JP2018169185A - 測色装置、画像形成装置及び測色方法 - Google Patents
測色装置、画像形成装置及び測色方法 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】対象物を環境光下で観察した場合の色を測定可能な測色装置、画像形成装置及び測色方法を提供すること。【解決手段】測色装置は、複数の波長の光を出射可能な光源部と、対象物により反射された光を測定する測定部と、前記光源部から出力される各波長の光の光量を制御して、所定スペクトルの測定光を形成する光源制御部と、を備え、前記測定部は、前記測定光を前記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を測定することを特徴とする。【選択図】図8
Description
本発明は、測色装置、画像形成装置及び測色方法に関する。
従来、入射光の各波長光の光特性を測定する分析装置が知られている(例えば、特許文
献1参照)。
特許文献1の分光測定装置は、光源部から検査対象に光を照射し、検査対象で反射した
光を受光部で測定する。この分光測定装置は、例えば、検査対象の色を測定する測色装置
に用いられる。
献1参照)。
特許文献1の分光測定装置は、光源部から検査対象に光を照射し、検査対象で反射した
光を受光部で測定する。この分光測定装置は、例えば、検査対象の色を測定する測色装置
に用いられる。
しかしながら、上記のような分光測定装置によって検査対象の色を測定する場合、次の
ような問題がある。すなわち、検査対象が可視光領域に蛍光を有する紙面等である場合、
測定された色と、環境光下で観察される色とが一致しない場合がある。つまり、蛍光の強
さは、励起光の波長によって変動するため、分光測定装置の光源が出射する光のスペクト
ルと、環境光のスペクトルとが異なる場合、測定された色と、検査対象を環境光下で観察
した場合の色とが異なる場合がある。
ような問題がある。すなわち、検査対象が可視光領域に蛍光を有する紙面等である場合、
測定された色と、環境光下で観察される色とが一致しない場合がある。つまり、蛍光の強
さは、励起光の波長によって変動するため、分光測定装置の光源が出射する光のスペクト
ルと、環境光のスペクトルとが異なる場合、測定された色と、検査対象を環境光下で観察
した場合の色とが異なる場合がある。
本発明は、対象物を環境光下で観察した場合の色を測定可能な測色装置、画像形成装置
及び測色方法を提供することを目的とする。
及び測色方法を提供することを目的とする。
本発明に係る一適用例の測色装置は、複数の波長の光を出射可能な光源部と、対象物に
より反射された光を測定する測定部と、前記光源部から出力される各波長の光の光量を制
御して、所定スペクトルの測定光を形成する光源制御部と、を備え、前記測定部は、前記
測定光を前記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を測定することを特徴と
する。
より反射された光を測定する測定部と、前記光源部から出力される各波長の光の光量を制
御して、所定スペクトルの測定光を形成する光源制御部と、を備え、前記測定部は、前記
測定光を前記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を測定することを特徴と
する。
本適用例によれば、光源制御部が、光源部を制御して所定スペクトルの測定光を形成で
きるため、環境光のスペクトルと同じスペクトルの測定光を形成することができる。この
ため、当該測定光を対象物に照射した際に対象物から反射される光を測定部が測定するこ
とで、対象物を環境光下で観察した場合の色を測定できる。
きるため、環境光のスペクトルと同じスペクトルの測定光を形成することができる。この
ため、当該測定光を対象物に照射した際に対象物から反射される光を測定部が測定するこ
とで、対象物を環境光下で観察した場合の色を測定できる。
本適用例の測色装置において、前記光源制御部は、前記測定部において測定される所定
波長の光量が所定上限値以下となる前記測定光を形成することが好ましい。
対象物により反射された光(反射光)の所定波長の光量が、測定部が測定可能な光量の
最大値を超える場合、サチレーションが起き、当該所定波長に対する光量を正しく測定で
きない。
これに対して、本適用例によれば、所定上限値を前記最大値以下に設定することで、反
射光の所定波長の光量を、上記最大値以下とすることができ、サチレーションを起こさず
に所定波長に対する測定を実施できる。
波長の光量が所定上限値以下となる前記測定光を形成することが好ましい。
対象物により反射された光(反射光)の所定波長の光量が、測定部が測定可能な光量の
最大値を超える場合、サチレーションが起き、当該所定波長に対する光量を正しく測定で
きない。
これに対して、本適用例によれば、所定上限値を前記最大値以下に設定することで、反
射光の所定波長の光量を、上記最大値以下とすることができ、サチレーションを起こさず
に所定波長に対する測定を実施できる。
本適用例の測色装置において、前記光源制御部は、前記測定部により、前記測定光にお
いて光量が所定下限値未満となる波長成分である弱光波長成分に対する測定を実施する際
に、前記測定光の各波長成分の光量比を維持したまま各波長成分の光量を増加させ、前記
測定部により測定された前記弱光波長成分に対する受光量を補正する補正部を備えること
が好ましい。
反射光の波長成分の光量が、測定部が測定可能な光量の最小値よりも小さい場合、当該
波長成分に対する測定を精度良く実施できない。
これに対して、本適用例では、弱光波長成分に対する測定を実施する際に、測定光の各
波長成分の光量を増加させる。これによれば、反射光の弱光波長成分の光量を前記最小値
以上にでき、当該弱光波長成分に対する測定を精度良く実施できる。また、測定光の各波
長成分の光量は、例えば環境光を再現した状態を維持できるように、各波長成分の光量比
を維持したまま増加される。そして、補正部によって測定値(受光量)が光量の増加率に
基づいて補正される。これにより、例えば、ダイナミックレンジがより広い高性能な測定
部を用いて、測定光の光量を増加させず弱光波長成分に対する測定を行った場合と同様の
測定値を、当該高性能な測定部を用いることなく求めることができる。
いて光量が所定下限値未満となる波長成分である弱光波長成分に対する測定を実施する際
に、前記測定光の各波長成分の光量比を維持したまま各波長成分の光量を増加させ、前記
測定部により測定された前記弱光波長成分に対する受光量を補正する補正部を備えること
が好ましい。
反射光の波長成分の光量が、測定部が測定可能な光量の最小値よりも小さい場合、当該
波長成分に対する測定を精度良く実施できない。
これに対して、本適用例では、弱光波長成分に対する測定を実施する際に、測定光の各
波長成分の光量を増加させる。これによれば、反射光の弱光波長成分の光量を前記最小値
以上にでき、当該弱光波長成分に対する測定を精度良く実施できる。また、測定光の各波
長成分の光量は、例えば環境光を再現した状態を維持できるように、各波長成分の光量比
を維持したまま増加される。そして、補正部によって測定値(受光量)が光量の増加率に
基づいて補正される。これにより、例えば、ダイナミックレンジがより広い高性能な測定
部を用いて、測定光の光量を増加させず弱光波長成分に対する測定を行った場合と同様の
測定値を、当該高性能な測定部を用いることなく求めることができる。
本適用例の測色装置において、環境光を前記測定部に導く環境導光部を備え、前記光源
制御部は、前記環境光の測定結果に基づいて、前記測定光を形成することが好ましい。
本適用例によれば、環境光の実測値に基づいて測定光を形成できるため、対象物を環境
光下で観察した場合の色をより正確に測定できる。
制御部は、前記環境光の測定結果に基づいて、前記測定光を形成することが好ましい。
本適用例によれば、環境光の実測値に基づいて測定光を形成できるため、対象物を環境
光下で観察した場合の色をより正確に測定できる。
本適用例の測色装置において、前記光源部及び前記測定部を内部に収納するケース部を
備え、前記環境導光部は、前記ケース部に設けられた前記環境光を導く導光窓と、前記導
光窓に設けられ当該導光窓の開放及び閉塞を切り替えるシャッターと、を備えていること
が好ましい。
本適用例によれば、環境光を測定する場合、導光窓が開放される。これにより、ケース
部の外側の環境光をケース部内に導いて測定できる。このため、測色装置が配置されてい
る場所の環境光を正確に測定できる。
また、測定光の反射光を測定する場合、導光窓は閉塞される。これにより、ケース部の
外側の環境光がケース部内に入ることを回避でき、ノイズが少ない状態で当該反射光を測
定できる。
備え、前記環境導光部は、前記ケース部に設けられた前記環境光を導く導光窓と、前記導
光窓に設けられ当該導光窓の開放及び閉塞を切り替えるシャッターと、を備えていること
が好ましい。
本適用例によれば、環境光を測定する場合、導光窓が開放される。これにより、ケース
部の外側の環境光をケース部内に導いて測定できる。このため、測色装置が配置されてい
る場所の環境光を正確に測定できる。
また、測定光の反射光を測定する場合、導光窓は閉塞される。これにより、ケース部の
外側の環境光がケース部内に入ることを回避でき、ノイズが少ない状態で当該反射光を測
定できる。
本適用例の測色装置において、前記光源部及び前記測定部は、第一方向に移動可能なキ
ャリッジに搭載され、前記導光窓は、前記キャリッジの前記第一方向に沿う移動範囲にお
ける端部位置に設けられていることが好ましい。
本適用例によれば、例えば、前記移動範囲における端部位置とは異なる位置に対象物を
配置し、キャリッジを、当該対象物上を第一方向に沿って移動させることで、対象物の複
数個所において対象物により反射された光の測定を実施できる。また、キャリッジを第一
方向に沿って移動させて端部位置に配置し、導光窓を開放させることで、環境光を測定で
きる。
すなわち、キャリッジを第一方向に沿って移動させるだけで、対象物の測定及び環境光
の測定を実施できるため、例えば、キャリッジを第一方向だけではなく、第一方向とは異
なる方向にも移動させて、対象物の測定及び環境光の測定を実施する場合と比べて、測色
装置の構造を簡略化できる。
ャリッジに搭載され、前記導光窓は、前記キャリッジの前記第一方向に沿う移動範囲にお
ける端部位置に設けられていることが好ましい。
本適用例によれば、例えば、前記移動範囲における端部位置とは異なる位置に対象物を
配置し、キャリッジを、当該対象物上を第一方向に沿って移動させることで、対象物の複
数個所において対象物により反射された光の測定を実施できる。また、キャリッジを第一
方向に沿って移動させて端部位置に配置し、導光窓を開放させることで、環境光を測定で
きる。
すなわち、キャリッジを第一方向に沿って移動させるだけで、対象物の測定及び環境光
の測定を実施できるため、例えば、キャリッジを第一方向だけではなく、第一方向とは異
なる方向にも移動させて、対象物の測定及び環境光の測定を実施する場合と比べて、測色
装置の構造を簡略化できる。
本適用例の測色装置において、前記環境導光部は、前記測定部に前記環境光を反射させ
る反射部と、前記反射部の姿勢を変更する姿勢変更部と、を備えていることが好ましい。
本適用例によれば、姿勢変更部によって反射部の姿勢を変更することで、測定部に入射
する環境光の光量を調整できる。
このため、例えば、測定部に入射する光の波長成分の光量が、測定可能な光量の最大値
を超える場合、反射部の姿勢を変更して、測定部に入射する光量を小さくすることで、測
定部によってサチレーションを起こさずに環境光の各波長成分の光量を測定できる。
る反射部と、前記反射部の姿勢を変更する姿勢変更部と、を備えていることが好ましい。
本適用例によれば、姿勢変更部によって反射部の姿勢を変更することで、測定部に入射
する環境光の光量を調整できる。
このため、例えば、測定部に入射する光の波長成分の光量が、測定可能な光量の最大値
を超える場合、反射部の姿勢を変更して、測定部に入射する光量を小さくすることで、測
定部によってサチレーションを起こさずに環境光の各波長成分の光量を測定できる。
本適用例の測色装置において、前記姿勢変更部は、前記反射部の姿勢を、前記反射部に
より反射された前記環境光を前記測定部に反射させる第一角度と、前記光源部から出射さ
れた光を前記測定部に反射させる第二角度とで切り替えることが好ましい。
本適用例によれば、測定部に環境光を導く反射部を用いて、光源部から出射された光を
測定部に反射させることができる。このため、当該反射部に、例えば、測定の校正を行う
ための白色基準物を用いることで、当該反射部によって、環境光の導入及び校正を実施で
きる。このため、測定部に環境光を導く反射部と、白色基準物とを個別に設ける場合と比
べて、部品点数を削減できる。
より反射された前記環境光を前記測定部に反射させる第一角度と、前記光源部から出射さ
れた光を前記測定部に反射させる第二角度とで切り替えることが好ましい。
本適用例によれば、測定部に環境光を導く反射部を用いて、光源部から出射された光を
測定部に反射させることができる。このため、当該反射部に、例えば、測定の校正を行う
ための白色基準物を用いることで、当該反射部によって、環境光の導入及び校正を実施で
