JP2019111396A - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Abstract
Description
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する検出手段と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する分類手段と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示形態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる表示制御手段と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する修正手段と、を有し、
前記修正手段は、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定された後に、操作者により前記他の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示制御手段は、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する検出手段と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する分類手段と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示状態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる表示制御手段と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する修正手段と、を有し、
前記修正手段は、操作者により前記他の種類が指定された後に、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示制御手段は、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する工程と、前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する工程と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する工程と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示形態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる工程と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する工程と、を有し、
前記修正する工程では、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定された後に、操作者により前記他の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示させる工程では、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する工程と、前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する工程と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する工程と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示状態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる工程と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する工程と、を有し、
前記修正する工程では、操作者により前記他の種類が指定された後に、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示させる工程では、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
図1は、本実施形態における画像処理装置の全体構成の概略図である。本装置は、偏光OCT(Polarization Sensitive OCT;以下、PS−OCT)100、偏光を利用した走査型検眼鏡(Polarization Sensitive Scanning Laser Ophothalmoscope:以下、PS−SLO)140、前眼部撮像部160、内部固視灯170、制御部200から構成される。内部固視灯170を点灯して被検眼に注視させた状態で、前眼部観察部160により観察される被検体の前眼部の画像を用いて、装置のアライメントが行われる。アライメント完了後に、PS−OCT100とPS−SLO140による眼底の撮像が行われる。
PS−OCT100の構成について説明する。光源101は、低コヒーレント光源であるSLD光源(Super Luminescent Diode)であり、例えば、中心波長850nm、バンド幅50nmの光を出射する。光源101としてSLDを用いたが、ASE光源(Amplified Spontaneous Emission)等、低コヒーレント光が出射できる光源であれば何れでも良い。光源101から出射された光は、PM(Polarization Maintaining)ファイバ102、偏光コントローラ103を介して、偏光保持機能を有したファイバカップラ104に導かれ、測定光(OCT測定光とも言う)と参照光(OCT測定光に対応する参照光とも言う)に分岐される。偏光コントローラ103は、光源101から出射された光の偏光の状態を調整するものであり、直線偏光に調整される。ファイバカップラ104の分岐比は、90(参照光):10(測定光)である。
