JP2019169230A - Magnetic tape and magnetic recording and reproducing device - Google Patents
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Landscapes
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Abstract
Description
本発明は、磁気テープおよび磁気記録再生装置に関する。 The present invention relates to a magnetic tape and a magnetic recording / reproducing apparatus.
磁気記録媒体にはテープ状のものとディスク状のものがあり、データストレージ用途には、テープ状の磁気記録媒体、即ち磁気テープが主に用いられている。磁気テープへの情報の記録および／または再生は、通常、磁気テープの表面（磁性層表面）と磁気ヘッド（以下、単に「ヘッド」とも記載する。）とを接触させ摺動させることにより行われる。磁気テープとしては、強磁性粉末および結合剤を含む磁性層が非磁性支持体上に設けられた構成のものが広く用いられている（例えば特許文献１参照）。 There are two types of magnetic recording media, tape-shaped and disk-shaped. For data storage applications, tape-shaped magnetic recording media, ie magnetic tape, are mainly used. Recording and / or reproducing information on a magnetic tape is usually performed by bringing the surface of the magnetic tape (the surface of the magnetic layer) and a magnetic head (hereinafter also simply referred to as “head”) into contact and sliding. . As a magnetic tape, one having a configuration in which a magnetic layer containing a ferromagnetic powder and a binder is provided on a nonmagnetic support is widely used (see, for example, Patent Document 1).
磁気テープに記録された情報を再生する際に、再生信号振幅の部分的な低下（「ミッシングパルス（ｍｉｓｓｉｎｇ ｐｕｌｓｅ）」と呼ばれる。）が発生する頻度が高いほど、エラーレートが増加し磁気テープの信頼性は低下してしまう。そのため、高い信頼性をもって使用可能な磁気テープを提供するためには、ミッシングパルスの発生頻度を低減することが望まれる。 When the information recorded on the magnetic tape is reproduced, the error rate increases as the frequency of partial reduction of the reproduction signal amplitude (referred to as “missing pulse”) increases. Reliability is reduced. Therefore, in order to provide a magnetic tape that can be used with high reliability, it is desirable to reduce the frequency of occurrence of missing pulses.
ところで近年、データストレージ用途に用いられる磁気テープは、温度および湿度が管理されたデータセンターで使用されることがある。一方、データセンターではコスト低減のために省電力化が求められている。省電力化のためには、データセンターにおける温湿度の管理条件を現在より緩和できるか、または管理を不要にできることが望ましい。しかし、温湿度の管理条件を緩和し、または管理を行わないと、磁気テープは様々な環境において使用されることが想定され、低温かつ高湿の環境において使用されることも想定される。しかし本発明者の検討の結果、低温高湿環境下では、ミッシングパルスの発生頻度が高まる傾向があることが判明した。 Incidentally, in recent years, magnetic tapes used for data storage are sometimes used in data centers in which temperature and humidity are controlled. On the other hand, data centers are required to save power in order to reduce costs. In order to save power, it is desirable that the temperature and humidity management conditions in the data center can be relaxed from the current level or management can be made unnecessary. However, if the temperature and humidity control conditions are relaxed or not managed, the magnetic tape is assumed to be used in various environments, and is also assumed to be used in a low temperature and high humidity environment. However, as a result of studies by the present inventors, it has been found that the frequency of occurrence of missing pulses tends to increase in a low temperature and high humidity environment.
そこで本発明の目的は、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度が低減された磁気テープを提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide a magnetic tape in which the frequency of occurrence of missing pulses in a low temperature and high humidity environment is reduced.
本発明の一態様は、
非磁性支持体上に強磁性粉末および結合剤を含む磁性層を有する磁気テープであって、
上記磁性層の面内方向について測定される屈折率Ｎｘｙと上記磁性層の厚み方向について測定される屈折率Ｎｚとの差分の絶対値ΔＮは０．２５以上０．４０以下であり、かつ
上記磁性層の表面において振り子粘弾性試験により求められる対数減衰率（以下、「磁性層の対数減衰率」または単に「対数減衰率」とも記載する。）は０．０５０以下である磁気テープ、
に関する。
One embodiment of the present invention provides:
A magnetic tape having a magnetic layer comprising a ferromagnetic powder and a binder on a non-magnetic support,
The absolute value ΔN of the difference between the refractive index Nxy measured in the in-plane direction of the magnetic layer and the refractive index Nz measured in the thickness direction of the magnetic layer is 0.25 or more and 0.40 or less, and the magnetic A magnetic tape having a logarithmic decay rate (hereinafter also referred to as “logarithmic decay rate of magnetic layer” or simply “logarithmic decay rate”) determined by a pendulum viscoelasticity test on the surface of the layer is 0.050 or less,
About.
一態様では、上記屈折率Ｎｘｙと上記屈折率Ｎｚとの差分（Ｎｘｙ−Ｎｚ）は、０．２５以上０．４０以下であることができる。 In one aspect, the difference (Nxy−Nz) between the refractive index Nxy and the refractive index Nz can be 0.25 or more and 0.40 or less.
一態様では、上記対数減衰率は、０．０１０以上０．０５０以下であることができる。 In one aspect, the logarithmic decay rate may be 0.010 or more and 0.050 or less.
一態様では、上記磁気テープは、上記非磁性支持体と上記磁性層との間に、非磁性粉末および結合剤を含む非磁性層を有することができる。 In one aspect, the magnetic tape may have a nonmagnetic layer containing a nonmagnetic powder and a binder between the nonmagnetic support and the magnetic layer.
一態様では、上記磁気テープは、上記非磁性支持体の上記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末および結合剤を含むバックコート層を有することができる。 In one aspect, the magnetic tape may have a backcoat layer containing a nonmagnetic powder and a binder on the surface side of the nonmagnetic support opposite to the surface side having the magnetic layer.
本発明の更なる態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気記録再生装置に関する。 A further aspect of the present invention relates to a magnetic recording / reproducing apparatus including the magnetic tape and a magnetic head.
本発明の一態様によれば、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度の低減が可能な磁気テープを提供することができる。また、本発明の一態様によれば、上記磁気テープを含む磁気記録再生装置を提供することができる。 According to one embodiment of the present invention, a magnetic tape capable of reducing the frequency of occurrence of missing pulses in a low temperature and high humidity environment can be provided. According to one embodiment of the present invention, a magnetic recording / reproducing apparatus including the magnetic tape can be provided.
［磁気テープ］
本発明の一態様は、非磁性支持体上に強磁性粉末および結合剤を含む磁性層を有する磁気テープであって、上記磁性層の面内方向について測定される屈折率Ｎｘｙと上記磁性層の厚み方向について測定される屈折率Ｎｚとの差分の絶対値ΔＮは０．２５以上０．４０以下であり、かつ上記磁性層の表面において振り子粘弾性試験により求められる対数減衰率は０．０５０以下である磁気テープに関する。
[Magnetic tape]
One aspect of the present invention is a magnetic tape having a magnetic layer containing a ferromagnetic powder and a binder on a nonmagnetic support, the refractive index Nxy measured in the in-plane direction of the magnetic layer and the magnetic layer. The absolute value ΔN of the difference from the refractive index Nz measured in the thickness direction is 0.25 or more and 0.40 or less, and the logarithmic attenuation rate obtained by the pendulum viscoelasticity test on the surface of the magnetic layer is 0.050 or less. Relates to a magnetic tape.
本発明および本明細書において、「磁性層（の）表面」とは、磁気テープの磁性層側表面と同義である。また、本発明および本明細書において、「強磁性粉末」とは、複数の強磁性粒子の集合を意味するものとする。「集合」とは、集合を構成する粒子が直接接触している態様に限定されず、結合剤、添加剤等が、粒子同士の間に介在している態様も包含される。以上の点は、本発明および本明細書における非磁性粉末等の各種粉末についても同様とする。 In the present invention and the present specification, “the surface of the magnetic layer” is synonymous with the magnetic layer side surface of the magnetic tape. Further, in the present invention and the present specification, “ferromagnetic powder” means a set of a plurality of ferromagnetic particles. The term “aggregation” is not limited to an aspect in which particles constituting the aggregation are in direct contact with each other, and an aspect in which a binder, an additive, and the like are interposed between particles is also included. The same applies to various powders such as the non-magnetic powder in the present invention and the present specification.
以下に、ΔＮおよび対数減衰率の測定方法について説明する。 Below, the measuring method of (DELTA) N and a logarithmic decay rate is demonstrated.
本発明および本明細書において、磁性層の面内方向について測定される屈折率Ｎｘｙと磁性層の厚み方向について測定される屈折率Ｎｚとの差分の絶対値ΔＮは、以下の方法によって求められる値とする。
磁性層の各方向についての屈折率は、分光エリプソメトリーにより２層モデルを用いて求めるものとする。分光エリプソメトリーにより２層モデルを用いて磁性層の屈折率を求めるためには、磁性層と隣接する部分の屈折率の値が用いられる。以下では、非磁性支持体上に非磁性層と磁性層とがこの順に積層された層構成を有する磁気テープについて、磁性層の屈折率ＮｘｙおよびＮｚを求める場合を例に説明する。ただし、本発明の一態様にかかる磁気テープは、非磁性支持体上に非磁性層を介さずに磁性層が直接積層された層構成の磁気テープであることもできる。かかる構成の磁気テープについては、磁性層と非磁性支持体との２層モデルを用いて、以下の方法と同様に磁性層の各方向についての屈折率を求める。また、以下に記載の入射角度は、垂直入射の場合の入射角度を０°としたときの入射角度である。
（１）測定用試料の準備
非磁性支持体の磁性層を有する表面とは反対側の表面上にバックコート層を有する磁気テープについては、磁気テープから切り出した測定用試料のバックコート層を除去した後に測定を行う。バックコート層の除去は、バックコート層を溶媒を用いて溶解する等の公知の方法により行うことができる。溶媒としては、例えばメチルエチルケトンを用いることができる。ただし、バックコート層を除去できる溶媒であればよい。バックコート層除去後の非磁性支持体表面は、エリプソメーターでの測定において、この表面での反射光が検出されないように公知の方法により粗面化する。粗面化は、例えばバックコート層除去後の非磁性支持体表面をサンドペーパーを用いて研磨する方法等によって行うことができる。バックコート層を持たない磁気テープから切り出した測定用試料については、磁性層を有する表面とは反対側の非磁性支持体表面について、粗面化を行う。
また、下記の非磁性層の屈折率測定のためには、更に磁性層を除去して非磁性層表面を露出させる。下記の非磁性支持体の屈折率測定のためには、更に非磁性層も除去して非磁性支持体の磁性層側の表面を露出させる。各層の除去は、バックコート層の除去について記載したように、公知の方法により行うことができる。なお以下に記載の長手方向とは、測定用試料が切り出される前に磁気テープに含まれていたときに、磁気テープの長手方向であった方向をいうものとする。この点は、以下に記載のその他の方向についても、同様である。
（２）磁性層の屈折率測定
エリプソメーターを用いて、入射角度を６５°、７０°および７５°とし、長手方向から磁性層表面にビーム径３００μｍの入射光を照射することにより、Δ（ｓ偏光とｐ偏光の位相差）およびΨ（ｓ偏光とｐ偏光の振幅比）を測定する。測定は入射光の波長を４００〜７００ｎｍの範囲で１．５ｎｍ刻みで変化させて行い、各波長について測定値を求める。
各波長における磁性層のΔおよびΨの測定値、下記方法により求められる各方向における非磁性層の屈折率、ならびに磁性層の厚みを用いて、以下のように２層モデルによって各波長における磁性層の屈折率を求める。
２層モデルの基板である第０層を非磁性層とし、第１層を磁性層とする。空気／磁性層と磁性層／非磁性層の界面の反射のみを考慮し非磁性層の裏面反射の影響はないものと見做して２層モデルを作成する。得られた測定値に最も整合する第１層の屈折率を最小二乗法によってフィッティングにより求める。フィッティングの結果から得られた波長６００ｎｍにおける値として、長手方向における磁性層の屈折率Ｎｘ、および長手方向から入射光を入射させて測定した磁性層の厚み方向における屈折率Ｎｚ１を求める。
入射光を入射させる方向を磁気テープの幅方向とする点以外は上記と同様として、フィッティングの結果から得られた波長６００ｎｍにおける値として、幅方向における磁性層の屈折率Ｎｙ、および幅方向から入射光を入射させて測定した磁性層の厚み方向における屈折率Ｎｚ２を求める。
フィッティングは、以下の手法により行う。
一般的に「複素屈折率ｎ＝η＋ｉκ」である。ここで、ηは屈折率の実数部であり、κは消光係数であり、ｉは虚数である。複素誘電率ε＝ε１＋ｉε２ （ε１とε２はクラマース・クローニッヒの関係を満たしている）とε１＝η２−κ２、ε２＝２ηκの関係にあり、ＮｘおよびＮｚ１算出の際は、Ｎｘの複素誘電率をεｘ＝εｘ１＋ｉεｘ２、Ｎｚ１の複素誘電率をεｚ１＝εｚ１１＋ｉεｚ１２とする。
εｘ２を１つのガウシアンとし、ピーク位置が５．８〜５．１ｅＶ、σが４〜３．５ ｅＶの任意の点を出発点とし、測定波長域（４００〜７００ｎｍ）の外に誘電率にオフセットとなるパラメータを置き、測定値を最小二乗フィッティングすることによりＮｘを求める。同様に、εｚ１２はピーク位置が３．２〜２．９ｅＶ、σが１．５〜１．２ｅＶの任意の点を出発点とし、オフセットパラメータを置き、測定値を最小二乗フィッティングすることによりＮｚ１を求める。ＮｙおよびＮｚ２も同様に求める。磁性層の面内方向について測定される屈折率Ｎｘｙは、「Ｎｘｙ＝（Ｎｘ＋Ｎｙ）／２」として求める。磁性層の厚み方向について測定される屈折率Ｎｚは、「Ｎｚ＝（Ｎｚ１＋Ｎｚ２）／２」として求める。求められたＮｘｙとＮｚから、これらの差分の絶対値ΔＮを求める。
（３）非磁性層の屈折率測定
以下の点を除き、上記方法と同様に非磁性層の波長６００ｎｍにおける屈折率（長手方向における屈折率、幅方向における屈折率、長手方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率、および幅方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率）を求める。
入射光の波長は、２５０〜７００ｎｍの範囲で１．５ｎｍ刻みで変化させる。
非磁性層と非磁性支持体の２層モデルを用いて、２層モデルの基板である第０層を非磁性支持体とし、第１層を非磁性層とする。空気／非磁性層と非磁性層／非磁性支持体の界面の反射のみを考慮し非磁性支持体の裏面反射の影響はないものと見做して２層モデルを作成する。
フィッティングにおいて、複素誘電率の虚部（ε２）に、７か所のピーク（０．６ｅＶ、２．３ｅＶ、２．９ｅＶ、３．６ｅＶ、４．６ｅＶ、５．０ｅＶ、６．０ｅＶ）を仮定し、測定波長域（２５０〜７００ｎｍ）の外に誘電率にオフセットとなるパラメータを置く。
（４）非磁性支持体の屈折率測定
２層モデルにより非磁性層の屈折率を求めるために用いられる非磁性支持体の波長６００ｎｍにおける屈折率（長手方向における屈折率、幅方向における屈折率、長手方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率、および幅方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率）は、以下の点を除き、磁性層の屈折率測定のための上記方法と同様に求める。
２層モデルを用いず、表面反射のみの１層モデルを用いる。
フィッティングは、コーシーモデル（ｎ＝Ａ＋Ｂ／λ２、ｎは屈折率、ＡおよびＢはそれぞれフィッティングにより定まる定数、λは波長）により行う。
In the present invention and this specification, the absolute value ΔN of the difference between the refractive index Nxy measured in the in-plane direction of the magnetic layer and the refractive index Nz measured in the thickness direction of the magnetic layer is a value obtained by the following method. And
The refractive index in each direction of the magnetic layer is determined by spectroscopic ellipsometry using a two-layer model. In order to obtain the refractive index of the magnetic layer using the two-layer model by spectroscopic ellipsometry, the value of the refractive index of the portion adjacent to the magnetic layer is used. In the following, a case where the refractive indexes Nxy and Nz of the magnetic layer are obtained will be described as an example for a magnetic tape having a layer structure in which a nonmagnetic layer and a magnetic layer are laminated in this order on a nonmagnetic support. However, the magnetic tape according to one embodiment of the present invention can also be a magnetic tape having a layer structure in which a magnetic layer is directly laminated on a nonmagnetic support without using a nonmagnetic layer. For the magnetic tape having such a configuration, the refractive index in each direction of the magnetic layer is obtained using the two-layer model of the magnetic layer and the nonmagnetic support in the same manner as described below. In addition, the incident angles described below are incident angles when the incident angle in the case of vertical incidence is 0 °.
(1) Preparation of measurement sample For magnetic tapes having a backcoat layer on the surface opposite to the surface having the magnetic layer of the nonmagnetic support, the backcoat layer of the measurement sample cut out from the magnetic tape is removed. Make measurements after The backcoat layer can be removed by a known method such as dissolving the backcoat layer using a solvent. As the solvent, for example, methyl ethyl ketone can be used. However, any solvent that can remove the backcoat layer may be used. The surface of the non-magnetic support after the backcoat layer is removed is roughened by a known method so that reflected light on the surface is not detected in the measurement with an ellipsometer. The roughening can be performed by, for example, a method of polishing the surface of the nonmagnetic support after removing the backcoat layer using sandpaper. For the measurement sample cut out from the magnetic tape having no back coat layer, the surface of the nonmagnetic support opposite to the surface having the magnetic layer is roughened.
Further, in order to measure the refractive index of the following nonmagnetic layer, the magnetic layer is further removed to expose the surface of the nonmagnetic layer. In order to measure the refractive index of the nonmagnetic support described below, the nonmagnetic layer is also removed to expose the surface of the nonmagnetic support on the magnetic layer side. The removal of each layer can be performed by a known method as described for the removal of the backcoat layer. The longitudinal direction described below refers to the direction that was the longitudinal direction of the magnetic tape when it was included in the magnetic tape before the measurement sample was cut out. This also applies to the other directions described below.
(2) Refractive Index Measurement of Magnetic Layer Using an ellipsometer, the incident angles are 65 °, 70 ° and 75 °, and the surface of the magnetic layer is irradiated with incident light having a beam diameter of 300 μm from the longitudinal direction to obtain Δ (s The phase difference between polarized light and p-polarized light) and ψ (amplitude ratio between s-polarized light and p-polarized light) are measured. The measurement is performed by changing the wavelength of the incident light in the range of 400 to 700 nm in increments of 1.5 nm, and the measurement value is obtained for each wavelength.
Using the measured values of Δ and Ψ of the magnetic layer at each wavelength, the refractive index of the nonmagnetic layer in each direction determined by the following method, and the thickness of the magnetic layer, the magnetic layer at each wavelength according to the two-layer model as follows: Find the refractive index of.
The 0th layer, which is a two-layer model substrate, is a nonmagnetic layer, and the first layer is a magnetic layer. Considering only the reflection at the interface between the air / magnetic layer and the magnetic layer / nonmagnetic layer, the two-layer model is created assuming that there is no influence of the back surface reflection of the nonmagnetic layer. The refractive index of the first layer that most closely matches the obtained measured value is obtained by fitting by the least square method. As the value at a wavelength of 600nm obtained from the result of the fitting, obtaining the refractive index Nz 1 in the thickness direction of the longitudinal refractive index of the magnetic layer in the direction Nx, and the magnetic layer as measured by the incidence of the incident light from the longitudinal direction.
Similar to the above except that the direction in which the incident light is incident is the width direction of the magnetic tape, the refractive index Ny of the magnetic layer in the width direction and the incident from the width direction as the value at the wavelength of 600 nm obtained from the fitting result determining the refractive index Nz 2 in the thickness direction of the magnetic layer was measured by entering the light.
The fitting is performed by the following method.
Generally, “complex refractive index n = η + iκ”. Where η is the real part of the refractive index, κ is the extinction coefficient, and i is the imaginary number. Complex permittivity ε = ε1 + iε2 (ε1 and ε2 satisfy the Kramers-Kronig relationship) and ε1 = η 2 −κ 2 , ε2 = 2ηκ, and when calculating Nx and Nz 1 , Nx complex Let the dielectric constant be ε x = ε x 1 + iε x 2 and the complex dielectric constant of Nz 1 be ε z1 = ε z1 1 + iε z1 2.
ε x 2 is one Gaussian, the peak position is 5.8 to 5.1 eV, σ is 4 to 3.5 eV, and the starting point is the dielectric constant outside the measurement wavelength range (400 to 700 nm) Nx is obtained by placing a parameter to be an offset in and fitting the measured value to the least squares. Similarly, ε z1 2 is obtained by setting an offset parameter and fitting a measured value to the least squares with an arbitrary point having a peak position of 3.2 to 2.9 eV and σ of 1.5 to 1.2 eV. Nz 1 is obtained. Ny and Nz 2 are obtained in the same manner. The refractive index Nxy measured in the in-plane direction of the magnetic layer is obtained as “Nxy = (Nx + Ny) / 2”. The refractive index Nz measured in the thickness direction of the magnetic layer is obtained as “Nz = (Nz 1 + Nz 2 ) / 2”. An absolute value ΔN of these differences is obtained from the obtained Nxy and Nz.
(3) Refractive index measurement of non-magnetic layer The refractive index at a wavelength of 600 nm of the non-magnetic layer (refractive index in the longitudinal direction, refractive index in the width direction, incident light from the longitudinal direction is incident as in the above method, except for the following points. And the refractive index in the thickness direction measured and the refractive index in the thickness direction measured by making incident light incident from the width direction).
The wavelength of the incident light is changed in increments of 1.5 nm in the range of 250 to 700 nm.