きる。このため、測定部に環境光を導く反射部と、白色基準物とを個別に設ける場合と比
べて、部品点数を削減できる。
本発明に係る一適用例の画像形成装置は、上記のような測色装置と、メディアに画像を
形成する画像形成部と、を備えたことを特徴とする。
上記のような測色装置によれば、対象物が環境光下で観察された場合の色を測定できる
。このため、当該測色装置を備える画像形成装置によれば、測定結果に基づいて色補正を
行うことで、形成された画像を環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
形成する画像形成部と、を備えたことを特徴とする。
上記のような測色装置によれば、対象物が環境光下で観察された場合の色を測定できる
。このため、当該測色装置を備える画像形成装置によれば、測定結果に基づいて色補正を
行うことで、形成された画像を環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
本適用例の画像形成装置において、予め設定された前記測定光に関する情報を取得する
情報取得部を備えたことが好ましい。
測定光に関する情報とは、例えば、室内や屋外等、所定の場所の環境光のスペクトル情
報である。
本適用例によれば、例えば、画像形成装置が配置されている場所と、メディアに形成さ
れた画像が観察される場所とが異なる場合でも、情報取得部が、当該観察される場所の環
境光のスペクトル情報を取得し、光源制御部が、当該スペクトル情報と同じスペクトルの
測定光を形成することで、対象物を当該観察される場所の環境光下で観察した場合の色を
測定できる。このため、測定結果に基づいて色補正を行うことで、メディアに形成された
画像を当該観察される場所の環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
情報取得部を備えたことが好ましい。
測定光に関する情報とは、例えば、室内や屋外等、所定の場所の環境光のスペクトル情
報である。
本適用例によれば、例えば、画像形成装置が配置されている場所と、メディアに形成さ
れた画像が観察される場所とが異なる場合でも、情報取得部が、当該観察される場所の環
境光のスペクトル情報を取得し、光源制御部が、当該スペクトル情報と同じスペクトルの
測定光を形成することで、対象物を当該観察される場所の環境光下で観察した場合の色を
測定できる。このため、測定結果に基づいて色補正を行うことで、メディアに形成された
画像を当該観察される場所の環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
本発明に係る一適用例は、複数の波長の光を出射可能な光源部と、対象物により反射さ
れた光を測定する測定部と、を備えた測色装置の測色方法であって、前記光源部から出力
される各波長の光の光量を制御して、所定スペクトルの測定光を形成し、前記測定光を前
記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を前記測定部で測定することを特徴
とする。
本適用例によれば、対象物を環境光下で観察した場合の色を測定できる。
れた光を測定する測定部と、を備えた測色装置の測色方法であって、前記光源部から出力
される各波長の光の光量を制御して、所定スペクトルの測定光を形成し、前記測定光を前
記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を前記測定部で測定することを特徴
とする。
本適用例によれば、対象物を環境光下で観察した場合の色を測定できる。
[第一実施形態]
以下、本発明に係る第一実施形態について、図面に基づいて説明する。本実施形態では
、本発明の画像形成装置の一例として、測色装置を備えたプリンター1(インクジェット
プリンター)について、以下説明する。
以下、本発明に係る第一実施形態について、図面に基づいて説明する。本実施形態では
、本発明の画像形成装置の一例として、測色装置を備えたプリンター1(インクジェット
プリンター)について、以下説明する。
[プリンターの概略構成]
図1は、本実施形態のプリンター1の概略構成を示す図である。
図1に示すように、プリンター1は、ケース部30と、ケース部30に収納されたプリ
ンター本体10と、を備えている。
図1は、本実施形態のプリンター1の概略構成を示す図である。
図1に示すように、プリンター1は、ケース部30と、ケース部30に収納されたプリ
ンター本体10と、を備えている。
[ケース部の概略構成]
ケース部30の側面には、外部の環境光をケース部30内に導く導光窓31と、導光窓
31に対してスライドして、導光窓31の開放及び閉塞を切り替えるシャッター32と、
シャッター32をスライド方向に移動させて導光窓31を開閉させるスライド機構33(
図3参照)と、が設けられている。スライド機構33は、シャッター32をスライドさせ
る構成であれば特に限定されず、例えば、シャッター32に設けられた歯(ラック部)に
係合するピニオンギアと、当該ピニオンギアを回転させるシャッター駆動モーターとを備
えて構成される。当該スライド機構は、シャッター駆動モーターを駆動してピニオンギア
を回転することで、シャッター32をスライド方向に移動させ、導光窓31の開放及び閉
塞を切り替える。
ケース部30の側面には、外部の環境光をケース部30内に導く導光窓31と、導光窓
31に対してスライドして、導光窓31の開放及び閉塞を切り替えるシャッター32と、
シャッター32をスライド方向に移動させて導光窓31を開閉させるスライド機構33(
図3参照)と、が設けられている。スライド機構33は、シャッター32をスライドさせ
る構成であれば特に限定されず、例えば、シャッター32に設けられた歯(ラック部)に
係合するピニオンギアと、当該ピニオンギアを回転させるシャッター駆動モーターとを備
えて構成される。当該スライド機構は、シャッター駆動モーターを駆動してピニオンギア
を回転することで、シャッター32をスライド方向に移動させ、導光窓31の開放及び閉
塞を切り替える。
[プリンター本体の概略構成]
図2は、プリンター本体10の外観の構成例を示す図である。図3は、プリンター本体
10の概略構成を示すブロック図である。
図2に示すように、プリンター本体10は、供給ユニット11、搬送ユニット12と、
キャリッジ13と、キャリッジ移動ユニット14と、制御ユニット15(図3参照)と、
を備えている。このプリンター本体10は、例えばパーソナルコンピューター等の外部機
器20(図3参照)から入力された印刷データに基づいて、各ユニット11,12,14
及びキャリッジ13を制御し、メディアM(対象物)上に画像を印刷する。また、本実施
形態のプリンター本体10は、予め設定された較正用印刷データに基づいてメディアM上
の所定位置に測色用のカラーパッチを形成し、かつ当該カラーパッチに対する分光測定を
行う。これにより、プリンター本体10は、カラーパッチに対する実測値と、較正用印刷
データとを比較して、印刷されたカラーに色ずれがあるか否か判定し、色ずれがある場合
は、実測値に基づいて色補正を行う。
図2は、プリンター本体10の外観の構成例を示す図である。図3は、プリンター本体
10の概略構成を示すブロック図である。
図2に示すように、プリンター本体10は、供給ユニット11、搬送ユニット12と、
キャリッジ13と、キャリッジ移動ユニット14と、制御ユニット15(図3参照)と、
を備えている。このプリンター本体10は、例えばパーソナルコンピューター等の外部機
器20(図3参照)から入力された印刷データに基づいて、各ユニット11,12,14
及びキャリッジ13を制御し、メディアM(対象物)上に画像を印刷する。また、本実施
形態のプリンター本体10は、予め設定された較正用印刷データに基づいてメディアM上
の所定位置に測色用のカラーパッチを形成し、かつ当該カラーパッチに対する分光測定を
行う。これにより、プリンター本体10は、カラーパッチに対する実測値と、較正用印刷
データとを比較して、印刷されたカラーに色ずれがあるか否か判定し、色ずれがある場合
は、実測値に基づいて色補正を行う。
ここで、本実施形態のプリンター本体10は、分光測定を行う際、事前に、シャッター
32を移動させて導光窓31を開放し、導光窓31から導入された環境光を測定する。そ
して、当該環境光に応じた測定光を用いて分光測定を行う。これにより、カラーパッチを
環境光の下で観測した場合の色を測定できる。そして、この測定結果に基づいて色補正を
行うことで、印刷された画像を環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
以下、プリンター本体10の各構成について具体的に説明する。
32を移動させて導光窓31を開放し、導光窓31から導入された環境光を測定する。そ
して、当該環境光に応じた測定光を用いて分光測定を行う。これにより、カラーパッチを
環境光の下で観測した場合の色を測定できる。そして、この測定結果に基づいて色補正を
行うことで、印刷された画像を環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
以下、プリンター本体10の各構成について具体的に説明する。
供給ユニット11は、画像形成対象となるメディアM(本実施形態では、紙面を例示)
を、画像形成位置に供給するユニットである。この供給ユニット11は、例えばメディア
Mが巻装されたロール体111、ロール駆動モーター(図示略)、及びロール駆動輪列(
図示略)等を備える。そして、制御ユニット15からの指令に基づいて、ロール駆動モー
ターが回転駆動され、ロール駆動モーターの回転力がロール駆動輪列を介してロール体1
11に伝達される。これにより、ロール体111が回転し、ロール体111に巻装された
紙面がY方向(副走査方向)における下流側(+Y側)に供給される。
なお、本実施形態では、ロール体111に巻装された紙面を供給する例を示すがこれに
限定されない。例えば、トレイ等に積載された紙面等のメディアMをローラー等によって
例えば1枚ずつ供給する等、如何なる供給方法によってメディアMが供給されてもよい。
を、画像形成位置に供給するユニットである。この供給ユニット11は、例えばメディア
Mが巻装されたロール体111、ロール駆動モーター(図示略)、及びロール駆動輪列(
図示略)等を備える。そして、制御ユニット15からの指令に基づいて、ロール駆動モー
ターが回転駆動され、ロール駆動モーターの回転力がロール駆動輪列を介してロール体1
11に伝達される。これにより、ロール体111が回転し、ロール体111に巻装された
紙面がY方向(副走査方向)における下流側(+Y側)に供給される。
なお、本実施形態では、ロール体111に巻装された紙面を供給する例を示すがこれに
限定されない。例えば、トレイ等に積載された紙面等のメディアMをローラー等によって
例えば1枚ずつ供給する等、如何なる供給方法によってメディアMが供給されてもよい。
搬送ユニット12は、供給ユニット11から供給されたメディアMを、Y方向に沿って
搬送する。この搬送ユニット12は、搬送ローラー121と、搬送ローラー121とメデ
ィアMを挟んで配置され、搬送ローラー121に従動する従動ローラー(図示略)と、プ
ラテン122と、を含んで構成されている。
搬送ローラー121は、図示略の搬送モーターからの駆動力が伝達され、制御ユニット
15の制御により搬送モーターが駆動されると、その回転力により回転駆動されて、従動
ローラーとの間にメディアMを挟み込んだ状態でY方向に沿って搬送する。また、搬送ロ
ーラー121のY方向の下流側(+Y側)には、キャリッジ13に対向するプラテン12
2が設けられている。
搬送する。この搬送ユニット12は、搬送ローラー121と、搬送ローラー121とメデ
ィアMを挟んで配置され、搬送ローラー121に従動する従動ローラー(図示略)と、プ
ラテン122と、を含んで構成されている。
搬送ローラー121は、図示略の搬送モーターからの駆動力が伝達され、制御ユニット
15の制御により搬送モーターが駆動されると、その回転力により回転駆動されて、従動
ローラーとの間にメディアMを挟み込んだ状態でY方向に沿って搬送する。また、搬送ロ
ーラー121のY方向の下流側(+Y側)には、キャリッジ13に対向するプラテン12
2が設けられている。
キャリッジ13は、メディアMに対して画像を印刷する印刷部16と、メディアM上の
所定の測定位置及び後述する白色板19の分光測定を行う分光器17と、を搭載している
。
このキャリッジ13は、キャリッジ移動ユニット14によって、Y方向と交差する主走
査方向(X方向)に沿って移動可能に設けられている。
また、キャリッジ13は、フレキシブル回路131により制御ユニット15に接続され
、制御ユニット15からの指令に基づいて、キャリッジ13に搭載された印刷部16によ
る印刷処理(メディアMに対する画像形成処理)及び、キャリッジ13に搭載された分光
器17による光量測定処理を実施する。
なお、キャリッジ13の詳細な構成については後述する。
所定の測定位置及び後述する白色板19の分光測定を行う分光器17と、を搭載している
。
このキャリッジ13は、キャリッジ移動ユニット14によって、Y方向と交差する主走
査方向(X方向)に沿って移動可能に設けられている。
