Z方向での視点において)放射線遮蔽部材131及び132の双方と重なるように配置される。
上述の構造により、放射線検出装置1は放射線(典型的にはエックス線が用いられるが、アルファ線、ベータ線等、他の電磁波が用いられてもよい。)を検出可能である。本実施形態では、放射線は、−Z方向に入射するものとし、蛍光体12により光(シンチレーション光)に変換される。シンチレーション光は、蛍光体12から+X方向に出射され、開口132OPを通過してセンサ基板11に向かい、ラインセンサ111により検出されることとなる。放射線検出装置1は、ラインセンサ111による検出結果に基づいて放射線画像データを生成し、これを外部装置(例えばディスプレイ、汎用コンピュータ等)に出力する。
前述のとおり蛍光体12は傾斜姿勢で固定され、これにより、放射線の入射方向である−Z方向とは異なる方向である+X方向に、即ちセンサ基板11に向けて、シンチレーション光を出射可能となっている。これを適切に実現するため、支持部材102の上面の傾斜角は、蛍光体12と開口132OPとの相対位置、蛍光体12のシンチレーション光の指向性、開口132OPのサイズ(Z方向のサイズ)等に基づいて、好適な値が選択されればよい。付随的に、より適切にシンチレーション光をセンサ基板11に導くため、開口132OPにはロッドレンズアレイ等の導光部が配置されてもよい。
ところで、放射線検査装置1に照射された放射線は、放射線検査装置1の各部材において多様な方向に散乱する。このような放射線は散乱線、散乱放射線等とも称される。図2(B)には、支持部材101の一端部101Eb及びその周辺領域の拡大模式図が更に示される。この拡大模式図において一点鎖線の矢印で示されるように、−Z方向に入射した放射線の一部は、蛍光体12及び支持部材102において散乱し、例えば端部101Ebに向かって散乱されうる(一次散乱)。また、この拡大模式図において二点鎖線の矢印で図示されるように、蛍光体12及び支持部材102からの散乱線の一部は、端部101Ebで更に散乱されうる(二次散乱)。尚、ここでは詳細な説明を省略とするが、実際には放射線検査装置1外からの散乱線(例えば、放射線検査装置1の周辺に配置される不図示の他の装置からの散乱線)も存在しうるため、これに起因する二次散乱も生じうる。上述の一次散乱および二次散乱は端部101Eaにおいても同様に生じうる。
放射線は、蛍光体12に向けて照射されるので、上記一次散乱は蛍光体12及びその周辺部で生じやすい。一次散乱に起因する散乱線の一部はラインセンサ111側に向かって進むため、このことはラインセンサ111に特性変動を生じさせる可能性がある。この特性変動は、例えば、トランジスタ特性(閾値電圧)やセンサ感度(光電変換効率)等の変動、それに起因する出力値(信号値)の変動等が挙げられる。これに対し、本実施形態では、X方向で見たときに放射線遮蔽部材132は放射線遮蔽部材131と重なるように位置しているため、上記一次散乱に起因する散乱線が放射線遮蔽部材131及び132の間からラインセンサ111に漏れ込むこともない。よって、本実施形態によれば、ラインセンサ111の特性均一性を維持可能となり、放射線検出装置の品質の向上を比較的簡素な構成で実現可能となる。
また、上記二次散乱に起因する散乱線は、センサ基板11に入射してラインセンサ111の特性を変動させる可能性がある。放射線遮蔽部材131を配置しない場合には、ラインセンサ111の端部領域において上記散乱線の線量が大きくなり、ラインセンサ111の特性均一性が失われる可能性がある。これに対し、本実施形態によれば、端部101Ea及び101Ebのそれぞれと、センサ基板11との間に放射線遮蔽部材131が配置されているため、上記二次散乱に起因する散乱線がセンサ基板11に入射することもない。よって、本実施形態によれば、ラインセンサ111の特性均一性を維持可能となり、放射線検出装置の品質の向上を比較的簡素な構成で実現可能となる。
放射線検査装置1の周辺における他の装置の配置態様によっては、端部(一端部)101Eaとセンサ基板11との間、及び、端部(他端部)101Ebとセンサ基板11との間、の一方についての放射線遮蔽部材131は省略可能である。即ち、放射線遮蔽部材131は、端部101Eaとセンサ基板11との間および端部101Ebとセンサ基板11との間の少なくとも一方に配置されればよい。
また、蛍光体12は、シンチレーション光の光量均一性の向上のため、開口132OPより長く延設されることから、蛍光体12からの散乱線は比較的大きくなりうる。よって、放射線遮蔽部材131は、X方向で見たときに蛍光体12と重なるように配置されるとよい。