Using a two-layer model of a nonmagnetic layer and a nonmagnetic support, the zeroth layer, which is a substrate of the two-layer model, is a nonmagnetic support, and the first layer is a nonmagnetic layer. Considering only the reflection at the interface between the air / nonmagnetic layer and the nonmagnetic layer / nonmagnetic support, it is assumed that there is no influence of the back surface reflection of the nonmagnetic support, and a two-layer model is created.
In the fitting, 7 peaks (0.6 eV, 2.3 eV, 2.9 eV, 3.6 eV, 4.6 eV, 5.0 eV, 6.0 eV) are assumed in the imaginary part (ε2) of the complex dielectric constant. Then, a parameter that is offset in the dielectric constant is placed outside the measurement wavelength range (250 to 700 nm).
(4) Refractive index measurement of nonmagnetic support The refractive index at a wavelength of 600 nm of the nonmagnetic support used for obtaining the refractive index of the nonmagnetic layer by a two-layer model (refractive index in the longitudinal direction, refractive index in the width direction, The refractive index in the thickness direction measured by entering incident light from the longitudinal direction and the refractive index in the thickness direction measured by entering incident light from the width direction are the refractive indices of the magnetic layer except for the following points. Determined in the same manner as the above method for measurement.
A one-layer model with only surface reflection is used without using a two-layer model.
The fitting is performed by a Cauchy model (n = A + B / λ 2 , n is a refractive index, A and B are constants determined by fitting, and λ is a wavelength).
次に、磁性層の対数減衰率について説明する。
本発明および本明細書において、磁性層の対数減衰率とは、以下の方法により求められる値とする。
図１〜図３は、対数減衰率の測定方法の説明図である。以下、これら図面を参照し対数減衰率の測定方法を説明する。ただし、図示された態様は例示であって、本発明を何ら限定するものではない。
測定対象の磁気テープから、測定用試料１００を切り出す。切り出した測定用試料１００を、振り子粘弾性試験機内の試料ステージ１０１において、基板１０３上に測定面（磁性層表面）を上方に向けて載置し、目視で確認できる明らかなしわが入っていない状態で、固定用テープ１０５等で固定する。
測定用試料１００の測定面上に、質量１３ｇの振り子付円柱型シリンダエッジ１０４（直径４ｍｍ）を、シリンダエッジの長軸方向が測定用試料１００の長手方向と平行になるように載せる。こうして測定用試料１００の測定面に、振り子付円柱型シリンダエッジ１０４を載せた状態（上方から見た状態）の一例を、図１に示す。図１に示す態様では、ホルダ兼温度センサー１０２が設置され、基板１０３の表面温度をモニタリングできる構成になっている。ただし、この構成は必須ではない。なお測定用試料１００の長手方向とは、図１に示す態様では図中に矢印によって示した方向であり、測定用試料を切り出した磁気テープにおける長手方向と同方向である。また、振り子１０７（図２参照）としては、マグネットに吸着される性質を有する材料製（例えば金属製、合金製等）の振り子を用いる。
測定用試料１００を載置した基板１０３の表面温度を５℃／ｍｉｎ以下の昇温速度（５℃／ｍｉｎ以下であれば任意の昇温速度でよい。）で昇温して８０℃として、振り子運動を、振り子１０７とマグネット１０６との吸着を解除することにより開始（初期振動を誘起）させる。振り子運動している振り子１０７の状態（横から見た状態）の一例が、図２である。図２に示す態様では、振り子粘弾性試験機内で、試料ステージ下方に配置されたマグネット（電磁石）１０６への通電を停止して（スイッチをオフにして）吸着を解除することにより振り子運動を開始し、電磁石への通電を再開して（スイッチをオンにして）振り子１０７をマグネット１０６に吸着させることにより振り子運動を停止させる。振り子運動中、図２に示すように、振り子１０７は振幅を繰り返す。振り子が振幅を繰り返している間、振り子の変位を変位センサー１０８によりモニタリングして得られる結果から、変位を縦軸に取り、経過時間を横軸に取った変位−時間曲線を得る。変位−時間曲線の一例を、図３に示す。図３では、振り子１０７の状態と変位−時間曲線との対応が模式的に示されている。一定の測定間隔で、静止（吸着）と振り子運動とを繰り返し、１０分以上（１０分以上であれば任意の時間でよい。）経過した後の測定間隔において得られた変位−時間曲線を用いて、対数減衰率Δ（無単位）を、下記式から求め、この値を磁気テープの磁性層表面の対数減衰率とする。１回の吸着の吸着時間は１秒以上（１秒以上であれば任意の時間でよい。）とし、吸着終了から次の吸着開始までの間隔は６秒以上（６秒以上であれば任意の時間でよい。）とする。測定間隔とは、吸着開始から次の吸着開始までの時間の間隔である。また、振り子運動を行う環境の湿度は、相対湿度４０〜７０％の範囲であれば任意の相対湿度でよい。
Next, the logarithmic decay rate of the magnetic layer will be described.
In the present invention and this specification, the logarithmic decay rate of the magnetic layer is a value determined by the following method.
1 to 3 are explanatory diagrams of a method for measuring the logarithmic attenuation rate. Hereinafter, a method for measuring the logarithmic decay rate will be described with reference to these drawings. However, the illustrated embodiment is merely an example, and does not limit the present invention.
A measurement sample 100 is cut out from the magnetic tape to be measured. The cut sample 100 is placed on the substrate 103 with the measurement surface (magnetic layer surface) facing upward in the sample stage 101 in the pendulum viscoelasticity tester, and there is no obvious wrinkle that can be visually confirmed. Then, it is fixed with fixing tape 105 or the like.
A cylindrical cylinder edge 104 with a pendulum having a mass of 13 g (diameter 4 mm) is placed on the measurement surface of the measurement sample 100 so that the major axis direction of the cylinder edge is parallel to the longitudinal direction of the measurement sample 100. FIG. 1 shows an example of a state in which the pendulum-equipped cylindrical cylinder edge 104 is placed on the measurement surface of the measurement sample 100 in this manner (a state viewed from above). In the embodiment shown in FIG. 1, a holder and temperature sensor 102 is installed, and the surface temperature of the substrate 103 can be monitored. However, this configuration is not essential. In the embodiment shown in FIG. 1, the longitudinal direction of the measurement sample 100 is the direction indicated by the arrow in the drawing, and is the same as the longitudinal direction of the magnetic tape from which the measurement sample is cut. Further, as the pendulum 107 (see FIG. 2), a pendulum made of a material (for example, made of metal, alloy, etc.) having a property of being attracted by a magnet is used.
The surface temperature of the substrate 103 on which the measurement sample 100 is placed is raised to 80 ° C. by raising the surface temperature at a rate of temperature increase of 5 ° C./min or less (any temperature increase rate is 5 ° C./min or less). The pendulum motion is started (induced initial vibration) by releasing the adsorption of the pendulum 107 and the magnet 106. FIG. 2 shows an example of the state of the pendulum 107 that is performing the pendulum motion (the state seen from the side). In the embodiment shown in FIG. 2, in the pendulum viscoelasticity tester, the pendulum motion is started by stopping energization to the magnet (electromagnet) 106 disposed below the sample stage (turning off the switch) and releasing the adsorption. Then, energization of the electromagnet is resumed (the switch is turned on), and the pendulum motion is stopped by attracting the pendulum 107 to the magnet 106. During the pendulum movement, the pendulum 107 repeats the amplitude as shown in FIG. From the result obtained by monitoring the displacement of the pendulum by the displacement sensor 108 while the pendulum repeats the amplitude, a displacement-time curve is obtained in which the displacement is plotted on the vertical axis and the elapsed time is plotted on the horizontal axis. An example of the displacement-time curve is shown in FIG. FIG. 3 schematically shows the correspondence between the state of the pendulum 107 and the displacement-time curve. Using a displacement-time curve obtained at a measurement interval after 10 minutes or longer (any time is acceptable if it is 10 minutes or longer) is repeated at a fixed measurement interval. Thus, the logarithmic attenuation rate Δ (unitless) is obtained from the following formula, and this value is used as the logarithmic attenuation rate of the magnetic layer surface of the magnetic tape. The adsorption time for one adsorption is 1 second or longer (any time is acceptable if it is 1 second or longer), and the interval from the end of adsorption to the next start of adsorption is 6 seconds or longer (if 6 seconds or longer, any time is arbitrary) Time is fine.) The measurement interval is the time interval from the start of adsorption to the start of the next adsorption. The humidity of the environment where the pendulum motion is performed may be any relative humidity as long as the relative humidity is in the range of 40 to 70%.
変位−時間曲線において、変位が極小から再び極小になるまでの間隔を、波の一周期とする。ｎを、測定間隔中の変位−時間曲線に含まれる波の数とし、Ａｎを、ｎ番目の波における極小変位と極大変位との差とする。図３では、ｎ番目の波の変位が極小から再び極小になるまでの間隔を、Ｐｎ（例えば１番目の波についてはＰ１、２番目についてはＰ２、３番目についてはＰ３）と表示している。対数減衰率の算出には、ｎ番目の波の次に現れる極小変位と極大変位との差（上記式中、Ａｎ＋１、図３に示す変位−時間曲線ではＡ４）も用いるが、極大変位以降に振り子１０７が静止（吸着）している部分は波の数のカウントには用いない。また、極大変位以前に振り子１０７が静止（吸着）している部分も、波の数のカウントには用いない。したがって、図３に示す変位−時間曲線では、波の数は３つ（ｎ＝３）である。 In the displacement-time curve, an interval from the minimum to the minimum again is defined as one wave period. Let n be the number of waves included in the displacement-time curve during the measurement interval, and let An be the difference between the minimum displacement and the maximum displacement in the nth wave. In Figure 3, the displacement of the n-th wave intervals up again becomes minimum of minimum, labeled Pn (e.g. P 1 for the first wave, for second P 2, P 3 for third) is doing. In calculating the logarithmic decay rate, the difference between the minimum displacement and the maximum displacement that appears after the nth wave (A n + 1 in the above equation, A 4 in the displacement-time curve shown in FIG. 3) is also used. Thereafter, the portion where the pendulum 107 is stationary (adsorbed) is not used for counting the number of waves. Also, the portion where the pendulum 107 is stationary (adsorbed) before the maximum displacement is not used for counting the number of waves. Therefore, in the displacement-time curve shown in FIG. 3, the number of waves is three (n = 3).
本発明者は、上記磁気テープにおいて、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度の低減が可能な理由について、以下のように推察している。
磁気テープに記録された情報を再生する際、磁性層表面とヘッドとの摺動において磁性層表面が削れると、発生した削れ屑がヘッドに付着してヘッド付着物となる場合がある。本発明者は、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生原因は、低温高湿環境下では磁性層表面とヘッドとの摺動時の摩擦係数が高まる傾向があるため磁性層表面とヘッドとが摺動する際の接触状態が不安定になりやすいことにあり、接触状態が不安定になる原因としてはヘッド付着物の発生が挙げられると推察している。
以上の点に関して、本発明者は、上記方法により求められるΔＮは、磁性層の表層領域における強磁性粉末の存在状態の指標となり得る値と考えている。このΔＮは、磁性層における強磁性粉末の配向状態に加えて、結合剤の存在状態、強磁性粉末の密度分布等の各種要因の影響を受ける値と推察される。そして、各種要因を制御することによってΔＮを０．２５以上０．４０以下とした磁性層は、磁性層表面の強度が高くヘッドとの摺動によって削れ難いと考えられる。このことが、低温高湿環境下でのヘッドとの摺動時に磁性層表面が削れてヘッド付着物が発生することを抑制することに寄与し、結果的に低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度を低減することにつながると本発明者は推察している。
更に、対数減衰率に関して、本発明者は以下のように推察している。
上記方法により求められる対数減衰率は、ヘッドと磁性層表面とが接触し摺動する際に磁性層表面から遊離して磁性層表面とヘッドとの間に介在する粘着性成分の量の指標となる値と考えられる。かかる粘着性成分が多く存在するほど磁性層表面とヘッドとの密着力が高まり、磁性層表面とヘッドとが摺動する際の接触状態が不安定になると考えられる。これに対し、上記磁気テープにおいて磁性層の対数減衰率が０．０５０以下の状態であること、即ち粘着性成分が低減された状態であることは、磁性層表面とヘッドとを円滑に摺動させることに寄与すると考えられる。このことが、磁性層表面とヘッドとが摺動する際の接触状態の安定化に寄与し、その結果、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度を低減することにつながると本発明者は推察している。
なお上記粘着性成分の詳細は明らかではない。本発明者は、上記粘着性成分は、結合剤として用いられる樹脂に由来する可能性があると推察している。詳しくは、次の通りである。結合剤としては、詳細を後述するように各種樹脂を用いることができる。樹脂とは、２つ以上の重合性化合物の重合体（ホモポリマーおよびコポリマーを包含する。）であり、分子量が平均分子量を下回る成分（以下、「低分子量結合剤成分」と記載する。）も通常含まれる。このような低分子量結合剤成分が、ヘッドと磁性層表面との摺動時に磁性層表面から遊離し磁性層表面とヘッドとの間に介在するのではないかと、本発明者は考えている。そして、上記の低分子量結合剤成分は粘着性を有すると考えられ、振り子粘弾性試験により求められる対数減衰率が、磁性層表面とヘッドとの摺動時に磁性層表面から遊離する低分子量結合剤成分の量の指標になるのではないかと、本発明者らは推察している。なお、一態様では、磁性層は、強磁性粉末および結合剤に加えて、硬化剤を含む磁性層形成用組成物を非磁性支持体上に直接または他の層を介して塗布し、硬化処理を施し形成される。ここでの硬化処理により、結合剤と硬化剤とを硬化反応（架橋反応）させることができる。ただし、低分子量結合剤成分は、理由は定かではないものの、硬化反応の反応性に乏しいのではないかと本発明者は考えている。このため、低分子量結合剤成分は磁性層に留まり難く磁性層から遊離しやすいことが、低分子量結合剤成分が磁性層表面とヘッドとの摺動時に磁性層表面とヘッドとの間に介在してしまう理由の１つではないかと、本発明者は推察している。
ただし、以上は推察であって、本発明を何ら限定するものではない。
The present inventor infers the reason why the occurrence frequency of missing pulses in a low temperature and high humidity environment can be reduced in the magnetic tape as follows.
When information recorded on the magnetic tape is reproduced, if the magnetic layer surface is scraped by sliding between the magnetic layer surface and the head, the generated shavings may adhere to the head and become a head deposit. The present inventor has found that the cause of the occurrence of missing pulses in a low temperature and high humidity environment is that the friction coefficient during sliding between the magnetic layer surface and the head tends to increase in the low temperature and high humidity environment. It is presumed that the contact state at the time of sliding is likely to be unstable, and the cause of the unstable contact state is the occurrence of deposits on the head.
With regard to the above points, the present inventor considers that ΔN obtained by the above method is a value that can be an indicator of the presence state of the ferromagnetic powder in the surface layer region of the magnetic layer. This ΔN is assumed to be a value affected by various factors such as the presence state of the binder and the density distribution of the ferromagnetic powder in addition to the orientation state of the ferromagnetic powder in the magnetic layer. And it is considered that the magnetic layer having ΔN of 0.25 or more and 0.40 or less by controlling various factors has high strength on the surface of the magnetic layer and is not easily scraped by sliding with the head. This contributes to suppressing the occurrence of head deposits due to the surface of the magnetic layer being scraped when sliding with the head in a low-temperature and high-humidity environment, resulting in a missing pulse in a low-temperature and high-humidity environment. The present inventors infer that it will lead to a reduction in the occurrence frequency.
Furthermore, regarding the logarithmic decay rate, the present inventors infer as follows.
The logarithmic decay rate obtained by the above method is an index of the amount of the adhesive component that is separated from the magnetic layer surface and interposed between the magnetic layer surface and the head when the head and the magnetic layer surface come into contact and slide. Is considered to be a value. It is considered that as the amount of such an adhesive component increases, the adhesion between the magnetic layer surface and the head increases, and the contact state when the magnetic layer surface slides with the head becomes unstable. On the other hand, the fact that the logarithmic attenuation factor of the magnetic layer in the magnetic tape is 0.050 or less, that is, that the adhesive component is reduced, means that the magnetic layer surface and the head slide smoothly. It is thought that it contributes to making it. This contributes to the stabilization of the contact state when the magnetic layer surface and the head slide, and as a result, reduces the frequency of occurrence of missing pulses in a low temperature and high humidity environment. I guess.
The details of the adhesive component are not clear. The inventor speculates that the adhesive component may be derived from a resin used as a binder. Details are as follows. As the binder, various resins can be used as will be described in detail later. The resin is a polymer of two or more polymerizable compounds (including homopolymer and copolymer), and a component having a molecular weight lower than the average molecular weight (hereinafter referred to as “low molecular weight binder component”). Usually included. The present inventor thinks that such a low molecular weight binder component may be separated from the surface of the magnetic layer when it is slid between the head and the surface of the magnetic layer and interposed between the surface of the magnetic layer and the head. The low molecular weight binder component is considered to have adhesiveness, and the logarithmic decay rate obtained by the pendulum viscoelasticity test is released from the magnetic layer surface when sliding between the magnetic layer surface and the head. The present inventors speculate that this may be an indicator of the amount of components. In one embodiment, the magnetic layer is formed by applying a magnetic layer forming composition containing a curing agent in addition to the ferromagnetic powder and the binder directly or via another layer on the nonmagnetic support. Formed. By the curing treatment here, the binder and the curing agent can undergo a curing reaction (crosslinking reaction). However, although the reason for the low molecular weight binder component is not clear, the present inventor thinks that the reactivity of the curing reaction is poor. For this reason, the low molecular weight binder component hardly stays in the magnetic layer and is easily released from the magnetic layer. However, the low molecular weight binder component is interposed between the magnetic layer surface and the head during sliding between the magnetic layer surface and the head. The inventor speculates that this is one reason.
However, the above is an assumption and does not limit the present invention.
以下に、上記磁気テープについて更に詳細に説明する。以下において、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度を、単に「ミッシングパルスの発生頻度」とも記載する。 Hereinafter, the magnetic tape will be described in more detail. Hereinafter, the frequency of occurrence of missing pulses in a low temperature and high humidity environment is also simply referred to as “frequency of occurrence of missing pulses”.
＜磁性層＞
（磁性層のΔＮ）
上記磁気テープの磁性層のΔＮは、０．２５以上０．４０以下である。先に記載したように、ΔＮが０．２５以上０．４０以下である磁性層は、磁性層表面の強度が高く、低温高湿環境下でのヘッドとの摺動によって削れ難いと推察される。そのため、ΔＮが上記範囲である磁性層は、低温高湿環境下で磁性層に記録された情報を再生する際、磁性層表面とヘッドとの摺動において磁性層表面の削れが生じ難いと考えられる。このことが、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度を低減することに寄与すると推察される。ミッシングパルスの発生頻度をより一層低減する観点からは、ΔＮは０．２５以上０．３５以下であることが好ましい。ΔＮを調整するための手段の具体的態様は、後述する。
<Magnetic layer>
(ΔN of magnetic layer)
ΔN of the magnetic layer of the magnetic tape is 0.25 or more and 0.40 or less. As described above, it is surmised that the magnetic layer having ΔN of 0.25 or more and 0.40 or less has high strength on the surface of the magnetic layer and is difficult to be scraped by sliding with the head in a low temperature and high humidity environment. . For this reason, it is considered that the magnetic layer having ΔN in the above range is less likely to be scraped on the surface of the magnetic layer during sliding between the magnetic layer surface and the head when reproducing information recorded on the magnetic layer in a low temperature and high humidity environment. It is done. This is presumed to contribute to reducing the occurrence frequency of missing pulses in a low temperature and high humidity environment. From the viewpoint of further reducing the occurrence frequency of missing pulses, ΔN is preferably 0.25 or more and 0.35 or less. A specific mode of means for adjusting ΔN will be described later.
ΔＮは、ＮｘｙとＮｚとの差分の絶対値である。Ｎｘｙは磁性層の面内方向について測定される屈折率であり、Ｎｚは磁性層の厚み方向について測定される屈折率である。一態様では、Ｎｘｙ＞Ｎｚであることができ、他の一態様ではＮｘｙ＜Ｎｚであることができる。磁気テープの電磁変換特性の観点からは、Ｎｘｙ＞Ｎｚであることが好ましく、したがってＮｘｙとＮｚとの差分（Ｎｘｙ−Ｎｚ）が０．２５以上０．４０以下であることが好ましく、０．２５以上０．３５以下であることがより好ましい。 ΔN is the absolute value of the difference between Nxy and Nz. Nxy is a refractive index measured in the in-plane direction of the magnetic layer, and Nz is a refractive index measured in the thickness direction of the magnetic layer. In one aspect, Nxy> Nz can be satisfied, and in another aspect, Nxy <Nz can be satisfied. From the viewpoint of the electromagnetic conversion characteristics of the magnetic tape, it is preferable that Nxy> Nz. Therefore, the difference between Nxy and Nz (Nxy−Nz) is preferably 0.25 or more and 0.40 or less, and 0.25. More preferably, it is 0.35 or less.
以上説明したΔＮを調整するための各種手段については後述する。 Various means for adjusting ΔN described above will be described later.
