JP2018185172A - Angle adjustment device for line sensor, defect inspection device, and angle adjustment method for line sensor - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an angle adjustment device for a line sensor capable of adjusting a mounting position of a line sensor without providing a special jig.SOLUTION: The angle adjustment device includes a first adjustment section to adjust a rotation angle that is an angle of rotation about a first axis parallel to a normal direction to the element surface of the line sensor, and a second adjustment section to adjust a tilt angle that is an angle of rotation about a second axis parallel to a scan direction of the line sensor, and an adjustment control section for making adjustment by driving at least one of the first and the second adjustment sections according to an external adjustment instruction.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、フィルムなどの検査対象に存在する透明の欠陥を検査するためのラインセンサの角度調整装置、欠陥検査装置、ラインセンサの角度調整方法に関し、リモート制御による、カメラの角度調整機能を付加したものである。
特に、カメラの角度に高い調整精度が要求される光学系での調整が可能となる機能に関する。
The present invention relates to a line sensor angle adjustment device, a defect inspection device, and a line sensor angle adjustment method for inspecting a transparent defect present in an inspection object such as a film, and adds a camera angle adjustment function by remote control. It is a thing.
In particular, the present invention relates to a function that enables adjustment in an optical system that requires high adjustment accuracy for the camera angle.

従来、連続シート状の検査に照明装置からの光を照射し、その反射光あるいは透過光を受光器で撮像し、その画像信号を適当な画像処理装置で処理し、欠陥情報を抽出する欠陥検査装置を用いて検査対象物の欠陥検査が行われている。このような欠陥検査装置では、複数のCCDカメラが同一方向に配列されたラインセンサが用いられている。
このようなラインセンサの測定対象に対する取付位置の角度調整を行う方法として、特許文献1の検査装置がある。この検査装置において、ラインセンサは、あおり角度と回転角度をマイクロメータにより調整することができる。そして、この調整は、撮像画像における複数の基準ポイント像の位置に基づいて調整を行なうことができる。
Conventionally, a defect inspection in which a continuous sheet-like inspection is irradiated with light from an illuminator, the reflected or transmitted light is imaged with a light receiver, the image signal is processed with an appropriate image processing device, and defect information is extracted A defect inspection of an inspection object is performed using an apparatus. In such a defect inspection apparatus, a line sensor in which a plurality of CCD cameras are arranged in the same direction is used.
As a method for adjusting the angle of the mounting position with respect to the measurement target of such a line sensor, there is an inspection apparatus disclosed in Patent Document 1. In this inspection apparatus, the line sensor can adjust the tilt angle and the rotation angle with a micrometer. This adjustment can be performed based on the positions of a plurality of reference point images in the captured image.

特開2001−208514号公報JP 2001-208514 A

しかしながら、上述した特許文献1では、ラインセンサの取付位置のずれを求めるためには、基準ポイントの画像がガラス基板上にエッチング印刷された治具を設ける必要がある。このような治具を準備するには手間がかかるとともに、基準画像を設けるスペースを確保する必要がある。   However, in Patent Document 1 described above, in order to obtain a shift in the mounting position of the line sensor, it is necessary to provide a jig on which an image of a reference point is etched and printed on a glass substrate. Preparing such a jig is time-consuming and requires a space for providing a reference image.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、基準画像が印刷された治具を設けることなく、ラインセンサの取付位置を調整することができるラインセンサの角度調整装置、欠陥検査装置、ラインセンサの角度調整方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide an angle adjustment device for a line sensor capable of adjusting the mounting position of the line sensor without providing a jig on which a reference image is printed. Another object of the present invention is to provide a defect inspection apparatus and a line sensor angle adjustment method.

上述した課題を解決するために、本発明は、ラインセンサの素子面に対する法線方向に平行な第1軸線を中心にして回転する角度である回転角度の調整を行なう第1調整部と、ラインセンサの走査方向である第2軸線を中心にして回転する角度であるあおり角度の調整を行なう第2調整部と、外部からの調整指示に応じて前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整部を駆動させることで調整を行なわせる調整制御部とを有する。   In order to solve the above-described problem, the present invention includes a first adjustment unit that adjusts a rotation angle that is an angle of rotation about a first axis parallel to a normal direction to an element surface of a line sensor, and a line A second adjustment unit that adjusts a tilt angle that is an angle of rotation about a second axis that is a scanning direction of the sensor, and the first adjustment unit and the second adjustment unit according to an adjustment instruction from the outside And an adjustment control unit that performs adjustment by driving at least one of the adjustment units.

また、本発明は、被検査物を搬送方向に搬送しつつ検査を行なう欠陥検査装置であって、上述のラインセンサの角度調整装置を有する欠陥検査装置である。   Moreover, this invention is a defect inspection apparatus which inspects, conveying a to-be-inspected object in a conveyance direction, Comprising: It is a defect inspection apparatus which has an angle adjustment apparatus of the above-mentioned line sensor.

また、本発明は、第1調整部が、ラインセンサの素子面に対する法線方向に平行な第1軸線を中心にして回転する角度である回転角度の調整を行い、第2調整部が、ラインセンサの走査方向である第2軸線を中心にして回転する角度であるあおり角度の調整を行ない、調整制御部が、外部からの調整指示に応じて前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整部を駆動させることで調整を行なわせる。   In the present invention, the first adjustment unit adjusts a rotation angle that is an angle of rotation about a first axis parallel to a normal direction with respect to the element surface of the line sensor, and the second adjustment unit A tilt angle that is an angle of rotation about the second axis that is the scanning direction of the sensor is adjusted, and an adjustment control unit is configured to control the first adjustment unit and the second adjustment unit according to an adjustment instruction from the outside. Adjustment is performed by driving at least one of the adjustment units.

以上説明したように、この発明によれば、欠陥検査装置の設置状況によらずに、また、特別な治具を用いることなく、あおり角度や回転角度を簡単に調整することができる。   As described above, according to the present invention, the tilt angle and the rotation angle can be easily adjusted without depending on the installation state of the defect inspection apparatus and without using a special jig.

本発明の検査装置の配置例(流れ方向)を示す図である。It is a figure which shows the example of arrangement | positioning (flow direction) of the test | inspection apparatus of this invention. 本発明の検査装置の配置例(幅方向)を示す図である。It is a figure which shows the example of arrangement | positioning (width direction) of the test | inspection apparatus of this invention. 本発明の装置構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the apparatus structural example of this invention. 本発明の光学系のカメラ出力波形を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the camera output waveform of the optical system of this invention. 本発明の制御破面の1例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating an example of the control fracture surface of this invention. 本発明の実施例である、角度ずれとエッジ量の関係を示す図である。It is a figure which is the Example of this invention, and shows the relationship between an angle shift | offset | difference and edge amount. 回転角度とあおり角度とを調整する処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the process which adjusts a rotation angle and a tilt angle. 本発明の実施例と比較例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the Example and comparative example of this invention.