また、キャリッジ13は、フレキシブル回路131により制御ユニット15に接続され
、制御ユニット15からの指令に基づいて、キャリッジ13に搭載された印刷部16によ
る印刷処理(メディアMに対する画像形成処理)及び、キャリッジ13に搭載された分光
器17による光量測定処理を実施する。
なお、キャリッジ13の詳細な構成については後述する。
キャリッジ移動ユニット14は、制御ユニット15からの指令に基づいて、キャリッジ
13をX方向(第一方向)に沿って往復移動させる。
このキャリッジ移動ユニット14は、例えば、キャリッジガイド軸141と、キャリッ
ジモーター142と、タイミングベルト143と、を含んで構成されている。
キャリッジガイド軸141は、X方向に沿って配置され、両端部がプリンター本体10
の例えば筐体に固定されている。キャリッジモーター142は、タイミングベルト143
を駆動させる。タイミングベルト143は、キャリッジガイド軸141と略平行に支持さ
れ、キャリッジ13の一部が固定されている。そして、制御ユニット15の指令に基づい
てキャリッジモーター142が駆動されると、タイミングベルト143が正逆走行され、
タイミングベルト143に固定されたキャリッジ13がキャリッジガイド軸141にガイ
ドされて往復移動する。
13をX方向(第一方向)に沿って往復移動させる。
このキャリッジ移動ユニット14は、例えば、キャリッジガイド軸141と、キャリッ
ジモーター142と、タイミングベルト143と、を含んで構成されている。
キャリッジガイド軸141は、X方向に沿って配置され、両端部がプリンター本体10
の例えば筐体に固定されている。キャリッジモーター142は、タイミングベルト143
を駆動させる。タイミングベルト143は、キャリッジガイド軸141と略平行に支持さ
れ、キャリッジ13の一部が固定されている。そして、制御ユニット15の指令に基づい
てキャリッジモーター142が駆動されると、タイミングベルト143が正逆走行され、
タイミングベルト143に固定されたキャリッジ13がキャリッジガイド軸141にガイ
ドされて往復移動する。
また、プリンター本体10は、キャリッジ13の移動範囲における+X方向の端部位置
に、環境光測定領域P1を備えている。そして、環境光測定領域P1には、反射機構18
及び白色板19が設けられている。反射機構18は、導光窓31から入射した環境光を反
射して、環境光測定領域P1に位置しているキャリッジ13の分光器17に入射させる。
白色板19は、分光器17が行う分光測定の校正に用いる白色基準物である。
に、環境光測定領域P1を備えている。そして、環境光測定領域P1には、反射機構18
及び白色板19が設けられている。反射機構18は、導光窓31から入射した環境光を反
射して、環境光測定領域P1に位置しているキャリッジ13の分光器17に入射させる。
白色板19は、分光器17が行う分光測定の校正に用いる白色基準物である。
次に、キャリッジ13に設けられる印刷部16、及び分光器17の構成について説明す
る。
[印刷部(画像形成部)の構成]
印刷部16は、本発明の画像形成部であり、メディアMと対向して設けられ、複数色の
インクを個別にメディアM上に吐出して画像を形成する。
この印刷部16は、複数色のインクに対応したインクカートリッジ161が着脱自在に
装着されており、各インクカートリッジ161からインクタンク(図示略)にチューブ(
図示略)を介してインクが供給される。また、印刷部16の下面(メディアMに対向する
位置)には、インク滴を吐出するノズル(図示略)が、各色に対応して設けられている。
これらのノズルには、例えばピエゾ素子が配置されており、ピエゾ素子を駆動させること
で、インクタンクから供給されたインク滴が吐出されてメディアMに着弾し、ドットが形
成される。
ここで、印刷部16を除いたプリンター1の構成部分が、本発明の測色装置に相当する
。
る。
[印刷部(画像形成部)の構成]
印刷部16は、本発明の画像形成部であり、メディアMと対向して設けられ、複数色の
インクを個別にメディアM上に吐出して画像を形成する。
この印刷部16は、複数色のインクに対応したインクカートリッジ161が着脱自在に
装着されており、各インクカートリッジ161からインクタンク(図示略)にチューブ(
図示略)を介してインクが供給される。また、印刷部16の下面(メディアMに対向する
位置)には、インク滴を吐出するノズル(図示略)が、各色に対応して設けられている。
これらのノズルには、例えばピエゾ素子が配置されており、ピエゾ素子を駆動させること
で、インクタンクから供給されたインク滴が吐出されてメディアMに着弾し、ドットが形
成される。
ここで、印刷部16を除いたプリンター1の構成部分が、本発明の測色装置に相当する
。
[分光器の構成]
分光器17は、図3に示すように、光源部171と、測定部172と、を備える。
この分光器17は、光源部171からメディアM又は白色板19上に照明光を照射し、
メディアM又は白色板19で反射された反射光を、測定部172で測定(受光)させる。
また、分光器17は、導光窓31及び反射機構18によって導入された環境光を、測定部
172で測定させる。測定部172に設けられた分光デバイス172Aは、制御ユニット
15の制御に基づいて、透過波長を選択可能であり、可視光における各波長の光の光量を
測定することで、メディアM、白色板19及び環境光の分光測定が可能となる。
分光器17は、図3に示すように、光源部171と、測定部172と、を備える。
この分光器17は、光源部171からメディアM又は白色板19上に照明光を照射し、
メディアM又は白色板19で反射された反射光を、測定部172で測定(受光)させる。
また、分光器17は、導光窓31及び反射機構18によって導入された環境光を、測定部
172で測定させる。測定部172に設けられた分光デバイス172Aは、制御ユニット
15の制御に基づいて、透過波長を選択可能であり、可視光における各波長の光の光量を
測定することで、メディアM、白色板19及び環境光の分光測定が可能となる。
[光源部の構成]
図4は、分光器17を、メディアM側から見た平面図である。
光源部171は、複数の波長の光を出射可能に構成され、本実施形態では、図4に示す
ように、互いに異なる波長の光を出射する16個の光源171Aを備えている。光源17
1Aは、メディアM側から見た平面視において、測定部172の光軸を中心とする円周に
沿って配列されている。
また、本実施形態では、測色規格(JIS Z 8722)により規定された光学的幾何条件の方
式(45/0°測色系)に従って分光測定を実施する。すなわち、本実施形態では、図3
に示すように、各光源171Aからの照明光をメディアM又は白色板19の法線に対して
45°の角度(45°±2°の角度)で入射させ、メディアM又は白色板19の法線方向
(法線方向に対して10°以内の角度)に反射された光を測定部172で受光する。つま
り、照明光がメディアMに向かう照明方向と、反射光が測定部172に向かう反射方向と
が異なっている。
図4は、分光器17を、メディアM側から見た平面図である。
光源部171は、複数の波長の光を出射可能に構成され、本実施形態では、図4に示す
ように、互いに異なる波長の光を出射する16個の光源171Aを備えている。光源17
1Aは、メディアM側から見た平面視において、測定部172の光軸を中心とする円周に
沿って配列されている。
また、本実施形態では、測色規格(JIS Z 8722)により規定された光学的幾何条件の方
式(45/0°測色系)に従って分光測定を実施する。すなわち、本実施形態では、図3
に示すように、各光源171Aからの照明光をメディアM又は白色板19の法線に対して
45°の角度(45°±2°の角度)で入射させ、メディアM又は白色板19の法線方向
(法線方向に対して10°以内の角度)に反射された光を測定部172で受光する。つま
り、照明光がメディアMに向かう照明方向と、反射光が測定部172に向かう反射方向と
が異なっている。
図5は、光源部171が出射する光のスペクトルを示す図である。
図5に示すように、光源部171は、具体的には、約400nm〜約700nmの波長
範囲で、20nm間隔でピーク波長を持つ、16個の光源171Aを備えている。光源1
71Aには、LEDやLD(半導体レーザー)等を用いることができる。
ここで、図5では、各光源171Aから出射される光の強度(光量)が均一の場合のス
ペクトルを示しているが、各光源171Aから出射される光の強度は、それぞれ、制御ユ
ニット15によって調整することができる。すなわち、光源部171は、所定スペクトル
の照明光(測定光)を出射することができる。
図5に示すように、光源部171は、具体的には、約400nm〜約700nmの波長
範囲で、20nm間隔でピーク波長を持つ、16個の光源171Aを備えている。光源1
71Aには、LEDやLD(半導体レーザー)等を用いることができる。
ここで、図5では、各光源171Aから出射される光の強度(光量)が均一の場合のス
ペクトルを示しているが、各光源171Aから出射される光の強度は、それぞれ、制御ユ
ニット15によって調整することができる。すなわち、光源部171は、所定スペクトル
の照明光(測定光)を出射することができる。
[測定部の構成]
測定部172は、図3に示すように、分光デバイス172A、受光部172B及びバン
ドパスフィルター172C等により構成される。
このような測定部172では、メディアM又は白色板19にて反射された光、又は、導
光窓31及び反射機構18によって入射された光を、バンドパスフィルター172Cを介
して分光デバイス172Aに導き、分光デバイス172Aにより分光された所定波長の光
を受光部172Bにて受光させる。
バンドパスフィルター172Cは、可視光領域の光のみ透過させるフィルターであり、
測色に不要な波長の光をカットすることができる。バンドパスフィルター172Cの光学
膜には、TiO2やSiO2等の誘電体多層膜、又は、色ガラス(熱線カットフィルター
)などを用いることができる。
測定部172は、図3に示すように、分光デバイス172A、受光部172B及びバン
ドパスフィルター172C等により構成される。
このような測定部172では、メディアM又は白色板19にて反射された光、又は、導
光窓31及び反射機構18によって入射された光を、バンドパスフィルター172Cを介
して分光デバイス172Aに導き、分光デバイス172Aにより分光された所定波長の光
を受光部172Bにて受光させる。
バンドパスフィルター172Cは、可視光領域の光のみ透過させるフィルターであり、
測色に不要な波長の光をカットすることができる。バンドパスフィルター172Cの光学
膜には、TiO2やSiO2等の誘電体多層膜、又は、色ガラス(熱線カットフィルター
)などを用いることができる。
[分光デバイスの構成]
図6は、分光デバイス172Aの概略構成を示す断面図である。
分光デバイス172Aは、筐体6と、筐体6の内部に収納された波長可変干渉フィルタ
ー5とを備えている。
図6は、分光デバイス172Aの概略構成を示す断面図である。
分光デバイス172Aは、筐体6と、筐体6の内部に収納された波長可変干渉フィルタ
ー5とを備えている。
[波長可変干渉フィルターの構成]
波長可変干渉フィルター5は、波長可変型のファブリーペローエタロン素子である。本
実施形態では、波長可変干渉フィルター5が筐体6に収納された状態で分光器17に配置
される例を示すが、例えば波長可変干渉フィルター5が直接分光器17に配置される構成
などとしてもよい。
この波長可変干渉フィルター5は、図6に示すように、可視光に対して透光性を有する
固定基板51及び可動基板52を備え、これらの固定基板51及び可動基板52が、接合
膜53により接合されることで、一体的に構成されている。固定基板51には、エッチン
グにより形成された第一溝部511、及び第一溝部511より溝深さが浅い第二溝部51
2が設けられ、第一溝部511には固定電極561が、第二溝部512には固定反射膜5
4がそれぞれ設けられている。固定反射膜54は、例えばAg等の金属膜、Ag合金等の
合金膜、高屈折層及び低屈折層を積層した誘電体多層膜、又は、金属膜(合金膜)と誘電
体多層膜を積層した積層体により構成されている。
波長可変干渉フィルター5は、波長可変型のファブリーペローエタロン素子である。本
実施形態では、波長可変干渉フィルター5が筐体6に収納された状態で分光器17に配置
される例を示すが、例えば波長可変干渉フィルター5が直接分光器17に配置される構成
などとしてもよい。
この波長可変干渉フィルター5は、図6に示すように、可視光に対して透光性を有する
固定基板51及び可動基板52を備え、これらの固定基板51及び可動基板52が、接合
膜53により接合されることで、一体的に構成されている。固定基板51には、エッチン
グにより形成された第一溝部511、及び第一溝部511より溝深さが浅い第二溝部51
2が設けられ、第一溝部511には固定電極561が、第二溝部512には固定反射膜5
4がそれぞれ設けられている。固定反射膜54は、例えばAg等の金属膜、Ag合金等の
合金膜、高屈折層及び低屈折層を積層した誘電体多層膜、又は、金属膜(合金膜)と誘電
体多層膜を積層した積層体により構成されている。
可動基板52は、可動部521と、可動部521の外に設けられ、可動部521を保持