（対数減衰率）
上記磁気テープの磁性層の表面において振り子粘弾性試験により求められる対数減衰率は、低温高湿環境下でのミッシングパルスの発生頻度を低減する観点から０．０５０以下である。ミッシングパルスの発生頻度をより一層低減する観点から、対数減衰率は、０．０４８以下であることが好ましく、０．０４５以下であることがより好ましく、０．０４０以下であることが更に好ましい。一方、ミッシングパルスの発生頻度を低減する観点からは、対数減衰率は低いほど好ましいため、下限値は特に限定されるものではない。一例として、対数減衰率は、例えば０．０１０以上、または０．０１５以上であることができる。ただし対数減衰率は、上記の例示した値を下回ってもよい。対数減衰率を調整するための手段の具体的態様は、後述する。
(Logarithmic decay rate)
The logarithmic decay rate obtained by the pendulum viscoelasticity test on the surface of the magnetic layer of the magnetic tape is 0.050 or less from the viewpoint of reducing the frequency of occurrence of missing pulses in a low temperature and high humidity environment. From the viewpoint of further reducing the occurrence frequency of missing pulses, the logarithmic decay rate is preferably 0.048 or less, more preferably 0.045 or less, and even more preferably 0.040 or less. On the other hand, from the viewpoint of reducing the occurrence frequency of missing pulses, the lower the logarithmic decay rate, the better. Therefore, the lower limit value is not particularly limited. As an example, the logarithmic decay rate can be, for example, 0.010 or more, or 0.015 or more. However, the logarithmic decay rate may be lower than the above exemplified value. A specific aspect of the means for adjusting the logarithmic decay rate will be described later.
（強磁性粉末）
磁性層に含まれる強磁性粉末としては、各種磁気記録媒体の磁性層において通常用いられる強磁性粉末を使用することができる。強磁性粉末として平均粒子サイズの小さいものを使用することは、磁気記録媒体の記録密度向上の観点から好ましい。この点から、強磁性粉末としては、平均粒子サイズが５０ｎｍ以下の強磁性粉末を用いることが好ましい。一方、磁化の安定性の観点からは、強磁性粉末の平均粒子サイズは５ｎｍ以上であることが好ましく、１０ｎｍ以上であることがより好ましい。
(Ferromagnetic powder)
As the ferromagnetic powder contained in the magnetic layer, a ferromagnetic powder usually used in the magnetic layer of various magnetic recording media can be used. It is preferable to use a ferromagnetic powder having a small average particle size from the viewpoint of improving the recording density of the magnetic recording medium. From this point, it is preferable to use a ferromagnetic powder having an average particle size of 50 nm or less as the ferromagnetic powder. On the other hand, from the viewpoint of magnetization stability, the average particle size of the ferromagnetic powder is preferably 5 nm or more, and more preferably 10 nm or more.
強磁性粉末の好ましい具体例としては、強磁性六方晶フェライト粉末を挙げることができる。強磁性六方晶フェライト粉末は、強磁性六方晶バリウムフェライト粉末、強磁性六方晶ストロンチウムフェライト粉末等であることができる。強磁性六方晶フェライト粉末の平均粒子サイズは、記録密度向上と磁化の安定性の観点から、１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下であることが好ましく、２０ｎｍ以上５０ｎｍ以下であることがより好ましい。強磁性六方晶フェライト粉末の詳細については、例えば、特開２０１１−２２５４１７号公報の段落００１２〜００３０、特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１３４〜０１３６、および特開２０１２−２０４７２６号公報の段落００１３〜００３０を参照できる。 Preferable specific examples of the ferromagnetic powder include ferromagnetic hexagonal ferrite powder. The ferromagnetic hexagonal ferrite powder can be a ferromagnetic hexagonal barium ferrite powder, a ferromagnetic hexagonal strontium ferrite powder, or the like. The average particle size of the ferromagnetic hexagonal ferrite powder is preferably 10 nm or more and 50 nm or less, and more preferably 20 nm or more and 50 nm or less, from the viewpoint of improvement in recording density and magnetization stability. Details of the ferromagnetic hexagonal ferrite powder include, for example, paragraphs 0012 to 0030 of JP2011-225417A, paragraphs 0134 to 0136 of JP2011-216149A, and paragraph 0013 of JP2012-204726A. ˜0030 can be referred to.
強磁性粉末の好ましい具体例としては、強磁性金属粉末を挙げることもできる。強磁性金属粉末の平均粒子サイズは、記録密度向上と磁化の安定性の観点から、１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下であることが好ましく、２０ｎｍ以上５０ｎｍ以下であることがより好ましい。強磁性金属粉末の詳細については、例えば特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１３７〜０１４１および特開２００５−２５１３５１号公報の段落０００９〜００２３を参照できる。 Preferable specific examples of the ferromagnetic powder include a ferromagnetic metal powder. The average particle size of the ferromagnetic metal powder is preferably 10 nm or more and 50 nm or less, and more preferably 20 nm or more and 50 nm or less, from the viewpoint of improvement in recording density and magnetization stability. For details of the ferromagnetic metal powder, reference can be made to, for example, paragraphs 0137 to 0141 of JP2011-216149A and paragraphs 0009 to 0023 of JP2005-251351A.
強磁性粉末の好ましい具体例としては、ε−酸化鉄粉末を挙げることもできる。ε−酸化鉄粉末の製造方法としては、ゲータイト（ｇｏｅｔｈｉｔｅ）から作製する方法、逆ミセル法等が知られている。上記製造方法は、いずれも公知である。また、Ｆｅの一部がＧａ、Ｃｏ、Ｔｉ、Ａｌ、Ｒｈ等の置換原子によって置換されたε−酸化鉄粉末を製造する方法については、例えば、Ｊ． Ｊｐｎ． Ｓｏｃ． Ｐｏｗｄｅｒ Ｍｅｔａｌｌｕｒｇｙ Ｖｏｌ． ６１ Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔ， Ｎｏ． Ｓ１， ｐｐ． Ｓ２８０−Ｓ２８４、Ｊ． Ｍａｔｅｒ． Ｃｈｅｍ． Ｃ， ２０１３， １， ｐｐ．５２００−５２０６等を参照できる。ただし、上記磁性層において強磁性粉末として使用可能なε−酸化鉄粉末の製造方法は限定されない。 Preferable specific examples of the ferromagnetic powder include ε-iron oxide powder. As a method for producing ε-iron oxide powder, a method of producing from goethite, a reverse micelle method, and the like are known. All of the above production methods are known. For a method for producing ε-iron oxide powder in which a part of Fe is substituted by a substitution atom such as Ga, Co, Ti, Al, Rh, etc., see, for example, J. Org. Jpn. Soc. Powder Metallurgy Vol. 61 Supplement, No. 61; S1, pp. S280-S284, J.M. Mater. Chem. C, 2013, 1, pp. Reference may be made to 5200-5206. However, the manufacturing method of the ε-iron oxide powder that can be used as the ferromagnetic powder in the magnetic layer is not limited.
本発明および本明細書において、特記しない限り、強磁性粉末等の各種粉末の平均粒子サイズは、透過型電子顕微鏡を用いて、以下の方法により測定される値とする。
粉末を、透過型電子顕微鏡を用いて撮影倍率１０００００倍で撮影し、総倍率５０００００倍になるように印画紙にプリントして粉末を構成する粒子の写真を得る。得られた粒子の写真から目的の粒子を選びデジタイザーで粒子の輪郭をトレースし粒子（一次粒子）のサイズを測定する。一次粒子とは、凝集のない独立した粒子をいう。
以上の測定を、無作為に抽出した５００個の粒子について行う。こうして得られた５００個の粒子の粒子サイズの算術平均を、粉末の平均粒子サイズとする。上記透過型電子顕微鏡としては、例えば日立製透過型電子顕微鏡Ｈ−９０００型を用いることができる。また、粒子サイズの測定は、公知の画像解析ソフト、例えばカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ−４００を用いて行うことができる。後述の実施例に示す平均粒子サイズ等の粉末のサイズに関する値は、特記しない限り、透過型電子顕微鏡として日立製透過型電子顕微鏡Ｈ−９０００型、画像解析ソフトとしてカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ−４００を用いて測定された値である。
In the present invention and the present specification, unless otherwise specified, the average particle size of various powders such as ferromagnetic powders is a value measured by the following method using a transmission electron microscope.
The powder is photographed at a photographing magnification of 100,000 using a transmission electron microscope, and printed on photographic paper so that the total magnification is 500,000 times to obtain a photograph of particles constituting the powder. The target particle is selected from the photograph of the obtained particle, the outline of the particle is traced with a digitizer, and the size of the particle (primary particle) is measured. Primary particles refer to independent particles without agglomeration.
The above measurements are performed on 500 randomly extracted particles. The arithmetic average of the particle sizes of the 500 particles thus obtained is taken as the average particle size of the powder. As the transmission electron microscope, for example, Hitachi transmission electron microscope H-9000 type can be used. The particle size can be measured using known image analysis software, for example, image analysis software KS-400 manufactured by Carl Zeiss. Unless otherwise specified, values relating to the size of the powder, such as average particle size, shown in the examples described later are as follows: Hitachi transmission electron microscope H-9000 type as a transmission electron microscope, and Carl Zeiss image analysis software KS- as image analysis software. This is a value measured using 400.
粒子サイズ測定のために磁気記録媒体から試料粉末を採取する方法としては、例えば特開２０１１−０４８８７８号公報の段落００１５に記載の方法を採用することができる。 As a method for collecting the sample powder from the magnetic recording medium for the particle size measurement, for example, the method described in paragraph 0015 of JP2011-048878A can be employed.
本発明および本明細書において、特記しない限り、粉末を構成する粒子のサイズ（粒子サイズ）は、上記の粒子写真において観察される粒子の形状が、
（１）針状、紡錘状、柱状（ただし、高さが底面の最大長径より大きい）等の場合は、粒子を構成する長軸の長さ、即ち長軸長で表され、
（２）板状または柱状（ただし、厚みまたは高さが板面または底面の最大長径より小さい）の場合は、その板面または底面の最大長径で表され、
（３）球形、多面体状、不特定形等であって、かつ形状から粒子を構成する長軸を特定できない場合は、円相当径で表される。円相当径とは、円投影法で求められるものを言う。
In the present invention and the present specification, unless otherwise specified, the size of the particles constituting the powder (particle size) is the shape of the particles observed in the above particle photograph,
(1) In the case of needle shape, spindle shape, columnar shape (however, the height is larger than the maximum major axis of the bottom surface), it is represented by the length of the major axis constituting the particle, that is, the major axis length,
(2) In the case of plate shape or columnar shape (thickness or height is smaller than the maximum major axis of the plate surface or bottom surface), it is represented by the maximum major axis of the plate surface or bottom surface,
(3) In the case of a spherical shape, a polyhedral shape, an unspecified shape, etc., and the major axis constituting the particle cannot be specified from the shape, it is represented by an equivalent circle diameter. The equivalent circle diameter is a value obtained by a circle projection method.
また、粉末の平均針状比は、上記測定において粒子の短軸の長さ、即ち短軸長を測定し、各粒子の（長軸長／短軸長）の値を求め、上記５００個の粒子について得た値の算術平均を指す。ここで、特記しない限り、短軸長とは、上記粒子サイズの定義で（１）の場合は、粒子を構成する短軸の長さを、同じく（２）の場合は、厚みまたは高さを各々指し、（３）の場合は、長軸と短軸の区別がないから、（長軸長／短軸長）は、便宜上１とみなす。
そして、特記しない限り、粒子の形状が特定の場合、例えば、上記粒子サイズの定義（１）の場合、平均粒子サイズは平均長軸長であり、同定義（２）の場合、平均粒子サイズは平均板径である。同定義（３）の場合、平均粒子サイズは、平均直径（平均粒径、平均粒子径ともいう）である。
The average acicular ratio of the powder is determined by measuring the length of the minor axis of the particle, that is, the minor axis length in the above measurement, and obtaining the value of (major axis length / minor axis length) of each particle. Refers to the arithmetic average of the values obtained for the particles. Here, unless otherwise specified, the minor axis length is the definition of the particle size in the case of (1), the length of the minor axis constituting the particle, and in the case of (2), the thickness or height. In the case of (3), since there is no distinction between the major axis and the minor axis, (major axis length / minor axis length) is regarded as 1 for convenience.
Unless otherwise specified, when the shape of the particle is specific, for example, in the case of definition (1) of the particle size, the average particle size is the average major axis length, and in the case of definition (2), the average particle size is Average plate diameter. In the case of the same definition (3), the average particle size is an average diameter (also referred to as an average particle diameter or an average particle diameter).
一態様では、磁性層に含まれる強磁性粉末を構成する強磁性粒子の形状は板状であることができる。以下において、板状の強磁性粒子から構成される強磁性粉末を、板状強磁性粉末と記載する。板状強磁性粉末の平均板状比は、好ましくは２．５〜５．０の範囲であることができる。平均板状比とは、上記の定義（２）の場合における（最大長径／厚みまたは高さ）の算術平均である。平均板状比が大きいほど、配向処理によって、板状強磁性粉末を構成する強磁性粒子の配向状態の均一性が高まり易い傾向があり、ΔＮの値は大きくなる傾向がある。 In one embodiment, the shape of the ferromagnetic particles constituting the ferromagnetic powder contained in the magnetic layer can be a plate shape. Hereinafter, a ferromagnetic powder composed of plate-like ferromagnetic particles is referred to as a plate-like ferromagnetic powder. The average plate ratio of the plate-like ferromagnetic powder can preferably be in the range of 2.5 to 5.0. The average plate ratio is an arithmetic average of (maximum major axis / thickness or height) in the case of the above definition (2). As the average plate ratio is larger, the orientation treatment tends to increase the uniformity of the orientation state of the ferromagnetic particles constituting the plate-like ferromagnetic powder, and the value of ΔN tends to increase.
また、強磁性粉末の粒子サイズの指標としては、活性化体積を用いることもできる。「活性化体積」とは、磁化反転の単位である。本発明および本明細書に記載の活性化体積は、振動試料型磁束計を用いて保磁力Ｈｃ測定部の磁場スイープ速度３分と３０分とで雰囲気温度２３℃±１℃の環境下で測定し、以下のＨｃと活性化体積Ｖとの関係式から求められる値である。後述の実施例に示されている活性化体積は、東英工業社製振動試料型磁束計を用いて測定を行って求められた値である。
Ｈｃ＝２Ｋｕ／Ｍｓ｛１−［（ｋＴ／ＫｕＶ）ｌｎ（Ａｔ／０．６９３）］１／２｝
［上記式中、Ｋｕ：異方性定数、Ｍｓ：飽和磁化、ｋ：ボルツマン定数、Ｔ：絶対温度、Ｖ：活性化体積、Ａ：スピン歳差周波数、ｔ：磁界反転時間］
記録密度向上の観点からは、強磁性粉末の活性化体積は、２５００ｎｍ３以下であることが好ましく、２３００ｎｍ３以下であることがより好ましく、２０００ｎｍ３以下であることが更に好ましい。一方、磁化の安定性の観点からは、強磁性粉末の活性化体積は、例えば８００ｎｍ３以上であることが好ましく、１０００ｎｍ３以上であることがより好ましく、１２００ｎｍ３以上であることが更に好ましい。
In addition, an activated volume can be used as an index of the particle size of the ferromagnetic powder. “Activation volume” is a unit of magnetization reversal. The activation volume described in the present invention and this specification is measured in an environment having an ambient temperature of 23 ° C. ± 1 ° C. using a vibrating sample magnetometer at a magnetic field sweep rate of 3 minutes and 30 minutes of the coercive force Hc measurement unit. And a value obtained from the following relational expression between Hc and activation volume V. The activation volume shown in the examples described later is a value obtained by performing measurement using a vibrating sample magnetometer manufactured by Toei Kogyo Co., Ltd.
Hc = 2Ku / Ms {1-[(kT / KuV) ln (At / 0.693)] 1/2 }
[In the above formula, Ku: anisotropy constant, Ms: saturation magnetization, k: Boltzmann constant, T: absolute temperature, V: activation volume, A: spin precession frequency, t: magnetic field inversion time]
From the viewpoint of recording density, the activation volume of the ferromagnetic powder is preferably 2500 nm 3 or less, more preferably 2300 nm 3 or less, and further preferably 2000 nm 3 or less. On the other hand, from the viewpoint of magnetization stability, the activation volume of the ferromagnetic powder is preferably, for example, 800 nm 3 or more, more preferably 1000 nm 3 or more, and further preferably 1200 nm 3 or more.
磁性層における強磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０〜９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０〜９０質量％の範囲である。磁性層の強磁性粉末以外の成分は、少なくとも、脂肪酸および脂肪酸アミドからなる群から選ばれる成分の一種以上ならびに結合剤であり、任意に一種以上の更なる添加剤が含まれ得る。磁性層において強磁性粉末の充填率が高いことは、記録密度向上の観点から好ましい。 The content (filling rate) of the ferromagnetic powder in the magnetic layer is preferably in the range of 50 to 90% by mass, more preferably in the range of 60 to 90% by mass. Components other than the ferromagnetic powder of the magnetic layer are at least one or more components selected from the group consisting of fatty acids and fatty acid amides and binders, and may optionally include one or more additional additives. A high filling rate of the ferromagnetic powder in the magnetic layer is preferable from the viewpoint of improving the recording density.
（結合剤、硬化剤）
上記磁気テープは塗布型磁気テープであって、磁性層に結合剤を含む。結合剤とは、一種以上の樹脂である。樹脂はホモポリマーであってもコポリマー（共重合体）であってもよい。磁性層に含まれる結合剤としては、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル樹脂、スチレン、アクリロニトリル、メチルメタクリレート等を共重合したアクリル樹脂、ニトロセルロース等のセルロース樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール、ポリビニルブチラール等のポリビニルアルキラール樹脂等から選択したものを単独で用いることができ、または複数の樹脂を混合して用いることができる。これらの中で好ましいものはポリウレタン樹脂、アクリル樹脂、セルロース樹脂および塩化ビニル樹脂である。これらの樹脂は、後述する非磁性層および／またはバックコート層においても結合剤として使用することができる。以上の結合剤については、特開２０１０−２４１１３号公報の段落００２９〜００３１を参照できる。結合剤として使用される樹脂の平均分子量は、重量平均分子量として、例えば１０，０００以上２００，０００以下であることができる。本発明および本明細書における重量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）によって測定された値をポリスチレン換算して求められる値である。測定条件としては、下記条件を挙げることができる。後述の実施例に示す重量平均分子量は、下記測定条件によって測定された値をポリスチレン換算して求めた値である。
ＧＰＣ装置：ＨＬＣ−８１２０（東ソー社製）
カラム：ＴＳＫ ｇｅｌ Ｍｕｌｔｉｐｏｒｅ ＨＸＬ−Ｍ（東ソー社製、７．８ｍｍＩＤ（Ｉｎｎｅｒ Ｄｉａｍｅｔｅｒ）×３０．０ｃｍ）
溶離液：テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）
(Binder, curing agent)
The magnetic tape is a coating type magnetic tape and includes a binder in the magnetic layer. A binder is one or more resins. The resin may be a homopolymer or a copolymer. As binders contained in the magnetic layer, polyurethane resin, polyester resin, polyamide resin, vinyl chloride resin, styrene, acrylonitrile, acrylic resin copolymerized with methyl methacrylate, cellulose resin such as nitrocellulose, epoxy resin, phenoxy resin, Those selected from polyvinyl alkylal resins such as polyvinyl acetal and polyvinyl butyral can be used alone, or a plurality of resins can be mixed and used. Among these, preferred are polyurethane resin, acrylic resin, cellulose resin and vinyl chloride resin. These resins can also be used as a binder in the nonmagnetic layer and / or backcoat layer described below. As for the above binder, paragraphs 0029 to 0031 of JP2010-24113A can be referred to. The average molecular weight of the resin used as the binder can be, for example, 10,000 or more and 200,000 or less as the weight average molecular weight. The weight average molecular weight in the present invention and the present specification is a value obtained by converting a value measured by gel permeation chromatography (GPC) into polystyrene. The following conditions can be mentioned as measurement conditions. The weight average molecular weight shown in the Examples described later is a value obtained by converting a value measured under the following measurement conditions into polystyrene.
GPC device: HLC-8120 (manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSK gel Multipore HXL-M (Tosoh Corporation, 7.8 mm ID (Inner Diameter) × 30.0 cm)
Eluent: Tetrahydrofuran (THF)
一態様では、結合剤として、酸性基を含む結合剤を用いることができる。本発明および本明細書における酸性基とは、水中または水を含む溶媒（水性溶媒）中でＨ＋を放出してアニオンに解離可能な基およびその塩の形態を包含する意味で用いるものとする。酸性基の具体例としては、例えば、スルホン酸基、硫酸基、カルボキシ基、リン酸基、それらの塩の形態等を挙げることができる。例えば、スルホン酸基（−ＳＯ３Ｈ）の塩の形態とは、−ＳＯ３Ｍで表され、Ｍが水中または水性溶媒中でカチオンになり得る原子（例えばアルカリ金属原子等）を表す基を意味する。この点は、上記の各種の基の塩の形態についても同様である。酸性基を含む結合剤の一例としては、例えば、スルホン酸基およびその塩からなる群から選ばれる少なくとも一種の酸性基を含む樹脂（例えばポリウレタン樹脂、塩化ビニル樹脂等）を挙げることができる。ただし、磁性層に含まれる樹脂は、これらの樹脂に限定されるものではない。また、酸性基を含む結合剤において、酸性基量は、例えば２０〜５００ｅｑ／ｔｏｎの範囲であることができる。なおｅｑは当量（ ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ）であり、ＳＩ単位に換算不可の単位である。樹脂に含まれる酸性基等の各種官能基の含有量は、官能基の種類に応じて公知の方法で求めることができる。酸性基量が多い結合剤を使用するほど、ΔＮの値は大きくなる傾向がある。結合剤は、磁性層形成用組成物中に、強磁性粉末１００．０質量部に対して、例えば１．０〜３０．０質量部の量で使用することができ、好ましくは１．０〜２０．０質量部の量で使用することができる。強磁性粉末に対する結合剤の使用量を多くするほど、ΔＮの値は大きくなる傾向がある。 In one embodiment, a binder containing an acidic group can be used as the binder. The term “acidic group” in the present invention and the present specification is intended to include a group capable of releasing H + in water or a solvent containing water (aqueous solvent) to dissociate into an anion and a salt form thereof. . Specific examples of the acidic group include a sulfonic acid group, a sulfuric acid group, a carboxy group, a phosphoric acid group, and a salt form thereof. For example, the salt form of a sulfonic acid group (—SO 3 H) is a group represented by —SO 3 M, in which M represents an atom (for example, an alkali metal atom) that can be a cation in water or an aqueous solvent. means. This also applies to the salt forms of the various groups described above. As an example of the binder containing an acidic group, for example, a resin containing at least one acidic group selected from the group consisting of a sulfonic acid group and a salt thereof (for example, polyurethane resin, vinyl chloride resin, etc.) can be mentioned. However, the resin contained in the magnetic layer is not limited to these resins. Moreover, in the binder containing an acidic group, the amount of acidic groups can be in the range of 20 to 500 eq / ton, for example. In addition, eq is an equivalent and is a unit that cannot be converted into SI units. Content of various functional groups, such as an acidic group contained in resin, can be calculated | required by a well-known method according to the kind of functional group. As the binder having a larger amount of acidic groups is used, the value of ΔN tends to increase. The binder can be used in the magnetic layer forming composition in an amount of, for example, 1.0 to 30.0 parts by mass, preferably 1.0 to 30.0 parts by mass with respect to 100.0 parts by mass of the ferromagnetic powder. It can be used in an amount of 20.0 parts by weight. The value of ΔN tends to increase as the amount of binder used for the ferromagnetic powder increases.
