JP2019071479A - Film deposition of metal oxide film - Google Patents

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孝浩 平松
Takahiro Hiramatsu
孝浩 平松
容征 織田
Yasuyuki Oda
容征 織田
敏幸 川原村
Toshiyuki Kawaramura
敏幸 川原村
藤田 静雄
Shizuo Fujita
静雄 藤田
内田 貴之
Takayuki Uchida
貴之 内田
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Kyoto University
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Abstract

To provide a metal oxide film deposition method by which a high-quality metal oxide film can be obtained while increasing a production efficiency.SOLUTION: A film deposition method of the present invention executes the steps of: atomizing a material solution 14 including aluminum, a metal element in a liquid solution container 15 to gain a material solution mist M1; atomizing a reaction-assistant solution 24 to gain an assistant agent mist M2 in a liquid solution container 25 independent of the liquid solution container 15; supplying the material solution mist M1 and assistant agent mist M2 obtained through routes L1 and L2 independent of each other into a mixing chamber 8 and then, mixing the material solution mist M1 and assistant agent mist M2 to obtain a mixed mist M3 in the mixing chamber 8; and then, supplying a mixed mist M3 onto a rear face of a P-type silicon substrate 4 in the state of being heated under an atmospheric pressure in a reaction chamber 11 provided independently of the mixing chamber 8.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

この発明は、ミスト法を用いて基板上に金属酸化膜を成膜する金属酸化膜の成膜方法に関する。   The present invention relates to a method of forming a metal oxide film in which a metal oxide film is formed on a substrate using a mist method.

太陽電池、FPD(Flat Panel Display)、LED(Light Emitting Diode)等の発光デバイスやタッチパネルなどの分野では、基板上に金属酸化膜が形成される。従来、非真空成膜技術を用いて金属酸化膜を基板上に成膜する方法として、スプレー法、ゾルゲル法、ミストCVD(Chemical Vapor Deposition)法等の大気開放溶液系の金属酸化膜の成膜方法がある。   In the field of light emitting devices such as solar cells, flat panel displays (FPDs), light emitting diodes (LEDs), and touch panels, a metal oxide film is formed on a substrate. Conventionally, as a method of forming a metal oxide film on a substrate using a non-vacuum film formation technique, film formation of a metal oxide film of an open solution system such as a spray method, a sol gel method or a mist CVD (Chemical Vapor Deposition) method There is a way.

これらの成膜方法は、目的とする金属酸化膜を成膜する時、その原料溶液は一種類である。原料溶液を予め調合することは可能であるが、金属酸化膜の成膜時には、調合した一種類の原料溶液を利用することになる。   In these film forming methods, when forming a target metal oxide film, the raw material solution is one type. Although it is possible to prepare a raw material solution in advance, when forming a metal oxide film, one kind of prepared raw material solution is used.

このように、従来の非真空成膜技術を用いた金属酸化膜の成膜方法は、成膜時には、調合した一種類の原料溶液を利用するため、原料溶液によって金属酸化膜を成膜するために必要な反応エネルギーは一意に決定されている。   As described above, in the metal oxide film forming method using the conventional non-vacuum film forming technology, the metal oxide film is formed by the raw material solution in order to use one kind of prepared raw material solution at the time of film formation. The required reaction energy is uniquely determined.

原料溶液によって金属酸化膜を成膜する際の反応エネルギーを低下させて、金属酸化膜の成膜速度を促進させる方法として、従来、以下の2種類の方法があった。   Conventionally, there have been the following two types of methods as methods for reducing the reaction energy when forming a metal oxide film with a raw material solution to accelerate the film formation rate of the metal oxide film.

まず、直接的に行う第1の方法として、予め原料溶液に反応支援剤を混合することにより上記反応エネルギーを低下させる方法が考えられる。第1の方法として例えば、特許文献1に開示された金属酸化膜の成膜方法がある。   First, as a first method to be directly performed, a method may be considered in which the reaction energy is reduced by mixing the reaction support agent with the raw material solution in advance. As a first method, for example, there is a method of forming a metal oxide film disclosed in Patent Document 1.

図7は特許文献1で開示された、第1の方法を用いた従来の成膜装置200の概略構成を示す説明図である。   FIG. 7 is an explanatory view showing a schematic configuration of a conventional film forming apparatus 200 disclosed in Patent Document 1 using the first method.

同図に示すように、同一の溶液容器15内の原料溶液18(亜鉛を含む溶液)及び反応支援溶液24(アンモニア液)が供給されており、ミスト化器16により原料溶液18,反応支援溶液24の混合溶液34をミスト化して、ミスト化された混合溶液34である混合ミストM4を得ている。   As shown in the figure, the raw material solution 18 (a solution containing zinc) and the reaction support solution 24 (ammonia solution) in the same solution container 15 are supplied, and the raw material solution 18 and the reaction support solution are supplied by the mister 16 The mixed solution 34 of 24 is formed into a mist to obtain a mixed mist M4 which is the mixed solution 34 formed into a mist.

そして、混合ミストM4は、経路L11を通って、反応容器11内のP型シリコン基板4の裏面(上面)に向けて供給され、P型シリコン基板4の裏面上に裏面パッシベーション膜5(酸化アルミニウム膜)が成膜される。   The mixed mist M4 is supplied toward the back surface (upper surface) of the P-type silicon substrate 4 in the reaction vessel 11 through the path L11, and the back surface passivation film 5 (aluminum oxide is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4). Film is formed.

特許文献1で開示された成膜方法では、ミスト法を用いた金属酸化膜(酸化亜鉛薄膜)の成膜に際し、原料溶液18と反応支援剤(アンモニア水)を含む反応支援溶液24とを同じ霧化器(溶液容器15,ミスト化器16)内で混合して混合ミストM4を得て、反応容器11内のP型シリコン基板4の裏面(一方主面)に向けて混合ミストM4を供給することにより、上記反応エネルギーの低下を図っている。   In the film forming method disclosed in Patent Document 1, in forming a metal oxide film (zinc oxide thin film) using a mist method, the raw material solution 18 and the reaction support solution 24 containing a reaction support agent (ammonia water) are the same. The mixed mist M4 is obtained by mixing in the atomizer (the solution container 15, the mister 16), and the mixed mist M4 is supplied toward the back surface (one main surface) of the P-type silicon substrate 4 in the reaction container 11. By doing this, the reaction energy is reduced.

一方、間接的に行う第2の方法として、反応支援ガスを上記反応容器に別途供給して、金属酸化膜の成膜時の雰囲気を調整することにより、上記反応容器内においてミスト化された原料溶液によって金属酸化膜の成膜時における上記反応エネルギーの低下を図るとともに、金属酸化膜の高品質化を実現する方法である。   On the other hand, as a second method performed indirectly, a reaction support gas is separately supplied to the reaction container, and the atmosphere at the time of film formation of the metal oxide film is adjusted to make the raw material misted in the reaction container. The method is intended to reduce the reaction energy at the time of film formation of the metal oxide film by the solution and to realize high quality of the metal oxide film.

国際公開第2011/151889号パンフレットInternational Publication No. 2011/151889 brochure

しかしながら、上述した第1の方法は、同じ霧化器内で混合して混合ミストを得ているため、原料溶液18と反応支援溶液24とは常に反応する環境下(霧化器内)に置かれていることになる。したがって、表面電極1と反応支援溶液24との反応時間が長期化するに伴い、混合ミストM4が所望の性質から劣化してしまう結果、膜質の良い金属酸化膜を成膜することができないという問題点があった。例えば、混合ミストM4の原料としての不安定化や、混合ミストM4内に金属酸化膜の成膜に不必要な反応物の発生などが生じるため、金属酸化膜の高品質化や再現性のある安定した成膜の実現を困難にしてしまう。   However, since the first method described above is mixed in the same atomizer to obtain a mixed mist, the raw material solution 18 and the reaction support solution 24 are always placed in an environment (in the atomizer) where they react. It will be. Therefore, as the reaction time between the surface electrode 1 and the reaction support solution 24 is prolonged, the mixed mist M 4 is deteriorated from the desired property. As a result, a metal oxide film having a good film quality can not be formed. There was a point. For example, since the destabilization as a raw material of the mixed mist M4 and the generation of a reactant unnecessary for the film formation of the metal oxide film in the mixed mist M4 are generated, etc., the metal oxide film has high quality and reproducibility. It makes it difficult to realize stable film formation.

また、第2の方法は、反応容器に供給する反応支援ガスは気体であるため、第1の方法に比べ、反応支援ガスによる反応促進の度合は弱く、反応速度の低下や膜内における不均一な分布による金属酸化膜の膜質低下などが生じる可能性が高いという問題点があった。   In the second method, since the reaction support gas supplied to the reaction container is a gas, the degree of reaction promotion by the reaction support gas is weaker than in the first method, and the reaction rate decreases and the unevenness in the film There is a problem that the film quality of the metal oxide film is likely to be deteriorated due to the distribution.

この発明は上記問題点を解決するためになされたもので、生産効率を高めながら、高品質な金属酸化膜を得る金属酸化膜の成膜方法を得ることを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to obtain a method for forming a metal oxide film which can obtain a high quality metal oxide film while enhancing the production efficiency.