する保持部522とを備えている。可動部521の固定基板51に対向する面には、固定
電極561に対向する可動電極562と、固定反射膜54に対向する可動反射膜55とが
設けられている。可動反射膜55としては、上述した固定反射膜54と同一の構成の反射
膜を用いることができる。保持部522は、可動部521の周囲を囲うダイアフラムであ
り、可動部521よりも厚み寸法が小さく形成されている。
そして、上記のような波長可変干渉フィルター5では、固定電極561及び可動電極5
62により静電アクチュエーター56が構成され、この静電アクチュエーター56に電圧
を印加することで、固定反射膜54及び可動反射膜55間のギャップGの間隔寸法を変更
することが可能となる。また、可動基板52の外周部(固定基板51に対向しない領域)
には、固定電極561や可動電極562と個別に接続された複数の電極パッド57が設け
られている。
する保持部522とを備えている。可動部521の固定基板51に対向する面には、固定
電極561に対向する可動電極562と、固定反射膜54に対向する可動反射膜55とが
設けられている。可動反射膜55としては、上述した固定反射膜54と同一の構成の反射
膜を用いることができる。保持部522は、可動部521の周囲を囲うダイアフラムであ
り、可動部521よりも厚み寸法が小さく形成されている。
そして、上記のような波長可変干渉フィルター5では、固定電極561及び可動電極5
62により静電アクチュエーター56が構成され、この静電アクチュエーター56に電圧
を印加することで、固定反射膜54及び可動反射膜55間のギャップGの間隔寸法を変更
することが可能となる。また、可動基板52の外周部(固定基板51に対向しない領域)
には、固定電極561や可動電極562と個別に接続された複数の電極パッド57が設け
られている。
[筐体の構成]
筐体6は、図6に示すように、ベース61と、ガラス基板62と、を備えている。これ
らのベース61及びガラス基板62は、例えば低融点ガラス接合等により接合されること
で、内部に収容空間が形成されており、この収容空間内に波長可変干渉フィルター5が収
納される。
筐体6は、図6に示すように、ベース61と、ガラス基板62と、を備えている。これ
らのベース61及びガラス基板62は、例えば低融点ガラス接合等により接合されること
で、内部に収容空間が形成されており、この収容空間内に波長可変干渉フィルター5が収
納される。
ベース61は、例えば薄板状のセラミックを積層することで構成され、波長可変干渉フ
ィルター5を収納可能な凹部611を有する。波長可変干渉フィルター5は、ベース61
の凹部611の例えば側面に固定材64により固定されている。ベース61の凹部611
の底面には、光通過孔612が設けられ、この光通過孔612を覆うカバーガラス63が
接合されている。
また、ベース61には、波長可変干渉フィルター5の電極パッド57に接続される内側
端子部613が設けられており、この内側端子部613は、導通孔614を介して、ベー
ス61の外側に設けられた外側端子部615に接続されている。この外側端子部615は
、制御ユニット15に電気的に接続されている。
ィルター5を収納可能な凹部611を有する。波長可変干渉フィルター5は、ベース61
の凹部611の例えば側面に固定材64により固定されている。ベース61の凹部611
の底面には、光通過孔612が設けられ、この光通過孔612を覆うカバーガラス63が
接合されている。
また、ベース61には、波長可変干渉フィルター5の電極パッド57に接続される内側
端子部613が設けられており、この内側端子部613は、導通孔614を介して、ベー
ス61の外側に設けられた外側端子部615に接続されている。この外側端子部615は
、制御ユニット15に電気的に接続されている。
[受光部の構成]
図3に戻り、受光部172Bは、波長可変干渉フィルター5の光軸上(反射膜54,5
5の中心点を通る直線上)に配置され、当該波長可変干渉フィルター5を透過した光を受
光領域で受光して、受光量に応じた検出信号(電流値)を出力する。なお、受光部172
Bにより出力された検出信号は、I−V変換器(図示略)、増幅器(図示略)、及びAD
変換器(図示略)を介して制御ユニット15に入力される。
図3に戻り、受光部172Bは、波長可変干渉フィルター5の光軸上(反射膜54,5
5の中心点を通る直線上)に配置され、当該波長可変干渉フィルター5を透過した光を受
光領域で受光して、受光量に応じた検出信号(電流値)を出力する。なお、受光部172
Bにより出力された検出信号は、I−V変換器(図示略)、増幅器(図示略)、及びAD
変換器(図示略)を介して制御ユニット15に入力される。
[反射機構の構成]
次に、反射機構18について説明する。
反射機構18は、図7に示すように、円盤状の反射鏡182と、反射鏡182の姿勢を
変更する姿勢変更部181とを備えている。
反射部としての反射鏡182は、導光窓31から導入された環境光を測定部172に反
射させる。
姿勢変更部181は、ピエゾ素子又は電磁石などを備える駆動機構を備え、当該駆動機
構を駆動することで、反射鏡182を動かして姿勢を変更させる。例えば、姿勢変更部1
81は、反射鏡182を、反射鏡182の平面中心を通る任意の径方向の直線を軸として
、反射鏡182を傾けることができる。
なお、導光窓31、シャッター32及び反射機構18は、本発明の環境導光部を構成す
る。
次に、反射機構18について説明する。
反射機構18は、図7に示すように、円盤状の反射鏡182と、反射鏡182の姿勢を
変更する姿勢変更部181とを備えている。
反射部としての反射鏡182は、導光窓31から導入された環境光を測定部172に反
射させる。
姿勢変更部181は、ピエゾ素子又は電磁石などを備える駆動機構を備え、当該駆動機
構を駆動することで、反射鏡182を動かして姿勢を変更させる。例えば、姿勢変更部1
81は、反射鏡182を、反射鏡182の平面中心を通る任意の径方向の直線を軸として
、反射鏡182を傾けることができる。
なお、導光窓31、シャッター32及び反射機構18は、本発明の環境導光部を構成す
る。
本実施形態によれば、反射鏡182の姿勢に応じて、環境光を反射した反射光の向きを
変えることができ、これにより、測定部172に入射される当該反射光の光量を変更する
ことができる。
具体的には、当該反射光の光軸が、測定部172の光軸と一致する場合、測定部172
に入射される当該反射光の光量が最も大きくなる。そして、当該反射光の光軸と、測定部
172の光軸とが成す角度が大きくなるほど、測定部172に入射される当該反射光の光
量は小さくなる。
変えることができ、これにより、測定部172に入射される当該反射光の光量を変更する
ことができる。
具体的には、当該反射光の光軸が、測定部172の光軸と一致する場合、測定部172
に入射される当該反射光の光量が最も大きくなる。そして、当該反射光の光軸と、測定部
172の光軸とが成す角度が大きくなるほど、測定部172に入射される当該反射光の光
量は小さくなる。
[制御ユニットの構成]
次に、制御ユニット15について説明する。
制御ユニット15は、図3に示すように、I/F151と、ユニット制御回路152と
、メモリー153と、CPU(Central Processing Unit)154と、を含んで構成され
ている。
I/F151は、外部機器20から入力される印刷データをCPU154に入力する。
ユニット制御回路152は、供給ユニット11、搬送ユニット12、印刷部16、光源
部171、波長可変干渉フィルター5、受光部172B、キャリッジ移動ユニット14、
スライド機構33、姿勢変更部181をそれぞれ制御する制御回路を備えており、CPU
154からの指令信号に基づいて、各部の動作を制御する。なお、各部の制御回路が、制
御ユニット15とは別体に設けられ、制御ユニット15に接続されていてもよい。
次に、制御ユニット15について説明する。
制御ユニット15は、図3に示すように、I/F151と、ユニット制御回路152と
、メモリー153と、CPU(Central Processing Unit)154と、を含んで構成され
ている。
I/F151は、外部機器20から入力される印刷データをCPU154に入力する。
ユニット制御回路152は、供給ユニット11、搬送ユニット12、印刷部16、光源
部171、波長可変干渉フィルター5、受光部172B、キャリッジ移動ユニット14、
スライド機構33、姿勢変更部181をそれぞれ制御する制御回路を備えており、CPU
154からの指令信号に基づいて、各部の動作を制御する。なお、各部の制御回路が、制
御ユニット15とは別体に設けられ、制御ユニット15に接続されていてもよい。
メモリー153は、プリンター1の動作を制御する各種プログラムや各種データが記憶
されている。
各種データとしては、例えば、波長可変干渉フィルター5を制御する際の、静電アクチ
ュエーター56への印加電圧に対する、波長可変干渉フィルター5を透過する光の波長を
示したV−λデータや、予め学習したサンプル色の反射率(基準反射率)を記憶したデー
タや、印刷データとして含まれる色データに対する各インクの吐出量を記憶した印刷プロ
ファイルデータ等が挙げられる。また、メモリー153には、光源部171の各波長に対
する発光特性や、受光部172Bの各波長に対する受光特性(受光感度特性)や、白色板
19及び反射鏡182の反射特性等が記憶されていてもよい。
されている。
各種データとしては、例えば、波長可変干渉フィルター5を制御する際の、静電アクチ
ュエーター56への印加電圧に対する、波長可変干渉フィルター5を透過する光の波長を
示したV−λデータや、予め学習したサンプル色の反射率(基準反射率)を記憶したデー
タや、印刷データとして含まれる色データに対する各インクの吐出量を記憶した印刷プロ
ファイルデータ等が挙げられる。また、メモリー153には、光源部171の各波長に対
する発光特性や、受光部172Bの各波長に対する受光特性(受光感度特性)や、白色板
19及び反射鏡182の反射特性等が記憶されていてもよい。
図8は、プリンター本体10の制御ユニット15に含まれるCPU154の機能構成を
示したブロック図である。
CPU154は、メモリー153に記憶された各種プログラムを読み出し実行すること
で、図8に示すように、走査制御部71、印刷制御部72、導光制御部73、測定制御部
74、光源制御部75、測色部76、及びキャリブレーション部77等として機能する。
示したブロック図である。
CPU154は、メモリー153に記憶された各種プログラムを読み出し実行すること
で、図8に示すように、走査制御部71、印刷制御部72、導光制御部73、測定制御部
74、光源制御部75、測色部76、及びキャリブレーション部77等として機能する。
走査制御部71は、供給ユニット11、搬送ユニット12、及びキャリッジ移動ユニッ
ト14を駆動させる旨の指令信号をユニット制御回路152に出力する。これにより、ユ
ニット制御回路152は、供給ユニット11のロール駆動モーターを駆動させて、メディ
アMを搬送ユニット12に供給させる。また、ユニット制御回路152は、搬送ユニット
12の搬送モーターを駆動させて、メディアMの所定領域をプラテン122のキャリッジ
13に対向する位置まで、Y方向に沿って搬送させる。また、ユニット制御回路152は
、キャリッジ移動ユニット14のキャリッジモーター142を駆動させて、キャリッジ1
3をX方向に沿って移動させる。
ト14を駆動させる旨の指令信号をユニット制御回路152に出力する。これにより、ユ
ニット制御回路152は、供給ユニット11のロール駆動モーターを駆動させて、メディ
アMを搬送ユニット12に供給させる。また、ユニット制御回路152は、搬送ユニット
12の搬送モーターを駆動させて、メディアMの所定領域をプラテン122のキャリッジ
13に対向する位置まで、Y方向に沿って搬送させる。また、ユニット制御回路152は
、キャリッジ移動ユニット14のキャリッジモーター142を駆動させて、キャリッジ1
3をX方向に沿って移動させる。
印刷制御部72は、例えば外部機器20から入力された印刷データに基づいて、印刷部
16を制御する旨の指令信号をユニット制御回路152に出力する。印刷制御部72から
ユニット制御回路152に指令信号が出力されると、ユニット制御回路152は、印刷部
16に印刷制御信号を出力し、ノズルに設けられたピエゾ素子を駆動させてメディアMに
対してインクを吐出させる。なお、印刷を実施する際は、キャリッジ13がX方向に沿っ
て移動されて、その移動中に印刷部16からインクを吐出させてドットを形成するドット
形成動作と、メディアMをY方向に搬送する搬送動作とを交互に繰り返し、複数のドット
から構成される画像をメディアMに印刷する。
16を制御する旨の指令信号をユニット制御回路152に出力する。印刷制御部72から
ユニット制御回路152に指令信号が出力されると、ユニット制御回路152は、印刷部
16に印刷制御信号を出力し、ノズルに設けられたピエゾ素子を駆動させてメディアMに
対してインクを吐出させる。なお、印刷を実施する際は、キャリッジ13がX方向に沿っ
て移動されて、その移動中に印刷部16からインクを吐出させてドットを形成するドット
形成動作と、メディアMをY方向に搬送する搬送動作とを交互に繰り返し、複数のドット
から構成される画像をメディアMに印刷する。