また、結合剤として使用可能な樹脂とともに硬化剤を使用することもできる。硬化剤は、一態様では加熱により硬化反応（架橋反応）が進行する化合物である熱硬化性化合物であることができ、他の一態様では光照射により硬化反応（架橋反応）が進行する光硬化性化合物であることができる。硬化剤は、磁性層形成工程の中で硬化反応が進行することにより、少なくとも一部は、結合剤等の他の成分と反応（架橋）した状態で磁性層に含まれ得る。この点は、他の層を形成するために用いられる組成物が硬化剤を含む場合に、この組成物を用いて形成される層についても同様である。好ましい硬化剤は、熱硬化性化合物であり、ポリイソシアネートが好適である。ポリイソシアネートの詳細については、特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１２４〜０１２５を参照できる。硬化剤は、磁性層形成用組成物中に、結合剤１００．０質量部に対して例えば０〜８０．０質量部、磁性層の強度向上の観点からは好ましくは５０．０〜８０．０質量部の量で使用することができる。 Moreover, a hardening | curing agent can also be used with resin which can be used as a binder. In one aspect, the curing agent can be a thermosetting compound that is a compound that undergoes a curing reaction (crosslinking reaction) by heating, and in another aspect, photocuring in which a curing reaction (crosslinking reaction) proceeds by light irradiation. It can be a sex compound. The curing agent may be included in the magnetic layer in a state of being reacted (crosslinked) with other components such as a binder as the curing reaction proceeds in the magnetic layer forming step. This applies to the layer formed using this composition when the composition used to form the other layer contains a curing agent. A preferred curing agent is a thermosetting compound, and polyisocyanate is suitable. JP, 2011-216149, A paragraphs 0124-0125 can be referred to for the details of polyisocyanate. The curing agent is, for example, 0 to 80.0 parts by mass with respect to 100.0 parts by mass of the binder in the composition for forming a magnetic layer, and preferably 50.0 to 80.0 from the viewpoint of improving the strength of the magnetic layer. It can be used in an amount of parts by mass.
（添加剤）
磁性層には、強磁性粉末および結合剤が含まれ、必要に応じて一種以上の添加剤が含まれていてもよい。添加剤としては、一例として、上記の硬化剤が挙げられる。また、磁性層に含まれる添加剤としては、非磁性粉末（例えば無機粉末、カーボンブラック等）、潤滑剤、分散剤、分散助剤、防黴剤、帯電防止剤、酸化防止剤等を挙げることができる。また、非磁性粉末としては、研磨剤として機能することができる非磁性粉末、磁性層表面に適度に突出する突起を形成する突起形成剤として機能することができる非磁性粉末（例えば非磁性コロイド粒子等）等が挙げられる。なお後述の実施例に示すコロイダルシリカ（シリカコロイド粒子）の平均粒子サイズは、特開２０１１−０４８８７８号公報の段落００１５に平均粒径の測定方法として記載されている方法により求められた値である。添加剤は、所望の性質に応じて市販品を適宜選択して、または公知の方法で製造して、任意の量で使用することができる。研磨剤を含む磁性層に使用され得る添加剤の一例としては、特開２０１３−１３１２８５号公報の段落００１２〜００２２に記載の分散剤を、研磨剤の分散性を向上するための分散剤として挙げることができる。例えば、潤滑剤については、特開２０１６−１２６８１７号公報の段落００３０〜００３３、００３５および００３６を参照できる。非磁性層に潤滑剤が含まれていてもよい。非磁性層に含まれ得る潤滑剤については、特開２０１６−１２６８１７号公報の段落００３０、００３１、００３４、００３５および００３６を参照できる。分散剤については、特開２０１２−１３３８３７号公報の段落００６１および００７１を参照できる。分散剤は、非磁性層に含まれていてもよい。非磁性層に含まれ得る分散剤については、特開２０１２−１３３８３７号公報の段落００６１を参照できる。
(Additive)
The magnetic layer contains a ferromagnetic powder and a binder, and may contain one or more additives as necessary. Examples of the additive include the above-described curing agent. Examples of the additive contained in the magnetic layer include non-magnetic powders (for example, inorganic powder, carbon black, etc.), lubricants, dispersants, dispersion aids, antifungal agents, antistatic agents, antioxidants, and the like. Can do. Further, as the non-magnetic powder, non-magnetic powder that can function as an abrasive, non-magnetic powder that can function as a protrusion-forming agent that forms protrusions that protrude moderately on the surface of the magnetic layer (for example, non-magnetic colloid particles) Etc.). In addition, the average particle size of colloidal silica (silica colloidal particles) shown in Examples described later is a value obtained by the method described in paragraph 0015 of JP2011-048878A as an average particle size measurement method. . As the additive, a commercially available product can be appropriately selected according to the desired properties, or it can be produced by a known method and used in any amount. As an example of an additive that can be used in a magnetic layer containing an abrasive, the dispersant described in paragraphs 0012 to 0022 of JP2013-131285A is exemplified as a dispersant for improving the dispersibility of the abrasive. be able to. For example, as for the lubricant, reference can be made to paragraphs 0030 to 0033, 0035 and 0036 of JP-A-2006-126817. A lubricant may be contained in the nonmagnetic layer. Regarding the lubricant that can be contained in the nonmagnetic layer, reference can be made to paragraphs 0030, 0031, 0034, 0035 and 0036 of JP-A-2006-126817. As for the dispersant, reference can be made to paragraphs 0061 and 0071 of JP2012-133737A. The dispersant may be contained in the nonmagnetic layer. Regarding the dispersant that can be contained in the nonmagnetic layer, reference can be made to paragraph 0061 of JP2012-133737A.
以上説明した磁性層は、非磁性支持体表面上に直接、または非磁性層を介して間接的に、設けることができる。 The magnetic layer described above can be provided directly on the surface of the nonmagnetic support or indirectly through the nonmagnetic layer.
＜非磁性層＞
次に非磁性層について説明する。
上記磁気テープは、非磁性支持体表面上に直接磁性層を有していてもよく、非磁性支持体と磁性層との間に非磁性粉末と結合剤を含む非磁性層を有していてもよい。非磁性層に含まれる非磁性粉末は、無機粉末でも有機粉末でもよい。また、カーボンブラック等も使用できる。無機粉末としては、例えば金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物、金属硫化物等の粉末が挙げられる。これらの非磁性粉末は、市販品として入手可能であり、公知の方法で製造することもできる。その詳細については、特開２０１０−２４１１３号公報の段落００３６〜００３９を参照できる。非磁性層における非磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０〜９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０〜９０質量％の範囲である。
<Nonmagnetic layer>
Next, the nonmagnetic layer will be described.
The magnetic tape may have a magnetic layer directly on the surface of the nonmagnetic support, and a nonmagnetic layer containing a nonmagnetic powder and a binder between the nonmagnetic support and the magnetic layer. Also good. The nonmagnetic powder contained in the nonmagnetic layer may be an inorganic powder or an organic powder. Carbon black or the like can also be used. Examples of the inorganic powder include powders of metal, metal oxide, metal carbonate, metal sulfate, metal nitride, metal carbide, metal sulfide, and the like. These nonmagnetic powders are available as commercial products, and can also be produced by a known method. Details thereof can be referred to paragraphs 0036 to 0039 of JP 2010-24113 A. The content (filling rate) of the nonmagnetic powder in the nonmagnetic layer is preferably in the range of 50 to 90 mass%, more preferably in the range of 60 to 90 mass%.
非磁性層の結合剤、添加剤等のその他詳細は、非磁性層に関する公知技術が適用できる。また、例えば、結合剤の種類および含有量、添加剤の種類および含有量等に関しては、磁性層に関する公知技術も適用できる。 For other details such as binders and additives for the nonmagnetic layer, known techniques relating to the nonmagnetic layer can be applied. Further, for example, with respect to the type and content of the binder, the type and content of the additive, etc., known techniques relating to the magnetic layer can also be applied.
本発明および本明細書における非磁性層には、非磁性粉末とともに、例えば不純物として、または意図的に、少量の強磁性粉末を含む実質的に非磁性な層も包含されるものとする。ここで実質的に非磁性な層とは、この層の残留磁束密度が１０ｍＴ以下であるか、保磁力が７．９６ｋＡ／ｍ（１００Ｏｅ）以下であるか、または、残留磁束密度が１０ｍＴ以下であり、かつ保磁力が７．９６ｋＡ／ｍ（１００Ｏｅ）以下である層をいうものとする。非磁性層は、残留磁束密度および保磁力を持たないことが好ましい。 The nonmagnetic layer of the present invention and the present specification shall include a substantially nonmagnetic layer containing a small amount of ferromagnetic powder together with the nonmagnetic powder, for example, as an impurity or intentionally. Here, the substantially non-magnetic layer means that the residual magnetic flux density of this layer is 10 mT or less, the coercive force is 7.96 kA / m (100 Oe) or less, or the residual magnetic flux density is 10 mT or less. And a layer having a coercive force of 7.96 kA / m (100 Oe) or less. The nonmagnetic layer preferably has no residual magnetic flux density and no coercive force.
＜非磁性支持体＞
次に、非磁性支持体（以下、単に「支持体」とも記載する。）について説明する。
非磁性支持体としては、二軸延伸を行ったポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミド、ポリアミドイミド、芳香族ポリアミド等の公知のものが挙げられる。これらの中でもポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミドが好ましい。これらの支持体はあらかじめコロナ放電、プラズマ処理、易接着処理、熱処理等を行ってもよい。
<Non-magnetic support>
Next, a nonmagnetic support (hereinafter also simply referred to as “support”) will be described.
Examples of the nonmagnetic support include known ones such as biaxially stretched polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyamide, polyamideimide, and aromatic polyamide. Among these, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, and polyamide are preferable. These supports may be subjected in advance to corona discharge, plasma treatment, easy adhesion treatment, heat treatment and the like.
＜バックコート層＞
上記磁気テープは、非磁性支持体の磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末および結合剤を含むバックコート層を有することもできる。バックコート層には、カーボンブラックおよび無機粉末の一方または両方が含有されていることが好ましい。バックコート層に含まれる結合剤、任意に含まれ得る各種添加剤については、バックコート層に関する公知技術を適用することができ、磁性層および／または非磁性層の処方に関する公知技術を適用することもできる。例えば、特開２００６−３３１６２５号公報の段落００１８〜００２０および米国特許第７，０２９，７７４号明細書の第４欄６５行目〜第５欄３８行目の記載を、バックコート層について参照できる。
<Back coat layer>
The magnetic tape may have a backcoat layer containing a nonmagnetic powder and a binder on the surface side opposite to the surface side having the magnetic layer of the nonmagnetic support. The back coat layer preferably contains one or both of carbon black and inorganic powder. Regarding the binder contained in the backcoat layer and various additives that can optionally be contained, a known technique relating to the backcoat layer can be applied, and a known technique relating to the formulation of the magnetic layer and / or the nonmagnetic layer should be applied. You can also. For example, the description in paragraphs 0018 to 0020 of JP-A-2006-331625 and the description in column 4, line 65 to column 5, line 38 of US Pat. No. 7,029,774 can be referred to for the backcoat layer. .
＜各種厚み＞
上記磁気テープにおける非磁性支持体および各層の厚みについて、以下に説明する。
非磁性支持体の厚みは、例えば３．０〜８０．０μｍであり、好ましくは３．０〜５０．０μｍであり、より好ましくは３．０〜１０．０μｍである。
<Various thicknesses>
The nonmagnetic support and the thickness of each layer in the magnetic tape will be described below.
The thickness of the nonmagnetic support is, for example, 3.0 to 80.0 μm, preferably 3.0 to 50.0 μm, and more preferably 3.0 to 10.0 μm.
磁性層の厚みは、用いる磁気ヘッドの飽和磁化、ヘッドギャップ長、記録信号の帯域等に応じて最適化することができる。磁性層の厚みは、一般には１０ｎｍ〜１００ｎｍであり、高密度記録化の観点から、好ましくは２０〜９０ｎｍであり、より好ましくは３０〜７０ｎｍである。磁性層は少なくとも一層あればよく、磁性層を異なる磁気特性を有する２層以上に分離してもかまわず、公知の重層磁性層に関する構成が適用できる。２層以上に分離する場合の磁性層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。 The thickness of the magnetic layer can be optimized according to the saturation magnetization of the magnetic head used, the head gap length, the band of the recording signal, and the like. The thickness of the magnetic layer is generally 10 nm to 100 nm, preferably 20 to 90 nm, more preferably 30 to 70 nm from the viewpoint of high density recording. There may be at least one magnetic layer, and the magnetic layer may be separated into two or more layers having different magnetic characteristics, and a configuration related to a known multilayer magnetic layer can be applied. The thickness of the magnetic layer when separating into two or more layers is the total thickness of these layers.
非磁性層の厚みは、例えば０．１〜１．５μｍであり、０．１〜１．０μｍであることが好ましい。 The thickness of the nonmagnetic layer is, for example, 0.1 to 1.5 μm, and preferably 0.1 to 1.0 μm.
バックコート層の厚みは、０．９μｍ以下であることが好ましく、０．１〜０．７μｍであることが更に好ましい。 The thickness of the back coat layer is preferably 0.9 μm or less, and more preferably 0.1 to 0.7 μm.
各層および非磁性支持体の厚みは、磁気テープの厚み方向の断面を、イオンビーム、ミクロトーム等の公知の手法により露出させた後、露出した断面において走査型透過電子顕微鏡（ＳＴＥＭ；Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）により断面観察を行い求めるものとする。厚みの測定方法の具体例については、後述の実施例における厚みの測定方法に関する記載を参照できる。 The thickness of each layer and the non-magnetic support is determined by exposing a cross section in the thickness direction of the magnetic tape by a known method such as ion beam or microtome, and then using a scanning transmission electron microscope (STEM) in the exposed cross section. ) By cross-sectional observation. For specific examples of the method for measuring the thickness, the description regarding the method for measuring the thickness in Examples described later can be referred to.
＜製造工程＞
（各層形成用組成物の調製）
磁性層、非磁性層またはバックコート層を形成するための組成物を調製する工程は、通常、少なくとも混練工程、分散工程、およびこれらの工程の前後に必要に応じて設けた混合工程を含む。個々の工程はそれぞれ二段階以上に分かれていてもかまわない。各層形成用組成物の調製に用いられる成分は、どの工程の最初または途中で添加してもかまわない。溶媒としては、塗布型磁気記録媒体の製造に通常用いられる各種溶媒の一種または二種以上を用いることができる。溶媒については、例えば特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１５３を参照できる。また、個々の成分を２つ以上の工程で分割して添加してもかまわない。例えば、結合剤を混練工程、分散工程および分散後の粘度調整のための混合工程で分割して投入してもよい。上記磁気テープを製造するためには、従来の公知の製造技術を各種工程において用いることができる。混練工程ではオープンニーダ、連続ニーダ、加圧ニーダ、エクストルーダ等の強い混練力をもつものを使用することが好ましい。これらの混練処理の詳細については特開平１−１０６３３８号公報および特開平１−７９２７４号公報を参照できる。分散機は公知のものを使用することができる。また、強磁性粉末と研磨剤とを別分散することもできる。別分散とは、より詳しくは、研磨剤および溶媒を含む研磨剤液（但し、強磁性粉末を実質的に含まない）を、強磁性粉末、溶媒および結合剤を含む磁性液と混合する工程を経て磁性層形成用組成物を調製する方法である。上記の「強磁性粉末を実質的に含まない」とは、研磨剤液の構成成分として強磁性粉末を添加しないことを意味するものであって、意図せず混入した不純物として微量の強磁性粉末が存在することは許容されるものとする。ΔＮに関しては、上記磁性液の分散時間を長くするほど、ΔＮの値が大きくなる傾向がある。これは、磁性液の分散時間を長くするほど、磁性層形成用組成物の塗布層における強磁性粉末の分散性が高まり、配向処理によって強磁性粉末を構成する強磁性粒子の配向状態の均一性が高まり易い傾向があるためと考えられる。また、非磁性層形成用組成物の各種成分を混合し分散する際の分散時間を長くするほど、ΔＮの値は大きくなる傾向がある。磁性液の分散時間および非磁性層形成用組成物の分散時間は、０．２５以上０．４０以下のΔＮが実現できるように設定すればよい。
各層形成用組成物を調製する任意の段階において、公知の方法によってろ過を行ってもよい。ろ過は、例えばフィルタろ過によって行うことができる。ろ過に用いるフィルタとしては、例えば孔径０．０１〜３μｍのフィルタ（例えばガラス繊維製フィルタ、ポリプロピレン製フィルタ等）を用いることができる。
<Manufacturing process>
(Preparation of each layer forming composition)
The step of preparing a composition for forming a magnetic layer, a nonmagnetic layer, or a backcoat layer usually includes at least a kneading step, a dispersing step, and a mixing step provided before and after these steps. Each process may be divided into two or more stages. The components used for the preparation of each layer forming composition may be added at the beginning or during any step. As the solvent, one kind or two or more kinds of various solvents usually used for the production of a coating type magnetic recording medium can be used. Regarding the solvent, for example, paragraph 0153 of JP2011-216149A can be referred to. Individual components may be divided and added in two or more steps. For example, the binder may be divided and added in a kneading step, a dispersing step, and a mixing step for adjusting the viscosity after dispersion. In order to manufacture the magnetic tape, conventional known manufacturing techniques can be used in various steps. In the kneading step, it is preferable to use a material having a strong kneading force such as an open kneader, a continuous kneader, a pressure kneader, or an extruder. JP-A-1-106338 and JP-A-1-79274 can be referred to for details of these kneading treatments. A well-known thing can be used for a disperser. Further, the ferromagnetic powder and the abrasive can be separately dispersed. More specifically, the different dispersion means a step of mixing an abrasive liquid containing an abrasive and a solvent (substantially free of ferromagnetic powder) with a magnetic liquid containing ferromagnetic powder, a solvent and a binder. This is a method for preparing a composition for forming a magnetic layer. The phrase “substantially free of ferromagnetic powder” means that no ferromagnetic powder is added as a constituent of the abrasive liquid, and a trace amount of ferromagnetic powder is added as an unintentionally mixed impurity. It is allowed to exist. Regarding ΔN, the value of ΔN tends to increase as the dispersion time of the magnetic liquid is increased. The longer the dispersion time of the magnetic liquid, the higher the dispersion of the ferromagnetic powder in the coating layer of the composition for forming the magnetic layer, and the uniformity of the orientation state of the ferromagnetic particles constituting the ferromagnetic powder by the orientation treatment. This is considered to be due to a tendency to increase. In addition, the value of ΔN tends to increase as the dispersion time for mixing and dispersing the various components of the composition for forming a nonmagnetic layer increases. The dispersion time of the magnetic liquid and the dispersion time of the composition for forming a nonmagnetic layer may be set so that ΔN of 0.25 or more and 0.40 or less can be realized.
In any stage of preparing each layer forming composition, filtration may be performed by a known method. Filtration can be performed by, for example, filter filtration. As a filter used for filtration, for example, a filter having a pore diameter of 0.01 to 3 μm (for example, a glass fiber filter, a polypropylene filter, or the like) can be used.
（塗布工程）
非磁性層および磁性層は、非磁性層形成用組成物および磁性層形成用組成物を、逐次または同時に重層塗布することにより形成することができる。バックコート層は、バックコート層形成用組成物を、非磁性支持体の非磁性層および磁性層を有する（または非磁性層および／または磁性層が追って設けられる）表面とは反対側の表面に塗布することにより形成することができる。また、各層を形成するための塗布工程は、２段階以上の工程に分けて行うこともできる。例えば一態様では、磁性層形成用組成物を２段階以上の工程に分けて塗布することができる。この場合、２つの段階の塗布工程の間に乾燥処理を施してもよく、施さなくてもよい。また、２つの段階の塗布工程の間に配向処理を施してもよく、施さなくてもよい。各層形成のための塗布の詳細については、特開２０１０−２３１８４３号公報の段落００６６も参照できる。また、各層形成用組成物を塗布した後の乾燥工程については、公知技術を適用できる。磁性層形成用組成物に関しては、磁性層形成用組成物を塗布して形成された塗布層（以下、「磁性層形成用組成物の塗布層」または単に「塗布層」とも記載する。）の乾燥温度を低くするほど、ΔＮの値は大きくなる傾向がある。乾燥温度は、例えば乾燥工程を行う雰囲気温度であることができ、０．２５以上０．４０以下のΔＮが実現できるように設定すればよい。
(Coating process)
The nonmagnetic layer and the magnetic layer can be formed by sequentially or simultaneously coating the nonmagnetic layer forming composition and the magnetic layer forming composition. The back coat layer has a composition for forming the back coat layer on the surface opposite to the surface having the nonmagnetic layer and the magnetic layer of the nonmagnetic support (or the nonmagnetic layer and / or the magnetic layer are provided later). It can be formed by coating. Moreover, the coating process for forming each layer can also be divided into two or more steps. For example, in one embodiment, the magnetic layer forming composition can be applied in two or more steps. In this case, the drying process may or may not be performed between the two stages of the coating process. Further, the alignment treatment may or may not be performed between the two stages of the coating process. For details of the coating for forming each layer, reference can also be made to paragraph 0066 of JP2010-231843A. Moreover, a well-known technique can be applied about the drying process after apply | coating each composition for layer formation. With regard to the magnetic layer forming composition, a coating layer formed by applying the magnetic layer forming composition (hereinafter also referred to as “coating layer of the magnetic layer forming composition” or simply “coating layer”). The value of ΔN tends to increase as the drying temperature is lowered. The drying temperature can be, for example, the atmospheric temperature at which the drying process is performed, and may be set so that ΔN of 0.25 or more and 0.40 or less can be realized.