以下、本発明の一実施形態によるラインセンサの角度調整装置について図面を参照して説明する。
図1は、この発明の一実施形態によるラインセンサの角度調整装置を適用した欠陥検査装置の構成を示す概略構成図である。
検査対象物1は、連続シート状のものであり、例えば、フィルム、樹脂板等がある。検査対象物が、金属板などの不透明である場合(照明光が透過しない場合)には、図1のような透過光学系ではなく反射光学系を採用する。
以下の実施形態においては、検査対象物1がフィルムである場合を一例として説明する。検査対象物1は、搬送方向において長尺状のものである。ここでは図1において、搬送方向は、紙面に向かって左側から右側に搬送されることを表している。
Hereinafter, a line sensor angle adjusting device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a configuration of a defect inspection apparatus to which an angle adjustment apparatus for a line sensor according to an embodiment of the present invention is applied.
The inspection object 1 is a continuous sheet, and includes, for example, a film and a resin plate. When the inspection object is opaque such as a metal plate (when the illumination light does not transmit), a reflection optical system is adopted instead of the transmission optical system as shown in FIG.
In the following embodiments, a case where the inspection object 1 is a film will be described as an example. The inspection object 1 is long in the transport direction. Here, in FIG. 1, the conveyance direction indicates that the sheet is conveyed from the left side to the right side as viewed in the drawing.

ラインセンサ2は、検査対象物1の上方から検査対象物1を撮像し、撮像結果を表す画像データを出力する。このラインセンサ2は、例えば、株式会社メック製の8K素子ラインセンサを用いることができ、焦点距離f90mmのレンズが設けられ、分解能0.1mm/画素で検査対象物1の上方から画像を撮像する。ラインセンサ2の読取位置(撮像位置)は、スリット板4の境界位置に精度よく調整することが必要となる。すなわち、検査対象物1の下方に設置され検査対象物1を透過する光のうち、スリット板4のスリットの間を通過する光を受光する。
ラインセンサ2は、各種の素子数、例えば、2048素子、4096素子、8192素子のものがあるが、検査対象物1と検出すべき欠陥の内容により適正なものを選択すればよい。
このラインセンサ2は、例えば多数の素子がライン状(直線状)に並べられる。この素子数は、検査対象物1の幅、走行速度、分解能、設置スペースなどに応じて、適切な素子数のものが用いられる。ラインセンサ2は、検査対象物1の走行方向に対して直交する方向(例えば検査対象物1の幅方向)におけるライン(以下、検査ライン)単位で、検査対象物1の表面の光強度分布に応じた電気信号を出力する。ラインセンサとしては、例えば、CMOS(相補型MOS)カメラ、CCD(Charge−Coupled Device)カメラが挙げられる。
The line sensor 2 images the inspection object 1 from above the inspection object 1 and outputs image data representing the imaging result. As this line sensor 2, for example, an 8K element line sensor manufactured by MEC Co., Ltd. can be used, a lens having a focal length f90 mm is provided, and an image is taken from above the inspection object 1 with a resolution of 0.1 mm / pixel. The reading position (imaging position) of the line sensor 2 needs to be accurately adjusted to the boundary position of the slit plate 4. That is, light that passes between the slits of the slit plate 4 among light that is installed below the inspection object 1 and passes through the inspection object 1 is received.
The line sensor 2 has various numbers of elements, for example, 2048 elements, 4096 elements, and 8192 elements. An appropriate sensor may be selected depending on the inspection object 1 and the content of the defect to be detected.
In the line sensor 2, for example, a large number of elements are arranged in a line (straight). As the number of elements, an element having an appropriate number of elements is used according to the width, traveling speed, resolution, installation space, and the like of the inspection object 1. The line sensor 2 has a light intensity distribution on the surface of the inspection object 1 in units of lines (hereinafter referred to as inspection lines) in a direction orthogonal to the traveling direction of the inspection object 1 (for example, the width direction of the inspection object 1). A corresponding electrical signal is output. Examples of the line sensor include a CMOS (complementary MOS) camera and a CCD (Charge-Coupled Device) camera.

ライン状照明3は、LED照明、石英ロッド照明、蛍光灯などが使用される。ライン状照明3の上方(ラインセンサ2に対向する方向)にスリット板4が取り付けている。このライン状照明3は、検査対象物1の幅方向に沿う方向に長手方向が配置される。
スリット板4は、検査対象物1の幅方向に沿う方向にスリットが形成された板状のものであり、そのスリットの幅は、例えば、3〜10mmである。このスリット板4は、検査対象物1から、100〜400mm離間された位置となるようにして、ライン状照明3に取付けられる。また、スリット板4は、片側のみのスリット板を使用する場合もある。
As the line illumination 3, LED illumination, quartz rod illumination, fluorescent lamp, or the like is used. A slit plate 4 is attached above the line illumination 3 (in the direction facing the line sensor 2). The line illumination 3 has a longitudinal direction arranged in a direction along the width direction of the inspection object 1.
The slit plate 4 is a plate having slits formed in the direction along the width direction of the inspection object 1, and the width of the slit is, for example, 3 to 10 mm. The slit plate 4 is attached to the line-shaped illumination 3 so as to be positioned 100 to 400 mm away from the inspection object 1. The slit plate 4 may be a slit plate on only one side.

カメラフォルダ5は、ラインセンサ2を固定する機能を有するとともに、ライン状照明3に対する位置、角度を調整する複数のマイクロメータを有する。
マイクロメータ6(第1調整部)は、ラインセンサ2の素子面に対する法線方向に平行な第1軸線を中心にして回転する角度である回転角度の調整を行なう。
マイクロメータ7(第2調整部)は、ラインセンサ2の走査方向である第2軸線を中心にして回転する角度であるあおり角度(符号7A)の調整を行なう。
The camera folder 5 has a function of fixing the line sensor 2 and also has a plurality of micrometers for adjusting the position and angle with respect to the line-shaped illumination 3.
The micrometer 6 (first adjustment unit) adjusts a rotation angle that is an angle of rotation about a first axis parallel to the normal direction to the element surface of the line sensor 2.
The micrometer 7 (second adjustment unit) adjusts a tilt angle (symbol 7A) that is an angle of rotation about the second axis that is the scanning direction of the line sensor 2.