この発明における金属酸化膜の成膜方法は、(a) 第1の容器内において、金属元素を含む原料溶液をミスト化させて原料溶液ミストを得るステップと、(b) 前記第1の容器と独立した第2の容器内において、前記金属元素用の反応支援剤を含む反応支援溶液をミスト化させて支援剤ミストを得るステップと、(c) 互いに独立した第1及び第2の経路を介して前記原料溶液ミスト及び前記支援剤ミストを受ける混合容器内において、前記原料溶液ミストと前記支援剤ミストとを混合して混合ミストを得るステップと、(d) 前記ステップ(c) で得た前記混合ミストを反応容器内における基板の一方主面上に供給しつつ、前記基板を加熱して、前記基板の一方主面上に前記金属元素を含む金属酸化膜を成膜するステップとを備える。   The method for forming a metal oxide film according to the present invention comprises the steps of: (a) forming a raw material solution containing a metal element into a mist to obtain a raw material solution mist in the first container; (b) the first container and Obtaining a support agent mist by misting the reaction support solution containing the reaction support agent for the metal element in a second independent container; and (c) via first and second paths independent of each other Mixing the raw material solution mist and the auxiliary agent mist in a mixing vessel receiving the raw material solution mist and the auxiliary agent mist to obtain a mixed mist; (d) the step obtained in the step (c) And heating the substrate while supplying mixed mist onto one of the main surfaces of the substrate in the reaction vessel to form a metal oxide film containing the metal element on the one main surface of the substrate.

この発明における金属酸化膜の成膜方法は、ステップ(d)の実行時において、原料溶液ミスト及び支援剤ミストを混合した混合ミストを基板の一方主面上に供給することにより、金属元素を含む金属酸化膜の成膜速度を向上させて生産効率の向上を図ることができる。   The method for forming a metal oxide film according to the present invention includes the metal element by supplying mixed mist obtained by mixing the raw material solution mist and the assisting agent mist onto one main surface of the substrate at the time of step (d). The deposition rate of the metal oxide film can be improved to improve the production efficiency.

さらに、ステップ(d) 実行前のステップ(c) の実行時に、混合容器内において、原料溶液ミストと支援剤ミストとを混合させた混合ミストを予め得ることにより、原料溶液ミストと支援剤ミストとが適度に反応した状態の混合ミストをステップ(d)の実行時に安定性良く供給することができるため、金属酸化膜の膜質向上を図ることができる。   Furthermore, when performing step (d) before step (d), a mixed solution obtained by mixing the source solution mist and the support agent mist is obtained in advance in the mixing container, whereby the source solution mist and the support agent mist are obtained. Since the mixed mist in the appropriately reacted state can be stably supplied at the time of execution of step (d), the film quality of the metal oxide film can be improved.

加えて、ステップ(a) 及びステップ(b)において、互いに独立した第1及び第2の容器内に原料溶液ミスト及び支援剤ミストを得ており、原料溶液ミストと支援剤ミストとの反応はステップ(c) の実行時に混合容器内にではじめて行われる。このため、ステップ(c) の実行前に原料溶液ミストと支援剤ミストとが不必要に反応してしまう現象を確実に回避することにより、金属酸化膜の膜質を高品質に保つことができる。   In addition, in step (a) and step (b), the raw material solution mist and the support agent mist are obtained in the first and second containers independent of each other, and the reaction between the raw material solution mist and the support agent mist is a step It takes place only in the mixing vessel at the time of (c). Therefore, the film quality of the metal oxide film can be kept high by reliably avoiding the phenomenon that the raw material solution mist and the assisting agent mist react unnecessarily before the execution of the step (c).

この発明の目的、特徴、局面、及び利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。   The objects, features, aspects and advantages of the present invention will be more apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.

この発明の実施の形態1である裏面パッシベーション膜の成膜方法を実現するための成膜装置の概略構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows schematic structure of the film-forming apparatus for implement | achieving the film-forming method of the back surface passivation film which is Embodiment 1 of this invention. 図1で示した成膜装置の反応容器及びその周辺を具体的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows concretely the reaction container of the film-forming apparatus shown in FIG. 1, and its periphery. 実施の形態1の裏面パッシベーション膜の成膜方法による効果を示すグラフである。7 is a graph showing the effect of the film formation method of the back surface passivation film of the first embodiment. この発明の実施の形態2である裏面パッシベーション膜5の成膜方法を実現するための成膜装置の概略構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows schematic structure of the film-forming apparatus for implement | achieving the film-forming method of the back surface passivation film 5 which is Embodiment 2 of this invention. 図4で示した混合容器の構造の詳細を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the detail of the structure of the mixing container shown in FIG. 本実施の形態である裏面パッシベーション膜の製造方法を用いて製造される太陽電池構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the solar cell structure manufactured using the manufacturing method of the back surface passivation film which is this Embodiment. 従来の成膜装置の概略構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows schematic structure of the conventional film-forming apparatus.

<前提技術(太陽電池構造)>
図6は、本実施の形態(実施の形態1,実施の形態2)である金属酸化膜の製造方法を用いて製造される太陽電池構造を示す断面図である。
Prerequisite technology (solar cell structure)
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a solar cell structure manufactured using the method for manufacturing a metal oxide film according to the present embodiment (Embodiment 1, Embodiment 2).

図6に示すように、P型の導電型を有するシリコン基板4(以下、「P型シリコン基板4」と称する)の表面(他方主面)上に、N型の導電型を有するシリコン層3(以下、「N型シリコン層3」と称する)が形成されている。なお、図6ではP型シリコン基板4の表面が上面、裏面が下面となる態様で示されている。   As shown in FIG. 6, a silicon layer 3 having an N-type conductivity type on the surface (the other main surface) of a silicon substrate 4 having a P-type conductivity type (hereinafter referred to as "P-type silicon substrate 4"). (Hereinafter, it is called "N-type silicon layer 3") is formed. In FIG. 6, the front surface of the P-type silicon substrate 4 is shown as the upper surface and the rear surface as the lower surface.

また、N型シリコン層3の表面には、透明性を有する表面パッシベーション膜2が形成されている。そして、表面パッシベーション膜2の一部を貫通して、N型シリコン層3の表面上に表面電極1が選択的に形成されることにより、表面電極1はN型シリコン層3と電気的に接続される。   In addition, on the surface of the N-type silicon layer 3, a surface passivation film 2 having transparency is formed. Then, the surface electrode 1 is electrically connected to the N-type silicon layer 3 by selectively forming the surface electrode 1 on the surface of the N-type silicon layer 3 penetrating a part of the surface passivation film 2. Be done.

さらに、P型シリコン基板4の裏面(一方主面)上には、裏面パッシベーション膜5(金属酸化膜)が形成されている。この裏面パッシベーション膜5として、酸化アルミニウム膜(Al2O3薄膜)あるいは、酸化アルミニウム膜とシリコン窒化膜との積層膜を採用している。そして、裏面パッシベーション膜5の一部を貫通してP型シリコン基板4の裏面上に直接形成されるとともに、裏面パッシベーション膜5の裏面上にかけて裏面電極6が形成される。したがって、裏面電極6はP型シリコン基板4と電気的に接続される。   Furthermore, a back surface passivation film 5 (metal oxide film) is formed on the back surface (one main surface) of the P-type silicon substrate 4. As this back surface passivation film 5, an aluminum oxide film (Al2O3 thin film) or a laminated film of an aluminum oxide film and a silicon nitride film is adopted. Then, a part of the back surface passivation film 5 is penetrated and formed directly on the back surface of the P-type silicon substrate 4, and the back surface electrode 6 is formed over the back surface of the back surface passivation film 5. Therefore, back surface electrode 6 is electrically connected to P-type silicon substrate 4.

図6に示す太陽電池構造において、表面パッシベーション膜2側から入射し、N型シリコン層3及びP型シリコン基板4間におけるPN接合部に到達した光によりキャリアが発生し、発電し、当該発電した電気が電極1,6から取り出される。   In the solar cell structure shown in FIG. 6, light is incident from the surface passivation film 2 side and reaches the PN junction between the N-type silicon layer 3 and the P-type silicon substrate 4 to generate carriers and generate power. Electricity is taken from the electrodes 1, 6.

キャリアのライフタイムの低減を抑制するために、パッシベーション膜2,5が形成される。つまり、N型シリコン層3の表面あるいはP型シリコン基板4の裏面において欠陥(格子欠陥等)が多く発生しており、当該欠陥を介して光照射により発生した少数キャリアが再結合される。そこで、N型シリコン層3の表面上及びP型シリコン基板4の裏面上に表面パッシベーション膜2及び裏面パッシベーション膜5を形成することにより、キャリアの再結合を抑制し、結果としてキャリアのライフタイムを向上させることができる。   Passivation films 2 and 5 are formed in order to suppress a reduction in carrier lifetime. That is, many defects (such as lattice defects) are generated on the surface of the N-type silicon layer 3 or the back surface of the P-type silicon substrate 4, and minority carriers generated by light irradiation are recombined through the defects. Therefore, by forming the surface passivation film 2 and the back surface passivation film 5 on the surface of the N-type silicon layer 3 and on the back surface of the P-type silicon substrate 4, carrier recombination is suppressed, and as a result, the carrier lifetime is reduced. It can be improved.