また、放射線の散乱が生じる部材が肉厚であるほど、及び/又は、その部材からの距離が小さいほど、散乱線の線量は大きくなりうる。本実施形態では、端部101Ea及び101Ebのそれぞれは、厚さT1がセンサ基板11までの距離L1より大きい。そのため、本実施形態によれば、上記散乱線がラインセンサ111に与え得た影響は、放射線遮蔽部材131により適切に抑制ないし低減されることとなる。
また、本実施形態では、X方向で見たときに、放射線遮蔽部材132は放射線遮蔽部材131と重なるように位置している。そのため、上記一次散乱に起因する散乱線が放射線遮蔽部材131及び132間からセンサ基板11に漏れ込むこともない。よって、本実施形態によれば、ラインセンサ111の特性均一性を維持可能となり、放射線検出装置の品質の向上を比較的簡素な構成で実現可能となる。
[第2実施形態]
第1実施形態で示された放射線遮蔽部材132は、蛍光体12からの散乱線を遮蔽可能かつシンチレーション光を通過可能に構成されるとよく、例えば、開口132OPには放射線遮蔽用ガラスが設けられてもよい。
第1実施形態で示された放射線遮蔽部材132は、蛍光体12からの散乱線を遮蔽可能かつシンチレーション光を通過可能に構成されるとよく、例えば、開口132OPには放射線遮蔽用ガラスが設けられてもよい。
図3(A)は、本実施形態に係る放射線検出装置1の構成を示す斜視図である。図3(B)は、切断面をX−Z平面とする該装置1の断面構造を+Y方向で見た側面図を示す。図3(C)は、切断面をX−Y平面とする該装置1の断面構造を−Z方向で見た上面図を示す。
放射線検出装置1は、放射線遮蔽部材132の開口132OPを覆うように配置された透光性の板材14を更に備える。この板材14は、シンチレーション光を通過可能かつ放射線を遮蔽可能に構成され、この板材14として、例えば鉛ガラス等の放射線遮蔽用ガラスが用いられる。
本実施形態によれば、シンチレーション光を通過可能かつ放射線を遮蔽可能に構成された板材14を開口132OPに配置することで、蛍光体12からセンサ基板11への散乱線を適切に遮蔽可能となる。よって、本実施形態によれば、第1実施形態同様の効果の加え、蛍光体12からセンサ基板11への散乱線を更に適切に遮蔽可能となり、放射線検出装置の品質の向上に更に有利となる。
尚、板材14は、開口132OP内に配置されてもよいが、開口132OPから+X方向または−X方向にシフトして配置されてもよい。開口132OPにロッドレンズアレイ等の導光部が配置される場合には、板材14は、開口132OPから−X方向にシフトして配置されるとよい。
[第3実施形態]
第1実施形態で図2(B)を参照しながら述べたとおり、蛍光体12からの散乱線は、端部101Ea及び101Ebで更に散乱し、二次散乱を生じる可能性がある。そのため、第1実施形態で示された放射線遮蔽部材131及び132は、互いに係合あるいは嵌合するように設置されるとよい。即ち、放射線遮蔽部材131及び132の一方が他方に対して単に当接するのではなく、一方が他方に対して係合あるいは嵌合し、Y方向で見たときもそれらが互いに重なるとよい。
第1実施形態で図2(B)を参照しながら述べたとおり、蛍光体12からの散乱線は、端部101Ea及び101Ebで更に散乱し、二次散乱を生じる可能性がある。そのため、第1実施形態で示された放射線遮蔽部材131及び132は、互いに係合あるいは嵌合するように設置されるとよい。即ち、放射線遮蔽部材131及び132の一方が他方に対して単に当接するのではなく、一方が他方に対して係合あるいは嵌合し、Y方向で見たときもそれらが互いに重なるとよい。
図4(A)は、本実施形態に係る放射線検出装置1の構成を示す斜視図である。図4(B)は、切断面をX−Y平面とする該装置1の断面構造を示す。図4(C)は、図4(B)を−Z方向で見た上面図を示す。
本実施形態では、図4(B)及び図4(C)に示されるように、放射線遮蔽部材132の放射線遮蔽部材131と近接する部分には切欠き132Cが設けられ、放射線遮蔽部材131の端部は、この切欠き132Cに係合する。本実施形態によれば、放射線遮蔽部材132は、X方向で見たときだけでなく、Y方向で見たときも、放射線遮蔽部材131と重なるように配置される。よって、放射線遮蔽部材131及び132は、2つの面で近接し、即ち、X方向およびY方向の双方で向かい合うこととなる。
本実施形態によれば、二次散乱に伴う端部101Ea及び101Ebからの散乱線が放射線遮蔽部材131及び132の間からセンサ基板11に漏れ込むことを適切に防ぐことができる。よって、本実施形態によれば、放射線検出装置1の品質向上に更に有利である。
本実施形態では、切欠き132Cは略矩形状であるが、他の実施形態として、切欠き132Cは、丸みを帯びた形状であってもよい。更に他の実施形態として、切欠き132Cに代替して、U字状、V字状、W字状等の1以上の凹部が放射線遮蔽部材132に設けられてもよい。その場合、放射線遮蔽部材131及び132は2以上の面で互いに近接して嵌合することとなり、散乱線のセンサ基板11への漏れ込みをより適切に防ぐことが可能となる。更に他の実施形態として、切欠き132C(或いは上記凹部)に代替して、放射線遮蔽部材131に切欠き又は凹部が設けられてもよい。