導光制御部73は、シャッター32の開閉及び反射鏡182の姿勢を制御する旨の指令
信号をユニット制御回路152に出力する。導光制御部73からユニット制御回路152
にシャッター32の開閉を制御する旨の指令信号が出力されると、ユニット制御回路15
2は、スライド機構33を駆動させて、シャッター32を開閉させる。また、導光制御部
73からユニット制御回路152に反射鏡182の姿勢を制御する旨の指令信号が出力さ
れると、ユニット制御回路152は、姿勢変更部181に駆動信号を出力し、反射鏡18
2の姿勢を変更させ、測定部172に入射される環境光の光量を調整する。
信号をユニット制御回路152に出力する。導光制御部73からユニット制御回路152
にシャッター32の開閉を制御する旨の指令信号が出力されると、ユニット制御回路15
2は、スライド機構33を駆動させて、シャッター32を開閉させる。また、導光制御部
73からユニット制御回路152に反射鏡182の姿勢を制御する旨の指令信号が出力さ
れると、ユニット制御回路152は、姿勢変更部181に駆動信号を出力し、反射鏡18
2の姿勢を変更させ、測定部172に入射される環境光の光量を調整する。
測定制御部74は、波長可変干渉フィルター5を透過させる光の波長に対する静電アク
チュエーター56への駆動電圧を、メモリー153のV−λデータから読み出し、ユニッ
ト制御回路152に指令信号を出力する。これにより、ユニット制御回路152は、波長
可変干渉フィルター5に指令された駆動電圧を印加し、波長可変干渉フィルター5から所
望の透過波長の光が透過される。
そして、測定制御部74は、受光部172Bで測定された測定値(受光量)を、静電ア
クチュエーター56に印加した電圧(若しくは当該電圧に対応する波長可変干渉フィルタ
ー5を透過する光の波長)と関連付けてメモリー153に記憶する。
チュエーター56への駆動電圧を、メモリー153のV−λデータから読み出し、ユニッ
ト制御回路152に指令信号を出力する。これにより、ユニット制御回路152は、波長
可変干渉フィルター5に指令された駆動電圧を印加し、波長可変干渉フィルター5から所
望の透過波長の光が透過される。
そして、測定制御部74は、受光部172Bで測定された測定値(受光量)を、静電ア
クチュエーター56に印加した電圧(若しくは当該電圧に対応する波長可変干渉フィルタ
ー5を透過する光の波長)と関連付けてメモリー153に記憶する。
光源制御部75は、光源部171を制御するための指令信号をユニット制御回路152
に出力する。光源制御部75からユニット制御回路152に指令信号が出力されると、ユ
ニット制御回路152は、光源部171に光源制御信号を出力し、所定スペクトルの光を
出射させたり、消灯させたりする。
に出力する。光源制御部75からユニット制御回路152に指令信号が出力されると、ユ
ニット制御回路152は、光源部171に光源制御信号を出力し、所定スペクトルの光を
出射させたり、消灯させたりする。
測色部76は、分光測定処理により得られた複数波長の光に対する受光量に基づいて、
測定領域に対する色度を測定する。
キャリブレーション部77は、測色部76による測色結果に基づいて、印刷プロファイ
ルデータを補正(更新)する。
測定領域に対する色度を測定する。
キャリブレーション部77は、測色部76による測色結果に基づいて、印刷プロファイ
ルデータを補正(更新)する。
[分光測定方法]
次に、本実施形態のプリンター1における分光測定方法について、図面に基づいて説明
する。
図9は、プリンター1における分光測定方法を示すフローチャートである。
プリンター1による分光測定方法では、まず、メディアM上にカラーパッチを含むカラ
ーチャートを形成する(ステップS1)。
次に、本実施形態のプリンター1における分光測定方法について、図面に基づいて説明
する。
図9は、プリンター1における分光測定方法を示すフローチャートである。
プリンター1による分光測定方法では、まず、メディアM上にカラーパッチを含むカラ
ーチャートを形成する(ステップS1)。
これには、走査制御部71は、メディアMを所定位置にセットする。すなわち、走査制
御部71は、供給ユニット11、搬送ユニット12を制御して、メディアMを副走査方向
(+Y方向)に搬送し、メディアMの所定の印刷開始位置をプラテン122上にセットす
る。また、走査制御部71は、キャリッジ13を、初期位置(例えば主走査方向の−X側
端部)に移動させる。
御部71は、供給ユニット11、搬送ユニット12を制御して、メディアMを副走査方向
(+Y方向)に搬送し、メディアMの所定の印刷開始位置をプラテン122上にセットす
る。また、走査制御部71は、キャリッジ13を、初期位置(例えば主走査方向の−X側
端部)に移動させる。
この後、印刷制御部72は、メモリー153から較正用印刷データを読み出し、走査制
御部71による制御と同期して、カラーチャートをメディアM上に印刷する。
すなわち、走査制御部71により、キャリッジ13を+X側に例えば一定速度で走査さ
せる。印刷制御部72は、例えば走査開始からの時間に応じてキャリッジ13の印刷部1
6の位置を特定し、較正用印刷データに基づいた所定位置に所定色のノズルからインクを
吐出させてドットを形成する(ドット形成動作)。また、走査制御部71は、キャリッジ
13が+X側端部まで移動されると、供給ユニット11及び搬送ユニット12を制御して
メディアMを+Y方向に搬送する(搬送動作)。そして、走査制御部71は、キャリッジ
13を−X方向に走査させ、印刷制御部72は、較正用印刷データに基づいて、所定位置
にドットを形成する。
以上のようなドット形成動作と搬送動作を繰り返すことで、メディアM上にカラーチャ
ートが形成される。具体的には、複数色のカラーパッチがX方向に沿って隙間なく配置さ
れて構成されたカラーパッチ群を、Y方向に沿って複数個配置させたカラーチャートが形
成される。
御部71による制御と同期して、カラーチャートをメディアM上に印刷する。
すなわち、走査制御部71により、キャリッジ13を+X側に例えば一定速度で走査さ
せる。印刷制御部72は、例えば走査開始からの時間に応じてキャリッジ13の印刷部1
6の位置を特定し、較正用印刷データに基づいた所定位置に所定色のノズルからインクを
吐出させてドットを形成する(ドット形成動作)。また、走査制御部71は、キャリッジ
13が+X側端部まで移動されると、供給ユニット11及び搬送ユニット12を制御して
メディアMを+Y方向に搬送する(搬送動作)。そして、走査制御部71は、キャリッジ
13を−X方向に走査させ、印刷制御部72は、較正用印刷データに基づいて、所定位置
にドットを形成する。
以上のようなドット形成動作と搬送動作を繰り返すことで、メディアM上にカラーチャ
ートが形成される。具体的には、複数色のカラーパッチがX方向に沿って隙間なく配置さ
れて構成されたカラーパッチ群を、Y方向に沿って複数個配置させたカラーチャートが形
成される。
ステップS1の後、走査制御部71は、キャリッジ13を移動させて環境光測定領域P
1に位置させる(ステップS2)。
そして、制御ユニット15は、環境光測定処理S30を実行する。
図10は、環境光測定処理S30を示すフローチャートである。
図10に示すように、環境光測定処理S30が実行されると、導光制御部73は、スラ
イド機構33を制御してシャッター32を移動させ、導光窓31を開放する(ステップS
31)。これにより、導光窓31からケース部30内に環境光が導かれ、当該環境光が反
射鏡182で反射されて測定部172に入射する。
そして、導光制御部73は、反射鏡182の姿勢を初期状態に設定する(ステップS3
2)。本実施形態では、初期状態として、反射鏡182を、測定部172に入射する反射
光の光量が最も大きくなる姿勢、すなわち、反射光の光軸が測定部172の光軸と一致す
る姿勢とする。
1に位置させる(ステップS2)。
そして、制御ユニット15は、環境光測定処理S30を実行する。
図10は、環境光測定処理S30を示すフローチャートである。
図10に示すように、環境光測定処理S30が実行されると、導光制御部73は、スラ
イド機構33を制御してシャッター32を移動させ、導光窓31を開放する(ステップS
31)。これにより、導光窓31からケース部30内に環境光が導かれ、当該環境光が反
射鏡182で反射されて測定部172に入射する。
そして、導光制御部73は、反射鏡182の姿勢を初期状態に設定する(ステップS3
2)。本実施形態では、初期状態として、反射鏡182を、測定部172に入射する反射
光の光量が最も大きくなる姿勢、すなわち、反射光の光軸が測定部172の光軸と一致す
る姿勢とする。
次に、測定制御部74は、環境光のスペクトルを測定する。この測定では、測定制御部
74は、メモリー153に記憶されたV−λデータに基づいて、波長可変干渉フィルター
5の静電アクチュエーター56に印加する駆動電圧を順次切り替え、400nmから70
0nmの可視光域における20nm間隔となる16バンドの測定波長に対する測定値(受
光量)を測定する。
74は、メモリー153に記憶されたV−λデータに基づいて、波長可変干渉フィルター
5の静電アクチュエーター56に印加する駆動電圧を順次切り替え、400nmから70
0nmの可視光域における20nm間隔となる16バンドの測定波長に対する測定値(受
光量)を測定する。
具体的には、測定制御部74は、測定波長の識別番号を示す変数「j」を「1」に設定
する(ステップS33)。これにより、16バンドの測定波長のうち、1番目の測定波長
が選択される。
次に、測定制御部74は、波長可変干渉フィルター5及び受光部172Bを制御して、
j番目の測定波長に対する測定値(受光量)を測定する(ステップS34)。
する(ステップS33)。これにより、16バンドの測定波長のうち、1番目の測定波長
が選択される。
次に、測定制御部74は、波長可変干渉フィルター5及び受光部172Bを制御して、
j番目の測定波長に対する測定値(受光量)を測定する(ステップS34)。
次に、測定制御部74は、ステップS34で測定された受光量が、予め設定された所定
上限値以下か否かを判定する(ステップS35)。所定上限値は、本実施形態では、受光
部172Bで測定可能な光量の最大値に設定されている。
受光量が所定上限値を超える場合(ステップS35でNOと判定)は、サチレーション
が起き、光量を正しく測定できない。このため、導光制御部73は、測定部172に入射
する光を弱くするため、反射鏡182の姿勢を調整する(ステップS36)。そして、測
定制御部74は、処理をステップS33に戻し、1番目の測定波長から測定をやり直す。
測定制御部74は、ステップS35でYESと判定した場合、測定値及び測定波長を、
メモリー153に記憶させる(ステップS37)。
上限値以下か否かを判定する(ステップS35)。所定上限値は、本実施形態では、受光
部172Bで測定可能な光量の最大値に設定されている。
受光量が所定上限値を超える場合(ステップS35でNOと判定)は、サチレーション
が起き、光量を正しく測定できない。このため、導光制御部73は、測定部172に入射
する光を弱くするため、反射鏡182の姿勢を調整する(ステップS36)。そして、測
定制御部74は、処理をステップS33に戻し、1番目の測定波長から測定をやり直す。
測定制御部74は、ステップS35でYESと判定した場合、測定値及び測定波長を、
メモリー153に記憶させる(ステップS37)。
次に、測定制御部74は、j≧Nか否かを判定する(ステップS38)。Nは、測定波
長の数であり、本実施形態では、16である。
測定制御部74は、ステップS38でNOと判定した場合、「j」を「j+1」に設定
する(ステップS39)。そして、測定制御部74は、処理をステップS34に進め、次
の測定波長に対する光量を測定する。これにより、各測定波長に対する光量の測定が順次
行われる。
そして、すべての測定波長に対して光量の測定が行われ、ステップS38でYESと判
定されると、導光制御部73は、スライド機構33を制御してシャッター32を移動させ
、導光窓31を閉塞する(ステップS40)。そして、制御ユニット15は、環境光測定
処理S30を終了する。
このようにして、環境光のスペクトルが測定される。
長の数であり、本実施形態では、16である。
測定制御部74は、ステップS38でNOと判定した場合、「j」を「j+1」に設定
する(ステップS39)。そして、測定制御部74は、処理をステップS34に進め、次
の測定波長に対する光量を測定する。これにより、各測定波長に対する光量の測定が順次
行われる。
そして、すべての測定波長に対して光量の測定が行われ、ステップS38でYESと判
定されると、導光制御部73は、スライド機構33を制御してシャッター32を移動させ
、導光窓31を閉塞する(ステップS40)。そして、制御ユニット15は、環境光測定
処理S30を終了する。
このようにして、環境光のスペクトルが測定される。
図9に戻り、環境光測定処理S30が終了した後、制御ユニット15は、白色板19を
分光測定する白色板測定処理S50を実行する。
白色板測定処理S50では、測定制御部74は、400nmから700nmの可視光域
における20nm間隔となる16バンドの測定波長に対する測定値(受光量)を測定する
。
具体的には、図11に示すように、白色板測定処理S50が実行されると、光源制御部