本発明は、太陽電池の製造方法等で利用される、P型シリコン基板4(基板)の裏面(一方主面)上に形成される金属酸化膜である裏面パッシベーション膜5の生産効率向上及び膜質向上に関するものであり、以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する。   The present invention improves the production efficiency and film quality of the back surface passivation film 5 which is a metal oxide film formed on the back surface (one main surface) of the P-type silicon substrate 4 (substrate) used in the manufacturing method of solar cells. The present invention relates to improvement, and the present invention will be specifically described below based on the drawings showing the embodiments thereof.

<実施の形態1>
図1は、この発明の実施の形態1である、裏面パッシベーション膜5(金属酸化膜)の成膜方法を実現するための成膜装置の概略構成を示す説明図である。
Embodiment 1
FIG. 1 is an explanatory view showing a schematic configuration of a film forming apparatus for realizing a method of forming a back surface passivation film 5 (metal oxide film) according to a first embodiment of the present invention.

図1に示すように、本実施の形態の成膜方法で用いる成膜装置101は、反応容器11、反応容器11を加熱する加熱器13、原料溶液14を収容する溶液容器15、溶液容器15内の原料溶液14をミスト化するミスト化器16、反応支援剤を含む反応支援溶液24を収容する溶液容器25、及び溶液容器25内の反応支援溶液24をミスト化するミスト化器26から構成されている。なお、反応支援剤は、ミスト法を用いた裏面パッシベーション膜5(金属酸化膜)の成膜工程における反応促進を目的として用いられる。   As shown in FIG. 1, a film forming apparatus 101 used in the film forming method of the present embodiment includes a reaction container 11, a heater 13 for heating the reaction container 11, a solution container 15 containing a raw material solution 14, and a solution container 15. The system comprises a mister 16 for forming the raw material solution 14 into a mist, a solution container 25 containing a reaction support solution 24 containing a reaction support agent, and a mister 26 for misting the reaction support solution 24 in the solution container 25. It is done. The reaction support agent is used for the purpose of promoting the reaction in the step of forming the back surface passivation film 5 (metal oxide film) using the mist method.

このような構成において、ミスト化器16によりミスト化された原料溶液14である原料溶液ミストM1は経路L1(第1の経路)を介して、反応容器11に供給される。一方、ミスト化器26によりミスト化された反応支援溶液24である支援剤ミストM2は経路L1と独立して設けられた経路L2(第2の経路)を介して、反応容器11に供給される。   In such a configuration, the raw material solution mist M1, which is the raw material solution 14 formed into a mist by the misting device 16, is supplied to the reaction container 11 via the path L1 (first path). On the other hand, the support agent mist M2, which is the reaction support solution 24 that has been misted by the mist generator 26, is supplied to the reaction container 11 via the path L2 (second path) provided independently of the path L1. .

経路L1及びL2を介して反応容器11内に供給される原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2は、反応容器11内で混合されて得られる混合ミストM3として反応容器11内のP型シリコン基板4の裏面上に噴霧されることにより、P型シリコン基板4の裏面上に酸化アルミニウム膜からなる裏面パッシベーション膜5を成膜することができる。この際、P型シリコン基板4は、裏面が上面、表面が下面となる態様で、反応容器11内の加熱器13上に載置される。   The raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 supplied into the reaction container 11 through the paths L1 and L2 are mixed in the reaction container 11 to obtain a mixed mist M3 and the P-type silicon substrate 4 in the reaction container 11 is obtained. The back surface passivation film 5 made of an aluminum oxide film can be formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4 by spraying on the back surface of the substrate. At this time, the P-type silicon substrate 4 is placed on the heater 13 in the reaction vessel 11 in such a manner that the back surface is the top surface and the surface is the bottom surface.

すなわち、加熱器13上にP型シリコン基板4が載置されている状態で、大気圧下の反応容器11内に、混合ミストM3(粒径の小さい液状の原料溶液14と反応支援溶液24との混合溶液)が供給され、所定の反応により、P型シリコン基板4の裏面上には裏面パッシベーション膜5が成膜される。   That is, in a state where the P-type silicon substrate 4 is placed on the heater 13, the mixed mist M 3 (liquid raw material solution 14 having a small particle diameter and the reaction support solution 24) The mixed solution is supplied, and a back surface passivation film 5 is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4 by a predetermined reaction.

加熱器13は、ヒータ等であり、当該加熱器13に載置されたP型シリコン基板4を加熱することができる。図示しない外部制御部により、成膜時には、酸化アルミニウム膜で構成される裏面パッシベーション膜5の成膜に必要な温度に達するまで加熱器13は加熱される。   The heater 13 is a heater or the like, and can heat the P-type silicon substrate 4 placed on the heater 13. At the time of film formation, the heater 13 is heated by an external control unit (not shown) until the temperature required for film formation of the back surface passivation film 5 formed of an aluminum oxide film is reached.

溶液容器15内には、裏面パッシベーション膜5を成膜するための材料溶液となる原料溶液14が充填されている。この原料溶液14は、金属元素として、アルミニウム(Al)元素が含まれている材料溶液である。   The solution container 15 is filled with a raw material solution 14 to be a material solution for forming the back surface passivation film 5. The raw material solution 14 is a material solution containing an aluminum (Al) element as a metal element.

ミスト化器16として、例えば超音波霧化装置を採用できる。超音波霧化装置であるミスト化器16は、溶液容器15内の原料溶液14に対して超音波を印加することにより、溶液容器15内の原料溶液14をミスト化させる。ミスト化された原料溶液14である原料溶液ミストM1は、経路L1を通って、反応容器11内に向けて供給される。   For example, an ultrasonic atomizer can be employed as the mister 16. The atomizer 16 which is an ultrasonic atomization device atomizes the raw material solution 14 in the solution container 15 by applying an ultrasonic wave to the raw material solution 14 in the solution container 15. The raw material solution mist M1, which is the mist-formed raw material solution 14, is supplied toward the inside of the reaction vessel 11 through the path L1.

溶液容器25内には、アルミニウム元素用の反応支援溶液24が充填されている。この反応支援溶液24にはアンモニア液(NH3)により構成される。   The solution container 25 is filled with a reaction support solution 24 for the aluminum element. The reaction support solution 24 is composed of ammonia solution (NH 3).

ミスト化器16と同一機能を有するミスト化器26は、溶液容器25内の反応支援溶液24に対して超音波を印加することにより、溶液容器25の反応支援溶液24をミスト化させる。ミスト化された反応支援溶液24である支援剤ミストM2は、経路L2を通って、反応容器11内に向けて供給される。   A misting device 26 having the same function as the misting device 16 applies an ultrasonic wave to the reaction support solution 24 in the solution container 25 to mist the reaction support solution 24 of the solution container 25. The support agent mist M2, which is the mist-formed reaction support solution 24, is supplied toward the inside of the reaction container 11 through the path L2.

図2は実施の形態1における成膜装置101の反応容器11及びその周辺を具体的に示す説明図である。   FIG. 2 is an explanatory view specifically showing the reaction container 11 of the film forming apparatus 101 in Embodiment 1 and the periphery thereof.

互いに異なる経路L1及びL2を介して原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2が反応容器11内の(成膜)ノズル12に供給されると、ノズル12内にて原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とが混合され、ノズル12からP型シリコン基板4の上面上に混合ミストM3が供給される。   When the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are supplied to the (film formation) nozzle 12 in the reaction container 11 through mutually different paths L1 and L2, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are in the nozzle 12 And the mixed mist M3 is supplied from the nozzle 12 onto the upper surface of the P-type silicon substrate 4.

その結果、加熱中である大気圧下のP型シリコン基板4の裏面上において、混合ミストM3が反応し、P型シリコン基板4の裏面上に裏面パッシベーション膜5が成膜される。さらに、ノズル12には経路L9からオゾンガスG9が供給される。したがって、ノズル12からP型シリコン基板4の裏面上に、混合ミストM3に加え、オゾンガスG9が供給される。オゾンガスG9は混合ミストM3の反応促進用に用いられる。すなわち、オゾンガスG9は従来の間接的な第2の方法用の反応促進ガスとして用いられる。   As a result, the mixed mist M 3 reacts on the back surface of the P-type silicon substrate 4 under atmospheric pressure which is being heated, and the back surface passivation film 5 is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4. Furthermore, the ozone gas G9 is supplied to the nozzle 12 from the path L9. Therefore, the ozone gas G9 is supplied from the nozzle 12 onto the back surface of the P-type silicon substrate 4 in addition to the mixed mist M3. The ozone gas G9 is used to accelerate the reaction of the mixed mist M3. That is, the ozone gas G9 is used as a reaction promoting gas for the conventional indirect second method.