図2は、ラインセンサ2の調整方向について説明する概念図である。
ラインセンサ読取位置8は、ラインセンサ2の素子の配列方向(長手方向)に対応する位置である。マイクロメータ6によって調整することで、このラインセンサ読取位置8の長手方向における中心位置8Aを基準として、平面方向において回転する方向の角度である回転角度θ1を調整することが可能である。すなわち、ライン状照明3に対する回転方向の位置を調整することができる。回転角度θ1を調整することで、ラインセンサ読取位置8を変更することができるが、この回転角度θ1の調整をすることで、ラインセンサ読取位置8に対するライン状照明3の相対角度が変更されるだけでなく、ここでは、ラインセンサ読取位置8に対するスリット板4のスリットの相対角度も変更される。
FIG. 2 is a conceptual diagram for explaining the adjustment direction of the line sensor 2.
The line sensor reading position 8 is a position corresponding to the arrangement direction (longitudinal direction) of the elements of the line sensor 2. By adjusting with the micrometer 6, it is possible to adjust the rotation angle θ <b> 1 that is an angle in the direction of rotation in the plane direction with reference to the center position 8 </ b> A in the longitudinal direction of the line sensor reading position 8. That is, the position in the rotational direction with respect to the line illumination 3 can be adjusted. The line sensor reading position 8 can be changed by adjusting the rotation angle θ1, but the relative angle of the line illumination 3 with respect to the line sensor reading position 8 is changed by adjusting the rotation angle θ1. In addition, the relative angle of the slit of the slit plate 4 with respect to the line sensor reading position 8 is also changed here.

マイクロメータ7によってあおり角度を調整することで、ラインセンサ読取位置8は、ライン状照明3に対して平行方向に移動するようにあおり調整をすることができる。すなわち、ラインセンサ2の長手方向における中心軸を中心として、検査対象物1の走査方向における上流側(検査対象物1が巻き出されるローラが設けられる側)、あるいは下流側(検査対象物1が巻き取られるローラが設けられる側)に向かうようにあおり角度を変更することで、ラインセンサ読取位置8を検査対象物1の上流側あるいは下流側に調整することができる。あおり角度を調整することで、ラインセンサ読取位置8を変更することができるが、このあおり角度の調整をすることで、ラインセンサ読取位置8に対するライン状照明3の相対位置が変更されるだけでなく、ここでは、ラインセンサ読取位置8に対するスリット板4のスリットの相対位置も変更される。   By adjusting the tilt angle by the micrometer 7, the line sensor reading position 8 can be adjusted so as to move in a direction parallel to the line illumination 3. That is, with respect to the central axis in the longitudinal direction of the line sensor 2, the upstream side in the scanning direction of the inspection object 1 (the side on which the roller on which the inspection object 1 is unwound) is provided, or the downstream side (the inspection object 1 is The line sensor reading position 8 can be adjusted to the upstream side or the downstream side of the inspection object 1 by changing the tilt angle so as to go to the side where the roller to be wound is provided. By adjusting the tilt angle, the line sensor reading position 8 can be changed. However, by adjusting the tilt angle, only the relative position of the line illumination 3 with respect to the line sensor reading position 8 is changed. Here, the relative position of the slit of the slit plate 4 with respect to the line sensor reading position 8 is also changed.

図3は、上述した欠陥検査装置100の機能構成を表す概略ブロック図である。
図1の各部に対応する部分については同一の符号を付し、図1と相違する点について説明する。
ラインセンサ2は、カメラフォルダ5に取付けられており、マイクロメータ6によって回転角度(回転方向)、マイクロメータ7によってあおり角度(あおり方向)の調整を行なうことが可能となっている。
ライン状照明3は、ホストコンピュータ12からのオンオフ信号に応じて点灯する。
FIG. 3 is a schematic block diagram showing the functional configuration of the defect inspection apparatus 100 described above.
Parts corresponding to the respective parts in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and differences from FIG. 1 will be described.
The line sensor 2 is attached to the camera folder 5, and the rotation angle (rotation direction) can be adjusted by the micrometer 6 and the tilt angle (tilting direction) can be adjusted by the micrometer 7.
The line illumination 3 is turned on in response to an on / off signal from the host computer 12.

マイクロメータ6、マイクロメータ7は、それぞれ個別にアクチュエータが設けられており、アクチュエータが調整制御部11から出力される駆動信号に基づいて駆動することで、回転角度、あおり角度を調整する。
調整制御部11は、ホストコンピュータ12から出力される、マイクロメータ6に対する駆動信号を受信すると、マイクロメータ6のアクチュエータに駆動信号を出力し、マイクロメータ7に対する駆動信号を受信すると、マイクロメータ7のアクチュエータに駆動信号を出力する。
ホストコンピュータ12は、ネットワーク20を介して接続されるクライアント端末13から送信される制御信号、または、画像処理コンピュータ15から出力される制御信号に応じて、マイクロメータ6またはマイクロメータ7のアクチュエータに対して駆動信号を出力する。
このホストコンピュータ12は、汎用的なOSがインストールされたコンピュータであり、検査条件の調整、検査中の画面表示、検査結果の確認などの機能を有している。
Each of the micrometer 6 and the micrometer 7 is provided with an actuator, and the actuator is driven based on a drive signal output from the adjustment control unit 11 to adjust the rotation angle and the tilt angle.
The adjustment control unit 11 outputs a drive signal to the actuator of the micrometer 6 when receiving the drive signal output from the host computer 12 and receives the drive signal for the micrometer 7. A drive signal is output to the actuator.
The host computer 12 responds to a control signal transmitted from the client terminal 13 connected via the network 20 or a control signal output from the image processing computer 15 to the actuator of the micrometer 6 or the micrometer 7. To output a drive signal.
The host computer 12 is a computer in which a general-purpose OS is installed, and has functions such as adjustment of inspection conditions, screen display during inspection, and confirmation of inspection results.

クライアント端末13は、ホストコンピュータ12に対し、ネットワーク20を介してリモート接続される。このネットワークは、無線であってもよいし、有線であってもよいし、無線と有線とを組み合わせたネットワークであってもよい。クライアント端末13は、マウスやキーボード等の入力装置と、表示装置等のディスプレイを有している。
画像処理装置14は、ラインセンサ2の撮像結果に基づいて、検査対象物1における欠陥を検出し、検出結果を画像処理コンピュータ15に出力する。
画像処理コンピュータ15は、リアルタイムOS(オペレーティングシステム)で制御されており、ラインセンサ2、画像処理装置14を高速で制御する。画像処理コンピュータ15の出力は、ホストコンピュータ12に入力する。
The client terminal 13 is remotely connected to the host computer 12 via the network 20. This network may be wireless, wired, or a combination of wireless and wired networks. The client terminal 13 has an input device such as a mouse and a keyboard and a display such as a display device.
The image processing device 14 detects a defect in the inspection object 1 based on the imaging result of the line sensor 2 and outputs the detection result to the image processing computer 15.
The image processing computer 15 is controlled by a real-time OS (operating system), and controls the line sensor 2 and the image processing device 14 at high speed. The output of the image processing computer 15 is input to the host computer 12.