PS−SLO140の構成について説明する。光源141は、半導体レーザであり、本実施形態では、例えば、中心波長780nmの光を出射する。光源141から出射された測定光(SLO測定光とも言う)は、PMファイバ142を介し、偏光コントローラ145で直線偏光になるよう偏光制御され、コリメータ143から平行光として出射される。出射された測定光は穴あきミラー144の穴あき部を通過し、レンズ155を介し、眼底Erにおいて測定光を水平方向にスキャンするガルバノミラーから構成されるXスキャナ146、レンズ147、148、眼底Erにおいて測定光を垂直方向にスキャンするガルバノミラーから構成されるYスキャナ149を介し、ダイクロイックミラー154に到達する。Xスキャナ146、Yスキャナ149は駆動制御部180により制御され、眼底上で所望の範囲を測定光で走査できる。ダイクロイックミラー154は、760nm〜800nmを反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。
前眼部撮像部160について説明する。前眼部撮像部160は、波長1000nmの照明光を発するLED115−a、115−bから成る照明光源115により前眼部Eaを照射する。前眼部Eaで反射され光は、レンズ114、偏光板113、レンズ112、ダイクロイックミラー111、154を介し、ダイクロイックミラー161に達する。ダイクロイックミラー161は、980nm〜1100nmの光を反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。ダイクロイックミラー161で反射された光は、レンズ162、163、164を介し、前眼部カメラ165で受光される。前眼部カメラ165で受光された光は、電気信号に変換され、信号処理部190で受ける。
内部固視灯170について説明する。内部固視灯170は、内部固視灯用表示部171、レンズ172で構成される。内部固視灯用表示部171として複数の発光ダイオード(LD)がマトリックス状に配置されたものを用いる。発光ダイオードの点灯位置は、駆動制御部180の制御により撮像したい部位に合わせて変更される。内部固視灯用表示部171からの光は、レンズ172を介し、被検眼に導かれる。内部固視灯用表示部171から出射される光は520nmで、制御部180により所望のパターンが表示される。
本装置全体を制御するための制御部200について説明する。制御部200は、駆動制御部180、信号処理部190、表示制御部191、表示部192から構成される。駆動制御部180は、上述の通り各部を制御する。信号処理部190は、画像生成部193、領域検出部194、分類部195から構成される。信号処理部190は、ラインカメラ129及び133、APD152及び153、前眼部カメラ165からそれぞれ出力される信号に基づき、画像の生成、生成された画像の解析、解析結果の可視化情報の生成を行う。修正部196は、操作者により指定された表示形態に対応する種類を他の種類(操作者が指定した正しい種類)に修正する。なお、画像の生成、解析などの詳細については後述する。
次に、画像生成部193における画像生成について説明する。
画像生成部193は、ラインカメラ129、133から出力されたそれぞれの干渉信号に対して、一般的なSD−OCT(Spectral Domain OCT)に用いられる再構成処理を行うことで、各偏光成分に基づいた2つの断層画像(第一の偏光に対応する断層画像、第二の偏光に対応する断層画像とも言う)を生成する。まず、画像生成部193は、干渉信号から固定パターンノイズ除去を行う。固定パターンノイズ除去は検出した複数のAスキャン信号を平均することで固定パターンノイズを抽出し、これを入力した干渉信号から減算することで行われる。次に、画像生成部193は、干渉信号を波長から波数に変換し、フーリエ変換を行うことによって断層信号(偏光状態を示す断層信号とも言う)を生成する。以上の処理を2つの偏光成分の干渉信号に対して行うことにより、2つの断層画像が生成される。
画像生成部193は、前述した2つの断層信号から輝度画像を生成する。輝度画像は従来のOCTにおける断層画像と基本的に同じもので、その画素値rは各ラインセンサ129、133から得られた断層信号AHおよびAVから式1によって計算される。
画像生成部193は、互いに直行する偏光成分の断層画像からリターデーション画像を生成する。
画像生成部193は、複数のBスキャン像に対して得たリターデーション(Retardation)画像からリターデーションマップを生成する。まず、画像生成部193は、各Bスキャン画像において、網膜色素上皮(RPE)を検出する。RPEは偏光を解消する性質を持っているため、各Aスキャンを深度方向に沿って内境界膜(ILM)からRPEを含まない範囲でリターデーションの分布を調べ、その最大値を当該Aスキャンにおけるリターデーションの代表値とする。画像生成部193は、以上の処理を全てのリターデーション画像に対して行うことにより、リターデーションマップを生成する。
画像生成部193は、先に生成されたリターデーション画像の各Aスキャン画像において、ILMから網膜神経線維層(RNFL)の範囲でリターデーションδの値を線形近似し、その傾きを当該Aスキャン画像の網膜上の位置における複屈折として決定する。この処理を取得した全てのリターデーション画像に対して行うことで、複屈折を表すマップを生成する。図2(d)に視神経乳頭部の複屈折マップの例を示す。複屈折マップは、複屈折の値を直接マップ化するため、RNFLの厚さが変化しない場合であっても、その繊維構造が変化した場合に、複屈折の変化として描出することができる。
画像生成部193は、取得した断層信号AH、AVとそれらの間の位相差ΔΦから、画素毎にストークスベクトルSを式3により計算する。
次に本画像処理装置による処理動作について説明する。この処理は、偏光OCT画像での偏光解消領域の識別結果の確認を行うと共に、その識別結果に誤りが生じていた場合において補正を行うための動作である。図3は、本画像処理装置の処理動作を示すフローチャートである。
ステップS301では、不図示の被検眼情報取得部は、被検眼を同定する情報として被検者識別番号を外部から取得する。そして、被検者識別番号に基づいて、不図示の記憶部が保持している当該被検眼に関する情報を取得する。ここで被検眼に関する情報とは、氏名、性別、年齢、病歴などの個人情報と、眼底画像や断層画像などの画像データ、画像解析などの解析データを意味する。