(製造方法)
次に、実施の形態1の裏面パッシベーション膜5(酸化アルミニウム膜)の成膜方法について説明する。
(Production method)
Next, a method of forming the back surface passivation film 5 (aluminum oxide film) of the first embodiment will be described.

まず、構成材料を結晶シリコンとしたシリコン基板に対して所定の不純物を導入することにより、P型の導電型を有するP型シリコン基板4を作製する。そして、このP型シリコン基板4を、反応容器11内の加熱器13の上に載置する。このとき、P型シリコン基板4は、裏面が上面、表面が下面となる態様で加熱器13上に載置され、反応容器11内は大気圧に設定される。   First, a predetermined impurity is introduced into a silicon substrate whose constituent material is crystalline silicon, whereby a P-type silicon substrate 4 having a P-type conductivity type is manufactured. Then, the P-type silicon substrate 4 is placed on the heater 13 in the reaction container 11. At this time, the P-type silicon substrate 4 is placed on the heater 13 in such a manner that the back surface is the top surface and the surface is the bottom surface, and the inside of the reaction container 11 is set to atmospheric pressure.

そして、加熱器13により、加熱器13上に載置されているP型シリコン基板4は、酸化アルミニウム膜からなる裏面パッシベーション膜5の成膜温度に達するまで加熱され、成膜温度でP型シリコン基板4の温度は保持されている。   Then, the P-type silicon substrate 4 placed on the heater 13 is heated by the heater 13 until the film formation temperature of the back surface passivation film 5 made of an aluminum oxide film is reached. The temperature of the substrate 4 is maintained.

一方、溶液容器15内において、ミスト化器16により、原料溶液14をミスト化させて原料溶液ミストM1が得られる。原料溶液ミストM1(粒径の小さい液状の原料溶液14)は、経路L1を通って、整流され、反応容器11内へ供給される。ここで、原料溶液14には、アルミニウムが金属源として含有されている。   On the other hand, in the solution container 15, the raw material solution 14 is atomized by the misting device 16 to obtain the raw material solution mist M1. The raw material solution mist M1 (liquid raw material solution 14 having a small particle size) is rectified through the path L1 and supplied into the reaction vessel 11. Here, the raw material solution 14 contains aluminum as a metal source.

上述したように、溶液容器15(第1の容器)内において、金属元素であるアルミニウムを含む原料溶液14をミスト化させて原料溶液ミストM1を得ている。   As described above, in the solution container 15 (first container), the raw material solution 14 containing aluminum which is a metal element is atomized to obtain the raw material solution mist M1.

一方、溶液容器25内において、ミスト化器26により、反応支援溶液24はミスト化されて支援剤ミストM2が得られる。支援剤ミストM2(粒径の小さい液状の反応支援溶液24)は、経路L2を通って、整流され、反応容器11内へ供給される。ここで、反応支援溶液24としてアンモニア水が用いられる。   On the other hand, in the solution container 25, the reaction support solution 24 is misted by the misting device 26 to obtain the support agent mist M 2. The support agent mist M2 (liquid reaction support solution 24 having a small particle size) is rectified and supplied into the reaction vessel 11 through the path L2. Here, ammonia water is used as the reaction support solution 24.

このように、溶液容器15とは独立した溶液容器25(第2の容器)内において、酸化アルミニウム形成用の反応支援剤を含む反応支援溶液24をミスト化させて支援剤ミストM2を得ている。   Thus, in the solution container 25 (second container) independent of the solution container 15, the reaction support solution 24 containing the reaction support agent for forming aluminum oxide is misted to obtain the support agent mist M2 .

そして、経路L1及びL2(第1及び第2の経路)を介して反応容器11内に設けられたノズル12に原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を供給する。その後、ノズル12内で原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを混合して混合ミストM3を得る。そして、加熱状態にあるP型シリコン基板4の裏面(一方主面)上に混合ミストM3を供給する。さらに、ノズル12からP型シリコン基板4の裏面上にオゾンガスG9も供給される。   Then, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are supplied to the nozzle 12 provided in the reaction container 11 via the paths L1 and L2 (first and second paths). Thereafter, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are mixed in the nozzle 12 to obtain a mixed mist M3. And mixed mist M3 is supplied on the back surface (one main surface) of P type silicon substrate 4 in a heating state. Further, ozone gas G9 is also supplied from the nozzle 12 onto the back surface of the P-type silicon substrate 4.

このように、大気圧下で、混合ミストM3を加熱状態のP型シリコン基板4の裏面に対して噴霧することにより、金属酸化膜である酸化アルミニウムからなる裏面パッシベーション膜5をP型シリコン基板4の裏面上に成膜することができる。   As described above, the back surface passivation film 5 made of aluminum oxide, which is a metal oxide film, is sprayed onto the P-type silicon substrate 4 by spraying the mixed mist M3 against the back surface of the P-type silicon substrate 4 in the heated state under atmospheric pressure. It can be deposited on the back surface of

さらに、混合ミストM3に含まれる支援剤ミストM2によって、裏面パッシベーション膜5の成膜に要する反応エネルギーを低下させることにより、比較的低温下で裏面パッシベーション膜5を成膜することができる。加えて、オゾンガスG9もP型シリコン基板4の裏面上に供給されるため、混合ミストM3の材料化合物の分解・酸化を促進することができる。   Furthermore, the back surface passivation film 5 can be formed at a relatively low temperature by reducing the reaction energy required for forming the back surface passivation film 5 by the assisting agent mist M2 contained in the mixed mist M3. In addition, since the ozone gas G9 is also supplied onto the back surface of the P-type silicon substrate 4, decomposition and oxidation of the material compound of the mixed mist M3 can be promoted.

その後、裏面パッシベーション膜5が成膜されたP型シリコン基板4を用いて、図6に示した太陽電池構造を作製する。一般的には、裏面パッシベーション膜5は、表面パッシベーション膜2及びN型シリコン層3形成後に行われ、その後、表面電極1及び裏面電極6が形成される。なお、表面パッシベーション膜2及び裏面パッシベーション膜5の成膜順序は逆にしても良い。   Thereafter, the solar cell structure shown in FIG. 6 is manufactured using the P-type silicon substrate 4 on which the back surface passivation film 5 is formed. In general, the back surface passivation film 5 is performed after the surface passivation film 2 and the N-type silicon layer 3 are formed, and thereafter, the surface electrode 1 and the back surface electrode 6 are formed. The film formation order of the surface passivation film 2 and the back surface passivation film 5 may be reversed.

図3は実施の形態1の裏面パッシベーション膜5の成膜方法による効果を示すグラフである。同図において、実施の形態1の製造方法で成膜された裏面パッシベーション膜5と、図7で示した従来の第1の方法それぞれによって成膜された裏面パッシベーション膜5との絶縁破壊電界強度(MV/cm)をそれぞれ示している。   FIG. 3 is a graph showing the effect of the film formation method of the back surface passivation film 5 of the first embodiment. In the same figure, the dielectric breakdown electric field strength of back surface passivation film 5 formed by the manufacturing method of the first embodiment and back surface passivation film 5 formed by the first conventional method shown in FIG. MV / cm) is shown respectively.

同図に示すように、実施の形態1の成膜方法で成膜された裏面パッシベーション膜5は、従来の成膜方法で成膜された裏面パッシベーション膜5に比べ、大幅に(5倍程度)絶縁破壊電界強度が向上していることがわかる。   As shown in the figure, the back surface passivation film 5 formed by the film forming method of the first embodiment is significantly (about 5 times) as large as the back surface passivation film 5 formed by the conventional film forming method. It can be seen that the dielectric breakdown field strength is improved.

以上のように、実施の形態1の太陽電池の製造方法における裏面パッシベーション膜5(金属酸化膜)の成膜方法は、ミスト法(つまり、大気圧下において、混合ミストM3を噴霧する成膜方法)により、P型シリコン基板4の裏面上に裏面パッシベーション膜5を成膜している。   As mentioned above, the film-forming method of the back surface passivation film 5 (metal oxide film) in the manufacturing method of the solar cell of Embodiment 1 is a film-forming method which sprays mixed mist M3 under mist method (that is, under atmospheric pressure). The back surface passivation film 5 is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4).

上述したように、実施の形態1の裏面パッシベーション膜5の成膜方法は、反応容器11内において、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを混合して混合ミストM3が得られる環境を設けることにより、裏面パッシベーション膜5の成膜速度を向上させて生産効率の向上を図ることができる。   As described above, the film forming method of back surface passivation film 5 according to the first embodiment provides an environment in which raw material solution mist M1 and support agent mist M2 are mixed to obtain mixed mist M3 in reaction container 11. Thus, the deposition rate of the back surface passivation film 5 can be improved to improve the production efficiency.

また、支援剤ミストM2が含まれる混合ミストM3によって裏面パッシベーション膜5の成膜のための反応エネルギーを低下させることができるため、原料溶液ミストM1のみで成膜する場合に比べ低温な状況下で裏面パッシベーション膜5を成膜することができる。   Moreover, since the reaction energy for film formation of back surface passivation film 5 can be reduced by mixed mist M3 containing assisting agent mist M2, under a low temperature condition compared with the case of film formation only with raw material solution mist M1. The back surface passivation film 5 can be formed.