図4は、ラインセンサ2から出力される撮像結果を表すグラフである。縦軸がラインセンサ2の出力値を表し、横軸がラインセンサ2の幅方向の位置を表している。
図4(a)は、正透過している状態におけるラインセンサ2の検出結果を表すグラフである。以下では、説明の便宜上、ラインセンサ2の幅方向における中心軸がスリット板4のスリットの長手方向における軸と対応する位置(中央付近)に合わせて配置された状態でラインセンサ2に受光される光が検査対象物1を透過する形態を「正透過」と称す。
ここでは、例えば、ラインセンサ読取位置8がスリット板4のスリットに対応する位置となるように回転角度やあおり角度が調整された場合の一例である。この図において、ラインセンサ2の幅方向における両端部は、中央部に比べてやや検出値が低い状態ではあるが、幅方向において概ね同じような検出値となっている。
FIG. 4 is a graph showing the imaging result output from the line sensor 2. The vertical axis represents the output value of the line sensor 2, and the horizontal axis represents the position of the line sensor 2 in the width direction.
FIG. 4A is a graph showing the detection result of the line sensor 2 in the state of normal transmission. Hereinafter, for convenience of explanation, the line sensor 2 receives light in a state where the center axis in the width direction of the line sensor 2 is arranged in accordance with the position (near the center) corresponding to the axis in the longitudinal direction of the slit of the slit plate 4. A form in which light passes through the inspection object 1 is referred to as “regular transmission”.
Here, for example, the rotation angle and tilt angle are adjusted so that the line sensor reading position 8 is a position corresponding to the slit of the slit plate 4. In this figure, both end portions in the width direction of the line sensor 2 are in a state where detection values are slightly lower than those in the center portion, but the detection values are substantially the same in the width direction.

図4(b)は、ラインセンサ読取位置8の長手方向と直交する方向(検査対象物1の搬送方向)における各位置でのラインセンサ2の出力値の波形を示すグラフであり、縦軸は、ラインセンサ2の長手方向の位置を横軸の各位置に合わせたときのラインセンサ2の出力値を示し、横軸は、スリット板4の長手方向と直交する方向(即ち、スリット板4の短辺方向)における位置を示している。
また、上述の図4(a)の波形は、図4(b)における位置Bに対応する位置にラインセンサ2のあおり角度が対応するように調整された場合における出力値を表している。また、図4(b)の位置Aは、出力値が位置Bにおける出力値(k)の1/2(1/2k)となる位置にあおり角度が対応するように調整された場合には、図4(c)に示すような出力値のグラフとなる。この図4(c)は、縦軸がラインセンサ2の出力値を表し、横軸がラインセンサ2の幅方向の位置を表している。この図4(b)における位置Aにおいては、あおり角度が前後すると、ラインセンサ2の出力値が大きく変動する。すなわち、図4(b)において、出力値の変化量が大きな領域の略中央(出力値がピーク値となる位置Aの半分程度の出力値の位置)においては、その前後に位置が変化すると、出力値の変動が大きい(傾きが大きい)ため、ラインセンサ2の視野全体で安定して出力値のピーク値の1/2の値を得るためには、高精度な位置調整が必要となる。この図4(c)では、位置Aとして、ラインセンサ2の出力値のピーク値の1/2に合せる場合について説明したが、検出すべき欠陥に応じて、出力値のピーク値の1/4,1/8等の値となる位置にあおり角度を調整するようにしてもよい。
ここで、ピーク値の1/2の位置となるようにあおり角度を調整することで、検査対象物1において欠陥があった場合には、その透過光の強度が変化するが、その欠陥が正常部位に対して凹凸、ブツなどの透明欠陥であっても、光の屈折等によりラインセンサ2の出力値が変化するため欠陥として検出しやすくなる。そのため、ピーク値の1/2等の位置となるようにあおり角度を調整することが望ましい。また、ラインセンサの幅方向における一端側から他端側まで、同様の条件で撮像できるように、回転角度を調整することが望ましい。
FIG. 4B is a graph showing the waveform of the output value of the line sensor 2 at each position in the direction orthogonal to the longitudinal direction of the line sensor reading position 8 (conveyance direction of the inspection object 1). , The output value of the line sensor 2 when the position of the line sensor 2 in the longitudinal direction is aligned with each position on the horizontal axis, and the horizontal axis is a direction orthogonal to the longitudinal direction of the slit plate 4 (that is, the slit plate 4 The position in the short side direction is shown.
Further, the waveform of FIG. 4A described above represents an output value when the tilt angle of the line sensor 2 is adjusted so as to correspond to the position corresponding to the position B in FIG. 4B. In addition, when the position A in FIG. 4B is adjusted so that the output value is at a position where the output value is ½ (1 / 2k) of the output value (k) at the position B, and the angle corresponds. The output value graph is as shown in FIG. In FIG. 4C, the vertical axis represents the output value of the line sensor 2, and the horizontal axis represents the position in the width direction of the line sensor 2. At the position A in FIG. 4B, the output value of the line sensor 2 varies greatly as the tilt angle changes. That is, in FIG. 4B, in the approximate center of the region where the amount of change of the output value is large (the position of the output value that is about half of the position A where the output value becomes the peak value), Since the fluctuation of the output value is large (the inclination is large), high-accuracy position adjustment is necessary to obtain a value that is 1/2 of the peak value of the output value stably over the entire visual field of the line sensor 2. In FIG. 4C, the case where the position A is set to 1/2 of the peak value of the output value of the line sensor 2 has been described. However, according to the defect to be detected, 1/4 of the peak value of the output value is set. , The tilt angle may be adjusted at a position where the value is 1/8 or the like.
Here, when the inspection object 1 has a defect by adjusting the tilt angle so that the position is half the peak value, the intensity of the transmitted light changes, but the defect is normal. Even transparent defects such as irregularities and irregularities with respect to the part are easily detected as defects because the output value of the line sensor 2 changes due to light refraction and the like. For this reason, it is desirable to adjust the tilt angle so that the position is ½ of the peak value. In addition, it is desirable to adjust the rotation angle so that imaging can be performed under the same conditions from one end side to the other end side in the width direction of the line sensor.