操作者がマウス等の指示装置(不図示)を用いて、画面に表示されるカーソルで撮影指示ボタンを指定し、クリック操作等により指示をすることにより、断層画像の撮影が行われる。なお、本実施形態のマウスには、例えば、操作者の手によってマウス本体が2次元的に移動させたときの移動信号を検出するセンサと、操作者の手によって押圧されたことを検知するための左右2つのマウスボタンと、左右2つのマウスボタンの間に前後左右に回転可能なホイール機構と、が設けられている。また、指示装置は、表示部にタッチパネル機能を搭載させ、タッチパネル上で撮影指示をしてもよいし、装置本体にジョイスティックを搭載し、ジョイスティックによる撮影指示でもよい。撮影は、光源101、光源141からそれぞれ測定光を出射して、網膜Erからの戻り光を、ラインカメラ129、133、APD152、153で受光して、画像生成部193で、前述の通り各画像を生成する。
領域検出部194は、前述した画像生成部193の生成した画像に対して各種解析を行う。ここでは、領域検出部194が、DOPU画像から偏光解消物質(Depolarizing Material;以下、DMとする)の領域である偏光解消領域を検出する。偏光解消領域には、RPE領域、ドルーゼン(Drusen)領域、地図状萎縮(Geographic Atrophy;以下、GAとする)領域等が含まれる。この検出について、図3(b)と図4を用いて説明をする。
図4は、DOPU画像から偏光解消領域の検出を説明するための図である。図4(a)の401は輝度画像で、図4(b)の402は(a)の輝度画像に対応する、前述したDOPU計算から求めるDOPU画像である。始めに、DOPU画像402から偏光解消されている領域を求める。DOPU画像402において偏光解消領域は、1よりも値が小さくなる特徴がある。そのため、DOPU画像を閾値処理(例えば、閾値0.75)することで、偏光が保たれている領域と、偏光が解消されている領域とを分ける事が出来る。これらによって求めた偏光解消領域403を図4(c)に示す。
次に、偏光解消領域403に対してRPE領域の識別を行う。これについて、図4(d)を用いて説明をする。図4(d)は偏光解消領域403に対してRPEを識別するためにRPE推定曲線404(図では破線)を示している。ここでは、推定曲線404を2次曲線として求める例を示す。偏光解消領域403の一番大きな領域を通るように初期曲線を設定し、曲線の係数パラメータ(a、b、c)をロバスト推定手法(M推定等)を用いて推定することで、曲線を求める事が出来る。曲線の推定方法としてはこれに限らず、N次曲線の推定でもよいし、スプライン曲線としてもよい。
ステップS333では、1回目の解析か補正後の解析(再解析)かを判定する。1回目の解析の場合、偏光解消領域の識別が行われていないので、ステップS334に処理を進める。2回目以降の解析の場合は、ステップS338に処理を進める。2回目以降の処理については、ステップS306の時に説明する事とし、ここでは、ステップS334について説明を行う。
分類部195が、ステップS332で求めたRPE推定曲線404に基づいて、RPE領域とそれ以外の偏光解消領域(脈絡膜組織、Particle領域)との識別(分類)を行う。すなわち、偏光解消領域を複数の種類に分類する。RPE推定曲線404が通過する領域に存在する偏光解消領域をRPE領域とする。これは、RPE推定曲線404が通過する連結した偏光解消領域をRPE領域405(図の斜線領域部分)とすることを表している。すなわち偏光解消領域が連結している領域の一部をRPE推定曲線が通過していれば、その領域一帯をRPE領域として判断をする。そして、RPE領域とは連結していない領域であって、RPE領域よりも深部に存在する偏光解消領域をChoroid(脈絡膜組織)領域、RPE領域よりも浅部に存在する偏光解消領域をParticle領域とする。図4(e)にこれによって求めたRPE領域405を示す。図4(f)には、輝度画像401にRPE領域405を重畳表示した場合を示している。
次に、ステップS334、ステップS338で求めた識別結果からRPE以外の領域にマスクを作成する。すなわちRPE領域だけの画像を作成する。なお、この前の処理で識別によりラベリングされているので、必ずしもマスク画像を作成する必要はなく、マスク画像を作成せずに次のドルーゼン計算を行うようにしてもよい。
次に、ステップS335で作成したRPE画像を用いてドルーゼンの計算を行う。ドルーゼンは、各Aスキャン、あるいは離散的なAスキャンにおいてRPE画像の最深部位置をドルーゼン位置とする。ここで検出した位置をスプライン関数などにより滑らかに繋げることで、ドルーゼン曲線を求める。ドルーゼンは一般的には凸形状をしている。そのため、ドルーゼンの面積や体積を求めるため、基準となるRPEベース曲線を求める。これは、ここで求めたドルーゼン曲線に対して、凸包(Convex hull)を計算することで、ドルーゼンの凸形状を含む最小のRPEベース曲線を求める事が出来る。なお、前述したRPE推定曲線とここで述べたRPEベース曲線は異なるものである。
最後に、ステップS333で識別をした領域毎にマップ(Enfaceとも呼ぶ)画像を生成する。なお、本実施形態においては、DM厚みマップ、RPE厚みマップ、ドルーゼン厚みマップ、GAマップを作成するものとする。ここでは、RPE厚みマップを例に、マップ生成方法について説明をする。RPEの厚みマップは、ステップS335で作成したRPEの断層画像において、Aスキャン毎にRPEの存在するピクセル数をカウントする。そして、RPEとしてカウントしたピクセルの総数と、深さ方向のピクセル解像度(μm/ピクセル)を掛ける事により、RPEの厚みを求める事が出来る。
信号処理部190内の画像生成部193と領域検出部194において、各画像の生成及び解析が終了すると、その結果に基づき、表示制御部191は、出力情報を生成し、表示部192に出力して表示を行う。
