JP2018518212A - 光ファイバ及び連続する較正を有するシステム - Google Patents
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Abstract
Description
光源(64)、スペクトロメータ(66)、光学スイッチ(65)及び処理ユニットと、
遠位端表面(30)を有する長尺シャフト(10)と、
前面(45)を有する照明ファイバ(40)であって、前記照明ファイバは、第1の屈折率を有する第1の材料で作られており、前記長尺シャフトに配置され、前記前面は、前記長尺シャフト内に位置し、前記照明ファイバは、前記光源からの光を受けるように構成されている、照明ファイバと、
第1の表面(55)及び第2の表面(56)を有するプラグ(50)であって、前記プラグは、前記照明ファイバの前に配置され、前記プラグの第1の表面が前記照明ファイバ(40)と光学的に接続され、前記第2の表面が、前記長尺シャフトの遠位端表面(30)に隣接して位置し、前記プラグは、第2の屈折率を有する第2の材料で作られており、前記第2の屈折率が前記第1の屈折率と異なり、それにより前記照明ファイバへの光の後方反射を可能にする、プラグと、
前面を有する検出ファイバ(41)であって、前記前面が前記遠位端表面(30)に隣接して位置付けられるように前記長尺シャフトに配置される、検出ファイバと、
を有し、
前記照明ファイバは、前記光源(64)からその前面に光を伝送することができ、前記プラグから前記光学スイッチ(65)に光を伝送することができ、
前記検出ファイバは、前記遠位端表面の前の組織から反射される光を、前記光学スイッチに伝送することができ、
前記光学スイッチは、基準スペクトルを生成するために前記照明ファイバからの光をスペクトロメータに供給し、及び拡散反射スペクトルを生成するために前記検出ファイバからの光をスペクトロメータに供給するように構成され、
処理ユニットは、基準スペクトルにより拡散反射スペクトルを正規化することによって、組織スペクトルを生成するように構成される、システム。
Claims (15)
- 組織検査のためのシステムであって、
光源、スペクトロメータ、光学スイッチ及び処理ユニットと、
遠位端表面を有する長尺シャフトと、
前面を有する照明ファイバであって、前記照明ファイバは、第1の屈折率を有する第1の材料で作られており、前記長尺シャフトに配され、前記前面が、前記長尺シャフト内に位置し、前記長尺シャフトの前記遠位端表面に隣接し、前記照明ファイバが、前記光源からの光を受けるよう構成される、照明ファイバと、
第1の表面及び第2の表面を有するプラグであって、前記プラグは、前記照明ファイバの前に配され、前記プラグの第1の表面が前記照明ファイバと光学的に接続され、前記第2の表面が、前記長尺シャフトの前記遠位端表面に隣接して位置し、前記プラグは、第2の屈折率を有する第2の材料で作られており、前記第2の屈折率が前記第1の屈折率と異なり、それにより前記照明ファイバへの光の後方反射を可能にする、プラグと、
前面を有する検出ファイバであって、前記前面が前記遠位端表面に隣接して位置付けられるように前記長尺シャフトに配される、検出ファイバと、
を有し、
前記照明ファイバは、前記光源から前記照明ファイバの前面に光を伝送することができ、前記プラグから前記光学スイッチに光を伝送することができ、
前記検出ファイバは、前記遠位端表面の前の組織から反射される光を、前記光学スイッチに伝送することができ、
前記光学スイッチは、基準スペクトルを生成するために前記照明ファイバからの光を前記スペクトロメータに供給し、及び拡散反射スペクトルを生成するために前記検出ファイバからの光を前記スペクトロメータに供給するように構成され、
前記処理ユニットが、前記基準スペクトルにより前記拡散反射スペクトルを正規化することによって、組織スペクトルを生成する、システム。 - 第3の材料で作られた素子が、前記照明ファイバの前記前面と前記プラグとの間に提供され、前記第3の材料は蛍光体を含み、前記照明ファイバは更に、蛍光光を伝送することができ、前記光学スイッチは更に、前記基準スペクトルを生成するために前記スペクトロメータに前記蛍光光を供給することが可能である、請求項1に記載のシステム。
- 前記光源は、前記照明ファイバと前記プラグとの間の前記素子の前記蛍光体を励起するためにLED又はレーザ光源を有する、請求項2に記載のシステム。
- 前記光源は、光パルスを放出するように適応される、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記遠位端表面が前記長尺シャフトの長軸に対し鋭角の角度で構成されるように、前記長尺シャフトがベベルを更に有する、請求項1乃至4のいずれか1項に記載のシステム。
- 反射コーティングが、前記チャネルのうち少なくとも1つのチャネル壁に提供される、請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記プラグの前記第2の表面及び前記検出ファイバの前記前面の少なくとも一方が、予め決められたラフネスを有する、請求項1乃至6のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記プラグが前記長尺シャフトの長手方向に長さを有し、前記プラグの長さは、前記長尺シャフトの直径の2倍より小さい、請求項1乃至7のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記照明ファイバ及び前記検出ファイバを前記光学スイッチと相互接続する、光ファイバを有する相互接続ケーブルを更に有する、請求項1乃至8のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記長尺シャフトが更に、組織内において前記長尺シャフトを追跡するための追跡モダリティを有する、請求項1乃至9のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記長尺シャフトが少なくとも3つのチャネルを有し、1つのチャネルが、注入又は排出チャネルとして構成される、請求項1乃至10のいずれか1項に記載のシステム。
- ディスプレイ装置を更に有する、請求項1乃至11のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記システムが、拡散反射スペクトロスコピー、拡散光学トモグラフィ、差分経路長スペクトロスコピー及びラマンスペクトロスコピーを含むグループのうち少なくとも1つを実施するように適応される、請求項1乃至12のいずれか1項に記載のシステム。
- 組織検査のための方法であって、
a)光源から光を放出するステップと、
b)照明ファイバに前記光源からの光を結合するステップと、
c)前記照明ファイバを通じて光を伝送するステップと、
d)前記照明ファイバを通じて戻る光を光学スイッチへ伝送するステップと、
e)組織の一部からのスペクトル変調された光が検出ファイバに反射されるステップと、
f)収集された前記スペクトル変調された光を前記光学スイッチに伝送するステップと、
g)前記光学スイッチを使用して、前記照明ファイバからの光及び前記検出ファイバからの光の両方をスペクトロメータに供給するステップと、
h)前記スペクトロメータを使用して、前記照明ファイバから受け取られる光に基づいて前記検出ファイバからの光を正規化するステップと、
を含む方法。 - 前記ステップd)において、前記照明ファイバを通じて戻る光の伝送が、(i)前記照明ファイバの前面から、又は(ii)前記遠位端表面に隣接して位置する励起蛍光体から、の後方反射として、行われる、請求項14に記載の方法。
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