図5は、ホストコンピュータ12またはクライアント端末13の表示画面の一例を表す図である。この表示画面は、ラインセンサ2の出力値に基づいて出力される。
Lに対応する表示欄(符号51)は、ラインセンサ2の出力値であって、始点側(一端側)の素子範囲(S min〜S max)の出力値の平均値が表示される。
Mに対応する表示欄(符号52)は、ラインセンサ2の出力値であって、中央部の素子範囲(M min〜M max)の出力値の平均値が表示される。
Rに対応する表示欄(符号53)は、ラインセンサ2出力値であって、終点側(他端側)の素子範囲(E min〜E max)の出力値の平均値が表示される。
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a display screen of the host computer 12 or the client terminal 13. This display screen is output based on the output value of the line sensor 2.
The display column (reference numeral 51) corresponding to L is the output value of the line sensor 2, and displays the average value of the output values of the element range (S min to S max) on the start point side (one end side).
A display column (reference numeral 52) corresponding to M is an output value of the line sensor 2, and an average value of output values of the element range (M min to M max) in the center is displayed.
The display column (reference numeral 53) corresponding to R is the output value of the line sensor 2, and the average value of the output values of the element range (E min to E max) on the end point side (the other end side) is displayed.

ここで、上述の各表示欄の下側には、回転角度、あおり角度を調整するためのボタンが表示される。回転角度を調整するためのボタン(符号54、符号55)のうち、左向きの矢印の形状をしたボタン(符号54)がクリックされると、マイクロメータ6が−(マイナス)側、右向きの矢印の形状をしたボタン(符号55)がクリックされると、マイクロメータ6が+(プラス)側に一定角度回転するように、ホストコンピュータ12から調整制御部11に対して駆動信号が出力される。これにより、調整制御部11からマイクロメータ6のアクチュエータに対して駆動信号が出力され、マイクロメータ6がボタン操作に応じて回転することで、ラインセンサ2の回転角度が調整される。
あおり角度を調整するためのボタン(符号56、符号57)のうち、左向きの矢印の形状をしたボタン(符号56)がクリックされると、マイクロメータ7が−(マイナス)側、右向きの矢印の形状をしたボタン(符号57)がクリックされると、マイクロメータ7が+(プラス)側に一定角度回転するように、ホストコンピュータ12から調整制御部に対して駆動信号が出力される。これにより、調整制御部11からマイクロメータ7のアクチュエータに対して駆動信号が出力され、マイクロメータ7がボタン操作に応じて回転することで、ラインセンサ2のあおり角度が調整される。
Here, buttons for adjusting the rotation angle and the tilt angle are displayed below the display columns. Of the buttons (reference numerals 54 and 55) for adjusting the rotation angle, when the left arrow-shaped button (reference numeral 54) is clicked, the micrometer 6 is moved to the negative (-) side and to the right arrow. When the shaped button (reference numeral 55) is clicked, a drive signal is output from the host computer 12 to the adjustment control unit 11 so that the micrometer 6 rotates by a certain angle to the + (plus) side. Thereby, a drive signal is output from the adjustment control unit 11 to the actuator of the micrometer 6, and the rotation angle of the line sensor 2 is adjusted by the micrometer 6 rotating in response to the button operation.
Of the buttons (reference numerals 56 and 57) for adjusting the tilt angle, when the left arrow-shaped button (reference numeral 56) is clicked, the micrometer 7 is moved to the-(minus) side and to the right arrow. When the shaped button (symbol 57) is clicked, a drive signal is output from the host computer 12 to the adjustment control unit so that the micrometer 7 rotates to the + (plus) side by a certain angle. Accordingly, a drive signal is output from the adjustment control unit 11 to the actuator of the micrometer 7, and the tilt angle of the line sensor 2 is adjusted by the micrometer 7 rotating in response to the button operation.

上記の検査対象物1を搬送している途中では、図4に示すラインセンサ2の出力値は所定の時間間隔で取り込まれることでグラフも更新されて表示され、図5に示す調整画面において、LとRの出力値が一致またはその差が所定の範囲内となるように回転角度が調整され、適正値にすることができる。また、図5に示す調整画面において、Mの出力値が最大となるようにあおり角度を調整することで、あおり角度の適正値とすることができる。このような回転角度の調整とあおり角度の調整は、リモート接続されたクライアント端末13に対し、ホストコンピュータ12が図4のグラフや図5の調整画面を表示させ、この表示画面を元に、クライアント端末13から、図5の調整画面を介して操作入力することで調整することができる。また、このような回転角度の調整とあおり角度の調整は、クライアント端末13を用いて手動で行なう他に、後述するように、画像処理コンピュータ15を用いて自動で行なうこともできる。   While the inspection object 1 is being conveyed, the output value of the line sensor 2 shown in FIG. 4 is captured at a predetermined time interval, and the graph is also updated and displayed. In the adjustment screen shown in FIG. The rotation angle is adjusted so that the output values of L and R match or the difference is within a predetermined range, and an appropriate value can be obtained. Further, by adjusting the tilt angle so that the output value of M is maximized on the adjustment screen shown in FIG. 5, the tilt angle can be set to an appropriate value. Such rotation angle adjustment and tilt angle adjustment are performed by causing the host computer 12 to display the graph of FIG. 4 and the adjustment screen of FIG. 5 on the remotely connected client terminal 13, and based on this display screen, the client computer 13 Adjustment can be performed by operating the terminal 13 through the adjustment screen of FIG. Further, such adjustment of the rotation angle and adjustment of the tilt angle can be performed manually using the client terminal 13 or automatically using the image processing computer 15 as described later.

図6は、本実施形態における角度ずれとエッジ量の関係を示す図である。
この図において、横軸が角度ずれ、縦軸はカメラ波形の中央部の平均エッジ量を示している。エッジ量(Ni)は、次式で求めることができる。
Ni=C×Bi/Ai
ここで、i:素子位置
Bi:正透過のi素子のラインセンサ出力値
Ai:エッジ光学系の i素子のラインセンサ出力値
C:係数
(係数Cは、例えば、走査周期を変更した場合、例えば、走査周期を2倍にした場合は2とする。)
である。
始点素子Ns〜終点素子Neまでの有効範囲を計算し、エッジ量Niの平均値、最小値、最大値を表示することも可能である。
FIG. 6 is a diagram illustrating the relationship between the angle deviation and the edge amount in the present embodiment.
In this figure, the horizontal axis indicates the angle shift, and the vertical axis indicates the average edge amount at the center of the camera waveform. The edge amount (Ni) can be obtained by the following equation.
Ni = C × Bi / Ai
Where i: element position
Bi: Line sensor output value of forward transmission i element
Ai: Line sensor output value of i element of edge optical system
C: Coefficient (Coefficient C is set to 2 when the scanning period is changed, for example, when the scanning period is doubled, for example)
It is.
It is also possible to calculate the effective range from the start point element Ns to the end point element Ne and display the average value, minimum value, and maximum value of the edge amount Ni.