（その他の工程）
磁気テープ製造のためのその他の各種工程については、公知技術を適用できる。各種工程については、例えば特開２０１０−２３１８４３号公報の段落００６７〜００７０を参照できる。
例えば、磁性層形成用組成物の塗布層には、この塗布層が湿潤状態にあるうちに配向処理を施すことが好ましい。０．２５以上０．４０以下のΔＮを実現する容易性の観点からは、配向処理は、磁性層形成用組成物の塗布層の表面に対して垂直に磁場が印加されるように磁石を配置して行うこと（即ち垂直配向処理）が好ましい。配向処理時の磁場の強度は、０．２５以上０．４０以下のΔＮが実現できるように設定すればよい。また、磁性層形成用組成物の塗布工程を２段階以上の塗布工程により行う場合には、少なくとも最後の塗布工程の後に配向処理を行うことが好ましく、垂直配向処理を行うことがより好ましい。例えば２段階の塗布工程によって磁性層を形成する場合、１段階目の塗布工程の後には配向処理を行うことなく乾燥工程を行い、その後に２段階目の塗布工程で形成された塗布層に対して配向処理を施すことができる。
また、磁性層形成用組成物の塗布層を乾燥させた後の任意の段階でカレンダ処理を行うことが好ましい。カレンダ処理の条件については、例えば特開２０１０−２３１８４３号公報の段落００２６を参照できる。カレンダ温度（カレンダロールの表面温度）を高くするほど、ΔＮの値は大きくなる傾向がある。カレンダ温度は、０．２５以上０．４０以下のΔＮが実現できるように設定すればよい。
(Other processes)
Known techniques can be applied to other various processes for manufacturing the magnetic tape. For various steps, reference can be made, for example, to paragraphs 0067 to 0070 of JP-A-2010-231843.
For example, the coating layer of the magnetic layer forming composition is preferably subjected to an orientation treatment while the coating layer is in a wet state. From the viewpoint of ease of realizing ΔN of 0.25 or more and 0.40 or less, the orientation treatment is performed by arranging a magnet so that a magnetic field is applied perpendicularly to the surface of the coating layer of the magnetic layer forming composition. (That is, vertical alignment treatment) is preferable. What is necessary is just to set the intensity | strength of the magnetic field at the time of an orientation process so that (DELTA) N of 0.25 or more and 0.40 or less is realizable. Moreover, when performing the application | coating process of the composition for magnetic layer formation by a 2 or more steps application process, it is preferable to perform an orientation process at least after the last application process, and it is more preferable to perform a vertical orientation process. For example, when a magnetic layer is formed by a two-step coating process, a drying process is performed without performing an orientation process after the first-stage coating process, and then the coating layer formed in the second-stage coating process is applied. Orientation treatment can be performed.
Moreover, it is preferable to perform a calendar process in the arbitrary steps after drying the application layer of the composition for magnetic layer formation. Regarding the conditions for the calendar processing, reference can be made to paragraph 0026 of JP 2010-231843 A, for example. As the calendar temperature (the surface temperature of the calendar roll) is increased, the value of ΔN tends to increase. The calendar temperature may be set so that ΔN of 0.25 or more and 0.40 or less can be realized.
（好ましい製造方法の一態様）
好ましい一態様では、強磁性粉末、結合剤、硬化剤および溶媒を含む磁性層形成用組成物を非磁性支持体上に直接または非磁性層を介して塗布することにより塗布層を形成する塗布工程、塗布層を加熱処理により乾燥させる加熱乾燥工程、ならびに、塗布層に硬化処理を施す硬化工程を含む磁性層形成工程を経て、磁性層を形成することができる。磁性層形成工程は、塗布工程と加熱乾燥工程との間に、塗布層を冷却する冷却工程を含むことが好ましく、更に加熱乾燥工程と硬化工程との間に、上記塗布層表面をバーニッシュ（ｂｕｒｎｉｓｈ）処理するバーニッシュ処理工程を含むことが好ましい。
(One aspect of preferred production method)
In a preferred embodiment, a coating step of forming a coating layer by coating a composition for forming a magnetic layer containing a ferromagnetic powder, a binder, a curing agent and a solvent directly or via a nonmagnetic layer on a nonmagnetic support. The magnetic layer can be formed through a heat drying step of drying the coating layer by a heat treatment and a magnetic layer forming step including a curing step of performing a curing treatment on the coating layer. The magnetic layer forming step preferably includes a cooling step for cooling the coating layer between the coating step and the heat drying step. Further, the surface of the coating layer is burnished between the heat drying step and the curing step. It is preferable to include a burnish treatment step.
上記の磁性層形成工程の中で冷却工程およびバーニッシュ処理工程を実施することは、対数減衰率を０．０５０以下とするための好ましい手段であると考えられる。詳しくは、次の通りである。
塗布工程と加熱乾燥工程との間に塗布層を冷却する冷却工程を行うことは、先に記載した粘着性成分を、上記塗布層の表面および／または表面近傍の表層部分に局在させることに寄与するのではないかと推察される。これは、加熱乾燥工程前に磁性層形成用組成物の塗布層を冷却することにより、加熱乾燥工程における溶媒揮発時に粘着性成分が塗布層表面および／または表層部分に移行しやすくなるためではないかと考えられる。ただし、その理由は明らかではない。そして、粘着性成分が表面および／または表層部分に局在した塗布層の表面をバーニッシュ処理することにより、粘着性成分を除去することができると考えられる。こうして粘着性成分を除去した後に硬化工程を行うことが、対数減衰率を０．０５０以下にすることにつながると推察される。ただし、以上は推察に過ぎず、本発明を何ら限定するものではない。
It is considered that performing the cooling step and the burnishing step in the magnetic layer forming step is a preferable means for setting the logarithmic decay rate to 0.050 or less. Details are as follows.
Performing the cooling step of cooling the coating layer between the coating step and the heat drying step is to localize the adhesive component described above on the surface of the coating layer and / or the surface layer portion in the vicinity of the surface. It is presumed that it will contribute. This is not because the adhesive layer easily migrates to the coating layer surface and / or the surface layer portion when the solvent is volatilized in the heating and drying step by cooling the coating layer of the magnetic layer forming composition before the heating and drying step. It is thought. However, the reason is not clear. And it is thought that an adhesive component can be removed by burnishing the surface of the coating layer which the adhesive component localized on the surface and / or surface layer part. It is speculated that performing the curing step after removing the adhesive component in this way leads to a logarithmic decay rate of 0.050 or less. However, the above is only an assumption and does not limit the present invention.
上記の通り、磁性層形成用組成物は、非磁性層形成用組成物と逐次または同時に重層塗布することができる。好ましい一態様では、上記磁気テープは、逐次重層塗布により製造することができる。逐次重層塗布を含む製造工程は、好ましくは次のように行うことができる。非磁性層形成用組成物を非磁性支持体上に塗布することにより塗布層を形成する塗布工程、および形成した塗布層を加熱処理により乾燥させる加熱乾燥工程を経て、非磁性層を形成する。そして形成された非磁性層上に磁性層形成用組成物を塗布することにより塗布層を形成する塗布工程、および形成した塗布層を加熱処理により乾燥させる加熱乾燥工程を経て、磁性層を形成する。 As described above, the composition for forming a magnetic layer can be applied successively or simultaneously with the composition for forming a nonmagnetic layer. In a preferred embodiment, the magnetic tape can be produced by sequential multilayer coating. The production process including sequential multilayer coating can be preferably performed as follows. The nonmagnetic layer is formed through a coating step of forming a coating layer by coating the composition for forming a nonmagnetic layer on a nonmagnetic support, and a heat drying step of drying the formed coating layer by heat treatment. Then, the magnetic layer is formed through a coating step of forming a coating layer by coating the magnetic layer forming composition on the formed nonmagnetic layer, and a heating and drying step of drying the formed coating layer by heat treatment. .
以下、上記製造方法の具体的態様を、図４に基づき説明する。ただし本発明は、下記具体的態様に限定されるものではない。以下では、硬化処理が施される前の磁性層形成用組成物の塗布層を磁性層と記載することもある。この点は、他の層についても同様である。 Hereinafter, a specific aspect of the manufacturing method will be described with reference to FIG. However, the present invention is not limited to the following specific embodiments. Below, the coating layer of the composition for magnetic layer formation before performing a hardening process may be described as a magnetic layer. This is the same for the other layers.
図４は、非磁性支持体の一方の面に非磁性層と磁性層とをこの順に有し、他方の面にバックコート層を有する磁気テープを製造する工程の具体的態様を示す工程概略図である。図４に示す態様では、非磁性支持体（長尺フィルム）を、送り出し部から送り出し巻き取り部で巻き取る操作を連続的に行い、かつ図４に示されている各部または各ゾーンにおいて塗布、乾燥、配向等の各種処理を行うことにより、走行する非磁性支持体上の一方の面に非磁性層および磁性層を逐次重層塗布により形成し、他方の面にバックコート層を形成することができる。かかる製造方法は、磁性層形成工程に冷却ゾーンを含み、かつ硬化処理前にバーニッシュ処理工程を含む点以外は、塗布型磁気テープの製造のために通常行われる製造方法と同様にすることができる。 FIG. 4 is a process schematic diagram showing a specific embodiment of a process for producing a magnetic tape having a nonmagnetic layer and a magnetic layer in this order on one side of a nonmagnetic support and a backcoat layer on the other side. It is. In the embodiment shown in FIG. 4, the operation of continuously winding the nonmagnetic support (long film) from the sending-out part by the sending-out winding part is performed, and coating is performed in each part or each zone shown in FIG. 4. By performing various treatments such as drying and orientation, a nonmagnetic layer and a magnetic layer can be successively formed on one surface of a traveling nonmagnetic support by multilayer coating, and a backcoat layer can be formed on the other surface. it can. Such a manufacturing method may be the same as the manufacturing method normally performed for manufacturing a coating type magnetic tape except that the magnetic layer forming step includes a cooling zone and includes a burnishing step before the curing process. it can.
送り出し部から送り出された非磁性支持体上には、第一の塗布部において、非磁性層形成用組成物の塗布が行われる（非磁性層形成用組成物の塗布工程）。 On the nonmagnetic support sent out from the delivery part, the nonmagnetic layer forming composition is applied in the first application part (application process of the nonmagnetic layer forming composition).
上記塗布工程後、第一の加熱処理ゾーンでは、塗布工程で形成された非磁性層形成用組成物の塗布層を加熱することにより、塗布層を乾燥させる（加熱乾燥工程）。加熱乾燥工程は、非磁性層形成用組成物の塗布層を有する非磁性支持体を加熱雰囲気中に通過させることにより行うことができる。ここでの加熱雰囲気の雰囲気温度は、例えば４０〜１４０℃程度とすることができる。ただし、溶媒を揮発させて塗布層を乾燥させることができる温度とすればよく、上記範囲に限定されるものではない。また任意に、加熱した気体を塗布層表面に吹き付けてもよい。以上の点は、後述する第二の加熱処理ゾーンにおける加熱乾燥工程および第三の加熱処理ゾーンにおける加熱乾燥工程についても、同様である。 After the coating step, in the first heat treatment zone, the coating layer of the composition for forming a nonmagnetic layer formed in the coating step is heated to dry the coating layer (heat drying step). The heat drying step can be performed by passing a nonmagnetic support having a coating layer of the composition for forming a nonmagnetic layer through a heated atmosphere. The atmospheric temperature of the heating atmosphere here can be set to, for example, about 40 to 140 ° C. However, what is necessary is just to set it as the temperature which can volatilize a solvent and can dry an application layer, and is not limited to the said range. Moreover, you may spray the heated gas on the coating layer surface arbitrarily. The same applies to the heat drying step in the second heat treatment zone and the heat drying step in the third heat treatment zone described later.
次に、第二の塗布部において、第一の加熱処理ゾーンにて加熱乾燥工程を行い形成された非磁性層上に、磁性層形成用組成物が塗布される（磁性層形成用組成物の塗布工程）。 Next, in the second application part, the magnetic layer forming composition is applied onto the nonmagnetic layer formed by performing the heat drying step in the first heat treatment zone (of the magnetic layer forming composition). Application process).
上記塗布工程後、冷却ゾーンにおいて、塗布工程で形成された磁性層形成用組成物の塗布層が冷却される（冷却工程）。例えば、非磁性層上に上記塗布層を形成した非磁性支持体を冷却雰囲気中に通過させることにより、冷却工程を行うことができる。冷却雰囲気の雰囲気温度は、好ましくは−１０℃〜０℃の範囲とすることができ、より好ましくは−５℃〜０℃の範囲とすることができる。冷却工程を行う時間（例えば、塗布層の任意の部分が冷却ゾーンに搬入されてから搬出されるまでの時間（以下において、「滞在時間」ともいう。））は特に限定されるものではない。滞在時間を長くするほど対数減衰率の値は小さくなる傾向があるため、０．０５０以下の対数減衰率を実現できるように必要に応じて予備実験を行う等して調整することが好ましい。なお冷却工程では、冷却した気体を塗布層表面に吹き付けてもよい。 After the coating step, the coating layer of the magnetic layer forming composition formed in the coating step is cooled in the cooling zone (cooling step). For example, the cooling step can be performed by passing a nonmagnetic support having the coating layer formed on the nonmagnetic layer through a cooling atmosphere. The atmospheric temperature of the cooling atmosphere can be preferably in the range of −10 ° C. to 0 ° C., more preferably in the range of −5 ° C. to 0 ° C. The time for performing the cooling step (for example, the time from when an arbitrary part of the coating layer is carried into the cooling zone until it is carried out (hereinafter also referred to as “stay time”)) is not particularly limited. Since the value of the logarithmic decay rate tends to decrease as the staying time is lengthened, it is preferable to adjust the logarithmic decay rate by performing a preliminary experiment as necessary so that a logarithmic decay rate of 0.050 or less can be realized. In the cooling step, the cooled gas may be sprayed onto the coating layer surface.
その後、配向処理を行う態様では、磁性層形成用組成物の塗布層が湿潤状態にあるうちに、配向ゾーンにおいて塗布層中の強磁性粉末の配向処理が行われる。配向処理については、先の記載も参照できる。 Thereafter, in the embodiment in which the orientation treatment is performed, the orientation treatment of the ferromagnetic powder in the coating layer is performed in the orientation zone while the coating layer of the magnetic layer forming composition is in a wet state. Regarding the orientation treatment, the above description can also be referred to.
配向処理後の塗布層は、第二の加熱処理ゾーンにおいて加熱乾燥工程に付される。 The coating layer after the orientation treatment is subjected to a heat drying step in the second heat treatment zone.
次いで、第三の塗布部において、非磁性支持体の非磁性層および磁性層が形成された面とは反対側の面に、バックコート層形成用組成物が塗布されて塗布層が形成される（バックコート層形成用組成物の塗布工程）。その後、第三の加熱処理ゾーンにおいて、上記塗布層を加熱処理し乾燥させる。 Next, in the third application part, the composition for forming the backcoat layer is applied to the surface of the nonmagnetic support opposite to the surface on which the nonmagnetic layer and the magnetic layer are formed to form a coating layer. (Application | coating process of the composition for backcoat layer formation). Thereafter, in the third heat treatment zone, the coating layer is heat treated and dried.
こうして、非磁性支持体の一方の面に、非磁性層上に磁性層を有し、他方の面にバックコート層を有する磁気テープを得ることができる。ここで得られた磁気テープは、この後に、後述する各種処理を施した後に、製品磁気テープとなる。 Thus, a magnetic tape having a magnetic layer on the nonmagnetic layer on one surface of the nonmagnetic support and a backcoat layer on the other surface can be obtained. The magnetic tape obtained here becomes a product magnetic tape after performing various processes to be described later.
得られた磁気テープは、巻き取り部で巻き取られた後に、製品磁気テープのサイズに裁断（スリット）される。スリットは、公知の裁断機を用いて行うことができる。 The obtained magnetic tape is wound (slit) to the size of the product magnetic tape after being wound by the winding portion. The slit can be performed using a known cutting machine.
スリットされた磁気テープは、磁性層に含まれている硬化剤の種類に応じた硬化処理（加熱、光照射等）を行う前に、磁性層の表面をバーニッシュ処理する（加熱乾燥工程と硬化工程との間のバーニッシュ処理工程）。このバーニッシュ処理により、冷却ゾーンにおいて冷却されて磁性層表面および／または表層部分に移行した粘着性成分を除去できることが、上記対数減衰率を０．０５０以下にすることにつながると推察される。ただし推察に過ぎず、本発明を何ら限定するものではない。 The slit magnetic tape is burnished on the surface of the magnetic layer (heating and drying process and curing) before performing a curing process (heating, light irradiation, etc.) according to the type of curing agent contained in the magnetic layer. Burnishing process between processes). It can be inferred that this burnish treatment can remove the adhesive component that has been cooled in the cooling zone and migrated to the surface of the magnetic layer and / or to the surface layer portion, leading to a logarithmic attenuation factor of 0.050 or less. However, this is merely a guess and does not limit the present invention.
バーニッシュ処理は、部材（例えば研磨テープ、または研削用ブレード、研削用ホイール等の研削具）により処理対象の表面を擦る処理であり、塗布型磁気記録媒体製造のために公知のバーニッシュ処理と同様に行うことができる。ただし、冷却工程および加熱乾燥工程を経た後、硬化工程前の段階でバーニッシュ処理を行うことは、従来行われていなかった。これに対し、上記段階でバーニッシュ処理を行うことにより、上記の対数減衰率を０．０５０以下にすることができる。 The burnishing process is a process of rubbing the surface to be processed with a member (for example, a polishing tape or a grinding tool such as a grinding blade or a grinding wheel), and is a known burnishing process for producing a coating type magnetic recording medium. The same can be done. However, after the cooling step and the heat drying step, the burnish treatment has not been performed in the stage before the curing step. On the other hand, the logarithmic decay rate can be reduced to 0.050 or less by performing the burnish process in the above stage.
バーニッシュ処理は、好ましくは、研磨テープによって処理対象の層の表面を擦る（研磨する）ことおよび研削具によって処理対象の層の表面を擦る（研削すること）の一方または両方を行うことにより、実施することができる。研磨テープとしては、市販品を用いてもよく、公知の方法で作製した研磨テープを用いてもよい。また、研削具としては、固定式ブレード、ダイヤモンドホイール、回転式ブレード等の公知の研削用ブレード、研削用ホイール等を用いることができる。また、研磨テープおよび／または研削具によって擦られた層の表面をワイピング材によって拭き取るワイピング（ｗｉｐｉｎｇ）処理を行ってもよい。好ましい研磨テープ、研削具、バーニッシュ処理およびワイピング処理の詳細については、特開平６−５２５４４号公報の段落００３４〜００４８、図１および同公報の実施例を参照できる。バーニッシュ処理を強化するほど、上記の対数減衰率の値は小さくなる傾向がある。バーニッシュ処理は、研磨テープに含まれる研磨剤として高硬度な研磨剤を用いるほど強化することができ、研磨テープ中の研磨剤量を増やすほど強化することができる。また、研削具として高硬度な研削具を用いるほど強化することができる。バーニッシュ処理条件に関しては、処理対象の層の表面と部材（例えば研磨テープまたは研削具）との摺動速度を速くするほど、バーニッシュ処理を強化することができる。上記摺動速度は、部材を移動させる速度および処理対象の磁気テープを移動させる速度の一方または両方を速くすることにより、速くすることができる。 The burnishing is preferably performed by performing one or both of rubbing (polishing) the surface of the layer to be treated with an abrasive tape and rubbing (grinding) the surface of the layer to be treated with a grinding tool, Can be implemented. As a polishing tape, a commercial item may be used and the polishing tape produced by the well-known method may be used. As the grinding tool, a known grinding blade such as a fixed blade, a diamond wheel, or a rotary blade, a grinding wheel, or the like can be used. Moreover, you may perform the wiping process which wipes off the surface of the layer rubbed with the polishing tape and / or the grinding tool with the wiping material. For details of the preferred polishing tape, grinding tool, burnishing and wiping, reference can be made to paragraphs 0034 to 0048 of JP-A-6-52544, FIG. 1 and the examples of the publication. As the burnishing process is strengthened, the value of the logarithmic decay rate tends to decrease. The burnish treatment can be strengthened as a hard abrasive is used as the abrasive contained in the abrasive tape, and can be enhanced as the amount of the abrasive in the abrasive tape is increased. Moreover, it can strengthen, so that a high-hardness grinding tool is used as a grinding tool. Regarding the burnishing conditions, the burnishing can be enhanced as the sliding speed between the surface of the layer to be processed and the member (for example, a polishing tape or a grinding tool) is increased. The sliding speed can be increased by increasing one or both of the speed of moving the member and the speed of moving the magnetic tape to be processed.