[適用例]
上述の各実施形態の放射線検出装置1は、所定の検査を行うための検査装置(検査システム)に適用される。この検査装置の例としては、工場等の製造ラインにおける製品検査装置、空港等の搭乗手続の際に用いられる荷物検査装置、医療用の放射線撮像装置等、多様な放射線検査装置が挙げられる。
上述の各実施形態の放射線検出装置1は、所定の検査を行うための検査装置(検査システム)に適用される。この検査装置の例としては、工場等の製造ラインにおける製品検査装置、空港等の搭乗手続の際に用いられる荷物検査装置、医療用の放射線撮像装置等、多様な放射線検査装置が挙げられる。
図5は、放射線検出装置1が適用された検査装置SYのシステム構成の一例を示す。検査装置SYは、放射線検出装置1と、放射線を発生する放射線源2と、それらと通信可能なシステムコントローラ3とを具備する。放射線源2は、システムコントローラ3からの制御信号に基づいて放射線を発生する。放射線検出装置1は、放射線源2から照射されて検査対象OBを通過した放射線を検出する。システムコントローラ3は、放射線検出装置1から放射線画像データを受け取って、該放射線画像データに基づく放射線画像を所定のディスプレイに表示させる。放射線画像データは、放射線検出装置1外で生成されてもよく、他の実施形態として、例えば、放射線検出装置1から受け取った信号群に基づいてシステムコントローラ3により生成されてもよい。このような構成により、検査対象OBについての検査を実現可能となる。
以上の各実施形態では幾つかの好適な態様を例示したが、本発明はこれらの例に限られるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、実施形態の一部が変更され或いは組み合わされてもよい。また、本明細書に記載された個々の用語は、本発明を説明する目的で用いられたものに過ぎず、本発明は、その用語の厳密な意味に限定されるものでないことは言うまでもなく、その均等物をも含みうる。
10:筐体、101:(第1の)支持部材、102:(第2の)支持部材、11:センサ基板、12:蛍光体、131:(第1の)放射線遮蔽部材)、132:(第2の)放射線遮蔽部材。
Claims (11)
- 放射線を検出するための複数のセンサ部が所定方向に配列されたセンサ基板と、
前記センサ基板から前記複数のセンサ部の配列方向および前記放射線の入射方向の双方と交差する方向に離間した位置に配置され、放射線を光に変換可能に構成された蛍光体と、
前記センサ基板の前記配列方向側方に配置された第1の放射線遮蔽部材と、
前記センサ基板と前記蛍光体との間に配置され、前記蛍光体の光を前記複数のセンサ部に通過可能に構成された第2の放射線遮蔽部材と、を備え、
前記交差する方向で見たときに、前記第2の放射線遮蔽部材は前記第1の放射線遮蔽部材と重なるように位置している
ことを特徴とする放射線検出装置。 - 前記第1の放射線遮蔽部材は、前記センサ基板の前記配列方向両側方にそれぞれ配置されている
ことを特徴とする請求項1記載の放射線検出装置。 - 前記センサ基板、前記蛍光体、前記第1の放射線遮蔽部材および前記第2の放射線遮蔽部材を収容する筐体を更に備え、
前記第1の放射線遮蔽部材および前記第2の放射線遮蔽部材は、前記筐体よりも放射線透過率の低い材料で構成されている
ことを特徴とする請求項1または請求項2記載の放射線検出装置。 - 前記第2の放射線遮蔽部材は、更に前記配列方向で見たときも前記第1の放射線遮蔽部材と重なっている
ことを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1項記載の放射線検出装置。 - 前記第1の放射線遮蔽部材は、前記第2の放射線遮蔽部材側の端部において前記第2の放射線遮蔽部材と係合している
ことを特徴とする請求項1から請求項4の何れか1項記載の放射線検出装置。 - 前記第2の放射線遮蔽部材の前記第1の放射線遮蔽部材と近接する部分には凹部が設けられている
ことを特徴とする請求項5記載の放射線検出装置。 - 前記第1の放射線遮蔽部材と前記第2の放射線遮蔽部材とは2以上の面で近接している
ことを特徴とする請求項1から請求項6の何れか1項記載の放射線検出装置。 - 前記第1の放射線遮蔽部材は前記第2の放射線遮蔽部材と接触している
ことを特徴とする請求項1から請求項7の何れか1項記載の放射線検出装置。 - 前記第2の放射線遮蔽部材は、前記蛍光体の光を前記複数のセンサ部に通過させるための開口を有する
ことを特徴とする請求項1から請求項8の何れか1項記載の放射線検出装置。 - 前記第2の放射線遮蔽部材の前記開口を覆うように配置され且つ前記放射線を遮蔽可能な透光性の板材を更に備える