ここでは、説明の便宜上、ラインセンサ2がスリット板4のスリットとスリット板4の遮光部との境界付近に合わせて配置された状態でラインセンサ2に受光される光が検査対象物1を透過する形態を「エッジ透過」と称す。またエッジ量Nが2のときのエッジ透過を1/2エッジ透過と称す。例えば、図4(b)における位置Bにおいてはエッジ量が1であり、図4(b)における位置Aにおいては、エッジ量は2であり、1/2エッジ透過に対応する。   Here, for convenience of explanation, the light received by the line sensor 2 in the state where the line sensor 2 is arranged near the boundary between the slit of the slit plate 4 and the light shielding portion of the slit plate 4 passes through the inspection object 1. This form is referred to as “edge transmission”. Edge transmission when the edge amount N is 2 is referred to as 1/2 edge transmission. For example, the edge amount is 1 at the position B in FIG. 4B, and the edge amount is 2 at the position A in FIG. 4B, corresponding to ½ edge transmission.

1/2エッジ透過の場合は、ラインセンサ2の出力値を±10%となる範囲で調整するためには、角度ずれ(あおり角度の調整範囲)は±0.02度という高精度の調整が必要である。
このような調整は、以下の手順でラインセンサ2の調整を行うことで、クライアント端末13からリモート接続をして図5に示す調整画面から手動で調整するのではなく、画像処理コンピュータによって自動で適正値に調整することが可能である。
In the case of 1/2 edge transmission, in order to adjust the output value of the line sensor 2 within the range of ± 10%, the angle deviation (the adjustment range of the tilt angle) needs to be adjusted with high accuracy of ± 0.02 degrees. is there.
Such adjustment is performed by adjusting the line sensor 2 in the following procedure, so that the remote connection from the client terminal 13 and manual adjustment from the adjustment screen shown in FIG. It is possible to adjust to an appropriate value.

図7は、回転角度とあおり角度とを調整する処理を説明するためのフローチャートである。
まず、正透過となるように光量設定をする(ステップS1)。ここでは、ホストコンピュータ12は、正透過の状態においてラインセンサ2から得られた出力値をBiとして一時記憶する。ここではラインセンサ2のi番目の素子から得られる出力値がBiとして記憶される。
次に、画像処理装置14は、ラインセンサ2の走査周期をエッジ量に応じて変更する(ステップS2)。例えば、エッジ量は、ホストコンピュータ12に接続された入力装置から入力され、画像処理コンピュータ15を介して画像処理装置14に通知される。この通知に基づいて、画像処理装置14は、エッジ量に応じた走査周期を設定する。例えば、エッジ量が2である場合には、走査周期を2倍とする。
FIG. 7 is a flowchart for explaining the process of adjusting the rotation angle and the tilt angle.
First, the amount of light is set so as to achieve normal transmission (step S1). Here, the host computer 12 temporarily stores the output value obtained from the line sensor 2 in the normal transmission state as Bi. Here, the output value obtained from the i-th element of the line sensor 2 is stored as Bi.
Next, the image processing apparatus 14 changes the scanning cycle of the line sensor 2 according to the edge amount (step S2). For example, the edge amount is input from an input device connected to the host computer 12 and is notified to the image processing device 14 via the image processing computer 15. Based on this notification, the image processing device 14 sets a scanning cycle according to the edge amount. For example, when the edge amount is 2, the scanning cycle is doubled.

次に、画像処理装置14からエッジ量設定完了の通知を受信すると、ホストコンピュータ12は、ラインセンサ2の出力値を画像処理装置14、画像処理コンピュータ15を介して取得し、取得したラインセンサ2の出力値に基づいて、マイクロメータ7によってあおり角度の調整を行なう(ステップS3)。ここでは、ラインセンサ2からの出力値がステップS1において設定した正透過における光量に対応した出力値(例えば光量と出力値とが一定値以内)となるようにあおり角度が調整される。ここでは、ステップ2において通知されたエッジ量に対応するように、1/2エッジ透過となるようにあおり角度が調整される。   Next, upon receiving a notice of edge amount setting completion from the image processing device 14, the host computer 12 acquires the output value of the line sensor 2 via the image processing device 14 and the image processing computer 15, and the acquired line sensor 2. Based on the output value, the tilt angle is adjusted by the micrometer 7 (step S3). Here, the angle is adjusted so that the output value from the line sensor 2 becomes an output value (for example, the light amount and the output value are within a certain value) corresponding to the light amount in the regular transmission set in step S1. Here, the tilt angle is adjusted so as to be ½ edge transmission so as to correspond to the edge amount notified in step 2.

次に、ホストコンピュータ12は、画像処理装置14と画像処理コンピュータ15を介して入力されるラインセンサ2の出力値に基づいて、図5に示す調整画面を表示し、この調整画面におけるL(ラインセンサ2の一端側)とR(ラインセンサ2の他端側)の値の差が所定の範囲内となるようにマイクロメータ6によって回転角度を調整する(ステップS4)。ここでは、図5のL及びRの値としては、ラインセンサ2の出力値ではなく、エッジ量を表示する。エッジ量は、ステップS1において得られたi素子におけるラインセンサ出力値Biと、現在ラインセンサ2から得られるi素子におけるラインセンサ出力値Aiと、係数C(ここでは走査周期が2倍であるため、C=2)とに基づいて、エッジ量Niを求める。そして、ホストコンピュータ12は、図5のL及びRとして得られるエッジ量がいずれも1となるように調整制御部11から駆動信号を出力させ、マイクロメータ6のアクチュエータを駆動させることで回転角度を調整する。   Next, the host computer 12 displays the adjustment screen shown in FIG. 5 on the basis of the output value of the line sensor 2 input via the image processing device 14 and the image processing computer 15, and L (line The rotation angle is adjusted by the micrometer 6 so that the difference between the values of one end of the sensor 2) and R (the other end of the line sensor 2) is within a predetermined range (step S4). Here, as the values of L and R in FIG. 5, not the output value of the line sensor 2 but the edge amount is displayed. The edge amount includes the line sensor output value Bi for the i element obtained in step S1, the line sensor output value Ai for the i element obtained from the current line sensor 2, and a coefficient C (because the scanning cycle is twice here). , C = 2), the edge amount Ni is obtained. Then, the host computer 12 outputs a drive signal from the adjustment control unit 11 so that the edge amounts obtained as L and R in FIG. 5 are both 1, and drives the actuator of the micrometer 6 to adjust the rotation angle. adjust.