ステップS305では、偏光解消領域の識別結果に変更があったかどうかを判断する処理である。図6のマニュアル補正選択部617が選択された場合、図7に示すマニュアル補正画面を表示する。ここで、図7を用いてマニュアル補正画面700について説明を行う。図7(a)はマニュアル補正の前、(b)はマニュアル補正の後を示している。ここで、マニュアル補正とは、操作者により偏光解消領域の複数の種類に対応する複数の表示形態のいずれかの表示形態が指定されると、修正部196が指定された表示形態に対応する種類を他の種類に修正(補正)することである。マニュアル補正画面は、偏光解消領域の識別結果を重畳した断層画像と、断層画像での操作を選択するアイコン701、マニュアル補正をする領域702、識別結果の修正を指示する識別結果指示部703、識別結果表示・非表示指定部704、領域削除指定部705、再解析実行指示部706、キャンセル指示部707で構成する。ここで、アイコン701−1は断層画像の拡大・縮小を指定するもので、701−2は矩形領域の指定、701−3はポリゴン領域を指定するアイコンとする。また、識別結果指示部703は、識別結果をそれぞれ、RPE、Choroid、Particleと指定するものとする。
ステップS306では、マニュアル補正で補正された結果に基づき再解析を行う。ここでは、図3(b)で示したフローを補正されたBスキャンに対してのみ行う。再解析の場合は、図3(b)のステップS338が異なるだけであり、他の処理は同様である。再解析の場合、マニュアル補正により偏光解消領域の識別がされているので、補正された識別結果を用いて以降の計算をする。
ステップS307では、補正をして再解析をした結果を表示する。この表示例を図9に示す。図9ではマニュアル補正の結果として解析マップ911、912と偏光解消領域の識別結果が補正されている状態を表示している。さらに、検査データツリーの解析時刻の前に、解析結果の補正有無が分かる指標923を表示する。なお、1つの画像ボリュームデータに対する補正の有無だけではなく、Bスキャン単位で補正の有無が分かるように表示をしてもよい。例えば、図9の断層画像の端に補正実行を表す指標(アイコン等)をBスキャン単位で表示したり、断層画像のフレームに補正の有無が分かる色を表示する等してもよい。
ステップS308では、解析結果の確認とマニュアル補正の終了の実行を選択する。マニュアル補正の終了、あるいは撮影モードの選択に処理を移行する際に、これまでの処理で求めたマニュアル補正結果、領域検出部194による解析結果を記憶部に保存する。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する検出手段と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を複数の種類に自動的に分類する分類手段であって、前記検出された偏光解消領域における曲線を含む領域をRPEに自動的に分類し、前記検出された偏光解消領域における前記曲線を含む領域とは異なる領域をRPE以外の種類に自動的に分類する分類手段と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示形態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる表示制御手段であって、前記曲線を含む領域に対応する位置と前記異なる領域に対応する位置とに異なる表示形態が重ねられた状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する修正手段と、を有し、
前記修正手段は、操作者により前記異なる領域に対応する位置が指定された後に、操作者により前記他の種類として前記RPEが指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPE以外の種類から前記RPEに修正し、
前記修正手段は、操作者により前記曲線を含む領域に対応する位置が指定された後に、操作者により前記他の種類として前記RPE以外の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPEから前記RPE以外の種類に修正し、
前記表示制御手段は、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する検出手段と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を複数の種類に自動的に分類する分類手段であって、前記検出された偏光解消領域における曲線を含む領域をRPEに自動的に分類し、前記検出された偏光解消領域における前記曲線を含む領域とは異なる領域をRPE以外の種類に自動的に分類する分類手段と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示状態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる表示制御手段であって、前記曲線を含む領域に対応する位置と前記異なる領域に対応する位置とに異なる表示形態が重ねられた状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する修正手段と、を有し、
前記修正手段は、操作者により前記他の種類として前記RPEが指定された後に、操作者により前記異なる領域に対応する位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPE以外の種類から前記RPEに修正し、
前記修正手段は、操作者により前記他の種類として前記RPE以外の種類が指定された後に、操作者により前記曲線を含む領域に対応する位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPEから前記RPE以外の種類に修正し、
前記表示制御手段は、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する工程と、前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する工程と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を複数の種類に自動的に分類する工程であって、前記検出された偏光解消領域における曲線を含む領域をRPEに自動的に分類し、前記検出された偏光解消領域における前記曲線を含む領域とは異なる領域をRPE以外の種類に自動的に分類する工程と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示形態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる工程であって、前記曲線を含む領域に対応する位置と前記異なる領域に対応する位置とに異なる表示形態が重ねられた状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる工程と、