75は、メモリー153に記憶されている測定値を読み出して、測定した環境光のスペク
トルを取得する。そして、光源制御部75は、光源部171の各光源171Aの出力値を
制御し、当該環境光のスペクトルと同じスペクトルを有する照明光(測定光)を形成し、
白色板19に照射する(ステップS51)。
すなわち、光源制御部75は、測定値が最大の測定波長に対応する光源171Aの出力
値を、例えば100%に設定し、残りの各測定波長に対応する光源171Aの出力値を、
当該最大の測定波長の測定値に対する各測定波長の測定値の比率に応じて設定する。
分光測定する白色板測定処理S50を実行する。
白色板測定処理S50では、測定制御部74は、400nmから700nmの可視光域
における20nm間隔となる16バンドの測定波長に対する測定値(受光量)を測定する
。
具体的には、図11に示すように、白色板測定処理S50が実行されると、光源制御部
75は、メモリー153に記憶されている測定値を読み出して、測定した環境光のスペク
トルを取得する。そして、光源制御部75は、光源部171の各光源171Aの出力値を
制御し、当該環境光のスペクトルと同じスペクトルを有する照明光(測定光)を形成し、
白色板19に照射する(ステップS51)。
すなわち、光源制御部75は、測定値が最大の測定波長に対応する光源171Aの出力
値を、例えば100%に設定し、残りの各測定波長に対応する光源171Aの出力値を、
当該最大の測定波長の測定値に対する各測定波長の測定値の比率に応じて設定する。
次に、測定制御部74は、「j」を1に設定する(ステップS52)。これにより、1
6バンドの測定波長のうち、1番目の測定波長が選択される。
次に、測定制御部74は、波長可変干渉フィルター5及び受光部172Bを制御して、
j番目の測定波長に対する測定値(受光量)を測定する(ステップS53)。
6バンドの測定波長のうち、1番目の測定波長が選択される。
次に、測定制御部74は、波長可変干渉フィルター5及び受光部172Bを制御して、
j番目の測定波長に対する測定値(受光量)を測定する(ステップS53)。
次に、測定制御部74は、ステップS53で測定された受光量が、予め設定された所定
上限値以下か否かを判定する(ステップS54)。
測定された光量が所定上限値を超えて、ステップS54でNOと判定された場合、光量
を正しく測定できないため、光源制御部75は、環境光を再現した状態を維持できるよう
に、測定光の各波長成分の光量比を維持したまま各波長成分の光量を所定量減少させる(
ステップS55)。そして、測定制御部74は、処理をステップS52に戻し、1番目の
測定波長から測定をやり直す。
測定制御部74は、ステップS54でYESと判定した場合、測定値を校正基準値とし
て、測定波長と対応付けてメモリー153に記憶させる(ステップS56)。
上限値以下か否かを判定する(ステップS54)。
測定された光量が所定上限値を超えて、ステップS54でNOと判定された場合、光量
を正しく測定できないため、光源制御部75は、環境光を再現した状態を維持できるよう
に、測定光の各波長成分の光量比を維持したまま各波長成分の光量を所定量減少させる(
ステップS55)。そして、測定制御部74は、処理をステップS52に戻し、1番目の
測定波長から測定をやり直す。
測定制御部74は、ステップS54でYESと判定した場合、測定値を校正基準値とし
て、測定波長と対応付けてメモリー153に記憶させる(ステップS56)。
次に、測定制御部74は、j≧Nか否かを判定する(ステップS57)。
測定制御部74は、ステップS57でNOと判定した場合、「j」を「j+1」に設定
する(ステップS58)。そして、測定制御部74は、処理をステップS53に進め、次
の測定波長に対する光量を測定する。これにより、各測定波長に対する光量の測定が順次
行われる。
そして、すべての測定波長に対して光量の測定が行われ、ステップS57でYESと判
定されると、制御ユニット15は、白色板測定処理S50を終了する。
測定制御部74は、ステップS57でNOと判定した場合、「j」を「j+1」に設定
する(ステップS58)。そして、測定制御部74は、処理をステップS53に進め、次
の測定波長に対する光量を測定する。これにより、各測定波長に対する光量の測定が順次
行われる。
そして、すべての測定波長に対して光量の測定が行われ、ステップS57でYESと判
定されると、制御ユニット15は、白色板測定処理S50を終了する。
図9に戻り、白色板測定処理S50が終了すると、制御ユニット15は、カラーパッチ
測定処理を実行する(ステップS3)。
カラーパッチ測定処理では、走査制御部71は、キャリッジ13及びメディアMを移動
させて、分光器17の測定領域を、カラーパッチ上に順次位置させる。測定制御部74は
、各カラーパッチに対して、光源制御部75と同期して、分光測定を行う。この分光測定
は、図11に示した白色板測定処理S50と同様に行われ、各測定波長に対する光量の測
定値がメモリー153に記憶される。
測定処理を実行する(ステップS3)。
カラーパッチ測定処理では、走査制御部71は、キャリッジ13及びメディアMを移動
させて、分光器17の測定領域を、カラーパッチ上に順次位置させる。測定制御部74は
、各カラーパッチに対して、光源制御部75と同期して、分光測定を行う。この分光測定
は、図11に示した白色板測定処理S50と同様に行われ、各測定波長に対する光量の測
定値がメモリー153に記憶される。
そして、すべてのカラーパッチに対して測定が終了すると、光源制御部75は、光源部
171を消灯させる(ステップS4)。
その後、測色部76は、メモリー153に記憶された校正基準値と、各カラーパッチに
対する測定値とに基づいて、測色処理を実施する(ステップS5)。具体的には、測色部
76は、各測定波長に対するカラーパッチの測定値及び校正基準値に基づいて、各測定波
長に対するカラーパッチの反射率を算出する。そして、測色部76は、算出した反射率を
、メモリー153に予め記憶されている基準反射率と比較することで、測色値(例えばX
YZ値、L*a*b*値等)を算出し、メモリー153に記憶する。また、キャリブレー
ション部77は、各カラーパッチの測色結果に基づいて、メモリー153に記憶された印
刷プロファイルデータを更新する。
171を消灯させる(ステップS4)。
その後、測色部76は、メモリー153に記憶された校正基準値と、各カラーパッチに
対する測定値とに基づいて、測色処理を実施する(ステップS5)。具体的には、測色部
76は、各測定波長に対するカラーパッチの測定値及び校正基準値に基づいて、各測定波
長に対するカラーパッチの反射率を算出する。そして、測色部76は、算出した反射率を
、メモリー153に予め記憶されている基準反射率と比較することで、測色値(例えばX
YZ値、L*a*b*値等)を算出し、メモリー153に記憶する。また、キャリブレー
ション部77は、各カラーパッチの測色結果に基づいて、メモリー153に記憶された印
刷プロファイルデータを更新する。
[第一実施形態の作用効果]
本実施形態によれば、光源制御部75が、環境光のスペクトルと同じスペクトルの測定
光を形成できるため、当該測定光をカラーパッチに照射した際にカラーパッチから反射さ
れる光を測定部172が測定することで、カラーパッチを環境光下で観察した場合の色を
測定できる。このため、測定結果に基づいて色補正を行うことで、印刷部16によって形
成した画像を環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
また、白色板19を用いた校正処理も、環境光のスペクトルと同じスペクトルの測定光
によって行われるため、当該校正処理を適切に実施できる。
本実施形態によれば、光源制御部75が、環境光のスペクトルと同じスペクトルの測定
光を形成できるため、当該測定光をカラーパッチに照射した際にカラーパッチから反射さ
れる光を測定部172が測定することで、カラーパッチを環境光下で観察した場合の色を
測定できる。このため、測定結果に基づいて色補正を行うことで、印刷部16によって形
成した画像を環境光下で観察した場合の色ずれを低減できる。
また、白色板19を用いた校正処理も、環境光のスペクトルと同じスペクトルの測定光
によって行われるため、当該校正処理を適切に実施できる。
本実施形態によれば、測定光をカラーパッチ又は白色板19に照射した際に、カラーパ
ッチ又は白色板19で反射される各波長成分の光量を、測定部172が測定可能な光量の
最大値以下とすることができるため、サチレーションを起こさずに各波長成分に対する測
定を実施できる。
ッチ又は白色板19で反射される各波長成分の光量を、測定部172が測定可能な光量の
最大値以下とすることができるため、サチレーションを起こさずに各波長成分に対する測
定を実施できる。
本実施形態によれば、環境光の実測値に基づいて測定光を形成できるため、カラーパッ
チを環境光下で観察した場合の色をより正確に測定できる。
チを環境光下で観察した場合の色をより正確に測定できる。
本実施形態によれば、ケース部30の外側の環境光をケース部30内に導いて測定する
ため、プリンター1が配置されている場所の環境光を正確に測定できる。
また、カラーパッチ又は白色板19の分光測定を行う場合は、導光窓31は閉塞される
ため、ケース部30の外側の環境光がケース部30内に入ることを回避でき、ノイズが少
ない状態で測定を実施できる。
ため、プリンター1が配置されている場所の環境光を正確に測定できる。
また、カラーパッチ又は白色板19の分光測定を行う場合は、導光窓31は閉塞される
ため、ケース部30の外側の環境光がケース部30内に入ることを回避でき、ノイズが少
ない状態で測定を実施できる。
本実施形態によれば、キャリッジ13をX方向に沿って移動させるだけで、カラーパッ
チ又は白色板19の測定及び環境光の測定を実施できるため、例えば、キャリッジ13を
X方向だけではなく、X方向とは異なる方向にも移動させて、カラーパッチ又は白色板1
9の測定及び環境光の測定を実施する場合と比べて、プリンター1の構造を簡略化できる
。
チ又は白色板19の測定及び環境光の測定を実施できるため、例えば、キャリッジ13を
X方向だけではなく、X方向とは異なる方向にも移動させて、カラーパッチ又は白色板1
9の測定及び環境光の測定を実施する場合と比べて、プリンター1の構造を簡略化できる
。
本実施形態によれば、測定部172に入射する光の波長成分の光量が、測定可能な光量
の最大値を超える場合、姿勢変更部181によって反射鏡182の姿勢を変更して、測定
部172に入射する光量を小さくすることで、サチレーションを起こさずに測定部172
によって環境光の各波長成分の光量を測定できる。
の最大値を超える場合、姿勢変更部181によって反射鏡182の姿勢を変更して、測定
部172に入射する光量を小さくすることで、サチレーションを起こさずに測定部172
によって環境光の各波長成分の光量を測定できる。
なお、本実施形態では、光源部171は複数の波長の光を出射可能であるため、波長可
変干渉フィルター5の校正処理を、当該複数の波長の光を用いて実施することもできる。
変干渉フィルター5の校正処理を、当該複数の波長の光を用いて実施することもできる。
[第二実施形態]
第一実施形態では、プリンター1は、環境光のスペクトルを、実際に環境光を測定して
取得している。これに対して、第二実施形態のプリンターは、予め設定された環境光のス
ペクトルデータを取得し、取得したスペクトルデータに基づいて測定光を形成し、分光測
定を行うこともできる。
なお、環境光のスペクトルを測定して測定光を形成するか、予め設定されたスペクトル
データに基づいて測定光を形成するかは、例えば、外部機器20からの指令信号に応じて
選択できる。
第二実施形態のプリンターの構造及び回路構成は、第一実施形態と同じである。
第一実施形態では、プリンター1は、環境光のスペクトルを、実際に環境光を測定して
取得している。これに対して、第二実施形態のプリンターは、予め設定された環境光のス
ペクトルデータを取得し、取得したスペクトルデータに基づいて測定光を形成し、分光測
定を行うこともできる。
なお、環境光のスペクトルを測定して測定光を形成するか、予め設定されたスペクトル
データに基づいて測定光を形成するかは、例えば、外部機器20からの指令信号に応じて
選択できる。
第二実施形態のプリンターの構造及び回路構成は、第一実施形態と同じである。
第二実施形態のプリンターでは、メモリー153に、予め設定された複数種類の環境光
のスペクトルデータ(測定光に関する情報)が記憶されている。当該スペクトルデータは
、屋内や屋外等、所定の場所の環境光のスペクトルデータである。
また、第二実施形態のプリンターでは、CPU154Aは、図12に示すように、第1
実施形態と同じ、走査制御部71、印刷制御部72、導光制御部73、測定制御部74、
光源制御部75、測色部76及びキャリブレーション部77に加えて、情報取得部78と
しても機能する。
情報取得部78は、外部機器20からの選択信号に基づいて、メモリー153に記憶さ
れた複数のスペクトルデータから、1つのスペクトルデータを選択して取得する。また、
情報取得部78は、外部機器20から予め設定されたスペクトルデータが入力された場合
、当該スペクトルデータを取得する。