ホストコンピュータ12は、調整が完了したか否かを判定し(ステップS5)、調整が完了していなければ、ステップS3に移行し、あおり角度の微調整を行った後(ステップS3)、必要に応じて回転角度調整を行なう(ステップS4)。   The host computer 12 determines whether or not the adjustment has been completed (step S5). If the adjustment has not been completed, the host computer 12 proceeds to step S3 and performs a fine adjustment of the tilt angle (step S3) and then becomes necessary. Accordingly, the rotation angle is adjusted (step S4).

図8は、あおり角度と回転角度との調整を行なった場合と行なわなかった場合について説明する図である。
上述した図5に示すホストコンピュータ12によるあおり角度と回転角度または、クライアント端末13からの操作によりあおり角度と回転角度の調整を行なった場合には、あおり角度及び回転角度が適正となるように調整されることで、スリット板4のスリットを通過し、検査対象物1を透過した光がラインセンサ2によって好ましい状態で受光することができた(「ズレがない場合」における「カメラ波形」、「エッジ量」)。
一方で、あおり角度や回転角度が正しく調整されていない状態においては、カメラ出力のまま調整を行う比較例の場合は、ズレが発生した状態となり、ラインセンサの出力値は、一端側と他端側において、本来は出力値がほぼ同じになるところ、互いに異なる値となってしまっている。また、エッジ量についても、ラインセンサ2の一端側と他端側とにおいては、異なる値となってしまっている。この状態は、少なくとも、回転角度が適正な状態に設定できていないと考えられる。
FIG. 8 is a diagram for explaining a case where the tilt angle and the rotation angle are adjusted and a case where the tilt angle and the rotation angle are not adjusted.
When the tilt angle and the rotation angle are adjusted by the host computer 12 shown in FIG. 5 or the operation from the client terminal 13, the tilt angle and the rotation angle are adjusted to be appropriate. As a result, the light that passed through the slit of the slit plate 4 and passed through the inspection object 1 could be received by the line sensor 2 in a preferable state (“camera waveform”, “ Edge amount ").
On the other hand, in the state where the tilt angle and the rotation angle are not correctly adjusted, in the comparative example in which the adjustment is performed with the camera output, a deviation occurs, and the output value of the line sensor is the one end side and the other end. On the side, the output values are essentially the same, but are different from each other. In addition, the edge amount is also different between one end side and the other end side of the line sensor 2. This state is considered that at least the rotation angle cannot be set to an appropriate state.

以上説明した実施形態によれば、クライアント端末13からリモート接続によってあおり角度と回転角度との調整と、ホストコンピュータ12によるあおり角度と回転角度の調整との少なくともいずれか一方による調整を行なうようにした。これにより、作業員がマイクロメータ6やマイクロメータ7を直接操作することなく、あおり角度と回転角度とを調整することができる。ここで、例えば、調節機構が操作し易い場所や環境に設置されていれば、マイクロメータ6やマイクロメータ7を作業員が直接操作して、調節作業を円滑に行なうことができるが、欠陥検査装置の設置状況によっては、そのマイクロメータ6やマイクロメータ7等の調節機構が、高所等の作業員が行きにくい場所に設置される場合がある。また、欠陥検査装置がクリーンルームにある場合には、調節機構もクリーンルーム内に設置される場合があり、そうすると、入室条件が非常に限られてしまう問題がある。また、欠陥検査装置が防爆構造の領域内に設けられている場合には、調節機構も防爆構造の領域内に設置される場合があり、このような場合も入室条件が限られる。さらに、化学材料が存在する室内に欠陥検査装置が設置されている場合には、化学材料の種類によっては、入室条件が限られたり、入室した後の作業も化学材料に対する注意が必要である。
これに対し、上述した実施形態によれば、欠陥検査装置の設置状況によらずに、また、特別な治具を用いることなく、あおり角度や回転角度を欠陥検査装置に近づくことなく、簡単に調整することができる。
According to the embodiment described above, adjustment by at least one of the adjustment of the tilt angle and the rotation angle by the remote connection from the client terminal 13 and the adjustment of the tilt angle and the rotation angle by the host computer 12 is performed. . Thereby, the operator can adjust the tilt angle and the rotation angle without directly operating the micrometer 6 or the micrometer 7. Here, for example, if the adjusting mechanism is installed in an easy-to-operate place or environment, the operator can directly operate the micrometer 6 or the micrometer 7 to perform the adjustment work smoothly. Depending on the installation status of the apparatus, the adjusting mechanism such as the micrometer 6 or the micrometer 7 may be installed in a place where workers such as high places are difficult to go. In addition, when the defect inspection apparatus is in a clean room, the adjustment mechanism may also be installed in the clean room, which causes a problem that entrance conditions are very limited. In addition, when the defect inspection apparatus is provided in the area of the explosion-proof structure, the adjustment mechanism may be installed in the area of the explosion-proof structure. In such a case, the entry condition is limited. Furthermore, when a defect inspection apparatus is installed in a room where a chemical material exists, depending on the type of the chemical material, entry conditions are limited, and the work after entering the room requires attention to the chemical material.
On the other hand, according to the above-described embodiment, the tilt angle and the rotation angle can be easily set without approaching the defect inspection apparatus without depending on the installation state of the defect inspection apparatus, without using a special jig. Can be adjusted.

また、上述した実施形態によれば、ラインセンサの波形から、ラインセンサの取付位置ずれを確認し、角度調整を高精度に行うことを可能とした。また、ラインセンサの取付位置ずれをリモートで調整することが可能となり、現地作業をなくすことが出来るようになった。また、上述した実施形態によれば、従来のように、画像を取得して座標を測定することなく、また、特別な治具を用いることなく、ラインセンサの波形から、ラインセンサの取付位置ずれを確認し、角度調整を高精度行うことを可能となる。   Further, according to the above-described embodiment, it is possible to check the mounting position shift of the line sensor from the waveform of the line sensor and perform the angle adjustment with high accuracy. In addition, it became possible to remotely adjust the mounting position deviation of the line sensor, eliminating the field work. In addition, according to the above-described embodiment, the line sensor mounting position shift can be performed from the waveform of the line sensor without acquiring an image and measuring coordinates, and without using a special jig. This makes it possible to adjust the angle with high accuracy.