前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する工程と、を有し、
前記修正する工程では、操作者により前記異なる領域に対応する位置が指定された後に、操作者により前記他の種類として前記RPEが指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPE以外の種類から前記RPEに修正し、
前記修正する工程では、操作者により前記曲線を含む領域に対応する位置が指定された後に、操作者により前記他の種類として前記RPE以外の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPEから前記RPE以外の種類に修正し、
前記表示させる工程では、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する工程と、前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する工程と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を複数の種類に自動的に分類する工程であって、前記検出された偏光解消領域における曲線を含む領域をRPEに自動的に分類し、前記検出された偏光解消領域における前記曲線を含む領域とは異なる領域をRPE以外の種類に自動的に分類する工程と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示状態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる工程であって、前記曲線を含む領域に対応する位置と前記異なる領域に対応する位置とに異なる表示形態が重ねられた状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる工程と、
前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する工程と、を有し、
前記修正する工程では、操作者により前記他の種類として前記RPEが指定された後に、操作者により前記異なる領域に対応する位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPE以外の種類から前記RPEに修正し、
前記修正する工程では、操作者により前記他の種類として前記RPE以外の種類が指定された後に、操作者により前記曲線を含む領域に対応する位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記RPEから前記RPE以外の種類に修正し、
前記表示させる工程では、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させる。
Claims (13)
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する検出手段と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する分類手段と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示形態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる表示制御手段と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する修正手段と、を有し、
前記修正手段は、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定された後に、操作者により前記他の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示制御手段は、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする画像処理装置。 - 前記修正手段は、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が先に指定された場合には、前記複数の位置のいずれかの位置が指定された後に、操作者により前記他の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、操作者により前記他の種類が先に指定された場合には、前記他の種類が指定された後に、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する検出手段と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する分類手段と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示状態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる表示制御手段と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する修正手段と、を有し、
前記修正手段は、操作者により前記他の種類が指定された後に、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示制御手段は、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする画像処理装置。 - 前記複数の表示形態は、異なる色であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記複数の領域は、前記検出された偏光解消領域を用いて推定された曲線を含む領域と、前記曲線を含む領域とは不連続な領域とを含み、