のスペクトルデータ(測定光に関する情報)が記憶されている。当該スペクトルデータは
、屋内や屋外等、所定の場所の環境光のスペクトルデータである。
また、第二実施形態のプリンターでは、CPU154Aは、図12に示すように、第1
実施形態と同じ、走査制御部71、印刷制御部72、導光制御部73、測定制御部74、
光源制御部75、測色部76及びキャリブレーション部77に加えて、情報取得部78と
しても機能する。
情報取得部78は、外部機器20からの選択信号に基づいて、メモリー153に記憶さ
れた複数のスペクトルデータから、1つのスペクトルデータを選択して取得する。また、
情報取得部78は、外部機器20から予め設定されたスペクトルデータが入力された場合
、当該スペクトルデータを取得する。
第二実施形態のプリンターにおける分光測定方法では、予め設定されたスペクトルデー
タに基づいて測定光を形成して測定を行う場合、第1実施形態の分光測定方法と同じステ
ップS1,S2,白色板測定処理S50,S3〜S5の処理が行われる。なお、環境光測
定処理S30は行われない。
この場合、白色板測定処理S50、及び、ステップS3のカラーパッチ測定処理におい
て、光源制御部75は、光源部171を制御して、情報取得部78が取得したスペクトル
データと同じスペクトルの測定光を出射させ、当該測定光に基づいて測定が行われる。
タに基づいて測定光を形成して測定を行う場合、第1実施形態の分光測定方法と同じステ
ップS1,S2,白色板測定処理S50,S3〜S5の処理が行われる。なお、環境光測
定処理S30は行われない。
この場合、白色板測定処理S50、及び、ステップS3のカラーパッチ測定処理におい
て、光源制御部75は、光源部171を制御して、情報取得部78が取得したスペクトル
データと同じスペクトルの測定光を出射させ、当該測定光に基づいて測定が行われる。
[第二実施形態の作用効果]
本実施形態によれば、第一実施形態と同じ構成により、同じ作用効果を得ることができ
る。さらに、次の作用効果を得ることができる。
すなわち、本実施形態によれば、例えば、プリンター1が配置されている場所と、メデ
ィアMに形成された画像が観察される場所とが異なる場合でも、情報取得部78が、当該
観察される場所の環境光のスペクトル情報を取得し、光源制御部75が、当該スペクトル
情報と同じスペクトルの測定光を形成することで、カラーパッチを当該観察される場所の
環境光下で観察した場合の色を測定できる。このため、測定結果に基づいて色補正を行う
ことで、メディアMに形成された画像を当該観察される場所の環境光下で観察した場合の
色ずれを低減できる。
本実施形態によれば、第一実施形態と同じ構成により、同じ作用効果を得ることができ
る。さらに、次の作用効果を得ることができる。
すなわち、本実施形態によれば、例えば、プリンター1が配置されている場所と、メデ
ィアMに形成された画像が観察される場所とが異なる場合でも、情報取得部78が、当該
観察される場所の環境光のスペクトル情報を取得し、光源制御部75が、当該スペクトル
情報と同じスペクトルの測定光を形成することで、カラーパッチを当該観察される場所の
環境光下で観察した場合の色を測定できる。このため、測定結果に基づいて色補正を行う
ことで、メディアMに形成された画像を当該観察される場所の環境光下で観察した場合の
色ずれを低減できる。
[その他の実施形態]
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる
範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる
範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
上記実施形態の環境光測定処理S30において、ステップS36で反射鏡182の姿勢
が初期状態から変更され、測定部172に入射する環境光の光量が減少している場合、測
定制御部74は、当該減少率に基づいて測定値を補正してもよい。この場合、メモリー1
53に、反射鏡182の姿勢と、反射鏡182によって測定部172に反射される環境光
の基準値に対する減少率との関係を示す姿勢データを記憶しておき、反射鏡182の姿勢
に基づいて、当該姿勢データから減少率を取得する。
また、上記実施形態の白色板測定処理S50、及び、ステップS3のカラーパッチ測定
処理において、ステップS55で測定光の光量を減少している場合、測定制御部74は、
当該減少率に基づいて測定値を補正してもよい。
すなわち、測定制御部74は、測定値を補正する補正部としても機能する。
が初期状態から変更され、測定部172に入射する環境光の光量が減少している場合、測
定制御部74は、当該減少率に基づいて測定値を補正してもよい。この場合、メモリー1
53に、反射鏡182の姿勢と、反射鏡182によって測定部172に反射される環境光
の基準値に対する減少率との関係を示す姿勢データを記憶しておき、反射鏡182の姿勢
に基づいて、当該姿勢データから減少率を取得する。
また、上記実施形態の白色板測定処理S50、及び、ステップS3のカラーパッチ測定
処理において、ステップS55で測定光の光量を減少している場合、測定制御部74は、
当該減少率に基づいて測定値を補正してもよい。
すなわち、測定制御部74は、測定値を補正する補正部としても機能する。
上記実施形態の環境光測定処理S30では、反射鏡182によって測定部172に反射
される環境光の光量が同じ状態で、各測定波長の測定が行われているが、これに限定され
ない。すなわち、各測定波長の測定毎に、測定値が受光部172Bで測定可能な最大値超
又は最小値未満とならないように、反射鏡182の姿勢を変化させ、測定部172に反射
される環境光の光量を増加させたり減少させたりしてもよい。この場合、測定制御部74
は、当該光量の基準値に対する増加率または減少率に基づいて、測定値を補正する。
される環境光の光量が同じ状態で、各測定波長の測定が行われているが、これに限定され
ない。すなわち、各測定波長の測定毎に、測定値が受光部172Bで測定可能な最大値超
又は最小値未満とならないように、反射鏡182の姿勢を変化させ、測定部172に反射
される環境光の光量を増加させたり減少させたりしてもよい。この場合、測定制御部74
は、当該光量の基準値に対する増加率または減少率に基づいて、測定値を補正する。
同様に、上記実施形態の白色板測定処理S50、及び、ステップS3のカラーパッチ測
定処理においても、各測定波長の測定毎に、測定値が前記最大値超又は前記最小値未満と
ならないように、測定光の光量を増加させたり減少させたりしてもよい。この場合、測定
制御部74は、当該光量の基準値に対する増加率又は減少率に基づいて、測定値を補正す
る。
例えば、測定光の光量が、所定下限値未満となる波長成分(弱光波長成分)に対する測
定を実施する際に、測定光の各波長成分の光量を増加させる。所定下限値は前記最小値に
設定することができる。これによれば、反射光の弱光波長成分の光量を前記最小値以上に
でき、当該弱光波長成分に対する測定を精度良く実施できる。この場合、測定光の各波長
成分の光量を、環境光を再現した状態を維持できるように、各波長成分の光量比を維持し
たまま増加する。そして、測定制御部74は、測定値(受光量)を光量の増加率に基づい
て補正する。
これにより、例えば、光量のダイナミックレンジがより広い高性能な測定部を用いて、
測定光の光量を増加させず弱光波長成分に対する測定を行った場合と同様の測定値を、当
該高性能な測定部を用いることなく求めることができる。
定処理においても、各測定波長の測定毎に、測定値が前記最大値超又は前記最小値未満と
ならないように、測定光の光量を増加させたり減少させたりしてもよい。この場合、測定
制御部74は、当該光量の基準値に対する増加率又は減少率に基づいて、測定値を補正す
る。
例えば、測定光の光量が、所定下限値未満となる波長成分(弱光波長成分)に対する測
定を実施する際に、測定光の各波長成分の光量を増加させる。所定下限値は前記最小値に
設定することができる。これによれば、反射光の弱光波長成分の光量を前記最小値以上に
でき、当該弱光波長成分に対する測定を精度良く実施できる。この場合、測定光の各波長
成分の光量を、環境光を再現した状態を維持できるように、各波長成分の光量比を維持し
たまま増加する。そして、測定制御部74は、測定値(受光量)を光量の増加率に基づい
て補正する。
これにより、例えば、光量のダイナミックレンジがより広い高性能な測定部を用いて、
測定光の光量を増加させず弱光波長成分に対する測定を行った場合と同様の測定値を、当
該高性能な測定部を用いることなく求めることができる。
上記実施形態の白色板測定処理S50、及び、ステップS3のカラーパッチ測定処理に
おいて、受光量が上限値以下か否かの判定は実施しなくてもよい。この場合、受光量が上
限値を超えないように、測定光における波長成分の光量の最大値が、例えば測定部172
が測定可能な光量の上限値の80%〜90%となるように、測定光の光量を調整してもよ
い。
おいて、受光量が上限値以下か否かの判定は実施しなくてもよい。この場合、受光量が上
限値を超えないように、測定光における波長成分の光量の最大値が、例えば測定部172
が測定可能な光量の上限値の80%〜90%となるように、測定光の光量を調整してもよ
い。
上記実施形態では、シャッター32は、導光窓31に対してスライドすることで導光窓
31を開閉させているが、これに限定されない。
例えば、図13に示すように、シャッター32を、導光窓31の外周縁に沿って設けら
れた軸321に取り付け、例えばシャッター駆動モーターに取り付けられたギアにより軸
321を回動させることで、シャッター32を、軸321を中心に回動させ、導光窓31
を開閉させてもよい。この場合、例えば、図13に示すように、シャッター32の導光窓
31側の面32Aを反射面とすることで、環境光を面32Aで反射させ、導光窓31を介
してケース部30内に導く。そして、ケース部30内に入射した環境光を、例えば、拡散
レンズ183によって均一化し、反射鏡182に入射させる。
31を開閉させているが、これに限定されない。
例えば、図13に示すように、シャッター32を、導光窓31の外周縁に沿って設けら
れた軸321に取り付け、例えばシャッター駆動モーターに取り付けられたギアにより軸
321を回動させることで、シャッター32を、軸321を中心に回動させ、導光窓31
を開閉させてもよい。この場合、例えば、図13に示すように、シャッター32の導光窓
31側の面32Aを反射面とすることで、環境光を面32Aで反射させ、導光窓31を介
してケース部30内に導く。そして、ケース部30内に入射した環境光を、例えば、拡散
レンズ183によって均一化し、反射鏡182に入射させる。
また、上記実施形態では、導光窓31は、ケース部30の側面に設けられているが、こ
れに限定されない。
例えば、図14に示すように、導光窓31は、ケース部30の天面に設けられていても
よい。この場合、例えば、図14に示すように、導光窓31の内側に、魚眼レンズ184
を設け、広範囲の環境光を集めて、ケース部30に入射させる。そして、ケース部30内
に入射した+Z方向に進む環境光を、反射鏡185によりZ方向と直交する方向に反射さ
せて反射鏡182に入射させる。
れに限定されない。
例えば、図14に示すように、導光窓31は、ケース部30の天面に設けられていても
よい。この場合、例えば、図14に示すように、導光窓31の内側に、魚眼レンズ184
を設け、広範囲の環境光を集めて、ケース部30に入射させる。そして、ケース部30内
に入射した+Z方向に進む環境光を、反射鏡185によりZ方向と直交する方向に反射さ
せて反射鏡182に入射させる。
上記実施形態において、反射鏡182に白色板を採用し、白色板測定処理S50におい
て、当該反射鏡182に対して分光測定を行ってもよい。この場合、姿勢変更部181は
、環境光測定処理S30を行う際は、反射鏡182の角度を、環境光を測定部172に反
射させる第一角度とし、白色板測定処理S50を行う際は、反射鏡182の角度を、光源
部171から出射された測定光を測定部172に反射させる第二角度とする。
これによれば、反射鏡182と白色板とを個別に設ける場合と比べて、部品点数を削減
できる。
て、当該反射鏡182に対して分光測定を行ってもよい。この場合、姿勢変更部181は
、環境光測定処理S30を行う際は、反射鏡182の角度を、環境光を測定部172に反
射させる第一角度とし、白色板測定処理S50を行う際は、反射鏡182の角度を、光源
部171から出射された測定光を測定部172に反射させる第二角度とする。
これによれば、反射鏡182と白色板とを個別に設ける場合と比べて、部品点数を削減
できる。
上記実施形態では、光源部171は、出射する光のピーク波長が異なる複数の光源17
1Aを備えることで、複数の波長の光を出射可能としているが、これに限定されない。例
えば、光源部171は、可視域から近赤外域をカバーする連続スペクトル光源であるタン
グステンランプと所定の波長を透過するフィルターとを組み合わせることで所定の波長の
光を出射する光源体を複数備えることで、複数の波長の光を出射可能とする構成であって
もよい。
1Aを備えることで、複数の波長の光を出射可能としているが、これに限定されない。例
えば、光源部171は、可視域から近赤外域をカバーする連続スペクトル光源であるタン