ことを特徴とする請求項9記載の放射線検出装置。 - 請求項1から請求項10の何れか1項記載の放射線検出装置と、
放射線を発生する放射線源と、を具備する
ことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018087485A JP2019191116A (ja) | 2018-04-27 | 2018-04-27 | 放射線検出装置および検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018087485A JP2019191116A (ja) | 2018-04-27 | 2018-04-27 | 放射線検出装置および検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019191116A true JP2019191116A (ja) | 2019-10-31 |
Family
ID=68390026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018087485A Pending JP2019191116A (ja) | 2018-04-27 | 2018-04-27 | 放射線検出装置および検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2019191116A (ja) |
-
2018
- 2018-04-27 JP JP2018087485A patent/JP2019191116A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL2020012B1 (en) | Active pixel radiation detector array and use thereof | |
JP5827856B2 (ja) | カセッテ | |
US9917133B2 (en) | Optoelectronic device with flexible substrate | |
KR20160122068A (ko) | 방사선 이미징 장치 및 이미징 시스템 | |
US9620256B2 (en) | X-ray imaging device including anti-scatter grid | |
KR20160022549A (ko) | 엑스선 검출 장치 | |
JP4911966B2 (ja) | 放射線検出装置および放射線撮像システム | |
JP2015161560A (ja) | 放射線検出装置 | |
JP2018141781A (ja) | 放射線検出器および放射線検出装置 | |
US20140061485A1 (en) | Radiation imaging apparatus, method for manufacturing the same, and radiation imaging system | |
CN101939667B (zh) | 用于检测图像的设备和方法 | |
KR101882351B1 (ko) | 방사선영상기기를 위한 하이브리드 섬광체 | |
JP6116641B2 (ja) | カセッテ | |
JP2019191116A (ja) | 放射線検出装置および検査装置 | |
JP4464998B2 (ja) | 半導体検出器モジュール、および該半導体検出器モジュールを用いた放射線検出装置または核医学診断装置 | |
JP7016287B2 (ja) | 放射線検出装置および検査装置 | |
JP7016286B2 (ja) | 放射線検出器および検査装置 | |
JP2018004570A (ja) | 放射線検出装置及び放射線検出システム | |
JP6718832B2 (ja) | 放射線検出器および放射線検出装置 | |
JP2016151446A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP7023605B2 (ja) | 放射線検出器および放射線検出装置 | |
JP2016128790A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP7496181B1 (ja) | 測定装置および測定方法 | |
US20230135695A1 (en) | Targeted Collimation of Detectors Using Rear Collimators | |
JP2015148446A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線検査装置 |