加えて、成膜用のノズル12内で原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを混合して、P型シリコン基板4の裏面上に混合ミストM3を確実に供給することができるため、裏面パッシベーション膜5の生産効率の向上を確実に図ることができる。   In addition, since the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 can be mixed in the film forming nozzle 12 and the mixed mist M3 can be reliably supplied on the back surface of the P-type silicon substrate 4, the back surface passivation The production efficiency of the film 5 can be reliably improved.

この際、互いに独立した溶液容器15及び溶液容器25内で原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2をそれぞれ個別に得ているため、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2との反応は反応容器11内ではじめて行われる。したがって、溶液容器15内、溶液容器25内、あるいは経路L1及びL2を介した原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2の供給中に、裏面パッシベーション膜5の成膜を妨げるような原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2との反応物が発生することはない。   At this time, since the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are individually obtained in the solution container 15 and the solution container 25 independent of each other, the reaction between the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 is in the reaction container 11 It takes place for the first time in Therefore, the raw material solution mist M1 and the like that prevent the formation of the back surface passivation film 5 during the supply of the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 through the solution container 15, the solution container 25, or the paths L1 and L2. There is no reaction product with the support agent mist M2.

このため、反応容器11内で行う裏面パッシベーション膜5の成膜ステップの実行前に原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とが不必要に反応してしまう現象を確実に回避することができるため、図3で示したように、裏面パッシベーション膜5の膜質向上を図ることができる。   Therefore, it is possible to reliably avoid the phenomenon in which the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 react unnecessarily before the film forming step of the back surface passivation film 5 performed in the reaction container 11 is performed. As shown in FIG. 3, the film quality of the back surface passivation film 5 can be improved.

また、混合ミストM3は、ガスに比べ1000倍の密度を有しているため、反応容器11内における雰囲気は、従来の第2の方法で用いたガス状の支援剤に比べ1000倍も高密度な雰囲気を実現できる。このため、従来の第2の方法に比べて高品質な裏面パッシベーション膜5を低温加熱状態でも作製することができる。   In addition, since the mixed mist M3 has a density of 1000 times that of the gas, the atmosphere in the reaction vessel 11 is 1000 times as dense as the gaseous support agent used in the second conventional method. Can be realized. Therefore, it is possible to produce the back surface passivation film 5 of high quality even in the low temperature heating state as compared with the second conventional method.

なお、実施の形態1では、図2で示したように、反応支援ガスであるオゾンガスG9を反応容器11内にさらに供給することにより、混合ミストM3の材料化合物の分解・酸化を促進することができる。この促進作用により、低温加熱状態であってもP型シリコン基板4の裏面上において、裏面パッシベーション膜5を成膜することができる。   In the first embodiment, as shown in FIG. 2, the decomposition / oxidation of the material compound of the mixed mist M3 can be promoted by further supplying ozone gas G9 which is a reaction support gas into the reaction container 11. it can. By this promoting action, the back surface passivation film 5 can be formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4 even in the low temperature heating state.

上述した金属酸化膜(裏面パッシベーション膜5)の膜質効果は、原料溶液14に含まれる金属元素がアルミニウムであり、酸化アルミニウムからなる裏面パッシベーション膜5を成膜する際に特に顕著となる。   The film quality effect of the metal oxide film (back surface passivation film 5) described above becomes particularly remarkable when the back surface passivation film 5 made of aluminum oxide is formed, in which the metal element contained in the raw material solution 14 is aluminum.

さらに、酸化アルミニウムからなる裏面パッシベーション膜5を成膜する場合、反応支援溶液24として上述したアンモニア水、あるいはアンモニア水に代えて塩酸を含む溶液を用いることが望ましい。   Furthermore, when depositing the back surface passivation film 5 made of aluminum oxide, it is desirable to use a solution containing hydrochloric acid instead of the above-described ammonia water or ammonia water as the reaction support solution 24.

<実施の形態1の課題>
上述した実施の形態1は、原料溶液14と反応支援溶液24とを別々の溶液容器15及び溶液容器25内でミスト化させ、発生したそれぞれの原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を、反応容器11内に設けられたノズル12へ異なる経路L1及びL2を介して供給し、ノズル12内にて混合ミストM3を得た後に裏面パッシベーション膜5の成膜を行う方法である。
<Problem of Embodiment 1>
In the first embodiment described above, the raw material solution 14 and the reaction support solution 24 are misted in the solution container 15 and the solution container 25 separately, and the generated raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are used as a reaction container. The back surface passivation film 5 is formed by supplying the mixed mist M3 to the nozzle 12 provided in the inside 11 through the different paths L1 and L2 and obtaining the mixed mist M3 in the nozzle 12.

しかしながら、反応容器11内に設けられたノズル12内での原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2との混合では、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とが効率良く混合されず、混合状態が不十分であり混合ミストM3が所望の性質を有さない状態となる可能性がある。したがって、ノズル12内で得られた混合ミストM3によって裏面パッシベーション膜5の成膜が行われた場合、高品質な裏面パッシベーション膜5を確実に得ることができないという課題が残る。   However, in the mixing of the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 in the nozzle 12 provided in the reaction container 11, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are not efficiently mixed, and the mixed state is not good. It is sufficient that the mixed mist M3 may not have the desired properties. Therefore, when film-forming of the back surface passivation film 5 is performed by mixed mist M3 obtained in the nozzle 12, the subject that the high-quality back surface passivation film 5 can not be obtained reliably remains.

上記課題の解決を図ったのが以下で述べる実施の形態2による裏面パッシベーション膜5の成膜方法である。   It is a method of forming the back surface passivation film 5 according to the second embodiment described below that has attempted to solve the above problems.

<実施の形態2>
図4は、この発明の実施の形態2である、裏面パッシベーション膜5の成膜方法を実現するための成膜装置の概略構成を示す説明図である。以下、図1及び図2で示した実施の形態1の成膜装置101と同様な構成の説明を適宜省略して、実施の形態1と異なる構成を中心に説明する。
Second Embodiment
FIG. 4 is an explanatory view showing a schematic configuration of a film forming apparatus for realizing the film forming method of the back surface passivation film 5 according to a second embodiment of the present invention. Hereinafter, the description of the same configuration as that of the film forming apparatus 101 of the first embodiment shown in FIGS. 1 and 2 will be omitted as appropriate, and a configuration different from the first embodiment will be mainly described.

図4に示すように、本実施の形態の成膜方法で用いる成膜装置102は、経路L1及びL2と反応容器11との間に混合容器8を設けたことを特徴としている。すなわち、混合容器8は2つの入力部I1及びI2並びに1つの出力部O3を有し、入力部I1は経路L1に接続され、入力部I2は経路L2に接続され、出力部O3は経路L3(第3の経路)に接続され、経路L3が反応容器11内のノズル12に接続される。   As shown in FIG. 4, the film forming apparatus 102 used in the film forming method of the present embodiment is characterized in that the mixing container 8 is provided between the paths L1 and L2 and the reaction container 11. That is, the mixing vessel 8 has two inputs I1 and I2 and one output O3, the input I1 is connected to the path L1, the input I2 is connected to the path L2, and the output O3 is the path L3 ( And the path L 3 is connected to the nozzle 12 in the reaction vessel 11.

図4で示す構成において、経路L1及びL2を介して原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2は混合容器8に供給される。原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2とは、混合容器8内で混合され混合ミストM3として経路L3を介して反応容器11内のノズル12に供給され、ノズル12からP型シリコン基板4の裏面上に混合ミストM3が供給される。   In the configuration shown in FIG. 4, the raw material solution mist M1 and the assisting agent mist M2 are supplied to the mixing container 8 through the paths L1 and L2. The raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are mixed in the mixing container 8 and supplied as the mixed mist M3 to the nozzle 12 in the reaction container 11 via the path L3, and from the nozzle 12 on the back surface of the P-type silicon substrate 4 The mixed mist M3 is supplied to the

したがって、加熱器13上にP型シリコン基板4が載置されている状態で、大気圧下の反応容器11内に、実施の形態1と同様、ノズル12から混合ミストM3が供給され、所定の反応により、P型シリコン基板4の裏面上には裏面パッシベーション膜5が成膜される。   Therefore, in a state where the P-type silicon substrate 4 is placed on the heater 13, the mixed mist M 3 is supplied from the nozzle 12 into the reaction container 11 under atmospheric pressure as in the first embodiment. By the reaction, a back surface passivation film 5 is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4.

その結果、加熱中である大気圧下のP型シリコン基板4の裏面上において、混合ミストM3が反応し、P型シリコン基板4の裏面上に裏面パッシベーション膜5が成膜される。   As a result, the mixed mist M 3 reacts on the back surface of the P-type silicon substrate 4 under atmospheric pressure which is being heated, and the back surface passivation film 5 is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4.

(製造方法)
次に、実施の形態2である、裏面パッシベーション膜5(酸化アルミニウム膜)の成膜方法について説明する。なお、実施の形態1と同じ内容については適宜説明を省略する。
(Production method)
Next, a method of forming the back surface passivation film 5 (aluminum oxide film) according to the second embodiment will be described. Description of the same contents as Embodiment 1 will be omitted as appropriate.