グステンランプと所定の波長を透過するフィルターとを組み合わせることで所定の波長の
光を出射する光源体を複数備えることで、複数の波長の光を出射可能とする構成であって
もよい。
上記実施形態において、光源部171は、光源171Aに加えて、例えば1つ以上の連
続スペクトル光源(例えばタングステンランプなど)を備えていてもよい。この場合、光
源制御部75は、次のように測定光を形成する。
すなわち、光源制御部75は、環境光の強度が最小の波長に対応する光源171Aの出
力値を、例えば0%に設定する。そして、残りの各波長に対応する光源171Aの出力値
を、当該最小の波長の強度に対する各波長の強度の比率に応じて設定する。そして、各波
長の光量を、各波長の光量比を維持したまま、光源171A及び連続スペクトル光源の出
力を調整して増加させる。そして、各波長の光量を、前記光量比を維持可能な上限まで増
加させることで、測定光を形成する。
続スペクトル光源(例えばタングステンランプなど)を備えていてもよい。この場合、光
源制御部75は、次のように測定光を形成する。
すなわち、光源制御部75は、環境光の強度が最小の波長に対応する光源171Aの出
力値を、例えば0%に設定する。そして、残りの各波長に対応する光源171Aの出力値
を、当該最小の波長の強度に対する各波長の強度の比率に応じて設定する。そして、各波
長の光量を、各波長の光量比を維持したまま、光源171A及び連続スペクトル光源の出
力を調整して増加させる。そして、各波長の光量を、前記光量比を維持可能な上限まで増
加させることで、測定光を形成する。
上記実施形態では、制御ユニット15による制御によりシャッター32を自動的に移動
させているが、これに限定されない。例えば、手動でシャッター32を移動させてもよい
。
させているが、これに限定されない。例えば、手動でシャッター32を移動させてもよい
。
上記実施形態では、導光窓31を介してケース部30内に導入された環境光を測定部1
72が測定しているが、これに限定されない。例えば、分光器17をケース部30の外部
に移動させ、ケース部30の外側で、環境光を測定部172が測定する構成としてもよい
。
72が測定しているが、これに限定されない。例えば、分光器17をケース部30の外部
に移動させ、ケース部30の外側で、環境光を測定部172が測定する構成としてもよい
。
上記実施形態では、光源部171は、16種類の波長の光を出射可能に構成されている
が、これに限定されない。少なくとも8種類の波長の光を出射可能であれば、環境光のス
ペクトルを再現できるため、光源部171は、8種類以上の波長の光を出射可能に構成さ
れていればよい。
が、これに限定されない。少なくとも8種類の波長の光を出射可能であれば、環境光のス
ペクトルを再現できるため、光源部171は、8種類以上の波長の光を出射可能に構成さ
れていればよい。
上記実施形態において、制御ユニット15において、ユニット制御回路152が設けら
れる構成を例示したが、各ユニットの制御回路が制御ユニット15とは別体で、各ユニッ
トにそれぞれ設けられていてもよい。例えば、分光器17に波長可変干渉フィルター5を
制御するフィルター制御回路、受光部172Bを制御する受光制御回路が設けられる構成
としてもよい。また、分光器17に、マイコンやV−λデータを記憶した記憶メモリーが
内蔵され、当該マイコンが測定制御部74、光源制御部75として機能してもよい。
れる構成を例示したが、各ユニットの制御回路が制御ユニット15とは別体で、各ユニッ
トにそれぞれ設けられていてもよい。例えば、分光器17に波長可変干渉フィルター5を
制御するフィルター制御回路、受光部172Bを制御する受光制御回路が設けられる構成
としてもよい。また、分光器17に、マイコンやV−λデータを記憶した記憶メモリーが
内蔵され、当該マイコンが測定制御部74、光源制御部75として機能してもよい。
上記実施形態において、印刷部16として、インクタンクから供給されたインクを、ピ
エゾ素子を駆動させて吐出させるインクジェット型の印刷部16を例示したが、これに限
定されない。例えば、印刷部16としては、ヒーターによりインク内に気泡を発生させて
インクを吐出する構成や、超音波振動子によりインクを吐出させる構成としてもよい。
また、インクジェット方式のものに限定されず、例えば熱転写方式を用いたサーマルプ
リンターや、レーザープリンター、ドットインパクトプリンター等、如何なる印刷方式の
プリンターに対しても適用できる。
エゾ素子を駆動させて吐出させるインクジェット型の印刷部16を例示したが、これに限
定されない。例えば、印刷部16としては、ヒーターによりインク内に気泡を発生させて
インクを吐出する構成や、超音波振動子によりインクを吐出させる構成としてもよい。
また、インクジェット方式のものに限定されず、例えば熱転写方式を用いたサーマルプ
リンターや、レーザープリンター、ドットインパクトプリンター等、如何なる印刷方式の
プリンターに対しても適用できる。
上記実施形態において、波長可変干渉フィルター5として、入射光から反射膜54,5
5間のギャップGに応じた波長の光を透過させる光透過型の波長可変干渉フィルター5を
例示したが、これに限定されない。例えば、反射膜54、55間のギャップGに応じた波
長の光を反射させる光反射型の波長可変干渉フィルターを用いてもよい。また、その他の
形式の波長可変干渉フィルターを用いてもよい。
5間のギャップGに応じた波長の光を透過させる光透過型の波長可変干渉フィルター5を
例示したが、これに限定されない。例えば、反射膜54、55間のギャップGに応じた波
長の光を反射させる光反射型の波長可変干渉フィルターを用いてもよい。また、その他の
形式の波長可変干渉フィルターを用いてもよい。
上記実施形態において、分光素子として、波長可変干渉フィルター5を例示したがこれ
に限定されない。分光素子としては、例えば、グレーティング、AOTF、LCTF等を
用いてもよい。
に限定されない。分光素子としては、例えば、グレーティング、AOTF、LCTF等を
用いてもよい。
上記実施形態において、波長可変干渉フィルター5を備えた分光デバイス172Aが、
測定部172に設けられる構成(後分光)を例示したがこれに限定されない。
例えば、光源部171内に波長可変干渉フィルター5、若しくは、波長可変干渉フィル
ター5を備えた分光デバイス172Aを配置し、波長可変干渉フィルター5により分光さ
れた光をメディアMに照射する構成(前分光)としてもよい。
測定部172に設けられる構成(後分光)を例示したがこれに限定されない。
例えば、光源部171内に波長可変干渉フィルター5、若しくは、波長可変干渉フィル
ター5を備えた分光デバイス172Aを配置し、波長可変干渉フィルター5により分光さ
れた光をメディアMに照射する構成(前分光)としてもよい。
上記実施形態において、測色装置を備えたプリンター1を例示したが、これに限定され
ない。例えば、画像形成部を備えず、メディアMに対する測色処理のみを実施する測色装
置であってもよい。また、例えば工場等において製造された印刷物の品質検査を行う品質
検査装置に、本発明の測色装置を組み込んでもよく、その他、如何なる装置に本発明の測
色装置を組み込んでもよい。
ない。例えば、画像形成部を備えず、メディアMに対する測色処理のみを実施する測色装
置であってもよい。また、例えば工場等において製造された印刷物の品質検査を行う品質
検査装置に、本発明の測色装置を組み込んでもよく、その他、如何なる装置に本発明の測
色装置を組み込んでもよい。
その他、本発明の実施の際の具体的な構成は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構
成等に適宜変更できる。
成等に適宜変更できる。
1…プリンター(画像形成装置)、5…波長可変干渉フィルター、10…プリンター本
体、13…キャリッジ、15…制御ユニット、16…印刷部(画像形成部)、17…分光
器、18…反射機構、19…白色板、30…ケース部、31…導光窓、32…シャッター
、71…走査制御部、72…印刷制御部、73…導光制御部、74…測定制御部(補正部
)、75…光源制御部、76…測色部、77…キャリブレーション部、78…情報取得部
、171…光源部、171A…光源、172…測定部、172A…分光デバイス、172
B…受光部、172C…バンドパスフィルター、181…姿勢変更部、182…反射鏡(
反射部)、M…メディア(対象物)、P1…環境光測定領域。
体、13…キャリッジ、15…制御ユニット、16…印刷部(画像形成部)、17…分光
器、18…反射機構、19…白色板、30…ケース部、31…導光窓、32…シャッター
、71…走査制御部、72…印刷制御部、73…導光制御部、74…測定制御部(補正部
)、75…光源制御部、76…測色部、77…キャリブレーション部、78…情報取得部
、171…光源部、171A…光源、172…測定部、172A…分光デバイス、172
B…受光部、172C…バンドパスフィルター、181…姿勢変更部、182…反射鏡(
反射部)、M…メディア(対象物)、P1…環境光測定領域。
Claims (11)
- 複数の波長の光を出射可能な光源部と、
対象物により反射された光を測定する測定部と、
前記光源部から出力される各波長の光の光量を制御して、所定スペクトルの測定光を形
成する光源制御部と、を備え、
前記測定部は、前記測定光を前記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を
測定する
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項1に記載の測色装置において、
前記光源制御部は、前記測定部において測定される所定波長の光量が所定上限値以下と
なる前記測定光を形成する
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の測色装置において、
前記光源制御部は、前記測定部により、前記測定光において光量が所定下限値未満とな
る波長成分である弱光波長成分に対する測定を実施する際に、前記測定光の各波長成分の
光量比を維持したまま各波長成分の光量を増加させ、
前記測定部により測定された前記弱光波長成分に対する受光量を補正する補正部を備え
る
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の測色装置において、
環境光を前記測定部に導く環境導光部を備え、
前記光源制御部は、前記環境光の測定結果に基づいて、前記測定光を形成する
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項4に記載の測色装置において、
前記光源部及び前記測定部を内部に収納するケース部を備え、
前記環境導光部は、前記ケース部に設けられた前記環境光を導く導光窓と、前記導光窓
に設けられ当該導光窓の開放及び閉塞を切り替えるシャッターと、を備えている
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項5に記載の測色装置において、
前記光源部及び前記測定部は、第一方向に移動可能なキャリッジに搭載され、
前記導光窓は、前記キャリッジの前記第一方向に沿う移動範囲における端部位置に設け
られている
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項4から請求項6のいずれか1項に記載の測色装置において、
前記環境導光部は、前記測定部に前記環境光を反射させる反射部と、前記反射部の姿勢
を変更する姿勢変更部と、を備えている
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項7に記載の測色装置において、
前記姿勢変更部は、前記反射部の姿勢を、前記反射部により反射された前記環境光を前
記測定部に反射させる第一角度と、前記光源部から出射された光を前記測定部に反射させ
る第二角度とで切り替える
ことを特徴とする測色装置。 - 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の測色装置と、
メディアに画像を形成する画像形成部と、を備えた
ことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項9に記載の画像形成装置において、
予め設定された前記測定光に関する情報を取得する情報取得部を備えた
ことを特徴とする画像形成装置。 - 複数の波長の光を出射可能な光源部と、対象物により反射された光を測定する測定部と
、を備えた測色装置の測色方法であって、
前記光源部から出力される各波長の光の光量を制御して、所定スペクトルの測定光を形
成し、前記測定光を前記対象物に照射した際に前記対象物から反射される光を前記測定部
で測定する
ことを特徴とする測色方法。
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---|---|---|---|
JP2017064536A JP2018169185A (ja) | 2017-03-29 | 2017-03-29 | 測色装置、画像形成装置及び測色方法 |
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