前記分類手段は、前記曲線を含む領域を被検眼の部位の種類に、且つ前記不連続な領域を前記病変の種類に自動的に分類し、
前記表示制御手段は、前記曲線を含む領域と前記不連続な領域とに対応する各位置に異なる表示形態が重ねられた状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させ、前記修正手段は、操作者により指定された位置が前記不連続な領域に対応する位置であり、且つ操作者により指定された他の種類が前記部位の種類である場合には、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記病変の種類から前記部位の種類に修正することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記曲線を含む領域は、第1の領域であり、
前記不連続な領域は、前記偏光断層画像の深さ方向に対して前記推定された曲線よりも浅い側の第2の領域及び深い側の第3の領域を含み、
前記分類手段は、前記第2の領域と前記第3の領域とを、異なる病変の種類に自動的に分類し、
前記表示制御手段は、前記第1の領域と前記第2の領域と前記第3の領域とに対応する各位置に異なる表示形態が重ねられた状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させ、
前記修正手段は、操作者により指定された位置が前記第2の領域と前記第3の領域とのいずれかの位置であり、操作者により指定された他の種類が前記部位の種類である場合には、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記異なる病変の種類から前記部位の種類に修正することを特徴とする請求項5に記載の画像処理装置。 - 前記部位の種類は、RPEであることを特徴とする請求項5または6に記載の画像処理装置。
- 前記被検眼の異なる位置の複数の前記偏光断層画像における前記曲線を含む領域を用いて、前記曲線を含む領域に関する解析マップを生成し、前記修正手段による修正後に、前記曲線を含む領域に対応する位置の表示形態に対応する種類に関する修正結果を用いて、前記解析マップを再度生成する画像生成手段を更に有することを特徴とする請求項5乃至7のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記断層輝度画像及び前記偏光断層画像の取得位置とは異なる取得位置の第2の断層輝度画像が前記表示手段に表示された場合に、前記表示された第2の断層輝度画像に対して前記修正手段による修正結果が保持されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記断層画像取得手段は、測定光を照射した前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との合波光を異なる偏光の光に分割して得た複数の光に基づき前記断層輝度画像及び前記偏光断層画像を取得することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する工程と、前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する工程と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する工程と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示形態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる工程と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する工程と、を有し、
前記修正する工程では、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定された後に、操作者により前記他の種類が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示させる工程では、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする画像処理方法。 - 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とによる共通のOCT信号を処理することで得られる前記被検眼の断層輝度画像及び偏光断層画像であって、画像上での前記被検眼の部位の位置が互いに対応する断層輝度画像及び偏光断層画像を取得する工程と、前記偏光断層画像における偏光解消領域を検出する工程と、
前記検出された偏光解消領域における複数の領域を、被検眼の病変の種類を含む複数の種類に自動的に分類する工程と、
前記分類された複数の種類に対応する複数の表示状態が前記複数の領域に対応する複数の位置に重ねられた状態で、前記断層輝度画像を表示手段に表示させる工程と、前記断層輝度画像における前記複数の位置のいずれかの位置であって、操作者により指定された位置の表示形態に対応する種類を、操作者により指定された他の種類に修正する工程と、を有し、
前記修正する工程では、操作者により前記他の種類が指定された後に、操作者により前記複数の位置のいずれかの位置が指定されることにより、前記指定された位置の表示形態に対応する種類を前記指定された他の種類に修正し、
前記表示させる工程では、前記指定された位置の表示形態が前記指定された他の種類に対応する表示形態に変更された状態で、前記断層輝度画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする画像処理方法。 - 請求項11または12に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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