まず、実施の形態1と同様、P型シリコン基板4を、反応容器11内の加熱器13の上に載置する。   First, the P-type silicon substrate 4 is placed on the heater 13 in the reaction vessel 11 as in the first embodiment.

そして、加熱器13により、加熱器13上に載置されているP型シリコン基板4は、酸化アルミニウム膜からなる裏面パッシベーション膜5の成膜温度に達するまで加熱され、成膜温度でP型シリコン基板4の温度は保持されている。   Then, the P-type silicon substrate 4 placed on the heater 13 is heated by the heater 13 until the film formation temperature of the back surface passivation film 5 made of an aluminum oxide film is reached. The temperature of the substrate 4 is maintained.

一方、実施の形態1と同様、溶液容器15(第1の容器)内において、原料溶液14をミスト化(霧化)させて原料溶液ミストM1を得るステップと、溶液容器15と独立した溶液容器25(第2の容器)内において、反応支援溶液24をミスト化させて支援剤ミストM2を得るステップとを実行する。   On the other hand, as in the first embodiment, in the solution container 15 (first container), the raw material solution 14 is atomized (atomized) to obtain the raw material solution mist M1, and a solution container independent of the solution container 15 25 (second container), the step of misting the reaction support solution 24 to obtain the support agent mist M2 is performed.

そして、互いに独立した経路L1及びL2を介して得られる原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2が混合容器8内へ供給される。その後、混合容器8内において、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを混合して混合ミストM3を得るステップを実行する。この混合ミストM3がミスト出力口83O(混合ミスト出力口)及び経路L3(第3の経路)を介して反応容器11内のノズル12に供給される。   Then, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 obtained through mutually independent paths L1 and L2 are supplied into the mixing container 8. Thereafter, in the mixing container 8, the step of mixing the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 to obtain the mixed mist M3 is executed. The mixed mist M3 is supplied to the nozzle 12 in the reaction container 11 through the mist output port 83O (mixed mist output port) and the path L3 (third path).

そして、反応容器11内において、大気圧下において加熱状態にあるP型シリコン基板4の裏面にノズル12から混合ミストM3が供給される。加熱状態のP型シリコン基板4の裏面に混合ミストM3が噴霧されると、P型シリコン基板4の裏面上には、酸化アルミニウム膜からなる裏面パッシベーション膜5が成膜される。   Then, in the reaction vessel 11, mixed mist M3 is supplied from the nozzle 12 to the back surface of the P-type silicon substrate 4 which is in a heated state under atmospheric pressure. When the mixed mist M3 is sprayed on the back surface of the heated P-type silicon substrate 4, the back surface passivation film 5 made of an aluminum oxide film is formed on the back surface of the P-type silicon substrate 4.

このように、混合容器8内で得た混合ミストM3を反応容器11内のノズル12を介してP型シリコン基板4の裏面(一方主面)上に供給しつつ、P型シリコン基板4を加熱することにより、P型シリコン基板4の裏面上に裏面パッシベーション膜5を成膜する成膜ステップを実行している。   As described above, the P-type silicon substrate 4 is heated while supplying the mixed mist M3 obtained in the mixing container 8 onto the back surface (one main surface) of the P-type silicon substrate 4 via the nozzle 12 in the reaction container 11. Thus, the film formation step of forming the back surface passivation film 5 on the back surface of the P-type silicon substrate 4 is performed.

上述したように、混合容器8内で得た混合した混合ミストM3を、成膜ステップの実行時に、混合容器8と独立して設けられた反応容器11内に供給することにより、裏面パッシベーション膜5の成膜速度を向上させて生産効率の向上を図ることができる。   As described above, the back surface passivation film 5 is provided by supplying the mixed mixed mist M3 obtained in the mixing container 8 into the reaction container 11 provided independently of the mixing container 8 when the film forming step is performed. The film formation rate can be improved to improve the production efficiency.

さらに、成膜ステップ前に行う混合ミストM3の生成ステップの実行時に、混合容器8内において、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを混合させた混合ミストM3を得ることにより、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とが十分反応した状態の混合ミストM3を安定して得ることができる。その結果、成膜ステップで成膜される裏面パッシベーション膜5の膜質向上を図ることができる。   Furthermore, when the mixed mist M3 generation step performed before the film forming step is performed, the raw material solution mist M1 is obtained by obtaining the mixed mist M3 in which the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are mixed in the mixing container 8. It is possible to stably obtain the mixed mist M3 in a state in which the support agent mist M2 and the support agent mist M2 sufficiently react. As a result, the film quality of the back surface passivation film 5 formed in the film forming step can be improved.

加えて、互いに独立した溶液容器15及び溶液容器25内にて原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を得ており、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2との反応は混合容器8内ではじめて行われる。このため、図7で示した従来の成膜装置200のように、混合ミストM3の生成ステップの実行前に原料溶液ミストM1(原料溶液18)と支援剤ミストM2(反応支援溶液24)とが不必要に反応してしまう現象を確実に回避することにより、裏面パッシベーション膜5の膜質を高品質に保つことができる。   In addition, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are obtained in the solution container 15 and the solution container 25 which are independent of each other, and the reaction of the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 is performed for the first time in the mixing container 8. It will be. For this reason, as in the conventional film forming apparatus 200 shown in FIG. 7, the raw material solution mist M1 (raw material solution 18) and the supporting agent mist M2 (reaction supporting solution 24) are present before execution of the step of generating the mixed mist M3. The film quality of the back surface passivation film 5 can be kept high by reliably avoiding the phenomenon of unnecessary reaction.

なお、実施の形態2の成膜装置102においても、実施の形態1の成膜装置101と同様に、ノズル12にはオゾンガスG9が供給され、ノズル12からP型シリコン基板4の裏面上に、混合ミストM3に加え、オゾンガスG9が供給される構成を採用しても良い。   In the film forming apparatus 102 of the second embodiment, as in the film forming apparatus 101 of the first embodiment, the ozone gas G9 is supplied to the nozzle 12, and the nozzle 12 supplies the ozone gas G9 onto the back surface of the P-type silicon substrate 4. A configuration in which ozone gas G9 is supplied in addition to the mixed mist M3 may be adopted.

(混合容器8の構造)
図5は図4で示した混合容器8の構造の詳細を示す説明図であり、図5(a) が上面図であり、図5(b) が図5(a) のA−A断面を示す断面図である。図5(a) ,(b) それぞれにXYZ直交座標系を示している。
(Structure of mixing vessel 8)
FIG. 5 is an explanatory view showing the details of the structure of the mixing container 8 shown in FIG. 4, FIG. 5 (a) is a top view, and FIG. 5 (b) is a sectional view taken along line A-A of FIG. 5 (a). It is a sectional view showing. The XYZ orthogonal coordinate system is shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b) respectively.

図5に示すように、混合容器8は容器本体80、ミスト供給部81及び82(第1及び第2のミスト供給部)、並びにミスト取り出し部83から構成される。   As shown in FIG. 5, the mixing container 8 includes a container body 80, mist supply units 81 and 82 (first and second mist supply units), and a mist extraction unit 83.

容器本体80は、内部に空間が形成される円筒形状を呈している。図5(a)における円状の破線部分、及び図5(b) における矩形の破線部分より内側の領域が容器本体80内に形成される空間となる。   The container main body 80 has a cylindrical shape in which a space is formed. The area inside the circular broken line portion in FIG. 5A and the rectangular broken line portion in FIG. 5B is a space formed in the container body 80.

一方、内部空洞の円筒形状のミスト取り出し部83は、容器本体80の上面に設けられた開口部を介して、容器本体80内に挿通されるように配設されている。ここで、上記開口部にミスト取り出し部83が挿通されている状態において、ミスト取り出し部83と容器本体80との間はシールされている。なお、ミスト取り出し部83内の空洞部分が内部経路R83となる。   On the other hand, a cylindrical shaped mist takeout portion 83 of the internal cavity is disposed so as to be inserted into the container main body 80 through an opening portion provided on the upper surface of the container main body 80. Here, in the state where the mist takeout portion 83 is inserted through the opening, the space between the mist takeout portion 83 and the container main body 80 is sealed. In addition, the hollow part in the mist extraction part 83 becomes internal path R83.

ミスト取り出し部83は、容器本体80の上面から挿通されており、上方(+Z方向側)の上面開口部のミスト出力口83O(図4の出力部O3に相当)が容器本体80外に存在し、下方(−Z方向側)の下面開口部のミスト入力口83I(混合ミスト入力口)が容器本体80の内部に存在し、容器本体80の底面から所定の高さの位置に配置されている。また、図5(a) に示すように、ミスト取り出し部83は平面視して容器本体80の中央部に設けられる。   The mist takeout portion 83 is inserted from the upper surface of the container main body 80, and the mist output port 83O (corresponding to the output portion O3 in FIG. 4) of the upper surface opening at the upper side (+ Z direction side) exists outside the container main body 80. The mist input port 831 (mixed mist input port) of the lower surface opening at the lower side (−Z direction side) exists inside the container main body 80 and is disposed at a predetermined height from the bottom surface of the container main body 80 . Further, as shown in FIG. 5 (a), the mist takeout portion 83 is provided at the center of the container body 80 in plan view.