上記のバーニッシュ処理（バーニッシュ処理工程）後、磁性層に硬化処理を施す。図４に示す態様では、磁性層には、バーニッシュ処理後、硬化処理前に、表面平滑化処理が施される。表面平滑化処理は、カレンダ処理によって行うことが好ましい。 After the above burnish treatment (burnish treatment step), the magnetic layer is subjected to a hardening treatment. In the embodiment shown in FIG. 4, the magnetic layer is subjected to a surface smoothing process after the burnishing process and before the curing process. The surface smoothing process is preferably performed by a calendar process.
その後、磁性層に、この層に含まれる硬化剤の種類に応じた硬化処理を施す（硬化工程）。硬化処理は、加熱処理、光照射等の上記塗布層に含まれる硬化剤の種類に応じた処理によって行うことができる。硬化処理条件は特に限定されるものではなく、磁性層形成用組成物の処方、硬化剤の種類、磁性層の厚み等に応じて適宜設定すればよい。例えば、硬化剤としてポリイソシアネートを含む磁性層形成用組成物を用いて磁性層を形成した場合には、硬化処理は加熱処理であることが好ましい。なお磁性層以外の層に硬化剤が含まれる場合、その層の硬化反応も、ここでの硬化処理により進行させることもできる。または別途、硬化工程を設けてもよい。なお硬化工程後に、更にバーニッシュ処理を行ってもよい。 Thereafter, the magnetic layer is subjected to a curing process according to the type of curing agent contained in this layer (curing step). The curing process can be performed by a process according to the type of curing agent contained in the coating layer, such as heat treatment or light irradiation. The curing treatment conditions are not particularly limited, and may be set as appropriate according to the formulation of the magnetic layer forming composition, the type of curing agent, the thickness of the magnetic layer, and the like. For example, when the magnetic layer is formed using a magnetic layer forming composition containing polyisocyanate as a curing agent, the curing treatment is preferably a heat treatment. In addition, when a hardening | curing agent is contained in layers other than a magnetic layer, the hardening reaction of the layer can also be advanced by the hardening process here. Or you may provide a hardening process separately. In addition, you may perform a burnishing process after a hardening process.
以上により、本発明の一態様にかかる磁気テープを得ることができる。ただし上記の製造方法は例示であって、ΔＮおよび対数減衰率を調整可能な任意の手段によって、それらの値をそれぞれ上記範囲に制御することができ、そのような態様も本発明に包含される。磁気テープは、通常、磁気テープカートリッジに収容され、磁気テープカートリッジが磁気記録再生装置に装着される。低温高湿環境下で磁気記録再生装置において磁気テープに記録された情報を再生する際、本発明の一態様にかかる磁気テープであれば、ミッシングパルスの発生頻度を低減することができる。 Through the above, a magnetic tape according to one embodiment of the present invention can be obtained. However, the above-described manufacturing method is an exemplification, and these values can be controlled within the above ranges by any means capable of adjusting ΔN and the logarithmic decay rate, and such an embodiment is also included in the present invention. . The magnetic tape is usually accommodated in a magnetic tape cartridge, and the magnetic tape cartridge is attached to the magnetic recording / reproducing apparatus. When reproducing information recorded on a magnetic tape in a magnetic recording / reproducing apparatus in a low-temperature and high-humidity environment, the occurrence frequency of missing pulses can be reduced with the magnetic tape according to one embodiment of the present invention.
上記のように製造された磁気テープには、磁気記録再生装置における磁気ヘッドのトラッキング制御、磁気テープの走行速度の制御等を可能とするために、公知の方法によってサーボパターンを形成することができる。「サーボパターンの形成」は、「サーボ信号の記録」ということもできる。以下に、サーボパターンの形成について説明する。 In the magnetic tape manufactured as described above, a servo pattern can be formed by a known method in order to enable tracking control of the magnetic head in the magnetic recording / reproducing apparatus, control of the traveling speed of the magnetic tape, and the like. . “Servo pattern formation” can also be referred to as “servo signal recording”. Hereinafter, the formation of the servo pattern will be described.
サーボパターンは、通常、磁気テープの長手方向に沿って形成される。サーボ信号を利用する制御（サーボ制御）の方式としては、タイミングベースサーボ（ＴＢＳ）、アンプリチュードサーボ、周波数サーボ等が挙げられる。 The servo pattern is usually formed along the longitudinal direction of the magnetic tape. Examples of control (servo control) methods using servo signals include timing-based servo (TBS), amplitude servo, and frequency servo.
ＥＣＭＡ（Ｅｕｒｏｐｅａｎ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒｓ Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）―３１９に示される通り、ＬＴＯ（Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ−Ｏｐｅｎ）規格に準拠した磁気テープ（一般に「ＬＴＯテープ」と呼ばれる。）では、タイミングベースサーボ方式が採用されている。このタイミングベースサーボ方式において、サーボパターンは、互いに非平行な一対の磁気ストライプ（「サーボストライプ」とも呼ばれる。）が、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置されることによって構成されている。上記のように、サーボパターンが互いに非平行な一対の磁気ストライプにより構成される理由は、サーボパターン上を通過するサーボ信号読み取り素子に、その通過位置を教えるためである。具体的には、上記の一対の磁気ストライプは、その間隔が磁気テープの幅方向に沿って連続的に変化するように形成されており、サーボ信号読み取り素子がその間隔を読み取ることによって、サーボパターンとサーボ信号読み取り素子との相対位置を知ることができる。この相対位置の情報が、データトラックのトラッキングを可能にする。そのために、サーボパターン上には、通常、磁気テープの幅方向に沿って、複数のサーボトラックが設定されている。 As shown in ECMA (European Computer Manufacturers Association) -319, a magnetic tape (generally referred to as “LTO tape”) compliant with the LTO (Linear Tape-Open) standard employs a timing-based servo system. In this timing-based servo system, the servo pattern is configured by continuously arranging a plurality of non-parallel pairs of magnetic stripes (also referred to as “servo stripes”) in the longitudinal direction of the magnetic tape. As described above, the reason why the servo pattern is composed of a pair of non-parallel magnetic stripes is to teach the servo signal reading element passing over the servo pattern the passing position. Specifically, the pair of magnetic stripes is formed so that the interval thereof continuously changes along the width direction of the magnetic tape, and the servo signal reading element reads the interval to thereby generate a servo pattern. And the relative position of the servo signal reading element. This relative position information enables tracking of the data track. Therefore, a plurality of servo tracks are usually set on the servo pattern along the width direction of the magnetic tape.
サーボバンドは、磁気テープの長手方向に連続するサーボ信号により構成される。このサーボバンドは、通常、磁気テープに複数本設けられる。例えば、ＬＴＯテープにおいて、その数は５本である。隣接する２本のサーボバンドに挟まれた領域は、データバンドと呼ばれる。データバンドは、複数のデータトラックで構成されており、各データトラックは、各サーボトラックに対応している。 The servo band is composed of servo signals continuous in the longitudinal direction of the magnetic tape. A plurality of servo bands are usually provided on the magnetic tape. For example, in an LTO tape, the number is five. A region sandwiched between two adjacent servo bands is called a data band. The data band is composed of a plurality of data tracks, and each data track corresponds to each servo track.
また、一態様では、特開２００４−３１８９８３号公報に示されているように、各サーボバンドには、サーボバンドの番号を示す情報（「サーボバンドＩＤ（ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）」または「ＵＤＩＭ（Ｕｎｉｑｕｅ ＤａｔａＢａｎｄ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｍｅｔｈｏｄ）情報」とも呼ばれる。）が埋め込まれている。このサーボバンドＩＤは、サーボバンド中に複数ある一対のサーボストライプのうちの特定のものを、その位置が磁気テープの長手方向に相対的に変位するように、ずらすことによって記録されている。具体的には、複数ある一対のサーボストライプのうちの特定のもののずらし方を、サーボバンド毎に変えている。これにより、記録されたサーボバンドＩＤはサーボバンド毎にユニークなものとなるため、一つのサーボバンドをサーボ信号読み取り素子で読み取るだけで、そのサーボバンドを一意に（ｕｎｉｑｕｅｌｙ）特定することができる。 In one aspect, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-318983, each servo band includes information indicating a servo band number ("servo band ID (identification)" or "UDIM (Unique DataBand Identification)". (Method) Information ") is embedded. The servo band ID is recorded by shifting a specific one of a plurality of servo stripes in the servo band so that the position thereof is relatively displaced in the longitudinal direction of the magnetic tape. Specifically, the shifting method of a specific one of a plurality of servo stripes is changed for each servo band. Thus, since the recorded servo band ID is unique for each servo band, the servo band can be uniquely specified only by reading one servo band with the servo signal reading element.
なお、サーボバンドを一意に特定する方法には、ＥＣＭＡ―３１９に示されているようなスタッガード方式を用いたものもある。このスタッガード方式では、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置された、互いに非平行な一対の磁気ストライプ（サーボストライプ）の群を、サーボバンド毎に磁気テープの長手方向にずらすように記録する。隣接するサーボバンド間における、このずらし方の組み合わせは、磁気テープ全体においてユニークなものとされているため、２つのサーボ信号読み取り素子によりサーボパターンを読み取る際に、サーボバンドを一意に特定することも可能となっている。 As a method for uniquely specifying a servo band, there is a method using a staggered method as shown in ECMA-319. In this staggered method, a group of a pair of non-parallel magnetic stripes (servo stripes) arranged continuously in the longitudinal direction of the magnetic tape is recorded so as to be shifted in the longitudinal direction of the magnetic tape for each servo band. To do. Since this combination of shifting methods between adjacent servo bands is unique throughout the magnetic tape, the servo band can be uniquely identified when reading the servo pattern with two servo signal reading elements. It is possible.
また、各サーボバンドには、ＥＣＭＡ―３１９に示されている通り、通常、磁気テープの長手方向の位置を示す情報（「ＬＰＯＳ（Ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）情報」とも呼ばれる。）も埋め込まれている。このＬＰＯＳ情報も、ＵＤＩＭ情報と同様に、一対のサーボストライプの位置を、磁気テープの長手方向にずらすことによって記録されている。ただし、ＵＤＩＭ情報とは異なり、このＬＰＯＳ情報では、各サーボバンドに同じ信号が記録されている。 Also, as shown in ECMA-319, information indicating the position in the longitudinal direction of the magnetic tape (also referred to as “LPOS (Longitudinal Position) information”) is usually embedded in each servo band. This LPOS information is also recorded by shifting the position of the pair of servo stripes in the longitudinal direction of the magnetic tape, as with the UDIM information. However, unlike UDIM information, in this LPOS information, the same signal is recorded in each servo band.
上記のＵＤＩＭ情報およびＬＰＯＳ情報とは異なる他の情報を、サーボバンドに埋め込むことも可能である。この場合、埋め込まれる情報は、ＵＤＩＭ情報のようにサーボバンド毎に異なるものであってもよいし、ＬＰＯＳ情報のようにすべてのサーボバンドに共通のものであってもよい。
また、サーボバンドに情報を埋め込む方法としては、上記以外の方法を採用することも可能である。例えば、一対のサーボストライプの群の中から、所定の対を間引くことによって、所定のコードを記録するようにしてもよい。
Other information different from the above UDIM information and LPOS information can be embedded in the servo band. In this case, the information to be embedded may be different for each servo band like UDIM information, or may be common to all servo bands like LPOS information.
In addition, as a method for embedding information in the servo band, methods other than those described above can be adopted. For example, a predetermined code may be recorded by thinning out a predetermined pair from a pair of servo stripes.
サーボパターン形成用ヘッドは、サーボライトヘッドと呼ばれる。サーボライトヘッドは、上記一対の磁気ストライプに対応した一対のギャップを、サーボバンドの数だけ有する。通常、各一対のギャップには、それぞれコアとコイルが接続されており、コイルに電流パルスを供給することによって、コアに発生した磁界が、一対のギャップに漏れ磁界を生じさせることができる。サーボパターンの形成の際には、サーボライトヘッド上に磁気テープを走行させながら電流パルスを入力することによって、一対のギャップに対応した磁気パターンを磁気テープに転写させて、サーボパターンを形成することができる。各ギャップの幅は、形成されるサーボパターンの密度に応じて適宜設定することができる。各ギャップの幅は、例えば、１μｍ以下、１〜１０μｍ、１０μｍ以上等に設定可能である。 The servo pattern forming head is called a servo write head. The servo write head has a pair of gaps corresponding to the pair of magnetic stripes by the number of servo bands. Usually, a core and a coil are connected to each pair of gaps, and a magnetic field generated in the core can generate a leakage magnetic field in the pair of gaps by supplying a current pulse to the coils. When forming a servo pattern, by inputting a current pulse while running the magnetic tape on the servo write head, the magnetic pattern corresponding to the pair of gaps is transferred to the magnetic tape to form the servo pattern. Can do. The width of each gap can be appropriately set according to the density of the servo pattern to be formed. The width of each gap can be set to 1 μm or less, 1 to 10 μm, 10 μm or more, for example.
磁気テープにサーボパターンを形成する前には、磁気テープに対して、通常、消磁（イレース）処理が施される。このイレース処理は、直流磁石または交流磁石を用いて、磁気テープに一様な磁界を加えることによって行うことができる。イレース処理には、ＤＣ（Ｄｉｒｅｃｔ Ｃｕｒｒｅｎｔ）イレースとＡＣ（Ａｌｔｅｒｎａｔｉｎｇ Ｃｕｒｒｅｎｔ）イレースとがある。ＡＣイレースは、磁気テープに印加する磁界の方向を反転させながら、その磁界の強度を徐々に下げることによって行われる。一方、ＤＣイレースは、磁気テープに一方向の磁界を加えることによって行われる。ＤＣイレースには、更に２つの方法がある。第一の方法は、磁気テープの長手方向に沿って一方向の磁界を加える、水平ＤＣイレースである。第二の方法は、磁気テープの厚み方向に沿って一方向の磁界を加える、垂直ＤＣイレースである。イレース処理は、磁気テープ全体に対して行ってもよいし、磁気テープのサーボバンド毎に行ってもよい。 Before the servo pattern is formed on the magnetic tape, the magnetic tape is usually subjected to a demagnetization (erase) process. This erasing process can be performed by applying a uniform magnetic field to the magnetic tape using a DC magnet or an AC magnet. The erase process includes a DC (Direct Current) erase and an AC (Alternating Current) erase. AC erase is performed by gradually decreasing the strength of the magnetic field while reversing the direction of the magnetic field applied to the magnetic tape. On the other hand, DC erase is performed by applying a unidirectional magnetic field to the magnetic tape. There are two additional methods for DC erase. The first method is a horizontal DC erase that applies a magnetic field in one direction along the longitudinal direction of the magnetic tape. The second method is vertical DC erase, which applies a magnetic field in one direction along the thickness direction of the magnetic tape. The erase process may be performed on the entire magnetic tape or may be performed for each servo band of the magnetic tape.
形成されるサーボパターンの磁界の向きは、イレースの向きに応じて決まる。例えば、磁気テープに水平ＤＣイレースが施されている場合、サーボパターンの形成は、磁界の向きがイレースの向きと反対になるように行われる。これにより、サーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号の出力を、大きくすることができる。なお、特開２０１２−５３９４０号公報に示されている通り、垂直ＤＣイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いた磁気パターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、単極パルス形状となる。一方、水平ＤＣイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いた磁気パターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、双極パルス形状となる。 The direction of the magnetic field of the servo pattern to be formed is determined according to the direction of the erase. For example, when the horizontal DC erase is applied to the magnetic tape, the servo pattern is formed so that the direction of the magnetic field is opposite to the direction of the erase. Thereby, the output of the servo signal obtained by reading the servo pattern can be increased. As shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-53940, when a magnetic pattern using the gap is transferred to a magnetic tape that has been vertically DC erased, the formed servo pattern is read and obtained. The servo signal has a monopolar pulse shape. On the other hand, when a magnetic pattern using the gap is transferred to a magnetic tape subjected to horizontal DC erase, a servo signal obtained by reading the formed servo pattern has a bipolar pulse shape.
［磁気記録再生装置］
本発明の一態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気記録再生装置に関する。
[Magnetic recording / reproducing device]
One embodiment of the present invention relates to a magnetic recording / reproducing apparatus including the magnetic tape and a magnetic head.
本発明および本明細書において、「磁気記録再生装置」とは、磁気テープへの情報の記録および磁気テープに記録された情報の再生の少なくとも一方を行うことができる装置を意味するものとする。かかる装置は、一般にドライブと呼ばれる。上記磁気記録再生装置に含まれる磁気ヘッドは、磁気テープへの情報の記録を行うことができる記録ヘッドであることができ、磁気テープに記録された情報の再生を行うことができる再生ヘッドであることもできる。また、上記磁気記録再生装置は、一態様では、別々の磁気ヘッドとして、記録ヘッドと再生ヘッドの両方を含むことができる。他の一態様では、上記磁気記録再生装置に含まれる磁気ヘッドは、記録素子と再生素子の両方を１つの磁気ヘッドに備えた構成を有することもできる。再生ヘッドとしては、磁気テープに記録された情報を感度よく読み取ることができる磁気抵抗効果型（ＭＲ；Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）素子を再生素子として含む磁気ヘッド（ＭＲヘッド）が好ましい。ＭＲヘッドとしては、公知の各種ＭＲヘッドを用いることができる。また、情報の記録および／または情報の再生を行う磁気ヘッドには、サーボパターン読み取り素子が含まれていてもよい。または、情報の記録および／または情報の再生を行う磁気ヘッドとは別のヘッドとして、サーボパターン読み取り素子を備えた磁気ヘッド（サーボヘッド）が上記磁気記録再生装置に含まれていてもよい。 In the present invention and the present specification, the “magnetic recording / reproducing apparatus” means an apparatus capable of performing at least one of recording information on the magnetic tape and reproducing information recorded on the magnetic tape. Such a device is generally called a drive. The magnetic head included in the magnetic recording / reproducing apparatus can be a recording head capable of recording information on a magnetic tape, and is a reproducing head capable of reproducing information recorded on the magnetic tape. You can also. In one embodiment, the magnetic recording / reproducing apparatus can include both a recording head and a reproducing head as separate magnetic heads. In another aspect, the magnetic head included in the magnetic recording / reproducing apparatus may have a configuration in which both the recording element and the reproducing element are provided in one magnetic head. As the reproducing head, a magnetic head (MR head) including a magnetoresistive (MR) element capable of reading information recorded on the magnetic tape with high sensitivity is preferable. Various known MR heads can be used as the MR head. The magnetic head for recording information and / or reproducing information may include a servo pattern reading element. Alternatively, a magnetic head (servo head) including a servo pattern reading element may be included in the magnetic recording / reproducing apparatus as a head different from the magnetic head that records information and / or reproduces information.
上記磁気記録再生装置において、磁気テープへの情報の記録および磁気テープに記録された情報の再生は、磁気テープの磁性層表面と磁気ヘッドとを接触させて摺動させることにより行うことができる。上記磁気記録再生装置は、本発明の一態様にかかる磁気テープを含むものであればよく、その他については公知技術を適用することができる。 In the magnetic recording / reproducing apparatus, recording of information on the magnetic tape and reproduction of information recorded on the magnetic tape can be performed by sliding the magnetic layer surface of the magnetic tape and the magnetic head in contact with each other. The magnetic recording / reproducing apparatus only needs to include the magnetic tape according to one embodiment of the present invention, and publicly known techniques can be applied to the others.
上記磁気記録再生装置は、本発明の一態様にかかる磁気テープを含む。したがって、低温高湿環境下で磁気テープに記録された情報を再生する際、ミッシングパルスの発生頻度を低減することができる。また、低温高湿環境下で磁気テープへの情報の記録のために磁性層表面とヘッドとが摺動する際にも、磁性層表面の削れに起因するヘッド付着物によって、磁性層表面とヘッドとの接触状態が不安定になることを抑制することも可能である。 The magnetic recording / reproducing apparatus includes a magnetic tape according to one embodiment of the present invention. Therefore, when reproducing information recorded on the magnetic tape in a low temperature and high humidity environment, the frequency of occurrence of missing pulses can be reduced. In addition, even when the magnetic layer surface and the head slide for recording information on the magnetic tape in a low temperature and high humidity environment, the magnetic layer surface and the head are caused by head deposits resulting from the abrasion of the magnetic layer surface. It is also possible to suppress the unstable contact state with.
以下に、本発明を実施例に基づき説明する。ただし本発明は実施例に示す態様に限定されるものではない。以下に記載の「部」および「％」は、質量基準である。 Hereinafter, the present invention will be described based on examples. However, the present invention is not limited to the embodiment shown in the examples. The “parts” and “%” described below are based on mass.
［実施例１］
＜研磨剤液の調製＞
アルファ化率約６５％、ＢＥＴ（Ｂｒｕｎａｕｅｒ−Ｅｍｍｅｔｔ−Ｔｅｌｌｅｒ）比表面積２０ｍ２／ｇのアルミナ粉末（住友化学社製ＨＩＴ−８０）１００．０部に対し、２，３−ジヒドロキシナフタレン（東京化成社製）を３．０部、ＳＯ３Ｎａ基含有ポリエステルポリウレタン樹脂（東洋紡社製ＵＲ−４８００（ＳＯ３Ｎａ基：０．０８ｍｅｑ／ｇ））の３２％溶液（溶媒はメチルエチルケトンとトルエンの混合溶媒）を３１．３部、溶媒としてメチルエチルケトンとシクロヘキサノン１：１（質量比）の混合溶媒５７０．０部を混合し、ジルコニアビーズの存在下で、ペイントシェーカーにより５時間分散させた。分散後、メッシュにより分散液とビーズとを分け、アルミナ分散物を得た。
[Example 1]
<Preparation of abrasive liquid>
2,3-dihydroxynaphthalene (Tokyo Kasei Co., Ltd.) with respect to 100.0 parts of alumina powder (HIT-80 manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) having an alpha conversion rate of about 65% and a BET (Brunauer-Emmett-Teller) specific surface area of 20 m 2 / g 3.0 parts of SO 3 Na group-containing polyester polyurethane resin (Toyobo UR-4800 (SO 3 Na group: 0.08 meq / g)) solution (solvent is a mixed solvent of methyl ethyl ketone and toluene) Was mixed with 570.0 parts of a mixed solvent of methyl ethyl ketone and cyclohexanone 1: 1 (mass ratio) as a solvent, and dispersed in a paint shaker for 5 hours in the presence of zirconia beads. After dispersion, the dispersion and beads were separated with a mesh to obtain an alumina dispersion.