なお、上述した調整制御部11は、ホストコンピュータ12とは別に設けられる場合について説明したが、調整制御部11とホストコンピュータ12とが同じ装置となるようにするようにしてもよい。例えば、ホストコンピュータ12が調整制御部11を有するようにしてもよい。   In addition, although the adjustment control part 11 mentioned above demonstrated the case where it provided separately from the host computer 12, you may make it the adjustment control part 11 and the host computer 12 become the same apparatus. For example, the host computer 12 may have the adjustment control unit 11.

上述した実施形態におけるホストコンピュータ12における機能をコンピュータで実現するようにしてもよい。その場合、この機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現してもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでもよい。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであってもよく、FPGA(Field Programmable Gate Array)等のプログラマブルロジックデバイスを用いて実現されるものであってもよい。   You may make it implement | achieve the function in the host computer 12 in embodiment mentioned above with a computer. In that case, a program for realizing this function may be recorded on a computer-readable recording medium, and the program recorded on this recording medium may be read into a computer system and executed. Here, the “computer system” includes an OS and hardware such as peripheral devices. The “computer-readable recording medium” refers to a storage device such as a flexible medium, a magneto-optical disk, a portable medium such as a ROM and a CD-ROM, and a hard disk incorporated in a computer system. Furthermore, the “computer-readable recording medium” dynamically holds a program for a short time like a communication line when transmitting a program via a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line. In this case, a volatile memory inside a computer system serving as a server or a client in that case may be included and a program held for a certain period of time. Further, the program may be a program for realizing a part of the above-described functions, and may be a program capable of realizing the functions described above in combination with a program already recorded in a computer system. You may implement | achieve using programmable logic devices, such as FPGA (Field Programmable Gate Array).

以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。   The embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to this embodiment, and includes designs and the like that do not depart from the gist of the present invention.

1:検査対象物
2:ラインセンサ
3:ライン状照明
4:スリット板
5:カメラフォルダ
6:マイクロメータ(回転調整用)
7:マイクロメータ(あおり調整用)
8:ラインセンサ読取位置
9:回転制御
10:あおり制御
11:調整制御部
12:ホストコンピュータ
13:クライアント端末
14:画像処理装置
15:画像処理コンピュータ
1: Inspection object 2: Line sensor 3: Line illumination 4: Slit plate 5: Camera folder 6: Micrometer (for rotation adjustment)
7: Micrometer (for tilt adjustment)
8: line sensor reading position 9: rotation control 10: tilt control 11: adjustment control unit 12: host computer 13: client terminal 14: image processing device 15: image processing computer

Claims (7)

ラインセンサの素子面に対する法線方向に平行な第1軸線を中心にして回転する角度である回転角度の調整を行なう第1調整部と、
ラインセンサの走査方向である第2軸線を中心にして回転する角度であるあおり角度の調整を行なう第2調整部と、
外部からの調整指示に応じて前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整部を駆動させることで調整を行なわせる調整制御部と
を有するラインセンサの角度調整装置。
A first adjustment unit that adjusts a rotation angle that is an angle of rotation about a first axis parallel to the normal direction to the element surface of the line sensor;
A second adjustment unit that adjusts a tilt angle that is an angle of rotation about a second axis that is a scanning direction of the line sensor;
An angle adjustment device for a line sensor, comprising: an adjustment control unit that performs adjustment by driving at least one of the first adjustment unit and the second adjustment unit according to an adjustment instruction from the outside.
ネットワークを介して接続される制御装置から送信される調整の指示を受信する受信部を有し、
前記調整制御部は、前記受信した調整の指示に基づいて、前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整を行なわせる
請求項1記載のラインセンサの角度調整装置。
A receiving unit that receives an adjustment instruction transmitted from a control device connected via a network;
The line sensor angle adjustment device according to claim 1, wherein the adjustment control unit adjusts at least one of the first adjustment unit and the second adjustment unit based on the received adjustment instruction.
前記受信部は第1コンピュータに設けられ、
前記制御装置は前記第1コンピュータにリモート制御ソフトウェアを用いて接続される第2コンピュータである
請求項2記載のラインセンサの角度調整装置。
The receiver is provided in the first computer;
The line sensor angle adjusting device according to claim 2, wherein the control device is a second computer connected to the first computer using remote control software.
前記調整制御部は、前記ラインセンサの一端側における出力に基づく値と前記ラインセンサの他端側における出力に基づく値との差が所定の範囲内となるように、前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整部を駆動させることで調整を行なわせる
請求項1から請求項3のうちいずれか1項に記載のラインセンサの角度調整装置。
The adjustment control unit and the first adjustment unit and the first adjustment unit so that a difference between a value based on an output at one end of the line sensor and a value based on an output at the other end of the line sensor is within a predetermined range. The angle adjustment device for a line sensor according to any one of claims 1 to 3, wherein the adjustment is performed by driving at least one of the two adjustment units.
前記調整制御部は、前記ラインセンサの出力値からエッジ量を求め、このエッジ量の値に基づいて前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整部を駆動させることで調整を行なわせる
請求項4記載のラインセンサの角度調整装置。
The adjustment control unit obtains an edge amount from the output value of the line sensor, and drives at least one of the first adjustment unit and the second adjustment unit based on the edge amount value. The line sensor angle adjusting device according to claim 4, wherein adjustment is performed.
被検査物を搬送方向に搬送しつつ検査を行なう欠陥検査装置であって、
請求項1から請求項5のうちいずれ1項に記載のラインセンサの角度調整装置を有する欠陥検査装置。
A defect inspection apparatus that performs inspection while conveying an inspection object in the conveyance direction,
The defect inspection apparatus which has an angle adjustment apparatus of the line sensor of any one of Claims 1-5.
第1調整部が、ラインセンサの素子面に対する法線方向に平行な第1軸線を中心にして回転する角度である回転角度の調整を行い、
第2調整部が、ラインセンサの走査方向である第2軸線を中心にして回転する角度であるあおり角度の調整を行ない、
調整制御部が、外部からの調整指示に応じて前記第1調整部と第2調整部のうち少なくともいずれか一方の調整部を駆動させることで調整を行なわせる
ラインセンサの角度調整方法。
The first adjustment unit adjusts the rotation angle, which is an angle of rotation about the first axis parallel to the normal direction to the element surface of the line sensor,
The second adjustment unit adjusts the tilt angle that is an angle of rotation about the second axis that is the scanning direction of the line sensor,
A line sensor angle adjustment method in which an adjustment control unit performs adjustment by driving at least one of the first adjustment unit and the second adjustment unit in accordance with an adjustment instruction from the outside.
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