上記構成のミスト取り出し部83は、ミスト入力口83Iより容器本体80内で得られた混合ミストM3を受け、内部経路R83を通過させてミスト出力口83O(混合ミスト出力口)から混合ミストM3を取り出しており、ミスト取り出し部83のミスト出力口83Oから出力される混合ミストM3が経路L3を介して反応容器11内に供給される。   The mist extraction unit 83 configured as described above receives the mixed mist M3 obtained in the container main body 80 from the mist input port 83I, passes the internal path R83, and mixes the mixed mist M3 from the mist output port 83O (mixed mist output port). The mixed mist M3 taken out and output from the mist output port 83O of the mist extraction portion 83 is supplied into the reaction container 11 via the path L3.

そして、容器本体80の側面内周部(図5の破線で円状に示す部分)とミスト取り出し部83の側面外周部との間の空間によって、図5(a) に示すように、平面視して円周状に外周経路R80(混合経路)が設けられる。   And, as shown in FIG. 5 (a), the space between the inner peripheral portion of the side surface of the container body 80 (the portion shown by the broken line in FIG. 5 and the circular shape) and the outer peripheral portion of the side surface Then, an outer circumferential path R80 (mixing path) is provided circumferentially.

また、各々の内部に空洞を有するミスト供給部81及び82は容器本体80の側面内周部の接線方向に沿って原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を供給するように、容器本体80の側面に設けられる。ミスト供給部81及び82における容器本体80の外部側の先端部分であるミスト入力口81I及び82I(図4の入力部I1及びI2に相当)に経路L1及びL2が接続される。   In addition, the mist supply units 81 and 82 having a cavity inside each supply the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 along the tangential direction of the inner peripheral portion of the side surface of the container body 80. Provided in The paths L1 and L2 are connected to mist input ports 81I and 82I (corresponding to the input parts I1 and I2 in FIG. 4) which are tip parts on the outer side of the container body 80 in the mist supply parts 81 and 82.

すなわち、図5(a) に示すように、平面視して容器本体80の上部(+Y方向)頂点付近にミスト供給部81をX方向に平行に設け、原料溶液ミストM1を−X方向(上記上部頂点付近の接線方向)に沿って供給している。同様に、平面視して容器本体80の下部(−Y方向)頂点付近にミスト供給部82をX方向に平行に設け、支援剤ミストM2を+X方向(上記下部頂点付近の接線方向)に沿って供給している。   That is, as shown in FIG. 5A, the mist supply unit 81 is provided parallel to the X direction near the top (+ Y direction) top of the container main body 80 in plan view, and the raw material solution mist M1 is It is supplied along the tangent direction near the top vertex). Similarly, a mist supply unit 82 is provided parallel to the X direction near the lower (-Y direction) vertex of the container main body 80 in plan view, and the support agent mist M2 is along the + X direction (tangential line near the lower vertex). Supply.

ミスト供給部81及び82は容器本体80の側面において互いに同一の形成高さ(Z方向における高さ)に設けられ、ミスト入力口83Iはミスト供給部81及び82より低い形成高さに設けられる。   The mist supply units 81 and 82 are provided at the same formation height (height in the Z direction) on the side surface of the container main body 80, and the mist input port 83I is provided at a formation height lower than the mist supply units 81 and 82.

混合容器8は図5で示す構造を呈することにより、実施の形態2による裏面パッシベーション膜5の成膜方法は以下の効果を発揮することができる。   Since the mixing container 8 exhibits the structure shown in FIG. 5, the film forming method of the back surface passivation film 5 according to the second embodiment can exhibit the following effects.

混合容器8内における混合ミストM3の生成ステップにおいて、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを外周経路R80内を流通させながら混合して混合ミストM3を得ることにより、実施の形態1のようにノズル12内で混合ミストM3を得る構成に比べ、確実に所望の性質を有する混合ミストM3を得ることができる。   As in Embodiment 1, the raw material solution mist M1 and the assisting agent mist M2 are mixed while flowing in the outer peripheral route R80 to obtain the mixed mist M3 in the step of generating the mixed mist M3 in the mixing container 8 as in the first embodiment. Compared to the configuration in which the mixed mist M3 is obtained in the nozzle 12, the mixed mist M3 having desired properties can be obtained with certainty.

加えて、ミスト供給部81及び82(第1及び第2のミスト供給部)とミスト入力口83I(混合ミスト入力口)との間に高低差を設けることにより、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを混合して混合ミストM3を得るために十分な経路長を有する外周経路R80を確保することができる。   In addition, by providing a difference in height between the mist supply units 81 and 82 (first and second mist supply units) and the mist input port 83I (mixed mist input port), the raw material solution mist M1 and the support agent mist can be obtained. An outer peripheral route R80 having a sufficient path length to obtain a mixed mist M3 by mixing with M2 can be secured.

すなわち、外周経路R80内において、ミスト供給部81及び82から原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2が下方のミスト入力口83Iに向かう過程で所望の性質を有する混合ミストM3を得るのに十分な反応時間が確保することができる。   That is, in peripheral route R80, reaction sufficient to obtain mixed mist M3 having a desired property in the process of raw material solution mist M1 and support agent mist M2 from mist supply parts 81 and 82 toward mist input port 831 below. Time can be secured.

なお、ミスト供給部81及び82は容器本体80の側面において互いに同一の形成高さにした方が望ましいが、ミスト供給部81,82間の形成高さに違いがあっても、ミスト供給部81,82のうち低い方のミスト供給部とミスト入力口83Iとの間に十分な高低差(混合ミストM3を得るのに十分な反応時間が確保することができる高低差)を確保することにより、同様な効果を達成することができる。   It is preferable that the mist supply units 81 and 82 have the same formation height on the side surface of the container main body 80, but even if there is a difference in the formation height between the mist supply units 81 and 82, the mist supply unit 81 , 82, by securing a sufficient height difference between the lower mist supply portion and the mist input port 83I (a height difference capable of securing a sufficient reaction time to obtain the mixed mist M3), Similar effects can be achieved.

さらに、容器本体80の側面内周部とミスト取り出し部83の側面外周部との間の空間によって平面視して円周状に形成される外周経路R80内において、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを回転運動させながら攪拌することができる。すなわち、原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2をそれぞれ平面視して反時計回り回転させて攪拌させつつ下方のミスト入力口83Iに導くことができる。   Furthermore, in the outer peripheral path R80 formed in a circumferential shape in plan view by the space between the inner surface of the side surface of the container main body 80 and the outer surface of the side surface of the mist outlet 83, the raw material solution mist M1 and the support agent mist Stirring can be performed while rotating with M2. That is, the raw material solution mist M1 and the assisting agent mist M2 can be led to the lower mist input port 83I while being rotated counterclockwise and planarly viewed in plan view, respectively.

その結果、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とを効率良く混合させた混合ミストM3を外周経路R80上で得ることができる。   As a result, mixed mist M3 in which raw material solution mist M1 and support agent mist M2 are efficiently mixed can be obtained on outer circumferential path R80.

なお、実施の形態2では、容器本体80の側面内周部及びミスト取り出し部83の側面外周部を共に円状にして、平面視して円周状に外周経路R80を設けた構造を採用した。この構造に代えて、容器本体80の側面内周部及びミスト取り出し部83の側面外周部を共に五角形以上の多角形状(望ましくは正多角形状)にして、平面視して多角形の外周状に外周経路を設けるようにしても良く、同様な効果を達成することができる。   In the second embodiment, the inner peripheral portion of the side surface of the container main body 80 and the outer peripheral portion of the side surface of the mist outlet 83 are both formed in a circular shape, and a structure is adopted in which the outer peripheral path R80 is provided circumferentially in plan view. . Instead of this structure, both the inner peripheral surface of the side of the container body 80 and the outer peripheral surface of the side of the mist outlet 83 have a polygonal shape (preferably a regular polygonal shape) of pentagon or more. An outer circumferential path may be provided, and similar effects can be achieved.

さらに、容器本体80の側面内周部の接線方向に沿って原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を供給するようミスト供給部81及び82を容器本体80の側面に設けている。このため、ミスト供給部81及び82から外周経路R80内への供給当初から原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を効率的に回転運動させることができるため、原料溶液ミストM1と支援剤ミストM2とをより効率良く混合させた混合ミストM3を得ることができる。   Further, mist supply units 81 and 82 are provided on the side surface of the container body 80 so as to supply the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 along the tangential direction of the side surface inner circumferential portion of the container body 80. Therefore, since the raw material solution mist M1 and the assisting agent mist M2 can be efficiently rotated from the beginning of the supply from the mist supplying units 81 and 82 into the outer peripheral route R80, the raw material solution mist M1 and the assisting agent mist M2 Can be obtained more efficiently by mixing the mixture mist M3.