＜磁性層形成用組成物の調製＞
（磁性液）
板状強磁性六方晶バリウムフェライト粉末 １００．０部
（活性化体積：１６００ｎｍ３、平均板状比：３．５）
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂 表１参照
（重量平均分子量：７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基量：表１参照）
シクロヘキサノン １５０．０部
メチルエチルケトン １５０．０部
（研磨剤液）
上記で調製したアルミナ分散物 ６．０部
（シリカゾル（突起形成剤液））
コロイダルシリカ（平均粒子サイズ：１００ｎｍ） ２．０部
メチルエチルケトン １．４部
（その他成分）
ステアリン酸 ２．０部
ブチルステアレート ２．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）） ２．５部
（仕上げ添加溶媒）
シクロヘキサノン ２００．０部
メチルエチルケトン ２００．０部
<Preparation of magnetic layer forming composition>
(Magnetic liquid)
Plate-like ferromagnetic hexagonal barium ferrite powder 100.0 parts (activation volume: 1600 nm 3 , average plate ratio: 3.5)
SO 3 Na group-containing polyurethane resin See Table 1 (weight average molecular weight: 70,000, SO 3 Na group amount: see Table 1)
Cyclohexanone 150.0 parts Methyl ethyl ketone 150.0 parts (Abrasive liquid)
6.0 parts of the alumina dispersion prepared above (silica sol (protrusion forming agent liquid))
Colloidal silica (average particle size: 100 nm) 2.0 parts methyl ethyl ketone 1.4 parts (other components)
Stearic acid 2.0 parts Butyl stearate 2.0 parts Polyisocyanate (Tosoh Coronate (registered trademark)) 2.5 parts (finishing additive solvent)
Cyclohexanone 200.0 parts Methyl ethyl ketone 200.0 parts
（調製方法）
上記磁性液の各種成分を、バッチ式縦型サンドミルにおいて分散メディアとしてビーズを用いてビーズ分散することにより、磁性液を調製した。ビーズとしてはジルコニアビーズ（ビーズ径：表１参照）を用いて、表１に記載の時間（磁性液ビーズ分散時間）、ビーズ分散を行った。
こうして得られた磁性液、上記の研磨剤液、シリカゾル、その他成分および仕上げ添加溶媒を混合し５分間ビーズ分散した後、バッチ型超音波装置（２０ｋＨｚ、３００Ｗ）で０．５分間処理（超音波分散）を行った。その後、０．５μｍの孔径を有するフィルタを用いてろ過を行い磁性層形成用組成物を調製した。
(Preparation method)
The magnetic liquid was prepared by dispersing the various components of the magnetic liquid using beads as a dispersion medium in a batch type vertical sand mill. As beads, zirconia beads (bead diameter: see Table 1) were used, and the beads were dispersed for the time shown in Table 1 (magnetic liquid bead dispersion time).
The magnetic liquid thus obtained, the above-mentioned abrasive liquid, silica sol, other components and finishing additive solvent were mixed and the beads were dispersed for 5 minutes, followed by treatment with a batch type ultrasonic apparatus (20 kHz, 300 W) for 0.5 minutes (ultrasound Dispersion). Then, it filtered using the filter which has a 0.5 micrometer hole diameter, and prepared the composition for magnetic layer formation.
＜非磁性層形成用組成物の調製＞
下記の非磁性層形成用組成物の各種成分のうち、ステアリン酸、シクロヘキサノンおよびメチルエチルケトンを除いた成分を、バッチ式縦型サンドミルを用いてビーズ分散（分散メディア：ジルコニアビーズ（ビーズ径：０．１ｍｍ）、分散時間：表１参照）して分散液を得た。その後、得られた分散液に残りの成分を添加し、ディゾルバー撹拌機により撹拌した。次いで、得られた分散液をフィルタ（孔径０．５μｍ）を用いてろ過し、非磁性層形成用組成物を調製した。
<Preparation of nonmagnetic layer forming composition>
Among the various components of the composition for forming a nonmagnetic layer described below, components other than stearic acid, cyclohexanone and methyl ethyl ketone were dispersed using a batch type vertical sand mill (dispersion media: zirconia beads (bead diameter: 0.1 mm ), Dispersion time: see Table 1) to obtain a dispersion. Thereafter, the remaining components were added to the obtained dispersion and stirred with a dissolver stirrer. Next, the obtained dispersion was filtered using a filter (pore size: 0.5 μm) to prepare a composition for forming a nonmagnetic layer.
非磁性無機粉末 α−酸化鉄：１００．０部
（平均粒子サイズ１０ｎｍ、ＢＥＴ比表面積７５ｍ２／ｇ）
カーボンブラック：２５．０部
（平均粒子サイズ２０ｎｍ）
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂：１８．０部
（重量平均分子量７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基含有量０.２ｍｅｑ/ｇ）
ステアリン酸：１．０部
シクロヘキサノン：３００．０部
メチルエチルケトン：３００．０部
Nonmagnetic inorganic powder α-iron oxide: 100.0 parts (average particle size 10 nm, BET specific surface area 75 m 2 / g)
Carbon black: 25.0 parts (average particle size 20 nm)
SO 3 Na group-containing polyurethane resin: 18.0 parts (weight average molecular weight 70,000, SO 3 Na group content 0.2 meq / g)
Stearic acid: 1.0 part Cyclohexanone: 300.0 parts Methyl ethyl ketone: 300.0 parts
＜バックコート層形成用組成物の調製＞
下記のバックコート層形成用組成物の各種成分のうち、ステアリン酸、ブチルステアレート、ポリイソシアネートおよびシクロヘキサノンを除いた成分をオープンニーダにより混練および希釈して混合液を得た。その後、得られた混合液に対して横型ビーズミルにより、ビーズ径１．０ｍｍのジルコニアビーズを用い、ビーズ充填率８０体積％およびローター先端周速１０ｍ／秒で、１パスあたりの滞留時間を２分とし、１２パスの分散処理を行った。その後、得られた分散液に残りの成分を添加し、ディゾルバー撹拌機により撹拌した。次いで、得られた分散液をフィルタ（孔径：１．０μｍ）を用いてろ過し、バックコート層形成用組成物を調製した。
<Preparation of composition for forming backcoat layer>
Among the various components of the composition for forming a backcoat layer described below, components other than stearic acid, butyl stearate, polyisocyanate and cyclohexanone were kneaded and diluted with an open kneader to obtain a mixed solution. Thereafter, the obtained mixed solution was mixed with a horizontal bead mill using zirconia beads having a bead diameter of 1.0 mm, and the residence time per pass was 2 minutes at a bead filling rate of 80 vol% and a rotor tip peripheral speed of 10 m / sec. And 12-pass distributed processing. Thereafter, the remaining components were added to the obtained dispersion and stirred with a dissolver stirrer. Subsequently, the obtained dispersion was filtered using a filter (pore diameter: 1.0 μm) to prepare a composition for forming a backcoat layer.
非磁性無機粉末：α−酸化鉄 ８０．０部
平均粒子サイズ（平均長軸長）：０．１５μｍ
平均針状比：７
ＢＥＴ比表面積：５２ｍ２／ｇ
カーボンブラック ２０．０部
平均粒子サイズ：２０ｎｍ
塩化ビニル共重合体 １３．０部
スルホン酸塩基含有ポリウレタン樹脂 ６．０部
フェニルホスホン酸 ３．０部
メチルエチルケトン １５５．０部
ステアリン酸 ３．０部
ブチルステアレート ３．０部
ポリイソシアネート ５．０部
シクロヘキサノン ３５５．０部
Nonmagnetic inorganic powder: α-iron oxide 80.0 parts Average particle size (average major axis length): 0.15 μm
Average needle ratio: 7
BET specific surface area: 52 m 2 / g
Carbon black 20.0 parts Average particle size: 20 nm
Vinyl chloride copolymer 13.0 parts Polysulfonate resin containing sulfonate group 6.0 parts Phenylphosphonic acid 3.0 parts Methyl ethyl ketone 155.0 parts Stearic acid 3.0 parts Butyl stearate 3.0 parts Polyisocyanate 5.0 parts Cyclohexanone 355.0 parts
＜磁気テープの作製＞
図４に示す具体的態様により磁気テープを作製した。詳しくは、次の通りとした。
厚み５．０μｍのポリエチレンナフタレート製支持体を送り出し部から送りだし、一方の表面に、第一の塗布部において乾燥後の厚みが０．７μｍになるように非磁性層形成用組成物を塗布し、第一の加熱処理ゾーン（雰囲気温度１００℃）にて乾燥させて非磁性層を形成した。
その後、第二の塗布部において乾燥後の厚みが５０ｎｍになるように磁性層形成用組成物を非磁性層上に塗布し塗布層を形成した。形成した塗布層が湿潤状態にあるうちに雰囲気温度０℃に調整した冷却ゾーンに表１に示す滞在時間で通過させて冷却工程を行った。その後、配向ゾーンにおいて表１に示す強度の磁場を、磁性層形成用組成物の塗布層表面に対し垂直方向に印加し垂直配向処理を行った後、上記塗布層を第二の加熱処理ゾーン（雰囲気温度：表１中の磁性層乾燥温度）にて乾燥させて磁性層を形成した。
その後、第三の塗布部において、上記ポリエチレンナフタレート製支持体の非磁性層および磁性層を形成した表面とは反対側の表面に、乾燥後の厚みが０．５μｍになるようにバックコート層形成用組成物を塗布して塗布層を形成し、形成した塗布層を第三の加熱処理ゾーン（雰囲気温度１００℃）にて乾燥させてバックコート層を形成した。
こうして得られた磁気テープを１／２インチ（０．０１２７メートル）幅にスリットした後、磁性層表面のバーニッシュ処理およびワイピング処理を行った。バーニッシュ処理およびワイピング処理は、特開平６−５２５４４号公報の図１に記載の構成の処理装置において、研磨テープとして市販の研磨テープ（富士フイルム社製商品名ＭＡ２２０００、研磨剤：ダイヤモンド／Ｃｒ２Ｏ３／ベンガラ）を使用し、研削用ブレードとして市販のサファイヤブレード（京セラ社製、幅５ｍｍ、長さ３５ｍｍ、先端角度６０度）を使用し、ワイピング材として市販のワイピング材（クラレ社製商品名ＷＲＰ７３６）を使用して行った。処理条件は、特開平６−５２５４４号公報の実施例１２における処理条件を採用した。
上記バーニッシュ処理およびワイピング処理後、金属ロールのみから構成されるカレンダロールで、速度８０ｍ／分、線圧３００ｋｇ／ｃｍ（２９４ｋＮ／ｍ）、および表１に示すカレンダ温度（カレンダロールの表面温度）にてカレンダ処理（表面平滑化処理）を行った。
その後、雰囲気温度７０℃の環境で３６時間加熱処理（硬化処理）を行った後、市販のサーボライターによって磁性層にサーボパターンを形成した。
以上により、実施例１の磁気テープを得た。
<Preparation of magnetic tape>
A magnetic tape was produced according to the specific embodiment shown in FIG. The details are as follows.
A support made of polyethylene naphthalate having a thickness of 5.0 μm is sent out from the delivery part, and a composition for forming a nonmagnetic layer is applied to one surface so that the thickness after drying in the first application part is 0.7 μm. Then, it was dried in the first heat treatment zone (atmosphere temperature 100 ° C.) to form a nonmagnetic layer.
Then, the composition for magnetic layer formation was apply | coated on the nonmagnetic layer so that the thickness after drying might be set to 50 nm in the 2nd application part, and the application layer was formed. While the formed coating layer was in a wet state, it was passed through a cooling zone adjusted to an atmospheric temperature of 0 ° C. for the residence time shown in Table 1 to perform a cooling step. Thereafter, a magnetic field having the strength shown in Table 1 in the orientation zone was applied in a direction perpendicular to the coating layer surface of the composition for forming a magnetic layer to perform a vertical orientation treatment, and then the coating layer was placed in the second heat treatment zone ( Atmospheric temperature: Magnetic layer drying temperature in Table 1) was dried to form a magnetic layer.
Thereafter, in the third coating part, the backcoat layer is formed on the surface opposite to the surface on which the nonmagnetic layer and the magnetic layer of the polyethylene naphthalate support are formed so that the thickness after drying becomes 0.5 μm. The forming composition was applied to form a coating layer, and the formed coating layer was dried in a third heat treatment zone (atmosphere temperature 100 ° C.) to form a backcoat layer.
After slitting the magnetic tape thus obtained to a width of 1/2 inch (0.0127 meter), burnishing and wiping treatments were performed on the surface of the magnetic layer. The burnishing and wiping treatments were performed using a commercially available polishing tape (trade name MA22000, manufactured by Fuji Film Co., Ltd., abrasive: diamond / Cr 2) as the polishing tape in the processing apparatus having the configuration shown in FIG. 1 of JP-A-6-52544. O 3 / Bengara), a commercially available sapphire blade (made by Kyocera, width 5 mm, length 35 mm, tip angle 60 degrees) as a grinding blade, and a commercially available wiping material (Kuraray product) The name WRP736) was used. As the processing conditions, the processing conditions in Example 12 of JP-A-6-52544 were adopted.
After the above burnish treatment and wiping treatment, a calender roll composed of only a metal roll, speed 80 m / min, linear pressure 300 kg / cm (294 kN / m), and calender temperature shown in Table 1 (calendar roll surface temperature) The calendar process (surface smoothing process) was performed.
Then, after performing a heat treatment (curing treatment) for 36 hours in an environment with an atmospheric temperature of 70 ° C., a servo pattern was formed on the magnetic layer by a commercially available servo writer.
Thus, a magnetic tape of Example 1 was obtained.
［実施例４、比較例１〜６］
表１に示す各種項目を表１に示すように変更した点以外、実施例１と同様に磁気テープを作製した。
表１中、「磁性層の形成と配向」欄に「配向処理なし」と記載されている比較例は、磁性層形成用組成物の塗布層について配向処理を行わずに磁気テープを作製した。
表１中、冷却ゾーン滞在時間の欄および硬化処理前バーニッシュ処理の欄に「未実施」と記載されている比較例では、磁性層形成工程に冷却ゾーンを含まず、かつ硬化処理前のバーニッシュ処理およびワイピング処理を行わない製造工程により磁気テープを作製した。
[Example 4, Comparative Examples 1-6]
A magnetic tape was produced in the same manner as in Example 1 except that various items shown in Table 1 were changed as shown in Table 1.
In Table 1, in the comparative example described as “No orientation treatment” in the “Formation and orientation of magnetic layer” column, a magnetic tape was prepared without performing orientation treatment on the coating layer of the magnetic layer forming composition.
In Table 1, in the comparative example in which “not implemented” is written in the column of the cooling zone residence time column and the burnishing pre-curing treatment column, the magnetic layer forming step does not include the cooling zone and the bar before the curing treatment. A magnetic tape was manufactured by a manufacturing process in which neither the nisch process nor the wiping process was performed.
［実施例２］
非磁性層形成後、非磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第一の塗布層を形成した。この第一の塗布層を、磁場の印加なしに表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中を通過させて第一の磁性層（配向処理なし）を形成した。
その後、第一の磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第二の塗布層を形成した。形成した第二の塗布層が湿潤状態にあるうちに雰囲気温度０℃に調整した冷却ゾーンに表１に示す滞在時間で通過させて冷却工程を行った。その後、配向ゾーンにおいて表１に示す強度の磁場を、第二の塗布層表面に対し垂直方向に印加し垂直配向処理を行った後、第二の加熱処理ゾーン（雰囲気温度：表１中の磁性層乾燥温度）にて乾燥させ、第二の磁性層を形成した。
以上のように重層磁性層を形成した点以外、実施例１と同様にして磁気テープを作製した。
[Example 2]
After the formation of the nonmagnetic layer, the magnetic layer forming composition was applied onto the surface of the nonmagnetic layer so that the thickness after drying was 25 nm, thereby forming a first coating layer. This first coating layer was passed through an atmosphere having an atmospheric temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1 without applying a magnetic field to form a first magnetic layer (without orientation treatment).
Then, the composition for magnetic layer formation was apply | coated so that the thickness after drying might be set to 25 nm on the surface of a 1st magnetic layer, and the 2nd application layer was formed. While the formed second coating layer was in a wet state, it was passed through a cooling zone adjusted to an atmospheric temperature of 0 ° C. for the residence time shown in Table 1 to perform a cooling step. Thereafter, a magnetic field having the strength shown in Table 1 in the orientation zone was applied in the direction perpendicular to the surface of the second coating layer to perform the vertical orientation treatment, and then the second heat treatment zone (atmosphere temperature: magnetic properties in Table 1). Layer drying temperature) to form a second magnetic layer.
A magnetic tape was produced in the same manner as in Example 1 except that the multilayer magnetic layer was formed as described above.
［実施例３］
冷却ゾーン滞在時間を表１に示すように変更した点以外、実施例２と同様にして磁気テープを作製した。
[Example 3]
A magnetic tape was produced in the same manner as in Example 2 except that the cooling zone residence time was changed as shown in Table 1.
［比較例７］
非磁性層形成後、非磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第一の塗布層を形成した。この第一の塗布層が湿潤状態にあるうちに、表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中で対向磁石を用いて表１に示す強度の磁場を第一の塗布層の表面に対して垂直方向に印加して垂直配向処理および乾燥処理を行い、第一の磁性層を形成した。
その後、第一の磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第二の塗布層を形成した。この第二の塗布層を、磁場の印加なしに表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中を通過させて第二の磁性層（配向処理なし）を形成した。
以上のように重層磁性層を形成した点以外、比較例２と同様にして磁気テープを作製した。
[Comparative Example 7]
After the formation of the nonmagnetic layer, the magnetic layer forming composition was applied onto the surface of the nonmagnetic layer so that the thickness after drying was 25 nm, thereby forming a first coating layer. While the first coating layer is in a wet state, a magnetic field having the strength shown in Table 1 is applied to the surface of the first coating layer using an opposing magnet in an atmosphere at the atmospheric temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1. The first magnetic layer was formed by applying the film perpendicularly to the film, performing vertical alignment treatment and drying treatment.
Then, the composition for magnetic layer formation was apply | coated so that the thickness after drying might be set to 25 nm on the surface of a 1st magnetic layer, and the 2nd application layer was formed. This second coating layer was passed through an atmosphere having an atmospheric temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1 without applying a magnetic field to form a second magnetic layer (without orientation treatment).
A magnetic tape was produced in the same manner as in Comparative Example 2 except that the multilayer magnetic layer was formed as described above.
［比較例８］
非磁性層形成後、非磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第一の塗布層を形成した。この第一の塗布層が湿潤状態にあるうちに、表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中で対向磁石を用いて表１に示す強度の磁場を第一の塗布層の表面に対して垂直方向に印加して垂直配向処理および乾燥処理を行い、第一の磁性層を形成した。
その後、第一の磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第二の塗布層を形成した。この第二の塗布層を、磁場の印加なしに表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中を通過させて第二の磁性層（配向処理なし）を形成した。
以上のように重層磁性層を形成した点、および磁性層形成工程に冷却ゾーンを含まず、かつ硬化処理前のバーニッシュ処理およびワイピング処理を行わない製造工程により磁気テープを作製した点以外、比較例６と同様にして磁気テープを作製した。
[Comparative Example 8]
After the formation of the nonmagnetic layer, the magnetic layer forming composition was applied onto the surface of the nonmagnetic layer so that the thickness after drying was 25 nm, thereby forming a first coating layer. While the first coating layer is in a wet state, a magnetic field having the strength shown in Table 1 is applied to the surface of the first coating layer using an opposing magnet in an atmosphere at the atmospheric temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1. The first magnetic layer was formed by applying the film perpendicularly to the film, performing vertical alignment treatment and drying treatment.
Then, the composition for magnetic layer formation was apply | coated so that the thickness after drying might be set to 25 nm on the surface of a 1st magnetic layer, and the 2nd application layer was formed. This second coating layer was passed through an atmosphere having an atmospheric temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1 without applying a magnetic field to form a second magnetic layer (without orientation treatment).
Compared to the above, except that the multilayer magnetic layer was formed, and the magnetic layer was formed by a manufacturing process that did not include a cooling zone in the magnetic layer forming process and that did not perform burnishing and wiping before the curing process. A magnetic tape was produced in the same manner as in Example 6.
［比較例９］
非磁性層形成後、非磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第一の塗布層を形成した。この第一の塗布層を磁場の印加なしに表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中を通過させて第一の磁性層（配向処理なし）を形成した。
その後、第一の磁性層の表面上に乾燥後の厚みが２５ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布して第二の塗布層を形成した。この第二の塗布層が湿潤状態にあるうちに、表１に示す雰囲気温度（磁性層乾燥温度）の雰囲気中で対向磁石を用いて表１に示す強度の磁場を第二の塗布層の表面に対して垂直方向に印加して垂直配向処理および乾燥処理を行い、第二の磁性層を形成した。
以上のように重層磁性層を形成した点以外、比較例３と同様にして磁気テープを作製した。
[Comparative Example 9]
After the formation of the nonmagnetic layer, the magnetic layer forming composition was applied onto the surface of the nonmagnetic layer so that the thickness after drying was 25 nm, thereby forming a first coating layer. This first coating layer was passed through an atmosphere having an ambient temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1 without applying a magnetic field to form a first magnetic layer (without orientation treatment).