<その他>
なお、上述した実施の形態では、基板の一方主面上に形成する金属酸化膜の成膜方法として、太陽電池の製造方法におけるP型シリコン基板4の裏面上に裏面パッシベーション膜5を製造する例を示したが、上述した例に限定されないことは勿論である。例えば、P型シリコン基板4以外の基板としてガラス基板のような絶縁性基板を用いてもよく、パッシベーション膜以外の目的で金属酸化膜を形成してもよい。すなわち、本願発明は、ミスト法を用いて基板の一方主面上に金属酸化膜を成膜する金属酸化膜の成膜方法全般に適用可能であり、酸化アルミニウム膜等の金蔵酸化膜そのものの性能向上効果を奏している。
<Others>
In the embodiment described above, as a method of forming a metal oxide film formed on one main surface of the substrate, an example of manufacturing back surface passivation film 5 on the back surface of P-type silicon substrate 4 in the method of manufacturing a solar cell Of course, the invention is not limited to the above-mentioned example. For example, an insulating substrate such as a glass substrate may be used as a substrate other than the P-type silicon substrate 4, and a metal oxide film may be formed for purposes other than the passivation film. That is, the present invention is applicable to all film forming methods of metal oxide film in which a metal oxide film is formed on one main surface of a substrate using a mist method, and the performance of a metal oxide film itself such as aluminum oxide film It has an improvement effect.

上述した実施の形態では、原料溶液14の金属源としてアルミニウムを示したが、金属塩、金属錯体または金属アルコキシド化合物が溶解した材料溶液であれば良く、原料溶液14内に含まれる金属源は、成膜された金属酸化膜の用途に応じて任意に選択可能である。金属源としては、アルミニウム(Al)以外に、例えば、チタン(Ti)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)及びスズ(Sn)、またはこれらの内の少なくとも何れか1つを採用することができる。   In the embodiment described above, aluminum is shown as the metal source of the raw material solution 14, but any material solution in which a metal salt, metal complex or metal alkoxide compound is dissolved may be used. The metal source contained in the raw material solution 14 is It can be arbitrarily selected according to the use of the formed metal oxide film. As the metal source, other than aluminum (Al), for example, titanium (Ti), zinc (Zn), indium (In) and tin (Sn), or at least one of these can be adopted. .

ミスト供給部81及び82は原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2用に個別に設けたが、原料溶液ミストM1及び支援剤ミストM2を共通に受け、外周経路R80内に同一箇所から供給する態様の1つの共通ミスト供給部を、ミスト供給部81及び82に代えて設けても良い。   Although the mist supply units 81 and 82 are separately provided for the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2, the raw material solution mist M1 and the support agent mist M2 are commonly received and supplied to the outer peripheral route R80 from the same location. One common mist supply unit may be provided instead of the mist supply units 81 and 82.

この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。すなわち、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。   Although the present invention has been described in detail, the above description is an exemplification in all aspects, and the present invention is not limited thereto. It is understood that countless variations not illustrated are conceivable without departing from the scope of the present invention. That is, in the present invention, within the scope of the invention, each embodiment can be freely combined, or each embodiment can be appropriately modified or omitted.

4 P型シリコン基板
5 裏面パッシベーション膜
8 混合容器
11 反応容器
12 ノズル
13 加熱器
14 原料溶液
15,25 溶液容器
16,26 ミスト化器
24 反応支援溶液
80 容器本体
81,82 ミスト供給部
83 ミスト取り出し部
101,102 成膜装置
L1〜L3 経路
R80 外周経路
4 P-type silicon substrate 5 back surface passivation film 8 mixing container 11 reaction container 12 nozzle 13 heater 14 raw material solution 15, 25 solution container 16, 26 mister 24 reaction support solution 80 container main body 81, 82 mist supply part 83 mist extraction Sections 101 and 102 Deposition apparatus L1 to L3 Route R80 Peripheral route

Claims (5)

(a) 第1の容器(15)内において、金属元素を含む原料溶液(14)をミスト化させて原料溶液ミスト(M1)を得るステップと、
(b) 前記第1の容器と独立した第2の容器(25)内において、前記金属元素用の反応支援剤を含む反応支援溶液(24)をミスト化させて支援剤ミスト(M2)を得るステップと、
(c) 互いに独立した第1及び第2の経路(L1,L2)を介して前記原料溶液ミスト及び前記支援剤ミストを受ける混合容器(8)内において、前記原料溶液ミストと前記支援剤ミストとを混合して混合ミスト(M3)を得るステップと、
(d) 前記ステップ(c) で得た前記混合ミストを反応容器内における基板の一方主面上に供給しつつ、前記基板(4)を加熱して、前記基板の一方主面上に前記金属元素を含む金属酸化膜を成膜するステップとを備える、
金属酸化膜の成膜方法。
(a) in the first container (15), atomizing the raw material solution (14) containing the metal element to obtain a raw material solution mist (M1);
(b) In the second container (25) independent of the first container, the reaction support solution (24) containing the reaction support agent for the metal element is formed into a mist to obtain the support agent mist (M2) Step and
(c) In the mixing vessel (8) receiving the raw material solution mist and the support agent mist via the first and second paths (L1, L2) independent of each other, the raw material solution mist and the support agent mist Mixing to obtain mixed mist (M3),
(d) The substrate (4) is heated while supplying the mixed mist obtained in the step (c) onto one of the main surfaces of the substrate in the reaction vessel, and the metal is deposited onto the one main surface of the substrate Forming a metal oxide film containing an element;
Method of forming metal oxide film.
請求項1記載の金属酸化膜の成膜方法であって、
前記混合容器は、
容器本体(80)と、
前記第1及び第2の経路に接続され、前記原料溶液ミスト及び前記支援剤ミストを前記容器本体内に供給する第1及び第2のミスト供給部(81,82)と、
前記容器本体の内部に設けられた混合ミスト入力口(83I)及び前記容器本体の外部に設けられた混合ミスト出力口(83O)を有し、前記混合ミスト入力口から前記混合ミストを受け、前記混合ミスト出力口から前記混合ミストを取り出すミスト取り出し部(83)とを含み、前記混合ミスト出力口から得られる前記混合ミストが第3の経路(L3)を介して前記反応容器内に供給され、
前記容器本体は内部に、前記第1及び第2のミスト供給部から供給された前記原料溶液ミスト及び前記支援剤ミストを流通させつつ前記混合ミスト入力口に導く混合経路(R80)を有する、
金属酸化膜の成膜方法。
It is the film-forming method of the metal oxide film of Claim 1, Comprising:
The mixing vessel is
Container body (80),
First and second mist supply units (81, 82) connected to the first and second paths to supply the raw material solution mist and the support agent mist into the container body;
A mixed mist input port (83I) provided inside the container body and a mixed mist output port (83O) provided outside the container body, the mixed mist input port receiving the mixed mist from the mixed mist input port, And a mist extraction unit (83) for extracting the mixed mist from the mixed mist output port, wherein the mixed mist obtained from the mixed mist output port is supplied into the reaction vessel via a third path (L3),
The container body internally has a mixing path (R80) for guiding the raw material solution mist and the support agent mist supplied from the first and second mist supply units to the mixed mist input port while circulating the material solution mist and the support agent mist.
Method of forming metal oxide film.
請求項2記載の金属酸化膜の成膜方法であって、
前記第1及び第2のミスト供給部は前記容器本体において互いに同一の形成高さに設けられ、前記混合ミスト入力口は前記第1及び第2のミスト供給部より低い形成高さに設けられる、
金属酸化膜の成膜方法。
It is the film-forming method of the metal oxide film of Claim 2, Comprising:
The first and second mist supply units are provided at the same formation height in the container main body, and the mixed mist input port is provided at a formation height lower than the first and second mist supply units.
Method of forming metal oxide film.
請求項3記載の金属酸化膜の成膜方法であって、
前記容器本体は円筒形状を呈し、
前記ミスト取り出し部は前記容器本体内の平面視中央部に設けられ、内部空洞の円筒形状を呈し、前記混合ミスト入力口を下面に有し、前記混合ミスト出力口を上面に有し、
前記混合経路は、前記容器本体の側面内周部と前記ミスト取り出し部の側面外周部との間の空間によって平面視して円周状に形成される、
金属酸化膜の成膜方法。
5. The method for forming a metal oxide film according to claim 3, wherein
The container body has a cylindrical shape,
The mist extraction portion is provided at a central portion in plan view in the container main body, has a cylindrical shape of an internal cavity, has the mixed mist input port on the lower surface, and has the mixed mist output port on the upper surface
The mixing path is circumferentially formed in a plan view by a space between a side inner peripheral portion of the container body and a side outer peripheral portion of the mist outlet.
Method of forming metal oxide film.
請求項4記載の金属酸化膜の成膜方法であって、
前記第1及び第2のミスト供給部は、
前記容器本体の側面内周部の接線方向に沿って前記原料溶液ミスト及び前記支援剤ミストを供給するように設けられる、
金属酸化膜の成膜方法。
5. The method for forming a metal oxide film according to claim 4, wherein
The first and second mist supply units
The raw material solution mist and the assisting agent mist are provided to be supplied along the tangential direction of the side inner peripheral portion of the container body.
Method of forming metal oxide film.
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