Then, the composition for magnetic layer formation was apply | coated so that the thickness after drying might be set to 25 nm on the surface of a 1st magnetic layer, and the 2nd application layer was formed. While the second coating layer is in a wet state, a magnetic field having the strength shown in Table 1 is applied to the surface of the second coating layer using an opposing magnet in an atmosphere at the atmospheric temperature (magnetic layer drying temperature) shown in Table 1. A second magnetic layer was formed by applying a vertical orientation treatment and a drying treatment with respect to the film.
A magnetic tape was produced in the same manner as in Comparative Example 3 except that the multilayer magnetic layer was formed as described above.
［磁気テープの物性評価］
（１）磁性層の対数減衰率の測定
測定装置として、株式会社エー・アンド・ディー製剛体振り子型物性試験器ＲＰＴ−３０００Ｗ（振り子：真鍮製、基板：ガラス基板、基板昇温速度５℃／ｍｉｎ）を用いて、先に記載した方法により磁気テープの磁性層の対数減衰率を求めた。磁気テープから切り出した測定用試料は、約３ｃｍ×約５ｃｍのサイズのガラス基板上に、固定用テープ（東レ・デュポン製カプトンテープ）で図１に示すように４箇所を固定し載置した。吸着時間を１秒間かつ測定間隔を７〜１０秒とし、８６回目の測定間隔について変位−時間曲線を作成し、この曲線を用いて対数減衰率を求めた。測定は、相対湿度約５０％の環境下にて行った。
[Evaluation of physical properties of magnetic tape]
(1) Measurement of logarithmic decay rate of magnetic layer As a measuring device, a rigid pendulum type physical property tester RPT-3000W manufactured by A & D Co., Ltd. (pendulum: made of brass, substrate: glass substrate, substrate heating rate 5 ° C. / min), the logarithmic decay rate of the magnetic layer of the magnetic tape was determined by the method described above. The measurement sample cut out from the magnetic tape was placed on a glass substrate having a size of about 3 cm × about 5 cm with a fixing tape (Kapton tape manufactured by Toray DuPont) as shown in FIG. The adsorption time was 1 second and the measurement interval was 7 to 10 seconds. A displacement-time curve was created for the 86th measurement interval, and the logarithmic decay rate was determined using this curve. The measurement was performed in an environment with a relative humidity of about 50%.
（２）非磁性支持体および各層の厚み
作製した各磁気テープの磁性層、非磁性層、非磁性支持体およびバックコート層の厚みを以下の方法によって測定した。測定の結果、いずれの磁気テープにおいても、磁性層の厚みは５０ｎｍ、非磁性層の厚みは０．７μｍ、非磁性支持体の厚みは５．０μｍ、バックコート層の厚みは０．５μｍであった。
ここで測定された磁性層、非磁性層および非磁性支持体の厚みを、以下の屈折率の算出のために用いた。
（ｉ）断面観察用試料の作製
特開２０１６−１７７８５１号公報の段落０１９３〜０１９４に記載の方法にしたがい、磁気テープの磁性層側表面からバックコート層側表面までの厚み方向の全領域を含む断面観察用試料を作製した。
（ｉｉ）厚み測定
作製した試料をＳＴＥＭ観察し、ＳＴＥＭ像を撮像した。このＳＴＥＭ像は、加速電圧３００ｋＶおよび撮像倍率４５００００倍で撮像したＳＴＥＭ −ＨＡＡＤＦ（Ｈｉｇｈ−Ａｎｇｌｅ Ａｎｎｕｌａｒ Ｄａｒｋ Ｆｉｅｌｄ）像であり、１画像に、磁気テープの磁性層側表面からバックコート層側表面までの厚み方向の全領域が含まれるように撮像した。こうして得られたＳＴＥＭ像において、磁性層表面を表す線分の両端を結ぶ直線を、磁気テープの磁性層側表面を表す基準線として定めた。上記の線分の両端を結ぶ直線とは、例えば、ＳＴＥＭ像を、断面観察用試料の磁性層側が画像の上方に位置しバックコート層側が下方に位置するように撮像した場合には、ＳＴＥＭ像の画像（形状は長方形または正方形）の左辺と上記線分との交点とＳＴＥＭ像の右辺と上記線分との交点とを結ぶ直線である。同様に磁性層と非磁性層との界面を表す基準線、非磁性層と非磁性支持体との界面を表す基準線、非磁性支持体とバックコート層との界面を表す基準線、磁気テープのバックコート層側表面を表す基準線を定めた。
磁性層の厚みは、磁気テープの磁性層側表面を表す基準線上の無作為に選んだ１箇所から、磁性層と非磁性層との界面を表す基準線までの最短距離として求めた。同様に、非磁性層、非磁性支持体およびバックコート層の厚みを求めた。
(2) Nonmagnetic support and thickness of each layer The thicknesses of the magnetic layer, nonmagnetic layer, nonmagnetic support and backcoat layer of each magnetic tape produced were measured by the following method. As a result of the measurement, in any magnetic tape, the thickness of the magnetic layer was 50 nm, the thickness of the nonmagnetic layer was 0.7 μm, the thickness of the nonmagnetic support was 5.0 μm, and the thickness of the backcoat layer was 0.5 μm. It was.
The thicknesses of the magnetic layer, the nonmagnetic layer, and the nonmagnetic support measured here were used for the following refractive index calculation.
(I) Preparation of cross-sectional observation sample In accordance with the method described in paragraphs 0193 to 0194 of JP-A No. 2006-177851, the entire region in the thickness direction from the magnetic layer side surface of the magnetic tape to the backcoat layer side surface is included. A sample for cross-sectional observation was prepared.
(Ii) Thickness measurement The prepared sample was observed with a STEM, and a STEM image was taken. This STEM image is a STEM-HAADF (High-Angle Angular Dark Field) image imaged at an acceleration voltage of 300 kV and an imaging magnification of 450,000 times. One image is formed from the magnetic layer side surface of the magnetic tape to the backcoat layer side surface. Images were taken so that the entire region in the thickness direction was included. In the STEM image thus obtained, a straight line connecting both ends of a line segment representing the magnetic layer surface was determined as a reference line representing the magnetic layer side surface of the magnetic tape. The straight line connecting both ends of the above-mentioned line segment is, for example, a STEM image when the STEM image is imaged so that the magnetic layer side of the sample for cross-sectional observation is positioned above the image and the back coat layer side is positioned below. Is a straight line connecting the intersection of the left side of the image (the shape is rectangular or square) and the line segment, and the intersection of the right side of the STEM image and the line segment. Similarly, a reference line representing the interface between the magnetic layer and the nonmagnetic layer, a reference line representing the interface between the nonmagnetic layer and the nonmagnetic support, a reference line representing the interface between the nonmagnetic support and the backcoat layer, and magnetic tape A reference line representing the backcoat layer side surface of was determined.
The thickness of the magnetic layer was determined as the shortest distance from one randomly selected point on the reference line representing the magnetic layer side surface of the magnetic tape to the reference line representing the interface between the magnetic layer and the nonmagnetic layer. Similarly, the thickness of the nonmagnetic layer, the nonmagnetic support and the backcoat layer was determined.
（３）磁性層のΔＮ
以下では、エリプソメーターとしてウーラム社製Ｍ−２０００Ｕを使用した。２層モデルまたは１層モデルの作成およびフィッティングは、解析ソフトとしてウーラム社製ＷＶＡＳＥ３２を使用して行った。
（ｉ）非磁性支持体の屈折率測定
各磁気テープから測定用試料を切り出し、メチルエチルケトンを染み込ませた布を用いて測定用試料のバックコート層をふき取り除去して非磁性支持体表面を露出させた後、露出した表面の反射光がこの後に行われるエリプソメーターでの測定において検出されないように、この表面をサンドペーパーにより粗面化した。
その後、メチルエチルケトンを染み込ませた布を用いて測定用試料の磁性層および非磁性層をふき取り除去した後、シリコンウェハー表面と粗面化した表面とを静電気を利用して貼り付けることにより、測定用試料を、磁性層および非磁性層を除去して露出した非磁性支持体表面（以下、「非磁性支持体の磁性層側表面」と記載する。）を上方に向けてシリコンウェハー上に配置した。
エリプソメーターを用いて、このシリコンウェハー上の測定用試料の非磁性支持体の磁性層側表面に先に記載したように入射光を入射させてΔおよびΨを測定した。得られた測定値および上記（２）で求めた非磁性支持体の厚みを用いて、先に記載した方法によって非磁性支持体の屈折率（長手方向における屈折率、幅方向における屈折率、長手方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率、および幅方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率）を求めた。
（ｉｉ）非磁性層の屈折率測定
各磁気テープから測定用試料を切り出し、メチルエチルケトンを染み込ませた布を用いて測定用試料のバックコート層をふき取り除去して非磁性支持体表面を露出させた後、露出した表面の反射光がこの後に行われる分光エリプソメーターでの測定において検出されないように、この表面をサンドペーパーにより粗面化した。
その後、メチルエチルケトンを染み込ませた布を用いて測定用試料の磁性層表面を軽くふき取り磁性層を除去して非磁性層表面を露出させた後、上記（ｉ）と同様にシリコンウェハー上に測定用試料を配置した。
このシリコンウェハー上の測定用試料の非磁性層表面について、エリプソメーターを用いて測定を行い、分光エリプソメトリーにより、先に記載した方法によって非磁性層の屈折率（長手方向における屈折率、幅方向における屈折率、長手方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率、および幅方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率）を求めた。
（ｉｉｉ）磁性層の屈折率測定
各磁気テープから測定用試料を切り出し、メチルエチルケトンを染み込ませた布を用いて測定用試料のバックコート層をふき取り除去して非磁性支持体表面を露出させた後、露出した表面の反射光がこの後に行われる分光エリプソメーターでの測定において検出されないように、この表面をサンドペーパーにより粗面化した。
その後、測定用試料を、上記（ｉ）と同様にシリコンウェハー上に測定用試料を配置した。
このシリコンウェハー上の測定用試料の磁性層表面について、エリプソメーターを用いて測定を行い、分光エリプソメトリーにより、先に記載した方法によって磁性層の屈折率（長手方向における屈折率Ｎｘ、幅方向における屈折率Ｎｙ、長手方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率Ｎｚ１、および幅方向から入射光を入射させて測定される厚み方向における屈折率Ｎｚ２）を求めた。求められた値から、Ｎｘｙ、Ｎｚを求め、更にこれらの差分の絶対値ΔＮを求めた。実施例および比較例のいずれの磁気テープについても、求められたＮｘｙは、Ｎｚより大きな値（即ちＮｘｙ＞Ｎｚ）であった。
(3) ΔN of magnetic layer
Below, M-2000U made from Woollam Co. was used as an ellipsometer. Creation and fitting of a two-layer model or a one-layer model was performed using WVASE32 manufactured by Woollam as analysis software.
(I) Refractive index measurement of nonmagnetic support A sample for measurement is cut out from each magnetic tape, and the backcoat layer of the measurement sample is wiped off using a cloth soaked with methyl ethyl ketone to expose the surface of the nonmagnetic support. After that, the surface was roughened with sandpaper so that the reflected light of the exposed surface was not detected in the subsequent ellipsometer measurement.
Then, after wiping and removing the magnetic layer and nonmagnetic layer of the measurement sample using a cloth soaked with methyl ethyl ketone, the surface of the silicon wafer and the roughened surface are pasted using static electricity for measurement. The sample was placed on a silicon wafer with the surface of the nonmagnetic support exposed by removing the magnetic layer and the nonmagnetic layer (hereinafter referred to as “the magnetic layer side surface of the nonmagnetic support”) facing upward. .
Using an ellipsometer, incident light was made incident on the surface of the nonmagnetic support of the measurement sample on the silicon wafer as described above, and Δ and Ψ were measured. Using the obtained measured value and the thickness of the nonmagnetic support obtained in (2) above, the refractive index of the nonmagnetic support (refractive index in the longitudinal direction, refractive index in the width direction, longitudinal direction) by the method described above. The refractive index in the thickness direction measured by making incident light incident from the direction and the refractive index in the thickness direction measured by making incident light incident from the width direction were determined.
(Ii) Refractive index measurement of nonmagnetic layer A sample for measurement was cut out from each magnetic tape, and the backcoat layer of the sample for measurement was wiped off using a cloth soaked with methyl ethyl ketone to expose the surface of the nonmagnetic support. The surface was then roughened with sandpaper so that reflected light from the exposed surface was not detected in subsequent spectroscopic ellipsometer measurements.
Thereafter, the surface of the magnetic layer of the sample for measurement is wiped lightly with a cloth soaked with methyl ethyl ketone to remove the magnetic layer and expose the surface of the nonmagnetic layer, and then the measurement is performed on the silicon wafer in the same manner as in (i) above. A sample was placed.
The surface of the nonmagnetic layer of the measurement sample on the silicon wafer is measured using an ellipsometer, and the refractive index of the nonmagnetic layer (refractive index in the longitudinal direction, width direction) is determined by spectroscopic ellipsometry by the method described above. , The refractive index in the thickness direction measured by making incident light incident from the longitudinal direction, and the refractive index in the thickness direction measured by making incident light incident from the width direction).
(Iii) Refractive index measurement of magnetic layer After cutting out a measurement sample from each magnetic tape and using a cloth soaked with methyl ethyl ketone, the back coat layer of the measurement sample was wiped off to expose the surface of the nonmagnetic support. The surface was roughened with sandpaper so that the reflected light of the exposed surface was not detected in the subsequent spectroscopic ellipsometer measurement.
Thereafter, the measurement sample was placed on the silicon wafer in the same manner as in the above (i).
The surface of the magnetic layer of the measurement sample on the silicon wafer is measured using an ellipsometer, and the refractive index of the magnetic layer (the refractive index Nx in the longitudinal direction and the refractive index in the width direction is measured by spectroscopic ellipsometry by the method described above. The refractive index Ny, the refractive index Nz 1 in the thickness direction measured by making incident light incident from the longitudinal direction, and the refractive index Nz 2 in the thickness direction measured by making incident light incident from the width direction were determined. Nxy and Nz were obtained from the obtained values, and the absolute value ΔN of these differences was obtained. For any of the magnetic tapes of Examples and Comparative Examples, the obtained Nxy was a value larger than Nz (that is, Nxy> Nz).
（４）垂直方向角型比（ＳＱ；Ｓｑｕａｒｅｎｅｓｓ Ｒａｔｉｏ）
磁気テープの垂直方向角型比とは、磁気テープの垂直方向において測定される角型比である。角型比に関して記載する「垂直方向」とは、磁性層表面と直交する方向をいう。実施例および比較例の各磁気テープについて、振動試料型磁束計（東英工業社製）を用いて、２３℃±１℃の測定温度において、磁気テープに外部磁場を最大外部磁場１１９４ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）かつスキャン速度４．８ｋＡ／ｍ／秒（６０Ｏｅ／秒）の条件で掃引して垂直方向角型比を求めた。測定値は反磁界補正後の値であり、振動試料型磁束計のサンプルプローブの磁化をバックグラウンドノイズとして差し引いた値として得るものとする。一態様では、磁気テープの垂直方向角型比は０．６０以上１．００以下であることが好ましく、０．６５以上１．００以下であることがより好ましい。また、一態様では、磁気テープの垂直方向角型比は、例えば０．９０以下、０．８５以下、または０．８０以下であることもでき、これらの値を上回ることもできる。
(4) Vertical squareness ratio (SQ; Squareness Ratio)
The perpendicular squareness ratio of the magnetic tape is a squareness ratio measured in the perpendicular direction of the magnetic tape. The “vertical direction” described with respect to the squareness ratio refers to a direction orthogonal to the magnetic layer surface. About each magnetic tape of an Example and a comparative example, using a vibration sample type magnetometer (manufactured by Toei Kogyo Co., Ltd.), at a measurement temperature of 23 ° C. ± 1 ° C., an external magnetic field was applied to the magnetic tape at a maximum external magnetic field of 1194 kA / m ( 15 kOe) and a scanning speed of 4.8 kA / m / sec (60 Oe / sec), the vertical squareness ratio was obtained. The measured value is a value after demagnetizing field correction, and is obtained as a value obtained by subtracting the magnetization of the sample probe of the vibrating sample type magnetometer as background noise. In one aspect, the perpendicular squareness ratio of the magnetic tape is preferably 0.60 or more and 1.00 or less, and more preferably 0.65 or more and 1.00 or less. Moreover, in one aspect, the perpendicular squareness ratio of the magnetic tape can be, for example, 0.90 or less, 0.85 or less, or 0.80 or less, and can exceed these values.
［低温高湿環境下でのミッシングパルス発生頻度］
以下の測定は、温度１３℃かつ相対湿度８０％の低温高湿環境下で行った。
実施例および比較例の各磁気テープ（磁気テープ全長５００ｍ）を収容した磁気テープカートリッジを、ＩＢＭ社製ＬＴＯ−Ｇ６（Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ−Ｏｐｅｎ Ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ ６）ドライブにセットし、磁気テープを、テンション０．６Ｎ、走行速度８ｍ／秒で１５００往復走行させた。
上記走行後の磁気テープカートリッジを、リファレンスドライブ（ＩＢＭ社製ＬＴＯ−Ｇ６ドライブ）にセットし、磁気テープを走行させて記録および再生を行った。走行中の再生信号を外部ＡＤ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）変換装置に取り込み、再生信号振幅が平均（全トラックでの測定値の平均）に対して７０％以上低下した信号をミッシングパルスとして、その発生頻度（発生回数）を磁気テープ全長で除して、磁気テープの単位長さ当たり（１ｍ当たり）のミッシングパルス発生頻度（単位：回／ｍ）として求めた。ミッシングパルス発生頻度が５回／ｍ以下であれば、実用上、信頼性の高い磁気テープと判断することができる。
[Missing pulse frequency in low temperature and high humidity environment]
The following measurements were performed in a low temperature and high humidity environment at a temperature of 13 ° C. and a relative humidity of 80%.
The magnetic tape cartridges containing the magnetic tapes of the examples and comparative examples (total length of magnetic tape 500 m) were set in an LTO-G6 (Linear Tape-Open Generation 6) drive manufactured by IBM, and the magnetic tape was loaded with a tension of 0.6 N. And 1500 reciprocations at a traveling speed of 8 m / sec.
The magnetic tape cartridge after running was set in a reference drive (IBM LTO-G6 drive), and the magnetic tape was run to perform recording and reproduction. The reproduction signal during driving is taken into an external AD (Analog / Digital) converter, and a signal whose reproduction signal amplitude is reduced by 70% or more with respect to the average (average of measured values in all tracks) is used as a missing pulse, and its frequency of occurrence. The (number of occurrences) was divided by the total length of the magnetic tape, and was determined as the frequency of occurrence of missing pulses per unit length (per meter) of the magnetic tape (unit: times / m). If the missing pulse generation frequency is 5 times / m or less, it can be determined that the magnetic tape is practically highly reliable.
以上の結果を、表１（表１−１〜表１−４）に示す。 The above results are shown in Table 1 (Table 1-1 to Table 1-4).
表１に示す結果から、磁性層のΔＮおよび対数減衰率がそれぞれ先に記載した範囲である実施例１〜４の磁気テープでは、比較例１〜９の磁気テープと比べて、低温高湿環境下でのミッシングパルス発生頻度が低減されていることが確認できる。
なお一般に、角型比は磁性層における強磁性粉末の存在状態の指標として知られている。ただし、表１に示すように、垂直方向角型比が同じ磁気テープであってもΔＮは相違している（例えば実施例１と比較例８）。このことは、ΔＮは、磁性層における強磁性粉末の存在状態に加えて他の要因の影響も受ける値であることを示していると本発明者は考えている。
From the results shown in Table 1, in the magnetic tapes of Examples 1 to 4 in which the ΔN and the logarithmic decay rate of the magnetic layer are in the ranges described above, compared with the magnetic tapes of Comparative Examples 1 to 9, the temperature and humidity environment is low. It can be confirmed that the frequency of occurrence of missing pulses below is reduced.
In general, the squareness ratio is known as an index of the existence state of the ferromagnetic powder in the magnetic layer. However, as shown in Table 1, ΔN is different even for magnetic tapes having the same vertical squareness ratio (for example, Example 1 and Comparative Example 8). The inventor believes that this indicates that ΔN is a value that is influenced by other factors in addition to the presence of the ferromagnetic powder in the magnetic layer.
本発明の一態様は、データストレージ用磁気テープ等の各種磁気記録媒体の技術分野において有用である。 One embodiment of the present invention is useful in the technical field of various magnetic recording media such as magnetic tapes for data storage.
Claims (6)
前記磁性層の面内方向について測定される屈折率Ｎｘｙと前記磁性層の厚み方向について測定される屈折率Ｎｚとの差分の絶対値ΔＮは０．２５以上０．４０以下であり、かつ
前記磁性層の表面において振り子粘弾性試験により求められる対数減衰率は０．０５０以下である磁気テープ。 A magnetic tape having a magnetic layer comprising a ferromagnetic powder and a binder on a non-magnetic support,
The absolute value ΔN of the difference between the refractive index Nxy measured in the in-plane direction of the magnetic layer and the refractive index Nz measured in the thickness direction of the magnetic layer is 0.25 or more and 0.40 or less, and the magnetic A magnetic tape whose logarithmic decay rate obtained by a pendulum viscoelasticity test is 0.050 or less on the surface of the layer.
磁気ヘッドと、
を含む磁気記録再生装置。 The magnetic tape according to any one of claims 1 to 5,
A magnetic head;
A magnetic recording / reproducing apparatus.
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